JP2011019591A - X-ray equipment, interpolating method of lost pixel in x-ray detector, and method of creating deficit map in x-ray detector - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide X-ray equipment capable of executing accurate registration of deficits even if instable pixels are present, a method of interpolating lost pixels in an X-ray detector, and a method of creating a deficit map in the X-ray detector. <P>SOLUTION: The X-ray equipment includes a lost pixel detecting part 61 for measuring pixel values of respective pixels while an X-ray beam is not applied to a flat panel detector 4 and detecting lost pixels; an instable pixel detecting part 62 for detecting instable pixels by finding the dispersion of the pixel values at the time; and an interpolation processing part 64 for executing the interpolation processing for the lost pixels based on the pixel values of pixels other than the instable pixels among pixels in the vicinity of the lost pixels based on the deficit map created by the deficit map creating part 63. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

この発明は、X線撮影装置、X線検出器における欠損画素の補間方法、および、X線検出器における欠損マップの作成方法に関する。   The present invention relates to an X-ray imaging apparatus, a defective pixel interpolation method in an X-ray detector, and a defect map creation method in an X-ray detector.

X線撮影装置に使用されるX線検出器としては、例えば、フラットパネルディテクタ(FPD)が知られている。このフラットパネルディテクタは、TFT等のスイッチング素子が二次元アレイ(行列)状に配置された基板上に、a−Se(アモルファス・セレン)等の変換膜を蒸着した構成を有する。このフラットパネルディテクタにおいては、被検体を通過したX線像が変換膜上に投影されると、像の濃淡に比例した電荷信号が変換膜内に発生する。この電荷信号は、二次元アレイ状に配置された画素電極により収集され、静電容量(キャパシタ)に蓄積される。静電容量に蓄積された電荷は、スイッチング素子の動作に伴って読み出され、電気信号として画像処理部に送信されて画像処理が行われる。   As an X-ray detector used for an X-ray imaging apparatus, for example, a flat panel detector (FPD) is known. This flat panel detector has a configuration in which a conversion film such as a-Se (amorphous selenium) is deposited on a substrate on which switching elements such as TFTs are arranged in a two-dimensional array (matrix). In this flat panel detector, when an X-ray image that has passed through the subject is projected onto the conversion film, a charge signal proportional to the density of the image is generated in the conversion film. This charge signal is collected by pixel electrodes arranged in a two-dimensional array and accumulated in a capacitance (capacitor). The electric charge accumulated in the electrostatic capacitance is read out along with the operation of the switching element, and is transmitted as an electric signal to the image processing unit for image processing.

このようなa−Se等の変換膜を使用したX線検出器においては、製造プロセスにおいて欠損画素が発生する場合がある。このため、従来、一定期間毎にキャリブレーションを実行し、変換膜に対して一定の強度のX線を照射する一様照射を行ったときの画素値や、変換膜にX線を照射しない状態における画素値に基づいて欠損画素を検出している(特許文献1参照)。   In such an X-ray detector using a conversion film such as a-Se, defective pixels may occur in the manufacturing process. For this reason, conventionally, the calibration is performed every certain period, and the pixel value when the conversion film is uniformly irradiated to irradiate the conversion film with a certain intensity, or the conversion film is not irradiated with the X-ray. A defective pixel is detected based on the pixel value in (see Patent Document 1).

また、X線検出器により検出した画素値を経時的に逐次に測定し、その画素値の時間変化分に基づいて画素値の時間に関する分散を求めることにより、恒常的に欠損画素でない画素についても欠損画素として検出することが可能なX線撮影装置も提案されている(特許文献2参照)。   In addition, the pixel values detected by the X-ray detector are sequentially measured over time, and the dispersion of the pixel values with respect to time is calculated based on the temporal change of the pixel values. An X-ray imaging apparatus that can be detected as a defective pixel has also been proposed (see Patent Document 2).

特開2008−301883号公報JP 2008-301883 A 特開2008−194152号公報JP 2008-194152 A

このようなX線検出器においては、特に欠損画素の周辺に、画素値が経時的に変化するような不安定な挙動を示す画素が存在する。このような不安定画素がキャリブレーションで検出されなかった場合には、この画素は正常画素として取り扱われることになる。   In such an X-ray detector, there are pixels that exhibit unstable behavior such that the pixel value changes with time, particularly around the defective pixels. When such an unstable pixel is not detected by calibration, this pixel is treated as a normal pixel.

ところで、一般的に、欠損画素の検出後には、欠損登録が実行される。この欠損登録は、欠損画素の位置を特定するとともに、この欠損画素を補間する工程である。そして、欠損画素の補間は、欠損画素の画素値を、その欠損画素に隣接する複数の画素から中央値の画素で置換するメディアンフィルター処理や、その欠損画素に隣接する複数の画素値を利用して変換する変換処理により行われる。   By the way, generally, after detecting a defective pixel, the defect registration is executed. This defect registration is a process of specifying the position of the defective pixel and interpolating the defective pixel. The missing pixel interpolation uses median filter processing that replaces the pixel value of the defective pixel with a median pixel from a plurality of pixels adjacent to the defective pixel, or a plurality of pixel values adjacent to the defective pixel. This is performed by conversion processing.

このような欠損登録時の補間処理工程においては、上述した正常画素として取り扱われた不安定画素も、補間処理に利用されることになる。このため、この補間処理時に不安定画素が不安定な挙動を示した場合には、この不安定画素を利用して補間を行った欠損画素が適正な画素値を示さないことになり、大きな欠損塊となって画像上に現れることになる。   In such an interpolation process step at the time of registration, the above-described unstable pixel treated as a normal pixel is also used for the interpolation process. For this reason, if an unstable pixel shows an unstable behavior during this interpolation process, a defective pixel that has been interpolated using this unstable pixel will not show an appropriate pixel value, and a large missing pixel It will appear as a lump on the image.

一方、上述した特許文献2のように、画素値の時間変化分に基づいて画素値の時間に関する分散を求め、恒常的に欠損画素でない画素についても欠損画素として検出する場合においては、恒久的に欠損を生じない画素についてもこれを欠損画素として検出することができるが、欠損画素と判定するか否かの閾値の設定によっては、過剰な補正を行うことになりかねない。このため、補正画素が必要以上に増大することもあり、必要な診断部位が消滅することにより正確なX線撮影が実行できない場合も生ずる。   On the other hand, as in the above-described Patent Document 2, when the variance of the pixel value is obtained based on the temporal change of the pixel value and a pixel that is not permanently a defective pixel is detected as a defective pixel, it is permanently Although a pixel that does not have a defect can be detected as a defective pixel, excessive correction may be performed depending on the setting of a threshold value for determining whether or not the pixel is a defective pixel. For this reason, the number of correction pixels may increase more than necessary, and there may be a case where accurate X-ray imaging cannot be performed due to disappearance of a necessary diagnostic part.

