JP2011143508A - Liquid mixture supply device - Google Patents
Liquid mixture supply device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011143508A JP2011143508A JP2010006148A JP2010006148A JP2011143508A JP 2011143508 A JP2011143508 A JP 2011143508A JP 2010006148 A JP2010006148 A JP 2010006148A JP 2010006148 A JP2010006148 A JP 2010006148A JP 2011143508 A JP2011143508 A JP 2011143508A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sealing
- liquid
- tank
- supply
- mixed liquid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims abstract description 143
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract description 40
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 112
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 62
- 239000012895 dilution Substances 0.000 claims description 41
- 238000010790 dilution Methods 0.000 claims description 41
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 claims description 10
- 239000002002 slurry Substances 0.000 abstract description 30
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 abstract description 10
- 238000001035 drying Methods 0.000 abstract description 3
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract 2
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 abstract 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 16
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 10
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 239000011550 stock solution Substances 0.000 description 6
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 2
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
Description
本発明は、研磨装置等の加工装置に砥粒と液体からなる混合液(スラリー)を供給する混合液供給装置に関する。 The present invention relates to a mixed liquid supply apparatus that supplies a mixed liquid (slurry) composed of abrasive grains and liquid to a processing apparatus such as a polishing apparatus.
IC、LSI等の複数のデバイスが分割予定ラインによって区画されて表面に形成された半導体ウエーハは、研削装置によって裏面が研削されて所定の厚みに加工された後、ダイシング装置等の分割装置によって個々のデバイスに分割され、分割されたデバイスは携帯電話、パソコン等の電気機器に広く利用されている。 A semiconductor wafer in which a plurality of devices such as IC, LSI, etc. are defined on the surface by dividing by a dividing line, the back surface is ground by a grinding device and processed to a predetermined thickness, and then individually processed by a dividing device such as a dicing device. These devices are widely used for electric devices such as mobile phones and personal computers.
近年、半導体デバイスの小型化、薄型化の要請から、半導体ウエーハの薄型化が要求されている。半導体ウエーハの裏面を研削すると、ウエーハの裏面に研削歪が残存してデバイスの抗折強度が低下することから、研削により生じた研削歪の除去や抗折強度の向上を目的として、研削後のウエーハの裏面をCMP(Chemical Mechanical Polishing)によって研磨加工することが提案され実用化されている(例えば、特開平10−329009号公報参照)。 In recent years, there has been a demand for thinner semiconductor wafers due to demands for smaller and thinner semiconductor devices. Grinding the backside of a semiconductor wafer leaves grinding strain on the backside of the wafer and lowers the device's bending strength. For the purpose of removing grinding strain caused by grinding and improving the bending strength, It has been proposed and put to practical use that the back surface of a wafer is polished by CMP (Chemical Mechanical Polishing) (see, for example, JP-A-10-329209).
CMPは、研磨パッドと半導体ウエーハ等の板状物との間に砥粒と液体からなる混合液(スラリー)を供給しつつ研磨パッドと板状物とをそれぞれ回転させながら相対的に摺動させることで遂行される。 In CMP, while a mixed liquid (slurry) composed of abrasive grains and liquid is supplied between a polishing pad and a plate-like material such as a semiconductor wafer, the polishing pad and the plate-like material are relatively slid while rotating. It is accomplished by that.
このようなCMPを実施するためには、砥粒と液体からなる混合液を研磨装置等の加工装置に供給する混合液供給装置が必要である。また、砥粒と液体の混合液を高圧で噴射することで被加工物を切断するウォータージェット装置にも、混合液を供給する混合液供給装置が備えられている。 In order to carry out such CMP, a mixed liquid supply device that supplies a mixed liquid composed of abrasive grains and liquid to a processing apparatus such as a polishing apparatus is required. Also, a water jet apparatus that cuts a workpiece by spraying a mixed liquid of abrasive grains and liquid at a high pressure is provided with a mixed liquid supply apparatus that supplies the mixed liquid.
こうした混合液供給装置は、混合液を貯留する貯留タンクを備えているが、貯留タンク内では常に混合液が均一な濃度であることが重要である。 Such a mixed liquid supply apparatus includes a storage tank that stores the mixed liquid. However, it is important that the mixed liquid always has a uniform concentration in the storage tank.
