JP2011057565A - Compound and curable composition comprising the same - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a compound that achieves both low viscosity and low volatility. <P>SOLUTION: The compound is represented by general formula (1), (2), (3), (4) or (5) and has a molecular weight of at least 310. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、新規化合物およびこれを用いた硬化性組成物に関する。特に、インプリント用に適した硬化性組成物に関する。さらに、これらの硬化性組成物を用いた硬化物および該硬化物の製造方法に関する。   The present invention relates to a novel compound and a curable composition using the same. In particular, it relates to a curable composition suitable for imprinting. Furthermore, the present invention relates to a cured product using these curable compositions and a method for producing the cured product.

ナノインプリント法には、被加工材料として熱可塑性樹脂を用いる場合(非特許文献1)と、光ナノインプリントリソグラフィ用硬化性組成物を用いる場合(非特許文献2)の2通りが提案されている。熱可塑性樹脂を用いる熱式ナノインプリントの場合、ガラス転移温度以上に加熱した高分子樹脂にモールドをプレスし、冷却後にモールドを離型することで微細構造を基板上の樹脂に転写するものである。多様な樹脂材料やガラス材料にも応用可能であるため、様々な方面への応用が期待されている。例えば、特許文献1、特許文献2には、熱可塑性樹脂を用いて、ナノパターンを安価に形成するナノインプリントの方法が開示されている。   Two types of nanoimprint methods have been proposed: a case where a thermoplastic resin is used as a material to be processed (Non-Patent Document 1) and a case where a curable composition for optical nanoimprint lithography is used (Non-Patent Document 2). In the case of thermal nanoimprinting using a thermoplastic resin, the mold is pressed onto a polymer resin heated to a glass transition temperature or higher, and the mold is released after cooling to transfer the microstructure to the resin on the substrate. Since it can be applied to various resin materials and glass materials, it is expected to be applied in various fields. For example, Patent Document 1 and Patent Document 2 disclose a nanoimprint method for forming a nanopattern at low cost using a thermoplastic resin.

一方、透明モールドを通して光を照射し、ナノインプリント用硬化性組成物を光硬化させる光ナノインプリント方式では、室温でのインプリントが可能になる。最近では、この両者の長所を組み合わせたナノキャスティング法や3次元積層構造を作製するリバーサルインプリント方法などの新しい展開も報告されている。   On the other hand, in the optical nanoimprint method in which light is irradiated through a transparent mold and the curable composition for nanoimprint is photocured, imprinting at room temperature becomes possible. Recently, new developments such as a nanocasting method combining the advantages of both and a reversal imprint method for producing a three-dimensional laminated structure have been reported.

このようなナノインプリント法においては、以下のような応用技術が提案されている。第一の技術としては、高精度な位置合わせと高集積化とにより、従来のリソグラフィに代わって高密度半導体集積回路の作製や、液晶ディスプレイのトランジスタへの作製等に適用しようとするものである。第二の技術としては、成型した形状(パターン)そのものが機能を持ち、様々なナノテクノロジーの要素部品、あるいは構造部材として応用できる場合であり、その例としては、各種のマイクロ・ナノ光学要素や高密度の記録媒体、光学フィルム、フラットパネルディスプレイにおける構造部材などが挙げられる。なお、さらにその他の技術としては、マイクロ構造とナノ構造の同時一体成型や、簡単な層間位置合わせにより積層構造を構築し、μ−TASやバイオチップの作製に応用しようとするものもある。前述の技術を含め、これらの応用に関するナノインプリント法の実用化への取り組みが近年活発化している。   In such a nanoimprint method, the following applied technologies have been proposed. The first technique is to apply high-precision alignment and high integration to the fabrication of high-density semiconductor integrated circuits and fabrication of liquid crystal display transistors in place of conventional lithography. . The second technique is the case where the molded shape (pattern) itself has a function and can be applied as various nanotechnology element parts or structural members. Examples include various micro / nano optical elements, Examples include high-density recording media, optical films, and structural members in flat panel displays. In addition, as another technique, there is a technique in which a laminated structure is constructed by simultaneous integral molding of a micro structure and a nano structure, or simple interlayer alignment, and is applied to manufacture of μ-TAS and a biochip. In recent years, efforts to put nanoimprinting methods into practical use for these applications, including the aforementioned technologies, have become active.

まず、前記第一の技術における高密度半導体集積回路作成への応用例を説明する。近年、半導体集積回路は微細化、集積化が進んでおり、その微細加工を実現するためのパターン転写技術としてフォトリソグラフィ装置の高精度化が進められてきた。これに対し、微細なパターン形成を低コストで行うための技術として提案されたナノインプリントリソグラフィ技術(光ナノインプリント法)を用いることが検討された。例えば、シリコンウエハをスタンパとして用い、25nm以下の微細構造を転写により形成するナノインプリント技術が知られている。   First, an application example of the first technique for creating a high-density semiconductor integrated circuit will be described. 2. Description of the Related Art In recent years, semiconductor integrated circuits have been miniaturized and integrated, and photolithography apparatuses have been improved in accuracy as a pattern transfer technique for realizing the fine processing. On the other hand, the use of a nanoimprint lithography technique (optical nanoimprint method) proposed as a technique for performing fine pattern formation at low cost has been studied. For example, a nanoimprint technique is known in which a silicon wafer is used as a stamper and a fine structure of 25 nm or less is formed by transfer.

一方、前記第二の技術における液晶ディスプレイ(LCD)やプラズマディスプレイ(PDP)などのフラットデイスプレイへのナノインプリントリソグラフィの応用例について説明する。LCD基板やPDP基板大型化や高精細化の動向に伴い、薄膜トランジスタ(TFT)や電極板の製造時に使用する従来のフォトリソグラフィ法に代わる安価なリソグラフィとして光ナノインプリントリソグラフィが、近年注目されている。そのため、従来のフォトリソグラフィ法で用いられるエッチングフォトレジストに代わる光硬化性レジストの開発が必要になってきている。また、LCDなどの構造部材として用いられる透明保護膜材料や液晶ディスプレイにおけるセルギャップを規定するスペーサーなどに対しても、光ナノインプリントリソグラフィの応用も検討され始めている。このような構造部材用のレジストは、前記エッチングレジストとは異なり、最終的にディスプレイ内に残るため、“永久レジスト”、あるいは“永久膜”と称されることがある。   On the other hand, an application example of nanoimprint lithography to a flat display such as a liquid crystal display (LCD) or a plasma display (PDP) in the second technique will be described. With the trend toward larger and higher definition LCD substrates and PDP substrates, optical nanoimprint lithography has attracted attention in recent years as an inexpensive lithography that can replace conventional photolithography methods used in the manufacture of thin film transistors (TFTs) and electrode plates. Therefore, it has become necessary to develop a photo-curable resist that replaces the etching photoresist used in the conventional photolithography method. In addition, application of optical nanoimprint lithography is also being studied for transparent protective film materials used as structural members for LCDs, spacers for defining cell gaps in liquid crystal displays, and the like. Unlike the etching resist, such a resist for a structural member is finally left in the display, and is sometimes referred to as “permanent resist” or “permanent film”.

従来のフォトリソグラフィ技術を適用した永久膜としては、例えば、液晶パネルのTFT基板上に設けられる保護膜や、レッド(R)、グリーン(G)、ブルー(B)層間の段差を低減しITO膜のスパッタ製膜時の高温処理に対する耐性を付与するためにカラーフィルタ上に設けられる保護膜等が挙げられる。
また、液晶ディスプレイに用いられるスペーサーの分野では、従来のフォトリソグラフィ法においては、樹脂、光重合性モノマーおよび光重合開始剤からなる光硬化性組成物が一般的に広く用いられてきている。前記スペーサーは、一般には、カラーフィルタ形成後または前記カラーフィルタ用保護膜形成後に、カラーフィルタ基板上に光硬化性組成物を用いてフォオトリソグラフィによって10μm〜20μm程度の大きさのパターンを形成し、さらにポストベイクにより加熱硬化して形成される。
As a permanent film to which a conventional photolithography technique is applied, for example, a protective film provided on a TFT substrate of a liquid crystal panel, or an ITO film that reduces a step between red (R), green (G), and blue (B) layers. For example, a protective film provided on the color filter for imparting resistance to high-temperature treatment during sputtering film formation.
In the field of spacers used in liquid crystal displays, photocurable compositions comprising a resin, a photopolymerizable monomer, and a photopolymerization initiator have generally been widely used in conventional photolithography methods. The spacer generally forms a pattern having a size of about 10 μm to 20 μm by photolithography using a photocurable composition on the color filter substrate after forming the color filter or after forming the color filter protective film. Further, it is formed by heat curing by post-baking.

ここで、インプリント用硬化性組成物に用いられる化合物には、低粘度と低揮発性が求められる。これは、組成物粘度が低いとパターン精度に優れる一方、揮発性が低いとインプリント用装置の汚染を低減できるからである。   Here, the low viscosity and low volatility are calculated | required by the compound used for the curable composition for imprints. This is because if the composition viscosity is low, the pattern accuracy is excellent, while if the volatility is low, contamination of the imprint apparatus can be reduced.

米国特許第5,772,905号公報US Pat. No. 5,772,905 米国特許第5,956,216号公報US Pat. No. 5,956,216 S.Chou et al.:Appl.Phys.Lett.Vol.67,3114(1995)S.Chou et al.:Appl.Phys.Lett.Vol.67,3114 (1995) M.Colbun et al,:Proc.SPIE,Vol. 3676,379 (1999)M.Colbun et al,: Proc.SPIE, Vol. 3676,379 (1999)

上述のとおり、インプリント用硬化性組成物に用いられる化合物には、低粘度と低揮発性の両立が求められるが、一般的に、低粘度の化合物は揮発し易く、揮発しにくい化合物は粘度が高い傾向にある。すなわち、低粘度と低揮発性は相反する特性とも言える。本願発明はかかる問題点を解決することを目的としたものであって、低粘度と低揮発性を両立可能な化合物を提供することを目的とする。さらに、かかる化合物を用いたインプリント用硬化性組成物を提供することを目的とする。   As described above, the compounds used in the curable composition for imprints are required to have both low viscosity and low volatility. In general, low viscosity compounds are easily volatile and less volatile compounds are viscous. Tend to be high. That is, it can be said that low viscosity and low volatility are contradictory properties. The object of the present invention is to solve such problems and to provide a compound capable of achieving both low viscosity and low volatility. Furthermore, it aims at providing the curable composition for imprints which uses this compound.

かかる状況のもと、本願発明者は鋭意検討を行い、低粘度で、かつ、低揮発性の化合物を検討し、本発明を完成するに至った。具体的には、以下の手段により、本願発明の課題は達成された。
(1)下記一般式(1)、下記一般式(2)、下記一般式(3)、下記一般式(4)または下記一般式(5)で表される、分子量310以上の化合物。

Figure 2011057565
(一般式(1)、(2)、(3)、(4)および(5)中、R1およびR2は、それぞれ、水素原子またはメチル基を表す。一般式(1)中、R3は炭素数4〜10の炭化水素基を表す。一般式(2)中、R4は炭素数8〜14のアルキル基を表す。一般式(3)中、R5は炭素数4〜15の、アルキル基または不飽和炭化水素基を表す。一般式(4)中、R6は炭素数2〜10の直鎖状アルキル基を表し、R7は炭素数2〜12の不飽和炭化水素基、あるいは(メタ)アクリロイルオキシエチル基を表す。一般式(5)中、R8は炭素数6〜15の炭化水素基を表す。)
(2)(1)において、一般式(1)で表される化合物であって、R3が炭素数4〜10の脂肪族炭化水素基である化合物、一般式(2)で表される化合物であって、R4が炭素数8〜14のアルキル基である化合物、一般式(3−1)で表される化合物、一般式(3−2)で表される化合物、一般式(4−1)で表される化合物、一般式(4−2)で表される化合物、一般式(5)で表される化合物であって、R8が炭素数6〜15の脂肪族炭化水素基である化合物、または下記の化合物。
一般式(3−1)
Figure 2011057565
(一般式(3−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R51は、炭素数4〜8のアルキル基を表す。)
一般式(3−2)
Figure 2011057565
(一般式(3−2)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R52は、炭素数5〜9のアルキル基を表す。)
一般式(3−3)
Figure 2011057565
(一般式(3−3)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R53は、総炭素数5〜12の炭化水素基であって、−CH=CH−、−CH=C(CH3)−、−C(CH3)=C(CH3)−、−CH=CH2、−CH=CH(CH3)、−C(CH3)=CH2および−C(CH3)=CH(CH3)から選択される基の少なくとも1つと、アルキル基およびアルキレン基の少なくとも1つとの組み合わせからなる基である。)
一般式(4−1)
Figure 2011057565
(一般式(4−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R61は、炭素数2〜8の直鎖のアルキル基を表す。)
一般式(4−2)
Figure 2011057565
(一般式(4−2)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R71は、炭素数2〜12の不飽和炭化水素基または(メタ)アクリロイルオキシエチル基を表し、R72はメチル基またはエチル基を表す。)
Figure 2011057565
(3)(1)において、一般式(1)で表される化合物であって、R3が炭素数4〜8の直鎖のアルキル基である化合物、一般式(2)で表される化合物であって、R4が炭素数10〜12のアルキル基である化合物、一般式(3−1)で表される化合物、一般式(3−2)で表される化合物、一般式(3−3)で表される化合物、一般式(4−1)で表される化合物、一般式(5)で表される化合物であって、R8は炭素数6〜13の直鎖アルキル基である化合物、または下記のいずれかの化合物。
一般式(3−1)
Figure 2011057565
(一般式(3−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R51は、炭素数4〜8のアルキル基を表す。)
一般式(3−2)
Figure 2011057565
(一般式(3−2)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R52は、炭素数5〜9のアルキル基を表す。)
一般式(3−3)
Figure 2011057565
(一般式(3−3)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R53は、総炭素数5〜12の炭化水素基であって、−CH=CH−、−CH=C(CH3)−、−C(CH3)=C(CH3)−、−CH=CH2、−CH=CH(CH3)、−C(CH3)=CH2および−C(CH3)=CH(CH3)から選択される基の少なくとも1つと、アルキル基およびアルキレン基の少なくとも1つとの組み合わせからなる基である。)
一般式(4−1)
Figure 2011057565
(一般式(4−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R61は、炭素数2〜8の直鎖のアルキル基を表す。)
Figure 2011057565
(4)下記のいずれかの化合物。
Figure 2011057565
(5)(1)〜(4)のいずれか1項に記載の化合物と、光重合開始剤を含む、硬化性組成物。
(6)光照射により硬化することを特徴とする(5)に記載の硬化性組成物。
(7)加熱により硬化することを特徴とする(5)に記載の硬化性組成物。
(8)ナノインプリント用である、(5)〜(7)のいずれか1項に記載の硬化性組成物。
(9)(5)〜(8)のいずれか1項に記載の組成物を硬化させた硬化物。
(10)(1)〜(4)のいずれか1項に記載の化合物と、光重合開始剤を含むナノインプリント用硬化性組成物を基板上に適用して層状とする工程と、該層状に形成した層にモールドに押圧する工程と、前記層状に形成した層に光照射する工程を含むことを特徴とする硬化物の製造方法。
(11)さらに、前記形成された層に、光を照射後、加熱する工程を含むことを特徴とする(10)に記載の硬化物の製造方法。
(12)(9)に記載の硬化物を含む液晶表示装置用部材。 Under such circumstances, the inventor of the present application has intensively studied to study a compound having a low viscosity and a low volatility, and has completed the present invention. Specifically, the object of the present invention has been achieved by the following means.
(1) A compound having a molecular weight of 310 or more, represented by the following general formula (1), the following general formula (2), the following general formula (3), the following general formula (4) or the following general formula (5).
Figure 2011057565
(In the general formulas (1), (2), (3), (4) and (5), R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or a methyl group. In the general formula (1), R 3 Represents a hydrocarbon group having 4 to 10 carbon atoms, in formula (2), R 4 represents an alkyl group having 8 to 14 carbon atoms, and in formula (3), R 5 represents a group having 4 to 15 carbon atoms. In general formula (4), R 6 represents a linear alkyl group having 2 to 10 carbon atoms, and R 7 represents an unsaturated hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms. Or a (meth) acryloyloxyethyl group, wherein R 8 represents a hydrocarbon group having 6 to 15 carbon atoms in the general formula (5).
(2) In (1), a compound represented by the general formula (1), wherein R 3 is an aliphatic hydrocarbon group having 4 to 10 carbon atoms, a compound represented by the general formula (2) Wherein R 4 is an alkyl group having 8 to 14 carbon atoms, a compound represented by the general formula (3-1), a compound represented by the general formula (3-2), a general formula (4- 1), a compound represented by the general formula (4-2), a compound represented by the general formula (5), wherein R 8 is an aliphatic hydrocarbon group having 6 to 15 carbon atoms. A certain compound or the following compound.
General formula (3-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 51 represents an alkyl group having 4 to 8 carbon atoms.)
Formula (3-2)
Figure 2011057565
(In general formula (3-2), R 1 and R 2 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. R 52 represents an alkyl group having 5 to 9 carbon atoms.)
General formula (3-3)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-3), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 53 is a hydrocarbon group having 5 to 12 carbon atoms in total, and —CH═ CH -, - CH = C ( CH 3) -, - C (CH 3) = C (CH 3) -, - CH = CH 2, -CH = CH (CH 3), - C (CH 3) = CH 2 and a group consisting of a combination of at least one group selected from —C (CH 3 ) ═CH (CH 3 ) and at least one of an alkyl group and an alkylene group.
Formula (4-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (4-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 61 represents a linear alkyl group having 2 to 8 carbon atoms.)
General formula (4-2)
Figure 2011057565
(In General Formula (4-2), R 1 and R 2 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. R 71 represents an unsaturated hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms or (meth) acryloyloxy. Represents an ethyl group, and R 72 represents a methyl group or an ethyl group.)
Figure 2011057565
(3) In (1), a compound represented by the general formula (1), wherein R 3 is a linear alkyl group having 4 to 8 carbon atoms, a compound represented by the general formula (2) Wherein R 4 is an alkyl group having 10 to 12 carbon atoms, a compound represented by the general formula (3-1), a compound represented by the general formula (3-2), a general formula (3- 3), a compound represented by the general formula (4-1), a compound represented by the general formula (5), wherein R 8 is a linear alkyl group having 6 to 13 carbon atoms. A compound or one of the following compounds:
General formula (3-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 51 represents an alkyl group having 4 to 8 carbon atoms.)
Formula (3-2)
Figure 2011057565
(In general formula (3-2), R 1 and R 2 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. R 52 represents an alkyl group having 5 to 9 carbon atoms.)
General formula (3-3)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-3), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 53 is a hydrocarbon group having 5 to 12 carbon atoms in total, and —CH═ CH -, - CH = C ( CH 3) -, - C (CH 3) = C (CH 3) -, - CH = CH 2, -CH = CH (CH 3), - C (CH 3) = CH 2 and a group consisting of a combination of at least one group selected from —C (CH 3 ) ═CH (CH 3 ) and at least one of an alkyl group and an alkylene group.
Formula (4-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (4-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 61 represents a linear alkyl group having 2 to 8 carbon atoms.)
Figure 2011057565
(4) Any of the following compounds.
Figure 2011057565
(5) A curable composition comprising the compound according to any one of (1) to (4) and a photopolymerization initiator.
(6) The curable composition as described in (5), which is cured by light irradiation.
(7) The curable composition as described in (5), which is cured by heating.
(8) The curable composition according to any one of (5) to (7), which is for nanoimprinting.
(9) A cured product obtained by curing the composition according to any one of (5) to (8).
(10) A step of applying a curable composition for nanoimprinting comprising the compound according to any one of (1) to (4) and a photopolymerization initiator on a substrate to form a layer, and forming the layer A method for producing a cured product, comprising: a step of pressing a molded layer against a mold; and a step of irradiating the layer formed in the layer shape with light.
(11) The method for producing a cured product according to (10), further comprising a step of heating the formed layer after irradiation with light.
(12) A liquid crystal display member comprising the cured product according to (9).

本発明により、低粘度かつ低揮発性な化合物を提供することが可能になった。また、本発明の化合物を用いた組成物は、硬化性に優れ、かつ、硬化時の装置内の汚染を抑制することが可能になった。さらに、本発明の化合物をナノインプリント用硬化性組成物に用いることにより、硬化後に高い転写パターン精度を有するパターンを提供することが可能になった。特に、低揮発性で真空耐性に優れるため、インプリント装置内部を汚染することなく、精度の高いパターンを形成できる。  According to the present invention, it has become possible to provide a compound having low viscosity and low volatility. Moreover, the composition using the compound of the present invention is excellent in curability and can suppress contamination in the apparatus during curing. Furthermore, by using the compound of the present invention for a curable composition for nanoimprint, it has become possible to provide a pattern having high transfer pattern accuracy after curing. In particular, since it has low volatility and excellent vacuum resistance, a highly accurate pattern can be formed without contaminating the inside of the imprint apparatus.

以下において、本発明の内容について詳細に説明する。尚、本願明細書において「〜」とはその前後に記載される数値を下限値および上限値として含む意味で使用される。   Hereinafter, the contents of the present invention will be described in detail. In the present specification, “to” is used to mean that the numerical values described before and after it are included as a lower limit value and an upper limit value.

以下において本発明を詳細に説明する。なお、本明細書中において、(メタ)アクリレートはアクリレートおよびメタクリレートを表し、(メタ)アクリルはアクリルおよびメタクリルを表し、(メタ)アクリロイルはアクリロイルおよびメタクリロイルを表す。また、本明細書中において、単量体とモノマーは同一である。本発明における単量体は、オリゴマー、ポリマーと区別し、質量平均分子量が1,000以下の化合物をいう。本明細書中において、官能基は重合に関与する基をいう。
なお、本発明でいう“インプリント”は、好ましくは、1nm〜10mmのサイズのパターン転写をいい、より好ましくは、およそ10nm〜100μmのサイズ(ナノインプリント)のパターン転写をいう。
The present invention is described in detail below. In the present specification, (meth) acrylate represents acrylate and methacrylate, (meth) acryl represents acryl and methacryl, and (meth) acryloyl represents acryloyl and methacryloyl. Moreover, in this specification, a monomer and a monomer are the same. The monomer in the present invention is a compound having a mass average molecular weight of 1,000 or less, distinguished from oligomers and polymers. In the present specification, the functional group refers to a group involved in polymerization.
The “imprint” referred to in the present invention preferably refers to pattern transfer having a size of 1 nm to 10 mm, and more preferably refers to pattern transfer having a size (nanoimprint) of approximately 10 nm to 100 μm.

本願発明が開示する化合物は、下記一般式(1)、一般式(2)、一般式(3)、一般式(4)、または一般式(5)で表される化合物であって、分子量310以上の化合物である。このような化合物は、低粘度と低揮発性を両立し、硬化性組成物、特に、インプリント用硬化性組成物に好ましく採用できる。

Figure 2011057565
(一般式(1)、(2)、(3)、(4)、(5)中のR1およびR2は、それぞれ、水素原子またはメチル基を表す。一般式(1)中、R3は炭素数4〜10の炭化水素基を表す。一般式(2)中、R4は炭素数8〜14のアルキル基を表す。一般式(3)中、R5は炭素数4〜15の直鎖状炭化水素基を表す。一般式(4)中、R6は炭素数2〜10の直鎖状アルキル基を表し、R7は炭素数2〜12の不飽和炭化水素基、あるいは(メタ)アクリロイルオキシエチル基を表す。一般式(5)中、R8は炭素数6〜15の炭化水素基を表す。) The compound disclosed by the present invention is a compound represented by the following general formula (1), general formula (2), general formula (3), general formula (4), or general formula (5), and has a molecular weight of 310. These compounds. Such a compound has both low viscosity and low volatility, and can be preferably employed in a curable composition, particularly a curable composition for imprints.
Figure 2011057565
(R 1 and R 2 in the general formulas (1), (2), (3), (4), (5) each represent a hydrogen atom or a methyl group. In the general formula (1), R 3 Represents a hydrocarbon group having 4 to 10 carbon atoms, in formula (2), R 4 represents an alkyl group having 8 to 14 carbon atoms, and in formula (3), R 5 represents a group having 4 to 15 carbon atoms. In the general formula (4), R 6 represents a linear alkyl group having 2 to 10 carbon atoms, R 7 represents an unsaturated hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms, or ( Represents a (meth) acryloyloxyethyl group, and R 8 represents a hydrocarbon group having 6 to 15 carbon atoms in the general formula (5).

