JP2011027734A - 肌理のある面の検査のための装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被検査面(10)上に放射線を照射する工程と、面(10)上に照射され、面(10)で反射した放射線の少なくとも一部による画像を受ける工程と、記録画像の位置分解評価および画像を特徴付ける少なくとも1つの値(K)の決定を行う工程と、を含む肌理のある面(10)の光学的検査のための方法であって、面を特徴付けるパラメータ(G)は、特徴値(K)を使用しながらおよび面の(既知または決定された)少なくとも1つのさらなる特性(E)を使用しながらに決定されることを特徴とする方法。
【選択図】図1
Description
2 放射装置
4 画像記録装置、検知装置
8 処理装置
10 面
14 開口
16 ディスプレイ装置
18 比較器
22 筐体
24 記憶装置
26 記憶装置
28 スクリーン
30 制御装置
34 ホイール
S1、S2、S3 方向
Claims (17)
- 被検査面(10)上に放射線を照射する工程と、
前記面(10)上に照射され、前記面(10)で反射した前記放射線の少なくとも一部による画像を受ける工程と、
記録された前記画像の位置分解評価および前記画像を特徴付ける少なくとも1つの値(K)の決定を行う工程と
を含む、特に肌理のある面(10)の光学的検査のための方法であって、
前記面を特徴付けるパラメータ(G)は、前記特徴値(K)を使用し、かつ、前記面の既知または決定された少なくとも1つのさらなる特性(E)を使用して決定されることを特徴とする方法。 - 前記肌理のある面(10)を測定することなく、特に、前記面(10)の鉛直断面形状を測定することなく、前記面を特徴付ける前記パラメータを決定することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 記録画像の評価結果が基準データと比較されることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 前記面(10)の定性的検査を行うことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記放射線の照射と前記画像の記録の少なくとも一方は、少なくとも2つの異なる角度で行うことを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 標準光が前記面(10)に照射されることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記面(10)の材料、前記面(10)の反射性、前記面の色特性、前記面の肌理特性、前記面の輝度コントラスト、これらの組み合わせなどを含む特性群から前記面(10)のさらなる特性が選択されることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。
- 分散放射線が前記面上に照射されることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記特徴値(K)は統計的な量であることを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。
- 位置分解画像の複数の個別値を評価することによって前記特徴値が決定されることを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- パルス放射を使用することを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の方法。
- 人間の目による画像評価方法をシミュレートすることを特徴とする請求項1から11のいずれか一項に記載の方法。
- 放射線を所定角度で被検査面上に照射する少なくとも1つの放射装置(2)と、
前記放射装置(2)によって前記面(10)上に照射され、前記面(10)で反射される前記放射線の少なくとも一部を記録し、位置分解画像を記録するのに適した少なくとも1つの画像記録装置(4)と、
前記画像を特徴付ける少なくとも1つの値を決定する処理装置(8)と
を備える肌理のある面(10)の光学的検査のための装置であって、
前記処理装置(8)は、特徴値(K)を使用し、かつ、前記面(10)の既知または決定された少なくとも1つのさらなる特性(E)を使用して、前記面(10)を特徴付けるパラメータを決定するように設計されていることを特徴とする装置。 - 前記装置(1)が、少なくとも1つの特徴値、または、既知または決定された前記特性を特徴付ける値を格納する記憶装置(14)を備えることを特徴とする請求項13に記載の装置。
- 前記装置(1)は少なくとも1つのさらなる放射装置(12)または少なくとも1つのさらなる画像記録装置を備えることを特徴とする請求項13または14に記載の装置。
- 前記画像記録装置(4)は前記面(10)に対して90°の角度に配置されることを特徴とする請求項13から15のいずれか一項に記載の装置。
- 前記装置は、検出された特徴値の少なくとも1つを基準値と比較する比較器(18)を備えることを特徴とする請求項13から16のいずれか一項に記載の装置。
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