JP2011028657A - Ram診断装置、そのプログラム - Google Patents
Ram診断装置、そのプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011028657A JP2011028657A JP2009175917A JP2009175917A JP2011028657A JP 2011028657 A JP2011028657 A JP 2011028657A JP 2009175917 A JP2009175917 A JP 2009175917A JP 2009175917 A JP2009175917 A JP 2009175917A JP 2011028657 A JP2011028657 A JP 2011028657A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- safety
- ram
- related data
- address
- diagnosis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title claims abstract description 233
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 220
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 189
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 203
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 claims description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 83
- 238000013523 data management Methods 0.000 description 61
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 49
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 29
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 17
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 11
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 102100025489 Equatorin Human genes 0.000 description 1
- 101001056745 Homo sapiens Equatorin Proteins 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000012774 diagnostic algorithm Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 231100000279 safety data Toxicity 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
【解決手段】安全関連データ書込関数11、読込関数12により、RAM20に対して、安全関連データの書込/読込が行われ、データ読込の際にその格納領域の診断が行われる。これはダブルRAMアルゴリズムを用いるRAM診断である。そして、RAM管理テーブル17内を更新する。診断時限保証タスク13は所定の診断間隔で動作し、RAM20の診断を行う。その際、RAM管理テーブル17を参照することで、安全関連データ領域22において診断未実施の記憶領域を認識し、この記憶領域に対してのみ診断処理を行う。
【選択図】 図1
Description
特許文献2には、一組のデータを複数のアドレスにビット位置を変えて記憶し、制御開始時にそれらから読み出し、比較することが記載されている。
本手法では、この様な自己診断率が高く自己診断の効果が高い診断手法であるダブルRAMアルゴリズムを用いることを前提とする。
まず、一般的に、自己診断率はλDD/λDと定義されている。
また、診断間隔と故障発生確率の関係として、診断間隔が短いと故障発生確率が減少することが知られている。具体的には、危険側共通原因故障ファクタβDのスコアSD=X(Z+1)+Y のZが増加しβDが減少する。βDが減少するとPFD及びPFHが減少する(尚、X;診断に関係する危険側共通原因故障ファクタのスコア値、Y;診断に関係しない危険側共通原因故障ファクタのスコア値、PFD;デマンド時の故障平均確率、PFH;1時間あたりの危険側故障確率、Z;診断試験の間隔と自己診断率に基づいて決まる値である)。
領域の90%が既に診断済みの状態であるにも係らず、残りの10%の為にこの90%についても再度RAM診断処理を行うことになり、これは無駄な処理となる。
この為、CPU及びRAMを別々に設けることなく、上述した従属故障の確率を故障確率より十分小さくすることが要望される。つまり、この場合、1つのRAM内に安全関連系データと非安全関連系データとが記憶されることになるが、この様な状況であっても上述した従属故障の確率を故障確率より十分小さくすることが要望される。