この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、不安定画素が存在した場合にも、正確な欠損登録を実行することが可能なX線撮影装置、X線検出器における欠損画素の補間方法、および、X線検出器における欠損マップの作成方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in order to solve the above-described problem. Even when unstable pixels exist, an X-ray imaging apparatus and an X-ray detector capable of performing accurate defect registration are provided. An object is to provide an interpolation method and a method for creating a defect map in an X-ray detector.

請求項1に記載の発明は、被検体に向けてX線を照射するX線管と、X線に感応する変換膜と画素を区画する二次元アレイ状の検出素子とを有し、前記X線管から照射され被検体を通過したX線を検出するX線検出器と、を備えたX線撮影装置において、前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を測定して、欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定してその分散を求めることにより、不安定画素を検出する不安定画素検出手段と、前記欠損画素の近傍の画素のうち、前記不安定画素以外の画素の画素値に基づいて、前記欠損画素の補間処理を行う補間処理手段とを備えたことを特徴とする。   The invention described in claim 1 includes an X-ray tube that irradiates the subject with X-rays, a conversion film sensitive to X-rays, and a two-dimensional array of detection elements that partition pixels, An X-ray imaging apparatus comprising: an X-ray detector that detects X-rays irradiated from a ray tube and passed through a subject; or the X-ray detector is not irradiated with X-rays, or the X-ray detector In a state in which uniform X-rays are irradiated, the pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured to detect a defective pixel, and the X-ray detector is not irradiated with X-rays In the state, or in the state where the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, the pixel values of each pixel in the X-ray detector are measured over time to obtain the dispersion, thereby obtaining unstable pixels. Among the unstable pixel detection means for detecting, and the pixels in the vicinity of the defective pixel, Based on the pixel values of the pixels other than the stable pixels, characterized by comprising an interpolation processing means for performing an interpolation process of the defective pixel.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記不安定画素検出手段により検出した不安定画素に対して、不安定画素のデータを付与するとともに、前記欠損画素検出手段により検出した欠損画素に対して、欠損画素の補間を行うときに使用すべき画素の位置情報を含む欠損画素のデータを付与することにより、欠陥マップを作成する欠損マップ作成手段を備え、前記補間処理手段は、前記欠損マップを使用して前記欠損画素の補間処理を行う。   According to a second aspect of the invention, in the first aspect of the invention, unstable pixel data is added to the unstable pixel detected by the unstable pixel detecting means, and the defective pixel detecting means is used. A defect map creating means for creating a defect map by adding defective pixel data including position information of a pixel to be used when performing interpolation of the defective pixel to the detected defective pixel, the interpolation processing The means performs interpolation processing of the defective pixel using the defective map.

請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記欠損画素の補間を行うときに使用すべき画素は、前記欠損画素の近傍で、かつ、前記不安定画素のデータが付与された画素以外の画素から選択される。   According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the pixel to be used when interpolation of the defective pixel is in the vicinity of the defective pixel and the data of the unstable pixel is given. A pixel other than the selected pixel is selected.

請求項4に記載の発明は、請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の発明において、前記欠陥画素検出手段は、前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定して画素値の平均値を演算するとともに、画素値の平均値による画像に対してフィルターを適用した画像と、画素値の平均値による画像との間で減算処理を行うことにより欠損画素を検出する。   According to a fourth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to third aspects, the defective pixel detecting means does not irradiate the X-ray detector with X-rays or the X-rays In a state where the detector is irradiated with uniform X-rays, the pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured over time to calculate an average value of the pixel values, and an image based on the average value of the pixel values is obtained. On the other hand, a defective pixel is detected by performing a subtraction process between the image to which the filter is applied and the image based on the average value of the pixel values.

請求項5に記載の発明は、請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の発明において、前記不安定画素検出手段は、各画素の画素値の標準偏差が、各画素の画素値の標準偏差の平均値よりも一定以上大きな画素、または、一定以上小さな画素を不安定画素として検出する。   According to a fifth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to third aspects, the unstable pixel detecting means is configured such that a standard deviation of the pixel value of each pixel is a standard of the pixel value of each pixel. Pixels larger than a certain value or smaller than a certain value than the average deviation are detected as unstable pixels.

請求項6に記載の発明は、X線に感応する変換膜と画素を区画する二次元アレイ状の検出素子とを有し、前記X線管から照射され被検体を通過したX線を検出するX線検出器に対して、欠損画素を補間するX線検出器における欠損画素の補間方法において、前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定して画素値の平均値を演算するとともに、画素値の平均値による画像に対してフィルターを適用した画像と画素値の平均値による画像との間で減算処理を行うことにより欠損画素を検出する欠損画素検出工程と、前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定してその分散を求めるとともに、各画素の画素値の標準偏差が、各画素の画素値の標準偏差の平均値よりも一定以上大きな画素、または、一定以上小さな画素を不安定画素として検出する不安定画素検出工程と、前記欠損画素の近傍の画素のうち、前記不安定画素以外の画素の画素値を利用することにより、前記欠損画素の補間処理を行う補間処理工程とを備えたことを特徴とする。   The invention described in claim 6 includes a conversion film sensitive to X-rays and a two-dimensional array of detection elements for partitioning pixels, and detects X-rays irradiated from the X-ray tube and passing through the subject. In the method of interpolating a defective pixel in an X-ray detector that interpolates the defective pixel with respect to the X-ray detector, the X-ray detector is not irradiated with X-rays, or the X-ray detector has a uniform X-ray. An image obtained by measuring a pixel value of each pixel in the X-ray detector with time and calculating an average value of the pixel values and applying a filter to an image based on the average value of the pixel values A defective pixel detection step of detecting a defective pixel by performing a subtraction process between the average value of the pixel value and the image, and a state in which the X-ray detector is not irradiated with X-rays, or the X-ray detector In the state irradiated with uniform X-rays, The pixel value of each pixel in the line detector is measured over time to determine its variance, and the standard deviation of the pixel value of each pixel is a pixel greater than a certain value by an average value of the standard deviation of the pixel value of each pixel, Alternatively, an unstable pixel detection step of detecting a pixel smaller than a certain value as an unstable pixel, and a pixel value of a pixel other than the unstable pixel among pixels in the vicinity of the defective pixel is used. And an interpolation processing step for performing the interpolation processing.

