JP2010186593A - Sample holder assembly, set of a plurality of sample holders, holder height adjustment tool, and sample holder base - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)や電子顕微鏡等の表面分析装置に用いられる試料ホルダベース、この試料ホルダベースの上に配置される複数の試料ホルダのセット、試料ホルダベースと複数の試料ホルダで構成される試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセットの高さを調整するホルダ高さ調整治具に関する。 The present invention relates to a sample holder base used in a surface analyzer such as an electron probe microanalyzer (EPMA) or an electron microscope, a set of a plurality of sample holders arranged on the sample holder base, a sample holder base and a plurality of samples The present invention relates to a sample holder assembly composed of holders and a holder height adjusting jig for adjusting the height of a set of a plurality of sample holders.
EPMAや電子顕微鏡等の表面分析装置は、鏡筒の内部に収容された試料に電子ビームなどの励起源を照射し、励起源の照射によって試料から放出される2次電子、反射電子、特性X線等を検出し、試料表面の形態観察や極微少部分の元素分析等を行う。EPMAで表面分析を行う際、精度のよい元素分析を行うために、試料のどの部分でも入射電子線の侵入深さや発生する特性X線の脱出距離等の条件が等しくなるように、測定試料面が電子線の入射方向に対して垂直になるように試料面を水平に揃えて、試料ホルダに装着し、更に、試料の分析面と試料ホルダの最上面が揃うように高さを調節する必要がある。又、分析は、表面分析装置の試料ステージに導入可能な試料ホルダベースに、試料ホルダを固定することにより行う。 A surface analysis apparatus such as an EPMA or an electron microscope irradiates a sample accommodated in a lens barrel with an excitation source such as an electron beam, and emits secondary electrons, reflected electrons, and characteristics X emitted from the sample by irradiation of the excitation source. Detecting lines, etc., morphological observation of the sample surface and elemental analysis of extremely small parts. When performing surface analysis with EPMA, in order to perform highly accurate elemental analysis, the measurement sample surface is set so that the conditions such as the penetration depth of the incident electron beam and the escape distance of the generated characteristic X-ray are equal in any part of the sample. Align the sample surface horizontally so that is perpendicular to the incident direction of the electron beam, attach it to the sample holder, and adjust the height so that the sample analysis surface and the top surface of the sample holder are aligned. There is. The analysis is performed by fixing the sample holder to a sample holder base that can be introduced into the sample stage of the surface analyzer.
例えば、図16に示すように、従来の試料ホルダベースは、取っ手144を備えるベース142の上に、サブベース141を4つの支柱51a,51b,51c,51dでそれぞれの4隅を固定した構造をとっている。この構造をとるのは、あらかじめ決められた高さに分析する試料面があるように、不足する高さを調整するためである。図16(a)において示すように、9つの試料ホルダ取付用穴r11,r12,…r19がサブベース141に均等に設けられており、試料ホルダは、最大で9つしかサブベース141に固定することができない。又、サブベース141の中央に位置する試料ホルダ取付用穴r15を除く、試料ホルダ取付用穴r11,r12,…r19に対応する8つの試料ホルダ固定用ネジ穴41a,41b,…41hがそれぞれサブベース141の側面に設けられ、試料ホルダ固定用の押しネジが導入可能になっている。一方、試料ホルダ固定用の押しネジの導入の困難な位置となるサブベース141の中央の試料ホルダ取付用穴r15には、試料ホルダ取付用穴r15への試料ホルダの固定用に、サブベース141の試料ホルダ取付用穴r15の近傍にサブベース141の主面に垂直方向に、2つの試料ホルダ固定用ネジ穴91a,91bが設けられている。
For example, as shown in FIG. 16, a conventional sample holder base has a structure in which a
一例として示せば、従来の試料ホルダベースに固定される、試料収納部161とホルダ固定用凸部162からなる従来の試料ホルダ本体(161,162)は、図18(a)及び図18(b)に示すような形状をなし、8箇所の試料固定用ネジ穴103a,103b,…103h(一部図示省略)を備え、ホルダ固定用凸部162を、図16に示したサブベース141の中央の試料ホルダ取付用穴r15を除く他の試料ホルダ取付用穴r11,r12,…r19の内の一つに挿入し、それぞれに対応した試料ホルダ固定用ネジ穴41a,41b,…41hの内の一つに押しネジを導入して固定される。ここで、試料ホルダ本体(161,162)の試料収納部161は、例えば、外径l21が26mm、高さh31が23mm、深さh32が20mmである。
As an example, the conventional sample holder main body (161, 162) composed of the
又、図19(a)及び図19(b)は、試料ホルダ本体(161,162)よりも大きさの大きい、試料収納部171とホルダ固定用凸部172からなる試料ホルダ本体(171,172)の例であり、8箇所の試料固定用ネジ穴104a,104b,…104h(一部図示省略)を備え、ホルダ固定用凸部172を、図16(a)に示したサブベース141の中央の試料ホルダ取付用穴r15を除く他の試料ホルダ取付用穴r11,r12,…r19の内の一つに挿入し、それぞれに対応した試料ホルダ固定用ネジ穴41a,41b,…41hの内の一つを介して固定される。ここで、試料ホルダ本体(171,172)の試料収納部171は、例えば、外径l31が32.5mmで、高さh31及び深さh32が図18に示した試料収納部161と同じである。
19 (a) and 19 (b) show a sample holder main body (171, 172) that is larger than the sample holder main body (161, 162) and includes a
一方、図20は、従来の試料ホルダベースのサブベース141の中央に固定される専用の試料ホルダの一例であり、試料収納部181とホルダ固定用凸部182からなる試料ホルダ本体(181,182)は、8箇所の試料固定用ネジ穴105a,105b,…105h(一部図示省略)と試料ホルダ固定用穴183a,183bとを備えており、試料ホルダ本体(181,182)は、図16(a)に示したサブベース141の試料ホルダ取付用穴r15にホルダ固定用凸部182を挿入して、試料ホルダ固定用穴183a,183bと試料ホルダ固定用ネジ穴91a,91bとを介して、固定ネジ等により、サブベース141に固定される。又、試料ホルダ本体(181,182)の試料収納部181は、例えば、外径l21、高さh31及び深さh32が、図18に示した試料収納部161と同じである。
On the other hand, FIG. 20 shows an example of a dedicated sample holder fixed to the center of a
図23に、従来の試料ホルダベースのサブベース141の試料ホルダ取付用穴r11,r12,…r19に試料ホルダ本体211,212,…219をそれぞれ固定している状態を示す。ここで、試料ホルダ本体211〜219は、例えば、直径25mmの試料を収納できる大きさである。従来の試料ホルダベースは、図23に示すサブベース141の中央の試料ホルダ取付用穴r15に固定する試料ホルダ本体215に関しては、図20に示したような試料ホルダ固定用穴183a,183bを備えた試料ホルダ本体(181,182)を別途用いなければならなかった。
FIG. 23 shows a state in which the sample holder
図17は、図16に示した従来の試料ホルダベースを用いて、EPMAによる分析を行う際に、分析することが可能な分析可能領域151を示している。従来の試料ホルダベースを用いる場合に、試料ホルダを固定等して自由に使用することができる空間である使用可能領域152が、例えば、100mm×100mm×50mmのとき、分析可能領域151は、90mm×90mmの範囲内に定められている。又、サブベース141に搭載した各分析試料の高さに6mm程度の段差があっても分析することができる。EPMA本体の対物レンズ下面には、反射電子検出器や結晶保護用静電トラップなどの障害物がなく、試料スペースが大きく設計されており、様々な試料に対応できるようになっているが、一般的な分析試料としては、樹脂で固めて表面を研磨などの処理を行った包埋試料を図18〜図20に示した試料収納部161,171,181に固定して用いる。又、分析試料の大きさも直径が25mm前後や32mm前後で、厚みが15mm前後のものが多く使用されており、分析試料の形状等は比較的限定されてしまっている。
