JP2010504536A - 物体の肉厚および表面形状の非破壊測定のための配置および方法 - Google Patents
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Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 196
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 title 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 368
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 92
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 24
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 19
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 claims description 18
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 17
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 13
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims description 12
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 9
- GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 3-(2-methoxyethoxy)benzohydrazide Chemical compound COCCOC1=CC=CC(C(=O)NN)=C1 GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 6
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 claims description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 4
- YTAHJIFKAKIKAV-XNMGPUDCSA-N [(1R)-3-morpholin-4-yl-1-phenylpropyl] N-[(3S)-2-oxo-5-phenyl-1,3-dihydro-1,4-benzodiazepin-3-yl]carbamate Chemical compound O=C1[C@H](N=C(C2=C(N1)C=CC=C2)C1=CC=CC=C1)NC(O[C@H](CCN1CCOCC1)C1=CC=CC=C1)=O YTAHJIFKAKIKAV-XNMGPUDCSA-N 0.000 claims description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 230000003796 beauty Effects 0.000 claims 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 claims 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 208000036829 Device dislocation Diseases 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 235000013372 meat Nutrition 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/04—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
- G01B15/045—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption
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Abstract
Description
X線またはガンマ線などの放射線を物体に透過させる工程であって、少なくとも1つの放射線源を使って放射線が少なくとも、検査対象の壁の少なくとも1つの第1の部分を透過し、また物体の壁の他の第2の部分を透過する工程aと、
物体の少なくとも1つの放射線画像を記録するために少なくとも1つの検出器ユニットを使って壁の前記部分を通過した放射線を受ける工程であって、前記少なくとも1つの放射線画像は放射線を受ける位置を前記位置で受ける放射線の強度と一緒に表す工程bと、
少なくとも1つの検出器ユニットを少なくとも使って信号を発生する工程であって、これらの信号は記録された少なくとも1つの放射線画像を表す工程cと、
前記信号を少なくとも1台のコンピュータに送る工程dと、
少なくとも(i)使用される放射線に対する1つまたは複数の壁材料の少なくとも1つの減衰係数および/または使用される放射線に対する1つまたは複数の壁材料の肉厚の減衰の関数に関する情報、(ii)物体に対して相対的な透過放射線の使用される位置および方向に関する情報、および(iii)物体に対して相対的な放射線検出器の少なくとも1つの使用される位置および適宜、使用される少なくとも1つの配向および/または壁の少なくとも1つの第1の部分、適宜壁の第2の部分の(局所的)肉厚および物体を通過する放射線の物体に対して相対的な進行方向および位置の関数としての放射線が物体を通過したときの放射線の予想減衰量などの(i、ii、iii)から導出されうる情報をコンピュータに送る工程eと、
コンピュータを使って、壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の推定される位置および形状を計算し、適宜、一方で記録された少なくとも1つの放射線画像に基づき、また他方で少なくとも工程eで与えられる情報に基づき壁の第2の部分の内面の推定される位置および形状を計算する工程fと、
