JP2010141009A - 切削装置の切削ブレード検出機構 - Google Patents
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Abstract
【課題】発光素子の発光面から発光された光を複数の光ファイバーの一端面に均一に照射されるようにした発光手段を備えた切削ブレード検出機構を提供する。
【解決手段】被加工物を保持するチャックテーブルに保持された被加工物を切削する環状の切れ刃を備えた切削ブレードの回転軸方向の一方の側に配設された発光手段と、切削ブレードの回転軸方向の他方の側に発光手段と対向して配設され発光手段によって照射された光を受光する受光手段とを有する切削装置の切削ブレード検出機構であって、発光手段6は発光素子612と発光素子の発光面に一端面が対向して配設された複数の光ファイバー621と複数の光ファイバーの他端面を切削ブレードの径方向に直列に配設した投光部63とを具備し、発光素子と複数の光ファイバーの一端面との間に外周面が鏡面に形成された円筒状の散光スペーサ614を配設する。
【選択図】図4
【解決手段】被加工物を保持するチャックテーブルに保持された被加工物を切削する環状の切れ刃を備えた切削ブレードの回転軸方向の一方の側に配設された発光手段と、切削ブレードの回転軸方向の他方の側に発光手段と対向して配設され発光手段によって照射された光を受光する受光手段とを有する切削装置の切削ブレード検出機構であって、発光手段6は発光素子612と発光素子の発光面に一端面が対向して配設された複数の光ファイバー621と複数の光ファイバーの他端面を切削ブレードの径方向に直列に配設した投光部63とを具備し、発光素子と複数の光ファイバーの一端面との間に外周面が鏡面に形成された円筒状の散光スペーサ614を配設する。
【選択図】図4
Description
本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物を切削する切削装置に装備される切削ブレードの状態を検出するための切削ブレード検出機構に関する。
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハをストリートに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々の半導体チップを製造している。また、サファイヤ基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体等が積層された光デバイスウエーハもストリートに沿って切断することにより個々の発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイスに分割され、電気機器に広く利用されている。
上述した半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等のストリートに沿った切断は、通常、ダイサーと呼ばれる切削ブレードを備えた切削装置によって行われている。この切削装置は、磨耗して直径が減少した切削ブレードの環状の切れ刃の交換時期および環状の切れ刃の欠けを検出するための切削ブレード検出機構を備えている。
上記切削ブレードの検出機構は、切削ブレードの環状の切れ刃が侵入するブレード侵入部と、該ブレード侵入部に対向して配設される発光手段および受光手段とを備えている。この切削ブレード検出機構は、発光手段が発する光を受光手段が受光し、受光手段が受光した光の光量に対応した電圧に変換することにより、発光手段と受光体手段の間のブレード侵入部に位置する切削ブレードの環状の切れ刃の状態を検出する。(例えば、特許文献1参照)
実用新案登録第511370号公報
上記発光手段および受光手段は細い光ファイバーを複数束ねて構成されている。このように細い光ファイバーを複数束ねて構成された発光手段は、直径が略1mmの円形の光を発光する。一方、切削ブレードの環状の切れ刃は1〜2mm突出しており、その50〜70%程度磨耗すると交換時期となる。しかるに、円形の光を発する発光手段を用いて切削ブレードの環状の切れ刃の磨耗を正確に検出するためには、発光手段および受光手段の直径を中心として60%(例えば0.6mm)の範囲を用いる。従って、切削ブレードの環状の切れ刃の使用範囲(例えば0.5〜1mm)を検出するには、発光手段および受光手段を段階的に切削ブレードの径方向に調節する必要がある。
上述した問題を解消するために本出願人は、発光手段を投光部を構成する複数の光ファイバーをそれぞれ切削ブレードの径方向に直列に配設するとともに、発光手段の受光部を構成する複数の光ファイバーを切削ブレードの径方向に直列に配設した切削装置の切削ブレード検出機構を特願2007−258834号として提案した。
