JP2011028042A - 検出システムおよび検出方法 - Google Patents

検出システムおよび検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011028042A
JP2011028042A JP2009174328A JP2009174328A JP2011028042A JP 2011028042 A JP2011028042 A JP 2011028042A JP 2009174328 A JP2009174328 A JP 2009174328A JP 2009174328 A JP2009174328 A JP 2009174328A JP 2011028042 A JP2011028042 A JP 2011028042A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
reflected light
dimensional pattern
reflector
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009174328A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011028042A5 (ja
JP5347800B2 (ja
Inventor
Ayumi Taguchi
歩 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2009174328A priority Critical patent/JP5347800B2/ja
Priority to US12/838,521 priority patent/US8243288B2/en
Priority to CN201010231427.4A priority patent/CN101968624B/zh
Publication of JP2011028042A publication Critical patent/JP2011028042A/ja
Publication of JP2011028042A5 publication Critical patent/JP2011028042A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5347800B2 publication Critical patent/JP5347800B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/32Holograms used as optical elements
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/011Arrangements for interaction with the human body, e.g. for user immersion in virtual reality

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

【課題】より簡単に、かつ精度よく、物体の動きを検出することができるようにする。
【解決手段】方位検出器2は、2次元パターンの光を所定の空間内で掃引する。反射体3−1および3−2は、物体の所定の箇所に検出対象として取り付けられ、方位検出器2から放射された2次元パターンの光を、入射された方向と同一方向に光を反射する。方位検出器2は、反射体3−1および3−2により反射されて戻ってきた反射光を検出する。そして、方位検出器2は、反射光の信号に基づいて、反射体3−1および3−2の水平方向および垂直方向の角度を算出する。本発明は、例えば、物体の動きを検出する検出システムに適用できる。
【選択図】図1

