JP2010232367A - Method of transferring thin-film layer and adhesive tape for thin-film layer transfer - Google Patents
Method of transferring thin-film layer and adhesive tape for thin-film layer transfer Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010232367A JP2010232367A JP2009077397A JP2009077397A JP2010232367A JP 2010232367 A JP2010232367 A JP 2010232367A JP 2009077397 A JP2009077397 A JP 2009077397A JP 2009077397 A JP2009077397 A JP 2009077397A JP 2010232367 A JP2010232367 A JP 2010232367A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film layer
- thin film
- layer
- adhesive tape
- transferring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、基板に形成した薄膜層を転写部材に転写する方法および薄膜層の転写用粘着テープに関する。 The present invention relates to a method for transferring a thin film layer formed on a substrate to a transfer member, and an adhesive tape for transferring the thin film layer.
薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)等の薄膜層は、通常、透明でフレキシブルな樹脂基板上に積層された状態で使用される。一方、前記TFTを形成する工程では、雰囲気温度が前記樹脂基板のガラス転移温度よりも高温になることが多い。そのため、TFTを直接樹脂基板上に形成すると、該樹脂基板が熱変形するという問題がある。この問題を解決するために、耐熱性を有する基板上でTFTを形成した後、該TFTを樹脂基板上に転写することが行われている(例えば、特許文献1参照)。 A thin film layer such as a thin film transistor (TFT) is usually used in a state of being laminated on a transparent and flexible resin substrate. On the other hand, in the process of forming the TFT, the atmospheric temperature is often higher than the glass transition temperature of the resin substrate. Therefore, when the TFT is directly formed on the resin substrate, there is a problem that the resin substrate is thermally deformed. In order to solve this problem, after forming a TFT on a heat-resistant substrate, the TFT is transferred onto a resin substrate (see, for example, Patent Document 1).
耐熱性を有する基板から樹脂基板へのTFTの転写は、一般に以下の(i)〜(v)の工程を経て行われる。
(i)耐熱性を有する基板上に分離層を介してTFTを形成し、
(ii)前記TFT上に粘着テープを貼付し、
(iii)前記分離層に光を照射してTFTと耐熱性を有する基板とを分離し、TFTを耐熱性を有する基板から粘着テープに転写し、
(iv)転写したTFTを、接着層を介して樹脂基板上に接着した後、
(v)前記粘着テープをTFTから剥離し、TFTを粘着テープから樹脂基板に転写する。
The transfer of the TFT from the heat-resistant substrate to the resin substrate is generally performed through the following steps (i) to (v).
(I) A TFT is formed on a heat-resistant substrate through a separation layer,
(Ii) Affixing an adhesive tape on the TFT,
(Iii) irradiating the separation layer with light to separate the TFT and the heat-resistant substrate, transferring the TFT from the heat-resistant substrate to an adhesive tape,
(Iv) After the transferred TFT is bonded onto the resin substrate via the adhesive layer,
(V) The adhesive tape is peeled from the TFT, and the TFT is transferred from the adhesive tape to the resin substrate.
しかしながら、通常の粘着テープでは、前記(v)の工程において、TFTから剥離し難くいという問題がある。そのため、粘着テープ剥離時にTFTに過度の力がかかり、変形や破損を生じる。また、粘着剤層がTFT上に残る、いわゆる糊残りが多くなるおそれがある。さらに、剥離した粘着テープは、繰り返し使用することができないので、経済的ではない。 However, a normal pressure-sensitive adhesive tape has a problem that it is difficult to peel off from the TFT in the step (v). For this reason, excessive force is applied to the TFT when the adhesive tape is peeled off, causing deformation or breakage. In addition, the adhesive layer may remain on the TFT, so-called adhesive residue may increase. Furthermore, since the peeled adhesive tape cannot be used repeatedly, it is not economical.
本発明の課題は、基板に形成した薄膜層を転写部材に歩留りよく簡単に転写する方法、および薄膜層転写用粘着テープを提供することである。 An object of the present invention is to provide a method for easily transferring a thin film layer formed on a substrate onto a transfer member with good yield, and an adhesive tape for transferring a thin film layer.