所定の1又は複数のアドレスに格納されるRAMに対して、ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行うRAM診断装置であって、前記RAMにおける前記安全関連データ用領域内の前記各アドレス毎に対応して、該アドレスについて前記RAM診断処理を実施済か未実施かを示す管理情報を記憶する管理情報記憶手段と、任意の前記安全関連データを前記RAMからリードする処理又は該RAMにライトする処理を行う手段あって、該リード処理の際に、該リードする安全関連データの格納領域に関して前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行うと共に、前記管理情報記憶手段における該RAM診断処理を行った格納領域のアドレスに対応する前記管理情報を、実施済とする安全関連データアクセス処理手段と、予め決められた診断間隔で、前記管理情報記憶手段を参照して、未実施となっている管理情報に対応するアドレスに関して、前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行う診断時限保証手段とを有する。
図1は、本例のRAM診断装置の構成ブロック図である。
尚、このRAM診断装置は、例えば上述したプログラマブルコントローラシステム(制御システム)におけるコントローラ本体に相当する。上記の通り、コントローラ本体(CPU、RAM等を有する)は、自己診断処理として自己のRAMの診断処理を行うものであり、特にこの様なRAM診断処理に係る構成を図1に示している。
RAM20の安全関連データ領域22内の任意の記憶領域から任意のデータを読込むための関数である。
診断時限保証タスク13は、予め定義された所定時間内に、RAM20における安全関連データに係る全記憶領域についての自己診断が行われることを保障するタスクである。つまり、上述してある故障確率を減少させる為のRAM診断間隔の時間保証を実現するものであり、更にこれを処理負荷や処理時間の増大を招くことなく実現するものである。つまり、診断時限保証タスク13は、処理実行中、安全関連データ管理領域21(RAM診断完了ビット領域45)を参照することで、定義された所定時間内に診断処理が行われていない記憶領域(アドレス)を判定し、当該アドレス(記憶領域)に関する診断を行う。この診断は上記ダブルRAM方式でテストデータの書込み・読出しを行うものである。
安全関連アプリケーション15は、安全関連データに関する処理を行うアプリケーションである。
尚、上記各種アプリケーション/関数/タスク11〜16やテーブル17は、ROM10ではなくRAM20上に配置してもよい。
フローチャート図、図12は安全関連アプリケーション部15’の処理フローチャート図、図13は非安全関連アプリケーション部16’の処理フローチャート図と考えて良い。
また、図1に示すように、RAM20の記憶領域は図示の領域21〜25の各種記憶領域から成る。すなわち、RAM20は、安全関連データ管理領域21、安全関連データ領域22、非安全関連データ領域23、反転安全関連データ領域24、反転安全関連データ管理領域25を有する。
非安全関連データ領域23は、非安全関連データ(可変データ)を格納する領域である。
反転安全関連データ領域24は、安全関連データ領域22のデータの反転データを格納する領域である。
図2(a)には全体構成を示し、そのうちのRAM時限保証診断不要ビット領域(番号31=‘11’)のデータ構成を図2(b)に、「データ番号・データバイト数」(番号31=‘12’)のデータ構成を図2(c)に示す。
番号31は、各項目(レコード)を特定するための一意の通し番号である。
図示の安全関連データ管理領域先頭アドレス(番号31=‘1’)、安全関連データ管理領域最終アドレス(番号31=‘2’)は、それぞれ、RAM20の安全関連データ管理領域21の先頭アドレス、最終アドレスである。
22内の当該アドレスからのデータ読み込み処理が、上記予め定義された所定時間内に確実に発生する場合に、当該アドレスに対応する上記ビット情報を‘1’にする。データ読み込み処理が行われれば安全関連データ読込関数12による処理によって当該アドレスに関する診断が行われるからである。つまり、換言すれば、上記予め定義された所定時間内に確実にデータ読込みに伴う診断処理があると考えられるアドレスに関しては、予め当該アドレスに対応する上記ビット情報を‘1’に設定しておく。定義した時間内に確実に診断処理があるか否かは、例えば処理の静的解析等により開発時に開発者等が決定する。
図示の例のRAM時限保証診断不要ビット領域41は、図示の通り多数のビット情報(bit0、bit1、bit2、・・・bitn・・・bit(n+2))より構成される。上記の通り、これら各ビット情報は、それぞれ、安全関連データ領域22における各アドレス(1バイト単位)に対応する情報であり、そのアドレスに関して時限保証診断要か時限保証診断不要かを示している。本例ではビット情報=‘1’は時限保証診断不要、ビット情報=‘0’は時限保証診断要を意味するものとする。
安全関連データ管理領域21には、図4に示すRAM診断完了ビット領域45が含まれる。ここでは、安全関連データ管理領域21=RAM診断完了ビット領域45と見做してもよい。つまり、以下の説明における安全関連データ管理領域21は、RAM診断完了ビット領域45のことであると考えても良い(その逆も同様)。
上記の通り、図5は、安全関連データ書込部11’の処理フローチャート図である。すなわち、安全関連データ書込関数11によって実現される機能処理を示すフローチャート図である。
