JP2010262248A - Small test-learning device - Google Patents

Small test-learning device Download PDF

Info

Publication number
JP2010262248A
JP2010262248A JP2009125801A JP2009125801A JP2010262248A JP 2010262248 A JP2010262248 A JP 2010262248A JP 2009125801 A JP2009125801 A JP 2009125801A JP 2009125801 A JP2009125801 A JP 2009125801A JP 2010262248 A JP2010262248 A JP 2010262248A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
learning
correct
questions
list
small test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009125801A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisatomo Koketsu
尚朋 纐纈
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP2009125801A priority Critical patent/JP2010262248A/en
Publication of JP2010262248A publication Critical patent/JP2010262248A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electrically Operated Instructional Devices (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small test-learning device enabling a learner to efficiently repeat learning while checking learning records by displaying a plurality of learning questions and question setting frequency, number of times of correct answers, and percentage of correct answers that are learning records to be included therein at a time in the form of a small test when the learner learns foreign words, Kanji, and technical terms in various fields. <P>SOLUTION: A learning list holding learning questions including learning records is sorted in ascending order by alternately using the question setting frequency and percentage of correct answers as a key each time a small test is created, predetermined number of learning questions are extracted from the highest order and are displayed in the form of a small test together with the learning records simultaneously, and the percentage of correct answer of the question which is not answered correctly last time is indicated in red to call the learner's attention. The inputted answer is analyzed, and the correct answer and updated learning records are displayed on a display. Then, learning using the small test is repeated until the number of correct answers reaches the predetermined number. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、コンピューターを使用した小テスト形式による学習が可能な小テスト学習装置に関するものである。  The present invention relates to a small test learning apparatus capable of learning in a small test format using a computer.

従来、外国語の単語、漢字、諸分野の専門用語を学習する際に、単語カードを活用した学習や、暗記用の書籍を用いて「覚えた」、「覚えていない」をチェックしながら繰り返す学習が行なわれてきた。学校では、紙による小テストを行ない、直近に学習した学習内容の理解の確認を行なっている。これには手軽に取組み易い長所がある。
市販のパーソナル・コンピューターやゲーム機を用いた学習ソフトでは、ランダムに問題を抽出し、問題が表示されたら、学習者がそれに対する解答を入力し、コンピューターが正誤判定を行なう。これを所定数繰り返した後、全体の採点を行ない、どの程度理解できたかを判断できるようになっている。そして、成績管理が行なわれているため、成績の悪い問題は再度学習できるようになっている。
また、学習問題を一覧表示して解答を入力させる学習方法がある。これは、学習問題を習熟状態にある問題と未習熟状態にある問題を分けるために行なう学習と習熟状態によって問題を分けて復習するために行なうものがある。
Traditionally, when learning foreign words, kanji, and technical terms in various fields, learning using word cards and using a book for memorization, it is repeated while checking "I remembered" and "I don't remember" Learning has been done. The school conducts a small test using paper to confirm the understanding of the most recently learned content. This has the advantage of being easy to tackle.
In learning software using a commercially available personal computer or game machine, a problem is randomly extracted. When the problem is displayed, the learner inputs an answer to the problem, and the computer makes a correct / incorrect determination. After repeating this a predetermined number of times, the overall score is given and it is possible to judge how much it has been understood. Since grade management is performed, problems with poor grades can be learned again.
There is also a learning method in which a list of learning questions is displayed and an answer is input. This includes learning to separate a problem according to a learning state and learning to separate a learning problem from a problem in a proficient state and a problem in an unfamiliar state.

特許第3820421号公報Japanese Patent No. 3820421

しかしながら、従来の手作業で行なう単語カード、書籍、学校での小テストを活用した方法は、過去に何問解いて何問正解したかという統計データを取ることに手間がかかるため、どの問題が難しいか易しいかを客観的に判断することに手間がかかる。そのため、前回間違えた問題を再度出題する場合、比較的易しい問題と難しい問題を同じレベルの問題として出題することもあり、効率が悪い。
ランダムに問題を抽出し、1画面で1問出題する方法は、各問題の出題回数と難易度にばらつきが生じ、出題されるテスト問題を所定数分淡々とこなしていかなければならす、繰り返していくうちに1問ごとの解答がおろそかになっていく。そして、不正解であった問題が再度出題されるまでに時間がかかることがあるため、間違えた時点で正解を確認して覚えたとしても、時間の経過とともに忘れてしまい、再度出題されたときに同じ間違いを犯してしまうことがある。
また、学習問題を一覧表示してテストを行なう場合、表示される内容は学習問題、解答や正誤判定であり、1問ごとの学習問題の学習進度がどのような状況にあるかをそのつど確認しながら学習を進めることはできない。このため、一覧表示された学習問題を淡々と解いていかなければならず、学習を進めていくうちに1問ごとの解答がおろそかになることがある。
本発明は、これらの問題点を解決するためになされたものである。
However, the conventional method of using word cards, books, and school quizzes that are done manually requires time and effort to collect statistical data on how many questions were answered and what questions were answered correctly. It takes time and effort to objectively judge whether it is difficult or easy. For this reason, when a question that has been mistaken the last time is given again, a relatively easy problem and a difficult problem may be given as problems of the same level, which is inefficient.
The method of extracting questions randomly and asking one question on one screen varies in the number of questions and the degree of difficulty of each question, and it is necessary to repeat the test questions to be given a certain number of times. Over time, the answers for each question are neglected. And since it may take some time before the question that was incorrect is re-issued, even if you confirm and remember the correct answer when you make a mistake, it will be forgotten over time and you will be asked again May make the same mistake.
In addition, when performing a test with a list of learning questions, the displayed contents are learning questions, answers and correct / incorrect judgments, and confirms the status of learning progress for each question. However, learning cannot be advanced. For this reason, it is necessary to solve the learning problems displayed in a list, and as the learning proceeds, the answers for each question may be neglected.
The present invention has been made to solve these problems.

