JP2010156555A - Surface potential measuring device and image forming apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface potential measuring device, capable of reducing the cost by determining which of a probe and a control part constituting a potential sensor has failed to replace only the faulty component. <P>SOLUTION: The surface potential measuring device includes the potential sensor 101 including the probe 110 and the control part 120 controlling the probe 110 and measuring the surface potential of a measurement object; and the controller 103 controlling the potential sensor 101. When the potential sensor 101 fails, the controller 103 detects which of the probe 110 and the control part 120 has failed, on the basis of an output signal of the probe 110. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、被測定対象の表面電位を検出する表面電位測定装置、及び、その表面電位測定装置を搭載した画像形成装置に関する。   The present invention relates to a surface potential measuring device that detects a surface potential of a measurement target, and an image forming apparatus equipped with the surface potential measuring device.

図１２は、従来例に係る表面電位測定装置の簡略ブロック図である。   FIG. 12 is a simplified block diagram of a surface potential measuring apparatus according to a conventional example.

図１２において、表面電位測定装置は、電位センサ１０１と、電位センサ１０１を制御するコントローラ１０３とから構成される。表面電位測定装置は、測定対象１０２の表面電位を測定する。   In FIG. 12, the surface potential measuring device includes a potential sensor 101 and a controller 103 that controls the potential sensor 101. The surface potential measuring device measures the surface potential of the measurement object 102.

電位センサ１０１は、プローブ１１０と、プローブ１１０を制御すると共にコントローラ１０３との通信を行う制御部１２０とで構成されている。   The potential sensor 101 includes a probe 110 and a control unit 120 that controls the probe 110 and communicates with the controller 103.

図１３は、図１２の表面電位測定装置の詳細ブロック図である。   FIG. 13 is a detailed block diagram of the surface potential measuring apparatus of FIG.

表面電位測定装置の動作について、図１３を用いて説明する。   The operation of the surface potential measuring device will be described with reference to FIG.

図１３において、コントローラ１０３より入力されるリモート信号がＯＮの状態になると、電位センサ１０１及び制御部１２０の動作が開始される。   In FIG. 13, when the remote signal input from the controller 103 is turned on, the operation of the potential sensor 101 and the control unit 120 is started.

まず、図示しない駆動回路により電位センサ１０１に駆動信号が入力される。すると、音叉（音叉型振動子）１１１ａが振動を開始し、その先端部が左右それぞれ、矢印方向１１１ｂに振動する。   First, a drive signal is input to the potential sensor 101 by a drive circuit (not shown). Then, the tuning fork (tuning fork type vibrator) 111a starts to vibrate, and the tip thereof vibrates in the arrow direction 111b on the left and right respectively.

一方、音叉１１１ａが振動することで、電極（測定電極）１１２と測定対象１０２間の静電容量が周期的に変化 Ｃ（ｔ）する。これにより電極１１２の電荷量が変化し、この電荷量の変化を検出回路１１５における検出抵抗１１３にて電圧に変換することで、測定対象１０２と電極１１２間の電位差に比例した交流電圧信号を得ている。そして、それをアンプ１１４で増幅し、制御部１２０へ出力している。   On the other hand, as the tuning fork 111a vibrates, the capacitance between the electrode (measurement electrode) 112 and the measurement object 102 periodically changes C (t). As a result, the charge amount of the electrode 112 is changed, and the change in the charge amount is converted into a voltage by the detection resistor 113 in the detection circuit 115, thereby obtaining an AC voltage signal proportional to the potential difference between the measurement object 102 and the electrode 112. ing. Then, it is amplified by the amplifier 114 and output to the control unit 120.

尚、電位センサ１０１を構成する各部は後述する高圧電源１２４の出力（図１３中Ｈ点）を基準電位として動作している。   Each part of the potential sensor 101 operates with an output (point H in FIG. 13) of a high-voltage power supply 124 described later as a reference potential.

そして、制御部１２０においては、検出回路１１５からの出力である交流検出信号に基づき、この交流検出信号の振幅がゼロとなる様に、高圧電源１２４の出力を制御している。ここで、交流検出信号の振幅がゼロと言う状態は、音叉１１１（一対の音叉１１１ａ）が振動し、電極１１２と測定対象１０２間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、電極１１２の電荷量が変化しない状態である。   The control unit 120 controls the output of the high-voltage power supply 124 so that the amplitude of the AC detection signal is zero based on the AC detection signal output from the detection circuit 115. Here, when the amplitude of the AC detection signal is zero, the tuning fork 111 (a pair of tuning forks 111a) vibrates and the capacitance between the electrode 112 and the measurement object 102 periodically changes. In this state, the charge amount of the electrode 112 does not change.

この状態は、測定対象１０２の表面電位と電極１１２の電位、つまり測定対象１０２の表面電位と高圧電源１２４の出力が同電位であることを意味している。これにより、測定対象１０２の表面電位を得ることができる（ゼロメソッド）。   This state means that the surface potential of the measurement target 102 and the potential of the electrode 112, that is, the surface potential of the measurement target 102 and the output of the high-voltage power supply 124 are the same potential. Thereby, the surface potential of the measuring object 102 can be obtained (zero method).

制御部１２０は、この時の高圧電源１２４の出力を出力回路１２５にて、例えば、図１４に示す様な関係で変換しコントローラ１０３へ出力している。   The control unit 120 converts the output of the high-voltage power supply 124 at this time in the output circuit 125 according to the relationship shown in FIG.

図１４は、図１３における制御部１２０の出力である出力信号と測定電位との関係を示す図である。   FIG. 14 is a diagram showing the relationship between the output signal, which is the output of the control unit 120 in FIG. 13, and the measured potential.

図１４の場合、制御部１２０での測定結果が、−５０Ｖの時に出力回路１２５の出力が０Ｖであり、＋９００Ｖの時に出力回路１２５の出力が３．３Ｖになる様な、測定結果と検出値とがリニアな関係になっている。よって、コントローラ１０３は、制御部１２０から入力された信号を図１４の関係に基づき換算することで、測定対象１０２の表面電位情報を得ることができる。   In the case of FIG. 14, the measurement result and the detected value are such that the output of the output circuit 125 is 0 V when the measurement result at the control unit 120 is −50 V, and the output of the output circuit 125 is 3.3 V when it is +900 V. Is a linear relationship. Therefore, the controller 103 can obtain the surface potential information of the measurement object 102 by converting the signal input from the control unit 120 based on the relationship of FIG.

次に、図１５の波形を用いて電位センサ１０１の故障検出について説明する。   Next, failure detection of the potential sensor 101 will be described using the waveform of FIG.

図１５は、図１３における電位センサ１０１の異常時の出力信号を示す図である。   FIG. 15 is a diagram showing an output signal when the potential sensor 101 in FIG. 13 is abnormal.

図１５において、（ａ）は測定対象１０２に印加する電位変動の波形である。（ｂ）は、制御部１２０の出力回路１２５から出力される電位測定結果の信号波形である。   In FIG. 15, (a) is a waveform of potential fluctuation applied to the measurement object 102. (B) is a signal waveform of the potential measurement result output from the output circuit 125 of the control unit 120.

ここで、波形（ａ）の立ち下がり時の波形（ｂ）の応答特性を基準に電位センサ１０１の故障判定を行う。つまり、測定対象１０２に印加した波形（ａ）の立ち下がりから所定時間ｔ１３経過後の波形（ｂ）の値を測定し、その値が所定電圧Ｖ１３未満であれば、正常、Ｖ１３以上の場合は、電位センサ１０１の故障により応答特性が劣化したと判定する。   Here, failure determination of the potential sensor 101 is performed based on the response characteristic of the waveform (b) when the waveform (a) falls. That is, when the value of the waveform (b) after the lapse of the predetermined time t13 from the fall of the waveform (a) applied to the measurement object 102 is measured and the value is less than the predetermined voltage V13, it is normal and when it is V13 or more. Then, it is determined that the response characteristic has deteriorated due to the failure of the potential sensor 101.