本発明の化合物の分子量は、低揮発性の観点から310以上が好ましく、320以上がより好ましく、330以上が特に好ましい。上限値としては、特に定めるものではないが、好ましくは、600以下である。
一般式(1)〜(5)中、R1およびR2は、それぞれ、水素原子が好ましい。
一般式(1)〜(5)中、R1〜R8は、それぞれ、置換基を有していてもよく、この場合の置換基としては、炭化水素基が好ましく、アルキル基がより好ましく、炭素数3以下のアルキル基がさらに好ましい。R1〜R8は、置換基を有していない方が好ましい。
The molecular weight of the compound of the present invention is preferably 310 or more, more preferably 320 or more, and particularly preferably 330 or more from the viewpoint of low volatility. The upper limit is not particularly defined, but is preferably 600 or less.
In general formulas (1) to (5), R 1 and R 2 are each preferably a hydrogen atom.
In general formulas (1) to (5), R 1 to R 8 may each have a substituent, and in this case, the substituent is preferably a hydrocarbon group, more preferably an alkyl group, An alkyl group having 3 or less carbon atoms is more preferable. R 1 to R 8 preferably have no substituent.

(一般式(1)で表される化合物)
一般式(1)中、R3は、炭素数4〜10の炭化水素基を表し、炭素数4〜9の炭化水素基が好ましく、炭素数4〜8の炭化水素基がさらに好ましい。炭化水素基は、脂肪族炭化水素基であることが好ましく、アルキル基であることがより好ましい。アルキル基は直鎖のアルキル基であることがさらに好ましい。
また、一般式(1)で表される化合物として、下記化合物も好ましい。

Figure 2011057565
(Compound represented by the general formula (1))
In general formula (1), R 3 represents a hydrocarbon group having 4 to 10 carbon atoms, preferably a hydrocarbon group having 4 to 9 carbon atoms, and more preferably a hydrocarbon group having 4 to 8 carbon atoms. The hydrocarbon group is preferably an aliphatic hydrocarbon group, and more preferably an alkyl group. More preferably, the alkyl group is a linear alkyl group.
Moreover, the following compound is also preferable as a compound represented by General formula (1).
Figure 2011057565

(一般式(2)で表される化合物)
一般式(2)中、R4は炭素数8〜14のアルキル基を表し、炭素数9〜14のアルキル基が好ましく、炭素数10〜12のアルキル基がさらに好ましい。アルキル基は直鎖のアルキル基であることがさらに好ましい。
(Compound represented by the general formula (2))
In general formula (2), R 4 represents an alkyl group having 8 to 14 carbon atoms, preferably an alkyl group having 9 to 14 carbon atoms, and more preferably an alkyl group having 10 to 12 carbon atoms. More preferably, the alkyl group is a linear alkyl group.

(一般式(3)で表される化合物)
一般式(3)中、R5は炭素数4〜15の直鎖状炭化水素基を表し、炭素数4〜14の直鎖状炭化水素基が好ましく、炭素数4〜13の直鎖状炭化水素基がより好ましい。一般式(3)は好ましくは、一般式(3−1)、一般式(3−2)または一般式(3−3)で表される。
一般式(3−1)

Figure 2011057565
(一般式(3−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R51は、炭素数4〜8のアルキル基を表す。)
51は、直鎖のアルキル基であることがさらに好ましい。
一般式(3−2)
Figure 2011057565
(一般式(3−2)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R52は、炭素数5〜9のアルキル基を表す。)
52は、直鎖のアルキル基であることがさらに好ましい。
一般式(3−3)
Figure 2011057565
(一般式(3−3)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R53は、総炭素数5〜12の炭化水素基であって、−CH=CH−、−CH=C(CH3)−、−C(CH3)=C(CH3)−、−CH=CH2、−CH=CH(CH3)、−C(CH3)=CH2および−C(CH3)=CH(CH3)から選択される基の少なくとも1つと、アルキル基およびアルキレン基の少なくとも1つとの組み合わせからなる基である。)
−CH=CH−、−CH=C(CH3)−、−C(CH3)=C(CH3)−、−CH=CH2、−CH=CH(CH3)、−C(CH3)=CH2および−C(CH3)=CH(CH3)から選択される基は1つでも2つ以上であってもよいが、好ましくは1つである。これらの基の中で、−CH=CH−または−CH=CH2であることが好ましく、少なくとも、−CH=CH2を含むことがより好ましい。
アルキル基およびアルキレン基の少なくとも1つは、少なくともアルキレン基を含むことが好ましい。
53の総炭素数は、6〜11が好ましく、7〜10がより好ましい。
53は、−アルキル基−CH=CH2であることが好ましく、この場合のアルキル基は、炭素数5〜8の直鎖のアルキル基であることがより好ましい。 (Compound represented by the general formula (3))
In general formula (3), R 5 represents a linear hydrocarbon group having 4 to 15 carbon atoms, preferably a linear hydrocarbon group having 4 to 14 carbon atoms, and a linear hydrocarbon group having 4 to 13 carbon atoms. A hydrogen group is more preferable. The general formula (3) is preferably represented by the general formula (3-1), the general formula (3-2), or the general formula (3-3).
General formula (3-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 51 represents an alkyl group having 4 to 8 carbon atoms.)
R 51 is more preferably a linear alkyl group.
Formula (3-2)
Figure 2011057565
(In general formula (3-2), R 1 and R 2 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. R 52 represents an alkyl group having 5 to 9 carbon atoms.)
R 52 is more preferably a linear alkyl group.
General formula (3-3)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-3), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 53 is a hydrocarbon group having 5 to 12 carbon atoms in total, and —CH═ CH -, - CH = C ( CH 3) -, - C (CH 3) = C (CH 3) -, - CH = CH 2, -CH = CH (CH 3), - C (CH 3) = CH 2 and a group consisting of a combination of at least one group selected from —C (CH 3 ) ═CH (CH 3 ) and at least one of an alkyl group and an alkylene group.
-CH = CH -, - CH = C (CH 3) -, - C (CH 3) = C (CH 3) -, - CH = CH 2, -CH = CH (CH 3), - C (CH 3 ) = CH 2 and —C (CH 3 ) ═CH (CH 3 ) may be one or more groups, but preferably one. Among these groups, —CH═CH— or —CH═CH 2 is preferable, and at least —CH═CH 2 is more preferably included.
It is preferable that at least one of the alkyl group and the alkylene group includes at least an alkylene group.
6-11 are preferable and, as for the total carbon number of R53 , 7-10 are more preferable.
R 53 is preferably an -alkyl group —CH═CH 2 , and the alkyl group in this case is more preferably a linear alkyl group having 5 to 8 carbon atoms.

(一般式(4)で表される化合物)
一般式(4)中、R6は炭素数2〜10の直鎖状アルキル基を表し、炭素数2〜9の直鎖状アルキル基が好ましく、炭素数2〜8の直鎖状アルキル基がより好ましい。このような範囲とすることにより、化合物がより低揮発性となり好ましい。一方、R7は炭素数2〜12の不飽和炭化水素基、あるいは(メタ)アクリロイルオキシエチル基を表し、炭素数2〜12の炭化水素基が好ましく、炭素数2〜11の炭化水素基がさらに好ましい。一般式(4)は好ましくは、下記一般式(4−1)または(4−2)で表される化合物である。
一般式(4−1)

Figure 2011057565
(一般式(4−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R61は、炭素数2〜8の直鎖のアルキル基を表す。)
一般式(4−2)
Figure 2011057565
(一般式(4−2)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R71は、炭素数2〜12の不飽和炭化水素基または(メタ)アクリロイルオキシエチル基を表し、R72はメチル基またはエチル基を表す。)
炭素数2〜12の不飽和炭化水素基としては、炭素炭素二重結合を1つまたは2つ以上含む基が好ましい。一般式(4−2)で表される化合物としては、下記の化合物が例示される。
Figure 2011057565
(Compound represented by the general formula (4))
In the general formula (4), R 6 represents a linear alkyl group having 2 to 10 carbon atoms, preferably a linear alkyl group having 2 to 9 carbon atoms, and a linear alkyl group having 2 to 8 carbon atoms. More preferred. By setting it as such a range, a compound becomes low volatility and preferable. On the other hand, R 7 represents an unsaturated hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms or a (meth) acryloyloxyethyl group, preferably a hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms, and a hydrocarbon group having 2 to 11 carbon atoms. Further preferred. The general formula (4) is preferably a compound represented by the following general formula (4-1) or (4-2).
Formula (4-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (4-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 61 represents a linear alkyl group having 2 to 8 carbon atoms.)
General formula (4-2)
Figure 2011057565
(In General Formula (4-2), R 1 and R 2 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. R 71 represents an unsaturated hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms or (meth) acryloyloxy. Represents an ethyl group, and R 72 represents a methyl group or an ethyl group.)
The unsaturated hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms is preferably a group containing one or more carbon-carbon double bonds. Examples of the compound represented by the general formula (4-2) include the following compounds.
Figure 2011057565

(一般式(5)で表される化合物)
一般式(5)中、R8は炭素数6〜15の炭化水素基を表し、炭素数6〜14の炭化水素基が好ましく、炭素数6〜13の炭化水素基がさらに好ましい。炭化水素基は、脂肪族炭化水素基であることが好ましく、アルキル基であることがより好ましく、直鎖アルキル基であることがさらに好ましい。
また、一般式(5)で表される化合物として、下記化合物も好ましい。

Figure 2011057565
(Compound represented by the general formula (5))
In general formula (5), R 8 represents a hydrocarbon group having 6 to 15 carbon atoms, preferably a hydrocarbon group having 6 to 14 carbon atoms, and more preferably a hydrocarbon group having 6 to 13 carbon atoms. The hydrocarbon group is preferably an aliphatic hydrocarbon group, more preferably an alkyl group, and even more preferably a linear alkyl group.
Moreover, as a compound represented by General formula (5), the following compound is also preferable.
Figure 2011057565

本発明の化合物は、公知の方法に従って合成することができる。例えば、特開2009−114091号公報に記載の方法を参酌することによって合成できる。   The compound of the present invention can be synthesized according to a known method. For example, it can be synthesized by considering the method described in JP-A-2009-114091.

以下に本発明の化合物の好ましい例を示す。

Figure 2011057565
Preferred examples of the compound of the present invention are shown below.
Figure 2011057565

本発明の化合物は、粘度は、好ましくは、50mPa・s以下であり、より好ましくは30mPa・s以下である。下限は特に定めるものではないが、好ましくは、3mPa・s以上である。   The viscosity of the compound of the present invention is preferably 50 mPa · s or less, more preferably 30 mPa · s or less. The lower limit is not particularly defined, but is preferably 3 mPa · s or more.

上記化合物を用いた本発明の硬化性組成物(以下、単に「本発明の組成物」ということがある)は、硬化前においては低粘度であり、微細凹凸パターン形成能に優れたものとすることができる。また、硬化後においては表面硬度、耐傷性に優れており、さらには、他の諸点において総合的に優れた塗膜物性とすることができる。そのため、本発明の組成物は、硬化性組成物としてはもちろん、光ナノインプリントリソグラフィに好ましく用いることができる。  The curable composition of the present invention using the above compound (hereinafter sometimes simply referred to as “the composition of the present invention”) has a low viscosity before curing, and has excellent ability to form a fine uneven pattern. be able to. Moreover, after hardening, it is excellent in surface hardness and scratch resistance, and furthermore, it can be made to have excellent coating film properties in other respects. Therefore, the composition of the present invention can be preferably used for optical nanoimprint lithography as well as a curable composition.

即ち、本発明の組成物は、光ナノインプリントリソグラフィに用いる場合、以下のような特徴を有するものとすることができる。
(1)室温での溶液流動性に優れるため、モールド凹部のキャビティ内に該組成物が流れ込みやすく、大気が取り込まれにくいためバブル欠陥を引き起こすことがなく、モールド凸部、凹部のいずれにおいても光硬化後に残渣が残りにくい。
(2)硬化後の硬化膜はパターン精度に優れ、表面硬度、耐傷性などの機械的性質に優れ、塗膜と基板の密着性に優れ、塗膜とモールドの剥離性に優れるため、モールドを引き剥がす際にパターン崩れや塗膜表面に糸引きが生じて表面荒れを引き起こすことがないため良好なパターンを形成できる。
(3)塗布均一性に優れるため、大型基板への塗布・微細加工分野などに適する。
That is, the composition of the present invention can have the following characteristics when used in optical nanoimprint lithography.
(1) Since the solution fluidity at room temperature is excellent, the composition easily flows into the cavity of the mold recess, and the atmosphere is difficult to be taken in. Residues hardly remain after curing.
(2) The cured film after curing has excellent pattern accuracy, excellent mechanical properties such as surface hardness and scratch resistance, excellent adhesion between the coating film and the substrate, and excellent peelability between the coating film and the mold. A good pattern can be formed because pattern breakage or stringing does not occur on the surface of the coating film and cause surface roughness when peeling off.
(3) Since it is excellent in coating uniformity, it is suitable for the field of coating / microfabrication on large substrates.

例えば、本発明の組成物は、これまで展開が難しかった半導体集積回路や液晶表示装置用部材(特に、液晶ディスプレイの薄膜トランジタ、液晶カラーフィルタの保護膜、スペーサ、その他の液晶表示装置用部材の微細加工用途等)に好適に適用でき、その他の用途、例えば、プラズマディスプレイパネル用隔壁材、フラットスクリーン、マイクロ電気機械システム(MEMS)、センサ素子、光ディスク、高密度メモリーデイスク等の磁気記録媒体、回折格子ヤレリーフホログラム等の光学部品、ナノデバイス、光学デバイス、光学フィルムや偏光素子、有機トランジスタ、カラーフィルタ、オーバーコート層、柱材、液晶配向用リブ材、マイクロレンズアレイ、免疫分析チップ、DNA分離チップ、マイクロリアクター、ナノバイオデバイス、光導波路、光学フィルター、フォトニック液晶等の作製にも幅広く適用できるようになる。  For example, the composition of the present invention can be applied to semiconductor integrated circuits and liquid crystal display members that have been difficult to develop (particularly, thin film transistors for liquid crystal displays, protective films for liquid crystal color filters, spacers, and other liquid crystal display device members). For other applications such as plasma display panel partition materials, flat screens, micro electromechanical systems (MEMS), sensor elements, optical disks, high-density memory disks, etc., Optical components such as diffraction grating relief holograms, nanodevices, optical devices, optical films and polarizing elements, organic transistors, color filters, overcoat layers, pillar materials, rib materials for liquid crystal alignment, microlens arrays, immunoassay chips, DNA Separation chip, microreactor, nanobio device It can be widely applied to the production of optical waveguides, optical waveguides, optical filters, photonic liquid crystals, and the like.

(重合性単量体)
本発明の組成物は、硬化後の高硬度化、耐傷性の改良を目的に、重合性単量体として、上記化合物を含んでいる。本発明の組成物における、本発明の化合物の含量は、例えば、インプリント用硬化性組成物に用いる場合、好ましくは30〜95重量%であり、より好ましくは40〜90重量%である。
さらに、本発明の組成物には、上記化合物以外の、他の重合性単量体を含んでいてもよい。他の重合性単量体として、エチレン性不飽和結合含有基を1個有する重合性不飽和単量体(1官能の重合性不飽和単量体)を含めることが挙げられる。このような化合物を含むことにより、より組成物の低粘度化を図ることができる。エチレン性不飽和結合含有基を1個有する重合性不飽和単量体(1官能の重合性不飽和単量体)としては、特開2009−73078号公報の段落番号0046に記載のものを好ましく採用することができる。
(Polymerizable monomer)
The composition of the present invention contains the above compound as a polymerizable monomer for the purpose of increasing hardness after curing and improving scratch resistance. The content of the compound of the present invention in the composition of the present invention is, for example, preferably from 30 to 95% by weight, more preferably from 40 to 90% by weight when used in a curable composition for imprints.
Furthermore, the composition of the present invention may contain other polymerizable monomers other than the above compounds. Examples of the other polymerizable monomer include a polymerizable unsaturated monomer having one ethylenically unsaturated bond-containing group (monofunctional polymerizable unsaturated monomer). By including such a compound, the viscosity of the composition can be further reduced. As the polymerizable unsaturated monomer having one ethylenically unsaturated bond-containing group (monofunctional polymerizable unsaturated monomer), those described in paragraph No. 0046 of JP-A-2009-73078 are preferred. Can be adopted.

さらに他の重合性単量体として、エチレン性不飽和結合含有基を2個以上有する多官能重合性不飽和単量体を用いることも好ましい。 本発明で好ましく用いることのできるエチレン性不飽和結合含有基を2個有する2官能重合性不飽和単量体としては、特開2009−73078号公報の段落番号0047に記載のものを好ましく採用することができる。   Furthermore, it is also preferable to use a polyfunctional polymerizable unsaturated monomer having two or more ethylenically unsaturated bond-containing groups as another polymerizable monomer. As the bifunctional polymerizable unsaturated monomer having two ethylenically unsaturated bond-containing groups that can be preferably used in the present invention, those described in paragraph No. 0047 of JP-A-2009-73078 are preferably employed. be able to.

これらの中で特に、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート等が本発明に好適に用いられる。   Among these, neopentyl glycol di (meth) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene Glycol di (meth) acrylate, hydroxypivalate neopentyl glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, and the like are preferably used in the present invention.

本発明の組成物では、架橋密度をさらに高める目的で、上記多官能の他の重合性単量体よりもさらに分子量の大きい多官能オリゴマーやポリマーを本発明の目的を達成する範囲で配合することができる。光ラジカル重合性を有する多官能オリゴマーまたは多官能ポリマーとしてはポリエステルアクリレート、エステルアクリレートオリゴマー、ポリウレタンアクリレート、ウレタンアクリレートオリゴマー、ポリエーテルアクリレート、エーテルアクリレートオリゴマー、ポリエポキシアクリレート、エポキシアクリレートオリゴマー等が挙げられる。   In the composition of the present invention, for the purpose of further increasing the crosslinking density, a polyfunctional oligomer or polymer having a molecular weight higher than that of the other polyfunctional polymerizable monomer is blended within a range to achieve the object of the present invention. Can do. Examples of the polyfunctional oligomer or polyfunctional polymer having photoradical polymerizability include polyester acrylate, ester acrylate oligomer, polyurethane acrylate, urethane acrylate oligomer, polyether acrylate, ether acrylate oligomer, polyepoxy acrylate, and epoxy acrylate oligomer.

本発明で用いる他の重合性単量体として、オキシラン環を有する化合物も採用できる。オキシラン環を有する化合物としては、例えば、多塩基酸のポリグリシジルエステル類、多価アルコールのポリグリシジルエーテル類、ポリオキシアルキレングリコールのポリグリシジルエーテル類、芳香族ポリオールのポリグリシジルエテーテル類、芳香族ポリオールのポリグリシジルエーテル類の水素添加化合物類、ウレタンポリエポキシ化合物およびエポキシ化ポリブタジエン類等を挙げることができる。これらの化合物は、その一種を単独で使用することもできるし、また、その二種以上を混合して使用することもできる。  As another polymerizable monomer used in the present invention, a compound having an oxirane ring can also be employed. Examples of the compound having an oxirane ring include polyglycidyl esters of polybasic acids, polyglycidyl ethers of polyhydric alcohols, polyglycidyl ethers of polyoxyalkylene glycols, polyglycidyl ethers of aromatic polyols, and aromatics. Mention may be made, for example, of hydrogenated compounds of polyglycidyl ethers of polyols, urethane polyepoxy compounds and epoxidized polybutadienes. These compounds can be used alone or in combination of two or more thereof.

本発明で用いるエポキシ化合物の例としては、特開2009−73078号公報の段落番号0053〜0055に記載のものが好ましく用いられ、より好ましい範囲も同様である。  As an example of the epoxy compound used in the present invention, those described in paragraph Nos. 0053 to 0055 of JP-A-2009-73078 are preferably used, and the more preferable range is also the same.

また、これらのオキシラン環を有する化合物はその製法は問わないが、例えば、丸善KK出版、第四版実験化学講座20有機合成II、213〜、平成4年、Ed.by Alfred Hasfner,The chemistry of heterocyclic compounds−Small Ring Heterocycles part3 Oxiranes,John & Wiley and Sons,An Interscience Publication,New York,1985、吉村、接着、29巻12号、32、1985、吉村、接着、30巻5号、42、1986、吉村、接着、30巻7号、42、1986、特開平11−100378号公報、特許第2906245号公報、特許第2926262号公報などの文献を参考にして合成できる。   The production method of these compounds having an oxirane ring is not limited. For example, Maruzen KK Publishing, 4th edition Experimental Chemistry Course 20 Organic Synthesis II, 213, 1992, Ed. By Alfred Hasfner, The chemistry of cyclic compounds-Small Ring Heterocycles part3 Oxiranes, John & Wiley and Sons, An Interscience Publication, New York, 1985, Yoshimura, Adhesion, Vol. 29, No. 12, 32, 1985, Yoshimura, Adhesion, Vol. 30, No. 5, 42, 1986, Yoshimura, Adhesion, Vol. 30, No. 7, 42, 1986, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-1000037, Japanese Patent No. 2906245, Japanese Patent No. 2926262 and the like can be synthesized.

本発明で用いる他の重合性単量体として、ビニルエーテル化合物を併用してもよい。
ビニルエーテル化合物は公知のものを適宜選択することができ、例えば、特開2009−73078号公報の段落番号0057に記載のものを好ましく採用することができる。
As other polymerizable monomer used in the present invention, a vinyl ether compound may be used in combination.
A well-known thing can be selected suitably for a vinyl ether compound, For example, the thing of paragraph number 0057 of Unexamined-Japanese-Patent No. 2009-73078 can be employ | adopted preferably.

これらのビニルエーテル化合物は、例えば、Stephen.C.Lapin,Polymers Paint Colour Journal.179(4237)、321(1988)に記載されている方法、即ち多価アルコールもしくは多価フェノールとアセチレンとの反応、または多価アルコールもしくは多価フェノールとハロゲン化アルキルビニルエーテルとの反応により合成することができ、これらは1種単独あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。   These vinyl ether compounds can be obtained, for example, by the method described in Stephen C. Lapin, Polymers Paint Color Journal. 179 (4237), 321 (1988), that is, reaction of a polyhydric alcohol or polyhydric phenol with acetylene, or They can be synthesized by the reaction of a polyhydric alcohol or polyhydric phenol and a halogenated alkyl vinyl ether, and these can be used singly or in combination of two or more.

その他、本発明の1官能重合体と併用できるスチレン誘導体としては、例えば、スチレン、p−メチルスチレン、p−メトキシスチレン、β−メチルスチレン、p−メチル−β−メチルスチレン、α−メチルスチレン、p−メトキシ−β−メチルスチレン、p−ヒドロキシスチレン、等を挙げることができ、ビニルナフタレン誘導体としては、例えば、1−ビニルナフタレン、α−メチル−1−ビニルナフタレン、β−メチル−1−ビニルナフタレン、4−メチル−1−ビニルナフタレン、4−メトキシ−1−ビニルナフタレン等を挙げることができる。  Other examples of styrene derivatives that can be used in combination with the monofunctional polymer of the present invention include styrene, p-methylstyrene, p-methoxystyrene, β-methylstyrene, p-methyl-β-methylstyrene, α-methylstyrene, Examples thereof include p-methoxy-β-methylstyrene, p-hydroxystyrene, etc. Examples of vinylnaphthalene derivatives include 1-vinylnaphthalene, α-methyl-1-vinylnaphthalene, β-methyl-1-vinyl. Naphthalene, 4-methyl-1-vinylnaphthalene, 4-methoxy-1-vinylnaphthalene and the like can be mentioned.

一方、本発明の組成物においてはスチレン誘導体を重合性単量体として用いないほうが好ましい。これはスチレン誘導体を本発明の組成物中に組み込むと、光硬化性が極端に悪化し、レジストパターンにタックネスが生じやすくなるためである。  On the other hand, it is preferable not to use a styrene derivative as a polymerizable monomer in the composition of the present invention. This is because when a styrene derivative is incorporated in the composition of the present invention, the photocurability is extremely deteriorated and the resist pattern is likely to have a tackiness.

