JP2011160211A - 半導体集積回路、半導体集積回路の構成変更方法 - Google Patents

半導体集積回路、半導体集積回路の構成変更方法 Download PDF

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Abstract

【課題】再構成可能デバイスの回路面積を縮小する。
【解決手段】 本発明による半導体集積回路は、複数の機能ブロック10と、複数の構成情報が格納された複数の構成情報メモリ11と、自身に入力される構成情報に応じたスイッチング動作によって、機能ブロック10間の接続を制御する複数のプログラマブルスイッチ12、13とを具備する。複数のプログラマブルスイッチ12、13は、複数の構成情報メモリ11のうち、共通の構成情報メモリ11内に格納された構成情報を利用する。
【選択図】図2

Description

本発明は、再構成可能な半導体集積回路及びその構成変更方法に関する。
現在、各種のデータ処理を自在に実行できるプロセッサユニットとしては、いわゆるCPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro Processor Unit)と呼称される製品が実用化されている。
このようなプロセッサユニットを利用したデータ処理システムでは、複数の命令コードが記述された各種のアプリケーションプログラムと各種の処理データとがメモリデバイスに格納される。プロセッサユニットはメモリデバイスから命令コードや処理データを順番にデータ読出して複数の演算処理を逐次実行する。
プロセッサユニットは、各種のデータ処理を実現できるが、複数の演算処理を順番に逐次実行する必要がある。又、プロセッサユニットは、処理ごとにメモリデバイスから命令コードをデータ読出する必要があるため、複雑なデータ処理を高速に実行することは困難である。
一方、実行するデータ処理が1つに限定されている場合、当該データ処理を実行する論理をハードウェアで形成することで、プロセッサユニットにおける逐次処理を省略できる。すなわち、メモリデバイスから複数の命令コードを順番にデータ読出して逐次処理する必要はなくなる。しかし、ハードウェアで構成された論理回路は、複雑なデータ処理を高速に実行することが可能であるが、1つのデータ処理しか実行することができない。
つまり、アプリケーションプログラムを切換自在としたデータ処理システムは、各種のデータ処理を実行できるが、データ処理を高速に実行することが困難である。一方、ハードウェアで構成された論理回路は、データ処理を高速に実行することが可能であるが、アプリケーションプログラムを変更できないので1つのデータ処理しか実行できない。
この2つの極端な例の中間に位置するのが再構成可能デバイスである。これは必要に応じて異なる所定の構成(論理)へと再構成することが可能なデバイスである。従って、再構成可能デバイスは、適切な再構成により現在の計算上の必要性を満たすように、そのハードウェアリソースを変更するコンピュータの可能性を提供するものとなる。
再構成可能デバイスは、小規模の多数の機能ブロックがマトリクス状に配列されており、アプリケーションプログラムに対応して、多数の機能ブロックの個々の動作と、プログラマブルな配線資源によって接続された多数の演算器の相互の接続関係とが変更される。
再構成可能デバイスは、アプリケーションプログラムを変更することでハードウェアの構成が変化するため、各種のデータ処理を実行することができる。又、再構成可能デバイスは、ハードウェアとして小規模の多数の機能ブロックが簡単な演算処理を並列に実行するため、データ処理を高速に実行することができる。
再構成可能デバイスで実現される処理は非常に多岐にわたっており、機能ブロックや種々の回路間の効率的な接続を可能にするため、様々な構成のプログラマブルな配線資源が種々考案されている。
例えば、属性の異なる複数の種類の配線資源を持つ再構成可能デバイスが、特開2002−076883(特許文献1参照)や、特開2003−076668(特許文献2参照)に記載されている。又、例えば、複数の構成情報を格納できる再構成可能デバイスが特開2000−224025(特許文献3参照)や、特開2001−312481(特許文献4)に記載されている。
特許文献1に記載の再構成可能デバイスでは、多ビットデータが主に移動する水平方向に均一性の高いプログラマブル相互接続路(配線資源)が用いられている。ここでは、ALU (Arithmetic and Logic Unit)が延びている垂直方向に、ALU 単位の処理に適したプログラマブル相互接続路(配線資源)を用いることで、高性能多ビットデータパスを効率的にインプリメントできるようにしている。
又、特許文献2に記載の再構成可能デバイスでは、多ビット幅(mbit)データ処理と少ビット幅(nbit)データ処理(n<m)を各々効率良く実行するために、配線資源をmbit幅データパス(配線資源)とnbit幅データパス(配線資源)に分けて利用している。
再構成可能デバイスでは、図1に示すように、多数の機能ブロック10がマトリクス状に配列されている。機能ブロック10は、ALU等に例示される演算器、レジスタファイル、メモリ等によって構成され、多用な論理機能をプログラマブルに設定できる。