上記の技術は、特許文献１に開示されている。
特開昭６３−９４２５２号公報 The above technique is disclosed in Patent Document 1.
JP-A-63-94252

しかしながら、電位センサ１０１の従来の故障判別手法では、電位センサ１０１の故障が判別されても、電位センサ１０１を構成するプローブ１１０と制御部１２０のいずれが故障したか判別することはできない。   However, in the conventional failure determination method of the potential sensor 101, even if the failure of the potential sensor 101 is determined, it is not possible to determine which of the probe 110 and the control unit 120 constituting the potential sensor 101 has failed.

そのため、表面電位測定装置を修理する場合には、プローブ１１０と制御部１２０とをまとめて、電位センサ１０１の構成で交換する必要があった。   Therefore, when repairing the surface potential measurement device, the probe 110 and the control unit 120 need to be replaced together with the configuration of the potential sensor 101.

実際には、プローブ１１０と制御部１２０とが同時に故障する可能性は非常に低く大概はどちらかのみが故障しているため、従来の故障判別手法では、故障していない正常品まで交換してしまうと言う無駄が発生していた。   Actually, it is very unlikely that the probe 110 and the control unit 120 will fail at the same time. In general, only one of them fails. There was a waste of money.

本発明の目的は、電位センサを構成する、プローブと制御部のいずれが故障したかを判別し、故障部品のみを交換することで、コスト低減を図ることができる表面電位測定装置及び画像形成装置を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to determine whether a probe or a control unit constituting a potential sensor has failed, and to replace only a failed part, thereby reducing the cost and a surface potential measuring device and an image forming apparatus. Is to provide.

上記目的を達成するために、請求項１記載の表面電位測定装置は、測定対象の表面電位に応じた信号を出力するプローブと、前記プローブを制御する制御部とで構成された表面電位測定手段と、前記表面電位測定手段が故障した際に、前記プローブの出力信号に基づき、前記プローブと前記制御部のどちらが故障したかを検出する故障検出手段と、を有することを特徴とする。   In order to achieve the above object, the surface potential measuring apparatus according to claim 1 is a surface potential measuring means comprising a probe that outputs a signal corresponding to a surface potential of a measurement object and a control unit that controls the probe. And failure detection means for detecting which of the probe and the control unit failed based on the output signal of the probe when the surface potential measurement means fails.

請求項５記載の画像形成装置は、表面に静電潜像が形成される像担持体と、前記像担持体の表面電位に応じた信号を出力するプローブと、前記プローブを制御する制御部とで構成された表面電位測定手段と、前記表面電位測定手段が故障した際に、前記プローブの出力信号に基づき、前記プローブと前記制御部のどちらが故障したかを検出する故障検出手段と、を有することを特徴とする。   The image forming apparatus according to claim 5, an image carrier on which an electrostatic latent image is formed on a surface, a probe that outputs a signal corresponding to a surface potential of the image carrier, and a control unit that controls the probe; And a failure detection means for detecting which of the probe and the control unit failed based on the output signal of the probe when the surface potential measurement means fails. It is characterized by that.

本発明の表面電位測定装置によれば、電位センサを構成する、プローブと制御部のいずれが故障したかを判別し、故障部品のみを交換することで、コスト低減を図ることができる。   According to the surface potential measuring device of the present invention, it is possible to reduce costs by determining which one of the probe and the control unit constituting the potential sensor has failed and replacing only the failed part.

以下、本発明を図面を参照しながら詳細に説明する。但し、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置等は、特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the dimensions, materials, shapes, relative arrangements, and the like of the components described in this embodiment are not intended to limit the scope of the present invention only to those unless otherwise specified. Absent.

図１は、本発明の実施の形態に係る表面電位測定装置の詳細ブロック図である。図１３に示す従来の表面電位測定装置と同一箇所には同一符号を付す。   FIG. 1 is a detailed block diagram of a surface potential measuring apparatus according to an embodiment of the present invention. The same parts as those in the conventional surface potential measuring apparatus shown in FIG.

図１において、表面電位測定装置は、電位センサ１０１と、電位センサ１０１を制御するコントローラ１０３と、高圧電源１０４とから構成される。表面電位測定装置は、測定対象１０２の表面電位を測定する。   In FIG. 1, the surface potential measuring device includes a potential sensor 101, a controller 103 that controls the potential sensor 101, and a high-voltage power supply 104. The surface potential measuring device measures the surface potential of the measurement object 102.

電位センサ１０１は、プローブ１１０と、プローブ１１０を制御すると共にコントローラ１０３との通信を行う制御部１２０とで構成されている。高圧電源１０４は、測定対象１０２に電圧を印加する。   The potential sensor 101 includes a probe 110 and a control unit 120 that controls the probe 110 and communicates with the controller 103. The high voltage power source 104 applies a voltage to the measurement object 102.

電位センサ１０１のプローブ１１０は、音叉１１１、電極１１２、検出抵抗１１３、アンプ１１４等で構成されている。   The probe 110 of the potential sensor 101 includes a tuning fork 111, an electrode 112, a detection resistor 113, an amplifier 114, and the like.

電位センサ１０１の制御部１２０は、音叉１１１の駆動回路１２１と、アンプ１１４からの信号を増幅する増幅回路１２２、増幅回路の１２２からの信号に基づき高圧電源１２４を制御する制御回路１２３を備える。   The control unit 120 of the potential sensor 101 includes a drive circuit 121 of the tuning fork 111, an amplifier circuit 122 that amplifies a signal from the amplifier 114, and a control circuit 123 that controls the high-voltage power supply 124 based on the signal from the amplifier circuit 122.

また、制御部１２０は、高圧電源１２４の出力を所定の仕様に変換し出力する出力回路１２５、プローブ１１０の基準電位をグランドに切り替えて電位センサ１０１の動作をオープンループに切り替えるためのオープンループ切り替え部１２６を備える。さらに、制御部１２０は、オープンループ動作時に高圧電源１２４の出力を保護する保護抵抗１２７を備える。   Further, the control unit 120 converts the output of the high-voltage power supply 124 into a predetermined specification and outputs the output circuit 125, and the open loop switching for switching the reference sensor potential to the ground and switching the operation of the potential sensor 101 to the open loop. Part 126 is provided. Furthermore, the control unit 120 includes a protective resistor 127 that protects the output of the high-voltage power supply 124 during an open loop operation.

コントローラ１０３は、制御部１２０と接続され、出力信号Ｖｓ、リモート信号、モード（制御モード：フィードバックループモードとオープンループモード）の切り替え信号の通信を行う機能を有する。また、コントローラ１０３は、プローブ１１０と接続され、プローブ１１０内のアンプ１１４の出力をモニタする機能、さらに高圧電源１０４の出力を制御する機能等を有している。   The controller 103 is connected to the control unit 120 and has a function of communicating an output signal Vs, a remote signal, and a mode switching signal (control mode: feedback loop mode and open loop mode). The controller 103 is connected to the probe 110 and has a function of monitoring the output of the amplifier 114 in the probe 110 and a function of controlling the output of the high-voltage power supply 104.

図２は、図１の表面電位測定装置に操作表示部が接続された状態を示す図である。   FIG. 2 is a diagram showing a state in which an operation display unit is connected to the surface potential measuring apparatus of FIG.

図２に示すように、操作表示部２０１が、電位センサ１０１、コントローラ１０３、高圧電源１０４と接続されている。   As shown in FIG. 2, the operation display unit 201 is connected to the potential sensor 101, the controller 103, and the high voltage power supply 104.

基本的な電位測定の方法は図１３に示す従来例と同様なため、説明は省略する。   The basic potential measurement method is the same as that of the conventional example shown in FIG.

ここで、電位センサ１０１を用いて測定対象１０２の電位をより精度良く測定するためには、オフセットの調整や電位測定前の電位センサ動作確認が重要になってくる。   Here, in order to measure the potential of the measurement object 102 with higher accuracy using the potential sensor 101, it is important to adjust the offset and confirm the operation of the potential sensor before measuring the potential.