また、モールドとの剥離性や塗布性を向上させる目的で、トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、ペンタフルオロエチル(メタ)アクリレート、(パーフルオロブチル)エチル(メタ)アクリレート、パーフルオロブチル−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、(パーフルオロヘキシル)エチル(メタ)アクリレート、オクタフルオロペンチル(メタ)アクリレート、パーフルオロオクチルエチル(メタ)アクリレート、テトラフルオロプロピル(メタ)アクリレート等のフッ素原子を有する化合物も併用することができる。  In addition, trifluoroethyl (meth) acrylate, pentafluoroethyl (meth) acrylate, (perfluorobutyl) ethyl (meth) acrylate, perfluorobutyl-hydroxypropyl ( Use compounds containing fluorine atoms such as (meth) acrylate, (perfluorohexyl) ethyl (meth) acrylate, octafluoropentyl (meth) acrylate, perfluorooctylethyl (meth) acrylate, tetrafluoropropyl (meth) acrylate, etc. Can do.

本発明で用いる他の重合性単量体として、プロペニルエーテルおよびブテニルエーテルを配合できる。例えば1−ドデシル−1−プロペニルエーテル、1−ドデシル−1−ブテニルエーテル、1−ブテノキシメチル−2−ノルボルネン、1−4−ジ(1−ブテノキシ)ブタン、1,10−ジ(1−ブテノキシ)デカン、1,4−ジ(1−ブテノキシメチル)シクロヘキサン、ジエチレングリコールジ(1−ブテニル)エーテル、1,2,3−トリ(1−ブテノキシ)プロパン、プロペニルエーテルプロピレンカーボネート等が好適に適用できる。  As another polymerizable monomer used in the present invention, propenyl ether and butenyl ether can be blended. For example, 1-dodecyl-1-propenyl ether, 1-dodecyl-1-butenyl ether, 1-butenoxymethyl-2-norbornene, 1-4-di (1-butenoxy) butane, 1,10-di (1-butenoxy) Decane, 1,4-di (1-butenoxymethyl) cyclohexane, diethylene glycol di (1-butenyl) ether, 1,2,3-tri (1-butenoxy) propane, propenyl ether propylene carbonate, and the like can be suitably applied.

本発明の組成物中に、上記本発明の化合物以外の化合物の含量は、組成物中、通常、10〜80質量%であり、好ましくは、30〜75質量%である。   In the composition of the present invention, the content of the compound other than the compound of the present invention is usually 10 to 80% by mass, preferably 30 to 75% by mass in the composition.

(重合開始剤)
本発明の組成物には、通常、光重合開始剤が含まれる。本発明に用いられる光重合開始剤は、全組成物中、例えば、0.1〜15質量%含有し、好ましくは0.2〜12質量%であり、さらに好ましくは、0.3〜10質量%である。2種類以上の光重合開始剤を用いる場合は、その合計量が前記範囲となる。
光重合開始剤の割合が0.1質量%以上とすることにより、感度(速硬化性)、解像性、ラインエッジラフネス性、塗膜強度が向上する傾向にあり好ましい。一方、光重合開始剤の割合を15質量%以下とすることにより、光透過性、着色性、取り扱い性などが向上する傾向にあり、好ましい。
(Polymerization initiator)
The composition of the present invention usually contains a photopolymerization initiator. The photoinitiator used for this invention contains 0.1-15 mass% in all the compositions, for example, Preferably it is 0.2-12 mass%, More preferably, it is 0.3-10 mass %. When using 2 or more types of photoinitiators, the total amount becomes the said range.
It is preferable that the ratio of the photopolymerization initiator is 0.1% by mass or more because sensitivity (fast curability), resolution, line edge roughness, and coating film strength tend to be improved. On the other hand, when the ratio of the photopolymerization initiator is 15% by mass or less, the light transmittance, the colorability, the handleability and the like tend to be improved, which is preferable.

本発明で用いる光重合開始剤は、使用する光源の波長に対して活性を有するものが配合され、適切な活性種を発生させるものを用いる。また、光重合開始剤は1種類のみでも、2種類以上用いてもよい。   As the photopolymerization initiator used in the present invention, one that has activity with respect to the wavelength of the light source to be used is blended, and one that generates appropriate active species is used. Moreover, only one type of photopolymerization initiator may be used, or two or more types may be used.

本発明で使用されるラジカル光重合開始剤は、例えば、市販されている開始剤を用いることができる。これらの例としては、例えば、特開平2008−105414号公報の段落番号0091に記載のものを好ましく採用することができる。  As the radical photopolymerization initiator used in the present invention, for example, a commercially available initiator can be used. As these examples, for example, those described in paragraph No. 0091 of JP-A No. 2008-105414 can be preferably used.

本発明の重合開始のための光は、紫外光、近紫外光、遠紫外光、可視光、赤外光等の領域の波長の光または、電磁波だけでなく、放射線も含まれ、放射線には、例えば、マイクロ波、電子線、EUV、X線が含まれる。また248nmエキシマレーザー、193nmエキシマレーザー、172nmエキシマレーザーなどのレーザー光も用いることができる。これらの光は、光学フィルターを通したモノクロ光(単一波長光)を用いてもよいし、複数の波長の異なる光(複合光)でもよい。露光は、多重露光も可能であり、膜強度、エッチング耐性を高めるなどの目的でパターン形成した後、さらに全面露光することも可能である。   The light for initiating polymerization of the present invention includes not only light having a wavelength in the region of ultraviolet light, near ultraviolet light, far ultraviolet light, visible light, infrared light, or electromagnetic waves, but also radiation. For example, microwave, electron beam, EUV, and X-ray are included. Laser light such as a 248 nm excimer laser, a 193 nm excimer laser, and a 172 nm excimer laser can also be used. The light may be monochromatic light (single wavelength light) that has passed through an optical filter, or may be light with a plurality of different wavelengths (composite light). The exposure can be multiple exposure, and after the pattern is formed for the purpose of increasing the film strength and etching resistance, the entire surface can be further exposed.

本発明で使用される光重合開始剤は、使用する光源の波長に対して適時に選択する必要があるが、モールド加圧・露光中にガスを発生させないものが好ましい。ガスが発生すると、モールドが汚染されるため、頻繁にモールドを洗浄しなければならなくなったり、本発明のナノインプリント用硬化性組成物がモールド内で変形し、転写パターン精度を劣化させたりするなどの問題を生じる。ガスを発生させないものは、モールドが汚染されにくく、モールドの洗浄頻度が減少したり、本発明のナノインプリント用硬化性組成物がモールド内で変形したりしにくいので転写パターン精度を劣化させにくい等の観点で好ましい。   The photopolymerization initiator used in the present invention needs to be selected in a timely manner with respect to the wavelength of the light source to be used, but is preferably one that does not generate gas during mold pressurization and exposure. When the gas is generated, the mold is contaminated, so the mold must be frequently cleaned, or the curable composition for nanoimprinting of the present invention is deformed in the mold and deteriorates the transfer pattern accuracy. Cause problems. For those that do not generate gas, the mold is less likely to be contaminated, the frequency of cleaning the mold is reduced, and the curable composition for nanoimprinting of the present invention is less likely to be deformed in the mold, so the transfer pattern accuracy is less likely to deteriorate. It is preferable from the viewpoint.

(酸化防止剤)
本発明の組成物には、公知の酸化防止剤を含めることができる。本発明に用いられる酸化防止剤は、全組成物中、例えば、0.01〜10質量%含有し、好ましくは0.2〜5質量%である。2種類以上の酸化防止剤を用いる場合は、その合計量が前記範囲となる。
酸化防止剤は、熱や光照射による退色およびオゾン、活性酸素、NOx、SOx(Xは整数)などの各種の酸化性ガスによる退色を抑制するものである。特に本発明では、酸化防止剤を添加することにより、硬化膜の着色を防止できる、または分解による膜厚減少を低減できるという利点がある。このような酸化防止剤としては、ヒドラジド類、ヒンダードアミン系酸化防止剤、含窒素複素環メルカプト系化合物、チオエーテル系酸化防止剤、ヒンダードフェノール系酸化防止剤、アスコルビン酸類、硫酸亜鉛、チオシアン酸塩類、チオ尿素誘導体、糖類、亜硝酸塩、亜硫酸塩、チオ硫酸塩、ヒドロキシルアミン誘導体などを挙げることができる。この中では、特にヒンダードフェノール系酸化防止剤、チオエーテル系酸化防止剤が硬化膜の着色、膜厚減少の観点で好ましい。
(Antioxidant)
The composition of the present invention can contain a known antioxidant. The antioxidant used for this invention contains 0.01-10 mass% in all the compositions, for example, Preferably it is 0.2-5 mass%. When using 2 or more types of antioxidant, the total amount becomes the said range.
The antioxidant suppresses fading caused by heat or light irradiation and fading caused by various oxidizing gases such as ozone, active oxygen, NO x , SO x (X is an integer). In particular, in the present invention, the addition of an antioxidant has an advantage that the cured film can be prevented from being colored, or the film thickness reduction due to decomposition can be reduced. Such antioxidants include hydrazides, hindered amine antioxidants, nitrogen-containing heterocyclic mercapto compounds, thioether antioxidants, hindered phenol antioxidants, ascorbic acids, zinc sulfate, thiocyanates, Examples include thiourea derivatives, sugars, nitrites, sulfites, thiosulfates, hydroxylamine derivatives, and the like. Among these, hindered phenol antioxidants and thioether antioxidants are particularly preferable from the viewpoint of coloring the cured film and reducing the film thickness.

酸化防止剤の市販品としては、Irganox1010、1035、1076、1222(以上、チバガイギー(株)製)、Antigene P、3C、FR、スミライザーS、スミライザーGA80(住友化学工業製)、アデカスタブAO70、AO80、AO503((株)ADEKA製)等が挙げられ、これらは単独で用いてもよいし、混合して用いてもよい。   As commercially available products of antioxidants, Irganox 1010, 1035, 1076, 1222 (above, manufactured by Ciba Geigy Co., Ltd.), Antigene P, 3C, FR, Smither S, Smither GA80 (manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.), ADK STAB AO70, AO80, AO503 (made by ADEKA Co., Ltd.) etc. are mentioned, These may be used independently and may be used in mixture.

(界面活性剤)
本発明の組成物には、界面活性剤を含めることができる。本発明に用いられる界面活性剤は、全組成物中、例えば、0.001〜5質量%含有し、好ましくは0.002〜4質量%であり、さらに好ましくは、0.005〜3質量%である。2種類以上の界面活性剤を用いる場合は、その合計量が前記範囲となる。界面活性剤が組成物中0.001未満では、塗布の均一性の効果が不十分であり、一方、5質量%を越えると、モールド転写特性を悪化させるため、好ましくない。
界面活性剤は、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤およびフッ素・シリコーン系界面活性剤の少なくとも1種を含むことが好ましく、フッ素系界面活性剤とシリコーン系界面活性剤の両方または、フッ素・シリコーン系界面活性剤を含むことがより好ましく、フッ素・シリコーン系界面活性剤を含むことが最も好ましい。
ここで、フッ素・シリコーン系界面活性剤とは、フッ素系界面活性剤およびシリコーン系界面活性剤の両方の要件を併せ持つものをいう。
このような界面活性剤を用いることにより、本発明の組成物を、半導体素子製造用のシリコーンウェーハや、液晶素子製造用のガラス角基板、クロム膜、モリブデン膜、モリブデン合金膜、タンタル膜、タンタル合金膜、窒化珪素膜、アモルファスシリコーン膜、酸化錫をドープした酸化インジウム(ITO)膜や酸化錫膜などの、各種の膜が形成されるなど基板上の塗布時に起こるストリエーションや鱗状の模様(レジスト膜の乾燥むら)などの塗布不良の問題を解決する目的、およびモールド凹部のキャビティ内への組成物の流動性を良くし、モールドとレジスト間の剥離性を良くし、レジストと基板間の密着性を良くする、組成物の粘度を下げる等が可能になる。
(Surfactant)
A surfactant may be included in the composition of the present invention. The surfactant used in the present invention contains, for example, 0.001 to 5% by mass, preferably 0.002 to 4% by mass, and more preferably 0.005 to 3% by mass in the entire composition. It is. When using 2 or more types of surfactant, the total amount becomes the said range. If the surfactant is less than 0.001 in the composition, the effect of coating uniformity is insufficient. On the other hand, if it exceeds 5% by mass, the mold transfer characteristics are deteriorated, which is not preferable.
The surfactant preferably contains at least one of a fluorine-based surfactant, a silicone-based surfactant, and a fluorine / silicone-based surfactant. Both the fluorine-based surfactant and the silicone-based surfactant or fluorine -More preferably, a silicone-based surfactant is included, and most preferably, a fluorine-silicone-based surfactant is included.
Here, the fluorine / silicone surfactant refers to one having both requirements of a fluorine surfactant and a silicone surfactant.
By using such a surfactant, the composition of the present invention can be applied to a silicon wafer for manufacturing semiconductor devices, a glass square substrate for manufacturing liquid crystal devices, a chromium film, a molybdenum film, a molybdenum alloy film, a tantalum film, and tantalum. Striations and scale-like patterns (such as alloy films, silicon nitride films, amorphous silicone films, tin oxide-doped indium oxide (ITO) films, tin oxide films, etc.) The purpose is to solve the problem of poor coating such as uneven drying of the resist film), and the fluidity of the composition into the cavity of the mold recess is improved, the peelability between the mold and the resist is improved, and between the resist and the substrate It becomes possible to improve the adhesion and to lower the viscosity of the composition.

本発明で用いる非イオン性フッ素系界面活性剤の例としては、特開2009−73078号公報の段落番号0072に記載のものが好ましく用いられる。
本発明で用いる、フッ素・シリコーン系界面活性剤の例としては、商品名X−70−090、X−70−091、X−70−092、X−70−093、(いずれも信越化学工業社製)、商品名メガフアックR−08、XRB−4(いずれも大日本インキ化学工業社製)が挙げられる。
As examples of the nonionic fluorosurfactant used in the present invention, those described in paragraph No. 0072 of JP-A-2009-73078 are preferably used.
Examples of fluorine / silicone surfactants used in the present invention include trade names X-70-090, X-70-091, X-70-092, X-70-093 (all Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.). Manufactured), and trade names Megafuk R-08 and XRB-4 (all manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.).

本発明の組成物に用いられる界面活性剤としては、電圧保持率の観点から、非イオン性(ノニオン系)の界面活性剤が好ましい。   The surfactant used in the composition of the present invention is preferably a nonionic (nonionic) surfactant from the viewpoint of voltage holding ratio.

その他の成分
本発明の組成物には前記成分の他に必要に応じて離型剤、シランカップリング剤、紫外線吸収剤、光安定剤、老化防止剤、可塑剤、密着促進剤、熱重合開始剤、着色剤、エラストマー粒子、光酸増殖剤、光塩基発生剤、塩基性化合物、流動調整剤、消泡剤、分散剤等を添加してもよい。
Other components In addition to the above components, the composition of the present invention may include a release agent, a silane coupling agent, an ultraviolet absorber, a light stabilizer, an anti-aging agent, a plasticizer, an adhesion promoter, and thermal polymerization. An agent, a colorant, an elastomer particle, a photoacid growth agent, a photobase generator, a basic compound, a flow regulator, an antifoaming agent, a dispersant, and the like may be added.

剥離性をさらに向上する目的で、本発明の組成物には、離型剤を任意に配合することができる。具体的には、本発明の組成物の層に押し付けたモールドを、樹脂層の面荒れや版取られを起こさずにきれいに剥離できるようにする目的で添加される。離型剤としては従来公知の離型剤、例えば、シリコーン系離型剤、ポリエチレンワックス、アミドワックス、テフロンパウダー(テフロンは登録商標)等の固形ワックス、弗素系、リン酸エステル系化合物等が何れも使用可能である。また、これらの離型剤をモールドに付着させておくこともできる。   For the purpose of further improving the peelability, a release agent can be arbitrarily blended in the composition of the present invention. Specifically, it is added for the purpose of enabling the mold pressed against the layer of the composition of the present invention to be peeled cleanly without causing the resin layer to become rough or take off the plate. Examples of the release agent include conventionally known release agents such as silicone-based release agents, polyethylene wax, amide wax, solid wax such as Teflon powder (Teflon is a registered trademark), fluorine-based compounds, phosphate ester-based compounds, etc. Can also be used. Moreover, these mold release agents can be adhered to the mold.

シリコーン系離型剤は、本発明で用いられる上記光硬化性樹脂と組み合わせた時にモールドからの剥離性が特に良好であり、版取られ現象が起こり難くなる。シリコーン系離型剤は、オルガノポリシロキサン構造を基本構造とする離型剤であり、例えば、未変性または変性シリコーンオイル、トリメチルシロキシケイ酸を含有するポリシロキサン、シリコーン系アクリル樹脂等が該当し、一般的にハードコート用組成物で用いられているシリコーン系レベリング剤の適用も可能である。   Silicone release agents have particularly good releasability from the mold when combined with the above-mentioned photocurable resin used in the present invention, and the phenomenon of taking a plate is difficult to occur. The silicone release agent is a release agent having an organopolysiloxane structure as a basic structure, for example, unmodified or modified silicone oil, polysiloxane containing trimethylsiloxysilicate, silicone acrylic resin, and the like. It is also possible to apply a silicone leveling agent generally used in hard coat compositions.

変性シリコーンオイルは、ポリシロキサンの側鎖および/または末端を変性したものであり、反応性シリコーンオイルと非反応性シリコーンオイルとに分けられる。反応性シリコーンオイルとしては、アミノ変性、エポキシ変性、カルボキシル変性、カルビノール変性、メタクリル変性、メルカプト変性、フェノール変性、片末端反応性、異種官能基変性等が挙げられる。非反応性シリコーンオイルとしては、ポリエーテル変性、メチルスチリル変性、アルキル変性、高級脂肪エステル変性、親水性特殊変性、高級アルコキシ変性、高級脂肪酸変性、フッ素変性等が挙げられる。
一つのポリシロキサン分子に上記したような変性方法の2つ以上を行うこともできる。
The modified silicone oil is obtained by modifying the side chain and / or terminal of polysiloxane, and is classified into a reactive silicone oil and a non-reactive silicone oil. Examples of the reactive silicone oil include amino modification, epoxy modification, carboxyl modification, carbinol modification, methacryl modification, mercapto modification, phenol modification, one-end reactivity, and different functional group modification. Examples of the non-reactive silicone oil include polyether modification, methylstyryl modification, alkyl modification, higher fatty ester modification, hydrophilic special modification, higher alkoxy modification, higher fatty acid modification, and fluorine modification.
Two or more of the above-described modification methods can be performed on one polysiloxane molecule.

変性シリコーンオイルは組成物成分との適度な相溶性があることが好ましい。特に、組成物中に必要に応じて配合される他の塗膜形成成分に対して反応性がある反応性シリコーンオイルを用いる場合には、本発明の組成物を硬化した硬化膜中に化学結合よって固定されるので、当該硬化膜の密着性阻害、汚染、劣化等の問題が起き難い。特に、蒸着工程での蒸着層との密着性向上には有効である。また、(メタ)アクリロイル変性シリコーン、ビニル変性シリコーン等の、光硬化性を有する官能基で変性されたシリコーンの場合は、本発明の組成物と架橋するため、硬化後の特性に優れる。   The modified silicone oil is preferably compatible with the composition components. In particular, when using a reactive silicone oil that is reactive with other coating film forming components blended as necessary in the composition, it is chemically bonded in the cured film obtained by curing the composition of the present invention. Therefore, since it is fixed, problems such as adhesion inhibition, contamination, and deterioration of the cured film are unlikely to occur. In particular, it is effective for improving the adhesion with the vapor deposition layer in the vapor deposition step. In addition, in the case of silicone modified with a photocurable functional group such as (meth) acryloyl-modified silicone or vinyl-modified silicone, it is excellent in characteristics after curing because it is crosslinked with the composition of the present invention.

トリメチルシロキシケイ酸を含有するポリシロキサンは表面にブリードアウトし易く剥離性に優れており、表面にブリードアウトしても密着性に優れ、金属蒸着やオーバーコート層との密着性にも優れている点で好ましい。
上記離型剤は1種類のみ或いは2種類以上を組み合わせて添加することができる。
Polysiloxane containing trimethylsiloxysilicic acid is easy to bleed out to the surface and has excellent peelability, excellent adhesion even when bleeded out to the surface, and excellent adhesion to metal deposition and overcoat layer This is preferable.
The said mold release agent can be added only in 1 type or in combination of 2 or more types.

離型剤を本発明の組成物に添加する場合、組成物全量中に0.001〜10質量%の割合で配合することが好ましく、0.01〜5質量%の範囲で添加することがより好ましい。離型剤の割合が上記範囲未満では、モールドと光ナノインプリントリソグラフィ用硬化性組成物層の剥離性向上効果が不充分となりやすい。一方、離型剤の割合が上記範囲を超えると組成物の塗工時のはじきによる塗膜面の面荒れの問題が生じたり、製品において基材自身および近接する層、例えば、蒸着層の密着性を阻害したり、転写時に皮膜破壊等(膜強度が弱くなりすぎる)を引き起こす等の点で好ましくない。
離型剤の割合が0.01質量%以上とすることにより、モールドと光ナノインプリントリソグラフィ用硬化性組成物層の剥離性向上効果が充分となる。一方、離型剤の割合が上記範囲を10質量%以内だと、組成物の塗工時のはじきによる塗膜面の面荒れの問題が生じにくく、製品において基材自身および近接する層、例えば、蒸着層の密着性を阻害しにくく、転写時に皮膜破壊等(膜強度が弱くなりすぎる)を引き起こしにくい等の点で好ましい。
When a release agent is added to the composition of the present invention, it is preferably added in a proportion of 0.001 to 10% by mass in the total amount of the composition, more preferably 0.01 to 5% by mass. preferable. If the ratio of a mold release agent is less than the said range, the peelable improvement effect of a mold and the curable composition layer for optical nanoimprint lithography will become inadequate. On the other hand, if the ratio of the release agent exceeds the above range, the surface of the coating film may be rough due to repelling during coating of the composition, or the substrate itself and the adjacent layer in the product, for example, the adhesion of the vapor deposition layer It is not preferable from the viewpoint of inhibiting the properties and causing film breakage or the like during transfer (film strength becomes too weak).
When the ratio of the release agent is 0.01% by mass or more, the effect of improving the peelability between the mold and the curable composition layer for photo nanoimprint lithography is sufficient. On the other hand, if the ratio of the release agent is within the above range of 10% by mass, the problem of surface roughness of the coating film due to repelling during coating of the composition is unlikely to occur, and the substrate itself and adjacent layers in the product, for example, It is preferable in that it hardly inhibits the adhesion of the deposited layer and hardly causes film breakage or the like (film strength becomes too weak) during transfer.

本発明の組成物には、微細凹凸パターンを有する表面構造の耐熱性、強度、或いは、金属蒸着層との密着性を高めるために、有機金属カップリング剤を配合してもよい。また、有機金属カップリング剤は、熱硬化反応を促進させる効果も持つため有効である。有機金属カップリング剤としては、例えば、シランカップリング剤、チタンカップリング剤、ジルコニウムカップリング剤、アルミニウムカップリング剤、スズカップリング剤等の各種カップリング剤を使用できる。   In the composition of the present invention, an organic metal coupling agent may be blended in order to improve the heat resistance, strength, or adhesion to the metal vapor deposition layer of the surface structure having a fine concavo-convex pattern. In addition, the organometallic coupling agent is effective because it has an effect of promoting the thermosetting reaction. As the organometallic coupling agent, for example, various coupling agents such as a silane coupling agent, a titanium coupling agent, a zirconium coupling agent, an aluminum coupling agent, and a tin coupling agent can be used.

本発明におけるシランカップリング剤としては、例えば、特開2009−73078号公報の段落番号0083に記載のシランカップリング剤を好ましく用いることができる。
本発明におけるチタンカップリング剤としては、例えば、特開2009−73078号公報の段落番号0084に記載のチタンカップリング剤を好ましく用いることができる。
本発明におけるジルコニウムカップリング剤としては、例えば、特開2009−73078号公報の段落番号0085に記載のジルコニウムカップリング剤を好ましく用いることができる。
本発明におけるアルミニウムカップリング剤としては、例えば、特開2009−73078号公報の段落番号0086に記載のアルミニウムカップリング剤を好ましく用いることができる。
As the silane coupling agent in the present invention, for example, a silane coupling agent described in paragraph No. 0083 of JP-A-2009-73078 can be preferably used.
As a titanium coupling agent in this invention, the titanium coupling agent as described in the paragraph number 0084 of Unexamined-Japanese-Patent No. 2009-73078 can be used preferably, for example.
As a zirconium coupling agent in this invention, the zirconium coupling agent of the paragraph number 0085 of Unexamined-Japanese-Patent No. 2009-73078 can be used preferably, for example.
As the aluminum coupling agent in the present invention, for example, the aluminum coupling agent described in paragraph No. 0086 of JP-A-2009-73078 can be preferably used.