本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意研究を重ねた結果、以下の構成からなる解決手段を見出し、本発明を完成するに至った。
(1)基板に形成した薄膜層を転写部材に転写する方法であって、基板上に分離層を形成する工程と、この分離層上に薄膜層を形成する工程と、この薄膜層上に、側鎖結晶性ポリマーを含有する粘着剤層を基材フィルムの片面に設けてなり、かつ前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度で粘着力が低下する粘着テープを貼付する工程と、前記分離層に光を照射して薄膜層と基板とを分離し、薄膜層を基板から粘着テープに転写する工程と、転写した薄膜層を、接着層を介して転写部材上に接着する工程と、前記粘着テープの温度を前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度にして粘着力を低下させ、薄膜層を粘着テープから転写部材に転写する工程と、を含むことを特徴とする薄膜層の転写方法。
(2)前記基板が透光性を有し、該透光性の基板を介して前記分離層に光を照射する前記(1)記載の薄膜層の転写方法。
(3)前記薄膜層が薄膜トランジスタである前記(1)または(2)記載の薄膜層の転写方法。
(4)前記転写部材が樹脂基板からなる前記(1)〜(3)のいずれかに記載の薄膜層の転写方法。
(5)前記分離層が水素含有アモルファスシリコンからなる前記(1)〜(4)のいずれかに記載の薄膜層の転写方法。
(6)前記分離層と薄膜層との間に下地層を介在させる前記(1)〜(5)のいずれかに記載の薄膜層の転写方法。
(7)側鎖結晶性ポリマーを含有する粘着剤層を基材フィルムの片面に設けてなり、かつ前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度で粘着力が低下することを特徴とする、薄膜層転写用粘着テープ。
As a result of intensive studies to solve the above-mentioned problems, the present inventors have found a solution means having the following constitution and have completed the present invention.
(1) A method of transferring a thin film layer formed on a substrate to a transfer member, a step of forming a separation layer on the substrate, a step of forming a thin film layer on the separation layer, and on the thin film layer, A step of applying a pressure-sensitive adhesive layer comprising a pressure-sensitive adhesive layer containing a side-chain crystalline polymer on one side of the base film and having a lower adhesive strength at a temperature lower than the melting point of the side-chain crystalline polymer; Irradiating the layer with light, separating the thin film layer and the substrate, transferring the thin film layer from the substrate to the adhesive tape, bonding the transferred thin film layer onto the transfer member via the adhesive layer, and A method of transferring the thin film layer, comprising: reducing the adhesive force by setting the temperature of the adhesive tape to a temperature lower than the melting point of the side chain crystalline polymer, and transferring the thin film layer from the adhesive tape to the transfer member. .
(2) The method for transferring a thin film layer according to (1), wherein the substrate has translucency, and the separation layer is irradiated with light through the translucent substrate.
(3) The method for transferring a thin film layer according to (1) or (2), wherein the thin film layer is a thin film transistor.
(4) The method for transferring a thin film layer according to any one of (1) to (3), wherein the transfer member is made of a resin substrate.
(5) The method for transferring a thin film layer according to any one of (1) to (4), wherein the separation layer is made of hydrogen-containing amorphous silicon.
(6) The method for transferring a thin film layer according to any one of (1) to (5), wherein an underlayer is interposed between the separation layer and the thin film layer.
(7) A thin film characterized in that a pressure-sensitive adhesive layer containing a side chain crystalline polymer is provided on one side of a base film, and the adhesive strength decreases at a temperature lower than the melting point of the side chain crystalline polymer. Adhesive tape for layer transfer.
本発明によれば、側鎖結晶性ポリマーを含有する粘着剤層を基材フィルムの片面に設けてなり、かつ前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度で粘着力が低下する粘着テープを用いて、基板に形成した薄膜層を転写部材に転写する。そして、薄膜層から粘着テープを剥離する際には、該粘着テープを前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度にまで冷却して、粘着力を低下させてから剥離する。これにより、粘着テープを薄膜層から簡単に剥離することができるので、粘着テープ剥離時に薄膜層が変形や損傷したり、糊残りが多く発生することによる歩留りの低下を抑制することができる。しかも、前記粘着テープは側鎖結晶性ポリマーの相変化を利用するものであるため、繰り返し使用することができる。 According to the present invention, a pressure-sensitive adhesive tape comprising a pressure-sensitive adhesive layer containing a side-chain crystalline polymer provided on one side of a base film and having a lower adhesive strength at a temperature lower than the melting point of the side-chain crystalline polymer is used. Then, the thin film layer formed on the substrate is transferred to the transfer member. And when peeling an adhesive tape from a thin film layer, this adhesive tape is cooled to the temperature below melting | fusing point of the said side chain crystalline polymer, and it peels, after reducing adhesive force. Thereby, since an adhesive tape can be easily peeled from a thin film layer, the fall of the yield by a thin film layer deform | transforming or damaged at the time of adhesive tape peeling, or many adhesive residues generate | occur | producing can be suppressed. And since the said adhesive tape utilizes the phase change of a side chain crystalline polymer, it can be used repeatedly.
