JP2011169606A - Test system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、試験対象の複数の機器を試験する試験システムに関する。 The present invention relates to a test system for testing a plurality of devices to be tested.
例えば、特許文献１は、試験対象の機器の故障部位を特定する試験装置を開示する。
For example,
本発明は、上述した背景からなされたものであって、試験対象の複数の機器に対する試験を、これらの試験それぞれの手順に従って並行して実行するように工夫された試験システムを提供することを目的とする。 The present invention has been made from the above-described background, and an object thereof is to provide a test system devised to execute tests on a plurality of devices to be tested in parallel according to the procedures of these tests. And
上記目的を達成するために、本願発明にかかる試験システム（３）は、それぞれ１つ以上の試験対象機器（１８）の試験に用いられる値を測定する１つ以上の測定器（１６２）と、それぞれ前記試験対象機器から前記測定器への前記値を受け渡す接続、または、この接続の切断を行うために用いられる１つ以上のスイッチ（３２２，３２４）と、前記試験対象機器に対して指定された試験に対して予め定められた前記試験それぞれの手順（試験レシピ・バッチ処理）により、前記試験対象機器に接続された測定器による前記値の測定結果が、この試験において必要とされるときに、前記スイッチそれぞれを制御して、前記試験対象機器と前記測定器とを、前記値を測定できるように接続させ結果がされた前記試験対象機器の前記値を測定させ、この測定結果に基づいて、それぞれに対して指定された試験を行う複数の試験制御装置とを有する試験システムであって、前記試験制御装置それぞれは、他の試験制御装置が前記試験対象機器の試験を行っているとき以外には、必要に応じて前記スイッチの接続および切断を行って、前記指定された試験を実行し（Ｓ１１４，Ｓ１２２）、他の試験制御装置が前記試験対象機器の試験を行っているときには、この他の試験制御装置により前記スイッチの接続および切断が行われた状態で、前記指定された試験のために、この試験制御装置が行おうとする前記スイッチの接続および切断が可能であるか否かを判断し（Ｓ１１０）、この試験制御装置が行おうとする前記スイッチの接続および切断が可能であるときには、前記指定された試験を実行し（Ｓ１１４，Ｓ１２２）、これ以外のときには、前記指定された試験の実行に対する例外処理を行う（Ｓ１１２，Ｓ１２４）。
なお、この部分では、各構成部分と本願明細書・図面に付された番号および用語とを対応付けたが、これは、本願発明の各構成部分と本願明細書・図面との記載との対応関係の明確化のみを意図し、本願発明の技術的範囲の限定を意図していない。
In order to achieve the above object, the test system (3) according to the present invention includes one or more measuring devices (162) for measuring values used for testing one or more test target devices (18), respectively. One or more switches (322, 324) used to disconnect the connection from or to disconnect the value from the device under test to the measuring instrument, and designated for the device under test When the measurement result of the value by the measuring instrument connected to the device under test is required in this test according to the procedure (test recipe / batch processing) of the test predetermined for a given test And controlling each of the switches so that the device under test and the measuring device are connected so that the value can be measured, and the value of the device under test obtained as a result is measured. A test system having a plurality of test control devices for performing a specified test on each of the test results based on the measurement results, wherein each of the test control devices has a test of the device under test by another test control device. In other cases, the switch is connected and disconnected as necessary, the designated test is executed (S114, S122), and the other test control device performs the test of the device under test. When the test is being performed, the switch can be connected to and disconnected from the test controller for the specified test while the switch is connected and disconnected by another test controller. (S110), and when it is possible to connect and disconnect the switch to be performed by the test control apparatus, the designated test is performed. Row and (S114, S122), the the other cases, performs the exception processing for the execution of the designated test (S112, S124).
In this part, each component is associated with the number and terminology given to the specification / drawing of the present application. This is a correspondence between each component of the present invention and the description of the specification / drawing of the present application. It is intended only to clarify the relationship and is not intended to limit the technical scope of the present invention.
本発明にかかる試験システムによれば、試験対象の複数の機器に対する試験を、これらの試験それぞれの手順に従って並行して実行することができる。 According to the test system of the present invention, tests for a plurality of devices to be tested can be executed in parallel according to the procedures of these tests.
［第１の実施形態］
以下、第１の実施形態として、第１の機器試験システム１を説明する。
図１は、第１の機器試験システム１の構成を例示する図である。
図１に示すように、機器試験システム１は、操作制御装置１４０−１〜１４０−ｎ（ｎは２以上の整数であって、各ｎが同じ数を示すとは限らない）、共有データ保持装置１４２、および第１の試験ブロック１６−１〜１６−ｎを含む。
機器試験システム１において、操作制御装置１４０は、ＬＡＮなどの通信回線を介して、相互に接続され、さらに、ＬＡＮ，ＲＳ２３２Ｃ，ＧＢ−ＩＢおよびＤＩＯなどの通信回線を介して、共有データ保持装置１４２、試験ブロック１６それぞれに接続されている。
試験ブロック１６は、通信装置などの様々な試験対象装置１８−１〜１８−ｎの内の１つ以上と、ケーブルなどによりに固定的に接続される。
[First Embodiment]
Hereinafter, the first
FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of the first
As shown in FIG. 1, the
In the
The test block 16 is fixedly connected to one or more of various test target devices 18-1 to 18-n such as communication devices by a cable or the like.
なお、以下、操作制御装置１４０−１〜１４０−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを特定せずに示すとき、または、複数ある構成部分それぞれを示すときには、単に操作制御装置１４０と略記することがある。
また、操作制御装置１４０、共有データ保持装置１４２、試験ブロック１６および試験対象装置１８など、機器試験システム１などにおいて処理の主体、動作の主体および試験の対象となりうる構成部分を、ノードと総称することがある。
Hereinafter, when the operation control devices 140-1 to 140-n and the like are indicated without specifying any of the plurality of component parts, or each of the plurality of component parts is indicated, they are simply abbreviated as the
In addition, a component that can be a subject of processing, a subject of operation, and a subject of testing in the
操作制御装置１４０は、ＣＰＵ１０２、メモリ１０４およびこれらの周辺回路などを含む本体１００、表示装置、キーボードおよびマウスなどを含む入出力装置１０６、他のノードとの信号の送受信および通信を行うために用いられる通信装置１１０、ＣＤ装置、ＤＶＤ装置およびＨＤＤ装置など、記録媒体１１４に対するデータ・情報の記録および再生を行う記録装置１１２を含む。
つまり、操作制御装置１４０は、情報処理を行い、他のノードと通信可能なコンピュータとしての構成部分を有している。
さらに、試験ブロック１６および試験対象装置１８などの操作制御装置１４０以外のノードもまた、必要に応じて、操作制御装置１４０と同様に、情報処理および他のノードと通信を行うために必要な構成部分を有することがある（以下同様）。
The
That is, the
Further, nodes other than the
試験ブロック１６−１〜１６−ｎは、それぞれ第１の信号切替器１６０−１〜１６０−ｎそれぞれと、信号発生器、電圧計、電力計およびデータロガ−などの測定器１６２−１−１〜１６２−１−ｎ，・・・，１６２−ｎ−１〜１６２−ｎ−ｎそれぞれとを有する（信号切替器１６０−１〜１６０−ｎおよび測定器１６２−１−１〜１６２−１−ｎ以外図示せず）。
試験対象装置１８−１〜１８−ｎは、例えば無線通信装置であって、それぞれ、無線通信回路、信号処理回路、電源および冷却ファンなど、試験の対象となりうる構成部分１８０−１−１〜１８０−１−ｎ，・・・，１８０−ｎ−１〜１８０−ｎ−ｎを含み、これらそれぞれは、試験ブロック１６に接続されている（図中において、１≦ｉ，ｍ≦ｎの整数）。
なお、以下、各図において、各実施形態の説明にとって実質的に同じ構成部分および処理には、同様な符号が付される。
機器試験システム１は、これらの構成部分により、試験対象装置１８およびその構成部分１８０それぞれの機能および性能などの試験を行う。
The test blocks 16-1 to 16-n respectively include first signal switchers 160-1 to 160-n and measuring devices 162-1-1 to 16 such as a signal generator, a voltmeter, a wattmeter, and a data logger. 162-1-n,..., 162-n-1 to 162-n-n (signal switchers 160-1 to 160-n and measuring instruments 162-1-1 to 162-1-n (Not shown).
The test target devices 18-1 to 18-n are, for example, wireless communication devices, and components 180-1-1-1 that can be tested, such as a wireless communication circuit, a signal processing circuit, a power source, and a cooling fan, respectively. −1-n,..., 180-n-1 to 180-nn, each of which is connected to the test block 16 (in the figure, integers of 1 ≦ i and m ≦ n) .
In the following drawings, the same reference numerals are given to substantially the same components and processes for the description of each embodiment.
