JP2011059229A - Electro-optical device, method of manufacturing the same, and electric apparatus - Google Patents

Electro-optical device, method of manufacturing the same, and electric apparatus Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electro-optical device and a method of manufacturing the same, capable of improving contrast and brightness using a simple process, and to provide an electric apparatus. <P>SOLUTION: The method of manufacturing the electro-optical device includes: a step of forming patterning of a first conductive film 9b on a substrate; a step of forming an insulating film 8b on the substrate and the first conductive film 9b; a step of subjecting the insulating film 8b to flattening processing and exposing an top surface of the first conductive film 9b from the insulating film 8b; and a step of forming a second conductive film 9 that is provided on the insulating film 8b so that the second conductive film 9 is overlapped with the top surface of the first conductive film 9b and electrically connected with the first conductive film 9b in plan view. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気光学装置及び電気光学装置の製造方法並びに電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electro-optical device, a method for manufacturing the electro-optical device, and an electronic apparatus.

各種の電気光学装置のうち、液晶装置では、支持基板上に電界効果型トランジスター等の画素スイッチング素子及び島状の画素電極が形成された素子基板と、対向基板とが対向配置されているとともに、素子基板と対向基板との間に液晶層が保持されている。このような電気光学装置のうち、画素電極を光反射性導電膜により形成して反射モードで画像の表示を行う反射型電気光学装置では、コントラストと明るさを確保するために、反射画素電極を、極力平坦に形成する必要がある。そのうち、画素電極と下層の駆動素子を接続するためのコンタクトホールの凹凸による液晶配向の乱れ及び反射光の散乱により、コントラストと明るさが低下してしまう虞がある。これに対し、例えば、半導体プロセスで一般的に用いられているWプラグ等を埋め込むことで、平坦化を実現する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。   Among various electro-optical devices, in a liquid crystal device, an element substrate in which a pixel switching element such as a field effect transistor and an island-shaped pixel electrode are formed on a support substrate, and a counter substrate are disposed to face each other. A liquid crystal layer is held between the element substrate and the counter substrate. Among such electro-optical devices, in a reflection type electro-optical device in which a pixel electrode is formed of a light-reflective conductive film and an image is displayed in a reflection mode, the reflective pixel electrode is provided in order to ensure contrast and brightness. It is necessary to form as flat as possible. Among them, there is a risk that contrast and brightness may be reduced due to disorder of liquid crystal alignment and scattering of reflected light due to unevenness of a contact hole for connecting a pixel electrode and a lower drive element. On the other hand, for example, a method for realizing flattening by embedding a W plug or the like generally used in a semiconductor process has been proposed (see, for example, Patent Document 1).

特開平11−72799号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-72799

しかしながら、特許文献1に記載の方法では、プラグ埋め込みのための新規設備が必要になるほか、プロセスもやや複雑になる。   However, in the method described in Patent Document 1, a new facility for plug embedding is required and the process is somewhat complicated.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]基板上に第1導電膜をパターニング形成する工程と、前記基板及び前記第1導電膜上に絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜を平坦化処理して、前記絶縁膜から前記第1導電膜の上面を露出させる工程と、前記絶縁膜上であって、平面視で前記第1導電膜の上面と重なり、前記第1導電膜と電気的に接続するように第2導電膜を形成する工程と、を有することを特徴とする電気光学装置の製造方法。   Application Example 1 Patterning and Forming a First Conductive Film on a Substrate, Forming an Insulating Film on the Substrate and the First Conductive Film, and Planarizing the Insulating Film And exposing the upper surface of the first conductive film to a second surface so as to overlap the upper surface of the first conductive film and to be electrically connected to the first conductive film in plan view. And a step of forming a conductive film.

これによれば、絶縁膜と第1導電膜とを平坦化できるため、プラグ工程を実施せずとも、第2導電膜と下層の駆動素子とを接続するための第1導電膜との重なり部分の凹凸による液晶配向の乱れ及び反射光の散乱を抑えることができ、簡単なプロセスを以って、コントラストと明るさを向上させることができる電気光学装置の製造方法を提供する。   According to this, since the insulating film and the first conductive film can be flattened, an overlapping portion between the second conductive film and the first conductive film for connecting the underlying driving element without performing the plug process. Disclosed is a method for manufacturing an electro-optical device, which can suppress the disorder of liquid crystal alignment and the scattering of reflected light due to the unevenness, and can improve contrast and brightness through a simple process.

[適用例2]上記電気光学装置の製造方法であって、前記第1導電膜は、トランジスターのソース領域或いはドレイン領域のどちらか一方と電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置の製造方法。   Application Example 2 In the electro-optical device manufacturing method, the first conductive film is electrically connected to either a source region or a drain region of a transistor. Manufacturing method.

これによれば、トランジスターを流れる電流の方向が反転する場合、ソースとドレインとが入れ替わるが、容易に対応することができる。   According to this, when the direction of the current flowing through the transistor is reversed, the source and the drain are interchanged, but this can be easily handled.

[適用例3]上記電気光学装置の製造方法であって、前記第2導電膜は、画素電極であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。   Application Example 3 A method for manufacturing an electro-optical device according to the above-described method, wherein the second conductive film is a pixel electrode.

これによれば、画素電極とトランジスターとを接続するための第1導電膜との重なり部分の凹凸による液晶配向の乱れ及び反射光の散乱を抑えることができる。   According to this, it is possible to suppress the disorder of the liquid crystal alignment and the scattering of the reflected light due to the unevenness of the overlapping portion between the pixel electrode and the first conductive film for connecting the transistor.

[適用例4]上記電気光学装置の製造方法であって、前記平坦化処理は、CMP及びエッチバックであることを特徴とする電気光学装置の製造方法。   Application Example 4 A method for manufacturing an electro-optical device according to the above-described method, wherein the planarization process is CMP and etch back.