まず、本発明において使用する薄膜層転写用粘着テープ(以下、粘着テープと言う。)について説明する。該粘着テープは、側鎖結晶性ポリマーを含有する粘着剤層を基材フィルムの片面に設けてなる。 First, the adhesive tape for thin film layer transfer (hereinafter referred to as adhesive tape) used in the present invention will be described. The pressure-sensitive adhesive tape is provided with a pressure-sensitive adhesive layer containing a side chain crystalline polymer on one side of a base film.
前記側鎖結晶性ポリマーは、融点未満の温度で結晶化し、かつ融点以上の温度で相転移して流動性を示す。すなわち、前記側鎖結晶性ポリマーは、温度変化に対応して結晶状態と流動状態とを可逆的に起こす。前記粘着剤層は、前記融点未満の温度で側鎖結晶性ポリマーが結晶化した際に粘着力が低下する割合で、前記側鎖結晶性ポリマーを含有している。これにより、前記粘着テープを薄膜層から剥離する際には、該粘着テープを前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度に冷却すれば、前記側鎖結晶性ポリマーが結晶化することによって粘着力が低下する。また、前記粘着テープを前記側鎖結晶性ポリマーの融点以上の温度に加熱すれば、前記側鎖結晶性ポリマーが流動性を示すことによって粘着力が発現するので、繰り返し使用することができる。 The side-chain crystalline polymer is crystallized at a temperature lower than the melting point, and exhibits phase change at a temperature higher than the melting point. That is, the side chain crystalline polymer reversibly causes a crystalline state and a fluid state in response to a temperature change. The pressure-sensitive adhesive layer contains the side-chain crystalline polymer in such a ratio that the adhesive strength decreases when the side-chain crystalline polymer is crystallized at a temperature lower than the melting point. Accordingly, when the pressure-sensitive adhesive tape is peeled from the thin film layer, if the pressure-sensitive adhesive tape is cooled to a temperature lower than the melting point of the side-chain crystalline polymer, the side-chain crystalline polymer is crystallized to cause the adhesive strength. Decreases. In addition, if the pressure-sensitive adhesive tape is heated to a temperature equal to or higher than the melting point of the side chain crystalline polymer, the side chain crystalline polymer exhibits fluidity and exhibits adhesive strength, and therefore can be used repeatedly.
前記融点とは、ある平衡プロセスにより、最初は秩序ある配列に整合されていた重合体の特定部分が無秩序状態となる温度を意味し、示差熱走査熱量計(DSC)により10℃/分の測定条件で測定して得られる値である。前記融点としては0℃以上、好ましくは10〜60℃であるのがよい。前記融点を所定の値とするには、側鎖結晶性ポリマーの組成等を変えることによって任意に行うことができる。 The melting point means a temperature at which a specific portion of the polymer originally aligned in an ordered arrangement becomes disordered by an equilibrium process, and is measured by a differential thermal scanning calorimeter (DSC) at 10 ° C./min. It is a value obtained by measuring under conditions. The melting point is 0 ° C. or higher, preferably 10 to 60 ° C. The melting point can be arbitrarily set by changing the composition of the side chain crystalline polymer.
前記側鎖結晶性ポリマーの組成としては、例えば炭素数16以上の直鎖状アルキル基を有する(メタ)アクリレート20〜100重量部と、炭素数1〜6のアルキル基を有する(メタ)アクリレート0〜70重量部と、極性モノマー0〜10重量部とを重合させて得られる重合体等が挙げられる。 As the composition of the side chain crystalline polymer, for example, 20 to 100 parts by weight of (meth) acrylate having a linear alkyl group having 16 or more carbon atoms and (meth) acrylate 0 having an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. Examples include a polymer obtained by polymerizing ˜70 parts by weight and 0-10 parts by weight of a polar monomer.