工程aにおいて、放射線が最初に物体を透過しその際に放射線は少なくとも検出対象の壁の少なくとも1つの第1の部分を透過し、また第1の放射線画像を記録するため少なくとも1つの放射線源を使って壁の複数の第2の部分のうちの1つを透過するように、また工程aにおいて、放射線源の位置が少なくとも1回変更された後、放射線が少なくとも検査対象の壁の、少なくとも1つの第1の部分をその後透過し、またすでに撮像されている放射線画像と異なる少なくとも1つの他の放射線画像を記録するために放射線がすでに透過した壁の第2の部分と異なる壁の第2の部分を透過するように軸方向軸の方向の少なくとも1つの成分を含む方向で物体に対して相対的な放射線源の位置を工程aにおいて変更する工程であって、壁の第1の部分に相対的な透過放射線の方向は、放射線源が軸方向軸の方向の成分を有する方向に移動された場合に変化し、前記第1の記録された放射線画像および前記少なくとも1つの他の記録された放射線画像は前記計算を実行するために工程fで使用される工程gとを含む。したがって、放射線画像は、設定された計算を実行するために工程fで組み合わせて使用される。
壁の少なくとも1つの第1の部分の外面の位置および形状に関する情報ならびに壁の他の少なくとも1つの第2の部分の外面の位置および形状に関する情報をコンピュータに送る工程であって、前記情報はさらに設定された計算を実行するために工程eにおいてコンピュータに送られる情報を組み合わせて工程fにおいて使用される工程hを含む。これは、外壁の位置および形状が、目に見えるため容易に決定できる場合に有利なものと言える。
前記放射線源が物体に対して相対的な前記位置にあるときにコンピュータを使って近似された放射線画像を決定する工程であって、近似された放射線画像を撮像するための前記決定は工程hにおける外面の与えられた位置および形状または外面の位置および形状の第1推定に基づき、物体に対して相対的な放射線源の使用される位置および適宜、使用される少なくとも1つの配向、物体に対して相対的な放射線検出器の使用される少なくとも1つの位置および適宜、使用される少なくとも1つの配向、ならびに壁の少なくとも1つの第1の部分および壁の第2の部分の内面の位置および形状の推定に基づき、さらに使用される放射線に対する壁の材料の少なくとも1つの減衰係数および物体の幾何学的形状の情報またはそこから導出されうる情報に基づき適用される第1の所定のアルゴリズムを使って実行される工程iと、
近似された放射線画像と、それぞれの対応する記録された放射線画像との間の差をコンピュータを使って計算する工程jと、
第2の所定のアルゴリズムを計算された差の関数として使って、壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の新しい推定された位置および形状ならびに適宜、壁の第2の部分の内面の新しい推定された位置および形状ならびに適宜、壁の少なくとも1つの第1の部分の外面の新しい推定された位置および形状ならびに適宜、壁の第2の部分の外面の新しい推定された位置および形状を計算する工程kと、
工程jで求められる差が所定の要件を満たすまで工程jおよびkを繰り返す工程lと、
所定の要件を満たす差に属す壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の推定された位置および形状を与える工程m、の各工程が実行される。
少なくとも1台のコンピュータを使って壁の少なくとも1つの第1の部分の材料の画像と壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の得られた位置および形状とを組み合わせて、壁の少なくとも1つの第1の部分内の材料の前記不均質の位置および形状に関する情報を壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の位置および形状に関する情報と組み合わせて示す第2の画像を撮像する工程pを含む。次に、この第2の画像は、壁の材料の画像に加えて壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の位置および形状に関する情報もそのようなものとして含む。好ましくは、この方法は、
少なくとも1台のコンピュータを使って壁の少なくとも1つの第1の部分の材料の画像と壁の少なくとも1つの第1の部分の外面の得られた位置および形状とを組み合わせて、壁の少なくとも1つの第1の部分内の材料の前記不均質の位置および形状に関する情報を壁の少なくとも1つの第1の部分の内面および外面の位置および形状に関する情報と組み合わせて示す第2の画像を撮像する工程qを含む。その場合、第2の画像は、壁の少なくとも1つの第1の部分の明確な表現を構成する。これは、壁の材料と壁の外面および内面の両方を示す。特別な一実施形態により、材料の画像は、少なくとも、壁の少なくとも1つの第1の部分の内面および外面を貫通する平面内に置かれている材料の画像を含み、第2の画像は少なくとも1つの第1の部分の内面および少なくとも1つの第1の部分の外面の位置および形状をそれぞれ示し、前記内面および外面はそれぞれ前記平面内に置かれる線分である。
X線またはガンマ線などの放射線を物体に透過させる工程であって、少なくとも1つの放射線源を使って放射線が検査対象の壁の少なくとも1つの第1の部分を透過し、また物体の壁の他の第2の部分を透過する工程aと、
物体の少なくとも1つの放射線画像を記録するために少なくとも1つの検出器ユニットを使って壁の前記部分を通過した放射線を受ける工程であって、前記放射線画像は放射線を受ける検出器上の位置を前記位置で受ける放射線の強度と一緒に表す工程bと、
少なくとも1つの検出器ユニットを使って信号を発生する工程であって、これらの信号は記録された放射線画像を表す工程cと、
前記信号を少なくとも1台のコンピュータに送る工程dと、
前記コンピュータを使い、前記信号に基づき壁の前記少なくとも1つの第1の部分の材料の第1の画像を生成する工程であって、前記第1の画像が前記不均質の位置および形状に関する情報を示し、また壁の外側を囲むその境界を含む壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の少なくとも一部および壁の外側を囲むその境界を含む壁の少なくとも1つの第1の部分の外面の少なくとも一部を覆う画像である工程eと、
コンピュータを使って、壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の推定される位置および形状を計算し、一方で少なくとも1つの記録された放射線画像に基づき、他方で放射線源により送り出されて物体を通過し、放射線検出器によって受け取られる放射線の減衰量、使用される放射線または壁材料に対する物体の壁材料の少なくとも1つの減衰係数、および/または使用される放射線に対する1つまたは複数の壁材料の肉厚の減衰の関数、および物体に対する相対的な放射線の方向および位置の間の与えられた関係に基づき壁の少なくとも1つの第1の部分の外面の推定される位置および形状を適宜計算する工程fと、
