JP2011104480A - Apparatus and method for decomposition of gaseous pollutant - Google Patents

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Shigenori Takahashi
成典 高橋
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for decomposition of gaseous pollutant with improved removal efficiency of the gaseous pollutant. <P>SOLUTION: The apparatus for decomposition of gaseous pollutant includes: a container 1 into which gas 6 containing a trimethylsilanol is introduced; a photocatalyst 2 provided in the container 1; a light source 4 that generates a light to activate the photocatalyst 2; and a dehumidifying means 5 to lower the humidity in the container 1. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、ガス状汚染物質の分解装置および分解方法に関する。   The present invention relates to an apparatus and method for decomposing gaseous pollutants.

近年、最先端の半導体素子を製造するクリーンルームでは、半導体の高集積化、デバイスの微細化が進むに伴い、微粒子に加えてガス状汚染物質(AMC: Airborne Molecular Contaminants)などのケミカル汚染が大きな問題となっている。AMCは、シリコンウェハ表面やガラス基板表面に吸着し、製品に不具合を生じさせる。   In recent years, in clean rooms that manufacture the most advanced semiconductor elements, chemical contamination such as gaseous contaminants (AMC: Airborne Molecular Contaminants) in addition to fine particles has become a major problem as semiconductors are highly integrated and devices are becoming finer. It has become. AMC is adsorbed on the surface of a silicon wafer or the surface of a glass substrate, causing a problem in the product.

AMCの一つとしてトリメチルシラノール(TMS)が知られている。TMSは、クリーンルームにシール材として使用されるシリコンシール材から発生する。   Trimethylsilanol (TMS) is known as one of AMC. TMS is generated from a silicon seal material used as a seal material in a clean room.

また、TMSは以下の理由でも発生する。半導体製造におけるフォトリソグラフィ工程では、レジストとウェハとの密着性を向上させるために、ヘキサメチルジシラザンが使用されている。このヘキサメチルジシラザンは容易に加水分解される。ヘキサメチルジシラザンが加水分解されると、TMSとアンモニアガスが生成する。   TMS also occurs for the following reasons. In the photolithography process in semiconductor manufacturing, hexamethyldisilazane is used to improve the adhesion between the resist and the wafer. This hexamethyldisilazane is easily hydrolyzed. When hexamethyldisilazane is hydrolyzed, TMS and ammonia gas are generated.

従来のTMS汚染の対策として、以下の方法が検討されている。   The following methods have been examined as a countermeasure against conventional TMS contamination.

特許文献1には、塵埃除去用フィルタとケミカルフィルタとを組み合わせたファンフィルタユニットを装備する従来の半導体製造装置では、ヘイズの発生およびレジスト膜の破裂を十分に防止することができず、それを解決するために、原因物質を特定して原因物質を発生しないファンフィルタユニットを使用することが提案されている。また、ヘイズの発生およびレジスト膜の破裂を防止できる半導体装置の製造方法も開示されている。   Patent Document 1 discloses that a conventional semiconductor manufacturing apparatus equipped with a fan filter unit in which a dust removing filter and a chemical filter are combined cannot sufficiently prevent generation of haze and rupture of a resist film. In order to solve this problem, it has been proposed to use a fan filter unit that identifies a causative substance and does not generate the causative substance. Also disclosed is a method for manufacturing a semiconductor device capable of preventing the generation of haze and the rupture of a resist film.

また、特許文献2には、半導体素子を製造するクリーンルームに使用されるシール材をフッ素系シール材とし、さらに、電気絶縁性を有し、機械的に安定で、耐老化性を有し、加工性に優れ、かつ、接着性に優れた材料で、クリーンルーム内に露出しているシール材の表面を被覆することで、TMSの発生を抑制する方法が示されている。また、フォトリソグラフィ工程においては、装置内への外気吸入口に活性炭を用いたケミカルフィルタを設置するというTMS対策を行っている。さらに、半導体製造装置内に不活性ガスを充満させた予備バッファ室を設け、この予備バッファ室内で汚染された半導体素子用部材を加熱処理する方法も示されている。   Patent Document 2 discloses that a sealing material used in a clean room for manufacturing a semiconductor element is a fluorine-based sealing material, and further has electrical insulation, mechanical stability, aging resistance, and processing. A method of suppressing the generation of TMS by covering the surface of a sealing material exposed in a clean room with a material excellent in property and adhesiveness is shown. In the photolithography process, a TMS countermeasure is taken in which a chemical filter using activated carbon is installed at the outside air inlet into the apparatus. Furthermore, a method is also shown in which a spare buffer chamber filled with an inert gas is provided in a semiconductor manufacturing apparatus, and a semiconductor element member contaminated in the spare buffer chamber is heat-treated.