前記炭素数16以上の直鎖状アルキル基を側鎖とする(メタ)アクリレートとしては、例えばセチル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、エイコシル(メタ)アクリレート、ベヘニル(メタ)アクリレート等の炭素数16〜22の線状アルキル基を有する(メタ)アクリレートが挙げられ、前記炭素数1〜6のアルキル基を有する(メタ)アクリレートとしては、例えばメチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート等が挙げられ、前記極性モノマーとしては、例えばアクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸等のカルボキシル基含有エチレン不飽和単量体;2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシヘキシル(メタ)アクリレート等のヒドロキシル基を有するエチレン不飽和単量体等が挙げられ、これらは1種または2種以上を混合して用いてもよい。 Examples of the (meth) acrylate having a linear alkyl group having 16 or more carbon atoms as a side chain include carbon such as cetyl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, eicosyl (meth) acrylate, and behenyl (meth) acrylate. (Meth) acrylate having a linear alkyl group of 16 to 22 is exemplified, and examples of the (meth) acrylate having an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, Examples of the polar monomer include butyl (meth) acrylate and hexyl (meth) acrylate. Examples of the polar monomer include carboxyl group-containing ethylenically unsaturated monomers such as acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, itaconic acid, maleic acid, and fumaric acid. Body; 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, - hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxyhexyl (meth) ethylenically unsaturated monomer having a hydroxyl group such as acrylate and the like, which may be used alone or in combination.
重合方法としては、特に限定されるものではなく、例えば溶液重合法、塊状重合法、懸濁重合法、乳化重合法等が採用可能である。例えば溶液重合法を採用する場合には、前記で例示したモノマーを溶剤に混合し、40〜90℃程度で2〜10時間程度攪拌することによって前記モノマーを重合させることができる。 The polymerization method is not particularly limited, and for example, a solution polymerization method, a bulk polymerization method, a suspension polymerization method, an emulsion polymerization method and the like can be employed. For example, when the solution polymerization method is employed, the monomer can be polymerized by mixing the monomer exemplified above in a solvent and stirring at about 40 to 90 ° C. for about 2 to 10 hours.
前記側鎖結晶性ポリマーの重量平均分子量は100,000以上、好ましくは400,000〜900,000であるのがよい。前記重量平均分子量があまり小さいと、前記粘着テープを薄膜層から剥離する際に糊残りが多くなるおそれがある。また、前記重量平均分子量があまり大きいと、側鎖結晶性ポリマーを融点未満の温度にしても結晶化し難くなるので、粘着力が低下し難くなる。前記重量平均分子量は、側鎖結晶性ポリマーをゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)で測定し、得られた測定値をポリスチレン換算した値である。 The side chain crystalline polymer has a weight average molecular weight of 100,000 or more, preferably 400,000 to 900,000. If the weight average molecular weight is too small, the adhesive residue may increase when the adhesive tape is peeled from the thin film layer. On the other hand, if the weight average molecular weight is too large, it is difficult to crystallize even if the side chain crystalline polymer is at a temperature lower than the melting point. The weight average molecular weight is a value obtained by measuring a side chain crystalline polymer by gel permeation chromatography (GPC) and converting the obtained measurement value to polystyrene.
一方、前記基材フィルムとしては、例えばポリエチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート、エチレン酢酸ビニル共重合体、エチレンエチルアクリレート共重合体、エチレンポリプロピレン共重合体、ポリ塩化ビニル等の合成樹脂フィルムが挙げられる。また、該フィルムは、単層体またはこれらの複層体からなるものであってもよく、厚さは、通常、25〜250μm程度である。基材フィルムの表面には、粘着剤層に対する密着性を向上させるため、例えばコロナ放電処理、プラズマ処理、ブラスト処理、ケミカルエッチング処理、プライマー処理等の表面処理を施してもよい。 On the other hand, as the base film, for example, polyethylene, polyethylene terephthalate, polypropylene, polyester, polyamide, polyimide, polycarbonate, ethylene vinyl acetate copolymer, ethylene ethyl acrylate copolymer, ethylene polypropylene copolymer, polyvinyl chloride, etc. A synthetic resin film is mentioned. Moreover, this film may consist of a single layer body or these multilayer bodies, and thickness is about 25-250 micrometers normally. In order to improve the adhesion to the pressure-sensitive adhesive layer, the surface of the base film may be subjected to surface treatment such as corona discharge treatment, plasma treatment, blast treatment, chemical etching treatment, and primer treatment.
