JP2011128006A - 放射線透視装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】運動する被検査物の内部を簡単に透視できる放射線透視装置を提供することを目的とする。
【解決手段】放射線透視装置が、放射線照射部から離間した被検査物に放射線を照射して被検査物の内部を透視する放射線透視装置であって、被検査物の位置を検出する位置検出手段と、該位置検出手段が、検出した被検査物の位置に向けて放射線を照射するように放射線照射部を制御する制御手段とを具備する。
【選択図】図1

Description

本発明は、被検査物の内部を透視する放射線透視装置に関する。
下記特許文献1には、被検査物から離れた位置であっても後方散乱X線を高いS/N比で検出することができる遠隔X線透視装置及び遠隔X線透視方法が開示されている。
この遠隔X線透視装置は、広がり角が十分小さい高指向性のパルスX線を周期的に発生するX線源(逆コンプトン散乱X線源)と、パルスX線を被検査物に向けて走査するX線走査装置と、被検査物で発生する散乱X線を検出する散乱X線検出器と、被検査物で発生する散乱X線のみを検出するように、パルスX線の発生と同期させて散乱X線の検出を制限する検出制御装置とを備える。これにより、遠隔X線透視装置は、被検査物から離れた位置であっても後方散乱X線を高いS/N比で検出できるため、被検査物に接近することなく被検査物を透視検査することができる。
また、下記特許文献2には、遠隔から3次元対象物の形状、距離及び位置を検出する3次元レーダレーザ装置が開示されている。
特開2008−002940号公報 特開平10−153417号公報
ところで、上記特許文献1は、パルスX線を被検査物に向けて照射し、パルスX線の発生と同期させて後方散乱X線を検出することにより被検査物を透視検査するものであるが、被検査物として静止物を前提としている。したがって、上記従来技術を動く被検査物に適用した場合には、後方散乱X線に基づいて生成される被検査物の透視画像が極めて不鮮明(低解像度)なものとなり、よって上記従来技術は実用に供することができない。X線遠隔透視技術の応用としては、海上浮遊物など、高速ではないが移動する被検査物への適用も要望されている。また、上記特許文献2は、3次元対象物の形状、距離及び位置を検出することができるが、内部を透視することができない。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、運動する被検査物の内部を容易に透視することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明では、放射線透視装置に係る第1の解決手段として、放射線照射部から離間した被検査物に放射線を照射して被検査物の内部を透視する放射線透視装置であって、被検査物の位置を検出する位置検出手段と、該位置検出手段が検出した被検査物の位置に向けて放射線を照射するように放射線照射部を制御する制御手段とを具備するという手段を採用する。
本発明では、放射線透視装置に係る第2の解決手段として、上記第1の解決手段において、前記放射線は、逆コンプトン散乱X線であるという手段を採用する。
本発明では、放射線透視装置に係る第3の解決手段として、上記第1または第2の解決手段において、前記位置検出手段は、レーザレーダであるという手段を採用する。
本発明によれば、位置検出手段で被検査物の位置を検出し、位置検出手段の検出結果に基づいて放射線照射部に被検査物の位置に向けて放射線を照射させるので、被検査物の位置が変化しても、常に被検査物の位置に向けて放射線が照射される。この結果として、位置が変動する被検査物についても、当該被検査物の内部を容易に透視することができる。
本発明の一実施形態に係るX線透視装置Aの概略構成を示す模式図である。 本発明の一実施形態に係るX線透視装置Aの動作を示すフローチャートである。
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態について説明する。
最初に、本実施形態に係るX線透視装置Aの概略構成について、図1を参照して説明する。X線透視装置Aは、海上を浮遊する被検査物Cに逆コンプトン散乱X線Xzを照射し、被検査物Cで散乱して返ってきた後方散乱X線を検出し、この後方散乱X線の検出信号に基づいて透視画像を作成するものである。