以上述べたように従来のTMS汚染の対策は、TMSが発生しない部材の使用、ケミカルフィルタによる吸着除去が主であるが、これらの対策はいずれも除去効率向上には限界がある。そのため、従来のTMS汚染の対策は、製品歩留まりを低下させる原因となっている。   As described above, the conventional countermeasures against TMS contamination are mainly the use of a member that does not generate TMS and the adsorption removal by a chemical filter. However, these countermeasures are limited in improving the removal efficiency. Therefore, the conventional countermeasure against TMS contamination is a cause of reducing the product yield.

特開平11−45845号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-45845 特開2007−27783号公報JP 2007-27783 A

本発明の目的は、ガス状汚染物質の除去効率の向上を図れるガス状汚染物質の分解装置および分解方法を提供することにある。   It is an object of the present invention to provide a gaseous pollutant decomposition apparatus and decomposition method capable of improving the removal efficiency of gaseous pollutants.

本発明の一態様によるガス状汚染物質の分解装置は、トリメチルシラノールを含むガスが導入される容器と、前記容器内に設けられた光触媒と、前記光触媒を活性化するための光を発生する光源と、前記容器内の湿度を下げるための除湿手段とを具備してなることを特徴とする。   The apparatus for decomposing gaseous pollutants according to one aspect of the present invention includes a container into which a gas containing trimethylsilanol is introduced, a photocatalyst provided in the container, and a light source that generates light for activating the photocatalyst. And dehumidifying means for lowering the humidity in the container.

本発明の一態様によるガス状汚染物質の分解方法は、絶対湿度が一定値以下の雰囲気内にトリメチルシラノールを含むガスを晒し、前記トリメチルシラノールからヘキサメチルジシロキサン(HMDSO)を生成する工程と、光触媒反応による酸化によって前記トリメチルシラノールを分解する工程とを含むことを特徴とする。   A method for decomposing a gaseous pollutant according to an aspect of the present invention includes a step of exposing a gas containing trimethylsilanol to an atmosphere having an absolute humidity of a certain value or less to generate hexamethyldisiloxane (HMDSO) from the trimethylsilanol. And a step of decomposing the trimethylsilanol by oxidation by a photocatalytic reaction.

本発明によれば、ガス状汚染物質の除去効率の向上を図れるガス状汚染物質の分解装置および分解方法を実現できるようになる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the decomposition apparatus and decomposition method of gaseous pollutant which can aim at the improvement of the removal efficiency of gaseous pollutant can be implement | achieved.

第1の実施形態のTMS分解装置の概略構成を模式的に示す図。The figure which shows typically schematic structure of the TMS decomposition | disassembly apparatus of 1st Embodiment. TMSおよびHMDSOのそれぞれについて、光触媒を通過した後のTMSおよびHMDSOの濃度の時間変化を示す図。The figure which shows the time change of the density | concentration of TMS and HMDSO after passing through a photocatalyst about each of TMS and HMDSO. TMSおよびHMDSOのそれぞれについて、光触媒反応により発生した二酸化炭素の濃度の時間変化を示す図。The figure which shows the time change of the density | concentration of the carbon dioxide which generate | occur | produced by the photocatalytic reaction about each of TMS and HMDSO. 絶対湿度とHMDSO濃度との関係を示す図。The figure which shows the relationship between absolute humidity and HMDSO density | concentration. 実施形態および従来のTMS分解装置の寿命を示す図。The figure which shows the lifetime of embodiment and the conventional TMS decomposition | disassembly apparatus. 第2の実施形態のTMS分解装置の概略構成を模式的に示す図。The figure which shows typically schematic structure of the TMS decomposition | disassembly apparatus of 2nd Embodiment.

以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
まず、実施形態のガス状汚染物質の除去装置および除去方法の概要について説明する。
(First embodiment)
First, the outline | summary of the removal apparatus and removal method of the gaseous pollutant of embodiment is demonstrated.

本発明者らは、TMSの酸化分解が行われる容器と、この容器内の設けられた光触媒を含む部材(光触媒部材)と、上記光触媒を活性化するための光を発生する光源と、容器内に設置された除湿フィルタとを備えたTMS分解装置を作成した。   The present inventors include a container in which oxidative decomposition of TMS is performed, a member (photocatalyst member) including a photocatalyst provided in the container, a light source that generates light for activating the photocatalyst, The TMS decomposition apparatus provided with the dehumidification filter installed in was produced.

