JP2010225617A - Substrate processing system - Google Patents

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Hisao Kataoka
久生 片岡
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Hitachi Kokusai Electric Inc
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an HSMS communication state display function of a group control system, which is not achieved by the conventional technology. <P>SOLUTION: A substrate processing system is composed of: a substrate processing device 10 for processing substrates; and a group control device 20 connected to the substrate processing device 10. A group control system has: a communication part for executing communication with another device connected during an on-line mode; a storage part for storing a state during communication; and an operation part 22 for displaying obtained communication data stored in the storage part. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体ウェハ等の基板を処理する基板処理装置と、該基板処理装置の生産履歴や稼動状態を管理する群管理装置で構成される基板処理システムに関し、特に、該群管理装置に接続されている基板処理装置との通信状態を表示する機能に関する。   The present invention relates to a substrate processing system including a substrate processing apparatus that processes a substrate such as a semiconductor wafer and a group management apparatus that manages a production history and an operating state of the substrate processing apparatus, and in particular, is connected to the group management apparatus. The present invention relates to a function for displaying a communication state with a substrate processing apparatus.

昨今、装置間でHSMS通信に準拠してやり取りがなされる通信データを対象として、その通信データのモニタリングを行うことがなされている。   Nowadays, communication data is monitored for communication data exchanged between devices in conformity with HSMS communication.

しかしながら、従来、基板処理システムでは、HSMS通信に関する情報を表示する画面機能がなかった。HSMS通信状態が参照できず通信の状態が全くわからなかった。   However, conventionally, the substrate processing system has no screen function for displaying information on HSMS communication. The HSMS communication status could not be referenced and the communication status was not known at all.

本発明は従来技術ではなかった郡管理システムのHSMS通信状態表示機能を提供するものである。 The present invention provides an HSMS communication status display function of a county management system that was not a prior art.

本発明の第1の特徴とするところは、基板を処理する基板処理装置と、該基板処理装置に接続される群管理装置とで構成される基板処理システムであって、前記群管理装置は、オンライン時に接続された他の装置と通信を行う通信部と、該通信時の状態を記憶する記憶部と、該記憶部に取得した通信データを表示する操作部とを有することにある。   A first feature of the present invention is a substrate processing system including a substrate processing apparatus for processing a substrate and a group management apparatus connected to the substrate processing apparatus, wherein the group management apparatus includes: The present invention has a communication unit that communicates with other devices connected when online, a storage unit that stores a state at the time of communication, and an operation unit that displays acquired communication data in the storage unit.

本発明によれば、オンラインでHSMSの通信状態を確認または、異常を確認でき、異常が発生した場合の原因究明のために情報を提供することを実現する。 According to the present invention, it is possible to check the communication state of the HSMS online or to confirm an abnormality and to provide information for investigating the cause when the abnormality occurs.

本発明の実施形態に係る基板処理システムの概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る基板処理装置を示す平面透視図である。It is a plane perspective view which shows the substrate processing apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る基板処理装置を示す側面透視図である。It is side surface perspective drawing which shows the substrate processing apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る郡管理システムのブロック構成図である。It is a block block diagram of the county management system which concerns on embodiment of this invention.

以下に、本発明の一実施形態に係る基板処理システムの構成、及び動作について、図を用いて説明する。まず、図1を用いて、本発明の一実施形態に係る基板処理システムの構成について説明する。 Hereinafter, the configuration and operation of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the configuration of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