少なくとも1台のコンピュータを使って、材料の第1の画像と壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の得られた位置および形状とを組み合わせて、壁の少なくとも1つの第1の部分内の材料の前記不均質の位置および形状に関する情報を壁の少なくとも1つの第1の部分の内面の位置および形状に関する情報と組み合わせて示す第2の画像を撮像する工程gとを含む。
Claims (61)
- 軸方向軸を有し、中空の物体の内側空間を囲む少なくとも1つの壁を備える前記物体に対して透過性放射線を用いて測定を実行する方法であって、
前記壁は内面と外面を備え、
前記方法は、前記壁の少なくとも1つの第1の部分の前記内面の位置および形状を決定するために少なくとも実行され、
X線またはガンマ線などの放射線を前記物体に透過させる工程であって、少なくとも1つの放射線源を使って前記放射線が少なくとも検査対象の前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分を透過し、また前記物体の前記壁の他の第2の部分を透過する工程aと、
前記物体の少なくとも1つの放射線画像を記録するために少なくとも1つの検出器ユニットを使って前記壁の前記部分を通過した放射線を受ける工程であって、前記少なくとも1つの放射線画像は前記放射線を受ける位置を前記位置で受ける放射線の強度と一緒に表す工程bと、
前記少なくとも1つの検出器ユニットを少なくとも使って信号を発生する工程であって、前記信号は前記記録された少なくとも1つの放射線画像を表す工程cと、
前記信号を少なくとも1台のコンピュータに送る工程dと、
少なくとも(i)使用される放射線に対する前記1つまたは複数の壁材料の少なくとも1つの減衰係数および/または前記使用される放射線に対する前記1つまたは複数の壁材料の肉厚の減衰の関数に関する情報、(ii)前記物体に対して相対的な前記透過放射線の前記使用される位置および方向に関する情報、および(iii)前記物体に対して相対的な前記放射線検出器の前記少なくとも1つの使用される位置および適宜、前記使用される少なくとも1つの配向および/または前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分、適宜前記壁の前記第2の部分の(局所的)肉厚および前記物体を通過する前記放射線の前記物体に対して相対的な進行方向および位置の関数としての前記放射線が前記物体を通過したときの前記放射線の予想減衰量などの(i、ii、iii)から導出されうる情報を前記コンピュータに送る工程eと、
前記コンピュータを使って、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の推定される位置および形状を計算し、適宜、一方で前記記録された少なくとも1つの放射線画像に基づき、また他方で少なくとも工程eで与えられる前記情報に基づき前記壁の前記第2の部分の前記内面の推定される位置および形状を計算する工程fと、
工程aにおいて、前記放射線が最初に前記物体を透過しその際に前記放射線は少なくとも検査対象の前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分を透過し、また第1の放射線画像を記録するため前記少なくとも1つの放射線源を使って前記壁の前記複数の第2の部分のうちの1つを透過するように、また工程aにおいて、前記放射線源の位置が少なくとも1回変更された後、前記放射線が少なくとも検査対象の前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分をその後透過し、また前記すでに取得されている放射線画像と異なる少なくとも1つの他の放射線画像を記録するために前記放射線がすでに透過した前記壁の第2の部分と異なる前記壁の第2の部分を透過するように前記軸方向軸の方向の少なくとも1つの成分を含む方向で前記物体に対して相対的な前記放射線源の位置を工程aにおいて少なくとも1回変更する工程であって、前記壁の前記第1の部分に相対的な前記透過放射線の前記方向は、前記放射線源が前記軸方向軸の方向の成分を有する方向に移動された場合に変化し、前記第1の記録された放射線画像および前記少なくとも1つの他の記録された放射線画像は前記計算を実行するために工程fで使用される工程gとを含むことを特徴とする方法。 - 請求項1に記載の方法において、
工程fにおいて、前記コンピュータを使って、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の推定される位置および形状および適宜、前記壁の前記第2の部分の前記内面の推定される位置および形状が、一方で前記記録された放射線画像に基づき、また他方で、一方における前記放射線源により送り出されて前記物体を通過し、放射線検出器により受け取られる前記放射線の減衰量と他方における前記物体に対して相対的な前記放射線の可能な位置および方向ならびに前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分および前記第2の部分の可能な(局所的)厚さとの間の所定の関係に基づき計算されることを特徴とする方法。 - 請求項1または請求項2に記載の方法において、
工程fにおいて、前記壁の前記第1の部分の前記内面の推定される位置および形状ならびに適宜、前記第2の部分の前記内面の推定される位置および形状は、一方では前記記録された放射線画像に基づき、他方では、一方で前記放射線源により送り出されて前記物体を通過し、前記放射線検出器によって受け取られる前記放射線の減衰量と他方で、前記使用される放射線に対する前記物体の材料の前記少なくとも1つの減衰係数、前記物体の可能な幾何学的形状、前記物体に対して相対的な前記放射線源の前記使用される位置および適宜前記使用される少なくとも1つの配向、または前記物体に対して相対的な前記放射線の前記場所および方向、ならびに前記物体に対して相対的な前記放射線検出器の前記使用される少なくとも1つの位置および適宜前記使用される少なくとも1つの配向の間の与えられた関係に基づき計算されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の方法において、
工程fにおいて、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の推定される位置および形状ならびに前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の推定される位置および形状が計算され、適宜、前記壁の前記第2の部分の前記内面の推定される位置および形状ならびに/または前記壁の前記第2の部分の前記外面の推定される位置および形状は、一方では前記記録された放射線画像に基づき、他方では少なくとも工程eで与えられる情報に基づき計算されることを特徴とする方法。 - 請求項4に記載の方法において、