FIG. 17 shows an
図21に示すように、試料収納部191とホルダ固定用凸部292からなる従来の試料ホルダ本体(191,292)の試料搭載空間の底部には、円形底部291が固定ネジ286によって固定されている。又、試料ホルダ本体(191,292)は8箇所の試料固定用ネジ穴106a,106b,…106h(一部図示省略)を備えている。ここで、例えば、試料収納部191の外径l41は26mm、高さh41は30mm、深さh42は20mmである。
As shown in FIG. 21, a
又、図22に示すように、試料収納部201とホルダ固定用凸部294からなる従来の試料ホルダ本体(201,294)の試料搭載空間の底部には、円形底部293が固定ネジ287によって固定されている。又、試料ホルダ本体(201,294)は8箇所の試料固定用ネジ穴107a,107b,…107h(一部図示省略)を備えている。ここで、例えば、試料収納部201の外径l51は39mm、高さh51は23mm、深さh52は13mmである。試料ホルダ本体(191,292)及び試料ホルダ本体(201,294)のように高さの異なる試料ホルダ本体を分析に使用する場合は、各々個別の試料ホルダベースを用意するか、図16で示したサブベース141を支える支柱51a〜51dを別の支柱に組み替えて高さ調整を行う必要がある。又、上述したように、図16に示した従来の試料ホルダベースはベース142に支柱51a〜51dを介してサブベース141を固定して高さ調整を行っており、サブベース141が板状であるため、高さの異なる試料ホルダ本体(191,292)及び試料ホルダ本体(201,294)を同時にサブベース141に搭載して分析することができない。
Further, as shown in FIG. 22, a
このように分析の際、試料ステージのストロークは限られているため、分析可能な高さに分析する試料面があるように、試料ホルダベースに支柱を立てて、板状のサブベースを固定した構造をとることにより、高さ調整を行っている。又、その際、複数個の試料ホルダを一つの試料ホルダベースに固定することも可能ではあるが、上記の理由から、高さの異なる試料ホルダを同時に固定することはできない不都合がある。 In this way, since the stroke of the sample stage is limited during the analysis, the columnar sub-base is fixed by setting up a column on the sample holder base so that there is a sample surface to be analyzed at a height that can be analyzed. The height is adjusted by taking the structure. At this time, it is possible to fix a plurality of sample holders to one sample holder base, but for the above reasons, there is a disadvantage that sample holders having different heights cannot be fixed simultaneously.
図24に、従来の試料ホルダベースのサブベース141の試料ホルダ取付用穴r11,r13,r17,r19に、試料ホルダ本体221,222,223,224をそれぞれ固定している状態を示している。ここで、試料ホルダ本体221〜224は直径32mmの大きさの試料を収納できるが、図24に示すように、サブベース141では、直径32mmの大きさの試料を収納できる試料ホルダ本体221,222等は、サブベース141上に4つしか固定することができない。
FIG. 24 shows a state in which the sample holder
ここで、図25は、従来の試料ホルダベースの別の一例を示している。サブベース231は、4箇所の試料ホルダ専用取付用穴q11,q12,q13,q14、及び4つの試料ホルダ固定用ネジ穴71a,71b,71c,71d(一部図示省略)を備え、試料ホルダ専用取付用穴q11,q13に、試料ホルダ本体233,234が固定ネジ73,72でそれぞれ固定されている。又、サブベース231は、支柱61a,61b,61c,61dによって、取っ手232を備えたベース235に固定されている。図25に示す試料ホルダベースは、図16に示した試料ホルダベースでは固定することができない直径が32mmを超える大きさの試料を分析する際の専用の試料ホルダベースとして用いられている。このように、従来は、試料の大きさに合わせて、大きさが異なる試料ホルダを用いる場合には、使用する試料ホルダの大きさに対応した試料ホルダベースも用意する必要があった。
Here, FIG. 25 shows another example of a conventional sample holder base. The
そのため、複数の試料台を収容可能な凹部と、凹部に収容された各試料台の載置面の一部を露出させる開口窓を構成する枠縁部を有する押さえ部材(キャップ)と、凹部の内部に配置されて、各試料台をそれぞれ押さえ部材の枠縁部に向かって上方に押し付けて付勢するばね(付勢手段)とを備え、厚みの異なる複数の試料の上面が同一水平レベルになるように固定する試料ホルダが提案されている(特許文献1)。EPMAでは超高真空環境下で試料の測定を行うため、鏡筒の試料室に試料を出し入れする際は、鏡筒の試料室の内部をその都度昇圧及び減圧しなければならず、試料ホルダの交換に多くの作業時間を要してきた。特許文献1に記載の発明によれば、厚みの異なる複数の種類の試料をまとめて試料ホルダの凹部に収容して、上面を同一水平レベルになるように固定することができるため、上述した昇減圧操作を伴う試料ホルダの交換時間を短縮することができ、試料の分析を能率的に行うことができる。
Therefore, a recess that can accommodate a plurality of sample stands, a pressing member (cap) having a frame edge portion that forms an opening window that exposes a part of the mounting surface of each sample stand accommodated in the recesses, A spring (biasing means) that is arranged inside and urges each sample stage upwardly toward the frame edge of the pressing member and urges each sample stage so that the upper surfaces of a plurality of samples having different thicknesses are at the same horizontal level. There has been proposed a sample holder that is fixed in such a manner (Patent Document 1). In EPMA, since the sample is measured in an ultra-high vacuum environment, when the sample is taken in and out of the sample chamber of the lens barrel, the inside of the sample chamber of the lens barrel must be pressurized and depressurized each time. It took a lot of work time to exchange. According to the invention described in
しかしながら、特許文献1に記載の発明は、単一の試料ホルダに設けられた四隅が切除された方形の凹部の内部に複数の試料を収容するものであり、使用する試料ホルダの大きさや構造により、固定できる試料の数や形状が制限されてしまう。
However, in the invention described in
上述した問題点を鑑み、本発明は、厚みや大きさの異なる複数の試料のそれぞれの形状に合わせて用意した複数の試料ホルダを、一つの試料ホルダベース上に同時に固定し、信頼性の高い試料の表面分析を可能にする試料ホルダベース、この試料ホルダベースの上に配置される複数の試料ホルダのセット、試料ホルダベースと複数の試料ホルダで構成される試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセットの高さを調整するホルダ高さ調整治具を提供することを目的とする。 In view of the above-described problems, the present invention is highly reliable by simultaneously fixing a plurality of sample holders prepared in accordance with the shapes of a plurality of samples having different thicknesses and sizes on one sample holder base. A sample holder base enabling surface analysis of a sample, a set of a plurality of sample holders arranged on the sample holder base, a sample holder assembly composed of a sample holder base and a plurality of sample holders, a plurality of sample holders An object of the present invention is to provide a holder height adjusting jig that adjusts the height of the set.
