JP2010230594A - 光学プローブ及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】小型化、低侵襲性、高速応答のEO/MOプローブの利点を保ちつつ、作成プロセスの簡略化とプローブとしての電界/磁界感度の高感度化とを実現したEO/MOプローブ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】コア部11、12と、その周囲に設けられたクラッド161、162とを備えた光ファイバ14、15を用いた光学プローブであって、コア部11にEO/MO結晶が配置された光ファイバ14を有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、小型で高空間分解能、低侵襲、高周波帯域まで感度を持つ電気光学結晶、磁気光学結晶を用いた光学プローブに関し、特に、高感度で微小な光学プローブ及びその製造方法に関する。
非特許文献1にあるようなレーザ光を利用した電磁界プローブは古くから知られている。その基本原理は、ファイバ端に接着された電気光学(electro-optic:EO)結晶や磁気光学(magneto-optic:MO)結晶が、電界/磁界によって屈折率変化を起こして、結晶を通る光の偏光状態を変化させる電気/磁気光学効果を利用して、EO/MO結晶部の電界/磁界を計測するというものである。
上記のレーザ光を利用した電磁界プローブを用いる場合には、検光子によって偏光状態の変化を光の強度変化に変えて、さらにフォトディテクタで電気信号へ変換することによって、EO/MO結晶部の電界/磁界を検出する。
この方法は、従来の電磁界プローブに比べ、小型なEO/MO結晶を使うことによりセンサ部分を小型化することができる。また、センサ部分やケーブルに金属をしないので低侵襲性である。さらに、EO/MO結晶の持つ電界/磁界に対する応答性がGHz以上の高周波帯域まであるという優れた性質が知られている。
EO/MOプローブの応用を広げるためには、電界/磁界感度を上げなければならない。
一般に、2次高調波発生やパラメトリック発振、光増幅作用、EO/MO効果などの光学機能を高めるためには、光と光機能素子とが相互作用する領域を増やす方法と、単位面積当たりの光強度を高め、光と光機能素子との強い相互作用を得る方法とが知られている。
ファイバの屈折率差、又はフォトニック結晶バンドを利用し、光を光機能素子のある狭い領域に閉じ込めることにより、素子と光との相互作用を高める方法として、特許文献1、2、3や非特許文献2のようにコア部が中空になっているファイバの中空部、又はフォトニック結晶ファイバ(photonic crystal fiber:PCF)の複数ある空孔の一部に、光機能素子や金属等を導入して、様々な光機能を持たせたファイバが研究、考案されている。これらの光機能を持たせたファイバは、光技術における新しい素子として期待されている。
一方、EO/MOプローブの生産性を向上させる方法として、非特許文献3、4に開示されるような新たな粉末材料のコーティング技術がある、例えば、常温衝撃固化現象を利用したエアロゾルデポジション(Aerosol Deposition:AD)法を用いて、ファイバ端に微細なEO/MO結晶膜を成膜させ、ファイバと同径サイズの超小型化したEO/MOプローブが報告されている。この方法により、簡単なプロセスでPZT(Lead zirconate titanate)やBi置換型YIG(Yttrium Iron Garnet)等、EO/MO効果の大きな材料を直接ファイバ端に形成できる。
このように、EO/MOプローブはこれまでの金属を用いた電磁界プローブよりも低侵襲性、高速応答性、小型化による高空間分解能等の優れた性能を持ち、基板実装が高密度化し、伝送信号が高速化している現在の電子機器内部の電磁界分布計測等への利用が期待されている。
特開2006−243010号公報 特開2004−101891号公報 特開2004−67438号公報
