JP2011107609A - 光コネクタの検査方法および検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】内蔵光ファイバとの接続点が無く、ファイバ端面に押圧力を付与する方式の光コネクタにおいても、組立完了後の性能確認を簡単にできるようにする。
【解決手段】光ファイバ１１を撓ませる撓み部１３を有したフェルール２１に、光ファイバ１１を挿入して撓み部１３で光ファイバ１１を撓ませた状態で組み立てる光コネクタ１００の検査方法であって、フェルール２１に検査用フェルールを対向させ、検査用フェルールをフェルール２１に当接させる前後での撓み部１３における光ファイバ１１の撓み変化量を観察する。また、検査用フェルールから可視光をフェルール２１に入射し、漏れ光の有無を確認してもよい。検査方法に用いる検査装置は、光ファイバが挿通された検査用フェルールと、撓み部１３を観察する光学系とを備える。また、検査用フェルールには、光ファイバに可視光を入射する可視光源をさらに備えることができる。
【選択図】図１

Description

本発明は、光通信分野での光接続に用いられる光コネクタの検査方法および検査装置に関する。

光ファイバへの取り付け作業を容易にし、作業時間を短縮できる光コネクタが知られている。この光コネクタは、内蔵の光ファイバを備えたフェルールを有し、その内蔵光ファイバが、コネクタ内部で現地の被覆付き光ファイバと接続される。ところが、この光コネクタは、内蔵光ファイバと接続する光ファイバが被覆付きの状態で接続されるため、被覆除去工程を省け、現場接続作業が簡易であるという利点があるものの、被覆付き光ファイバの被覆外周面を基準として位置決めされるため、被覆の変形によって光軸がずれ、接続ロスの生じる虞があった。

そこで、光ファイバの挿入力により光ファイバの端部から被覆を除去する被覆除去部と、光ファイバを撓ませた状態で収容して付勢力を付与する撓み空間とを備え、被覆付きファイバを、簡易な接続作業で高精度に位置決めして接続することができる光コネクタが提案された（例えば特許文献１参照）。

また、上記の光ファイバ内蔵の従来コネクタの場合、内蔵光ファイバの端面と現地の光ファイバの端面とが直接突き当たるため、突き当て状態によって内蔵光ファイバの端面が欠けてしまう等の問題もあった。さらに、内蔵光ファイバは、予め工場で、フェルールに挿通させた状態で端面を研磨処理する必要があり、このような加工処理が光コネクタのコスト上昇を招く問題があった。

そこで、フェルールの先端面に、所定屈折率のシート状保護部材を貼着し、光ファイバを撓み空間にて撓ませた状態で収容することで、フェルールのファイバ挿通穴に挿通した光ファイバが弾性力を持って保護部材に当接されることにより、内蔵光ファイバの端面欠けを防止し、内蔵光ファイバ端面の研磨処理等も不要とした光コネクタが提案された（例えば特許文献２参照）。

特開２００８−２９２７０９号公報 特開２００８−２９２７１０号公報

内蔵光ファイバを備えた従来の現地組立光コネクタは、内蔵光ファイバに現地で端末処理した光ファイバを突き当てて、Ｖ溝で押圧固定して組立を完了する。組立完了の良否は、内蔵光ファイバと挿入した光ファイバの突き当ての良否を判定することにより行うことができた。具体的には、コネクタ端面から可視光を入射し、接続部の漏れ光の有無を確認する。接続部において漏れ光があれば、組立（接続）不良と判定することができた。
しかしながら、被覆付きファイバを簡易な作業で接続する上記改良型の光コネクタでは、被覆除去部を設けたり、シート状保護部材を貼着したりして、撓み空間を有するため、組立完了良否を判定する従来検査方法が採用できない構成上の差異がある。すなわち、挿入ファイバ端面がコネクタ接続端面となるため内蔵光ファイバとの接続点は無く、接続部の漏れ光の有無をもって判定することができない。また、ファイバ端面に押圧力を作用させるファイバ撓みを持たせているため、従来では存在しなかった新たな不良モードが生じた。このため、改良型光コネクタでは、組立完了後に行う性能確認のための簡易的な検査方法がなく、不良モードを上手く見つけることが困難であった。

