JP2010085735A - Movable structure body, light scanning mirror using the same, and method of manufacturing the movable structure body - Google Patents

Movable structure body, light scanning mirror using the same, and method of manufacturing the movable structure body Download PDF

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清彦 河野
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To remarkably reduce the resonance frequency of a movable plate while assuring strength and rigidity of hinges in a movable structure body. <P>SOLUTION: A scanning mirror 1 is formed of a three-layer substrate 200 of silicon film 210, an oxide film 220, and a metal film 230. In the silicon film 210, the movable plate 50 is formed so that it is pivotally supported by a fixed frame 4 so as to be rockable via a first hinge 5. Below the movable plate 50, a metal structure body 9 composed of the oxide film 220 and the metal film 230 is formed so as to be rockable integrally with the movable plate 50. Since the metal structure body 9 is provided, the moment of inertia of the movable plate 50 including the metal structure body 9 around the first hinges 5 becomes large. Accordingly, the resonance frequency of the movable plate 50 is remarkably reduced while assuring the strength and the rigidity of the first hinges 5. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、ヒンジに軸支され揺動可能に構成された可動板を有する可動構造体とそれを用いた光走査ミラー及び可動構造体の製造方法に関する。   The present invention relates to a movable structure having a movable plate pivotally supported by a hinge and configured to be swingable, an optical scanning mirror using the movable structure, and a method of manufacturing the movable structure.

従来より、例えばバーコードリーダやプロジェクタ等の光学機器として、ミラー面が設けられた可動板を揺動させて、そのミラー面に入射した光ビーム等をスキャンする光走査ミラーを用いたものが知られている(例えば、特許文献1参照)。光走査ミラーとしては、例えば、マイクロマシニング技術を用いて成形される可動構造体を有する小型のものが知られている。このような可動構造体は、光走査ミラーとして用いられるときにミラー面が形成される可動板と、可動板を支持する固定フレームとを有している。可動板と固定フレームとは互いにヒンジにより連結されている。可動板は、例えば、可動板と固定フレームとの間に形成された互いに噛み合う一対の櫛歯電極により駆動される。櫛歯電極は、例えば互いの電極が数μm程度の間隔で噛み合うように形成されており、互いの電極間に電圧が印加されることにより静電力を発生する。可動板は、櫛歯電極が発生する駆動力により、ヒンジを捻りながら固定フレームに対し回動し、ヒンジを軸として揺動する。   2. Description of the Related Art Conventionally, optical devices such as barcode readers and projectors that use an optical scanning mirror that swings a movable plate provided with a mirror surface and scans a light beam incident on the mirror surface are known. (For example, refer to Patent Document 1). As a light scanning mirror, for example, a small one having a movable structure formed by using a micromachining technique is known. Such a movable structure has a movable plate on which a mirror surface is formed when used as an optical scanning mirror, and a fixed frame that supports the movable plate. The movable plate and the fixed frame are connected to each other by a hinge. The movable plate is driven by, for example, a pair of interdigitated electrodes formed between the movable plate and the fixed frame. The comb electrodes are formed, for example, such that the electrodes are engaged with each other at intervals of about several μm, and an electrostatic force is generated when a voltage is applied between the electrodes. The movable plate rotates with respect to the fixed frame while twisting the hinge by the driving force generated by the comb-tooth electrode, and swings about the hinge.

ところで、例えば2軸に揺動し2次元に光を走査可能な光走査ミラー等においては、走査線の数を増加させて高解像度の走査を行うため、一方の軸についての揺動の共振周波数を低くしたいという要望がある。揺動の共振周波数を低くする方法としては、ヒンジを細くするなどしてヒンジのねじり方向のばね定数を小さくすることが考えられる。しかしながら、ヒンジを細くすると、ヒンジの強度が不足し、光走査ミラーの耐衝撃性が損なわれる。また、ヒンジの剛性も不足するため、可動板が揺動以外の方向にも変位しやすくなり、正確に光走査を行うことができなくなる場合がある。   By the way, for example, in an optical scanning mirror that swings about two axes and can scan light in two dimensions, the number of scanning lines is increased to perform high-resolution scanning. There is a desire to lower the value. As a method for lowering the resonance frequency of oscillation, it is conceivable to reduce the spring constant in the torsion direction of the hinge, for example, by thinning the hinge. However, if the hinge is made thin, the strength of the hinge is insufficient, and the impact resistance of the optical scanning mirror is impaired. Further, since the rigidity of the hinge is insufficient, the movable plate is likely to be displaced in directions other than the swinging, and it may be impossible to perform optical scanning accurately.

なお、特許文献1には、可動板に例えば樹脂製の質量片を設けて、可動板の揺動の共振周波数を調整可能にすることが開示されている。しかしながら、このような質量片を設けて可動板の共振周波数を低くしようとすると、可動板の慣性モーメントを十分に大きくするために必要な質量片の体積が大きくなり過ぎ、光走査ミラーの小型化が困難になるという問題がある。
特開2004−219889号公報
Patent Document 1 discloses that a movable mass is provided with a mass piece made of resin, for example, so that the resonance frequency of the oscillation of the movable plate can be adjusted. However, if such a mass piece is provided and the resonance frequency of the movable plate is lowered, the volume of the mass piece necessary for sufficiently increasing the moment of inertia of the movable plate becomes too large, and the optical scanning mirror is downsized. There is a problem that becomes difficult.
JP 2004-219889 A

本発明は、上記問題点を鑑みてなされたものであり、ヒンジの強度や剛性を確保しつつ、可動板の共振周波数を大幅に低くすることができる可動構造体を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a movable structure that can significantly reduce the resonance frequency of the movable plate while ensuring the strength and rigidity of the hinge. .

上記目的を達成するため、請求項1の発明は、可動板と、それぞれ前記可動板に一端部が接続され前記可動板の1つの揺動軸を構成する一対のヒンジと、前記一対のヒンジのそれぞれの他端部が接続されており前記ヒンジを支持する固定フレームとを備え、前記可動板が、前記一対のヒンジをねじりながら前記固定フレームに対して揺動可能に構成されている可動構造体において、前記可動板の厚み方向の下面には、前記可動板の前記一対のヒンジ回りの慣性モーメントを大きくするために、金属膜又は金属構造体が形成されているものである。   In order to achieve the above object, the invention of claim 1 is directed to a movable plate, a pair of hinges each having one end connected to the movable plate and constituting one swinging shaft of the movable plate, and the pair of hinges. A movable frame that is connected to each other end and supports the hinge, and the movable plate is configured to be swingable with respect to the fixed frame while twisting the pair of hinges. The metal plate or the metal structure is formed on the lower surface of the movable plate in the thickness direction in order to increase the moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate.

請求項2の発明は、請求項1の発明において、前記金属膜又は金属構造体の形状は、前記一対のヒンジにより構成される前記可動板の揺動軸を通り前記可動板に垂直な平面に対して対称であるものである。   According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the shape of the metal film or metal structure is a plane perpendicular to the movable plate that passes through the swing axis of the movable plate constituted by the pair of hinges. It is symmetrical with respect to it.

請求項3の発明は、請求項1又は請求項2の発明において、前記可動板の上面から前記金属膜又は金属構造体の下端部までの当該可動板の厚み方向の寸法は、前記可動板の上面から前記固定フレームの下端部までの寸法より短いものである。   According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the dimension in the thickness direction of the movable plate from the upper surface of the movable plate to the lower end of the metal film or metal structure is the same as that of the movable plate. It is shorter than the dimension from the upper surface to the lower end of the fixed frame.

請求項4の発明は、請求項1又は請求項2の発明において、前記可動板の前記一対のヒンジ回りの慣性モーメントが所望の値となるように、前記可動板の上面から前記金属膜又は金属構造体の下端部までの当該可動板の厚み方向の寸法が設定されているものである。   According to a fourth aspect of the present invention, in the first or second aspect of the invention, the metal film or the metal is formed from the upper surface of the movable plate so that the moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate becomes a desired value. The dimension in the thickness direction of the movable plate up to the lower end of the structure is set.

請求項5の発明は、請求項1又は請求項2の発明において、前記可動板の前記一対のヒンジ回りの慣性モーメントが所望の値となるような位置に、前記金属膜又は金属構造体が配置されているものである。   According to a fifth aspect of the present invention, in the first or second aspect of the invention, the metal film or the metal structure is disposed at a position where the moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate becomes a desired value. It is what has been.

請求項6の発明は、請求項1乃至請求項5のいずれか一項の発明において、前記金属層は、ポーラス構造であるものである。   The invention of claim 6 is the invention according to any one of claims 1 to 5, wherein the metal layer has a porous structure.

請求項7の発明は、請求項1乃至請求項6のいずれか一項の発明において、前記金属層は、前記可動板に対し略垂直にスリットが設けられることにより形成された柱状構造を有しているものである。   The invention of claim 7 is the invention according to any one of claims 1 to 6, wherein the metal layer has a columnar structure formed by providing a slit substantially perpendicular to the movable plate. It is what.

請求項8の発明は、請求項1乃至請求項7記載のいずれか一項に記載の可動構造体を有し、前記可動板の上面に、入射した光を反射するミラー面を設けたものである。   An eighth aspect of the invention includes the movable structure according to any one of the first to seventh aspects, wherein a mirror surface that reflects incident light is provided on an upper surface of the movable plate. is there.

請求項9の発明は、シリコン層−酸化膜層−金属層を有する3層基板を作製し、前記シリコン層を深掘りエッチングすることにより、当該シリコン層に、可動板と、それぞれ前記可動板に一端部が接続され前記可動板の1つの揺動軸を構成する一対のヒンジと、前記一対のヒンジのそれぞれの他端部が接続されており前記ヒンジを支持する固定フレームとを形成する第1工程と、前記金属層をウェットエッチング又はドライエッチングすることにより、前記可動板の下方の金属層に、前記可動板の前記一対のヒンジ回りの慣性モーメントを大きくするための構造体を形成する第2工程とを有するものである。   According to the ninth aspect of the present invention, a three-layer substrate having a silicon layer, an oxide film layer, and a metal layer is manufactured, and the silicon layer is deeply etched to form a movable plate, a movable plate, and a movable plate, respectively. A pair of hinges, one end of which is connected to form one swing shaft of the movable plate, and a first frame which is connected to the other ends of the pair of hinges and supports the hinges. And a step of forming a structure for increasing the moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate in the metal layer below the movable plate by performing wet etching or dry etching on the metal layer. It has a process.

