JP2010541021A5 - - Google Patents

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さらに他の好適例によれば、光学撮像システムが、単一の対物光学系、及びこの対物光学系に光結合された2つ以上の結像経路を具えることができる。これらの結像経路は、2つの異なる波長帯域を伝達するように構成することができる。少なくとも1つの波長帯域は、幅10nm以上の波長帯域幅を有する広帯域の波長帯域である。これら2つの異なる波長帯域幅用の照明は、上記対物光学系を通して試料に結合され、上記対物光学系及び結像経路は、0.7以上の開口数及び0.8mm以上の視野で結像を行う。
本発明の好適例としては、さらに、以下のような態様を挙げることができる。
適用例1.
試料検査用の光学システムにおいて、
最外部のミラーを含む少なくとも1つのミラーを具えた対物光学系と;
前記対物光学系に光結合され、1つ以上の屈折光学素子を含む焦点調節光学系とを具え、
前記対物光学系は、0.7以上の開口数、瞳孔内の35%以下の中心不明瞭化で結像を行い、前記最外部のミラーの前記試料側のアスペクト比が20:1以下であることを特徴とする光学システム。
適用例2.
前記焦点調節光学系がリレーモジュールを含み、このリレーモジュールは、前記対物光学系の内部の開口絞りを、前記対物光学系の外部に位置する瞳孔面にリレーするように構成されていることを特徴とする適用例1の光学システム。
適用例3.
前記焦点調節光学系が、可変倍率を提供するように構成されていることを特徴とする適用例1の光学システム。
適用例4.
さらに、前記対物光学系の前記最外部のミラー内の中心開口内に配置された屈折素子を具えていることを特徴とする適用例1の光学システム。
適用例5.
さらに、1つ以上の追加的屈折素子を前記対物光学系の内部に具え、前記1つ以上の追加的屈折素子は、前記最外部のミラーの前記中心開口内に配置された前記屈折素子に対する色補正を与えることを特徴とする適用例4の光学システム。
適用例6.
前記対物光学系が、負の像面湾曲を有することを特徴とする適用例1の光学システム。
適用例7.
前記焦点調節光学系が、前記対物光学系の前記像面湾曲を補償するペツヴァル湾曲を有することを特徴とする適用例6の光学システム。
適用例8.
前記対物光学系が、0.5mm以上の試料視野サイズを有することを特徴とする適用例1の光学システム。
適用例9.
前記対物光学系が6つのミラーを含み、無限共役の結像を行うことを特徴とする適用例1の光学システム。
適用例10.
前記対物光学系が、負の球面収差を有する中間視野を生成する最外部のミラーモジュールを含むことを特徴とする適用例9の光学システム。
適用例11.
前記対物光学系が2つ以上の凸面鏡を含むことを特徴とする適用例10の光学システム。
適用例12.
さらに、前記対物光学系と前記焦点調節光学系との間の光学収差を補償するように構成された1つ以上の光学素子を具えていることを特徴とする適用例1の光学システム。
適用例13.
撮像対物光学系において、
2つ以上のミラーを具え、前記2つ以上のミラーの少なくとも1つが、前記2つ以上のミラーのうち最外部のミラーの中心開口を密封する屈折モジュールを含んで、前記撮像対物光学系の内部の雰囲気を試料の雰囲気から隔離することを特徴とする撮像対物光学系。
適用例14.
前記屈折モジュール、及び1つ以上の前記ミラーが、前記撮像対物光学系を通過する光が前記屈折モジュールの光学面に約25度以下である入射角で入射するように構成されていることを特徴とする適用例13の撮像対物光学系。
適用例15.
前記屈折モジュールが、平面またはほぼ平面である光学素子を含むことを特徴とする適用例13の撮像対物光学系。
適用例16.
前記屈折モジュールが、前記2つ以上のミラーによって生成される像面湾曲とは逆の像面湾曲を与えるように構成されていることを特徴とする適用例13の撮像対物光学系。
適用例17.
前記屈折モジュールが、前記2つ以上のミラーのうち1つ以上の光学収差を補償するように構成されていることを特徴とする適用例13の撮像対物光学系。
適用例18.
前記2つ以上のミラーが、前記最外部のミラー以外に1つ以上のミラーを含み、前記1つ以上のミラーは、中心開口を有するボディ、及び前記中心開口内に配置された屈折光学素子を有することを特徴とする適用例13の撮像対物光学系。
適用例19.
前記屈折光学素子が、色補正を行うように構成されていることを特徴とする適用例18の撮像対物光学系。
適用例20.
前記2つ以上のミラーが、少なくとも4つのミラーを含むことを特徴とする適用例13の撮像対物光学系。
適用例21.
前記2つ以上のミラーが、最大6つのミラーを含むことを特徴とする適用例13の撮像対物光学系。
適用例22.
前記対物光学系が無限共役であり、前記対物光学系は平坦なペツヴァル視野を有することを特徴とする適用例21の撮像対物光学系。
適用例23.
前記6つのミラーが、凸面鏡に隣接した2ミラーのリレーグループを含み、前記2ミラーのリレーグループが、前記最外部のミラー、及び前記凸面鏡と前記最外部のミラーとの間に配置された他のミラーを含み、前記2ミラーのリレーグループが1に近い倍率を有し、前記2ミラーのリレーグループが負の球面収差を有することを特徴とする適用例22の撮像対物光学系。
適用例24.
前記負の球面収差が、前記リレーグループのミラーの反射面と前記凸面鏡の反射面との間の距離の2倍以下であることを特徴とする適用例23の撮像対物光学系。
適用例25.
単一の対物光学系、及びこの対物光学系に光結合された2つ以上の広帯域の結像経路を具えていることを特徴とする光学撮像システム。
適用例26.
前記2つ以上の結像経路の各々が、独立して利用可能な別個の瞳孔を含むことを特徴とする適用例25のシステム。
適用例27.
前記2つ以上の結像経路が、前記対物光学系に近接した試料の表面の、複数の検査モードでの同時検査を可能にするように構成されていることを特徴とする適用例26のシステム。
適用例28.
前記複数の検査モードが、明視野モード及び暗視野モードを含むことを特徴とする適用例27のシステム。
適用例29.
前記複数の検査モードが2つの異なる波長帯域から成り、前記波長帯域の各々において、前記試料上に視野を有して、センサに伝達される像が生じることを特徴とする適用例28のシステム。
適用例30.
さらに、前記2つ以上の結像経路の各々に結合され、前記異なる波長帯域を検出する異なるセンサを具えていることを特徴とする適用例29のシステム。
適用例31.
前記2つの異なる波長帯域が、約250nm以下の真空波長から成る第1帯域と;約250nm〜約450nmの真空波長から成る第2帯域を含むことを特徴とする適用例29のシステム。
適用例32.
前記2つの異なる波長帯域が第1帯域を含み、この第1帯域が、少なくとも幅10nmであり250nm以下の真空波長を含むことを特徴とする適用例29のシステム。
適用例33.
前記2つの異なる波長帯域がさらに、幅100nmより大きい第2帯域を含むことを特徴とする適用例32のシステム。
適用例34.
前記瞳孔が屈折素子で構成されることを特徴とする適用例32のシステム。
適用例35.
単一の瞳孔リレーを、複数の前記結像経路の間で共用することを特徴とする適用例34のシステム。
適用例36.
前記2つ以上の結像経路の各々が、別個の瞳孔リレーを有することを特徴とする適用例34のシステム。
適用例37.
前記2つの異なる波長帯域が第1波長帯域を含み、この第1波長帯域が、少なくとも幅10nmであり270nm以下の真空波長を含むことを特徴とする適用例29のシステム。
適用例38.
前記結像経路の光学素子が、2つの前記結像経路の分割点の下流に1つ以上の屈折光学素子を含むことを特徴とする適用例37のシステム。
適用例39.
前記対物光学系が、最外部のミラーを含む少なくとも4つのミラーを具え、前記対物光学系が、0.7以上の開口数、35%以下の瞳孔内の中心不明瞭化で結像を行うように構成され、前記最外部のミラーの試料側のアスペクト比が20:1以下であることを特徴とする適用例25のシステム。
適用例40.
前記対物光学系が2つ以上のミラーを具え、前記2つ以上のミラーの少なくとも1つが、前記2つ以上のミラーのうち最外部のミラーの中心開口を密封する屈折モジュールを含んで、前記対物光学系の内部の雰囲気を試料の雰囲気からほとんど隔離することを特徴とする適用例25のシステム。
適用例41.
前記2つ以上の結像経路の各々が、瞳孔リレー;瞳孔;及びズーム/可変倍率モジュールを含むことを特徴とする適用例25のシステム。
適用例42.
前記2つ以上の結像経路の各々が、複数の画素サイズにマッピングするための複数の倍率を提供するように動作可能な可変倍率モジュールを含むことを特徴とする適用例25のシステム。
適用例43.
前記2つ以上の結像経路が、独立したアライメント調整及び倍率調整を有することを特徴とする適用例25のシステム。
適用例44.
前記結像経路の各々が、データレートを有するセンサを含み、前記センサの各々の前記データレートを独立して設定することができることを特徴とする適用例25のシステム。
適用例45.