これによれば、高速で平滑な研磨面を得ることができる。   According to this, a high-speed and smooth polished surface can be obtained.

[適用例5]基板上に形成された複数の第1導電膜と、前記複数の第1導電膜間に配置された絶縁膜と、前記絶縁膜上に形成され、前記複数の第1導電膜のうち一つと電気的に接続された第2導電膜と、を有し、前記第1導電膜の上部表面の面積は、該第1導電膜の下部表面の面積より小さく、前記第1導電膜の上部表面と前記絶縁膜の上部表面とは面一であることを特徴とする電気光学装置。   Application Example 5 A plurality of first conductive films formed on a substrate, an insulating film disposed between the plurality of first conductive films, and the plurality of first conductive films formed on the insulating film And an area of the upper surface of the first conductive film is smaller than an area of the lower surface of the first conductive film, and the first conductive film is electrically connected to the first conductive film. An electro-optical device, wherein the upper surface of the insulating film and the upper surface of the insulating film are flush with each other.

これによれば、絶縁膜と第1導電膜とを平坦化できるため、プラグ工程を実施せずとも、第2導電膜と下層の駆動素子とを接続するための第1導電膜との重なり部分の凹凸による液晶配向の乱れ及び反射光の散乱を抑えることができ、簡単なプロセスを以って、コントラストと明るさを向上させることができる電気光学装置を提供する。   According to this, since the insulating film and the first conductive film can be flattened, an overlapping portion between the second conductive film and the first conductive film for connecting the underlying driving element without performing the plug process. Disclosed is an electro-optical device that can suppress the disorder of liquid crystal alignment and the scattering of reflected light due to the unevenness, and can improve contrast and brightness through a simple process.

[適用例6]上記電気光学装置であって、前記第1導電膜は、トランジスターのソース領域或いはドレイン領域のどちらか一方と電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置。   Application Example 6 In the electro-optical device, the first conductive film is electrically connected to either a source region or a drain region of a transistor.

これによれば、トランジスターを流れる電流の方向が反転する場合、ソースとドレインとが入れ替わるが、容易に対応することができる。   According to this, when the direction of the current flowing through the transistor is reversed, the source and the drain are interchanged, but this can be easily handled.

[適用例7]上記電気光学装置であって、前記第2導電膜は、画素電極であることを特徴とする電気光学装置。   Application Example 7 In the electro-optical device described above, the second conductive film is a pixel electrode.

これによれば、画素電極とトランジスターとを接続するための第1導電膜との重なり部分の凹凸による液晶配向の乱れ及び反射光の散乱を抑えることができる。   According to this, it is possible to suppress the disorder of the liquid crystal alignment and the scattering of the reflected light due to the unevenness of the overlapping portion between the pixel electrode and the first conductive film for connecting the transistor.

[適用例8]上記のいずれか一項に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。   Application Example 8 An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to any one of the above.

これによれば、コントラストと明るさを向上させることができる電子機器を提供する。   According to this, an electronic device that can improve contrast and brightness is provided.

本実施形態に係る反射型電気光学装置の電気的構成を示すブロック図。1 is a block diagram illustrating an electrical configuration of a reflective electro-optical device according to an embodiment. (A)及び(B)は各々、本実施形態に係る反射型電気光学装置の液晶パネルを各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、及びそのH−H’断面図。FIGS. 4A and 4B are a plan view of the liquid crystal panel of the reflection type electro-optical device according to the present embodiment as viewed from the side of the counter substrate together with each component, and a cross-sectional view taken along the line H-H ′. (A)及び(B)は各々、本実施形態に係る反射型電気光学装置に用いた素子基板において相隣接する画素の平面図、及びそのA−A’線に相当する位置で素子基板を切断したときの断面図。(A) and (B) are each a plan view of adjacent pixels in the element substrate used in the reflective electro-optical device according to the present embodiment, and the element substrate cut at a position corresponding to the line AA ′. FIG. 本実施形態に係る反射型電気光学装置の製造方法を示す工程断面図。FIG. 10 is a process cross-sectional view illustrating the manufacturing method of the reflective electro-optical device according to the embodiment. 本実施形態に係る反射型電気光学装置を用いた電子機器の説明図。Explanatory drawing of the electronic device using the reflection type electro-optical apparatus which concerns on this embodiment.

図面を参照して、本実施形態を説明する。なお、以下の説明で参照する図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材に縮尺を異ならしめてある。なお、電界効果型トランジスターを流れる電流の方向が反転する場合、ソースとドレインとが入れ替わるが、以下の説明では、便宜上、画素電極が接続されている側をドレインとし、データ線が接続されている側をソースとして説明する。   The present embodiment will be described with reference to the drawings. In the drawings to be referred to in the following description, the scales of the layers and members are made different from each other in order to make each layer and each member recognizable on the drawing. Note that when the direction of the current flowing through the field effect transistor is reversed, the source and the drain are interchanged. However, in the following description, for convenience, the side to which the pixel electrode is connected is used as the drain and the data line is connected. The side will be described as a source.