而して、発光手段は発光素子と該発光素子の発光面に一端面が対向して配設された複数の光ファイバーと該複数の光ファイバーの他端面を切削ブレードの径方向に直列に配設した投光部とからなっているが、発光素子の発光面から発光された光が複数の光ファイバーの一端面に均一に照射されないため、複数の光ファイバーの他端面から投光される光の光量が不均一となる。このため、受光手段によって受光される光の光量が切削ブレードの磨耗に対して急激に変化する場合があり、切削ブレード磨耗量を高精度に検出することができないという問題がある。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術的課題は、発光素子の発光面から発光された光を複数の光ファイバーの一端面に均一に照射されるようにした発光手段を備えた切削ブレード検出機構を提供することにある。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、被加工物を保持するチャックテーブルに保持された被加工物を切削する環状の切れ刃を備えた切削ブレードの回転軸方向の一方の側に配設された発光手段と、切削ブレードの回転軸方向の他方の側に該発光手段と対向して配設され該発光手段によって照射された光を受光する受光手段と、を具備する切削装置の切削ブレード検出機構において、
該発光手段は、発光素子と該発光素子の発光面に一端面が対向して配設された複数の光ファイバーと該複数の光ファイバーの他端面を切削ブレードの径方向に直列に配設した投光部とを具備し、該発光素子と該複数の光ファイバーの一端面との間に外周面が鏡面に形成された円筒状の散光スペーサが配設されており、
該受光手段は、該複数の光ファイバーの一端面を切削ブレードの径方向に直列に配設し該受光手段の該発光部と対向して配置した受光部と、該複数の光ファイバーの他端面と受光面が対向して配設された受光素子とを具備している、
ことを特徴とする切削装置の切削ブレード検出機構が提供される。
該発光手段は、発光素子と該発光素子の発光面に一端面が対向して配設された複数の光ファイバーと該複数の光ファイバーの他端面を切削ブレードの径方向に直列に配設した投光部とを具備し、該発光素子と該複数の光ファイバーの一端面との間に外周面が鏡面に形成された円筒状の散光スペーサが配設されており、
該受光手段は、該複数の光ファイバーの一端面を切削ブレードの径方向に直列に配設し該受光手段の該発光部と対向して配置した受光部と、該複数の光ファイバーの他端面と受光面が対向して配設された受光素子とを具備している、
ことを特徴とする切削装置の切削ブレード検出機構が提供される。
上記受光手段は、複数の光ファイバーの他端面と受光素子との間に配設され外周面が鏡面に形成された円筒状の散光スペーサを備えていることが望ましい。
本発明による切削ブレード検出機構は、発光手段を構成する発光素子と複数の光ファイバーの一端面との間に外周面が鏡面に形成された円筒状の散光スペーサが配設されているので、発光素子から発光された光が散光スペーサを通る際に外周面で反射して分散されるため、複数の光ファイバーの一端面に均一に照射される。従って、複数の光ファイバーの他端面を切削ブレードの径方向に直列に配設しても全ての複数の光ファイバーの他端面から均一な光を投光することができる。
以下、本発明に従って構成された切削装置の切削ブレード検出機構の好適な実施形態について、添付図面を参照して、更に詳細に説明する。
図1には、本発明に従って構成された切削ブレード検出機構を装備した切削装置の斜視図が示されている。図1に示す切削装置1は、略直方体状の装置ハウジング2を具備している。この装置ハウジング2内には、被加工物を保持するチャックテーブル3が切削送り方向である矢印Xで示す方向に移動可能に配設されている。チャックテーブル3は、吸着チャック支持台31と、該吸着チャック支持台31上に配設された吸着チャック32を具備しており、該吸着チャック32の上面である保持面上に被加工物を図示しない吸引手段を作動することによって吸引保持するようになっている。また、チャックテーブル3は、図示しない回転機構によって回転可能に構成されている。なお、チャックテーブル31には、被加工物として後述するウエーハをダイシングテープを介して支持する環状のフレームを固定するためのクランプ33が配設されている。このように構成されたチャックテーブル3は、図示しない切削送り手段によって、矢印Xで示す切削送り方向に移動せしめられるようになっている。
図1に示す切削装置1は、切削手段としてのスピンドルユニット4を具備している。スピンドルユニット4は、図示しない割り出し送り手段によって図1において矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられるとともに、図示しない切り込み送り手段によって図1において矢印Zで示す切り込み送り方向に移動せしめられるようになっている。このスピンドルユニット4は、図示しない移動基台に装着され割り出し方向である矢印Yで示す方向および切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整されるスピンドルハウジング41と、該スピンドルハウジング41に回転自在に支持された回転スピンドル42と、該回転スピンドル42の前端部に装着された切削ブレード43とを具備している。切削ブレード43は、例えば図2に示すようにアルミニウムによって形成された円盤状の基台431と、該基台431の外周部側面にダイヤモンド砥粒をニッケルメッキで固めて厚さが15〜30μmに形成された円環状の切れ刃432からなっている。