図1に示すとおり、基板処理システムは、基板に処理を行う少なくとも一台以上の基板処理装置10と、基板処理装置10に接続される群管理装置20とを備える。尚、基板処理装置10と群管理装置20との接続は、通信ケーブル等による直接接続であっても良いし、構内回線を介したネットワーク接続でも良いし、インターネットや専用線網などの広域回線を介したネットワーク接続であっても良い。また、基板処理装置10は、基板を処理するための基板処理系100と、基板処理系100に接続された基板処理装置用コントローラ240と、基板処理装置用コントローラ240に接続された操作端末241を備え、群管理装置20は、ネットワーク等を解して基板処理装置10に接続される群管理装置コントローラ21と、群管理装置コントローラ21に接続され、ユーザ(保守員)が群管理装置を操作する際に用いる入出力装置である操作端末22とを備える。また、通信端末30は、半導体製造工場内での運用を管理するホストコンピュータであり、このホストコンピュータと基板処理装置10はオンライン接続が可能で、これにより基板処理装置10は、自動運転が可能となる。 As shown in FIG. 1, the substrate processing system includes at least one substrate processing apparatus 10 that processes a substrate, and a group management apparatus 20 connected to the substrate processing apparatus 10. The connection between the substrate processing apparatus 10 and the group management apparatus 20 may be a direct connection using a communication cable, a network connection via a local line, or a wide area line such as the Internet or a dedicated line network. Network connection may be used. The substrate processing apparatus 10 includes a substrate processing system 100 for processing a substrate, a substrate processing apparatus controller 240 connected to the substrate processing system 100, and an operation terminal 241 connected to the substrate processing apparatus controller 240. The group management apparatus 20 is connected to the group management apparatus controller 21 connected to the substrate processing apparatus 10 through a network and the like, and is connected to the group management apparatus controller 21 so that a user (maintenance staff) operates the group management apparatus. And an operation terminal 22 which is an input / output device used at the time. Further, the communication terminal 30 is a host computer that manages the operation in the semiconductor manufacturing factory, and the host computer and the substrate processing apparatus 10 can be connected online, whereby the substrate processing apparatus 10 can be automatically operated. Become.

本発明を実施するための最良の形態において、基板処理装置は、一例として、半導体装置(IC)の製造方法における処理工程を実施する半導体製造装置として構成されている。尚、以下の説明では、基板処理装置として基板に酸化、拡散処理やCVD処理などを行なう縦型の装置(以下、単に処理装置という)を適用した場合について述べる。 In the best mode for carrying out the present invention, as an example, the substrate processing apparatus is configured as a semiconductor manufacturing apparatus that performs processing steps in a method of manufacturing a semiconductor device (IC). In the following description, a case where a vertical apparatus (hereinafter simply referred to as a processing apparatus) that performs oxidation, diffusion processing, CVD processing, or the like is applied to the substrate as the substrate processing apparatus will be described.

図2および3に示されているように、シリコン等からなるウエハ(基板)200を収納したウエハキャリアとしてフープ(基板収容器。以下ポッドという。)110が使用されている本発明の基板処理系100は、筐体111を備えている。筐体111の正面壁111aの正面前方部にはメンテナンス可能なように設けられた開口部としての正面メンテナンス口103が開設され、この正面メンテナンス口103を開閉する正面メンテナンス扉104、104がそれぞれ建て付けられている。筐体111の正面壁111aにはポッド搬入搬出口(基板収容器搬入搬出口)112が筐体111の内外を連通するように開設されており、ポッド搬入搬出口112はフロントシャッタ(基板収容器搬入搬出口開閉機構)113によって開閉されるようになっている。ポッド搬入搬出口112の正面前方側にはロードポート(基板収容器受渡し台)114が設置されており、ロードポート114はポッド110を載置されて位置合わせするように構成されている。ポッド110はロードポート114上に工程内搬送装置(図示せず)によって搬入され、かつまた、ロードポート114上から搬出されるようになっている。 As shown in FIGS. 2 and 3, the substrate processing system of the present invention uses a hoop (substrate container; hereinafter referred to as a pod) 110 as a wafer carrier that stores a wafer (substrate) 200 made of silicon or the like. 100 includes a housing 111. A front maintenance port 103 as an opening provided for maintenance is opened at the front front portion of the front wall 111a of the casing 111, and front maintenance doors 104 and 104 for opening and closing the front maintenance port 103 are respectively built. It is attached. A pod loading / unloading port (substrate container loading / unloading port) 112 is opened on the front wall 111a of the casing 111 so as to communicate between the inside and the outside of the casing 111. The pod loading / unloading port 112 has a front shutter (substrate container loading / unloading port). The loading / unloading opening / closing mechanism 113 is opened and closed. A load port (substrate container delivery table) 114 is installed in front of the front side of the pod loading / unloading port 112, and the load port 114 is configured so that the pod 110 is placed and aligned. The pod 110 is carried onto the load port 114 by an in-process carrying device (not shown), and is also carried out from the load port 114.

