JP2010204090A5 - - Google Patents

Claims (3)

1. 誤りのあるセンサ出力を特定するための方法であって、該方法は、
   或る時間にわたって、センサから第１の複数のサンプルを得るステップと、
   処理デバイスによって、前記第１の複数のサンプルの第１の平均を求めるステップと、
   前記第１の複数のサンプルが得られた時刻より後の時刻において前記センサから第１のさらなるサンプルを得るステップと、
   前記第１のさらなるサンプルと前記第１の平均との相違を求めるステップと、
   前記相違が或るしきい値よりも大きいときに、前記第１のさらなるサンプルを誤りがあると特定するステップと、
   前記第１のさらなるサンプルが誤りがあると特定された場合に、前記第１のさらなるサンプルを含む第２の複数のサンプルの第２の平均を求めるステップと、
   前記センサから得られた誤りのないサンプルのみに基づいて、或る機構を制御するステップとを含む、誤りのあるセンサ出力を特定するための方法。
2. 前記相違を求めるステップは、前記第１の平均に対する前記第１のさらなるサンプルに関する変動係数を求めるステップを含む、請求項１に記載の方法。
3. センサと、
   前記センサと通信するように結合される処理デバイスであって、
   或る時間にわたって前記センサから得られるデータを各々が含む第１の複数のサンプルの第１の平均を求め、
   前記時間より後の時刻において前記センサにより得られる第１のさらなるサンプルと前記第１の平均との相違を求め、
   前記相違が或るしきい値よりも大きいときに、前記第１のさらなるサンプルを誤りがあると特定し、
   前記第１のさらなるサンプルが誤りがあると特定された場合に、前記第１のさらなるサンプルを含む第２の複数のサンプルの第２の平均を求め、
   前記センサから得られた誤りのないサンプルのみに基づいて、或る機構を制御する
   ように構成される処理デバイスと
   を備えるシステム。