このようなX線透視装置Aは、図1に示すように船舶Bに搭載されている。船舶Bに搭載されることで、船舶BでX線透視装置Aを海上のどこにでも容易に運搬することができるため、被検査物Cの透視検査の際に、被検査物Cから十分(約10m)離れた位置にX線透視装置Aを簡単に位置設定することができる。
そして、このようなX線透視装置Aは、図1に示すように、X線源1、X線走査部2、X線検出部3、3次元レーザレーダ4、カウンタ5及び制御演算部6を備える。
X線源1は、制御演算部6の制御の下、加速器で加速した高エネルギーの電子ビームとレーザー光とを衝突(逆コンプトン散乱)させ、逆コンプトン散乱X線Xzを発生する逆コンプトン散乱X線源である。X線源1が発生した逆コンプトン散乱X線Xzは、X線走査部2によって被検査物Cに照射される。この逆コンプトン散乱X線Xzは、準単色性という特徴を持つ、すなわち光子のエネルギーのばらつきが少ないという特徴を持つ。また、逆コンプトン散乱X線Xzは、高指向性かつ短パルスであるという特徴も持つ。
例えば、X線源1が発生する逆コンプトン散乱X線Xzは、広がり角が1mrad以下、パルス周期10pps以上、パルス幅が1μs以下、X線強度が10光子/cm/shot以上である。このように逆コンプトン散乱X線Xzの広がり角が1mrad以下、例えば0.5mradであれば、X線源1から10m離れた位置でも逆コンプトン散乱X線Xzのビーム径は、10mm以下になる。
X線走査部2は、X線走査光学系であり、制御演算部6の制御の下、X線源1が発生した逆コンプトン散乱X線Xzを照射して被検査物Cを走査する。X線走査部2は、走査間隔がビーム径の半分(例えば5mm)である場合に、パルス周期が10ppsであるとすると、50mm/sの速度で被検査物Cを走査できる。従って、被検査物Cの大きさが例えば250mm×250mmの場合、水平走査(5秒)を5mmピッチで50回繰り返すことにより、被検査物Cの全面を250秒(約4分)で走査することができる。
X線検出部3は、被検査物Cに正対するように配置され、逆コンプトン散乱X線Xzを照射された被検査物Cで発生する後方散乱X線をエネルギー分別して検出するものである。このX線検出部3は、約1mm平方程度の受光素子が縦に並ぶ複数の検出器から構成され、検出器が横方向に並べられて2次元状の受光面が形成される。
X線検出部3の各検出器は、X線の光子が当たると電流を発生するカドミウムテルライド(CdTe)の受光素子と、受光素子が出力する電流を電圧信号に変換すると共に増幅する増幅器と、電圧信号をデジタル信号(光子検出信号)に変換するA/D変換器とを備える。上記カドミウムテルライドは、X線の光子が当たると結晶の結合が分離して正孔と電子との対を発生するものであり、X線の光子のエネルギーに比例した数百個の電子を発生し、当該電子の流れ、すなわち電流を出力する。
検出器は、上記光子検出信号をカウンタ5に出力する。そして、X線透視装置Aでは、逆コンプトン散乱X線Xzの光子のエネルギーのばらつきが少ないので、被検査物Cで発生する後方散乱X線の光子のエネルギーのばらつきも少ない。その為、検出器が出力する光子検出信号は、後方散乱X線の光子の数に比例したものになる。
また、X線検出部3は、自然放射線によるノイズを低減するために、被検査物Cに対向しない方向からの自然放射線を遮断するシールド(図示せず)を備える。
3次元レーザレーダ4は、制御演算部6の制御の下、レーザ光源から発したレーザパルス光Lを、ハーフミラーを介して多面体ミラーに照射することで、多面体ミラーの回転と傾きとに応じて被検査物Cの周辺一帯にレーザパルス光Lを照射し、被検査物Cの周辺一帯からのレーザパルス光Lの反射光を上記多面体ミラーから集光レンズを介して受光器が受光検出するように構成されている。
すなわち、3次元レーザレーダ4は、上記多面体ミラーの回転とその揺動とによってレーザパルス光Lの照射方向を主走査方向(x方向)に高速に偏向走査しながら、その走査面を副走査方向(y方向)に偏向走査する。
そして、3次元レーザレーダ4は、上記被検査物Cの周辺一帯に存在する種々の物体による反射光を、レーザパルス光Lの照射に同期して受光し、その受光タイミング(レーザパルス光Lの照射タイミングからその反射光の受光タイミングまでの経過時間)から物体(反射点)までの距離情報を検出する。
3次元レーザレーダ4は、レーザパルス光Lの照射に応じたレーザ同期信号と、受光器が受光した反射光に基づく反射光情報を制御演算部6に出力する。また、3次元レーザレーダ4は、主走査角度を示す主走査角度情報と、副走査角度を示す副走査角度情報を制御演算部6に出力する。