請求項10の発明は、請求項9の発明において、前記3層基板は、シリコン層と酸化膜層を有する基板に金属メッキを行うことにより作製されるものである。   The invention of claim 10 is the invention of claim 9, wherein the three-layer substrate is produced by performing metal plating on a substrate having a silicon layer and an oxide film layer.

請求項11の発明は、請求項9の発明において、前記3層基板は、共晶接合、ガラス接合、及び樹脂接合のうち少なくとも1つの接合方法を用いて作製されるものである。   According to an eleventh aspect of the present invention, in the ninth aspect, the three-layer substrate is manufactured by using at least one bonding method among eutectic bonding, glass bonding, and resin bonding.

請求項1の発明によれば、金属膜又は金属構造体を可動板と一体に回動するように配置して可動板の一対のヒンジ回りの慣性モーメントを大きくするので、ヒンジの強度及び剛性を確保しつつ、可動板の共振周波数を低くすることができる。密度が高い金属膜又は金属構造体を用いて慣性モーメントを大きくすることができるので、可動構造体を小型化することができる。   According to the first aspect of the present invention, the metal film or the metal structure is arranged so as to rotate integrally with the movable plate to increase the moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate. The resonance frequency of the movable plate can be lowered while ensuring. Since the moment of inertia can be increased using a metal film or metal structure having a high density, the movable structure can be reduced in size.

請求項2の発明によれば、金属膜又は金属構造体の重心の位置は、ヒンジにより構成される揺動軸付近に位置するので、可動板がヒンジ回りにスムーズに揺動する。   According to the invention of claim 2, since the position of the center of gravity of the metal film or the metal structure is located in the vicinity of the swing shaft constituted by the hinge, the movable plate swings smoothly around the hinge.

請求項3の発明によれば、可動構造体を基板等に実装した状態で、金属膜又は金属構造体が実装面上に接触しないので、可動板がヒンジ回りに揺動可能である。従って、固定フレームの下方に設けるスペーサを薄くするか省くことができ、可動構造体の実装高さを低くすることができる。   According to the third aspect of the present invention, since the metal film or the metal structure does not contact the mounting surface in a state where the movable structure is mounted on the substrate or the like, the movable plate can swing around the hinge. Therefore, the spacer provided below the fixed frame can be thinned or omitted, and the mounting height of the movable structure can be lowered.

請求項4の発明によれば、可動板及び金属膜又は金属構造体のヒンジ回りの共振周波数を、所望の値に容易に設定することができる。比重が大きい金属膜又は金属構造体を用いるので、共振周波数をより広い範囲で設定することが可能になる。   According to the invention of claim 4, the resonance frequency around the hinge of the movable plate and the metal film or metal structure can be easily set to a desired value. Since a metal film or metal structure having a large specific gravity is used, the resonance frequency can be set in a wider range.

請求項5の発明によれば、上述と同様に、可動板及び金属膜又は金属構造体のヒンジ回りの共振周波数を、より広い範囲で、所望の値に容易に設定することができる。   According to the invention of claim 5, similarly to the above, the resonance frequency around the hinge of the movable plate and the metal film or metal structure can be easily set to a desired value in a wider range.

請求項6の発明によれば、金属層と可動板が設けられている層との熱膨張率が異なる場合でも、ポーラス構造により金属層の内部に発生する応力が一様に緩和されるので、可動構造体の変形が小さくなる。   According to the invention of claim 6, even when the thermal expansion coefficient is different between the metal layer and the layer provided with the movable plate, the stress generated inside the metal layer is uniformly relaxed by the porous structure. The deformation of the movable structure is reduced.

請求項7の発明によれば、金属層と可動板が設けられている層との熱膨張率が異なる場合でも、スリットが形成されていることにより金属層の内部に発生する応力が緩和されるので、可動構造体の変形が小さくなる。   According to the seventh aspect of the present invention, even when the thermal expansion coefficients of the metal layer and the layer provided with the movable plate are different, the stress generated in the metal layer is relieved by forming the slit. Therefore, the deformation of the movable structure is reduced.

請求項8の発明によれば、上述と同様に、光走査ミラーの耐衝撃性を保ちつつ、ミラー面の揺動の共振周波数を低くし、且つ、光走査ミラーを小型化することができる。   According to the eighth aspect of the invention, similarly to the above, while maintaining the shock resistance of the optical scanning mirror, the resonance frequency of the oscillation of the mirror surface can be lowered and the optical scanning mirror can be miniaturized.

請求項9の発明によれば、可動板の下面に金属製の構造体を設けた可動構造体を、エッチング等の簡易な工程により容易に作製することができ、可動構造体の製造コストを低減することができる。また、小型の可動構造体を比較的精度良く作製することができるので、可動構造体の製造時の良品率が高くなる。   According to the invention of claim 9, the movable structure provided with the metal structure on the lower surface of the movable plate can be easily manufactured by a simple process such as etching, and the manufacturing cost of the movable structure is reduced. can do. Moreover, since a small movable structure can be produced with relatively high accuracy, the yield rate at the time of manufacturing the movable structure is increased.

請求項10の発明によれば、金属メッキを行って容易に3層基板を作製することができるので、可動構造体の製造コストをさらに低減することができる。   According to the invention of claim 10, since the three-layer substrate can be easily manufactured by performing metal plating, the manufacturing cost of the movable structure can be further reduced.

請求項11の発明によれば、確実且つ容易に3層基板を作製することができるので、可動構造体の製造コストをさらに低減することができる。また、厚い金属層を有する3層基板を作製することができるので、当該金属層を適宜加工し可動構造体を作製することにより、可動板のヒンジ回りの共振周波数を大幅に低くすることができ、また、可動板の共振周波数をより広い範囲で設定することができる。   According to the eleventh aspect of the present invention, the three-layer substrate can be produced reliably and easily, so that the manufacturing cost of the movable structure can be further reduced. In addition, since a three-layer substrate having a thick metal layer can be manufactured, the resonance frequency around the hinge of the movable plate can be significantly lowered by appropriately processing the metal layer and manufacturing the movable structure. In addition, the resonance frequency of the movable plate can be set in a wider range.

以下、本発明の第1実施形態について図面を参照して説明する。図1(a)、(b)、図2、及び図3は、本実施形態に係る光走査ミラー(可動構造体)の一例を示す。光走査ミラー1は、例えば、バーコードリーダ、外部のスクリーン等に画像を投影するプロジェクタ装置、又は光スイッチ等の光学機器に搭載される小型のものであり、外部の光源等(図示せず)から入射する光ビーム等をスキャン動作させる機能を有している。   Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIGS. 1A, 1B, 2 and 3 show an example of an optical scanning mirror (movable structure) according to the present embodiment. The optical scanning mirror 1 is a small one mounted on an optical device such as a barcode reader, an external screen or the like, or an optical device such as an optical switch, and an external light source (not shown). Has a function of performing a scanning operation of a light beam or the like incident from.

先ず、光走査ミラー1の構成について以下に説明する。図1(a)に示すように、光走査ミラー1は、導電性を有するシリコン層210と金属層230とをシリコンの酸化膜(酸化膜層)220を介して接合して成る、3層基板200から構成されている。酸化膜220は絶縁性を有しているので、シリコン層210と金属層230とは互いに絶縁されている。シリコン層210の厚みは、例えば30μm程度であり、金属層230の厚みは、例えば400μm程度である。また、3層基板200の上面の一部には、シリコン層210と金属層230との間の酸化膜220と同様の酸化膜220が形成されている(図3に図示)。光走査ミラー1は、例えば、上面視で一辺が数mm程度の略正方形又は略矩形である直方体状の素子であり、金属層230の下面側に接合された例えばガラス基板製のスペーサ110を介して、基板B等に実装される。   First, the configuration of the optical scanning mirror 1 will be described below. As shown in FIG. 1A, the optical scanning mirror 1 includes a three-layer substrate formed by bonding a conductive silicon layer 210 and a metal layer 230 via a silicon oxide film (oxide film layer) 220. 200. Since the oxide film 220 has an insulating property, the silicon layer 210 and the metal layer 230 are insulated from each other. The thickness of the silicon layer 210 is, for example, about 30 μm, and the thickness of the metal layer 230 is, for example, about 400 μm. An oxide film 220 similar to the oxide film 220 between the silicon layer 210 and the metal layer 230 is formed on a part of the upper surface of the three-layer substrate 200 (shown in FIG. 3). The optical scanning mirror 1 is, for example, a rectangular parallelepiped element having a substantially square or rectangular shape with a side of about several millimeters when viewed from above, and a spacer 110 made of, for example, a glass substrate joined to the lower surface side of the metal layer 230. And mounted on the substrate B or the like.