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EO/MOプローブの典型的な例として、図12に示すような光ファイバ111の端にEO/MO結晶を直接貼り付けたタイプがある。光ファイバ111のコア部112に閉じ込められて伝播している光は、EO/MO結晶部114に入射した後、EO/MO結晶部114の中を伝播領域115のように広がりながら結晶端面まで進み、高反射率の膜113で反射後も伝播領域116のように広がりながら進んでいき、EO/MO結晶部114で変調を受けた光が再び光ファイバ111のコア部112に入射して検出部へ向かう。再びコア部112に入っていく部分は、広がった領域116のうちコア部112の直径内の領域を通る光のみなので、その領域以外の光は検出器まで戻っていかずに、プローブの外に失われてしまう。そのことによって、電気信号変換時に信号成分となる光の量が少なくなり、結果として信号のS/N(Signal/Noise)が悪くなってしまう。また、この方法でEO/MOプローブとして性能の良いものを作るためには、EO/MO結晶と、光ファイバ111との接着に高い技術が要求され、一つ一つ手作業での調整が必要であった。
EO/MOプローブの電界/磁界感度を上げるために、光とEO/MO結晶との相互作用領域を増やす、つまりプローブのEO/MO結晶の長さを伸ばす方法があるが、結晶の長さが長くなると、上記の光が広がる現象が顕著になり、感度向上の効果が十分表れない。ファイバの空孔部分に光機能素子を導入する方法は、光の広がりを防ぐとともに、相互作用を強める効果があるが、導入方法として中空部に液体を流し込む方法、光増幅作用を持つ元素をドープした材料を中空部に差し込む方法と、導入するものが限られていた。
作成プロセスが簡略なEO/MOプローブの作成方法として、AD法を用いて、図13に示すように光ファイバ121の端部にEO/MO薄膜123を形成した光ファイバ型のEO/MOプローブが開発されている。しかしファイバ端に直接AD法によりEO/MO薄膜123を成膜する方法では、感度向上をねらって膜厚増加を試みても、膜厚が一定とならないため感度向上は認められなかった。
本発明はかかる問題に鑑みてなされたものであり、小型化、低侵襲性、高速応答のEO/MOプローブの利点を保ちつつ、作成プロセスの簡略化とプローブとしての電界/磁界感度の高感度化とを実現したEO/MOプローブ及びその製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、第1の態様として、コア部と、その周囲に設けられたクラッドとを備えた光ファイバを用いた光学プローブであって、光ファイバは、コア部に光学結晶が配置された光機能部を有することを特徴とする光学プローブを提供するものである。
また、上記目的を達成するため、本発明は、第2の態様として、コア部と、その周囲に設けられたクラッドとを備えた光ファイバを用いた光学プローブの製造方法であって、光ファイバに、コア部に光学結晶が配置された光機能部を形成することを特徴とする光学プローブの製造方法を提供するものである。
本発明によれば、小型化、低侵襲性、高速応答のEO/MOプローブの利点を保ちつつ、作成プロセスの簡略化とプローブとしての電界/磁界感度の高感度化とを実現したEO/MOプローブ及びその製造方法を提供できる。
本発明を好適に実施した第1の実施形態に係る反射型のEO/MOプローブの構成を示す図である。 第1の実施形態に係る反射型のEO/MOプローブの製造工程を示す図である。 第1の実施形態に係る透過型のEO/MOプローブの製造工程を示す図である。 第1の実施形態に係る透過型のEO/MOプローブの構成を示す図である。 エアロゾルデポジション装置の構成を示す図である。 中空ファイバの光ファイバとの接合側の端に溝を設けることにより、AD法を用いて微細結晶を中空ファイバの空孔部に導入する際にエアロゾルの流入が促進される状態を示す図である。 反射型のEO/MOプローブを用いた電磁界計測システムの構成を示す図である。 本発明を好適に実施した第2の実施形態に係る反射型のEO/MOプローブの構成を示す図である。 EO/MO結晶がコア部に導入された光ファイバの製造方法を示す図である。 EO/MO結晶がコア部に導入された光ファイバを用いて反射型及び透過型のEO/MOプローブを製造する工程を示す図である。 第2の実施形態に係る透過型のEO/MOプローブの構成を示す図である。 光ファイバ端にEO/MO結晶を直接貼り付けたEO/MOプローブの構成を示す図である。 光ファイバ端部にEO/MO薄膜を形成した光ファイバ型のEO/MOプローブの構成を示す図である。
〔第1の実施形態〕