請求項7に記載の発明は、X線に感応する変換膜と画素を区画する二次元アレイ状の検出素子とを有し、前記X線管から照射され被検体を通過したX線を検出するX線検出器に対して、欠損登録を行うための欠損マップを作成するX線検出器における欠損マップの作成方法において、前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を測定して、欠損画素を検出する欠損画素検出工程と、前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定してその分散を求めることにより、不安定画素を検出する不安定画素検出工程と、前記不安定画素検出工程において検出した不安定画素に対して、不安定画素コードを入力することにより、不安定画素のマッピングを行う不安定画素マッピング工程と、前記欠損画素検出工程において検出した欠損画素に対して、欠損登録を行うときに使用すべき画素の位置を示す補正位置コードを入力することにより、欠損画素のマッピングを行う欠損画素マッピング工程とを備え、前記欠損画素マッピング工程においては、欠損画素近傍の画素のうち、前記不安定画素コードが入力された画素以外の画素から欠損登録を行うときに使用される画素を選択することを特徴とする。   The invention described in claim 7 has a conversion film sensitive to X-rays and a two-dimensional array-shaped detection element that partitions pixels, and detects X-rays irradiated from the X-ray tube and passing through the subject. In a method for creating a defect map in an X-ray detector for creating a defect map for performing defect registration for an X-ray detector, the X-ray detector is not irradiated with X-rays, or the X-ray detection is performed In a state in which the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, the pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured to detect a defective pixel, and the X-ray detector is irradiated with X-rays In a state in which the X-ray detector is not irradiated or in a state in which the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, the pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured over time to obtain its dispersion, thereby obtaining unstable pixels An unstable pixel detecting step for detecting the unstable pixel and the unstable pixel An unstable pixel mapping step for mapping unstable pixels by inputting an unstable pixel code for the unstable pixels detected in the elementary detection step, and a defective pixel detected in the defective pixel detection step A defective pixel mapping step for mapping the defective pixel by inputting a correction position code indicating the position of the pixel to be used when performing the defective registration, and in the defective pixel mapping step, Among the pixels, a pixel to be used when performing defect registration is selected from pixels other than the pixel to which the unstable pixel code is input.

請求項1に記載の発明によれば、欠損画素の近傍の画素のうち、不安定画素以外の画素の画素値を利用して欠損画素の補間処理を行うことから、不安定画素が存在した場合においても、適正な補間処理を実行して正確な欠損登録を行うことが可能となる。   According to the first aspect of the present invention, since the defective pixel is interpolated using the pixel values of the pixels other than the unstable pixel among the pixels in the vicinity of the defective pixel, the unstable pixel exists. In this case, it is possible to perform accurate interpolation registration by executing appropriate interpolation processing.

請求項2に記載の発明によれば、不安定画素のデータと欠損画素のデータが付与された欠損マップを利用することにより、適正な補間処理を実行して正確な欠損登録を行うことが可能となる。   According to the second aspect of the present invention, it is possible to perform proper interpolation processing and perform accurate defect registration by using a defect map to which unstable pixel data and missing pixel data are added. It becomes.

請求項3に記載の発明によれば、欠損画素の近傍で、かつ、不安定画素のデータが付与された画素以外の画素から補間を行うときに使用すべき画素を選択することから、適正な補間処理を実行可能な欠損マップを作成することが可能となる。   According to the third aspect of the present invention, since a pixel to be used when performing interpolation from a pixel other than a pixel to which data of unstable pixel is added and in the vicinity of a defective pixel, an appropriate value is selected. It is possible to create a missing map that can be subjected to interpolation processing.

請求項4に記載の発明によれば、経時的に測定した画素値の平均値と、これに対してフィルターを適用した画像とを利用して欠損画素を検出することから、ランダムなノイズの影響を除去した上で欠損画素を検出することが可能となる。   According to the fourth aspect of the present invention, since the defective pixel is detected using the average value of the pixel values measured over time and the image to which the filter is applied, the influence of random noise is detected. It is possible to detect a defective pixel after removing.

請求項5に記載の発明によれば、各画素の画素値の標準偏差が各画素の画素値の標準偏差の平均値よりも一定以上大きな画素、または、一定以上小さな画素を不安定画素として検出することから、不安定画素を適切に判定することが可能となる。   According to the fifth aspect of the present invention, a pixel in which the standard deviation of the pixel value of each pixel is larger than the average value of the standard deviation of the pixel value of each pixel or a pixel smaller than the certain value is detected as an unstable pixel. Therefore, it is possible to appropriately determine unstable pixels.

請求項6に記載の発明によれば、欠損画素の近傍の画素のうち、不安定画素以外の画素の画素値を利用して欠損画素の補間処理を行うことから、不安定画素が存在した場合においても、適正な補間処理を実行して正確な欠損登録を行うことが可能となる。また、経時的に測定した画素値の平均値と、これに対してフィルターを適用した画像とを利用して欠損画素を検出することから、ランダムなノイズの影響を除去した上で欠損画素を検出することが可能となる。さらに、各画素の画素値の標準偏差が各画素の画素値の標準偏差の平均値よりも一定以上大きな画素、または、一定以上小さな画素を不安定画素として検出することから、不安定画素を適切に判定することが可能となる。   According to the sixth aspect of the present invention, since the defective pixel is interpolated using the pixel values of pixels other than the unstable pixel among the pixels in the vicinity of the defective pixel, there is an unstable pixel. In this case, it is possible to perform accurate interpolation registration by executing appropriate interpolation processing. In addition, since defective pixels are detected using the average value of pixel values measured over time and an image obtained by applying a filter to the average value, defective pixels are detected after removing the effects of random noise. It becomes possible to do. In addition, because the standard deviation of the pixel value of each pixel is more than a certain value than the average value of the standard deviation of each pixel, or a pixel smaller than a certain value is detected as an unstable pixel, Can be determined.

請求項7に記載の発明によれば、不安定画素に対して不安定画素コードを入力してマッピングが行われ、欠損画素に対して欠損登録を行うときに使用すべき画素の位置を示す補正位置コードを入力してマッピングが行われた欠損マップを使用して、欠損登録を行うことができる。このとき、欠損画素のマッピング時に、欠損画素近傍の画素のうち不安定画素コードが入力された画素以外の画素から欠損登録を行うときに使用される画素を選択することから、不安定画素が存在した場合においても、適正な補間処理を実行して正確な欠損登録を行うことが可能となる。   According to the seventh aspect of the present invention, mapping is performed by inputting an unstable pixel code to an unstable pixel, and correction indicating the position of the pixel to be used when performing defective registration for the defective pixel It is possible to register a defect using a defect map that has been mapped by inputting a position code. At this time, at the time of mapping the defective pixel, there is an unstable pixel because the pixel used when performing the defective registration is selected from the pixels near the defective pixel other than the pixel to which the unstable pixel code is input. Even in this case, it is possible to perform accurate interpolation registration by executing appropriate interpolation processing.