図1(a)に示すように、光走査ミラー1は、上面視で略矩形形状であり上面にミラー面20が形成されたミラー部2と、ミラー部2の周囲を囲むように略矩形の環状に形成された可動フレーム3と、可動フレーム3の周囲を囲むように形成され、光走査ミラー1の側周部となる固定フレーム4とを有している。可動フレーム3と固定フレーム4とは、互いに並んで1つの軸を成すように、固定フレーム4の互いに対向する2側面から各面に直交するように形成された梁状の一対の第1ヒンジ5により連結されている。一方、ミラー部2と可動フレーム3とは、第1ヒンジ5の長手方向と直交する方向に、互いに並んで1つの軸を成すように形成された梁状の一対の第2ヒンジ6により連結されている。第1ヒンジ5及び第2ヒンジ6は、それらそれぞれが成す軸が、上面視でミラー部2の重心位置を通過するように形成されている。第1ヒンジ5及び第2ヒンジの幅寸法は、例えば、それぞれ、5μm程度、30μm程度である。ミラー部2は、第2ヒンジ6を揺動軸として、可動フレーム3に対して揺動可能に可動フレーム3に支持されている。一方、可動フレーム3は、第1ヒンジ5を揺動軸として、固定フレーム4に対して揺動可能に固定フレーム4に支持されている。すなわち、この光走査ミラー1において、ミラー部2と可動フレーム3とが、第1ヒンジ5により構成される軸回りに、固定フレーム4に対し揺動可能な可動板50を構成している。ミラー部2は、第1ヒンジ5と第2ヒンジ6とによりそれぞれ構成される2つの揺動軸回りに、2次元的に揺動可能に構成されている。図1(b)に示すように、可動フレーム3の下面には、可動フレーム3に接合され、可動フレーム3と一体に揺動可能に金属構造体9が設けられている。また、固定フレーム4には、3つの電圧印加部10a,10b,10cが設けられている。以下、第2ヒンジ6の長手方向をX方向と称し、第1ヒンジ5の長手方向をY方向と称し、X方向とY方向に直交する垂直な方向をZ方向と称する。なお、ミラー部2、ミラー面20、又は可動フレーム3等の形状は、矩形に限られず、円形等他の形状であってもよい。   As shown in FIG. 1A, the optical scanning mirror 1 has a substantially rectangular shape in a top view and a mirror portion 2 having a mirror surface 20 formed on the upper surface, and a substantially rectangular shape surrounding the periphery of the mirror portion 2. The movable frame 3 is formed in an annular shape, and the fixed frame 4 is formed so as to surround the movable frame 3 and serves as a side peripheral portion of the optical scanning mirror 1. The movable frame 3 and the fixed frame 4 are a pair of beam-like first hinges 5 formed so as to be orthogonal to each surface from two mutually facing side surfaces of the fixed frame 4 so as to form one axis side by side with each other. It is connected by. On the other hand, the mirror part 2 and the movable frame 3 are connected by a pair of beam-like second hinges 6 formed so as to be aligned with each other in the direction orthogonal to the longitudinal direction of the first hinge 5. ing. The first hinge 5 and the second hinge 6 are formed such that their respective axes pass through the position of the center of gravity of the mirror unit 2 in a top view. The width dimensions of the first hinge 5 and the second hinge are, for example, about 5 μm and about 30 μm, respectively. The mirror unit 2 is supported by the movable frame 3 so as to be swingable with respect to the movable frame 3 with the second hinge 6 as a swing axis. On the other hand, the movable frame 3 is supported by the fixed frame 4 so as to be swingable with respect to the fixed frame 4 about the first hinge 5 as a swing axis. That is, in this optical scanning mirror 1, the mirror portion 2 and the movable frame 3 constitute a movable plate 50 that can swing with respect to the fixed frame 4 around the axis formed by the first hinge 5. The mirror unit 2 is configured to be capable of two-dimensionally swinging around two swinging shafts respectively formed by the first hinge 5 and the second hinge 6. As shown in FIG. 1B, a metal structure 9 is provided on the lower surface of the movable frame 3 so as to be joined to the movable frame 3 and swingable integrally with the movable frame 3. The fixed frame 4 is provided with three voltage application units 10a, 10b, and 10c. Hereinafter, the longitudinal direction of the second hinge 6 is referred to as an X direction, the longitudinal direction of the first hinge 5 is referred to as a Y direction, and a perpendicular direction orthogonal to the X direction and the Y direction is referred to as a Z direction. The shape of the mirror unit 2, the mirror surface 20, or the movable frame 3 is not limited to a rectangle, and may be another shape such as a circle.

この光走査ミラー1は、例えば静電力を駆動力としてミラー部2を揺動させるものである。可動フレーム3と固定フレーム4との間の第1ヒンジ5が形成されていない部位には、第1櫛歯電極7が形成されており、ミラー部2と可動フレーム3との間の第2ヒンジ6が形成されていない部位には、第2櫛歯電極8が形成されている。第1櫛歯電極7は、可動フレーム3のうちX方向に略直交する2側面にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極3bと、固定フレーム4のうち電極3bに対向する部位にそれぞれ形成された電極4aとが、一対に互いに噛み合うように配置されて構成されている。第2櫛歯電極8は、ミラー部2のうちY方向に略直交する2側面にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極2aと、可動フレーム3のうち電極2aに対向する部位にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極3aとが、一対に互いに噛み合うように配置されて構成されている。第1櫛歯電極7及び第2櫛歯電極8において、電極3b,4a間の隙間や、電極2a,3a間の隙間は、例えば、2μm乃至5μm程度の大きさとなるように構成されている。第1櫛歯電極7及び第2櫛歯電極8は、それぞれの電極3b,4a間、又は電極2a,3a間に電圧が印加されることにより、電極3b,4a間、又は電極2a,3a間に、互いに引き合う方向に作用する静電力を発生する。   The optical scanning mirror 1 swings the mirror unit 2 using, for example, an electrostatic force as a driving force. A first comb electrode 7 is formed at a portion where the first hinge 5 between the movable frame 3 and the fixed frame 4 is not formed, and a second hinge between the mirror portion 2 and the movable frame 3 is formed. A second comb electrode 8 is formed at a portion where 6 is not formed. The first comb-teeth electrode 7 is formed on each of two sides of the movable frame 3 that are substantially orthogonal to the X direction, and on the side of the fixed frame 4 that faces the electrode 3b. The electrodes 4a are arranged so as to mesh with each other. The second comb-teeth electrode 8 includes an electrode 2a formed in a comb-teeth shape on two side surfaces substantially orthogonal to the Y direction of the mirror portion 2, and a comb-teeth shape on a portion of the movable frame 3 facing the electrode 2a. The electrodes 3a formed in the above are arranged so as to mesh with each other in pairs. In the first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8, the gap between the electrodes 3b and 4a and the gap between the electrodes 2a and 3a are configured to have a size of about 2 μm to 5 μm, for example. The first comb-teeth electrode 7 and the second comb-teeth electrode 8 are applied between the electrodes 3b and 4a or between the electrodes 2a and 3a by applying a voltage between the electrodes 3b and 4a or between the electrodes 2a and 3a. In addition, an electrostatic force acting in the direction of attracting each other is generated.

ミラー部2、可動フレーム3、固定フレーム4等は、3層基板200を、後述するようにマイクロマシニング技術等を用いて加工することにより形成されている。以下に、光走査ミラー1の各部位について、3層基板200の各層の構造も含めて説明する。   The mirror unit 2, the movable frame 3, the fixed frame 4, and the like are formed by processing the three-layer substrate 200 using a micromachining technique or the like as will be described later. Hereinafter, each part of the optical scanning mirror 1 will be described including the structure of each layer of the three-layer substrate 200.

ミラー部2及び可動フレーム3は、シリコン層210に形成されている。ミラー面20は、例えばアルミニウム製の薄膜であり、ミラー部2の上面に外部から入射する光ビームを反射可能に形成されている。ミラー面20の材質はアルミニウムに限られず、例えば、用いる光ビームの種類に応じて、適宜適当な金属の金属膜をミラー面として用いることができる。ミラー部2は、第2ヒンジ6を通る垂直平面(zx平面に平行な平面)に対し略対称形状に形成されており、第2ヒンジ6回りにスムーズに揺動するように構成されている。図3に示すように、可動フレーム3には、シリコン層210に、シリコン層210の上端から下端まで連通し、酸化膜220に到達するような溝形状の空隙を構成するトレンチ101aが形成されている。トレンチ101aが形成されていることにより、可動フレーム3は、第1ヒンジ5の一方と接続され電極3a及び電極3bと一体となる部位と、2つの第2ヒンジ6を支持する軸支部3c及び軸支部3cに導通部3dを介して接続され、第1ヒンジ5の他方に軸支される軸支部3eから成る部位と、導通部3dにミラー部2の中央部に関し上面視で略点対称となる形状に形成された3つのバランス部3fとの5つの部位に分割されている。トレンチ101aは、シリコン層210を分離しているので、これらの5つの部位は、互いに絶縁されている。なお、バランス部3fは、形成されていなくてもよい。   The mirror unit 2 and the movable frame 3 are formed on the silicon layer 210. The mirror surface 20 is a thin film made of aluminum, for example, and is formed on the upper surface of the mirror portion 2 so as to be able to reflect a light beam incident from the outside. The material of the mirror surface 20 is not limited to aluminum. For example, an appropriate metal film can be used as the mirror surface depending on the type of light beam used. The mirror unit 2 is formed in a substantially symmetrical shape with respect to a vertical plane (a plane parallel to the zx plane) passing through the second hinge 6 and is configured to swing smoothly around the second hinge 6. As shown in FIG. 3, the movable frame 3 is formed with a trench 101 a that forms a groove-shaped gap that communicates with the silicon layer 210 from the upper end to the lower end of the silicon layer 210 and reaches the oxide film 220. Yes. By forming the trench 101a, the movable frame 3 is connected to one of the first hinges 5 and integrated with the electrode 3a and the electrode 3b, and the shaft support part 3c and the shaft supporting the two second hinges 6. The portion comprising the shaft support portion 3e connected to the support portion 3c via the conducting portion 3d and pivotally supported on the other side of the first hinge 5 and the central portion of the mirror portion 2 to the conducting portion 3d are substantially point symmetric with respect to the top view. It is divided into five parts with three balance parts 3f formed in a shape. Since the trench 101a separates the silicon layer 210, these five parts are insulated from each other. In addition, the balance part 3f does not need to be formed.

金属構造体9は、可動フレーム3の下方(z方向)の酸化膜220及び金属層230により構成されている。金属構造体9には、トレンチ101aにより分割された可動フレーム3の5つの部位が共に接合されている。換言すると、金属構造体9は、可動フレーム3のうちトレンチ101aが形成されている部位の下方に、シリコン層210に接合されたまま形成されている。このように金属構造体9に5つの部位が共に接合されていることにより、可動フレーム3と金属構造体9とが、第1ヒンジ5を揺動軸として一体に揺動可能に構成されている。図1(b)に示すように、本実施形態において、金属構造体9は、可動フレーム3の下面のうち電極3a,3bを除く部位を略覆うように、平面視で第1ヒンジ5に対し略対称形状となる環状に形成されている。また、金属構造体9の金属層230からなる部位の厚みは、固定フレーム4の金属層230からなる部位の厚みと略同程度に形成されている。このように、金属構造体9は、第1ヒンジ5により構成される可動板50の揺動軸を通り可動板50に垂直な平面(y−z平面に平行な平面)に対し略対称な形状に形成されており、金属構造体9の重心の位置は、第1ヒンジ5により構成される揺動軸に平面視で略一致している。また、可動フレーム3のトレンチ101aは、バランス部3fを形成するために、第1ヒンジ5を通る垂直平面に対し略対称となる位置及び形状に設けられている。従って、金属構造体9を含む可動板50の重心の位置は、第1ヒンジ5により構成される揺動軸に、平面視で略一致している。これにより、金属構造体9を含む可動板50は、第1ヒンジ5回りにスムーズに揺動し、光走査ミラー1によるスキャンがより適正に行われる。   The metal structure 9 is composed of an oxide film 220 and a metal layer 230 below the movable frame 3 (z direction). Five parts of the movable frame 3 divided by the trench 101a are joined to the metal structure 9 together. In other words, the metal structure 9 is formed below the portion of the movable frame 3 where the trench 101a is formed, and remains bonded to the silicon layer 210. Since the five parts are joined together to the metal structure 9 in this manner, the movable frame 3 and the metal structure 9 are configured to be able to swing integrally with the first hinge 5 as a swing shaft. . As shown in FIG. 1 (b), in the present embodiment, the metal structure 9 is located on the lower surface of the movable frame 3 with respect to the first hinge 5 in plan view so as to substantially cover the portion excluding the electrodes 3a and 3b. It is formed in an annular shape that is substantially symmetrical. Further, the thickness of the portion made of the metal layer 230 of the metal structure 9 is formed to be approximately the same as the thickness of the portion made of the metal layer 230 of the fixed frame 4. As described above, the metal structure 9 has a shape that is substantially symmetric with respect to a plane (a plane parallel to the yz plane) that passes through the swing axis of the movable plate 50 constituted by the first hinge 5 and is perpendicular to the movable plate 50. The position of the center of gravity of the metal structure 9 is substantially coincident with the swing axis constituted by the first hinge 5 in plan view. Further, the trench 101a of the movable frame 3 is provided at a position and a shape that are substantially symmetric with respect to a vertical plane passing through the first hinge 5 in order to form the balance portion 3f. Therefore, the position of the center of gravity of the movable plate 50 including the metal structure 9 is substantially coincident with the swing axis constituted by the first hinge 5 in plan view. As a result, the movable plate 50 including the metal structure 9 swings smoothly around the first hinge 5, and scanning by the optical scanning mirror 1 is performed more appropriately.

固定フレーム4は、シリコン層210、酸化膜220、及び金属層230により構成されている。固定フレーム4の下面には、スペーサ110が設けられており、光走査ミラー1が例えば基板B上に実装された状態では、金属構造体9の下方にスペーサ110の厚み分の空隙ができるように構成されている。これにより、光走査ミラー1の動作時に、可動フレーム3と金属構造体9とが第1ヒンジ5回りに揺動可能とされている。   The fixed frame 4 includes a silicon layer 210, an oxide film 220, and a metal layer 230. A spacer 110 is provided on the lower surface of the fixed frame 4. When the optical scanning mirror 1 is mounted on the substrate B, for example, a gap corresponding to the thickness of the spacer 110 is formed below the metal structure 9. It is configured. Thereby, the movable frame 3 and the metal structure 9 can swing around the first hinge 5 when the optical scanning mirror 1 is operated.

固定フレーム4の上面には、3つの電圧印加部10a,10b,10cが、互いに並んで形成されている。固定フレーム4には、トレンチ101aと同様に、シリコン層210を複数の部位に分割するように、トレンチ101bが形成されている。図2において、シリコン層210の互いに電気的に絶縁されている部位には、それぞれ互いに異なる模様を付して示す。トレンチ101bは、固定フレーム4のシリコン層210を、電圧印加部10a,10b,10cとそれぞれ略同電位となる、互いに絶縁された3つの部位に分割している。このうち、電圧印加部10aと同電位となる部位は、第1ヒンジ5のうち、可動フレーム3のうち軸支部3eに接続された、電圧印加部10aから離れた一方の部位を支持する軸支部4dを有している。電圧印加部10aと軸支部4dとは、トレンチ101bが形成されていることにより幅が細く形成された導通部4eにより接続されている。また、電圧印加部10bと略同電位となる部位は、第1ヒンジ5の他方を支持する軸支部4fを有している。電圧印加部10cと略同電位となる部位は、固定フレーム4のうち電圧印加部10a,10bと同電位となる上記の2つの部位を除いた部位であり、この部位に電極4aが形成されている。本実施形態では、上記のようにトレンチ101a,101bが形成されていることにより、シリコン層210には、電圧印加部10aが形成され電極2aと略同電位となる部位と、電圧印加部10bが形成され可動フレーム3側の電極3a,3bと略同電位となる部位と、電圧印加部10cが形成され固定フレーム4側の電極4aと略同電位となる部位との、3つの部位が設けられている。各電圧印加部10a,10b,10cは、外部から電位を変更可能であり、これらの各電圧印加部10a,10b,10cの電位を変更することにより、第1櫛歯電極7と第2櫛歯電極8を駆動して光走査ミラー1を駆動可能である。なお、シリコン層210の下方には酸化膜220及び金属層230が接合されており、トレンチ101bはシリコン層210にのみ形成されているので、固定フレーム4全体は一体に構成されている。   On the upper surface of the fixed frame 4, three voltage application portions 10a, 10b, 10c are formed side by side. Similar to the trench 101a, a trench 101b is formed in the fixed frame 4 so as to divide the silicon layer 210 into a plurality of portions. In FIG. 2, the portions of the silicon layer 210 that are electrically insulated from each other are shown with different patterns. The trench 101b divides the silicon layer 210 of the fixed frame 4 into three portions that are insulated from each other and have substantially the same potential as the voltage application units 10a, 10b, and 10c. Of these, the portion having the same potential as that of the voltage application unit 10a is a shaft support unit that supports one of the first hinges 5 that is connected to the shaft support unit 3e of the movable frame 3 and that is remote from the voltage application unit 10a. 4d. The voltage application section 10a and the shaft support section 4d are connected by a conduction section 4e that is formed narrow by forming the trench 101b. Further, the portion having substantially the same potential as the voltage application unit 10 b has a shaft support 4 f that supports the other of the first hinge 5. The part having substantially the same potential as the voltage application unit 10c is a part of the fixed frame 4 excluding the two parts having the same potential as the voltage application parts 10a and 10b, and the electrode 4a is formed in this part. Yes. In the present embodiment, since the trenches 101a and 101b are formed as described above, the silicon layer 210 has a portion where the voltage application portion 10a is formed and has substantially the same potential as the electrode 2a, and the voltage application portion 10b. Three parts are provided: a part that is formed and has substantially the same potential as the electrodes 3a and 3b on the movable frame 3 side, and a part that has the voltage application portion 10c and has substantially the same potential as the electrode 4a on the fixed frame 4 side. ing. Each voltage application unit 10a, 10b, 10c can change the potential from the outside, and by changing the potential of each voltage application unit 10a, 10b, 10c, the first comb electrode 7 and the second comb tooth The optical scanning mirror 1 can be driven by driving the electrode 8. Note that an oxide film 220 and a metal layer 230 are joined below the silicon layer 210, and the trench 101b is formed only in the silicon layer 210, so that the entire fixed frame 4 is integrally formed.

次に、光走査ミラー1の動作について説明する。第1櫛歯電極7及び第2櫛歯電極8は、それぞれ、いわゆる垂直静電コムとして動作し、ミラー部2は、第1櫛歯電極7及び第2櫛歯電極8が所定の駆動周波数で駆動力を発生することにより駆動される。第1櫛歯電極7及び第2櫛歯電極8は、例えば、電極3a,3bが基準電位に接続された状態で、電極2a、及び電極4aの電位をそれぞれ周期的に変化させることにより駆動され、静電力を発生する。この光走査ミラー1においては、第1櫛歯電極7及び第2櫛歯電極8それぞれが、例えば矩形波形状の電圧が印加されて周期的に駆動力を発生するように構成されている。   Next, the operation of the optical scanning mirror 1 will be described. The first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8 each operate as a so-called vertical electrostatic comb, and the mirror unit 2 includes the first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8 at a predetermined driving frequency. Driven by generating a driving force. The first comb electrode 7 and the second comb electrode 8 are driven by, for example, periodically changing the potentials of the electrode 2a and the electrode 4a in a state where the electrodes 3a and 3b are connected to the reference potential. Generate electrostatic force. In the optical scanning mirror 1, each of the first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8 is configured to generate a driving force periodically by applying, for example, a rectangular wave voltage.

上述のように形成されたミラー部2や可動フレーム3は、一般に多くの場合、その成型時に内部応力等が生じることにより、静止状態でも厳密には水平姿勢ではなく、きわめて僅かであるが傾いている。そのため、例えば第1櫛歯電極7が駆動されると、静止状態からであっても、ミラー部2に略垂直な方向の駆動力が加わり、ミラー部2が、第2ヒンジ6を回転軸として第2ヒンジ6を捻りながら回動する。そして、第2櫛歯電極8の駆動力を、ミラー部2が電極2a,3aが完全に重なりあうような姿勢になったときに解除すると、ミラー部2は、その慣性力により、第2ヒンジ6を捻りながら回動を継続する。そして、ミラー部2の回動方向への慣性力と、第2ヒンジ6の復元力とが等しくなったとき、ミラー部2のその方向への回動が止まる。このとき、第2櫛歯電極8が再び駆動され、ミラー部2は、第2ヒンジ6の復元力と第2櫛歯電極8の駆動力により、それまでとは逆の方向への回動を開始する。ミラー部2は、このような第2櫛歯電極8の駆動力と第2ヒンジ6の復元力による回動を繰り返して、第2ヒンジ6回りに揺動する。可動フレーム3も、ミラー部2の回動時と略同様に、第1櫛歯電極7の駆動力と第1ヒンジ5の復元力による回動を繰り返し、第1ヒンジ5回りに、金属構造体9と一体に揺動する。このように可動フレーム3が揺動するとき、金属構造体9を含む可動板50が一体として揺動するため、ミラー部2の姿勢が変化する。これにより、ミラー部2は、2次元的な揺動を繰り返す。   In many cases, the mirror part 2 and the movable frame 3 formed as described above generally have an internal stress or the like at the time of molding. Yes. Therefore, for example, when the first comb-teeth electrode 7 is driven, a driving force in a direction substantially perpendicular to the mirror part 2 is applied even from a stationary state, and the mirror part 2 uses the second hinge 6 as a rotation axis. The second hinge 6 is rotated while being twisted. Then, when the driving force of the second comb electrode 8 is released when the mirror portion 2 is in a posture such that the electrodes 2a and 3a are completely overlapped, the mirror portion 2 has the second hinge due to its inertial force. Continue turning while twisting 6. Then, when the inertial force in the rotation direction of the mirror unit 2 and the restoring force of the second hinge 6 become equal, the rotation of the mirror unit 2 in that direction stops. At this time, the second comb-teeth electrode 8 is driven again, and the mirror part 2 is rotated in the opposite direction by the restoring force of the second hinge 6 and the driving force of the second comb-teeth electrode 8. Start. The mirror unit 2 repeats the rotation by the driving force of the second comb electrode 8 and the restoring force of the second hinge 6 and swings around the second hinge 6. The movable frame 3 also repeats rotation by the driving force of the first comb electrode 7 and the restoring force of the first hinge 5 in substantially the same manner as when the mirror unit 2 rotates, and the metal structure around the first hinge 5. 9 swings together. When the movable frame 3 swings in this way, the movable plate 50 including the metal structure 9 swings as a unit, so that the posture of the mirror unit 2 changes. Thereby, the mirror part 2 repeats two-dimensional rocking | fluctuation.

