JP2010537172A - 質量割り当て精度を向上させる方法 - Google Patents

質量割り当て精度を向上させる方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010537172A
JP2010537172A JP2010521271A JP2010521271A JP2010537172A JP 2010537172 A JP2010537172 A JP 2010537172A JP 2010521271 A JP2010521271 A JP 2010521271A JP 2010521271 A JP2010521271 A JP 2010521271A JP 2010537172 A JP2010537172 A JP 2010537172A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analyte
calibration
ion
mass ratio
ions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010521271A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Inventor
ジェイムス ヘイガー,
Original Assignee
エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン
アプライド バイオシステムズ (カナダ) リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン, アプライド バイオシステムズ (カナダ) リミテッド filed Critical エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン
Publication of JP2010537172A publication Critical patent/JP2010537172A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0031Step by step routines describing the use of the apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0009Calibration of the apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/426Methods for controlling ions
JP2010521271A 2007-08-21 2007-08-21 質量割り当て精度を向上させる方法 Pending JP2010537172A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/CA2007/001459 WO2009023946A1 (fr) 2007-08-21 2007-08-21 Procédé d'amélioration de la précision d'affectation de masse

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010537172A true JP2010537172A (ja) 2010-12-02

Family

ID=40377771

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010521271A Pending JP2010537172A (ja) 2007-08-21 2007-08-21 質量割り当て精度を向上させる方法

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP2186111A4 (fr)
JP (1) JP2010537172A (fr)
CA (1) CA2696167A1 (fr)
WO (1) WO2009023946A1 (fr)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020021602A (ja) * 2018-07-31 2020-02-06 株式会社島津製作所 質量分析装置及び質量分析方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201410470D0 (en) * 2014-06-12 2014-07-30 Micromass Ltd Self-calibration of spectra using differences in molecular weight from known charge states
CN106024571B (zh) 2015-03-25 2018-08-24 萨默费尼根有限公司 用于质量校准的系统和方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005514404A (ja) * 2001-11-05 2005-05-19 アイアールエム エルエルシー 標識試薬とその使用方法
JP2005522845A (ja) * 2002-04-05 2005-07-28 エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス 高次の多重極電界、低圧イオン・トラップ内での共振励起によるイオンのフラグメンテーション
EP1617224A1 (fr) * 2004-07-16 2006-01-18 Agilent Technologies, Inc. Sequencage de novo au moyen d'une spectrometrie de masse en tandem

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5572025A (en) * 1995-05-25 1996-11-05 The Johns Hopkins University, School Of Medicine Method and apparatus for scanning an ion trap mass spectrometer in the resonance ejection mode
WO2003040715A1 (fr) * 2001-11-05 2003-05-15 Irm, Llc. Procedes de preparation d'echantillons pour la spectrometrie de masse maldi
US6979816B2 (en) * 2003-03-25 2005-12-27 Battelle Memorial Institute Multi-source ion funnel
US7459693B2 (en) * 2003-04-04 2008-12-02 Bruker Daltonics, Inc. Ion guide for mass spectrometers
US7202473B2 (en) * 2003-04-10 2007-04-10 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US7855357B2 (en) * 2006-01-17 2010-12-21 Agilent Technologies, Inc. Apparatus and method for ion calibrant introduction

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005514404A (ja) * 2001-11-05 2005-05-19 アイアールエム エルエルシー 標識試薬とその使用方法
JP2005522845A (ja) * 2002-04-05 2005-07-28 エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス 高次の多重極電界、低圧イオン・トラップ内での共振励起によるイオンのフラグメンテーション
EP1617224A1 (fr) * 2004-07-16 2006-01-18 Agilent Technologies, Inc. Sequencage de novo au moyen d'une spectrometrie de masse en tandem

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020021602A (ja) * 2018-07-31 2020-02-06 株式会社島津製作所 質量分析装置及び質量分析方法
JP7021612B2 (ja) 2018-07-31 2022-02-17 株式会社島津製作所 質量分析装置及び質量分析方法

Also Published As

Publication number Publication date
CA2696167A1 (fr) 2009-02-26
WO2009023946A1 (fr) 2009-02-26
WO2009023946A8 (fr) 2009-04-23
EP2186111A1 (fr) 2010-05-19
EP2186111A4 (fr) 2011-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2431809C (fr) Appareil et procede permettant une spectrometrie msn dans un systeme de spectrometrie de masse en tandem
JP5544397B2 (ja) 質量スペクトルの測定方法
Hager et al. Product ion scanning using a Q‐q‐Qlinear ion trap (Q TRAPTM) mass spectrometer
EP0898297B1 (fr) Méthodes et dispositif pour spectrométrie de masse de type tandem
JP6040174B2 (ja) 質量電荷比範囲のプレスキャン
AU2002221395B2 (en) Method for improving signal-to-noise ratios for atmospheric pressure ionization mass spectrometry
GB2449760A (en) A composite ion trap for analysis of multiple parent ions in an ion population
GB2432712A (en) Method of identifying parent and daughter ions in mass spectrometry
JP2011520129A (ja) Ms/msデータ処理
AU2002221395A1 (en) Method for improving signal-to-noise ratios for atmospheric pressure ionization mass spectrometry
US7569813B2 (en) Method for enhancing mass assignment accuracy
GB2392301A (en) A mass spectrometer using only a single mass filter/analyser
JP2018045999A (ja) 質量分析計を較正する方法
US7579585B2 (en) Method and apparatus for scanning an ion trap mass spectrometer
US6525312B1 (en) Mass spectrometer with method for real time removal of background signal
JP2010537172A (ja) 質量割り当て精度を向上させる方法
CN112689885A (zh) 用于减少高丰度离子的动态离子过滤器
US20050080571A1 (en) Mass spectrometry performance enhancement
CA2299574C (fr) Spectrometre de masse avec methode pour l'elimination en temps reel du bruit de fond
GB2536870B (en) A method and apparatus for tuning mass spectrometers

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120820

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120912

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120920

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130603