上記の問題を解決するために、請求項1の発明は、質問、正解と、1回の学習の学習記録である出題回数、正解回数、正解率と、複数回の学習での学習記録を通算した通算出題回数、通算正解回数、通算正解率の項目を含む学習問題を保持する学習リストを、小テストを作成する毎に出題回数と正解率の項目を交互にキーとして昇順にソートし、上位から所定数の学習問題を抽出し、学習記録を含めて小テストを作成し、所定数の学習問題を同時に小テスト画面上に表示し、所定の正解回数に達していない学習問題を未習熟として繰り返しテストできる小テスト作成手段と、前記小テスト画面上で、前回の出題で不正解であった学習問題の正解率の欄を色分けして表示し、学習者に注意喚起して解答を入力させる小テスト学習手段と、正誤判定を行ない、前記小テスト画面に正解と更新した学習記録と小テストの採点を表示するとともに、正解した問題と不正解の問題の解答入力欄を色分けして表示し、学習リストの学習記録を更新する解答解析手段と、前記学習リストから、学習者が通算正解率の範囲を設定して学習問題を抽出し、前記学習リストと同じ構成で難問リストを作成し、学習リストと同様に使用することができる難問リスト作成手段とを具備する。  In order to solve the above-mentioned problem, the invention of claim 1 is the sum of questions, correct answers, the number of questions that are learning records of one learning, the number of correct answers, the correct answer rate, and the learning records of multiple learning. The learning list that holds the learning questions including items of the total number of calculated questions, the total number of correct answers, and the total correct answer rate is sorted in ascending order using the number of questions and correct answer items alternately as a key each time a quiz is created. Extract a predetermined number of learning questions from the test, create a quiz including learning records, display the predetermined number of learning questions at the same time on the quiz screen, and identify learning problems that have not reached the predetermined number of correct answers The quiz creation means that can be repeatedly tested and the correct answer rate column of the learning questions that were incorrect in the previous question are displayed in different colors on the quiz screen to alert the learner and enter the answer Small test learning means and correct / incorrect The correct and updated learning records and quiz scores are displayed on the quiz screen, and the answer entry fields for the correct and incorrect questions are displayed in different colors to update the learning record in the learning list. From the learning analysis list and the learning list, the learner sets the range of the total correct answer rate and extracts learning questions, creates a difficult question list with the same configuration as the learning list, and uses it similarly to the learning list And a difficult problem list creating means.

請求項2の発明は、前記小テスト作成手段において、前記学習リストから特定の数値あるいは文字を検索キーとして学習問題を抽出し、一時的な学習リストを作成してから所定数の学習問題を抽出する。  According to a second aspect of the present invention, in the quiz preparation means, learning problems are extracted from the learning list using a specific numerical value or character as a search key, and a predetermined number of learning problems are extracted after creating a temporary learning list. To do.

請求項3の発明は、前記小テスト作成手段において、学習分野が中国語で、中国語の単語の声調を学習する場合、学習問題の質問に中国語の単語、正解に声調符号を数値化した数字とすることにより、学習者が声調符号の代わりに、声調符号を数値化した数字を解答入力欄に入力することで、数字による正誤判定を可能にする。
以上を特徴とする小テスト学習装置である。
According to a third aspect of the present invention, in the quiz preparation means, when the learning field is Chinese and the tone of a Chinese word is learned, the Chinese word is digitized for the question of the learning problem, and the tone code is digitized for the correct answer By making the numbers into numbers, the learner can input the numbers obtained by digitizing the tone codes in the answer input field instead of the tone codes, thereby enabling correct / incorrect determination using numbers.
This is a small test learning apparatus characterized by the above.

一度に複数の学習問題を表示する小テスト形式をとり、学習リストに対して、出題回数と正解率の項目を交互にキーとして昇順にソートし、上位から所定数の学習問題を抽出することにより、出題の偏りを減らし、正解率の低い学習問題の出題回数を多くすることができ、難解な問題であっても、出題頻度を多くすることで記憶に定着させることができる。
そして、前回の正誤判定の結果と正解率を参照して解答することができるため、個々の学習問題に対する注目度が上がり、学習意欲を持続できる。
また、学習者が通算正解率の範囲を決めて難問リストを作成することで、独自の難易度による学習問題を出題することができるため、学習を効率的に進めることができる。
このため、より多くの学習問題に対して、短時間に効率よく学習し、記憶に定着させる効果が期待できる。
By taking a quiz format that displays multiple learning questions at once, by sorting the learning list in ascending order by using the number of questions and correct answer items alternately as keys, and extracting a predetermined number of learning questions from the top It is possible to reduce the bias of the questions, increase the number of questions of the learning problem with a low correct answer rate, and even the difficult questions can be fixed in the memory by increasing the frequency of the questions.
And since it can answer by referring to the result of the previous right / wrong judgment and the correct answer rate, the degree of attention to each learning problem is increased and the willingness to learn can be maintained.
In addition, since the learner decides the range of the total correct answer rate and creates the difficult question list, it is possible to ask a learning problem based on a unique difficulty level, so that the learning can proceed efficiently.
For this reason, it is possible to expect the effect of learning efficiently in a short time and fixing it in memory for more learning problems.

本発明の実施例に係るブロック図である。It is a block diagram concerning the example of the present invention. 本発明の実施例に係る学習リストの構成図である。It is a block diagram of the learning list which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る小テスト学習画面である。It is a small test learning screen which concerns on the Example of this invention. 学習リストの項目名を中国語学習への応用で変更した項目名の対応図である。It is a correspondence figure of the item name which changed the item name of the learning list by the application to Chinese learning. 学習リストから学習問題を抜粋したイメージ図である。It is the image figure which extracted the learning problem from the learning list. 本発明の実施例に係る全体処理のフローチャートである。It is a flowchart of the whole process which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る小テスト作成のフローチャートである。It is a flowchart of the small test preparation which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る小テスト学習のフローチャートである。It is a flowchart of the small test learning which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る解答解析のフローチャートである。It is a flowchart of the answer analysis which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る難問リスト作成のフローチャートである。It is a flowchart of the difficult question list preparation which concerns on the Example of this invention. 小テストを出題した画面である。This is a screen with a small test. 学習リスト呼出し、保存を行なう画面である。This is a screen for recalling and saving the learning list. 小テスト作成の条件設定画面である。This is a condition setting screen for creating a small test. 図13の抜粋で、別の条件を設定した画面である。It is a screen in which another condition is set in the excerpt of FIG. 図14で設定した条件で抽出した一時リストのイメージ図である。It is an image figure of the temporary list extracted on the conditions set in FIG. 図13の抜粋で、別の条件を設定した画面である。It is a screen in which another condition is set in the excerpt of FIG. 図16で設定した条件で抽出した一時リストのイメージ図である。It is an image figure of the temporary list extracted on the conditions set in FIG. 小テスト学習画面の解答入力をしたときの画面である。This is a screen when an answer is entered on the quiz learning screen. 小テスト学習画面の採点をしたときの画面である。It is a screen when scoring the small test learning screen. 難問リスト作成の条件設定画面である。This is a condition setting screen for creating a difficult question list. 難問リストから学習問題を抜粋したイメージ図である。It is the image figure which extracted the learning problem from the difficult question list.