本発明を好適に実施した第1の実施形態について説明する。図1に、本実施形態に係るEO/MOプローブの構造を示す。EO/MO結晶がコア部11に導入された光ファイバ14が、光ファイバ15の先端に取り付けられ、その先端部は誘電体多層膜等の高反射率の光反射膜13で覆われた構造となっている。EO/MO結晶がコア部11に導入された光ファイバ14は、EO/MOプローブの電界/磁界センサ部分となる。
光ファイバのクラッド部分161、162は、コア部12やEO/MO結晶が導入されたコア部11よりも屈折率が低く、全反射によりコア部11、12から光が漏れ出すのを防ぐ。また、光はファイバ14、15のコア部11、12のφ10μm程度の領域に閉じ込められるので、光とEO/MO結晶との相互作用が大きくなり、強い電気光学効果、磁気光学効果を得ることによって、EO/MOプローブとしての感度が向上する。
また、光ファイバ組み込み型の構造により、EO/MOプローブとして光ファイバと同径のサイズを保つことができ、光ファイバを用いたEO/MOプローブとして最小のサイズを達成することができる。
本実施形態に係るEO/MOプローブの製造方法を図2に示す。
まず、光を導波する光ファイバ15を用意し、その端に中空ファイバ52を融着接合する(図2(a))。次に、中空ファイバ52を、接合面から微細電気光学、磁気光学結晶を導入する長さに応じて切断する(図2(b))。以上により、先端部が空孔を有している光ファイバが接合された構造ができあがる。中空ファイバ52の空孔部に、AD法によって、ノズル53から微細なEO/MO結晶を吹き付けることにより微細なEO/MO結晶を導入して、EO/MO結晶がコア部11に導入された光ファイバ14とし、ヒータ54を用いてアニールやポーリングによる結晶性を良くするための研磨の後処理を行う(図2(c))。そして、端に光反射膜13を形成することによってEO/MO結晶がコア部11に導入された光ファイバ14をセンサ部を備えた反射型のEO/MOプローブが完成する(図2(d))。光反射膜13は、光反射率が概ね100%とする。
なお、図3に示すように、光反射膜13の代わりにもう一端にファイバ16を繋げることにより、図4の構造を持った透過型のEO/MOプローブとすることも可能である。透過型のEO/MOプローブは、EO/MO結晶がコア部11に導入された光ファイバ14が、光ファイバ15の先端に取り付けられ、光ファイバ14の先端部には別の光ファイバ16が接続された構造である。EO/MO結晶がコア部11に導入された光ファイバ14は、EO/MOプローブの電界/磁界センサ部分となる、
空孔部へのEO/MO結晶の導入方法として、AD法を用いることによって、直径10μmの空孔に数100nmの微細結晶を導入することができる。
AD装置は図5に示すような構成となっており、原料微粒子と配管711から送り込んだガスとを、撹拌・混合器72によってガラス瓶73内で混合し撹拌することで原料微粒子をエアロゾル化し、真空ポンプ77で減圧された成膜チャンバ74内に配管712を介してエアロゾルを送り、ノズル76から対象物75に吹き付けて、緻密な成膜体を得ることができる。なお、空孔内にEO/MO結晶を隙間無く導入するためには、原料微粒子として粒径1μm以下のEO/MO結晶を用いることが好ましい。
図6に示すように、中空ファイバ52の光ファイバ15との接合側の端に溝82を設けることにより、AD法を用いて微細結晶を中空ファイバの空孔部に導入する際にエアロゾルの流れ83ができ、中空ファイバ52の空孔部分にエアロゾル化した微細結晶が入っていきやすくなる。
導入する結晶としては、EO結晶ならばEO効果(ポッケルス効果)の大きいPZT、PZLT(lead lanthanum zirconate titanate)、DAST(N,N-diethylaminosulfur trifluoride)、BSO(Bismuth Silicon Oxide)、LTO(Lanthanum Titanate Oxide)結晶が有効である。MO結晶ならば、MO効果(ファラデー効果)が大きなYIGやBi置換型YIGなどのガーネット結晶が有効である。