基材フィルムの片面に粘着剤層を設けるには、例えば前記重合体を所定の溶剤に加えた重合体溶液を基材フィルムの片面に塗布して乾燥させればよい。前記重合体溶液には、架橋剤、タッキファイヤー、可塑剤、老化防止剤、紫外線吸収剤等の各種の添加剤を添加することができる。 In order to provide the pressure-sensitive adhesive layer on one side of the base film, for example, a polymer solution obtained by adding the polymer to a predetermined solvent may be applied to one side of the base film and dried. Various additives such as a crosslinking agent, a tackifier, a plasticizer, an anti-aging agent, and an ultraviolet absorber can be added to the polymer solution.
前記塗布は、一般的にナイフコーター、ロールコーター、カレンダーコーター、コンマコーター等により行うことができる。また、塗工厚みや材料の粘度によっては、グラビアコーター、ロッドコーター等により行うこともできる。粘着剤層の厚さは5〜60μm、好ましくは10〜60μm、より好ましくは10〜40μmであるのがよい。 The application can be generally performed by a knife coater, a roll coater, a calendar coater, a comma coater or the like. Further, depending on the coating thickness and the viscosity of the material, a gravure coater, a rod coater or the like can be used. The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is 5 to 60 μm, preferably 10 to 60 μm, more preferably 10 to 40 μm.
次に、前記した粘着テープを用いて行う本発明にかかる薄膜層の転写方法の一実施形態について、薄膜層としてTFTを例に挙げ、図面を参照して詳細に説明する。図1(a)〜(f)は、本実施形態にかかる薄膜層の転写方法を示す工程図である。 Next, an embodiment of a method for transferring a thin film layer according to the present invention using the above-described adhesive tape will be described in detail with reference to the drawings, taking a TFT as an example of the thin film layer. 1A to 1F are process diagrams showing a thin film layer transfer method according to the present embodiment.
図1(a)に示すように、まず、基板1上に分離層2を形成する。基板1は、透光性を有している。これにより、基板1を介して分離層2に光を照射することができる。また、基板1は、耐熱性に優れた材料で構成されているのが好ましい。これにより、後述するTFT10を形成する際に雰囲気温度が高温になったとしても、基板1の熱変形を抑制することができ、安定してTFT10を形成することができる。
As shown in FIG. 1A, first, a
基板1を構成する材料としては、例えば石英ガラス等が挙げられる。基板1の厚さとしては、0.1〜5mm程度が適当である。基板1の厚さがあまり大きいと、透光性が低下するおそれがある。また、基板1の厚さがあまり小さいと、基板1の剛性が低下する。
Examples of the material constituting the
分離層2は、光が照射されると該光を吸収して、その層内や界面において剥離を生じさせる性質を有している。このような分離層2としては、例えば水素含有アモルファスシリコンからなるもの等が挙げられる。すなわち、水素含有アモルファスシリコンからなる分離層2に光を照射すると、水素が放出されて分離層2に内圧が発生し、前記剥離を生じさせることができる。
The
アモルファスシリコン中の水素含有量としては、2原子%以上、好ましくは2〜20原子%程度である。分離層2は、例えば化学蒸着法(CVD法)等により形成することができる。アモルファスシリコン中の水素含有量は、前記CVD法におけるガス組成、ガス圧、ガス雰囲気、ガス流量等の条件を適宜設定することにより調整することができる。
The hydrogen content in the amorphous silicon is 2 atomic% or more, preferably about 2 to 20 atomic%. The
分離層2の厚さとしては、1nm〜20μm程度が適当である。分離層2の厚さがあまり小さいと、分離層2の厚さにバラツキが生じて均一に剥離させ難くなる。また、分離層2の厚さがあまり大きいと、光を照射しても剥離を生じさせ難くなる。
The thickness of the
基板1上に分離層2を形成した後、図1(b)に示すように、該分離層2上に下地層3を介してTFT10を常法により形成する。下地層3は、TFT10を物理的または化学的に保護し、光の遮光層または反射層として機能するものであり、例えば二酸化ケイ素(SiO2)等からなる。下地層3の厚さとしては、10nm〜5μm程度が適当である。
After forming the
次いで、図1(c)に示すように、TFT10上に前記した粘着テープからなる粘着テープ15を貼付する。該粘着テープ15は、側鎖結晶性ポリマーを含有する粘着剤層16を基材フィルム17の片面に設けてなり、かつ前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度で粘着力が低下するよう構成されている。なお、前記側鎖結晶性ポリマーの融点によっては、粘着テープ15の粘着力が発現していない場合がある。この場合には、雰囲気温度をヒータ等の加熱手段を用いて側鎖結晶性ポリマーの融点以上の温度にまで加熱し、粘着テープ15の粘着力を発現させればよい。