制御演算部6は、例えばデスクトップ型またはノート型のパーソナルコンピュータであり、キーボード等の操作部から入力された操作指示に基づいてX線透視装置Aの全体の動作を制御する。具体的に、制御演算部6は、カウンタ同期信号をX線源1及びカウンタ5に出力する。また制御演算部6は、カウンタ5からカウント結果を受け取り、受け取ったカウント結果に基づいて、透視画像を作成し、ディスプレイに表示する。
さらに、制御演算部6は、3次元レーザレーダ4から入力されたレーザ同期信号と反射光情報に基づいて、レーザパルス光Lの物体による反射光の受光時間を算出し、この算出した受光時間を距離情報に変換し、当該距離情報を3次元レーザレーダ4から入力される主走査角度情報及び副走査角度情報に従って自身が具備している画像メモリ上に順次マッピングすることによって3次元レーダ情報を作成する。
すなわち、制御演算部6は、レーザパルス光Lの走査方向を示す主走査角度及び副走査角度によって特定される座標(画像メモリのアドレス)に、そのときに求めた距離情報を書き込むことで、画像メモリ上に被検査物Cの周辺一帯におけるレーザパルス光Lの反射点を3次元的に表現した3次元レーダ情報を生成する。
さらに、制御演算部6は、3次元レーダ情報から、空間座標上の連続する所定数以上の反射点がまとまって存在する場合に、この反射点のまとまりをある大きさを有する1つの物体として認識し、当該物体を被検査物Cとして検出する。
カウンタ5は、X線検出部3から入力される光子検出信号に基づいて、後方散乱X線の光子の数をカウントし、後方散乱X線の光子数(光子カウント値)を制御演算部6に出力するものである。このカウンタ5は、自然放射線をできるだけ除外して被検査物Cで発生する後方散乱X線の光子の数をカウントするために、制御演算部6から入力されるカウント同期信号に基づいて、逆コンプトン散乱X線Xzの発生に同期させて光子の数をカウントする。
例えば、X線源1がパルス幅1μsの逆コンプトン散乱X線Xzを発生する場合には、カウンタ5は、逆コンプトン散乱X線Xzのパルスの発生に同期させながら1μsの間に光子の数をカウントする。これにより、カウンタ5は、自然放射線の光子をカウントすることを避けることができる。従って、X線透視装置Aでは、逆コンプトン散乱X線Xzのパルスの発生に同期させて光子の数をカウントすることで、大地および宇宙からの自然放射線の影響を大幅に低減することができる。
次に、このように構成された本実施形態に係るX線透視装置Aの動作について、図2を参照して、詳しく説明する。図2は、本実施形態に係るX線透視装置Aの動作を示すフローチャートである。
まず、X線透視装置Aで被検査物Cを透視検査しようとするユーザは、上記制御演算部6の操作部から被検査物Cの透視開始指示を入力する。
制御演算部6は、透視開始指示を受け付けると、300msを一周期として3次元レーザレーダ4にレーザパルス光Lを被検査物Cの一帯に照射させ、当該レーザパルス光Lの反射光を3次元レーザレーダ4に順次検出させる(ステップS1)。
3次元レーザレーダ4は、レーザパルス光Lの照射に応じたレーザ同期信号と、受光器が受光した反射光に基づく反射光情報と、主走査角度情報と、副走査角度情報とを制御演算部6に出力する。
制御演算部6では、レーザ同期信号、反射光情報、主走査角度情報及び副走査角度情報に基づいて3次元レーダ情報を生成し、当該3次元レーダ情報に基づいて被検査物Cの位置を検出する(ステップS2)。
制御演算部6は、ステップS2の後に、X線源1に逆コンプトン散乱X線Xzを発生させ、3次元レーダ情報に基づいて検出した被検査物Cの位置に向けて、逆コンプトン散乱X線XzをX線走査部2に照射させる(ステップS3)。
その後、制御演算部6は、継続して3次元レーザレーダ4を駆動し、被検査物Cの位置を検出し続け、被検査物Cの位置が変化するたびに、逆コンプトン散乱X線Xzを照射する方向をX線走査部2に変更させる。そして、制御演算部6は、X線検出部3が検出した後方散乱X線に基づいて、透視画像を作成する。
以上のような本実施形態に係るX線透視装置Aでは、3次元レーザレーダ4がレーザパルス光Lを被検査物Cの一帯に照射し、当該レーザパルス光Lの反射光の情報を検出し、レーザ同期信号と、反射光情報と、主走査角度情報と、副走査角度情報とを制御演算部6に出力する。制御演算部6は、レーザ同期信号、反射光情報、主走査角度情報及び副走査角度情報に基づいて3次元レーダ情報を生成し、当該3次元レーダ情報に基づいて検出した被検査物Cの位置に向けて、逆コンプトン散乱X線XzをX線走査部2に照射させる。
そして、制御演算部6は、被検査物Cの位置の変化に応じて、逆コンプトン散乱X線Xzを照射する方向をX線走査部2に変更させる。このように、X線透視装置Aでは、海上を浮遊する被検査物Cの位置を3次元レーザレーダ4で監視し、被検査物Cを追尾して透視画像を作成するため、浮遊する被検査物Cの内部を簡単に透視できる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されることなく、例えば以下のような変形が考えられる。
(1)上記実施形態では、夜間、暗所及び悪天候時における対象物監視での有利性の点から、3次元レーザレーダ4を使用して、被検査物Cの位置を監視したが、本発明はこれに限定されない。
例えば、X線透視装置Aに監視カメラを搭載し、監視カメラが撮影する被検査物Cの周辺一帯の動画に基づいて被検査物Cの位置を検出するようにしてもよい。また、レーザレーダも3次元レーザレーダに限定されない。すなわち、位置検出手段は、被検査物Cの位置を検出することができるものであれば、どのような手段でもよい。
なお、上記実施形態において3次元レーザレーダ4を使用すると、レーザを用いたアクティブ計測によって夜間及び暗所などでも監視及び追尾が可能になる点でよい。また、3次元レーザレーダ4は、レーザを出射したタイミングから時間(2L/C,L:被検査物までの距離,C:光速)の間に検出タイミングを限定すれば、雨及び霧による散乱光の影響を除去することができるので、霧及び雨などの悪天候時でも監視が可能になるという利点がある。
(2)上記実施形態では、放射線として逆コンプトン散乱X線Xzを用いたが、本発明における放射線はこれに限定されない。例えば、逆コンプトン散乱X線Xz以外のX線あるいはX線相当の透過性能を有する放射線を用いてもよい。
A…X線透視装置、B…船舶、C…被検査物、1…X線源(X線走査部2とともに放射線照射部を構成)、2…X線走査部(X線源1とともに放射線照射部を構成)、3…X線検出部、4…3次元レーザレーダ(制御演算部6とともに位置検出手段を構成)、5…カウンタ、6…制御演算部(3次元レーザレーダ6とともに位置検出手段を構成、制御手段)

Claims (3)

  1. 放射線照射部から離間した被検査物に放射線を照射して被検査物の内部を透視する放射線透視装置であって、
    被検査物の位置を検出する位置検出手段と、
    該位置検出手段が検出した被検査物の位置に向けて放射線を照射するように放射線照射部を制御する制御手段と
    を具備することを特徴とする放射線透視装置。
  2. 前記放射線は、逆コンプトン散乱X線であることを特徴とする請求項1に記載の放射線透視装置。
  3. 前記位置検出手段は、レーザレーダであることを特徴とする請求項1または2に記載の放射線透視装置。

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09185140A (ja) * 1995-12-29 1997-07-15 Canon Inc X線撮影装置
JPH11311671A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 航行障害物探知操船装置
JP2005180925A (ja) * 2003-12-16 2005-07-07 Soatec Inc レーザ測定システム
JP2008002940A (ja) * 2006-06-22 2008-01-10 Ihi Corp 遠隔x線透視装置および方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09185140A (ja) * 1995-12-29 1997-07-15 Canon Inc X線撮影装置
JPH11311671A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 航行障害物探知操船装置
JP2005180925A (ja) * 2003-12-16 2005-07-07 Soatec Inc レーザ測定システム
JP2008002940A (ja) * 2006-06-22 2008-01-10 Ihi Corp 遠隔x線透視装置および方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6013051887; 桑原一,外: 'レーザー放射線源による極短パルスX線の工業での役割:新しい透視検査技術の可能性' 放射線と産業 , 20071207, P.44-48 *

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