(全体構成)
図1は、本実施形態に係る反射型電気光学装置の電気的構成を示すブロック図である。図1に示すように、反射型電気光学装置100は、液晶パネル100pを有しており、液晶パネル100pは、その中央領域に複数の画素100aがマトリクス状に配列された画素領域10bを備えている。かかる液晶パネル100pにおいて、後述する基板としての素子基板10には、画素領域10bの内側で複数本のデータ線6a及び複数本の走査線3aが縦横に延びており、それらの交点に対応する位置に画素100aが構成されている。複数の画素100aの各々には、画素スイッチング素子としての電界効果型トランジスター30、及び後述する第2導電膜としての画素電極9が形成されている。電界効果型トランジスター30のソースにはデータ線6aが電気的に接続され、電界効果型トランジスター30のゲートには走査線3aが電気的に接続され、電界効果型トランジスター30のドレインには、画素電極9が電気的に接続されている。
(overall structure)
FIG. 1 is a block diagram showing an electrical configuration of the reflective electro-optical device according to this embodiment. As shown in FIG. 1, the reflective electro-optical device 100 includes a liquid crystal panel 100p, and the liquid crystal panel 100p includes a pixel region 10b in which a plurality of pixels 100a are arranged in a matrix in the central region. Yes. In the liquid crystal panel 100p, a plurality of data lines 6a and a plurality of scanning lines 3a extend vertically and horizontally inside the pixel region 10b on an element substrate 10 as a substrate described later, and positions corresponding to the intersections thereof. A pixel 100a is formed. In each of the plurality of pixels 100a, a field effect transistor 30 as a pixel switching element and a pixel electrode 9 as a second conductive film described later are formed. The data line 6 a is electrically connected to the source of the field effect transistor 30, the scanning line 3 a is electrically connected to the gate of the field effect transistor 30, and the pixel electrode is connected to the drain of the field effect transistor 30. 9 is electrically connected.

素子基板10において、画素領域10bの外側領域には走査線駆動回路104及びデータ線駆動回路101が構成されている。データ線駆動回路101は各データ線6aの一端に電気的に接続しており、画像処理回路から供給される画像信号を各データ線6aに順次供給する。走査線駆動回路104は、各走査線3aに電気的に接続しており、走査信号を各走査線3aに順次供給する。   In the element substrate 10, a scanning line driving circuit 104 and a data line driving circuit 101 are configured outside the pixel region 10 b. The data line driving circuit 101 is electrically connected to one end of each data line 6a, and sequentially supplies the image signal supplied from the image processing circuit to each data line 6a. The scanning line driving circuit 104 is electrically connected to each scanning line 3a, and sequentially supplies a scanning signal to each scanning line 3a.

各画素100aにおいて、画素電極9は、後述する対向基板に形成された共通電極と液晶を介して対向し、液晶容量50aを構成している。また、各画素100aには、液晶容量50aで保持される画像信号の変動を防ぐために、液晶容量50aと並列に保持容量60が付加されている。本実施形態では、保持容量60を構成するために、複数の画素100aに跨って走査線3aと並行して延びた容量線3bが形成されている。   In each pixel 100a, the pixel electrode 9 is opposed to a common electrode formed on a counter substrate, which will be described later, via a liquid crystal, and constitutes a liquid crystal capacitor 50a. In addition, a holding capacitor 60 is added to each pixel 100a in parallel with the liquid crystal capacitor 50a in order to prevent fluctuation of an image signal held in the liquid crystal capacitor 50a. In the present embodiment, in order to configure the storage capacitor 60, the capacitor line 3b extending in parallel with the scanning line 3a across the plurality of pixels 100a is formed.

(液晶パネル及び素子基板の構成)
図2(A)及び(B)は各々、本実施形態に係る反射型電気光学装置100の液晶パネル100pを各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、及びそのH−H’断面図である。図2(A)及び(B)に示すように、反射型電気光学装置100の液晶パネル100pでは、所定の隙間を介して素子基板10と対向基板20とが所定の隙間を介してシール材107によって貼り合わされており、シール材107は対向基板20の縁に沿うように配置されている。シール材107は、光硬化樹脂や熱硬化性樹脂等からなる接着剤であり、両基板間の距離を所定値とするためのグラスファイバー、あるいはガラスビーズ等のギャップ材が配合されている。本実施形態において、素子基板10の支持基板は透光性基板10dであり、対向基板20の支持基板も、同様な透光性基板20dである。
(Configuration of liquid crystal panel and element substrate)
2A and 2B are a plan view of the liquid crystal panel 100p of the reflection type electro-optical device 100 according to the present embodiment as viewed from the side of the counter substrate together with each component, and a cross-sectional view thereof taken along line HH ′. It is. As shown in FIGS. 2A and 2B, in the liquid crystal panel 100p of the reflective electro-optical device 100, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are connected to each other with a sealant 107 through a predetermined gap. The sealing material 107 is disposed along the edge of the counter substrate 20. The sealing material 107 is an adhesive made of a photo-curing resin, a thermosetting resin, or the like, and is mixed with a gap material such as glass fiber or glass beads for setting the distance between both substrates to a predetermined value. In the present embodiment, the support substrate of the element substrate 10 is a translucent substrate 10d, and the support substrate of the counter substrate 20 is a similar translucent substrate 20d.

素子基板10において、シール材107の外側領域では、素子基板10の一辺に沿ってデータ線駆動回路101及び複数の端子102が形成されており、この一辺に隣接する他の辺に沿って走査線駆動回路104が形成されている。また、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所においては、素子基板10と対向基板20との間で電気的導通をとるための上下導通材109が形成されている。   In the element substrate 10, the data line driving circuit 101 and the plurality of terminals 102 are formed along one side of the element substrate 10 in the outer region of the sealant 107, and the scanning line is formed along another side adjacent to the one side. A drive circuit 104 is formed. Further, at least one corner of the counter substrate 20 is formed with a vertical conductive material 109 for electrical conduction between the element substrate 10 and the counter substrate 20.

詳しくは後述するが、素子基板10には、光反射性の画素電極9(光反射層)がマトリクス状に形成されている。これに対して、対向基板20には、シール材107の内側領域に遮光性材料からなる額縁108が形成され、その内側が画像表示領域10aとされている。また、対向基板20には、ITO(Indium Tin Oxide)膜からなる共通電極21が形成されている。なお、対向基板20には画素電極9間と対向する位置にブラックマトリクスあるいはブラックストライプと称せられる遮光膜(図示せず)が形成されることがある。また、画素領域10bには、額縁108と重なる領域にダミーの画素が構成される場合があり、この場合、画素領域10bのうち、ダミー画素を除いた領域が画像表示領域10aとして利用されることになる。   As will be described in detail later, on the element substrate 10, light reflective pixel electrodes 9 (light reflective layers) are formed in a matrix. On the other hand, a frame 108 made of a light-shielding material is formed in the inner area of the sealing material 107 on the counter substrate 20, and the inner side is an image display area 10 a. A common electrode 21 made of an ITO (Indium Tin Oxide) film is formed on the counter substrate 20. Note that a light shielding film (not shown) called a black matrix or a black stripe may be formed on the counter substrate 20 at a position facing between the pixel electrodes 9. In addition, in the pixel area 10b, a dummy pixel may be configured in an area overlapping with the frame 108. In this case, an area excluding the dummy pixel in the pixel area 10b is used as the image display area 10a. become.

このように形成した反射型電気光学装置100では、対向基板20の側から入射した光が画素電極9で反射して再び、対向基板20の側から出射される間に液晶層50によって画素毎に光変調される結果、画像が表示される。ここで、反射型電気光学装置100は、モバイルコンピューター、携帯電話機等といった電子機器のカラー表示装置として用いることができ、この場合、対向基板20には、カラーフィルター(図示せず)や保護膜が形成される。また、対向基板20の光入射側の面には、使用する液晶層50の種類、すなわち、TN(ツイステッドネマティック)モード、STN(スーパーTN)モード等々の動作モードや、ノーマリーホワイトモード/ノーマリーブラックモードの別に応じて、偏光フィルム、位相差フィルム、偏光板等が所定の向きに配置される。さらに、反射型電気光学装置100は、後述する投射型表示装置(液晶プロジェクター)において、RGB用のライトバルブとして用いることができる。この場合、RGB用の各反射型電気光学装置100の各々には、RGB色分解用のダイクロイックミラーを介して分解された各色の光が投射光として各々入射されることになるので、カラーフィルターは形成されない。   In the reflection type electro-optical device 100 formed in this way, the light incident from the counter substrate 20 side is reflected by the pixel electrode 9 and again emitted from the counter substrate 20 side by the liquid crystal layer 50 for each pixel. As a result of the light modulation, an image is displayed. Here, the reflective electro-optical device 100 can be used as a color display device of an electronic device such as a mobile computer or a mobile phone. In this case, the counter substrate 20 is provided with a color filter (not shown) or a protective film. It is formed. Further, on the surface of the counter substrate 20 on the light incident side, the type of the liquid crystal layer 50 to be used, that is, an operation mode such as a TN (twisted nematic) mode, an STN (super TN) mode, or a normally white mode / normally. Depending on the black mode, a polarizing film, a retardation film, a polarizing plate and the like are arranged in a predetermined direction. Further, the reflective electro-optical device 100 can be used as a light valve for RGB in a projection display device (liquid crystal projector) described later. In this case, each of the RGB reflective electro-optical devices 100 receives light of each color separated through RGB color separation dichroic mirrors as projection light. Not formed.

(各画素の構成)
図3(A)及び(B)は各々、本実施形態に係る反射型電気光学装置100に用いた素子基板10において相隣接する画素の平面図、及びそのA−A’線に相当する位置で素子基板10を切断したときの断面図である。なお、図3(A)において、画素電極9については長い点線で示し、データ線6aについては一点鎖線で示し、走査線3a及び容量線3bは実線で示し、半導体層1aは短くて細い点線で示してある。また、隣接する画素電極9の間隙9sには、複数のドットを付してある。
(Configuration of each pixel)
3A and 3B are respectively a plan view of adjacent pixels in the element substrate 10 used in the reflective electro-optical device 100 according to the present embodiment, and a position corresponding to the line AA ′. It is sectional drawing when the element substrate 10 is cut | disconnected. 3A, the pixel electrode 9 is indicated by a long dotted line, the data line 6a is indicated by an alternate long and short dash line, the scanning line 3a and the capacitor line 3b are indicated by solid lines, and the semiconductor layer 1a is indicated by a short and thin dotted line. It is shown. A plurality of dots are attached to the gap 9s between adjacent pixel electrodes 9.

図3(A)及び(B)に示すように、素子基板10には、石英基板やガラス基板等からなる透光性基板10d(支持基板)の第1面10x及び第2面10yのうち、対向基板20側に位置する第1面10xにシリコン酸化膜等からなる透光性の下地絶縁層15が形成されているとともに、その上層側において、画素電極9と重なる位置にNチャネル型の電界効果型トランジスター30が形成されている。電界効果型トランジスター30は、島状のポリシリコン膜、あるいは島状の単結晶半導体層からなる半導体層1aに対して、チャネル領域1g、低濃度ソース領域1b、高濃度ソース領域1d、低濃度ドレイン領域1c、及び高濃度ドレイン領域1eが形成されたLDD構造を備えている。半導体層1aの表面側には、シリコン酸化膜からなる透光性のゲート絶縁層2が形成されており、ゲート絶縁層2の表面に、金属膜やドープトシリコン膜からなるゲート電極(走査線3a)が形成されている。また、半導体層1aにおける高濃度ドレイン領域1eからの延設部分には、ゲート絶縁層2を介して容量線3bが対向し、保持容量60が形成されている。なお、本実施形態において、電界効果型トランジスター30はLDD(Lightly Doped Drain)構造を備えているが、高濃度ソース領域及び高濃度ドレイン領域が走査線3aに自己整合的に形成されている構造を採用してもよい。また、本実施形態では、ゲート絶縁層2は、熱酸化により形成されたシリコン酸化膜からなるが、CVD法等により形成されたシリコン酸化膜やシリコン窒化膜を用いることもできる。   As shown in FIGS. 3A and 3B, the element substrate 10 includes a first surface 10x and a second surface 10y of a translucent substrate 10d (support substrate) made of a quartz substrate, a glass substrate, or the like. A transparent base insulating layer 15 made of a silicon oxide film or the like is formed on the first surface 10x located on the counter substrate 20 side, and an N-channel type electric field is formed on the upper layer side so as to overlap with the pixel electrode 9. An effect transistor 30 is formed. The field effect transistor 30 includes a channel region 1g, a low-concentration source region 1b, a high-concentration source region 1d, and a low-concentration drain with respect to an island-shaped polysilicon film or a semiconductor layer 1a made of an island-shaped single crystal semiconductor layer. It has an LDD structure in which a region 1c and a high concentration drain region 1e are formed. A translucent gate insulating layer 2 made of a silicon oxide film is formed on the surface side of the semiconductor layer 1a, and a gate electrode (scanning line) made of a metal film or a doped silicon film is formed on the surface of the gate insulating layer 2. 3a) is formed. In addition, the capacitor line 3b is opposed to the portion extending from the high concentration drain region 1e in the semiconductor layer 1a with the gate insulating layer 2 interposed therebetween, and a storage capacitor 60 is formed. In the present embodiment, the field effect transistor 30 has an LDD (Lightly Doped Drain) structure, but has a structure in which a high concentration source region and a high concentration drain region are formed in a self-aligned manner on the scanning line 3a. It may be adopted. In the present embodiment, the gate insulating layer 2 is made of a silicon oxide film formed by thermal oxidation, but a silicon oxide film or silicon nitride film formed by a CVD method or the like can also be used.

電界効果型トランジスター30の上層側には、シリコン酸化膜等といった透光性絶縁膜からなる層間絶縁膜7,8が形成されている。層間絶縁膜7の表面には金属膜やドープトシリコン膜からなるデータ線6aが形成され、データ線6aは、層間絶縁膜7に形成されたコンタクトホール7aを介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続している。また、層間絶縁膜7の表面には金属膜等からなる第1導電パターン9aが形成され、第1導電パターン9aは、層間絶縁膜7に形成されたコンタクトホール7bを介して高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続している。   On the upper layer side of the field effect transistor 30, interlayer insulating films 7 and 8 made of a translucent insulating film such as a silicon oxide film are formed. A data line 6 a made of a metal film or a doped silicon film is formed on the surface of the interlayer insulating film 7. The data line 6 a is electrically connected to the high concentration source region 1 d through a contact hole 7 a formed in the interlayer insulating film 7. Connected. A first conductive pattern 9 a made of a metal film or the like is formed on the surface of the interlayer insulating film 7, and the first conductive pattern 9 a is connected to the high concentration drain region 1 e through a contact hole 7 b formed in the interlayer insulating film 7. Is electrically connected.

第1導電パターン9aの表面には金属膜等からなる第1導電膜としての第2導電パターン9bが形成されている。第2導電パターン9bの上部表面の面積は、第2導電パターン9bの下部表面の面積より小さくなっている。   A second conductive pattern 9b as a first conductive film made of a metal film or the like is formed on the surface of the first conductive pattern 9a. The area of the upper surface of the second conductive pattern 9b is smaller than the area of the lower surface of the second conductive pattern 9b.

層間絶縁膜8の表面には、アルミニウム単体膜、アルミニウム合金膜、銀単体膜、銀合金膜、あるいはそれらの積層膜からなる光反射性の画素電極9(反射層)が形成され、画素電極9は、層間絶縁膜8に形成された第1及び第2導電パターン9a,9bを介して高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続している。第2導電パターン9bの上部表面と層間絶縁膜8の上部表面とは面一である。画素電極9の上層には配向膜16が形成されている。   On the surface of the interlayer insulating film 8, a light-reflective pixel electrode 9 (reflective layer) made of a single aluminum film, an aluminum alloy film, a single silver film, a silver alloy film, or a laminated film thereof is formed. Are electrically connected to the high-concentration drain region 1e through the first and second conductive patterns 9a and 9b formed in the interlayer insulating film 8. The upper surface of the second conductive pattern 9b and the upper surface of the interlayer insulating film 8 are flush with each other. An alignment film 16 is formed on the pixel electrode 9.

このように構成した素子基板10は、画素電極9と共通電極21とが対面するように対向基板20に対向配置され、かつ、これらの基板間には、シール材107により囲まれた空間内に電気光学物質としての液晶層50が封入されている。液晶層50は、画素電極9からの電界が印加されていない状態で、素子基板10及び対向基板20に形成された配向膜16,26により所定の配向状態をとる。液晶層50は、例えば一種又は数種のネマティック液晶を混合したもの等からなる。   The element substrate 10 configured as described above is disposed so as to face the counter substrate 20 so that the pixel electrode 9 and the common electrode 21 face each other, and between these substrates is in a space surrounded by the sealing material 107. A liquid crystal layer 50 as an electro-optical material is enclosed. The liquid crystal layer 50 takes a predetermined alignment state by the alignment films 16 and 26 formed on the element substrate 10 and the counter substrate 20 in a state where an electric field from the pixel electrode 9 is not applied. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, one or a mixture of several types of nematic liquid crystals.

(画素電極9の平坦化対策)
このように構成した反射型電気光学装置100において、素子基板10では、層間絶縁膜8の表面に島状の画素電極9が形成されている。但し、本実施形態では、電界効果型トランジスター30のドレインと接続される第2導電パターン9bの表面を、層間絶縁膜8の平坦化処理により露出させ、これをコンタクトとして、画素電極9を接続している。このため、第2導電パターン9bと層間絶縁膜8とは、面一になるように研磨されており、その上層部に設けられる画素電極9の表面は平坦である。
(Measures for flattening the pixel electrode 9)
In the reflective electro-optical device 100 configured as described above, in the element substrate 10, island-shaped pixel electrodes 9 are formed on the surface of the interlayer insulating film 8. However, in the present embodiment, the surface of the second conductive pattern 9b connected to the drain of the field effect transistor 30 is exposed by the planarization process of the interlayer insulating film 8, and this is used as a contact to connect the pixel electrode 9. ing. Therefore, the second conductive pattern 9b and the interlayer insulating film 8 are polished so as to be flush with each other, and the surface of the pixel electrode 9 provided in the upper layer portion thereof is flat.

(反射型電気光学装置100の製造方法)
以下、図4を参照して、反射型電気光学装置100の製造工程のうち、層間絶縁膜7を形成した以降の工程を説明する。図4は、本実施形態に係る反射型電気光学装置100の製造方法を示す工程断面図である。
(Manufacturing method of the reflective electro-optical device 100)
Hereinafter, of the manufacturing process of the reflective electro-optical device 100, processes after the formation of the interlayer insulating film 7 will be described. FIG. 4 is a process cross-sectional view illustrating the manufacturing method of the reflective electro-optical device 100 according to the present embodiment.

まず、図4(A)に示すように、素子基板10の表面側(透光性基板10d(支持基板)の第1面10x)に、電界効果型トランジスター30等を覆うように、シリコン酸化物等によって層間絶縁膜7を形成した後、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術を用いて、層間絶縁膜7にコンタクトホール7a,7bを形成し、層間絶縁膜7の上層側にデータ線6a及び第1導電パターン9aを形成する。   First, as shown in FIG. 4A, the silicon oxide is formed so as to cover the field effect transistor 30 and the like on the surface side of the element substrate 10 (the first surface 10x of the translucent substrate 10d (support substrate)). After the interlayer insulating film 7 is formed by, for example, contact holes 7a and 7b are formed in the interlayer insulating film 7 by using a photolithography technique and an etching technique, and the data line 6a and the first conductive layer are formed on the upper side of the interlayer insulating film 7. A pattern 9a is formed.

次に、図4(B)に示すように、第1導電パターン9aの上層側に第2導電パターン9bを形成する。   Next, as shown in FIG. 4B, a second conductive pattern 9b is formed on the upper layer side of the first conductive pattern 9a.

次に、図4(C)に示すように、層間絶縁膜7の表面に、データ線6a、第1導電パターン9a、及び第2導電パターン9bを覆うように、シリコン酸化物等によって絶縁膜8bを形成する。その際、絶縁膜8bの膜厚については、第2導電パターン9bの高さ寸法よりも厚くする。   Next, as shown in FIG. 4C, the insulating film 8b is covered with silicon oxide or the like so as to cover the data line 6a, the first conductive pattern 9a, and the second conductive pattern 9b on the surface of the interlayer insulating film 7. Form. At this time, the insulating film 8b is made thicker than the height of the second conductive pattern 9b.

次に、図4(D)に示すように、絶縁膜8bを表面から研磨する。かかる研磨は、第2導電パターン9bが露出するまで行う。本実施形態では、第2導電パターン9bが露出した時点を研磨の終点とする。かかる研磨工程としては化学機械研磨(CMP)を利用でき、かかる化学機械研磨では、研磨液に含まれる化学成分の作用と、研磨剤と透光性基板10dとの相対移動によって、高速で平滑な研磨面を得ることができる。より具体的には、研磨装置において、不織布、発泡ポリウレタン、多孔質フッ素樹脂等からなる研磨布(パッド)を貼り付けた定盤と、透光性基板10dを保持するホルダーとを相対回転させながら、研磨を行う。その際、例えば、平均粒径が0.01〜20μmの酸化セリウム粒子、分散剤としてのアクリル酸エステル誘導体、及び水を含む研磨剤を研磨布と透光性基板10dとの間に供給する。また、絶縁膜8bは、化学機械研磨を行った後に、エッチバックを行って除去されることもできる。かかる絶縁膜8bによって、層間絶縁膜8が形成される。   Next, as shown in FIG. 4D, the insulating film 8b is polished from the surface. Such polishing is performed until the second conductive pattern 9b is exposed. In the present embodiment, the time when the second conductive pattern 9b is exposed is defined as the polishing end point. As such a polishing process, chemical mechanical polishing (CMP) can be used. In such chemical mechanical polishing, the action of chemical components contained in the polishing liquid and the relative movement between the polishing agent and the translucent substrate 10d are smooth at high speed. A polished surface can be obtained. More specifically, in a polishing apparatus, while relatively rotating a surface plate on which a polishing cloth (pad) made of nonwoven fabric, foamed polyurethane, porous fluororesin, or the like is attached, and a holder that holds the translucent substrate 10d. Polish. At that time, for example, an abrasive containing cerium oxide particles having an average particle diameter of 0.01 to 20 μm, an acrylate derivative as a dispersant, and water is supplied between the polishing cloth and the translucent substrate 10d. The insulating film 8b can also be removed by performing etch back after performing chemical mechanical polishing. The interlayer insulating film 8 is formed by the insulating film 8b.

次に、図4(E)に示すように、各第2導電パターン9bを含む層間絶縁膜8の上層側にアルミニウム単体膜、アルミニウム合金膜、銀単体膜、銀合金膜、あるいはそれらの積層膜からなる画素電極9を島状に形成する。   Next, as shown in FIG. 4E, a single aluminum film, an aluminum alloy film, a single silver film, a silver alloy film, or a laminated film thereof is formed on the upper side of the interlayer insulating film 8 including the second conductive patterns 9b. The pixel electrode 9 made of is formed in an island shape.

しかる後に、配向膜16を形成し、素子基板10を得る。かかる素子基板10では、プラグ工程を実施せずとも、画素電極9の第2導電パターン9bと重なる部分を平坦化できるため、簡単なプロセスを以って、コントラストと明るさを向上させることが可能になる。   Thereafter, the alignment film 16 is formed to obtain the element substrate 10. In such an element substrate 10, the portion overlapping the second conductive pattern 9 b of the pixel electrode 9 can be flattened without performing a plug process, so that contrast and brightness can be improved with a simple process. become.

[他の実施形態]
上記実施形態では、絶縁膜8bの膜厚を第2導電パターン9bの高さ寸法よりも厚くしたが、絶縁膜8bの膜厚が第2導電パターン9bの高さ寸法よりも薄くしてもよい。この場合、研磨工程では、第2導電パターン9bが露出した以降も所定時間、研磨を行い、絶縁膜8bの表面を研磨すればよい。
[Other Embodiments]
In the above embodiment, the film thickness of the insulating film 8b is thicker than the height dimension of the second conductive pattern 9b. However, the film thickness of the insulating film 8b may be thinner than the height dimension of the second conductive pattern 9b. . In this case, in the polishing step, the surface of the insulating film 8b may be polished by polishing for a predetermined time after the second conductive pattern 9b is exposed.

上記実施形態では、反射型電気光学装置の製造に本実施形態を適用したが、透過型の電気光学装置の製造に本実施形態を適用してもよく、この場合、ITO膜等の透光性導電膜によって、画素電極を形成することになる。かかる透過型の電気光学装置でも、本実施形態を適用すれば、プラグ工程を実施せずとも、画素電極9の第2導電パターン9bと重なる部分を平坦化できるため、簡単なプロセスを以って、コントラストと明るさを向上させることが可能になる。   In the above-described embodiment, the present embodiment is applied to the production of the reflection type electro-optical device. However, the present embodiment may be applied to the production of the transmission type electro-optical device. A pixel electrode is formed by the conductive film. Even in such a transmission type electro-optical device, if this embodiment is applied, the portion overlapping the second conductive pattern 9b of the pixel electrode 9 can be flattened without performing the plug process, and therefore, with a simple process. It will be possible to improve the contrast and brightness.

[電子機器への搭載例]
本実施形態に係る反射型電気光学装置100は、図5(A)に示す投射型表示装置(液晶プロジェクター/電子機器)や、図5(B)及び(C)に示す携帯用電子機器に用いることができる。
[Example of mounting on electronic devices]
The reflective electro-optical device 100 according to this embodiment is used in a projection display device (liquid crystal projector / electronic device) shown in FIG. 5A and a portable electronic device shown in FIGS. 5B and 5C. be able to.

図5(A)に示す投射型表示装置1000は、システム光軸Lに沿って配置した光源部810、インテグレーターレンズ820、及び偏光変換素子830を備えた偏光照明装置800と、この偏光照明装置800から出射されたS偏光光束をS偏光光束反射面841により反射させる偏光ビームスプリッター840と、偏光ビームスプリッター840のS偏光光束反射面841から反射された光のうち、青色光(B)の成分を分離するダイクロイックミラー842と、青色光が分離された後の光束のうち、赤色光(R)の成分を反射させて分離するダイクロイックミラー843とを有している。また、投射型表示装置1000は、各色光が入射する3枚の反射型電気光学装置100(反射型電気光学装置100R,100G,100B)を備えている。さらに、投射型表示装置1000は、3つの反射型電気光学装置100R,100G,100Bにて変調された光をダイクロイックミラー842,843及び偏光ビームスプリッター840にて合成した後、この合成光を投射レンズ850を介してスクリーン860に投写する。   A projection display apparatus 1000 shown in FIG. 5A includes a polarization illumination apparatus 800 including a light source unit 810, an integrator lens 820, and a polarization conversion element 830 arranged along the system optical axis L, and the polarization illumination apparatus 800. The polarization beam splitter 840 that reflects the S-polarized light beam emitted from the S-polarized light beam reflection surface 841 and the blue light (B) component of the light reflected from the S-polarized light beam reflection surface 841 of the polarization beam splitter 840. It has a dichroic mirror 842 that separates, and a dichroic mirror 843 that reflects and separates the red light (R) component of the luminous flux after the blue light is separated. The projection display apparatus 1000 includes three reflective electro-optical devices 100 (reflective electro-optical devices 100R, 100G, and 100B) on which each color light is incident. Further, the projection display apparatus 1000 combines the light modulated by the three reflective electro-optical devices 100R, 100G, and 100B by the dichroic mirrors 842 and 843 and the polarization beam splitter 840, and then combines the combined light with the projection lens. The image is projected onto the screen 860 via 850.

また、図5(B)に示す携帯電話機3000は、複数の操作ボタン3001、スクロールボタン3002、並びに表示ユニットとしての反射型電気光学装置100を備える。スクロールボタン3002を操作することによって、反射型電気光学装置100に表示される画面がスクロールされる。図5(C)に示す情報携帯端末(PDA:Personal Digital Assistants)4000は、複数の操作ボタン4001、電源スイッチ4002、並びに表示ユニットとしての反射型電気光学装置100を備えており、電源スイッチ4002を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が反射型電気光学装置100に表示される。   A cellular phone 3000 illustrated in FIG. 5B includes a plurality of operation buttons 3001, scroll buttons 3002, and the reflective electro-optical device 100 as a display unit. By operating the scroll button 3002, the screen displayed on the reflective electro-optical device 100 is scrolled. A personal digital assistant (PDA) 4000 shown in FIG. 5C includes a plurality of operation buttons 4001, a power switch 4002, and the reflective electro-optical device 100 as a display unit. When operated, various types of information such as an address book and a schedule book are displayed on the reflective electro-optical device 100.

さらに、対向基板20等にカラーフィルターを形成すれば、カラー表示可能な反射型電気光学装置100を形成することができる。また、カラーフィルターを形成した反射型電気光学装置100を用いれば、単板式の投射型表示装置を構成することもできる。   Furthermore, if a color filter is formed on the counter substrate 20 or the like, the reflective electro-optical device 100 capable of color display can be formed. In addition, if the reflective electro-optical device 100 in which a color filter is formed is used, a single-plate projection display device can be configured.

1a…半導体層 1b…低濃度ソース領域 1c…低濃度ドレイン領域 1d…高濃度ソース領域 1e…高濃度ドレイン領域 1g…チャネル領域 2…ゲート絶縁層 3a…走査線 3b…容量線 6a…データ線 7,8…層間絶縁膜 7a,7b…コンタクトホール 8b…絶縁膜 9…画素電極(反射層)(第2導電膜) 9a…第1導電パターン 9b…第2導電パターン(第1導電膜) 9s…間隙 10…素子基板(基板) 10a…画像表示領域 10b…画素領域 10d…透光性基板(支持基板) 10x…第1面 10y…第2面 15…下地絶縁層 16,26…配向膜 20…対向基板 20d…透光性基板 21…共通電極 30…電界効果型トランジスター 50…液晶層(電気光学物質) 50a…液晶容量 60…保持容量 100,100R,100G,100B…反射型電気光学装置 100a…画素 100p…液晶パネル 101…データ線駆動回路 102…端子 104…走査線駆動回路 107…シール材 108…額縁 109…上下導通材 800…偏光照明装置 810…光源部 820…インテグレーターレンズ 830…偏光変換素子 840…偏光ビームスプリッター 841…S偏光光束反射面 842,843…ダイクロイックミラー 850…投射レンズ 860…スクリーン 1000…投射型表示装置 3000…携帯電話機 3001,4001…操作ボタン 3002…スクロールボタン 4002…電源スイッチ。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1a ... Semiconductor layer 1b ... Low concentration source region 1c ... Low concentration drain region 1d ... High concentration source region 1e ... High concentration drain region 1g ... Channel region 2 ... Gate insulating layer 3a ... Scan line 3b ... Capacitance line 6a ... Data line 7 , 8 ... Interlayer insulating film 7a, 7b ... Contact hole 8b ... Insulating film 9 ... Pixel electrode (reflection layer) (second conductive film) 9a ... First conductive pattern 9b ... Second conductive pattern (first conductive film) 9s ... Gap 10 ... Element substrate (substrate) 10a ... Image display region 10b ... Pixel region 10d ... Translucent substrate (support substrate) 10x ... First surface 10y ... Second surface 15 ... Underlying insulating layers 16, 26 ... Alignment film 20 ... Counter substrate 20d ... Translucent substrate 21 ... Common electrode 30 ... Field-effect transistor 50 ... Liquid crystal layer (electro-optic material) 50a ... Liquid crystal capacitance 60 ... Retention capacitance DESCRIPTION OF SYMBOLS 100,100R, 100G, 100B ... Reflective electro-optical device 100a ... Pixel 100p ... Liquid crystal panel 101 ... Data line drive circuit 102 ... Terminal 104 ... Scanning line drive circuit 107 ... Sealing material 108 ... Frame 109 ... Vertical conduction material 800 ... Polarization Illuminating device 810: Light source unit 820 ... Integrator lens 830 ... Polarization conversion element 840 ... Polarizing beam splitter 841 ... S-polarized light beam reflecting surface 842, 843 ... Dichroic mirror 850 ... Projection lens 860 ... Screen 1000 ... Projection type display device 3000 ... Mobile phone 3001, 4001 ... Operation buttons 3002 ... Scroll buttons 4002 ... Power switch.

Claims (8)

基板上に第1導電膜をパターニング形成する工程と、
前記基板及び前記第1導電膜上に絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜を平坦化処理して、前記絶縁膜から前記第1導電膜の上面を露出させる工程と、
前記絶縁膜上であって、平面視で前記第1導電膜の上面と重なり、前記第1導電膜と電気的に接続するように第2導電膜を形成する工程と、
を有することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
Patterning and forming a first conductive film on a substrate;
Forming an insulating film on the substrate and the first conductive film;
Planarizing the insulating film to expose an upper surface of the first conductive film from the insulating film;
Forming a second conductive film on the insulating film so as to overlap the upper surface of the first conductive film in plan view and to be electrically connected to the first conductive film;
A method for manufacturing an electro-optical device.
請求項1に記載の電気光学装置の製造方法において、
前記第1導電膜は、トランジスターのソース領域或いはドレイン領域のどちらか一方と電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
The method of manufacturing the electro-optical device according to claim 1,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the first conductive film is electrically connected to either a source region or a drain region of a transistor.
請求項1又は2に記載の電気光学装置の製造方法において、
前記第2導電膜は、画素電極であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 1 or 2,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the second conductive film is a pixel electrode.
請求項1〜3のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法において、
前記平坦化処理は、CMP及びエッチバックであることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
In the manufacturing method of the electro-optical device according to any one of claims 1 to 3,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the planarization treatment is CMP and etch back.
基板上に形成された複数の第1導電膜と、
前記複数の第1導電膜間に配置された絶縁膜と、
前記絶縁膜上に形成され、前記複数の第1導電膜のうち一つと電気的に接続された第2導電膜と、
を有し、
前記第1導電膜の上部表面の面積は、該第1導電膜の下部表面の面積より小さく、
前記第1導電膜の上部表面と前記絶縁膜の上部表面とは面一であることを特徴とする電気光学装置。
A plurality of first conductive films formed on the substrate;
An insulating film disposed between the plurality of first conductive films;
A second conductive film formed on the insulating film and electrically connected to one of the plurality of first conductive films;
Have
The area of the upper surface of the first conductive film is smaller than the area of the lower surface of the first conductive film,
An electro-optical device, wherein an upper surface of the first conductive film and an upper surface of the insulating film are flush with each other.
請求項5に記載の電気光学装置において、
前記第1導電膜は、トランジスターのソース領域或いはドレイン領域のどちらか一方と電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 5.
The electro-optical device, wherein the first conductive film is electrically connected to either a source region or a drain region of a transistor.
請求項5又は6に記載の電気光学装置において、
前記第2導電膜は、画素電極であることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 5 or 6,
The electro-optical device, wherein the second conductive film is a pixel electrode.
請求項5〜7のいずれか一項に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 5.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012208294A (en) * 2011-03-29 2012-10-25 Seiko Epson Corp Method for manufacturing electro-optic device, electro-optic device, projection-type display device, and electronic equipment

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