工程fにおいて、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の推定される位置および形状ならびに前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の推定される位置および形状の計算ならびに適宜、前記壁の前記第2の部分の前記内面の推定される位置および形状ならびに/または前記壁の前記第2の部分の前記外面の推定される位置および形状の計算は、一方では前記記録された放射線画像に基づき、他方では、一方で前記放射線源により送り出されて前記物体を通過し、前記放射線検出器によって受け取られる前記放射線の減衰量と他方で前記物体に対して相対的な前記放射線の可能な位置および方向ならびに前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分および前記壁の前記第2の部分の可能な(局所的)厚さとの間の与えられた関係に基づくことを特徴とする方法。 - 請求項4または請求項5に記載の方法において、
工程fにおいて、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面および前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の推定される位置および形状ならびに適宜、前記壁の前記第2の部分の前記外面の推定される位置および形状および/または前記壁の前記第2の部分の前記内面の推定される位置および形状は、一方では前記記録された放射線画像に基づき、他方では、一方で前記放射線源により送り出されて前記物体を通過し、前記放射線検出器によって受け取られる前記放射線の減衰量、他方で、前記使用される放射線に対する前記物体の前記材料の前記減衰係数、前記物体の可能な幾何学的形状、前記物体に対して相対的な前記放射線源の前記使用される位置および適宜前記使用される少なくとも1つの配向、または前記物体に対して相対的な前記放射線の前記場所および方向、ならびに前記物体に対して相対的な前記放射線検出器の前記使用される少なくとも1つの位置および適宜前記使用される少なくとも1つの配向の間の与えられた関係に基づき計算されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の方法において、
前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の位置および形状に関する情報ならびに前記壁の前記他の少なくとも1つの第2の部分の前記外面の位置および形状に関する情報を前記コンピュータに送る工程であって、前記情報はさらに設定された計算を実行するために工程eにおいて前記コンピュータに送られる前記情報を組み合わせて工程fにおいても使用される工程hをさらに含むことを特徴とする方法。 - 請求項2に記載の方法において、
工程hにおいて、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の前記位置および形状の第1推定ならびに前記壁の前記第2の部分の前記外面の前記位置および形状の第1推定が与えられることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の方法において、
工程fを実行するために、
前記放射線源が前記物体に対して相対的な前記位置にあるときに前記コンピュータを使って近似された放射線画像を決定する工程であって、近似された放射線画像を取得するための前記決定は請求項7に記載の工程hにおける前記外面の前記所定の位置および形状または前記外面の前記位置および形状の第1推定に基づき、前記物体に対して相対的な前記放射線源の前記使用される位置および適宜、前記使用される少なくとも1つの配向、前記物体に対して相対的な前記放射線検出器の前記使用される少なくとも1つの位置および適宜、前記使用される少なくとも1つの配向、ならびに前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分および前記壁の前記第2の部分の前記内面の前記位置および形状の推定に基づき、さらに前記使用される放射線に対する前記壁の前記材料の前記少なくとも1つの減衰係数および前記物体の幾何学的形状の情報またはそこから導出されうる情報に基づき適用される第1の所定のアルゴリズムを使って実行される工程iと、
前記近似された放射線画像と前記それぞれの対応する記録された放射線画像との間の差を前記コンピュータを使って計算する工程jと、
第2の所定のアルゴリズムを前記計算された差の関数として使って、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の新しい推定された位置および形状ならびに適宜、前記壁の前記第2の部分の前記内面の新しい推定された位置および形状ならびに適宜、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の新しい推定された位置および形状ならびに適宜、前記壁の前記第2の部分の前記外面の新しい推定された位置および形状を計算する工程kと、
工程jで求められる前記差が所定の要件を満たすまで工程jおよびkを繰り返す工程lと、
前記所定の要件を満たす差に属す前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記推定された位置および形状を与える工程m、の各工程が実行されることを特徴とする方法。 - 請求項9に記載の方法において、
工程i、j、k、およびlにおいて、最小二乗法に基づき前記近似された放射線画像と前記記録された放射線画像との間の最良適合を求める反復法が実行されることを特徴とする方法。 - 請求項9または請求項10に記載の方法において、
前記第1のアルゴリズムにおいて、前記近似された放射線画像のそれぞれは、前記放射線を前記壁の前記部分に通過させることにより引き起こされる前記放射線の予想される減衰を計算することにより得られ、前記減衰は前記放射線が前記材料中を通過する前記経路の長さおよび前記使用される放射線に対する前記材料の前記少なくとも1つの減衰係数に依存し、前記経路の前記長さは、前記物体に対して相対的な前記放射線源の前記位置および適宜、前記配向、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の前記位置および形状、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記推定される内面の前記位置および形状、前記壁の前記第2の部分の前記外面の前記位置および形状、または前記壁の前記第2の部分の前記推定される内面から遠く離れた推定および前記位置および形状に依存することを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の方法において、