この発明に係るX線撮影装置の概要図である。1 is a schematic diagram of an X-ray imaging apparatus according to the present invention. フラットパネルディテクタ4を側面視した等価回路である。It is the equivalent circuit which looked at the flat panel detector 4 from the side. フラットパネルディテクタ4を平面視した等価回路である。It is an equivalent circuit in plan view of the flat panel detector 4. この発明に係る欠損画素の補間方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the interpolation method of the defective pixel which concerns on this invention. この発明に係る欠損画素の補間方法の概念を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the concept of the defective pixel interpolation method which concerns on this invention. 各画素の標準偏差の分布を示すヒストグラムである。It is a histogram which shows distribution of the standard deviation of each pixel. 欠損マップ作成工程により作成された欠損マップを模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically the defect map produced by the defect map creation process.

以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係るX線撮影装置の概要図である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram of an X-ray imaging apparatus according to the present invention.

このX線撮影装置は、被検体である被検者1を載置するテーブル2と、X線管3と、フラットパネルディテクタ4と、A/D変換器5と、制御部6と、記憶部7と、キーボード等の入力部11と、CRT等の表示部12と、X線管3に付与する管電圧等を制御するX線管制御部8とを備える。また、制御部6は、後程説明するように、欠損画素を検出する欠損画素検出部61と、不安定画素を検出する不安定画素検出部62と、欠陥マップを作成する欠損マップ作成部63と、欠損画素の補間処理を行う補間処理部64とを有している。   The X-ray imaging apparatus includes a table 2 on which a subject 1 as a subject is placed, an X-ray tube 3, a flat panel detector 4, an A / D converter 5, a control unit 6, and a storage unit. 7, an input unit 11 such as a keyboard, a display unit 12 such as a CRT, and an X-ray tube control unit 8 that controls a tube voltage or the like applied to the X-ray tube 3. Further, as will be described later, the control unit 6 includes a defective pixel detection unit 61 that detects a defective pixel, an unstable pixel detection unit 62 that detects an unstable pixel, and a defective map creation unit 63 that creates a defect map. And an interpolation processing unit 64 for performing interpolation processing of defective pixels.

このX線撮影装置は、X線管3からテーブル2上の被検者1に向けてX線を照射し、被検者1を通過したX線をフラットパネルディテクタ4により検出し、制御部6において検出されたX線を画像処理し、画像処理されたX線による映像信号を利用して表示部12にX線透視像を表示する構成を有する。   This X-ray imaging apparatus emits X-rays from an X-ray tube 3 toward a subject 1 on a table 2, detects X-rays passing through the subject 1 with a flat panel detector 4, and a control unit 6. The X-rays detected in the above are subjected to image processing, and an X-ray fluoroscopic image is displayed on the display unit 12 using a video signal of the image-processed X-rays.

次に、フラットパネルディテクタ4の構成について説明する。図2は、フラットパネルディテクタ4を側面視した等価回路である。また、図3は、フラットパネルディテクタ4を平面視した等価回路である。   Next, the configuration of the flat panel detector 4 will be described. FIG. 2 is an equivalent circuit when the flat panel detector 4 is viewed from the side. FIG. 3 is an equivalent circuit of the flat panel detector 4 in plan view.

これらの図に示すように、このフラットパネルディテクタ4は、ガラス基板41と、このガラス基板41上に形成されたTFT(薄膜トランジスタ)42と、このTFT上に蒸着されたa−Se等の変換膜43と、この変換膜43上に配置された共通電極44とを備える。   As shown in these drawings, the flat panel detector 4 includes a glass substrate 41, a TFT (thin film transistor) 42 formed on the glass substrate 41, and a conversion film such as a-Se deposited on the TFT. 43 and a common electrode 44 disposed on the conversion film 43.

TFT42には、縦横のマトリックス状、すなわち、二次元アレイ状の配置で、電荷収集電極である画素電極45が配設されている。この画素電極45は、例えば、行列方向に1024個×1024個配置されている。図2および図3においては、行列方向に3個×3個配置した場合を模式的に示している。各画素電極45には、スイッチング素子46と、静電容量(キャパシタ)47とが接続されている。   The TFT 42 is provided with pixel electrodes 45 serving as charge collection electrodes in a matrix arrangement in the vertical and horizontal directions, that is, in a two-dimensional array. For example, 1024 × 1024 pixel electrodes 45 are arranged in the matrix direction. 2 and 3 schematically show a case where 3 × 3 are arranged in the matrix direction. A switching element 46 and a capacitance (capacitor) 47 are connected to each pixel electrode 45.

各画素電極45は、各スイッチング素子46のソースSに接続されている。図3に示すゲートドライバ51には、複数本のゲートバスライン52が接続されており、これらのゲートバスライン52はスイッチング素子46のゲートGに接続されている。一方、図3に示すように、電荷信号を収集して1つに出力するマルチプレクサ53には、増幅器54を介して複数本のデータバスライン55が接続されており、これらのデータバスライン55は、各スイッチング素子46のドレインDに接続されている。   Each pixel electrode 45 is connected to the source S of each switching element 46. A plurality of gate bus lines 52 are connected to the gate driver 51 shown in FIG. 3, and these gate bus lines 52 are connected to the gate G of the switching element 46. On the other hand, as shown in FIG. 3, a plurality of data bus lines 55 are connected via an amplifier 54 to a multiplexer 53 that collects charge signals and outputs them to one. Are connected to the drain D of each switching element 46.

このフラットパネルディテクタ4においては、被検者1を通過したX線像が変換膜43上に投影されると、像の濃淡に比例した電荷信号(キャリア)が変換膜43内に発生する。この電荷信号は、二次元アレイ状に配置された画素電極45により収集され、静電容量47に蓄積される。そして、共通電極44にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートドライバ51によりゲートバスライン52に電圧を印加することにより、各スイッチング素子46のゲートGがオン状態となる。これにより、静電容量47に蓄積された電荷信号は、スイッチング素子46におけるソースSとドレインDとを介して、データバスライン55に読み出される。各データバスライン55に読み出された電荷信号は、増幅器54で増幅され、マルチプレクサ53で1つの電荷信号にまとめられて出力される。この電荷信号は、A/D変換器5でディジタル化され、X線検出信号として図1に示す制御部6に出力される。   In the flat panel detector 4, when an X-ray image that has passed through the subject 1 is projected onto the conversion film 43, a charge signal (carrier) proportional to the density of the image is generated in the conversion film 43. This charge signal is collected by the pixel electrodes 45 arranged in a two-dimensional array and accumulated in the capacitance 47. Then, the gate G of each switching element 46 is turned on by applying a voltage to the gate bus line 52 by the gate driver 51 in a state where the bias voltage is applied to the common electrode 44. As a result, the charge signal accumulated in the capacitance 47 is read out to the data bus line 55 via the source S and drain D in the switching element 46. The charge signals read to the data bus lines 55 are amplified by the amplifiers 54 and are combined into one charge signal by the multiplexer 53 and output. This charge signal is digitized by the A / D converter 5 and output to the control unit 6 shown in FIG. 1 as an X-ray detection signal.