第2櫛歯電極8は、ミラー部2と第2ヒンジ6により構成される振動系の共振周波数の略2倍の周波数の電圧が印加されて駆動される。また、第1櫛歯電極7は、ミラー部2、可動フレーム3及び金属構造体9と第1ヒンジ5とにより構成される振動系の共振周波数の略2倍の周波数の電圧が印加されて駆動される。これにより、ミラー部2が共振現象を伴って駆動され、その揺動角が大きくなる。なお、第1櫛歯電極7や第2櫛歯電極8の電圧の印加態様や駆動周波数は、上述に限られるものではなく、例えば、駆動電圧が正弦波形で印加されるように構成されていてもよい。また、電極3a,3bの電位が、電極2a及び電極4aの電位と共に変化するように構成されていてもよい。   The second comb-teeth electrode 8 is driven by being applied with a voltage having a frequency that is approximately twice the resonance frequency of the vibration system constituted by the mirror portion 2 and the second hinge 6. The first comb electrode 7 is driven by applying a voltage having a frequency approximately twice the resonance frequency of the vibration system constituted by the mirror unit 2, the movable frame 3, the metal structure 9 and the first hinge 5. Is done. Thereby, the mirror part 2 is driven with a resonance phenomenon, and the rocking angle becomes large. The voltage application mode and drive frequency of the first comb electrode 7 and the second comb electrode 8 are not limited to those described above, and for example, the drive voltage is applied in a sine waveform. Also good. Moreover, you may be comprised so that the electric potential of electrode 3a, 3b may change with the electric potential of electrode 2a and electrode 4a.

本実施形態において、金属構造体9は、可動板50の第1ヒンジ5回りの慣性モーメントを大きくするために設けられている。光走査ミラー1において、金属構造体9を含む可動板50又はミラー部2を一様の厚さの直方体で近似した場合、金属構造体9を含む可動板50の揺動の共振周波数や、ミラー部2の揺動の共振周波数は、それぞれ、第1ヒンジ5又は第2ヒンジ6のばね定数をK、金属構造体9を含む可動板50又はミラー部2の質量をm、可動板50又はミラー部2のそれぞれの回転軸に直交する方向の辺の長さをL、金属構造体9を含む可動板50又はミラー部2の揺動の慣性モーメントをiとすると、次式のように表される。   In the present embodiment, the metal structure 9 is provided to increase the moment of inertia around the first hinge 5 of the movable plate 50. In the optical scanning mirror 1, when the movable plate 50 including the metal structure 9 or the mirror unit 2 is approximated by a rectangular solid having a uniform thickness, the resonance frequency of the oscillation of the movable plate 50 including the metal structure 9, the mirror The resonance frequency of the oscillation of the part 2 is that the spring constant of the first hinge 5 or the second hinge 6 is K, the mass of the movable plate 50 or the mirror part 2 including the metal structure 9 is m, the movable plate 50 or the mirror, respectively. When the length of the side of each part 2 in the direction orthogonal to the rotation axis is L, and the moment of inertia of the swing of the movable plate 50 including the metal structure 9 or the mirror part 2 is i, the following equation is expressed. The

Figure 2010085735
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上記数式から分かるように、可動板50の可動フレーム3は、金属構造体9と一体に回動するので、第1ヒンジ5回りに回動する部位の質量が、金属構造体9が設けられていない場合と比べて増加する。そのため、ミラー部2の第2ヒンジ6回りの慣性モーメントと比べて、可動板50の第1ヒンジ5回りの慣性モーメントが大幅に大きくなる。また、上記数式から分かるように、上面視で第1ヒンジ5の片側部の金属構造体9の重心の位置が第1ヒンジ5から離れるほど、金属構造体9を含む可動板50の第1ヒンジ5回りの慣性モーメントが大きくなる。本実施形態では、このことを利用し、金属構造体9の位置は、金属構造体9を含む可動板50の第1ヒンジ5回りの慣性モーメントが、第1ヒンジ5のばね定数や、ミラー部2の第2ヒンジ5回りの共振周波数等を鑑みて設定された所望の値となるように設定されている。なお、金属構造体9の位置の設定にあっては、可動板50の上面から金属構造体9の下端部までの厚み方向(z方向)の寸法(以下、金属構造体9の厚み方向寸法と称する)が可動板50の上面から固定フレーム4の下端部までの厚み方向の寸法と同じようになるように構成していることを前提にして金属構造体9の位置を定めればよい。   As can be seen from the above formula, the movable frame 3 of the movable plate 50 rotates integrally with the metal structure 9, so that the mass of the portion rotating around the first hinge 5 is provided with the metal structure 9. Increased compared to the absence. Therefore, the moment of inertia of the movable plate 50 around the first hinge 5 is significantly larger than the moment of inertia around the second hinge 6 of the mirror portion 2. Further, as can be seen from the above formula, the first hinge of the movable plate 50 including the metal structure 9 becomes larger as the position of the center of gravity of the metal structure 9 on one side of the first hinge 5 becomes farther from the first hinge 5 in a top view. The moment of inertia around 5 increases. In the present embodiment, this is utilized, and the position of the metal structure 9 is determined by the moment of inertia around the first hinge 5 of the movable plate 50 including the metal structure 9, the spring constant of the first hinge 5, and the mirror portion. 2 is set to a desired value set in view of the resonance frequency around the second hinge 5. In setting the position of the metal structure 9, the dimension in the thickness direction (z direction) from the upper surface of the movable plate 50 to the lower end of the metal structure 9 (hereinafter referred to as the thickness direction dimension of the metal structure 9). The position of the metal structure 9 may be determined on the assumption that the size is the same as the dimension in the thickness direction from the upper surface of the movable plate 50 to the lower end of the fixed frame 4.

ここで、金属構造体9としては、例えば、タングステン合金を用いることが望ましい。すなわち、本実施形態において、可動板50を構成するシリコン層210と金属構造体9を構成する金属層230との材質が異なるところ、互いの熱膨張率の差が小さい方が、温度の変化に伴う変形が小さくなる。また、上述より、密度が高い方が、同じ体積で可動板50の共振周波数を下げる効果が大きくなる。そこで、例えば、金、銀、銅、スズ、モリブデン、ロジウム等の金属と比較して、密度が高く、且つ、シリコン層210を構成するシリコンの熱膨張率(2.4[10−6/K]程度)と熱膨張率が近い(4.5[10−6/K]程度)材料であるタングステンを含む合金を金属構造体9の材質として選択するのが好適である。本実施形態においては、例えば、後述のように、ニッケル−タングステン(Ni−W)合金を、めっき法により金属層230として形成する。このとき、金属層230をいわゆるポーラスめっきとして形成することにより、金属層230を、微細な空孔を多数含むように形成している。このように金属層230を多数の空孔を含むポーラス構造とすることにより、金属層230とシリコン層210との熱膨張率が異なることにより金属層230の内部に応力が生じても、その応力が一様に緩和される。そのうえ、金属層230は、比較的シリコン層210と熱膨張率が近いニッケル−タングステン合金により構成されているので、温度変化に伴い光走査ミラー1の変形が大きくなることを防止することができる。 Here, as the metal structure 9, for example, a tungsten alloy is preferably used. That is, in the present embodiment, the silicon layer 210 constituting the movable plate 50 and the metal layer 230 constituting the metal structure 9 are made of different materials. The accompanying deformation is reduced. In addition, as described above, the higher the density, the greater the effect of reducing the resonance frequency of the movable plate 50 with the same volume. Therefore, for example, compared with metals such as gold, silver, copper, tin, molybdenum, and rhodium, the density is high and the coefficient of thermal expansion of the silicon constituting the silicon layer 210 (2.4 [10 −6 / K It is preferable to select an alloy containing tungsten, which is a material having a thermal expansion coefficient close to (about 4.5 [10 −6 / K]), as the material of the metal structure 9. In this embodiment, for example, as will be described later, a nickel-tungsten (Ni-W) alloy is formed as the metal layer 230 by a plating method. At this time, by forming the metal layer 230 as so-called porous plating, the metal layer 230 is formed so as to include many fine holes. As described above, the metal layer 230 has a porous structure including a large number of pores, so that even if stress is generated in the metal layer 230 due to different thermal expansion coefficients of the metal layer 230 and the silicon layer 210, the stress is reduced. Are alleviated uniformly. In addition, since the metal layer 230 is made of a nickel-tungsten alloy having a thermal expansion coefficient that is relatively close to that of the silicon layer 210, it is possible to prevent the optical scanning mirror 1 from being greatly deformed due to a temperature change.

以下に、図4乃至図10を参照し、光走査ミラー1の製造工程について説明する。なお、図4乃至図10は、図3に示した部位と略同一の部位についての断面図である。本実施形態において、光走査ミラー1は、基本的に、3層基板200を作製し、そのシリコン層210に可動板50等を形成する第1工程と、可動板50の下方の金属層230に、金属構造体9を形成する第2工程とを経て製造される。   Hereinafter, the manufacturing process of the optical scanning mirror 1 will be described with reference to FIGS. 4 to 10 are cross-sectional views of portions that are substantially the same as the portions shown in FIG. In the present embodiment, the optical scanning mirror 1 basically includes a first step in which the three-layer substrate 200 is manufactured and the movable plate 50 and the like are formed on the silicon layer 210, and the metal layer 230 below the movable plate 50. The second step of forming the metal structure 9 is manufactured.

第1工程においては、先ず、酸素および水素雰囲気の拡散炉中で、シリコン層210を成すシリコン基板の上下両表面に酸化膜220を形成する(図4)。そして、その下面に下地金属をスパッタリングにより付着させ、その上で、ニッケル−タングステン合金からなる金属層230を、めっき法により生成する。これにより、シリコン層210−酸化膜220−金属層230を有する3層基板200が作製される(図5)。タングステン自体は単独では水溶液中から析出しないが、ニッケルなどの鉄系金属とは誘起共析するという特性を有しているため、このようにしてタングステンを含む金属層230を形成することができる。このとき、本実施形態では、めっき被膜中に欠陥を形成することにより、金属層230を多数の空孔を含んだ状態で形成する。なお、シリコン層210の厚みは極めて薄いため、例えば比較的厚いシリコン基板と酸化膜220と金属層230との3層を有する基板を形成した後、当該シリコン基板を研磨して所望の厚みのシリコン層210とし、3層基板200を作製してもよい。   In the first step, first, oxide films 220 are formed on both upper and lower surfaces of a silicon substrate forming the silicon layer 210 in a diffusion furnace in an oxygen and hydrogen atmosphere (FIG. 4). And a base metal is made to adhere to the lower surface by sputtering, and the metal layer 230 which consists of a nickel-tungsten alloy is produced | generated by the plating method on it. Thereby, the three-layer substrate 200 having the silicon layer 210 -the oxide film 220 -the metal layer 230 is manufactured (FIG. 5). Tungsten itself does not precipitate out of an aqueous solution, but has a characteristic that it induces eutectoid with iron-based metals such as nickel. Thus, the metal layer 230 containing tungsten can be formed in this way. At this time, in this embodiment, the metal layer 230 is formed in a state including a large number of holes by forming defects in the plating film. Since the thickness of the silicon layer 210 is extremely thin, for example, after forming a relatively thick silicon substrate, a substrate having three layers of an oxide film 220 and a metal layer 230, the silicon substrate is polished to obtain silicon having a desired thickness. A three-layer substrate 200 may be manufactured as the layer 210.

次に、シリコン層210の上面に形成された酸化膜220の表面のうち、可動板50や第1ヒンジ5及び第2ヒンジ6等の形状に、フォトリソグラフィにより、レジスト132bをパターニングする。その後、RIE(Reactive Ion Etching)により酸化膜220のうちレジスト132bにマスクされていない部位を除去し、シリコン層210のうち可動板50等が形成されない部位を露出させる(図6)。レジスト132bは、酸素プラズマ中で除去する。その後、シリコン層210上面には、例えばアルミニウムをスパッタリングすることにより、アルミニウム膜を形成する。アルミニウム膜は、例えば厚みが500nm程度になるように形成される。そして、フォトリソグラフィによりレジスト132cをパターニングした後にRIEを行い、アルミニウム膜のうちミラー面20及び電圧印加部10a,10b,10c以外の部位を除去する(図7)。これにより、ミラー面20及び電圧印加部10a,10b,10cが形成される。   Next, the resist 132b is patterned by photolithography in the shape of the movable plate 50, the first hinge 5, the second hinge 6, and the like on the surface of the oxide film 220 formed on the upper surface of the silicon layer 210. Thereafter, a portion of the oxide film 220 that is not masked by the resist 132b is removed by RIE (Reactive Ion Etching), and a portion of the silicon layer 210 where the movable plate 50 or the like is not formed is exposed (FIG. 6). The resist 132b is removed in oxygen plasma. Thereafter, an aluminum film is formed on the upper surface of the silicon layer 210 by sputtering aluminum, for example. The aluminum film is formed to have a thickness of about 500 nm, for example. Then, after patterning the resist 132c by photolithography, RIE is performed to remove portions of the aluminum film other than the mirror surface 20 and the voltage application portions 10a, 10b, and 10c (FIG. 7). Thereby, the mirror surface 20 and the voltage application parts 10a, 10b, and 10c are formed.

ミラー面20及び電圧印加部10a,10b,10cを形成した後、レジスト132cを除去し、シリコン層210上の酸化膜220等の表面にレジスト132dをパターニングする。その後、D−RIE(Deep Reactive Ion Etching)を行い、シリコン層210のうち上面が露出している部位を深掘りエッチングする。酸化膜220のエッチングレートは、シリコン層210のエッチングレートの1パーセント未満であるため、シリコン層210の表面の酸化膜220および酸化膜220はほとんどエッチングされない。これにより、シリコン層210に、可動板50、第1ヒンジ5及び第2ヒンジ6、第1櫛歯電極7及び第2櫛歯電極8等となる形状が形成される。これと同時に、可動板50となる部位にはトレンチ101aが形成され、固定フレーム4となる部位には、トレンチ101bが形成される(図8)。レジスト132dは、酸素プラズマ中で除去しておく。   After forming the mirror surface 20 and the voltage application portions 10a, 10b, and 10c, the resist 132c is removed, and the resist 132d is patterned on the surface of the oxide film 220 and the like on the silicon layer 210. Thereafter, D-RIE (Deep Reactive Ion Etching) is performed to deeply etch the portion of the silicon layer 210 where the upper surface is exposed. Since the etching rate of the oxide film 220 is less than 1 percent of the etching rate of the silicon layer 210, the oxide film 220 and the oxide film 220 on the surface of the silicon layer 210 are hardly etched. As a result, shapes that become the movable plate 50, the first hinge 5 and the second hinge 6, the first comb-tooth electrode 7, the second comb-tooth electrode 8, and the like are formed in the silicon layer 210. At the same time, a trench 101a is formed in a portion to be the movable plate 50, and a trench 101b is formed in a portion to be the fixed frame 4 (FIG. 8). The resist 132d is removed in oxygen plasma.

次に、第2工程を行う。第2工程は、例えば、表面側であるシリコン層210の上面を保護のためレジスト132eで覆って行われる。第2工程では、金属層230に対して、金属構造体9及び固定フレーム4に相当する部分を残すようにウェットエッチングを行う。その後、光走査ミラー1の下方に露出する酸化膜220を、RIEにより除去する(図9)。これにより、可動板50やミラー部2が、第1ヒンジ5及び第2ヒンジ6を介して揺動可能になる。また、これにより、トレンチ101aの下方に、酸化膜220と金属層230とで構成された金属構造体9が、トレンチ101aにより絶縁分離された可動フレーム3の複数の部位が共に接合された状態で形成される。その後、レジスト132eを除去することにより、光走査ミラー1が完成する。なお、光走査ミラー1とスペーサ110とは例えば接着又は陽極接合等により接合される。そして、光走査ミラー1は、必要に応じて上面に保護基板(図示せず)等が接合されてパッケージ化された後、基板Bに実装可能になる。   Next, the second step is performed. The second step is performed, for example, by covering the upper surface of the silicon layer 210 on the surface side with a resist 132e for protection. In the second step, wet etching is performed on the metal layer 230 so as to leave portions corresponding to the metal structure 9 and the fixed frame 4. Thereafter, the oxide film 220 exposed below the optical scanning mirror 1 is removed by RIE (FIG. 9). As a result, the movable plate 50 and the mirror unit 2 can swing through the first hinge 5 and the second hinge 6. In addition, as a result, the metal structure 9 composed of the oxide film 220 and the metal layer 230 is bonded to a plurality of parts of the movable frame 3 insulated and separated by the trench 101a together below the trench 101a. It is formed. Thereafter, the resist 132e is removed to complete the optical scanning mirror 1. The optical scanning mirror 1 and the spacer 110 are bonded by, for example, adhesion or anodic bonding. The optical scanning mirror 1 can be mounted on the substrate B after a protective substrate (not shown) or the like is bonded to the upper surface and packaged as necessary.

なお、第2工程において、金属層230をドライエッチングすることにより、金属層に金属構造体9及び固定フレーム4を形成してもよい。また、第1工程において、両面に酸化膜220を形成したシリコン層210に、接合面に金属メッキを形成し、そのメッキと金属層230とを接合させる共晶接合や、低融点ガラスを用いたガラス接合や、接着剤等を用いた樹脂接合により金属層230を接合して3層基板200を作製してもよい。このように3層基板200を作製することにより、容易に3層基板を作製することができ、製造コストを低減することができる。また、厚い金属層230を有する3層基板を作製することができるので、当該金属層230を適宜加工し光走査ミラー1を作製することにより、可動板50のヒンジ回りの共振周波数を大幅に低くすることができ、また、可動板50の共振周波数をより広い範囲で設定することができる。   In the second step, the metal structure 9 and the fixed frame 4 may be formed in the metal layer by dry etching the metal layer 230. Further, in the first step, eutectic bonding in which metal plating is formed on the bonding surface of the silicon layer 210 having the oxide film 220 formed on both surfaces and the plating and the metal layer 230 are bonded, or low melting glass is used. The three-layer substrate 200 may be manufactured by bonding the metal layer 230 by glass bonding or resin bonding using an adhesive or the like. By manufacturing the three-layer substrate 200 in this manner, the three-layer substrate can be easily manufactured, and the manufacturing cost can be reduced. In addition, since a three-layer substrate having a thick metal layer 230 can be manufactured, the resonant frequency around the hinge of the movable plate 50 can be greatly reduced by appropriately processing the metal layer 230 to manufacture the optical scanning mirror 1. In addition, the resonance frequency of the movable plate 50 can be set in a wider range.