筐体111内の前後方向の略中央部における上部には、回転式ポッド棚(基板収容器載置棚)105が設置されており、回転式ポッド棚105は複数個のポッド110を保管するように構成されている。すなわち、回転式ポッド棚105は垂直に立設されて水平面内で間欠回転される支柱116と、支柱116に上中下段の各位置において放射状に支持された複数枚の棚板(基板収容器載置台)117とを備えており、複数枚の棚板117はポッド110を複数個宛それぞれ載置した状態で保持するように構成されている。筐体111内におけるロードポート114と回転式ポッド棚105との間には、ポッド搬送装置(基板収容器搬送装置)118が設置されており、ポッド搬送装置118は、ポッド110を保持したまま昇降可能なポッドエレベータ(基板収容器昇降機構)118aと搬送機構としてのポッド搬送機構(基板収容器搬送機構)118bとで構成されており、ポッド搬送装置118はポッドエレベータ118aとポッド搬送機構118bとの連続動作により、ロードポート114、回転式ポッド棚105、ポッドオープナ(基板収容器蓋体開閉機構)121との間で、ポッド110を搬送するように構成されている。 A rotary pod shelf (substrate container mounting shelf) 105 is installed at an upper portion of the casing 111 in a substantially central portion in the front-rear direction. The rotary pod shelf 105 stores a plurality of pods 110. It is configured. In other words, the rotary pod shelf 105 is vertically arranged and intermittently rotated in a horizontal plane, and a plurality of shelf boards (supported by a substrate container) that are radially supported by the support 116 at each of the upper, middle, and lower positions. And a plurality of shelf plates 117 are configured to hold the pods 110 in a state where a plurality of pods 110 are respectively placed. A pod transfer device (substrate container transfer device) 118 is installed between the load port 114 and the rotary pod shelf 105 in the housing 111, and the pod transfer device 118 moves up and down while holding the pod 110. A pod elevator (substrate container lifting mechanism) 118a and a pod transfer mechanism (substrate container transfer mechanism) 118b as a transfer mechanism are configured. The pod transfer device 118 includes a pod elevator 118a and a pod transfer mechanism 118b. The pod 110 is transported between the load port 114, the rotary pod shelf 105, and the pod opener (substrate container lid opening / closing mechanism) 121 by continuous operation.

筐体111内の前後方向の略中央部における下部には、サブ筐体119が後端にわたって構築されている。サブ筐体119の正面壁119aにはウエハ200をサブ筐体119内に対して搬入搬出するためのウエハ搬入搬出口(基板搬入搬出口)120が一対、垂直方向に上下二段に並べられて開設されており、上下段のウエハ搬入搬出口120、120には一対のポッドオープナ121、121がそれぞれ設置されている。 ポッドオープナ121はポッド110を載置する載置台122、122と、ポッド110のキャップ(蓋体)を着脱するキャップ着脱機構(蓋体着脱機構)123、123とを備えている。ポッドオープナ121は載置台122に載置されたポッド110のキャップをキャップ着脱機構123によって着脱することにより、ポッド110のウエハ出し入れ口を開閉するように構成されている。 A sub-housing 119 is constructed across the rear end of the lower portion of the housing 111 at a substantially central portion in the front-rear direction. A pair of wafer loading / unloading ports (substrate loading / unloading ports) 120 for loading / unloading the wafer 200 into / from the sub-casing 119 are arranged on the front wall 119a of the sub-casing 119 in two vertical stages. A pair of pod openers 121 and 121 are installed at the wafer loading / unloading ports 120 and 120 at the upper and lower stages, respectively. The pod opener 121 includes mounting bases 122 and 122 on which the pod 110 is placed, and cap attaching / detaching mechanisms (lid attaching / detaching mechanisms) 123 and 123 for attaching and detaching caps (lids) of the pod 110. The pod opener 121 is configured to open and close the wafer loading / unloading port of the pod 110 by attaching / detaching the cap of the pod 110 placed on the placing table 122 by the cap attaching / detaching mechanism 123.