上記目的を達成するために、本発明の態様は、上面に複数のスペーサ取付用凹部を配列した試料ホルダベースと、複数のスペーサ取付用凹部を介して試料ホルダベースにそれぞれ固定される複数の試料ホルダとを備える試料ホルダ組み立て体に関する。即ち、この試料ホルダ組み立て体を構成する複数の試料ホルダのそれぞれが、(イ)試料搭載空間をなす試料収納部、この試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部とを有する試料ホルダ本体と、(ロ)試料収納部の底部と試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有し、ホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有するスペーサ、このスペーサの上部においてホルダ固定用凸部をスペーサに固定するホルダ固定手段、スペーサの下部においてスペーサをスペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段を有するホルダ高さ調整治具とを備えることを要旨とする。 In order to achieve the above object, an aspect of the present invention includes a sample holder base having a plurality of spacer mounting recesses arranged on the upper surface, and a plurality of samples fixed to the sample holder base via the plurality of spacer mounting recesses, respectively. The present invention relates to a sample holder assembly including a holder. That is, each of the plurality of sample holders constituting the sample holder assembly includes (a) a sample storage portion forming a sample mounting space, and a holder fixing convex portion provided at the bottom of the sample storage portion. (B) a spacer having a height for adjusting the distance between the bottom of the sample storage portion and the upper surface of the sample holder base, and having a recess at the top for storing the holder fixing convex portion; A holder fixing means for fixing the holder fixing convex portion to the spacer, and a holder height adjusting jig having a spacer fixing means for inserting and fixing the spacer into any one of the spacer mounting concave portions below the spacer. The gist.
本発明の他の態様は、上面に複数のスペーサ取付用凹部を配列した試料ホルダベースに、複数のスペーサ取付用凹部を介して固定される複数の試料ホルダのセットに関する。即ち、これらの複数の試料ホルダのそれぞれが、(イ)試料搭載空間をなす試料収納部、この試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部とを有する試料ホルダ本体と、(ロ)試料収納部の底部と試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有し、ホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有するスペーサ、このスペーサの上部においてホルダ固定用凸部をスペーサに固定するホルダ固定手段、スペーサの下部においてスペーサをスペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段を有するホルダ高さ調整治具とを備えることを要旨とする。そして、試料収納部の高さが互いに異なる複数の試料ホルダ本体と、複数の試料ホルダ本体にそれぞれ適合するホルダ高さ調整治具とが一対をなし、試料収納部の上面の高さが同一となるように選定されていることを特徴とする。 Another aspect of the present invention relates to a set of a plurality of sample holders fixed to a sample holder base in which a plurality of spacer mounting recesses are arranged on the upper surface via a plurality of spacer mounting recesses. That is, each of the plurality of sample holders includes (a) a sample holder main body having a sample storage portion forming a sample mounting space, and a holder fixing convex portion provided at the bottom of the sample storage portion; A spacer having a height for adjusting the distance between the bottom of the sample storage portion and the upper surface of the sample holder base, and having a concave portion for accommodating the holder fixing convex portion at the top, and a holder fixing convex portion above the spacer And a holder height adjusting jig having spacer fixing means for fixing the spacer by inserting the spacer into any one of the spacer mounting recesses at the lower portion of the spacer. Then, a plurality of sample holder main bodies having different heights of the sample storage portions and a holder height adjusting jig adapted to each of the plurality of sample holder main bodies form a pair, and the height of the upper surface of the sample storage portion is the same. It is selected so that it becomes.
本発明の更に他の態様は、上面に複数のスペーサ取付用凹部を配列した試料ホルダベースに、試料収納部の高さが互いに異なる複数の試料ホルダ本体を、試料収納部の上面の高さが同一となるように固定するためのホルダ高さ調整治具に関する。即ち、このホルダ高さ調整治具が、(イ)試料ホルダ本体が有する試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有し、試料収納部の底部と試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有するスペーサと、(ロ)このスペーサの上部においてホルダ固定用凸部をスペーサに固定するホルダ固定手段と、(ハ)スペーサの下部においてスペーサをスペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段とを有することを要旨とする。 According to still another aspect of the present invention, a sample holder base having a plurality of spacer mounting recesses arranged on the upper surface is provided with a plurality of sample holder main bodies having different heights from each other, and the upper surface of the sample storage portion is The present invention relates to a holder height adjusting jig for fixing to be the same. That is, the holder height adjusting jig has (1) a concave portion for accommodating a holder fixing convex portion provided at the bottom of the sample storage portion of the sample holder main body, and the bottom of the sample storage portion and the sample A spacer having a height for adjusting the distance between the upper surface of the holder base, (b) holder fixing means for fixing the holder fixing convex portion to the spacer at the upper portion of the spacer, and (c) a spacer at the lower portion of the spacer. And a spacer fixing means for inserting and fixing in any of the spacer mounting recesses.