このように、本実施形態においては、ミラー部2の第2ヒンジ6回りの揺動の共振周波数に比べて、金属構造体9を含む可動板50の第1ヒンジ5回りの揺動の共振周波数を極めて低くすることができる。換言すると、従来の半導体構造と比較して、金属構造体9を設けることにより、可動板50の共振周波数を保ったままで光走査ミラー1の素子サイズを小さくして光走査ミラー1の製造コストを低減したり、第1ヒンジ5の幅寸法又は厚み寸法を大きくして第1ヒンジ5の強度や剛性を確保し、光走査ミラー1の耐衝撃性を向上させたり適正に光走査可能にすることができる。特に、樹脂製等の質量片を設ける場合と比較して、比較的密度が高いニッケル−タングステン合金等からなる金属構造体9を用いるので、光走査ミラー1をさらに小型化することができる。また、金属構造体9の位置を可動板50の慣性モーメントが所望の値になるように設定することにより、金属構造体9を含む可動板50の第1ヒンジ5回りの揺動の共振周波数を、光走査ミラー1として求められる仕様等に容易に合致させることができる。特に、この光走査ミラー1では、比較的密度が高いニッケル−タングステン合金を、金属構造体9として用いているので、共振周波数は、より広い範囲で設定することが可能になる。   Thus, in the present embodiment, the resonance frequency of the oscillation around the first hinge 5 of the movable plate 50 including the metal structure 9 is higher than the resonance frequency of the oscillation around the second hinge 6 of the mirror portion 2. Can be made extremely low. In other words, by providing the metal structure 9 as compared with the conventional semiconductor structure, the element size of the optical scanning mirror 1 is reduced while maintaining the resonance frequency of the movable plate 50, and the manufacturing cost of the optical scanning mirror 1 is reduced. To reduce or increase the width or thickness of the first hinge 5 to ensure the strength and rigidity of the first hinge 5 to improve the shock resistance of the optical scanning mirror 1 and to enable proper optical scanning. Can do. In particular, since the metal structure 9 made of a nickel-tungsten alloy or the like having a relatively high density is used as compared with the case where a mass piece made of resin or the like is provided, the optical scanning mirror 1 can be further downsized. Further, by setting the position of the metal structure 9 so that the moment of inertia of the movable plate 50 becomes a desired value, the resonance frequency of the swing around the first hinge 5 of the movable plate 50 including the metal structure 9 is set. Therefore, it is possible to easily match the specifications required for the optical scanning mirror 1. In particular, in this optical scanning mirror 1, since a nickel-tungsten alloy having a relatively high density is used as the metal structure 9, the resonance frequency can be set in a wider range.

このように、ミラー部2の揺動の共振周波数に比べて可動板50の揺動の共振周波数を大幅に低くすることにより、可動板50が1往復揺動する間のミラー部2の揺動の往復回数が多くなる。従って、例えば光走査ミラー1で光線を縦横2次元走査させて画像を投影表示させるような場合に、投影画像の走査線の数を増加させ、より高解像度の画像を表示させることができる。なお、金属構造体9は、可動板50のストッパとしても機能する。すなわち、光走査ミラー1に外部から衝撃等が加わって可動板50が下方に変位しても、金属構造体9が実装面等に当接することにより、可動板50の変位が制限される。これにより、第1ヒンジ5の破損が防止され耐衝撃性が向上するという効果が生じる。   As described above, the resonance frequency of the swing of the movable plate 50 is significantly lower than the resonance frequency of the swing of the mirror portion 2, so that the mirror portion 2 swings while the movable plate 50 swings once. The number of round trips increases. Therefore, for example, when the image is projected and displayed by two-dimensionally scanning the light beam vertically and horizontally with the optical scanning mirror 1, the number of scanning lines of the projected image can be increased and a higher resolution image can be displayed. The metal structure 9 also functions as a stopper for the movable plate 50. That is, even when an impact or the like is applied to the optical scanning mirror 1 from the outside and the movable plate 50 is displaced downward, the displacement of the movable plate 50 is limited by the metal structure 9 contacting the mounting surface or the like. As a result, the first hinge 5 is prevented from being damaged and the impact resistance is improved.

なお、上記数式からわかるように、金属構造体9の位置に限らず、金属構造体9の厚みが大きいほど、金属構造体9を含む可動板50の第1ヒンジ5回りの慣性モーメントが大きくなる。これを鑑み、例えば、上述とは異なり、金属構造体9を可動板50に対し所定の位置に配置する必要がある場合には、可動板50の第1ヒンジ5回りの慣性モーメントが所望の値になるように金属構造体9の厚み方向寸法を調整してもよい。同様に、金属構造体9の厚み方向寸法と配置位置とを共に慣性モーメントの値を鑑みて調整したりしてもよい。このようにしても、上述と同様に、金属構造体9を含む可動板50の第1ヒンジ5回りの揺動の共振周波数を、広い範囲で、光走査ミラー1として求められる仕様等に容易に合致させることができる。   As can be seen from the above formula, the moment of inertia around the first hinge 5 of the movable plate 50 including the metal structure 9 increases as the thickness of the metal structure 9 increases as well as the position of the metal structure 9. . In view of this, for example, unlike the case described above, when the metal structure 9 needs to be disposed at a predetermined position with respect to the movable plate 50, the moment of inertia around the first hinge 5 of the movable plate 50 is a desired value. You may adjust the thickness direction dimension of the metal structure 9 so that it may become. Similarly, both the thickness direction dimension and the arrangement position of the metal structure 9 may be adjusted in view of the value of the moment of inertia. Even in this case, similarly to the above, the resonance frequency of the oscillation around the first hinge 5 of the movable plate 50 including the metal structure 9 can be easily set within a wide range to the specifications required for the optical scanning mirror 1. Can be matched.

図10は、例えば、本実施形態の一変形例に係る光走査ミラー21を示す。光走査ミラー21の可動板50には、光走査ミラー1の金属構造体9とは厚みが異なる金属構造体29が設けられており、金属構造体29の金属層230からなる部位の厚みが、固定フレーム4の金属層230からなる部位の厚みよりも薄く形成されているものである。光走査ミラー21のその他の部位の構成は光走査ミラー1と同様である。この場合、金属構造体29の質量は金属構造体9の質量よりも小さいので、光走査ミラー21の可動板50の第1ヒンジ5回りの慣性モーメントは光走査ミラー1の可動板50のそれよりも小さくなる。この光走査ミラー1では、可動板50の上面から金属構造体29の下端部までの厚み方向の寸法が、可動板50の上面から固定フレーム4の下端部までの寸法より短いので、図に示すように光走査ミラー21をそのまま基板B上に実装しても、その実装面と金属構造体29の下端部との間には空間ができる。すなわち、光走査ミラー21を基板B等の平面上に実装した状態で、金属構造体29が実装面上に接触せず、可動板50が第1ヒンジ5回りに揺動可能である。従って、スペーサ110等を固定フレーム4の下方に設ける必要が無く、光走査ミラー21の実装高さを低くすることができる。   FIG. 10 shows an optical scanning mirror 21 according to a modification of the present embodiment, for example. The movable plate 50 of the optical scanning mirror 21 is provided with a metal structure 29 having a thickness different from that of the metal structure 9 of the optical scanning mirror 1, and the thickness of the portion made of the metal layer 230 of the metal structure 29 is It is formed thinner than the thickness of the portion made of the metal layer 230 of the fixed frame 4. The configuration of other parts of the optical scanning mirror 21 is the same as that of the optical scanning mirror 1. In this case, since the mass of the metal structure 29 is smaller than the mass of the metal structure 9, the moment of inertia around the first hinge 5 of the movable plate 50 of the optical scanning mirror 21 is larger than that of the movable plate 50 of the optical scanning mirror 1. Becomes smaller. In this optical scanning mirror 1, the dimension in the thickness direction from the upper surface of the movable plate 50 to the lower end portion of the metal structure 29 is shorter than the dimension from the upper surface of the movable plate 50 to the lower end portion of the fixed frame 4. Thus, even if the optical scanning mirror 21 is mounted on the substrate B as it is, a space is formed between the mounting surface and the lower end of the metal structure 29. That is, in a state where the optical scanning mirror 21 is mounted on a plane such as the substrate B, the metal structure 29 does not contact the mounting surface, and the movable plate 50 can swing around the first hinge 5. Therefore, it is not necessary to provide the spacer 110 or the like below the fixed frame 4, and the mounting height of the optical scanning mirror 21 can be reduced.

次に、本発明の第2実施形態について説明する。図11(a)、(b)は、第2実施形態に係る光走査ミラー31を示す。光走査ミラー31は、上述の第1実施形態の光走査ミラー1とは異なり、金属層230がポーラス構造ではない点と、金属層230にスリット39aが形成されており、可動フレーム3の下方に、金属構造体9に替えて、多数の柱状構造39bを有する金属構造体39が形成されている点とが相違する。図に示すように、スリット39aは、金属層230の下面全体に、格子状に、可動板50に対し略垂直に彫り込まれて形成されている。スリット39aは、例えば、上述の第1実施形態と同様に、一旦酸化膜220の下面に下面が平坦な金属層230を形成した後、その金属層230をエッチング等により彫り込むことにより形成することができる。   Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIGS. 11A and 11B show an optical scanning mirror 31 according to the second embodiment. The optical scanning mirror 31 is different from the optical scanning mirror 1 of the first embodiment described above in that the metal layer 230 does not have a porous structure, and a slit 39 a is formed in the metal layer 230. The difference is that a metal structure 39 having a large number of columnar structures 39b is formed instead of the metal structure 9. As shown in the drawing, the slits 39 a are formed by being engraved on the entire lower surface of the metal layer 230 in a lattice shape substantially perpendicular to the movable plate 50. The slit 39a is formed, for example, by forming a metal layer 230 having a flat bottom surface on the lower surface of the oxide film 220 and then carving the metal layer 230 by etching or the like, as in the first embodiment. Can do.

このように、第2実施形態においては、金属層230の下面にスリット39aが形成されているので、シリコン層210と金属層230とで熱膨張率が異なることにより可動フレーム3や固定フレーム4において発生する応力が緩和される。特に、スリット39aが格子状に形成されていることにより、熱膨張率が異なることにより発生する応力が、可動フレーム3や固定フレーム4の全体で一様に緩和されるので、その応力による光走査ミラー31の変形をより小さくすることができる。   Thus, in the second embodiment, since the slit 39a is formed on the lower surface of the metal layer 230, the silicon layer 210 and the metal layer 230 have different coefficients of thermal expansion, so that the movable frame 3 and the fixed frame 4 The generated stress is relieved. In particular, since the slits 39a are formed in a lattice shape, the stress generated due to the different coefficients of thermal expansion is alleviated uniformly throughout the movable frame 3 and the fixed frame 4, so that optical scanning by the stress is performed. The deformation of the mirror 31 can be further reduced.