・データ番号(RAM20に書き込む(書込対象の)安全関連データの上記データ番号)・書込アドレス(上記書込対象の安全関連データを書き込む領域の先頭アドレス)
・書込データ(上記書込対象の安全関連データ)
・書込データバイト数(上記書込データのデータサイズ(バイト単位))
また、図5の処理による関数値(処理結果)は下記の情報であり、通常、これらは数値化されている(例えば、正常終了→1、異常終了→0)。
また尚、当該関数11は安全関連アプリケーション15のプログラム内にインライン展開する。これにより、RAM20内のスタック領域(不図示)を使用しないようにする。RAM20の不図示のスタック領域は、不図示のスタック割込処理がコントロールする領域であり、診断処理を適用できないからである。
まず、上記パラメータの書込データを、当該パラメータの書込アドレス、書込バイト数に従って、RAM20の安全関連データ領域22内の該当領域に書込む(ステップS14)。
これは、まず、上記書込アドレスを反転することで、反転安全関連データ領域24における上記反転データの書き込みアドレス範囲を求める(このアドレス範囲の先頭アドレスと最終アドレスを求める)(ステップS15)。これは、上記ステップS11で計算した書込アドレス範囲の先頭アドレスと最終アドレスそれぞれについてアドレス反転を行うものである。尚、例えばアドレス‘0101’(16進)の反転アドレスは‘FEFE’である。
図6、図7は安全関連データ読込部12’の処理フローチャート図である。尚、これは、1つのフローチャート図を2つの図面に分けて示しているものである。
・データ番号(RAM20から読込む安全関連データ(読込対象データ)のデータ番号)・読込アドレス(RAM20における上記読込対象データの格納領域の先頭アドレス)
・読込データバイト数(上記読込対象データのデータサイズ(バイト単位))
・RAM管理テーブル17のRAM時限保証診断不要ビット領域41の情報
また、下記を復帰データとする。
・読込データ
また、下記を関数値とする。
・データ正常/データ異常/異常終了
尚、当該関数12は、安全関連アプリケーション15のプログラム内にインライン展開する。これにより、RAM20内のスタック領域(不図示)を使用しないようにする。安全関連アプリケーション15は、その処理実行中に任意の安全関連データをRAM20から読み込むイベントが発生した場合、関数12を呼び出して上記パラメータを渡す。これにより図6、図7の処理が実行される。
行し、そうでない場合(一部でも領域22外である場合)にはチェックNGと判定し(ステップS32,NO)、異常終了とする(ステップS44)。
ステップS33では、上記パラメータの読込データバイト数に関するチェックを行う。すなわち、上記パラメータのデータ番号を用いて上記図2(c)に示す「データ番号・データバイト数」42のテーブルを検索して、該当するレコードのデータバイト数44を取得し、上記パラメータの読込データバイト数がこのデータバイト数44と一致するか否かをチェックする。このチェック処理の意味も上記ステップS13の場合と略同様である。不一致であれば(ステップS33,NO)、異常終了とする(ステップS44)。一致する場合には(ステップS33,YES)ステップS34以降の処理へ移行する。
尚、以下のステップS34〜S38の処理の間は、レベルマスクなどにより排他制御をする。
尚、上記診断不要ビット領域41を用いることは、必ず必要なものではなく、無くても良い。この場合には、ステップS41の処理は必要なく、必ず図7の処理を行うことになる。また、この場合には後述する“EOR”の処理や“AND”の処理も必要なく、単純に、RAM診断完了ビット領域45を参照して、未完了であるビット情報に対応するアドレスを、時限保証診断の処理対象とすればよい。
し(ステップS37,NO)、異常終了する(ステップS44)。一方、反転アドレス範囲の全てが領域24内に入っている場合にはチェックOKとし(ステップS37,YES)、ステップS38以降の処理を実行する。
まず、上記読込対象データの格納領域に対応する安全関連データ管理領域21のビット情報群(該当ビット情報群というものとする)の範囲(先頭位置と最終位置)を計算する(ステップS45)。尚、読込対象データの格納領域が1アドレスであった場合、先頭位置=最終位置となる。また、この場合、厳密にはビット情報群ではなくビット情報となるが、特に区別せず説明するものとする。
尚、安全関連データ管理領域21における各ビット情報の位置は、後述するように「アドレス(番地)におけるアドレス内相対ビット数α(α;0〜7)」(アドレス(番地)における+α)で表すものとする。
上記「安全関連データ領域の先頭アドレスからの相対バイト数」は、上記パラメータの読込アドレス(読込対象データの格納領域の先頭アドレス)から上記ステップS31で取得した安全関連データ領域22の先頭アドレスを差し引くことで求められる。例えば、上記パラメータの読込アドレスが7002番地であったならば、本例では安全関連データ領域22の先頭アドレスは7000番地であるので、上記「安全関連データ領域の先頭アドレスからの相対バイト数」=7002−7000=0002となる(アドレスは1バイト単位なので、“先頭アドレスからの相対バイト数”は“先頭アドレスからの相対アドレス”と考えてよい)。
−8」を最終位置のαとすればよい。上記の例において仮にβ=9であったならば、最終位置は「“3001+1”番地における+(“1+(9−1)”−8)」=「3002番地における+1」となる。