Description

本発明は、検出システムおよび検出方法に関し、特に、より簡単に、かつ精度よく、物体の動きを検出することができるようにする検出システムおよび検出方法に関する。
例えば、CG画像を製作する分野などにおいて、人間の自然な動作を表現するために、人間の実際の動きをカメラで撮像し、撮像により得られた画像から人間の関節等の部位の動きをデータとして取得することが行われている。
関節等の部位の動きを検出するためには、例えば、動き検出のターゲットとなる関節等にプローブ(受光器)を取り付け、光を走査してプローブの受光信号を取得する方法がある。また、クロマキーの手法を用いて関節等の位置を識別、検出する方法もある(例えば、特許文献1参照)。例えば、黒地の服を身に付けた被測定者がターゲットとなる関節等にオレンジ色のマーカを取り付け、黒地の背景の前で動作する。2台のカメラ(ステレオカメラ)が被測定者を撮像し、マーカの動きを検出する。
特開2000−270203号公報
しかしながら、プローブを用いる方法では、プローブの受光信号を有線または無線により伝送する必要があり、装置が大掛かりなものとなり、システムを安価に提供できない。また、クロマキーによる方法では、背景、被測定者いずれも一様な色(上述の例では黒)とすることが求められるため、実施環境の制約が大きい。
黒地の服等を身に付けず、通常の環境において、被測定者の動きをステレオカメラで撮像し、ターゲットの特定の部位をマウスなどにより検出対象の領域として指定し、指定された領域の動き検出を行う方法もある。しかし、通常の環境で撮像された画像における動き検出では、検出対象を安定的に追尾するのが難しい。
また、往復伝搬時間法や符号化光投影法など、3次元物体の形状全般を取得する方法もあるが、関節の位置などを精度よく安定的に抽出するのが困難である。
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、より簡単に、かつ精度よく、物体の動きを検出することができるようにするものである。
本発明の一側面の検出システムは、2次元パターンの光を放射する放射手段と、前記2次元パターンの光を所定の空間内で掃引する掃引手段と、物体の所定の箇所に検出対象として取り付けられ、前記2次元パターンの光を、入射された方向と同一方向に光を反射する反射手段と、前記反射手段により反射されて戻ってきた反射光を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された前記反射光の信号に基づいて、前記反射手段の水平方向および垂直方向の角度を算出する解析手段とを備える。
本発明の一側面の検出方法は、2次元パターンの光を放射し、前記2次元パターンの光を所定の空間内で掃引し、前記2次元パターンの光が、物体の所定の箇所に検出対象として取り付けられた反射体によって入射された方向と同一方向に反射されて戻ってきた反射光を検出し、検出された前記反射光の信号に基づいて、前記反射体の水平方向および垂直方向の角度を算出する。
本発明の一側面においては、2次元パターンの光が放射されて所定の空間内で掃引され、物体の所定の箇所に検出対象として取り付けられた反射体に反射されて戻ってきた反射光が検出され、検出された反射光の信号に基づいて、反射体の水平方向および垂直方向の角度が算出される。
本発明の一側面によれば、より簡単に、かつ精度よく、物体の動きを検出することができる。
本発明を適用した物体検出システムの概要について説明する図である。 本発明を適用した物体検出システムの概要について説明する図である。 本発明を適用した物体検出システムの概要について説明する図である。 本発明を適用した物体検出システムの機能ブロック図である。 放射パターン生成部および掃引部の構成例を示す図である。 反射体の構成例を示す図である。 反射光検出部の配置例を示す図である。 反射光検出部の処理について説明する図である。 反射光解析部の処理について説明する図である。 図1の物体検出システムによる方位検出処理を説明するフローチャートである。 物体検出システムのその他の構成例を示す図である。 放射パターン生成部および掃引部のその他の構成例を示す図である。 方位または位置の算出処理を実行するコンピュータの構成例を示すブロック図である。
[物体検出システム1の概要]
図1乃至図3を参照して、本発明を適用した物体検出システムの概要について説明する。
図1の物体検出システム1は、方位検出器2と反射体3により構成される。反射体3は、検出の対象となる物体の所定の箇所(部位)に取り付けられる。図1では、検出対象の箇所が2箇所ある例として、反射体3−1と3−2が図示されている。
方位検出器2は、既知の2次元パターンの光を所定の角度の範囲内で水平方向に掃引する。ここで、掃引とは、2次元パターン(図3A)の光を所定の方向に移動させることをいう。なお、本実施の形態において、水平方向は地面に並行な方向を表し、垂直方向は地面に垂直な方向を表す。方位検出器2が所定の角度の範囲内で2次元パターンの光を掃引することにより、2次元パターンの光は所定の範囲4内に放射される。以下、2次元パターンの光が放射される範囲4を放射範囲4と称する。
2次元パターンの光が水平方向に掃引されるので、放射範囲4内に存在する検出対象の反射体3−1においては、2次元パターンの水平方向に並ぶパターン列の光が順に照射される。反射体3−1は、入射された光を、入射された方向と同一方向に光を反射する。その結果、方位検出器2は、放射した2次元パターンの光のうち、反射体3−1に反射されて返ってきた光のみを受光する。そして、方位検出器2は、受光して得られた信号から、反射体3−1の動きを検出する。反射体3−2についても同様である。
図2を参照して、方位検出器2が検出結果として出力する値について説明する。
方位検出器2は、所定の方向(軸)を基準とする反射体3の水平方向の角度θと垂直方向の角度δを、検出結果として出力する。即ち、方位検出器2は、放射範囲4内において反射体3が存在する方位を検出する。また、方位検出器2は、反射体3から反射されて返ってくる光を一定時間継続して受光することにより、反射体3の方位の移動(動き)も検出することができる。
例えば、方位検出器2は、水平方向については、図2Aに示されるように、放射範囲4の右端の方向を基準としたときの角度θを出力する。また、方位検出器2は、垂直方向については、図2Bに示されるように、放射範囲4の上端の方向を基準としたときの角度δを出力する。
以上のように、方位検出器2は、反射体3の位置を、所定の方向(軸)を基準とする方位(角度)として検出する。なお、反射体3の位置を、3次元座標系上の位置として検出する方法については、図11を参照して後述する。
図3Aは、方位検出器2が放射する2次元パターンを示している。
図3Aの2次元パターンは、0と1からなる2次元のM系列乱数を正方形パターンの有無に置き換えて構成したものである。