本発明の更に他の態様は、試料ホルダ本体が備える試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有するスペーサをそれぞれ介して、試料収納部の高さが互いに異なる複数の試料ホルダ本体を、試料収納部の上面の高さが同一となるように固定するための試料ホルダベースに関する。即ち、この試料ホルダベースが、スペーサのそれぞれの下部に設けられたスペーサ固定手段を挿入するためのスペーサ取付用凹部を複数個、上面に配列したことを要旨とする。 According to still another aspect of the present invention, the heights of the sample storage portions are mutually connected via spacers each having a concave portion for storing a holder fixing convex portion provided at the bottom of the sample storage portion provided in the sample holder main body. The present invention relates to a sample holder base for fixing a plurality of different sample holder bodies so that the heights of the upper surfaces of the sample storage portions are the same. That is, the gist of this sample holder base is that a plurality of spacer mounting recesses for inserting spacer fixing means provided at the lower portions of the spacers are arranged on the upper surface.
本発明によれば、厚みや大きさの異なる複数の試料のそれぞれの形状に合わせて用意した複数の試料ホルダを、一つの試料ホルダベース上に同時に固定し、信頼性の高い試料の表面分析を可能にする試料ホルダベース、この試料ホルダベースの上に配置される複数の試料ホルダのセット、試料ホルダベースと複数の試料ホルダで構成される試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセットの高さを調整するホルダ高さ調整治具を提供することができる。 According to the present invention, a plurality of sample holders prepared in accordance with the shapes of a plurality of samples having different thicknesses and sizes are simultaneously fixed on one sample holder base to perform highly reliable surface analysis of the sample. Sample holder base enabling, a set of a plurality of sample holders arranged on the sample holder base, a sample holder assembly composed of a sample holder base and a plurality of sample holders, a height of a set of a plurality of sample holders It is possible to provide a holder height adjusting jig for adjusting the height of the holder.
次に、図面を参照して、本発明の第1及び第2の実施の形態を説明する。以下の図式において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。但し、図面は模式的なものであり、縦横の比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。又、図面相互間においても互いの比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。 Next, first and second embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following diagrams, the same or similar parts are denoted by the same or similar reference numerals. However, it should be noted that the drawings are schematic and the aspect ratio is different from the actual one. In addition, it goes without saying that portions with different ratios are included between the drawings.
又、以下に示す第1及び第2の実施の形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の技術的思想は、構成物品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。この発明の技術的思想は、特許請求の範囲において種々の変更を加えることができる。 Further, the following first and second embodiments exemplify apparatuses and methods for embodying the technical idea of the present invention, and the technical idea of the present invention is a component article. The material, shape, structure, arrangement, etc. are not specified below. The technical idea of the present invention can be variously modified within the scope of the claims.
(第1の実施の形態)
本発明の第1の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体は、図1及び図2に示すように、上面に複数のスペーサ取付用凹部m14,m24,…を配列した試料ホルダベース22と、スペーサ取付用凹部m14,m24を介して試料ホルダベース22にそれぞれ固定される試料ホルダ1,2とを備える試料ホルダ組み立て体である。
(First embodiment)
As shown in FIGS. 1 and 2, the sample holder assembly according to the first embodiment of the present invention includes a
第1の試料ホルダ1は、試料搭載空間をなす試料収納部11と、この試料収納部11の底部に設けられたホルダ固定用凸部35とを有する第1の試料ホルダ本体(11,35)と、試料収納部11の底部と試料ホルダベース22の上面との間の距離を調整する高さを有し、ホルダ固定用凸部35を収納する凹部を有する第1のスペーサ13、この第1のスペーサ13の上部においてホルダ固定用凸部35を第1のスペーサ13に固定するホルダ固定手段(押しネジ)15、第1のスペーサ13の下部において第1のスペーサ13をスペーサ取付用凹部m14に挿入して固定するスペーサ固定手段(固定ネジ)14を有する第1のホルダ高さ調整治具(13,14,15)とを備える。
The
一方、第2の試料ホルダ2は、試料搭載空間をなす試料収納部16と、この試料収納部16の底部に設けられたホルダ固定用凸部36とを有する第2の試料ホルダ本体(16,36)と、試料収納部16の底部と試料ホルダベース22の上面との間の距離を調整する高さを有し、ホルダ固定用凸部36を収納する凹部を有する第2のスペーサ18、この第2のスペーサ18の上部においてホルダ固定用凸部36を第2のスペーサ18に固定するホルダ固定手段(押しネジ)21、第2のスペーサ18の下部において第2のスペーサ18をスペーサ取付用凹部m24に挿入して固定するスペーサ固定手段(固定ネジ)19を有する第2のホルダ高さ調整治具(18,19,21)とを備える。