このような構成を有するフラットパネルディテクタ4においては、製造プロセスにおいて、a−Se等からなる変換膜43の特性に基づく欠損画素が発生する場合がある。また、このフラットパネルディテクタ4の使用を継続した場合に、変換膜43の特性の経時的な変化に起因する欠損が生ずる場合がある。このため、一定期間毎にフラットパネルディテクタ4のキャリブレーションが実行され、この発明に係る欠損画素の補間方法により、欠損画素の補間処理を含む欠損登録が実行される。   In the flat panel detector 4 having such a configuration, a defective pixel based on the characteristics of the conversion film 43 made of a-Se or the like may occur in the manufacturing process. Further, when the use of the flat panel detector 4 is continued, a defect due to a change with time of the characteristics of the conversion film 43 may occur. For this reason, the calibration of the flat panel detector 4 is executed every predetermined period, and the defect registration including the interpolation process of the defective pixel is executed by the method for interpolating the defective pixel according to the present invention.

次に、この発明に係る欠損画素の補間方法について説明する。図4は、この発明に係る欠損画素の補間方法を示すフローチャートである。また、図5は、この発明に係る欠損画素の補間方法の概念を示す説明図である。   Next, a defective pixel interpolation method according to the present invention will be described. FIG. 4 is a flowchart showing a method for interpolating missing pixels according to the present invention. FIG. 5 is an explanatory diagram showing the concept of the defective pixel interpolation method according to the present invention.

欠損画素を確認してその補間を行う欠損登録を実行するためにキャリブレーションを行う場合には、最初に暗電流値を測定する(ステップS1)。この暗電流値の測定時には、図1に示す欠損画素検出部61により、フラットパネルディテクタ4における変換膜43にX線を照射していない状態で、図2および図3に示すスイッチング素子46を順次オン状態としたときにデータバスライン55により読み出される電荷信号に基づいて、各画素の画素値を暗電流値として順次測定する。この暗電流値の測定は、各画素毎(例えば、1024×1024個の画素毎)に一定の撮影周期で行われる。そして、各画素の暗電流値により、図5に示す複数フレームの画像Miが取得される。   When calibration is performed in order to perform defect registration for confirming a defective pixel and performing interpolation, a dark current value is first measured (step S1). When measuring the dark current value, the defective pixel detector 61 shown in FIG. 1 sequentially turns the switching elements 46 shown in FIGS. 2 and 3 while the conversion film 43 in the flat panel detector 4 is not irradiated with X-rays. Based on the charge signal read out by the data bus line 55 when the on state is established, the pixel value of each pixel is sequentially measured as a dark current value. The measurement of the dark current value is performed for each pixel (for example, every 1024 × 1024 pixels) at a constant imaging cycle. Then, a plurality of frames of images Mi shown in FIG. 5 are acquired based on the dark current value of each pixel.

なお、この実施形態においては、フラットパネルディテクタ4にX線を照射していない状態で暗電流値を測定しているが、これに変えて、フラットパネルディテクタ4に対して一様なX線を照射したときの電流値を測定してもよい。すなわち、このキャリブレーション時においては、フラットパネルディテクタ4の各画素が同一の条件となったときの画素値を測定することができればよい。   In this embodiment, the dark current value is measured in a state where the flat panel detector 4 is not irradiated with X-rays. Instead, uniform X-rays are applied to the flat panel detector 4. You may measure the electric current value when irradiated. That is, at the time of this calibration, it is only necessary to measure the pixel value when each pixel of the flat panel detector 4 has the same condition.

次に、アベレージング処理工程が実行される(ステップS2)。このアベレージング処理工程においては、暗電流値による複数フレームの画像Miをフレーム間で平均化する。すなわち、図5に示すように、各フレームMiの画像毎に、同一位置の画素の画素値(xi)の平均値(xa)を求める。そして、この画素値の平均値(xa)を有する画像Maを求める。この画像Ma、すなわち、各画素における暗電流値の平均値(xa)は、記憶部7に記憶される。このように、複数フレームの画像に対してアベレージング処理を行うことにより、ランダムなノイズの影響を除去することができ、また、恒常的には欠損とは判定されないが画像上に欠損として表れる画素を認識することが可能となる。   Next, an averaging process step is executed (step S2). In this averaging processing step, images Mi of a plurality of frames based on dark current values are averaged between frames. That is, as shown in FIG. 5, the average value (xa) of the pixel values (xi) of the pixels at the same position is obtained for each image of each frame Mi. Then, an image Ma having the average value (xa) of the pixel values is obtained. This image Ma, that is, the average value (xa) of the dark current value in each pixel is stored in the storage unit 7. In this way, by performing the averaging process on a plurality of frames of images, it is possible to remove the influence of random noise, and pixels that are not always determined to be missing but appear as defects on the image. Can be recognized.

次に、この平均値(xa)を有する画像Maに対して、メディアンフィルターを適用する(ステップS3)。この場合には、画素値の平均値(xa)を有する画像Maに対して、例えば、N×1のメディアンフィルターと1×Nのメディアンフィルターを、互いに直交する方向に適用する。そして、画素値の平均値(xa)を有する画像Maに対してメディアンフィルターを適用した画像と、画素値の平均値(xa)を有する画像Maとの間で減算処理を行う(ステップS4)。しかる後、減算処理後の画素値が突出している画素を欠損画素と判定する(ステップS5)。判定された欠損画素の情報は、図1に示す記憶部7に記憶される。   Next, a median filter is applied to the image Ma having this average value (xa) (step S3). In this case, for example, an N × 1 median filter and a 1 × N median filter are applied to the image Ma having an average pixel value (xa) in directions orthogonal to each other. Then, subtraction processing is performed between the image obtained by applying the median filter to the image Ma having the average pixel value (xa) and the image Ma having the average pixel value (xa) (step S4). Thereafter, a pixel having a protruding pixel value after the subtraction process is determined as a defective pixel (step S5). Information on the determined defective pixel is stored in the storage unit 7 shown in FIG.

