JP2011100649A - Substrate with built-in electronic component and electronic module - Google Patents

Substrate with built-in electronic component and electronic module Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve a problem that initial characteristics of an electronic module are deviated to have an ESD protection effect faded, as an ESD protection component is mounted on a substrate of the electronic module. <P>SOLUTION: The substrate with a built-in electronic component 1, in addition to at least one electronic component element built in, has an ESD protection element fitted, which 2 is structured of a cavity part formed inside the substrate with a built-in electronic component, and a pair of discharge electrodes formed in opposition in the cavity part; and the ESD protection element 2 is to be integrally formed with the electronic component element. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

IC素子やSAW素子などの精密な構造からなる電子部品素子が実装され、高精度に機能動作する電子モジュールにおいては、ESD(Electro−Static Discharge;静電気放電)対策を施し、帯電した物体が接触や近接しても、実装された電子部品素子や電子モジュール自体が、損傷したり誤作動したりすることを防止することが重要な課題になっている。   Electronic components with precise structures such as IC elements and SAW elements are mounted, and in electronic modules that function with high accuracy, ESD (Electro-Static Discharge) measures are taken to prevent charged objects from touching. Even when they are close to each other, it is an important issue to prevent the mounted electronic component element or the electronic module itself from being damaged or malfunctioning.

従来、電子モジュールにおいては、このESD対策として、例えば、特許文献1(特開2001−43954号公報)に開示されるようなESD保護部品を、基板上に搭載することがおこなわれている。   Conventionally, in an electronic module, as an ESD countermeasure, for example, an ESD protection component as disclosed in Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 2001-43954) is mounted on a substrate.

このESD保護部品は、例えば、図11に示すように、絶縁性の素子本体101に形成された空洞102の内部に、一対の放電電極103a、103bを対向して配置し、素子本体101の両端に外部電極104a、104bを形成した構造からなる。そして、このESD保護部品を、電子モジュールの基板上に実装し、信号ライン等とグランド電極との間に挿入しておくことにより、信号ライン等に静電気による過大な電圧が加わっても、その静電気をESD保護部品において放電させてグランド側に導くことにより、IC素子やSAW素子などの電子部品素子が損傷したり誤作動したりするのを防止するようにしている。   For example, as shown in FIG. 11, the ESD protection component includes a pair of discharge electrodes 103 a and 103 b facing each other inside a cavity 102 formed in an insulating element body 101, and both ends of the element body 101. In this structure, external electrodes 104a and 104b are formed. By mounting this ESD protection component on the substrate of the electronic module and inserting it between the signal line and the ground electrode, even if an excessive voltage due to static electricity is applied to the signal line or the like, Is discharged in the ESD protection component and led to the ground side, thereby preventing the electronic component elements such as the IC element and the SAW element from being damaged or malfunctioning.

特開2001−43954号公報JP 2001-43954 A

しかしながら、上述した、電子モジュールの基板上にESD保護部品を実装する方法では、ESD保護素子を実装することにより、そのESD保護部品とこれに接続される電子部品素子との間に浮遊インダクタンスが発生するため、その浮遊インダクタンスの影響で、電子モジュールの当初の特性がずれてしまうという問題があった。また、ESD保護部品の実装状態にばらつきが生じると、個々の電子モジュール間でも特性がばらついてしまうという問題があった。   However, in the above-described method for mounting the ESD protection component on the substrate of the electronic module, by mounting the ESD protection element, stray inductance is generated between the ESD protection component and the electronic component element connected thereto. Therefore, there is a problem that the initial characteristics of the electronic module are shifted due to the influence of the stray inductance. Further, when variations occur in the mounting state of the ESD protection component, there is a problem that characteristics vary between individual electronic modules.

また、ESD保護部品と、基板に形成したグランド電極との間にも浮遊インダクタンスが発生するため、ESD保護部品において静電気がグランド電極側に放電しにくくなり、ESD保護効果が薄れてしまうという問題があった。   In addition, since a floating inductance is generated between the ESD protection component and the ground electrode formed on the substrate, static electricity is less likely to be discharged to the ground electrode side in the ESD protection component, and the ESD protection effect is reduced. there were.

また、基板の表面にIC素子などの電子部品素子の他に、ESD保護部品を実装しなければならず、表面積の大きな基板を用いなければならないため、電子モジュールそのものが大型化してしまうという問題があった。   Further, in addition to electronic component elements such as IC elements on the surface of the substrate, an ESD protection component must be mounted, and a substrate with a large surface area must be used, so that the electronic module itself is enlarged. there were.

更に、別部品のESD保護部品を用いているため、コストが高くなってしまうという問題があった。   Further, since another ESD protection component is used, there is a problem that the cost is increased.

本発明は、上述した従来技術の問題点を解決するためになされたものであり、その手段として本発明の電子部品内蔵基板は、内部に少なくとも1つの電子部品素子を内蔵した電子部品内蔵基板の内部に、更にESD保護素子を設け、そのESD保護素子を、少なくとも、その電子部品内蔵基板の内部に形成された空洞部と、空洞部内において対向して形成された一対の放電電極とで構成し、かつ、ESD保護素子を、電子部品素子と一体的に形成するようにした。   The present invention has been made to solve the above-described problems of the prior art, and as its means, the electronic component built-in substrate of the present invention is an electronic component built-in substrate having at least one electronic component element built therein. An ESD protection element is further provided inside, and the ESD protection element is composed of at least a cavity formed inside the electronic component built-in substrate and a pair of discharge electrodes formed to face each other in the cavity. In addition, the ESD protection element is formed integrally with the electronic component element.

また、本発明の電子モジュールは、上述した本発明の電子部品内蔵基板の表面に、更に電子部品素子を実装して構成するようにした。   The electronic module of the present invention is configured by further mounting electronic component elements on the surface of the electronic component built-in substrate of the present invention described above.

本発明の部品内蔵基板ないし電子モジュールにおいては、内部に内蔵された電子部品素子と、更に内部に内蔵されたESD保護素子とが一体的に形成されているため、ESD保護素子を後から実装する従来方法のように、ESD保護素子を実装することによって、電子モジュールの特性がずれてしまうことがない。また、ESD保護素子の実装状態により、個々の電子モジュール間で特性がばらついてしまうという問題もない。   In the component-embedded substrate or electronic module of the present invention, the electronic component element incorporated in the interior and the ESD protection element incorporated in the interior are integrally formed, so that the ESD protection element is mounted later. By mounting the ESD protection element as in the conventional method, the characteristics of the electronic module are not shifted. Further, there is no problem that the characteristics vary among individual electronic modules depending on the mounting state of the ESD protection element.

また、従来のように、基板の表面に電子部品素子の他にESD保護部品を実装する必要がないため、部品内蔵基板ないし電子モジュールの小型化をはかることができる。   Further, unlike the prior art, it is not necessary to mount an ESD protection component in addition to the electronic component element on the surface of the substrate, so that the component-embedded substrate or the electronic module can be downsized.

更に、別途、ESD保護部品を使用するものではないため、コストを小さくすることができる。   Furthermore, since the ESD protection component is not separately used, the cost can be reduced.

本発明の実施形態にかかる電子部品内蔵基板を用いた電子モジュールを示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which shows the electronic module using the electronic component built-in board | substrate concerning embodiment of this invention. 図1に示す本発明の実施形態にかかる電子部品内蔵基板に内蔵された、ESD保護素子およびコンデンサ素子を示す、図2(A)は等価回路図、図2(B)および(C)は部分断面図である。なお、図2(C)は、図2(B)のX−X部分の断面を示す。2A and 2B show an ESD protection element and a capacitor element built in the electronic component built-in substrate according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 1, FIG. 2A is an equivalent circuit diagram, and FIG. 2B and FIG. It is sectional drawing. Note that FIG. 2C illustrates a cross section of a portion XX in FIG. 本発明の実施形態の変形例にかかり、電子部品内蔵基板に内蔵された、ESD保護素子およびインダクター素子を示す、図3(A)は等価回路図、図3(B)および(C)は部分断面図である。なお、図3(C)は図3(B)のY−Y部分の断面を示す。FIG. 3A is an equivalent circuit diagram, and FIGS. 3B and 3C are partial views showing an ESD protection element and an inductor element built in an electronic component built-in substrate according to a modification of the embodiment of the present invention. It is sectional drawing. Note that FIG. 3C illustrates a cross section of the YY portion in FIG. 本発明の実施形態の変形例にかかり、電子部品内蔵基板に内蔵された、ESD保護素子、コンデンサ素子およびインダクター素子を示す、図4(A)は等価回路図、図4(B)および(C)は部分断面図である。なお、図4(C)は図4(B)のZ−Z部分の断面を示す。4A shows an ESD protection element, a capacitor element, and an inductor element built in an electronic component built-in board according to a modification of the embodiment of the present invention. FIG. 4A is an equivalent circuit diagram, and FIG. ) Is a partial cross-sectional view. Note that FIG. 4C illustrates a cross section of a ZZ portion in FIG. 本発明の応用例にかかる高周波スイッチモジュール(電子モジュール)を示す等価回路図である。It is an equivalent circuit diagram which shows the high frequency switch module (electronic module) concerning the application example of this invention. 図5に示す本発明の応用例にかかる高周波スイッチモジュール(電子モジュール)に用いた電子部品内蔵基板の積み図を示す。なお、図6〜図10の図6(A)〜図10(L)で、1つの電子部品内蔵基板が構成される。FIG. 6 is a stacking diagram of electronic component built-in substrates used in the high-frequency switch module (electronic module) according to the application example of the present invention shown in FIG. 5. 6A to 6L in FIG. 6 to FIG. 10 constitute one electronic component built-in substrate. 図5に示す本発明の応用例にかかる高周波スイッチモジュール(電子モジュール)に用いた電子部品内蔵基板の積み図を示す。FIG. 6 is a stacking diagram of electronic component built-in substrates used in the high-frequency switch module (electronic module) according to the application example of the present invention shown in FIG. 5. 図5に示す本発明の応用例にかかる高周波スイッチモジュール(電子モジュール)に用いた電子部品内蔵基板の積み図を示す。FIG. 6 is a stacking diagram of electronic component built-in substrates used in the high-frequency switch module (electronic module) according to the application example of the present invention shown in FIG. 5. 図5に示す本発明の応用例にかかる高周波スイッチモジュール(電子モジュール)に用いた電子部品内蔵基板の積み図を示す。FIG. 6 is a stacking diagram of electronic component built-in substrates used in the high-frequency switch module (electronic module) according to the application example of the present invention shown in FIG. 5. 図5に示す本発明の応用例にかかる高周波スイッチモジュール(電子モジュール)に用いた電子部品内蔵基板の積み図を示す。FIG. 6 is a stacking diagram of electronic component built-in substrates used in the high-frequency switch module (electronic module) according to the application example of the present invention shown in FIG. 5. 従来のESD保護素子を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the conventional ESD protection element.

以下、図面を用いて、本発明を実施するための形態について説明する。   Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の実施形態にかかる電子部品内蔵基板を用いた電子モジュールを示す部分断面図である。図2は、電子部品内蔵基板に内蔵されたESD保護素子とコンデンサ素子とを示し、図2(A)は等価回路図、図2(B)および(C)は部分断面図である。なお、図2(C)は図2(B)のX−X部分を示している。   FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing an electronic module using an electronic component built-in substrate according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows an ESD protection element and a capacitor element built in the electronic component built-in substrate, FIG. 2 (A) is an equivalent circuit diagram, and FIGS. 2 (B) and 2 (C) are partial sectional views. Note that FIG. 2C shows a portion XX in FIG.

図1において、1は電子部品内蔵基板を示す。電子部品内蔵基板1には、セラミック、樹脂などの絶縁材料を用いることができる。なお、本実施形態においては、セラミックを用いた。   In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an electronic component built-in substrate. An insulating material such as ceramic or resin can be used for the electronic component built-in substrate 1. In the present embodiment, ceramic is used.

電子部品内蔵基板1の内部には、ESD保護素子2とコンデンサ素子3とが一体的に形成されている。更に、電子部品内蔵基板1の内部には、内部配線4、ビア5、内部グランド電極6、他の電子部品素子であるコンデンサ素子7、インダクター素子8が形成されている。   An ESD protection element 2 and a capacitor element 3 are integrally formed inside the electronic component built-in substrate 1. Further, inside the electronic component built-in substrate 1, internal wiring 4, vias 5, internal ground electrodes 6, capacitor elements 7 that are other electronic component elements, and inductor elements 8 are formed.

また、電子部品内蔵基板1の下側表面には、外部グランド電極9、端子電極10が形成され、上側表面には、電子部品素子としてIC素子11、SAW素子(SAWデュプレクサ素子)12が実装されている。   An external ground electrode 9 and a terminal electrode 10 are formed on the lower surface of the electronic component built-in substrate 1, and an IC element 11 and a SAW element (SAW duplexer element) 12 are mounted on the upper surface as electronic component elements. ing.

このような構成からなる電子モジュールは、電子部品内蔵基板1の内部に内蔵された電子部品素子、電子部品内蔵基板1の表面に実装された電子部品素子により、必要な電子回路が構成されている。そして、このような構成からなる電子モジュールは、帯電した物体が接触や近接して、静電気による過大な電圧が加わっても、その静電気をESD保護素子2において放電させて、グランド電極に導くため、IC素子11やSAW素子12、その他の電子部品素子が、損傷したり誤作動したりすることがない。   In the electronic module having such a configuration, a necessary electronic circuit is configured by an electronic component element built in the electronic component built-in substrate 1 and an electronic component element mounted on the surface of the electronic component built-in substrate 1. . The electronic module having such a configuration causes the static electricity to be discharged in the ESD protection element 2 even when an excessive voltage due to static electricity is applied when the charged object is in contact with or in proximity to the ground electrode. The IC element 11, the SAW element 12, and other electronic component elements are not damaged or malfunction.

なお、図1においては図示していないが、SAW素子12も、ESD保護素子2を介してグランド電極に接続されている。本発明によれば、必要なESD保護素子2を必要な数だけ電子部品内蔵基板1の内部に形成することができ、従来のように基板上に実装されるESD保護部品の数を増やしていく必要がないため、コストダウンに大きく貢献する。特に、複数のESD保護素子2を、電子部品内蔵基板1の同じ層に形成するようにすれば、ほとんどコストを上げることなくESD保護素子2の数を増やしていくことができる。   Although not shown in FIG. 1, the SAW element 12 is also connected to the ground electrode via the ESD protection element 2. According to the present invention, a necessary number of ESD protection elements 2 can be formed inside the electronic component-embedded substrate 1, and the number of ESD protection components mounted on the substrate can be increased as in the prior art. Since it is not necessary, it greatly contributes to cost reduction. In particular, if a plurality of ESD protection elements 2 are formed in the same layer of the electronic component built-in substrate 1, the number of ESD protection elements 2 can be increased with almost no increase in cost.

次に、電子部品内蔵基板1の内部に形成されたESD保護素子2とコンデンサ素子3とについて、更に詳しく説明する。   Next, the ESD protection element 2 and the capacitor element 3 formed inside the electronic component built-in substrate 1 will be described in more detail.

ESD保護素子2とコンデンサ素子3は、図2(A)に示すように、並列に接続され、それぞれ一端がグランド電極に接続されている。   As shown in FIG. 2A, the ESD protection element 2 and the capacitor element 3 are connected in parallel, and one end of each is connected to the ground electrode.

ESD保護素子2は、図2(B)および(C)に示すように、電子部品内蔵基板1に空洞部13を形成し、空洞部13の底面に、電子部品内蔵基板1を構成する絶縁材料14a(本実施形態においてはセラミック)と、金属材料14bとを含む混合材料からなる混合部14を形成し、混合部14の上に、対向して一対の放電電極15a、15bを形成した構造からなる。   As shown in FIGS. 2B and 2C, the ESD protection element 2 forms a cavity 13 in the electronic component built-in substrate 1, and an insulating material constituting the electronic component built-in substrate 1 on the bottom surface of the cavity 13. 14a (ceramic in the present embodiment) and a mixed portion 14 made of a mixed material including a metal material 14b is formed, and a pair of discharge electrodes 15a and 15b are formed on the mixed portion 14 so as to face each other. Become.

なお、混合部14はESD保護素子2の基本機能にとって必ずしも必須ではないが、設けることにより下記の利点があるため、設けることが好ましい。   In addition, although the mixing part 14 is not necessarily essential for the basic function of the ESD protection element 2, since it has the following advantages by providing, the mixing part 14 is preferable.

混合部14の金属材料14bの種類は限定されないが、本実施形態においてはCuを用いた。放電電極15a、15bの材質も限定されないが、本実施形態においては金属材料14bと同様にCuを用いた。   Although the kind of the metal material 14b of the mixing part 14 is not limited, Cu was used in this embodiment. The material of the discharge electrodes 15a and 15b is not limited, but Cu is used in the present embodiment as in the case of the metal material 14b.

混合部14は、絶縁材料14aと金属材料14bとを含む材料からなるため、熱膨張率が、放電電極15a、15bの熱膨張率と電子部品内蔵基板1の熱膨張率の中間となっており、放電電極15a、15bと電子部品内蔵基板1との熱膨張率の差を緩和する機能をはたす。この結果、電子部品内蔵基板1を焼成して形成する際や、完成した本発明の電子モジュールをリフローはんだにより電子機器のプリント回路基板に実装する際や、電子機器を使用する際などに熱が加わっても、混合部14により、電子部品内蔵基板1から放電電極15a、15bが剥離することが抑制されている。したがって、経時的に、放電開始電圧などの特性が変化することも抑制されている。   Since the mixing portion 14 is made of a material including the insulating material 14a and the metal material 14b, the thermal expansion coefficient is intermediate between the thermal expansion coefficient of the discharge electrodes 15a and 15b and the thermal expansion coefficient of the electronic component built-in substrate 1. The function of alleviating the difference in coefficient of thermal expansion between the discharge electrodes 15a and 15b and the electronic component built-in substrate 1 is achieved. As a result, heat is generated when the electronic component built-in substrate 1 is formed by baking, when the completed electronic module of the present invention is mounted on the printed circuit board of the electronic device by reflow soldering, or when the electronic device is used. Even if it adds, it is suppressed by the mixing part 14 that the discharge electrodes 15a and 15b peel from the electronic component built-in board | substrate 1. FIG. Therefore, changes in characteristics such as the discharge start voltage over time are also suppressed.

また、混合部14に含まれる金属材料14bの種類と量を調整すれば、放電開始電圧を調整することができる。具体的には、導電性が高い材料にするほど、また量を多くするほど、放電開始電圧は低くなる。   Moreover, if the kind and quantity of the metal material 14b contained in the mixing part 14 are adjusted, the discharge start voltage can be adjusted. Specifically, the discharge start voltage decreases as the material has higher conductivity or as the amount increases.

なお、図示しないが、混合部14の下、および空洞部13の天井部分にシール層を形成し、電子部品内蔵基板1からESD保護素子2にガラス成分が浸透してくるのを防止するようにしても良い。すなわち、電子部品内蔵基板1をガラス成分を含むセラミックで形成した場合、電子部品内蔵基板1からガラス成分がESD保護素子2の混合部14や空洞部13に浸透し、絶縁材料14aや金属材料14bを覆ってしまい、放電特性が低下してしまうおそれがあるが、混合部14の下、および空洞部13の天井部分にシール層を形成しておけば、そのような問題を防止することができる。なお、シール層の材質としては、アルミナなどを用いることができる。   Although not shown, a sealing layer is formed under the mixing portion 14 and on the ceiling portion of the cavity portion 13 to prevent the glass component from penetrating from the electronic component built-in substrate 1 into the ESD protection element 2. May be. That is, when the electronic component built-in substrate 1 is formed of ceramic containing a glass component, the glass component penetrates from the electronic component built-in substrate 1 into the mixing portion 14 and the cavity portion 13 of the ESD protection element 2, and the insulating material 14a and the metal material 14b. However, if a sealing layer is formed under the mixing portion 14 and on the ceiling portion of the cavity portion 13, such a problem can be prevented. . Note that alumina or the like can be used as the material of the seal layer.

一方、コンデンサ素子3は、電子部品内蔵基板1の内部に、一対のコンデンサ電極16a、16bが所定の間隔を開けて対向して配置されて形成されている。そして、コンデンサ素子3の一方のコンデンサ電極16aは、ESD保護素子2の一方の放電電極15aと一体的に形成されている。このため、コンデンサ素子3とESD保護素子2は、常に一定の位置関係にあり、両者間のインダクタンスなどの電気的特性は安定しており変動することがない。   On the other hand, the capacitor element 3 is formed in the electronic component built-in substrate 1 with a pair of capacitor electrodes 16a and 16b arranged to face each other with a predetermined interval. One capacitor electrode 16 a of the capacitor element 3 is formed integrally with one discharge electrode 15 a of the ESD protection element 2. For this reason, the capacitor element 3 and the ESD protection element 2 are always in a fixed positional relationship, and electrical characteristics such as inductance between them are stable and do not fluctuate.

なお、上記は、電子部品内蔵基板1の内部にESD保護素子2とコンデンサ素子3とを一体的に形成した場合を示したが、コンデンサ素子2に代えて、図3に示すように、ESD保護素子2とインダクター素子17とを一体的に形成するようにしても良い。なお、図3(A)は等価回路図、図3(B)および(C)は部分断面図である。そして、図3(C)は図3(B)のY−Y部分を示している。   In the above, the case where the ESD protection element 2 and the capacitor element 3 are integrally formed inside the electronic component built-in substrate 1 is shown. However, instead of the capacitor element 2, as shown in FIG. The element 2 and the inductor element 17 may be integrally formed. 3A is an equivalent circuit diagram, and FIGS. 3B and 3C are partial cross-sectional views. FIG. 3C shows a YY portion of FIG.

インダクター素子17は、インダクター電極18a、18b、18cを、ビア19で接続して形成されている。そして、インダクター電極18aが、ESD保護素子2の一方の放電電極15aと一体的に形成されている。   The inductor element 17 is formed by connecting inductor electrodes 18 a, 18 b, and 18 c with vias 19. The inductor electrode 18a is formed integrally with one discharge electrode 15a of the ESD protection element 2.

また、図4に示すように、電子部品内蔵基板1の内部に、ESD保護素子2と、コンデンサ素子3と、インダクター素子17とを一体的に形成するようにしても良い。なお、図4(A)は等価回路図、図4(B)および(C)は部分断面図である。そして、図4(C)は図4(B)のZ−Z部分を示している。   In addition, as shown in FIG. 4, the ESD protection element 2, the capacitor element 3, and the inductor element 17 may be integrally formed inside the electronic component built-in substrate 1. 4A is an equivalent circuit diagram, and FIGS. 4B and 4C are partial cross-sectional views. FIG. 4C shows a ZZ portion of FIG.

この変形例では、ESD保護素子2の一方の放電電極15aと、コンデンサ素子3の一方のコンデンサ電極16aと、インダクター素子17のインダクター電極18aとが一体的に形成されている。   In this modification, one discharge electrode 15a of the ESD protection element 2, one capacitor electrode 16a of the capacitor element 3, and an inductor electrode 18a of the inductor element 17 are integrally formed.

以上、本発明の実施形態にかかる電子部品内蔵基板、それを用いた電子モジュール、更には変形例について説明したが、本発明がこれらの内容に限定されることはない。例えば、ESD保護素子2と一体的に形成される電子部品素子の種類、ESD保護素子2との接続構造、等価回路等は任意であり、更に種々の変形をなすことができる。また、電子モジュールにより構成される電子回路も任意であり、種々の電子回路を構成することができる。   As mentioned above, although the electronic component built-in board concerning the embodiment of the present invention, the electronic module using the same, and the modification were explained, the present invention is not limited to these contents. For example, the type of electronic component element formed integrally with the ESD protection element 2, the connection structure with the ESD protection element 2, the equivalent circuit, etc. are arbitrary, and various modifications can be made. Moreover, the electronic circuit comprised by an electronic module is also arbitrary and can comprise various electronic circuits.

次に、本実施形態にかかる電子部品内蔵基板、それを用いた電子モジュールの製造方法の一例について説明する。なお、ここでは、ESD保護素子2とコンデンサ素子3とを一体的に形成した場合(図2の構成の場合)を示す。   Next, an example of an electronic component built-in substrate according to the present embodiment and an electronic module manufacturing method using the same will be described. Here, the case where the ESD protection element 2 and the capacitor element 3 are integrally formed (in the case of the configuration of FIG. 2) is shown.

電子部品内蔵基板1は、複数のセラミックグリーンシートを積層し、焼成して製造される。   The electronic component built-in substrate 1 is manufactured by stacking and firing a plurality of ceramic green sheets.

まず、所定の組成からなる絶縁性のセラミック粉末を、溶剤、バインダー等と混合してスラリーを形成し、そのスラリーをドクターブレート法で薄板状に成形してセラミックグリーンシートを形成した。   First, an insulating ceramic powder having a predetermined composition was mixed with a solvent, a binder, and the like to form a slurry, and the slurry was formed into a thin plate by a doctor blade method to form a ceramic green sheet.

また、所定の粒径のCu粉を、溶剤、バインダー等と混合して電極ペーストを形成した。   Further, an electrode paste was formed by mixing Cu powder having a predetermined particle diameter with a solvent, a binder, and the like.

また、セラミックグリーンシートに用いたセラミック粉末と、電極ペーストに用いたCu粉とを所定の割合で混合し、更に溶剤、バインダー等と混合して、絶縁材料と金属材料とが混合された混合ペーストを形成した。   Also, a mixed paste in which the ceramic powder used for the ceramic green sheet and the Cu powder used for the electrode paste are mixed at a predetermined ratio, and further mixed with a solvent, a binder, etc., and an insulating material and a metal material are mixed. Formed.

次に、セラミックグリーンシートに、ビア5を形成するための孔を設けた。孔の位置や個数は、セラミックグリーンシートによって異なる。そして、セラミックグリーンシートの孔に、電極ペーストを充填した。   Next, a hole for forming the via 5 was provided in the ceramic green sheet. The position and number of holes differ depending on the ceramic green sheet. And the electrode paste was filled in the hole of the ceramic green sheet.

次に、ESD保護素子2およびコンデンサ素子3の一部を形成するセラミックグリーンシート上に、混合部14を形成するための混合ペーストを所定の形状に塗布し、更にそれらの上に、放電電極15a、15bを形成するための電極ペーストを所定の形状に塗布し、更にそれらの上に、空洞部13を形成するための、焼成すれば消失する樹脂ペーストを塗布した。なお、放電電極15aは、コンデンサ素子3のコンデンサ電極16aと一体的に形成されるため、電極ペーストはそのような形状に塗布した。なお、混合部14の下、および空洞部13の天井部分にシール層を形成する場合は、混合部14を形成するための混合ペーストを塗布する前、および空洞部13を形成するための樹脂ペーストを塗布した後に、追加で、シール層を形成するための、例えばアルミナペーストを塗布する。   Next, a mixed paste for forming the mixing portion 14 is applied in a predetermined shape on a ceramic green sheet that forms part of the ESD protection element 2 and the capacitor element 3, and the discharge electrode 15a is further formed thereon. The electrode paste for forming 15b was applied in a predetermined shape, and the resin paste that disappeared when fired to form the cavity 13 was applied thereon. Since the discharge electrode 15a is formed integrally with the capacitor electrode 16a of the capacitor element 3, the electrode paste is applied in such a shape. In the case where a sealing layer is formed under the mixing portion 14 and on the ceiling portion of the cavity portion 13, a resin paste for forming the cavity portion 13 and before applying the mixed paste for forming the mixing portion 14. After applying, for example, an alumina paste for forming a seal layer is applied.

また、所定のセラミックグリーンシートに、内部配線4、内部グランド電極6、コンデンサ素子3、7、インダクター素子8を形成するための電極ペーストを所定の形状に塗布した。   Further, an electrode paste for forming the internal wiring 4, the internal ground electrode 6, the capacitor elements 3 and 7, and the inductor element 8 was applied to a predetermined ceramic green sheet in a predetermined shape.

次に、ESD保護素子2を形成するセラミックグリーンシートと、その他のセラミックグリーンシートとを、所定の枚数、所定の順番に積層し、圧着して、未焼成のセラミック積層体を形成した。   Next, a ceramic green sheet for forming the ESD protection element 2 and other ceramic green sheets were laminated in a predetermined order and in a predetermined order, and pressed to form an unfired ceramic laminated body.

次に、セラミック積層体の下側表面に外部グランド電極9、端子電極10を形成するための、また上側表面に電子部品素子(IC素子11、SAW素子12等)の実装に用いるランド電極を形成するための導電ペーストを所定の形状に塗布した。なお、これらの導電ペーストは、この段階で塗布するのではなく、最上層または最下層に積層されるセラミックグリーンシートに、予め塗布しておいてもよい。   Next, land electrodes for forming external ground electrodes 9 and terminal electrodes 10 on the lower surface of the ceramic laminate and used for mounting electronic component elements (IC element 11, SAW element 12, etc.) are formed on the upper surface. For this purpose, a conductive paste was applied in a predetermined shape. In addition, you may apply | coat these electrically conductive pastes beforehand to the ceramic green sheet laminated | stacked on the uppermost layer or the lowest layer instead of apply | coating at this stage.

次に、セラミック積層体を、所定のプロファイルで焼成し、電子部品内蔵基板1を製造した。電子部品内蔵基板1の内部には、ESD保護素子2がコンデンサ素子3と一体的に形成されている。なお、上記においては、1個の電子部品内蔵基板を製造する場合について説明したが、大きなセラミック積層体から複数の電子部品内蔵基板を一度に製造するようにしても良く、この場合には、焼成前または焼成後に、大きなセラミック積層体を個々の電子部品内蔵基板の大きさにカットすることになる。   Next, the ceramic laminate was fired with a predetermined profile to manufacture the electronic component built-in substrate 1. An ESD protection element 2 is integrally formed with the capacitor element 3 inside the electronic component built-in substrate 1. In the above description, the case where one electronic component built-in substrate is manufactured has been described. However, a plurality of electronic component built-in substrates may be manufactured at a time from a large ceramic laminate. Before or after firing, the large ceramic laminate is cut to the size of each electronic component built-in substrate.

最後に、常套されている方法を用いて、電子部品内蔵基板1にIC素子11やSAW素子12等を実装し、本実施形態にかかる電子モジュールを完成させた。   Finally, the IC module 11 and the SAW element 12 were mounted on the electronic component built-in substrate 1 using a conventional method, thereby completing the electronic module according to the present embodiment.

(応用例)
応用例として、図5に示す高周波スイッチングモジュール(電子モジュール)を製造した。
(Application examples)
As an application example, a high-frequency switching module (electronic module) shown in FIG. 5 was manufactured.

この高周波スイッチングモジュールにおいては、ESD保護素子2、コンデンサ素子3、インダクター素子17、更にその他のコンデンサ素子Cやインダクター素子Lを電子部品内蔵基板の内部に作り込み、IC素子11とSAW素子(SAWデュプレクサ素子)12を電子部品内蔵基板の表面に実装して、高周波スイッチングモジュールの回路を構成している。   In this high-frequency switching module, an ESD protection element 2, a capacitor element 3, an inductor element 17, and other capacitor elements C and an inductor element L are formed inside an electronic component built-in substrate, and an IC element 11 and a SAW element (SAW duplexer). Element) 12 is mounted on the surface of the electronic component built-in substrate to constitute a circuit of a high-frequency switching module.

図6(A)〜図10(L)に、電子部品内蔵基板の積み図を示す。すなわち、電子部品内蔵基板は多層構造に形成されており、図6(A)〜図10(L)は、順に最上層から最下層を示し、各層の上側表面に表れた電極パターン、ビア等を示している。ただし、図10(L)のみは、図10(N)に示した層の下側表面、すなわち電子部品内蔵基板の下側表面の電極パターンを示している。   FIG. 6A to FIG. 10L are stacked diagrams of electronic component built-in substrates. That is, the electronic component built-in substrate is formed in a multilayer structure, and FIGS. 6A to 10L show the uppermost layer to the lowermost layer in order, and electrode patterns, vias, etc. appearing on the upper surface of each layer. Show. However, FIG. 10 (L) only shows an electrode pattern on the lower surface of the layer shown in FIG. 10 (N), that is, the lower surface of the electronic component built-in substrate.

図8(G)、(H)、(I)、図9(J)に、インダクター素子17を構成するインダクター電極18a、18b、18c、18dが形成されている。   8 (G), (H), (I), and FIG. 9 (J), inductor electrodes 18a, 18b, 18c, and 18d constituting the inductor element 17 are formed.

また、図10(M)に、ESD保護素子2を構成する混合部14、放電電極15a、15bが形成されている。なお、13は、この層の上に形成される空洞部である。   Further, in FIG. 10M, a mixing portion 14 and discharge electrodes 15a and 15b constituting the ESD protection element 2 are formed. Reference numeral 13 denotes a cavity formed on this layer.

また、図10(M)、(N)に、コンデンサ3を構成するコンデンサ電極16a、16bが形成されている。なお、図10(N)においては、大きな内部グランド電極6の一部分が、コンデンサ電極16bを構成している。   10 (M) and 10 (N), capacitor electrodes 16a and 16b constituting the capacitor 3 are formed. In FIG. 10N, a part of the large internal ground electrode 6 forms a capacitor electrode 16b.

1:電子部品内蔵基板
2: ESD保護素子
3:コンデンサ素子
4:内部配線
5:ビア
6: 内部グランド電極
9:外部グランド電極
10: 端子電極
11:IC素子
12:SAW素子(SAWデュプレクサ素子)
13:空洞部
14:混合部
14a:絶縁材料
14b:金属材料
15a、15b:放電電極
16a、16b:コンデンサ電極
17:インダクター素子
18a、18b、18c:インダクター電極
19:ビア(インダクター素子用)
1: Electronic component built-in substrate 2: ESD protection element 3: Capacitor element 4: Internal wiring 5: Via 6: Internal ground electrode 9: External ground electrode 10: Terminal electrode 11: IC element 12: SAW element (SAW duplexer element)
13: Cavity 14: Mixing part 14a: Insulating material 14b: Metal material 15a, 15b: Discharge electrode 16a, 16b: Capacitor electrode 17: Inductor elements 18a, 18b, 18c: Inductor electrode 19: Via (for inductor element)

Claims (7)

内部に少なくとも1つの電子部品素子を内蔵した電子部品内蔵基板において、
前記電子部品内蔵基板が、内部に更にESD保護素子を備え、
前記ESD保護素子が、少なくとも、前記電子部品内蔵基板の内部に形成された空洞部と、前記空洞部内において対向して形成された一対の放電電極とからなり、
前記ESD保護素子が、前記電子部品素子と一体的に形成されていることを特徴とする電子部品内蔵基板。
In an electronic component built-in board having at least one electronic component element built therein,
The electronic component built-in substrate further includes an ESD protection element inside,
The ESD protection element comprises at least a cavity formed inside the electronic component built-in substrate and a pair of discharge electrodes formed to face each other in the cavity,
The electronic component built-in substrate, wherein the ESD protection element is formed integrally with the electronic component element.
前記ESD保護素子の前記一対の放電電極の少なくとも一方と、前記電子部品素子の構成要素の一部とが、一体的に形成されていることを特徴とする請求項1に記載された電子部品内蔵基板。   2. The electronic component built-in according to claim 1, wherein at least one of the pair of discharge electrodes of the ESD protection element and a part of the components of the electronic component element are integrally formed. substrate. 前記ESD保護素子が、さらに、前記空洞部の底部に、金属材料と、前記電子部品内蔵基板を構成する絶縁材料とを含む混合材料からなる混合部を備え、前記一対の放電電極が、前記混合部の上に形成されていることを特徴とする、請求項1または2に記載された電子部品内蔵基板。   The ESD protection element further includes a mixing portion made of a mixed material including a metal material and an insulating material constituting the electronic component built-in substrate at the bottom of the cavity portion, and the pair of discharge electrodes includes the mixing electrode. The electronic component built-in substrate according to claim 1, wherein the electronic component-embedded substrate is formed on a portion. 前記電子部品内蔵基板の内部に、前記ESD保護素子が2つ以上形成されていることを特徴とする、請求項1ないし3のいずれか1項に記載された電子部品内蔵基板。   4. The electronic component built-in substrate according to claim 1, wherein two or more ESD protection elements are formed inside the electronic component built-in substrate. 5. 前記電子部品素子が、コンデンサ素子、インダクター素子、またはコンデンサ素子とインダクター素子の複合電子部品素子であることを特徴とする、請求項1ないし4のいずれか1項に記載された電子部品内蔵基板。   5. The electronic component built-in substrate according to claim 1, wherein the electronic component element is a capacitor element, an inductor element, or a composite electronic component element of a capacitor element and an inductor element. 請求項1ないし5のいずれか1項に記載された電子部品内蔵基板の表面に、更に電子部品素子を実装してなることを特徴とする電子モジュール。   6. An electronic module, further comprising an electronic component element mounted on the surface of the electronic component built-in substrate according to any one of claims 1 to 5. 前記電子部品内蔵基板の表面に実装された電子部品素子が、IC素子またはSAW素子であることを特徴とする、請求項6に記載された電子モジュール。   The electronic module according to claim 6, wherein the electronic component element mounted on the surface of the electronic component built-in substrate is an IC element or a SAW element.
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