On the other hand, the
第1の試料ホルダ1の試料収納部11は、試料301の厚みに合わせて用意され、試料搭載空間の底部に円形底部12を装着している。第1の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体においては、ホルダ固定用凸部35はホルダ固定手段としての押しネジ15によって第1のスペーサ13に固定されている。更に、第1のスペーサ13はスペーサ固定手段としての固定ネジ14によって、取っ手23を備える試料ホルダベース22のスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m14に固定されている(試料ホルダベース22の平面図は図3参照。)。第2の試料ホルダ2の試料収納部16は、試料302の厚みに合わせて用意した、円形底部17を装着している。第1の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体においては、ホルダ固定用凸部36は、ホルダ固定手段としての押しネジ21によって第2のスペーサ18に固定されている。更に、第2のスペーサ18はスペーサ固定手段としての固定ネジ19によって試料ホルダベース22のスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m24に固定されている。
The
試料ホルダベース22上における、第1の試料ホルダ1の試料収納部11の高さh61と第1のスペーサ13の高さs61を足し合わせた全体の高さTmesの値と、第2の試料ホルダ2の試料収納部16の高さh71と第2のスペーサ18の高さs71を足し合わせた値は、互いに等しくなるように調節されている。
On the
図2は、図1で示した試料ホルダベース22上に第1の試料ホルダ1の試料収納部11及び第2の試料ホルダ2の試料収納部16が並んで固定されている状態の上面図を示している(図1は、図2に示す上面図のI−I方向から見た断面図に対応する。)。第1の試料ホルダ1の試料収納部11は試料301(図示省略)を固定するための試料固定用ネジ穴29a,29b,29c,29d等を備え、同様に、第2の試料ホルダ2の試料収納部16も試料302(図示省略)を固定するための試料固定用ネジ穴31a,31b,31c,31d等を備えている。ここで、第1の試料ホルダ1の試料収納部11と第2の試料ホルダ2の試料収納部16の水平方向の大きさは等しい。ここで「水平方向」とは、試料ホルダベース22の主面(表面)に平行な方向である。
2 is a top view showing a state in which the
図3(a)は第1の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体に用いる試料ホルダベース22の上面図、図3(b)は図3(a)の下方から見た側面図、図3(c)は図3(a)の右方から見た側面図、図3(d)は背面図をそれぞれ示している。図3(a)に示すように、試料ホルダベース22は、複数(計18個)のスペーサ取付用凹部m11,m12,…m28を備えている。18個のスペーサ取付用凹部m11,m12,…m28のそれぞれには、試料ホルダベース22の上面に垂直方向が回転軸の方向となる雌ネジが設けられている。このため、図1に示したスペーサ固定手段としての雄ネジ(固定ネジ)14,19がそれぞれスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m12,…m28に挿入され、ネジ止めにより複数のホルダ高さ調整治具(13,14,15;18,19,21)がスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m12,…m28に固定される。そして、各々のホルダ高さ調整治具(13,14,15;18,19,21)に試料ホルダ本体(11,35;16,36)が固定されるので、試料ホルダ本体(11,35;16,36)の固定が容易である。即ち、3×3、4×4等のマトリクス状に複数の試料ホルダ本体を試料ホルダベース22の上面に配置する場合であっても、マトリクスの中央部には工具スペースが確保されるので、特別な試料ホルダを用意する必要がなくなる。又、試料ホルダベース22は、試料ホルダベース22を表面分析装置の鏡筒内の試料室(又は試料準備室)に出し入れする際に必要となる取っ手23を備える。ここで、試料ホルダベース22は、図16に示した従来の試料ホルダベースと比較して、サブベース141を備えていない。
3A is a top view of the
図4は、第1の試料ホルダ1を試料ホルダベース22に固定する際に用いられる第1のホルダ高さ調整治具1Sの一例を示している。図4(a)は、図4(b)の側面図のIVA−IVA方向から見た断面図に対応する。図4に示す第1のスペーサ13は、図3に示した試料ホルダベース22のスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m12,…m28のいずれかに固定するためのスペーサ固定手段(固定ネジ)14と、試料ホルダ本体のホルダ固定用凸部35(図1参照。)を固定するためにホルダ固定手段(押しネジ)15を導入するための押しネジ用ネジ穴26を備える。 図5は、第2の試料ホルダ2を試料ホルダベース22に固定する際に用いられる第2のホルダ高さ調整治具2Sの一例を示している。図5(a)は、図5(b)の側面図のVA−VA方向から見た断面図に対応する。図5に示す第2のスペーサ18は、図4に示した第1のスペーサ13とは高さが異なる。第2のスペーサ18も第1のスペーサ13と同様に、試料ホルダベース22のスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m12,…m28のいずれかに固定するためのスペーサ固定手段(固定ネジ)19と、試料ホルダ本体のホルダ固定用凸部36(図1参照。)を固定するためにホルダ固定手段(押しネジ)21を導入するための押しネジ用ネジ穴27を備える。
FIG. 4 shows an example of the first holder
ここで、第1のスペーサ13及び第2のスペーサ18の高さは一例であり、これに限定されない。
Here, the height of the
上記のように、本発明の第1の実施の形態に係る試料ホルダベース22によれば、高さの異なる第1の試料ホルダ1の試料収納部11及び第2の試料ホルダ2の試料収納部16であっても、第1のスペーサ13及び第2のスペーサ18をそれぞれ介すことによって試料収納部11及び試料収納部16の高さ調整を行うことができるため、高さの異なる第1の試料ホルダ本体(11,35)及び第2の試料ホルダ本体(16,36)を試料ホルダベース22上に同時に固定することが可能となる。
As described above, according to the
なお、第1の試料ホルダ本体(11,35)及び第2の試料ホルダ本体(16,36)としては、従来の試料ホルダを採用可能である。第1の試料ホルダ本体(11,35)及び第2の試料ホルダ本体(16,36)として従来の試料ホルダを採用した場合は、第1のスペーサ13及び第2のスペーサ18の上部に設けられる凹部の形状や大きさを、ホルダ固定用凸部35,36の形状や大きさに適合するように設計すればよいことは勿論である。
As the first sample holder body (11, 35) and the second sample holder body (16, 36), conventional sample holders can be adopted. When conventional sample holders are employed as the first sample holder body (11, 35) and the second sample holder body (16, 36), they are provided above the
(第2の実施の形態)
本発明の第2の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体は、図6及び図7に示すように、上面に複数のスペーサ取付用凹部m14,m24,…を配列した試料ホルダベース22と、スペーサ取付用凹部m14,m24を介して試料ホルダベース22にそれぞれ固定される試料ホルダ3,4とを備える試料ホルダ組み立て体である。
(Second Embodiment)