Next, as shown in FIG. 1C, an
TFT10上に粘着テープ15を貼付した後、透光性の基板1を介して、矢印A方向から分離層2に光を照射する。これにより、分離層2の層内や界面において剥離が生じるので、TFT10と基板1とを分離することができる。したがって、図1(d)に示すように、TFT10を下地層3とともに矢印B方向に動かし、該TFT10を基板1から粘着テープ15に転写することができる。
After sticking the
照射する光としては、例えばレーザ光等が挙げられ、該レーザ光を発生させるレーザ装置としては、例えばエキシマレーザ等が挙げられる。該エキシマレーザは、短波長紫外域の高エネルギーのレーザ光出力が可能なガスレーザであり、レーザ媒質として希ガス(Ar,Kr,Xe)とハロゲンガス(F2,HCl)とを組み合わせたものを用いることにより、4種類の波長のレーザ光(XeF=351nm,XeCl=308nm,KrF=248nm,ArF=193nm)を出力することができる。 Examples of the light to be irradiated include laser light, and examples of the laser device that generates the laser light include an excimer laser. The excimer laser is a gas laser capable of outputting high-energy laser light in the short wavelength ultraviolet region, and uses a combination of a rare gas (Ar, Kr, Xe) and a halogen gas (F 2 , HCl) as a laser medium. By using it, it is possible to output laser light having four types of wavelengths (XeF = 351 nm, XeCl = 308 nm, KrF = 248 nm, ArF = 193 nm).
なお、TFT10を基板1から粘着テープ15に転写したとき、下地層3の下面に分離層2の一部が付着している場合には、該分離層2を例えば洗浄、エッチング、研磨等の方法を採用して除去する。
When the
次に、図1(e)に示すように、転写したTFT10を、接着層20を介して転写部材21上に接着する。接着層20を構成する接着剤としては、TFT10(下地層3)と転写部材21とを接着固定できる限り、特に限定されるものではなく、例えば反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤等の光硬化型接着剤等の各種の公知のものが採用可能である。
Next, as shown in FIG. 1E, the transferred
接着層20は、前記接着剤をあらかじめ転写部材21の所定部位に塗布しておくか、下地層3の下面に塗布することによって形成することができる。接着層20の厚さとしては、1〜100μm、好ましくは10〜50μm程度が適当である。接着は、前記で例示した各接着剤に対応した硬化方法で前記接着剤を硬化させることにより行う。
The
転写部材21としては、TFT10を実装可能な所望のものが採用可能であり、例えば合成樹脂からなる樹脂基板等が挙げられる。前記合成樹脂としては、例えばポリエチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート、エチレン酢酸ビニル共重合体、エチレンエチルアクリレート共重合体、エチレンポリプロピレン共重合体、ポリ塩化ビニル等が挙げられる。前記樹脂基板は、透明であるのが好ましく、フレキシブル性を有するのが好ましい。前記樹脂基板の厚さとしては、50〜300μm、好ましくは100〜150μm程度である。
As the
そして、雰囲気温度を前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度にまで冷却し、粘着テープ15の粘着力を低下させた後、図1(f)に示すように、該粘着テープ15を矢印C方向に動かして、粘着テープ15をTFT10から剥離する。これにより、TFT10が粘着テープ15から転写部材21に転写される。このとき、粘着テープ15の粘着力が十分に低下しているので、剥離時にTFT10にかかる負荷を小さくすることができ、TFT10が変形や損傷されるのを抑制することができるとともに、糊残りの発生も抑制することができる。また、粘着テープ15は、前記と同様の操作をすることで何度も繰り返し使用することができる。
Then, after the ambient temperature is cooled to a temperature lower than the melting point of the side chain crystalline polymer to reduce the adhesive strength of the
なお、前記した実施形態では、薄膜層としてTFTを例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。すなわち、TFT以外の本発明にかかる他の薄膜層としては、例えば薄膜ダイオード、光センサ、太陽電池、電極、スイッチング素子、メモリー、圧電素子等のアクチュエータ、フィルター等が挙げられる。 In the above-described embodiment, the TFT is described as an example of the thin film layer, but the present invention is not limited to this. That is, other thin film layers according to the present invention other than TFT include, for example, thin film diodes, photosensors, solar cells, electrodes, switching elements, memories, actuators such as piezoelectric elements, filters, and the like.
