JP2011117797A - 特異部分分布特徴検出装置及び特異部分分布特徴検出方法 - Google Patents
特異部分分布特徴検出装置及び特異部分分布特徴検出方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】特異部分分布特徴検出装置100は、製品の表面を撮影して表面画像を取得する画像取得部2と、その表面画像から複数の特異画素を含む処理対象画像を生成する処理対象画像生成部10と、その処理対象画像上に設定した直交XY座標系における特異画素の座標を取得する特異画素座標取得部11と、それら複数の特異画素の座標のうちの二つの座標のピッチと位相差との組み合わせを反復特性として導き出す反復特性導出部12と、ピッチGと位相差Rとを座標軸とする直交GR座標系を用いて、その組み合わせの直交GR座標系上の一座標への変換を実行し、その変換回数を座標毎に計数して計数結果を出力する座標系変換部13と、その計数結果の解析に基づいて複数の特異画素が形成する反復的特徴を検出する反復的特徴検出部14と、を備える。
【選択図】図1
Description
また、特異部分分布特徴検出装置100は、ピッチG及び位相差Rを座標軸とする直交GR座標系への投票数に基づいて、中心画素群が形成する反復的特徴を検出するので、ピッチが同じで位相差が異なる複数の反復的特徴が重なり合って存在するような場合であっても、それら複数の反復的特徴を個別に検出することができる。
2 画像取得部
3 出力部
10 処理対象画像生成部
11 特異画素座標取得部
12 反復特性導出部
13 座標系変換部
14 反復的特徴検出部
100 特異部分分布特徴検出装置
Claims (4)
- 製品の表面にある特異部分の分布に関する特徴を検出する特異部分分布特徴検出装置であって、
前記製品の表面を撮影して表面画像を取得する画像取得部と、
前記表面画像から製品の表面にある特異部分を表す複数の特異画素を含む処理対象画像を生成する処理対象画像生成部と、
前記処理対象画像上に直交XY座標系を設定し、該直交XY座標系における前記特異画素の座標を取得する特異画素座標取得部と、
前記複数の特異画素の座標のうちの二つの座標の間隔と所定の基準点から該二つの座標のうちの一つまでの間隔を該二つの座標の間隔で除したときの余りとの組み合わせを反復特性として導き出す反復特性導出部と、
前記間隔と前記余りとを座標軸とする直交パラメータ座標系を用いて、前記反復特性導出部が導き出す組み合わせの、該直交パラメータ座標系上の一座標への変換を実行し、該直交パラメータ座標系上の各座標への変換の回数を該直交パラメータ座標系上の座標毎に計数して計数結果を出力する座標系変換部と、
前記座標系変換部による計数結果の解析に基づいて前記複数の特異画素が形成する反復的特徴を検出する反復的特徴検出部と、
を備えることを特徴とする特異部分分布特徴検出装置。 - 前記反復的特徴検出部は、前記直交パラメータ座標系の一座標における計数結果が閾値を超える場合に、該一座標に対応する前記直交XY座標系における前記複数の特異画素が表す反復的特徴を、前記製品の表面にある特異部分が形成する反復的特徴として検出する、
ことを特徴とする請求項1に記載の特異部分分布特徴検出装置。 - 前記座標系変換部は、前記反復特性導出部が導き出す前記間隔と前記余りとの組み合わせを、第一の分解能を有する第一の直交パラメータ座標系上の一座標へ変換して第一の計数結果を出力し、
前記反復的特徴検出部は、前記第一の計数結果の解析に基づいて前記複数の特異画素が形成する第一の反復的特徴を検出し、
前記座標系変換部は、前記第一の反復的特徴を形成する複数の特異画素の座標のうちの二つの座標の前記間隔と前記余りとの組み合わせを、前記第一の分解能より細かい第二の分解能を有する第二の直交パラメータ座標系上の一座標へ変換して第二の計数結果を出力し、
前記反復的特徴検出部は、前記第二の計数結果の解析に基づいて前記第一の反復的特徴を形成する複数の特異画素が形成する第二の反復的特徴を検出する、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の特異部分分布特徴検出装置。 - 製品の表面にある特異部分の分布に関する特徴を検出する特異部分分布特徴検出方法であって、
前記製品の表面を撮影して表面画像を取得する画像取得ステップと、
前記表面画像から製品の表面にある特異部分を表す複数の特異画素を含む処理対象画像を生成する処理対象画像生成ステップと、
前記処理対象画像上に直交XY座標系を設定し、該直交XY座標系における前記特異画素の座標を取得する特異画素座標取得ステップと、
前記複数の特異画素の座標のうちの二つの座標の間隔と所定の基準点から該二つの座標のうちの一つまでの間隔を該二つの座標の間隔で除したときの余りとの組み合わせを反復特性として導き出す反復特性導出ステップと、
前記間隔と前記余りとを座標軸とする直交パラメータ座標系を用いて、前記反復特性導出ステップにおいて導き出される組み合わせの、該直交パラメータ座標系上の一座標への変換を実行し、該直交パラメータ座標系上の各座標への変換の回数を該直交パラメータ座標系上の座標毎に計数して計数結果を出力する座標系変換ステップと、
前記座標系変換ステップにおける計数結果の解析に基づいて前記複数の特異画素が形成する反復的特徴を検出する反復的特徴検出ステップと、
を備えることを特徴とする特異部分分布特徴検出方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2006308473A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Nippon Steel Corp | 周期性欠陥検査方法及び装置 |
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