本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、その目的は、内蔵光ファイバとの接続点が無く、ファイバ端面に押圧力を付与する方式の光コネクタにおいても、組立完了後の性能確認を簡単に行うことができる光コネクタの検査方法および検査装置を提供することにある。

本発明に係る上記目的は、下記構成により達成される。
（１） フェルールと、前記フェルールに挿入する光ファイバを撓ませる撓み部を有し、前記光ファイバを挿入して前記撓み部で前記光ファイバを撓ませた状態で組み立てる光コネクタの検査方法であって、
前記フェルールに検査用フェルールを対向させ、該検査用フェルールを前記フェルールに当接させる前後での前記撓み部における前記光ファイバの撓み変化量を観察することを特徴とする光コネクタの検査方法。

この光コネクタの検査方法によれば、被検査対象のフェルールに対し、検査用フェルールが当接される前後での撓み部における光ファイバの撓み変化量が観察されることで、挿入光ファイバのフェルール先端面からの引込み（端面引込み）、逆に挿入光ファイバのフェルール先端面からの過剰な突出（端面過剰突出）、撓み部における過剰な曲げによるロス（曲げロス）、挿入光ファイバの断線（ファイバ断線）等の不良が撓み変化量との相関により検出可能となり、内蔵光ファイバとの接続点が無く、ファイバ端面に押圧力を付与する方式の光コネクタにおいても性能確認が可能となる。

（２） 前記検査用フェルールから可視光を前記フェルールに入射し、漏れ光の有無を確認することを特徴とする（１）の光コネクタの検査方法。

この光コネクタの検査方法によれば、端面引込み、挿入光ファイバの端面砕け（端面砕け）、ファイバ断線等の不良が漏れ光有無との相関により検出可能となる。

（３） 前記フェルールの先端面に透明体を備え、前記透明体を介在させて前記検査用フェルールを当接させることを特徴とする（１）または（２）の光コネクタの検査方法。

この光コネクタの検査方法によれば、透明体（フィルム）を貼着した構成において、挿入光ファイバの突き当てによるフィルム破れの不良が検出可能となる。

（４） 上記（１）〜（３）のいずれか１つの光コネクタの検査方法に用いる検査装置であって、
光ファイバが挿通された検査用フェルールと、前記撓み部を観察する光学系とを備えることを特徴とする光コネクタの検査装置。

この光コネクタの検査装置によれば、フェルール先端面から挿入光ファイバが突出する被検査対象の光コネクタに対し、検査用フェルールが当接されることで、先端面で突出した挿入光ファイバがフェルール内に押し込まれる実際のコネクタ接続状態にでき、その際のファイバ撓みが光学系にて精密に観察可能となる。これにより、ファイバ撓みの挙動を情報源として接続状態の良否が判定可能となる。

（５） 前記検査用フェルールの前記光ファイバに可視光を入射する可視光源をさらに備えることを特徴とする（４）の光コネクタの検査装置。

この光コネクタの検査装置によれば、検査用フェルールが、被検査対象のフェルールの先端面に当接され、透明体を介して挿入光ファイバに光接続されるので、組立体である光コネクタ内での光接続不良（例えば挿入光ファイバと透明体との接触不良）が、漏れ光となって検出可能となる。

（６） 前記検査用フェルールは、遮光材料で形成されるとともに、先端面の一部がファイバ挿通孔に臨むテーパ面を有して切欠かれていることを特徴とする（４）または（５）の光コネクタの検査装置。

この光コネクタの検査装置によれば、検査用フェルールが被検査用のフェルールの先端面に当接され、光コネクタ内での光接続不良（例えば挿入光ファイバと透明体との接触不良）があると、テーパ面により外部へ通じる空間を介し漏れ光が検出される。

（７） 前記切欠かれた部位に透明材料または蛍光材料が設けられていることを特徴とする（６）の光コネクタの検査装置。

この光コネクタの検査装置によれば、テーパ面による空間を通過しない漏れ光であっても、当該空間に設けられた蛍光材料の内面に入射することで、蛍光材料全体が励起され、外部からの視認が容易となる。

（８） 前記検査用フェルールが透明材料で形成されている（４）または（５）の光コネクタの検査装置。

この光コネクタの検査装置によれば、被検査用のフェルールの先端面に、検査用フェルールが当接され、ファイバ同士の接続部が覆われても、検査用フェルールが透明材料からなることにより、ファイバ接続部（例えば挿入光ファイバと透明体との接触部）の漏れ光が外部から容易に視認可能となる。