又、再構成可能デバイスは、プログラマブル配線資源(バス20、30)によって自由に機能ブロック10の接続関係を変更することによって、さまざまな処理を実現できる。
再構成可能デバイスの配線資源(バス20、30)の接続関係を変更するためのプログラマブルスイッチ(図示なし)は、メモリやフリップフロップ(FF)等に例示される記憶素子(以下、構成情報メモリと称す)によって制御されている。又、複数ワードのメモリを利用して複数の構成情報を格納できる構成情報メモリの構成が、例えば特開2008−15772に記載されている(特許文献5参照)。
上述の特許文献や従来技術では、いずれの場合も、NMOS(N Channel Metal Oxide Semiconductor)、トランスミッションゲート、トライステートバッファ、マルチプレクサといったプログラマブルスイッチの要素は、その要素にのみ対応する構成情報によって制御されている。
特開2002−076883 特開2003−076668 特開2000−224025 特開2001−312481 特開2008−15772
再構成可能デバイスは、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)等の専用回路に比べて回路構成の柔軟性が大きいという利点があるが、回路構成が冗長になるという弱点がある。再構成可能デバイスは、回路構成の切り替えに対応した複数の機能ブロック、回路構成情報を格納する構成情報メモリ等を備えている。又、機能ブロック間の接続関係を切り替えるためのプログラマブルスイッチは、専用回路の配線に比べて多くの面積を必要とする。このため、再構成可能デバイスで所望の回路を構成する場合、同一の回路を専用回路によって構成する場合に比べて集積度が低く面積効率が悪くなる。例えば、(A+B)*(C+D)→Yという算術演算を行う回路を、再構成可能デバイスと専用回路のそれぞれで構成した場合、特許文献5に記載されているように再構成可能デバイスの冗長性は明らかである。そのため、再構成可能デバイスの競争力向上には面積削減が求められる。ただし、これにより回路構成の柔軟性を失っては再構成可能デバイスの意義がなくなるため、いかに回路構成の柔軟性を保ったまま面積を縮小するかが再構成可能デバイス設計時の課題となる。
再構成可能デバイスを設計するにあたっては、例えば、水平方向と垂直方向、mbitとnbitといった属性の異なる複数の種類の配線資源の比率を、予め決め打ちで固定して設計しなければならない。又、設計後はそれらの比率は固定され変更は不可能となる。設計段階で狙ったターゲットには効率がよくとも、他で効率が悪くなることは当然想定される。バランスをある処理に特化させれば、汎用性は失われ、逆に汎用を目指すと、どのような処理にも相対的に性能が出ないことになる。
全ての用途に対して最適となるように、水平方向と垂直方向、mbitとnbitといった異なる種類の配線資源を、いずれも全てのアプリケーションで必要とされる最大本数用意すると、面積が爆発的に増大し面積効率は低下する。これは、あるアプリケーションを選択使用した場合、他のアプリケーションで使用する属性の配線資源が大量に使用されずに無駄な領域となるからである。又、面積の増大は配線長の増大につながり、遅延が増大するため絶対性能も低下する。
再構成可能デバイスの用途数(アプリケーション数)を増大させた場合、それぞれの用途に対する高性能化は望めず、用途を特化した場合、汎用性で劣ることになる。又、将来、設計時と異なる特性の処理を再構成可能デバイスで実現することが必要になることがある。この場合、用途を特化して設計された再構成可能デバイスは、当該処理に全く不向きな構成である恐れもある。
複数の属性の割合を偏向させて設計した場合、再構成可能デバイスの特性が明確となるが、使用用途が特化されるため柔軟性がなくなってしまう。一方、複数の属性を同じ割合にすると、汎用性を有するがそれぞれが低性能化してしまう。又、どのような場合でも高性能となるように、いずれの属性も多く設定すると、面積が肥大化してしまう。更に、この場合、ある処理においてある属性のリソースばかりが使われ、他の属性のリソースが余って無駄になることが予想される。つまり、面積が肥大化する上、多くの処理でその増大したリソースの大部分は使われなくなり、面積効率の悪いアーキテクチャとなり得る。
一般的に構成情報メモリは、再構成可能デバイスにおいて大きな面積を占めている。例えば、特許文献5を参照すると、再構成可能デバイスが専用回路に比べて冗長な部分は構成情報メモリ及びプログラマブルスイッチであることは明白である。特に、特許文献3や特許文献5のように複数の構成情報を格納できる再構成可能デバイスでは、複数ワードのメモリが構成情報メモリとして使われるため、構成情報メモリの面積に占める割合はさらに大きくなる。将来、この構成情報のワード数が増大する方向に拡張されていった場合、構成情報メモリの面積に占める割合が今よりもさらに大きくなるのは明らかである。そのため、面積を縮小するには構成情報メモリをいかに削減するかが重要である。