以上の工程により、センサ部分が完成される。図7に、このセンサを用いた電磁界計測システムの概念図を示す。レーザ光源91から照射された光は、光ファイバ15を通してセンサ部(光ファイバ14)に到達する。観測対象物95によって作られる電界/磁界により、センサ部分の屈折率が変化し、そこを通る光の偏光状態が変化する。センサ部94の先端の光反射膜13で、光は反射し光ファイバ15を再び通り、信号処理部92で偏光状態の変化を光の強度変化に変え、その変化をフォトディテクタで電気信号として取り出すことにより、センサ部分の電界/磁界を検出できる。透過型のEO/MOプローブの場合は、入射側とは反対側の光ファイバを信号処理部92に繋げることにより、反射型の場合と同様に電界/磁界を検出できる。
このように、光を狭い領域に閉じ込めることにより、高感度な電磁界センシングを実現したEO/MOプローブを実現できる。
〔第2の実施形態〕
本発明を好適に実施した第2の実施形態について説明する。図8に、本実施形態に係るEO/MOプローブの構成を示す。
上記第1の実施形態と同様に、コア部21に電気/磁気光学結晶を導入した構造であるが、コア部21の周りに空孔25が付加された構造である。EO/MO結晶がコア部21に導入された光ファイバ24が、光ファイバ27の先端に取り付けられ、その先端部は誘電体多層膜等の高反射率の光反射膜23で覆われた構造となっている。EO/MO結晶がコア部21に導入された光ファイバ24は、EO/MOプローブの電界/磁界センサ部分となる。光ファイバのクラッド部分261、262は、コア部22やEO/MO結晶が導入されたコア部21よりも屈折率が低く、全反射によりコア部21、22から光が漏れ出すのを防ぐ。
このような構造とすることにより、コア部21とその周りの実質的な屈折率差がより大きくなり、光の閉じ込め効果を強められる。
図9は、コア部材となる微細EO/MO結晶101を予めキャピラリ102に導入しておいて、ジャケット管の中に充填することによって形成したプリフォームと、作成したプリフォームを加熱して延伸する線引きを行って作成した、EO/MO結晶がコア部に導入された光ファイバ103とを示す。
本実施形態のEO/MOプローブの場合、微細EO/MO結晶101を導入したキャピラリ102をコア部に配置し、その周りに中空のパイプで空孔部を有するクラッド部分を導入しプリフォームを作成することができる。
線引きの際の加熱、延伸する工程には結晶状態を良くするアニーリング(焼き鈍し)の効果もある。また、延伸時に強い電界/磁界をかけることによりポーリング(高分子中に混合されている分子配列を揃える処理)も同時に行うことができる。
作成した光機能が付加された(EO/MO結晶がコア部21に導入された)光ファイバ24を切断し、図10(a)に示すように片端に光を導波する光ファイバ27と融着接続する。そして、図10(b)に示すように、光機能が付加された光ファイバ24を切断し、図10(c)に示すように光反射膜23を貼り付けることにより図8示す反射型のEO/MOプローブを作成可能である。
なお、図10(d)に示すように、もう一端に別の光ファイバ26を貼り付けることにより図11に示す透過型のEO/MOプローブを作成することもできる。
なお、図9に示した手法は、第1の実施形態に係るEO/MOプローブを製造する際に適用することも可能である。逆に、第1の実施形態において説明した手法で本実施形態に係るEO/MOプローブを製造することも可能である。
本実施形態に係るEO/MOプローブは、第1の実施形態と同様の効果に加え、光閉じ込め効果がより強く得られる。
なお、上記各実施形態は本発明の好適な実施の一例であり、本発明はこれらに限定されることなく様々な変形が可能である。
本発明は、実装電気設計支援ツールや回路故障診断ツールとしての電界/磁界プローブとして活用可能である。すなわち、LSIやLSIパッケージ周辺でプローブを用いて電界/磁界計測を行い、電気設計にフィードバックするための情報を獲得したり、回路の動作検証を行うことができる。
11、12、21、22 コア部
13、23 光反射膜
14、15、16、24、26、27、103 光ファイバ
25 空孔
52 中空ファイバ
53、76 ノズル
54 ヒータ
72 撹拌・混合器
73 ガラス瓶
74 成膜チャンバ
75 対象物
77 真空ポンプ
82 溝
83 エアロゾルの流れ
91 レーザ光源
92 信号処理部
95 観測対象物
101 微細EO/MO結晶
102 キャピラリ
161、162、261、262 クラッド
711、712 配管

Claims (21)

  1. コア部と、その周囲に設けられたクラッドとを備えた光ファイバを用いた光学プローブであって、