また、前記した実施形態では、分離層上に下地層を介してTFTを形成する場合について説明したが、下地層は薄膜層に応じて省略することができる。すなわち、分離層上に直接薄膜層を形成することもできる。 In the above-described embodiment, the case where the TFT is formed on the separation layer via the base layer has been described. However, the base layer can be omitted depending on the thin film layer. That is, a thin film layer can also be formed directly on the separation layer.
1 基板
2 分離層
3 下地層
10 TFT
15 粘着テープ
16 粘着剤層
17 基材フィルム
20 接着層
21 転写部材
1
15
Claims (7)
基板上に分離層を形成する工程と、
この分離層上に薄膜層を形成する工程と、
この薄膜層上に、側鎖結晶性ポリマーを含有する粘着剤層を基材フィルムの片面に設けてなり、かつ前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度で粘着力が低下する粘着テープを貼付する工程と、
前記分離層に光を照射して薄膜層と基板とを分離し、薄膜層を基板から粘着テープに転写する工程と、
転写した薄膜層を、接着層を介して転写部材上に接着する工程と、
前記粘着テープの温度を前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度にして粘着力を低下させ、薄膜層を粘着テープから転写部材に転写する工程と、
を含むことを特徴とする薄膜層の転写方法。 A method of transferring a thin film layer formed on a substrate to a transfer member,
Forming a separation layer on the substrate;
Forming a thin film layer on the separation layer;
On this thin film layer, a pressure-sensitive adhesive layer containing a side-chain crystalline polymer is provided on one side of a base film, and an adhesive tape whose adhesive strength decreases at a temperature lower than the melting point of the side-chain crystalline polymer is pasted. And a process of
Irradiating the separation layer with light to separate the thin film layer and the substrate, and transferring the thin film layer from the substrate to the adhesive tape;
Bonding the transferred thin film layer onto the transfer member via an adhesive layer;
Reducing the adhesive force by setting the temperature of the adhesive tape to a temperature lower than the melting point of the side chain crystalline polymer, and transferring the thin film layer from the adhesive tape to the transfer member;
A method for transferring a thin film layer, comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009077397A JP2010232367A (en) | 2009-03-26 | 2009-03-26 | Method of transferring thin-film layer and adhesive tape for thin-film layer transfer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009077397A JP2010232367A (en) | 2009-03-26 | 2009-03-26 | Method of transferring thin-film layer and adhesive tape for thin-film layer transfer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010232367A true JP2010232367A (en) | 2010-10-14 |
Family
ID=43047930
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009077397A Pending JP2010232367A (en) | 2009-03-26 | 2009-03-26 | Method of transferring thin-film layer and adhesive tape for thin-film layer transfer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010232367A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012153749A1 (en) * | 2011-05-09 | 2012-11-15 | シャープ株式会社 | Management device, management method, management program, solar cell module, and solar generator |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1126733A (en) * | 1997-07-03 | 1999-01-29 | Seiko Epson Corp | Transfer method of thin film device, thin film device, thin film integrated circuit device, active matrix substrate, liquid crystal display and electronic equipment |
JP2001102523A (en) * | 1999-09-28 | 2001-04-13 | Sony Corp | Thin-film device and manufacturing method therefor |
JP2003022033A (en) * | 2001-07-10 | 2003-01-24 | Toshiba Corp | Active matrix substrate and method for manufacturing the same |
JP2004111905A (en) * | 2002-09-13 | 2004-04-08 | Ind Technol Res Inst | Manufacturing method of active plastic-panel display |
JP2005099409A (en) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Toshiba Corp | Active matrix substrate and its manufacturing method, and intermediate transfer substrate |
JP2006278822A (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Toppan Printing Co Ltd | Method of manufacturing organic field effect transistor |
JP2006306656A (en) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Nitta Ind Corp | Protective tape for etching, and method for etching glass substrate |
JP2007214320A (en) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Nitta Ind Corp | Manufacturing method of semiconductor chip |
