JP2010151685A - 光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基準となる試料断層像から所定の2種類以上のパラメータである物理量の値を、断層像の複数の点に対応し画像情報から前記抽出手段で抽出し、該抽出されたパラメータ値を、前記複数のパラメータである物理量を規定する座標上にプロットし、プロットされた断層像の複数の点を分類する基準を設定し、被計測試料の断層像に含まれる特性を示す複数のパラメータである物理量の中から選択された所定の2以上のパラメータである物理量の値を、断層像の複数の点に対応し画像情報から抽出し、前記基準で分類し、該分類に対応した断層像の領域にカラーを付す。
【選択図】図4
Description
試料の断層像に含まれる組織の特性を示す複数種類のパラメータである物理量の中から選択された所定の2種類以上のパラメータである物理量の値を、断層像の複数の点に対応し該断層像の画像情報から抽出する抽出手段と、該抽出された前記2種類以上のパラメータである物理量の値を、前記2種類以上のパラメータである物理量を規定する座標上に、点としてプロットするプロット手段と、基準となる試料の断層像の画像情報から前記抽出手段で抽出し、前記プロット手段でプロットされた複数の点を分類する基準線を設定する基準設定手段と、前記基準線で前記複数の点を分類する手段と、分類された前記複数の点について、それぞれ該分類に対応したカラー情報を付し、該カラー情報を付された前記複数の点に対応する断層像の領域にカラーを付す可視化手段と、を備えており、被計測試料の断層像の画像情報から前記抽出手段で前記2種類以上のパラメータである物理量の値を抽出し、これを前記プロット手段でプロットした複数の点を、前記基準線で分類し、該分類に対応するカラー情報を付し、該複数の点に対応する断層像の領域をカラーに付して断層像をカラー化する構成であることを特徴とする光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置を提供する。
本発明に係る光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置は、通常の光画像計測装置(OCT)でも、計測光として偏光を利用した偏光感受光画像計測装置でも適用可能であるが、ここでは、本発明の光画像計測装置は、「背景技術」の項で説明した偏光感受光画像計測装置(参考文献4)と同様の構成に適用したもので説明する。よって、まず、本発明の偏光感受光画像計測装置(複屈折トモグラフィー)の前提となる偏光感受光画像計測装置の全体構成について説明する。
本発明に係る光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置(以下、単に「画像解析組織判別可視化装置」という)は、以上のとおりの全体構成を備えた偏光感受光画像計測装置において、CCDカメラで取得した試料の偏光特性(複屈折)に応じた画像(断層像)の画像情報から、付加的なデータなしに、画像に含まれる情報を用いて画像を解析し、組織判別可能なように可視化できる画像処理を行う構成を特徴とするものであり、これにより、試料についてその組織の画像特性に対する事前の知識なくても、特定組織を判別表示することが可能となる。
(1)試料の断層像に含まれる組織の特性を示す複数種類のパラメータである物理量の中から選択された所定の2種類以上のパラメータである物理量の値(以下、「パラメータ値」という)を、断層像の複数の点に対応し画像情報から抽出する手段(以下、「抽出手段」という)。
(2)抽出されたパラメータ値を、複数のパラメータである物理量を規定する座標上にプロットする手段(以下、「プロット手段」という)。
(3)基準となる試料の断層像について、プロット手段でパラメータ値がプロットされた複数の点をプロット群に分類(分離)する基準を設定する手段(以下、「基準設定手段」という)。
(4)被計測試料の断層像について、プロット手段でパラメータ値がプロットされた複数の点を、前記基準で分類する手段(以下、「分類手段」という)。
(5)分類された前記複数の点に対応した断層像の領域(試料の部位)にカラーを付し可視化する手段(以下、「可視化手段」という)。
(1)画素強度(intensity)
画素強度としては、1画素の強度としてもよいが、5画素×5画素の局所的な平均強度であってもよい。また、平均強度と注目している画素の強度差である局所的なコントラストであってもよい。
(2)画像強度の傾斜量(深さ方向の微分値)
表面から深さ方向の所定箇所までの複屈折量(位相遅延量)の累積量ではなく、所定箇所を含む局所領域の複屈折量(位相遅延量)である。
(4)複屈折量(位相遅延量)の傾斜量(深さ方向の微分値)
具体的には、位相遅延量の局所的傾斜量(深さ方向の微分値)である。
(6)複屈折の局所コントラスト
(7)光学軸の方向(axis of orientation)
(8)2色性(diattenuation)
本発明に係る光画像計測装置における画像情報の解析組織判別可視化装置の作用を、以下説明する。ここでは、画像処理する断層像の画像情報は、光画像計測装置により取得し、画像解析組織判別可視化装置(コンピュータ)に入力されるものとし(図4(a)の(ア)、(イ)、図4(b)の(ア’)、(イ’))、画像解析組織判別可視化装置による画像解析及び組織判別可視化のプロセスを中心に説明する。