    前記光ファイバは、前記コア部に光学結晶が配置された光機能部を有することを特徴とする光学プローブ。
  2. 前記光機能部を構成する光機能ファイバが、光を導波する光ファイバと接合されて構成されたことを特徴とする請求項1記載の光学プローブ。
  3. 前記光機能ファイバの前記光ファイバとの接合端と反対側の端部には、光反射膜が形成されていることを特徴とする請求項2記載の光学プローブ。
  4. 前記光機能部ファイバの両端に、別々の前記光ファイバがそれぞれ接合されたことを特徴とする請求項2記載の光学プローブ。
  5. 前記光機能ファイバは、前記コア部の周囲のクラッドに、該コア部と略平行な空孔を少なくとも一つ備えることを特徴とする請求項2から4のいずれか1項記載の光学プローブ。
  6. 前記光学結晶は、前記クラッドよりも屈折率が高いことを特徴とする請求項1から5のいずれか1項記載の光学プローブ。
  7. 前記光学結晶は、粒径1μm以下であることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項記載の光学プローブ。
  8. 前記光学結晶は、磁気光学結晶であることを特徴とする請求項1から7のいずれか1項記載の光学プローブ。
  9. 前記光学結晶は、電気光学結晶であることを特徴とする請求項1から7のいずれか1項記載の光学プローブ。
  10. コア部と、その周囲に設けられたクラッドとを備えた光ファイバを用いた光学プローブの製造方法であって、
    前記光ファイバに、前記コア部に光学結晶が配置された光機能部を形成することを特徴とする光学プローブの製造方法。
  11. 前記光機能部を構成する光機能ファイバと、光を導波する光ファイバとを接合することを特徴とする請求項10記載の光学プローブの製造方法。
  12. 前記光機能ファイバの前記光ファイバとの接合端と反対側の端部に、光反射膜を形成することを特徴とする請求項11記載の光学プローブの製造方法。
  13. 光ファイバの端にコアが空洞の中空ファイバを接合し、
    前記中空ファイバを切断し、
    前記中空ファイバの切断部分から前記空洞内に前記光学結晶を導入した後に、切断面を研磨して前記光機能ファイバとすることを特徴とする請求項12記載の光学プローブの製造方法。
  14. 前記中空ファイバの前記光ファイバとの接合端面に前記クラッドを半径方向に貫く溝を少なくとも1本形成しておくことを特徴とする請求項13記載の光学プローブの製造方法。
  15. 前記光機能部ファイバの両端に、別々の前記光ファイバをそれぞれ接合することを特徴とする請求項11記載の光学プローブの製造方法。
  16. 光ファイバの端にコアが空洞の中空ファイバを接合し、
    前記中空ファイバを切断し、
    前記中空ファイバの切断部分から前記空洞内に前記光学結晶を導入した後に、切断面を研磨して前記光機能ファイバとし、
    前記研磨した切断面に別の光ファイバを接合することを特徴とする請求項15記載の光学プローブの製造方法。
  17. 前記前記中空ファイバの前記光ファイバとの接合端面に前記クラッドを半径方向に貫く溝を少なくとも1本形成しておくことを特徴とする請求項16記載の光学プローブの製造方法。
  18. 前記光学結晶を導入したキャピラリが充填されたジャケット管を加熱・延伸して前記光学結晶をコア部に備えた前記光機能ファイバを形成することを特徴とする請求項11記載の光学プローブの製造方法。
  19. 前記光ファイバの端に前記光機能ファイバを接合し、
    前記光機能ファイバを切断して切断面を研磨し、
    研磨した前記切断面に光反射膜を形成することを特徴とする請求項18記載の光学プローブの製造方法。
  20. 前記光ファイバの端に前記光機能ファイバを接合し、
    前記光機能ファイバを切断して切断面を研磨し、
    研磨した前記切断面に別の光ファイバを接合することを特徴とする請求項18記載の光学プローブの製造方法。
  21. 前記光機能ファイバの前記コア部の周囲のクラッドに、該コア部と略平行な空孔を少なくとも一つ設けることを特徴とする請求項11から20のいずれか1項記載の光学プローブの製造方法。
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