（９） 前記光学系がレンズであり、前記レンズに撓み変化量の範囲を示す目印が設けられていることを特徴とする（４）〜（８）のいずれか１つの光コネクタの検査装置。

この光コネクタの検査装置によれば、撓み部において、レンズにてファイバ撓みが観察された際、撓み変化量の許容範囲を示す目印（例えばテンプレート等）がレンズに付されていることで、撓み変化の良否判断が目印を基準に統一（標準化）される。

本発明に係る光コネクタの検査方法によれば、検査用フェルールをフェルールに当接させる前後での光ファイバの撓み変化量を観察するので、内蔵光ファイバとの接続点が無く、ファイバ端面に押圧力を付与する方式の光コネクタにおいても、組立完了後の性能確認を簡単に行うことができる。

本発明に係る光コネクタの検査装置によれば、光ファイバが挿通された検査用フェルールと、撓み部を観察する光学系とを備えるので、検査用フェルールの当接により被検査用光コネクタを実使用時と同様の接続状態にできると同時に、その状態での挿入光ファイバの撓みを光学系にて精密に観察することができる。

本発明に係る検査方法の被検査対象となる光コネクタの概略構成を表した断面図である。 図１に示したフェルールの拡大図である。 不良モードの例（ａ）〜（ｄ）を表したフェルール先端部の断面図である。 不良モードの例（ｅ）（ｆ）を表した撓み部の断面図である。 検査形態を表す検査装置及び被検査対象の断面図である。 検査装置における第１検査部の一例を示す構成図である。 図６に示したフェルールの構成例を（ａ）〜（ｃ）で表した側面図である。 検査装置における第２検査部の一例を示す構成図である。 図８の要部拡大図である。 接触前のフェルール先端部を（ａ）、撓み部を（ｂ）で示した検査手順を説明する要部断面図である。 接触時のフェルール先端部を（ａ）、撓み部を（ｂ）で示した検査手順を説明する要部断面図である。 可視光入射時のフェルール先端部を（ａ）、撓み部を（ｂ）で示した検査手順を説明する要部断面図である。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
本実施の形態による光コネクタの検査方法及び検査装置の説明に先立ち被検査対象である光コネクタについてその概略構成を説明する。本実施の形態では、被検査対象が光コネクタである場合を例に説明するが、本発明に係る検査方法及び検査装置は所謂メカニカルスプライスにも適用できるものである。ここで、メカニカルスプライスとは、突き合わせ接続の一つで、光ファイバの軸合わせ用部品、突き合わせ部の固定部品からなり、突き合わせ部を機械的に保持固定する手段を言う。また、スプライスとは、コネクタ接続のように脱着できる接続に対し、融着接続、メカニカル接続などの脱着できない永久接続を言う。

図１は本発明に係る検査方法の被検査対象となる光コネクタの概略構成を表した断面図である。
被検査対象の光コネクタ１００は、簡易な接続作業にて、現場で被覆付き光ファイバ１１に取り付けでき、所望の光学特性、接続信頼性が得られるようになされている。その構成として、撓み部１３、被覆除去部１５、透明体である屈折率整合シート（単に「フィルム」とも称す）１７を備える。

光コネクタ１００は、例えば角柱形状のベース部材１９の先端側に、円柱形状のフェルール２１を同軸に固定してなる。なお、フェルールは、光ファイバ同士を接合したり、分離、絶縁したりするなどの端末線路の主構成部材を言う。ベース部材１９の中央部には上半分を切り欠いた切欠部２３が設けられ、切欠部２３はその底部に中間平面２５を形成する。中間平面２５の中央には、被覆付き光ファイバの挿入方向に沿って位置決めを行うファイバ挿通孔２７が形成される。中間平面２５には、撓み部１３を形成するための蓋部材２９と、蓋部材クランパ３１とが取り付けられる。

ベース部材１９の後端部には固定部３３が設けられ、固定部３３は固定部クランパ３５によってベース部材１９の中間平面２５に押し付けられることで被覆付き光ファイバ１１を固定する。固定部３３及びベース部材１９はハウジング（図示せず）に収容される。

ベース部材１９の前端部には、フェルール取り付け穴３７が形成され、フェルール取り付け穴３７はフェルール２１の基端を固定する。フェルール２１には中心に軸方向に沿ってガラスファイバの外径より僅かに大きいガラスファイバ挿入穴３９が設けられている。

図２は図１に示したフェルールの拡大図である。
ガラスファイバ挿入穴３９は、全長Ｇが５ｍｍ以下となるように形成される。フェルール２１には後端部にガラスファイバ挿入穴３９と同軸でファイバ挿通孔２７が形成され、ガラスファイバ挿入穴３９とファイバ挿通孔２７の境には被覆除去部１５が設けられる。被覆除去部１５は、被覆付き光ファイバ１１の端面における被覆４３を押し付けることにより、ガラスファイバ４１から被覆４３を剥離させて除去する。フェルール２１には被覆除去部１５の後方に被覆カス受け部４５が形成され、被覆カス受け部４５は被覆除去部１５にて除去された被覆４３を収容する。

被覆付き光ファイバ１１は、例えば、中心に外径１２５μｍのガラスファイバ４１を有し、その外周を覆うように外径２５０μｍの被覆４３が設けられている。ガラスファイバ４１は、コアと１層以上のクラッドを有するガラスファイバであり、シングルモードファイバやマルチモードファイバ等、如何なる屈折率分布を有するガラスファイバも適用可能である。

ガラスファイバ挿入穴３９の内径は、ガラスファイバ４１の外径よりも若干大きく、被覆４３の外径（すなわち被覆付き光ファイバ１１の外径）よりも小さい。これにより、被覆付き光ファイバ１１の端面をフェルール２１の被覆除去部１５に押し付けると、ガラスファイバ挿入穴３９は被覆４３に当接するとともに、ガラスファイバ４１には当接しないことになる。これにより、被覆付き光ファイバ１１を被覆除去部１５に押し付けると、被覆４３に対してガラスファイバ４１から剥離させる力が作用し、被覆４３の除去されたガラスファイバ４１のみがガラスファイバ挿入穴３９に挿入されることになる。

フェルール２１の先端面２１ａには、接続相手の光コネクタとの接続時における互いの光ファイバの屈折率を整合させるための屈折率整合シート１７がガラスファイバ挿入穴３９を覆って貼着されている。この屈折率整合シート１７は、ガラスファイバ４１のコアと同等の屈折率を有する透明体であり、例えば厚さが５〜３０μｍのシート状に形成され、フェルール２１の先端面２１ａに接触する側の面には粘着材が塗布されてフェルール２１に貼着される。屈折率整合シート１７は、光ファイバ同士の接続において端面間に空気層がある場合に生じる屈折率差による反射や損失増を抑止するために屈折率をガラスファイバ４１に合わせる目的で使用される。

屈折率整合シート１７は、ガラスファイバ４１の端面と隙間無く密着している必要がある。そのためには、ガラスファイバ４１に対する粘着力を一定値以上とする。粘着力がないと、光コネクタ１００の着脱を繰り返したときにガラスファイバ４１と屈折率整合シート１７の間に隙間が開くことがあるためである。屈折率整合シート１７には、被覆除去部１５にて被覆４３の除去されたガラスファイバ４１が突き当てられる。屈折率整合シート１７は、ガラスファイバ４１に押されて少し押し上げられることがあってもよい。

また、屈折率整合シート１７は、ソフト層、ハード層の二層からなるものであってもよい。なお、本発明に係る光コネクタの検査方法は、屈折率整合シート１７に代えてフェルール２１の先端面２１ａに屈折率整合材であるグリースが塗布される構成であってもよい。また、フェルール２１の先端面２１ａには斜めカット面が形成されてもよい。

光コネクタ１００は、固定部３３と被覆除去部１５の間に、被覆付き光ファイバ１１を撓ませた状態で収容可能な撓み部１３を備える。フェルール２１に挿入したガラスファイバ４１の後方で被覆付き光ファイバ１１を撓み部１３で撓ませ、固定部３３で被覆付き光ファイバ１１を固定することにより、ガラスファイバ４１の先端面に前側に向かう弾性付勢力が付与される。これにより、ガラスファイバ４１と屈折率整合シート１７の接続状態が安定して維持されるようになっている。

撓み部１３は、ベース部材１９を切り欠いて形成された中間平面２５に、蓋部材２９を取り付けて形成することができる。蓋部材２９は全体略直方体形状のブロック部材であり、下面中央部から上方へ向かう凹部４７がベース部材１９の長手方向に沿って形成され、挿通されている被覆付き光ファイバ１１が上方へ所定形状に撓むことができるようになされている。凹部４７は、前後両端部では高さが低く、中央部で高くなっている。蓋部材２９は、クランパ３１によってベース部材１９と共に挟まれる。蓋部材２９と中間平面２５の間である撓み部１３には、ベース部材１９の側方から組立部材であるファイバ撓み規制楔（図示せず）が挿抜可能に装着される。

本実施の形態による検査方法及び検査装置は、以上のように構成される光コネクタ１００に好適となる。上記被検査対象の光コネクタ１００は、被覆付き光ファイバ１１の被覆４３を挿入と共に除去できることから、「インサート＆リムーブコネクタ」と称することができる。

光コネクタ１００の不良モードは、図１に示す「端面起因」、「コネクタ内部起因」に大別される。これら不良を検出する手段としては、コネクタ内部の「撓み状態の確認」、及び「端面からの可視光入射」が用いられる。これら手段を組み合わせることにより不良の有無、さらにはその原因が判定できる。すなわち、接続部であるフェルール２１の先端面２１ａに対しては、可視光入射で漏れ光を検知して通光良否を確認する。コネクタ内部の異常の有無は、ファイバ撓み規制楔挿入孔である撓み確認窓４９（図８参照）から光ファイバ１１の撓み状態を目視で確認する。

上記検出手段となる「撓み状態の確認」、「端面からの可視光の入射」により検出が可能となる各不良モードの原因と、これら検出手段との相関を下表１に示す。

表１に示したように、光コネクタ１００の具体的な不良モードには、「ロス高、反射高」、「通光不良」がある。「ロス高、反射高」は「端面起因」が主であり、「通光不良」は「コネクタ内部起因」が主となる。端面における不良原因には、（ａ）端面引込み、（ｂ）端面砕け、（ｃ）フィルム破れ、（ｄ）端面過剰突出しが挙げられる。また、内部における不良原因には、（ｅ）曲げロス、（ｆ）ファイバ断線が挙げられる。「撓み状態の確認」は、「撓みの有無」と、「撓み部の動き」とにさらに分けられる。なお、表１中、×記は検出不能を示し、○記は検出可能を示す。

図３は「端面起因」となる不良モードの例（ａ）〜（ｄ）を表したフェルール先端部の断面図である。
端面引込みは、図３（ａ）に示すように、屈折率整合シート１７の貼着されたフェルール先端面２１ａからガラスファイバ４１が後退長ｂだけ引っ込んだ不良であり、撓み部の動き、端面からの可視光の入射により検出が可能となる。端面砕けは、図３（ｂ）に示すように、ガラスファイバ４１の先端が不規則に砕けた不良であり、可視光の入射により検出が可能となる。フィルム破れは、図３（ｃ）に示すように、ガラスファイバ４１により屈折率整合シート１７が破られる不良であり、可視光の入射により検出が可能となる。端面過剰突出しは、図３（ｄ）に示すように、ガラスファイバ４１がフェルール先端面２１ａから突出長ｃで過剰に突きだし、屈折率整合シート１７を必要以上に変形させる不良であり、撓み部の動きにより検出が可能となる。

図４は「コネクタ内部起因」となる不良モードの例（ｅ）（ｆ）を表した撓み部の断面図である。
曲げロスは、図４（ｅ）に示すように、撓み部１３における被覆付き光ファイバ１１が過剰に曲げられたり、その逆に曲げが小さすぎたり、或いはねじれていたりする不良であり、撓みの有無及び撓み量により検出が可能となる。ファイバ断線は、図４（ｆ）に示すように、被覆付き光ファイバ１１が断線した不良であり、目視して撓みが生じていなければほぼ断線と判定が可能となる。なお、ファイバ断線は、この他、撓み部の動き、可視光の入射によっても検出が可能となる。