2次元パターンのうちの、水平方向に並ぶパターン列を符号系列の単位とすると、垂直方向にK個の符号系列p1乃至pK(を表すパターン)が配置されている。
図3Bは、図3Aに示される2次元パターンの一部を拡大して示した図である。
図3Bに示されるように、K個の符号系列pi(i=1,2,・・・,Kのいずれか)は、垂直方向に異なる位置にある他の水平方向に並ぶ符号系列pj(j≠i)と独立し、かつ、直交性を有している。従って、方位検出器2は、検出された符号系列がp1乃至pKのうちのどの符号系列piかを特定することにより、垂直方向の方位、即ち、角度δを検出することができる。
なお、上述したように、2次元のM系列乱数により2次元パターンは生成されるので、図3Aの2次元パターンを垂直方向に並ぶ符号系列と見た場合、2次元パターンは、水平方向に異なる位置にある符号系列どうしにおいても直交性を有している。しかし、水平方向に掃引する場合において、水平方向に異なる位置にある符号系列どうしの直交性は必要ではない。
一方、水平方向については、方位検出器2が2次元パターンを水平方向に掃引して放射することにより、放射範囲4の水平方向の各位置(各方位)に、符号系列pi(i=1,2,・・・,Kのいずれか)の光が順次放射される。符号系列piの光の放射開始時刻が早い方位に反射体3が存在していた場合には、符号系列piの光が反射して返ってくる時刻も早くなる。一方、符号系列piの光の放射開始時刻が遅い方位に反射体3が存在していた場合には、符号系列piの光が反射して返ってくる時刻も遅くなる。即ち、反射体3の水平方向の角度θは、符号系列piの光の位相ずれとして検出することができる。従って、方位検出器2は、符号系列piが検出されるまでの遅延時間を算出することにより、反射体3の水平方向の位置、即ち、角度θを検出する。
[物体検出システム1の構成例]
図4は、図1の物体検出システム1の機能ブロック図を示している。
方位検出器2は、光パターン投影部11、反射光検出部12、および反射光解析部13とからなる。さらに光パターン投影部11は、光源21、放射パターン生成部22、および掃引部23により構成される。
光源21は、例えば、633nmの波長のレーザ光(ヘリウムネオンレーザ)を出射する。なお、レーザ光の波長は、633nmに限定されず、その他の波長を採用することもできる。また、キセノンランプやハロゲンランプ、LEDなど、その他の光源を採用することも可能である。
放射パターン生成部22は、光源21からのレーザ光(平行光)を用いて、図3Aに示した2次元パターンの光を生成し、掃引部23に供給する。掃引部23は、放射パターン生成部22から供給される2次元パターンの光を、所定の角度の範囲内で水平方向に掃引する。
反射光検出部12は、例えば、フォトダイオードなどからなり、光パターン投影部11が放射した光のうち、反射体3で反射されて戻ってきた光を検出する。そして、反射光検出部12は、光の検出の有無を示す信号(電気信号)を検出信号として反射光解析部13に出力する。
反射光解析部13は、反射光検出部12から供給される検出信号に基づいて、反射体3の水平方向の角度θ、および垂直方向の角度δを算出する。
以下、図を参照して、各構成の詳細について説明する。
[放射パターン生成部22および掃引部23の構成例]
図5は、放射パターン生成部22および掃引部23の構成例を示している。
図5では、図3Aに示した2次元パターンが形成された平面形状のホログラムシート22Aが、放射パターン生成部22として採用されている。このホログラムシート22Aが掃引部23としてのガルバノミラー(図示せず)により、100Hz程度で、所定の角度範囲を掃引(往復移動)する。その結果、2次元パターンの光が放射される。
[反射体3の構成例]
図6は、反射体3の構成例を示している。
反射体3には、図6に示されるように、表裏とも鏡面で円状の3枚の反射板を、中心を同一にして互いに直交するように構成された構造を採用することができる。これにより、反射体3は、全方位に対するコーナーキューブとして機能し、入射された方向と同一方向に光を反射する。
なお、光パターン投影部11から放射された2次元パターンの、符号系列の0または1に対応する1つの正方形パターン(単位符号幅)の大きさは、光パターン投影部11から離れるほど大きくなる。反射体3の大きさ(サイズ)は、2次元パターンの光が反射体3に照射されたとき、符号系列の0または1に対応する1つの正方形パターンがちょうど含まれるサイズとするのが理想的である。
[反射光検出部12の配置例]
図7は、反射光検出部12の配置例を示している。
反射光検出部12は、図7Aに示されるように、光パターン投影部11の近傍、かつ、反射体3で反射されて戻ってきた反射光の広がり範囲内に配置され、反射光を受光することができる。
また、図7Bに示されるように、偏光ビームスプリッタ31と1/4波長板32を光パターン投影部11の前面に設け、光パターン投影部11と反射体3とを結ぶ光軸に垂直な方向に反射光検出部12を配置して検出させることができる。なお、偏光ビームスプリッタ31と1/4波長板32の代わりに、ハーフミラーを採用してもよい。
[反射光検出部12の処理]
次に、図8を参照して、反射光検出部12で検出される信号について説明する。
図8は、反射体3−1が、垂直方向に関し、符号系列p10の光を放射する方位に位置し、反射体3−2が、符号系列p15の光を放射する方位に位置している場合の例を示している。
また、水平方向については、反射体3−2は、放射範囲4の右端の方位に、反射体3−1は、放射範囲4の右端から2次元パターンの掃引を開始したとき、2次元パターンの掃引速度でΔt時間相当の方位にあるとする。
なお、光パターン投影部11から照射された光が反射光検出部12に戻ってくるまでの往復の時間は無視できるものとする。
光パターン投影部11が2次元パターンを放射したとき、垂直方向については、反射体3の位置により、反射して戻ってくる符号系列の光が異なる。すなわち、反射体3−1からは、符号系列p10の光が反射されて戻ってくる。一方、反射体3−2からは符号系列p15の光が反射されて戻ってくる。
また、水平方向については、放射範囲4の右端から2次元パターンの掃引を開始すると、反射体3−2には即座に符号系列p15の光が照射されるので、反射光検出部12において符号系列p15の光が即座に検出される。一方、反射体3−1には、2次元パターンの掃引の開始からΔt時間後に符号系列p10の光が照射されるので、2次元パターンの掃引の開始からΔt時間後に反射光検出部12において符号系列p10の光が検出される。
その結果、反射光検出部12は、掃引開始からΔt時間経過するまでは符号系列p10の光のみを検出し、Δt時間経過後からは、符号系列p15の光と符号系列p10の光とが合成された光を検出する。符号系列p15と符号系列p10の両方が発光しているタイミングでは、反射光検出部12が検出する信号レベルは2倍になる。従って、後段の反射光解析部13では、反射光検出部12から供給される検出信号から、符号系列p10とp15を分離して検出することが必要となる。