サブ筐体119はポッド搬送装置118や回転式ポッド棚105の設置空間から流体的に隔絶された移載室124を構成している。移載室124の前側領域にはウエハ移載機構(基板移載機構)125が設置されており、ウエハ移載機構125は、ウエハ200を水平方向に回転ないし直動可能なウエハ移載装置(基板移載装置)125aおよびウエハ移載装置125aを昇降させるためのウエハ移載装置エレベータ(基板移載装置昇降機構)125bとで構成されている。これら、ウエハ移載装置エレベータ125bおよびウエハ移載装置125aの連続動作により、ウエハ移載装置125aのツイーザ(基板保持体)125cをウエハ200の載置部として、ボート(基板保持具)217に対してウエハ200を装填(チャージング)および脱装(ディスチャージング)するように構成されている。   The sub-housing 119 constitutes a transfer chamber 124 that is fluidly isolated from the installation space of the pod transfer device 118 and the rotary pod shelf 105. A wafer transfer mechanism (substrate transfer mechanism) 125 is installed in the front region of the transfer chamber 124, and the wafer transfer mechanism 125 rotates the wafer 200 in the horizontal direction or can move the wafer 200 in the horizontal direction. Substrate transfer device) 125a and wafer transfer device elevator (substrate transfer device lifting mechanism) 125b for raising and lowering wafer transfer device 125a. By the continuous operation of the wafer transfer device elevator 125b and the wafer transfer device 125a, the tweezer (substrate holder) 125c of the wafer transfer device 125a is used as a placement portion for the wafer 200 with respect to the boat (substrate holder) 217. The wafer 200 is loaded (charged) and unloaded (discharged).

移載室124の後側領域には、ボート217を収容して待機させる待機部126が構成されている。待機部126の上方には、処理炉202が設けられている。処理炉202の下端部は、炉口シャッタ(炉口開閉機構)147により開閉されるように構成されている。   In the rear region of the transfer chamber 124, a standby unit 126 that houses and waits for the boat 217 is configured. A processing furnace 202 is provided above the standby unit 126. The lower end portion of the processing furnace 202 is configured to be opened and closed by a furnace port shutter (furnace port opening / closing mechanism) 147.

図2に示されているように移載室124のウエハ移載装置エレベータ125b側と反対側である右側端部には、清浄化した雰囲気もしくは不活性ガスであるクリーンエア133を供給するよう供給フアンおよび防塵フィルタで構成されたクリーンユニット134が設置されており、ウエハ移載装置125aとクリーンユニット134との間には、ウエハの円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてのノッチ合わせ装置135が設置されている。
クリーンユニット134から吹き出されたクリーンエア133は、ノッチ合わせ装置135およびウエハ移載装置125aに流通された後に、図示しないダクトにより吸い込まれて、筐体111の外部に排気がなされるか、もしくはクリーンユニット134の吸い込み側である一次側(供給側)にまで循環され、再びクリーンユニット134によって、移載室124内に吹き出されるように構成されている。
As shown in FIG. 2, the supply chamber 124 is supplied with a clean atmosphere 133 or an inert gas supplied to the right end of the transfer chamber 124 opposite to the wafer transfer device elevator 125b. A clean unit 134 composed of a fan and a dustproof filter is installed, and a notch aligner as a substrate aligner for aligning the circumferential position of the wafer between the wafer transfer device 125a and the clean unit 134. 135 is installed.
The clean air 133 blown out from the clean unit 134 is circulated through the notch aligning device 135 and the wafer transfer device 125a and then sucked in by a duct (not shown) to be exhausted to the outside of the casing 111 or clean. The unit 134 is circulated to the primary side (supply side) which is the suction side, and is again blown into the transfer chamber 124 by the clean unit 134.

図2に示されているように、耐圧筐体111右側端部とサブ筐体119の待機部126右端部との間にはボート217を昇降させるためのボートエレベータ(基板保持具昇降機構)115が設置されている。ボートエレベータ115に連結された連結具としてのアーム128には蓋体としてのシールキャップ219が水平に据え付けられており、シールキャップ219はボート217を垂直に支持し、処理炉202の下端部を閉塞可能なように構成されている。
ボート217は複数本の保持部材を備えており、複数枚(例えば、50枚〜125枚程度)のウエハ200をその中心を揃えて垂直方向に整列させた状態で、それぞれ水平に保持するように構成されている。
As shown in FIG. 2, a boat elevator (substrate holder lifting mechanism) 115 for raising and lowering the boat 217 between the right end of the pressure-resistant casing 111 and the right end of the standby section 126 of the sub casing 119. Is installed. A seal cap 219 serving as a lid is horizontally installed on an arm 128 serving as a connector connected to the boat elevator 115, and the seal cap 219 supports the boat 217 vertically and closes the lower end of the processing furnace 202. It is configured as possible.
The boat 217 includes a plurality of holding members so that a plurality of (for example, about 50 to 125) wafers 200 are horizontally held in a state where their centers are aligned in the vertical direction. It is configured.