The
機器試験システム１において、試験ブロック１６の信号切替器１６０は、機器試験システム１４の制御に従って、試験対象装置１８およびその構成部分１８０、または、試験対象装置１８および構成部分１８０それぞれに、試験のために付加された測定用プローブと、測定器１６２とを接続する。
測定器１６２それぞれは、機器試験システム１４の制御に従って、接続された構成部分１８０およびその構成部分１８０それぞれを測定し、指定された試験のために必要とされる測定値を得て、この測定値を、信号切替器１６０を介して操作制御装置１４０に対して出力する。
In the
Each
操作制御装置１４０は、例えば、記録媒体１１４を開始得操作制御装置１４０に供給され、メモリ１０４にロードされた試験用プログラムを実行し、接続された試験ブロック１６の信号切替器１６０の接続を制御し、指定された試験に必要な１つ以上の測定器１６２と、指定された試験の対象となる試験対象装置１８とを接続する。
なお、全ての機器試験システム１４は、必要に応じて、全ての信号切替器１６０を制御することができ、全ての試験対象装置１８と、全ての測定器１６２とを接続させることができる。
さらに、操作制御装置１４０は、上記試験用プログラムの実行により、測定器１６２を制御して、試験対象装置１８の各構成部分１８０から、試験の実行に必要とされる測定値（温度、電力、試験対象装置１８０の動作に伴って出力されるデータなど）を測定させ、この測定により得られた測定値を解析して、試験対象の試験対象装置１８およびその構成部分１８０それぞれが正常に動作しているかなどの試験を行う。
操作制御装置１４０は、指定された試験を実行して得られた結果（合格／不合格）、および、その他、機器試験システム１のユーザに必要とされる情報（試験対象装置１８に対する試験が不合格だったときのエラーメッセージおよび例外処理の内容（中断／試験再実行／試験待機など）、故障していると推定された構成部分１８０を示す情報）を、入出力装置１０６に表示し、さらに、これらを、操作制御装置１４０および共有データ保持装置１４２に記憶する。
The
In addition, all the apparatus test systems 14 can control all the signal switchers 160 as needed, and can connect all the
Further, the
The
試験対象装置１８に対する試験は、試験レシピに従って行われる。
試験レシピは、操作制御部１４０それぞれにおいて、複数、作成され、操作制御部１４０および共有データ保持装置１４２に記憶される。
複数の試験レシピそれぞれにおいては、例えば、以下のような事項（１）〜（９）、つまり、機器試験システム１のユーザにより、操作制御部１４０に対して指定されうる複数の試験それぞれを実行するための手順など、指定されうる複数の試験それぞれを実行するための事項が、例えば、試験される試験対象装置１８の構成部分１８０それぞれに対する試験事項（ステップ）の集合として定義されている。
なお、以下、操作制御部１４０が、試験ブロック１６などを制御して、試験レシピに定義された事項に従って試験を実行することを、単に、試験レシピの実行と略記することがある。
The test on the
A plurality of test recipes are created in each
In each of the plurality of test recipes, for example, the following items (1) to (9), that is, a plurality of tests that can be designated for the
Hereinafter, the
（１）いずれの試験対象装置１８およびその構成部分１８０が試験対象とされるか；
（２）試験対象の試験対象装置１８およびその構成部分１８０といずれの測定器１６２とが接続されるか；
（３）測定器１６２が信号発生装置であるときに、測定器１６２が、接続された試験対象の試験対象装置１８およびその構成部分１８０に対して、どのような指示信号（信号の種類、指示値）を与えるか；
（４）測定器１６２が、接続された試験対象の試験対象装置１８およびその構成部分１８０に対する測定により得たいずれの測定値を試験のための解析の対象とするか；
（５）測定器１６２により得られた測定値をどのように解析するか；
（６）測定値の解析の際に、試験対象装置１８およびその構成部分１８０それぞれの機能等を正常とするための条件を示す情報（温度・電圧の閾値など）；
（７）指定された試験をいずれの時刻から、どのような時間長で行うか；
（８）上記（１）〜（６）を、どのような順番（シーケンス）で行うか；
（９）複数の試験が同時に行われようとしたときに、いずれの試験を優先して実行するか。
(1) Which
(2) which
(3) When the measuring
(4) Which measurement value obtained by the measurement by the measuring
(5) How to analyze the measurement value obtained by the measuring
(6) Information (conditions such as temperature and voltage thresholds) indicating conditions for normalizing the functions and the like of the device under
(7) From what time and for what length of time the specified test is conducted;
(8) In what order (sequence) the above (1) to (6) are performed;
(9) Which test should be prioritized when multiple tests are about to be performed simultaneously?
なお、試験レシピは、見出し情報を含み、見出し情報には、その試験レシピの作成者、作成日および確認日などが含まれる。
基本的に、試験レシピは、共有データ保持装置１４２に記憶されるが、何らかの障害で、共有データ保持装置１４２に試験レシピのファイル書き込みできないときには、書き込みできなかった試験レシピのファイルであることを示す識別子が付され、操作制御装置１４０の記録装置１１２などに記録される。
なお、試験レシピの共有データ保持装置１４２への記憶を妨げる上記障害が解消されたときには、この障害により共有データ保持装置１４２に書き込めなかった試験レシピのファイルは、共有データ保持装置１４２にコピーされ、他の試験レシピおよびこれに含まれるデータとの整合性が取られる（制御操作部１４０−１〜１４０−ｎおよび共有データ保持装置１４２が、同一のデータを持つようにされる）。
この障害により共有データ保持装置１４２に書き込めなかった試験レシピのファイルは、共有データ保持装置１４２にコピーされる。
次に、試験レシピ実行前に、制御操作部１４０−１は、共有データ保持装置１４２からデータを読み出し、制御操作部１４０−１のデータを更新する。
同様に、試験レシピ実行前（試験レシピを選択する画面を表示するタイミング時）に、制御操作部１４０−２は、共有データ保持装置１４２からデータを読み出して、制御操作部１４０−２のデータを更新する。
同様に、試験レシピ実行前に、制御操作部１４０−ｎは、共有データ保持装置１４２から読み出して、制御操作部１４０−ｎのデータを更新する。
以上のような動作により、データの整合性が取られ、制御操作部１４０−１〜１４０−ｎおよび共有データ保持装置１４２に記憶されているデータが同一に保たれる。
The test recipe includes heading information, and the heading information includes the creator of the test recipe, the creation date, the confirmation date, and the like.
Basically, the test recipe is stored in the shared data holding device 142. If the test recipe file cannot be written to the shared data holding device 142 due to some trouble, it indicates that the test recipe file cannot be written. The identifier is attached and recorded in the
In addition, when the above-described failure that prevents the storage of the test recipe in the shared data holding device 142 is resolved, the test recipe file that could not be written to the shared data holding device 142 due to this failure is copied to the shared data holding device 142, Consistency with other test recipes and data included therein is taken (the control operation units 140-1 to 140-n and the shared data holding device 142 have the same data).
The test recipe file that could not be written to the shared data holding device 142 due to this failure is copied to the shared data holding device 142.
Next, before the test recipe is executed, the control operation unit 140-1 reads the data from the shared data holding device 142 and updates the data of the control operation unit 140-1.
Similarly, before the test recipe is executed (when the screen for selecting the test recipe is displayed), the control operation unit 140-2 reads the data from the shared data holding device 142 and stores the data of the control operation unit 140-2. Update.
Similarly, before the test recipe is executed, the control operation unit 140-n reads out from the shared data holding device 142 and updates the data in the control operation unit 140-n.
By the operation as described above, data consistency is taken, and the data stored in the control operation units 140-1 to 140-n and the shared data holding device 142 are kept the same.
操作制御装置１４０に記憶された試験レシピは、何らかの障害により、その操作制御装置１４０から共有データ保持装置１４２にアクセスができないときに、指定された試験の実行のために参照される。
共有データ保持装置１４２への試験レシピおよびその他のデータ・情報の書き込み、および、共有データ保持装置１４２に記憶された試験レシピおよびその他のデータ・情報は、いずれの操作制御装置１４０からも可能である。
共有データ保持装置１４２は、共有データ保持装置１４２に記憶された試験レシピ等の操作制御装置１４０による編集に対して排他制御を行う。
例えば、操作制御装置１４０−１が、入出力装置１０６に対するユーザの操作に従って、共有データ保持装置１４２に記憶されている試験レシピを編集しているときには、共有データ保持装置１４２は、操作制御装置１４０−２〜１４０−ｎに対して、操作制御装置１４０−１が編集している試験レシピに対する編集を禁止する。
また、操作制御装置１４０−１が、ある試験レシピを実行しているときには、共有データ保持装置１４２は、操作制御装置１４０−２〜１４０−ｎに対して、操作制御装置１４０−１が編集している試験レシピに対する編集を禁止する。
The test recipe stored in the
The writing of the test recipe and other data / information to the shared data holding device 142 and the test recipe and other data / information stored in the shared data holding device 142 can be performed from any of the
The shared data holding device 142 performs exclusive control on editing by the
For example, when the operation control device 140-1 is editing a test recipe stored in the shared data holding device 142 in accordance with a user operation on the input /
When the operation control device 140-1 is executing a test recipe, the shared data holding device 142 edits the operation control devices 140-2 to 140-n by the operation control device 140-1. Prohibit editing of existing test recipes.
上述したように、機器試験システム１においては、ユーザの操作に応じて、操作制御装置１４０それぞれが、すべての試験対象装置１８についての様々な試験のための試験レシピを作成することができる。
つまり、操作制御装置１４０それぞれは、試験レシピの複数の種類（テスト用レシピ、簡易試験レシピ、選択試験レシピ、本番試験レシピ、自己診断レシピおよびシステム診断レシピなど）それぞれについて、複数の異なる内容の試験レシピ（試験レシピファイル１〜ｎ）を持つことができる。
操作制御装置１４０それぞれので、同じ試験を行うための様々な試験レシピから、ユーザは、自身にとって最適ないずれかを選択することができる。
つまり、機器試験システム１によれば、同じ試験について単一の試験レシピしか使用できない場合に比べて、ユーザにとっての利便性を高めることができる。
As described above, in the
That is, each of the
Each of the
That is, according to the
例えば、機器試験システム１においては、様々な種類の試験レシピが作られ得るので、例えば、下記のような様々な種類の試験レシピを作成することができる。
（１）テスト用の試験レシピ（例えば、複数の試験対象装置１８の間の信号シーケンスを確認するシミュレーション用の試験レシピ）；
（２）テンプレート型の試験レシピ（雛形となるような共通機能に特化した試験レシピ）；
（３）簡易試験レシピ（詳細な試験を行う前の一般的な項目をチェックするための試験レシピ）；
（４）選択試験レシピ（試験項目を選択して試験を行うための試験レシピ、例えば、試験対象装置１８の複数の構成部分１８０の内、重点的に試験すべき構成部分１８０に対する試験を行うための試験レシピ）；
（５）本番用の試験レシピ（試験対象装置１８の特性に応じ得、あらかじめ試験手順を固定化した試験レシピ）；
（６）自己診断用の試験レシピ（構成部分１８０の各ノードおよび各試験対象装置１８の構成部分１８０の自己診断を行うための試験レシピ）；
（７）システム診断用の試験レシピ（信号切替器１６０により操作制御装置１４０、試験ブロック１６および試験対象装置１８の間の接続関係を変更したときの機器試験システム１の動作チェックのための試験レシピ）。
For example, in the
(1) Test recipe for testing (for example, a test recipe for simulation for confirming a signal sequence between a plurality of test target devices 18);
(2) Template-type test recipe (test recipe specialized for common functions that can serve as a template);
(3) Simple test recipe (test recipe for checking general items before conducting a detailed test);
(4) Selection test recipe (for testing a test recipe for selecting a test item and performing a test on, for example, a component part 180 to be tested intensively among a plurality of component parts 180 of the test target device 18) Test recipes);
(5) Test recipe for production (a test recipe that can be obtained according to the characteristics of the
(6) Test recipe for self-diagnosis (test recipe for performing self-diagnosis of each node of component 180 and component 180 of each test target device 18);
(7) Test recipe for system diagnosis (a test recipe for checking the operation of the
機器試験システム１においては、ある試験レシピの実行のために必要とされる測定器１６２−ｉが故障しており、これを他の測定器１６２−ｊ（ｉ≠ｊ）で代用することができるときには、同じ試験対象装置１８に対して、同じ試験を、測定器１６２−ｉを用いて行うための試験レシピと、測定器１６２−ｊを用いて行うための試験レシピとがあれば、測定器１６２−ｉが故障したときにでも、測定器１６２−ｊを用いる後者の試験レシピを用いることにより、試験対象装置１８の試験を予定通りに行うことができる。
また、例えば、試験の内容に応じて、同じ値を測定する異なった品質の２つの測定器１６２を使い分けたいときには、これら２つの測定器１６２の１方ずつを用いる２つの試験レシピを用意することにより、これら２つの測定器１６２を使い分けた試験を行うことができる。
また、例えば、試験対象装置１８にマイナーチェンジがなされたときには、マイナーチェンジ前の試験対象装置１８用の試験レシピを変更することにより、新規に試験レシピを最初から作成しなくても、マイナーチェンジ後の試験対象装置１８の試験を行うことができる。
In the
Also, for example, if you want to use two measuring
Further, for example, when a minor change is made to the
しかしながら、機器試験システム１においては、試験ブロック１６−１内の測定器１６２は、試験ブロック１６−１に接続された試験対象装置１８−１，１８−２の試験にしか用いられ得ず、同様に、各試験ブロック１６内の測定器１６２は、その試験ブロック１６に接続された試験対象装置１８の試験にしか用いられ得ない。
つまり、機器試験システム１においては、試験ブロック１６と試験対象装置１８との組み合わせを変更して試験を行うためには、これらの間のケーブル接続を変更する必要がある。
また、機器試験システム１においては、１つの試験ブロック１６がある時刻に試験可能な試験対象装置１８は１つに限定されてしまい、複数の試験対象装置１８の試験のために用いられる測定器１６２に重複が生じなくても、１つの試験ブロック１６で、複数の試験を同時並行して行うことはできない。
However, in the
That is, in the
In the
しかしながら、様々な種類の試験レシピが実行可能であるときには、これら複数の試験レシピが同時並行的に実行可能であることが望ましい。
つまり、例えば、本番用の試験レシピを２種類、用意したときに、これらの試験レシピが同時平行に実行できれば、効率的に試験が行えるので、ユーザにとって便利である。
さらに、機器試験システム１において、複数の試験レシピを組み合わせて（レシピコンビネーション）、バッチ処理テーブルに沿って実行させることができれば、バッチ処理テーブル作成後に自動的に試験が行われるので、ユーザが機器試験システム１につききりで試験を行う必要がないので、ユーザにとって便利である。
However, when various types of test recipes can be executed, it is desirable that the plurality of test recipes can be executed in parallel.
That is, for example, when two test recipes for production are prepared, if these test recipes can be executed in parallel, the test can be performed efficiently, which is convenient for the user.
Furthermore, in the
なお、機器試験システム１のような試験システムにおいては、従来、ユーザが、複数の試験レシピのいずれかを選択して実行させ、それが終わったら、次の試験レシピを選択して実行するという手順で試験が行われてきた。
この場合において、バッチ処理テーブルにおいて、タイムスケジュールに沿って、一つの試験対象装置１８に対して、連続的に実行する試験レシピを定義することも、複数の試験対象装置１８に対して、連続的に試験を実行する試験レシピを定義することもできれば、ユーザにとって便利である。
Note that, in a test system such as the
In this case, in the batch processing table, it is possible to define a test recipe to be continuously executed for one
ただし、複数の試験対象装置１８に対して、連続的に実行される試験レシピを定義できても、その実行の際に、例えば、複数の試験の間で同一の測定器１６２に対して競合が起きるような場合には、複数の試験対象装置１８に対する試験を同時並行的に実行することはできない。
つまり、上述のような同一の測定器１６２に対する競合などが発生せず、同時並行的に実行可能な試験を選択的に実行することができるように工夫すると、試験時間の短縮などが達成され、ユーザにとってのメリットが生じる。
However, even if it is possible to define test recipes that are continuously executed for a plurality of
In other words, if the device can be selectively executed to perform tests that can be executed in parallel without causing competition for the
［第２実施形態］
以下、第２の実施例を説明する。
図２は、本発明にかかる第２の機器試験システム２の構成を示す図である。
第２の機器試験システム２には、複数の試験を同時並行的にできないなどの第１の機器試験システム１の不具合を解消するための工夫がなされており、図１に示した第１の機器試験システム１の試験ブロック１６を、第２の試験ブロック２０に置換し、全ての試験ブロック２０が、各試験ブロック２０の測定器１６２により得られた試験対象装置１８の測定値を受け渡すための計測器信号線２４で接続された構成をとる。
第２の試験ブロック２０は、機器試験システム１４の制御に従って、第１の試験ブロック１６の第１の信号切替器１６０の代わりに、それに接続された測定器１６２により得られた値を他の試験ブロック２０に対して送る。
また、試験ブロック２０は、機器試験システム１４の制御に従って、他の試験ブロック２０から送られてきた測定値を、この測定値を用いた試験を行う機器試験システム１４に対して出力する。
[Second Embodiment]
The second embodiment will be described below.
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the second
The second
Instead of the first signal switch 160 of the first test block 16, the second test block 20 uses the value obtained by the measuring
In addition, the test block 20 outputs the measurement value sent from the other test block 20 to the device test system 14 that performs a test using the measurement value, under the control of the device test system 14.
機器試験システム２においては、試験ブロック２０それぞれに含まれる測定器１６２の種類は、なるべく多くの種類の試験対象装置１８の試験のための測定に用いられるようにまとめられており、例えば、試験ブロック２０−１，２０−２の中には、アナログ無線機の試験に用いられる測定器１６２と、ディジタル無線機の試験に用いられる測定器１６２との両方が配置される。
このように、試験ブロック２０それぞれに、なるべく多くの種類の試験対象装置１８の試験に用いられる測定器１６２を配置することにより、同じ種類の試験対象装置１８に対する試験を同時並行的に行うことができる確率を高めることができる。
In the
In this manner, by arranging the measuring
つまり、例えば、試験ブロック２０−１に接続された２つのアナログ無線機（試験対象装置１８）の両方に同時並行して同じ試験を行うときに、一方の試験対象装置１８に対しては試験ブロック２０−１の中のアナログ無線機測定用の測定器１６２を用いた測定を行い、他方の試験対象装置１８には、計測器信号線２４を介して試験ブロック２０−２の中のアナログ無線機測定用の測定器１６２を用いた測定を行うことにより、これら２つの試験対象装置１８に対する試験を、同時並行的に行うことができる。
以上説明したように、各試験ブロック２０が含む測定器１６２の種類の組みあわせを工夫することにより、各試験ブロック２０が、同じ種類の測定器１６２を複数、含む場合に比べて、より少ない数の測定器１６２で、コストを抑えつつ、同時並行して行うことができる試験の数を増やすことができる。
That is, for example, when the same test is performed in parallel on both of the two analog wireless devices (test target devices 18) connected to the test block 20-1, the test block is applied to one
As described above, by devising a combination of the types of measuring
また、第２の機器試験システム２においては、複数の機器試験システム１４が、複数の試験対象装置１８に対する複数の試験を、同時並行的に実行することができる。
つまり、例えば、第２の機器試験システム２においては、操作制御装置１４０−１の制御により、試験対象装置１８−１に対する試験が行われ、操作制御装置１４０−２の制御により、試験対象装置１８−２に対する試験が行われうる。
一方、第１の機器試験システム１（図１）においては、例えば、試験ブロック１６−１に接続された試験対象装置１８−１に対して、測定器１６２−１−１を用いる試験が行われているときには、この試験には用いられない測定器１６２−１−２を用いる試験対象装置１８−２に対する試験は行われ得ないという制約が存在した。
In the second
That is, for example, in the second
On the other hand, in the first equipment test system 1 (FIG. 1), for example, a test using the measuring device 162-1-1 is performed on the test target device 18-1 connected to the test block 16-1. However, there is a restriction that a test cannot be performed on the test target device 18-2 using the measuring device 162-1-2 that is not used for this test.