以下、本発明の実施の形態について、図1から図21を用いて、小テスト学習装置について具体例を用いて説明する。
本発明は、画面の解像度に合わせて表示可能な問題数にすることで、画面解像度の小さいコンピューターを内蔵したゲーム機や携帯電話でも実現可能であるが、本構成はパーソナル・コンピューターを使用することを前提にして説明する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 21 using a specific example of a small test learning apparatus.
The present invention can be realized by a game machine or a mobile phone with a built-in computer having a small screen resolution by making the number of problems that can be displayed according to the resolution of the screen, but this configuration uses a personal computer. The explanation is based on the assumption.

図1は本発明の小テスト学習装置のブロック図である。
コンピューターの主体となるのは、CPU1とRAM2で、入出力インターフェース10により周辺装置と接続される。
FIG. 1 is a block diagram of a small test learning apparatus of the present invention.
The main components of the computer are a CPU 1 and a RAM 2, which are connected to peripheral devices by an input / output interface 10.

ハードディスク3は、データ管理プログラム11と小テスト学習装置の小テスト学習プログラム14を保存する外部記憶装置である。
データ管理プログラム11はデータベース・ソフトあるいは表計算ソフトなどの検索機能とソート機能を持つプログラムを使用する。また、一般的にデータベース・ソフトでテーブルまたは表、表計算ソフトでシートまたは表と呼ばれるデータを管理する表のことを、ここでは、リストと表現する。
学習リスト12は1つ以上存在し、1回の学習で必要な量の学習問題を保持し、小テスト学習装置を起動した後に、学習者は学習する学習リストを選択する。
難問リスト13は、学習者が学習リスト12の中から範囲を決めて学習問題を抽出し、リスト名を付けて作成する。
The hard disk 3 is an external storage device that stores the data management program 11 and the small test learning program 14 of the small test learning device.
The data management program 11 uses a program having a search function and a sort function such as database software or spreadsheet software. In addition, a table that manages data called a table or table in database software and a sheet or table in spreadsheet software is generally expressed as a list here.
One or more learning lists 12 exist, hold the amount of learning problems necessary for one learning, and after starting the small test learning device, the learner selects a learning list to learn.
The difficult question list 13 is created by a learner determining a range from the learning list 12 to extract learning questions and giving a list name.

キーボード4は、主に解答を入力するための入力装置である。
マウス5は、小テスト画面のボタンのクリック、選択肢の選択、入力欄の移動等に使用する入力装置である。デスクトップ型パソコンではマウスを、ノート型パソコンではタッチパッドやトラックポイントを使用するが、ここでは、マウスを使用する。
ディスプレイ6は、小テスト画面を表示するための表示装置である。
DVD−ROMドライブ7はDVD−ROM15の記憶媒体に保存されたデータ管理プログラムをハードディスク3にインストールするために使用する。また、小テスト学習プログラムがDVD−ROM15に記録されている場合は、それを読み込んでハードディスク3に書き込むために使用する。
小テスト学習プログラムをインターネット16上のサーバー17からダウンロードして使用する場合は、通信装置8を経由してインターネット上からプログラムをダウンロードし、ハードディスク3に保存する。
小テスト学習プログラムがメモリカード18に保存されている場合には、メモリカード読取り装置9を経由してプログラムを読み取り、ハードディスク3に保存する。
The keyboard 4 is an input device for mainly inputting an answer.
The mouse 5 is an input device used for clicking a button on the small test screen, selecting an option, moving an input field, and the like. A desktop computer uses a mouse, and a notebook computer uses a touchpad or trackpoint. Here, a mouse is used.
The display 6 is a display device for displaying a small test screen.
The DVD-ROM drive 7 is used to install a data management program stored in the storage medium of the DVD-ROM 15 in the hard disk 3. If a small test learning program is recorded on the DVD-ROM 15, it is used for reading and writing to the hard disk 3.
When the small test learning program is downloaded from the server 17 on the Internet 16 and used, the program is downloaded from the Internet via the communication device 8 and stored in the hard disk 3.
When the small test learning program is stored in the memory card 18, the program is read via the memory card reader 9 and stored in the hard disk 3.

学習リスト12は、図2に示すように、質問101、正解102、関連事項A103、関連事項B104,出題回数105、正解回数106、正解率107、通算出題回数108、通算正解回数109、通算正解率110、順序111、前回正誤112の項目で構成される。
図2で示す構成は問題リストの基本的な構成であり、小テスト学習装置を実際の学習分野へ応用する際に項目名を適切な名称に変更して使用する。
As shown in FIG. 2, the learning list 12 includes a question 101, a correct answer 102, a related matter A 103, a related matter B 104, the number of questions 105, a correct number of times 106, a correct answer rate 107, a total number of calculated questions 108, a total number of correct answers 109, and a total correct answer. It consists of items of rate 110, order 111, and previous correct / incorrect 112.
The configuration shown in FIG. 2 is a basic configuration of a problem list, and the item name is changed to an appropriate name when the small test learning apparatus is applied to an actual learning field.

出題された学習問題に対して、CPU1は、出題回数105に1を加算し、正解の場合は正解回数106に1を加算する。そして、正解回数106を出題回数105で除算を行ない、その商に100を掛けて正解率107を(%)で表わす。これを1回の学習の間繰り返し、次の学習時には、出題回数105、正解回数106、正解率107を0にクリアする。
1回の学習の単位は、学習リストのすべての学習問題の正解回数が所定数に達するまでであるが、途中で中断することができる。
The CPU 1 adds 1 to the number of questions 105 and adds 1 to the number of correct answers 106 when the answer is correct. Then, the correct answer number 106 is divided by the question number 105, and the quotient is multiplied by 100 to express the correct answer rate 107 in (%). This is repeated during one learning, and at the next learning, the number of questions 105, the number of correct answers 106, and the correct answer rate 107 are cleared to zero.
The unit of one learning is until the number of correct answers of all learning problems in the learning list reaches a predetermined number, but can be interrupted halfway.