図2を参照して説明を続けると、上記スピンドルハウジング41の前端部には、切削ブレード43の上半部を覆うブレードカバー44が取り付けられている。ブレードカバー44は、図示の実施形態においてはスピンドルハウジング41に装着された第1のカバー部材441と、該第1のカバー部材441に装着される第2のカバー部材442とからなっている。第1のカバー部材441の側面には雌ネジ穴441aと2個の位置決めピン441bが設けられており、第2のカバー部材442には上記雌ネジ穴441aと対応する位置に挿通穴442aが設けられている。また、第2のカバー部材442の第1のカバー部材441と対向する面には、上記2個の位置決めピン441bが嵌合する図示しない2個の凹部が形成されている。このように構成された第1のカバー部材441と第2のカバー部材442は、第2のカバー部材442に形成された図示しない2個の凹部を第1のカバー部材441に設けられた2個の位置決めピン441bに嵌合することによって位置決めする。そして、締結ボルト443を第2のカバー部材442の挿通穴442aに挿通し、第1のカバー部材441に設けられた雌ネジ穴441aと螺合することにより、第2のカバー部材442を第1のカバー部材441に装着する。
上記ブレードカバー44を構成する第1のカバー部材441と第2のカバー部材442には、それぞれ切削水供給管451、452が配設されている。この切削水供給管451、452の下端には、それぞれ切削ブレード43の円環状の切れ刃432の両側にそれぞれ配設され円環状の切れ刃432の両側面に向けて切削水を噴射する切削水供給ノズル461、462が接続されている。なお、上記切削水供給管451、452は、図示しない切削水供給手段に接続されている。
図示の実施形態におけるスピンドルユニット4のブレードカバー44を構成する第1のカバー部材441には、上記切削ブレード43の円環状の切れ刃432の磨耗や欠けを検出するための切削ブレード検出機構5が配設されている。この切削ブレード検出機構5について図2乃至図6を参照して説明する。図示の実施形態における切削ブレード検出機構5は、図2に示すように上記第1のカバー部材441に締結ボルト51によって取り付けられる取付け部材52と、図3に示すように該取付け部材52に上下方向摺動可能に配設される支持部材53と、該支持部材53の一方側に配設された発光手段6および支持部材53の他方側に配設された受光手段7を具備している。取付け部材52には、第3図に示すように上記支持部材53の厚みに対応する溝幅を有し下方が開放され上下方向に形成された案内溝521が形成されている。この案内溝521に支持部材53が上下方向に摺動可能に配設される。
上記支持部材53は、ステンレス鋼やアルミニウム等の金属材によって上記案内溝521の溝幅と対応する厚みを有する板状に形成され、その下部には上記切削ブレード43の環状の切れ刃432が侵入するブレード侵入凹部531が形成されており、該ブレード侵入凹部531の両側に発光体取付け部532と受光体取付け部533が設けられている。このように構成された支持部材53は、取付け部材52に形成された案内溝521の上下方向に摺動可能に配設され、取付け部材52に装着された調整ネジ54によって上下方向に移動調節されるようになっている。
上記発光手段6について、図4を参照して説明する。
図4に示す発光手段6は、発光部61と、該発光部61が発光した光を伝送する伝送部62と、該伝送部62によって伝送された光を投光する投光部63とからなっている。発光部61は、円筒状のホルダー611と、該ホルダー611内に配設された発光素子612と、カバーガラス613と、散光スペーサ614とを具備しており、円筒状のホルダー611の図4において下端部に伝送部62を構成する後述する複数の光ファイバーが接続される。発光素子612は、発光ダイオード(LED)等からなっており、発光面が612aが図4において下側に向けて配設されている。カバーガラス613は、発光素子612の図4において下側に発光面が612aと接触して配設されている。上記散光スペーサ614は、ガラス等の透明部材によって円筒状に形成されており、その外周面がクロームメッキ等により鏡面614aに形成されている。このように構成された発光手段6の発光部61は、発光素子612から発光された光がカバーガラス613を通して伝送部62を構成する後述する複数の光ファイバーに照射される。このとき、カバーガラス613を通過した光は散光スペーサ614を通る際に外周面である鏡面614aで反射して分散されるので、伝送部62を構成する後述する複数の光ファイバーに均一に照射される。
図4に示す発光手段6は、発光部61と、該発光部61が発光した光を伝送する伝送部62と、該伝送部62によって伝送された光を投光する投光部63とからなっている。発光部61は、円筒状のホルダー611と、該ホルダー611内に配設された発光素子612と、カバーガラス613と、散光スペーサ614とを具備しており、円筒状のホルダー611の図4において下端部に伝送部62を構成する後述する複数の光ファイバーが接続される。発光素子612は、発光ダイオード(LED)等からなっており、発光面が612aが図4において下側に向けて配設されている。カバーガラス613は、発光素子612の図4において下側に発光面が612aと接触して配設されている。上記散光スペーサ614は、ガラス等の透明部材によって円筒状に形成されており、その外周面がクロームメッキ等により鏡面614aに形成されている。このように構成された発光手段6の発光部61は、発光素子612から発光された光がカバーガラス613を通して伝送部62を構成する後述する複数の光ファイバーに照射される。このとき、カバーガラス613を通過した光は散光スペーサ614を通る際に外周面である鏡面614aで反射して分散されるので、伝送部62を構成する後述する複数の光ファイバーに均一に照射される。
上記発光手段6を構成する伝送部62は、直径が0.25〜0.27mmの複数(図示の実施形態においては16本)の光ファイバー621と、該複数の光ファイバー621を包囲するカバーチューブ622とからなっており、カバーチューブ622によって包囲された複数の光ファイバー621の一端部(図4において上端部)が円筒状のホルダー611の図4において下端部に接続される。このようにホルダー611に接続された複数の光ファイバー621は、一端面(図4において上端面)が発光素子612の発光面が612aに対向して配設される。
上記発光手段6を構成する投光部63は、上記伝送部62を構成する複数の光ファイバー621の他端部(図4において下端部)と、該他端部を固定する固定部材630とからなっている。この投光部63は、複数の光ファイバー621の半数(図示の実施形態においては8本)の他端部によって形成される第1の投光体群631と、複数の光ファイバー621の他の半数(図示の実施形態においては8本)の他端部によって形成される第2の投光体群632とからなっている。第1の投光体群631を構成する複数の光ファイバー621の他端面である投光面621aと第2の投光体群632を構成する複数の光ファイバー621の他端面である投光面621aは、それぞれ図4において上下方向に直列に互いに隣接して配設されている。そして、第1の投光体群631を構成する複数の光ファイバー621の他端面である投光面621aと第2の投光体群632を構成する複数の光ファイバー621の他端面である投光面621aは、互いに半径分オフセットして隣接して配設されている。従って、図示の実施形態においては第1の投光体群631は第2の投光体群632より光ファイバー621の半径分だけ図6において上方に位置している。このように構成された第1の投光体群631と第2の投光体群632を構成する複数の光ファイバー621は、投光面621a側の他端部が合成樹脂からなる固定部材630によって固定され、図3に示すように支持部材53の投光部取付け部532に上記ブレード侵入凹部531に向けて配設される。このとき、上記第1の投光体群631と第2の投光体群632は、図6に示すように切削ブレード43の径方向に直列になるように配設される。
以上のように構成された発光手段6は、図6に示すように発光部61を構成する発光素子612が制御手段8によって制御されるようになっている。
次に、受光手段7について、図5を参照して説明する。
図5に示す受光手段7は、上記発光手段6の投光部63から投光された光を受光する受光部71と、該受光部71が受光した光を伝送する伝送部72と、該伝送部72によって伝送された光の光量を検出する光量検出部73とからなっている。なお、伝送部72は、上記発光手段6を構成する伝送部62と同様に直径が0.25〜0.27mmの複数(図示の実施形態においては16本)の光ファイバー721と、該複数の光ファイバー721を包囲するカバーチューブ722とからなっている。
図5に示す受光手段7は、上記発光手段6の投光部63から投光された光を受光する受光部71と、該受光部71が受光した光を伝送する伝送部72と、該伝送部72によって伝送された光の光量を検出する光量検出部73とからなっている。なお、伝送部72は、上記発光手段6を構成する伝送部62と同様に直径が0.25〜0.27mmの複数(図示の実施形態においては16本)の光ファイバー721と、該複数の光ファイバー721を包囲するカバーチューブ722とからなっている。
受光手段7を構成する受光部71は、伝送部72を構成する複数の光ファイバー721の一端部(図5において下端部)と、該一端部を固定する固定部材710とからなっている。この受光部71は、複数の光ファイバー721の半数(図示の実施形態においては8本)の一端部によって形成される第1の受光体群711と、複数の光ファイバー721の他の半数(図示の実施形態においては8本)の一端部によって形成される第2の受光体群712とからなっている。第1の受光体群711を構成する複数の光ファイバー721の一端面である受光面721aと第2の受光体群712を構成する複数の光ファイバー721の一端面である受光面721aは、それぞれ図5において上下方向に直列に互いに隣接して配設されている。そして、第1の受光体群711を構成する複数の光ファイバー721の一端面である受光面721aと第2の受光体群712を構成する複数の光ファイバー721の一端面である受光面721aは、互いに半径分オフセットして隣接して配設されている。従って、図示の実施形態においては第1の受光体群711は第2の受光体群712より光ファイバー721の半径分だけ図5において上方に位置している。このように構成された第1の受光体群711と第2の受光体群712を構成する複数の光ファイバー721は、受光面721a側の一端部が合成樹脂からなる固定部材710によって固定され、図3に示すように支持部材53の受光部取り付け部533に上記ブレード侵入凹部531に向けて上記発光手段6の投光部63を構成する第1の投光体群631と第2の投光体群632と対向して配設される。このとき、上記第1の受光体群711と第2の受光体群712は、図6に示すように切削ブレード43の径方向に直列になるように配設される。