さらに、第２の機器試験システム２においては、１つの操作制御装置１４０により、複数の試験対象装置１８に対する試験を行うことができる。
つまり、例えば、機器試験システム２においては、操作制御装置１４０−１が、試験ブロック２０−１に接続された試験対象装置１８−１の試験と、試験ブロック２０−ｎに接続された試験対象装置１８−ｎの試験とを、同時並行して行い得る。
一方、第１の機器試験システム１においては、１つの操作制御装置１４０は、ある時点においては、１つの試験しか行うことができない。
また、第１の機器試験システム１に比べて、機器試験システム２においては、複数の試験レシピの同時並行的な実行を行えるので、試験対象装置１８に対する試験の時間が短縮され、また、ある測定器１６２が故障したときに、他の測定器１６２に、故障した測定器１６２の代用の役割を果たさせることができる。
Furthermore, in the second
In other words, for example, in the
On the other hand, in the first
Compared to the first
［第３実施形態］
以下、第３の実施形態を説明する。
図３は、本発明にかかる第３の機器試験システム３の構成を示す図である。
図３に示すように、第３の機器試験システム３においては、第１の機器試験システム１における第１の試験ブロック１６または第２の機器試験システム２における第２の試験ブロック２０と置換された信号切替器３２と測定器１６２とが、ＬＡＮ３００などの通信回線を介して操作制御装置１４０および共有データ保持装置１４２と相互に接続されている。
また、信号切替器３２の制御部３２０と測定器１６２とが相互に接続され、信号切替器３２−ｉに、構成部分１８０−ｉ−１〜１８０−ｉ−ｎが接続される構成をとる。
信号切替器３２それぞれには、図１に示した操作制御装置１４０ど同様にＣＰＵ１０２およびメモリ１０４などを含む制御部３２０と、測定器１６２と試験対象装置１８との間を接続し、または、これらの間を切断するリレースイッチ（１つのメインスイッチ３２２およびサブスイッチ３２４−１〜３２４−ｎ）とを含む。
[Third Embodiment]
Hereinafter, a third embodiment will be described.
FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the third
As shown in FIG. 3, the third
Moreover, the control part 320 of the
Similarly to the
制御部３２０は、試験レシピを実行する操作制御装置１４０が、ＬＡＮ３００を介して送ってきたコマンドに応じてメインスイッチ３２２およびサブスイッチ３２４による信号測定用線の接続および切断を制御する。
メインスイッチ３２２およびサブスイッチ３２４それぞれは、試験レシピを実行する操作制御装置１４０のＬＡＮ３００および制御部３２０を介した制御に従って、測定器１６２と試験対象装置１８との間の信号測定用線を接続し、または、切断する。
The control unit 320 controls connection and disconnection of the signal measurement line by the main switch 322 and the sub switch 324 in accordance with a command sent from the
Each of the main switch 322 and the sub switch 324 connects a signal measurement line between the measuring
なお、図３には、各信号切替器３２に接続される測定器１６２それぞれが１本の信号測定用線を有する場合を例示しているが、測定器１６２に、複数の信号測定用線を有する場合には、その数に応じて、メインスイッチ３２２およびサブスイッチ３２４の数を増加させる必要がある。
また、測定器１６２の信号測定用線に応じてメインスイッチ３２２およびサブスイッチ３２４の数が増えたときには、必要に応じて、制御部３２０の処理能力を向上させる必要がある場合がある。
FIG. 3 illustrates the case where each measuring
Further, when the number of main switches 322 and sub switches 324 increases according to the signal measurement line of the measuring
制御部３２０と各測定器１６２との間は、例えば、ＬＡＮ，ＲＳ２３２Ｃ，ＧＰ−ＩＢおよびＤＩＯなどのディジタル信号伝送用のケーブルと、測定信号伝送用のケーブルとで接続され、制御部３２０は、ディジタル形式の信号により、測定器１６２それぞれの動作を制御し、測定信号伝送用ケーブルから入力された測定値を、ディジタル形式のデータに変換し、ＬＡＮ３００を介して、指定された試験を行っている操作制御装置１４０に対して出力する。
Between the control unit 320 and each measuring
また、信号切替器３２のサブスイッチ３２４と試験対象装置１８とは、一般に測定信号用ケーブルにより接続されるが、測定器１６２が、試験対象装置１８のディジタル形式の信号を測定するときには、測定器１６２と試験対象装置１８との間をＬＡＮなどのディジタル形式の信号を伝送する通信路とすることもできる。
この場合には、測定器１６２と試験対象装置１８との間をＬＡＮにより接続する場合には、これらの間に、ＬＡＮケーブルおよびＨＵＢ装置を用いることができる。
また、構成部分１８０の測定値を、制御部３２０がディジタル形式の信号に変換して、ＬＡＮ３００を介して、測定器１６２に対して送るように構成することもできる。
The sub switch 324 of the
In this case, when the measuring
Alternatively, the control unit 320 may convert the measurement value of the component 180 into a digital signal and send the signal to the
また、試験対象装置１８および信号切替器３２の構成によっては、これらの間を接続する信号測定線を共通化してバス接続することができる。
このような場合には、サブスイッチ３２４の数を減らして最小０個にすることができ、さらに、メインスイッチ３２２も省かれることがある。
ただし、複数の試験対象装置１８をまとめて信号測定線で接続すると、同じ信号測定線で共通に接続された複数の試験対象装置１８に対して同時並行的に試験を行うことはできなくなるので、複数の試験対象装置１８の信号測定線を共通化することによる低コスト化と、試験の同時並行的な実行とをトレードオフして機器試験システム３を構成する必要がある。
Further, depending on the configuration of the
In such a case, the number of sub switches 324 can be reduced to a minimum of 0, and the main switch 322 may be omitted.
However, if a plurality of
つまり、例えば、複数の試験対象装置１８に対する同時並行的な試験の頻度が少ない機器試験システム３においては、なるべく多くの試験対象装置１８を共通の信号測定線で接続することが好ましい。
なお、信号測定線を少なくする場合でも、その数は最小２本とすべきである。
１本のみのときには、この信号測定線に障害が発生すると試験が不能となるからである。
反対に、例えば、複数の試験対象装置１８に対する同時並行的な試験の頻度が多い機器試験システム３においては、試験対象装置１８と信号切替器３２とを、なるべく多くの信号測定線で接続することが好ましい。
That is, for example, in the
Even when the number of signal measurement lines is reduced, the number should be at least two.
This is because when there is only one, the test becomes impossible if a failure occurs in this signal measurement line.
On the other hand, for example, in the
［測定器１６２と試験対象装置１８との間の経路設定］
以下、測定器１６２−１と試験対象装置１８−１−２との間の信号測定線の経路設定を例として、機器試験システム３における測定器１６２と試験対象装置１８との間の信号測定線の経路設定を説明する。
試験レシピに従って、測定器１６２−１と試験対象装置１８−１−２との間で信号測定線の経路を設定して、試験対象装置１８−１−２に対する試験を実行使用とする操作制御装置１４０−１は、この試験において使用される測定器１６２−１が、他の試験に用いられているか否か、および、測定器１６２−１と試験対象装置１８−１−２との間の信号測定線の経路を設定するためのメインスイッチ３２２およびサブスイッチ３２４の接続または切断が、他の試験に用いられている信号測定線の経路に不具合を起こすか否かを判断する。
[Route setting between measuring
Hereinafter, the signal measurement line between the measuring
According to the test recipe, an operation control device that sets the path of the signal measurement line between the measuring device 162-1 and the test target device 18-1-2 and uses the test for the test target device 18-1-2. 140-1 indicates whether or not the measuring device 162-1 used in this test is used in another test, and a signal between the measuring device 162-1 and the device under test 18-1-2. It is determined whether the connection or disconnection of the main switch 322 and the sub switch 324 for setting the measurement line path causes a failure in the signal measurement line path used in another test.
つまり、操作制御装置１４０−１は、ユーザにより実行すべき試験を指定する操作がなされると、操作制御装置１４０−２〜１４０−ｎそれぞれに対して、ＬＡＮ３００を介してオンライン確認コマンドを発行し、操作制御装置１４０−２〜１４０−ｎそれぞれが、ＬＡＮ３００に接続されている（オンライン）状態にあるか否かを判定する。
操作制御装置１４０−２〜１４０−ｎの１つ以上が、ＬＡＮ３００に接続されていない（オフライン）状態にある場合には、オフライン状態の操作制御装置１４０において、操作制御装置１４０を介さない試験を実行している可能性がある旨を、操作制御装置１４０−１の入出力装置１０６に表示して、ユーザに対して警告を発する。
That is, the operation control device 140-1 issues an online confirmation command via the LAN 300 to each of the operation control devices 140-2 to 140-n when an operation for designating a test to be executed is performed by the user. Each of the operation control devices 140-2 to 140-n determines whether or not they are connected (online) to the LAN 300.
When one or more of the operation control devices 140-2 to 140-n are not connected to the LAN 300 (offline), the
操作制御装置１４０−１は、共有データ保持装置１４２を参照して、操作制御装置１４０−２〜１４０−ｎの内の１つ以上が試験を行っているか否かを判定する。
操作制御装置１４０−１は、操作制御装置１４０−２〜１４０−ｎのいずれかが試験を行っているときには、試験を行っている全ての操作制御装置１４０から、実行中の試験レシピを取得し、取得した各試験レシピを解析して、測定器１６２−１が使用されているか否か、および、測定器１６２−１と試験対象装置１８−１−２との間の信号測定線の経路が、他の実行中の試験に不具合を起こすか否かを判断する。
測定器１６２−１が他の試験に使用されているとき、および、測定器１６２−１と試験対象装置１８−１−２との間の信号測定線の経路が、他の実行中の試験に不具合を起こすときには、操作制御装置１４０−１は、その旨のメッセージ（エラーメッセージ）を入出力装置１０６に表示し、試験の実行を中止する。
The operation control device 140-1 refers to the shared data holding device 142 and determines whether or not one or more of the operation control devices 140-2 to 140-n are testing.
When any of the operation control devices 140-2 to 140-n is performing a test, the operation control device 140-1 acquires a test recipe being executed from all the
When the measuring device 162-1 is used for other tests, and the path of the signal measurement line between the measuring device 162-1 and the device under test 18-1-2 is used for other running tests. When a malfunction occurs, the operation control device 140-1 displays a message to that effect (error message) on the input /
操作制御装置１４０−１は、操作制御装置１４０−２〜１４０−ｎのいずれも試験を行っていないとき、および、測定器１６２−１が他の試験に使用されておらず、かつ、測定器１６２−１と試験対象装置１８−１−２との間の信号測定線の経路が、他の実行中の試験に不具合を起こさないときには、ユーザにより実行を指定された試験を、その試験レシピに従って実行する。
つまり、操作制御装置１４０−１は、信号切替器３２−１の制御部３２０に対して、ＬＡＮ３００を介して経路設定コマンドを発行し、試験対象装置１８−１−２と測定器１６２−１との間に信号測定線を設定するように、メインスイッチ３２２およびサブスイッチ３２４それぞれを接続または切断させるように制御させる。
また、試験に用いられていない信号切替器３２それぞれの制御部３２０に対して経路切断コマンドをＬＡＮ３００に発行して、その信号切替器３２それぞれのメインスイッチ３２２による信号測定線を切断させる。
The operation control device 140-1 is not operated by any of the operation control devices 140-2 to 140-n, and the measuring device 162-1 is not used for other tests, and the measuring device When the path of the signal measurement line between the 162-1 and the test target device 18-1-2 does not cause a problem with another test being executed, the test designated by the user is performed according to the test recipe. Execute.
That is, the operation control device 140-1 issues a path setting command to the control unit 320 of the signal switcher 32-1 via the LAN 300, and the test target device 18-1-2, the measuring device 162-1, The main switch 322 and the sub switch 324 are controlled to be connected or disconnected so that the signal measurement line is set during the period.
Further, a path disconnection command is issued to the LAN 300 to the control units 320 of the
以上のように、測定器１６２−１と試験対象装置１８−１−２との間の信号測定線の経路設定が終わると、操作制御装置１４０−１は、信号切替器３２−１の信号切替器３２に対し・BR>ト、ＬＡＮ３００を介して、測定器１６２−１に対して試験対象装置１８−１−２およびその構成部分１８０の値を測定させる測定指示コマンドを発行し、試験対象装置１８−１−２に対する測定を開始させる。
操作制御装置１４０−１は、測定器１６２−１による試験対象装置１８−１−２に対する測定が終了すると、この測定により得られた測定値を解析し、試験対象装置１８−１−２の機能および動作などが正常であるか否かを判断して、判断結果を記録装置１１２および共有データ保持装置１４２に記憶し、さらに、入出力装置１０６に表示してユーザに示す。
共有データ保持装置１４２は、いずれの試験対象装置１８に対して、いずれの操作制御装置１４０によるいずれの試験レシピが実行されているか監視し、監視結果を、試験実行情報として各操作制御装置１４０に通知する。
各操作制御装置１４０は、このバッチ処理の試験実行情報を、図８を参照して後述するＵＩ画像によるユーザの操作の受け入れなどのために用いる。
As described above, when the path setting of the signal measurement line between the measuring device 162-1 and the test target device 18-1-2 is completed, the operation control device 140-1 switches the signal of the signal switching device 32-1. The measurement instruction command is issued to cause the measuring device 162-1 to measure the values of the test target device 18-1-2 and its component 180 via the LAN 300 to the
When the measurement with respect to the test target device 18-1-2 by the measuring device 162-1 is completed, the operation control device 140-1 analyzes the measurement value obtained by this measurement, and the function of the test target device 18-1-2. It is determined whether the operation and the like are normal, and the determination result is stored in the
The shared data holding device 142 monitors which test recipe is executed by which
Each
［複数の試験レシピの管理方法］
以下、機器試験システム３における複数の試験レシピの管理方法を説明する。
図４（Ａ）は、機器試験システム３の操作制御装置１４０および共有データ保持装置１４２における試験レシピの管理方法を示す図であり、（Ｂ）は、試験レシピのステップの実行結果の表示例を示す図である。
操作制御装置１４０または共有データ保持装置１４２は、図４（Ａ）に示すように、それらのメモリに試験レシピフォルダ記憶領域を設け、この記憶領域に、試験レシピフォルダを作成し、さらに、試験の目的別にサブフォルダーを設けて試験レシピのファイル（試験レシピファイル；以下の説明においては、試験レシピと試験レシピファイルとを同じものとして扱う）を管理する。
[Managing multiple test recipes]
Hereinafter, a method for managing a plurality of test recipes in the
FIG. 4A is a diagram illustrating a test recipe management method in the
As shown in FIG. 4A, the
試験レシピファイルは、ヘッダ部とデータ部とを含む。
ヘッダ部には、履歴情報が含まれ、この履歴情報は、試験レシピそれぞれの更新履歴管理および過去の試験の結果の保存などに用いられる。
また、データ部には、上述のように試験の手順を示す試験レシピの内容が格納される。
なお、図４（Ａ）に示した例においては、試験レシピのファイルは試験の目的別に管理されているが、試験レシピのファイルは、試験の目的別の他、試験対象装置１８ごとに管理されたり、さらに管理のための階層が増やされたりしてもよい。
The test recipe file includes a header part and a data part.
The header portion includes history information, and this history information is used for managing the update history of each test recipe and storing the results of past tests.
The data portion stores the contents of the test recipe indicating the test procedure as described above.
In the example shown in FIG. 4A, the test recipe file is managed for each test purpose, but the test recipe file is managed for each
［試験レシピの実行結果の表示］
上述のように、試験レシピは、試験対象装置１８の試験を、構成部分１８０ごとの試験のステップの集合として実行するように構成されていることがある。
試験レシピに含まれる各ステップの結果は、試験レシピファイルのヘッダに履歴情報として格納され、操作制御装置１４０は、図４（Ｂ）に示すように、試験レシピの各ステップの前回実行により得られた試験の結果を表示し、さらに、実行中の試験レシピの各ステップの結果（合格／不合格）と、発生したアラーム情報と、実行中の試験レシピにより示され、実行中の試験に使用された測定器とを対応付けて機器試験システム１０８に表示する。
[Display test recipe execution results]
As described above, the test recipe may be configured to perform the test of the device under
The result of each step included in the test recipe is stored as history information in the header of the test recipe file, and the
このように、試験レシピに含まれるステップの実行が終了するたびに、その前回の試験における各ステップの結果を表示すると、操作制御装置１４０は、試験対象の試験対象装置１８のいずれの部分が前回と比べて劣化したかをユーザに示すことができ、また、ユーザは、ステップごとに順次、その結果を確認することができる。
さらに、不合格に終わったステップにおいて構成部分１８０などにより出されたアラーム、および、各ステップにおいて用いられた測定器１６２を、ステップごとに表示することにより、操作制御装置１４０は、ステップごとの試験結果とともに、これらの情報をユーザに通知することができる。
As described above, whenever the execution of the steps included in the test recipe is completed, the
Furthermore, by displaying the alarm issued by the component 180 or the like in the step that has failed, and the measuring
［バッチ処理］
以下、試験レシピに従った試験の第１のバッチ処理を説明する。
図５（Ａ）は、試験のバッチ処理のために用いられる第１のバッチ処理テーブルを例示する図であり、（Ｂ）は、（Ａ）に示したバッチ処理テーブルに付記され、異常処理および試験結果に応じた例外処理を定義した例外処理テーブルを例示する図である。
図６は、図５（Ａ），（Ｂ）に示したバッチ処理テーブルに従って行われる試験のタイムチャートを例示する図である。
なお、図５（Ａ），（Ｂ）においては、各試験レシピの実行の間に測定器１６２および信号測定経路の競合が発生しない場合が前提とされており、構成部分１８０に符号として付されたｎ以外のａ〜ｓの文字は、バッチ処理において定義される各数値を表し、同じ文字が常に同じ数値を表すとは限らない。
[Batch processing]
Hereinafter, the first batch process of the test according to the test recipe will be described.
FIG. 5A is a diagram illustrating a first batch processing table used for test batch processing, and FIG. 5B is appended to the batch processing table shown in FIG. It is a figure which illustrates the exception process table which defined the exception process according to a test result.
FIG. 6 is a diagram illustrating a time chart of a test performed in accordance with the batch processing table shown in FIGS. 5 (A) and 5 (B).
5A and 5B, it is assumed that there is no competition between the measuring
試験レシピをバッチ処理により実行するためには、図５（Ａ）に示されるように、試験対象装置１８−１−１〜１８−ｎ−ｎそれぞれに対して定義された１つ以上の試験レシピ１〜ｎの実行開始時間、および、試験対象装置１８−１−１〜１８−ｎ−ｎそれぞれに対して定義された１つ以上の試験レシピ１〜ｎそれぞれの監視時間（試験に要する最長時間の目安であって、試験レシピの実行がこの時間より極端に短かったり、長かったりした場合には試験の異常が検出される）を定義したバッチ処理テーブルが、操作制御装置１４０に対するユーザの操作により作成され、共有データ保持装置１４２に記憶される。
各操作制御装置１４０は、共有データ保持装置１４２に記憶されたバッチ処理テーブルの内容に従ったスケジュールで、各試験レシピを自動的に実行する。
共有データ保持装置１４２は、各操作制御装置１４０によるバッチ処理の実行を監視し、監視結果を各操作制御装置１４０に通知する。
各操作制御装置１４０は、このバッチ処理の通知結果を、図１０を参照して後述するＵＩ画像によるユーザの操作の受け入れなどのために用いる。
In order to execute the test recipe by batch processing, as shown in FIG. 5A, one or more test recipes defined for each of the test target devices 18-1-1 to 18-n-n. 1 to n execution start time, and monitoring time of each of one or
Each
The shared data holding device 142 monitors the execution of batch processing by each
Each
以上のようにバッチ処理テーブルを定義し、操作制御装置１４０がそれを実行することにより、図６に示すように、複数の試験レシピを経時的に連続して実行することができる（ただし、図６は、試験対象装置１８−１−１，１８−１−５，１８−ｎ−ｎに対してバッチ処理テーブルが作成された場合を例示）。
このような試験レシピのバッチ処理により、ユーザが試験レシピの実行を監視して、ある試験レシピの実行が終了したときに、次の試験レシピの実行を開始させる操作を操作制御装置１４０に出すという手間を省くことができる。
By defining the batch processing table as described above and executing it by the
By such batch processing of the test recipe, the user monitors the execution of the test recipe, and when the execution of a certain test recipe is finished, the
図５（Ｂ）に示すように、試験レシピの実行時間長に基づいて試験対象装置１８およびその構成部分１８０に異常が検出されたり、試験レシピの実行自体により、試験対象装置１８などに異常が検出されたときの処理を、バッチ処理テーブルに付記した例外処理テーブルとして定義することもできる。
図５（Ｂ）に示す例外処理テーブルには、試験レシピごとの監視時間と、監視時間に基づいて異常が検出されたとき、および、試験の結果が不合格だったときの処理（そのまま試験を継続する、強制的に終了させる（ＡＢＯＲＴ）、ユーザの支持操作待ち（ＷＡＩＴ）など）が定義され、操作制御装置１４０は、試験レシピの実行の際に、異常などが発生した場合には、この例外処理テーブルに定義された例外処理を実行する。
As shown in FIG. 5B, an abnormality is detected in the
In the exception processing table shown in FIG. 5B, the monitoring time for each test recipe, the processing when an abnormality is detected based on the monitoring time, and the result of the test is rejected (the test is performed as it is). The
以下、試験レシピに従った試験の第２のバッチ処理を説明する。
図７は、試験のバッチ処理のために用いられる第２のバッチ処理テーブルを例示する図である。
なお、図７には、試験対象装置１８−１−１の試験の開始時間を、ユーザがこのバッチテーブルを作成した直後（即時）とし、試験対象装置１８−１−１，１８−１−ｎそれぞれの試験レシピ１〜ｎの監視時間を定義し、試験対象装置１８−１−ｎの試験開始時間を、試験対象装置１８−１−１の試験終了後としてある場合が例示されている。
このように定義されたバッチ処理テーブルに従って、操作制御装置１４０が試験対象装置１８−１−１，１８−１−ｎの試験を行うと、試験対象装置１８−１−１の試験と、試験対象装置１８−１−ｎの試験とを、１つずつ連続的に実行することができる。
Hereinafter, the second batch process of the test according to the test recipe will be described.