さらに、前記物体が前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分および前記壁の前記第2の部分の前記外面上にマーカーを付けられ、前記放射線源、前記放射線検出器、および前記コンピュータを使い、コンピュータ断層撮影法、コンピュータ平面断層撮影法、またはコンピュータ積層撮影法などの他の方法によりマーカーの位置が求められる工程nを含み、
請求項7に記載の工程hにおいて前記コンピュータに対して、前記マーカーの前記求められた位置に基づき前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の前記位置および形状ならびに前記壁の前記第2の部分の前記外面の前記位置および形状が与えられることを特徴とする方法。 - 請求項12に記載の方法において、
前記マーカーの前記位置は、平行移動積層撮影法または回転積層撮影法により求められることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の方法において、
前記内面の前記形状および前記外面の前記形状は、それぞれ前記内面および外面の線分により形成されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の方法において、
前記表面の前記外側形状は、それぞれ前記内面および外面の面分により形成されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の方法において、
請求項1に記載の工程gにおいて、前記放射線源は直線にそって移動することを特徴とする方法。 - 請求項14および請求項16に記載の方法において、
前記線分は、前記直線に平行することを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項17のいずれか1項に記載の方法において、
前記放射線源は、扇ビームを発生することを特徴とする方法。 - 請求項17および請求項18に記載の方法において、
前記線分は、前記扇ビームの平面内に置かれることを特徴とする方法。 - 請求項15および請求項19に記載の方法において、
前記面分は、互いに隣接する複数の前記線分により形成されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項20のいずれか1項に記載の方法において、
前記放射線源は、円錐ビームまたは少なくとも実質的に平行なビームを発生することを特徴とする方法。 - 請求項18または請求項20に記載の方法において、
前記放射線源および/または前記放射線検出器は、コリメータを備えることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項22に記載の方法において、
前記物体は、縦方向に長い形状を有することを特徴とする方法。 - 請求項14および請求項23に記載の方法において、
前記直線は、前記物体の前記軸方向に延びることを特徴とする方法。 - 請求項14および請求項23に記載の方法において、
前記線分は、前記物体の前記軸方向に延びることを特徴とする方法。 - 請求項23、請求項24または請求項25に記載の方法において、
前記物体は、パイプラインであることを特徴とする方法。 - 請求項26に記載の方法において、
前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面は、前記パイプラインの溶接部の少なくとも一部を含むことを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項27のいずれか1項に記載の方法において、
前記放射線源、前記放射線検出器、および前記コンピュータを使って、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記材料の画像がコンピュータ断層撮影法、コンピュータ平面断層撮影法、またはコンピュータ積層撮影法などの他の方法により取得され、前記材料の前記画像は前記材料中の不均質の位置および形状に関する情報を示す工程oをさらに含むことを特徴とする方法。 - 請求項28に記載の方法において、
前記材料の前記画像は、さらに、前記壁の外側を囲む境界を含む前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面を覆い、また適宜、前記材料の前記画像は、さらに、前記壁の外側を囲む境界を含む前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面を覆うことを特徴とする方法。 - 請求項29に記載の方法において、
前記少なくとも1台のコンピュータを使って前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記材料の前記画像と前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記得られた位置および形状とを組み合わせて、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分内の前記材料の前記不均質の前記位置および形状に関する情報を前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記位置および形状に関する情報と組み合わせて示す第2の画像を撮像する工程pをさらに含むことを特徴とする方法。 - 請求項29または請求項30に記載の方法において、
前記少なくとも1台のコンピュータを使って前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記材料の前記画像と前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の前記得られた位置および形状とを組み合わせて、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分内の前記材料の前記不均質の前記位置および形状に関する情報を前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面および前記外面の前記位置および形状に関する情報と組み合わせて示す前記第2の画像を撮像する工程qをさらに含むことを特徴とする方法。 - 請求項28から請求項31のいずれか1項に記載の方法において、