図5を参照して説明を続けると、受光手段7を構成する光量検出部73は、円筒状のホルダー731と、該ホルダー731内に配設された受光素子732と、カバーガラス733と、散光スペーサ734とを具備しており、円筒状のホルダー731の図5において下端部に伝送部72を構成する複数の光ファイバー721の他端部がカバーチューブ722に包囲された状態で接続される。受光素子732は、フォトダイオード(PD)等からなっており、受光面が732aが図5において下側に向けて配設されている。この受光素子732は、受光面が732aが受光した光の光量に対応した電圧信号を上記制御手段8(図6参照)に出力する。上記カバーガラス733は、受光素子732の図5において下側に受光面が732aと接触して配設されている。上記散光スペーサ734は、上述した発光手段6の発光部61を構成する散光スペーサ614と同様にガラス等の透明部材によって円筒状に形成されており、その外周面がクロームメッキ等により鏡面734aに形成されている。
以上のように構成された受光手段7は、上記発光手段6の投光部63を構成する第1の投光体群631と第2の投光体群632から投光された光を受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712で受光し、受光した光を伝送部72を構成する複数の光ファイバー721の他端面から受光素子732に向けて照射する。複数の光ファイバー721の他端面から照射された光は散光スペーサ734を通る際に外周面で反射して分散され均一な光となってカバーガラス733を通過して受光素子732の受光面が732aに受光される。従って、受光素子732は受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712で受光した光を正確に受光することができる。このようにして光を受光した受光素子732は、受光した光の光量に対応した電圧信号を制御手段8に送る。
以上のように構成された切削ブレード検出機構5の発光手段6の投光部63を構成する第1の投光体群631および第2の投光体群632と受光手段7の受光部71を構成する第1の受光体群711および第2の受光体群712は、図3に示すように切削ブレード43の円環状の切れ刃432の両側に位置付けられる。そして、図6に示すように発光手段6の投光部63を構成する第2の投光体群632の最上位の光ファイバー621の投光面621aと受光手段7の受光部71を構成する第2の受光体群712の最上位の光ファイバー721の受光面が721aの直径部付近が切削ブレード43の円環状の切れ刃432の外周縁に位置付けられるように上記調整ネジ54によって投光部63を構成する固定部材630および受光部71を構成する固定部材710を支持する支持部材53の上下方向の位置を調整する。このように位置付けられた発光手段6の投光部63を構成する第1の投光体群631と第2の投光体群632および受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712は、切削ブレード43の円環状の切れ刃432における少なくとも使用可能範囲をカバーするようになっている。従って、切削ブレード43を交換した際に、上述したように調整ネジ54によって第1の投光体群631および第2の投光体群632と第1の受光体群711および第2の受光体群712を支持する支持部材53の上下方向の位置を調整すれば、切削ブレード43の円環状の切れ刃432が使用限界に達するまで、発光手段6の投光部63を構成する第1の投光体群631と第2の投光体群632および受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712の位置を調整する必要がない。
図示の実施形態における切削ブレード検出機構5は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
切削ブレード43が回転している状態において制御手段8は、発光手段6の発光部61を構成する発光素子612および受光手段7の光量検出部73を構成する受光素子732を附勢(ON)する。この結果、発光手段6の発光素子612が発光され、発光された光がカバーガラス613を通して伝送部62を構成する複数の光ファイバー621の一端面に照射される。このとき、上述したようにカバーガラス613を通過した光が散光スペーサ614を通る際に外周面に形成された鏡面614aで反射して分散されるので、伝送部62を構成する複数の光ファイバー621の一端面に均一に照射される。そして、投光部63を構成する第1の投光体群631と第2の投光体群632の複数の光ファイバー621の他端面である投光面621aから受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712の複数の光ファイバー721の受光面721aに向けて光が照射される。一方、受光手段7は、上記発光手段6の投光部63を構成する第1の投光体群631と第2の投光体群632から投光された光を受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712の複数の光ファイバー721の受光面721aで受光し、受光した光を複数の光ファイバー721の他端面から受光素子732に向けて照射する。複数の光ファイバー721の他端面から照射された光は散光スペーサ734を通る際に外周面に形成された鏡面734aで反射して分散され均一な光となってカバーガラス733を通過して受光素子732の受光面が732aに受光される。このようにして光を受光した受光素子732は、光量に対応した電圧信号を制御手段8に出力する。