As shown in FIGS. 6 and 7, the sample holder assembly according to the second embodiment of the present invention includes a
第1の試料ホルダ3は、試料搭載空間をなす試料収納部24と、この試料収納部24の底部に設けられたホルダ固定用凸部37とを有する第1の試料ホルダ本体(24,37)と、試料収納部24の底部と試料ホルダベース22の上面との間の距離を調整する高さを有し、ホルダ固定用凸部37を収納する凹部を有する第1のスペーサ18、この第1のスペーサ18の上部においてホルダ固定用凸部37を第1のスペーサ18に固定するホルダ固定手段(押しネジ)21、第1のスペーサ18の下部において第1のスペーサ18をスペーサ取付用凹部m14に挿入して固定するスペーサ固定手段(固定ネジ)19を有する第1のホルダ高さ調整治具(18,19,21)とを備える。
The
一方、第2の試料ホルダ4は、試料搭載空間をなす試料収納部16と、この試料収納部16の底部に設けられたホルダ固定用凸部36とを有する第2の試料ホルダ本体(16,36)と、試料収納部16の底部と試料ホルダベース22の上面との間の距離を調整する高さを有し、ホルダ固定用凸部36を収納する凹部を有する第2のスペーサ18、この第2のスペーサ18の上部においてホルダ固定用凸部36を第2のスペーサ18に固定するホルダ固定手段(押しネジ)21、第2のスペーサ18の下部において第2のスペーサ18をスペーサ取付用凹部m24に挿入して固定するスペーサ固定手段(固定ネジ)19を有する第2のホルダ高さ調整治具(18,19,21)とを備える。
On the other hand, the
第1の試料ホルダ本体(24,37)の試料収納部24は、試料303の大きさに合わせて用意されたサイズを有し、試料収納部24の底部には円形底部25が装着されている。第1の試料ホルダ本体(24,37)はホルダ固定用凸部37をホルダ固定手段(押しネジ)21によって第1のスペーサ18に固定されている。更に、第1のスペーサ18はスペーサ固定手段(固定ネジ)19によって、試料ホルダベース22のスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m14に固定される(試料ホルダベース22の平面図は図3参照。)。 第2の試料ホルダ本体(16,36)の試料収納部16は、試料304の大きさに合わせて用意されたサイズを有し、試料収納部16の底部には円形底部17が装着されている。第2の試料ホルダ本体(16,36)は、ホルダ固定用凸部36をホルダ固定手段(押しネジ)21によって第2のスペーサ18に固定している。更に、第2のスペーサ18はスペーサ固定手段(固定ネジ)19によって、試料ホルダベース22のスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m24に固定される。ここで、試料ホルダベース22上における、第1の試料ホルダ3の試料収納部24の高さh81と第1のスペーサ18の高さs81を足し合わせた全体の高さTmesの値と、第2の試料ホルダ4の試料収納部16の高さh91と第2のスペーサ18の高さs91を足し合わせた値は、互いに等しくなるように調節されている。
The
図7に示すように、第1の試料ホルダ3の試料収納部24は、試料303(図示省略)を固定するための試料固定用ネジ穴32a,32b,32c,32d等を備え、同様に、第2の試料ホルダ4の試料収納部16は、試料304(図示省略)を固定するための試料固定用ネジ穴31a,31b,31c,31d等を備えている。ここで、第1の試料ホルダ3の試料収納部24と第2の試料ホルダ4の試料収納部16の水平方向の大きさは異なる。第1の実施の形態で定義したとおり、「水平方向」とは、試料ホルダベース22の主面(表面)に平行な方向である。又、第1の試料ホルダ3の試料収納部24及び第2の試料ホルダ4の試料収納部16の大きさは一例であり、これに限定されない。更に、第1の試料ホルダ3の試料収納部24及び第2の試料ホルダ4の試料収納部16の試料ホルダベース22上における固定位置も、図3(a)に示した試料ホルダベース22が備えるスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m12,…m28の中からそれぞれ選択可能である。
As shown in FIG. 7, the
図8及び図9には、本発明の第2の実施の形態に係る試料ホルダ本体の種類を例示している。なお、一般的に試料ホルダ本体の材料としては真鍮やAl合金が使用される。 8 and 9 exemplify types of the sample holder main body according to the second embodiment of the present invention. In general, brass or Al alloy is used as the material of the sample holder body.
図8(a)及び図8(b)は、試料ホルダ本体41の構造を例示を示している。試料ホルダ本体41は、試料収納部411と、試料収納部411の底部に設けられたホルダ固定用凸部412とを備える。試料収納部411は、例えば、外径l11が26mm、高さh11が23mm、深さh12が20mmで、試料固定用ネジ穴81a,81b,…81h(一部図示省略)を有する。
8A and 8B show an example of the structure of the sample holder
図9(a)及び図9(b)は、試料ホルダ本体42の構造を例示している。試料ホルダ本体42は、試料収納部421と、試料収納部421の底部に設けられたホルダ固定用凸部422とを備える。試料収納部421は、外径l11及び高さh11が、図8に示した試料収納部411と等しく、深さh13が例えば13mmで、試料固定用ネジ穴82a,82b,…82h(一部図示省略)を有する。試料ホルダ本体42は、更に、円形底部424と、円形底部424と一体となっている高さ調節雄ネジ425とを備えている。高さ調節雄ネジ425は試料収納部421及びホルダ固定用凸部422を貫通する雌ネジと螺嵌しており、円形底部424を回転させることによって、深さh13を調整することができる。また、調整した深さh13は固定ネジ275を高さ調節雄ネジ425に押接することによって固定することができる。なお、図8及び図9で示した試料ホルダ本体41,42の大きさは一例であり、これに限定されない。図8及び図9に示した試料ホルダ本体41,42と同じ構造で且つ様々な大きさの試料ホルダを用いることが可能である。
9A and 9B illustrate the structure of the sample holder
図10〜図15には、本発明の第2の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体における、各種試料ホルダ本体の試料ホルダベース22上への設置例をそれぞれ示している。図10に示すように、第2の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体に用いる試料ホルダベース22は上面に、複数(3×3個)のスペーサ取付用凹部m11,m12,…m28を有し、スペーサ取付用凹部m11,m12,…m28のそれぞれには、試料ホルダベース22の上面に垂直方向が回転軸の方向となる雌ネジが設けられている。このため、図6に示したスペーサ固定手段としての雄ネジ(固定ネジ)19が、それぞれスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m12,…m28に挿入され、ネジ止めにより複数のホルダ高さ調整冶具(18,19,21)がスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m12,…m28に固定される。そして、各々のホルダ高さ調整冶具(18,19,21)に試料ホルダ本体81,82,…89が固定されるので、複数の試料ホルダ本体81,82,…89の固定が容易である。
FIGS. 10 to 15 show examples of installation of various sample holder bodies on the