さらに、複数の照明経路を含むことを特徴とする適用例25のシステム。
適用例46.
前記照明経路毎に独立して、光スペクトル、出力、及び照明設定を選定し調整することを特徴とする適用例45のシステム。
適用例47.
前記照明設定が、開口数、照明開口、偏光、光パワー、及び試料上の照明位置を含むことを特徴とする適用例46のシステム。
適用例48.
前記結像経路の少なくとも1つが、長距離の光トロンボーンを含むことを特徴とする適用例25のシステム。
適用例49.
対物光学系、及びこの対物光学系に光結合された2つ以上の結像経路を具え、前記対物光学系は、当該対物光学系に近接して配置された試料からの光を集光するように構成された光学撮像システムにおいて、
前記2つ以上の結像経路は、対応する2つ以上のモードにおいて、前記試料の対応する2つ以上の同時の像を提供するように構成され、前記2つ以上のモードの各モードは、照明瞳孔開口及び/または集光瞳孔開口によって特徴付けられ、前記2つ以上の同時の像の各々が広帯域の像であることを特徴とする光学撮像システム。
適用例50.
対物光学系、及びこの対物光学系に光結合された2つ以上の結像経路を具え、前記対物光学系は、当該対物光学系に近接して配置された試料からの光を集光するように構成された光学撮像システムにおいて、
前記2つ以上の結像経路は、対応する2つ以上のモードにおいて、前記試料の対応する2つ以上の同時の像を提供するように構成され、前記2つ以上のモードの各モードは、前記試料における異なる画素サイズによって特徴付けられることを特徴とする光学撮像システム。
適用例51.
単一の対物光学系、及び前記対物光学系に光結合され、2つの異なる波長帯域を伝達するように構成された2つ以上の結像経路を具えた光学撮像システムにおいて、
前記波長帯域の少なくとも1つは、幅10nm以上の波長帯域幅を有する広帯域の波長帯域であり、前記2つの異なる波長帯域用の照明が、前記対物光学系を通して試料に結合され、前記対物光学系及び前記結像経路は、0.7以上の開口数及び0.8mm以上の視野で結像を行うように構成されていることを特徴とする光学撮像システム。

Claims (21)

  1. 試料検査用の光学システムにおいて、
    最外部のミラーを含む少なくとも1つのミラーを具えた対物光学系と;
    前記対物光学系に光結合され、1つ以上の屈折光学素子を含む焦点調節光学系とを具え、
    前記対物光学系は、0.7以上の開口数、0.5mm以上の試料視野サイズ、瞳孔内の35%以下の中心不明瞭化で結像を行い、前記最外部のミラーの前記試料側のアスペクト比が20:1以下であることを特徴とする光学システム。
  2. 前記焦点調節光学系がリレーモジュールを含み、このリレーモジュールは、前記対物光学系の内部の開口絞りを、前記対物光学系の外部に位置する瞳孔面にリレーするように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の光学システム。
  3. 前記焦点調節光学系が、可変倍率を提供するように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の光学システム。
  4. さらに、前記対物光学系の前記最外部のミラー内の中心開口内に配置された屈折素子を具え
    さらに、1つ以上の追加的屈折素子を前記対物光学系の内部に具え、
    前記1つ以上の追加的屈折素子は、前記最外部のミラーの前記中心開口内に配置された前記屈折素子に対する色補正を与えることを特徴とする請求項1に記載の光学システム。
  5. 前記対物光学系が、負の像面湾曲を有し、
    前記焦点調節光学系が、前記対物光学系の前記像面湾曲を補償するペツヴァル湾曲を有することを特徴とする請求項1に記載の光学システム。
  6. 前記対物光学系が6つのミラーを含み、無限共役の結像を行い、
    前記対物光学系が、負の球面収差を有する中間視野を生成する最外部のミラーモジュールを含み、
    前記対物光学系が2つ以上の凸面鏡を含むことを特徴とする請求項1に記載の光学システム。
  7. さらに、前記対物光学系と前記焦点調節光学系との間の光学収差を補償するように構成された1つ以上の光学素子を具えていることを特徴とする請求項1に記載の光学システム。
  8. 撮像対物光学系において、
    2つ以上のミラーを具え、前記2つ以上のミラーの少なくとも1つが、前記2つ以上のミラーのうち最外部のミラーの中心開口を密封する屈折モジュールを含んで、前記撮像対物光学系の内部の雰囲気を試料の雰囲気から隔離することを特徴とする撮像対物光学系。
  9. 前記屈折モジュール、及び1つ以上の前記ミラーが、前記撮像対物光学系を通過する光が前記屈折モジュールの光学面に約25度以下である入射角で入射するように構成されていることを特徴とする請求項8に記載の撮像対物光学系。
  10. 前記屈折モジュールが、平面またはほぼ平面である光学素子を含むことを特徴とする請求項8に記載の撮像対物光学系。
  11. 前記屈折モジュールが、前記2つ以上のミラーによって生成される像面湾曲とは逆の像面湾曲を与えるように構成されていることを特徴とする請求項8に記載の撮像対物光学系。
  12. 前記屈折モジュールが、前記2つ以上のミラーのうち1つ以上の光学収差を補償するように構成されていることを特徴とする請求項8に記載の撮像対物光学系。
  13. 前記2つ以上のミラーが、前記最外部のミラー以外に1つ以上のミラーを含み、前記1つ以上のミラーは、中心開口を有するボディ、及び前記中心開口内に配置された屈折光学素子を有し、
    前記屈折光学素子が、色補正を行うように構成されていることを特徴とする請求項8に記載の撮像対物光学系。
  14. 前記対物光学系が無限共役であり、前記対物光学系は平坦なペツヴァル視野を有し、
    前記2つ以上のミラーが、最大6つのミラーを含み、
    前記6つのミラーが、凸面鏡に隣接した2ミラーのリレーグループを含み、前記2ミラーのリレーグループが、前記最外部のミラー、及び前記凸面鏡と前記最外部のミラーとの間に配置された他のミラーを含み、前記2ミラーのリレーグループが1に近い倍率を有し、前記2ミラーのリレーグループが負の球面収差を有し、
    前記負の球面収差が、前記リレーグループのミラーの反射面と前記凸面鏡の反射面との間の距離の2倍以下であることを特徴とする請求項に記載の撮像対物光学系。
  15. 単一の対物光学系、及びこの対物光学系に光結合された2つ以上の広帯域の結像経路を具えており、
    前記2つ以上の結像経路の各々が、独立して利用可能な別個の瞳孔を含み、
    前記2つ以上の結像経路が、前記対物光学系に近接した試料の表面の、複数の検査モードでの同時検査を可能にするように構成されていることを特徴とする光学撮像システム。
  16. 前記複数の検査モードが、明視野モード及び暗視野モードを含むことを特徴とする請求項15に記載のシステム。
  17. 前記複数の検査モードが2つの異なる波長帯域から成り、前記波長帯域の各々において、前記試料上に視野を有して、センサに伝達される像が生じ
    前記システムは、さらに、前記2つ以上の結像経路の各々に結合され、前記異なる波長帯域を検出する異なるセンサを具えていることを特徴とする請求項16に記載のシステム。
  18. さらに、複数の照明経路を含み、
    前記照明経路毎に独立して、光スペクトル、出力、及び照明設定を選定し調整し、
    前記照明設定が、開口数、照明開口、偏光、光パワー、及び試料上の照明位置を含むことを特徴とする請求項15に記載のシステム。
  19. 対物光学系、及びこの対物光学系に光結合された2つ以上の結像経路を具え、前記対物光学系は、当該対物光学系に近接して配置された試料からの光を集光するように構成された光学撮像システムにおいて、
    前記2つ以上の結像経路は、対応する2つ以上のモードにおいて、前記試料の対応する2つ以上の同時の像を提供するように構成され、前記2つ以上のモードの各モードは、照明瞳孔開口及び/または集光瞳孔開口によって特徴付けられ、前記2つ以上の同時の像の各々が広帯域の像であることを特徴とする光学撮像システム。
  20. 対物光学系、及びこの対物光学系に光結合された2つ以上の結像経路を具え、前記対物光学系は、当該対物光学系に近接して配置された試料からの光を集光するように構成された光学撮像システムにおいて、
    前記2つ以上の結像経路は、対応する2つ以上のモードにおいて、前記試料の対応する2つ以上の同時の像を提供するように構成され、前記2つ以上のモードの各モードは、前記試料における異なる画素サイズによって特徴付けられることを特徴とする光学撮像システム。
  21. 単一の対物光学系、及び前記対物光学系に光結合され、2つの異なる波長帯域を伝達するように構成された2つ以上の結像経路を具えた光学撮像システムにおいて、
    前記波長帯域の少なくとも1つは、幅10nm以上の波長帯域幅を有する広帯域の波長帯域であり、前記2つの異なる波長帯域用の照明が、前記対物光学系を通して試料に結合され、前記対物光学系及び前記結像経路は、0.7以上の開口数及び0.8mm以上の視野で結像を行うように構成されていることを特徴とする光学撮像システム。
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