上記有機金属カップリング剤は、光ナノインプリントリソグラフィ用硬化性組成物の固形分全量中に0.001〜10質量%の割合で任意に配合できる。有機金属カップリング剤の割合を0.001質量%以上とすることにより、耐熱性、強度、蒸着層との密着性の付与の向上についてより効果的な傾向にある。一方、有機金属カップリング剤の割合を10質量%以下とすることにより、組成物の安定性、成膜性の欠損を抑止できる傾向にあり好ましい。   The said organometallic coupling agent can be arbitrarily mix | blended in the ratio of 0.001-10 mass% in solid content whole quantity of the curable composition for optical nanoimprint lithography. By setting the ratio of the organometallic coupling agent to 0.001% by mass or more, there is a tendency to be more effective in improving heat resistance, strength, and adhesion with the vapor deposition layer. On the other hand, it is preferable that the ratio of the organometallic coupling agent is 10% by mass or less because the stability of the composition and the deficiency in film formability can be suppressed.

紫外線吸収剤の市販品としては、Tinuvin P、234、320、326、327、328、213(以上、チバガイギー(株)製)、Sumisorb110、130、140、220、250、300、320、340、350、400(以上、住友化学工業(株)製)等が挙げられる。紫外線吸収剤は、光ナノインプリントリソグラフィ用硬化性組成物の全量に対して任意に0.01〜10質量%の割合で配合するのが好ましい。   As a commercial item of an ultraviolet absorber, Tinuvin P, 234, 320, 326, 327, 328, 213 (above, manufactured by Ciba Geigy Co., Ltd.), Sumisorb 110, 130, 140, 220, 250, 300, 320, 340, 350 400 (above, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.). It is preferable to mix | blend an ultraviolet absorber arbitrarily in the ratio of 0.01-10 mass% with respect to the whole quantity of the curable composition for optical nanoimprint lithography.

光安定剤の市販品としては、Tinuvin 292、144、622LD(以上、チバガイギー(株)製)、サノールLS−770、765、292、2626、1114、744(以上、三共化成工業(株)製)等が挙げられる。光安定剤は組成物の全量に対し、0.01〜10質量%の割合で配合するのが好ましい。   Commercially available light stabilizers include Tinuvin 292, 144, 622LD (above, manufactured by Ciba Geigy Co., Ltd.), Sanol LS-770, 765, 292, 2626, 1114, 744 (above, manufactured by Sankyo Kasei Kogyo Co., Ltd.) Etc. The light stabilizer is preferably blended at a ratio of 0.01 to 10% by mass with respect to the total amount of the composition.

老化防止剤の市販品としては、Antigene W、S、P、3C、6C、RD−G、FR、AW(以上、住友化学工業(株)製)等が挙げられる。老化防止剤は組成物の全量に対し、0.01〜10質量%の割合で配合するのが好ましい。   Examples of commercially available anti-aging agents include Antigene W, S, P, 3C, 6C, RD-G, FR, and AW (manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.). The anti-aging agent is preferably blended at a ratio of 0.01 to 10% by mass with respect to the total amount of the composition.

本発明の組成物には基板との接着性や膜の柔軟性、硬度等を調整するために可塑剤を加えることが可能である。好ましい可塑剤の具体例としては、例えば、ジオクチルフタレート、ジドデシルフタレート、トリエチレングリコールジカプリレート、ジメチルグリコールフタレート、トリクレジルホスフェート、ジオクチルアジペート、ジブチルセバケート、トリアセチルグリセリン、ジメチルアジペート、ジエチルアジペート、ジ(n−ブチル)アジペート、ジメチルスベレート、ジエチルスベレート、ジ(n−ブチル)スベレート等があり、可塑剤は組成物中の30質量%以下で任意に添加することができる。好ましくは20質量%以下で、より好ましくは10質量%以下である。可塑剤の添加効果を得るためには、0.1質量%以上が好ましい。   A plasticizer can be added to the composition of the present invention in order to adjust adhesion to the substrate, flexibility of the film, hardness, and the like. Specific examples of preferred plasticizers include, for example, dioctyl phthalate, didodecyl phthalate, triethylene glycol dicaprylate, dimethyl glycol phthalate, tricresyl phosphate, dioctyl adipate, dibutyl sebacate, triacetyl glycerin, dimethyl adipate, diethyl adipate , Di (n-butyl) adipate, dimethyl suberate, diethyl suberate, di (n-butyl) suberate and the like, and a plasticizer can be optionally added at 30% by mass or less in the composition. Preferably it is 20 mass% or less, More preferably, it is 10 mass% or less. In order to obtain the effect of adding a plasticizer, 0.1% by mass or more is preferable.

本発明の組成物には基板との接着性等を調整するために密着促進剤を添加しても良い。密着促進剤として、ベンズイミダゾール類やポリベンズイミダゾール類、低級ヒドロキシアルキル置換ピリジン誘導体、含窒素複素環化合物、ウレアまたはチオウレア、有機リン化合物、8−オキシキノリン、4−ヒドロキシプテリジン、1,10−フェナントロリン、2,2'−ビピリジン誘導体、ベンゾトリアゾール類、有機リン化合物とフェニレンジアミン化合物、2−アミノ−1−フェニルエタノール、N−フェニルエタノールアミン、N−エチルジエタノールアミン,N−エチルジエタノールアミン、N−エチルエタノールアミンおよび誘導体、ベンゾチアゾール誘導体などを使用することができる。密着促進剤は、組成物中の好ましくは20質量%以下、より好ましくは10質量%以下、さらに好ましくは5質量%以下である。密着促進剤の添加は効果を得るためには、0.1質量%以上が好ましい。   An adhesion promoter may be added to the composition of the present invention in order to adjust adhesion to the substrate. Adhesion promoters include benzimidazoles and polybenzimidazoles, lower hydroxyalkyl-substituted pyridine derivatives, nitrogen-containing heterocyclic compounds, urea or thiourea, organophosphorus compounds, 8-oxyquinoline, 4-hydroxypteridine, 1,10-phenanthroline 2,2'-bipyridine derivatives, benzotriazoles, organophosphorus compounds and phenylenediamine compounds, 2-amino-1-phenylethanol, N-phenylethanolamine, N-ethyldiethanolamine, N-ethyldiethanolamine, N-ethylethanol Amines and derivatives, benzothiazole derivatives, and the like can be used. The adhesion promoter in the composition is preferably 20% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, and further preferably 5% by mass or less. The addition of the adhesion promoter is preferably 0.1% by mass or more in order to obtain the effect.

本発明の組成物を硬化させる場合、必要に応じて熱重合開始剤も添加することができる。好ましい熱重合開始剤としては、例えば過酸化物、アゾ化合物を挙げることができる。具体例としては、ベンゾイルパーオキサイド、tert−ブチル−パーオキシベンゾエート、アゾビスイソブチロニトリル等を挙げることができる。   When hardening the composition of this invention, a thermal-polymerization initiator can also be added as needed. Preferred examples of the thermal polymerization initiator include peroxides and azo compounds. Specific examples include benzoyl peroxide, tert-butyl-peroxybenzoate, azobisisobutyronitrile, and the like.

本発明の組成物は、パターン形状、感度等を調整する目的で、必要に応じて光塩基発生剤を添加してもよい。例えば、2−ニトロベンジルシクロヘキシルカルバメート、トリフェニルメタノール、O−カルバモイルヒドロキシルアミド、O−カルバモイルオキシム、[[(2,6−ジニトロベンジル)オキシ]カルボニル]シクロヘキシルアミン、ビス[[(2−ニトロベンジル)オキシ]カルボニル]ヘキサン1,6−ジアミン、4−(メチルチオベンゾイル)−1−メチル−1−モルホリノエタン、(4−モルホリノベンゾイル)−1−ベンジル−1−ジメチルアミノプロパン、N−(2−ニトロベンジルオキシカルボニル)ピロリジン、ヘキサアンミンコバルト(III)トリス(トリフェニルメチルボレート)、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン、2,6−ジメチル−3,5−ジアセチル−4−(2'−ニトロフェニル)−1,4−ジヒドロピリジン、2,6−ジメチル−3,5−ジアセチル−4−(2',4'−ジニトロフェニル)−1,4−ジヒドロピリジン等が好ましいものとして挙げられる。   The composition of the present invention may contain a photobase generator as necessary for the purpose of adjusting the pattern shape, sensitivity, and the like. For example, 2-nitrobenzylcyclohexylcarbamate, triphenylmethanol, O-carbamoylhydroxylamide, O-carbamoyloxime, [[(2,6-dinitrobenzyl) oxy] carbonyl] cyclohexylamine, bis [[(2-nitrobenzyl) Oxy] carbonyl] hexane 1,6-diamine, 4- (methylthiobenzoyl) -1-methyl-1-morpholinoethane, (4-morpholinobenzoyl) -1-benzyl-1-dimethylaminopropane, N- (2-nitro Benzyloxycarbonyl) pyrrolidine, hexaamminecobalt (III) tris (triphenylmethylborate), 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone, 2,6-dimethyl-3,5- Diacetyl-4 Preferred examples include (2′-nitrophenyl) -1,4-dihydropyridine, 2,6-dimethyl-3,5-diacetyl-4- (2 ′, 4′-dinitrophenyl) -1,4-dihydropyridine, and the like. It is done.

本発明の組成物には、塗膜の視認性を向上するなどの目的で、着色剤を任意に添加してもよい。着色剤は、UVインクジェット組成物、カラーフィルタ用組成物およびCCDイメージセンサ用組成物等で用いられている顔料や染料を本発明の目的を損なわない範囲で用いることができる。本発明で用いることができる顔料としては、例えば、特開平2008−105414号公報の段落番号0121に記載のものを好ましく採用することができる。
着色剤は組成物の全量に対し、0.001〜2質量%の割合で配合するのが好ましい。
A colorant may be optionally added to the composition of the present invention for the purpose of improving the visibility of the coating film. As the colorant, pigments and dyes used in UV inkjet compositions, color filter compositions, CCD image sensor compositions, and the like can be used as long as the object of the present invention is not impaired. As the pigment that can be used in the present invention, for example, those described in paragraph No. 0121 of JP-A No. 2008-105414 can be preferably used.
The colorant is preferably blended at a ratio of 0.001 to 2% by mass with respect to the total amount of the composition.

また、本発明の組成物では、機械的強度、柔軟性等を向上するなどの目的で、任意成分としてエラストマー粒子を添加してもよい。
本発明の組成物に任意成分として添加できるエラストマー粒子は、平均粒子サイズが好ましくは10nm〜700nm、より好ましくは30〜300nmである。例えばポリブタジエン、ポリイソプレン、ブタジエン/アクリロニトリル共重合体、スチレン/ブタジエン共重合体、スチレン/イソプレン共重合体、エチレン/プロピレン共重合体、エチレン/α−オレフィン系共重合体、エチレン/α−オレフィン/ポリエン共重合体、アクリルゴム、ブタジエン/(メタ)アクリル酸エステル共重合体、スチレン/ブタジエンブロック共重合体、スチレン/イソプレンブロック共重合体などのエラストマーの粒子である。またこれらエラストマー粒子を、メチルメタアクリレートポリマー、メチルメタアクリレート/グリシジルメタアクリレート共重合体などで被覆したコア/シェル型の粒子を用いることができる。エラストマー粒子は架橋構造をとっていてもよい。
In the composition of the present invention, elastomer particles may be added as optional components for the purpose of improving mechanical strength, flexibility and the like.
The elastomer particles that can be added as an optional component to the composition of the present invention preferably have an average particle size of 10 nm to 700 nm, more preferably 30 to 300 nm. For example, polybutadiene, polyisoprene, butadiene / acrylonitrile copolymer, styrene / butadiene copolymer, styrene / isoprene copolymer, ethylene / propylene copolymer, ethylene / α-olefin copolymer, ethylene / α-olefin / Particles of elastomer such as polyene copolymer, acrylic rubber, butadiene / (meth) acrylic ester copolymer, styrene / butadiene block copolymer, styrene / isoprene block copolymer. Further, core / shell type particles in which these elastomer particles are coated with a methyl methacrylate polymer, a methyl methacrylate / glycidyl methacrylate copolymer or the like can be used. The elastomer particles may have a crosslinked structure.

エラストマー粒子の市販品としては、例えば、レジナスボンドRKB(レジナス化成(株)製)、テクノMBS−61、MBS−69(以上、テクノポリマー(株)製)等を挙げることができる。   Examples of commercially available elastomer particles include Resin Bond RKB (manufactured by Resinas Kasei Co., Ltd.), Techno MBS-61, MBS-69 (manufactured by Techno Polymer Co., Ltd.), and the like.

これらエラストマー粒子は単独で、または2種以上組み合わせて使用することができる。本発明の組成物におけるエラストマー成分の含有割合は、好ましくは1〜35質量%であり、より好ましくは2〜30質量%、特に好ましくは3〜20質量%である。   These elastomer particles can be used alone or in combination of two or more. The content of the elastomer component in the composition of the present invention is preferably 1 to 35% by mass, more preferably 2 to 30% by mass, and particularly preferably 3 to 20% by mass.

本発明の組成物には、硬化収縮の抑制、熱安定性を向上するなどの目的で、塩基性化合物を任意に添加してもよい。塩基性化合物としては、アミンならびに、キノリンおよびキノリジンなど含窒素複素環化合物、塩基性アルカリ金属化合物、塩基性アルカリ土類金属化合物などが挙げられる。これらの中でも、光重合成モノマーとの相溶性の面からアミンが好ましく、例えば、オクチルアミン、ナフチルアミン、キシレンジアミン、ジベンジルアミン、ジフェニルアミン、ジブチルアミン、ジオクチルアミン、ジメチルアニリン、キヌクリジン、トリブチルアミン、トリオクチルアミン、テトラメチルエチレンジアミン、テトラメチル−1,6−ヘキサメチレンジアミン、ヘキサメチレンテトラミンおよびトリエタノールアミンなどが挙げられる。   A basic compound may be optionally added to the composition of the present invention for the purpose of suppressing curing shrinkage and improving thermal stability. Examples of the basic compound include amines, nitrogen-containing heterocyclic compounds such as quinoline and quinolidine, basic alkali metal compounds, basic alkaline earth metal compounds, and the like. Among these, amine is preferable from the viewpoint of compatibility with the photopolymerization monomer, for example, octylamine, naphthylamine, xylenediamine, dibenzylamine, diphenylamine, dibutylamine, dioctylamine, dimethylaniline, quinuclidine, tributylamine, Examples include octylamine, tetramethylethylenediamine, tetramethyl-1,6-hexamethylenediamine, hexamethylenetetramine, and triethanolamine.

本発明の組成物には、光硬化性向上のために、連鎖移動剤を添加しても良い。具体的には、4−ビス(3−メルカプトブチリルオキシ)ブタン、1,3,5−トリス(3−メルカプトブチルオキシエチル)1,3,5−トリアジン−2,4,6(1H,3H,5H)−トリオン、ペンタエリスリトールテトラキス(3−メルカプトブチレート)を挙げることができる。  A chain transfer agent may be added to the composition of the present invention in order to improve photocurability. Specifically, 4-bis (3-mercaptobutyryloxy) butane, 1,3,5-tris (3-mercaptobutyloxyethyl) 1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H , 5H) -trione, pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate).

(有機溶剤)
本発明の組成物は、有機溶剤の含有量が、全組成物中、3質量%以下であることが好ましい。すなわち本発明の組成物は、好ましくは特定の1官能およびまたは2官能の単量体を反応性希釈剤として含むため、本発明の組成物の成分を溶解させるための有機溶剤は、必ずしも含有する必要がない。また、有機溶剤を含まなければ、溶剤の揮発を目的としたベーキング工程が不要となるため、プロセス簡略化に有効となるなどのメリットが大きい。従って、本発明の組成物では、有機溶剤の含有量は、好ましくは3質量%以下、より好ましくは2質量%以下であり、含有しないことが特に好ましい。このように、本発明の組成物は、必ずしも、有機溶剤を含むものではないが、反応性希釈剤では、溶解しない化合物などを、本発明の組成物として溶解させる場合や粘度を微調整する際など、任意に添加してもよい。本発明の組成物に好ましく使用できる有機溶剤の種類としては、ナノインプリント用硬化性組成物やフォトレジストで一般的に用いられている溶剤であり、本発明で用いる化合物を溶解および均一分散させるものであれば良く、かつこれらの成分と反応しないものであれば特に限定されない。
(Organic solvent)
In the composition of the present invention, the content of the organic solvent is preferably 3% by mass or less in the entire composition. That is, since the composition of the present invention preferably contains a specific monofunctional or bifunctional monomer as a reactive diluent, the organic solvent for dissolving the components of the composition of the present invention is not necessarily contained. There is no need. In addition, if an organic solvent is not included, a baking process for the purpose of volatilization of the solvent is not necessary, so that there is a great merit that it is effective for simplifying the process. Therefore, in the composition of the present invention, the content of the organic solvent is preferably 3% by mass or less, more preferably 2% by mass or less, and it is particularly preferable not to contain it. As described above, the composition of the present invention does not necessarily contain an organic solvent. However, in the case of dissolving a compound that does not dissolve in the reactive diluent as the composition of the present invention, or when finely adjusting the viscosity. Any of these may be added. The organic solvent that can be preferably used in the composition of the present invention is a solvent generally used in curable compositions for nanoimprints and photoresists, which dissolves and uniformly disperses the compound used in the present invention. It is not particularly limited as long as it is sufficient and does not react with these components.

本発明で用いることができる溶剤の例としては、特開2009−73078号公報の段落番号0066に記載のものが例示される。
さらに、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルホルムアニリド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル、ジヘキシルエーテル、アセトニルアセトン、イソホロン、カプロン酸、カプリル酸、1−オクタノール、1−ノナノール、ベンジルアルコール、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、フェニルセロソルブアセテート等の高沸点溶剤を添加することもできる。これらは1種を単独使用してもよく、2種類以上を併用しても構わない。
これらの中でも、メトキシプロピレングリコールアセテート、2−ヒドロキシプロピン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、乳酸エチル、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノンなどが特に好ましい。
Examples of the solvent that can be used in the present invention include those described in paragraph No. 0066 of JP-A-2009-73078.
Further, N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N-methylformanilide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, dimethylsulfoxide, benzylethyl ether, dihexyl ether, acetonylacetone , Isophorone, caproic acid, caprylic acid, 1-octanol, 1-nonanol, benzyl alcohol, benzyl acetate, ethyl benzoate, diethyl oxalate, diethyl maleate, γ-butyrolactone, ethylene carbonate, propylene carbonate, phenyl cellosolve acetate, etc. A high boiling point solvent can also be added. These may be used alone or in combination of two or more.
Among these, methoxypropylene glycol acetate, ethyl 2-hydroxypropionate, methyl 3-methoxypropionate, ethyl 3-ethoxypropionate, ethyl lactate, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, 2-heptanone and the like are particularly preferable.

(粘度)
本発明の組成物の粘度について説明する。本発明における粘度は特に述べない限り、25℃における粘度をいう。本発明の組成物は、溶剤を除く組成物の25℃における粘度が、通常、18mPa・s以下であり、好ましくは12mPa・s以下である。下限値については、特に定めるものでは無いが、好ましくは、3mPa・以上である。本発明の組成物の粘度を3mPa・s以上とすることにより、基板塗布適性の問題や膜の機械的強度の低下が生じにくい傾向にある。具体的には、粘度を3mPa・s以上とすることによって、組成物の塗布の際に面上ムラを生じたり、塗布時に基板から組成物が流れ出たりするのを抑止できる傾向にあり、好ましい。一方、本発明の組成物の粘度を18mPa・s以下とすることにより、微細な凹凸パターンを有するモールドを組成物に密着させた場合でも、モールドの凹部のキャビティ内にも組成物が流れ込み、大気が取り込まれにくくなるため、バブル欠陥を引き起こしにくくなり、モールド凸部において光硬化後に残渣が残りにくくなり好ましい。
(viscosity)
The viscosity of the composition of the present invention will be described. The viscosity in the present invention means a viscosity at 25 ° C. unless otherwise specified. In the composition of the present invention, the viscosity of the composition excluding the solvent at 25 ° C. is usually 18 mPa · s or less, preferably 12 mPa · s or less. The lower limit is not particularly defined, but is preferably 3 mPa · or more. By setting the viscosity of the composition of the present invention to 3 mPa · s or more, there is a tendency that problems of substrate coating suitability and a decrease in mechanical strength of the film hardly occur. Specifically, by setting the viscosity to 3 mPa · s or more, it is preferable that unevenness on the surface is generated during the application of the composition or the composition can be prevented from flowing out of the substrate during the application. On the other hand, by setting the viscosity of the composition of the present invention to 18 mPa · s or less, even when a mold having a fine concavo-convex pattern is adhered to the composition, the composition flows into the cavity of the concave portion of the mold, and the atmosphere Is less likely to be taken in, so that it is difficult to cause bubble defects, and it is difficult for residues to remain after photocuring in the mold convex portion.

(表面張力)
本発明の組成物は、表面張力が、18〜30mN/mの範囲にあることが好ましく、20〜28mN/mの範囲にあることがより好ましい。このような範囲とすることにより、表面平滑性を向上させるという効果が得られる。
(surface tension)
The composition of the present invention preferably has a surface tension in the range of 18 to 30 mN / m, and more preferably in the range of 20 to 28 mN / m. By setting it as such a range, the effect of improving surface smoothness is acquired.

(水分量)
なお、本発明の組成物は、調製時における水分量が好ましくは2.0質量%以下、より好ましくは1.5質量%、さらに好ましくは1.0質量%以下である。調製時における水分量を2.0質量%以下とすることにより、本発明の組成物の保存性をより安定にすることができる。
(amount of water)
In addition, the water content at the time of preparation of the composition of the present invention is preferably 2.0% by mass or less, more preferably 1.5% by mass, and still more preferably 1.0% by mass or less. By making the water content at the time of preparation 2.0% by mass or less, the storage stability of the composition of the present invention can be made more stable.

(調製)
本発明の組成物は、上記各成分を混合した後、例えば、孔径0.05μm〜5.0μmのフィルターで濾過することによって溶液として調製することができる。前記ナノインプリント用硬化性組成物の混合・溶解は、通常、0℃〜100℃の範囲で行われる。濾過は、多段階で行ってもよいし、多数回繰り返してもよい。また、濾過した液を再濾過することもできる。濾過に使用する材質は、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、フッソ樹脂、ナイロン樹脂などのものが使用できるが特に限定されない。
(Preparation)
The composition of the present invention can be prepared as a solution by mixing each of the above components and then filtering with a filter having a pore size of 0.05 μm to 5.0 μm, for example. The mixing / dissolution of the curable composition for nanoimprint is usually performed in the range of 0 ° C to 100 ° C. Filtration may be performed in multiple stages or repeated many times. Moreover, the filtered liquid can be refiltered. Materials used for filtration can be polyethylene resin, polypropylene resin, fluorine resin, nylon resin, etc., but are not particularly limited.

[硬化膜]
次に、本発明の組成物を用いた本発明の硬化膜(特に、微細凹凸パターン)について説明する。本発明では、本発明の組成物を適用して硬化して本発明の硬化膜を形成することができる。
[Curing film]
Next, the cured film of the present invention (in particular, a fine uneven pattern) using the composition of the present invention will be described. In the present invention, the composition of the present invention can be applied and cured to form the cured film of the present invention.

また、基板または、支持体上に本発明の組成物を適用し、該組成物からなる層を露光、硬化、必要に応じて乾燥(ベーク)させることにより、オーバーコート層や絶縁膜などの永久膜を作製することもできる。   In addition, by applying the composition of the present invention on a substrate or a support and exposing the layer made of the composition, curing, and drying (baking) as necessary, permanent layers such as overcoat layers and insulating films can be obtained. A film can also be produced.

液晶ディスプレイ(LCD)などに用いられる永久膜(構造部材用のレジスト)においては、ディスプレイの動作を阻害しないようにするため、レジスト中の金属あるいは有機物のイオン性不純物の混入を極力避けることが好ましく、その濃度としては、好ましくは1000ppm以下、より好ましくは100ppm以下にすることが必要である。   In permanent films (resist for structural members) used for liquid crystal displays (LCDs), it is preferable to avoid contamination of metal or organic ionic impurities in the resist as much as possible so as not to hinder the operation of the display. The concentration is preferably 1000 ppm or less, more preferably 100 ppm or less.

液晶ディスプレイ(LCD)などに用いられる永久膜(構造部材用のレジスト)は、製造後にガロン瓶やコート瓶などの容器にボトリングし、輸送、保管されるが、この場合に、劣化を防ぐ目的で、容器内を不活性なチッソ、またはアルゴンなどで置換しておいても良い。また、輸送、保管に際しては、常温でも良いが、より永久膜の変質を防ぐため、−20℃から0℃の範囲に温度制御しても良い。勿論、反応が進行しないレベルで遮光する必要がある。   Permanent films (resist for structural members) used for liquid crystal displays (LCDs) are bottled in containers such as gallon bottles and coated bottles after manufacture, and are transported and stored. In this case, the purpose is to prevent deterioration. The inside of the container may be replaced with inert nitrogen, argon, or the like. Further, at the time of transportation and storage, the room temperature may be used, but the temperature may be controlled in the range of −20 ° C. to 0 ° C. in order to prevent the permanent film from being deteriorated. Of course, it is necessary to shield from light at a level where the reaction does not proceed.

[液晶表示装置用部材]
また、本発明の硬化物は、半導体集積回路、記録材料、あるいは液晶表示装置用部材として好ましく適用することができ、その中でも液晶表示装置部材であることがより好ましく、フラットパネルディスプレイなどのエッチングレジストとして適用することが特に好ましい。
[Components for liquid crystal display devices]
Further, the cured product of the present invention can be preferably applied as a semiconductor integrated circuit, a recording material, or a liquid crystal display member, more preferably a liquid crystal display member, and an etching resist such as a flat panel display. It is particularly preferable to apply as

[硬化膜の製造方法]
以下において、本発明の組成物を用いた硬化膜の製造方法について述べる。
本発明の組成物は、光、または、光および熱により硬化させることが好ましい。具体的には、基板上に少なくとも本発明の組成物を適用し、溶剤を乾燥させて本発明の組成物からなる層を形成してパターン受容体を作製し、当該パターン受容体のパターン形成側の表面にモールドを圧接し、モールドパターンを転写する加工を行い、微細凹凸パターンを光照射および加熱により硬化させる。通常、光照射および加熱は複数回に渡って行われる。本発明の硬化膜の製造方法によるナノインプリントリソグラフィは、積層化や多重パターニングもでき、通常の熱インプリントと組み合わせて用いることもできる。
[Method for producing cured film]
Below, the manufacturing method of the cured film using the composition of this invention is described.
The composition of the present invention is preferably cured by light or light and heat. Specifically, at least the composition of the present invention is applied onto a substrate, the solvent is dried to form a layer comprising the composition of the present invention, and a pattern receptor is produced. A mold is pressed against the surface of the substrate, a process of transferring the mold pattern is performed, and the fine concavo-convex pattern is cured by light irradiation and heating. Usually, light irradiation and heating are performed a plurality of times. Nanoimprint lithography according to the method for producing a cured film of the present invention can be laminated and multiple patterned, and can be used in combination with ordinary thermal imprint.

本発明の組成物は、一般によく知られた方法、例えば、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法、エクストルージョンコート法、スピンコート方法、スリットスキャン法などにより、基板上に適用することができる。本発明の組成物からなる層の膜厚は、使用する用途によって異なるが、0.05μm〜30μmである。また、本発明の組成物は、多重塗布してもよい。   The composition of the present invention is generally known methods such as dip coating, air knife coating, curtain coating, wire bar coating, gravure coating, extrusion coating, spin coating, and slit scanning. For example, it can be applied on the substrate. The film thickness of the layer comprising the composition of the present invention is 0.05 μm to 30 μm, although it varies depending on the application used. Further, the composition of the present invention may be applied multiple times.

本発明の組成物を塗布するための基板は、石英、ガラス、光学フィルム、セラミック材料、蒸着膜、磁性膜、反射膜、Ni、Cu、Cr、Feなどの金属基板、紙、SOG、ポリエステルフイルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルム等のポリマー基板、TFTアレイ基板、PDPの電極板、ガラスや透明プラスチック基板、ITOや金属などの導電性基材、絶縁性基材、シリコーン、窒化シリコーン、ポリシリコーン、酸化シリコーン、アモルファスシリコーンなどの半導体作製基板など特に制約されない。基板の形状は、板状でも良いし、ロール状でもよい。   Substrates for applying the composition of the present invention are quartz, glass, optical film, ceramic material, vapor deposition film, magnetic film, reflection film, metal substrate such as Ni, Cu, Cr, Fe, paper, SOG, polyester film Polymer substrates such as polycarbonate films and polyimide films, TFT array substrates, PDP electrode plates, glass and transparent plastic substrates, conductive substrates such as ITO and metals, insulating substrates, silicone, silicone nitride, polysilicone, oxidation There are no particular restrictions on semiconductor fabrication substrates such as silicone and amorphous silicone. The shape of the substrate may be a plate shape or a roll shape.

本発明の組成物を硬化させる光としては特に限定されないが、高エネルギー電離放射線、近紫外、遠紫外、可視、赤外等の領域の波長の光または放射線が挙げられる。高エネルギー電離放射線源としては、例えば、コッククロフト型加速器、ハンデグラーフ型加速器、リニヤーアクセレーター、ベータトロン、サイクロトロン等の加速器によって加速された電子線が工業的に最も便利且つ経済的に使用されるが、その他に放射性同位元素や原子炉等から放射されるγ線、X線、α線、中性子線、陽子線等の放射線も使用できる。紫外線源としては、例えば、紫外線螢光灯、低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、キセノン灯、炭素アーク灯、太陽灯等が挙げられる。放射線には、例えば、マイクロ波、EUVが含まれる。また、LED、半導体レーザー光、あるいは248nmのKrFエキシマレーザー光や193nmArFエキシマレーザーなどの半導体の微細加工で用いられているレーザー光も本発明に好適に用いることができる。これらの光は、モノクロ光を用いても良いし、複数の波長の異なる光(ミックス光)でも良い。   The light for curing the composition of the present invention is not particularly limited, and examples thereof include high energy ionizing radiation, light or radiation having a wavelength in the region of near ultraviolet, far ultraviolet, visible, infrared or the like. As the high-energy ionizing radiation source, for example, an electron beam accelerated by an accelerator such as a cockcroft accelerator, a handagraaf accelerator, a linear accelerator, a betatron, or a cyclotron is industrially most conveniently and economically used. However, radiation such as γ rays, X rays, α rays, neutron rays, proton rays emitted from radioisotopes or nuclear reactors can also be used. Examples of the ultraviolet ray source include an ultraviolet fluorescent lamp, a low-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultrahigh-pressure mercury lamp, a xenon lamp, a carbon arc lamp, and a solar lamp. Examples of radiation include microwaves and EUV. Also, laser light used in semiconductor microfabrication such as LED, semiconductor laser light, or 248 nm KrF excimer laser light or 193 nm ArF excimer laser can be suitably used in the present invention. These lights may be monochromatic light, or may be light having a plurality of different wavelengths (mixed light).

露光に際しては、露光照度を1mW/cm2〜50mW/cm2の範囲にすることが望ましい。1mW/cm2以上とすることにより、露光時間を短縮することができるため生産性が向上し、50mW/cm2以下とすることにより、副反応が生じることによる永久膜の特性の劣化を抑止できる傾向にあり好ましい。露光量は5mJ/cm2〜1000mJ/cm2の範囲にすることが望ましい。5mJ/cm2以上とすることにより、露光マージンが狭くなり、光硬化が不十分となりモールドへの未反応物の付着などの問題が発生しにくくなる。一方、1000mJ/cm2以下とすることにより、組成物の分解による永久膜の劣化が減少する傾向にあり好ましい。
さらに、露光に際しては、酸素によるラジカル重合の阻害を防ぐため、チッソやアルゴンなどの不活性ガスを流して、酸素濃度を100mg/L未満に制御しても良い。
During exposure is preferably in the range of exposure intensity of 1mW / cm 2 ~50mW / cm 2 . By making the exposure time 1 mW / cm 2 or more, the exposure time can be shortened so that productivity is improved, and by making the exposure time 50 mW / cm 2 or less, deterioration of the properties of the permanent film due to side reactions can be suppressed. It tends to be preferable. The exposure dose is desirably in the range of 5 mJ / cm 2 to 1000 mJ / cm 2 . By setting it to 5 mJ / cm 2 or more, the exposure margin becomes narrow, photocuring becomes insufficient, and problems such as adhesion of unreacted substances to the mold are less likely to occur. On the other hand, it is preferable to set it to 1000 mJ / cm 2 or less because deterioration of the permanent film due to decomposition of the composition tends to decrease.
Further, during exposure, in order to prevent radical polymerization from being inhibited by oxygen, an inert gas such as nitrogen or argon may be flowed to control the oxygen concentration to less than 100 mg / L.

本発明の組成物を硬化させる熱としては、150〜280℃が好ましく、200〜250℃がより好ましい。また、熱を付与する時間としては、5〜60分が好ましく、15〜45分がより好ましい。   As heat which hardens the composition of the present invention, 150-280 ° C is preferred and 200-250 ° C is more preferred. Moreover, as time to provide heat, 5 to 60 minutes are preferable and 15 to 45 minutes are more preferable.

次に本発明で用いることのできるモールド材について説明する。本発明の組成物を用いた光ナノインプリントリソグラフィは、モールド材および/または基板の少なくとも一方は、光透過性の材料を選択する必要がある。本発明に適用される光インプリントリソグラフィでは、基板の上にナノインプリント用硬化性組成物を塗布し、光透過性モールドを押し当て、モールドの裏面から光を照射し、ナノインプリント用硬化性組成物を硬化させる。また、光透過性基板上にナノインプリント用硬化性組成物を塗布し、モールドを押し当て、モールドの裏面から光を照射し、ナノインプリント用硬化性組成物を硬化させることもできる。
光照射は、モールドを付着させた状態で行ってもよいし、モールド剥離後に行ってもよいが、本発明では、モールドを密着させた状態で行うのが好ましい。
Next, the molding material that can be used in the present invention will be described. In optical nanoimprint lithography using the composition of the present invention, it is necessary to select a light transmissive material for at least one of the molding material and / or the substrate. In photoimprint lithography applied to the present invention, a curable composition for nanoimprint is applied on a substrate, a light-transmissive mold is pressed, light is irradiated from the back of the mold, and the curable composition for nanoimprint is applied. Harden. Alternatively, the nanoimprint curable composition can be applied on a light-transmitting substrate, pressed against the mold, and irradiated with light from the back surface of the mold to cure the nanoimprint curable composition.
The light irradiation may be performed in a state where the mold is attached, or may be performed after the mold is peeled off, but in the present invention, it is preferably performed in a state where the mold is adhered.

本発明で用いることのできるモールドは、転写されるべきパターンを有するモールドが使われる。モールドは、例えば、フォトリソグラフィや電子線描画法等によって、所望する加工精度に応じてパターンが形成できるが、本発明では、モールドパターン形成方法は特に制限されない。
本発明において用いられる光透過性モールド材は、特に限定されないが、所定の強度、耐久性を有するものであれば良い。具体的には、ガラス、石英、PMMA、ポリカーボネート樹脂などの光透明性樹脂、透明金属蒸着膜、ポリジメチルシロキサンなどの柔軟膜、光硬化膜、金属膜等が例示される。
As the mold that can be used in the present invention, a mold having a pattern to be transferred is used. The mold can form a pattern according to the desired processing accuracy by, for example, photolithography, electron beam drawing, or the like, but the mold pattern forming method is not particularly limited in the present invention.
The light-transmitting mold material used in the present invention is not particularly limited as long as it has predetermined strength and durability. Specifically, a light transparent resin such as glass, quartz, PMMA, and polycarbonate resin, a transparent metal vapor-deposited film, a flexible film such as polydimethylsiloxane, a photocured film, and a metal film are exemplified.

本発明の透明基板を用いた場合で使われる非光透過型モールド材としては、特に限定されないが、所定の強度を有するものであればよい。具体的には、セラミック材料、蒸着膜、磁性膜、反射膜、Ni、Cu、Cr、Feなどの金属基板、SiC、シリコーン、窒化シリコーン、ポリシリコーン、酸化シリコーン、アモルファスシリコーンなどの基板などが例示され、特に制約されない。形状は板状モールド、ロール状モールドのどちらでもよい。ロール状モールドは、特に転写の連続生産性が必要な場合に適用される。   The non-light transmissive mold material used in the case of using the transparent substrate of the present invention is not particularly limited as long as it has a predetermined strength. Specific examples include ceramic materials, deposited films, magnetic films, reflective films, metal substrates such as Ni, Cu, Cr, and Fe, and substrates such as SiC, silicone, silicone nitride, polysilicon, silicone oxide, and amorphous silicone. There are no particular restrictions. The shape may be either a plate mold or a roll mold. The roll mold is applied particularly when continuous transfer productivity is required.

本発明で用いられるモールドは、本発明の組成物とモールドとの剥離性を向上するために離型処理を行ったものを用いてもよい。シリコーン系やフッソ系などのシランカップリング剤による処理を行ったもの、例えば、ダイキン工業製、オプツールDSXや住友スリーエム製、Novec EGC−1720等の市販の離型剤も好適に用いることができる。   The mold used in the present invention may be a mold that has been subjected to a release treatment in order to improve the releasability between the composition of the present invention and the mold. Those having been treated with a silane coupling agent such as a silicone type or a fluorine type, for example, a commercially available release agent such as Daikin Industries, Optool DSX, Sumitomo 3M, Novec EGC-1720, etc. can be suitably used.

本発明の硬化膜の製造方法を用いて光インプリントリソグラフィを行う場合、通常、モールドの圧力が10気圧以下で行うのが好ましい。モールド圧力を10気圧以下とすることにより、モールドや基板が変形しにくくパターン精度が向上する傾向にあり、また、加圧が低いため装置を縮小できる傾向にあり好ましい。モールドの圧力は、モールド凸部の本発明の組成物の残膜が少なくなる範囲で、モールド転写の均一性が確保できる領域を選択することが好ましい。   When performing photoimprint lithography using the method for producing a cured film of the present invention, it is usually preferred that the mold pressure be 10 atm or less. Setting the mold pressure to 10 atm or less is preferable because the mold and the substrate are less likely to be deformed and the pattern accuracy tends to be improved, and since the pressure is low, the apparatus can be reduced. The mold pressure is preferably selected in a region where the mold transfer uniformity can be ensured within a range where the residual film of the composition of the present invention on the mold convex portion is reduced.

本発明において、光インプリントリソグラフィにおける光照射は、硬化に必要な照射量よりも十分大きければよい。硬化に必要な照射量は、ナノインプリント用硬化性組成物の不飽和結合の消費量や硬化膜のタッキネスを調べて決定される。
また、本発明に適用される光インプリントリソグラフィにおいては、光照射の際の基板温度は、通常、室温で行われるが、反応性を高めるために加熱をしながら光照射してもよい。光照射の前段階として、真空状態にしておくと、気泡混入防止、酸素混入による反応性低下の抑制、モールドとナノインプリント用硬化性組成物の密着性向上に効果があるため、真空状態で光照射しても良い。本発明において、好ましい真空度は、10-1Paから常圧の範囲で行われる。
In the present invention, the light irradiation in the photoimprint lithography may be sufficiently larger than the irradiation amount necessary for curing. The amount of irradiation necessary for curing is determined by examining the consumption of unsaturated bonds of the curable composition for nanoimprints and the tackiness of the cured film.
In the photoimprint lithography applied to the present invention, the substrate temperature at the time of light irradiation is usually room temperature, but the light irradiation may be performed while heating in order to increase the reactivity. As a pre-stage of light irradiation, if it is kept in a vacuum state, it is effective in preventing bubbles from being mixed, suppressing the decrease in reactivity due to oxygen mixing, and improving the adhesion between the mold and the curable composition for nanoimprinting. You may do it. In the present invention, the preferable degree of vacuum is 10 −1 Pa to normal pressure.

以下に実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。以下の実施例に示す材料、使用量、割合、処理内容、処理手順等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜、変更することができる。従って、本発明の範囲は以下に示す具体例に限定されるものではない。   The present invention will be described more specifically with reference to the following examples. The materials, amounts used, ratios, processing details, processing procedures, and the like shown in the following examples can be changed as appropriate without departing from the spirit of the present invention. Therefore, the scope of the present invention is not limited to the specific examples shown below.

1.光硬化性組成物の調製
下記重合性単量体M−1、下記光重合開始剤P−1(M−1に対して2質量%)、下記界面活性剤W−1(M−1に対して1質量%)を加えて実施例1の光硬化性組成物を調製した。
1. Preparation of photocurable composition The following polymerizable monomer M-1, the following photopolymerization initiator P-1 (2% by mass with respect to M-1), the following surfactant W-1 (with respect to M-1) 1% by mass) was added to prepare a photocurable composition of Example 1.

[実施例2〜22]
実施例1において、上記化合物M−1をそれぞれ下記表1〜表5に記載の化合物に変更した以外は実施例1と同様にして、実施例2〜22の組成物を調製した。
[Examples 2 to 22]
In Example 1, the composition of Examples 2-22 was prepared like Example 1 except having changed the said compound M-1 into the compound of the following Table 1-Table 5, respectively.

以下に、光硬化性組成物の材料を示す。
<本発明の重合性単量体>

Figure 2011057565
<比較例>
Figure 2011057565
<その他の化合物>
M−25:テトラエチレングリコールジアクリレート(東亞合成製:アロニックスM−240)
M−26:トリプロピレングリコールジアクリレート(東亞合成製:アロニックスM−220)
M−27:特許第3648636号公報に記載の下記(メタ)アクリレート
Figure 2011057565
M−28:ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(日本化薬社製:カヤラッドDPHA)
M−29:シクロヘキシルアクリレート(大阪有機製:ビスコート#155) Below, the material of a photocurable composition is shown.
<Polymerizable monomer of the present invention>
Figure 2011057565
<Comparative example>
Figure 2011057565
<Other compounds>
M-25: Tetraethylene glycol diacrylate (manufactured by Toagosei: Aronix M-240)
M-26: Tripropylene glycol diacrylate (manufactured by Toagosei: Aronix M-220)
M-27: The following (meth) acrylate described in Japanese Patent No. 3648636
Figure 2011057565
M-28: Dipentaerythritol hexaacrylate (Nippon Kayaku Co., Ltd .: Kayarad DPHA)
M-29: cyclohexyl acrylate (Osaka Organic: Biscoat # 155)

<重合性単量体の合成例>
(M−1の合成)
3−(アクリロイルオキシ)−2−ヒドロキシ−プロピルメタクリレート(Aldrich製)20.0gをアセトン100ml中に溶解させて氷浴中で冷却し、トリエチルアミン(和光純薬製)14.1gを加えた後、n−ヘキサン酸クロリド(和光純薬製)17.6gのアセトン(20mL)溶液を滴下した。滴下終了後室温で1時間攪拌した後、炭酸水素ナトリウム水溶液(炭酸水素ナトリウム5g+水250ml)を添加した。酢酸エチル250mlを加えて分液した後、さらに水層を酢酸エチル150mLで抽出した。得られた有機層を0.2規定塩酸水溶液200mlで洗浄し、硫酸マグネシウム15gで乾燥させた後、ろ液を濃縮してM−1の粗生成物を得た。
得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−1を17.3g得た(収率59%)。
<Synthesis example of polymerizable monomer>
(Synthesis of M-1)
20.0 g of 3- (acryloyloxy) -2-hydroxy-propyl methacrylate (manufactured by Aldrich) was dissolved in 100 ml of acetone, cooled in an ice bath, and 14.1 g of triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) was added. A solution of 17.6 g of n-hexanoic acid chloride (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) in acetone (20 mL) was added dropwise. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at room temperature for 1 hour, and then an aqueous sodium hydrogen carbonate solution (sodium hydrogen carbonate 5 g + water 250 ml) was added. After 250 ml of ethyl acetate was added for liquid separation, the aqueous layer was further extracted with 150 mL of ethyl acetate. The obtained organic layer was washed with 200 ml of 0.2N hydrochloric acid aqueous solution and dried with 15 g of magnesium sulfate, and then the filtrate was concentrated to obtain a crude product of M-1.
The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 17.3 g of M-1 (yield 59%).

得られたM−1の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,1H)、δ6.2(dd,1H)、δ6.2(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.6(d,1H)、δ5.5−5.3(m,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.3(t,2H)、δ1.9(s,3H)、δ1.6(td,2H)、δ1.4−1.2(m,4H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-1 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.2 (dd, 1 H), δ 6.2 (d, 1 H), δ 5.9 (d, 1 H), δ 5.6 (d , 1H), δ5.5-5.3 (m, 1H), δ4.5-4.2 (m, 4H), δ2.3 (t, 2H), δ1.9 (s, 3H), δ1. 6 (td, 2H), δ1.4-1.2 (m, 4H), δ0.8 (t, 3H)

(M−2の合成)
M−1と同様にして、3−(アクリロイルオキシ)−2−ヒドロキシ−プロピルメタクリレート(Aldrich製)15.0gとn−オクタン酸クロリド(和光純薬製)20.5gを反応させ、得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製してM−2を15.5g得た。(収率65%)
(Synthesis of M-2)
In the same manner as in M-1, 15.0 g of 3- (acryloyloxy) -2-hydroxy-propyl methacrylate (manufactured by Aldrich) and 20.5 g of n-octanoic acid chloride (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) were reacted and obtained. The crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 15.5 g of M-2. (Yield 65%)

得られたM−2の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,1H)、δ6.2(dd,1H)、δ6.2(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.6(d,1H)、δ5.5−5.3(m,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.3(t,2H)、δ1.9(s,3H)、δ1.6(td,2H)、δ1.4−1.2(m,8H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-2 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.2 (dd, 1 H), δ 6.2 (d, 1 H), δ 5.9 (d, 1 H), δ 5.6 (d , 1H), δ5.5-5.3 (m, 1H), δ4.5-4.2 (m, 4H), δ2.3 (t, 2H), δ1.9 (s, 3H), δ1. 6 (td, 2H), δ1.4-1.2 (m, 8H), δ0.8 (t, 3H)

(M−3の合成)
M−1と同様にして、3−(アクリロイルオキシ)−2−ヒドロキシ−プロピルメタクリレート(Aldrich製)20.0gとベンジルクロリド(東京化成製)17.1gを反応させ、得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製してM−3を20.3g得た。(収率68%)
(Synthesis of M-3)
In the same manner as in M-1, 20.0 g of 3- (acryloyloxy) -2-hydroxy-propyl methacrylate (Aldrich) and 17.1 g of benzyl chloride (Tokyo Kasei) were reacted, and the resulting crude product was Purification by silica gel column chromatography gave 20.3 g of M-3. (Yield 68%)

得られたM−3の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ8.0(d,2H)、δ7.6(dd,2H)、δ7.4(dd,2H)、δ6.4(d,1H)、δ6.2−6.1(m,2H)、δ5.8(d,1H)、δ5.7−5.6(m,2H)、δ4.6−4.3(m,4H)、δ1.9(s,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-3 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 8.0 (d, 2H), δ 7.6 (dd, 2H), δ 7.4 (dd, 2H), δ 6.4 (d, 1H), δ 6.2-6 .1 (m, 2H), δ5.8 (d, 1H), δ5.7-5.6 (m, 2H), δ4.6-4.3 (m, 4H), δ1.9 (s, 3H) )

(M−4の合成)
M−1と同様にして、1,2−ドデカンジオール(東京化成製)15.0gとアクリル酸クロリド(東京化成製)17.4gを反応させ、得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製してM−4を15.6g得た。(収率68%)
(Synthesis of M-4)
In the same manner as M-1, 15.0 g of 1,2-dodecanediol (manufactured by Tokyo Chemical Industry) and 17.4 g of acrylic acid chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry) were reacted, and the resulting crude product was subjected to silica gel column chromatography. Purification gave 15.6 g of M-4. (Yield 68%)

得られたM−4の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.9(d,1H)、δ6.8(d,1H)、δ6.3(dd,1H)、δ6.2(dd,1H)、δ5.7(d,1H)、δ5.7(d,1H)、δ5.3(tdd,1H)、δ4.6(dd,1H)、δ4.3(dd,1H)、δ1.6(td,2H)、δ1.4−1.2(m,16H)、δ0.7(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-4 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.9 (d, 1 H), δ 6.8 (d, 1 H), δ 6.3 (dd, 1 H), δ 6.2 (dd, 1 H), δ 5.7 (d , 1H), δ5.7 (d, 1H), δ5.3 (tdd, 1H), δ4.6 (dd, 1H), δ4.3 (dd, 1H), δ1.6 (td, 2H), δ1 4-1.2 (m, 16H), δ 0.7 (t, 3H)

(M−5の合成)
ヘプタン酸(東京化成製)23.8gをジメチルアセトアミド150mLに溶解させ、炭酸カリウム(和光純薬製)25.3g、エピクロロヒドリン(東京化成製)20.3gをそれぞれ添加して100℃まで加熱し、2時間攪拌した。放冷後、反応混合液に水200mL、酢酸エチル200mLを加えて分液し、有機層を0.2規定塩酸100mLで2回抽出した。有機層を硫酸マグネシウム15gで乾燥させ、ろ過液を濃縮して得た粗生成物をリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製してM−5の中間体(M−5A)15.0gを得た。
続いて、M−5Aをトルエン25mLに溶解させ、アクリル酸(東京化成製)6.4g、テトラブチルアンモニウムブロミド(和光純薬製)1.3g、4−メトキシフェノール(東京化成製)少量を加えて90℃まで加熱し、7時間攪拌した。
放冷後、反応混合液をアセトン100mLに溶解させて氷浴中で冷却し、トリエチルアミン(和光純薬製)13.0gを加えた後アクリル酸クロリド(東京化成製)10.9gのアセトン(10mL)溶液を滴下した。滴下終了後室温で2時間攪拌した後、炭酸水素ナトリウム水溶液(炭酸水素ナトリウム5g+水150ml)を添加した。酢酸エチル200mlを加えて分液した後、さらに水層を酢酸エチル100mLで抽出した。得られた有機層を0.1規定塩酸水溶液100mlで洗浄し、硫酸マグネシウム20gで乾燥させた後、ろ液を濃縮してM−5の粗生成物を得た。
得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−5を18.5g得た(3工程収率32%)。
(Synthesis of M-5)
Dissolve 23.8 g of heptanoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) in 150 mL of dimethylacetamide, add 25.3 g of potassium carbonate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries), and 20.3 g of epichlorohydrin (manufactured by Tokyo Chemical Industry) to 100 ° C. Heat and stir for 2 hours. After allowing to cool, 200 mL of water and 200 mL of ethyl acetate were added to the reaction mixture and the phases were separated, and the organic layer was extracted twice with 100 mL of 0.2N hydrochloric acid. The organic layer was dried over 15 g of magnesium sulfate, and the crude product obtained by concentrating the filtrate was purified by Ricagel column chromatography to obtain 15.0 g of M-5 intermediate (M-5A).
Subsequently, M-5A was dissolved in 25 mL of toluene, and 6.4 g of acrylic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry), 1.3 g of tetrabutylammonium bromide (manufactured by Wako Pure Chemical Industries), and a small amount of 4-methoxyphenol (manufactured by Tokyo Chemical Industry) were added. The mixture was heated to 90 ° C. and stirred for 7 hours.
After allowing to cool, the reaction mixture was dissolved in 100 mL of acetone, cooled in an ice bath, 13.0 g of triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) was added, and then 10.9 g of acetone (10 mL) of acrylic acid chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry). ) The solution was added dropwise. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at room temperature for 2 hours, and then an aqueous sodium hydrogen carbonate solution (5 g of sodium hydrogen carbonate + 150 ml of water) was added. After 200 ml of ethyl acetate was added for liquid separation, the aqueous layer was further extracted with 100 mL of ethyl acetate. The obtained organic layer was washed with 100 ml of 0.1N hydrochloric acid aqueous solution and dried with 20 g of magnesium sulfate, and then the filtrate was concentrated to obtain a crude product of M-5.
The resulting crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 18.5 g of M-5 (3 step yield: 32%).

得られたM−5の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,1H)、δ6.4(d,1H)、δ6.2−6.1(m,2H)、δ5.8(d,1H)、δ5.8(d,1H)δ5.4(dddd,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.3(t,2H)、δ1.6(t,2H)、δ1.4−1.2(m,8H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-5 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.2-6.1 (m, 2 H), δ 5.8 (d, 1 H), δ 5 .8 (d, 1H) δ 5.4 (dddd, 1H), δ 4.5-4.2 (m, 4H), δ 2.3 (t, 2H), δ 1.6 (t, 2H), δ 1.4 -1.2 (m, 8H), δ0.8 (t, 3H)

(M−6の合成)
M−5と同様にして、ノナン酸(東京化成製)16.1gから3工程で得られたM−6の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−6を8.5g得た(3工程収率25%)。
(Synthesis of M-6)
In the same manner as M-5, the crude product of M-6 obtained in 3 steps from 16.1 g of nonanoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was purified by silica gel column chromatography to obtain 8.5 g of M-6. (3 process yield 25%).

得られたM−6の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,1H)、δ6.4(d,1H)、δ6.2−6.1(m,2H)、δ5.8(d,1H)、δ5.8(d,1H)δ5.4(dddd,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.3(t,2H)、δ1.6(t,2H)、δ1.4−1.2(m,12H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-6 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.2-6.1 (m, 2 H), δ 5.8 (d, 1 H), δ 5 .8 (d, 1H) δ 5.4 (dddd, 1H), δ 4.5-4.2 (m, 4H), δ 2.3 (t, 2H), δ 1.6 (t, 2H), δ 1.4 -1.2 (m, 12H), δ0.8 (t, 3H)

(M−7の合成)
trans−2−オクテン酸(東京化成製)12.1gとグリシドール(東京化成製)6.0gをトルエン20mLに溶解させ、テトラブチルアンモニウムブロミド(和光純薬製)1.3g、4−メトキシフェノール(東京化成製)少量を加えて90℃まで加熱し、7時間攪拌した。
放冷後、反応混合液をアセトン170mLに溶解させて氷浴中で冷却し、トリエチルアミン(和光純薬製)24.6gを加えた後アクリル酸クロリド(東京化成製)20.5gのアセトン(20mL)溶液を滴下した。滴下終了後室温で2時間攪拌した後、炭酸水素ナトリウム水溶液(炭酸水素ナトリウム5g+水250ml)を添加した。酢酸エチル300mlを加えて分液した後、有機層を0.1規定塩酸水溶液150mlで洗浄し、硫酸マグネシウム20gで乾燥させた後、ろ液を濃縮してM−7の粗生成物を得た。
得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−7を19.3g得た(2工程収率70%)。
(Synthesis of M-7)
trans-2-octenoic acid (Tokyo Kasei) 12.1 g and glycidol (Tokyo Kasei) 6.0 g are dissolved in toluene 20 mL, tetrabutylammonium bromide (Wako Pure Chemicals) 1.3 g, 4-methoxyphenol ( (Manufactured by Tokyo Chemical Industry) A small amount was added and heated to 90 ° C. and stirred for 7 hours.
After allowing to cool, the reaction mixture was dissolved in 170 mL of acetone and cooled in an ice bath, 24.6 g of triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) was added, and then 20.5 g of acetone (20 mL) of acrylic acid chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry). ) The solution was added dropwise. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at room temperature for 2 hours, and then an aqueous sodium hydrogen carbonate solution (5 g of sodium hydrogen carbonate + 250 ml of water) was added. After adding 300 ml of ethyl acetate for liquid separation, the organic layer was washed with 150 ml of 0.1N aqueous hydrochloric acid solution and dried over 20 g of magnesium sulfate, and then the filtrate was concentrated to obtain a crude product of M-7. .
The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 19.3 g of M-7 (2 step yield: 70%).

得られたM−7の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ7.0(td,1H)、δ6.5(d,1H)、δ6.4(d,1H)、6.2(dd,1H)、δ6.1(dd,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.8(d,1H)δ5.5−5.3(m,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.2(td,2H)、δ1.5−1.4(m,2H)、δ1.3−1.1(m,4H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-7 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 7.0 (td, 1H), δ 6.5 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), 6.2 (dd, 1 H), δ 6.1 (dd , 1H), δ5.9 (d, 1H), δ5.9 (d, 1H), δ5.8 (d, 1H) δ5.5-5.3 (m, 1H), δ4.5-4.2 (M, 4H), δ 2.2 (td, 2H), δ 1.5-1.4 (m, 2H), δ 1.3-1.1 (m, 4H), δ 0.8 (t, 3H)

(M−8の合成)
M−7と同様にして、trans−2−ノネン酸(東京化成製)13.3gから2工程で得られたM−8の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−8を19.5g得た(2工程収率68%)。
(Synthesis of M-8)
In the same manner as M-7, a crude product of M-8 obtained in 2 steps from 13.3 g of trans-2-nonenoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was purified by silica gel column chromatography. 0.5 g was obtained (2 step yield 68%).

得られたM−8の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ7.0(td,1H)、δ6.5(d,1H)、δ6.4(d,1H)、6.2(dd,1H)、δ6.1(dd,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.8(d,1H)δ5.5−5.3(m,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.2(td,2H)、δ1.5−1.4(m,2H)、δ1.3−1.1(m,6H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-8 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 7.0 (td, 1 H), δ 6.5 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), 6.2 (dd, 1 H), δ 6.1 (dd , 1H), δ5.9 (d, 1H), δ5.9 (d, 1H), δ5.8 (d, 1H) δ5.5-5.3 (m, 1H), δ4.5-4.2 (M, 4H), δ 2.2 (td, 2H), δ 1.5-1.4 (m, 2H), δ 1.3-1.1 (m, 6H), δ 0.8 (t, 3H)

(M−9の合成)
M−7と同様にして、trans−2−デセン酸(東京化成製)14.5gから2工程で得られたM−9の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−9を20.6g得た(2工程収率69%)。
(Synthesis of M-9)
In the same manner as for M-7, the crude product of M-9 obtained in 2 steps from 14.5 g of trans-2-decenoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was purified by silica gel column chromatography. 0.6 g was obtained (2 step yield 69%).

得られたM−9の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ7.0(td,1H)、δ6.4(d,1H)、δ6.4(d,1H)、6.2(dd,1H)、δ6.1(dd,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.8(d,1H)δ5.5−5.3(m,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.2(td,2H)、δ1.5−1.4(m,2H)、δ1.4−1.2(m,8H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-9 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 7.0 (td, 1H), δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), 6.2 (dd, 1 H), δ 6.1 (dd , 1H), δ5.9 (d, 1H), δ5.9 (d, 1H), δ5.8 (d, 1H) δ5.5-5.3 (m, 1H), δ4.5-4.2 (M, 4H), δ 2.2 (td, 2H), δ 1.5-1.4 (m, 2H), δ 1.4-1.2 (m, 8H), δ 0.8 (t, 3H)

(M−10の合成)
M−7と同様にして、10−ウンデセン酸(東京化成製)6.4gから2工程で得られたM−10の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−10を9.2g得た(2工程収率75%)。
(Synthesis of M-10)
In the same manner as M-7, a crude product of M-10 obtained in two steps from 6.4 g of 10-undecenoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was purified by silica gel column chromatography, and 9.2 g of M-10 was purified. Obtained (2 step yield 75%).

得られたM−10の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.5(d,1H)、δ6.4(d,1H)、δ6.2(d,1H)、6.1(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.8−5.7(m,1H)、δ5.5−5.4(m,1H)δ5.0(d,1H)、δ4.9(d,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.4(t,2H)、δ2.0(t,2H)、δ1.6(t,2H)、δ1.4−1.2(m,10H)
The 1 H NMR data of the obtained M-10 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.5 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.2 (d, 1 H), 6.1 (d, 1 H), δ 5.9 (d , 1H), δ5.9 (d, 1H), δ5.8-5.7 (m, 1H), δ5.5-5.4 (m, 1H) δ5.0 (d, 1H), δ4.9 (D, 1H), δ4.5-4.2 (m, 4H), δ2.4 (t, 2H), δ2.0 (t, 2H), δ1.6 (t, 2H), δ1.4- 1.2 (m, 10H)

(M−11の合成)
1−ヘキサナール(和光純薬製)15.0gをホルムアルデヒド(36%)水溶液(和光純薬製)249.9gに加え、トリエチルアミン(和光純薬製)1.5を添加して40℃で8時間攪拌した。放冷後、ヘキサン155gで2回分液し、ヘキサン層を除去して得られた水槽に酢酸エチル200mLを加えて抽出後、有機層を硫酸マグネシウム15gで乾燥した後にろ過して、ろ液を濃縮した。濃縮後の液を再度蒸留水100mL、酢酸エチル100mLで分液し、有機層を硫酸マグネシウム15gで乾燥した後にろ過して、ろ液を濃縮した。
得られた中間体粗生成物(M−11A)に30%過酸化水素水22.6gを滴下し、60℃に加熱して5時間攪拌した。放冷後、反応混合液に蒸留水50mL、チオ硫酸ナトリウム3gで残存過酸化水素を除去した後、1規定塩酸30mL、酢酸エチル100mLをそれぞれ添加して分液し、水槽を酢酸エチル100mLで2回抽出した。有機層を硫酸マグネシウム30gで乾燥した後にろ過して、ろ液を濃縮した。
得られた中間体粗生成物(M−11B)をN−メチルピロリドン100mLに加え、炭酸水素ナトリウム(和光純薬製)10.1g、アリルブロミド(東京化成製)14.5gをそれぞれ添加して80℃に加熱し、2時間攪拌した。放冷後、反応混合液に3−クロロプロピオニルクロリド(東京化成製)30,5gを滴下した後、50℃で30分攪拌した。放冷後、氷浴中で反応混合液に飽和炭酸水素ナトリウム水溶液300mLを添加し、酢酸エチル300mLを加えて分液した。有機層を0.1規定塩酸150mLで洗浄し、硫酸マグネシウム20gで乾燥した後にろ過して、ろ液を濃縮した。
得られた中間体粗生成物(M−11C)をアセトン100mLに溶解させて氷浴中で冷却し、トリエチルアミン(和光純薬製)25.3gを滴下した。40℃で2時間攪拌した後、蒸留水200mL、酢酸エチル250mLをそれぞれ加えて分液した後、有機層を0.1規定塩酸水溶液100mLで洗浄した。有機層を硫酸マグネシウム20gで乾燥させた後、ろ液を濃縮してM−11の粗生成物を得た。
得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−11を2.7g得た(5工程収率6%)。
(Synthesis of M-11)
15.0 g of 1-hexanal (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) is added to 249.9 g of an aqueous solution of formaldehyde (36%) (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.), triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) 1.5 is added, and the mixture is heated at 40 ° C. for 8 hours. Stir. After standing to cool, the solution was separated twice with 155 g of hexane, extracted by adding 200 mL of ethyl acetate to the water tank obtained by removing the hexane layer, and then the organic layer was dried with 15 g of magnesium sulfate and filtered, and the filtrate was concentrated. did. The concentrated solution was separated again with distilled water (100 mL) and ethyl acetate (100 mL). The organic layer was dried over magnesium sulfate (15 g) and then filtered, and the filtrate was concentrated.
To the obtained intermediate crude product (M-11A), 22.6 g of 30% aqueous hydrogen peroxide was added dropwise, heated to 60 ° C. and stirred for 5 hours. After allowing to cool, 50 mL of distilled water and 3 g of sodium thiosulfate were removed from the reaction mixture, and then 1N hydrochloric acid (30 mL) and ethyl acetate (100 mL) were added to separate the solution. Extracted once. The organic layer was dried over 30 g of magnesium sulfate and filtered, and the filtrate was concentrated.
The obtained intermediate crude product (M-11B) was added to 100 mL of N-methylpyrrolidone, and 10.1 g of sodium hydrogen carbonate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) and 14.5 g of allyl bromide (manufactured by Tokyo Chemical Industry) were added. The mixture was heated to 80 ° C. and stirred for 2 hours. After allowing to cool, 30,5 g of 3-chloropropionyl chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was added dropwise to the reaction mixture, followed by stirring at 50 ° C. for 30 minutes. After allowing to cool, 300 mL of a saturated aqueous sodium hydrogen carbonate solution was added to the reaction mixture in an ice bath, and 300 mL of ethyl acetate was added for liquid separation. The organic layer was washed with 150 mL of 0.1N hydrochloric acid, dried over 20 g of magnesium sulfate and filtered, and the filtrate was concentrated.
The obtained intermediate crude product (M-11C) was dissolved in 100 mL of acetone and cooled in an ice bath, and 25.3 g of triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) was added dropwise. After stirring at 40 ° C. for 2 hours, 200 mL of distilled water and 250 mL of ethyl acetate were added and separated, and the organic layer was washed with 100 mL of 0.1N aqueous hydrochloric acid. The organic layer was dried over 20 g of magnesium sulfate, and then the filtrate was concentrated to obtain a crude product of M-11.
The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 2.7 g of M-11 (5 step yield: 6%).

得られたM−11の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,2H)、δ6.1(dd,1H)、δ5.9(tdd,1H)、5.8(d,2H)、δ5.3(d,1H)、δ5.2(d,1H)、δ4.6(d,2H)、δ4.4(s,4H)δ1.6(q,2H)、δ1.9−1.6(m,4H)、δ0.9(t,3H)
1 H NMR data of the obtained M-11 are shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.4 (d, 2H), δ6.1 (dd, 1H), δ5.9 (tdd, 1H), 5.8 (d, 2H), δ5.3 (d , 1H), δ5.2 (d, 1H), δ4.6 (d, 2H), δ4.4 (s, 4H) δ1.6 (q, 2H), δ1.9-1.6 (m, 4H) ), Δ 0.9 (t, 3H)

(M−12の合成)
M−11と同様にして、1−ヘプタナール(和光純薬製)15.0gから5工程で得られたM−12の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−12を11.7g得た(5工程収率26%)。
(Synthesis of M-12)
In the same manner as M-11, the crude product of M-12 obtained in 5 steps from 15.0 g of 1-heptanal (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) was purified by silica gel column chromatography, and 11.7 g of M-12 was purified. Obtained (5 step yield 26%).

得られたM−12の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,2H)、δ6.1(dd,1H)、δ5.9(tdd,1H)、5.8(d,2H)、δ5.3(d,1H)、δ5.2(d,1H)、δ4.6(d,2H)、δ4.4(s,4H)δ1.6(q,2H)、δ1.9−1.6(m,6H)、δ0.9(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-12 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.4 (d, 2H), δ6.1 (dd, 1H), δ5.9 (tdd, 1H), 5.8 (d, 2H), δ5.3 (d , 1H), δ5.2 (d, 1H), δ4.6 (d, 2H), δ4.4 (s, 4H) δ1.6 (q, 2H), δ1.9-1.6 (m, 6H) ), Δ 0.9 (t, 3H)

(M−13の合成)
M−11と同様にして、1−オクタナール(和光純薬製)15.6gから5工程で得られたM−13の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−13を5.7g得た(5工程収率13%)。
(Synthesis of M-13)
In the same manner as M-11, the crude product of M-13 obtained in 1 step from 15.6 g of 1-octanal (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) was purified by silica gel column chromatography, and 5.7 g of M-13 was purified. Obtained (5 step yield 13%).

得られたM−13の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,2H)、δ6.1(dd,1H)、δ5.9(tdd,1H)、5.8(d,2H)、δ5.3(d,1H)、δ5.2(d,1H)、δ4.6(d,2H)、δ4.4(s,4H)δ1.6(q,2H)、δ1.9−1.6(m,8H)、δ0.9(t,3H)
1 H NMR data of the obtained M-13 are shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.4 (d, 2H), δ6.1 (dd, 1H), δ5.9 (tdd, 1H), 5.8 (d, 2H), δ5.3 (d , 1H), δ5.2 (d, 1H), δ4.6 (d, 2H), δ4.4 (s, 4H) δ1.6 (q, 2H), δ1.9-1.6 (m, 8H) ), Δ 0.9 (t, 3H)

(M−14の合成)
M−11と同様にして、1−ノナナール(和光純薬製)20.0gから5工程で得られたM−14の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−14を4.4g得た(5工程収率9%)。
(Synthesis of M-14)
In the same manner as in M-11, the crude product of M-14 obtained in 5 steps from 20.0 g of 1-nonanal (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) was purified by silica gel column chromatography, and 4.4 g of M-14 was purified. Obtained (5 step yield 9%).

得られたM−14の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,2H)、δ6.1(dd,1H)、δ5.9(tdd,1H)、5.8(d,2H)、δ5.3(d,1H)、δ5.2(d,1H)、δ4.6(d,2H)、δ4.4(s,4H)δ1.6(q,2H)、δ1.9−1.6(m,10H)、δ0.9(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-14 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.4 (d, 2H), δ6.1 (dd, 1H), δ5.9 (tdd, 1H), 5.8 (d, 2H), δ5.3 (d , 1H), δ5.2 (d, 1H), δ4.6 (d, 2H), δ4.4 (s, 4H) δ1.6 (q, 2H), δ1.9-1.6 (m, 10H) ), Δ 0.9 (t, 3H)

(M−15の合成)
2,7−オクタジエノール(東京化成製)12.6gをアセトン50mLに加え、ピリジン(和光純薬製)20gを添加した後、メタンスルホン酸クロリド(東京化成製)15gを氷冷しながら加え、還流下で5時間攪拌した。放冷後、反応混合液に0.2規定塩酸200mL、酢酸エチル300mLをそれぞれ加えて分液し、有機層を硫酸マグネシウム20gで乾燥させ、ろ過したろ液を濃縮して反応剤Aを得た。
2,2−ビス(ヒドロキシメチル)酪酸(東京化成製)11.8gをアセトン80mLに溶解させ、炭酸カリウム(和光純薬製)16.6g、先に調製した反応剤A全量、ヨウ化カリウム(東京化成製)0.5gを加えて還流下8時間攪拌した。放冷後、蒸留水150mL、酢酸エチル200mLをそれぞれ加えて分液し、有機層を硫酸マグネシウム15gで乾燥させ、ろ過したろ液を濃縮して反応中間体(M−15A)の粗生成物を得た。得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー精製し、M−15Aを3.5g得た。
得られたM−15Aをアセトン30mLに溶解させて氷浴中で冷却し、トリエチルアミン(和光純薬製)3.5gを加えた後アクリル酸クロリド(東京化成製)2.7gを滴下した。滴下終了後室温で2時間攪拌した後、炭酸水素ナトリウム水溶液(炭酸水素ナトリウム3g+水100ml)を添加した。酢酸エチル120mlを加えて分液した後、有機層を0.1規定塩酸水溶液50mlで洗浄し、硫酸マグネシウム5gで乾燥させた後、ろ液を濃縮してM−15の粗生成物を得た。
得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−15を3.8g得た(2工程収率13%)。
(Synthesis of M-15)
After adding 12.6 g of 2,7-octadienol (manufactured by Tokyo Chemical Industry) to 50 mL of acetone and 20 g of pyridine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.), 15 g of methanesulfonic acid chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry) is added while cooling with ice. And stirred for 5 hours under reflux. After allowing to cool, 200 mL of 0.2N hydrochloric acid and 300 mL of ethyl acetate were added to the reaction mixture, and the mixture was separated. The organic layer was dried over 20 g of magnesium sulfate, and the filtrate was concentrated to obtain Reactant A. .
11.8 g of 2,2-bis (hydroxymethyl) butyric acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) is dissolved in 80 mL of acetone, 16.6 g of potassium carbonate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.), the total amount of the reagent A prepared previously, potassium iodide ( Tokyo Chemical Co., Ltd.) 0.5 g was added and stirred for 8 hours under reflux. After standing to cool, 150 mL of distilled water and 200 mL of ethyl acetate were added and separated, and the organic layer was dried over 15 g of magnesium sulfate, and the filtered filtrate was concentrated to obtain a crude product of the reaction intermediate (M-15A). Obtained. The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 3.5 g of M-15A.
The obtained M-15A was dissolved in 30 mL of acetone and cooled in an ice bath. After adding 3.5 g of triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.), 2.7 g of acrylic acid chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was added dropwise. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at room temperature for 2 hours, and then an aqueous sodium bicarbonate solution (3 g of sodium bicarbonate + 100 ml of water) was added. After 120 ml of ethyl acetate was added for liquid separation, the organic layer was washed with 50 ml of 0.1N aqueous hydrochloric acid solution and dried over 5 g of magnesium sulfate, and then the filtrate was concentrated to obtain a crude product of M-15. .
The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 3.8 g of M-15 (2 step yield: 13%).

得られたM−15の1H NMRデータを示す。(E,Z−異性体混合)
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,2H)、δ6.1(dd,2H)、δ5.8(d,2H)、δ5.8−5.7(m,2H)、δ5.6−5.4(m,1H)、δ5.0(d,1H)、δ4.9(d,1H)、δ4,7(d,2H)、δ4.6(d,2H)、δ4.4(s,4H)、δ2.2−2.0(m,4H)、δ1.7(q,2H)、δ1.5(tt,2H)、δ0.9(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-15 is shown. (E, Z-isomer mixture)
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.4 (d, 2H), δ6.1 (dd, 2H), δ5.8 (d, 2H), δ5.8-5.7 (m, 2H), δ5 .6-5.4 (m, 1 H), δ 5.0 (d, 1 H), δ 4.9 (d, 1 H), δ 4, 7 (d, 2 H), δ 4.6 (d, 2 H), δ 4.. 4 (s, 4H), δ2.2-2.0 (m, 4H), δ1.7 (q, 2H), δ1.5 (tt, 2H), δ0.9 (t, 3H)

(M−16の合成)
2,2−ビス(ヒドロキシメチル)酪酸(東京化成製)12.2gをアセトン80mLに溶解させ、炭酸カリウム(和光純薬製)13.7g、臭化銅(東京化成製)0.5g、3−ブロモシクロヘキセン(東京化成製)13.3gをそれぞれ添加した後、還流下で6時間攪拌した。放冷後、蒸留水150mL、酢酸エチル200mLをそれぞれ加えて分液し、有機層を硫酸マグネシウム15gで乾燥させ、ろ過したろ液を濃縮して反応中間体(M−16A)の粗生成物を得た。
得られたM−16Aをアセトン100mLに溶解させて氷浴中で冷却し、トリエチルアミン(和光純薬製)20.2gを加えた後アクリル酸クロリド(東京化成製)16.5gのアセトン(15mL)溶液を滴下した。滴下終了後室温で2時間攪拌した後、炭酸水素ナトリウム水溶液(炭酸水素ナトリウム5g+水200ml)を添加した。酢酸エチル250mlを加えて分液した後、有機層を0.1規定塩酸水溶液150mlで洗浄し、硫酸マグネシウム15gで乾燥させた後、ろ液を濃縮してM−16の粗生成物を得た。
得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−16を11.6g得た(2工程収率42%)。
(Synthesis of M-16)
12.2 g of 2,2-bis (hydroxymethyl) butyric acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) is dissolved in 80 mL of acetone, 13.7 g of potassium carbonate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries), 0.5 g of copper bromide (manufactured by Tokyo Chemical Industry), 3 -After adding 13.3 g of bromocyclohexene (manufactured by Tokyo Chemical Industry), the mixture was stirred for 6 hours under reflux. After standing to cool, 150 mL of distilled water and 200 mL of ethyl acetate were added and separated. The organic layer was dried over 15 g of magnesium sulfate, and the filtrate was concentrated to obtain a crude product of the reaction intermediate (M-16A). Obtained.
The obtained M-16A was dissolved in 100 mL of acetone, cooled in an ice bath, 20.2 g of triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) was added, and then 16.5 g of acetone (15 mL) of acrylic acid chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry). The solution was added dropwise. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at room temperature for 2 hours, and then an aqueous sodium hydrogen carbonate solution (5 g of sodium hydrogen carbonate + 200 ml of water) was added. After 250 ml of ethyl acetate was added for liquid separation, the organic layer was washed with 150 ml of 0.1N aqueous hydrochloric acid solution and dried with 15 g of magnesium sulfate, and then the filtrate was concentrated to obtain a crude product of M-16. .
The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 11.6 g of M-16 (2 step yield: 42%).

得られたM−16の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,2H)、δ6.1(dd,2H)、δ5.9(dd,1H)、δ5.8(d,2H)、δ5.7(td,1H)、δ5.3(td,1H)、δ4.4(s,4H)、δ2.1−1.9(m,2H)、δ1.8−1.5(m,6H)、δ0.9(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-16 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.4 (d, 2H), δ 6.1 (dd, 2H), δ 5.9 (dd, 1H), δ 5.8 (d, 2H), δ 5.7 (td , 1H), δ5.3 (td, 1H), δ4.4 (s, 4H), δ2.1-1.9 (m, 2H), δ1.8-1.5 (m, 6H), δ0. 9 (t, 3H)

(M−17の合成)
2,2−ビス(ヒドロキシメチル)プロピオン酸(東京化成製)20.8gをN−メチルピロリドン200mLに加え、炭酸水素ナトリウム(和光純薬製)14.3g、2−ブロモエタノール(東京化成製)21.3gをそれぞれ添加して80℃に加熱し、8時間攪拌した。放冷後、反応混合液に3−クロロプロピオニルクロリド(東京化成製)82.7gを滴下した後、50℃で4時間攪拌した。放冷後、氷浴中で反応混合液に飽和炭酸水素ナトリウム水溶液400mLを添加し、酢酸エチル400mLを加えて分液した。有機層を0.1規定塩酸200mLで洗浄し、硫酸マグネシウム20gで乾燥した後にろ過して、ろ液を濃縮した。
得られた中間体粗生成物(M−17A)をアセトン150mLに溶解させて氷浴中で冷却し、トリエチルアミン(和光純薬製)65.9gを滴下した。40℃で2時間攪拌した後、蒸留水200mL、酢酸エチル300mLをそれぞれ加えて分液した後、有機層を0.1規定塩酸水溶液150mLで洗浄した。有機層を硫酸マグネシウム20gで乾燥させた後、ろ液を濃縮してM−17の粗生成物を得た。
得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−17を33.3g得た(3工程収率63%)。
(Synthesis of M-17)
20.8 g of 2,2-bis (hydroxymethyl) propionic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) is added to 200 mL of N-methylpyrrolidone, 14.3 g of sodium hydrogen carbonate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries), 2-bromoethanol (manufactured by Tokyo Chemical Industry) 21.3 g of each was added, heated to 80 ° C., and stirred for 8 hours. After allowing to cool, 82.7 g of 3-chloropropionyl chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was added dropwise to the reaction mixture, followed by stirring at 50 ° C. for 4 hours. After allowing to cool, 400 mL of a saturated aqueous sodium hydrogen carbonate solution was added to the reaction mixture in an ice bath, and 400 mL of ethyl acetate was added for liquid separation. The organic layer was washed with 200 mL of 0.1N hydrochloric acid, dried over 20 g of magnesium sulfate and filtered, and the filtrate was concentrated.
The obtained intermediate crude product (M-17A) was dissolved in 150 mL of acetone and cooled in an ice bath, and 65.9 g of triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) was added dropwise. After stirring at 40 ° C. for 2 hours, 200 mL of distilled water and 300 mL of ethyl acetate were added and separated, and the organic layer was washed with 150 mL of 0.1 N hydrochloric acid aqueous solution. The organic layer was dried over 20 g of magnesium sulfate, and then the filtrate was concentrated to obtain a crude product of M-17.
The resulting crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 33.3 g of M-17 (3 step yield: 63%).

得られたM−17の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.5(d,2H)、δ6.4(d,1H)、δ6.2(dd,1H)、6.1(dd,2H)、δ5.8(d,1H)、δ5.8(d,2H)、δ4.4−4.3(m,8H)、δ1.3(s,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-17 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.5 (d, 2H), δ6.4 (d, 1H), δ6.2 (dd, 1H), 6.1 (dd, 2H), δ5.8 (d , 1H), δ5.8 (d, 2H), δ4.4-4.3 (m, 8H), δ1.3 (s, 3H)

(M−18の合成)
n−オクタノール(東京化成製)10.1gとエピクロロヒドリン(東京化成製)14.4gを混合し、テトラブチルアンモニウムブロミド(和光純薬製)1.6g、水酸化ナトリウム(和光純薬製)4,7gをそれぞれ添加し、40℃で6時間攪拌した。放冷後、反応混合液に蒸留水100mL、酢酸エチル150mLを加えて分液し、有機層を硫酸マグネシウム15gで乾燥した後、ろ過してろ液を濃縮し、反応中間体(M−18A)の粗生成物を得た。
得られたM−18Aをトルエン20mLに溶解させ、アクリル酸(東京化成製)6.5g、テトラブチルアンモニウムブロミド(和光純薬製)1.2g、4−メトキシフェノール(東京化成製)少量をそれぞれ添加し、90℃に加熱して10時間攪拌した。
放冷後、反応混合液をアセトン50mLに溶解させて氷浴中で冷却し、トリエチルアミン(和光純薬製)7.6gを加えた後アクリル酸クロリド(東京化成製)6.8gを滴下した。滴下終了後室温で2時間攪拌した後、炭酸水素ナトリウム水溶液(炭酸水素ナトリウム2g+水100mL)を添加した。酢酸エチル150mlを加えて分液した後、有機層を0.1規定塩酸水溶液100mLで洗浄し、硫酸マグネシウム10gで乾燥させた後、ろ液を濃縮してM−18の粗生成物を得た。
得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−18を13.3g得た(3工程収率55%)。
(Synthesis of M-18)
n-octanol (Tokyo Kasei) 10.1 g and epichlorohydrin (Tokyo Kasei) 14.4 g are mixed, tetrabutylammonium bromide (Wako Pure Chemical) 1.6 g, sodium hydroxide (Wako Pure Chemical) ) 4 and 7 g were added and stirred at 40 ° C. for 6 hours. After allowing to cool, 100 mL of distilled water and 150 mL of ethyl acetate were added to the reaction mixture, and the mixture was separated. The organic layer was dried over 15 g of magnesium sulfate, filtered, and the filtrate was concentrated to obtain a reaction intermediate (M-18A). A crude product was obtained.
The obtained M-18A was dissolved in 20 mL of toluene, 6.5 g of acrylic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry), 1.2 g of tetrabutylammonium bromide (manufactured by Wako Pure Chemical Industries), and a small amount of 4-methoxyphenol (manufactured by Tokyo Chemical Industry), respectively. The mixture was added, heated to 90 ° C. and stirred for 10 hours.
After allowing to cool, the reaction mixture was dissolved in 50 mL of acetone and cooled in an ice bath, 7.6 g of triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries) was added, and 6.8 g of acrylic acid chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was added dropwise. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at room temperature for 2 hours, and then an aqueous sodium hydrogen carbonate solution (2 g of sodium hydrogen carbonate + 100 mL of water) was added. After 150 ml of ethyl acetate was added for liquid separation, the organic layer was washed with 100 mL of 0.1N aqueous hydrochloric acid solution and dried with 10 g of magnesium sulfate, and then the filtrate was concentrated to obtain a crude product of M-18. .
The resulting crude product was purified by silica gel column chromatography to obtain 13.3 g of M-18 (3 step yield: 55%).

得られたM−18の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,1H)、δ6.3(d,1H)、δ6.2(dd,1H)、6.1(dd,1H)、δ5.8(d,1H)、δ5.8(d,1H)、δ5.3(dddd,1H)、δ4.4(dd,1H)δ4.3(dd,1H)、δ3.6(t,2H)、δ3.5−3.3(m,2H)、δ1.6−1.5(m,2H)、δ1.4−1.1(m,10H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-18 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.4 (d, 1H), δ6.3 (d, 1H), δ6.2 (dd, 1H), 6.1 (dd, 1H), δ5.8 (d , 1H), δ5.8 (d, 1H), δ5.3 (dddd, 1H), δ4.4 (dd, 1H), δ4.3 (dd, 1H), δ3.6 (t, 2H), δ3. 5-3.3 (m, 2H), δ 1.6-1.5 (m, 2H), δ 1.4-1.1 (m, 10H), δ 0.8 (t, 3H)

(M−19の合成)
M−18と同様にして、n−デカノール(東京化成製)12.0gからM−18の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−19を14.6g得た(3工程収率57%)。
(Synthesis of M-19)
In the same manner as M-18, the crude product of M-18 was purified from 12.0 g of n-decanol (manufactured by Tokyo Chemical Industry) by silica gel column chromatography to obtain 14.6 g of M-19 (3-step yield) 57%).

得られたM−19の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,1H)、δ6.3(d,1H)、δ6.2(dd,1H)、6.1(dd,1H)、δ5.8(d,1H)、δ5.8(d,1H)、δ5.3(dddd,1H)、δ4.4(dd,1H)δ4.3(dd,1H)、δ3.6(t,2H)、δ3.5−3.3(m,2H)、δ1.6−1.5(m,2H)、δ1.4−1.1(m,14H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-19 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.4 (d, 1H), δ6.3 (d, 1H), δ6.2 (dd, 1H), 6.1 (dd, 1H), δ5.8 (d , 1H), δ5.8 (d, 1H), δ5.3 (dddd, 1H), δ4.4 (dd, 1H), δ4.3 (dd, 1H), δ3.6 (t, 2H), δ3. 5-3.3 (m, 2H), δ 1.6-1.5 (m, 2H), δ 1.4-1.1 (m, 14H), δ 0.8 (t, 3H)

(M−20の合成)
M−18と同様にして、ゲラニオール(東京化成製)12.0gからM−20の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−20を13.4g得た(3工程収率51%)。
(Synthesis of M-20)
In the same manner as M-18, the crude product of M-20 from 12.0 g of geraniol (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was purified by silica gel column chromatography to obtain 13.4 g of M-20 (3 step yield: 51%). ).

得られたM−20の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.5(d,1H)、δ6.4(d,1H)、δ6.2(dd,1H)、6.1(dd,1H)、δ5.8(d,1H)、δ5.8(d,1H)、δ5.4−5.3(m,2H)、δ5.1−5.0(m,1H)δ4.4(dd,1H)、δ4.3(dd,1H)、δ4.0(dd,1H)、δ4.0(dd,1H)δ2.2−1.9(m,4H)、δ1.7(s,3H)、δ1.7(s,3H)、δ1.6(s,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-20 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.5 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.2 (dd, 1 H), 6.1 (dd, 1 H), δ 5.8 (d , 1H), δ5.8 (d, 1H), δ5.4-5.3 (m, 2H), δ5.1-5.0 (m, 1H) δ4.4 (dd, 1H), δ4.3 (Dd, 1H), δ 4.0 (dd, 1H), δ 4.0 (dd, 1H) δ 2.2-1.9 (m, 4H), δ 1.7 (s, 3H), δ 1.7 (s , 3H), δ 1.6 (s, 3H)

(M−21の合成)
M−4と同様にして、1,2−テトラデカンジオール(東京化成製)15.0gから得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製して、M−21を15.4g得た。(収率70%)
(Synthesis of M-21)
In the same manner as M-4, the crude product obtained from 15.0 g of 1,2-tetradecanediol (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was purified by silica gel column chromatography to obtain 15.4 g of M-21. (Yield 70%)

得られたM−21の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.9(d,1H)、δ6.8(d,1H)、δ6.3(dd,1H)、δ6.2(dd,1H)、δ5.7(d,1H)、δ5.7(d,1H)、δ5.3(tdd,1H)、δ4.6(dd,1H)、δ4.3(dd,1H)、δ1.6(td,2H)、δ1.4−1.2(m,20H)、δ0.7(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-21 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.9 (d, 1 H), δ 6.8 (d, 1 H), δ 6.3 (dd, 1 H), δ 6.2 (dd, 1 H), δ 5.7 (d , 1H), δ5.7 (d, 1H), δ5.3 (tdd, 1H), δ4.6 (dd, 1H), δ4.3 (dd, 1H), δ1.6 (td, 2H), δ1 4-1.2 (m, 20H), δ 0.7 (t, 3H)

(M−22の合成)
M−7と同様にして、9−デセン酸(東京化成製)8.0gから2工程で得られたM−22の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−22を11.4g得た(2工程収率69%)。
(Synthesis of M-22)
In the same manner as M-7, the crude product of M-22 obtained in 2 steps from 8.0 g of 9-decenoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was purified by silica gel column chromatography, and 11.4 g of M-22 was purified. Obtained (2 step yield 69%).

得られたM−22の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.5(d,1H)、δ6.4(d,1H)、δ6.2(d,1H)、6.1(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.9(d,1H)、δ5.8−5.7(m,1H)、δ5.5−5.4(m,1H)δ5.0(d,1H)、δ4.9(d,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.4(t,2H)、δ2.0(t,2H)、δ1.6(t,2H)、δ1.4−1.2(m,8H)
The 1 H NMR data of the obtained M-22 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.5 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.2 (d, 1 H), 6.1 (d, 1 H), δ 5.9 (d , 1H), δ5.9 (d, 1H), δ5.8-5.7 (m, 1H), δ5.5-5.4 (m, 1H) δ5.0 (d, 1H), δ4.9 (D, 1H), δ4.5-4.2 (m, 4H), δ2.4 (t, 2H), δ2.0 (t, 2H), δ1.6 (t, 2H), δ1.4- 1.2 (m, 8H)

(M−23の合成)
M−18と同様にして、n−ヘプタノール(東京化成製)9.1gからM−23の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−23を11.7g得た(3工程収率50%)。
(Synthesis of M-23)
In the same manner as M-18, a crude product of M-23 was purified from 9.1 g of n-heptanol (manufactured by Tokyo Chemical Industry) by silica gel column chromatography to obtain 11.7 g of M-23 (3-step yield). 50%).

得られたM−23の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,1H)、δ6.3(d,1H)、δ6.2(dd,1H)、6.1(dd,1H)、δ5.8(d,1H)、δ5.8(d,1H)、δ5.3(dddd,1H)、δ4.4(dd,1H)δ4.3(dd,1H)、δ3.6(t,2H)、δ3.5−3.3(m,2H)、δ1.6−1.5(m,2H)、δ1.4−1.1(m,8H)、δ0.9(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-23 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ6.4 (d, 1H), δ6.3 (d, 1H), δ6.2 (dd, 1H), 6.1 (dd, 1H), δ5.8 (d , 1H), δ5.8 (d, 1H), δ5.3 (dddd, 1H), δ4.4 (dd, 1H), δ4.3 (dd, 1H), δ3.6 (t, 2H), δ3. 5-3.3 (m, 2H), δ 1.6-1.5 (m, 2H), δ 1.4-1.1 (m, 8H), δ 0.9 (t, 3H)

(M−24の合成)
M−5と同様にして、n−ヘキサン酸(東京化成製)15.0gから3工程で得られたM−24の粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し、M−24を9.2g得た(3工程収率24%)。
(Synthesis of M-24)
In the same manner as M-5, the crude product of M-24 obtained in 3 steps from 15.0 g of n-hexanoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry) was purified by silica gel column chromatography, and 9.2 g of M-24 was obtained. Obtained (3 step yield 24%).

得られたM−24の1H NMRデータを示す。
1H NMR(300MHz、CDCl3)δ6.4(d,1H)、δ6.4(d,1H)、δ6.2−6.1(m,2H)、δ5.8(d,1H)、δ5.8(d,1H)δ5.4(dddd,1H)、δ4.5−4.2(m,4H)、δ2.3(t,2H)、δ1.6(t,2H)、δ1.4−1.2(m,6H)、δ0.8(t,3H)
The 1 H NMR data of the obtained M-24 is shown.
1 H NMR (300 MHz, CDCl 3 ) δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.4 (d, 1 H), δ 6.2-6.1 (m, 2 H), δ 5.8 (d, 1 H), δ 5 .8 (d, 1H) δ 5.4 (dddd, 1H), δ 4.5-4.2 (m, 4H), δ 2.3 (t, 2H), δ 1.6 (t, 2H), δ 1.4 -1.2 (m, 6H), δ0.8 (t, 3H)

<光重合開始剤>
P−1:2,4,6−トリメチルベンゾイル−エトキシフェニル−ホスフィンオキシド(Lucirin TPO−L:BASF社製)
<Photopolymerization initiator>
P-1: 2,4,6-trimethylbenzoyl-ethoxyphenyl-phosphine oxide (Lucirin TPO-L: manufactured by BASF)

<非イオン性界面活性剤>
W−1:フッ素系界面活性剤(大日本インキ化学工業(株)製:メガファックF780F)
<Nonionic surfactant>
W-1: Fluorosurfactant (Dainippon Ink & Chemicals, Inc .: MegaFuck F780F)

Figure 2011057565
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[比較例1]
実施例1において、M−1をM−23に置き換えた以外は同様にして比較例1の組成物を調製した。
[Comparative Example 1]
A composition of Comparative Example 1 was prepared in the same manner except that M-1 was replaced with M-23 in Example 1.

[比較例2]
実施例1において、M−1をM−24に置き換えた以外は同様にして比較例2の組成物を調製した。
[Comparative Example 2]
A composition of Comparative Example 2 was prepared in the same manner except that M-1 was replaced with M-24 in Example 1.

[比較例3]
実施例1において、M−1をM−25に置き換えた以外は同様にして比較例3の組成物を調製した。
[Comparative Example 3]
A composition of Comparative Example 3 was prepared in the same manner except that M-1 was replaced with M-25 in Example 1.

[比較例4]
実施例1において、M−1をM−26に置き換えた以外は同様にして比較例4の組成物を調製した。
[Comparative Example 4]
A composition of Comparative Example 4 was prepared in the same manner except that M-1 was replaced with M-26 in Example 1.

[比較例5]
実施例1において、M−1をM−27に置き換えた以外は同様にして比較例5の組成物を調製した。
[Comparative Example 5]
A composition of Comparative Example 5 was prepared in the same manner except that M-1 was replaced with M-27 in Example 1.

[比較例6]
実施例1において、M−1をM−29に置き換えた以外は同様にして比較例6の組成物を調製した。
[Comparative Example 6]
A composition of Comparative Example 6 was prepared in the same manner except that M-1 was replaced with M-29 in Example 1.

Figure 2011057565
Figure 2011057565
Figure 2011057565
Figure 2011057565

<装置内汚染の評価>
上記で調製した組成物を、膜厚が3.0μmとなるようにガラス基板上にスピンコートした。スピンコートした塗布基膜をORC社製の高圧水銀灯(ランプパワー2000mW/cm2)を光源とするナノインプリント装置にセットした。次いで、装置内を真空とし(真空度1Torr、約133Pa)、30秒間保持した。
このとき、装置内のガラス基板から1mmの距離に別の対向ガラス基板を設置しておき、その表面の曇りを観察することで装置内の汚染レベルを以下のとおり評価した。
A:対向ガラス表面に全く曇りがなく、汚染は全く見られない
B:対向ガラス表面がかすかに曇るものの、汚染はほとんど見られない
C:対向ガラス表面が曇り、やや汚染が見られる
D:対向ガラス表面にはっきりと組成物が付着しており、汚染が見られる
E:対向ガラス表面にはっきりと大量の組成物が付着した後、付着物が見えなくなった。
<Evaluation of internal contamination>
The composition prepared above was spin-coated on a glass substrate so that the film thickness was 3.0 μm. The spin-coated coated base film was set in a nanoimprint apparatus using an ORC high pressure mercury lamp (lamp power 2000 mW / cm 2 ) as a light source. Next, the inside of the apparatus was evacuated (vacuum degree: 1 Torr, about 133 Pa) and held for 30 seconds.
At this time, another opposing glass substrate was installed at a distance of 1 mm from the glass substrate in the apparatus, and the contamination level in the apparatus was evaluated as follows by observing the cloudiness of the surface.
A: There is no cloudiness on the surface of the opposing glass, and no contamination is observed. B: The surface of the opposing glass is slightly clouded, but almost no contamination is observed. C: The surface of the opposing glass is cloudy and slightly contaminated. D: Opposite The composition is clearly attached to the glass surface, and contamination is seen. E: After a large amount of the composition is clearly attached to the surface of the opposing glass, the attached matter disappeared.

(光照射による硬化)
上記で調製した組成物を、膜厚が3.0μmとなるようにガラス基板上にスピンコートした。スピンコートした塗布基膜をORC社製の高圧水銀灯(ランプパワー2000mW/cm2)を光源とするナノインプリント装置にセットした。次いで、装置内を真空とした後(真空度10Torr、約1.33kPa)、窒素パージ(1.5気圧:モールド押し圧)を行い、装置内を窒素置換した。
これに照度10mW/cm2、露光量240mJ/cm2の条件で露光した。得られた硬化層の硬化性を以下のとおり評価した。
○:レジストパターンにタックが見られない。
×:レジストパターンにタックが見られる。
(Curing by light irradiation)
The composition prepared above was spin-coated on a glass substrate so that the film thickness was 3.0 μm. The spin-coated coated base film was set in a nanoimprint apparatus using an ORC high pressure mercury lamp (lamp power 2000 mW / cm 2 ) as a light source. Next, after the inside of the apparatus was evacuated (vacuum degree: 10 Torr, about 1.33 kPa), nitrogen purge (1.5 atm: mold pressing pressure) was performed to replace the inside of the apparatus with nitrogen.
This was exposed under conditions of an illuminance of 10 mW / cm 2 and an exposure amount of 240 mJ / cm 2 . The curability of the obtained cured layer was evaluated as follows.
○: Tack is not seen in the resist pattern.
X: Tack is seen in the resist pattern.

Figure 2011057565
Figure 2011057565

実施例1〜22の組成物は、いずれも揮発性が低いため、装置内汚染をほとんど引き起こさないことが分かった。   It turned out that the composition of Examples 1-22 hardly causes the contamination in an apparatus, since all have low volatility.

一方、比較例1〜5の組成物は、いずれも揮発性が高く、装置内汚染を引き起こすという結果であった。比較例6は対向ガラスが激しく汚染された後に汚染が消えた。これはM−28の揮発性が高すぎるためと推定され、問題の解決になっていない。   On the other hand, the compositions of Comparative Examples 1 to 5 were all highly volatile and resulted in in-device contamination. In Comparative Example 6, the contamination disappeared after the opposing glass was severely contaminated. This is presumed to be because the volatility of M-28 is too high, and does not solve the problem.

2.光ナノインプリント用硬化性組成物の調製
上記(メタ)アクリレートM−1(70質量%)、下記低粘度重合性単量体R−1(10質量%)、下記シランカップリング剤C−1(20質量%)、上記光重合開始剤P−1(重合性単量体の全量に対して2質量%)、下記酸化防止剤A−1(重合性単量体の全量に対して0.5質量%)、下記離型剤S−1(重合性単量体の全量に対して1質量%)を加えて実施例23の光ナノインプリント用硬化性組成物を調製した。
2. Preparation of curable composition for optical nanoimprints The above (meth) acrylate M-1 (70% by mass), the following low-viscosity polymerizable monomer R-1 (10% by mass), and the following silane coupling agent C-1 (20 Mass%), the photopolymerization initiator P-1 (2 mass% based on the total amount of the polymerizable monomer), and the following antioxidant A-1 (0.5 mass based on the total amount of the polymerizable monomer). %) And the following release agent S-1 (1% by mass relative to the total amount of the polymerizable monomer) were added to prepare a curable composition for optical nanoimprinting of Example 23.

[実施例24〜32]
実施例23において、上記光ナノインプリント用硬化性組成物をそれぞれ下記表7、表8記載の化合物に変更した以外は実施例21と同様にして、実施例24〜32の組成物を調製した。
[Examples 24-32]
In Example 23, the composition of Examples 24-32 was prepared like Example 21 except having changed the said curable composition for optical nanoimprint into the compound of following Table 7 and Table 8, respectively.

<低粘度重合性単量体>
R−1:ノナンジオールジアクリレート
<Low viscosity polymerizable monomer>
R-1: Nonanediol diacrylate

<シランカップリング剤>
C−1:3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン(KBM−5103、信越化学製)
C−2:3−アミノプロピルトリメトキシシラン(KBM−903、信越化学製)
<Silane coupling agent>
C-1: 3-acryloxypropyltrimethoxysilane (KBM-5103, manufactured by Shin-Etsu Chemical)
C-2: 3-aminopropyltrimethoxysilane (KBM-903, manufactured by Shin-Etsu Chemical)

<酸化防止剤>
A−1:スミライザーGA80(住友化学(株)製)
A−2:Irganox1035FF(Ciba社製)
<Antioxidant>
A-1: Sumilizer GA80 (manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.)
A-2: Irganox 1035FF (manufactured by Ciba)

<離型剤>
S−1:変性シリコーンKF−410(信越化学製)

Figure 2011057565
Figure 2011057565
<Release agent>
S-1: Modified silicone KF-410 (manufactured by Shin-Etsu Chemical)
Figure 2011057565
Figure 2011057565

[比較例7]
実施例23において、M−1をM−24に置き換えた以外は同様にして比較例7の組成物を調製した。
[Comparative Example 7]
A composition of Comparative Example 7 was prepared in the same manner except that M-1 was replaced with M-24 in Example 23.

[比較例8]
実施例25において、M−4をM−26に置き換えた以外は同様にして比較例8の組成物を調製した。
[Comparative Example 8]
A composition of Comparative Example 8 was prepared in the same manner except that M-4 was replaced with M-26 in Example 25.

[比較例9]
実施例28において、M−10をM−28に置き換えた以外は同様にして比較例9の組成物を調製した。
[Comparative Example 9]
A composition of Comparative Example 9 was prepared in the same manner as in Example 28, except that M-10 was replaced with M-28.

[比較例10]
上記(メタ)アクリレートM−28(10質量%)、上記低粘度重合性単量体R−1(80質量%)、上記シランカップリング剤C−1(10質量%)、上記光重合開始剤P−1(重合性単量体の全量に対して2質量%)、上記酸化防止剤A−1(重合性単量体の全量に対して0.2質量%)、上記酸化防止剤A−2(重合性単量体の全量に対して0.2質量%)上記離型剤S−1(重合性単量体の全量に対して1質量%)を加えて比較例10の組成物を調製した。
[Comparative Example 10]
The (meth) acrylate M-28 (10% by mass), the low-viscosity polymerizable monomer R-1 (80% by mass), the silane coupling agent C-1 (10% by mass), and the photopolymerization initiator. P-1 (2% by mass with respect to the total amount of the polymerizable monomer), the antioxidant A-1 (0.2% by mass with respect to the total amount of the polymerizable monomer), and the antioxidant A- 2 (0.2% by mass with respect to the total amount of the polymerizable monomer) The release agent S-1 (1% by mass with respect to the total amount of the polymerizable monomer) was added, and the composition of Comparative Example 10 was added. Prepared.

[比較例11]
上記(メタ)アクリレートM−28(15質量%)、上記(メタ)アクリレートM−29(75質量%)、上記シランカップリング剤C−1(10質量%)、上記光重合開始剤P−1(重合性単量体の全量に対して2質量%)、上記酸化防止剤A−1(重合性単量体の全量に対して0.2質量%)、上記酸化防止剤A−2(重合性単量体の全量に対して0.2質量%)上記離型剤S−1(重合性単量体の全量に対して1質量%)を加えて比較例11の組成物を調製した。
[Comparative Example 11]
The (meth) acrylate M-28 (15% by mass), the (meth) acrylate M-29 (75% by mass), the silane coupling agent C-1 (10% by mass), and the photopolymerization initiator P-1. (2% by mass with respect to the total amount of the polymerizable monomer), the antioxidant A-1 (0.2% by mass with respect to the total amount of the polymerizable monomer), the antioxidant A-2 (polymerization) The composition of Comparative Example 11 was prepared by adding the release agent S-1 (1% by mass with respect to the total amount of the polymerizable monomer).

Figure 2011057565
Figure 2011057565

<組成物粘度の評価>
組成物(硬化前)の粘度の測定は、東機産業(株)社製のRE−80L型回転粘度計を用い、25±0.2℃で測定した。
測定時の回転速度は、0.5mPa・s以上5mPa・s未満は100rpm、5mPa・s以上10mPa・s未満は50rpm、10mPa・s以上30mPa・s未満は20rpm、30mPa・s以上60mPa・s未満は10rpmで、それぞれ行い、その粘度範囲に応じて次のように分類し、評価した。
A:12mPa・s未満
B:12mPa・s以上18mPa・s未満
C:18mPa・s以上30mPa・s未満
D:30mPa・s以上
<Evaluation of composition viscosity>
The viscosity of the composition (before curing) was measured at 25 ± 0.2 ° C. using a RE-80L rotational viscometer manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.
The rotation speed during measurement is 100 rpm for 0.5 mPa · s to less than 5 mPa · s, 50 rpm for 5 mPa · s to less than 10 mPa · s, 20 rpm for 10 mPa · s to less than 30 mPa · s, and 30 mPa · s to less than 60 mPa · s. Were performed at 10 rpm, and classified and evaluated as follows according to the viscosity range.
A: Less than 12 mPa · s B: 12 mPa · s or more and less than 18 mPa · s C: 18 mPa · s or more and less than 30 mPa · s D: 30 mPa · s or more

<装置内汚染の評価>
上記で調製した組成物を、膜厚が3.0μmとなるようにガラス基板上にスピンコートした。スピンコートした塗布基膜をORC社製の高圧水銀灯(ランプパワー2000mW/cm2)を光源とするナノインプリント装置にセットした。次いで、装置内を真空とし(真空度1Torr、約133Pa)、30秒間保持した。
このとき、装置内のガラス基板から1mmの距離に別の対向ガラス基板を設置しておき、その表面の曇りを観察することで装置内の汚染レベルを以下のとおり評価した。
A:対向ガラス表面に全く曇りがなく、汚染は全く見られない
B:対向ガラス表面がかすかに曇るものの、汚染はほとんど見られない
C:対向ガラス表面が曇り、やや汚染が見られる
D:対向ガラス表面にはっきりと組成物が付着しており、汚染が見られる
E:対向ガラス表面にはっきりと大量の組成物が付着した後、付着物が見えなくなった。
<Evaluation of internal contamination>
The composition prepared above was spin-coated on a glass substrate so that the film thickness was 3.0 μm. The spin-coated coated base film was set in a nanoimprint apparatus using an ORC high pressure mercury lamp (lamp power 2000 mW / cm 2 ) as a light source. Next, the inside of the apparatus was evacuated (vacuum degree: 1 Torr, about 133 Pa) and held for 30 seconds.
At this time, another opposing glass substrate was installed at a distance of 1 mm from the glass substrate in the apparatus, and the contamination level in the apparatus was evaluated as follows by observing the cloudiness of the surface.
A: There is no cloudiness on the surface of the opposing glass, and no contamination is observed. B: The surface of the opposing glass is slightly clouded, but almost no contamination is observed. C: The surface of the opposing glass is cloudy and slightly contaminated. D: Opposite The composition is clearly attached to the glass surface, and contamination is seen. E: After a large amount of the composition is clearly attached to the surface of the opposing glass, the attached matter disappeared.

<パターン精度の観察>
各組成物を、膜厚3.0μmとなるようにガラス基板上にスピンコートした。スピンコートした塗布基膜をORC社製の高圧水銀灯(ランプパワー2000mW/cm2)を光源とするナノインプリント装置にセットし、モールド加圧力0.8kN、露光中の真空度は5Torrで、10μmのライン/スペースパターンを有し、溝深さが4.0μmのポリジメチルシロキサン(東レ・ダウコーニング社製、SILPOT184を80℃60分で硬化させたもの)を材質とするモールドの表面から240mJ/cm2の条件で露光し、露光後、モールドを離し、レジストパターンを得た。得られたレジストパターンをオーブンで230℃、30分間加熱することにより完全に硬化させた。
転写後のパターン形状を走査型電子顕微鏡もしくは光学顕微鏡にて観察し、パターン形状を以下のように評価した。
A:モールドのパターン形状の元となる原版のパターンとほぼ同一である
B:モールドのパターン形状の元となる原版のパターン形状と一部異なる部分(原版のパターンと5%未満の範囲)がある
C:モールドのパターン形状の元となる原版のパターン形状と一部異なる部分(原版のパターンと5%以上10%未満の範囲)がある
D:モールドのパターン形状の元となる原版のパターン形状と異なる部分(原版のパターンと10%以上20%未満の範囲)がある
E:モールドのパターン形状の元となる原版のパターンとはっきりと異なる、あるいはパターンの膜厚が原版のパターンと20%以上異なる
<Observation of pattern accuracy>
Each composition was spin-coated on a glass substrate so as to have a film thickness of 3.0 μm. The spin-coated coated base film is set in a nanoimprint apparatus using an ORC high pressure mercury lamp (lamp power: 2000 mW / cm 2 ) as a light source, the mold pressure is 0.8 kN, the degree of vacuum during exposure is 5 Torr, and a line of 10 μm. / 240 mJ / cm 2 from the surface of a mold having a space pattern and a groove depth of 4.0 μm made of polydimethylsiloxane (made by Toray Dow Corning, SILPOT184 cured at 80 ° C. for 60 minutes) After exposure, the mold was released to obtain a resist pattern. The obtained resist pattern was completely cured by heating in an oven at 230 ° C. for 30 minutes.
The pattern shape after the transfer was observed with a scanning electron microscope or an optical microscope, and the pattern shape was evaluated as follows.
A: Almost the same as the pattern of the original plate that is the basis of the pattern shape of the mold. B: There is a portion that is partly different from the pattern shape of the original plate that is the basis of the pattern shape of the mold (the range of the original pattern is less than 5%). C: There is a part (a range of 5% or more and less than 10% of the pattern of the original plate) that is partly different from the original pattern shape of the mold pattern shape. D: The original pattern shape of the mold pattern shape. There is a different part (the original pattern and a range of 10% or more and less than 20%) E: The mold pattern shape is clearly different from the original pattern, or the pattern film thickness is 20% or more different from the original pattern

Figure 2011057565
Figure 2011057565

実施例23〜32の光ナノインプリント用硬化性組成物はいずれも低粘度であり、硬化後にパターン精度の高いパターンを作成することができた。加えて、揮発性が低いため、装置内の汚染を生じることなくパターン形成でき、ナノインプリント適性に優れた組成物であることが分かった。   Each of the curable compositions for optical nanoimprints of Examples 23 to 32 had a low viscosity, and a pattern with high pattern accuracy could be created after curing. In addition, since it has low volatility, it has been found that the composition can be formed without causing contamination in the apparatus, and is a composition excellent in nanoimprint suitability.

比較例7、8は低粘度であり、硬化後にパターン精度の高いパターンを作成することができたが、装置内に汚染を生じた。   Comparative Examples 7 and 8 had a low viscosity, and a pattern with high pattern accuracy could be created after curing, but contamination occurred in the apparatus.

比較例9は装置内の汚染を生じることなくパターン形成できたが、高粘度であり、硬化後のパターン精度が低かった。   In Comparative Example 9, the pattern could be formed without causing contamination in the apparatus, but the viscosity was high and the pattern accuracy after curing was low.

比較例10は粘度も高めであり、硬化後のパターン精度も低く、また装置内に汚染を生じた。   In Comparative Example 10, the viscosity was high, the pattern accuracy after curing was low, and the apparatus was contaminated.

比較例11は低粘度であったが、パターン精度が低かった。装置内汚染の評価結果では対向ガラスに大量に組成物が付着した後に消えたことから、非常に揮発性の高いM−27が真空下で揮発して組成物の構成が変化したためと推定された。   Comparative Example 11 had a low viscosity, but the pattern accuracy was low. In the evaluation result of the contamination in the apparatus, it disappeared after a large amount of the composition adhered to the facing glass, so it was estimated that the highly volatile M-27 volatilized under vacuum and the composition of the composition changed. .

本発明により、低粘度で低揮発性の化合物を提供することが可能になった。この結果、硬化性組成物として用いた場合、硬化性に優れ、かつ、装置内を汚染しない硬化性組成物を提供可能になった。さらに、ナノインプリント用硬化性組成物として用いた場合、パターン精度に優れ、装置内を汚染しないナノインプリント用硬化性組成物を提供可能になった。   According to the present invention, it has become possible to provide a compound having low viscosity and low volatility. As a result, when used as a curable composition, it is possible to provide a curable composition that has excellent curability and does not contaminate the inside of the apparatus. Furthermore, when used as a curable composition for nanoimprints, it is possible to provide a curable composition for nanoimprints that has excellent pattern accuracy and does not contaminate the inside of the apparatus.

Claims (12)

下記一般式(1)、下記一般式(2)、下記一般式(3)、下記一般式(4)または下記一般式(5)で表される、分子量310以上の化合物。
Figure 2011057565
(一般式(1)、(2)、(3)、(4)および(5)中、R1およびR2は、それぞれ、水素原子またはメチル基を表す。一般式(1)中、R3は炭素数4〜10の炭化水素基を表す。一般式(2)中、R4は炭素数8〜14のアルキル基を表す。一般式(3)中、R5は炭素数4〜15の、アルキル基または不飽和炭化水素基を表す。一般式(4)中、R6は炭素数2〜10の直鎖状アルキル基を表し、R7は炭素数2〜12の不飽和炭化水素基、あるいは(メタ)アクリロイルオキシエチル基を表す。一般式(5)中、R8は炭素数6〜15の炭化水素基を表す。)
A compound having a molecular weight of 310 or more, represented by the following general formula (1), the following general formula (2), the following general formula (3), the following general formula (4) or the following general formula (5).
Figure 2011057565
(In the general formulas (1), (2), (3), (4) and (5), R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or a methyl group. In the general formula (1), R 3 Represents a hydrocarbon group having 4 to 10 carbon atoms, in formula (2), R 4 represents an alkyl group having 8 to 14 carbon atoms, and in formula (3), R 5 represents a group having 4 to 15 carbon atoms. In general formula (4), R 6 represents a linear alkyl group having 2 to 10 carbon atoms, and R 7 represents an unsaturated hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms. Or a (meth) acryloyloxyethyl group, wherein R 8 represents a hydrocarbon group having 6 to 15 carbon atoms in the general formula (5).
請求項1において、一般式(1)で表される化合物であって、R3が炭素数4〜10の脂肪族炭化水素基である化合物、一般式(2)で表される化合物であって、R4が炭素数8〜14のアルキル基である化合物、一般式(3−1)で表される化合物、一般式(3−2)で表される化合物、一般式(4−1)で表される化合物、一般式(4−2)で表される化合物、一般式(5)で表される化合物であって、R8が炭素数6〜15の脂肪族炭化水素基である化合物、または下記の化合物。
一般式(3−1)
Figure 2011057565
(一般式(3−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R51は、炭素数4〜8のアルキル基を表す。)
一般式(3−2)
Figure 2011057565
(一般式(3−2)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R52は、炭素数5〜9のアルキル基を表す。)
一般式(3−3)
Figure 2011057565
(一般式(3−3)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R53は、総炭素数5〜12の炭化水素基であって、−CH=CH−、−CH=C(CH3)−、−C(CH3)=C(CH3)−、−CH=CH2、−CH=CH(CH3)、−C(CH3)=CH2および−C(CH3)=CH(CH3)から選択される基の少なくとも1つと、アルキル基およびアルキレン基の少なくとも1つとの組み合わせからなる基である。)
一般式(4−1)
Figure 2011057565
(一般式(4−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R61は、炭素数2〜8の直鎖のアルキル基を表す。)
一般式(4−2)
Figure 2011057565
(一般式(4−2)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R71は、炭素数2〜12の不飽和炭化水素基または(メタ)アクリロイルオキシエチル基を表し、R72はメチル基またはエチル基を表す。)
Figure 2011057565
The compound represented by general formula (1) according to claim 1, wherein R 3 is an aliphatic hydrocarbon group having 4 to 10 carbon atoms, or a compound represented by general formula (2). , R 4 is an alkyl group having 8 to 14 carbon atoms, a compound represented by the general formula (3-1), a compound represented by the general formula (3-2), and a general formula (4-1) A compound represented by formula (4-2), a compound represented by formula (5), wherein R 8 is an aliphatic hydrocarbon group having 6 to 15 carbon atoms, Or the following compound.
General formula (3-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 51 represents an alkyl group having 4 to 8 carbon atoms.)
Formula (3-2)
Figure 2011057565
(In general formula (3-2), R 1 and R 2 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. R 52 represents an alkyl group having 5 to 9 carbon atoms.)
General formula (3-3)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-3), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 53 is a hydrocarbon group having 5 to 12 carbon atoms in total, and —CH═ CH -, - CH = C ( CH 3) -, - C (CH 3) = C (CH 3) -, - CH = CH 2, -CH = CH (CH 3), - C (CH 3) = CH 2 and a group consisting of a combination of at least one group selected from —C (CH 3 ) ═CH (CH 3 ) and at least one of an alkyl group and an alkylene group.
Formula (4-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (4-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 61 represents a linear alkyl group having 2 to 8 carbon atoms.)
General formula (4-2)
Figure 2011057565
(In General Formula (4-2), R 1 and R 2 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. R 71 represents an unsaturated hydrocarbon group having 2 to 12 carbon atoms or (meth) acryloyloxy. Represents an ethyl group, and R 72 represents a methyl group or an ethyl group.)
Figure 2011057565
請求項1において、一般式(1)で表される化合物であって、R3が炭素数4〜8の直鎖のアルキル基である化合物、一般式(2)で表される化合物であって、R4が炭素数10〜12のアルキル基である化合物、一般式(3−1)で表される化合物、一般式(3−2)で表される化合物、一般式(3−3)で表される化合物、一般式(4−1)で表される化合物、一般式(5)で表される化合物であって、R8は炭素数6〜13の直鎖アルキル基である化合物、または下記のいずれかの化合物。
一般式(3−1)
Figure 2011057565
(一般式(3−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R51は、炭素数4〜8のアルキル基を表す。)
一般式(3−2)
Figure 2011057565
(一般式(3−2)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R52は、炭素数5〜9のアルキル基を表す。)
一般式(3−3)
Figure 2011057565
(一般式(3−3)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R53は、総炭素数5〜12の炭化水素基であって、−CH=CH−、−CH=C(CH3)−、−C(CH3)=C(CH3)−、−CH=CH2、−CH=CH(CH3)、−C(CH3)=CH2および−C(CH3)=CH(CH3)から選択される基の少なくとも1つと、アルキル基およびアルキレン基の少なくとも1つとの組み合わせからなる基である。)
一般式(4−1)
Figure 2011057565
(一般式(4−1)中、R1およびR2は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を表す。R61は、炭素数2〜8の直鎖のアルキル基を表す。)
Figure 2011057565
In claim 1, a compound represented by the general formula (1), R 3 is a straight chain alkyl group having 4-8 carbon atoms, a compound represented by the general formula (2) , Compounds wherein R 4 is an alkyl group having 10 to 12 carbon atoms, compounds represented by general formula (3-1), compounds represented by general formula (3-2), and general formula (3-3) A compound represented by formula (4-1), a compound represented by formula (5), wherein R 8 is a linear alkyl group having 6 to 13 carbon atoms, or Any of the following compounds.
General formula (3-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 51 represents an alkyl group having 4 to 8 carbon atoms.)
Formula (3-2)
Figure 2011057565
(In general formula (3-2), R 1 and R 2 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. R 52 represents an alkyl group having 5 to 9 carbon atoms.)
General formula (3-3)
Figure 2011057565
(In General Formula (3-3), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 53 is a hydrocarbon group having 5 to 12 carbon atoms in total, and —CH═ CH -, - CH = C ( CH 3) -, - C (CH 3) = C (CH 3) -, - CH = CH 2, -CH = CH (CH 3), - C (CH 3) = CH 2 and a group consisting of a combination of at least one group selected from —C (CH 3 ) ═CH (CH 3 ) and at least one of an alkyl group and an alkylene group.
Formula (4-1)
Figure 2011057565
(In General Formula (4-1), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. R 61 represents a linear alkyl group having 2 to 8 carbon atoms.)
Figure 2011057565
下記のいずれかの化合物。
Figure 2011057565
Any of the following compounds.
Figure 2011057565
請求項1〜4のいずれか1項に記載の化合物と、光重合開始剤を含む、硬化性組成物。 A curable composition comprising the compound according to any one of claims 1 to 4 and a photopolymerization initiator. 光照射により硬化することを特徴とする請求項5に記載の硬化性組成物。 It hardens | cures by light irradiation, The curable composition of Claim 5 characterized by the above-mentioned. 加熱により硬化することを特徴とする請求項5に記載の硬化性組成物。 The curable composition according to claim 5, which is cured by heating. ナノインプリント用である、請求項5〜7のいずれか1項に記載の硬化性組成物。 The curable composition according to any one of claims 5 to 7, which is used for nanoimprinting. 請求項5〜8のいずれか1項に記載の組成物を硬化させた硬化物。 Hardened | cured material which hardened the composition of any one of Claims 5-8. 請求項1〜4のいずれか1項に記載の化合物と、光重合開始剤を含むナノインプリント用硬化性組成物を基板上に適用して層状とする工程と、該層状に形成した層にモールドに押圧する工程と、前記層状に形成した層に光照射する工程を含むことを特徴とする硬化物の製造方法。 Applying the compound according to any one of claims 1 to 4 and a curable composition for nanoimprint containing a photopolymerization initiator on a substrate to form a layer, and forming a layer on the layer formed in the layer The manufacturing method of the hardened | cured material characterized by including the process of light-irradiating the process formed and the layer formed in the said layer shape. さらに、前記形成された層に、光を照射後、加熱する工程を含むことを特徴とする請求項10に記載の硬化物の製造方法。 The method for producing a cured product according to claim 10, further comprising a step of heating the formed layer after irradiation with light. 請求項9に記載の硬化物を含む液晶表示装置用部材。 The member for liquid crystal display devices containing the hardened | cured material of Claim 9.
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