なお、本発明は上記実施形態の構成に限定されるものではなく、発明の趣旨を変更しない範囲で適宜に種々の変形が可能である。例えば、可動板の下面に形成する金属構造体や金属膜として用いる金属は、タングステン合金に限られず、光走査ミラーの製造方法等に応じて適宜選択することができる。また、光走査ミラーは、上記実施形態のような2軸ジンバル型のものではなく、例えばミラー面が形成された可動板を一対のヒンジで固定フレームに支持した構造を有する1軸に揺動可能なものであってもよい。この場合であっても、ヒンジの強度や剛性を確保した状態で、可動板に同様に金属膜又は金属構造体を設けて可動板のヒンジ回りの慣性モーメントを大きくしたり、可動板の揺動周波数を広い範囲で容易に調整することができる。ストッパを、可動板の揺動軸に向けて突出するように保護基板上に形成することにより、同様に、光走査ミラーの耐衝撃性を向上させることができる。   In addition, this invention is not limited to the structure of the said embodiment, A various deformation | transformation is possible suitably in the range which does not change the meaning of invention. For example, the metal structure formed on the lower surface of the movable plate and the metal used as the metal film are not limited to the tungsten alloy, and can be appropriately selected according to the manufacturing method of the optical scanning mirror. In addition, the optical scanning mirror is not of the biaxial gimbal type as in the above-described embodiment. For example, the optical scanning mirror can swing on a single axis having a structure in which a movable plate having a mirror surface is supported by a fixed frame with a pair of hinges. It may be anything. Even in this case, with the strength and rigidity of the hinge secured, a metal film or metal structure is similarly provided on the movable plate to increase the moment of inertia around the hinge of the movable plate, or the movable plate can be swung. The frequency can be easily adjusted in a wide range. Similarly, the impact resistance of the optical scanning mirror can be improved by forming the stopper on the protective substrate so as to protrude toward the swing axis of the movable plate.

さらにまた、本発明は、ミラー面を有し光を走査する光走査ミラーに限られず、一対のヒンジにより固定フレームに対し揺動可能に構成された可動板を有する可動構造体に広く適用可能である。すなわち、可動板にヒンジ回りの慣性モーメントを大きくするために金属膜又は金属構造体を設けることにより、ヒンジの強度や剛性を確保しつつ、可動板の共振周波数を大幅に低くすることができる。   Furthermore, the present invention is not limited to an optical scanning mirror having a mirror surface and scanning light, but can be widely applied to a movable structure having a movable plate configured to be swingable with respect to a fixed frame by a pair of hinges. is there. That is, by providing the movable plate with a metal film or a metal structure to increase the moment of inertia around the hinge, the resonance frequency of the movable plate can be significantly lowered while ensuring the strength and rigidity of the hinge.

(a)は本発明の第1実施形態に係る可動構造体である光走査ミラーの一例を示す斜視図、(b)は同光走査ミラーの下面側を示す斜視図。(A) is a perspective view which shows an example of the optical scanning mirror which is a movable structure which concerns on 1st Embodiment of this invention, (b) is a perspective view which shows the lower surface side of the optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの上面図。The top view of the said optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの図2のA−A線における断面図。Sectional drawing in the AA line of FIG. 2 of the said optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの製造工程の第1工程における側断面図。The sectional side view in the 1st process of the manufacturing process of the said optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの製造工程の第1工程における側断面図。The sectional side view in the 1st process of the manufacturing process of the said optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの製造工程の第1工程における側断面図。The sectional side view in the 1st process of the manufacturing process of the said optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの製造工程の第1工程における側断面図。The sectional side view in the 1st process of the manufacturing process of the said optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの製造工程の第1工程における側断面図。The sectional side view in the 1st process of the manufacturing process of the said optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの製造工程の第2工程における側断面図。The sectional side view in the 2nd process of the manufacturing process of the said optical scanning mirror. 上記光走査ミラーの一変形例を示す側断面図。The sectional side view which shows the modification of the said optical scanning mirror. (a)は本発明の第2実施形態に係る可動構造体である光走査ミラーの下面側を示す斜視図、(b)は同光走査ミラーの下面図。(A) is a perspective view which shows the lower surface side of the optical scanning mirror which is a movable structure which concerns on 2nd Embodiment of this invention, (b) is a bottom view of the optical scanning mirror.

符号の説明Explanation of symbols

1,21,31 光走査ミラー(可動構造体)
4 固定フレーム
5 第1ヒンジ(ヒンジ)
9,29,39 金属構造体
20 ミラー面
39a スリット
39b 柱状構造
50 可動板
200 3層基板
210 シリコン層
220 酸化膜(酸化膜層)
230 金属層
1, 21, 31 Optical scanning mirror (movable structure)
4 fixed frame 5 first hinge (hinge)
9, 29, 39 Metal structure 20 Mirror surface 39a Slit 39b Columnar structure 50 Movable plate 200 Three-layer substrate 210 Silicon layer 220 Oxide film (oxide film layer)
230 Metal layer

Claims (11)

可動板と、それぞれ前記可動板に一端部が接続され前記可動板の1つの揺動軸を構成する一対のヒンジと、前記一対のヒンジのそれぞれの他端部が接続されており前記ヒンジを支持する固定フレームとを備え、
前記可動板が、前記一対のヒンジをねじりながら前記固定フレームに対して揺動可能に構成されている可動構造体において、
前記可動板の厚み方向の下面には、前記可動板の前記一対のヒンジ回りの慣性モーメントを大きくするために、金属膜又は金属構造体が形成されていることを特徴とする可動構造体。
A movable plate, a pair of hinges each having one end connected to the movable plate and constituting one swing shaft of the movable plate, and the other ends of the pair of hinges are connected to support the hinge And a fixed frame to
In the movable structure in which the movable plate is configured to be swingable with respect to the fixed frame while twisting the pair of hinges,
A movable structure characterized in that a metal film or a metal structure is formed on the lower surface in the thickness direction of the movable plate in order to increase the moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate.
前記金属膜又は金属構造体の形状は、前記一対のヒンジにより構成される前記可動板の揺動軸を通り前記可動板に垂直な平面に対して対称であることを特徴とする請求項1に記載の可動構造体。   2. The shape of the metal film or metal structure is symmetric with respect to a plane perpendicular to the movable plate that passes through the swing axis of the movable plate constituted by the pair of hinges. The movable structure described. 前記可動板の上面から前記金属膜又は金属構造体の下端部までの当該可動板の厚み方向の寸法は、前記可動板の上面から前記固定フレームの下端部までの寸法より短いことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の可動構造体。   The dimension in the thickness direction of the movable plate from the upper surface of the movable plate to the lower end of the metal film or metal structure is shorter than the dimension from the upper surface of the movable plate to the lower end of the fixed frame. The movable structure according to claim 1 or 2. 前記可動板の前記一対のヒンジ回りの慣性モーメントが所望の値となるように、前記可動板の上面から前記金属膜又は金属構造体の下端部までの当該可動板の厚み方向の寸法が設定されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の可動構造体。   The dimension in the thickness direction of the movable plate from the upper surface of the movable plate to the lower end of the metal film or metal structure is set so that the moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate becomes a desired value. The movable structure according to claim 1, wherein the movable structure is provided. 前記可動板の前記一対のヒンジ回りの慣性モーメントが所望の値となるような位置に、前記金属膜又は金属構造体が配置されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の可動構造体。   The metal film or the metal structure is disposed at a position at which a moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate becomes a desired value. Movable structure. 前記金属層は、ポーラス構造であることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の可動構造体。   The movable structure according to any one of claims 1 to 5, wherein the metal layer has a porous structure. 前記金属層は、前記可動板に対し略垂直にスリットが設けられることにより形成された柱状構造を有していることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の可動構造体。   The movable layer according to any one of claims 1 to 6, wherein the metal layer has a columnar structure formed by providing a slit substantially perpendicular to the movable plate. Structure. 請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の可動構造体を有し、
前記可動板の上面に、入射した光を反射するミラー面を設けたことを特徴とする光走査ミラー。
The movable structure according to any one of claims 1 to 7,
An optical scanning mirror characterized in that a mirror surface for reflecting incident light is provided on the upper surface of the movable plate.
シリコン層−酸化膜層−金属層を有する3層基板を作製し、前記シリコン層を深掘りエッチングすることにより、当該シリコン層に、可動板と、それぞれ前記可動板に一端部が接続され前記可動板の1つの揺動軸を構成する一対のヒンジと、前記一対のヒンジのそれぞれの他端部が接続されており前記ヒンジを支持する固定フレームとを形成する第1工程と、
前記金属層をウェットエッチング又はドライエッチングすることにより、前記可動板の下方の金属層に、前記可動板の前記一対のヒンジ回りの慣性モーメントを大きくするための構造体を形成する第2工程とを有することを特徴とする可動構造体の製造方法。
A three-layer substrate having a silicon layer, an oxide film layer, and a metal layer is manufactured, and the silicon layer is deeply etched to connect the movable plate to the movable plate, and one end of each movable plate is connected to the movable plate. A first step of forming a pair of hinges constituting one swing shaft of the plate, and a fixed frame to which the other ends of the pair of hinges are connected to support the hinges;
Forming a structure for increasing the moment of inertia around the pair of hinges of the movable plate in the metal layer below the movable plate by performing wet etching or dry etching on the metal layer; A method for manufacturing a movable structure, comprising:
前記3層基板は、シリコン層と酸化膜層を有する基板に金属メッキを行うことにより作製されることを特徴とする請求項9に記載の可動構造体の製造方法。   The method for manufacturing a movable structure according to claim 9, wherein the three-layer substrate is manufactured by performing metal plating on a substrate having a silicon layer and an oxide film layer. 前記3層基板は、共晶接合、ガラス接合、及び樹脂接合のうち少なくとも1つの接合方法を用いて作製されることを特徴とする請求項9に記載の可動構造体の製造方法。   The method for manufacturing a movable structure according to claim 9, wherein the three-layer substrate is manufactured by using at least one bonding method among eutectic bonding, glass bonding, and resin bonding.
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