上記の課題を解決するために、本発明は、以下に述べられる手段を採用する。その手段を構成する技術的事項の記述には、[特許請求の範囲]の記載と[発明を実施するための形態]の記載との対応関係を明らかにするために、[発明を実施するための形態]で使用される番号・符号が付加されている。ただし、付加された番号・符号は、[特許請求の範囲]に記載されている発明の技術的範囲を限定的に解釈するために用いてはならない。
本発明による半導体集積回路は、複数の機能ブロック(10)と、複数の構成情報が格納された複数の構成情報メモリ(11)と、自身に入力される構成情報に応じたスイッチング動作によって、機能ブロック(10)間の接続を制御する複数のプログラマブルスイッチ(12、13)とを具備する。複数のプログラマブルスイッチ(12、13)は、複数の構成情報メモリ(11)のうち、共通の構成情報メモリ(11)内に格納された構成情報を利用する。
本発明によれば、複数のプログラマブルスイッチ(12、13)が共通の構成情報メモリ(11)を利用することで、再構成可能デバイスに設けられる構成情報メモリの数を削減することが可能となる。
又、本発明による半導体集積回路の構成変更方法は、1つの構成情報メモリ(11)から構成情報が入力されるプログラマブルスイッチを、複数のプログラマブルスイッチ(12、13)から選択するステップと、選択されたプログラマブルスイッチが入力された構成情報に基づいて機能ブロック間を接続するステップとを具備する。
本発明によれば、共通の構成情報メモリ(11)を利用するプログラバブルスイッチを複数のプログラマブルスイッチ(12、13)から選択しているため、再構成可能デバイスに設けられる構成情報メモリの数を削減することができる。
本発明によれば、再構成可能デバイスの回路面積を縮小できる。
図1は、本発明による半導体集積回路の全体構成の一例を示す図である。 図2は、本発明による半導体集積回路の実施の形態における構成を示す図である。 図3は、本発明による半導体集積回路の第1の実施の形態における構成を示す図である。 図4は、本発明に係る切替回路の構成の一例を示す図である。 図5は、本発明による半導体集積回路の比較例の構成を示す図である。 図6は、第1の実施の形態における半導体集積回路の変形例を示す図である。 図7は、非同期ループが起こる可能性のある構成の一例を示す図である。 図8は、第1の実施の形態における半導体集積回路の他の変形例を示す図である。 図9は、本発明による半導体集積回路の第2の実施の形態における構成を示す図である。 図10は、本発明による半導体集積回路の第3の実施の形態における構成を示す図である。 図11は、本発明による半導体集積回路の第4の実施の形態における構成を示す図である。
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施の形態を説明する。図面において同一、又は類似の参照符号は、同一、類似、又は等価な構成要素を示す。
図1は、本発明による半導体集積回路の全体構成の一例を示す図である。図1を参照して、本発明による半導体集積回路は、マトリクス状(2次元アレイ状)に配置された複数の機能ブロック10と、複数の機能ブロック10間を接続するバス20、30を具備する再構成可能デバイスである。機能ブロック10は、アプリケーションプログラムに対応する機能を実現し、後述する構成情報(コンフィギュレーション情報)によって、その機能が変更される。バス20はマトリクス状に配置された機能ブロック10の行方向(水平方向)に延設され、バス30は列方向(垂直方向)に延設される。バス20、30は、プログラマブルスイッチによって機能ブロック10との接続が制御されるプログラマブル配線資源として機能する。すなわち、本発明による半導体集積回路は、垂直方向配線資源(列方向配線資源)と、水平方向配線資源(行方向配線資源)の2つの属性を持つ再構成可能デバイスとなる。
単方向線を使用するよりも小さな面積で自由度の高い接続が可能であるため、バス20、30としては双方向バスを利用することが好ましい。例えば、バス20、30は、プログラマブル配線資源として利用するため、トライステートバッファやパストランジスタ等をプログラマブルスイッチとして用いた双方向バスが好適に利用される。
本発明による半導体集積回路(以下、再構成可能デバイスと称す)は、実行するアプリケーションプログラムを変更した場合、機能ブロック10の動作(構成)や、バス20、30に接続される機能ブロック10内の演算器が変更される。これにより、再構成可能デバイスは、そのハードウェア構成が変更され、異なる機能を実現することができる。このように、再構成可能デバイスは、プログラマブルな配線資源によって自由に機能ブロックの接続関係を変更することによって、さまざまな処理を実現できる。
図2を参照して、本発明による再構成可能デバイスにおいて利用されるプログラマブル配線資源の構成の詳細を説明する。図2は、本発明による半導体集積回路の実施の形態における構成を示す図である。以下の実施の形態では、水平方向配線資源(バス20)及び垂直方向配線資源(バス30)のそれぞれにおける一部のプログラマブルスイッチを、同じ構成情報メモリで制御させる構成及び動作を示す。