FIG. 7 is a diagram illustrating a second batch processing table used for test batch processing.
In FIG. 7, the test start time of the test target device 18-1-1 is set immediately after the user creates this batch table (immediately), and the test target devices 18-1-1 and 18-1-n. The case where the monitoring time of each
When the
なお、図７に示したバッチ処理テーブルにおいて、開始時刻の定義は、例えば、下記のように複数の試験対象装置１８の試験の間で試験の開始または終了のタイミングを定義することにより、複数の試験対象装置１８の試験のタイミングを同期させることができる。
（１）直接、試験の開始時刻を指定する；
（２）図７に示したように時刻を指定せずに、
（２−１）バッチ処理テーブル完成直後（即時）
（２−２）ある試験対象装置１８の試験が終了した直後に他の試験対象装置１８の試験を開始する；
（２−３）ある試験対象装置１８の試験が終了してから指定の時間が経過した後に他の試験対象装置１８の試験を開始する；
（２−４）ある試験対象装置１８の試験の開始と同時に他の試験対象装置１８の試験を開始する。
In the batch processing table shown in FIG. 7, the start time is defined by, for example, defining the test start or end timing between the tests of the plurality of
(1) Specify the start time of the test directly;
(2) Without specifying the time as shown in FIG.
(2-1) Immediately after completion of the batch processing table (immediately)
(2-2) Immediately after the test of a certain
(2-3) A test of another
(2-4) At the same time as the start of a test of a certain
このように、複数の試験対象装置１８の試験の開始のタイミングを同期させることにより、複数の試験の間の測定器１６２に対する競合を回避したり、ある試験対象装置１８の試験が他の試験対象装置１８の試験に影響を与えることを防ぐことができる。
なお、複数の試験対象装置１８の試験が同時に行われたときに、影響を与え合う試験としては、無線機の試験における受信ノイズ測定を要する試験、他所の場所で送信された電波信号を受信する必要がある試験、および、無線機の受信感度の試験などを例として挙げることができる。
なお、以上説明したように複数の試験対象装置１８の試験の間で試験開始のタイミングを同期させるときには、タイミングチャートを作成し、影響を与え合う試験の有無を確認して、影響を与え合う試験がある場合には、試験の間の同期関係を手直しすることが好ましい。
In this way, by synchronizing the start timings of the tests of the plurality of
In addition, when tests of a plurality of
As described above, when synchronizing the test start timing among the tests of the plurality of
［ＵＩ画像］
以下、機器試験システム３において、操作制御装置１４０の入出力装置１０６に表示されるＵＩ(User Interface)画像およびこれを用いたユーザによる操作を説明する。
図８は、操作制御装置１４０が、機器試験システム３全体で行われている試験を入出力装置１０６の表示装置に表示し、この表示に対してユーザがマウスなどを用いて操作を行うために用いられるＵＩ(User Interface)画面を例示する第１の図である。
図９は、図８に示された試験対象装置１８−ｎ−３を示すアイコンがユーザによりクリックされたときに表示される機器試験システム１−ｎ−３の個別の試験レシピを表示する画面を例示する図である。
操作制御装置１４０は、共有データ保持装置１４２に問い合わせることにより、あるいは、他の操作制御装置１４０それぞれに問い合わせることにより、いずれの試験対象装置１８の試験を、いずれの操作制御装置１４０が行っているかなどを示す試験実行情報を得る。
[UI image]
Hereinafter, in the
In FIG. 8, the
FIG. 9 shows a screen for displaying individual test recipes of the device test system 1-n-3 displayed when the icon indicating the test target device 18-n-3 shown in FIG. 8 is clicked by the user. It is a figure illustrated.
Which
このようにして得られた試験実行情報は、操作制御装置１４０により、例えば図８に示すように入出力装置１０６に表示される。
なお、図８には、操作制御装置１４０−１が、試験対象装置１８−１−１，１８−１−３に対する試験を実行中であり、操作制御装置１４０−ｎが、試験対象装置１８−ｎ−１，１８−ｎ−ｎに対する試験を実行中である場合が例示されている。
なお、図８に示した画面の内容は、これを表示する全ての操作制御装置１４０において同一となる。
The test execution information obtained in this way is displayed on the input /
In FIG. 8, the operation control device 140-1 is executing a test on the test target devices 18-1-1 and 18-1-3, and the operation control device 140-n is the test target device 18-. The case where the test for n-1,18-n-n is being executed is illustrated.
Note that the content of the screen shown in FIG. 8 is the same in all the
例えば、ユーザが、操作制御装置１４０の入出力装置１０６のマウス（図示せず）を操作して、図８に示した試験対象装置１８−ｎ−３のアイコンをクリックすると、図９に例示する試験対象装置１８−ｎ−３の個別の試験レシピが表示される。
図９に示すように、例えば、試験対象装置１８−ｎ−３の試験の試験レシピがｎ個（試験レシピ１〜ｎ）作成されているときには、画面の上部に、これらの試験レシピそれぞれのアイコンが表示され、その下に、いずれの試験レシピも実行されていない旨（試験レシピ実行状態：未実行）が表示される。
この部分（試験レシピ実行状態）の表示は、作成済みの試験レシピの実行開始、実行終了、実行中断および実行中止に伴って、操作制御装置１４０により変更される。
この画面において、例えば、作成済みの試験レシピｉのアイコンがクリックされると、点線で示すように、画面中のさらに下の部分に試験レシピｉの内容（試験レシピｉに含まれる試験ステップ１〜ｎ；図４（Ｂ）参照）が表示される。
For example, when the user operates the mouse (not shown) of the input /
As shown in FIG. 9, for example, when n test recipes (
The display of this portion (test recipe execution state) is changed by the
In this screen, for example, when the icon of the created test recipe i is clicked, the contents of the test recipe i (test
ユーザは、この画面に表示された実行用アイコンをクリックすることにより、先に選択された試験レシピｉを即時実行させることができる。
また、試験対象装置１８−ｎ−３のいずれかの試験レシピが実行されているときには、実行されている試験レシピが試験レシピ実行状態に表示され、ユーザは、実行されている試験レシピを選択し、中断のアイコンまたは中止のアイコンをクリックすることにより、操作制御装置１４０に、実行中の試験レシピの実行を中断させたり、中止させたりすることができる。
なお、ユーザが、図９に示した画面において、ある試験レシピを指定して、その実行を指示する操作を行ったときには、操作制御装置１４０は、指定された試験レシピの実行可能性（他の試験との測定器１６２あるいは信号測定経路の競合などの有無）を、上述したように判定し、指定された試験レシピが実行可能であるときにはそれを実行し、実行不可能であるときには、その旨と、実行不可能な理由（測定器１６２の競合、指定された試験に影響を与える試験が他で行われている、あるいは、信号測定経路の競合など；エラーメッセージ）を、いちばん下のメッセージ表示エリアに表示する。
The user can immediately execute the previously selected test recipe i by clicking the execution icon displayed on this screen.
When any test recipe of the test target device 18-n-3 is being executed, the test recipe being executed is displayed in the test recipe execution state, and the user selects the test recipe being executed. By clicking on the interrupt icon or the cancel icon, the
When the user designates a certain test recipe on the screen shown in FIG. 9 and performs an operation for instructing the execution, the
図１０は、操作制御装置１４０が、機器試験システム３全体で行われている試験を入出力装置１０６の表示装置に表示し、この表示に対してユーザがマウスなどを用いて操作を行うために用いられるＵＩ(User Interface)画面を例示する第２の図である。
図１１は、図１０に示されたバッチ処理ｉを示すアイコンがユーザによりクリックされたときに表示されるバッチ処理ｉの内容を表示する画面を例示する図である。
操作制御装置１４０は、図８を参照して上述したように、他のノードに問い合わせを行って、いずれの試験対象装置１８に対して、いずれの操作制御装置１４０によるバッチ処理が行われているかを示す試験実行情報を得る。
このようにして得られた試験実行情報は、操作制御装置１４０により、例えば図１０に示すように入出力装置１０６に表示される。
なお、図１０には、操作制御装置１４０−１が、試験対象装置１８−１−１，１８−１−３に対するバッチ処理による試験を実行中であり、操作制御装置１４０−ｎが、試験対象装置１８−ｎ−１，１８−ｎ−ｎに対するバッチ処理による試験を実行中である場合が例示されている。
なお、図１０に示した画面の内容は、これを表示する全ての操作制御装置１４０において同一となる。
In FIG. 10, the
FIG. 11 is a diagram exemplifying a screen that displays the contents of the batch process i that is displayed when the icon indicating the batch process i illustrated in FIG. 10 is clicked by the user.
As described above with reference to FIG. 8, the
The test execution information obtained in this way is displayed on the input /
In FIG. 10, the operation control device 140-1 is executing a test by batch processing on the test target devices 18-1-1 and 18-1-3, and the operation control device 140-n is the test target. The case where the test by the batch process with respect to apparatus 18-n-1, 18-nn is being performed is illustrated.
Note that the content of the screen shown in FIG. 10 is the same in all the
例えば、ユーザが、操作制御装置１４０の入出力装置１０６のマウス（図示せず）を操作して、図１０に示した試験対象装置１８−ｎ−３のアイコンをクリックし、さらに、画面右下のバッチ処理と記されたアイコンをクリックすると、図１１に例示する操作制御装置１４０−１が、図７を参照して説明したような試験対象装置１８−ｎ−３に対して行っているバッチ処理の内容が表示される。
図１１に示すように、例えば、操作制御装置１４０−１による試験対象装置１８−ｎ−３を対象としたバッチ処理テーブルがｎ個（試験レシピ１〜ｎ）作成されているときには、画面の上部に、これらのバッチ処理テーブルそれぞれのアイコンが表示され、その下に、バッチ処理が実行されている旨（バッチ実行状態：実行中）が表示される。
この部分（試験レシピ実行状態）の表示は、作成済みの試験レシピの実行開始、実行終了、実行中断および実行中止に伴って、操作制御装置１４０により変更される。
この画面において、例えば、作成済みのバッチ処理ｉのアイコンがクリックされると、点線で示すように、画面中のさらに下の部分にバッチ処理ｉ用のバッチ処理テーブルの内容（バッチ処理ｉに含まれる試験レシピおよびそれらの開始時間など；図７参照）が表示される。
For example, the user operates the mouse (not shown) of the input /
As shown in FIG. 11, for example, when n batch processing tables (
The display of this portion (test recipe execution state) is changed by the
In this screen, for example, when the icon of the created batch processing i is clicked, as shown by the dotted line, the contents of the batch processing table for batch processing i (included in batch processing i) are displayed in the lower part of the screen. Test recipes and their start times; see FIG. 7).
ユーザは、この画面に表示された実行用アイコンをクリックすることにより、先に選択されたバッチ処理ｉを即時実行させることができる。
また、選択されたバッチ処理ｉが実行されているときには、ユーザは、中断のアイコンまたは中止のアイコンをクリックすることにより、操作制御装置１４０に、選択された実行中のバッチ処理の実行を中断させたり、中止させたりすることができる。
さらに、ユーザは、グラフのアイコンをクリックすることにより、選択したバッチ処理ｉおよび必要に応じてその他のバッチ処理の実行および進行状況を、例えば、図６に例示したように表示させることができる。
なお、ユーザが、図１１に示した画面において、あるバッチ処理を指定して、その実行を指示する操作を行ったときには、操作制御装置１４０は、試験レシピの実行について上述したように、指定されたバッチ処理の実行可能性（他の試験との測定器１６２あるいは信号測定経路の競合などの有無）を判定し、指定されたバッチ処理が実行可能であるときにはそれを実行し、実行不可能であるときには、その旨と、実行不可能な理由（エラーメッセージ）を、いちばん下のメッセージ表示エリアに表示する。
The user can immediately execute the previously selected batch process i by clicking the icon for execution displayed on this screen.
In addition, when the selected batch process i is being executed, the user causes the
Furthermore, the user can display the execution status and progress of the selected batch process i and other batch processes as necessary, for example, as illustrated in FIG. 6 by clicking on the graph icon.
When the user designates a certain batch process on the screen shown in FIG. 11 and performs an operation for instructing the execution, the
［機器試験システム３の全体動作］
以下、図３などに示した第３の機器試験システム３の全体的な動作を説明する。
図１２は、図３などに示した機器試験システム３それぞれの試験レシピの実行処理（Ｓ１０）を示す第１のフローチャートである。
ステップ１００（Ｓ１００）において、操作制御装置１４０は、図８に示したＵＩ画像を入出力装置１０６に表示し、ユーザは、表示された画像に対して所望の試験対象装置１８を選択し、選択した試験対象装置１８に対して実行使用とする試験レシピを選択する操作を行う。
操作制御装置１４０は、この操作を受け入れる。
[Overall operation of device test system 3]
The overall operation of the third
FIG. 12 is a first flowchart showing a test recipe execution process (S10) of each
In step 100 (S100), the
The
ステップ１０２（Ｓ１０２）において、ユーザからの操作を受けた操作制御装置１４０は、他の操作制御装置１４０それぞれがオンライン状態（ＬＡＮ３００に接続された状態）になっているか否かを判断する。
さらに、操作制御装置１４０は、共有データ保持装置１４２を参照し、いずれの操作制御装置１４０が、いずれの試験対象装置１８に対して、いずれの試験レシピを実行しているか、および、いずれの操作制御装置１４０が、いずれのバッチ処理に含まれるいずれの試験レシピを、その時点において、いずれの試験対象装置１８に対して実行しているかを示す試験実行情報を得る。
ステップ１０４（Ｓ１０４）において、試験を実行しようとする操作制御装置１４０は、共有データ保持装置１４２から得た試験実行情報に基づいて、他の操作制御装置１４０（場合によっては自らを含む全ての操作制御装置１４０）が、バッチ処理を実行しているか否かを判断する。
操作制御装置１４０は、バッチ処理が実行されているときにはＳ１０８の処理に進み、これ以外のときにはＳ１１４の処理に進む。
In step 102 (S102), the
Further, the
In step 104 (S104), the
The
ステップ１０６（Ｓ１０６）において、試験を実行しようとする操作制御装置１４０は、共有データ保持装置１４２から得た試験実行情報に基づいて、他の操作制御装置１４０（場合によっては自らを含む全ての操作制御装置１４０）が、試験レシピを実行しているか否かを判断する。
操作制御装置１４０は、試験レシピが実行されているときにはＳ１０８の処理に進み、これ以外のときにはＳ１１４の処理に進む。
ステップ１０８（Ｓ１０８）において、試験を実行しようとする操作制御装置１４０は、その時点で実行されているバッチ処理および試験レシピまたはこれらのいずれかを示す情報を共有データ保持装置１４２から得る。
In step 106 (S106), the
The
In step 108 (S108), the
ステップ１１０（Ｓ１１０）において、試験を実行しようとする操作制御装置１４０は、Ｓ１０８の処理により得られた情報に基づいて、実行しようとする試験レシピと、その時点で実行されているバッチ処理および試験レシピまたはこれらのいずれかとの間で、試験対象装置１８、試験対象装置１８と測定器１６２との間の経路および測定器１６２が競合するか、あるいは、使用しようとしている測定器１６２に故障が発生しているかなど、試験レシピの実行を妨げる理由があるか否かを判断する。
操作制御装置１４０は、競合が生じるときにはＳ１１２の処理に進み、これ以外のときはＳ１１４の処理に進む。
ステップ１１２（Ｓ１１２）において、操作制御装置１４０は、図９を参照して説明したように、ユーザにより指定された試験レシピの実行ができない旨と、Ｓ１１０で判明したその理由と（エラーメッセージ）を入出力装置１０６に表示し、ユーザに示すとともに、図５（Ｂ）に示した例外処理を行う。
In step 110 (S110), the
The
In step 112 (S112), as described with reference to FIG. 9, the
ステップ１１４（Ｓ１１４）において、操作制御装置１４０は、ユーザにより指定された試験レシピを実行する。
ステップ１１６（Ｓ１１６）において、操作制御装置１４０は、図８，図９に示したＵＩ画像を入出力装置１０６に表示し、ユーザによる操作を受け入れ得るようにするための処理を行う。
このときに、ユーザの操作により、例えば、互いに実行を妨げている２つの試験レシピのいずれかが、中止されたり、中断されたりしうる。
In step 114 (S114), the
In step 116 (S116), the
At this time, for example, one of two test recipes that are prevented from being executed can be stopped or interrupted by a user operation.
図１３は、図３などに示した機器試験システム３それぞれのバッチ処理の実行処理（Ｓ１０）を示す第２のフローチャートである。
ステップ１２０（Ｓ１２０）において、操作制御装置１４０は、図１０に示したＵＩ画像を入出力装置１０６に表示し、ユーザは、表示された画像に対して所望のバッチ処理を選択する操作を行う。
操作制御装置１４０は、この操作を受け入れる。
FIG. 13 is a second flowchart showing a batch process execution process (S10) of each of the
In step 120 (S120), the
The
ステップ１０２（Ｓ１０２）において、ユーザからの操作を受けた操作制御装置１４０は、他の操作制御装置１４０それぞれがオンライン状態（ＬＡＮ３００に接続された状態）になっているか否かを判断する。
さらに、操作制御装置１４０は、共有データ保持装置１４２を参照し、いずれの操作制御装置１４０が、いずれの試験対象装置１８に対して、いずれの試験レシピを実行しているか、および、いずれの操作制御装置１４０が、いずれのバッチ処理に含まれるいずれの試験レシピを、その時点において、いずれの試験対象装置１８に対して実行しているかを示す試験実行情報を得る。
ステップ１０４（Ｓ１０４）において、バッチ処理を実行しようとする操作制御装置１４０は、共有データ保持装置１４２から得た試験実行情報に基づいて、他の操作制御装置１４０（場合によっては自らを含む全ての操作制御装置１４０）が、バッチ処理を実行しているか否かを判断する。
操作制御装置１４０は、バッチ処理が実行されているときには第１のＳ１０８−１の処理に進み、これ以外のときには第１のＳ１１０の処理に進む。
In step 102 (S102), the
Further, the
In step 104 (S104), the
The
第１のステップ１０８−１（Ｓ１０８−１）において、バッチ処理を実行しようとする操作制御装置１４０は、その時点で実行されているバッチ処理および試験レシピまたはこれらのいずれかを示す情報を共有データ保持装置１４２から得る。
第１のステップ１１０−１（Ｓ１１０−１）において、バッチ処理を実行しようとする操作制御装置１４０は、Ｓ１０８−１の処理により得られた情報に基づいて、上記競合など、実行しようとするバッチ処理と、その時点で実行されているバッチ処理との間で、バッチ処理の実行を妨げる理由があるか否かを判断する。
操作制御装置１４０は、競合が生じるときにはＳ１０８−１の処理に進み、これ以外のときはＳ１２４の処理に進む。
In the first step 108-1 (S <b> 108-1), the
In the first step 110-1 (S110-1), the
The
ステップ１０６（Ｓ１０６）において、バッチ処理を実行しようとする操作制御装置１４０は、共有データ保持装置１４２から得た試験実行情報に基づいて、他の操作制御装置１４０（場合によっては自らを含む全ての操作制御装置１４０）が、試験レシピを実行しているか否かを判断する。
操作制御装置１４０は、試験レシピが実行されているときにはＳ１０８−２の処理に進み、これ以外のときにはＳ１２２の処理に進む。
In step 106 (S106), the
The
第２のステップ１０８−２（Ｓ１０８−２）において、バッチ処理を実行しようとする操作制御装置１４０は、その時点で実行されているバッチ処理および試験レシピまたはこれらのいずれかを示す情報を共有データ保持装置１４２から得る（Ｓ１０８−２の処理が実行されているときにはＳ１０８−２の処理は省略可）。
第２のステップ１１０−２（Ｓ１１０−２）において、試験を実行しようとする操作制御装置１４０は、Ｓ１０８−２の処理により得られた情報に基づいて、競合など、実行しようとするバッチ処理の実行を妨げる理由があるか否かを判断する。
操作制御装置１４０は、競合が生じるときにはＳ１２４の処理に進み、これ以外のときはＳ１２２の処理に進む。
In the second step 108-2 (S <b> 108-2), the
In the second step 110-2 (S110-2), the
The
ステップ１２２（Ｓ１２２）において、操作制御装置１４０は、ユーザにより指定されたバッチ処理を実行する。
ステップ１２４（Ｓ１２４）において、操作制御装置１４０は、図１１を参照して説明したように、ユーザにより指定された試験レシピの実行ができない旨と、Ｓ１１０−２で判明したその理由とを入出力装置１０６に表示し、ユーザに示すとともに、例外処理を行う。
このときに、ユーザの操作により、例えば、互いに実行を妨げている２つのバッチ処理のいずれかが、中止されたり、中断されたりしうる。
ステップ１１６（Ｓ１１６）において、操作制御装置１４０は、図１０，図１１に示したＵＩ画像を入出力装置１０６に表示し、ユーザによる操作を受け入れ得るようにするための処理を行う。
In step 122 (S122), the
In step 124 (S124), as described with reference to FIG. 11, the
At this time, for example, one of two batch processes that are mutually prevented from being executed can be stopped or interrupted by a user operation.
In step 116 (S116), the
［機器試験システム３の特徴］
以下、第３の機器試験システム３の特徴を説明する。
以上説明した第３の機器試験システム３によれば、複数の操作制御装置１４０により、複数の測定器１６２を制御して、測定器１６２と信号切替器３２を介して接続された試験対象装置１８の試験を、共有データ保持装置１４２に記憶され、全ての操作制御装置１４０により共有される試験レシピに従って行うことができる。
また、機器試験システム３によれば、複数の試験レシピを組み合わせて（レシピコンビネーションを行って）、バッチ処理テーブルに沿って実行させることができ、試験対象装置１８に対する試験を自動化できるので、ユーザの手間が省かれる。
また、機器試験システム３によれば、例えば、測定器１６２あるいは試験対象装置１８と測定器１６２との経路の競合により、互いに実行を妨げない限り、複数の試験レシピおよびその複数のバッチ処理を同時並行して行うことができるので、試験時間が短縮されうる。
[Features of equipment test system 3]
Hereinafter, characteristics of the third
According to the third
In addition, according to the
Further, according to the
また、機器試験システム３においては、複数の試験レシピの同時並行的な実行と、複数のバッチ処理の同時並行的な実行とが両立するので、いずれかのみが可能な場合と比べて、さらに多くの数の試験対象装置１８に対する試験が、同時並行的に行なわれうる。
例えば、複数の試験レシピの同時並行的な実行ができなくとも、複数のバッチ処理の同時並行的な実行ができれば、事実上、複数の試験レシピの同時並行的な実行が実現されていることになる。
また、機器試験システム３においては、複数の試験対象装置１８に対してバッチ処理と試験レシピとが同時並行的に行われうるので、これらの組みあわせにより、いずれか一方が可能なときに比べて、試験時間の短縮およびユーザの手間の削減の両方の効果が大きくなる。
Moreover, in the
For example, even if multiple test recipes cannot be executed in parallel, if multiple batch processes can be executed in parallel, multiple test recipes can be executed in parallel. Become.
Further, in the
また、機器試験システム３においては、全ての操作制御装置１４０において、図８〜図１１に示した共通のＵＩ画面が用いられるので、ユーザは、任意の操作制御装置１４０において、全く同じ操作により、試験レシピの実行と、バッチ処理の作成および実行とを行うことができるので、第１の機器試験システム１に比べて、ユーザの使い勝手（習熟、誤操作防止）が向上する。
さらに、ある操作制御装置１４０が故障しても、他の操作制御装置１４０により同じ試験を行うことができるので、機器試験システム３の稼働率は、第１の機器試験システム１よりも高くなる。
In the
Furthermore, even if a certain
本発明は、試験対象となる機器に対する試験のために利用できる。 The present invention can be used for testing a device to be tested.
１〜３・・・・機器試験システム，１４０・・・操作制御装置，１００・・・本体，１０２・・・ＣＰＵ，１０４・・・メモリ，１０６・・・入出力装置，１１０・・・通信装置，１１２・・・記録装置，１１４・・・記録媒体，１６，２０・・・試験ブロック，１６０・・・信号切替器，１６２・・・測定器，１８・・・試験対象装置，１８０・・・構成部分，２４・・・計測器信号線，３２０・・・制御部，３２２・・・メインスイッチ，３２４・・・サブスイッチ， 1 to 3 ··· Equipment test system, 140 to operation control device, 100 to main body, 102 to CPU, 104 to memory, 106 to input / output device, 110 to communication Device, 112 ... recording device, 114 ... recording medium, 16, 20 ... test block, 160 ... signal switching device, 162 ... measuring device, 18 ... test target device, 180. ..Component part, 24... Measuring instrument signal line, 320... Control unit, 322... Main switch, 324.
Claims (3)
それぞれ前記試験対象機器から前記測定器への前記値を受け渡す接続、または、この接続の切断を行うために用いられる１つ以上のスイッチと、
前記試験対象機器に対して指定された試験に対して予め定められた前記試験それぞれの手順により、前記試験対象機器に接続された測定器による前記値の測定結果が、この試験において必要とされるときに、前記スイッチそれぞれを制御して、前記試験対象機器と前記測定器とを、前記値を測定できるように接続させ結果がされた前記試験対象機器の前記値を測定させ、この測定結果に基づいて、それぞれに対して指定された試験を行う複数の試験制御装置と
を有する試験システムであって、
前記試験制御装置それぞれは、
他の試験制御装置が前記試験対象機器の試験を行っているとき以外には、必要に応じて前記スイッチの接続および切断を行って、前記指定された試験を実行し、
他の試験制御装置が前記試験対象機器の試験を行っているときには、この他の試験制御装置により前記スイッチの接続および切断が行われた状態で、前記指定された試験のために、この試験制御装置が行おうとする前記スイッチの接続および切断が可能であるか否かを判断し、
この試験制御装置が行おうとする前記スイッチの接続および切断が可能であるときには、前記指定された試験を実行し、これ以外のときには、前記指定された試験の例外処理を行う
試験システム。 One or more measuring devices each measuring values used for testing one or more devices under test;
One or more switches each used to connect the value from the device under test to the measuring instrument, or to disconnect the connection;
The measurement result of the value by the measuring instrument connected to the device under test is required in this test according to the procedure of each test predetermined for the test specified for the device under test. Sometimes, each of the switches is controlled to connect the device under test and the measuring instrument so that the value can be measured, and the value of the device under test that is the result is measured. A test system having a plurality of test controllers for performing a specified test on each of the test systems,
Each of the test control devices
Except when other test control devices are testing the device under test, connect and disconnect the switch as necessary, and execute the specified test,
When another test control device is testing the device under test, the test control is performed for the designated test in a state where the switch is connected and disconnected by the other test control device. Determine whether the device is capable of connecting and disconnecting said switch;
A test system that executes the designated test when the switch to be connected and disconnected by the test control apparatus can be connected, and performs exception handling of the designated test at other times.
前記指定された試験の実行を待機させている他の試験制御装置が終了したときに、前記実行を待機させていた試験を実行する
請求項１に記載の試験システム。 Each of the test control devices
The test system according to claim 1, wherein when the other test control device waiting for execution of the designated test ends, the test waiting for execution is executed.
前記指定された試験の実行を待機させているときに、その旨と、前記指定された試験の実行を待機させている他の試験制御装置が終了して、前記指定された試験の実行される時間を示す情報とを、外部に対して表示する
請求項１または２に記載の試験システム。 Each Seki test control device
When waiting for execution of the designated test, that fact and other test control devices waiting for execution of the designated test are terminated, and the designated test is executed. The test system according to claim 1, wherein information indicating time is displayed to the outside.
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