[反射光解析部13の処理]
次に、図9を参照して、反射光解析部13の処理について説明する。
反射光解析部13は、反射光検出部12から供給される検出信号s[t]のフーリエ変換S[w]を求める。また、反射光解析部13は、既知である各符号系列pi[t]のフーリエ変換Pi[w]を予め求めておく。
そして、反射光解析部13は、検出信号s[t]のフーリエ変換S[w]の複素共役S*[w]と、各符号系列pi[t]のフーリエ変換Pi[w]の内積を演算し、その演算結果を逆フーリエ変換する。
即ち、反射光解析部13は、i=1乃至Kとする全ての符号系列piに対し、次式で表される演算を行う。
i[t]=InverseFourier[Pi[w]・S*[w]][t]
上述の演算を行った場合、反射体3が存在する符号系列pi[t]には、ピークが発生し、反射体3が存在しない符号系列pi[t]には、ピークが発生しない。また、そのピークが発生する時間軸方向の位置は、反射体3の水平方向の位置(方位)に対応する。
図8の例における符号系列p10の演算結果が図9に示されている。図9のp10[t]では、横軸のΔt時間に相当する位置に、ピークが発生している。また、図示は省略するが、p15[t]の演算結果にもピークが発生する。
なお、例えば、反射体3−1が符号系列p10とp11の中間的な位置に存在していた場合、反射光検出部12では、1/2の出力レベルの符号系列p10とp11それぞれが検出されることになる。従って、逆フーリエ変換による符号系列p10とp11の出力レベル(ピーク値)の比に応じて垂直方向の方位を、符号系列単位を内分した位置として算出することも可能である。これにより、反射体3−1の垂直方向の方位の検出精度を向上させることが可能である。
以上のように、複数の反射体3から同時に反射光が受光された場合であっても、フーリエ変換の内積を求め、その逆フーリエ変換の演算を行うことにより、各反射体3を識別して、それぞれの水平方向および垂直方向の方位(位置)を検出することができる。
次に、図10のフローチャートを参照して、図1の物体検出システム1による方位検出処理について説明する。
初めに、ステップS1において、光パターン投影部11は、2次元の光パターンを放射する。すなわち、光源21から出射されたレーザ光が放射パターン生成部22としての2次元パターンが形成されたホログラムシート22Aに照射される。そして、ホログラムシート22Aが取り付けられている掃引部23としてのガルバノミラーが所定の角度範囲内を一定の速度(角速度)で角度を振ることにより、2次元の光パターンが放射される。
ここで、光パターン投影部11は、例えば、ガルバノミラーの角度を取得することにより、各符号系列の光がどの時刻にどの方向に放射されているかを把握しており、その符号系列の光の時刻と方位の関係を反射光解析部13に供給する。
ステップS2において、反射光検出部12は、光パターン投影部11から放射され、反射体3で反射されて戻ってきた反射光を検出する。反射光検出部12は、検出された反射光を電気信号に変換し、検出信号として反射光解析部13に供給する。
ステップS3において、反射光解析部13は、反射光検出部12から供給される検出信号に基づいて、反射体3の水平方向の角度θと垂直方向の角度δを算出する。即ち、反射光解析部13は、反射光検出部12で検出された光がどの符号系列の光であるかを解析することにより、反射体3の垂直方向の角度δを算出する。また、反射光解析部13は、光パターン投影部11からの符号系列の光の時刻と方位の関係を表す情報により、各符号系列の光が各方位にいつ放射されているかを認識している。従って、反射光解析部13は、反射光検出部12で所定の符号系列が検出されるまでの時間(遅延時間)から、反射体3の水平方向の角度θを算出する。
ステップS4において、反射光解析部13は、解析の結果得られた角度θおよびδを、検出時刻とともに、半導体メモリ等の記録媒体に記録する。
方位検出器2は、例えば、ユーザが図示せぬ操作ボタンを操作すること等により検出処理の開始が指示されたとき、図10の処理を開始し、検出処理の終了が指示されるまで、図10の処理を繰り返し実行する。
以上説明した物体検出システム1によれば、検出対象となる物体の所定の箇所に反射体3を取り付け、既知の2次元パターンの光を掃引することにより、ターゲットである反射体3の水平方向および垂直方向の方位を高精度に検出することができる。
物体検出システム1によれば、光パターン投影部11が既知の2次元パターンの光を放射し、ターゲットには反射体3を取り付けるだけである。従って、従来のクロマキーの手法を用いた検出方法のように、被測定者が特別な環境下で行う必要がなく、反射体3のみを取り付ければよいので、簡便にターゲットの検出が可能である。
物体検出システム1によれば、入射された方向と同一方向に光を反射する反射体3を採用することにより、2次元の光パターンを放射しつつも、反射光は1点に集光される。したがって、CCD(Charge Coupled Device)などの2次元の撮像素子を用いる必要がなく、フォトダイオードのような単純な受光デバイスがあれば足りる。したがって、小型で安価な光学系で高精度な方位の検出が可能である。また、複数の反射体3からの反射光を同時に受光した場合であっても、各反射体3を識別して、それぞれの水平方向および垂直方向の方位(位置)を検出することができる。
さらに、2次元の光パターンを放射することで冗長度を持たせることができ、照射光の出力を低減することが可能である。即ち、照射されるのは、一連の符号系列であるので、その一部が仮に欠落したとしても符号系列の特定が可能である。したがって、光源としてレーザを用いた場合であっても、低レベルの出力で十分であり、人体等への影響を防止することができる。
なお、上述した例において、物体検出システム1が検出できるのは、ターゲットの方位のみであるが、図11に示す構成を採用することで、ターゲットの3次元座標系における位置(座標値)を検出することができる。
[物体検出システム1のその他の形態]
即ち、図11は、物体検出システム1のその他の構成例を示している。
図11の物体検出システム1では、2個の方位検出器2−1および2−2が設けられ、被測定者のターゲットとされる関節等に3個の反射体3−1乃至3−3が取り付けられている。また、方位検出器2−1および2−2には、位置検出器50が接続されている。
位置検出器50には、方位検出器2−1および2−2それぞれの位置関係が予め入力されている。位置検出器50は、方位検出器2−1および2−2それぞれから供給される反射体3−1乃至3−3の角度θとδに基づいて、三角測量の原理により、3次元座標系における反射体3−1乃至3−3の位置を算出する。
なお、位置検出器50の位置検出(演算)処理は、方位検出器2−1または2−2のいずれか一方に持たせることも可能である。
以上のように、2個の方位検出器2を採用した場合、3次元座標系における反射体3の位置を検出することができる。
3次元座標系における位置検出は、例えば、CG画像を用いたゲームや映画の特撮などにおいて、人間の自然な動きを表現するための体の部位の移動の取り込みに使用することができる。また、例えば、リハビリテーションによる患者の所定の部位の機能改善を指標化するため、患者の所定の部位の移動の取り込みに使用することができる。
[その他の変形例]
上述した例では、放射パターン生成部22および掃引部23の構成として、図5を参照して説明したように、ホログラムシート22Aをガルバノミラーで駆動する構成が採用された。
その他、放射パターン生成部22および掃引部23の構成としては、図12に示すような構成を採用することができる。
図12Aは、放射パターン生成部22として、円形状のホログラムシート22Bを採用し、掃引部23として、ホログラムシート22Bの中心を軸としてホログラムシート22Bを回転させるモータ(図示せず)を採用した構成例を示している。
光源21がレーザ光をホログラムシート22Bの所定の範囲に照射し、掃引部23としてのモータがホログラムシート22Bの中心を軸としてホログラムシート22Bを回転させることにより、2次元パターンの光を放射することができる。
図12Bは、放射パターン生成部22として、側面にホログラムシートを貼り付けた円柱22Cを採用し、掃引部23として、円柱22Cの中心を軸として回転させるモータ(図示せず)を採用した構成例を示している。
光源21がレーザ光を円柱22Cの側面の所定の範囲に照射し、掃引部23としてのモータが円柱22Cを回転させることにより、2次元パターンの光を放射することができる。
なお、図5において平面形状のホログラムシート22Aを掃引する場合には、反射体3に照射される符号系列が掃引方向の往路と復路によって反転する。一方、図12Aおよび図12Bに示したように、同一軸を中心とする一方向の回転によって2次元パターンの光を放射する場合には、符号系列は一方向に固定され、反転することはない。どちらの場合であっても、光パターン投影部11は、符号系列がどの時刻にどの方向に放射されているかを把握しているため、問題はない。また、図5に示した例において、平面形状のホログラムシート22Aを垂直方向に掃引することも可能である。この場合、方位検出器2は、水平方向の位置(方位)については垂直方向に並ぶ符号系列を識別することにより算出し、垂直方向の位置(方位)については垂直方向に並ぶ符号系列の位相ずれを検出することにより算出する。
また、光パターン投影部11は、上述した以外のさらにその他の構成を採用することができる。例えば、光源21として2次元のLEDを採用し、放射パターン生成部22として、2次元パターンに対応するように一部が遮光された遮光フィルタを採用することが可能である。そして、2次元パターンの遮光フィルタが前面に装着された2次元のLEDを掃引部23が掃引することにより、2次元パターンを放射することができる。
掃引部23には、ガルバノミラーの他、MEMS (Micro Electro Mechanical Systems)等を採用することも可能である。
また、反射体3は、上述した球状のコーナーキューブに限定されず、平面形状の反射板などでもよい。
さらに、反射光検出部12の前面には、所定の波長、具体的には、レーザ光と同一の633nmの波長のみを透過するフィルタを設けることにより、検出信号のS/N比を向上させることができる。
反射光解析部13による角度θおよびδの算出処理および位置検出器50による3次元座標系における位置の算出処理は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、コンピュータにインストールされる。ここで、コンピュータには、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータや、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどが含まれる。
図13は、上述した方位または位置の算出処理をプログラムにより実行するコンピュータのハードウエアの構成例を示すブロック図である。
コンピュータにおいて、CPU(Central Processing Unit)101,ROM(Read Only Memory)102,RAM(Random Access Memory)103は、バス104により相互に接続されている。
バス104には、さらに、入出力インタフェース105が接続されている。入出力インタフェース105には、入力部106、出力部107、記憶部108、通信部109、及びドライブ110が接続されている。
入力部106は、キーボード、マウス、マイクロホンなどよりなる。出力部107は、ディスプレイ、スピーカなどよりなる。記憶部108は、ハードディスクや不揮発性のメモリなどよりなる。通信部109は、ネットワークインタフェースなどよりなる。ドライブ110は、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、或いは半導体メモリなどのリムーバブル記録媒体111を駆動する。
以上のように構成されるコンピュータでは、CPU101が、例えば、記憶部108に記憶されているプログラムを、入出力インタフェース105及びバス104を介してRAM103にロードして実行することにより、方位または位置の算出処理の処理が行われる。
コンピュータ(CPU101)が実行するプログラムは、例えば、パッケージメディア等としてのリムーバブル記録媒体111に記録して提供することができる。また、プログラムは、ローカルエリアネットワーク、インターネット、デジタル衛星放送といった、有線または無線の伝送媒体を介して提供することができる。
コンピュータでは、プログラムは、リムーバブル記録媒体111をドライブ110に装着することにより、入出力インタフェース105を介して、記憶部108にインストールすることができる。また、プログラムは、有線または無線の伝送媒体を介して、通信部109で受信し、記憶部108にインストールすることができる。その他、プログラムは、ROM102や記憶部108に、あらかじめインストールしておくことができる。
なお、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。
本明細書において、システムとは、複数の装置により構成される装置全体を表すものである。
本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
1 物体検出システム, 2 方位検出器, 3 反射体, 11 光パターン投影部, 12 反射光検出部, 13 反射光解析部, 21 光源, 22 放射パターン生成部, 23 掃引部, 50 位置検出器

Claims (7)

  1. 2次元パターンの光を放射する放射手段と、
    前記2次元パターンの光を所定の空間内で掃引する掃引手段と、
    物体の所定の箇所に検出対象として取り付けられ、前記2次元パターンの光を、入射された方向と同一方向に光を反射する反射手段と、
    前記反射手段により反射されて戻ってきた反射光を検出する検出手段と、
    前記検出手段により検出された前記反射光の信号に基づいて、前記反射手段の水平方向および垂直方向の角度を算出する解析手段と
    を備える検出システム。
  2. 前記2次元パターンは、M系列乱数により生成された符号系列を正方形パターンの有無に置き換えて構成される
    請求項1に記載の検出システム。
  3. 前記解析手段は、前記符号系列を特定することにより、前記反射手段の垂直方向および水平方向の一方の角度を算出し、前記符号系列の位相ずれを検出することにより、前記反射手段の垂直方向および水平方向の他方の角度を算出する
    請求項2に記載の検出システム。
  4. 前記解析手段は、全ての前記符号系列について、前記反射光の信号のフーリエ変換の複素共役と符号系列のフーリエ変換との内積を演算し、その演算結果を逆フーリエ変換することにより、前記反射手段の水平方向および垂直方向の角度を算出する
    請求項3に記載の検出システム。
  5. 前記解析手段は、前記符号系列の光の出力レベルの比に応じて、垂直方向の方位を内分して算出する
    請求項4に記載の検出システム。
  6. 2つの前記放射手段および前記掃引手段を備え、
    2つの前記放射手段および前記掃引手段それぞれの前記反射光の信号から算出される前記反射手段の前記水平方向および垂直方向の角度から、前記反射手段の3次元座標系における位置を算出する位置検出手段をさらに備える
    請求項1に記載の検出システム。
  7. 2次元パターンの光を放射し、
    前記2次元パターンの光を所定の空間内で掃引し、
    前記2次元パターンの光が、物体の所定の箇所に検出対象として取り付けられた反射体によって入射された方向と同一方向に反射されて戻ってきた反射光を検出し、
    検出された前記反射光の信号に基づいて、前記反射体の水平方向および垂直方向の角度を算出する
    検出方法。
JP2009174328A 2009-07-27 2009-07-27 検出システムおよび検出方法 Expired - Fee Related JP5347800B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009174328A JP5347800B2 (ja) 2009-07-27 2009-07-27 検出システムおよび検出方法
US12/838,521 US8243288B2 (en) 2009-07-27 2010-07-19 Object detection system and object detection method
CN201010231427.4A CN101968624B (zh) 2009-07-27 2010-07-20 物体检测系统及物体检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009174328A JP5347800B2 (ja) 2009-07-27 2009-07-27 検出システムおよび検出方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011028042A true JP2011028042A (ja) 2011-02-10
JP2011028042A5 JP2011028042A5 (ja) 2012-07-19
JP5347800B2 JP5347800B2 (ja) 2013-11-20

Family

ID=43497064

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009174328A Expired - Fee Related JP5347800B2 (ja) 2009-07-27 2009-07-27 検出システムおよび検出方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8243288B2 (ja)
JP (1) JP5347800B2 (ja)
CN (1) CN101968624B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019138817A (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 オムロン株式会社 3次元測定装置、3次元測定方法及び3次元測定プログラム

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2011348158B2 (en) 2010-12-23 2016-04-28 Caterpillar Inc. Method and apparatus for measuring ash deposit levels in a particulate filter
KR101087180B1 (ko) * 2011-06-22 2011-11-28 동국대학교 경주캠퍼스 산학협력단 신뢰성 있는 금속 표면 3차원 형상 추출 기법 및 시스템
CA2890944C (en) * 2012-11-12 2018-06-26 Infant Ventures Llc Spoon
US10580386B2 (en) * 2017-04-21 2020-03-03 Ford Global Technologies, Llc In-vehicle projected reality motion correction
US11327162B1 (en) 2017-11-20 2022-05-10 Waymo Llc Methods of calibrating or validating sensors by using a plurality of fiducials
CN110940657A (zh) * 2019-12-12 2020-03-31 北京大学 一种对被测物体进行光谱检测的检测系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08136222A (ja) * 1994-11-12 1996-05-31 Omron Corp 三次元計測方法およびその装置
JPH10153653A (ja) * 1996-11-25 1998-06-09 Honda Access Corp 車載用レーザレーダ装置及びこれに応用可能なホログラムスキャナ
JP2003233460A (ja) * 2002-02-06 2003-08-22 Ricoh Co Ltd 座標入力装置
JP2005274232A (ja) * 2004-03-23 2005-10-06 Sharp Corp 位置検出装置、被検出器および位置検出システム

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4108539A (en) * 1976-11-18 1978-08-22 Hewlett-Packard Company Reflecting lens system
US4820041A (en) * 1986-11-12 1989-04-11 Agtek Development Co., Inc. Position sensing system for surveying and grading
JP3400485B2 (ja) * 1993-03-23 2003-04-28 株式会社ワコム 光学式位置検出装置および光学式座標入力装置
JP2000147124A (ja) * 1998-11-12 2000-05-26 Denso Corp 車載レーダ装置
JP4144960B2 (ja) 1999-03-18 2008-09-03 三洋電機株式会社 撮像装置及び画像合成装置並びに方法
US6836285B1 (en) * 1999-09-03 2004-12-28 Arete Associates Lidar with streak-tube imaging,including hazard detection in marine applications; related optics
US6545286B1 (en) * 1999-11-03 2003-04-08 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Interior Method and apparatus for water level determination
JP4004316B2 (ja) * 2002-03-20 2007-11-07 株式会社トプコン 測量装置及び測量装置を用いて画像データを取得する方法
US7136753B2 (en) * 2002-12-05 2006-11-14 Denso Corporation Object recognition apparatus for vehicle, inter-vehicle control apparatus, and distance measurement apparatus
US7360703B2 (en) * 2004-09-23 2008-04-22 Ut-Battelle, Llc Laser scanning system for object monitoring
US7933001B2 (en) * 2005-07-11 2011-04-26 Kabushiki Kaisha Topcon Geographic data collecting system
US8330942B2 (en) * 2007-03-08 2012-12-11 Trimble Ab Methods and instruments for estimating target motion
JP2008286565A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Omron Corp 物体検知装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08136222A (ja) * 1994-11-12 1996-05-31 Omron Corp 三次元計測方法およびその装置
JPH10153653A (ja) * 1996-11-25 1998-06-09 Honda Access Corp 車載用レーザレーダ装置及びこれに応用可能なホログラムスキャナ
JP2003233460A (ja) * 2002-02-06 2003-08-22 Ricoh Co Ltd 座標入力装置
JP2005274232A (ja) * 2004-03-23 2005-10-06 Sharp Corp 位置検出装置、被検出器および位置検出システム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019138817A (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 オムロン株式会社 3次元測定装置、3次元測定方法及び3次元測定プログラム
WO2019159769A1 (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 オムロン株式会社 3次元測定装置、3次元測定方法及びプログラム
US11321860B2 (en) 2018-02-14 2022-05-03 Omron Corporation Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and non-transitory computer readable medium

Also Published As

Publication number Publication date
US8243288B2 (en) 2012-08-14
US20110019203A1 (en) 2011-01-27
CN101968624A (zh) 2011-02-09
CN101968624B (zh) 2014-08-20
JP5347800B2 (ja) 2013-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5347800B2 (ja) 検出システムおよび検出方法
US10585193B2 (en) Determining positional information of an object in space
US9188430B2 (en) Compensation of a structured light scanner that is tracked in six degrees-of-freedom
KR101652393B1 (ko) 3차원 영상 획득 장치 및 방법
CN103415780B (zh) 用于确定测量仪的位置和定向的方法和系统
US9842407B2 (en) Method and system for generating light pattern using polygons
US20140168424A1 (en) Imaging device for motion detection of objects in a scene, and method for motion detection of objects in a scene
CN109073756A (zh) 以变化的照射场密度进行基于lidar的3-d成像
CN205336464U (zh) 深度数据检测系统
WO2009063472A1 (en) Dual mode depth imaging
WO2019067109A1 (en) 3-D DEPTH PROJECTOR 360 DEGREES
US8456645B2 (en) Method and system for fast three-dimensional imaging using defocusing and feature recognition
JP7409443B2 (ja) 撮像装置
JP2017156306A (ja) 距離センサ、走行体、ロボット及び3次元計測装置
KR101802894B1 (ko) Tof 및 구조광 방식이 융합된 3차원 영상 획득 시스템
KR20160144148A (ko) 광학 장치 및 깊이 정보 생성 방법
JP2022521093A (ja) 動体視覚センサおよびパターン投影を用いる3次元撮像および感知
JP2006081771A (ja) 電磁波を用いた生物体に関する情報の推定方法および装置
CN117629403A (zh) 主动式单光子探测阵列非视域成像系统
JP2004053532A (ja) 光学的形状測定装置
Munkelt et al. Large-volume NIR pattern projection sensor for continuous low-latency 3D measurements
JP2004132759A (ja) 三次元画像生成用データ撮像装置、および三次元画像生成用データ撮像方法、並びにコンピュータ・プログラム
US10742881B1 (en) Combined temporal contrast sensing and line scanning
US20150061917A1 (en) Imaging system and method
JP2018066655A (ja) 鏡面情報取得装置、鏡面測定方法及びコンピュータプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120531

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120531

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130712

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130723

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130805

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130912

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees