JP2011104643A - Method and apparatus for detecting deterioration of protective glass mounted on laser beam machining head - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、レーザ加工機におけるレーザ加工ヘッドに備えられた保護ガラスの劣化検出方法及び装置に係り、さらに詳細には、レーザ加工を開始するに先立って保護ガラスの劣化を検出することのできる方法及び装置に関する。 The present invention relates to a method and apparatus for detecting deterioration of protective glass provided in a laser processing head in a laser processing machine, and more specifically, a method capable of detecting deterioration of protective glass prior to starting laser processing. And an apparatus.
レーザ加工装置におけるレーザ加工ヘッドには集光レンズが備えられており、この集光レンズにレーザ加工時に生じたスパッタや塵埃等が付着することを防止するために、前記レーザ加工ヘッドには透明な保護ガラスが備えられている。前記保護ガラスにスパッタや塵埃等が付着し劣化(汚損)すると、レーザ光を吸収して発熱し、熱歪みを生じてレーザ加工の不良や破損を生じることがある。 The laser processing head in the laser processing apparatus is provided with a condensing lens. In order to prevent spatter and dust generated during laser processing from adhering to the condensing lens, the laser processing head is transparent. Protective glass is provided. When spatter, dust or the like adheres to the protective glass and deteriorates (stains), the laser light is absorbed and heat is generated, which may cause thermal distortion and cause laser processing defects or breakage.
そこで、保護ガラスが劣化したことを検出する種々の手段が講じられている(例えば特許文献1〜4参照)。
Therefore, various means for detecting that the protective glass has deteriorated have been taken (see, for example,
前記特許文献1に記載の発明は、レーザ加工ヘッドに備えた集光レンズと保護レンズとの間の空間の圧力変化を圧力センサによって検出し、圧力低下時に保護レンズが損傷したものとして検出するものである。したがって、保護レンズにスパッタ等が付着して劣化が進行し損傷しないと検出することができないという問題がある。
In the invention described in
特許文献2に記載の発明は、レーザ加工時に保護レンズの温度上昇を検出して、保護ガラスの劣化を検出するものであるから、レーザ加工を開始した後に劣化を検出できるものであり、事前に検出することができないという問題がある。
Since the invention described in
特許文献3に記載の発明は、保護ガラスに付着したスパッタ等によって反射されたレーザ光が保護ガラス内での反射を繰り返して側方に進み、保護ガラスの境界面から出た透過光を検出するものである。したがって、レーザ加工時に保護ガラスの劣化を検出することができるものの、レーザ加工前に保護ガラスの劣化を検出することができないという問題がある。 In the invention described in Patent Document 3, laser light reflected by sputtering or the like attached to the protective glass repeats reflection in the protective glass and proceeds to the side, and detects transmitted light emitted from the boundary surface of the protective glass. Is. Therefore, although the deterioration of the protective glass can be detected during laser processing, there is a problem that the deterioration of the protective glass cannot be detected before laser processing.
特許文献4に記載の発明は、保護ガラスに付着したスパッタ等によってレーザ光が乱反射されることを、レーザ加工ヘッドに備えたセンサによって検出すると共に、保護ガラスの温度を検出するものである。したがって、保護ガラスの劣化を事前に検出することができないという問題がある。 The invention described in Patent Document 4 detects that the laser beam is irregularly reflected by sputtering or the like attached to the protective glass by a sensor provided in the laser processing head and detects the temperature of the protective glass. Therefore, there is a problem that deterioration of the protective glass cannot be detected in advance.
本発明は、前述のごとき従来の問題に鑑みてなされたもので、レーザ加工ヘッドに備えた保護ガラスの劣化検出方法であって、レーザ加工ヘッドに対して着脱自在なアタッチメント本体に備えた投光手段から前記保護ガラスへ投光された測定光の反射光量を前記アタッチメント本体に備えた受光センサによって検出し、この受光センサの検出値と予め設定された基準値とを比較して、前記保護ガラスの劣化を検出することを特徴とするものである。 The present invention has been made in view of the conventional problems as described above, and is a method for detecting deterioration of a protective glass provided in a laser processing head, which is provided in an attachment main body that is detachable from the laser processing head. The reflected light amount of the measuring light projected from the means onto the protective glass is detected by a light receiving sensor provided in the attachment body, and the detected value of the light receiving sensor is compared with a preset reference value, thereby the protective glass It is characterized by detecting the deterioration of.
また、レーザ加工ヘッドに備えた保護ガラスの劣化検出方法であって、レーザ加工ヘッドに対して着脱自在なアタッチメント本体に備えた投光手段から前記保護ガラスへ測定光を投光すると共に前記保護ガラスにレーザ光を透過し、前記保護ガラスからの測定光の反射光量を前記アタッチメント本体に備えた受光センサによって検出した検出値と予め設定された基準値とを比較して、前記保護ガラスの劣化を検出することを特徴とするものである。 A method for detecting deterioration of protective glass provided in a laser processing head, wherein measuring light is projected from the light projecting means provided in an attachment body detachable to the laser processing head onto the protective glass and the protective glass. A laser beam is transmitted to the protective glass, the amount of reflected light of the measurement light from the protective glass is compared with a detection value detected by a light receiving sensor provided in the attachment body and a preset reference value, and the protective glass is deteriorated. It is characterized by detecting.
また、レーザ加工ヘッドに備えた保護ガラスの劣化検出方法であって、レーザ加工ヘッドに対して着脱自在なアタッチメント本体に備えた投光手段から前記保護ガラスへ投光された測定光の反射光量を前記アタッチメント本体に備えた受光センサによって検出し、この受光センサの検出値と予め設定された第1の基準値とを比較して、前記保護ガラスの劣化を検出し、前記保護ガラスにレーザ光を透過した後の前記受光センサの検出値と予め設定された第2の基準値とを比較して前記保護ガラスの劣化を検出することを特徴とするものである。 Further, it is a method for detecting the deterioration of the protective glass provided in the laser processing head, and the amount of reflected light of the measurement light projected on the protective glass from the light projecting means provided in the attachment body detachable from the laser processing head. Detected by a light receiving sensor provided in the attachment body, compares the detection value of the light receiving sensor with a preset first reference value, detects deterioration of the protective glass, and applies laser light to the protective glass. The deterioration of the protective glass is detected by comparing the detection value of the light receiving sensor after passing through and a second reference value set in advance.
また、レーザ加工ヘッドに備えた保護ガラスの劣化検出装置であって、前記保護ガラスへ測定光を投光する投光手段及び前記保護ガラスからの測定光の反射光量を検出する受光センサを備え、かつ前記レーザ加工ヘッドに着脱自在なアタッチメント本体と、予め設定された基準値を格納したメモリと、上記メモリに格納された前記基準値と前記受光センサの検出値とを比較する比較手段と、を備えていることを特徴とするものである。 Further, the protective glass deterioration detection device provided in the laser processing head, comprising: a light projecting means for projecting measurement light onto the protective glass; and a light receiving sensor for detecting a reflected light amount of the measurement light from the protective glass, And an attachment main body detachably attached to the laser processing head, a memory storing a preset reference value, and a comparing means for comparing the reference value stored in the memory with a detection value of the light receiving sensor. It is characterized by having.
また、前記保護ガラスの劣化検出装置において、前記保護ガラスにレーザ光を透過した後の前記受光センサの検出値と比較する第2の基準値を格納したメモリを備えていることを特徴とするものである。 The protective glass deterioration detecting device may further include a memory storing a second reference value to be compared with a detection value of the light receiving sensor after laser light is transmitted through the protective glass. It is.
また、前記保護ガラスの劣化検出装置において、前記アタッチメント本体に、ビームダンパを備えていることを特徴とするものである。 In the protective glass deterioration detection device, the attachment main body includes a beam damper.
本発明によれば、レーザ加工を開始する前に保護ガラスの劣化を検出することができる。したがって、保護ガラスの劣化を知ることなくレーザ加工を行って不良を生じることを未然に防止できるものである。 According to the present invention, deterioration of the protective glass can be detected before laser processing is started. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of defects by performing laser processing without knowing the deterioration of the protective glass.
以下、図面を用いて本発明の実施形態について説明するに、レーザ加工機におけるレーザ加工ヘッドの構成は周知であるから、レーザ加工ヘッドの主要な構成のみについて説明することとする。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Since the configuration of a laser processing head in a laser processing machine is well known, only the main configuration of the laser processing head will be described.
図1を参照するに、レーザ加工機(図示省略)におけるレーザ加工ヘッド1は、レーザ加工ヘッドホルダ3に一体的に取付けた外筒5を備えており、この外筒5内には、当該外筒5の上部に回転自在に備えた筒状の回転ギア7の内周面に上下動自在に螺合した内筒9が上下動可能に備えられている。そして、この内筒9内には、レーザ光LBの集光を行うための集光レンズ11を備えた筒状のレンズホルダ12が下方向へ着脱可能に螺着してある。上記レンズホルダ12の下端部(先端部)には、レーザ加工時に生じたスパッタや塵埃等が前記集光レンズ11に付着することを防止するための保護ガラス13がボルト等のごとき適宜の取付具15を介して着脱交換可能に取付けてある。
Referring to FIG. 1, a
前記外筒5の下端部(先端部)には、当該外筒5に備えたアシストガス供給部17から内部へ供給されたアシストガスをワーク(図示省略)のレーザ加工部へ噴出するためのノズル(図示省略)を着脱自在なノズル装着部19が備えられている。図1に示す形態においては、前記ノズル装着部19からノズルを取り外し、代わりに劣化検出アタッチメント21が取付けてある。
A nozzle for ejecting the assist gas supplied from the assist gas supply unit 17 provided in the
上記劣化検出アタッチメント21は、前記保護ガラス13の劣化(汚損)を検出するための劣化検出装置の一部を構成するものであって、前記ノズル装着部19に対して着脱自在な筒状のアタッチメント本体23を備えている。
The
このアタッチメント本体23の内部には、前記保護ガラス13の下面に向けて測定光を投光(照射)する投光手段の1例として、例えば発光ダイオード(LED)などの発光素子25が備えられている。また、前記アタッチメント本体23の内部には、前記保護ガラス13の下面へ照射された測定光の反射光量を検出するための受光センサの1例として、例えばフォトトランジスタ.フォトダイオードなどのごとき受光素子27が備えられている。さらに、前記アタッチメント本体23の底部には、レーザ光LBを吸収するためのビームダンパ29が備えられている。なお、ビームダンパ29は、例えば冷却水などの供給を受けて冷却される構成である。
As an example of the light projecting means for projecting (irradiating) measurement light toward the lower surface of the
上記構成により、発光素子25から保護ガラス13へ照射された測定光の反射光量を受光センサ(受光素子)27によって検出し、この受光センサ27の検出値と予め設定された設定値(基準値)とを比較することにより、前記保護ガラス13の劣化を検出することができるものである。
With the above configuration, the reflected light amount of the measurement light emitted from the
ところで、前記保護ガラス13が新品の場合には、下面での反射率が大きく、受光センサ27によって検出値は大きくなる。そして、前記保護ガラス13の下面にスパッタや塵埃等が付着し、その付着量が次第に多くなると、前記下面の反射率が小さくなり、前記受光センサ27の検出値は次第に小さくなることになる。また、前記保護ガラス13にレーザ光を透過したとき、付着したスパッタや塵埃等がレーザ光を吸収して発熱すると、保護ガラス13に熱歪みを生じることになる。そして、上記熱歪みが大きくなると、受光センサ27方向へ反射される反射光量が少なくなるので、受光センサ27の検出値は小さくなる。
By the way, when the
そこで、前記受光センサ27の検出値を予め設定した基準値(設定値)と比較する比較処理部31(図2参照)が備えられている。この比較処理部31は保護ガラス13の劣化を検出するための劣化検出装置の一部を構成するものであって、マイクロコンピュータなどから構成してある。この比較処理部31に備えたCPU33には前記発光素子25、受光センサ27が接続してあると共に、表示手段35が接続してある。また、前記CPU33にはメモリ37が接続してある。このメモリ37には、予め設定された第1の基準値(設定値)を格納した第1格納部37Aが備えられていると共に予め設定された第2の基準値(設定値)を格納した第2格納部37Bが備えられている。
Therefore, a comparison processing unit 31 (see FIG. 2) that compares the detection value of the
前記第1格納部37Aに格納された第1の基準値は、例えば新品の保護ガラス13に発光素子25から測定光を照射し、そのときの受光センサ27の検出値(初期状態の検出値)Xを100としたときに、保護ガラス13が次第に劣化して寿命になったときの受光センサ27の検出値が初期の検出値のA%であるとき、このA%よりも僅かに大きな値(A%+α%)に設定することができる。この第1の基準値は、予め実験的に求めた値や、前記受光センサ27によって検出した前記検出値Xに演算手段39によって、例えば実験等によって求められた適宜範囲の係数kを乗算した値(kX)とすることも可能である。
The first reference value stored in the
したがって、前記受光センサ27による検出値と第1格納部37Aに格納された第1基準値とを比較手段41によって比較することにより、前記保護ガラス13を交換するべきか否かを知ることができる。また、前記受光センサ27による検出値と前記第1基準値との差を前記演算手段39によって求め、その差を前記表示手段35に表示することにより、前記保護ガラス13の劣化度合(劣化程度)を知ることができ、寿命予測が可能になる。
Therefore, by comparing the detection value by the
よって、レーザ加工を開始する前に、レーザ加工ヘッド1からノズルを取り外し、ノズル装着部19に劣化検出アタッチメント21を装着して、前述したように、レーザ加工ヘッド1に装着されている保護ガラス13の劣化を検出することにより、保護ガラス13を交換すべきか否かを事前に知ることができる。したがって、保護ガラス13の劣化に起因するレーザ加工の不良が生じることを未然に防止することができるものである。
Therefore, before the laser processing is started, the nozzle is removed from the
前記第2格納部37Bに格納された第2の基準値(設定値)は、前記保護ガラス13にレーザ光LBを透過したときに、上記保護ガラス13に熱歪みが生じて受光センサ27の受光量が減少し、受光センサ27の検出値が低下したときの限界値としての値であって、例えば実験的、経験的に設定することができる。また、新品の保護ガラス13にレーザ光を透過して所定時間経過後に保護ガラス13の劣化を測定したときの受光センサ27の検出値Yを100としたときに、保護ガラス13の熱歪みによる劣化が進行して寿命になったときの受光センサ27の検出値が前記検出値YのB%のとき、このB%よりも僅かに大きな値(B%+β%)に設定することもできる。この際、前記検出値Yに、例えば実験的に求められた適宜範囲の係数kを乗算した値(kY)とすることも可能である。
The second reference value (set value) stored in the
したがって、保護ガラス13にレーザ光LBを透過しない場合に検出した保護ガラス13の劣化度合が良好であっても、レーザ光LBを透過した際の熱歪みに起因する劣化を検出することができるものである。よって、レーザ加工を開始する前に、保護ガラス13の熱歪みによる劣化を検出することができ、保護ガラス13の熱歪みに起因するレーザ加工の不良を未然に防止することができるものである。
Therefore, even if the degree of deterioration of the
ところで、前記構成において、保護ガラス13を交換する場合の動作について説明すると、レーザ加工を開始する前に、前述したように、レーザ加工ヘッド1からノズルを取り外し、ノズルを取り外した後のノズル装着部19に、前述したように劣化検出アタッチメント21を装着する。そして、発光素子25から保護ガラス13へ測定光を照射したときの反射光量を受光センサ27で検出する(図3のステップS1)。
By the way, the operation in the case of replacing the
その後、前記受光センサ27の検出値と前記メモリ37の第1格納部37Aに格納された第1基準値とを比較手段41によって比較したとき(ステップS2)、第1基準値≧検出値の場合には保護ガラス13を交換する(ステップS3)。上記ステップS2において、検出値>第1基準値の場合には、保護ガラス13にレーザ光LBを透過する(ステップS4)。上述のように保護ガラス13にレーザ光LBを透過して、予め設定された所定時間経過後に、発光素子25から保護ガラス13へ照射した測定光の反射光量を前記受光センサ27によって検出する(ステップS5)。
Thereafter, when the detection value of the
保護ガラス13にレーザ光LBを透過した後の受光センサ27の検出値とメモリ37の第2格納部37Bに格納された第2基準値とを比較手段41において比較する(ステップS6)。この比較において検出値≦第2基準値の場合には、保護ガラス13を交換する(ステップS3)。そして、検出値>第2基準値の場合には、レーザ加工ヘッド1から劣化検出アタッチメント21を取り外し、レーザ加工ヘッド1のノズル装着部19にノズルを再び装着して実加工を開始する(ステップS7)。
The comparison means 41 compares the detection value of the
以上のごとき説明より理解されるように、レーザ加工ヘッド1に装着したノズルに代えて劣化検出アタッチメント21をレーザ加工ヘッド1に装着し、レーザ加工開始前に保護ガラス13の劣化(汚損)度合を検出し、必要に応じて保護ガラス13を交換することができるので、保護ガラス13の劣化に起因するレーザ加工の不良を未然に防止することができるものである。
As can be understood from the above description, the
なお、本発明は、前記実施例に限るものではなく、適宜の変更を行うことにより、その他の形態でも実施可能である。例えば、前記発光素子25及び受光素子27を、それぞれ発光素子,受光素子に接続した光ファイバとすることも可能である。また、前述したように、保護ガラス13の寿命予測が可能であるから、寿命が近くなったときに、表示手段35に寿命が近くなったことの表示や、保護ガラス13の交換を行うべき旨の表示を行うことも可能である。
In addition, this invention is not restricted to the said Example, It can implement also in another form by making an appropriate change. For example, the
なお、本件では、劣化状態検出の対象を保護ガラスに限定したが、他の光学素子、例えば、集光レンズの劣化状態検出にも同様の手法で、応用できる。 In this case, the target of the deterioration state detection is limited to the protective glass, but it can be applied to the detection of the deterioration state of other optical elements, for example, a condensing lens, by the same method.
1 レーザ加工ヘッド
5 外筒
9 内筒
11 集光レンズ
12 レンズホルダ
13 保護ガラス
19 ノズル装着部
21 劣化検出アタッチメント
23 アタッチメント本体
25 発光素子(投光手段)
27 受光素子(受光センサ)
31 比較処理部
35 表示手段
37 メモリ
37A 第1格納部
37B 第2格納部
39 演算手段
41 比較手段
DESCRIPTION OF
27 Light receiving element (light receiving sensor)
31
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