上述した実施形態においては、N×1のメディアンフィルターと1×Nのメディアンフィルターを、互いに直交する方向に適用することにより、ターゲットの画像を抽出している。このように行数または列数が1のメディアンフィルターを利用した場合には、フィルター処理を高速に実行することができる。そして、これらのフィルターを互いに直交する方向に対して適用して画像の全面をフィルター処理することにより、N×Nのメディアンフィルターを使用した場合と比較して、フィルター処理に要する時間を大幅に短縮することが可能となる。   In the above-described embodiment, the target image is extracted by applying an N × 1 median filter and a 1 × N median filter in directions orthogonal to each other. As described above, when the median filter having one row or one column is used, the filter processing can be executed at high speed. And, by applying these filters to the directions orthogonal to each other and filtering the entire image, the time required for filtering is greatly reduced compared to the case of using an N × N median filter. It becomes possible to do.

なお、上述した実施形態においては、フィルター処理にメディアンフィルターを使用しているが、このメディアンフィルターに替えて、ローパスフィルター等の他のフィルターを適用することも可能である。   In the above-described embodiment, the median filter is used for the filter processing. However, other filters such as a low-pass filter may be applied instead of the median filter.

次に、各フレームMiの画素値(xi)に対して、分散の演算を行う(ステップS6)。この演算は、図1に示す不安定画素検出部62により実行され、同一位置の画素の画素値(xi)の分散(σ)が求められる。この分散(σ)を求めるときには、下記の式(1)が使用される。 Next, a variance calculation is performed on the pixel value (xi) of each frame Mi (step S6). This calculation is executed by the unstable pixel detection unit 62 shown in FIG. 1, and the variance (σ 2 ) of the pixel value (xi) of the pixel at the same position is obtained. When obtaining this variance (σ 2 ), the following equation (1) is used.

Figure 2011019591


ここで、画素の平均値(xa)は下記の式(2)で表される。
Figure 2011019591


Here, the average value (xa) of the pixels is expressed by the following equation (2).

Figure 2011019591
Figure 2011019591

次に、分散演算処理工程(ステップS6)で求められた分散(σ)をもとにして、不安定画素を判定する(ステップS7)。この不安定画素の判定は、図1に示す不安定画素検出部62により実行される。 Next, unstable pixels are determined based on the variance (σ 2 ) obtained in the variance calculation processing step (step S6) (step S7). This unstable pixel determination is performed by the unstable pixel detection unit 62 shown in FIG.

図6は、各画素の標準偏差の分布を示すヒストグラムである。この図においては、分散(σ)からもとめた標準偏差(σ)を横軸に、また、各画素の度数(例えば、1020×1020個の頻度に対する度数)を縦軸にとっている。 FIG. 6 is a histogram showing the standard deviation distribution of each pixel. In this figure, the horizontal axis represents the standard deviation (σ) obtained from the variance (σ 2 ), and the vertical axis represents the frequency of each pixel (for example, the frequency for 1020 × 1020 frequencies).

このヒストグラムは、ほぼ正規分布であると考えられ、正常な画素の標準偏差は標準偏差の平均値あたりに集中する。そして、画素値が経時的に変化する不安定画素は、その標準偏差が正常画素よりもかなり大きいか、かなり小さい値を有している。このため、不安定画素検出部62は、その標準偏差が標準偏差の平均値より予め設定した閾値E以上大きい画素と、閾値E以上小さい画素を不安定画素として判定する。判定された不安定画素の情報は、図1に示す記憶部7に記憶される。   This histogram is considered to have a substantially normal distribution, and the standard deviation of normal pixels is concentrated around the average value of the standard deviation. An unstable pixel whose pixel value changes with time has a value whose standard deviation is considerably larger or smaller than that of a normal pixel. For this reason, the unstable pixel detection unit 62 determines, as unstable pixels, a pixel whose standard deviation is greater than or equal to a preset threshold E and a pixel smaller than the threshold E than the average value of standard deviations. Information on the determined unstable pixels is stored in the storage unit 7 shown in FIG.

なお、この閾値Eは、予め実験的に求めておく。この閾値Eを、上述した特許文献2に記載されたように、先に求めた分散(σ)の空間分布の標準偏差に基づいて決定するようにしてもよい。 The threshold value E is obtained experimentally in advance. The threshold value E may be determined based on the standard deviation of the spatial distribution of the previously obtained variance (σ 2 ), as described in Patent Document 2 described above.

次に、欠損画素判定工程(ステップS5)で判定された欠損画素と不安定画素判定工程(ステップS7)で判定された不安定画素に基づいて、欠損画素と不安定画素のマッピングを行う欠損マップ作成工程を実行する(ステップS8)。この欠損マップ作成工程は、図1に示す欠損マップ作成部63により実行される。この欠損マップ作成工程は、不安定画素マッピング工程と欠損画素マッピング工程とから構成される。   Next, based on the defective pixel determined in the defective pixel determination step (step S5) and the unstable pixel determined in the unstable pixel determination step (step S7), the defective map that maps the defective pixel and the unstable pixel is performed. A creation process is executed (step S8). This missing map creating step is executed by the missing map creating unit 63 shown in FIG. This missing map creation process includes an unstable pixel mapping process and a missing pixel mapping process.

図7は、欠損マップ作成工程(ステップS8)により作成された欠損マップを模式的に示す説明図である。この図において、符号Aを付した矩形は欠損画素判定工程(ステップS5)で判定された欠損画素を示しており、符号Bを付した矩形は不安定画素判定工程(ステップS7)で判定された不安定画素を示しており、符号を付していない矩形は正常画素を示している。また、この図における矢印は、欠損画素を補間するために使用する補間対象の正常画素を示している。   FIG. 7 is an explanatory diagram schematically showing the defect map created by the defect map creating step (step S8). In this figure, the rectangle with the symbol A indicates the defective pixel determined in the defective pixel determination step (step S5), and the rectangle with the symbol B is determined in the unstable pixel determination step (step S7). An unstable pixel is shown, and a rectangle without a symbol indicates a normal pixel. Moreover, the arrow in this figure has shown the normal pixel of the interpolation object used in order to interpolate a missing pixel.

欠損マップ作成工程における不安定画素マッピング工程においては、不安定画素判定工程(ステップS7)において検出した不安定画素に対して、不安定画素コードを入力することにより、不安定画素のマッピングを行う。一方、欠損マップ作成工程における欠損画素マッピング工程においては、欠損画素判定工程(ステップS5)において検出した欠損画素に対して、欠損登録を行うときに使用すべき画素の位置を示す補正位置コードを入力することにより、欠損画素のマッピングを行う。   In the unstable pixel mapping step in the defect map creation step, unstable pixel mapping is performed by inputting an unstable pixel code to the unstable pixel detected in the unstable pixel determination step (step S7). On the other hand, in the defective pixel mapping step in the defective map creation step, a correction position code indicating the position of the pixel to be used when performing defective registration is input to the defective pixel detected in the defective pixel determination step (step S5). By doing so, the defective pixel is mapped.

このとき、欠損画素に対して欠損登録を行うときに使用すべき画素としては、欠損画素近傍の画素のうち、不安定画素コードが入力された不安定画素以外の画素が使用される。すなわち、一般的な補間処理においては、欠損画素に対して、その欠損画素の近傍の画素の画素値を利用することにより、メディアンフィルター処理や置換処理を行っている。しかしながら、この発明に係る欠損画素の補間方法においては、図7に示すように、欠損画素近傍の複数の画素のうち、不安定画素と欠損画素を除いた近傍の正常画素が使用される。   At this time, as pixels to be used when performing defect registration for the defective pixel, pixels other than the unstable pixel to which the unstable pixel code is input among the pixels near the defective pixel are used. That is, in a general interpolation process, a median filter process or a replacement process is performed on a missing pixel by using a pixel value of a pixel near the missing pixel. However, in the defective pixel interpolation method according to the present invention, as shown in FIG. 7, normal pixels in the vicinity excluding unstable pixels and defective pixels are used among a plurality of pixels near the defective pixels.

なお、図7に示す実施例においては、近傍の2個の画素から補間処理を行う場合を示している。但し、2個以上の正常画素を利用して補間処理を行ってもよい。また、図7においては、9個の欠損画素のうちの3個の欠損画素に対して、選択された正常画素を示している。   Note that the embodiment shown in FIG. 7 shows a case where interpolation processing is performed from two neighboring pixels. However, the interpolation process may be performed using two or more normal pixels. Further, in FIG. 7, normal pixels selected for three defective pixels among the nine defective pixels are shown.

このようにして欠損登録を行うときに使用すべき画素が決定すれば、その画素の位置を示す補正位置コードが、欠損画素に対して入力される。この欠損登録を行うときに使用すべき画素の決定と、その画素の位置を示す補正位置コードの入力動作は、図1に示す欠損マップ作成部63により実行される。   If a pixel to be used when performing defect registration in this way is determined, a correction position code indicating the position of the pixel is input to the missing pixel. The determination of the pixel to be used when performing the defect registration and the input operation of the correction position code indicating the position of the pixel are executed by the defect map creating unit 63 shown in FIG.

このようにして欠損マップ作成工程(ステップS8)において欠損マップが作成されれば、この欠損マップを利用して補間処理工程を実行する(ステップS9)。この補間処理工程においては、欠損マップ作成工程(ステップS8)により作成された欠損マップにおける欠損画素を、そこに入力された補正位置コードに基づいて選択した正常画素を利用して補間処理する。この補間処理としては、上述したメディアンフィルター処理や置換処理等の公知の補間方法が採用される。   If a missing map is created in the missing map creation step (step S8) in this way, an interpolation processing step is executed using this missing map (step S9). In this interpolation processing step, the missing pixels in the missing map created in the missing map creating step (step S8) are interpolated using normal pixels selected based on the correction position code input thereto. As this interpolation processing, a known interpolation method such as the median filter processing or replacement processing described above is employed.

なお、この補間処理工程においては、不安定画素判定工程(ステップS7)において検出した不安定画素については、正常画素と同様、補間処理は行わない。この不安定画素については、次のキャリブレーション時に欠損画素と判定された場合に、補間処理が実行される。なお、不安定画素は、経時的に欠損画素に推移する可能性が高い。このため、この不安定画素を特別に監視することにより、フラットパネルディテクタ4の交換時期の予測等を行うようにしてもよい。   In this interpolation processing step, the unstable pixel detected in the unstable pixel determination step (step S7) is not subjected to interpolation processing as in the normal pixel. For this unstable pixel, interpolation processing is executed when it is determined as a missing pixel during the next calibration. An unstable pixel has a high possibility of transitioning to a defective pixel over time. For this reason, the time for replacement of the flat panel detector 4 may be predicted by specially monitoring the unstable pixels.

1 被検者
2 テーブル
3 X線管
4 フラットパネルディテクタ
6 制御部
7 記憶部
8 X線管制御部
11 入力部
12 表示部
41 ガラス基板
42 TFT
43 変換膜
44 共通電極
45 画素電極
46 スイッチング素子
47 静電容量
51 ゲートドライバ
52 ゲートバスライン
53 マルチプレクサ
54 増幅器
55 データバスライン
61 欠損画素検出部
62 不安定画素検出部
63 欠損マップ検出部
64 補間処理部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Subject 2 Table 3 X-ray tube 4 Flat panel detector 6 Control part 7 Memory | storage part 8 X-ray tube control part 11 Input part 12 Display part 41 Glass substrate 42 TFT
43 Conversion Film 44 Common Electrode 45 Pixel Electrode 46 Switching Element 47 Capacitance 51 Gate Driver 52 Gate Bus Line 53 Multiplexer 54 Amplifier 55 Data Bus Line 61 Missing Pixel Detection Unit 62 Unstable Pixel Detection Unit 63 Defect Map Detection Unit 64 Interpolation Processing Part

Claims (7)

被検体に向けてX線を照射するX線管と、X線に感応する変換膜と画素を区画する二次元アレイ状の検出素子とを有し、前記X線管から照射され被検体を通過したX線を検出するX線検出器と、を備えたX線撮影装置において、
前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を測定して、欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、
前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定してその分散を求めることにより、不安定画素を検出する不安定画素検出手段と、
前記欠損画素の近傍の画素のうち、前記不安定画素以外の画素の画素値に基づいて、前記欠損画素の補間処理を行う補間処理手段と、
を備えたことを特徴とするX線撮影装置。
An X-ray tube that irradiates the subject with X-rays, a conversion film that is sensitive to X-rays, and a two-dimensional array of detection elements that divide the pixels. An X-ray imaging apparatus comprising: an X-ray detector that detects X-rays that have been performed;
In a state where the X-ray detector is not irradiated with X-rays or a state where the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, a pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured, and a defective pixel is detected. Deficient pixel detection means for detecting
In a state where the X-ray detector is not irradiated with X-rays or a state where the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, the pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured over time. Unstable pixel detection means for detecting unstable pixels by obtaining the dispersion; and
Interpolation processing means for performing interpolation processing of the defective pixel based on pixel values of pixels other than the unstable pixel among pixels in the vicinity of the defective pixel;
An X-ray imaging apparatus comprising:
請求項1に記載のX線撮影装置において、
前記不安定画素検出手段により検出した不安定画素に対して、不安定画素のデータを付与するとともに、前記欠損画素検出手段により検出した欠損画素に対して、欠損画素の補間を行うときに使用すべき画素の位置情報を含む欠損画素のデータを付与することにより、欠陥マップを作成する欠損マップ作成手段を備え、
前記補間処理手段は、前記欠損マップを使用して前記欠損画素の補間処理を行うX線撮影装置。
The X-ray imaging apparatus according to claim 1,
Data for unstable pixels is added to the unstable pixels detected by the unstable pixel detection means, and is used when interpolation of defective pixels is performed for the defective pixels detected by the defective pixel detection means. A defect map creating means for creating a defect map by giving data of a defective pixel including position information of a pixel to be corrected;
The X-ray imaging apparatus, wherein the interpolation processing means performs interpolation processing of the defective pixel using the defect map.
請求項2に記載のX線撮影装置において、
前記欠損画素の補間を行うときに使用すべき画素は、前記欠損画素の近傍で、かつ、前記不安定画素のデータが付与された画素以外の画素から選択されるX線撮影装置。
The X-ray imaging apparatus according to claim 2,
An X-ray imaging apparatus in which a pixel to be used when performing interpolation of the defective pixel is selected from pixels other than the pixel to which the unstable pixel data is assigned in the vicinity of the defective pixel.
請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のX線撮影装置において、
前記欠陥画素検出手段は、前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定して画素値の平均値を演算するとともに、
画素値の平均値による画像に対してフィルターを適用した画像と、画素値の平均値による画像との間で減算処理を行うことにより欠損画素を検出するX線撮影装置。
The X-ray imaging apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The defective pixel detection means has a pixel value of each pixel in the X-ray detector in a state where the X-ray detector is not irradiated with X-rays or in a state where the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays. Is measured over time to calculate the average pixel value,
An X-ray imaging apparatus that detects a defective pixel by performing a subtraction process between an image obtained by applying a filter to an image based on an average pixel value and an image based on an average pixel value.
請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のX線撮影装置において、
前記不安定画素検出手段は、各画素の画素値の標準偏差が、各画素の画素値の標準偏差の平均値よりも一定以上大きな画素、または、一定以上小さな画素を不安定画素として検出するX線撮影装置。
The X-ray imaging apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The unstable pixel detecting means detects a pixel having a standard deviation of a pixel value of each pixel that is larger than a certain value or smaller than a mean value of standard deviations of pixel values of each pixel as an unstable pixel. X-ray equipment.
X線に感応する変換膜と画素を区画する二次元アレイ状の検出素子とを有し、前記X線管から照射され被検体を通過したX線を検出するX線検出器に対して、欠損画素を補間するX線検出器における欠損画素の補間方法において、
前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定して画素値の平均値を演算するとともに、画素値の平均値による画像に対してフィルターを適用した画像と画素値の平均値による画像との間で減算処理を行うことにより欠損画素を検出する欠損画素検出工程と、
前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定してその分散を求めるとともに、各画素の画素値の標準偏差が、各画素の画素値の標準偏差の平均値よりも一定以上大きな画素、または、一定以上小さな画素を不安定画素として検出する不安定画素検出工程と、
前記欠損画素の近傍の画素のうち、前記不安定画素以外の画素の画素値を利用することにより、前記欠損画素の補間処理を行う補間処理工程と、
を備えたことを特徴とするX線検出器における欠損画素の補間方法。
An X-ray detector that has a conversion film sensitive to X-rays and a two-dimensional array of detection elements that divide pixels, and that is deficient with respect to an X-ray detector that detects X-rays irradiated from the X-ray tube and passing through the subject. In a method for interpolating a defective pixel in an X-ray detector that interpolates a pixel,
In a state where the X-ray detector is not irradiated with X-rays or a state where the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, the pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured over time. A defective pixel that calculates an average pixel value and detects a defective pixel by performing a subtraction process between an image obtained by applying a filter to an image based on the average pixel value and an image based on the average pixel value A detection process;
In a state where the X-ray detector is not irradiated with X-rays or a state where the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, the pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured over time. An unstable pixel that obtains the variance and detects a pixel whose standard deviation of the pixel value is greater than or equal to a certain standard deviation of the pixel value of each pixel or a pixel that is smaller than a certain value as an unstable pixel. A detection process;
An interpolation process step of performing an interpolation process of the defective pixel by using a pixel value of a pixel other than the unstable pixel among the pixels in the vicinity of the defective pixel;
A method for interpolating defective pixels in an X-ray detector, comprising:
X線に感応する変換膜と画素を区画する二次元アレイ状の検出素子とを有し、前記X線管から照射され被検体を通過したX線を検出するX線検出器に対して、欠損登録を行うための欠損マップを作成するX線検出器における欠損マップの作成方法において、
前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を測定して、欠損画素を検出する欠損画素検出工程と、
前記X線検出器にX線を照射しない状態、または、前記X線検出器に一様なX線を照射した状態において、前記X線検出器における各画素の画素値を経時的に測定してその分散を求めることにより、不安定画素を検出する不安定画素検出工程と、
前記不安定画素検出工程において検出した不安定画素に対して、不安定画素コードを入力することにより、不安定画素のマッピングを行う不安定画素マッピング工程と、
前記欠損画素検出工程において検出した欠損画素に対して、欠損登録を行うときに使用すべき画素の位置を示す補正位置コードを入力することにより、欠損画素のマッピングを行う欠損画素マッピング工程とを備え、
前記欠損画素マッピング工程においては、欠損画素近傍の画素のうち、前記不安定画素コードが入力された画素以外の画素から欠損登録を行うときに使用される画素を選択することを特徴とするX線検出器における欠損マップの作成方法。
An X-ray detector that has a conversion film sensitive to X-rays and a two-dimensional array of detection elements that divide pixels, and is deficient with respect to an X-ray detector that detects X-rays that have been irradiated from the X-ray tube and passed through the subject. In a method for creating a defect map in an X-ray detector that creates a defect map for registration,
In a state where the X-ray detector is not irradiated with X-rays or a state where the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, a pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured, and a defective pixel is detected. A defective pixel detection step for detecting
In a state where the X-ray detector is not irradiated with X-rays or a state where the X-ray detector is irradiated with uniform X-rays, the pixel value of each pixel in the X-ray detector is measured over time. An unstable pixel detection step for detecting unstable pixels by obtaining the variance;
An unstable pixel mapping step for mapping unstable pixels by inputting an unstable pixel code to the unstable pixels detected in the unstable pixel detection step;
A defective pixel mapping step of mapping a defective pixel by inputting a correction position code indicating a position of a pixel to be used when performing defective registration with respect to the defective pixel detected in the defective pixel detection step. ,
X-ray characterized in that, in the defective pixel mapping step, a pixel to be used when performing defective registration is selected from pixels other than the pixel to which the unstable pixel code is input among pixels near the defective pixel. How to create a defect map in the detector.
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