JP2008251824A (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Nitta Ind Corp | External electrode formation method of chip-type electronic component |
-
2009
- 2009-03-26 JP JP2009077397A patent/JP2010232367A/en active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1126733A (en) * | 1997-07-03 | 1999-01-29 | Seiko Epson Corp | Transfer method of thin film device, thin film device, thin film integrated circuit device, active matrix substrate, liquid crystal display and electronic equipment |
JP2001102523A (en) * | 1999-09-28 | 2001-04-13 | Sony Corp | Thin-film device and manufacturing method therefor |
JP2003022033A (en) * | 2001-07-10 | 2003-01-24 | Toshiba Corp | Active matrix substrate and method for manufacturing the same |
JP2004111905A (en) * | 2002-09-13 | 2004-04-08 | Ind Technol Res Inst | Manufacturing method of active plastic-panel display |
JP2005099409A (en) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Toshiba Corp | Active matrix substrate and its manufacturing method, and intermediate transfer substrate |
JP2006278822A (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Toppan Printing Co Ltd | Method of manufacturing organic field effect transistor |
JP2006306656A (en) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Nitta Ind Corp | Protective tape for etching, and method for etching glass substrate |
JP2007214320A (en) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Nitta Ind Corp | Manufacturing method of semiconductor chip |
JP2008251824A (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Nitta Ind Corp | External electrode formation method of chip-type electronic component |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012153749A1 (en) * | 2011-05-09 | 2012-11-15 | シャープ株式会社 | Management device, management method, management program, solar cell module, and solar generator |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI658340B (en) | Method of transferring micro electronic device | |
JP5564209B2 (en) | Etching protective tape and etching method | |
JP5587312B2 (en) | Functional film adhesive tape and functional film transfer method | |
JP2012186315A (en) | Manufacturing method of thin film substrate | |
JPWO2016052444A1 (en) | Semiconductor wafer processing sheet substrate, semiconductor wafer processing sheet, and method of manufacturing semiconductor device | |
TWI671380B (en) | Heat-resistant adhesive sheet for detecting semiconductor, and semiconductor detection method | |
JP5329666B2 (en) | Mold fixing adhesive sheet, mold fixing adhesive tape, and microstructure manufacturing method | |
JP2001003010A (en) | Pressure-sensitive double-sided adhesive sheet and pressure-sensitive adhesive member | |
JP7304143B2 (en) | Adhesive sheet and adhesive sheet laminate | |
JP5020975B2 (en) | Display substrate for embedding pixel control elements | |
JP2011037944A (en) | Temperature-sensitive adhesive and temperature-sensitive adhesive tape | |
TW202103968A (en) | Method for manufacturing laminate of two-dimensional material, and laminate | |
JP5463087B2 (en) | Microstructure manufacturing method | |
KR20160034091A (en) | Flexible Device and Method for Manufacturing the Same | |
CN107240441B (en) | Laminate and protective film | |
JP2010232367A (en) | Method of transferring thin-film layer and adhesive tape for thin-film layer transfer | |
JP6440407B2 (en) | TSV wafer manufacturing method | |
TWI532817B (en) | Double-faced pressure-sensitive adhesive sheet | |
KR20180137323A (en) | Heating element and method for fabricating the same | |
JP6927722B2 (en) | Label | |
JP5512153B2 (en) | Microstructure manufacturing method | |
JP2011044461A (en) | Adhesive tape for laser dicing | |
JP7039674B2 (en) | Laminates and protective films | |
JP5463072B2 (en) | Microstructure manufacturing method | |
JP2014156603A (en) | Re-releasable multilayer double-sided tacky sheet |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20120206 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130905 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130910 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20131022 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140507 |