そして、ステップS45で計算したアドレス範囲が、ステップS46で読み込んだアドレス範囲内に入っているか否かをチェックする(ステップS47)。範囲内に入っていればチェックOKとして(ステップS47,YES)ステップS48以降の処理へ移行する。一方、ステップS45で計算したアドレス範囲の一部でも、ステップS46で読み込んだアドレス範囲外であったならば、チェックNGとして(ステップS47,NO)、上記異常終了(ステップS44)とする。
FE番地における+4」の3つのビット情報がOFFになる。
尚、ステップS48〜S52の処理の間は、レベルマスクなどにより排他制御をする。また、ステップS45以降の処理ではRAMの当該アドレスの読込を条件に診断完了ビットをオンしているが、書込と読込のAND条件で診断完了ビットをオンすることにしても良い。
図8、図9は診断時限保証処理部13’(診断時限保証タスク13)による処理フローチャート図である。尚、これは、1つのフローチャート図を2つの図面に分けて示しているものである。
まず、図8に示すように、本処理に必要な各種データを読み込む(ステップS61)。すなわち、安全関連データ管理領域21の先頭アドレス(番号31=‘1’)と最終アドレス(番号31=‘2’)を、RAM管理テーブル17から読込む。また、反転安全関連データ管理領域25の先頭アドレス(番号31=‘9’)と最終アドレス(番号31=‘10’)を、RAM管理テーブル17から読込む。更に、RAM管理テーブル17におけるRAM時限保証診断不要ビット領域41(番号31=‘11’)の先頭アドレスを読込む。
まず、ステップS62の処理について説明する。この処理では、まず、上述した反転診断管理情報の並び替え処理を行う。続いて、並び替えた後の反転診断管理情報を反転させる。例えば、反転診断管理情報=「11110001」であったならば、並び替えた後の反転診断管理情報=「10001111」となり、この反転データは「01110000」となる。そして、この反転データを上記診断管理情報と比較照合し、一致することを確認する(ステップS62)。異常が無ければ一致するはずであるので、もし不一致の場合には(ステップS62,NO)RAM異常アプリケーション処理を実行する(ステップS67)。この処理については特に説明しないが、RAM異常検出時に実行される所定の処理である。
ステップS63の処理では、まず、上記診断管理情報と上記診断要/不要情報とのEOR(排他的論理和)を求める。そして、このEORがFF(16進)となるか否かを確認する。EORがFF(16進)であることは(ステップS63,YES)、定義した所定時間内に(本処理が行われるまでに)処理対象の記憶領域全ての診断が実施済みであることを示す。よって、この記憶領域について再度診断処理を行う必要なく、ステップS64を経て、次の記憶領域を処理対象として同様の処理を行う。
なり、どちらか一方が1で他方が0の場合には1となる。つまり、例えば図10に示す例のように(尚、この例では簡単の為、1バイト(=8ビット)ではなくそのうちの半分(4ビット)を示している)、上記診断管理情報=「1100」、上記診断要/不要情報=「1010」であったならば、EORは「0110」となり、ステップS63の判定はNOとなる。
上記ステップS64の初期化処理により、安全関連データ管理領域21における上記処理対象領域(8バイト)に対応するビット情報群(1バイト分;本例では先頭アドレスのビット情報群)は初期値‘00’(16進)になり、反転安全関連データ管理領域25における上記処理対象領域(8バイト)に対応するビット情報群(1バイト分;本例では最終アドレスのビット情報群)は初期値‘FF’(16進)になる。
ここで、EORが‘0’となるのは、図10に示す通り、“診断不要”且つ“完了”の場合または“診断要”且つ“未完了”の場合であるが、前者(“診断不要”且つ“完了”)のケースは通常あり得ないものである。つまり“診断不要”であるならば上記ステップS41がYESとなるので、そのままステップS42の処理が行われ、従ってステップS48の処理(完了ビットON)は行われていないので、“未完了”となっているはずであり、“完了”となることは通常はあり得ない(矛盾している;処理に何らかの異常が生じていると考えられる)。
まず、RAM管理テーブル17から安全関連データ領域先頭アドレス(番号31=‘3’)と安全関連データ領域最終アドレス(番号31=‘4’)を読込む。更に、RAM管理テーブル17から反転安全関連データ領域先頭アドレス(番号31=‘7’)と反転安全関連データ領域最終アドレス(番号31=‘8’)を読込む(ステップS69)。これらにより安全関連データ領域22、反転安全関連データ領域24それぞれのアドレス範囲が分かるので、これを後のステップS71のアドレス範囲チェック処理の際に用いる。
反転安全関連データ領域アドレスは、上記算出した安全関連データ領域アドレスを反転させればよい。
一方、範囲内であった場合には(ステップS71,YES)、上記ステップS70で求めた安全関連データ領域アドレス、反転安全関連データ領域アドレスの各記憶領域に対して、例えば、上記ダブルRAMアルゴリズムによる診断を行う。尚、当該アドレスに対しダブルRAMアルゴリズム以外の診断アルゴリズム適用しても良い。
ータを書き込む。また同様に、反転安全関連データ領域24における上記ステップS70で算出した反転安全関連データ領域アドレスのデータ(反転データ)をレジスタに退避させ、当該アドレスに反転テストデータ(上記テストデータを反転したもの)を書き込む(ステップS72)。
図11の処理のパラメータ(入力)は、下記の通りである。