除湿フィルタによって低湿度環境下になっている容器内にTMSガスを導入した。その結果、容器内では、TMSの二量体であるヘキサメチルジシロキサン(HMDSO)が生成された。HMDSOが生成されたのは、容器内が低湿度環境下になっているために、TMSの脱水縮合反応が起こったからだと考えられる。   TMS gas was introduced into a container that is in a low humidity environment by a dehumidifying filter. As a result, hexamethyldisiloxane (HMDSO), which is a dimer of TMS, was generated in the container. It is considered that HMDSO was generated because the dehydration condensation reaction of TMS occurred because the inside of the container was in a low humidity environment.

TMSからHMDSOを生成した理由は、TMSよりも二量体であるHMDSOの方が効率的に酸化分解できるからである。以下、この点についてさらに説明する。   The reason for generating HMDSO from TMS is that HMDSO, which is a dimer, can be more efficiently oxidatively decomposed than TMS. Hereinafter, this point will be further described.

光触媒反応によりTMSを酸化分解したときに、反応生成物として発生する二酸化炭素濃度は、時間の経過とともに低下する。この二酸化炭素の濃度の低下は、光触媒活性の低下を意味する。   When TMS is oxidatively decomposed by a photocatalytic reaction, the concentration of carbon dioxide generated as a reaction product decreases with time. This decrease in the concentration of carbon dioxide means a decrease in photocatalytic activity.

しかし、TMSの二量体であるHMDSOは、光触媒反応により酸化分解されるが、反応生成物として発生する二酸化炭素の濃度は、時間の経過とともに低下しない。これは、光触媒反応によりHMDSOを酸化分解する場合、光触媒の活性の低下は抑制され、HMDSOを効率的に酸化分解できることを意味する。   However, HMDSO, which is a dimer of TMS, is oxidatively decomposed by a photocatalytic reaction, but the concentration of carbon dioxide generated as a reaction product does not decrease over time. This means that when HMDSO is oxidatively decomposed by a photocatalytic reaction, a decrease in the activity of the photocatalyst is suppressed and HMDSO can be efficiently oxidatively decomposed.

光触媒は、例えば、酸化チタンである。酸化チタンは光触媒活性が高く、TMSの分解に有用である。   The photocatalyst is, for example, titanium oxide. Titanium oxide has a high photocatalytic activity and is useful for the decomposition of TMS.

光源は、例えば、波長380nm以下の紫外光を発生する光源である。波長380nm以下の紫外光を利用する理由は、光触媒反応が促進されるからである。   The light source is, for example, a light source that generates ultraviolet light having a wavelength of 380 nm or less. The reason for using ultraviolet light having a wavelength of 380 nm or less is that the photocatalytic reaction is promoted.

上記紫外光は、例えば、高電圧を電極間に印加して生じるコロナ放電により発生する紫外光である。この場合、コロナ放電により、光触媒反応を起こすために必要な紫外光が発生し、さらに、酸化分解に寄与するオゾンも発生するので、より効果的にTMSを分解除去できる。   The ultraviolet light is, for example, ultraviolet light generated by corona discharge generated by applying a high voltage between the electrodes. In this case, the corona discharge generates ultraviolet light necessary for causing a photocatalytic reaction, and also generates ozone that contributes to oxidative decomposition, so that TMS can be decomposed and removed more effectively.

また、上記のTMS分解装置(容器、光触媒部材、光源、除湿フィルタ)の後段に、TMSを吸着するケミカルフィルタを設置すると、酸化分解によって除去できなかったTMSを吸着により除去できるので、より効果的にTMSを除去できるようになる。   In addition, if a chemical filter that adsorbs TMS is installed in the subsequent stage of the above TMS decomposition apparatus (container, photocatalyst member, light source, dehumidification filter), TMS that could not be removed by oxidative decomposition can be removed by adsorption, which is more effective. TMS can be removed.

以下、実施形態のTMS分解装置についてより詳細に説明する。   Hereinafter, the TMS decomposition apparatus according to the embodiment will be described in more detail.

図1は、第1の実施形態のTMS分解装置の概略構成を模式的に示す図である。   FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a schematic configuration of the TMS decomposition apparatus according to the first embodiment.

本実施形態のTMS分解装置は、TMSの酸化分解が行われる容器1と、この容器内の設けられた光触媒2を含む光触媒部材3と、この光触媒部材3を活性化するための光を発生する光源4と、容器1内に設置された除湿フィルタ5とを備えている。   The TMS decomposition apparatus of this embodiment generates a light for activating the photocatalyst member 3, a photocatalyst member 3 including the photocatalyst 2 provided in the vessel 1 in which the oxidative decomposition of TMS is performed. A light source 4 and a dehumidifying filter 5 installed in the container 1 are provided.

光源4には波長380nm以下の紫外光ランプ(東芝ライテック(株)製)を用いた。このとき、上記紫外光ランプの代わりに、紫外光を照射できるLEDランプ、または、高電圧を電極間に印加して生じるコロナ放電により紫外光を発生するランプを利用しても構わない。   As the light source 4, an ultraviolet lamp (manufactured by Toshiba Lighting & Technology Co., Ltd.) having a wavelength of 380 nm or less was used. At this time, instead of the ultraviolet lamp, an LED lamp that can emit ultraviolet light, or a lamp that generates ultraviolet light by corona discharge generated by applying a high voltage between the electrodes may be used.

ここでは、光触媒2を含む光触媒部材3としては、セラミックス製の3次元網目状基材(寸法:65×70×6mm、空孔率:80〜90%)の表面に光触媒2としての酸化チタンゾル(平均粒子系:30nm)を含浸させ、熱処理することで固定させた光触媒担持体を用いた。   Here, as the photocatalyst member 3 including the photocatalyst 2, a titanium oxide sol (photocatalyst 2) is formed on the surface of a ceramic three-dimensional network substrate (size: 65 × 70 × 6 mm, porosity: 80 to 90%). An average particle system: 30 nm) was used, and a photocatalyst carrier fixed by heat treatment was used.

このとき、3次元網目状基材に対する光触媒担持体の光触媒の濃度は、12wt%とした。光触媒の濃度は、12wt%には限定されず、例えば、8−20wt%の範囲内であれば良い。   At this time, the concentration of the photocatalyst of the photocatalyst carrier relative to the three-dimensional network substrate was 12 wt%. The concentration of the photocatalyst is not limited to 12 wt%, and may be in the range of 8-20 wt%, for example.

光触媒担持体の機材としては、セラミックス製の基材のほか、活性炭やシリカゲルで構成されたハニカム状の基材でも構わない。光触媒部材3の上面と光源4の光の出射面とが平行となるように、光触媒部材3および光源4は配置されている。   As a material for the photocatalyst carrier, in addition to a ceramic substrate, a honeycomb substrate made of activated carbon or silica gel may be used. The photocatalyst member 3 and the light source 4 are arranged so that the upper surface of the photocatalyst member 3 and the light emission surface of the light source 4 are parallel to each other.

ここでは、除湿フィルタ5としては、シリカゲルを除湿剤とするものを使用した。シリカゲルの代わりに、ゼオライト、活性炭または活性炭繊維を除湿剤とするものを使用しても構わない。   Here, as the dehumidifying filter 5, a filter using silica gel as a dehumidifying agent was used. Instead of silica gel, zeolite, activated carbon or activated carbon fiber as a dehumidifying agent may be used.

除湿フィルタ5は、装置の前段、つまり、ガス6を導入する入り口側に設けた(光触媒部材3の前方)。これにより、TMSを脱水縮合させて生成されたHMDSOを効率よく光触媒部材2に供給することができる。   The dehumidifying filter 5 was provided at the front stage of the apparatus, that is, at the inlet side for introducing the gas 6 (in front of the photocatalytic member 3). Thereby, HMDSO produced by dehydrating and condensing TMS can be efficiently supplied to the photocatalytic member 2.

TMS分解装置の入り口(不図示)から導入されたガス6は、除湿フィルタ4を通過する。このとき、除湿フィルタ4によって容器1内の絶対湿度を30%以下(低湿度)にしてある。その結果、ガス6中のTMSが脱水縮合し、TMSからHMDSOが生成される。   The gas 6 introduced from the entrance (not shown) of the TMS decomposition apparatus passes through the dehumidifying filter 4. At this time, the absolute humidity in the container 1 is set to 30% or less (low humidity) by the dehumidifying filter 4. As a result, TMS in the gas 6 undergoes dehydration condensation, and HMDSO is generated from TMS.

上記HMDSOを含有するガスは光触媒部材3を通る。このとき、光触媒部材3は、光源4により光(紫外光)が照射されている。なお、光触媒部材2の側面(ガスを導入する側の面)に対して垂直方向からHMDSOを含有するガスが導入するように、光触媒部材3は配置されている。   The gas containing HMDSO passes through the photocatalytic member 3. At this time, the photocatalytic member 3 is irradiated with light (ultraviolet light) from the light source 4. In addition, the photocatalyst member 3 is arranged so that the gas containing HMDSO is introduced from the direction perpendicular to the side surface (the surface on the gas introduction side) of the photocatalyst member 2.