次に、検査装置について説明する。
図５は検査形態を表す検査装置及び被検査対象の断面図である。
本実施の形態による検査装置５１は、端面における不良検出用の第１検査部（可視光入射部）５３と、内部における不良検出用の第２検査部（撓み観察部）５５とを有する。可視光入射部５３は、光ファイバ（ガラスファイバ）４１Ａが挿通された検査用フェルール２１Ａを備える。検査用フェルール２１Ａは、探触子（プローブ）として働く。撓み観察部５５は、被覆付き光ファイバ１１の撓み１１ａを観察する光学系５７を備える。なお、図５は模式的に示したもので実際には撓み１１ａが見える向き（同図の紙面上方）に撓み観察部５５が配置されることとなる。可視光入射部５３と撓み観察部５５は、被検査対象の光コネクタ１００に対し、別々に動いて接近、離反するようになっていると好ましい。

検査装置５１では、フェルール先端面２１ａから挿入光ファイバ（ガラスファイバ４１）が突出する被検査対象の光コネクタ１００に対し、検査用フェルール２１Ａが当接されることで、先端面２１ａで突出したガラスファイバ４１がフェルール２１内に押し込まれる実際のコネクタ接続状態にできる。その際のファイバ撓み１１ａが光学系５７にて精密に観察可能となる。これにより、ファイバ撓み１１ａの挙動を情報源として接続状態の良否が判定可能となる。

図６は検査装置における第１検査部の一例を示す構成図である。
第１検査部である可視光入射部５３は、検査用フェルール２１Ａの光ファイバ４１Ａに可視光を入射する可視光源５９をさらに備える。可視光源５９としては、可視光の出射可能なＨｅ-Ｎｅレーザ等が用いられる。可視光源５９は、光導波路６１を介して接続部６３に接続される。接続部６３は、検査プローブ部６５と接続される。光導波路６１は、被覆付き光ファイバ等からなる。光導波路６１は、可視光源５９と検査プローブ部６５を直接結合するものであってもよい。例えば基端側を可視光源５９に接続したガラスファイバ４１Ａの先端を検査用フェルール２１Ａに挿入して直接結合する。

検査プローブ部６５は、被検査対象となるコネクタ端面と接触して可視光を出射する部分で、上記の検査用フェルール２１Ａと、調心部材６７とを備える。調心部材６７は、筒体に形成され、光軸が一致するように、検査用フェルール２１Ａと被検査対象フェルール２１を両端に嵌合して位置決めを行う。調心部材６７は、透明材料、蛍光材料、遮光材料により形成される。また、調心部材６７は、漏れ光通過用窓が形成されてもよい。

可視光入射部５３では、検査用フェルール２１Ａと被検査対象のフェルール２１の先端面同士が当接されると、可視光源５９からの光が屈折率整合シート１７を介して挿入光ファイバ（ガラスファイバ４１）に光接続される。これにより、組立体である光コネクタ１００内での光接続不良（例えばガラスファイバ４１と屈折率整合シート１７との接触不良）は、当該接触不良部から漏れ光となって検出可能となる。

図７は図６に示したフェルールの構成例を（ａ）〜（ｃ）で表した側面図である。
検査用フェルール２１Ａは、漏れ光を検出しやすい構成が好ましい。例えば図７（ａ）に示す検査用フェルール２１Ａ１は、遮光材料（例えばジルコニア）で形成されるとともに、先端面２１Ａａの一部がファイバ挿通孔６９に臨むテーパ面７１を有して切欠かれている。検査用フェルール２１Ａが被検査用のフェルール２１の先端面２１ａに当接され、光コネクタ内での光接続不良（例えばガラスファイバ４１と屈折率整合シート１７との接触不良）があると、テーパ面７１により外部へ通じる空間を介し漏れ光が検出される。このように、テーパ面７１を形成することで、漏れ光が一方向に検出し易くなる。

また、図７（ｂ）に示すように、検査用フェルール２１Ａ２は、先端エッジ部に透明材料や蛍光材料７３を用いてもよい。また、上記テーパ面７１に透明材料や蛍光材料７３を設けた構成としてもよい。このような構成とすることで、テーパ面７１による空間を通過しない漏れ光であっても、当該空間に設けられた蛍光材料７３の内面に入射することで、蛍光材料７３の全体が励起され、外部からの視認がいっそう容易となる。