即ち、3×3、4×4等のマトリクス状に複数の試料ホルダ本体81,82,…89を試料ホルダベース22の上面に配置する場合であっても、ホルダ高さ調整治具(18,19,21)を用いることにより、マトリクスの中央部には工具スペースが確保されるので、特別な試料ホルダを用意する必要がなくなる。試料ホルダ本体81〜89は、例えば、図9に示した試料収納部421を備え、直径25mmの大きさの試料を収納できる。従来の試料ホルダベース22は、図23に示したサブベース141の中央の試料ホルダ取付用穴r15には、図20に示した試料ホルダ固定用穴183a,183bを備えた特別な試料ホルダ本体(181,182)を用意して固定しなければならなかった。しかし、本発明の第2の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体によれば、図10に示すように、試料ホルダベース22の中央に位置する試料ホルダ本体85は、図4や図5に示したスペーサ13、18等を介して、雄ネジであるスペーサ固定手段(固定ネジ)14,19等によってスペーサ取付用凹部m19に任意の方向に固定できるため、固定用ネジ穴に挿入される押しネジを回転させるための工具スペースが確保できる。このため、図20に示したような、試料ホルダ固定用穴183a,183bを有する特別な試料ホルダを用意する必要なく、試料ホルダベース22に固定されている他の試料ホルダ本体81等と同じ形状のものをそのまま用いることができる。
That is, even when a plurality of
図11に示すように、第2の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体に用いる試料ホルダベース22は、複数(5個)のスペーサ取付用凹部m11,m13,m19,m26,m28を上面に有し、スペーサ取付用凹部m11,m13,m19,m26,m28のそれぞれには、試料ホルダベース22の上面に垂直方向が回転軸の方向となる雌ネジが設けられている。このため、図6に示したスペーサ固定手段としての雄ネジ(固定ネジ)19がそれぞれスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m13,m19,m26,m28に挿入され、ネジ止めにより複数のホルダ高さ調整治具(18,19,21)がスペーサ取付用ネジ穴(スペーサ取付用凹部)m11,m13,m19,m26,m28に固定され、各々のホルダ高さ調整治具(18,19,21)に試料ホルダ本体91,92,…95が固定されるので、試料ホルダ本体91,92,…95の固定が容易である。即ち、マトリクス状に複数の試料ホルダ本体91,92,…95を試料ホルダベース22の上面に配置する場合であっても、ホルダ高さ調整治具(18,19,21)を用いることにより、マトリクスの中央部には工具スペースが確保されるので、特別な試料ホルダを用意する必要がなくなる。
As shown in FIG. 11, the
又、図12は、試料ホルダベース22の雌ネジが設けられているスペーサ取付用凹部m14,m15,m19,m24,m25に、図6に示したスペーサ固定手段としての雄ネジ(固定ネジ)19がそれぞれ挿入され、ネジ止めにより複数のホルダ高さ調整治具(18,19,21)がスペーサ取付用凹部m14,m15,m19,m24,m25に固定され、各々のホルダ高さ調整治具(18,19,21)に試料ホルダ本体101,102,…105が固定されている。試料ホルダ本体91〜95及び試料ホルダ本体101〜105は、それぞれ、直径32mmの大きさの試料を収納できる。図24に示すように、サブベース141では、直径32mmの大きさの試料を収納できる試料ホルダ本体221,222等は、サブベース141上に4つしか固定することができない。しかし、図11に示すように、第2の実施の形態に係る試料ホルダベース22上には、図24に示す試料ホルダ本体221,224等と同じ大きさの5つの試料ホルダ本体91〜95を固定することができる。更に、図12に示すように、図11とは異なるパターンで、試料ホルダベース22のスペーサ取付用凹部m14,m15,m19,m24,m25に、試料ホルダ本体91〜95と同じ大きさの試料ホルダ本体101〜105を、図6に示したホルダ高さ調整治具(18,19,21)を介してそれぞれ固定することができる。
12 shows a spacer fixing recess m 14 , m 15 , m 19 , m 24 , m 25 provided with a female screw of the
図13は、試料ホルダベース22のスペーサ取付用凹部m14,m15,m24,m25に、図6に示したスペーサ固定手段としての雄ネジ(固定ネジ)19がそれぞれ挿入され、ネジ止めにより複数のホルダ高さ調整治具(18,19,21)がスペーサ取付用凹部m14,m15,m24,m25に固定され、各々のホルダ高さ調整治具(18,19,21)に試料ホルダ本体111,112,113,114が固定されている。試料ホルダ本体111〜114は、それぞれ、直径38mmの大きさの試料を収納できる。図25に示したように、従来は直径が32mmを超える大きさの試料を収納する試料ホルダ本体233や234を固定するためには、専用の試料ホルダベース22を用いなければならなかった。しかし、図13に示すように、第2の実施の形態に係る試料ホルダベース22においては、直径が38mmの大きさの試料を収納可能な試料ホルダ本体111〜114も固定することができる。
In FIG. 13, male screws (fixing screws) 19 as spacer fixing means shown in FIG. 6 are inserted into the spacer mounting recesses m 14 , m 15 , m 24 , and m 25 of the
図14は、試料ホルダベース22のスペーサ取付用凹部m14,m17,m22,m25に、図6に示したスペーサ固定手段としての雄ネジ(固定ネジ)19がそれぞれ挿入され、ネジ止めにより複数のホルダ高さ調整治具(18,19,21)がスペーサ取付用凹部m14,m17,m22,m25に、固定され、各々のホルダ高さ調整治具(18,19,21)に試料ホルダ本体121,122,123,124が固定されている。試料ホルダ本体121,124と、試料ホルダ本体122と、試料ホルダ本体123は、それぞれ大きさが異なる。ここで、例えば、試料ホルダ本体121,124は直径32mmの試料を、試料ホルダ本体122は直径40mmの試料を、試料ホルダ本体123は直径42mmの試料をそれぞれ収納することができる。又、図15は、試料ホルダベース22のスペーサ取付用凹部m13とスペーサ取付用凹部m21に、大きさの異なる試料ホルダ本体132と試料ホルダ本体131が、図6に示したホルダ高さ調整治具(18,19,21)を介してそれぞれ固定されている。ここで、試料ホルダ本体132は、例えば、図9に示した試料収納部421を備え、直径25mmの試料を収納できる。又、試料ホルダ本体131は直径70mmの試料を収納することができる。なお、試料ホルダベース22上に固定する試料ホルダ本体の種類及び固定位置は図10〜図15で示したものに限定されない。
In FIG. 14, male screws (fixing screws) 19 as spacer fixing means shown in FIG. 6 are inserted into the spacer mounting recesses m 14 , m 17 , m 22 , m 25 of the
上記のように、本発明の第2の実施の形態に係る試料ホルダベース22によれば、大きさの異なる第1の試料ホルダ3の試料収納部24及び第2の試料ホルダ4の試料収納部16であっても、ホルダ高さ調整治具(18,19,21)をそれぞれ介すことによって試料ホルダベース22上における試料ホルダの固定位置を容易に変更することができるため、第1の試料ホルダ本体(24,37)及び第2の試料ホルダ本体(16,36)等の大きさの異なる複数の試料ホルダを一つの試料ホルダベース22上に同時に固定することが可能となる。
As described above, according to the
(その他の実施の形態)
上記のように、本発明は第1及び第2の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
(Other embodiments)
As described above, the present invention has been described according to the first and second embodiments. However, it should not be understood that the description and drawings constituting a part of this disclosure limit the present invention. From this disclosure, various alternative embodiments, examples and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.