前記材料の前記画像は、少なくとも、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面および前記外面を貫通する平面内に置かれている前記材料の画像を含み、前記第2の画像は、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面および前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の前記位置および形状をそれぞれ示し、前記内面および外面はそれぞれ前記平面内に置かれる線分であることを特徴とする方法。 - 請求項28から請求項32のいずれか1項に記載の方法において、
前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記材料の前記画像ならびに前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記形状および位置は、前記放射線源および前記放射線検出器を使って実行される同一の測定に基づいて取得されることを特徴とする方法。 - 請求項12に記載の方法において、
前記コンピュータ平面断層撮影法またはコンピュータ積層撮影法および前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記形状および位置の前記決定は、前記放射線源および前記放射線検出器を使って実行される同一の測定に基づいて行われることを特徴とする方法。 - 請求項28から請求項34のいずれか1項に記載の方法において、
工程nにおいて、FBRまたはARTなどの再構成法が使用され、前記再構成法において、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記決定された位置および形状および/または前記壁の前記第2の部分の前記内面の前記決定された位置および形状および/または前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の前記決定された位置および形状および/または前記壁の前記第2の部分の前記外面の前記決定された位置および形状に関する情報が使用されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項35のいずれか1項に記載の方法において、
前記放射線検出器は、前記物体に対して相対的に静止状態にあることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項36のいずれか1項に記載の方法において、
前記放射線検出器は、前記放射線源に対して相対的に静止状態にあることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項37のいずれか1項に記載の方法において、
前記放射線検出器は、フラットパネル型検出器、デジタル検出器アレイ、ライン型検出器、またはライン型検出器アレイあることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項38のいずれか1項に記載の方法において、
工程eにおいて前記コンピュータに送られる前記情報は、較正測定により取得されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項39のいずれか1項に記載の方法において、
工程eにおいて前記コンピュータに送られる前記情報は、較正ピースで前記放射線の減衰量を測定することにより取得されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項40のいずれか1項に記載の方法において、
前記物体は、液体などの物質を充填され、適宜、前記方法において、前記物質による前記放射線の減衰に対する補正が実行されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項41のいずれか1項に記載の方法において、
前記方法において、散乱に対する補正が実行されることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項42のいずれか1項に記載の方法において、
前記方法において、肉厚の変化によりスペクトルの変化が生じることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項43のいずれか1項に記載の方法において、
前記方法は、前記壁の複数の異なる第1の部分について実行されることを特徴とする方法。 - 請求項44に記載の方法において、
前記壁の前記複数の第1の部分は、隣接していることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項45のいずれか1項に記載の方法において、
工程gにおいて、前記物体に対して相対的な前記放射線源の前記位置は、前記計算を実行する工程fで使用される複数の異なる放射線画像、好ましくは少なくとも3つの異なる放射線画像、より好ましくは少なくとも4つの異なる放射線画像、より好ましくは少なくとも10の異なる放射線画像をそれぞれ取得するために、前記物体の前記軸方向軸の方向の成分を有する方向に複数回、好ましくは少なくとも3回、より好ましくは少なくとも4回、より好ましくは少なくとも10回変更されることを特徴とする方法。 - 中空の物体の内部空間を囲む壁を含む前記物体に対して照射試験を実行して、前記壁の材料の不均質の位置および形状を決定する方法であって、
前記壁は内面および外面を備え、
X線またはガンマ線などの放射線を前記物体に透過させる工程であって、少なくとも1つの放射線源を使って前記放射線が少なくとも調査対象の前記壁の少なくとも1つの第1の部分を透過し、また前記物体の前記壁の他の第2の部分を透過する工程aと、
前記物体の少なくとも1つの放射線画像を記録するために少なくとも1つの検出器ユニットを使って前記壁の前記部分を通過した放射線を受ける工程であって、前記放射線画像は前記放射線を受ける前記検出器上の前記位置を前記位置で前記受ける放射線の強度と一緒に表す工程bと、
前記少なくとも1つの検出器ユニットを使って信号を発生する工程であって、前記信号は前記記録された放射線画像を表す工程cと、
前記信号を前記少なくとも1台のコンピュータに送る工程dと、
前記コンピュータを使い、前記信号に基づき前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記材料の第1の画像を生成する工程であって、前記第1の画像は前記不均質の前記位置および形状に関する情報を示し、また前記壁の外側を囲むその境界を含む前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の少なくとも一部および前記壁の外側を囲むその境界を含む前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の少なくとも一部を覆う画像である工程eと、
前記コンピュータを使って、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の推定される位置および形状を計算し、一方で前記少なくとも1つの位置合わせされた放射線画像に基づき、他方で前記放射線源により送り出されて前記物体を通過し、前記放射線検出器によって受け取られる前記放射線の減衰量、前記使用される放射線または壁材料に対する前記物体の前記壁材料の前記少なくとも1つの減衰係数、および/または前記使用される放射線に対する前記1つまたは複数の壁材料の肉厚の減衰の関数、および前記物体に対して相対的な前記放射線の前記方向および位置の間の与えられた関係に基づき前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の推定される位置および形状を適宜計算する工程fと、
前記少なくとも1台のコンピュータを使って、前記材料の前記第1の画像と前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記得られた位置および形状とを組み合わせて、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分内の前記材料の前記不均質の前記位置および形状に関する情報を前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記位置および形状に関する情報と組み合わせて示す第2の画像を取得する工程gとを含むことを特徴とする方法。 - 請求項47に記載の方法において、
前記少なくとも1台のコンピュータを使って、前記材料の前記第1の画像と前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記外面の前記得られた位置および形状とを組み合わせて、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分内の前記材料の前記不均質の前記位置および形状に関する情報を前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記位置および形状に関する情報とも組み合わせて示す第2の画像を取得する工程hとを含むことを特徴とする請求項47に記載の方法。 - 請求項47または請求項48に記載の方法において、
工程fは、少なくとも2回または3回実行され、前記放射線源は、それぞれ前記物体に対して相対的な少なくとも2つまたは3つの相互に異なる位置を有し、工程gにおいて、それぞれの記録された放射線画像は、対応する予想減衰量と比較され、それに基づき、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の推定された位置および形状が計算されることを特徴とする方法。 - 請求項47、請求項48または請求項49に記載の方法において、
前記物体は、中空のパイプラインであり、前記第1の画像は、前記パイプラインの軸方向および半径方向に延びる平面内に広がり、前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分の前記内面の前記取得された位置および形状は、前記第1の画像を貫通する線分であることを特徴とする方法。 - 請求項49および請求項50に記載の方法において、
前記少なくとも2つまたは3つの位置は、前記パイプラインの軸方向に平行する線上に置かれることを特徴とする方法。 - 請求項47から請求項51のいずれか1項に記載の方法において、
前記壁の前記少なくとも1つの第1の部分は、溶接部を備えることを特徴とする方法。 - 請求項47から請求項52のいずれか1項に記載の方法において、
前記第1の画像は、コンピュータ平面断層撮影法またはコンピュータ積層撮影法により取得されることを特徴とする記載の方法。 - 請求項53に記載の方法において、
前記第1の画像は、平行移動積層撮影法または回転積層撮影法により取得されることを特徴とする方法。 - 請求項47から請求項53のいずれか1項に記載の方法において、
扇ビーム、円錐ビーム、または少なくとも実質的に平行なビームは、前記放射線源を使って生成されることを特徴とする方法。 - 請求項47から請求項54のいずれか1項に記載の方法において、
前記壁の複数の異なる第1の部分について実行されることを特徴とする方法。 - 請求項56に記載の方法において、
前記壁の前記複数の第1の部分は、隣接していることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項57のいずれか1項に記載の方法において、
工程aにおいて、前記放射線は、前記物体の外から前記物体を透過し、および/または工程bにおいて、前記放射線は、前記物体の外で受け取られることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項58のいずれか1項に記載の方法において、
工程aにおいて、前記放射線は前記物体を透過して、前記放射線は少なくとも、一般に前記軸方向軸に平行な平面内で広がるか、または前記放射線は少なくとも、前記軸方向軸が平面内に置かれている平面内で広がり、それに加えて、前記放射線は、さらに、前記平面の外に広がりうることを特徴とする方法。 - 請求項1から請求項59のいずれか1項に記載の方法を実行するシステムであって、
少なくとも1つの放射線源、少なくとも1つの放射線検出器、前記放射線源の前記位置および/または配向および/または前記物体に対して相対的な前記放射線検出器の前記位置を変更するための少なくとも1つの移送デバイス、ならびに前記方法の計算を実行するためのソフトウェアを格納するコンピュータを備えることを特徴とするシステム。 - 請求項60に記載のシステムにおいて、
前記コンピュータは、前記移送デバイスを制御するためのソフトウェアを備えることを特徴とするシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/NL2006/000473 WO2008039056A1 (en) | 2006-09-25 | 2006-09-25 | Arrangement and method for non destructive measurement of wall thickness and surface shapes of objects with inner surface |
NLPCT/NL2006/000473 | 2006-09-25 | ||
PCT/NL2007/050470 WO2008039070A2 (en) | 2006-09-25 | 2007-09-25 | Arrangement and method for non destructive measurement of wall thickness and surface shapes of objects with an inner surface |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010504536A true JP2010504536A (ja) | 2010-02-12 |
JP5385786B2 JP5385786B2 (ja) | 2014-01-08 |
Family
ID=37667616
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009530301A Expired - Fee Related JP5385786B2 (ja) | 2006-09-25 | 2007-09-25 | 物体の肉厚および表面形状の非破壊測定のための配置および方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8325972B2 (ja) |
JP (1) | JP5385786B2 (ja) |
WO (2) | WO2008039056A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4638952B2 (ja) * | 2009-06-12 | 2011-02-23 | 新日本製鐵株式会社 | 耐火物厚み測定方法及びその装置 |
WO2011148277A2 (en) * | 2010-05-27 | 2011-12-01 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Improved reconstruction for cone-beam computed tomography imaging with off-center flat panel detector |
US10261033B2 (en) * | 2015-01-20 | 2019-04-16 | National Technology & Engineering Solutions Of Sandia, Llc | Material identification system |
HUP1600469A2 (en) * | 2016-07-27 | 2018-01-29 | Peter Teleki | Method for determining the geometric parameters and/or material state of a specimen based on in-situ radiographic imaging |
WO2018060325A1 (en) * | 2016-09-29 | 2018-04-05 | Marel Iceland Ehf. | A method of generating a three dimensional surface profile of a food object |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2002086421A1 (en) * | 2001-04-24 | 2002-10-31 | Sciteq-Hammel A/S | System and method for the measurement of the layer thicknesses of a multi-layer pipe |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US2975281A (en) * | 1956-05-28 | 1961-03-14 | Orlan G Williams | Method and apparatus for measuring wall thickness |
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US4725963A (en) * | 1985-05-09 | 1988-02-16 | Scientific Measurement Systems I, Ltd. | Method and apparatus for dimensional analysis and flaw detection of continuously produced tubular objects |
US5379237A (en) * | 1990-05-31 | 1995-01-03 | Integrated Diagnostic Measurement Corporation | Automated system for controlling the quality of regularly-shaped products during their manufacture |
-
2006
- 2006-09-25 WO PCT/NL2006/000473 patent/WO2008039056A1/en active Application Filing
-
2007
- 2007-09-25 JP JP2009530301A patent/JP5385786B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-09-25 WO PCT/NL2007/050470 patent/WO2008039070A2/en active Application Filing
- 2007-09-25 US US12/311,277 patent/US8325972B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100119103A1 (en) | 2010-05-13 |
US8325972B2 (en) | 2012-12-04 |
WO2008039070A3 (en) | 2008-07-03 |
WO2008039056A1 (en) | 2008-04-03 |
WO2008039070A2 (en) | 2008-04-03 |
JP5385786B2 (ja) | 2014-01-08 |
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