また、図７（ａ）（ｂ）に示した検査用フェルール２１Ａ１、２１Ａ２はジルコニア等の遮光材料からなるのに対し、図７（ｃ）に示す検査用フェルール２１Ａ３は、ガラス、アクリル等の透明材料からなる。検査用フェルール２１Ａ３が透明材料で形成されることにより、被検査用のフェルール２１の先端面２１ａに、検査用フェルール２１Ａ３が当接され、ファイバ同士の接続部が覆われても、検査用フェルール２１Ａ３が透明材料からなることにより、ファイバ接続部（例えばガラスファイバ４１と屈折率整合シート１７との接触部）の漏れ光が外部から容易に視認可能となる。

図８は検査装置における第２検査部の一例を示す構成図である。
被検査対象となる光コネクタ１００の底面には、組立時に用いるファイバ撓み規制楔（不図示）の挿入される楔挿入孔４９ａ，４９ａ（図９参照）が形成されており、この楔挿入孔４９ａ，４９ａが確認窓４９として利用される。組立完了後は、この楔挿入孔４９ａ，４９ａから被覆付き光ファイバ１１の撓み状態の観察が可能となる。目視によってもある程度の検出は可能となるが、拡大して観察することでより多くの情報が得られるため、撓み観察部５５における光学系５７には拡大レンズ７５が備えられる。

拡大レンズ７５にて撓み１１ａを拡大観察することにより、静止状態での撓み量が高精度に検出可能となる。また、検査用フェルール２１Ａの突き当て時における撓み変化量の推移観察が容易となる。例えば、検査用フェルール２１Ａの突き当て過程において、撓み１１ａが急激に増加すれば、端面過剰突出しが判定される。

図９は図８の要部拡大図である。
拡大レンズ７５には、撓み変化量の範囲を示す目印である例えばテンプレート７７，７９が設けられる。テンプレート７７，７９は、ガイド線７７ａ，７９ａを有する。図中、破線は曲げロスの発生する撓み１１ａの例を示す。撓み１１ａがガイド線７７ａ，７９ａよりも外側に確認されれば、曲げロスの発生と判定される。このように、撓み部１３において、拡大レンズ７５にてファイバ撓み１１ａが観察された際、撓み変化量の許容範囲を示すテンプレート７７，７９が拡大レンズ７５に付されていることで、撓み変化の良否判断がテンプレート７７，７９を基準に統一（標準化）できる。なお、本実施の形態では、テンプレート７７，７９が拡大レンズ７５に設けられる例を示すが、テンプレート７７，７９は被検査対象の光コネクタ１００の楔挿入孔４９ａ，４９ａに設けられてもよい。

次に、上記検査装置５１を用いての検査手順について説明する。
図１０は検査装置５１の接触前のフェルール先端部を（ａ）、撓み部を（ｂ）で示した検査手順を説明する要部断面図である。
［ステップ１］
先ず、検査用フェルール２１Ａを光コネクタ１００のフェルール先端面２１ａに接触させる前に、撓み観察部５５にてファイバ撓み１１ａを観察する。接触前の観察による撓み１１ａの有無で「ファイバ断線」（図４（ｆ）参照）が無いこと、また、撓みの曲がり量の大きさで「曲げロス」（図４（ｅ）参照）の発生レベルか否かを判断できる。

図１１は検査用フェルール接触時のフェルール先端部を（ａ）、撓み部を（ｂ）で示した検査手順を説明する要部断面図である。
［ステップ２］
次いで、検査用フェルール２１Ａをフェルール先端面２１ａに接触させた時のガラスファイバ４１のフェルール２１内への押し込まれによって生じるファイバ撓み１１ａの変化、および変化量を確認する。撓み１１ａが変化した場合、ファイバ端面に引き込みは無く、撓み変化量を確認することで端面突出し量が異常でないかが分かる。但し、後述のステッブ３においてもファイバ引込み不良は検出される。

このように、フェルール２１に検査用フェルール２１Ａを対向させ、検査用フェルール２１Ａをフェルール２１に当接させる前後での撓み部１３における被覆付き光ファイバ１１の撓み変化量を観察することで、挿入光ファイバ（ガラスファイバ４１）のフェルール先端面２１ａからの引込み（端面引込み）、逆にガラスファイバ４１のフェルール先端面２１ａからの過剰な突出（端面過剰突出）、撓み部１３における過剰な曲げによるロス（曲げロス）、ガラスファイバ４１の断線（ファイバ断線）等の不良が撓み変化量との相関により検出可能となる。これにより、内蔵光ファイバとの接続点が無く、ファイバ端面に押圧力を付与する方式の光コネクタ１００においても性能確認が可能となる。