例えば、図3(a)で示した試料ホルダベース22におけるスペーサを取り付ける穴(スペーサ取付用凹部)の数及び位置は、これに限定されない。試料ホルダ本体やスペーサと同様に、必要に応じて変更が可能である。
For example, the number and position of holes (spacer mounting recesses) for mounting spacers in the
本発明の試料ホルダベース22としては、EPMAや電子顕微鏡等の種々の表面分析装置に適用可能である。
The
このように、本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。 As described above, the present invention naturally includes various embodiments not described herein. Therefore, the technical scope of the present invention is defined only by the invention specifying matters according to the scope of claims reasonable from the above description.
1〜4…試料ホルダ
1S,2S…ホルダ高さ調整治具
11,16,24,161,171,181,191,201,411,421…試料収納部
41,42,81〜89,91〜95,101〜105,111〜114,121〜124,131,132,211〜219,221〜224,233,234…試料ホルダ本体
12,17,25,291,293,424…円形底部
13,18…スペーサ
14,19,72,73,275,286,287…固定ネジ
15,21…押しネジ
22…試料ホルダベース
23,144,232…取っ手
26,27…固定用ネジ穴
29a〜29d,31a〜31d,32a〜32d,81a〜81h,82a〜82h,103a〜103h,104a〜104h,105a〜105h,106a〜106h,107a〜107h…試料固定用ネジ穴
35,36,37,162,172,182,292,294,412,422…ホルダ固定用凸部
41a〜41h,71c,71d,91a,91b,…試料ホルダ固定用ネジ穴
183a,183b…試料ホルダ固定用穴
51a〜51d,61a〜61d…支柱
141,231…サブベース
142,235…ベース
151…分析可能領域
152…使用可能領域
425…高さ調節雄ネジ
301〜304…試料
m11〜m28…スペーサ取付用凹部
q11〜q14…試料ホルダ専用取付用穴
r11〜r19…試料ホルダ取付用穴
1-4
Claims (11)
前記試料収納部の底部と前記試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有し、前記ホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有するスペーサ、該スペーサの上部において前記ホルダ固定用凸部を前記スペーサに固定するホルダ固定手段、前記スペーサの下部において前記スペーサを前記スペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段を有するホルダ高さ調整治具
とを備えることを特徴とする試料ホルダ組み立て体。 A sample holder assembly comprising a sample holder base in which a plurality of spacer mounting recesses are arranged on an upper surface, and a plurality of sample holders respectively fixed to the sample holder base via the plurality of spacer mounting recesses, Each of the plurality of sample holders includes a sample holder main body having a sample storage portion forming a sample mounting space, and a holder fixing convex portion provided at the bottom of the sample storage portion;
A spacer having a height for adjusting a distance between a bottom portion of the sample storage portion and an upper surface of the sample holder base and having a concave portion for accommodating the holder fixing convex portion, and the holder at the upper portion of the spacer A holder fixing means for fixing a fixing convex portion to the spacer, and a holder height adjusting jig having a spacer fixing means for inserting and fixing the spacer into any one of the spacer mounting concave portions below the spacer. The sample holder assembly characterized by the above-mentioned.
試料搭載空間をなす試料収納部、該試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部とを有する試料ホルダ本体と、
前記試料収納部の底部と前記試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有し、前記ホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有するスペーサ、該スペーサの上部において前記ホルダ固定用凸部を前記スペーサに固定するホルダ固定手段、前記スペーサの下部において前記スペーサを前記スペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段を有するホルダ高さ調整治具
とを備え、前記試料収納部の高さが互いに異なる複数の前記試料ホルダ本体と、複数の前記試料ホルダ本体にそれぞれ適合するホルダ高さ調整治具とが一対をなし、前記試料収納部の上面の高さが同一となるように選定されていることを特徴とする複数の試料ホルダのセット。 A set of a plurality of sample holders fixed to the sample holder base having a plurality of spacer mounting recesses arranged on the upper surface via the plurality of spacer mounting recesses, each of the plurality of sample holders being
A sample holder main body having a sample storage portion forming a sample mounting space, and a holder fixing convex portion provided at the bottom of the sample storage portion;
A spacer having a height for adjusting a distance between a bottom portion of the sample storage portion and an upper surface of the sample holder base and having a concave portion for accommodating the holder fixing convex portion, and the holder at the upper portion of the spacer A holder fixing means for fixing a fixing convex portion to the spacer, and a holder height adjusting jig having a spacer fixing means for inserting and fixing the spacer into any one of the spacer mounting concave portions below the spacer. A plurality of the sample holder bodies having different heights from each other and a holder height adjusting jig adapted to each of the plurality of sample holder bodies to form a pair, and the height of the upper surface of the sample holder A set of a plurality of sample holders, characterized in that they are selected to be the same.
前記試料ホルダ本体が有する前記試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有し、前記試料収納部の底部と前記試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有するスペーサと、
該スペーサの上部において前記ホルダ固定用凸部を前記スペーサに固定するホルダ固定手段と、
前記スペーサの下部において前記スペーサを前記スペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段
とを有することを特徴とするホルダ高さ調整治具。 In order to fix a plurality of sample holder bodies having different heights of the sample storage portions to the sample holder base having a plurality of spacer mounting recesses arranged on the upper surface so that the heights of the upper surfaces of the sample storage portions are the same. Holder height adjustment jig,
The sample holder main body has a concave portion for accommodating a holder fixing convex portion provided at the bottom portion of the sample storage portion, and the distance between the bottom portion of the sample storage portion and the upper surface of the sample holder base is set. A spacer having a height to be adjusted;
Holder fixing means for fixing the holder fixing convex portion to the spacer at the top of the spacer;
Spacer fixing means for inserting and fixing the spacer into any of the spacer mounting recesses at a lower portion of the spacer.
前記スペーサのそれぞれの下部に設けられたスペーサ固定手段を挿入するためのスペーサ取付用凹部を複数個、上面に配列したことを特徴とする試料ホルダベース。 A plurality of sample holder main bodies having different heights from each other are provided through spacers each having a concave portion for storing a holder fixing convex portion provided at the bottom of a sample storage section provided in the sample holder main body. A sample holder base for fixing so that the height of the upper surface of the sample storage portion is the same,
A sample holder base comprising a plurality of spacer mounting recesses arranged on the upper surface for inserting a spacer fixing means provided at each lower portion of the spacer.
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