次に、本発明の基板処理系100の動作について説明する。
図2および3に示されているように、ポッド110がロードポート114に供給されると、ポッド搬入搬出口112がフロントシャッタ113によって開放され、ロードポート114の上のポッド110はポッド搬送装置118によって筐体111の内部へポッド搬入搬出口112から搬入される。搬入されたポッド110は回転式ポッド棚105の指定された棚板117へポッド搬送装置118によって自動的に搬送されて受け渡され、一時的に保管された後、棚板117から一方のポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載されるか、もしくは直接ポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載される。この際、ポッドオープナ121のウエハ搬入搬出口120はキャップ着脱機構123によって閉じられており、移載室124にはクリーンエア133が流通され、充満されている。例えば、移載室124にはクリーンエア133として窒素ガスが充満することにより、酸素濃度が20ppm以下と、筐体111の内部(大気雰囲気)の酸素濃度よりも遥かに低く設定されている。
Next, the operation of the substrate processing system 100 of the present invention will be described.
As shown in FIGS. 2 and 3, when the pod 110 is supplied to the load port 114, the pod loading / unloading port 112 is opened by the front shutter 113, and the pod 110 above the load port 114 moves to the pod transfer device 118. Is carried into the housing 111 from the pod loading / unloading port 112. The loaded pod 110 is automatically transported and delivered by the pod transport device 118 to the designated shelf 117 of the rotary pod shelf 105, temporarily stored, and then one pod opener from the shelf 117. It is conveyed to 121 and transferred to the mounting table 122, or directly transferred to the pod opener 121 and transferred to the mounting table 122. At this time, the wafer loading / unloading port 120 of the pod opener 121 is closed by the cap attaching / detaching mechanism 123, and the transfer chamber 124 is filled with clean air 133. For example, the transfer chamber 124 is filled with nitrogen gas as clean air 133, so that the oxygen concentration is set to 20 ppm or less, which is much lower than the oxygen concentration inside the casing 111 (atmosphere).

載置台122に載置されたポッド110はその開口側端面がサブ筐体119の正面壁119aにおけるウエハ搬入搬出口120の開口縁辺部に押し付けられるとともに、そのキャップがキャップ着脱機構123によって取り外され、ポッド110のウエハ出し入れ口が開放される。ポッド110がポッドオープナ121によって開放されると、ウエハ200はポッド110からウエハ移載装置125aのツイーザ125cによってウエハ出し入れ口を通じてピックアップされ、ノッチ合わせ装置135にてウエハを整合した後、移載室124の後方にある待機部126へ搬入され、ボート217に装填(ウエハチャージング)される。ボート217にウエハ200を受け渡したウエハ移載装置125aはポッド110に戻り、次のウエハ110をボート217に装填する。 The pod 110 mounted on the mounting table 122 is pressed against the opening edge of the wafer loading / unloading port 120 on the front wall 119a of the sub-housing 119, and the cap is removed by the cap attaching / detaching mechanism 123. The wafer loading / unloading port of the pod 110 is opened. When the pod 110 is opened by the pod opener 121, the wafer 200 is picked up from the pod 110 by the tweezer 125c of the wafer transfer device 125a through the wafer loading / unloading port, aligned with the notch alignment device 135, and then transferred to the transfer chamber 124. Is loaded into the standby unit 126 at the back of the vehicle and loaded into the boat 217 (wafer charging). The wafer transfer device 125 a that has delivered the wafer 200 to the boat 217 returns to the pod 110 and loads the next wafer 110 into the boat 217.

この一方(上段または下段)のポッドオープナ121におけるウエハ移載装置125によるウエハのボート217への装填作業中に、他方(下段または上段)のポッドオープナ121には回転式ポッド棚105ないしロードポート114から別のポッド110がポッド搬送装置118によって搬送され、ポッドオープナ121によるポッド110の開放作業が同時進行される。 During the loading operation of the wafer into the boat 217 by the wafer transfer device 125 in the one (upper or lower) pod opener 121, the other (lower or upper) pod opener 121 has a rotary pod shelf 105 or load port 114. The other pod 110 is transported by the pod transport device 118, and the opening operation of the pod 110 by the pod opener 121 proceeds simultaneously.

予め指定された枚数のウエハ200がボート217に装填されると、炉口シャッタ147によって閉じられていた処理炉202の下端部が炉口シャッタ147によって開放される。続いて、ウェハ200を保持したボート217はシールキャップ219がボートエレベータ115によって上昇されることにより、処理炉202内へ搬入(ローディング)されて行く。 When a predetermined number of wafers 200 are loaded into the boat 217, the lower end of the processing furnace 202 closed by the furnace port shutter 147 is opened by the furnace port shutter 147. Subsequently, the boat 217 holding the wafers 200 is loaded into the processing furnace 202 when the seal cap 219 is lifted by the boat elevator 115.

ローディング後は、処理炉202にてウエハ200に任意の処理が実施される。処理後は、ノッチ合わせ装置135でのウエハの整合工程を除き、概上述の逆の手順で、ウエハ200およびポッド110は筐体111の外部へ払出される。 After loading, arbitrary processing is performed on the wafer 200 in the processing furnace 202. After the processing, the wafer 200 and the pod 110 are discharged to the outside of the casing 111 in the reverse order of the above-described procedure except for the wafer alignment process in the notch aligner 135.

次に図4を用いて、本願発明における群管理システムの構成について詳述する。   Next, the configuration of the group management system in the present invention will be described in detail with reference to FIG.

図4において、本願発明の群管理システムは、HSMS通信を行うための郡管理システム通信プログラムを実行するため制御部と、HSMS通信を行うためのHSMSドライバを備えた通信部と、HSMS状態の通信状態の変化時に記録するための記憶部とを少なくとも有する。また、本実施形態では、タッチパネルなどの操作画面やキーボード等の入力部とを備えた操作端末と通信回線を介して接続されているが、この形態に限らず、図1で示したように操作端末を含めて一体構成としても構わない。   4, the group management system of the present invention includes a control unit for executing a county management system communication program for performing HSMS communication, a communication unit having an HSMS driver for performing HSMS communication, and communication in an HSMS state. And at least a storage unit for recording when the state changes. In the present embodiment, an operation terminal having an operation screen such as a touch panel and an input unit such as a keyboard is connected via a communication line. However, the present invention is not limited to this mode, and the operation is performed as shown in FIG. An integrated configuration including the terminal may be used.

HSMS通信状態の情報をログファイルより取得し、HSMSステータス状態、回線の切断/接続または通信異常を前記操作端末の操作画面に表示する。   Information on the HSMS communication status is acquired from the log file, and the HSMS status status, line disconnection / connection or communication error is displayed on the operation screen of the operation terminal.

1 基板処理システム
10 基板処理装置
20 群管理装置
21 群管理装置コントローラ(制御部)
22 操作端末(操作部)
100 基板処理系
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing system 10 Substrate processing apparatus 20 Group management apparatus 21 Group management apparatus controller (control part)
22 Operation terminal (operation unit)
100 Substrate processing system

Claims (1)

基板を処理する基板処理装置と、該基板処理装置に接続される群管理装置とで構成される基板処理システムであって、
前記群管理装置は、オンライン時に接続された他の装置と通信を行う通信部と、該通信時の状態を記憶する記憶部と、該記憶部に取得した通信データを表示する操作部とを有する基板処理システム。
A substrate processing system comprising a substrate processing apparatus for processing a substrate and a group management apparatus connected to the substrate processing apparatus,
The group management device includes a communication unit that communicates with other devices connected when online, a storage unit that stores a state at the time of communication, and an operation unit that displays acquired communication data in the storage unit Substrate processing system.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20240002933A (en) 2022-06-30 2024-01-08 가부시키가이샤 코쿠사이 엘렉트릭 Substrate processing system, substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device, and program

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