本発明に係る光画像計測装置における画像情報の解析組織判別可視化装置による計測例を、以下説明する。試料(基準試料、被計測試料)は、解剖学的に人の目の結膜と強膜である。
2 光源
3、12 偏光子
4 EO変調器(偏光変調器、電気光学変調器)
5 ファイバーカプラー(光カプラー)
6 参照アーム
7 試料アーム
8 分光器
9 ファイバー
10、15、18 偏波コントローラ(polarization controller)
11 コリメートレンズ
13 集光レンズ
14 参照鏡(固定鏡)
16 ガルバノ鏡
17 試料
19 回折格子
20 フーリエ変換レンズ
21 偏光ビームスプリッター
22、23 光検出器(ラインCCDカメラ)
24 固定鏡
Claims (4)
- 光画像計測装置において、取得した試料の断層像の画像情報を画像処理装置に入力して、断層像の画像情報に含まれる情報を用いて画像を解析し、組織判別可能なように可視化を行う画像解析及び組織判別可視化装置であって、
試料の断層像に含まれる組織の特性を示す複数種類のパラメータである物理量の中から選択された所定の2種類以上のパラメータである物理量の値を、断層像の複数の点に対応し該断層像の画像情報から抽出する抽出手段と、
該抽出された前記2種類以上のパラメータである物理量の値を、前記2種類以上のパラメータである物理量を規定する座標上に、点としてプロットするプロット手段と、
基準となる試料の断層像の画像情報から前記抽出手段で抽出し、前記プロット手段でプロットされた複数の点を分類する基準線を設定する基準設定手段と、
前記基準線で前記複数の点を分類する手段と、
分類された前記複数の点について、それぞれ該分類に対応したカラー情報を付し、該カラー情報を付された前記複数の点に対応する断層像の領域にカラーを付す可視化手段と、を備えており、
被計測試料の断層像の画像情報から前記抽出手段で前記2種類以上のパラメータである物理量の値を抽出し、これを前記プロット手段でプロットした複数の点を、前記基準線で分類し、該分類に対応するカラー情報を付し、該複数の点に対応する断層像の領域にカラーを付して断層像をカラー化する構成であることを特徴とする光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置。 - 光画像計測装置は、偏光感受光画像計測装置であることを特徴とする請求項1記載の光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置。
- 前記パラメータである物理量は2種類以上であることを特徴とする請求項1又は2記載の光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置。
- 前記パラメータである物理量は、画素強度、画像強度の深さ方向の微分値、局所複屈折量、複屈折量の深さ方向の微分値、位相遅延量の深さ方向の微分値の最小自乗フィッティング誤差の標準偏差、複屈折の局所コントラスト及び光学軸の方向から選択された少なくとも2種類の物理量であることを特徴とする請求項1又は2記載の光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置。
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JP2008331434A JP2010151685A (ja) | 2008-12-25 | 2008-12-25 | 光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013531262A (ja) * | 2010-07-21 | 2013-08-01 | ディオプシス、インコーポレーテッド | 色反射率離散化分析を用いて光コヒーレンストモグラフィー(oct)の結果を分析する方法およびシステム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2003126015A (ja) * | 2001-10-22 | 2003-05-07 | Olympus Optical Co Ltd | 内視鏡装置 |
JP2004000478A (ja) * | 2002-03-28 | 2004-01-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 蛍光判定方法および装置 |
JP2004188026A (ja) * | 2002-12-12 | 2004-07-08 | Olympus Corp | 情報処理装置 |
JP2008272256A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Univ Of Tsukuba | 偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置、該装置の信号処理方法、及び該装置における表示方法 |
-
2008
- 2008-12-25 JP JP2008331434A patent/JP2010151685A/ja active Pending
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