通算出題回数108、通算正解回数109は、出題回数105、正解回数106をそれぞれ通算した数値を持ち、学習毎に0にクリアしない。
通算正解率110は、通算正解回数109を通算出題回数108で除算を行ない、その商に100を掛けて(%)で表わす。
順序111は、直前に出題された学習問題を逆順に並べ替えるときに使用する。
前回正誤112は、直前の正誤判定を記憶するために用いられ、正解では○を不正解では×を代入する。
The total calculation number of times 108 and the total number of correct answers 109 have numerical values obtained by adding the number of questions 105 and the correct number of times 106, respectively, and are not cleared to 0 every learning.
The total correct answer rate 110 is expressed as (%) by dividing the total number 109 of correct answers by the calculated number of times 108 and multiplying the quotient by 100.
The order 111 is used when rearranging the learning questions presented immediately before in reverse order.
The previous correct / incorrect 112 is used to store the previous correct / incorrect determination, and ○ is assigned to the correct answer and × is assigned to the incorrect answer.

図3は小テスト学習装置の基本的な例である。実際の学習分野へ応用する時点で、項目名を変更する。
この実施例では、小テスト学習装置の出題数を5間として説明する。
学習者が出題130のボタンを押した時、CPU1は学習リスト12から学習問題を抽出し、質問121、関連事項A124、関連事項B125、出題回数126、正解回数127、正解率128、通算正解率129を表示する。
ここで、「ボタンを押す」とは、ボタンにフォーカスが当たっているときにキーボード4のエンター・キーを押下するか、ボタンをマウス5でクリックすることをいう。
学習者が解答入力欄122に解答を入力し、採点131のボタンを押すと、CPU1は正解123を表示し、解答解析を行なった後、出題回数126、正解回数127、正解率128、通算正解率129を更新する。
解答入力欄122は、学習者がキーボード4を用いて、解答入力欄に英数字、漢字、ひらがな、またはカタカナを入力する。実際の学習の応用分野によっては、解答入力欄に選択肢を配置して、学習者がマウス5を用いて、正解を選択する方法をとることも可能である。
FIG. 3 shows a basic example of a small test learning apparatus. The item name is changed when applied to the actual learning field.
In this embodiment, description will be made assuming that the number of questions of the small test learning apparatus is five.
When the learner presses the question 130 button, the CPU 1 extracts a learning question from the learning list 12 and asks the question 121, the related matter A124, the related matter B125, the number of questions 126, the number of correct answers 127, the correct answer rate 128, and the total correct answer rate. 129 is displayed.
Here, “pressing the button” means pressing the enter key of the keyboard 4 or clicking the button with the mouse 5 when the button is focused.
When the learner inputs an answer in the answer input field 122 and presses the scoring 131 button, the CPU 1 displays the correct answer 123, and after analyzing the answer, the number of questions 126, the correct answer number 127, the correct answer rate 128, the total correct answer Update rate 129.
In the answer input field 122, the learner uses the keyboard 4 to input alphanumeric characters, kanji, hiragana, or katakana into the answer input field. Depending on the actual application field of learning, it is also possible to arrange a choice in the answer input field and allow the learner to select a correct answer using the mouse 5.

以後、小テスト学習装置を中国語の単語の発音である声調を学習するために応用した例で説明する。
フローチャートで小テスト学習装置の動作を説明する前に、中国語の単語の声調符号を数値化する方法を説明する。
ピンインはローマ字綴りで発音を表す。アクセントである声調には四声である「第1声」

Figure 2010262248
し、ピンインの上に声調符号をつけてあらわす。
また、音節の後(2文字の単語であれば、2文字目の語)に付いて軽く発音される「軽声」がある。軽声には声調符号は付かない。
声調符号の数値化の規則は次のように、中国語の漢字のアクセントである四声と軽声を数値で表すために、第1声を1、第2声を2、第3声を3、第4声を4、軽声を0とする。
Figure 2010262248
合わせて14と数字で表現する。
表1に2文字単語の声調の組み合わせの構成例を示す。Hereinafter, an example in which the small test learning device is applied to learn a tone which is the pronunciation of a Chinese word will be described.
Before explaining the operation of the small test learning apparatus with the flowchart, a method for digitizing the tone code of a Chinese word will be explained.
Pinyin is pronounced in Roman letters. The voice that is the accent is the first voice that is four voices
Figure 2010262248
Then, a tone code is put on Pinyin.
In addition, there is a “speech” that is lightly pronounced after the syllable (or the second letter if it is a two-letter word). Tones are not marked with a tone code.
The rules for digitizing the tone code are as follows: the first voice is 1, the second voice is 2, and the third voice is 3 to express the four voices and light voices, which are the accents of Chinese characters, as numerical values. , The fourth voice is 4, and the light voice is 0.
Figure 2010262248
In total, it is expressed as 14 and numbers.
Table 1 shows a configuration example of a combination of tone of two-letter words.

Figure 2010262248
Figure 2010262248

小テスト学習装置による中国語の単語学習への応用に際し、図2の学習リストの基本的な構成を、図4に示すように項目名をそれぞれ変更する。
図5に学習リストのデータの一部を抜粋したイメージ図を示す。
When applied to Chinese word learning by the small test learning device, the basic structure of the learning list in FIG. 2 is changed to the item names as shown in FIG.
FIG. 5 shows an image of a part of the learning list data.

以下、図6の全体処理のフローチャートの流れに沿って、図7〜図10のフローチャートを用いて、小テスト学習装置を詳しく説明する。
図11の小テスト画面160は小テストを出題した例であり、中国語の単語学習への応用において、図3の質問121、解答入力欄122、関連事項A124、関連事項B125の項目名を、それぞれ図11の中国語161、声調入力162、ピンイン164、日本語165に変更する。
Hereinafter, the small test learning apparatus will be described in detail with reference to the flowcharts of FIGS.
The small test screen 160 in FIG. 11 is an example in which a small test is given. In application to Chinese word learning, the item names of the question 121, the answer input column 122, the related item A 124, and the related item B 125 in FIG. 11 are changed to Chinese 161, tone input 162, Pinyin 164, and Japanese 165, respectively.