しかし、混合液(スラリー)を貯留する貯留タンクは、通常密閉蓋でない場合やドレイン配管がつながっている等の理由から常時密閉状態ではないため、タンク内部の雰囲気が乾燥してタンク側壁等に混合液の砥粒が凝集して固着することがある。 However, the storage tank that stores the liquid mixture (slurry) is not normally sealed due to reasons such as the fact that it is not normally sealed lid or the drain pipe is connected, so the atmosphere inside the tank dries and mixes with the tank side wall etc. Liquid abrasive grains may agglomerate and adhere.
タンク側壁に固着した砥粒が剥げ落ちて混合液中に混入し、研磨装置に供給されると、研磨時に被研磨面にスクラッチと呼ばれる傷が発生したり、研磨時に混合液を供給するノズルの砥粒詰まりを発生させたりするという問題があった。 When the abrasive grains fixed to the tank side wall are peeled off and mixed into the liquid mixture and supplied to the polishing device, scratches called scratches occur on the surface to be polished during polishing, or the nozzle that supplies the liquid mixture during polishing There was a problem of causing abrasive clogging.
これらの対策として、タンク内の乾燥を防ぐべく、凝集速度より早く混合液をタンクに供給するか、或いはスプレーノズルによって混合液をミスト散布するなどの対策がとられてきた。 As measures against these problems, in order to prevent drying in the tank, measures such as supplying the mixed solution to the tank faster than the agglomeration rate or spraying the mixed solution with a spray nozzle have been taken.
しかし、これらの対策では、不要な混合液を多く貯留することの無駄や、ミスト散布による混合液の濃度変化やスプレーノズルの追加及び制御によるコスト増大などの新たな問題が発生する。 However, these countermeasures cause new problems such as waste of storing a large amount of unnecessary liquid mixture, concentration change of liquid mixture due to mist spraying, and cost increase due to addition and control of spray nozzles.
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、砥粒と液体からなる一定濃度の混合液を安定して加工装置に供給可能な混合液供給装置を提供することである。 The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a mixed liquid supply apparatus capable of stably supplying a mixed liquid having a constant concentration of abrasive grains and liquid to a processing apparatus. It is to be.
本発明によると、加工装置に液体と研磨剤が混合された状態からなる混合液を供給する混合液供給装置であって、該加工装置に供給する混合液を貯留する供給タンクと、該供給タンク内に貯留された混合液を該加工装置へ供給する第1混合液供給経路と、該供給タンク内に貯留された混合液が規定量以上となった場合に混合液を廃棄する供給タンクオーバーフロー経路と、該供給タンクオーバーフロー経路に配設された封水手段とを具備し、該封水手段は、上壁に該供給タンクからオーバーフローした混合液が流入する流入穴が形成された封水ボックスと、該封水ボックスの底壁を貫通して該封水ボックス内に突出するように設けられた該封水ボックス内の混合液を排出する封水筒と、該封水ボックスの側壁又は該上壁に取り付けられ、該封水筒の上端部を覆い隠すように所定の間隙を持って該封水筒に被せられた上方が塞がれた逆凹形状の封水蓋とを含み、該封水蓋は該封水筒の上端部と上下方向にオーバーラップするように該封水筒に被せられ、該封水ボックスには該封水ボックス内に貯留された混合液に研磨剤が含有されていない液体を導入する液体供給経路が接続されていることを特徴とする混合液供給装置が提供される。 According to the present invention, there is provided a mixed liquid supply apparatus that supplies a mixed liquid in a state where a liquid and an abrasive are mixed to a processing apparatus, the supply tank storing the mixed liquid supplied to the processing apparatus, and the supply tank A first mixed liquid supply path for supplying the mixed liquid stored in the processing apparatus to the processing device, and a supply tank overflow path for discarding the mixed liquid when the mixed liquid stored in the supply tank exceeds a specified amount And a sealing means disposed in the supply tank overflow path, and the sealing means includes a sealing box having an upper wall formed with an inflow hole through which the mixed liquid overflowed from the supply tank flows. A sealing cylinder for discharging the liquid mixture in the sealed water box provided so as to penetrate the bottom wall of the sealed water box and project into the sealed water box, and the side wall or the upper wall of the sealed water box Attached to the seal A reverse concave sealing lid that is covered with a predetermined gap so as to cover the upper end of the cylinder and is covered with the upper part of the sealing cylinder, and the sealing lid is an upper end of the sealing cylinder. And a liquid supply path for introducing a liquid containing no abrasive to the liquid mixture stored in the sealed water box is connected to the sealed water box so as to overlap with the vertical direction. Provided is a mixed liquid supply apparatus.