光触媒部材3内においては、光触媒2による光触媒反応によってHMDSOが分解され、二酸化炭素が生成される。したがって、TMS分解装置の出口(不図示)からは二酸化炭素を含むガス7が排出される。   In the photocatalyst member 3, HMDSO is decomposed by a photocatalytic reaction by the photocatalyst 2 to generate carbon dioxide. Therefore, the gas 7 containing carbon dioxide is discharged from the outlet (not shown) of the TMS decomposition apparatus.

上述したTMS分解装置を用いて、TMSとHMDSOについて、光触媒2に紫外光を照射したときとしなかった場合について、TMS分解装置の出口でのTMS濃度およびHMDSO濃度を測定した。また、紫外光を照射したときとしなかった場合のそれぞれについて二酸化炭素の発生量を比較し、HMDSOの優位性について検討した。具体的には以下の通りである。   Using the above-described TMS decomposition apparatus, TMS concentration and HMDSO concentration at the exit of the TMS decomposition apparatus were measured for TMS and HMDSO when the photocatalyst 2 was not irradiated with ultraviolet light. In addition, the amount of carbon dioxide generated was compared for each of the cases where ultraviolet light was irradiated and not, and the superiority of HMDSO was examined. Specifically, it is as follows.

TMS分解装置の入り口での濃度が50ppmのTMSを、流量3.0L/minの条件でTMS分解装置内に導入し、光源4により紫外光強度2.0mW/cm2 の紫外光を光触媒2に照射した場合の、TMS分解装置の出口でのTMSおよび二酸化炭素の濃度を測定した(実験1)。 The TMS concentration 50ppm of at the entrance to the TMS cracker, is introduced into the TMS cracker under conditions of a flow rate 3.0 L / min, the ultraviolet light in the ultraviolet light intensity 2.0 mW / cm 2 to the photocatalyst 2 with the light source 4 When irradiated, the TMS and carbon dioxide concentrations at the outlet of the TMS decomposition apparatus were measured (Experiment 1).

TMS分解装置の入り口での濃度が20ppmのHMDSOを、流量3.0L/minの条件でTMS分解装置内に導入し、光源4により紫外光強度2.0mW/cm2 の紫外光を光触媒2に照射した場合の、TMS分解装置の出口でのHMDSOおよび二酸化炭素の濃度を測定した(実験2)。 The HMDSO concentration at the entrance of 20ppm of TMS cracker, is introduced into the TMS cracker under conditions of a flow rate 3.0 L / min, the ultraviolet light in the ultraviolet light intensity 2.0 mW / cm 2 to the photocatalyst 2 with the light source 4 The concentrations of HMDSO and carbon dioxide at the outlet of the TMS decomposition apparatus when irradiated were measured (Experiment 2).

実験2において紫外光を照射しなかった場合において、実験2と同様に、TMS分解装置の出口でのHMDSOおよび二酸化炭素の濃度を測定した(実験3)。   In the case where ultraviolet light was not irradiated in Experiment 2, the concentrations of HMDSO and carbon dioxide at the outlet of the TMS decomposition apparatus were measured as in Experiment 2 (Experiment 3).

実験1において紫外光を照射しなかった場合において、実験1と同様に、TMS分解装置の出口でのTMSおよび二酸化炭素の濃度を測定した(実験4)。   In the case where ultraviolet light was not irradiated in Experiment 1, the concentrations of TMS and carbon dioxide at the outlet of the TMS decomposition apparatus were measured as in Experiment 1 (Experiment 4).

図2に、上記四つの実験1−4における、TMS分解装置の出口でのTMSおよびHMDSOの濃度の時間変化を示す。   FIG. 2 shows changes over time in the concentrations of TMS and HMDSO at the outlet of the TMS decomposition apparatus in the above four experiments 1-4.

図3に、上記四つの実験1−4における、TMS分解装置の出口での二酸化炭素の濃度の時間変化を示す。   In FIG. 3, the time change of the density | concentration of the carbon dioxide in the exit of a TMS decomposition apparatus in the said four experiments 1-4 is shown.