オフセット電圧とは、測定対象１０２の真の電位と電位センサ１０１の出力信号Ｖｓとの差分のことである。これは、プローブ１１０の組立ばらつきや、制御部１２０の定数ばらつき、またはプローブ１１０の固定（測定対象１０２との距離等）ばらつき、電位センサ１０１の使用環境（温度、湿度等）変化、プローブ１１０の経時変化、汚れ等の影響を受けてしまう。   The offset voltage is a difference between the true potential of the measurement object 102 and the output signal Vs of the potential sensor 101. This includes variations in assembly of the probe 110, variations in the constant of the control unit 120, variations in the fixation of the probe 110 (distance to the measurement target 102, etc.), changes in the usage environment (temperature, humidity, etc.) of the potential sensor 101, It is affected by changes over time and dirt.

そこで、実際の電位測定前にオフセット電位を実測し、その後の測定データを補正するオフセット調整手法が知られている。   Therefore, an offset adjustment method is known in which an offset potential is actually measured before actual potential measurement and subsequent measurement data is corrected.

オフセットの調整に際して、図示しないスイッチ手段等で測定対象１０２をＧＮＤ電位に固定し、その状態を電位センサ１０１で測定し、その時の出力信号Ｖｓをオフセット電圧Ｖｏｆｆｓｅｔとしてコントローラ１０３が記憶する。そして、その後の測定値（出力信号Ｖｓ）からＶｏｆｆｓｅｔを減算した結果を測定値＝測定対象電位とする。   When adjusting the offset, the measuring object 102 is fixed to the GND potential by a switch means or the like (not shown), the state is measured by the potential sensor 101, and the controller 103 stores the output signal Vs at that time as the offset voltage Voffset. Then, the result of subtracting Voffset from the subsequent measurement value (output signal Vs) is defined as measurement value = measurement target potential.

尚、電位センサ１０１としてのオフセット電圧は、一般的に絶対値で数Ｖ程度であり、このオフセット調整の際に測定されたオフセット電圧が絶対値で数十Ｖに達したり、測定値が安定しなかった場合は電位センサ１０１の故障が考えられる。   The offset voltage as the potential sensor 101 is generally about several volts in absolute value. The offset voltage measured during the offset adjustment reaches several tens of volts in absolute value, or the measured value is stabilized. If not, the potential sensor 101 may be out of order.

また、オフセット電圧以外に電位センサ１０１の性能として重要なのが測定精度（リニアリティ特性）である。これは、オフセット調整後にどれだけ精度良く電位を測定することが可能かと言う特性であり、例えば、オフセット調整後に測定対象１０２の電位を５００Ｖにした場合に、電位センサ１０１がどれだけ５００Ｖに近い測定結果を出力するかと言う特性である。   In addition to the offset voltage, what is important as the performance of the potential sensor 101 is the measurement accuracy (linearity characteristics). This is a characteristic of how accurately the potential can be measured after the offset adjustment. For example, when the potential of the measuring object 102 is set to 500 V after the offset adjustment, the potential sensor 101 measures how close to 500 V. It is a characteristic to output the result.

この特性に関しても、オフセット電圧同様に、制御部１２０の定数ばらつき、またはプローブ１１０の固定（測定対象１０２との距離等）ばらつき、電位センサ１０１の使用環境（温度、湿度等）変化、プローブ１１０の経時変化、汚れ等の影響を受けてしまう。   Regarding this characteristic as well as the offset voltage, the constant variation of the control unit 120, the fixing of the probe 110 (distance to the measurement object 102, etc.), the change in the usage environment (temperature, humidity, etc.) of the potential sensor 101, the probe 110 It is affected by changes over time and dirt.

そこで、測定対象１０２の電位をより精度良く測定するために、オフセット調整後に測定精度確認を行う手法が知られている。   In order to measure the potential of the measurement object 102 with higher accuracy, a method of confirming measurement accuracy after offset adjustment is known.

測定精度の確認は、測定対象１０２を高圧電源１０４で所定の電圧（例えば５００Ｖ）に設定し、その電位を電位センサ１０１で測定し、測定結果Ｖｓが予め決められた電位センサ１０１の測定精度許容値以下か確認する。例えば、許容精度が３％の場合は、測定結果が、４８５Ｖ〜５１５Ｖであれば正常であり、それを外れた場合は電位センサ１０１の故障が考えられる。   The measurement accuracy is confirmed by setting the measurement object 102 to a predetermined voltage (for example, 500 V) with the high-voltage power supply 104, measuring the potential with the potential sensor 101, and allowing the measurement accuracy of the potential sensor 101 whose measurement result Vs is predetermined. Check if it is less than the value. For example, when the allowable accuracy is 3%, it is normal if the measurement result is 485 V to 515 V, and when it is outside this, the potential sensor 101 may be broken.

また、上記オフセット補正や測定精度確認以外にも、定期的に電位センサ１０１の性能チェックを行うことで、より信頼性の高い測定系を維持することが可能となる。   In addition to the above offset correction and measurement accuracy confirmation, it is possible to maintain a more reliable measurement system by periodically checking the performance of the potential sensor 101.

次に、定期的な電位センサ１０１の性能チェック手法を説明する。尚、このチェック手法は、上記のオフセット調整や測定精度確認の際に結果に異常があり、電位センサ１０１の故障が考えられる場合に電位センサ１０１の故障箇所を特定する手法でもある。   Next, a method for periodically checking the performance of the potential sensor 101 will be described. Note that this check method is also a method of specifying the failure location of the potential sensor 101 when there is an abnormality in the result when the offset adjustment or the measurement accuracy is confirmed and the potential sensor 101 is considered to be defective.

図３は、図１の表面電位測定装置によって実行される電位センサ１０１の故障チェック処理の手順を示すフローチャートである。   FIG. 3 is a flowchart showing a procedure of a failure check process of the potential sensor 101 executed by the surface potential measuring apparatus of FIG.

本処理は、図１におけるコントローラの制御の下に実行される。各処理ステップには符号Ｓを付す。   This process is executed under the control of the controller in FIG. Each processing step is denoted by a symbol S.

本電位センサの故障チェック処理は、例えば、表面電位測定装置の稼働時間に対し、所定時間経過毎や、表面電位測定装置内の環境温度が所定値異常変動した場合や、電位測定を行う毎にそれをトリガとしてその測定前に実行される。さらには、オフセット調整でオフセット電圧が所定値を超えた場合や、測定精度確認で測定精度が所定値を下回った場合、表面電位測定装置の使用者が任意の時にチェックモードを実行させた場合等をトリガに実行される。   This potential sensor failure check process is performed, for example, every time when the surface potential measuring device is operating, when the environmental temperature in the surface potential measuring device fluctuates by a predetermined value, or whenever potential measurement is performed. It is executed before the measurement as a trigger. Furthermore, when the offset voltage exceeds a predetermined value by offset adjustment, when the measurement accuracy is lower than the predetermined value by checking the measurement accuracy, or when the user of the surface potential measurement device executes the check mode at any time, etc. Is executed as a trigger.

上記のトリガにより故障チェックモード（チェック処理）が開始されると、まず、コントローラ１０３は、高圧電源１０４により測定対象１０２を所定の電位Ｖｈ１（例５００Ｖ）に設定し、その際の電位センサ１０１の出力信号Ｖｓを測定する（Ｓ３０１）。   When the failure check mode (check process) is started by the above trigger, first, the controller 103 sets the measurement object 102 to a predetermined potential Vh1 (eg, 500 V) by the high-voltage power supply 104, and the potential sensor 101 at that time is set. The output signal Vs is measured (S301).

コントローラ１０３は、測定したＶｓが予め決められた所定の範囲、Ｖｈ２（例４８５Ｖ）≦ Ｖｓ ≦ Ｖｈ３（例５１５Ｖ）かどうか確認する（Ｓ３０２）。所定の範囲に収まっていれば、電位センサ１０１は正常と判断される（Ｓ３０９）。そして、チェックモードは終了する。   The controller 103 checks whether or not the measured Vs is in a predetermined range Vh2 (example 485V) ≦ Vs ≦ Vh3 (example 515V) (S302). If within the predetermined range, it is determined that the potential sensor 101 is normal (S309). Then, the check mode ends.

一方で、所定の範囲に収まっていない場合は、コントローラ１０３は、電位センサ１０１に何らかの異常があると判断し、異常箇所を特定するために、まずは、制御部１２０をフィードバックモードからオープンループモードに切り替える。切り替えに際しては、コントローラ１０３から切り替え信号が出力され、オープンループ切り替え部１２６がプローブ１１０の基準電位をグランド電位に固定する（Ｓ３０３）。   On the other hand, if it is not within the predetermined range, the controller 103 determines that there is some abnormality in the potential sensor 101, and in order to identify the abnormal part, first, the controller 120 is changed from the feedback mode to the open loop mode. Switch. At the time of switching, a switching signal is output from the controller 103, and the open loop switching unit 126 fixes the reference potential of the probe 110 to the ground potential (S303).

そして、測定対象１０２に所定の電位Ｖｈ１（例５００Ｖ）が印加され、かつ、コントローラ１０３は、オープンループの状態でプローブ１１０内のアンプ１１４の出力をチェックする（Ｓ３０４）。   Then, a predetermined potential Vh1 (eg, 500 V) is applied to the measurement object 102, and the controller 103 checks the output of the amplifier 114 in the probe 110 in an open loop state (S304).

まずは、コントローラ１０３は、周波数を確認し、周波数が所定の範囲、 ｆｂ１（例４６０Ｈｚ） ≦ ｆａ ≦ ｆｂ２ （例５４０Ｈｚ） かどうか確認する（Ｓ３０５）。   First, the controller 103 confirms the frequency and confirms whether the frequency is within a predetermined range, fb1 (eg, 460 Hz) ≦ fa ≦ fb2 (eg, 540 Hz) (S305).

アンプ１１４の出力信号周波数は、音叉１１１の振動周波数の正弦波信号である。音叉１１１が正常に振動していれば、音叉１１１の形状で決定される共振周波数で振動しており、部品のばらつき等を考慮しても基準値の±数十Ｈｚに入る。   The output signal frequency of the amplifier 114 is a sine wave signal having the vibration frequency of the tuning fork 111. If the tuning fork 111 vibrates normally, the tuning fork 111 vibrates at a resonance frequency determined by the shape of the tuning fork 111, and falls within a reference value of ± several tens of Hz even if variations in parts are taken into consideration.

図４は、図１におけるプローブ１１０の出力信号の例を示す図である（１）。   FIG. 4 is a diagram showing an example of an output signal of the probe 110 in FIG. 1 (1).

図４中、符号４−１が最小周波数（ｆｂ１）時の出力信号であり、符号４−３が最大周波数（ｆｂ２）時の出力信号であり、符号４−２が測定結果ｆａの出力信号である。   In FIG. 4, reference numeral 4-1 is an output signal at the minimum frequency (fb1), reference numeral 4-3 is an output signal at the maximum frequency (fb2), and reference numeral 4-2 is an output signal of the measurement result fa. is there.

ｆａは、ｆｂ１以下でもｆｂ２以上でも異常と判断される。よって、Ｓ３０５で所定の範囲に収まっていなければ、電位センサ１０１のプローブ１１０が異常と判断される（Ｓ３１０）。   Whether fa is fb1 or less or fb2 or more is determined to be abnormal. Therefore, if not in the predetermined range in S305, it is determined that the probe 110 of the potential sensor 101 is abnormal (S310).

そして、図２に示すように、本表面電位測定装置が操作表示部２０１を有する構成の場合、コントローラ１０３は、チェックモードのチェック結果である「電位センサ１０１のプローブ１１０が異常であること」を操作表示部２０１に表示する（Ｓ３０８）。そしてチェックモードは終了となる。   Then, as shown in FIG. 2, when the surface potential measuring apparatus has the operation display unit 201, the controller 103 indicates that the probe 110 of the potential sensor 101 is abnormal, which is a check result of the check mode. The information is displayed on the operation display unit 201 (S308). Then, the check mode ends.

Ｓ３０５で所定の範囲に収まっていれば、次は、コントローラ１０３は、振幅Ｖａが所定の振幅範囲、Ｖｂ１（例１０ｍＶ） ≦ Ｖａ ≦ Ｖｂ２ （例３０ｍＶ） かどうか確認する（Ｓ３０６）。   If it is within the predetermined range in S305, the controller 103 next checks whether or not the amplitude Va is within the predetermined amplitude range, Vb1 (example 10 mV) ≦ Va ≦ Vb2 (example 30 mV) (S306).

即ち、本実施の形態では、プローブ１１０の出力の周波数と振幅の両方を判断しているが、いずれか一方の判断でも良い。   That is, in the present embodiment, both the frequency and amplitude of the output of the probe 110 are determined, but either one may be determined.

アンプ１１４の出力信号振幅は、音叉１１１の振動の大きさと、検出抵抗１１３、アンプ１１４の増幅率、測定対象１０２への印加電圧の大きさが関係しているが、所定の電圧Ｖｈ１を印加している状況下では、変動要因の大半はプローブ１１０内に収まっている。そして、所定電圧Ｖｈ１時の検出信号振幅Ｖａは、電位センサ１０１としての応答時間に大きく影響し、振幅Ｖａが低下するということは、応答時間が遅くなり十分な性能が得られないことを意味している。   The amplitude of the output signal of the amplifier 114 is related to the magnitude of the vibration of the tuning fork 111, the detection resistor 113, the amplification factor of the amplifier 114, and the magnitude of the voltage applied to the measurement object 102. The predetermined voltage Vh1 is applied. Under the circumstances, most of the fluctuation factors are within the probe 110. The detection signal amplitude Va at the predetermined voltage Vh1 greatly affects the response time as the potential sensor 101, and the decrease in the amplitude Va means that the response time is delayed and sufficient performance cannot be obtained. ing.

図５は、図１におけるプローブ１１０の出力信号の例を示す図である（２）。   FIG. 5 is a diagram illustrating an example of an output signal of the probe 110 in FIG. 1 (2).

図５中、符号５−１が電位センサ１０１としての応答時間規定を守るために必要な最小振幅（Ｖｂ１）時の出力信号であり、符号５−３が正常動作で想定される最大振幅（Ｖｂ２）時の出力信号であり、符号５−２が測定結果Ｖａの出力信号である。   In FIG. 5, reference numeral 5-1 is an output signal at the minimum amplitude (Vb1) necessary for complying with the response time regulation as the potential sensor 101, and reference numeral 5-3 is the maximum amplitude (Vb2) assumed in normal operation. ), And reference numeral 5-2 is an output signal of the measurement result Va.

Ｖａは、Ｖｂ１以下でもＶｂ２以上でも異常と判断される。よって、Ｓ３０６で所定の範囲に収まっていなければ、プローブ１１０が異常と判断される（Ｓ３１０）。そして、上記同様、コントローラ１０３は、「電位センサ１０１のプローブ１１０が異常であること」を操作表示部２０１に表示する（Ｓ３０８）。そしてチェックモードは終了となる。   Va is determined to be abnormal regardless of whether it is Vb1 or less or Vb2 or more. Therefore, if it is not within the predetermined range in S306, it is determined that the probe 110 is abnormal (S310). Similarly to the above, the controller 103 displays “the probe 110 of the potential sensor 101 is abnormal” on the operation display unit 201 (S308). Then, the check mode ends.

Ｓ３０６で所定の範囲に収まっていれば、コントローラ１０３は、制御部１２０側に異常があると判断する（Ｓ３０７）。そして、コントローラ１０３は、「制御部１２０が異常であること」を操作表示部２０１に表示する（Ｓ３０８）。そしてチェックモードは終了となる。   If it is within the predetermined range in S306, the controller 103 determines that there is an abnormality on the control unit 120 side (S307). Then, the controller 103 displays “the control unit 120 is abnormal” on the operation display unit 201 (S308). Then, the check mode ends.

このチェックモードにより、電位センサ１０１に異常がないか否かの確認を行うことができ、さらに異常があった場合は、故障箇所の特定を特定し、操作表示部２０１を有する場合は、故障箇所を表示することが可能となる。   With this check mode, it can be confirmed whether or not there is an abnormality in the potential sensor 101. If there is an abnormality, the failure location is specified, and if the operation display unit 201 is provided, the failure location is identified. Can be displayed.

以上説明した様に、定期的に上記チェックモードを実行することで、常に電位センサ１０１の性能が満たされていることが確認可能となるため、測定対象１０２の表面電位測定の測定品質が維持される。   As described above, by periodically executing the check mode, it is possible to confirm that the performance of the potential sensor 101 is always satisfied, so that the measurement quality of the surface potential measurement of the measurement object 102 is maintained. The

また、それと共に、オフセット調整や測定精度確認の際に結果に異常があり、電位センサ１０１の故障が考えられる場合には、その故障箇所を特定することが可能となり、故障箇所のみを交換することで機能を復帰させることができる。   At the same time, if there is an abnormality in the result of offset adjustment or confirmation of measurement accuracy and the potential sensor 101 is considered to be faulty, it becomes possible to identify the faulty part and replace only the faulty part. Can restore the function.

図６は、本発明の実施の形態に係る画像形成装置の作像系の構成を示すブロック図、図７は、図６の画像形成装置の接続状態を示すブロック図である。   6 is a block diagram showing a configuration of an image forming system of the image forming apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a block diagram showing a connection state of the image forming apparatus of FIG.

図６において、像担持体としての感光体６０２の周囲には、帯電装置６０４、露光装置６０５、電位センサ１０１、現像器６０６、回転検出センサ６０８が配置される。感光体６０２は、感光体駆動モータ６０７により駆動される。   In FIG. 6, a charging device 604, an exposure device 605, a potential sensor 101, a developing device 606, and a rotation detection sensor 608 are arranged around a photoconductor 602 as an image carrier. The photoconductor 602 is driven by a photoconductor drive motor 607.

図７に示すように、コントローラ６０３は、帯電装置６０４、露光装置６０５、感光体駆動モータ６０７、電位センサ１０１、回転検出センサ６０８、操作表示部６０９、さらには、ネットワーク接続部６１０等、装置内の様々な装置、センサ等と通信する。そして、それらを制御可能な構成になっている。   As shown in FIG. 7, the controller 603 includes a charging device 604, an exposure device 605, a photoconductor drive motor 607, a potential sensor 101, a rotation detection sensor 608, an operation display unit 609, and a network connection unit 610. Communicate with various devices, sensors, etc. And it is the structure which can control them.

電位センサ１０１の構成は、図１で説明した構成と同様であり、コントローラ６０３と電位センサ１０１の関係も、図１で説明したコントローラ１０３と電位センサ１０１との構成と同様である。   The configuration of the potential sensor 101 is the same as the configuration described in FIG. 1, and the relationship between the controller 603 and the potential sensor 101 is also the same as the configuration of the controller 103 and the potential sensor 101 described in FIG.

図６の画像形成装置は、画像形成の際、感光体駆動モータ６０７により感光体６０２が回転動作を開始し、帯電装置６０４によって感光体６０２が一様に帯電された後、画像信号に応じた露光が露光装置６０５によってなされる。このことにより、感光体６０２上に静電潜像が形成される。電位センサ１０１は、静電潜像の電位を測定するために、露光−現像間に設けられている。   In the image forming apparatus of FIG. 6, during image formation, the photosensitive member 602 starts rotating by the photosensitive member driving motor 607, and after the photosensitive member 602 is uniformly charged by the charging device 604, the image forming device responds to the image signal. Exposure is performed by the exposure device 605. As a result, an electrostatic latent image is formed on the photoreceptor 602. The potential sensor 101 is provided between exposure and development in order to measure the potential of the electrostatic latent image.

静電潜像は、現像器６０６によってトナー像に現像され、感光体６０２上のトナー像は、図示しない記録材（用紙）に転写され、さらに用紙上のトナー像は図示しない定着部によって定着されることで出力物を得る。   The electrostatic latent image is developed into a toner image by the developing device 606, the toner image on the photoreceptor 602 is transferred to a recording material (paper) (not shown), and the toner image on the paper is fixed by a fixing unit (not shown). To get the output.

図６の画像形成装置においては、画像品質を安定化させるため、画像形成パラメータの調整モードを有している。そして、環境条件（温度、湿度）の変化や、感光体６０２の膜厚変化、さらには経時劣化等があっても常に安定した画質を維持するために、定期的に調整モードが実施されている。   The image forming apparatus shown in FIG. 6 has an image forming parameter adjustment mode in order to stabilize the image quality. In order to always maintain stable image quality even when there are changes in environmental conditions (temperature, humidity), changes in the film thickness of the photoconductor 602, deterioration over time, etc., an adjustment mode is regularly implemented. .

例えば、感光体６０２を帯電させる帯電装置６０４の出力電圧や、現像器６０６に印加する高圧に関しては、以下の様にして決定している。即ち、帯電装置６０４により感光体６０２上に予め決められた電位パターンを形成し、その感光体６０２の表面電位を電位センサ１０１にて測定し、所望（所定）の帯電電位になるように帯電装置６０４の出力値を補正する。さらに、その補正結果に基づき現像器６０６に印加する高圧電圧を決定している。   For example, the output voltage of the charging device 604 for charging the photosensitive member 602 and the high voltage applied to the developing device 606 are determined as follows. That is, a predetermined potential pattern is formed on the photoconductor 602 by the charging device 604, the surface potential of the photoconductor 602 is measured by the potential sensor 101, and the charging device is set to a desired (predetermined) charging potential. The output value of 604 is corrected. Further, the high voltage applied to the developing device 606 is determined based on the correction result.

そして、この調整モードは、朝一番で電源を投入した際や、所定の画像形成枚数毎、さらには所定時間経過毎、または装置内の温度が所定値以上変化した場合等、様々な場合に実行される。   This adjustment mode is executed in various cases such as when the power is turned on the first day in the morning, every predetermined number of image formations, every elapse of a predetermined time, or when the temperature in the apparatus changes by a predetermined value or more. Is done.

尚、上記の調整モードの様に、電位センサ１０１で感光体６０２の表面電位を測定する場合は、予め測定結果がどの位になるかが予測できており、この調整モードでは測定結果がある値を外れた場合は何らかの異常が発生していると言う基準値が存在する。   Note that when the surface potential of the photoconductor 602 is measured by the potential sensor 101 as in the above adjustment mode, it is possible to predict in advance how much the measurement result will be. In this adjustment mode, the measurement result has a certain value. There is a reference value indicating that some abnormality has occurred.

例えば、帯電装置６０４で感光体６０２を−５００Ｖに帯電させる様な出力を印加した場合、正常に動作している場合は、電位センサ１０１での測定結果が、−３５０Ｖ〜−６５０Ｖ位に収まるはずである。この値を外れる様な場合は、何らかの異常が発生していることになる。   For example, when an output that charges the photosensitive member 602 to −500 V is applied by the charging device 604, and the device operates normally, the measurement result of the potential sensor 101 should be within the range of −350 V to −650 V. It is. If it deviates from this value, some abnormality has occurred.

そのため、電位センサ１０１を用いて行われる、オフセット調整や帯電部電位測定、また、露光部電位測定においては、予め決められた測定範囲に収まらなかった場合は、電位測定エラーとしてエラー処理されることになっている。   For this reason, in offset adjustment, charged portion potential measurement, and exposure portion potential measurement performed using the potential sensor 101, an error is processed as a potential measurement error if it does not fall within a predetermined measurement range. It has become.

オフセット調整は、感光体６０２を除電した状態で、電位測定系のオフセットを調整することを指す。帯電部電位測定は、帯電装置６０４で感光体６０２を帯電させた電位を測定することを指す。また、露光部電位測定は、帯電した感光体６０２を露光装置６０５で露光した後の電位を測定）することを指す。   The offset adjustment refers to adjusting the offset of the potential measurement system in a state where the photoconductor 602 is neutralized. The charged portion potential measurement refers to measuring a potential obtained by charging the photosensitive member 602 with the charging device 604. Further, the measurement of the potential of the exposed portion refers to the measurement of the potential after the charged photoconductor 602 is exposed by the exposure device 605.

但し、電位測定結果が所定の範囲に収まらない原因は複数存在するために、この電位測定エラーになった場合に、その原因を特定する故障箇所チェックモードが実行される。   However, since there are a plurality of causes that the potential measurement result does not fall within the predetermined range, when this potential measurement error occurs, a failure location check mode for identifying the cause is executed.

図８は、図６の画像形成装置によって実行される故障箇所チェック処理の手順を示すフローチャートである。   FIG. 8 is a flowchart showing a procedure of failure location check processing executed by the image forming apparatus of FIG.

本処理は、図６における故障検出手段としてのコントローラ６０３の制御の下に実行される。各処理ステップには符号Ｓを付す。   This process is executed under the control of the controller 603 as failure detection means in FIG. Each processing step is denoted by a symbol S.

上記の様に、各種調整モードで電位センサ１０１での電位測定の結果が、予め決められた測定範囲に収まらなかった場合は、電位測定エラーとして故障箇所チェックモード（チェック処理）が実行される。   As described above, when the result of the potential measurement by the potential sensor 101 in the various adjustment modes does not fall within the predetermined measurement range, the failure location check mode (check process) is executed as a potential measurement error.

まず、コントローラ６０３は、帯電装置６０４の出力が正常か確認する（Ｓ８０１）。コントローラ６０３は、帯電装置６０４に所定の電圧Ｖｈ２を出力するようにコントロール信号を出力する。そして、帯電装置６０４は出力した高電圧に応じた信号値をコントローラ６０３に出力し、これにより、コントローラ６０３は、所望の出力がなされているか確認する。   First, the controller 603 checks whether the output of the charging device 604 is normal (S801). The controller 603 outputs a control signal so as to output a predetermined voltage Vh2 to the charging device 604. Then, the charging device 604 outputs a signal value corresponding to the output high voltage to the controller 603, whereby the controller 603 confirms whether a desired output is being made.

所望の出力がなされていない場合は、コントローラ６０３は、帯電装置６０４の異常と判断する（Ｓ８１１）。   If the desired output has not been made, the controller 603 determines that the charging device 604 is abnormal (S811).

そして、チェックモードのチェック結果である「帯電装置６０４が異常であること」を操作表示部６０９に表示する。さらに、本画像形成装置がネットワークに接続されている場合には、コントローラ６０３は、ネットワークを介してＰＣ等に異常箇所を通知することができる（Ｓ８１０）。そしてチェックモードは終了となる。   Then, “the charging device 604 is abnormal”, which is the check result of the check mode, is displayed on the operation display unit 609. Further, when the image forming apparatus is connected to the network, the controller 603 can notify the PC or the like of the abnormal location via the network (S810). Then, the check mode ends.

帯電装置６０４に所望の出力がなされている場合は、次に、コントローラ６０３は、露光装置６０５の出力が正常か確認する（Ｓ８０２）。露光装置６０５は、感光体６０２をその回転方向と垂直方向に走査している。そこで、その光路の途中でかつ、感光体６０２への画像形成に影響のない箇所に光センサを設け、正常に発光しているかどうか確認する。   If the desired output is made to the charging device 604, the controller 603 confirms whether the output of the exposure device 605 is normal (S802). The exposure device 605 scans the photoconductor 602 in a direction perpendicular to the rotation direction. Therefore, an optical sensor is provided in the middle of the optical path and at a position where the image formation on the photoconductor 602 is not affected, and it is confirmed whether or not the light is normally emitted.

露光装置６０５の発光が行われていない場合は、コントローラ６０３は、露光装置６０５の異常と判断する（Ｓ８１２）。   If the exposure apparatus 605 is not emitting light, the controller 603 determines that the exposure apparatus 605 is abnormal (S812).

そして、上記同様、コントローラ６０３は、「露光装置６０５が異常であること」を操作表示部６０９に表示する。さらに、本画像形成装置がネットワークに接続されている場合には、コントローラ６０３は、ネットワークを介してＰＣ等に異常箇所を通知することができる（Ｓ８１０）。そしてチェックモードは終了となる。   Similarly to the above, the controller 603 displays “the exposure apparatus 605 is abnormal” on the operation display unit 609. Further, when the image forming apparatus is connected to the network, the controller 603 can notify the PC or the like of the abnormal location via the network (S810). Then, the check mode ends.

露光装置６０５の発光が正常に行われている場合は、次に、コントローラ６０３は、感光体６０２の回転動作が正常か確認する（Ｓ８０３）。感光体６０２は、感光体駆動モータ６０７により回転動作を行う。   If the exposure device 605 is emitting light normally, then the controller 603 checks whether the rotation operation of the photoconductor 602 is normal (S803). The photoconductor 602 is rotated by a photoconductor drive motor 607.

しかし、感光体駆動モータ６０７自身が故障していたり、駆動力を伝達する、軸、ベルト、ギア等に異常があった場合も感光体６０２が正常回転しないことになる。この場合、電位センサ１０１の対向部に感光体６０２の帯電された箇所が回って来ずに電位測定の測定値が所定の値を外れてしまう。そこで、感光体６０２を回転させて、実際に感光体６０２の回転を回転検出センサ６０８で検出することで確認を行う。   However, the photoconductor 602 does not rotate normally even when the photoconductor drive motor 607 itself fails or when there is an abnormality in the shaft, belt, gear, etc. that transmits the driving force. In this case, the charged portion of the photoconductor 602 does not come to the opposite portion of the potential sensor 101, and the measured value of the potential measurement deviates from a predetermined value. Therefore, the photosensitive member 602 is rotated, and the rotation of the photosensitive member 602 is actually detected by the rotation detection sensor 608 for confirmation.

回転検出センサ６０８には色々な構成が考えられる。感光体６０２の表面に形成したパターンをフォトセンサで検出しても良いし、感光体６０２の端部に形成した突起がフォトセンサの間を通過することで回転信号を形成しても良い。   Various configurations are conceivable for the rotation detection sensor 608. A pattern formed on the surface of the photoconductor 602 may be detected by a photosensor, or a rotation signal may be formed by a protrusion formed on the end of the photoconductor 602 passing between the photosensors.

そして、感光体６０２が正常に回転していない場合は、コントローラ６０３は、感光体６０２の駆動系に異常があると判断する（Ｓ８１３）。   If the photoconductor 602 does not rotate normally, the controller 603 determines that there is an abnormality in the drive system of the photoconductor 602 (S813).

そして、上記同様、コントローラ６０３は、「感光体６０２の駆動系が異常であること」を操作表示部６０９に表示する。さらに、本画像形成装置がネットワークに接続されている場合には、コントローラ６０３は、ネットワークを介してＰＣ等に異常箇所を通知することができる（Ｓ８１０）。そしてチェックモードは終了となる。   Similarly to the above, the controller 603 displays “the drive system of the photoconductor 602 is abnormal” on the operation display unit 609. Further, when the image forming apparatus is connected to the network, the controller 603 can notify the PC or the like of the abnormal location via the network (S810). Then, the check mode ends.

感光体６０２の回転動作が正常に行われている場合は、次に、コントローラ６０３は、電位センサ１０１が正常動作しているか確認する。   If the rotating operation of the photoconductor 602 is normally performed, the controller 603 confirms whether the potential sensor 101 is operating normally.

まずは、コントローラ６０３は、制御部１２０をオープンループモードに切り替える。切り替えは、図３で説明したと同様に、コントローラ６０３から切り替え信号が出力され、プローブ１１０の基準電位をグランド電位に固定する（Ｓ８０４）。   First, the controller 603 switches the control unit 120 to the open loop mode. In the same way as described with reference to FIG. 3, a switching signal is output from the controller 603 to fix the reference potential of the probe 110 to the ground potential (S804).

次に、コントローラ６０３は、感光体６０２に所定の電位Ｖｈ１（例５００Ｖ）を印加し（所定の電位Ｖｈ１に設定し）（Ｓ８０５）、オープンループの状態でプローブ１１０内のアンプ１１４の出力をチェックする（Ｓ８０６）。   Next, the controller 603 applies a predetermined potential Vh1 (eg, 500 V) to the photoconductor 602 (sets the predetermined potential Vh1) (S805), and checks the output of the amplifier 114 in the probe 110 in an open loop state. (S806).

まずは、コントローラ６０３は、周波数を確認し、周波数が所定の範囲、ｆｂ１（例４６０Ｈｚ） ≦ ｆａ ≦ ｆｂ２ （例５４０Ｈｚ）かどうか確認する（Ｓ８０７）。   First, the controller 603 confirms the frequency, and confirms whether the frequency is within a predetermined range, fb1 (eg, 460 Hz) ≦ fa ≦ fb2 (eg, 540 Hz) (S807).

アンプ１１４の出力信号周波数は、音叉１１１の振動周波数の正弦波信号である。音叉１１１が正常に振動していれば、音叉１１１の形状で決定される共振周波数で振動しており、部品のばらつき等を考慮しても基準値の±数十Ｈｚに入る。よって、Ｓ８０７で所定の範囲に収まっていなければ、コントローラ６０３は、電位センサ１０１のプローブ１１０が異常と判断する（Ｓ８１４）。   The output signal frequency of the amplifier 114 is a sine wave signal having the vibration frequency of the tuning fork 111. If the tuning fork 111 vibrates normally, the tuning fork 111 vibrates at a resonance frequency determined by the shape of the tuning fork 111, and falls within a reference value of ± several tens of Hz even if variations in parts are taken into consideration. Therefore, if not within the predetermined range in S807, the controller 603 determines that the probe 110 of the potential sensor 101 is abnormal (S814).

そして、上記同様、コントローラ６０３は、「電位センサ１０１のプローブ１１０が異常であること」を操作表示部６０９に表示する。さらに、本画像形成装置がネットワークに接続されている場合には、コントローラ６０３は、ネットワークを介してＰＣ等に異常箇所を通知することができる（Ｓ８１０）。そしてチェックモードは終了となる。   Similarly to the above, the controller 603 displays “the probe 110 of the potential sensor 101 is abnormal” on the operation display unit 609. Further, when the image forming apparatus is connected to the network, the controller 603 can notify the PC or the like of the abnormal location via the network (S810). Then, the check mode ends.

Ｓ８０７で所定の範囲に収まっていれば、次は、コントローラ６０３は、振幅Ｖａが所定の振幅範囲、Ｖｂ１（例１０ｍＶ） ≦ Ｖａ ≦ Ｖｂ２ （例３０ｍＶ） かどうか確認する（Ｓ８０８）。   If it is within the predetermined range in S807, the controller 603 next checks whether or not the amplitude Va is a predetermined amplitude range, Vb1 (example 10 mV) ≦ Va ≦ Vb2 (example 30 mV) (S808).

アンプ１１４の出力信号振幅は、音叉１１１の振動の大きさと、検出抵抗１１３、アンプ１１４の増幅率、測定対象１０２への印加電圧の大きさが関係しているが、所定の電圧Ｖｈ１を印加している状況下では、変動要因の大半はプローブ１１０内に収まっている。そして、所定電圧Ｖｈ１時の検出信号振幅Ｖａは、電位センサ１０１としての応答時間に大きく影響し、振幅Ｖａが低下するということは、応答時間が遅くなり十分な性能が得られないことを意味している。   The amplitude of the output signal of the amplifier 114 is related to the magnitude of the vibration of the tuning fork 111, the detection resistor 113, the amplification factor of the amplifier 114, and the magnitude of the voltage applied to the measurement object 102. The predetermined voltage Vh1 is applied. Under the circumstances, most of the fluctuation factors are within the probe 110. The detection signal amplitude Va at the predetermined voltage Vh1 greatly affects the response time as the potential sensor 101, and the decrease in the amplitude Va means that the response time is delayed and sufficient performance cannot be obtained. ing.

よって、Ｓ８０８で所定の範囲に収まっていなければ、コントローラ６０３は、電位センサ１０１のプローブ１１０が異常と判断する（Ｓ８１４）。   Therefore, if not within the predetermined range in S808, the controller 603 determines that the probe 110 of the potential sensor 101 is abnormal (S814).

そして、上記同様、コントローラ６０３は、「電位センサ１０１のプローブ１１０が異常であること」を操作表示部６０９に表示する。さらに、本画像形成装置がネットワークに接続されている場合には、コントローラ６０３は、ネットワークを介してＰＣ等に異常箇所を通知することができる（Ｓ８１０）。そしてチェックモードは終了となる。   Similarly to the above, the controller 603 displays “the probe 110 of the potential sensor 101 is abnormal” on the operation display unit 609. Further, when the image forming apparatus is connected to the network, the controller 603 can notify the PC or the like of the abnormal location via the network (S810). Then, the check mode ends.

Ｓ８０８で所定の範囲に収まっていれば、コントローラ６０３は、制御部１２０側に異常があると判断する（Ｓ８０９）。   If it is within the predetermined range in S808, the controller 603 determines that there is an abnormality on the control unit 120 side (S809).

そして、コントローラ６０３は、「制御部１２０が異常であること」を操作表示部６０９に表示する。さらに、本画像形成装置がネットワークに接続されている場合には、コントローラ６０３は、ネットワークを介してＰＣ等に異常箇所を通知することができる（Ｓ８１０）。そして故障箇所チェックモードは終了となる。   Then, the controller 603 displays “the control unit 120 is abnormal” on the operation display unit 609. Further, when the image forming apparatus is connected to the network, the controller 603 can notify the PC or the like of the abnormal location via the network (S810). Then, the failure location check mode ends.

この故障箇所チェックモードにより、電位センサ１０１を用いて行われる、オフセット調整や帯電部電位測定、露光部電位測定において、予め決められた測定範囲に収まらなかった場合に、電位測定結果が所定の範囲に収まらない原因を特定することが可能となる。   In this fault location check mode, when the offset adjustment, the charged portion potential measurement, and the exposed portion potential measurement performed using the potential sensor 101 are not within the predetermined measurement range, the potential measurement result is within a predetermined range. It is possible to identify a cause that does not fit in

これにより、故障箇所にのみ適切な対応をすることで装置としての機能を回復することが可能となる。   As a result, it is possible to restore the function of the device by appropriately dealing only with the failure location.

図９は、図６における操作表示部６０９のエラー表示内容の一例を示す図、図１０は、図９の操作表示部６０９のエラー表示内容とエラーコードの対応図表、図１１は、図６の画像形成装置のネットワーク構成図である。   9 is a diagram showing an example of error display contents of the operation display unit 609 in FIG. 6, FIG. 10 is a correspondence table between error display contents and error codes of the operation display unit 609 in FIG. 9, and FIG. 11 is a diagram of FIG. 1 is a network configuration diagram of an image forming apparatus.

図１０のエラーコード「エラー００３」の内容は、「感光体駆動異常」であり、図９の操作表示部６０９には、この内容が表示されている。   The content of the error code “error 003” in FIG. 10 is “photoconductor drive abnormality”, and this content is displayed on the operation display unit 609 in FIG.

また、本画像形成装置Ａ１１０１が図１１に示す様に、ネットワークに接続されている場合は、ネットワークを介して管理ＰＣ１１０２等に特定した異常箇所を通知することもできる。   Further, when the image forming apparatus A 1101 is connected to a network as shown in FIG. 11, the specified abnormal location can be notified to the management PC 1102 or the like via the network.

例えば、管理ＰＣ１１０２が本画像形成装置Ａ１１０１のメンテナンスを実施している部門のＰＣであれば、特定した故障箇所を通知すると共に、その通知に基づき、交換部品の発注を行うことで、装置の故障に対して、より迅速に対応することが可能となる。   For example, if the management PC 1102 is a departmental PC that performs maintenance of the image forming apparatus A 1101, the failure of the apparatus is notified by notifying the specified failure location and placing an order for replacement parts based on the notification. Can be dealt with more quickly.

本発明の実施の形態に係る表面電位測定装置の詳細ブロック図である。1 is a detailed block diagram of a surface potential measuring device according to an embodiment of the present invention. 図１の表面電位測定装置に操作表示部が接続された状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the operation display part was connected to the surface potential measuring apparatus of FIG. 図１の表面電位測定装置によって実行される電位センサ１０１の故障チェック処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the failure check process of the electric potential sensor 101 performed by the surface electric potential measuring apparatus of FIG. 図１におけるプローブ１１０の出力信号の例を示す図である（１）。It is a figure which shows the example of the output signal of the probe 110 in FIG. 1 (1). 図１におけるプローブ１１０の出力信号の例を示す図である（２）。It is a figure which shows the example of the output signal of the probe 110 in FIG. 1 (2). 本発明の実施の形態に係る画像形成装置の作像系の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating a configuration of an image forming system of an image forming apparatus according to an embodiment of the present invention. 図６の画像形成装置の接続状態を示すブロック図である。FIG. 7 is a block diagram illustrating a connection state of the image forming apparatus in FIG. 6. 図６の画像形成装置によって実行される故障箇所チェック処理の手順を示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart illustrating a procedure of a fault location check process executed by the image forming apparatus in FIG. 6. FIG. 図６における操作表示部６０９のエラー表示内容の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the error display content of the operation display part 609 in FIG. 図９の操作表示部６０９のエラー表示内容とエラーコードの対応図表である。10 is a correspondence chart between error display contents and error codes in the operation display unit 609 in FIG. 9. 図６の画像形成装置のネットワーク構成図である。FIG. 7 is a network configuration diagram of the image forming apparatus in FIG. 6. 従来例に係る表面電位測定装置の簡略ブロック図である。It is a simplified block diagram of a surface potential measuring apparatus according to a conventional example. 図１２の表面電位測定装置の詳細ブロック図である。FIG. 13 is a detailed block diagram of the surface potential measuring device of FIG. 12. 図１３における制御部１２０の出力である出力信号と測定電位との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the output signal which is an output of the control part 120 in FIG. 13, and measured potential. 図１３における電位センサ１０１の異常時の出力信号を示す図である。It is a figure which shows the output signal at the time of abnormality of the electric potential sensor 101 in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

１０１ 電位センサ
１０２ 測定対象
１０３ コントローラ
１０４ 高圧電源
１１０ プローブ
１２０ 制御部
２０１ 操作表示部
６０２ 感光体
６０３ コントローラ
６０４ 帯電装置
６０５ 露光装置
６０６ 現像器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Potential sensor 102 Measurement object 103 Controller 104 High voltage power supply 110 Probe 120 Control part 201 Operation display part 602 Photoconductor 603 Controller 604 Charging device 605 Exposure device 606 Developer

Claims (9)

測定対象の表面電位に応じた信号を出力するプローブと、前記プローブを制御する制御部とで構成された表面電位測定手段と、
前記表面電位測定手段が故障した際に、前記プローブの出力信号に基づき、前記プローブと前記制御部のどちらが故障したかを検出する故障検出手段と、
を有することを特徴とする表面電位測定装置。 A surface potential measuring means comprising a probe that outputs a signal corresponding to the surface potential of the measurement object, and a control unit that controls the probe;
When the surface potential measuring means fails, based on the output signal of the probe, failure detecting means for detecting which of the probe and the control unit has failed,
A surface potential measuring device comprising: 前記測定対象に電圧を印加する高圧電源を更に有し、
前記故障検出手段は、前記高圧電源により所定の電圧が印加された前記測定対象の表面電位を前記表面電位測定手段で測定した際に、その測定結果が予め決められた所定の範囲に収まらなかった場合に前記表面電位測定手段の故障と判断することを特徴とする請求項１記載の表面電位測定装置。 A high-voltage power supply for applying a voltage to the measurement object;
When the surface potential measurement unit measures the surface potential of the measurement target to which a predetermined voltage is applied by the high-voltage power source, the measurement result does not fall within a predetermined range. 2. The surface potential measuring apparatus according to claim 1, wherein the surface potential measuring means is determined to be a failure. 前記故障検出手段は、前記プローブから出力される信号の振幅、周波数のいずれか、または両方に基づき、前記プローブと前記制御部のどちらが故障したかを検出することを特徴とする請求項１または２記載の表面電位測定装置。   3. The failure detection unit detects which of the probe and the control unit has failed based on either or both of an amplitude and a frequency of a signal output from the probe. The surface potential measuring device described. 前記故障検出手段により検出された故障箇所を表示する表示手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の表面電位測定装置。   4. The surface potential measuring apparatus according to claim 1, further comprising display means for displaying a failure location detected by the failure detection means. 表面に静電潜像が形成される像担持体と、
前記像担持体の表面電位に応じた信号を出力するプローブと、前記プローブを制御する制御部とで構成された表面電位測定手段と、
前記表面電位測定手段が故障した際に、前記プローブの出力信号に基づき、前記プローブと前記制御部のどちらが故障したかを検出する故障検出手段と、
を有することを特徴とする画像形成装置。 An image carrier on which an electrostatic latent image is formed on the surface;
A surface potential measuring means comprising a probe that outputs a signal corresponding to the surface potential of the image carrier, and a control unit that controls the probe;
When the surface potential measuring means fails, based on the output signal of the probe, failure detecting means for detecting which of the probe and the control unit has failed,
An image forming apparatus comprising: 前記像担持体を帯電させる帯電手段を有し、
前記故障検出手段は、前記帯電手段により所定の電位に帯電された前記像担持体の表面電位を前記表面電位測定手段で測定した際に、その測定結果が所定の範囲に収まらなかった場合に前記表面電位測定手段の故障と判断し、前記プローブの出力信号に基づき、前記プローブと前記制御部のどちらが故障したかを検出することを特徴とする請求項５記載の画像形成装置。 Having charging means for charging the image carrier,
The failure detection means, when measuring the surface potential of the image carrier charged to a predetermined potential by the charging means with the surface potential measurement means, if the measurement result is not within a predetermined range, 6. The image forming apparatus according to claim 5, wherein it is determined that the surface potential measuring unit is faulty, and based on an output signal of the probe, it is detected which of the probe and the control unit is faulty. 前記故障検出手段は、前記プローブから出力される信号の振幅、周波数のいずれか、または両方に基づき、前記プローブと前記制御部のどちらが故障したかを検出することを特徴とする請求項５または６記載の画像形成装置。   The failure detection means detects which of the probe and the control unit has failed based on either or both of an amplitude and a frequency of a signal output from the probe. The image forming apparatus described. 前記故障検出手段により検出された故障箇所を表示する表示手段を更に有することを特徴とする請求項５乃至７のいずれかに記載の表面電位測定装置。   The surface potential measuring apparatus according to claim 5, further comprising a display unit that displays a failure location detected by the failure detection unit. 前記故障検出手段により検出された故障箇所をネットワークを介して通知するネットワーク接続手段を更に有することを特徴とする請求項５乃至８のいずれかに記載の画像形成装置。   9. The image forming apparatus according to claim 5, further comprising network connection means for notifying a failure location detected by the failure detection means via a network.
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