切削ブレード43が回転している状態において制御手段8は、発光手段6の発光部61を構成する発光素子612および受光手段7の光量検出部73を構成する受光素子732を附勢(ON)する。この結果、発光手段6の発光素子612が発光され、発光された光がカバーガラス613を通して伝送部62を構成する複数の光ファイバー621の一端面に照射される。このとき、上述したようにカバーガラス613を通過した光が散光スペーサ614を通る際に外周面に形成された鏡面614aで反射して分散されるので、伝送部62を構成する複数の光ファイバー621の一端面に均一に照射される。そして、投光部63を構成する第1の投光体群631と第2の投光体群632の複数の光ファイバー621の他端面である投光面621aから受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712の複数の光ファイバー721の受光面721aに向けて光が照射される。一方、受光手段7は、上記発光手段6の投光部63を構成する第1の投光体群631と第2の投光体群632から投光された光を受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712の複数の光ファイバー721の受光面721aで受光し、受光した光を複数の光ファイバー721の他端面から受光素子732に向けて照射する。複数の光ファイバー721の他端面から照射された光は散光スペーサ734を通る際に外周面に形成された鏡面734aで反射して分散され均一な光となってカバーガラス733を通過して受光素子732の受光面が732aに受光される。このようにして光を受光した受光素子732は、光量に対応した電圧信号を制御手段8に出力する。
上述したように受光手段7の受光部71を構成する第1の受光体群711と第2の受光体群712の複数の光ファイバー721の受光面721aが受光する光の光量は、切削ブレード43の円環状の切れ刃432が磨耗していない状態では少なく、磨耗するに従って増大する。従って、切削ブレード43によって切削が行われている際には、時間の経過に従って受光素子732は図7に示すような電圧信号を出力する。受光素子732が出力した電圧信号を入力した制御手段8は、使用限界とともに後述する表示手段に表示するとともに、使用限界に達した場合には警報信号を出力する。また、切削ブレード43によって切削が行われている際に切削ブレード43の円環状の切れ刃432の一部に欠けが発生した場合には、受光素子732は図8に示すように間欠的にピーク値を有する電圧信号を出力する。この電圧信号を入力した制御手段8は、後述する表示手段に表示する。このように、受光素子732が出力した電圧信号を後述する表示手段に表示することにより、オペレータは切削ブレード43の円環状の切れ刃432が使用限界に達したこと、および切削ブレード43の円環状の切れ刃432に欠けが発生したことを確認することができる。
図1に戻って説明を続けると、切削装置1は、上記チャックテーブル3上に保持された被加工物の表面を撮像し、上記切削ブレード43によって切削すべき領域を検出するための撮像手段11を具備している。この撮像手段11は、顕微鏡やCCDカメラ等の光学手段からなっている。また、切削装置1は、撮像手段11によって撮像された画像や上記制御手段8による判定結果等を表示する表示手段12を具備している。
上記装置ハウジング2におけるカセット載置領域13aには、被加工物を収容するカセットを載置するカセット載置テーブル13が配設されている。このカセット載置テーブル13は、図示しない昇降手段によって上下方向に移動可能に構成されている。カセット載置テーブル13上には、被加工物としての半導体ウエーハ10を収容するカセット14が載置される。カセット14に収容される半導体ウエーハ10は、表面に格子状のストリートが形成されており、この格子状のストリートによって区画された複数の矩形領域にIC、LSI等のデバイスが形成されている。このように形成された半導体ウエーハ10は、環状の支持フレームFに装着されたダイシングテープTの表面に裏面が貼着された状態でカセット14に収容される。
また、図示の実施形態における切削装置は、カセット載置テーブル13上に載置されたカセット14に収容されている半導体ウエーハ10(環状のフレームFにダイシングテープTを介して支持されている状態)を仮置きテーブル15に搬出する搬出・搬入手段16と、仮置きテーブル15に搬出された半導体ウエーハ10を上記チャックテーブル3上に搬送する第1の搬送手段17と、チャックテーブル3上で切削加工された半導体ウエーハ10を洗浄する洗浄手段18と、チャックテーブル3上で切削加工された半導体ウエーハ10を洗浄手段18へ搬送する第2の搬送手段19を具備している。
次に、上述した切削装置1を用いて半導体ウエーハ10を所定のストリートに沿って切断する切削作業について説明する。
カセット載置テーブル13上に載置されたカセット14の所定位置に収容されている半導体ウエーハ10(環状のフレームFにダイシングテープTを介して支持されている状態)は、図示しない昇降手段によってカセット載置テーブル13が上下動することにより搬出位置に位置付けられる。次に、搬出・搬入手段16が進退作動して搬出位置に位置付けられた半導体ウエーハ10を仮置きテーブル15上に搬出する。仮置きテーブル15に搬出された半導体ウエーハ10は、第1の搬送手段17の旋回動作によって上記チャックテーブル3上に搬送される。
カセット載置テーブル13上に載置されたカセット14の所定位置に収容されている半導体ウエーハ10(環状のフレームFにダイシングテープTを介して支持されている状態)は、図示しない昇降手段によってカセット載置テーブル13が上下動することにより搬出位置に位置付けられる。次に、搬出・搬入手段16が進退作動して搬出位置に位置付けられた半導体ウエーハ10を仮置きテーブル15上に搬出する。仮置きテーブル15に搬出された半導体ウエーハ10は、第1の搬送手段17の旋回動作によって上記チャックテーブル3上に搬送される。
チャックテーブル3上に半導体ウエーハ10が載置されたならば、図示しない吸引手段が作動して半導体ウエーハ10をチャックテーブル3上に吸引保持する。また、半導体ウエーハ10をダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFは、上記クランプ33によって固定される。このようにして半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル3は、撮像手段11の直下まで移動せしめられる。チャックテーブル3が撮像手段11の直下に位置付けられると、撮像手段11によって半導体ウエーハ10に形成されているストリートが検出され、スピンドルユニット4を割り出し方向である矢印Y方向に移動調節してストリートと切削ブレード43との精密位置合わせ作業が行われる。
その後、チャックテーブル3を切削ブレード43の下方である切削加工領域に移動し、切削ブレード43を所定方向に回転せしめるとともに、矢印Zで示す方向に所定量切り込み送りし、切削ブレード43の最下端がダイシングテープTに達する位置に位置付ける。そして、半導体ウエーハ10を吸引保持したチャックテーブル3を切削送り方向である矢印Xで示す方向に所定の切削送り速度で移動する。この結果、チャックテーブル3上に保持された半導体ウエーハ10は、切削ブレード43により所定のストリートに沿って切断される(切削工程)。この切削工程を実施する際には、切削水供給ノズル461、462から切削水が切削ブレード43の側面に向けて噴射される。
以上のようにして、半導体ウエーハ10を所定のストリートに沿って切断したら、チャックテーブル3を図1において矢印Yで示す方向にストリートの間隔だけ割り出し送りし、上記切削工程を実施する。そして、半導体ウエーハ10の所定方向に延在するストリートの全てに沿って切削工程を実施したならば、チャックテーブル3を90度回転させて、半導体ウエーハ10の所定方向と直交する方向に延在するストリートに沿って切削工程を実行することにより、半導体ウエーハ10に格子状に形成された全てのストリートが切削されて個々のデバイスに分割される。なお、分割された個々のデバイスは、ダイシングテープTの作用によってバラバラにはならず、環状のフレームFに支持されたウエーハの状態が維持されている。
上述したように半導体ウエーハ10のストリートに沿って切削工程が終了したら、半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル3は最初に半導体ウエーハ10を吸引保持した位置に戻される。そして、半導体ウエーハ10の吸引保持を解除する。次に、半導体ウエーハ10は第2の搬送手段19によって洗浄手段18に搬送される。洗浄手段18に搬送された半導体ウエーハ10は、ここで洗浄される。このようにして洗浄された半導体ウエーハ10は、乾燥後に第1の搬送手段17によって仮置きテーブル15に搬送される。そして、半導体ウエーハ10は、搬出・搬入手段16によってカセット14の所定位置に収納される。
上述した切削工程を実施している際に上記切削ブレード検出機構5も作動しており、上述したように受光素子732が出力した電圧信号を表示手段12に表示することにより、切削ブレード43の円環状の切れ刃432の磨耗状況や円環状の切れ刃432の欠けが発生したことを確認することができる。
1:切削装置
2:装置ハウジング
3:チャックテーブ
4:スピンドルユニット
41:回転スピンドル
43:切削ブレード
44:ブレードカバー
461,462:切削水供給ノズル
5:切削ブレード検出機構
52:取付け部材
53:支持部材
6:発光手段
61:発光部
612:発光素子
613:カバーガラス
614:散光スペーサ
62:伝送部
621:光ファイバー
63:投光部
7:受光手段:
71:受光部
72:伝送部72
721:光ファイバー
73:光量検出部
732:受光素子
733:カバーガラス
734:散光スペーサ
8:制御手段
10:半導体ウエーハ
11:撮像手段
12:表示手段
13:カセット載置テーブル
14:カセット
15:仮置きテーブル
16:搬出・搬入手段
17:第1の搬送手段
18:洗浄手段
19:第2の搬送手段
2:装置ハウジング
3:チャックテーブ
4:スピンドルユニット
41:回転スピンドル
43:切削ブレード
44:ブレードカバー
461,462:切削水供給ノズル
5:切削ブレード検出機構
52:取付け部材
53:支持部材
6:発光手段
61:発光部
612:発光素子
613:カバーガラス
614:散光スペーサ
62:伝送部
621:光ファイバー
63:投光部
7:受光手段:
71:受光部
72:伝送部72
721:光ファイバー
73:光量検出部
732:受光素子
733:カバーガラス
734:散光スペーサ
8:制御手段
10:半導体ウエーハ
11:撮像手段
12:表示手段
13:カセット載置テーブル
14:カセット
15:仮置きテーブル
16:搬出・搬入手段
17:第1の搬送手段
18:洗浄手段
19:第2の搬送手段
Claims (2)
- 被加工物を保持するチャックテーブルに保持された被加工物を切削する環状の切れ刃を備えた切削ブレードの回転軸方向の一方の側に配設された発光手段と、切削ブレードの回転軸方向の他方の側に該発光手段と対向して配設され該発光手段によって照射された光を受光する受光手段と、を具備する切削装置の切削ブレード検出機構において、
該発光手段は、発光素子と該発光素子の発光面に一端面が対向して配設された複数の光ファイバーと該複数の光ファイバーの他端面を切削ブレードの径方向に直列に配設した投光部とを具備し、該発光素子と該複数の光ファイバーの一端面との間に外周面が鏡面に形成された円筒状の散光スペーサが配設されており、
該受光手段は、該複数の光ファイバーの一端面を切削ブレードの径方向に直列に配設し該受光手段の該発光部と対向して配置した受光部と、該複数の光ファイバーの他端面と受光面が対向して配設された受光素子とを具備している、
ことを特徴とする切削装置の切削ブレード検出機構。 - 該受光手段は、該複数の光ファイバーの他端面と受光素子との間に配設され外周面が鏡面に形成された円筒状の散光スペーサを備えている、請求工1記載の切削装置の切削ブレード検出機構。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2008314332A JP2010141009A (ja) | 2008-12-10 | 2008-12-10 | 切削装置の切削ブレード検出機構 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2008314332A JP2010141009A (ja) | 2008-12-10 | 2008-12-10 | 切削装置の切削ブレード検出機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010141009A true JP2010141009A (ja) | 2010-06-24 |
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ID=42350906
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| JP2008314332A Pending JP2010141009A (ja) | 2008-12-10 | 2008-12-10 | 切削装置の切削ブレード検出機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2010141009A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014159064A (ja) * | 2013-02-20 | 2014-09-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | 切削ブレード検出機構 |
| CN104440552A (zh) * | 2014-12-08 | 2015-03-25 | 重庆衡山机械有限责任公司 | 螺旋桨叶片数控砂带磨床测量机构及检测方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01158990U (ja) * | 1988-04-23 | 1989-11-02 | ||
| JPH0388345U (ja) * | 1989-12-22 | 1991-09-10 |
-
2008
- 2008-12-10 JP JP2008314332A patent/JP2010141009A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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| JPH01158990U (ja) * | 1988-04-23 | 1989-11-02 | ||
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