・データ番号(書込む/読込むデータのデータ番号)
・書込/読込データアドレス(アクセス先領域の先頭アドレス)
・書込データ(書き込み処理の場合のみ)
・書込/読込データバイト数
・書込/読込種別(これにより、書込/読込を識別する)
下記を復帰値とする。
・読込データ(読込み処理の場合のみ)
下記を関数値とする。
・正常終了/異常終了
尚、当該非安全関連データ読み書き関数14は、非安全関連アプリケーション16のプログラム内にインライン展開する。これによりRAM20のスタック領域を使用しないようにする。
次に、図12を参照して、安全関連アプリケーション部15’(安全関連アプリケーション15)の処理について説明する。
・データ番号(定数)
・書込アドレス(定数)
・書込データ
・書込データバイト数(定数)
関数値
・正常終了/異常終了
また、安全関連データ読込関数12に渡すパラメータは下記の通りであり、定数は設計時に設計者等が任意に決定してプログラムコード内に記述する。
・データ番号(定数)
・読込アドレス(定数)
・読込データバイト数(定数)
・RAM管理テーブルのRAM時限保証診断不要ビット情報(定数)
復帰データ
・読込データ
関数値
・データ正常/データ異常/異常終了
尚、これら各関数の処理に関しては、既に説明してあり、ここでは説明しない。
尚、図13に示すステップS112、S116の処理に係る関数(非安全関連データ読み書き関数14)は、当該非安全関連アプリケーション16のプログラム内にインライン展開する。これによりRAM20のスタック領域を使用しないようにする。
・データ番号(定数)
・書込/読込データアドレス(定数)
・書込データ
・書込/読込データバイト数(定数)
・書込/読込種別(定数)
復帰値
・読込データ
関数値
・正常終了/異常終了
図13において、所定のアプリケーション処理実行し(ステップS111)、当該処理実行に係り非安全関連データをRAM20から読込むイベントが発生した場合には、非安
全関連データ読み書き関数14を呼び出す。その際、上記パラメータ(書込データは除く)を設定することで当該パラメータを関数14に渡す。これより、上記図11の処理が実行される(ステップS112)。
このアドレスに関するRAM診断完了ビット領域45の更新処理をバイパスすることで、RAMアクセスのリスク軽減と処理負荷の軽減が可能となる。
10 ROM
11 安全関連データ書込関数
12 安全関連データ読込関数
13 診断時限保証タスク
14 非安全関連データ読み書き関数
15 安全関連アプリケーション
16 非安全関連アプリケーション
17 RAM管理テーブル
20 RAM
21 安全関連データ管理領域
22 安全関連データ領域
23 非安全関連データ領域
24 反転安全関連データ領域
25 反転安全関連データ管理領域
31 番号
32 管理情報
41 RAM時限保証診断不要ビット領域
42 データ番号・データバイト数
43 データ番号
44 データバイト数
45 RAM診断完了ビット領域
Claims (5)
- 各種安全関連データがそれぞれ安全関連データ用領域内の所定の1又は複数のアドレスに格納されるRAMに対して、ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行うRAM診断装置であって、
前記RAMにおける前記安全関連データ用領域内の前記各アドレス毎に対応して、該アドレスについて前記RAM診断処理を実施済か未実施かを示す管理情報を記憶する管理情報記憶手段と、
任意の前記安全関連データを前記RAMからリードする処理又は該RAMにライトする処理を行う手段あって、該リード処理の際に、該リードする安全関連データの格納領域に関して前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行うと共に、前記管理情報記憶手段における該RAM診断処理を行った格納領域のアドレスに対応する前記管理情報を、実施済とする安全関連データアクセス処理手段と、
予め決められた診断間隔で、前記管理情報記憶手段を参照して、未実施となっている管理情報に対応するアドレスに関して、前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行う診断時限保証手段と、
を有することを特徴とするRAM診断装置。 - 前記RAMにおける前記安全関連データ用領域内の前記各アドレス毎に対応して、予め要/不要情報が登録される要/不要情報記憶手段を更に有し、
前記安全関連データアクセス処理手段は、前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行った格納領域のアドレスに対応する前記要/不要情報が、不要であった場合には、前記対応する管理情報を実施済とする処理は行わず、
前記診断時限保証手段は、対応する管理情報が未実施となっているアドレスであっても、該アドレスに対応する前記要/不要情報が不要となっている場合には、該アドレスに関しては前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理は実行しないことを特徴とする請求項1記載のRAM診断装置。 - 前記RAMには、更に非安全関連データ用領域が存在し、
安全関連データアクセス処理手段は、前記安全関連データのリード/ライト処理の際、該リード/ライト処理に係るアクセス先領域が前記安全関連データ用領域内であるか否かをチェックし、安全関連データ用領域内では無い場合には該リード/ライト処理を行わないことを特徴とする請求項1または2記載のRAM診断装置。 - 前記RAMには、更に非安全関連データ用領域が存在し、
前記RAMに対して非安全関連データのリード/ライト処理を行う非安全関連データアクセス処理手段を更に有し、
該非安全関連データアクセス処理手段は、前記非安全関連データのリード/ライト処理の際、該リード/ライト処理に係るアクセス先領域が前記非安全関連データ用領域内であるか否かをチェックし、非安全関連データ用領域内では無い場合には該リード/ライト処理を行わないことを特徴とする請求項1または2記載のRAM診断装置。 - 各種安全関連データがそれぞれ安全関連データ用領域内の所定の1又は複数のアドレスに格納されるRAMに対して、ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行うRAM診断装置のコンピュータを、
前記RAMにおける前記安全関連データ用領域内の前記各アドレス毎に対応して、該アドレスについて前記RAM診断処理を実施済か未実施かを示す管理情報を記憶する管理情報記憶手段と、
任意の前記安全関連データを前記RAMからリードする処理又は該RAMにライトする処理を行う手段あって、該リード処理の際に、該リードする安全関連データの格納領域に
関して前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行うと共に、前記管理情報記憶手段における該RAM診断処理を行った格納領域のアドレスに対応する前記管理情報を、実施済とする安全関連データアクセス処理手段と、
予め決められた診断間隔で、前記管理情報記憶手段を参照して、未実施となっている管理情報に対応するアドレスに関して、前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行う診断時限保証手段、
として機能させる為のプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009175917A JP5453984B2 (ja) | 2009-07-28 | 2009-07-28 | Ram診断装置、そのプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009175917A JP5453984B2 (ja) | 2009-07-28 | 2009-07-28 | Ram診断装置、そのプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011028657A true JP2011028657A (ja) | 2011-02-10 |
JP5453984B2 JP5453984B2 (ja) | 2014-03-26 |
Family
ID=43637298
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009175917A Active JP5453984B2 (ja) | 2009-07-28 | 2009-07-28 | Ram診断装置、そのプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5453984B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015022622A (ja) * | 2013-07-22 | 2015-02-02 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 自動車用電子制御装置 |
JP2016198593A (ja) * | 2016-09-05 | 2016-12-01 | 株式会社ユニバーサルエンターテインメント | 遊技機 |
US10438679B2 (en) | 2015-03-10 | 2019-10-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Memory diagnosis apparatus and memory diagnosis program |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04542A (ja) * | 1990-04-17 | 1992-01-06 | Pfu Ltd | メモリチェック方式 |
JP2000066963A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Unisia Jecs Corp | マイコン用メモリの診断装置 |
JP2004227488A (ja) * | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Denso Corp | 電子装置 |
JP2009087133A (ja) * | 2007-10-01 | 2009-04-23 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像処理装置およびメモリ診断プログラム |
-
2009
- 2009-07-28 JP JP2009175917A patent/JP5453984B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04542A (ja) * | 1990-04-17 | 1992-01-06 | Pfu Ltd | メモリチェック方式 |
JP2000066963A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Unisia Jecs Corp | マイコン用メモリの診断装置 |
JP2004227488A (ja) * | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Denso Corp | 電子装置 |
JP2009087133A (ja) * | 2007-10-01 | 2009-04-23 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像処理装置およびメモリ診断プログラム |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015022622A (ja) * | 2013-07-22 | 2015-02-02 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 自動車用電子制御装置 |
US10438679B2 (en) | 2015-03-10 | 2019-10-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Memory diagnosis apparatus and memory diagnosis program |
JP2016198593A (ja) * | 2016-09-05 | 2016-12-01 | 株式会社ユニバーサルエンターテインメント | 遊技機 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5453984B2 (ja) | 2014-03-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7890800B2 (en) | Method, operating system and computing hardware for running a computer program | |
US10366018B2 (en) | Control apparatus with access monitoring unit configured to request interrupt process | |
KR20000023497A (ko) | 플래시 메모리를 구비한 마이크로컴퓨터 및 플래시메모리에 프로그램을 저장하는 방법 | |
CN107463516B (zh) | 控制装置 | |
JP5464128B2 (ja) | Ram故障診断装置、そのプログラム | |
JP5045584B2 (ja) | プログラム書き換え装置 | |
JP5453984B2 (ja) | Ram診断装置、そのプログラム | |
US10108469B2 (en) | Microcomputer and microcomputer system | |
US8255769B2 (en) | Control apparatus and control method | |
JP2009129463A (ja) | 車両制御装置のリアルタイムシステムにおける一時的エラーの処理方法 | |
JP4941954B2 (ja) | データエラー検出装置およびデータエラー検出方法 | |
JP2004046453A (ja) | シングルチップマイクロコンピュータおよびそのブート領域切り替え方法 | |
JP6708596B2 (ja) | 電子制御装置及び制御プログラム検証方法 | |
JP4851525B2 (ja) | データ処理システムおよびその駆動方法 | |
JP2007064762A (ja) | 半導体装置、テストモード制御回路 | |
CN111352754A (zh) | 一种数据存储检错纠错方法及数据存储装置 | |
JP2012226604A (ja) | 半導体装置及びそのデータ異常判定方法 | |
WO2023233611A1 (ja) | 電子制御装置 | |
JP2018063599A (ja) | 相互監視システム | |
JP2023104466A (ja) | 車載電子制御装置、及びメモリ制御方法 | |
CN117894362A (zh) | 一次性可编程存储器修改方法、装置和电子设备 | |
JP2016177717A (ja) | メモリ制御装置及びメモリ制御方法 | |
JPH1139897A (ja) | デジタル記憶手段の記憶データ検査方法 | |
JP2000242528A (ja) | Cpuの暴走監視装置 | |
JP2016091413A (ja) | 車両制御装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120416 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130827 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131017 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131210 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131223 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5453984 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |