JP2010078569A - Potential measuring device and image forming device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電位測定装置、さらには、特に像担持体の表面電位を検出する表面電位検知手段を有する画像形成装置に関する。 The present invention relates to a potential measuring apparatus, and more particularly to an image forming apparatus having surface potential detecting means for detecting the surface potential of an image carrier.
図11に従来の電位センサー及びその制御部の概略構成図を示す。 FIG. 11 shows a schematic configuration diagram of a conventional potential sensor and its control unit.
図11において、符号8が電位センサーで8あり、符号107が電位センサー制御部である。
In FIG. 11,
電位センサー8は、音叉型振動子8e、音叉型振動子8eの両アームに配設された圧電素子8a、8b(図11の場合、圧電素子8bが音叉型振動子8eを振動させる為の駆動用圧電素子8bであり、圧電素子8aが音叉型振動子8eの振動を検出する為の検出用圧電素子8aである)、測定電極8f、検出回路8gで構成されている。
The
一方、電位センサー制御部107は、制御部107a、高圧電源107b、検出出力信号生成部107c、駆動回路107d、増幅回路107eで構成されている。なお、図11中、1は感光ドラム1である。
On the other hand, the potential
図11の動作について説明する。 The operation of FIG. 11 will be described.
外部より入力されるリモート信号がONの状態になると、電位センサー8及び電位センサー制御部107の動作が開始される。まず、駆動回路107dが圧電素子8bに駆動信号を入力する。すると、音叉型振動子8eが振動を開始し、その先端部が左右それぞれ、8c、8dの矢印方向に振動する。音叉型振動子8eが振動を開始すると、圧電素子8aは、その振動を電気信号に変換し振動検出信号として出力する。駆動回路107dは駆動信号と振動検出信号の位相差が所定の値になる様に駆動信号の周波数を制御する。これにより音叉型振動子8eは共振状態で振動を継続する。一方、音叉型振動子8eが振動する事で、測定電極8fと感光ドラム1間の静電容量が周期的に変化し、これにより測定電極8fの電荷量が変化し、この電荷量の変化を検出回路8gで電圧に変換する事で、感光ドラム1と測定電極8f間の電位差に比例した交流電圧信号を得る事が出来る。
When a remote signal input from the outside is turned on, the operation of the
なお、電位センサー8を構成する各部は後述する高圧電源107bの出力(図11中H点)を基準電位として動作している。
Each part constituting the
そして、制御部107aにおいては、検出回路8gからの出力である交流検出信号を増幅回路107eで増幅して制御部107aへ入力し、制御部107aにおいては、この増幅された交流検出信号の振幅がゼロとなる様に、高圧電源107bの出力を制御している。
In the
ここで、交流検出信号の振幅がゼロと言う状態は、音叉型振動子8eが振動し、測定電極8fと感光ドラム1間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、測定電極8fの電荷量が変化しない状態であり、この状態は、感光ドラム1の表面電位と測定電極8fの電位、つまり感光ドラム1の表面電位と高圧発生部107bの出力が同電位である事を意味している。これにより、感光ドラム1の表面電位を得る事が出来る。(ゼロメソッド)
電位センサー制御部107は、この時の高圧発生部107bの出力を検出出力信号生成部107cで、例えば図12に示す様な関係で変換し出力している。
Here, when the amplitude of the AC detection signal is zero, the tuning fork vibrator 8e vibrates, and the capacitance between the measurement electrode 8f and the
The potential
図12の場合、図11中のH点の電位(感光ドラム1を測定した結果)が、+50Vの時に検出出力信号生成部107cの出力が0Vであり、H点の電位が、-900Vの時に検出出力信号生成部107cの出力が3.3Vになる様な、測定結果と検出出力信号生成部107cの出力とがリニアな関係になっている。
In the case of FIG. 12, when the potential at point H in FIG. 11 (measurement result of the photosensitive drum 1) is + 50V, the output of the detection output
ここで、図11中、電位センサー8の測定対象である、感光ドラム1の表面電位変動と、図11中、B点、C点各部の波形との関係を図13に示す。
Here, FIG. 13 shows the relationship between the surface potential fluctuation of the
図13における、波形13-1が測定対象である感光ドラム1の表面電位の変動例であり、ここでは、-100Vから-600Vに変動した場合の例である。この感光ドラムの表面電位変動に応じて、電位センサー制御部107の出力は、波形13-2 C点波形の様にある応答時間をもって変化する。
A waveform 13-1 in FIG. 13 is a variation example of the surface potential of the
その際、電位センサー制御部107のB点においては、波形13-3に示す様、高圧電源107bの出力であるH点の電位(電位センサーの基準電位)と感光ドラム1の表面電位との電位差に応じた交流検出信号が生成されている。なおこのB点における交流検出信号の周波数は音叉型振動子8eの振動周波数であり、交流検出信号の振幅には音叉型振動子8eの振動振幅の大きさが関係している。
At that time, at the point B of the potential
図13において、感光ドラム1の表面電位が変動し、B点における交流検出信号の振幅がゼロになるまでの時間が電位センサー8としての応答時間であり、電位センサー8が初期の状態での応答時間は図13中、初期応答時間t1となる。
In FIG. 13, the time until the surface potential of the
この応答時間には、交流検出信号の振幅が大きく関係しており、電位センサー8が劣化し、その振動振幅が低下すると、波形13-3初期値でV1だった交流検出信号の振幅が、波形13-4劣化後のV2の様に低下し、結果として電位センサー8の応答時間が、t1からt2へと遅くなってしまう。
This response time is greatly related to the amplitude of the AC detection signal.If the
この応答時間の変化に対し、従来は、電位センサーの寿命と判断し、音、光によって交換を促したり、また、実際に電位測定をする際の測定時間を延長し応答時間が遅くなっても正確な電位が測定可能な対応をしたりしている。
しかしながら、近年、画像形成装置の高速化や高画質化、さらには画像形成動作中の記録紙と記録紙の間で電位測定を行ったりと、電位センサーにも高速応答性、応答時間安定性が要求されている。 However, in recent years, image sensors have high speed, high image quality, and potential measurement between recording paper during image forming operations. It is requested.
しかし、従来の様な電位測定装置の様に、音叉型振動子8eの劣化状況に合わせ電位測定時間を延長したりすると、その分、画像形成動作の時間が減る事になり、画像形成装置としての生産性が低下すると言う問題が発生する。 However, if the potential measurement time is extended in accordance with the deterioration status of the tuning fork vibrator 8e as in the conventional potential measurement device, the time required for the image forming operation will be reduced by that amount. There arises a problem that the productivity of the product decreases.
上記問題を解決する為に、本発明においては、以下の構成を有する事を特徴とする電位測定装置、及び画像形成装置であり、音叉型振動子8eの劣化を検出し、劣化具合に合わせて後段回路のゲインを調整する事で、音叉型振動子8eの劣化が発生しても応答時間を一定に保つ事が可能となる。 In order to solve the above problems, the present invention is a potential measuring apparatus and an image forming apparatus characterized by having the following configuration, and detects deterioration of the tuning fork type vibrator 8e, and adjusts to the degree of deterioration. By adjusting the gain of the subsequent circuit, the response time can be kept constant even if the tuning fork vibrator 8e is deteriorated.
請求項1に記載の発明は、
電位測定対象の表面電位を測定する為の電位センサーと、電位センサを制御する為の制御部とで構成された電位測定装置であって、
制御部は開ループと閉ループが切換可能であると共に、電位センサーからの検出信号を増幅する増幅部においてゲイン調整手段を有し、
電位測定対象と電位センサー間に所定の電位差を発生させると共に、制御回路を開ループにした状態での検出信号の検出結果を元に増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする電位測定装置である。
The invention described in
An electric potential measuring device composed of an electric potential sensor for measuring a surface electric potential of an electric potential measurement object, and a control unit for controlling the electric potential sensor,
The control unit can switch between an open loop and a closed loop, and has a gain adjusting means in an amplification unit that amplifies a detection signal from the potential sensor,
A potential measuring device that generates a predetermined potential difference between a potential measurement target and a potential sensor, and adjusts a gain in an amplification unit based on a detection result of a detection signal in a state where a control circuit is in an open loop. It is.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、
電位測定対象に所定のバイアスを印可する為のバイアス印加手段を有し、
バイアス印加手段により、電位測定対象に所定のバイアスを印加する事で、電位測定対象と電位センサー間に所定の電位差を発生させた状態で、増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする電位測定装置である。
The invention according to
Having a bias applying means for applying a predetermined bias to the potential measurement object;
A potential characterized by adjusting a gain in an amplifying unit in a state where a predetermined potential difference is generated between the potential measurement target and the potential sensor by applying a predetermined bias to the potential measurement target by the bias applying means. It is a measuring device.
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、
電位測定対象を制御部の基準電位に接続する接続切り替え手段と、電位センサーに所定のバイアスを印加する為のバイアス印加手段とを有し、
接続切り替え手段により電位測定対象を制御部の基準電位に接続すると共に、バイアス印加手段により電位センサーに所定のバイアスを印可する事で、電位測定対象と前記電位センサー間に所定の電位差を発生させた状態で、増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする電位測定装置である。
The invention according to
Connection switching means for connecting the potential measurement object to the reference potential of the control unit, and bias application means for applying a predetermined bias to the potential sensor,
The potential measurement object is connected to the reference potential of the control unit by the connection switching means, and a predetermined potential difference is generated between the potential measurement object and the potential sensor by applying a predetermined bias to the potential sensor by the bias applying means. In this state, the potential measuring device is characterized in that the gain in the amplifying unit is adjusted.
請求項4に記載の発明は、請求項1から請求項3のいずれかに記載の発明において、
検出信号の振幅を検出し、検出した振幅値が予め決められた所定値となる様に、ゲインを調整する
事を特徴とする電位測定装置である。
The invention according to claim 4 is the invention according to any one of
This is a potential measuring device characterized by detecting the amplitude of a detection signal and adjusting the gain so that the detected amplitude value becomes a predetermined value.
請求項5の発明は、請求項2に記載の発明において、
所定のバイアスを印加した後、測定対象の電位を表面電位測定手段により測定し、その電位測定結果と、検出信号の検出結果とを元に前記増幅部でのゲインを調整する
事を特徴とする電位測定装置である。
The invention of claim 5 is the invention of
After applying a predetermined bias, the potential of the measuring object is measured by the surface potential measuring means, and the gain in the amplifying unit is adjusted based on the potential measurement result and the detection result of the detection signal. This is a potential measuring device.
請求項6の発明は、請求項1から請求項5のいずれかに記載の発明において、
電位測定装置の稼働時間をカウントするタイマーを有し、
所定時間稼働する毎にゲイン調整を実施する
事を特徴とする電位測定装置である。
The invention of claim 6 is the invention according to any one of
Has a timer to count the operating time of the potential measuring device,
This is a potential measuring device characterized in that the gain is adjusted every time it operates for a predetermined time.
請求項7の発明は、請求項1から請求項6のいずれかに記載の発明において、
装置内の環境を検知するセンサを有し、装置内の温度、もしくは湿度が所定値以上変動した場合にゲイン調整を実施する
事を特徴とする電位測定装置である。
The invention of
An electric potential measuring apparatus having a sensor for detecting an environment in the apparatus and performing gain adjustment when temperature or humidity in the apparatus fluctuates by a predetermined value or more.
請求項8の発明は、請求項1から請求項7のいずれかに記載の発明において、
閉ループは、電位センサーの電位を測定対象の電位と同電位にする様な制御であり、開ループは、電位センサーの電位を測定対象の電位と同電位にする様な制御を行わない制御である事を特徴とする電位測定装置である。
The invention according to
The closed loop is a control that makes the potential of the potential sensor the same as the potential of the measurement object, and the open loop is a control that does not perform a control that makes the potential of the potential sensor the same as the potential of the measurement object. This is a potential measuring device characterized by this.
請求項9の発明は、
感光体の表面電位を測定する為の電位センサーと、電位センサを制御する為の制御部とで構成された表面電位測定手段を有する画像形成装置であって、
制御回路は開ループと閉ループが切換可能であると共に、電位センサーからの検出信号を増幅する増幅部においてゲイン調整手段を有し、
電位測定対象と電位センサー間に所定の電位差を発生させると共に、制御回路を開ループにした状態での検出信号の検出結果を元に増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする画像形成装置である。
The invention of claim 9
An image forming apparatus having a surface potential measuring means composed of a potential sensor for measuring the surface potential of a photoreceptor and a control unit for controlling the potential sensor,
The control circuit can switch between an open loop and a closed loop, and has a gain adjusting means in an amplifying unit that amplifies a detection signal from the potential sensor,
An image forming apparatus characterized in that a predetermined potential difference is generated between a potential measurement target and a potential sensor, and a gain in an amplifying unit is adjusted based on a detection result of a detection signal in a state where a control circuit is in an open loop. It is.
請求項10の発明は、請求項8に記載の発明において、
コントロール電圧に基づき感光体を所定の電位に帯電させる為の帯電手段を有し、
帯電手段により、感光体の表面を所定の電位に帯電させる事で、感光体と電位センサー間に所定の電位差を発生させた状態で、
増幅部でのゲインを調整する
事を特徴とする画像形成装置である。
The invention of
Having charging means for charging the photoreceptor to a predetermined potential based on the control voltage;
In a state where a predetermined potential difference is generated between the photoconductor and the potential sensor by charging the surface of the photoconductor to a predetermined potential by the charging means,
An image forming apparatus characterized by adjusting a gain in an amplifying unit.
請求項11の発明は、請求項8に記載の発明において、
感光体を除電する為の除電手段と、電位センサーに所定のバイアスを印加する為のバイアス印加手段とを有し、
除電手段により感光体を除電すると共に、バイアス印加手段により電位センサーに所定のバイアスを印可する事で、感光体と電位センサー間に所定の電位差を発生させた状態で、増幅部でのゲインを調整する
事を特徴とする画像形成装置である。
The invention of claim 11 is the invention of
A neutralizing means for neutralizing the photoreceptor, and a bias applying means for applying a predetermined bias to the potential sensor;
The neutralization unit removes the photoconductor, and the bias application unit applies a predetermined bias to the potential sensor, thereby adjusting the gain in the amplification unit in a state where a predetermined potential difference is generated between the photoconductor and the potential sensor. This is an image forming apparatus characterized by that.
請求項12の発明は、請求項8から請求項10のいずれかに記載の発明において、
検出信号の振幅を検出し、検出した振幅値が予め決められた所定値となる様に、ゲインを調整する
事を特徴とする電位測定装置である。
The invention of claim 12 is the invention according to any one of
This is a potential measuring device characterized by detecting the amplitude of a detection signal and adjusting the gain so that the detected amplitude value becomes a predetermined value.
請求項13の発明は、請求項9に記載の発明において、
感光体の表面を所定の電位に帯電させた後、感光体の表面電位を表面電位測定手段により測定し、その電位測定結果と、検出信号の検出結果とを元に増幅部でのゲインを調整する
事を特徴とする画像形成装置である。請求項14の発明は、請求項8から12の発明において、
表面電位測定手段の稼動時間をカウントするタイマーを有し、
所定時間稼働する毎にゲイン調整を実施する
事を特徴とする画像形成装置である。
The invention of claim 13 is the invention of claim 9,
After charging the surface of the photoconductor to a predetermined potential, the surface potential of the photoconductor is measured by the surface potential measuring means, and the gain at the amplifier is adjusted based on the measurement result of the potential and the detection result of the detection signal. This is an image forming apparatus characterized by that. The invention of claim 14 is the invention of
It has a timer that counts the operating time of the surface potential measuring means,
The image forming apparatus is characterized in that a gain adjustment is performed every time the apparatus is operated for a predetermined time.
請求項14の発明は、請求項8から請求項12のいずれかに記載の発明において、
表面電位測定手段の稼動時間をカウントするタイマーを有し、所定時間稼働する毎に前記ゲイン調整を実施する事を特徴とする画像形成装置である。
The invention of claim 14 is the invention according to any one of
An image forming apparatus having a timer for counting the operating time of the surface potential measuring means, and performing the gain adjustment every time the surface potential measuring means is operated for a predetermined time.
請求項15の発明は、請求項8から請求項13のいずれかに記載の発明において、
画像形成枚数をカウントするカウンターを有し、
所定枚数の画像形成動作毎にゲイン調整を実施する
事を特徴とする画像形成装置である。
The invention of claim 15 is the invention according to any one of
It has a counter that counts the number of images formed,
An image forming apparatus characterized in that gain adjustment is performed for each predetermined number of image forming operations.
請求項16の発明は、請求項8から請求項14のいずれかに記載の発明において、
装置内の環境を検知するセンサを有し、装置内の温度、もしくは湿度が所定値以上変動した場合にゲイン調整を実施する
事を特徴とする画像形成装置である。
The invention of claim 16 is the invention according to any one of
An image forming apparatus having a sensor for detecting an environment in the apparatus and performing gain adjustment when temperature or humidity in the apparatus fluctuates by a predetermined value or more.
請求項17の発明は、請求項1から請求項16のいずれかに記載の発明において、
閉ループは、電位センサーの電位を測定対象の電位と同電位にする様な制御であり、開ループは、電位センサーの電位を測定対象の電位と同電位にする様な制御を行わない制御である事を特徴とする画像形成装置である。
The invention of claim 17 is the invention according to any one of
The closed loop is a control that makes the potential of the potential sensor the same as the potential of the measurement object, and the open loop is a control that does not perform a control that makes the potential of the potential sensor the same as the potential of the measurement object. An image forming apparatus characterized by this.
本発明によれば、電位センサーに応答時間に関係する劣化が発生した場合に、制御系において劣化の具合を検出し、その結果に応じて回路のゲインを調整する事で、電位測定系において初期の応答特性を維持する事が可能となり、電位センサーの劣化による応答時間の遅延が防止できる。 According to the present invention, when deterioration related to the response time occurs in the potential sensor, the degree of deterioration is detected in the control system, and the gain of the circuit is adjusted in accordance with the result, so that the initial measurement is performed in the potential measurement system. It is possible to maintain the response characteristics, and it is possible to prevent a delay in response time due to deterioration of the potential sensor.
また、電位センサーのリモートON時間を積算し所定値に達した場合や、画像形成枚数をカウントし、所定枚数に達した場合や、環境センサにより機器内の温度、湿度をモニタし、環境条件が所定値以上変動した場合等、電位センサーの劣化に影響を及ぼすパラメータを元に、調整のタイミングを決定する事で、過度の調整を防止しつつ電位センサーの劣化による応答時間の遅延を防止する事が出来る。 Also, when the remote ON time of the potential sensor is integrated and reaches a predetermined value, the number of image formations is counted and the predetermined number is reached, or the environmental sensor monitors the temperature and humidity in the device, and the environmental conditions are By determining the adjustment timing based on parameters that affect the deterioration of the potential sensor, such as when it fluctuates by more than a predetermined value, response time delay due to potential sensor deterioration can be prevented while preventing excessive adjustment. I can do it.
さらに、感光体を除電し、電位センサ側にバイアスを印可してゲイン調整を行う事で、帯電器がコロナ放電タイプの画像形成装置においても、ゲイン補正を実施し応答時間を一定に保つ事が可能となる。 Furthermore, by removing the charge from the photoconductor and adjusting the gain by applying a bias to the potential sensor side, even in an image forming apparatus in which the charger is a corona discharge type, the gain can be corrected to keep the response time constant. It becomes possible.
次に、本発明の詳細を実施例の記述に従って説明する。 Next, details of the present invention will be described in accordance with the description of the embodiments.
以下に図面を参照して、本発明の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。 Exemplary embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. However, the dimensions, materials, shapes, relative arrangements, and the like of the components described in this embodiment are not intended to limit the scope of the present invention only to those unless otherwise specified. Absent.
本発明に係る画像形成装置の第一の実施形態について図1〜図6、図10を参照して説明する。 A first embodiment of an image forming apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS.
図1〜図6、図10に於いて前述の従来例の図11〜図13と同一ないし相当する部材には同一符号を付し、その説明は省略するものとする。 1 to 6 and 10, the same or corresponding members as those in FIGS. 11 to 13 of the conventional example described above are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.
本発明の第1の実施例である画像形成装置としては、図10に示すような概略構成図のものがある。本例装置は電子写真プロセスの画像形成装置である。 As an image forming apparatus according to the first embodiment of the present invention, there is a schematic configuration diagram as shown in FIG. This apparatus is an image forming apparatus for an electrophotographic process.
同図において、1a〜1dは感光体、2a〜2dは1次帯電部、3a〜3dは露光部、4a〜4dは現像部、53a〜53dは1次転写部、6a〜6dはクリーナー、51は中間転写ベルト、55は中間転写ベルトクリーナー、56、57は2次転写部である。1次帯電部によって感光体が一様に帯電された後、画像信号に応じた露光が露光部によってなされることにより、感光体上に静電潜像が形成される。その後、現像部によってトナー像が現像され、4個の感光体上のトナー像は転写部によって中間転写ベルトに多重転写され、更に2次転写部によって記録材Pに転写される。感光体上に残った転写残トナーはクリーナーによって、中間転写ベルトに残った転写残トナーは中間転写ベルトクリーナー55によって回収される。記録材Pに転写されたトナー像は定着部7によって定着されることにより、カラー画像を得る。
In the figure, 1a to 1d are photosensitive members, 2a to 2d are primary charging units, 3a to 3d are exposure units, 4a to 4d are developing units, 53a to 53d are primary transfer units, 6a to 6d are cleaners, 51 Is an intermediate transfer belt, 55 is an intermediate transfer belt cleaner, and 56 and 57 are secondary transfer portions. After the photosensitive member is uniformly charged by the primary charging unit, exposure according to the image signal is performed by the exposure unit, whereby an electrostatic latent image is formed on the photosensitive member. Thereafter, the toner image is developed by the developing unit, and the toner images on the four photoconductors are multiplex-transferred to the intermediate transfer belt by the transfer unit, and further transferred to the recording material P by the secondary transfer unit. The transfer residual toner remaining on the photoreceptor is recovered by a cleaner, and the transfer residual toner remaining on the intermediate transfer belt is recovered by an intermediate transfer belt cleaner 55. The toner image transferred to the recording material P is fixed by the fixing
図1に本発明の第1の実施例である画像形成装置感光ドラム周辺部の構成例を示す。(説明に不要な箇所は省略してある)
図1において1が感光ドラム1である。感光ドラム1の周囲には、帯電ローラ2、露光装置3、電位センサー8、現像器4、除電装置112などが配置されている。
FIG. 1 shows a configuration example of the periphery of the photosensitive drum of the image forming apparatus according to the first embodiment of the present invention. (Parts unnecessary for explanation are omitted)
In FIG. 1,
帯電ローラ2には帯電高圧回路109により生成された帯電高圧出力(交流電圧+直流電圧)が供給されて、感光ドラム1の表面を所定の電位で一様に帯電する。
A charging high voltage output (AC voltage + DC voltage) generated by the charging
なお、帯電高圧回路109はコントローラ111からのコントロール値に基づき所定の帯電高圧出力(交流電圧+直流電圧)を出力している。
The charging high-
ここで、図2に帯電直流出力のコントロール値と帯電直流出力との関係の一例を示す。図2の場合は、コントロール値が2Vから10Vの間で帯電直流出力が0Vから-1000Vまで変化する様な特性を有しており、例えば帯電直流出力に-500Vが必要な場合は、コントローラ111からコントロール値6Vが出力され、帯電高圧回路109に入力される。
Here, FIG. 2 shows an example of the relationship between the charging DC output control value and the charging DC output. In the case of FIG. 2, the charging DC output changes from 0V to -1000V when the control value is between 2V and 10V. For example, when the charging DC output requires -500V, the
図1に戻って、露光装置3はレーザースキャナーおよび光学系で構成されており、図示しない画像信号に基づき、感光ドラム表面に静電潜像を形成する。
Returning to FIG. 1, the
電位センサー8は感光ドラムの表面電位を検知する為のセンサーであり、電位センサー制御部107により制御され、電位センサー制御部107は検知結果をコントローラ111へ出力する。電位センサー制御部107とコントローラ111との間の通信には、電位測定の検知結果である検出値以外に、電位測定を開始するためのリモート信号と、後述のゲイン調整時に使用するゲイン調整モード信号がある。
The
現像器4は現像高圧回路108により生成された現像高圧出力(交流電圧+直流電圧)が供給されることで、感光ドラム1上の静電潜像にトナーを付着させ可視像とする。
The developing device 4 is supplied with the developing high-voltage output (AC voltage + DC voltage) generated by the developing high-
なお、現像高圧回路108はコントローラ111からのコントロール値に基づき所定の現像高圧出力(交流電圧+直流電圧)を出力している。
The development
除電装置112は帯電ローラ2の感光ドラム1回転方向上流側に配置されており、感光ドラム1に残留している電荷を除電している。
The
次に、図3に電位センサー8と電位センサー制御部107の概略構成図を示す。
Next, FIG. 3 shows a schematic configuration diagram of the
図3において、符号8が電位センサーで8あり、符号107が電位センサー制御部である。
In FIG. 3,
電位センサー8は、音叉型振動子8e、音叉型振動子8eの両アームに配設された圧電素子8a、8b(図3の場合、圧電素子8bが音叉型振動子8eを振動させる為の駆動用圧電素子8bであり、圧電素子8aが音叉型振動子8eの振動を検出する為の検出用圧電素子8aである)、測定電極8f、検出回路8gで構成されている。
The
一方、電位センサー制御部107は、制御部107a、高圧電源107b、検出出力信号生成部107c、駆動回路107d、増幅回路107e、開ループ切り替え部107fで構成されている。なお、図3中、1は感光ドラム1である。
On the other hand, the potential
図3の動作について説明する。 The operation of FIG. 3 will be described.
図1のコントローラ111より入力されるリモート信号がONの状態になると、電位センサー8及び電位センサー制御部107の動作が開始される。まず、駆動回路107dが圧電素子8bに駆動信号を入力する。すると、音叉型振動子8eが振動を開始し、その先端部が左右それぞれ、8c、8dの矢印方向に振動する。音叉型振動子8eが振動を開始すると、圧電素子8aは、その振動を電気信号に変換し振動検出信号として出力する。駆動回路107dは駆動信号と振動検出信号の位相差が所定の値になる様に駆動信号の周波数を制御する。これにより音叉型振動子8eは共振状態で振動を継続する。一方、音叉型振動子8eが振動する事で、測定電極8fと感光ドラム1間の静電容量が周期的に変化し、これにより測定電極8fの電荷量が変化し、この電荷量の変化を検出回路8gで電圧に変換する事で、感光ドラム1と測定電極8f間の電位差に比例した交流電圧信号を得る事が出来る。
When the remote signal input from the
なお、電位センサー8を構成する各部は後述する高圧電源107bの出力(図3中H点)を基準電位として動作している。
Each part constituting the
そして、制御部107aにおいては、検出回路8gからの出力である交流検出信号を増幅回路107eで増幅し、制御部107aへ入力し、制御部107aにおいては、この増幅された交流検出信号の振幅がゼロとなる様に、高圧電源107bの出力を制御している。ここで、交流検出信号の振幅がゼロと言う状態は、音叉型振動子8eが振動し、測定電極8fと感光ドラム1間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、測定電極8fの電荷量が変化しない状態であり、この状態は、感光ドラム1の表面電位と測定電極8fの電位、つまり感光ドラム1の表面電位と高圧発生部107bの出力が同電位である事を意味している。これにより、感光ドラム1の表面電位を得る事が出来る。(ゼロメソッド)
電位センサー制御部107は、この時の高圧発生部107bの出力を検出出力信号生成部107cで、例えば図12に示す様な関係で変換し出力している。
In the
The potential
次に、図1のコントローラ111よりゲイン調整モード信号が入力された際の動作について図3と図4のフローチャートを用いて説明する。
Next, the operation when the gain adjustment mode signal is input from the
電位センサー8の音叉型振動子8eの両アームには、圧電素子8a、8bが接着されているが、この接着の状況が音叉型振動子8eの振動振幅に大きく関係している。つまり、環境変化や、経時変化等により接着状況が変化すると振動振幅が低下してしまい、その結果、電位センサー8と電位センサー制御部107としての電位測定時間が長くなってしまう。
そこで、音叉型振動子8eの振動振幅が低下した場合に、増幅回路107eにてゲインの調整を行い、電位センサー8の初期状態と劣化後において、電位センサー8と感光ドラム1の間に所定の電位差がある状態の元で、図3中A点での振幅が低下してもB点での振幅は一定になる様なゲインの補正を行う。
Therefore, when the vibration amplitude of the tuning fork type vibrator 8e decreases, the gain is adjusted by the
まず、コントローラ111がゲイン調整が必要と判断した場合、ゲイン調整モードをONにする。(図4 S401)
なお、コントローラ111がゲイン調整が必要と判断するのは、様々な場合が想定されており、例えば、電位センサーのリモートON時間を積算し所定値に達した場合や、画像形成枚数をカウントし、所定枚数に達した場合や、また図示していないが、環境センサにより機器内の温度、湿度をモニタし、環境条件が所定値以上変動した場合など様々な場合が想定される。
First, when the
The
ゲイン調整モードがONになると、コントローラ111からの信号により感光ドラム1を回転させると共に帯電高圧109は所定の高圧出力(例えば、-500V)を出力する。同時に、電位センサー制御部においては、制御部107aからの信号により開ループ切り替え部107fにて制御系を開ループに切り替える。(S402)
つまり、電位センサー8と感光ドラム1との間に所定の電位差を有した状態で制御系を開ループにする。
When the gain adjustment mode is turned on, the
That is, the control system is set in an open loop with a predetermined potential difference between the
次に、この状態で、増幅回路部107eにて、検出回路8gから出力される交流検出信号の振幅を測定する。この時、電位センサー8と感光ドラム1との間には、500Vの電位差があり、その時の音叉型振動子8eの振動振幅での交流信号振幅を測定する。(S403)
(ここで、測定した結果が所定値以下の場合、電位センサー8の故障と判断し、ゲイン調整モードを終了させると共に、図示しない操作部等に電位センサー8の交換を促す表示をしても良い。)
そして、測定された交流検出信号の振幅と基準値とを比較する。(S404)
増幅回路部107eの出力での振幅が所定値になる様に、比較した結果に基づき、増幅回路部107eでの補正ゲインを決定し、ゲインを補正する。(S405)
ゲイン補正が完了すると、ゲイン調整モードをOFFにして、帯電高圧出力を停止すると共に感光ドラム1の回転を停止させ、さらに制御系を閉ループに切り替える。(S406)
そして、調整モードは終了となる。
Next, in this state, the amplitude of the AC detection signal output from the
(Here, if the measured result is equal to or smaller than the predetermined value, it is determined that the
Then, the measured amplitude of the AC detection signal is compared with a reference value. (S404)
Based on the comparison result, the correction gain in the
When the gain correction is completed, the gain adjustment mode is turned off, the charging high voltage output is stopped, the rotation of the
Then, the adjustment mode ends.
図5は、電位センサー8と感光ドラム1の間に所定の電位差がある状態で、かつ電位センサー制御部107が開ループ時における、電位センサー8の初期状態と劣化後増幅回路107eにてゲイン補正を行った状態での図3中、A点とB点の波形を示している。
FIG. 5 shows a state in which there is a predetermined potential difference between the
図5中、5-1が初期状態でのA点の波形、5-2が初期状態でのB点の波形、同様に、5-3が劣化後でのA点の波形、5-4が劣化後ゲイン補正をした状態でのB点の波形である。 In FIG. 5, 5-1 is the waveform at point A in the initial state, 5-2 is the waveform at point B in the initial state, 5-3 is the waveform at point A after deterioration, and 5-4 is the waveform at point A. It is a waveform of B point in the state which carried out gain correction after degradation.
上述したゲイン補正モードを実行する事で、電位センサー8と感光ドラム1の間に所定の電位差がある状態の元で、図5に示す様に、電位センサー8の振動振幅が劣化した場合、図3中A点の波形振幅が低下したとしても、増幅回路107eでのゲインを調整する事で、図3中B点の波形に関しては初期状態を維持する事ができる。
When the above-described gain correction mode is executed, when the vibration amplitude of the
図6は、電位センサー8の初期状態と劣化後ゲイン補正を行った状態での応答特性の比較を示している。ここで、図6中、
6-1が、電位センサー8の測定対象である、感光ドラム1の表面電位変動を示しており、ここでは、-100Vから-600Vに変動した場合の例である。
FIG. 6 shows a comparison of response characteristics between the initial state of the
6-1 shows the surface potential fluctuation of the
6-2は、電位センサー8の初期状態と劣化後での図3中C点の波形(電位センサー8応答時間)の比較である。
6-2 is a comparison of the waveform (
6-3は、初期状態での図3中B点の波形、6-4は、劣化後での図3中B点の波形を示している。 6-3 shows the waveform at point B in FIG. 3 in the initial state, and 6-4 shows the waveform at point B in FIG. 3 after deterioration.
感光ドラム1の表面電位が変化した場合、先述したゲイン補正を行った結果により、電位センサー8の初期状態でも劣化後でも、感光ドラム1の表面電位変動が、B点においては同様の感度で回路が動作可能となり、その結果、6-2に示す様に、初期時も劣化後も同様な応答特性を得る事ができる。(初期状態の応答時間t1=劣化後の応答時間t2)
そして、初期時も劣化後も電位測定の応答の様子が同じという事は、電位センサー8の基準電位の変動の様子が同じという事であり、6-3、6-4に示したB点の波形(増幅後の検出波形)も同様な波形となる。
When the surface potential of the
The fact that the response of the potential measurement is the same both in the initial stage and after the deterioration means that the reference potential of the
上述したゲイン補正動作の完了後の電位測定においては、増幅回路107eにて補正されたゲインにて信号増幅が行われる為、所定のタイミングで定期的に上記ゲイン補正を行う事で、電位測定の応答時間の変動を常に一定範囲内に抑える事が可能となる。
In the potential measurement after the completion of the above-described gain correction operation, signal amplification is performed with the gain corrected by the
以上、説明した様に、電位センサー8の音叉型振動子8eの振動振幅の劣化状況にあわせ、制御部における検出信号のゲインを補正する事で、劣化が発生した場合においても常に一定の電位測定応答時間を維持する事が可能となる。
As described above, the potential of the tuning fork vibrator 8e of the
本発明に係る画像形成装置の第二の実施形態について図7を参照して説明する。 A second embodiment of the image forming apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG.
図7に於いて前述の従来例の図11〜図13及び第一の実施形態の図1〜図6、図10と同一ないし相当する部材には同一符号を付し、その説明は省略するものとする。 7, the same or corresponding members as those in FIGS. 11 to 13 of the conventional example and FIGS. 1 to 6 and 10 of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. And
第二の実施形態において、第一の実施形態と異なるのは、より精度の良いゲイン調整を行う為に、ゲイン調整の前に、所定の帯電高圧を出力した際に、感光ドラム1の表面電位を測定し、その表面電位の測定結果と信号振幅とでゲインの補正を行う点である。
The second embodiment differs from the first embodiment in that the surface potential of the
第二の実施形態におけるゲイン補正の方法を図7のフローチャートを用いて説明する。 A gain correction method according to the second embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
まず、コントローラ111がゲイン調整が必要と判断した場合、ゲイン調整モードをONにする。(図7 S701)
なお、コントローラ111がゲイン調整が必要と判断するのは、様々な場合が想定されており、例えば、電位センサーのリモートON時間を積算し所定値に達した場合や、画像形成枚数をカウントし、所定枚数に達した場合や、また図示していないが、環境センサにより機器内の温度、湿度をモニタし、環境条件が所定値以上変動した場合など様々な場合が想定される。
First, when the
The
ゲイン調整モードがONになると、コントローラ111からの信号により感光ドラム1を回転させると共に帯電高圧109は所定の高圧出力(例えば、-500V)を出力する。(S702)
次に、その時の感光ドラム1の表面電位を電位センサー8にて測定する。なお、ここでの電位測定の際は、通常の電位測定時よりも十分長い測定時間を取り、電位センサー8が劣化していても十分応答する様にしておく。(S703)
測定が完了すると、電位センサー制御部においては、制御系を開ループに切り替える。(S704)
つまり、電位センサー8と感光ドラム1との間に所定の電位差を有した状態で制御系を開ループにする。
When the gain adjustment mode is turned on, the
Next, the surface potential of the
When the measurement is completed, the potential sensor control unit switches the control system to an open loop. (S704)
That is, the control system is set in an open loop with a predetermined potential difference between the
次に、この状態で、増幅回路部107eにて、検出回路8gから出力される交流検出信号の振幅を測定する。この時、電位センサー8と感光ドラム1との間には、500Vの電位差があり、その時の音叉型振動子8eの振動振幅での交流信号振幅を測定する。(S705)
(ここで、測定した結果が所定値以下の場合、電位センサー8の故障と判断し、ゲイン調整モードを終了させると共に、図示しない操作部等に電位センサー8の交換を促す表示をしても良い。)
次に、S703で測定した表面電位を元に、S705で測定された交流検出信号の振幅と基準値とを比較する。ここでは、予め用意されている、電位センサー8と感光ドラム1との間の電位差と交流検出信号との基準となる関係を元に、S703で測定した表面電位の場合に、得られるべき交流検出信号振幅に対し、実際にS705で測定された交流検出信号の割合を算出する。(S706)
次に、増幅回路部107eの出力での振幅が所定値になる様に、S706での比較算出結果に基づき、増幅回路部107eでの補正ゲインを決定し、ゲインを補正する。(S707)
ゲイン補正が完了すると、ゲイン調整モードをOFFにして、帯電高圧出力を停止すると共に感光ドラム1の回転を停止させ、さらに制御系を閉ループに切り替える。(S708)
そして、調整モードは終了となる。
Next, in this state, the amplitude of the AC detection signal output from the
(Here, if the measured result is equal to or smaller than the predetermined value, it is determined that the
Next, based on the surface potential measured in S703, the amplitude of the AC detection signal measured in S705 is compared with a reference value. Here, based on the reference potential relationship between the potential difference between the
Next, based on the comparison calculation result in S706, the correction gain in the
When the gain correction is completed, the gain adjustment mode is turned off, the charging high voltage output is stopped, the rotation of the
Then, the adjustment mode ends.
上記補正動作の完了後の電位測定においては、増幅回路107eにて補正されたゲインにて信号増幅が行われる為、所定のタイミングで定期的に上記ゲイン補正を行う事で、電位センサー8の音叉型振動子8eの振動振幅が劣化した場合でも、電位測定の応答時間の変動を常に一定範囲内に抑える事が可能となる。
In the potential measurement after the completion of the correction operation, signal amplification is performed with the gain corrected by the
以上、説明した様に、ゲイン補正に前に、実際の感光ドラム1の表面電位を測定し、その表面電位測定結果と、閉ループ時の交流検出信号の振幅とを元にしてゲイン補正を行う事で、より精度の高い補正が可能となり、より応答時間のバラツキを小さく抑える事が可能となる。
As described above, before the gain correction, the actual surface potential of the
本発明に係る画像形成装置の第三の実施形態について図8〜図9を参照して説明する。 A third embodiment of the image forming apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS.
図8〜図9に於いて前述の従来例の図11〜図13及び第一の実施形態の図1〜図6、図10、第二の実施形態の図7と同一ないし相当する部材には同一符号を付し、その説明は省略するものとする。 8 to 9, the same or corresponding members as those in FIGS. 11 to 13 of the conventional example, FIGS. 1 to 6 and 10 of the first embodiment, and FIG. 7 of the second embodiment are included. The same reference numerals are given, and the description thereof is omitted.
第一の実施形態においては、ゲイン調整モード時に、開ループ切り替え部107fにより電位センサー8の基準電位を制御部107の基準電位(グランド)に落とすと共に、感光ドラム1の表面を所定の電位に帯電させる事で、電位センサー8と感光ドラム1の間に所定の電位差を形成しているが、第三の実施形態においては、感光ドラム1の表面を除電し、一方、電位センサー8側に所定のバイアスを印加する事で、電位センサー8と感光ドラム1の間に所定の電位差を形成する。
In the first embodiment, in the gain adjustment mode, the open
図8において、第一の実施形態の図3と構成上で異なる点は、開ループ切り替え部107fが存在しない点と、制御部107aから高圧電源107bにモード切り換え信号が出力されると共に、検出出力信号生成部107cの検出出力が制御部107aにも入力されている点である。
8 differs from the first embodiment in FIG. 3 in that there is no open
図3の様な、開ループ切り替え部107fは存在しないが、制御部107aからのモード切り換え信号により、高圧電源107bが電位センサー8側に所定のバイアスを印加する事で、動作上は開ループに切り替えられた事になる。
Although the open
ゲイン調整モード信号が入力された際の動作について図8と図9のフローチャートを用いて説明する。 The operation when the gain adjustment mode signal is input will be described with reference to the flowcharts of FIGS.
まず、コントローラ111がゲイン調整が必要と判断した場合、ゲイン調整モードをONにする。(図9 S901)
なお、コントローラ111がゲイン調整が必要と判断するのは、様々な場合が想定されており、例えば、電位センサーのリモートON時間を積算し所定値に達した場合や、画像形成枚数をカウントし、所定枚数に達した場合や、また図示していないが、環境センサにより機器内の温度、湿度をモニタし、環境条件が所定値以上変動した場合など様々な場合が想定される。
First, when the
The
ゲイン調整モードがONになると、コントローラ111からの信号により感光ドラム1を回転させると共に、除電装値により感光ドラム1の表面電位を除電する。
さらに、図8の制御部107aから高圧電源107bにモード切り換え信号が出力される。
When the gain adjustment mode is turned on, the
Further, a mode switching signal is output from the
高圧電源107bはモード切換え信号が入力されると、所定の高圧出力(例えば、-500V)を出力する様に動作し、高圧電源107bの出力を検出出力信号生成部107cで検出し、制御部107aに帰還する事で、制御部107aと高圧電源107bと検出出力信号生成部107cとにより、高圧電源107bの出力電圧を一定に制御するフィードバック制御が行われる。
When the mode switching signal is input, the high-
そして、ここで発生させた高圧電源107bの出力をバイアスとして、電位センサー8に印可する。つまり、上記動作により、電位センサー8側に所定のバイアスを印加する事で、電位センサー8と感光ドラム1の間に所定の電位差を形成する。(S902)
次に、この状態で、増幅回路部107eにて、検出回路8gから出力される交流検出信号の振幅を測定する。この時、電位センサー8と感光ドラム1との間には、500Vの電位差があり、その時の音叉型振動子8eの振動振幅での交流信号振幅を測定する。(S903)
(ここで、測定した結果が所定値以下の場合、電位センサー8の故障と判断し、ゲイン調整モードを終了させると共に、図示しない操作部等に電位センサー8の交換を促す表示をしても良い。)
そして、測定された交流検出信号の振幅と基準値とを比較する。(S904)
増幅回路部107eの出力での振幅が所定値になる様に、比較した結果に基づき、増幅回路部107eでの補正ゲインを決定し、ゲインを補正する。(S905)
ゲイン補正が完了すると、ゲイン調整モードをOFFにして、制御部107aからのモード切り換え信号を解除して高圧電源107bでの高圧生成を停止すると共に、感光ドラム1の回転を停止させ、さらに除電動作も停止させる。(S906)
そして、調整モードは終了となる。
Then, the output of the high
Next, in this state, the amplitude of the AC detection signal output from the
(Here, if the measured result is equal to or smaller than the predetermined value, it is determined that the
Then, the measured amplitude of the AC detection signal is compared with a reference value. (S904)
Based on the comparison result, a correction gain in the
When the gain correction is completed, the gain adjustment mode is turned off, the mode switching signal from the
Then, the adjustment mode ends.
上記補正動作の完了後の電位測定においては、増幅回路107eにて補正されたゲインにて信号増幅が行われる為、所定のタイミングで定期的に上記ゲイン補正を行う事で、電位センサー8の音叉型振動子8eの振動振幅が劣化した場合でも、電位測定の応答時間の変動を常に一定範囲内に抑える事が可能となる。
In the potential measurement after the completion of the correction operation, signal amplification is performed with the gain corrected by the
帯電手段がコロナ帯電の場合には、環境条件変化などにより感光ドラム1の表面を所定の電位に帯電させる事が困難な為、感光ドラム1側では無く、上述した様に、電位センサー8に印加するバイアスを一定に制御した方が、より精度の高いゲイン補正が可能となり、より応答時間のバラツキを小さく抑える事が可能となる。
When the charging means is corona charging, it is difficult to charge the surface of the
1 感光ドラム
2 帯電ローラ
3 露光装置
4 現像器
8 電位センサ
107 電位センサ制御部
107a 制御部
107b 高圧電源部
107c 分圧出力部
107d 駆動回路
107e 増幅回路
107f 開ループ切り替え部
108 現像高圧部
109 帯電高圧部
111 コントローラ
DESCRIPTION OF
Claims (17)
前記制御部は開ループと閉ループが切換可能であると共に、前記電位センサーからの検出信号を増幅する増幅部においてゲイン調整手段を有し、
前記電位測定対象と前記電位センサー間に所定の電位差を発生させると共に、前記制御回路を開ループにした状態での前記検出信号の検出結果を元に前記増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする電位測定装置。 An electric potential measuring device composed of an electric potential sensor for measuring a surface electric potential of an electric potential measurement object and a control unit for controlling the electric potential sensor,
The control unit can switch between an open loop and a closed loop, and has a gain adjusting means in an amplification unit that amplifies a detection signal from the potential sensor,
A predetermined potential difference is generated between the potential measurement object and the potential sensor, and a gain in the amplifying unit is adjusted based on a detection result of the detection signal in a state where the control circuit is in an open loop. A potential measuring device.
前記バイアス印加手段により、前記電位測定対象に所定のバイアスを印加する事で、前記電位測定対象と前記電位センサー間に所定の電位差を発生させた状態で、前記増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする請求項1に記載の電位測定装置。 Bias application means for applying a predetermined bias to the potential measurement object;
By applying a predetermined bias to the potential measurement object by the bias applying means, a gain in the amplifying unit is adjusted in a state where a predetermined potential difference is generated between the potential measurement object and the potential sensor. The potential measuring device according to claim 1, wherein:
前記接続切り替え手段により前記電位測定対象を前記制御部の基準電位に接続すると共に、前記バイアス印加手段により前記電位センサーに所定のバイアスを印可する事で、前記電位測定対象と前記電位センサー間に所定の電位差を発生させた状態で、前記増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする請求項1に記載の電位測定装置。 Connection switching means for connecting the potential measurement object to a reference potential of the control unit, and bias application means for applying a predetermined bias to the potential sensor,
The potential measuring object is connected to the reference potential of the control unit by the connection switching means, and a predetermined bias is applied to the potential sensor by the bias applying means, whereby a predetermined bias is applied between the potential measuring object and the potential sensor. The potential measuring apparatus according to claim 1, wherein the gain in the amplifying unit is adjusted in a state where the potential difference is generated.
前記ゲイン調整を実施する事を特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の電位測定装置。 7. The apparatus according to claim 1, further comprising a sensor for detecting an environment in the apparatus, wherein the gain adjustment is performed when a temperature or humidity in the apparatus fluctuates by a predetermined value or more. Potential measuring device.
前記制御回路は開ループと閉ループが切換可能であると共に、電位センサーからの検出信号を増幅する増幅部においてゲイン調整手段を有し、
前記電位測定対象と前記電位センサー間に所定の電位差を発生させると共に、前記制御回路を開ループにした状態での前記検出信号の検出結果を元に前記増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする画像形成装置。 An image forming apparatus having a surface potential measuring means composed of a potential sensor for measuring the surface potential of a photoreceptor and a control unit for controlling the potential sensor,
The control circuit is switchable between an open loop and a closed loop, and has a gain adjusting means in an amplifying unit that amplifies a detection signal from the potential sensor,
A predetermined potential difference is generated between the potential measurement object and the potential sensor, and a gain in the amplifying unit is adjusted based on a detection result of the detection signal in a state where the control circuit is in an open loop. An image forming apparatus.
前記帯電手段により、前記感光体の表面を所定の電位に帯電させる事で、前記感光体と前記電位センサー間に所定の電位差を発生させた状態で、前記増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする請求項8に記載の画像形成装置。 Charging means for charging the photoreceptor to a predetermined potential based on a control voltage;
The gain of the amplifying unit is adjusted in a state where a predetermined potential difference is generated between the photoconductor and the potential sensor by charging the surface of the photoconductor to a predetermined potential by the charging unit. The image forming apparatus according to claim 8.
前記除電手段により前記感光体を除電すると共に、前記バイアス印加手段により前記電位センサーに所定のバイアスを印可する事で、前記感光体と前記電位センサー間に所定の電位差を発生させた状態で、前記増幅部でのゲインを調整する事を特徴とする請求項8に記載の画像形成装置。 Neutralizing means for neutralizing the photoconductor, and bias applying means for applying a predetermined bias to the potential sensor;
In the state where a predetermined potential difference is generated between the photosensitive member and the potential sensor by applying a predetermined bias to the potential sensor by the bias applying unit, while discharging the photosensitive member by the neutralizing unit. The image forming apparatus according to claim 8, wherein a gain in the amplifying unit is adjusted.
前記ゲイン調整を実施する事を特徴とする請求項8から請求項14のいずれかに記載の画像形成装置。 15. The apparatus according to claim 8, further comprising a sensor for detecting an environment in the apparatus, wherein the gain adjustment is performed when temperature or humidity in the apparatus fluctuates by a predetermined value or more. Image forming apparatus.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20100630 |