本発明による再構成可能デバイスは、複数の構成情報メモリ11、複数のプログラマブルスイッチ12、13、及びメモリ共有化回路100を具備する。又、バス20は、複数の配線201〜20j(jは自然数)を備え、バス30は、複数の配線301〜30i(iは自然数)を備える。
プログラマブルスイッチ12は、バス20(水平方向配線資源)と機能ブロック10との間の接続を制御し、プログラマブルスイッチ13は、バス30(垂直方向配線資源)と機能ブロック10における所定の演算器との間の接続を制御する。詳細には、プログラマブルスイッチ12は、複数の配線201〜20jのいずれかに接続される。同様に、プログラマブルスイッチ13は、複数の配線301〜30iのいずれかに接続される。
プログラマブルスイッチ12、13は、例えば、トランジスタスイッチ(例示 MOSトランジスタ)、トランスミッションゲート、トライステートバッファ、マルチプレクサによって実現されることが好ましい。
プログラマブルスイッチ12、13は、メモリ共有化回路100を介して共通の構成情報メモリ11に接続され、当該構成情報メモリ11に格納された構成情報に応じてそのスイッチング動作が制御される。すなわち、本実施の形態では、水平方向配線資源(バス20)及び垂直方向配線資源(バス30)のプログラマブルスイッチ12、13は同じ構成情報メモリ11によって制御されることとなる。
構成情報メモリ11は、メモリやフリップフロップ等の記憶素子が好適に利用され、再構成可能デバイスの構成を設定するための構成情報が記録される。メモリ共有化回路100は、構成情報メモリ11とプログラマブルスイッチ12、13との接続を制御し、プログラマブルスイッチ12、13の一方を選択して構成情報メモリ11とを接続する。例えば、プログラマブルスイッチ12、13の一方と構成情報メモリ11とを接続した場合、プログラマブルスイッチ12、13の一方は入力される構成情報に応じて機能ブロック10とバスとを接続し、他方はハイインピーダンス状態となる。又、構成情報メモリ11と接続するプログラマブルスイッチを切替えることで、機能ブロック10とバスとを接続するプログラマブルスイッチを変更することができる。更に、メモリ共有化回路100は、共通の構成情報によって制御されても再構成可能デバイスが所定の機能を実現できれば、共通の構成情報メモリ11に,プログラマブルスイッチ12、13の両方を接続してもよい。メモリ共有化回路100の具体的な構成の詳細は後述する。
尚、構成情報メモリ11の出力信号(構成情報)は、プログラマブルスイッチのほかに機能ブロック10にも入力され、機能ブロック10内の演算器等の構成(接続関係)を変更する。
以上のように、本発明による再構成可能デバイスによれば、メモリ共有化回路100によって、複数のプログラマブルスイッチが共通の構成情報メモリ11を利用することが可能となる。この結果、従来のようにプログラマブルスイッチ毎に構成情報メモリ11を用意する必要がなくなり、構成情報メモリ11の数を削減することができる。
以下、第1から第4の実施の形態を参照して、図2に示す再構成可能デバイスの構成及び動作の詳細を説明する。
1.第1の実施の形態
以下、図3から図7を参照して、本発明による再構成可能デバイスの第1の実施の形態を説明する。第1の実施の形態では、プログラマブルスイッチの有効化/無効化を切替可能なメモリ共有化回路100を利用した形態を説明する。このため、構成情報メモリ11の構成は上述と同様であるのでその説明は省略する。
図3は、第1の実施の形態における再構成可能デバイスの構成を示す図である。図3を参照して、プログラマブルスイッチ12、13はトライステートバッファで構成され、メモリ共有化回路100は、複数の切替回路101及び複数の切替回路101のそれぞれに接続された切替情報記憶素子102を備える。又、再構成可能デバイスは、構成するデバイスの機能に応じて、複数のプログラマブルスイッチに共有されない構成情報メモリ15と、当該構成情報メモリによって、スイッチング動作が制御されるプログラマブルスイッチ14(トライステートバッファ)を更に具備してもよい。図3に示す一例では、説明の簡単化のため、バス20として配線201〜203のみを示し、バス30として配線301〜303のみを示し手説明する。
メモリ共有化回路100は、プログラマブルスイッチ12、13のうち、対象アプリケーションが必要とする方を有効化し、もう一方を無効化する。この有効化/無効化は切替情報記憶素子102に格納された切替情報の値によって制御される。切替回路101は、切替情報の値に基づいて、有効化するプログラマブルスイッチと構成情報メモリとを接続し、無効化するプログラマブルスイッチとの接続を遮断する。例えば、プログラマブルスイッチの構成要素がトライステートバッファやNMOS、トランスミッションゲートを使っている場合、すなわちスイッチが、バスの衝突がありえるようなプログラマブルスイッチである場合、切替回路101は、所定の信号レベルの信号を無効化するプログラマブルスイッチに供給し、当該スイッチの出力をハイインピーダンスとなるように制御する。