図2より、TMSを導入した場合(実験1、実験4)、紫外線の照射の有無に関わらず、光触媒通過後はTMSが除去(分解)されるため、TMS分解装置の出口でのTMS濃度は測定開始時には非常に低い値となる。しかし、図2に示すように時間の経過とともに、TMS分解装置の出口でのTMS濃度は増加する傾向があることが分かる。これは光触媒表面にTMSが吸着し、触媒作用が低下するためと考えられる。   As shown in FIG. 2, when TMS is introduced (Experiment 1 and Experiment 4), TMS is removed (decomposed) after passing through the photocatalyst regardless of the presence or absence of ultraviolet irradiation, so the TMS concentration at the outlet of the TMS decomposition apparatus is The value is very low at the start of measurement. However, as shown in FIG. 2, it can be seen that the TMS concentration at the outlet of the TMS decomposition apparatus tends to increase with the passage of time. This is presumably because TMS is adsorbed on the surface of the photocatalyst and the catalytic action is lowered.

紫外線の照射がある場合(実験1)は、紫外線の照射がない場合(実験4)に比べて、TMSを分解する性能は高く、TMS分解装置の出口でのTMS濃度が低くなったが光触媒表面にTMSが吸着し、時間の経過とともに触媒作用が低下した。   When UV irradiation is present (Experiment 1), the performance of decomposing TMS is higher than when there is no UV irradiation (Experiment 4), and the TMS concentration at the outlet of the TMS decomposition apparatus is lower, but the surface of the photocatalyst TMS was adsorbed on the catalyst, and the catalytic action decreased with time.

一方、HMDSOを導入した場合(実験2、実験3)、紫外線の照射がないと、TMS分解装置の出口でのHMDSO濃度に変化はなく(実験3)、また、紫外線の照射があると、TMS分解装置の出口でのHMDSO濃度は約半分となる(実験2)。すなわち、光触媒反応により、HMDSOが分解されていることが確認された。   On the other hand, when HMDSO is introduced (Experiment 2 and Experiment 3), there is no change in the HMDSO concentration at the exit of the TMS decomposition apparatus (Experiment 3) if there is no ultraviolet irradiation, and if there is ultraviolet irradiation, TMS The HMDSO concentration at the outlet of the cracker is approximately halved (Experiment 2). That is, it was confirmed that HMDSO was decomposed by the photocatalytic reaction.

また、図3より、紫外線の照射がある場合(実験1、実験2)、二酸化炭素の発生が確認され、TMSおよびHMDSOは光触媒反応によって分解されていることが確認された。しかし、紫外線の照射がない場合(実験3,実験4)、二酸化炭素は検出されなかった。   Moreover, from FIG. 3, when there was ultraviolet irradiation (Experiment 1 and Experiment 2), the generation of carbon dioxide was confirmed, and it was confirmed that TMS and HMDSO were decomposed by the photocatalytic reaction. However, when there was no ultraviolet irradiation (Experiment 3 and Experiment 4), carbon dioxide was not detected.

さらに、図3より、紫外線の照射がある場合でも、TMSを導入した場合(実験1)には、時間の経過とともに二酸化炭素の濃度(生成量)は減少していくが、HMDSOを導入した場合(実験2)には、時間が経過しても二酸化炭素の濃度(生成量)はほとんど変化しないことが分かる。すなわち、光触媒反応を用いた分解(除去)に関しては、TMSを光触媒によって分解するよりも、TMSを脱水縮合させてHMDSOに変換してから光触媒によって分解を行った方がより効率良く、長期間の分解が可能になることが分かった。   Furthermore, from FIG. 3, even when there is ultraviolet irradiation, when TMS is introduced (Experiment 1), the concentration (generated amount) of carbon dioxide decreases with time, but when HMDSO is introduced. (Experiment 2) shows that the concentration (production amount) of carbon dioxide hardly changes over time. That is, with respect to decomposition (removal) using a photocatalytic reaction, it is more efficient to decompose TMS by dehydrating and condensing it into HMDSO and then decomposing with photocatalyst, rather than decomposing TMS with photocatalyst. It turns out that decomposition becomes possible.

図4は、TMS分解装置の容器内の絶対湿度と、該容器内に導入されたTMSが光触媒反応により分解されて生成されたHMDSOの濃度(HMDSO濃度)との関係を示す図である。TMS分解装置の入り口でのTMS濃度は50ppmとした。   FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the absolute humidity in the container of the TMS decomposition apparatus and the concentration of HMDSO (HMDSO concentration) generated by decomposition of TMS introduced into the container by a photocatalytic reaction. The TMS concentration at the entrance of the TMS decomposition apparatus was 50 ppm.

図4から、絶対湿度が35%よりも高いとHMDSO濃度の増加は見られないが、絶対湿度が35%以下、特に30%以下になると、HMDSO濃度の増加は明らかに見られることが分かる。同様の傾向は、TMS濃度50ppm以外の場合でも見られた。すなわち、TMSをHMDSOに確実に分解するためには、容器1内の絶対湿度を一定値以下、つまり、35%以下することが重要であることが分かった。絶対湿度30%,50%の場合、HMDSOの生成量は1〜3ppmであった。   From FIG. 4, it can be seen that when the absolute humidity is higher than 35%, the increase in the HMDSO concentration is not observed, but when the absolute humidity is 35% or less, particularly 30% or less, the increase in the HMDSO concentration is clearly seen. The same tendency was observed even when the TMS concentration was other than 50 ppm. That is, it was found that in order to reliably decompose TMS into HMDSO, it is important that the absolute humidity in the container 1 is not more than a certain value, that is, not more than 35%. When the absolute humidity was 30% and 50%, the amount of HMDSO produced was 1 to 3 ppm.

また、図4から、絶対湿度5%以下の場合、HMDSO濃度は10ppmであることが分かる。同様の傾向は、TMS濃度50ppm以外の場合でも見られた。すなわち、低湿環境下、特に絶対湿度5%以下の低湿環境下では、TMSから効率よくHMDSOを生成できることが分かった。   Further, FIG. 4 shows that the HMDSO concentration is 10 ppm when the absolute humidity is 5% or less. The same tendency was observed even when the TMS concentration was other than 50 ppm. That is, it was found that HMDSO can be efficiently generated from TMS in a low humidity environment, particularly in a low humidity environment with an absolute humidity of 5% or less.

本発明者らは、実施形態の光触媒を用いたTMS分解装置の寿命と、従来のケミカルフィルタを用いたTMS分解装置の寿命とを調べた。その結果を図5に示す。ここでは、TMSの除去率が90%以下に落ちるまでの時間を寿命とする。従来のTMS分解装置の寿命が1000時間であるの対し、本実施形態のTMS分解装置の寿命は2000時間であり、寿命は2倍も延びた。   The present inventors investigated the lifetime of the TMS decomposition apparatus using the photocatalyst of the embodiment and the lifetime of the TMS decomposition apparatus using the conventional chemical filter. The result is shown in FIG. Here, the time until the TMS removal rate falls below 90% is defined as the lifetime. The lifetime of the conventional TMS decomposition apparatus is 1000 hours, whereas the lifetime of the TMS decomposition apparatus of the present embodiment is 2000 hours, and the lifetime is doubled.

かくして実施形態のTMS分解装置を用いれば、絶対湿度が一定値以下の雰囲気内にTMS(ガス状汚染物質)を含むガスを晒してTMSからHMDSOを生成し、光触媒反応による酸化によってHMDSOを分解することにより、TMSの除去効率(分解効率)の向上を図れるTMS分解方法を実施できるようになり、もって、TMS汚染による製品歩留まりの低下を抑制することが可能となる。また、本実施形態のTMS分解装置は寿命が長いので、本実施形態のTMS分解装置およびそれを用いたTMS分解方法は、製造コストの削減の点も有利である。   Thus, when the TMS decomposition apparatus of the embodiment is used, HMDSO is generated from TMS by exposing a gas containing TMS (gaseous pollutant) in an atmosphere having an absolute humidity of a certain value or less, and HMDSO is decomposed by oxidation by a photocatalytic reaction. As a result, the TMS decomposition method capable of improving the removal efficiency (decomposition efficiency) of TMS can be implemented, and therefore, it is possible to suppress a decrease in product yield due to TMS contamination. Moreover, since the TMS decomposition apparatus of this embodiment has a long lifetime, the TMS decomposition apparatus of this embodiment and the TMS decomposition method using the same are advantageous in terms of reducing manufacturing costs.

(第2の実施形態)
図6は、第2の実施形態のTMS分解装置の概略構成を模式的に示す図である。なお、図1と対応する部分には図1と同一符号を付してあり、詳細な説明は省略する。
(Second Embodiment)
FIG. 6 is a diagram schematically illustrating a schematic configuration of the TMS decomposition apparatus according to the second embodiment. 1 corresponding to those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals as those in FIG. 1, and detailed description thereof is omitted.

本実施形態のTMS分解装置が第1の実施形態のそれと異なる点は、ケミカルフィルタ8をさらに備えていることにある。   The TMS decomposition apparatus of this embodiment is different from that of the first embodiment in that a chemical filter 8 is further provided.

ケミカルフィルタ8は、例えば、活性炭を用いたケミカルフィルタである。   The chemical filter 8 is a chemical filter using activated carbon, for example.

ケミカルフィルタ8は光触媒部材3の後方(装置出口側)に設けられており、光触媒部材3を通過したガス7はケミカルフィルタ8を通るようになっている。ケミカルフィルタ8は、光触媒部材3によって酸化分解されなかった(除去されなかった)TMSを捕集する。したがって、本実施形態によれば、容器1内でより効果的にTMSを除去できるようになる。   The chemical filter 8 is provided behind the photocatalyst member 3 (apparatus outlet side), and the gas 7 that has passed through the photocatalyst member 3 passes through the chemical filter 8. The chemical filter 8 collects TMS that has not been oxidatively decomposed (not removed) by the photocatalytic member 3. Therefore, according to the present embodiment, TMS can be removed more effectively in the container 1.

以上述べた実施形態のTMS分解装置・方法は、例えば、クリーンルームや、半導体製造装置の清浄化に使用される。半導体製造装置は、例えば、ArF等を光源に用いた露光装置や、光学系検査装置である。   The TMS decomposition apparatus and method according to the embodiment described above are used, for example, for cleaning a clean room or a semiconductor manufacturing apparatus. The semiconductor manufacturing apparatus is, for example, an exposure apparatus that uses ArF or the like as a light source, or an optical system inspection apparatus.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to these embodiment.

例えば、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。   For example, the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.

その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施できる。   In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

1…容器、2…光触媒、3…光触媒部材、4…光源、5…除湿フィルタ(除湿手段)、6…導入ガス(TMS)、7…排気ガス(CO2 )、8…ケミカルフィルタ。 1 ... container, 2 ... photocatalyst, 3 ... photocatalytic member, 4 ... a light source, 5 ... dehumidifying filter (dehumidifier), 6 ... introducing gas (TMS), 7 ... exhaust gas (CO 2), 8 ... chemical filter.

Claims (8)

トリメチルシラノールを含むガスが導入される容器と、
前記容器内に設けられた光触媒と、
前記光触媒を活性化するための光を発生する光源と、
前記容器内の湿度を下げるための除湿手段と
を具備してなることを特徴とするガス状汚染物質の分解装置。
A container into which a gas containing trimethylsilanol is introduced;
A photocatalyst provided in the container;
A light source for generating light for activating the photocatalyst;
A decomposing apparatus for gaseous pollutants, comprising dehumidifying means for lowering the humidity in the container.
前記除湿手段は、シリカゲル、ゼオライト、活性炭または活性炭繊維を備えた除湿フィルタであることを特徴とする請求項1に記載のガス状汚染物質の分解装置。   The apparatus for decomposing gaseous pollutants according to claim 1, wherein the dehumidifying means is a dehumidifying filter provided with silica gel, zeolite, activated carbon, or activated carbon fiber. 前記除湿手段は、前記光触媒よりも前記ガスを導入する入り口側に設けたことを特徴とする請求項1に記載のガス状汚染物質の分解装置。   2. The apparatus for decomposing gaseous pollutants according to claim 1, wherein the dehumidifying means is provided closer to the inlet side for introducing the gas than the photocatalyst. 前記除湿手段は、前記容器内の絶対湿度を35%以下に設定できるものであることを特徴とする請求項1または2に記載のガス状汚染物質の分解装置。   The apparatus for decomposing a gaseous pollutant according to claim 1 or 2, wherein the dehumidifying means is capable of setting an absolute humidity in the container to 35% or less. 前記光源は、コロナ放電により紫外光を発生するものであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のガス状汚染物質の分解装置。   4. The gaseous pollutant decomposition apparatus according to claim 1, wherein the light source generates ultraviolet light by corona discharge. 前記光触媒は、酸化チタンであることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載のガス状汚染物質の分解装置。   The apparatus for decomposing a gaseous pollutant according to any one of claims 1 to 4, wherein the photocatalyst is titanium oxide. 絶対湿度が一定値以下の雰囲気内にトリメチルシラノールを含むガスを晒し、前記トリメチルシラノールからヘキサメチルジシロキサンを生成する工程と、
光触媒反応による酸化によって前記トリメチルシラノールを分解する工程と
を含むことを特徴とするガス状汚染物質の分解方法。
Exposing a gas containing trimethylsilanol in an atmosphere having an absolute humidity of a certain value or less to produce hexamethyldisiloxane from the trimethylsilanol; and
And a step of decomposing the trimethylsilanol by oxidation by a photocatalytic reaction.
前記雰囲気内の絶対湿度は、35%以下であることを特徴する請求項7に記載のガス状汚染物質の分解方法。   The method for decomposing a gaseous pollutant according to claim 7, wherein the absolute humidity in the atmosphere is 35% or less.
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