図１２は可視光入射時のフェルール先端部を（ａ）、撓み部を（ｂ）で示した検査手順を説明する要部断面図である。
［ステップ３］
最後に、検査用フェルール２１Ａから可視光８１を入射し、接続部の漏れ光８３の有無を確認する。これにより、上記（端面引込み、端面過剰突出し）以外の端面異常であるフィルム破れ、端面砕け等が検出される。

なお、光コネクタ１００は、フェルール２１の先端面２１ａに屈折率整合シート１７を備える。屈折率整合シート１７を介在させて検査用フェルール２１Ａを当接させることにより、屈折率整合シート１７を貼着した構成において、挿入光ファイバ（ガラスファイバ４１）の突き当てによるフィルム破れ不良が検出可能となる。

したがって、上記構成の検査方法によれば、検査用フェルール２１Ａをフェルール２１に当接させる前後での光ファイバ１１の撓み変化量を観察するので、内蔵光ファイバとの接続点が無く、ファイバ端面に押圧力を付与する方式の光コネクタ１００においても、組立完了後の性能確認を簡単に行うことができる。

また、上記構成を有する検査装置５１によれば、ガラスファイバ４１Ａが挿通された検査用フェルール２１Ａと、撓み部１３を観察する光学系５７とを備えるので、検査用フェルール２１Ａの当接により被検査用光コネクタ１００を実使用時と同様の接続状態にできると同時に、その状態での挿入光ファイバ１１の撓みを光学系にて精密に観察することができる。

１１ 光ファイバ
１３ 撓み部
１７ 屈折率整合シート（透明体）
２１ フェルール
２１Ａ 検査用フェルール
２１ａ フェルールの先端面
５１ 光コネクタの検査装置
５７ 光学系
５９ 可視光源
７１ テーパ面
７３ 蛍光材料
７５ 拡大レンズ（レンズ）
７７，７９ テンプレート（目印）
８１ 可視光
８３ 漏れ光
１００ 光コネクタ

Claims (9)

1. フェルールと、前記フェルールに挿入する光ファイバを撓ませる撓み部を有し、前記光ファイバを挿入して前記撓み部で前記光ファイバを撓ませた状態で組み立てる光コネクタの検査方法であって、
   前記フェルールに検査用フェルールを対向させ、該検査用フェルールを前記フェルールに当接させる前後での前記撓み部における前記光ファイバの撓み変化量を観察することを特徴とする光コネクタの検査方法。
2. 前記検査用フェルールから可視光を前記フェルールに入射し、漏れ光の有無を確認することを特徴とする請求項１に記載の光コネクタの検査方法。
3. 前記フェルールの先端面に透明体を備え、前記透明体を介在させて前記検査用フェルールを当接させることを特徴とする請求項１または２に記載の光コネクタの検査方法。
4. 上記請求項１〜３のいずれか１項に記載の光コネクタの検査方法に用いる検査装置であって、
   光ファイバが挿通された検査用フェルールと、前記撓み部を観察する光学系とを備えることを特徴とする光コネクタの検査装置。
5. 前記検査用フェルールの前記光ファイバに可視光を入射する可視光源をさらに備えることを特徴とする請求項４に記載の光コネクタの検査装置。
6. 前記検査用フェルールは、遮光材料で形成されるとともに、先端面の一部がファイバ挿通孔に臨むテーパ面を有して切欠かれていることを特徴とする請求項４または５に記載の光コネクタの検査装置。
7. 前記切欠かれた部位に透明材料または蛍光材料が設けられていることを特徴とする請求項６に記載の光コネクタの検査装置。
8. 前記検査用フェルールが透明材料で形成されている請求項４または５に記載の光コネクタの検査装置。
9. 前記光学系がレンズであり、前記レンズに撓み変化量の範囲を示す目印が設けられていることを特徴とする請求項４〜８のいずれか１項に記載の光コネクタの検査装置。

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