切替情報記憶素子102は、ラッチやフリップフロップが好適に利用されるが、他の記憶素子、例えばSRAM(Static Random Access Memory)やDRAM(Dynamic Random Access Memory)でも実現できる。又、切替情報記憶素子102として、フラッシュメモリやEPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)のような不揮発メモリが利用されても良い。この場合、起動毎に行われる切替情報の設定の手間が省ける。ただし、動作中に構成を切り替える際は、多大な時間を要することが想定される。しかし、MRAM(Magnestic Random Access Memory)やFeRAM(Ferroelectric Random Access Memory)のような新しい不揮発メモリを切替情報記憶素子102として利用することで、このような欠点は解消される。
図4は、本発明に係る切替回路101の構成の一例を示す図である。図4を参照して、切替回路101は、プログラマブルスイッチ12の制御端子に接続されるセレクタ111と、プログラマブルスイッチ13の制御端子に接続されるセレクタ112とを備える。セレクタ111は、切替情報に応じて、構成情報メモリ11からの出力110と接地端子120の一方を選択してプログラマブルスイッチ12に接続する。同様にセレクタ112は、切替情報に応じて、構成情報メモリ11からの出力110と接地端子120の一方を選択してプログラマブルスイッチ13に接続する。この際、セレクタ111、112の接続する対象は、反転していることが好ましい。例えばハイレベルの切替情報に対し、セレクタ111は、構成情報メモリ11の出力110とプログラマブルスイッチ12とを接続し、セレクタ112は、接地端子120とプログラマブルスイッチ13とを接続する。この場合、プログラマブルスイッチ12は有効となり、機能ブロック10と配線20jとが接続される。一方、切替回路100で生成したハイインピーダンス設定値“0”によりプログラマブルスイッチ13は無効となる。無効化されたプログラマブルスイッチ13に接続された配線30iはハイインピーダンスとなりバスの衝突を防ぐことができる。
一方、ローレベルの切替情報が切替情報記憶素子102に格納されている場合、セレクタ111は、接地端子120とプログラマブルスイッチ12とを接続し、セレクタ112は、構成情報メモリ11の出力110とプログラマブルスイッチ13とを接続する。この場合、有効/無効は上述の場合に対して反転し、プログラマブルスイッチ13は有効となり、機能ブロック10と配線30iとが接続され、切替回路100で生成したハイインピーダンス設定値“0”によりプログラマブルスイッチ12は無効となる。無効化されたプログラマブルスイッチ12に接続された配線20jはハイインピーダンスとなる。
切替情報記憶素子102として、ヒューズやアンチヒューズに例示される配線経路を1度だけ切り替え可能な回路を使うことも考えられる。これでも、ユーザーが自分のアプリケーションに応じて手元で切り替えることは可能である。もちろん一度切り替えたら取り返しはつかないため、後日性質の異なるアプリケーションを載せたくなった場合に対応不能である。
以上のように、本実施の形態における再構成可能デバイスにでは、切替情報に応じて、有効化するプログラマブルスイッチを切替えることができるため、複数のプログラマブルスイッチが共通の構成情報メモリ11を利用することが可能となる。この結果、従来のようにプログラマブルスイッチ毎に構成情報メモリ11を用意する必要がなくなり、構成情報メモリ11の数を削減することができる。
図3の比較例として従来技術による再構成可能デバイスの構成を図5に示す。従来技術による再構成可能デバイスは、機能ブロック10とバス20、30とを接続する複数のプログラマブルスイッチ14の各々に対し1つの構成情報メモリ15が接続される。すなわち、プログラマブルスイッチ14に対して1対1で割り当てられた構成情報メモリ15によってそれぞれのプログラマブルスイッチ14は制御される。
図3に示す本発明における再構成可能デバイスと、図5に示す比較例では、同じ12個のプログラマブルスイッチ(ここではトライステートバッファ)が搭載されている。この場合、図5に示す比較例では、プログラマブルスイッチ14と同じ数(12個)の構成情報メモリ15を用意する必要がある。しかし、本発明による再構成可能デバイスでは、プログラマブルスイッチ12、13が再構成情報メモリ11を共有している。図3に示す一例では、4組のプログラマブルスイッチ12、13がそれぞれ4つの構成情報メモリ11を共有し、他の4つのプログラマブルスイッチ14のそれぞれは、構成情報メモリ15を利用している。このため、再構成情報メモリの総数は8個となる。又、4組のプログラマブルスイッチの有効/無効の切替を2組の切替回路101及び切替情報記憶素子102によって制御している。この場合、メモリ素子の総数は、再構成情報メモリの8個と切替回路記憶素子の2個の合計10個となる。
上述の例では、メモリ数を2個減じることが可能となることが示されたが、再構成可能デバイスに使用されるプログラマブルスイッチの数は膨大であるため、本発明を適用した場合、多くのメモリ数を削減することができ、回路面積が大幅に縮小することが可能となる。
又、図3に示す一例では、プログラマブルスイッチ12、13、14としてトライステートバッファを利用した形態を示したがこれに限らず、図6に示すようなマルチプレクサ(セレクタ)を利用した形態でも構わない。あるいは、プログラマブルスイッチ12、13、14としてMOSスイッチやトランスミッションゲートを利用してもよいし、これらのいずれかを組みあせた形態でも構わない。
無効化されたスイッチに接続された配線はハイインピーダンスとなりバスの衝突を防ぐことができる。ただし、図6に示すようにセレクタをプログラマブルスイッチとして利用した再構成可能デバイスでは、バスの衝突がない場合でも、図7に示すように、非同期ループが起こる可能性がある。このような場合、非同期ループにおいて発振し、予想外の電力消費が起こり得る。従って、切替回路101は、スイッチを無効化するための切替情報に応じて、ループの起こらない経路を強制的に選択するような値(信号)を生成し、無効化するプログラマブルスイッチへ出力する必要がある。
又、図8に示すように、複数の切替回路101を1つの切替情報記憶素子102で制御しても構わない。これにより、複数セットの配線資源に接続される水平方向及び垂直方向プログラマブルスイッチの組の制御を、1つの切替情報記憶素子102で行うことが可能となる。
この場合、垂直方向及び水平方向のプログラマブルスイッチのリソース比率の調整が荒くなるが、制御を1つの切替情報記憶素子102で行うため、その分回路量を減らすことができる。例えば、図8に示す一例では、垂直方向の配線302、303の2本を有効にするか、水平方向の配線201、202の2本を有効にするかの切り替えを、1つの切替情報記憶素子102に格納された切替情報によって制御することとなる。一方、図3に示す一例では、垂直方向の配線と水平方向の配線を、1本単位で切り替えることが可能である。このように、切替情報記憶素子102を共通化することで調整単位が大きくなるが、切替情報記憶素子102の数を減らすことで回路量を削減することができる。
図3、図6及び図8に示す一例では一部の水平方向及び垂直方向プログラマブルスイッチについてのみ、構成情報メモリを共有しているが、プログラマブルスイッチ14を削除して、全ての水平方向及び垂直方向のプログラマブルスイッチについて構成情報メモリ共有しても構わない。
2.第2の実施の形態
第1の実施の形態では、垂直方向及び水平方向の配線資源を切替える構成及び動作を説明したが、mbit−nbit及び他の属性についても適用することが可能である。図9を参照して、第2の実施の形態として、mbit幅及びnbit幅の配線資源を切替える切替回路100を有する再構成可能デバイスの一例を説明する。ただし、n、mは自然数。第2の実施の形態において、バス20は、mbit幅の配線資源として配線401を有し、nbit幅の配線資源として配線402を有する。又、バス30は、mbit幅の配線資源として配線501を有し、nbit幅の配線資源として配線502を有する。本実施の形態における切替回路101は、垂直方向及び水平方向の代わりに、mbit配線資源(配線401、501)に接続されるプログラマブルスイッチ16と、nbit配線資源(配線402、502)に接続されるプログラマブルスイッチ17の有効/無効を切替える。その他の構成は、第1の実施の形態と同様である。
本実施の形態でも第1の実施の形態と同様に、切替回路101及び切替情報記憶素子102によってプログラマブルスイッチ16、17のどちらか一方を有効にして他方を無効にする構成と、その逆の構成とを切り替えることができる。
従来の構成では、属性A(例えば垂直方向やmbit幅)の配線資源を多量に使うアプリケーションでは、属性B(例えば水平方向やnbit幅)のプログラマブルスイッチを制御する構成情報メモリが無駄になり、逆に属性Bを多量に使うアプリケーションでは属性Aのプログラマブルスイッチを制御する構成情報メモリが無駄になった。
このため、属性Aを多量に使うアプリケーション、属性Bを多量に使うアプリケーションのどちらもマッピングしたい場合、従来構成では双方の属性の配線資源を大量に搭載した巨大な規模の再構成可能デバイスを必要とした。そして、どちらのアプリケーションを載せても、アプリケーションを選択した段階で、もう一方の属性は無駄となった。
本発明では、同時に使用されない属性Aと属性Bのプログラマブルスイッチを、共通の構成情報メモリによって制御しているため、属性A及び属性Bの一方を多量に使うアプリケーションに設定してときの、使用されずに無駄になる構成情報メモリの数は従来に比べて少なくなる。このため、本発明による再構成可能デバイスは、使用する配線資源の属性の比率が偏向したアプリケーションを複数マッピング可能であるとともに、その回路量又は回路面積を大幅に縮小することができる。
3.第3の実施の形態
構成情報メモリには、複数の構成情報が格納されても良い。図10は、本発明による半導体集積回路の第3の実施の形態における構成を示す図である。図10を参照して、第3の実施の形態における再構成可能デバイスは、構成情報メモリ11、15に替えて、複数の構成情報が格納される構成情報メモリ18、19を備えるとともに、切替情報記憶素子102に替えて、複数の切替情報が格納される切替情報記憶素子103を備える。その他の構成は、第1の実施の形態と同様であるが、第1の実施の形態と異なる構成及び動作について説明する。
本実施の形態におけるプログラマブルスイッチ12、13は、メモリ共有化回路100(切替回路101)を介して共通の構成情報メモリ18に接続される。又、プログラマブルスイッチ14は構成情報メモリ19に接続される。更に、切替回路101は、切替情報記憶素子103に接続される。
複数の切替情報及び構成情報は、複数のアプリケーションに対応付けられたワード数(例えばn個)分だけ用意されている。ここで、n番目のアプリケーションを設定する場合、これに対応するn番目の切替情報が切替情報記憶素子103から切替回路101に設定されるとともに、n番目の構成情報が、構成情報メモリ18から切替回路100に設定される。又、同様に、n番目の構成情報が、構成情報メモリ19からプログラマブルスイッチ14に設定される。
切替情報記憶素子103を構成情報メモリ18、19と同じword数を持つメモリとすることで、面(アプリケーション)毎に性質の異なる回路をマッピングする場合に、面毎に属性毎の比率を調整することができる。
本発明では、複数のプログラマブルスイッチが利用する構成情報メモリを共通化することで、構成情報メモリの数を削減することができる。このような効果は、本実施の形態のように、容量の大きな構成情報メモリを利用する場合に特に有効である。又、複数bit幅を持つ構成情報メモリの一部又は全部を、切替情報記憶素子103として利用することも可能である。このように構成情報の一部又は全部を切替情報として割り当てることで、更なる回路素子数の削減を実現できる。
4.第4の実施の形態
図11は、本発明による半導体集積回路の第4の実施の形態における構成を示す図である。図11を参照して、無効化するプログラマブルスイッチをハイインピーダンスにしなくても、バス衝突のような致命的な問題や非同期ループが発生しない場合、共通配線104によってプログラマブルスイッチ12、13と構成情報メモリ11を共通接続してもよい。この場合、切替回路101や切替情報記憶素子102の分だけ第1の実施の形態より回路量を減らすことができる。
尚、ユーザーは無効化されるプログラマブルスイッチに接続される配線資源はないものとしてアプリケーションをマッピングすればよい。この場合、無効化されたプログラマブルスイッチには、有効なプログラマブルスイッチの構成情報が無意味なデータとして流れ込むが、バス衝突/非同期ループによる発振がおきないのであれば問題は無い。例えば、トライステートバス構成としない場合、バス衝突は起こらない。このような構成において、更に非同期ループの起こらない構成である場合には、無効化されたプログラマブルスイッチに関する制御を省略しても実害はない。このような場合に、本実施の形態を適用することが好適である。
本発明による再構成可能デバイスでは構成情報メモリを削減することができるが、その代わりにメモリ共有化回路100が追加される。しかし、メモリ共有化回路100は、例えば切替回路101や切替情報記憶素子102、あるいは共通配線104は構成情報メモリと同等もしくはそれよりも単純な構成であるため、増加する面積は僅かである。
以上のように、本発明では同時に使用しない複数のプログラマブルスイッチをまとめて1つの構成情報で制御することによって、構成情報メモリ量を大幅に削減し、柔軟性を維持したまま面積を縮小できる。
以上、本発明の実施の形態を詳述してきたが、具体的な構成は上記実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の変更があっても本発明に含まれる。又、第1から第4の実施の形態は、技術的に矛盾のない範囲で組み合わせて適用できる。
第1の実施の形態において、切替回路101をなくしてしまうと、バスファイトや非同期ループが発生してしまうことがある。しかし、切替情報記憶素子102によって切替回路101を設定するのではなく、切替回路101の内容を配線層を入れ替えて切り替えを実現することも可能である。例えば、回線パタン設計時においてプログラマブルスイッチ12、13に接続する構成情報メモリ11を1つ用意しておき、製造工程において、どちらか一方の配線のみを接続することで、無駄な構成情報メモリの形成を省くことができる。
この場合、第1から第4の実施の形態と異なり、出荷後の切り替えは不可能であるが、異なる性質をもった再構成可能デバイスの複数のラインアップを安価に展開することができる。この方法を利用した場合、構成を変更して大量に作り直す場合に、再設計コストやマスクコストを大きく削減できるが、作った後に切り替えることはできない。しかし、上述の実施の形態の中で最も面積を小さくすることができる。
10:機能ブロック
11、15、18、19:構成情報メモリ
12〜14、16、17:プログラマブルスイッチ
20、30:プログラマブル配線資源(バス)
201〜20j、301〜30i、401、402、501、502:配線
100:メモリ共有化回路
101:切替回路
102、103:切替情報記憶素子
104:共通配線
111、112:セレクタ

Claims (11)

  1. 複数の機能ブロックと、
    複数の構成情報が格納された複数の構成情報メモリと、
    自身に入力される構成情報に応じたスイッチング動作によって、前記機能ブロック間の接続を制御する複数のプログラマブルスイッチと
    を具備し、
    前記複数のプログラマブルスイッチは、前記複数の構成情報メモリのうち、共通の構成情報メモリ内に格納された構成情報を利用する
    半導体集積回路。
  2. 請求項1に記載の半導体集積回路において、
    前記複数のプログラマブルスイッチから、前記複数の構成情報メモリの1つと接続するプログラマブルスイッチを選択する切替回路を更に具備する
    半導体集積回路。
  3. 請求項2に記載の半導体集積回路において、
    前記複数の機能ブロックは、マトリクス状に配置され、
    前記複数の機能ブロックの行方向に延設された水平配線資源と、
    前記複数の機能ブロックの列方向に延設された垂直配線資源と
    を更に具備し、
    前記複数のプログラマブルスイッチは、前記垂直配線資源に接続された第1スイッチと、前記水平配線資源に接続された第2スイッチとを備え、
    前記切替回路は、前記第1スイッチと前記第2スイッチの一方を前記複数の構成情報メモリに接続するプログラマブルスイッチとして選択する
    半導体集積回路。
  4. 請求項2に記載の半導体集積回路において、
    nビット幅の第1配線資源と、
    mビット幅の第2配線資源と
    を更に具備し、
    前記n及び前記mは自然数であり、
    前記複数のプログラマブルスイッチは、前記第1配線資源に接続された第1スイッチと、前記第2配線資源に接続された第2スイッチとを備え、
    前記切替回路は、前記第1スイッチと前記第2スイッチの一方を前記複数の構成情報メモリに接続するプログラマブルスイッチとして選択する
    半導体集積回路。
  5. 請求項2に記載の半導体集積回路において、
    切替情報が格納される切替情報記憶素子を更に具備し、
    前記切替回路は、前記切替情報に基づいて、前記複数の構成情報メモリの1つに接続するプログラマブルスイッチを前記複数のプログラマブルスイッチから選択する
    半導体集積回路。
  6. 請求項5に記載の半導体集積回路において、
    前記複数の構成情報メモリのそれぞれには複数の構成情報が格納され、
    前記切替情報記憶素子には、前記複数の構成情報に対応する複数の切替情報が格納される
    前記切替回路は、前記複数の切替情報から選択された切替情報に基づいて、前記複数の構成情報メモリの1つに接続するプログラマブルスイッチを選択し、
    前記選択されたプログラマブルスイッチは、前記選択された切替情報に対応する構成情報に基づいて機能ブロック間を接続する
    半導体集積回路。
  7. 請求項5又は6に記載の半導体集積回路において、
    前記切替情報記憶素子は、フリップフロップ、ラッチ、SRAM(Static Random Access Memory)、DRAM(Dynamic Random Access Memory)、フラッシュメモリ、EPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)、MRAM(Magnestic Random Access Memory)、FeRAM(Ferroelectric Random Access Memory)、ヒューズ、又はアンチヒューズのいずれかを備える
    半導体集積回路。
  8. 請求項2に記載の半導体集積回路において、
    前記複数のプログラマブルスイッチは、制御情報に応じて出力が制御されるトライステートバッファ、トランスミッションゲート又はMOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタのいずれかであり、
    前記切替回路は、前記複数のプログラマブルスイッチのうち、前記複数の構成情報メモリの1つと接続するプログラマブルスイッチ以外のプログラマブルスイッチの出力をハイインピーダンスとするための制御信号を出力する
    半導体集積回路。
  9. 請求項2に記載の半導体集積回路において、
    前記複数のプログラマブルスイッチは、制御情報に応じて出力が制御されるマルチプレクサであり、
    前記切替回路は、前記複数のプログラマブルスイッチのうち、前記複数の構成情報メモリの1つと接続するプログラマブルスイッチ以外のプログラマブルスイッチの出力を所定の値とするための制御信号を出力する
    半導体集積回路。
  10. 請求項1に記載の半導体集積回路において、
    前記複数の構成情報メモリと前記複数のプログラマブルスイッチとを共通接続する共通配線を更に具備する
    を具備する
    半導体集積回路。
  11. 1つの構成情報メモリから構成情報が入力されるプログラマブルスイッチを、複数のプログラマブルスイッチから選択するステップと、
    前記選択されたプログラマブルスイッチが入力された構成情報に基づいて機能ブロック間を接続するステップと
    を具備する
    半導体集積回路の構成変更方法。
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