図7の小テスト作成のフローチャートを用いて、小テスト作成について説明する。
ステップS111では、学習者が図12の学習リスト呼出し・保存180で、学習リスト名181に学習リスト名を指定して、学習リスト呼出し183のボタンを押して、学習する学習リストを呼出す。
通算正解回数上限182は複数回の学習で通算した正解回数の上限を設定するもので、CPU1はこの数値に達した学習問題を習熟したとみなし、出題の対象から外す。
ステップS112では、学習者が図13に示す抽出条件を設定し、図11の出題170のボタンを押すと、CPU1は小テストを作成し、小テスト画面160に表示する。
図13の小テスト正解回数上限196は、1回の学習でこの数値に達した学習問題を習熟したとみなし、出題の対象から外す。
なお、図12の学習リスト保存184のボタンは、小テスト学習の終了時に学習リストを保存するためのものであるが、随時保存することもできる。
The small test creation will be described with reference to the small test creation flowchart of FIG.
In step S111, the learner designates the learning list name as the learning list name 181 in the learning list call / save 180 in FIG. 12, and presses the learning list call 183 button to call the learning list to be learned.
The total correct answer count upper limit 182 sets the upper limit of the correct answer count that is obtained by a plurality of learnings, and the CPU 1 regards the learning problem that has reached this value as mastery and removes it from the questions.
In step S112, when the learner sets the extraction condition shown in FIG. 13 and presses the button of the question 170 in FIG. 11, the CPU 1 creates a small test and displays it on the small test screen 160.
The upper limit 196 of the correct number of small test correct answers in FIG. 13 is regarded as having mastered a learning problem that has reached this numerical value in one learning, and is excluded from the questions.
The button of the learning list saving 184 in FIG. 12 is for saving the learning list at the end of the small test learning, but can be saved as needed.

ステップ113以降は、CPU1が小テストを作成する過程である。
ステップS113では、指定した条件によって処理が分かれる。
図13の条件設定で、無し191を選択した場合は、ステップS114でソートフラグをチェックする。このソートフラグは、小テスト学習装置が起動するときに0にセットされ、小テストを作成する毎に1と0に交互にセットされるものである。
ソートフラグが0のときは、ステップS115へ行き、学習リストの出題回数の項目をキーにして昇順にソートする。こうすることで、出題回数の少ない学習問題を優先して出題することができる。そしてソートフラグを1にする。
ソートフラグが1のときは、ステップS116へ行き、学習リストの正解率の項目をキーにして昇順にソートする。こうすることで、正解率の低い学習問題を優先して出題することができる。そしてソートフラグを0にする。
こうして、正解率の高い学習問題は、早い段階で図14の小テスト正解回数上限196に設定した回数に到達することで出題対象から外れるため、小テストを作成する毎に出題回数と正解率の項目を交互に昇順にソートすることにより、正解率の低い学習問題の出題頻度を保つことができる。
Step 113 and subsequent steps are processes in which the CPU 1 creates a small test.
In step S113, the process is divided according to the specified conditions.
If none 191 is selected in the condition setting of FIG. 13, the sort flag is checked in step S114. This sort flag is set to 0 when the small test learning device is activated, and is alternately set to 1 and 0 every time a small test is created.
When the sort flag is 0, the process goes to step S115 to sort in ascending order using the number of questions in the learning list as a key. By doing this, it is possible to give priority to learning problems with a small number of questions. The sort flag is set to 1.
When the sort flag is 1, the process goes to step S116 and sorts in ascending order using the accuracy rate item of the learning list as a key. By doing so, it is possible to give priority to learning problems with a low accuracy rate. The sort flag is set to 0.
In this way, a learning problem with a high correct answer rate is excluded from the subject by reaching the number set in the upper limit 196 of the correct number of small test correct answers in FIG. 14 at an early stage. Therefore, each time a small test is created, By sorting items alternately in ascending order, it is possible to maintain the frequency of questions with a low correct answer rate.

ステップS113で、図14に示すように、声調192を選択した場合、ステップS117で、声調数字194に指定した数字を持つ学習問題を学習リストから検索し、該当した学習問題だけで一時リストを作成する。一時リストの一部を抜粋した例を図15に示す。声調142の欄に、図14の声調数字194に指定した数字“4”が含まれている。
ステップS113で、図16のように、ピンイン193を選択した場合、ステップS118で、ピンイン文字195に指定した文字を持つ学習問題を検索し、該当した学習問題だけで一時リストを作成する。一時リストの一部を抜粋した例を図17に示す。ピンイン143の欄に、図16のピンイン文字195に指定した文字“ji”が含まれている。
If tone 192 is selected in step S113 as shown in FIG. 14, in step S117, a learning problem having a number designated as tone numeral 194 is searched from the learning list, and a temporary list is created only with the corresponding learning problem. To do. An example in which a part of the temporary list is extracted is shown in FIG. The number “4” designated as the tone number 194 in FIG.
If Pinyin 193 is selected as shown in FIG. 16 in step S113, a learning problem having a character designated as the Pinyin character 195 is searched in Step S118, and a temporary list is created using only the corresponding learning problem. An example of part of the temporary list is shown in FIG. In the pinyin 143 column, the character “ji” designated as the pinyin character 195 in FIG. 16 is included.

ステップS119では、ソートフラグが0のときは、ステップS120へ行き、一時リストの出題回数の項目をキーにして昇順にソートする。そしてソートフラグを1にする。
ソートフラグが1のときは、ステップS121へ行き、一時リストの正解率の項目をキーにして昇順にソートする。そしてソートフラグを0にする。
In step S119, when the sort flag is 0, the process goes to step S120 to sort in ascending order using the item of the number of questions in the temporary list as a key. The sort flag is set to 1.
When the sort flag is 1, the process goes to step S121, and the items are sorted in ascending order using the accuracy rate item in the temporary list as a key. The sort flag is set to 0.

ステップS122では、CPU1はソートした学習リストまたは一時リストの上位から5問を抽出して図11に示すように小テスト画面160に表示する。
図11の声調入力162は、声調符号を数値化した数字を入力する入力欄である。
正解163は、採点時に正解を表示する。
図11の日本語165は、中国語161に対する日本語訳で、図13の日本語を表示する197にチェックが付いていれば日本語を表示する。この場合は、チェックが付いていないため、図11で日本語が表示されていない。採点時に日本語を表示する。
また、図13のピンインを表示する198にチェックが付いているので、図11のピンイン164のピンインの欄にピンインが表示されている。
In step S122, the CPU 1 extracts five questions from the top of the sorted learning list or temporary list and displays them on the small test screen 160 as shown in FIG.
The tone input 162 in FIG. 11 is an input field for inputting a numerical value obtained by digitizing the tone code.
The correct answer 163 displays the correct answer when scoring.
Japanese 165 in FIG. 11 is a Japanese translation for Chinese 161, and if Japanese is displayed in 197 for displaying Japanese in FIG. 13, Japanese is displayed. In this case, since there is no check, Japanese is not displayed in FIG. Display Japanese when scoring.
In addition, since 198 indicating pinyin in FIG. 13 is checked, pinyin is displayed in the pinyin column of pinyin 164 in FIG.

図6のステップS102では、小テスト学習を行なう。図8は小テスト学習のフローチャートである。
ステップS131では、CPU1は図13の前回不正解問題を色分けする199を確認し、チェックが付いている場合、前回の出題で不正解であった学習問題に対して、図11の正解率168の欄を赤色で表示する。これは、図5の前回正誤152が“×”になっている学習問題が該当する。
また、図11の通算正解率169よりも正解率168の方が小さい場合は、図11の通算正解率169の欄を赤色で表示する。これは、同一問題の比較で、過去の学習の通算成績に比べて今回の学習の方が成績が悪いことを示している。
In step S102 of FIG. 6, small test learning is performed. FIG. 8 is a flowchart of small test learning.
In step S131, the CPU 1 confirms 199 for color-coding the previous incorrect answer problem in FIG. 13 and, if checked, the correct answer rate 168 in FIG. 11 for the learning problem that was incorrect in the previous question. The column is displayed in red. This corresponds to a learning problem in which the previous correct / incorrect 152 in FIG. 5 is “x”.
If the correct answer rate 168 is smaller than the total correct answer rate 169 in FIG. 11, the total correct answer rate 169 column in FIG. 11 is displayed in red. This shows that the results of this study are worse than the total results of past studies in comparison of the same problem.

ステップS132では、キーボード4を用いて図11の声調入力162に解答を入力する。
ステップS133では、CPU1は学習者が解答である声調符号を数値化した数字を2桁入力したかどうかを確認する。2桁入力された場合は、ステップS134でカーソルを次の学習問題へ移動する。この実施例では、図5の中国語141に示すように2文字に限定しているので、解答する声調符号は2桁になる。このように、解答する桁数が一定の桁に決まっている場合は、桁数分の解答入力があれば、CPU1は自動的に次の学習問題にカーソルを移動する。
ステップS135では、全問解答入力が行われた場合は終了し、行われていない場合はステップS132へ行く。図18は声調入力162の欄に解答を入力した例である。
In step S132, the answer is input to the tone input 162 of FIG.
In step S133, the CPU 1 confirms whether or not the learner has input two digits that are numerical values of the tone code that is the answer. If two digits have been input, the cursor is moved to the next learning problem in step S134. In this embodiment, since it is limited to two characters as shown in Chinese 141 in FIG. 5, the tone code to be answered is two digits. As described above, when the number of digits to be answered is determined to be a fixed digit, the CPU 1 automatically moves the cursor to the next learning question if there is an answer input for the number of digits.
In step S135, if all questions and answers have been input, the process ends. If not, the process proceeds to step S132. FIG. 18 shows an example in which an answer is entered in the tone input 162 field.

図6のステップS103では、解答解析を行なう。図9のフローチャートで解答解析について説明する。
ステップS141では、学習者が図18の採点171のボタンを押すと、CPU1は図19に示すように正解163の各欄に正解を表示する。
このとき、図13の日本語を表示する197がチェックされていない場合、この時点で図19の日本語165の欄に日本語を表示する。
In step S103 of FIG. 6, answer analysis is performed. The answer analysis will be described with reference to the flowchart of FIG.
In step S141, when the learner presses the button of scoring 171 in FIG. 18, the CPU 1 displays the correct answer in each column of the correct answer 163 as shown in FIG.
At this time, if the Japanese display 197 in FIG. 13 is not checked, the Japanese is displayed in the field of Japanese 165 in FIG. 19 at this time.

ステップS142では、図19の声調入力162の欄の正誤判定を行なう。正解した場合、ステップS143で、CPU1は図19の1番目、2番目、4番目、5番目の学習問題の出題回数166と正解回数167に1を足してから正解率168を計算する。正解率168は、正解回数167を出題回数166で割り、それに100を掛けた数値(%)で表わす。そして、小テスト画面の声調入力162の欄を青色にする。
また、図5の学習リストの通算出題回数148と通算正解回数149に1を足してから図19の通算正解率169を計算する。通算正解率169は、通算正解回数147を通算出題回数146で割り、それに100を掛けた数値(%)で表わす。
ステップS142で不正解の場合は、ステップS144で、CPU1は図19の3番目の学習問題の出題回数166に“1”を足してから正解率168を計算する。そして、小テスト画面の声調入力162の欄を赤色にする。
また、図5の学習リストの通算出題回数148に“1”を足してから図19の通算正解率169を計算する。
In step S142, the correctness / incorrectness determination in the column of tone input 162 in FIG. 19 is performed. If the answer is correct, in step S143, the CPU 1 calculates the correct answer rate 168 after adding 1 to the number of questions 166 and the number of correct answers 167 of the first, second, fourth, and fifth learning problems in FIG. The correct answer rate 168 is expressed by a numerical value (%) obtained by dividing the number of correct answers 167 by the number of questions 166 and multiplying it by 100. And the column of the tone input 162 on the small test screen is made blue.
Further, after adding 1 to the total calculation number of times 148 and the total number of correct answers 149 in the learning list in FIG. 5, the total correct answer rate 169 in FIG. 19 is calculated. The total correct answer rate 169 is represented by a numerical value (%) obtained by dividing the total number of correct answers 147 by the number of calculated questions 146 and multiplying it by 100.
If the answer is incorrect in step S142, in step S144, the CPU 1 calculates the correct answer rate 168 after adding "1" to the number of questions 166 of the third learning problem in FIG. Then, the tone input 162 field on the small test screen is displayed in red.
Further, the total correct answer rate 169 in FIG. 19 is calculated after adding “1” to the total calculation number of times 148 in the learning list in FIG. 5.

ステップS145では、図19の小テスト採点172に5問中何問正解できたかを分数形式で表示する。
また、出題回数166、正解回数167、正解率168、通算正解率169を図5の学習リストに反映する。
学習リストの前回正誤152は、正解した場合は“○”、不正解の場合は“×”を代入する。
In step S145, the number of correct answers out of the 5 questions is displayed in a fractional format on the small test scoring 172 of FIG.
The number of questions 166, the number of correct answers 167, the correct answer rate 168, and the total correct answer rate 169 are reflected in the learning list of FIG.
As the previous correct / incorrect 152 in the learning list, “◯” is assigned when the answer is correct, and “X” is assigned when the answer is incorrect.

図6のステップS104では、学習リストの正解回数がすべて所定数に達したかどうかを判定する。この所定数とは、図13の小テスト正解回数上限196に設定した数値のことで、正解回数がすべて所定数に達した場合は、「正解回数が所定数に達しました。」という旨のメッセージを表示してステップS105へ行く。
ステップS105では、通算正解回数がすべて所定数に達したかどうかを判定する。この所定数とは、図12の通算正解回数上限182で指定する数値のことで、すべて所定数に達した場合は、「通算正解回数が所定数に達しました。」という旨のメッセージを表示してステップS107へ行く。
ステップS104で所定数に達していない場合と、ステップS105で所定数に達していない場合には、ステップS106へ行き、小テストを中断するかどうかを学習者が判断する。小テストを続ける場合は、ステップS101へ行く。小テストを中断する場合は、ステップS107へ行く。
In step S104 of FIG. 6, it is determined whether or not the number of correct answers in the learning list has reached a predetermined number. This predetermined number is a numerical value set in the upper limit 196 of the correct number of small test correct answers in FIG. 13. When all the correct answer numbers have reached the predetermined number, “the correct answer number has reached the predetermined number”. A message is displayed and it goes to step S105.
In step S105, it is determined whether or not the total number of correct answers has reached a predetermined number. This predetermined number is a numerical value designated by the upper limit 182 of the total number of correct answers shown in FIG. 12. When all the predetermined numbers are reached, a message stating “The total number of correct answers has reached the predetermined number” is displayed. Then go to step S107.
If the predetermined number has not been reached in step S104 and if the predetermined number has not been reached in step S105, the process goes to step S106, and the learner determines whether or not to interrupt the small test. To continue the small test, go to step S101. If the small test is to be interrupted, go to step S107.

図6のステップS107では、学習者が難問リストを作成するかどうかの判断をする。
難問リストを作成しない場合は、小テスト学習を終了する。
難問リストを作成する場合は、ステップS108へ行く。
ステップS108では、難問リストを作成する処理を行なう。図10の難問リスト作成のフローチャートで説明する。
難問リストとは、例えば、図5の学習リストの中で、通算正解率の低い学習問題を難問扱いにするために、通算正解率の範囲を決めて学習問題を別のリストとして保存することをいう。また、難問リストは複数作成することができる。
図10のステップS151では、学習者が図20に示す難問リスト名201に難問リスト名を、通算正解率の下限203と上限204に数値を設定して難問リスト作成・追加202のボタンを押す。
In step S107 in FIG. 6, the learner determines whether to create a difficult question list.
If the difficult question list is not created, the quiz learning ends.
When creating a difficult question list, go to step S108.
In step S108, processing for creating a difficult question list is performed. This will be described with reference to the flowchart of FIG.
For example, in the learning list of FIG. 5, in order to treat a learning problem with a low total accuracy rate as a difficult question in the learning list of FIG. 5, the range of the total accuracy rate is determined and the learning problem is saved as another list. Say. A plurality of difficult question lists can be created.
In step S151 in FIG. 10, the learner sets a difficult question list name 201 in the difficult question list name 201 shown in FIG.

ステップS152では、CPU1は指定された難問リストが存在するかどうかを判断する。指定した難問リストが存在する場合は、ステップS154へ行き、図20で設定した条件(通算正解率が下限0%〜上限50%)に該当する学習問題を指定した難問リストに追加して保存する。
指定した難問リストが存在しない場合は、ステップS153へ行き、図20の難問リスト名201に指定した難問リストを作成した後、ステップS154へ行き、図20で設定した条件に該当する学習問題を難問リストに追加し保存する。
図21は作成した難問リストの学習問題を一部を抜粋したイメージ図である。通算正解率220の欄に示すように、通算正解率が50%以下の問題が集められている。
この難問リストは、既存の学習リストと同じ構成であるため、学習リストと同等に小テストで使用することができる。
In step S152, the CPU 1 determines whether or not the designated difficult question list exists. If the designated difficulty list exists, the process goes to step S154, and the learning problem corresponding to the condition set in FIG. 20 (total correct answer rate is lower limit 0% to upper limit 50%) is added to the designated difficulty list and saved. .
If the designated difficult question list does not exist, go to step S153 to create a difficult question list designated as the difficult question list name 201 in FIG. 20, and then go to step S154 to find the learning problem corresponding to the conditions set in FIG. Add to list and save.
FIG. 21 is an image drawing a part of the learning problems of the created difficult question list. As shown in the column of the total accuracy rate 220, problems with a total accuracy rate of 50% or less are collected.
Since this difficult question list has the same configuration as the existing learning list, it can be used in small tests as well as the learning list.

1 CPU、 2 RAM、 3 ハードディスク、
4 キーボード、 5 マウス、 6 ディスプレイ、
7 DVD−ROMドライブ、 8 通信装置、
9 メモリカード読取り装置、 10 入出力インターフェース、
11 データ管理プログラム、 12 学習リスト、
13 難問リスト、 14 小テスト学習プログラム、
15 DVD−ROM、 16 インターネット、
17 サーバー、 18 メモリカード、
120、160、180、190、200 画面
1 CPU, 2 RAM, 3 hard disk,
4 keyboard, 5 mouse, 6 display,
7 DVD-ROM drive 8 Communication device
9 Memory card reader, 10 Input / output interface,
11 data management program, 12 learning list,
13 difficulty list, 14 quiz learning program,
15 DVD-ROM, 16 Internet,
17 server, 18 memory card,
120, 160, 180, 190, 200 screens

Claims (3)

質問、正解と、1回の学習の学習記録である出題回数、正解回数、正解率と、複数回の学習での学習記録を通算した通算出題回数、通算正解回数、通算正解率の項目を含む学習問題を保持する学習リストを、小テストを作成する毎に出題回数と正解率の項目を交互にキーとして昇順にソートし、上位から所定数の学習問題を抽出し、学習記録を含めて小テストを作成し、所定数の学習問題を同時に小テスト画面上に表示し、所定の正解回数に達していない学習問題を未習熟として繰り返しテストできる小テスト作成手段と、
前記小テスト画面上で、前回の出題で不正解であった学習問題の正解率の欄を色分けして表示し、学習者に注意喚起して解答を入力させる小テスト学習手段と、
正誤判定を行ない、前記小テスト画面に正解と更新した学習記録と小テストの採点を表示するとともに、正解した学習問題と不正解の学習問題の解答入力欄を色分けして表示し、学習リストの学習記録を更新する解答解析手段と、
前記学習リストから、学習者が通算正解率の範囲を設定して学習問題を抽出し、前記学習リストと同じ構成で難問リストを作成し、学習リストと同様に使用することができる難問リスト作成手段とを具備する小テスト学習装置。
Includes questions, correct answers, one-time learning record, number of questions, number of correct answers, correct answer rate, total number of calculation questions, total number of correct answers, total correct answer rate, total correct answer rate The learning list that holds the learning questions is sorted in ascending order by using the number of questions and correct answer items alternately as a key each time a small test is created, and a predetermined number of learning questions are extracted from the top, and a small number including learning records is included. Creating a test, displaying a predetermined number of learning questions at the same time on the small test screen, and a small test creation means that can repeatedly test learning questions that have not reached the predetermined number of correct answers as unskilled,
On the quiz screen, a quiz learning means for displaying the correct answer rate column of the learning problem that was incorrect in the previous question, color-coded, alerting the learner and inputting the answer,
Make a correct / incorrect determination, display correct and updated learning records and quiz scores on the small test screen, color-display the answer entry fields for correct and incorrect learning questions, An answer analysis means for updating the learning record;
From the learning list, a learner sets a range of the correct answer rate, extracts a learning problem, creates a difficulty list with the same configuration as the learning list, and can be used in the same manner as the learning list A small test learning device.
前記小テスト作成手段において、
前記学習リストから特定の数値あるいは文字を検索キーとして学習問題を抽出し、一時的な学習リストを作成してから所定数の学習問題を抽出することを特徴とする請求項1記載の小テスト学習装置。
In the small test creating means,
2. The test learning according to claim 1, wherein a learning problem is extracted from the learning list by using a specific numerical value or character as a search key, and a predetermined number of learning problems are extracted after creating a temporary learning list. apparatus.
前記小テスト作成手段において、
学習分野が中国語で、中国語の単語の声調を学習する場合、質問に中国語の単語、正解に声調符号を数値化した数字とすることにより、学習者が声調符号の代わりに、声調符号を数値化した数字を解答入力欄に入力することで、数字による正誤判定を可能にすることを特徴とする請求項1記載の小テスト学習装置。
In the small test creating means,
If the learning field is Chinese and the tone of a Chinese word is to be learned, the learner can use the tone code instead of the tone code by using a Chinese word for the question and a numerical value for the tone code for the correct answer. The quiz learning apparatus according to claim 1, wherein a correctness / incorrectness determination using a number is enabled by inputting a numerical value obtained by digitizing the number into an answer input field.
JP2009125801A 2009-04-30 2009-04-30 Small test-learning device Pending JP2010262248A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009125801A JP2010262248A (en) 2009-04-30 2009-04-30 Small test-learning device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009125801A JP2010262248A (en) 2009-04-30 2009-04-30 Small test-learning device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010262248A true JP2010262248A (en) 2010-11-18

Family

ID=43360335

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009125801A Pending JP2010262248A (en) 2009-04-30 2009-04-30 Small test-learning device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010262248A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012137699A (en) * 2010-12-28 2012-07-19 Dainippon Printing Co Ltd Learning support device, learning support method and program
WO2012131948A1 (en) * 2011-03-30 2012-10-04 富士通株式会社 Problem-providing device and problem-providing method
JP5473099B1 (en) * 2012-12-26 2014-04-16 ハイツー株式会社 Test-driven E-learning system
KR20150075345A (en) * 2013-12-24 2015-07-03 박판열 Method For Providing Studies In Computer Games
JP2019174580A (en) * 2018-03-28 2019-10-10 株式会社High−Standard&Co. Teaching material data creation program and teaching material creation method
CN113823136A (en) * 2020-06-18 2021-12-21 香港科技大学 Answer analysis test system, test method and test software

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012137699A (en) * 2010-12-28 2012-07-19 Dainippon Printing Co Ltd Learning support device, learning support method and program
WO2012131948A1 (en) * 2011-03-30 2012-10-04 富士通株式会社 Problem-providing device and problem-providing method
KR101451059B1 (en) 2011-03-30 2014-10-15 후지쯔 가부시끼가이샤 Problem-providing device
JP5686183B2 (en) * 2011-03-30 2015-03-18 富士通株式会社 Questioning apparatus and questioning method
US9711057B2 (en) 2011-03-30 2017-07-18 Fujitsu Limited Question setting apparatus and method
JP5473099B1 (en) * 2012-12-26 2014-04-16 ハイツー株式会社 Test-driven E-learning system
KR20150075345A (en) * 2013-12-24 2015-07-03 박판열 Method For Providing Studies In Computer Games
KR101594581B1 (en) * 2013-12-24 2016-02-17 박판열 Method For Providing Studies In Computer Games
JP2019174580A (en) * 2018-03-28 2019-10-10 株式会社High−Standard&Co. Teaching material data creation program and teaching material creation method
JP7195570B2 (en) 2018-03-28 2022-12-26 株式会社High-Standard&Co. Teaching material data creation program and teaching material creation method
CN113823136A (en) * 2020-06-18 2021-12-21 香港科技大学 Answer analysis test system, test method and test software
CN113823136B (en) * 2020-06-18 2024-01-09 香港科技大学 Answer analysis test system, test method and test software

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Dowker et al. Linguistic influences on mathematical development: How important is the transparency of the counting system?
JP7147185B2 (en) Information processing device, information processing method and information processing program
JP6254629B2 (en) Scoring assistance system
JP5186342B2 (en) Information processing apparatus, information processing method, and program
JP2010262248A (en) Small test-learning device
CN101488120A (en) Learning evaluation apparatus and method
JP2002215016A (en) Method for analyzing exercise of entrance examination question and storage medium for system of the same
KR20190143057A (en) An online learning system and method capable of parallel learning of Chinese characters and Chinese
JP2019185343A (en) Question analysis system, method, and program
JP2008197604A (en) English composition automatic erratum discrimination and guidance system or program
JP2002287608A (en) Learning support system
JPWO2020036011A1 (en) Information processing equipment, information processing methods, and programs
JP3321650B1 (en) Learning system
JP6437684B1 (en) Problem creation support system, method, and program
JP7195570B2 (en) Teaching material data creation program and teaching material creation method
JPH10222049A (en) Study authorization device and method therefor
CN108446277B (en) Method and device for simulating learning
JP2010102730A (en) Marker evaluation device, marker evaluation method, and computer program
KR102619939B1 (en) Method And System for Writing Education and Evaluation
JP2012252181A (en) Sentence recognition capability evaluation system, sentence recognition capability evaluation program, storage medium storing sentence recognition capability evaluation program, and sentence recognition capability evaluation method
JP7131518B2 (en) Electronic device, pronunciation learning method, server device, pronunciation learning processing system and program
JP7263777B2 (en) Answer sheet processing device and program
JP2010072203A (en) Problem creating device, problem creating program, and learning system
JP2005196281A (en) Already evaluated examination paper mixing method, already evaluated examination paper mixing device and computer program
JP2022141570A (en) Character input device, character input method, and character input program