好ましくは、混合液供給装置は、液体と研磨剤を所定の濃度に混合して混合液を作成する希釈タンクと、希釈タンクから供給タンクに混合液を供給する第2混合液供給経路と、希釈タンク内に貯留された混合液が規定量以上となった場合に混合液を廃棄する希釈タンクオーバーフロー経路とを更に具備しており、希釈タンクオーバーフロー経路は封水手段に接続されている。 Preferably, the liquid mixture supply device includes a dilution tank that mixes the liquid and the abrasive to a predetermined concentration to create a liquid mixture, a second liquid mixture supply path that supplies the liquid mixture from the dilution tank to the supply tank, and dilution. A dilution tank overflow path is further provided for discarding the mixed liquid when the mixed liquid stored in the tank exceeds a specified amount, and the dilution tank overflow path is connected to sealing means.
好ましくは、封水蓋は上下方向の任意の位置で封水ボックスの側壁又は上壁に取付可能に構成されており、封水蓋の取付位置を変更することにより封水蓋と封水筒とのオーバーラップ長さを変更できるようになっている。 Preferably, the sealing lid is configured to be attached to the side wall or upper wall of the sealing box at an arbitrary position in the vertical direction, and by changing the mounting position of the sealing lid, the sealing lid and the sealing cylinder The overlap length can be changed.
本発明の混合液供給装置によると、供給タンクオーバーフロー経路及び希釈タンクオーバーフロー経路が封水手段に接続されているため、供給タンクオーバーフロー経路及び希釈タンクのオーバーフロー経路からの乾燥を防止することができ、その結果タンク内で砥粒の凝集が発生することを防止することができる。 According to the mixed liquid supply apparatus of the present invention, since the supply tank overflow path and the dilution tank overflow path are connected to the sealing means, drying from the supply tank overflow path and the overflow path of the dilution tank can be prevented, As a result, agglomeration of abrasive grains in the tank can be prevented.
また、封水蓋と封水筒のオーバーラップする長さを任意に変更することができるため、供給タンク内又は希釈タンク内の圧力を調整することができる。即ち、オーバーラップ長さを長くして封水状態を十分に確保しタンク内の密閉性を向上するか、オーバーラップ長さを短くしてタンク内の圧力変動を抑えるか、任意に制御することができる。 Moreover, since the overlapping length of a sealing lid and a sealing cylinder can be changed arbitrarily, the pressure in a supply tank or a dilution tank can be adjusted. In other words, increase the overlap length to ensure a sufficient sealing condition and improve the sealing performance in the tank, or reduce the overlap length to suppress pressure fluctuations in the tank. Can do.
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、本発明実施形態に係る混合液供給装置の全体構成図が示されている。符号2で示された混合液供給装置は、研磨装置4に液体と研磨剤が混合された混合液(スラリー)を供給する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, there is shown an overall configuration diagram of a mixed liquid supply apparatus according to an embodiment of the present invention. The liquid mixture supply apparatus indicated by
混合液供給装置2のスラリー原液タンク6内には、純水等の液体とSiC等の研磨剤が混合された濃度の高いスラリー(混合液)8を収容している。10は希釈タンクであり、スラリー原液タンク6内の濃度の高いスラリーが管路14を介して希釈タンク10内に供給されるとともに、液体供給経路を16を介して純水等の液体が希釈タンク10内に供給され、スラリー原液8が液体により希釈され、希釈タンク10は濃度が希釈されたスラリー(混合液)8を収容する。
The slurry stock solution tank 6 of the mixed
希釈タンク10内には図示しない攪拌装置が設置されており、この攪拌装置でスラリー源液8と液体供給路16を介して送られた液体とを攪拌して、濃度が希釈された一様濃度のスラリー18とする。管路14及び液体供給経路16には、それぞれ開閉弁20,22が挿入されている。
A stirring device (not shown) is installed in the
希釈タンク10からは管路(第2混合液供給経路)24を介して希釈された混合液(スラリー)18が供給タンク12に供給され、供給タンク12は濃度の希釈された混合液18を収容する。管路24には開閉弁26が挿入されている。
From the
供給タンク12からは管路(第1混合液供給経路)28を介して濃度の希釈された混合液(スラリー)18が研磨装置4に供給され、研磨装置4で半導体ウエーハ等の板状物の研磨が実施される。管路28には開閉弁30が挿入されている。
A liquid mixture (slurry) 18 having a diluted concentration is supplied from the
供給タンク12には、オーバーフロー管路(供給タンクオーバーフロー経路)32が接続されており、供給タンク12からオーバーフローした混合液(スラリー)18はオーバーフロー管路32、動入管路36を介して封水装置37に導入される。
An overflow pipe (supply tank overflow path) 32 is connected to the
同様に、希釈タンク10にはオーバーフロー管路(希釈タンクオーバーフロー経路)34が接続されており、希釈タンク10からオーバーフローした混合液(スラリー)18はオーバーフロー管路34、導入管路36を介して封水装置37に導入される。
Similarly, an overflow pipe (dilution tank overflow path) 34 is connected to the
封水装置37には、液体供給経路16から分岐した液体供給管路40が接続されており、封水装置37には希釈タンク10及び供給タンク12からオーバーフローした混合液が供給されるとともに、液体供給管路40を介して純水等の液体が供給される。液体供給管路40には流量調整弁42が挿入されている。
A
次に、図2を参照して、第1実施形態の封水装置37の構造について説明する。封水装置37は、上壁38aと、底壁38bと、円筒状側壁38cを有する封水ボックス38を備えている。封水ボックス38の上壁38aには、希釈タンク10及び供給タンク12からオーバーフローした混合液(スラリー)が流入する流入穴39が形成されている。
Next, with reference to FIG. 2, the structure of the
封水ボックス38の底壁38bを貫通して、封水ボックス38内の混合液を排出する封水筒44が封水ボックス38内に突出するように設けられている。封水筒44は排水穴45を画成しており、排水穴45は大気に連通している。
A sealing
封水筒44の上端部を覆い隠すように封水筒44と所定の間隙をもって封水蓋46が封水筒44に被せられている。封水蓋46は、上壁46aと、円筒状側壁46bとから構成され、上方が塞がれるとともに下端が開放した逆凹形状をしている。
A sealing
封水蓋46は、封水蓋46に固定されたブラケット48を介して封水ボックス38の側壁38cに上下方向の取付位置が調整可能に固定されている。即ち、ブラケット48には長穴50が形成されており、この長穴50中にねじ52を挿入してねじ52を封水ボックス38の側壁38cに締結することにより、封水蓋46は上下方向の取付位置を調整可能に封水ボックス38の側壁38cに取り付けられている。
The sealing
図2では、封水蓋46は封水筒44の上端部に両者がオーバーラップするオーバーラップ長Lで封水ボックス38の側壁38cに取り付けられている。ブラケット48の長穴50中でねじ52の固定位置を変更することにより、このオーバーラップ長Lを変更することができる。
In FIG. 2, the sealing
封水ボックス38の側壁38cには液体供給管路40が接続されており、液体供給管路40から封水ボックス38内に純水が供給されて、希釈タンク10及び供給タンク12からオーバーフローして流入穴39を介して封水ボックス38内に供給された混合液(スラリー)を希釈する。本明細書では、この希釈された混合液を廃液41と称することにする。
A
図3を参照すると、第2実施形態の封水装置37Aの縦断面図が示されている。本実施形態の封水装置37Aは上述した第1実施形態の封水装置37に類似しており、封水蓋46Aの取付方法が上述した第1実施形態と相違する。
Referring to FIG. 3, a longitudinal sectional view of a
本実施形態では、封水蓋46Aがブラケット48Aを介して上下方向の取付位置を調整可能に封水ボックス38の上壁38aに取り付けられている。本実施形態の他の構成は上述した第1実施形態と同様であるので、同一符号を付してその説明を省略する。
In the present embodiment, the sealing
以下、上述した実施形態の混合液供給装置2の作用について説明する。スラリー原液タンク6内の濃度が高いスラリー8は管路14を介して希釈タンク10に供給されて、希釈タンク10内で液体供給経路16を介して供給される純水により希釈され、希釈された混合液(スラリー)18が希釈タンク10内に貯留される。
Hereinafter, the operation of the mixed
希釈タンク10内に貯留された混合液18は、図示しないポンプを駆動することにより管路24を介して供給タンク12に供給され、供給タンク12内に希釈された混合液(スラリー)18が貯留される。
The
供給タンク12内に貯留されている混合液18は、図示しないポンプを駆動することにより管路28を介して研磨装置4に供給され、研磨装置4では研磨パッドとウエーハ等の被加工物に混合液(スラリー)を供給しながら被加工物の研磨を実施する。
The
供給タンク12内に混合液18が規定量以上貯留されると、混合液18はオーバーフロー管路32、導入管路36を介して封水装置37の封水ボックス38内に導入される。同様に、希釈タンク10内に貯留されている混合液18が規定量以上に達すると、混合液18はオーバーフロー管路34、導入管路36を介して封水装置37の封水ボックス38内に導入される。
When the
封水装置37の封水ボックス38内には、液体供給管路40を介して純水が導入され、供給タンク12及び希釈タンク10からオーバーフローした混合液がこの純水により希釈されて、封水ボックス38内には希釈された廃液41が貯留される。
Pure water is introduced into the sealed
封水ボックス38内に貯留された廃液41により、希釈タンク10及び供給タンク12は大気との連通を遮断されるため、オーバーフロー管路34,32を介してタンク10,12内に大気が導入されることが防止される。その結果、タンク10,12内は常に湿潤雰囲気に保たれ、混合液18内の砥粒が凝集してタンク内壁に付着することが防止される。
Since the
希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力が定常圧力の場合には、封水ボックス38内の廃液41の高さレベルH1は図2に示すように封水筒44の上端44aに概略一致するように保たれ、このレベルH1以上の廃液は封水筒44の排水穴45を介して排水される。
When the pressures in the
希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力が定常圧力より高い高圧になると、この高圧はオーバーフロー管路32,34及び導入管路36を介して図4(A)に矢印Aに示すように封水ボックス38内に導入される。
When the pressure in the
その結果、封水ボックス38内の廃液41は封水蓋46の下端46cに一致する高さレベルH2まで押し下げられる。この状態でも、オーバーラップ長Lの封水筒44の上端部と封水蓋46との間は廃液41で満たされているため、封水装置37の破水が発生することがない。
As a result, the
反対に、希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力が定常圧力より低くなると、図4(B)に示すように、封水蓋46内には封水筒44を介して大気圧が導入されているので、この大気圧に押されて封水ボックス38内のエアは矢印Bに示すように導入管路36内を逆流する。その結果、封水蓋46内の廃液41は封水蓋46の下端46cの位置まで押し下げられ、封水ボックス38内の廃液レベルは上昇してH3となる。
On the other hand, when the pressure in the
封水装置37では、図4(A)に示した高圧状態と、図4(B)に示した低圧状態とを繰り返して、希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力を定常圧力に収斂するように制御する。
The
上述した実施形態のような非サイフォン式封水装置37,37Aでは、沈殿物を押し流す自浄作用が少なく、混合液(スラリー)が封水ボックス38内で沈殿してしまう恐れがあるが、本発明では、封水ボックス38に常時純水を供給する液体供給管路40が接続されているため、常時純水を少量ずつ封水ボックス38内に供給することで、スラリーは封水ボックス38内で非常に低い濃度に希釈されるとともに、排水穴45へ流れる水流にのって排水されやすくなっており、混合液(スラリー)が封水ボックス38内で沈殿することが防止される。
In the
また、封水蓋46の取付高さ位置を変更することにより、密閉状態になる希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力を任意に調整することが可能である。オーバーラップ長Lを長くすると、封水状態を十分に確保してタンク内の密閉性を向上することができ、オーバーラップ長Lを短くすると、タンク内の圧力変動を抑制することができる。
Further, by changing the mounting height position of the sealing
上述した実施形態では、希釈タンク10のオーバーフロー管路34は供給タンク12のオーバーフロー管路32が接続された封水装置37と同一の封水装置に接続されているが、封水装置37と同一構造の別の封水装置を設け、この封水装置に希釈タンク10のオーバーフロー管路34を接続するようにしてもよい。
In the embodiment described above, the
2 混合液供給装置
4 研磨装置
6 スラリー原液タンク
8 スラリー原液
10 希釈タンク
12 供給タンク
16 液体供給経路
18 混合液(スラリー)
24 管路(第2混合液供給経路)
28 管路(第1混合液供給経路)
32 オーバーフロー管路(供給タンクオーバーフロー経路)
34 オーバーフロー管路(希釈タンクオーバーフロー経路)
37 封水装置
38 封水ボックス
40 液体供給管路
44 封水筒
46 封水蓋
2 Liquid supply device 4 Polishing device 6 Slurry stock solution tank 8
24 pipeline (second mixed solution supply route)
28 Pipe line (first liquid mixture supply path)
32 Overflow pipeline (supply tank overflow route)
34 Overflow pipeline (dilution tank overflow route)
37
Claims (3)
該加工装置に供給する混合液を貯留する供給タンクと、
該供給タンク内に貯留された混合液を該加工装置へ供給する第1混合液供給経路と、
該供給タンク内に貯留された混合液が規定量以上となった場合に混合液を廃棄する供給タンクオーバーフロー経路と、
該供給タンクオーバーフロー経路に配設された封水手段とを具備し、
該封水手段は、上壁に該供給タンクからオーバーフローした混合液が流入する流入穴が形成された封水ボックスと、該封水ボックスの底壁を貫通して該封水ボックス内に突出するように設けられた該封水ボックス内の混合液を排出する封水筒と、該封水ボックスの側壁又は該上壁に取り付けられ、該封水筒の上端部を覆い隠すように所定の間隙を持って該封水筒に被せられた上方が塞がれた逆凹形状の封水蓋とを含み、
該封水蓋は該封水筒の上端部と上下方向にオーバーラップするように該封水筒に被せられ、該封水ボックスには該封水ボックス内に貯留された混合液に研磨剤が含有されていない液体を導入する液体供給経路が接続されていることを特徴とする混合液供給装置。 A mixed liquid supply apparatus that supplies a mixed liquid in a state where a liquid and an abrasive are mixed to a processing apparatus,
A supply tank for storing a mixed liquid to be supplied to the processing apparatus;
A first mixed liquid supply path for supplying the mixed liquid stored in the supply tank to the processing apparatus;
A supply tank overflow path for discarding the mixed liquid when the mixed liquid stored in the supply tank exceeds a specified amount;
Water sealing means disposed in the supply tank overflow path,
The sealing means includes a sealing box in which an inflow hole into which the mixed liquid overflowed from the supply tank flows is formed on the upper wall, and projects into the sealing box through the bottom wall of the sealing box. A sealing tube that discharges the liquid mixture in the sealing box, and is attached to the side wall or the upper wall of the sealing box, and has a predetermined gap so as to cover the upper end of the sealing tube. And a reverse-concave sealing lid with the upper part covered by the sealing cylinder closed.
The sealing lid is placed on the sealing cylinder so as to overlap the upper end portion of the sealing cylinder in the vertical direction, and the sealing liquid contains an abrasive in the liquid mixture stored in the sealing box. A mixed liquid supply apparatus, wherein a liquid supply path for introducing a non-contained liquid is connected.
該希釈タンクから前記供給タンクに混合液を供給する第2混合液供給経路と、
該希釈タンク内に貯留された混合液が規定量以上となった場合に該混合液を廃棄する希釈タンクオーバーフロー経路とを更に具備し、
該希釈タンクオーバーフロー経路は前記封水手段に接続されるか、或いは該封水手段と同一構造の別の封水手段に接続されていることを特徴とする請求項1記載の混合液供給装置。 A dilution tank that mixes liquid and abrasive to a predetermined concentration to create a mixture;
A second mixed solution supply path for supplying a mixed solution from the dilution tank to the supply tank;
A dilution tank overflow path for discarding the mixed liquid when the mixed liquid stored in the dilution tank exceeds a specified amount;
2. The mixed liquid supply apparatus according to claim 1, wherein the dilution tank overflow path is connected to the sealing means, or is connected to another sealing means having the same structure as the sealing means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010006148A JP5441727B2 (en) | 2010-01-14 | 2010-01-14 | Liquid mixture supply device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010006148A JP5441727B2 (en) | 2010-01-14 | 2010-01-14 | Liquid mixture supply device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011143508A true JP2011143508A (en) | 2011-07-28 |
JP5441727B2 JP5441727B2 (en) | 2014-03-12 |
Family
ID=44458820
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010006148A Active JP5441727B2 (en) | 2010-01-14 | 2010-01-14 | Liquid mixture supply device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5441727B2 (en) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1060415A (en) * | 1996-06-11 | 1998-03-03 | Fujitsu Ltd | Production of abrasive comprising manganese oxide as abrasive grain and production of semiconductor apparatus |
JPH10235183A (en) * | 1997-02-24 | 1998-09-08 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Base plate treatment apparatus |
JP2002178261A (en) * | 2000-12-13 | 2002-06-25 | Ebara Corp | Abrasive fluid supply device, additive replenishing method to abrasive fluid supply device and polishing deice |
JP2004098286A (en) * | 2003-11-07 | 2004-04-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Slurry feeding device |
JP2005052447A (en) * | 2003-08-06 | 2005-03-03 | Techno Excel Co Ltd | Lime softening type hard water washing machine equipped with detergent tank |
JP2007319948A (en) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Toyoko Kagaku Co Ltd | Polishing slurry storing apparatus, polishing slurry supplying apparatus, and polishing system |
-
2010
- 2010-01-14 JP JP2010006148A patent/JP5441727B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1060415A (en) * | 1996-06-11 | 1998-03-03 | Fujitsu Ltd | Production of abrasive comprising manganese oxide as abrasive grain and production of semiconductor apparatus |
JPH10235183A (en) * | 1997-02-24 | 1998-09-08 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Base plate treatment apparatus |
JP2002178261A (en) * | 2000-12-13 | 2002-06-25 | Ebara Corp | Abrasive fluid supply device, additive replenishing method to abrasive fluid supply device and polishing deice |
JP2005052447A (en) * | 2003-08-06 | 2005-03-03 | Techno Excel Co Ltd | Lime softening type hard water washing machine equipped with detergent tank |
JP2004098286A (en) * | 2003-11-07 | 2004-04-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Slurry feeding device |
JP2007319948A (en) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Toyoko Kagaku Co Ltd | Polishing slurry storing apparatus, polishing slurry supplying apparatus, and polishing system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5441727B2 (en) | 2014-03-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20150265980A1 (en) | Air diffusion device, air diffusion method, and water treatment device | |
KR101172591B1 (en) | Rinsing and drying device of chemical mechanical polishing system | |
JP5441727B2 (en) | Liquid mixture supply device | |
CN103846250A (en) | Filter liquid discharging device and liquid discharging method of ultrasonic washing trough | |
JP2010089180A (en) | Slurry feeder for polishing substrate chemical machine, and polishing system | |
CN104969338A (en) | Wafer cleaning apparatus and methods | |
KR102098992B1 (en) | Cleaning device of wafer polishing pad | |
JP6529844B2 (en) | Gas-liquid separator and polishing device | |
US20030111339A1 (en) | Plating system | |
CN209970441U (en) | Chemical mechanical polishing equipment | |
CN202200170U (en) | Grinding head and chemical mechanical grinding equipment | |
CN112864050A (en) | Wafer cleaning device, control method, controller and system | |
JP5281025B2 (en) | Sand covering device and sand covering method | |
CN210059145U (en) | Flange cleaning device | |
KR101157168B1 (en) | Bubble rremoving apparatus for watet | |
JP4381947B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
US6402599B1 (en) | Slurry recirculation system for reduced slurry drying | |
CN219798855U (en) | Grinding fluid mixing sampling valve box | |
TW201924781A (en) | Dispensing head for dispensing developer onto substrate | |
KR200280353Y1 (en) | Pipe arrangement for supplying slurry to chemical mechanical polishing apparatus | |
JP2018167947A (en) | Sand lifting device | |
KR20090056154A (en) | Cleaning system for the photoresist nozzle tip | |
JP3639154B2 (en) | Batch processing tank | |
JP2004098286A (en) | Slurry feeding device | |
KR20060028941A (en) | Apparatus for cleaning of cmp slurry supplying tube |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131217 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131219 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5441727 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |