JP2010085503A - Manufacturing method of polarizing plate and manufacturing apparatus of polarizing plate - Google Patents

Manufacturing method of polarizing plate and manufacturing apparatus of polarizing plate Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of a polarizing plate and a manufacturing apparatus thereof by which film optical characteristics are highly precisely stabilized. <P>SOLUTION: In the manufacturing method of the polarizing plate, at least one layer of a long optical film is laminated onto another long optical film having a polarizing film to continuously obtain a multilayered laminated body 1. In the method, the optical characteristics of one of the films 25 to be laminated among respective long optical films are measured before the lamination of the film 25 to be laminated, and a first lamination condition to obtain the multilayered laminated body 1 having desired optical characteristics is decided based on the result of the measured optical characteristics by referring a first optical characteristic correspondent information expressing the relation of the optical characteristics of the multilayered laminated body 1 to the optical characteristics of the film 25 to be laminated and lamination conditions of respective long optical films 25, thus the long optical film is laminated under the decided first lamination condition. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、偏光板の製造方法および偏光板の製造装置に関する。   The present invention relates to a polarizing plate manufacturing method and a polarizing plate manufacturing apparatus.

液晶表示装置等に用いられる偏光板は、それが用いられる液晶セルの液晶モード等に応じて偏光特性が最適化されることが望ましい。偏光板は、一般的に偏光膜とその両面にポリマーフィルムからなる保護フィルムを有する多層積層体であるので、偏光特性が、保護フィルムとして用いられるポリマーフィルムの光学特性、具体的には面内レターデーションおよび厚み方向のレターデーション等に大きく影響される。   As for the polarizing plate used for a liquid crystal display device etc., it is desirable that a polarization characteristic is optimized according to the liquid crystal mode of the liquid crystal cell in which it is used. Since a polarizing plate is generally a multilayer laminate having a polarizing film and protective films made of a polymer film on both sides thereof, the polarizing characteristics are optical characteristics of the polymer film used as the protective film, specifically in-plane letters. It is greatly affected by the retardation and retardation in the thickness direction.

レターデーションにズレが生じ、このズレが一定範囲を超えると、液晶セルは十分な表示性能を発揮できなくなる。すなわち、目標のレターデーション値からのズレが大きくなると、液晶表示装置の大きさに合わせて切り出される位相差フィルム1枚の中でも、部分的に光学特性が異なることになり、均一な画面表示ができなくなる。   When the deviation occurs in the retardation and the deviation exceeds a certain range, the liquid crystal cell cannot exhibit sufficient display performance. In other words, when the deviation from the target retardation value increases, the optical characteristics are partially different in one retardation film cut out in accordance with the size of the liquid crystal display device, and a uniform screen display can be achieved. Disappear.

一般に、延伸して得られるポリマーフィルムの光学特性に対する均斉度は、延伸前の均斉度と、延伸条件の均一性に左右される。例えば、製膜工程で温度むら等によって生じた延伸前フィルムの配向ムラや厚さムラは、延伸工程でレターデーションのばらつきとして現れる。さらに、延伸時の温度等の加工条件のむらは新たなレターデーションのばらつきを生じさせ、フィルム光学特性の不均一性を増大させることになる。   In general, the uniformity of the polymer film obtained by stretching with respect to the optical properties depends on the uniformity before stretching and the uniformity of stretching conditions. For example, orientation unevenness and thickness unevenness of the pre-stretch film caused by temperature unevenness in the film forming process appear as variations in retardation in the stretching process. Furthermore, unevenness in the processing conditions such as the temperature during stretching causes new retardation variations and increases the non-uniformity of the film optical characteristics.

このような問題を解消しようとするものに、例えば特許文献1に開示される位相差フィルムの製造方法がある。この製造方法は、生産ライン中の測定システムにより得られるレターデーションをもとに、フィードバック制御により、生産中の延伸条件を調整することで、レターデーションのばらつきに対応した調整を可能としている。   There exists a manufacturing method of the phase difference film indicated by patent documents 1, for example in order to solve such a problem. In this manufacturing method, adjustment corresponding to variations in retardation is made possible by adjusting stretching conditions during production by feedback control based on retardation obtained by a measurement system in the production line.

しかしながら、この製造方法では、延伸工程後のライン中に設けた測定システムによりレターデーションを得、それの測定値に基づき延伸処理を調整するフィードバック制御を行うため、フィルム光学特性を高精度に安定化させることができない。図10に示すように、例えば、あるポリマーフィルムにおいて、延伸工程中の加熱温度に対し、面内レターデーションReは変化しないが、厚み方向レターデーションRthに変化が生じる場合、このレターデーションRthが目的の値となるように生産中の延伸条件が調整される。ところが、延伸工程におけるレターデーションが改善されても、その後の多層積層体(偏光板)を加工する被貼着フィルムの貼り付け工程でレターデーションのばらつきが発生すれば、多層積層体の光学特性の精度が不安定となる。また、延伸後のレターデーションを測定してフィードバック制御を行うため、フィードバック制御が間に合わなければ、未補正フィルム(無駄フィルム)が発生することになる。
特開2001−272537号公報
However, in this manufacturing method, retardation is obtained by the measurement system provided in the line after the stretching process, and feedback control is performed to adjust the stretching process based on the measured value, so that the film optical characteristics are stabilized with high accuracy. I can't let you. As shown in FIG. 10, for example, in a certain polymer film, the in-plane retardation Re does not change with respect to the heating temperature during the stretching process, but this retardation Rth is used when the thickness direction retardation Rth changes. The stretching conditions during production are adjusted so that the value becomes. However, even if the retardation in the stretching process is improved, if variations in retardation occur in the pasting process of the film to be pasted to process the multilayer laminate (polarizing plate), the optical characteristics of the multilayer laminate can be improved. Accuracy becomes unstable. Further, since the retardation after stretching is measured and feedback control is performed, if the feedback control is not in time, an uncorrected film (waste film) is generated.
JP 2001-272537 A

本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、その目的は、フィルム光学特性を高精度に安定化させることができる偏光板の製造方法および偏光板の製造装置を提供することにある。   This invention is made | formed in view of the said condition, The objective is to provide the manufacturing method of a polarizing plate and the manufacturing apparatus of a polarizing plate which can stabilize a film optical characteristic with high precision.

本発明は、下記構成からなる。
(1) 偏光膜を有する長尺状光学フィルムに少なくとも一層の他の長尺状光学フィルムを貼り付けて、多層積層体を連続的に得る偏光板の製造方法であって、
前記各長尺状光学フィルムのうち少なくともいずれかの被貼着フィルムに対して、該被貼着フィルムの貼り付け処理前に光学特性を測定し、
前記被貼着フィルムの光学特性および前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理条件に対する前記多層積層体の光学特性の関係を表す第1の光学特性対応情報を参照して、前記測定した光学特性の結果に基づいて前記多層積層体が所望の光学特性となる第1の貼り付け条件を決定し、
該決定した第1の貼り付け条件で前記長尺状光学フィルムの貼り付け処理を行う偏光板の製造方法。
The present invention has the following configuration.
(1) A method for producing a polarizing plate by continuously attaching at least one other long optical film to a long optical film having a polarizing film, and continuously obtaining a multilayer laminate,
For the adherent film at least one of the long optical films, the optical properties are measured before the sticking process of the adherent film,
Referring to the first optical property correspondence information representing the relationship between the optical properties of the adherend film and the optical properties of the multilayer laminate with respect to the application processing conditions of the respective long optical films, the measured optical properties Based on the result of the determination of the first pasting conditions that the multilayer laminate has the desired optical characteristics,
A method for producing a polarizing plate, wherein the long optical film is affixed under the determined first affixing conditions.

この偏光板の製造方法によれば、被貼着フィルムの光学特性が貼り付け処理前に測定され、その光学特性に応じた第1の貼り付け条件にて、被貼着フィルムが貼り付け処理される。すなわち、上流工程にて測定した条件に基づき、下流の貼り付け工程にて補正制御(フィードフォワード制御)がなされる。これにより、偏光板加工前の延伸工程等で生じる製造ばらつき等の光学的影響が、偏光板加工部で補正可能となる。また、被貼着フィルムの貼り付け前に測定が行われるので、未補正フィルム(無駄フィルム)を発生することがない。   According to this polarizing plate manufacturing method, the optical properties of the adherent film are measured before the sticking treatment, and the adherent film is attached under the first sticking conditions corresponding to the optical characteristics. The That is, based on the conditions measured in the upstream process, correction control (feed forward control) is performed in the downstream pasting process. Thereby, optical influences, such as a manufacturing dispersion | variation which arise in the extending | stretching process etc. before a polarizing plate process, can be correct | amended in a polarizing plate process part. Moreover, since measurement is performed before the adherence film is attached, an uncorrected film (waste film) is not generated.

(2) (1)に記載の偏光板の製造方法であって、
前記光学特性が、面内レターデーション、厚み方向のレターデーション、偏光主軸方向の少なくともいずれかを含む偏光板の製造方法。
(2) It is a manufacturing method of the polarizing plate as described in (1),
A method for producing a polarizing plate, wherein the optical characteristics include at least one of in-plane retardation, retardation in the thickness direction, and polarization main axis direction.

この偏光板の製造方法によれば、フィルム面に対し、面内、厚み方向のレターデーション、偏光主軸方向のうち任意のパラメータを使用でき、例えば液晶表示装置にとって重要な偏光特性の把握が容易となり、生産安定性を高めることができる。   According to this method of manufacturing a polarizing plate, any parameters of in-plane, thickness direction retardation, and polarization main axis direction can be used with respect to the film surface. For example, it becomes easy to grasp polarization characteristics important for a liquid crystal display device. , Can improve the production stability.

(3) (1)または(2)に記載の偏光板の製造方法であって、
前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理が、前記各長尺状光学フィルムを重ね合わせた積層状態で加熱加圧する処理であり、前記貼り付け処理条件が、前記長尺状光学フィルムの加熱温度、加熱時間のうち少なくともいずれかの条件を含む偏光板の製造方法。
(3) A method for producing a polarizing plate according to (1) or (2),
The pasting process of each of the long optical films is a process of heating and pressing in a laminated state in which the respective long optical films are stacked, and the pasting process condition is a heating temperature of the long optical film. The manufacturing method of the polarizing plate containing the conditions in any one among heating time.

この偏光板の製造方法によれば、被貼着フィルムが積層された状態で加熱加圧され、一体化された多層積層体に加工されるに際し、この貼り合せ時の加熱温度、加熱時間が第1の貼り付け条件と一致するように制御される。   According to this method for producing a polarizing plate, when a film to be adhered is heated and pressed in a laminated state and processed into an integrated multilayer laminate, the heating temperature and heating time at the time of bonding are the first. It is controlled so as to match the 1 paste condition.

(4) (1)〜(3)のいずれか1つに記載の偏光板の製造方法であって、
前記長尺状光学フィルムの貼り付け処理後の前記多層積層体の光学特性を測定し、
前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理条件と、これにより決定する前記多層積層体の光学特性との関係を表す第2の光学特性対応情報を参照して、前記光学特性の測定結果に基づいて前記多層積層体が所望の光学特性となる第2の貼り付け条件を決定し、
該決定した第2の貼り付け条件に基づいて前記第1の貼り付け条件を補正して前記長尺状光学フィルムの貼り付け処理を行う偏光板の製造方法。
(4) A method for producing a polarizing plate according to any one of (1) to (3),
Measure the optical properties of the multilayer laminate after the application of the long optical film,
Based on the measurement result of the optical property, referring to the second optical property correspondence information representing the relationship between the processing conditions for pasting each of the long optical films and the optical property of the multilayer laminate determined thereby. Determining a second attaching condition in which the multilayer laminate has desired optical characteristics,
A method of manufacturing a polarizing plate, which corrects the first attachment condition based on the determined second attachment condition and performs the attachment process of the long optical film.

この偏光板の製造方法によれば、貼り付け処理を後の多層積層体の光学特性が測定され、その測定結果に基づく第2の貼り付け条件にて、多層積層体が所望の光学特性となるよう貼り付け処理される。これにより、貼り付け処理を含む、貼り付け処理後の工程で生じる製造ばらつきがフィードバック制御により貼り付け処理部にて補正可能となる。   According to this polarizing plate manufacturing method, the optical characteristics of the multilayer laminate after the pasting process are measured, and the multilayer laminate has desired optical characteristics under the second pasting condition based on the measurement result. Is pasted. As a result, manufacturing variations that occur in the process after the pasting process, including the pasting process, can be corrected by the pasting processing unit by feedback control.

(5) (4)に記載の偏光板の製造方法であって、
前記光学特性対応情報は、環境湿度に応じて前記貼り付け条件が設定されている偏光板の製造方法。
(5) The method for producing a polarizing plate according to (4),
The optical characteristic correspondence information is a manufacturing method of a polarizing plate in which the attaching condition is set according to environmental humidity.

この偏光板の製造方法によれば、環境湿度によって変化する光学特性に合わせて貼り付け条件が設定されるので、常に正確な補正が可能となり、偏光板を均質に維持することができる。   According to this method for manufacturing a polarizing plate, the affixing conditions are set in accordance with the optical characteristics that change depending on the environmental humidity, so that accurate correction can always be performed and the polarizing plate can be kept homogeneous.

(6) 偏光膜を有する長尺状光学フィルムに少なくとも一層の他の長尺状光学フィルムを貼り付けて、多層積層体を連続的に得る偏光板の製造装置であって、
前記各長尺状光学フィルムをそれぞれ重ね合わせて貼着する貼り付け手段と、
前記各長尺状光学フィルムのうち少なくともいずれかの被貼着フィルムに対して、該被貼着フィルムの貼り付け処理前に光学特性を測定する第1の光学特性測定手段と、
前記被貼着フィルムの光学特性および前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理条件に対する前記多層積層体の光学特性の関係を表す第1の光学特性対応情報が保存された情報記憶手段と、
該第1の光学特性対応情報を参照して、前記測定された被貼着フィルムの光学特性の結果に基づいて前記多層積層体が所望の光学特性となる第1の貼り付け条件を決定し、該決定した第1の貼り付け条件で前記貼り付け手段を駆動する制御手段と、
を備えた偏光板の製造装置。
(6) A polarizing plate manufacturing apparatus for continuously obtaining a multilayer laminate by attaching at least one other long optical film to a long optical film having a polarizing film,
A pasting means for laminating and pasting each of the long optical films,
A first optical property measuring means for measuring optical properties before attaching the adherent film to at least one adherent film of the long optical films;
Information storage means storing first optical property correspondence information representing the relationship between the optical properties of the adherend film and the optical properties of the multilayer laminate with respect to the application processing conditions of the long optical films;
Referring to the first optical property correspondence information, based on the result of the measured optical properties of the film to be adhered, determine the first application condition for the multilayer laminate to have desired optical properties, Control means for driving the pasting means under the determined first pasting conditions;
An apparatus for manufacturing a polarizing plate comprising:

この偏光板の製造装置によれば、貼り付け手段より上流工程で生じているフィルム光学特性のばらつきが第1の光学特性測定手段にて測定され、その測定結果に対応する貼り付け条件が光学特性対応情報を参照して第1の貼り付け条件として決定される。これにより、貼り付け手段より上流工程で生じる光学特性のばらつきをなくす補正がなされる。   According to this polarizing plate manufacturing apparatus, the variation in film optical properties occurring in the upstream process from the attaching means is measured by the first optical property measuring means, and the attaching conditions corresponding to the measurement results are optical properties. The first pasting condition is determined with reference to the correspondence information. As a result, correction is made to eliminate variations in optical characteristics that occur in the upstream process from the attaching means.

(7) (6)に記載の偏光板の製造装置であって、
前記光学特性が、面内レターデーション、厚み方向のレターデーション、偏光主軸方向の少なくともいずれかを含む偏光板の製造装置。
(7) The polarizing plate manufacturing apparatus according to (6),
An apparatus for producing a polarizing plate, wherein the optical characteristics include at least one of in-plane retardation, retardation in the thickness direction, and polarization main axis direction.

この偏光板の製造装置によれば、フィルム面に対し、面内、厚み方向のレターデーション、偏光主軸方向のうち任意のパラメータを使用でき、例えば液晶表示装置にとって重要な偏光特性の把握が容易となり、生産安定性を高めることができる。   According to this polarizing plate manufacturing apparatus, any parameter among in-plane, thickness direction retardation, and polarization main axis direction can be used for the film surface, and for example, it becomes easy to grasp polarization characteristics important for a liquid crystal display device. , Can improve the production stability.

(8) (6)または(7)に記載の偏光板の製造装置であって、
前記貼り付け手段が、一対のニップローラ間に前記各長尺状光学フィルムを狭持するニップロール機構を有し、
前記一対のニップローラに狭持される前記長尺状光学フィルムの温度を変更する温度調整手段、前記ニップローラの回転速度を変更するローラ回転速度調整手段の少なくともいずれかを備えた偏光板の製造装置。
(8) The manufacturing apparatus of the polarizing plate according to (6) or (7),
The pasting means has a nip roll mechanism for sandwiching each of the long optical films between a pair of nip rollers,
A polarizing plate manufacturing apparatus comprising at least one of temperature adjusting means for changing the temperature of the long optical film held between the pair of nip rollers, and roller rotation speed adjusting means for changing the rotation speed of the nip rollers.

この偏光板の製造装置によれば、各長尺状光学フィルムが一対のニップローラによって狭持された状態で加熱加圧されて貼り付け処理される。その際の長尺状光学フィルムの温度、ローラ回転速度の調整によって、各長尺状光学フィルムの加熱温度、加熱時間の調整ができ、適切な光学特性への調整が可能となる。   According to this polarizing plate manufacturing apparatus, each elongate optical film is heated and pressed in a state of being sandwiched by a pair of nip rollers, and is subjected to a pasting process. By adjusting the temperature of the long optical film and the roller rotation speed at that time, the heating temperature and heating time of each long optical film can be adjusted, and adjustment to appropriate optical characteristics becomes possible.

(9) (8)記載の偏光板の製造装置であって、
前記温度調整手段が、前記一対のニップローラの少なくとも一方の温度を変更するローラ温度調整手段である偏光板の製造装置。
(9) A polarizing plate manufacturing apparatus according to (8),
The polarizing plate manufacturing apparatus, wherein the temperature adjusting means is a roller temperature adjusting means for changing a temperature of at least one of the pair of nip rollers.

この偏光板の製造装置によれば、ニップローラの温度を変更することで、簡単に長尺状光学フィルムの温度を変更できる。   According to this polarizing plate manufacturing apparatus, the temperature of the long optical film can be easily changed by changing the temperature of the nip roller.

(10) (6)〜(9)のいずれか1つに記載の偏光板の製造装置であって、
前記貼り付け手段によるフィルムの貼り付け処理後に前記多層積層体の光学特性を測定する第2の光学特性測定手段を備え、
前記情報記憶手段が、前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理条件と、これにより決定する前記多層積層体の光学特性との関係を表す第2の光学特性対応情報をさらに有し、
前記制御手段が、前記第2の光学特性測定手段による前記多層積層体の光学特性の測定結果に基づいて、前記第2の光学特性対応情報を参照して、前記多層積層体が所望の光学特性となる第2の貼り付け条件を決定し、該決定した第2の貼り付け条件に基づいて前記第1の貼り付け条件を補正して前記貼り付け手段を駆動制御する偏光板の製造装置。
(10) The manufacturing apparatus for a polarizing plate according to any one of (6) to (9),
A second optical property measuring means for measuring the optical properties of the multilayer laminate after the film attaching process by the attaching means;
The information storage means further includes second optical property correspondence information representing a relationship between the application processing conditions of the respective long optical films and the optical properties of the multilayer laminate determined thereby;
The control unit refers to the second optical property correspondence information based on the measurement result of the optical property of the multilayer laminate by the second optical property measurement unit, and the multilayer laminate has the desired optical property. And a polarizing plate manufacturing apparatus that drives and controls the attaching means by correcting the first attaching condition based on the determined second attaching condition.

この偏光板の製造装置によれば、貼り付け処理後の光学特性の変化が測定され、その測定値に応じた貼り付け条件(第2の貼り付け条件)にて、より高精度な貼り付け補正処理が可能となる。すなわち、多層積層体が所望の光学特性となる条件に貼り付け条件が補正されて貼り付け処理される。これにより、貼り付け処理を含む、貼り付け処理後の工程で生じる製造ばらつきがフィードバック制御により貼り付け処理内で補正可能となる。   According to this polarizing plate manufacturing apparatus, a change in optical characteristics after the pasting process is measured, and a more accurate pasting correction is performed under the pasting condition (second pasting condition) according to the measured value. Processing is possible. That is, the pasting process is performed with the pasting conditions corrected to conditions under which the multilayer laminate has desired optical characteristics. As a result, manufacturing variations that occur in the process after the pasting process including the pasting process can be corrected within the pasting process by feedback control.

(11) (6)〜(10)のいずれか1つに記載の偏光板の製造装置であって、
前記貼り付け手段周囲の環境湿度を測定する湿度測定手段を備え、
前記制御手段が、前記湿度測定手段による湿度測定結果に応じて、前記貼り付け条件を変更する偏光板の製造装置。
(11) The polarizing plate manufacturing apparatus according to any one of (6) to (10),
Comprising humidity measuring means for measuring the ambient humidity around the attaching means;
The polarizing plate manufacturing apparatus, wherein the control unit changes the attaching condition according to a humidity measurement result by the humidity measuring unit.

この偏光板の製造装置によれば、環境湿度によって変化する光学特性に合わせて貼り付け条件が設定されるので、常に正確な補正が可能となり、偏光板を均質に維持することができる。   According to this polarizing plate manufacturing apparatus, the affixing conditions are set in accordance with the optical characteristics that change depending on the environmental humidity, so that accurate correction can always be performed and the polarizing plate can be kept homogeneous.

本発明に係る偏光板の製造方法および製造装置によれば、偏光板加工前の延伸工程等で生じる光学特性の製造ばらつきを第1の貼り付け条件にて偏光板加工時に補正でき、フィルム光学特性を高精度に安定化させることができる。   According to the polarizing plate manufacturing method and the manufacturing apparatus according to the present invention, the manufacturing variation of the optical characteristics generated in the stretching process before the polarizing plate processing can be corrected at the time of polarizing plate processing under the first attaching condition, and the film optical characteristics Can be stabilized with high accuracy.

以下、偏光板の製造方法および偏光板の製造装置について、図面を参照して説明する。
図1は本発明に係る実施形態を説明するための偏光板の用いられた液晶表示装置の側面図である。
偏光板1,1は、液晶セル3の表裏面で、偏光軸が直交するクロスニコル状態で配置される。偏光板1は、偏光膜を有する偏光フィルム5とその両面にポリマーフィルムからなる保護フィルム7a,7bを有する多層積層体として構成される。保護フィルム7a,7bは、所望の偏光特性の偏光板1を得るように設計される。したがって、所望の偏光特性の偏光板1を連続的に安定的に製造するという課題は、保護フィルム7a,7b用に設計されたポリマーフィルムを、光学特性の変動がないように、連続して安定的に供給し、偏光フィルム5と連続して貼り付けることで達成される。本構成例では、偏光膜を有する長尺状の偏光フィルム5に、少なくとも一層の長尺状の光学フィルムである保護フィルム7a,7bを貼り付けることにより、多層積層体となった偏光板1を連続的に得る。
Hereinafter, the manufacturing method of a polarizing plate and the manufacturing apparatus of a polarizing plate are demonstrated with reference to drawings.
FIG. 1 is a side view of a liquid crystal display device using a polarizing plate for explaining an embodiment according to the present invention.
The polarizing plates 1 and 1 are arranged on the front and back surfaces of the liquid crystal cell 3 in a crossed Nicols state in which the polarization axes are orthogonal. The polarizing plate 1 is configured as a multilayer laminate having a polarizing film 5 having a polarizing film and protective films 7a and 7b made of a polymer film on both sides thereof. The protective films 7a and 7b are designed so as to obtain the polarizing plate 1 having desired polarization characteristics. Therefore, the problem of continuously and stably producing the polarizing plate 1 having desired polarization characteristics is that the polymer film designed for the protective films 7a and 7b is continuously stable so that there is no fluctuation in optical characteristics. This is achieved by supplying the liquid crystal and sticking it continuously to the polarizing film 5. In this configuration example, the polarizing plate 1 having a multilayer laminate is obtained by attaching protective films 7a and 7b, which are at least one long optical film, to a long polarizing film 5 having a polarizing film. Get continuously.

図2は偏光板の製造装置の概略を示した構成図である。
同図に示されるように、偏光板の製造装置100は、偏光板1を構成する各光学フィルムを重ね合わせて相互に貼り付けする貼り付け手段としての偏光板加工部8を有し、この偏光板加工部8の工程前段に第1光学特性測定部10を配置して、偏光板加工部8へ向かう光学フィルム(図示例では一例として保護フィルム7a)の光学特性を測定する。光学特性としては、光学フィルムの面内レターデーション、厚み方向のレターデーション、偏光主軸方向の少なくともいずれかを含む特性である。この光学特性の測定結果は、偏光板加工部8へフィードフォーワード制御されて、偏光板加工条件が適宜変更される。また、偏光板加工部8の工程後段に第2光学特性測定部12を配置して、偏光板加工部8により積層加工された偏光板1の光学特性を測定する。この光学特性の測定結果は、偏光板加工部8にフィードバック制御されて、偏光板加工条件が適宜変更される。
FIG. 2 is a configuration diagram showing an outline of a polarizing plate manufacturing apparatus.
As shown in the figure, a polarizing plate manufacturing apparatus 100 has a polarizing plate processing section 8 as an attaching means for superposing and attaching each optical film constituting the polarizing plate 1 to each other. The first optical property measurement unit 10 is arranged in the previous stage of the plate processing unit 8, and the optical property of the optical film (the protective film 7a as an example in the illustrated example) heading toward the polarizing plate processing unit 8 is measured. The optical characteristics include at least one of in-plane retardation of the optical film, retardation in the thickness direction, and polarization main axis direction. The measurement result of the optical characteristics is feedforward controlled to the polarizing plate processing section 8, and the polarizing plate processing conditions are appropriately changed. In addition, the second optical property measurement unit 12 is disposed after the process of the polarizing plate processing unit 8, and the optical properties of the polarizing plate 1 laminated by the polarizing plate processing unit 8 are measured. The measurement result of the optical characteristics is feedback-controlled by the polarizing plate processing unit 8, and the polarizing plate processing conditions are appropriately changed.

上記図2に示す基本構成をより具体化した一構成例を図3に示す。
この構成の偏光板の製造装置100は、偏光板加工部8として加熱ロール機構9を有する。加熱ロール機構9は、上下一対のニップローラ23a、23bを有し、これらニップローラ23a,23bとの間に偏光板1を構成する各光学フィルムが狭持される。そして、ニップローラ23aは加熱可能なヒートローラからなる。勿論、双方のニップローラ23a,23bをヒートローラで構成して、双方を温度制御してもよい。これらニップローラ23aは、図示しない回転駆動部に接続され、回転速度を自在に制御可能に構成されている。
FIG. 3 shows a configuration example in which the basic configuration shown in FIG.
The polarizing plate manufacturing apparatus 100 having this configuration has a heating roll mechanism 9 as the polarizing plate processing section 8. The heating roll mechanism 9 has a pair of upper and lower nip rollers 23a and 23b, and each optical film constituting the polarizing plate 1 is sandwiched between the nip rollers 23a and 23b. The nip roller 23a is a heatable heat roller. Of course, both the nip rollers 23a and 23b may be constituted by heat rollers, and the temperature of both may be controlled. These nip rollers 23a are connected to a rotation driving unit (not shown) and are configured to freely control the rotation speed.

加熱ロール機構9による貼り付け処理前に各光学フィルムの光学特性を測定する第1光学特性測定部10は、保護フィルム7aに対しては検出器10A、偏光フィルム5に対しては検出器10B、保護フィルム7bに対しては検出器10Cがそれぞれ配置され、各光学フィルムの光学特性を測定可能にしている。なお、これら検出器10A,10B,10Cは、いずれか1つの光学フィルムを選択的に測定するが、2つまたは全ての検出器をそれぞれ同時に機能させて、光学特性の測定を行ってもよい。以下の説明では、検出器10Aを機能させて保護フィルム7aに対する光学特性を検出して、偏光板加工条件を補正する例を示す。勿論、これに限らず、例えば他の検出器10Bを機能させて、吸収軸方位/偏光度等を測定したり、検出器10Cを機能させて、光散乱度や光散乱角度分布(表面散乱処理がされている場合)等を測定し、適宜調整することであってもよい。さらに、検出器10Bを機能させて偏光フィルム5の吸収軸方位のずれを測定し、その結果に基づいて、保護フィルム7aに対する貼り合わせ角を調整することも可能である。   The first optical property measurement unit 10 that measures the optical properties of each optical film before the attaching process by the heating roll mechanism 9 includes a detector 10A for the protective film 7a and a detector 10B for the polarizing film 5. A detector 10C is arranged for each of the protective films 7b so that the optical characteristics of each optical film can be measured. Note that these detectors 10A, 10B, and 10C selectively measure any one of the optical films, but two or all of the detectors may simultaneously function to measure the optical characteristics. In the following description, an example is shown in which the detector 10A is caused to function to detect the optical characteristics with respect to the protective film 7a and the polarizing plate processing conditions are corrected. Of course, the present invention is not limited to this. For example, the other detector 10B is made to function to measure the absorption axis direction / degree of polarization, etc., or the detector 10C is made to work, so that the light scattering degree and the light scattering angle distribution (surface scattering processing) Etc.) may be measured and adjusted as appropriate. Furthermore, it is also possible to measure the shift of the absorption axis direction of the polarizing film 5 by causing the detector 10B to function, and to adjust the bonding angle with respect to the protective film 7a based on the result.

また、加熱ロール機構9による貼り付け処理後の偏光板1に対して光学特性を測定する第2光学特性測定部12を設けてもよい。この第2光学特性測定部12は、加熱ロール機構9から偏光板1の巻き取りロール15までの搬送途中に配置された詳細を後述する光学特性の検出器である。   Moreover, you may provide the 2nd optical characteristic measurement part 12 which measures an optical characteristic with respect to the polarizing plate 1 after the sticking process by the heating roll mechanism 9. FIG. The second optical property measurement unit 12 is an optical property detector, which will be described later in detail, disposed in the middle of conveyance from the heating roll mechanism 9 to the take-up roll 15 of the polarizing plate 1.

そして、第1光学特性測定部10によって測定される光学フィルムの光学特性および加熱ロール機構9による各光学フィルムの貼り付け処理条件とこれにより決定する多層積層体(偏光板1)の光学特性との関係を表す光学特性対応情報(第1の光学特性対応情報)は、情報記憶部17に記憶されている。また、第2光学特性測定部12によって測定される偏光板1の光学特性および加熱ロール機構9による各光学フィルムの貼り付け処理条件との光学特性の関係を表す光学特性対応情報(第2の光学特性対応情報)も、情報記憶部17に記憶されている。   Then, the optical characteristics of the optical film measured by the first optical characteristic measuring unit 10 and the optical film sticking process conditions by the heating roll mechanism 9 and the optical characteristics of the multilayer laminate (polarizing plate 1) determined thereby. Optical characteristic correspondence information (first optical characteristic correspondence information) representing the relationship is stored in the information storage unit 17. Also, optical characteristic correspondence information (second optical characteristic) representing the relationship between the optical characteristic of the polarizing plate 1 measured by the second optical characteristic measuring unit 12 and the optical characteristic of each optical film applied by the heating roll mechanism 9. (Characteristic correspondence information) is also stored in the information storage unit 17.

さらに、偏光板の製造装置100は、情報記憶部17に記憶された各光学特性対応情報を参照して、測定した光学フィルムの光学特性の結果に基づいて、偏光板1が所望の光学特性となる第1の貼り付け条件を設定し、この設定された第1の貼り付け条件で加熱ロール機構9を駆動制御する制御部19を備えている。制御部19には、第1光学特性測定部10の検出器10A,10B,10C、情報記憶部17、および第2光学特性測定部12が接続され、また、一対のニップローラ23a,23bの温度を変更するローラ温度調整部20と、ニップローラ23a,23bの回転速度を変更するローラ回転速度調整部21と、環境湿度を測定する湿度センサ23とに接続されている。   Furthermore, the polarizing plate manufacturing apparatus 100 refers to each optical characteristic correspondence information stored in the information storage unit 17 and determines that the polarizing plate 1 has desired optical characteristics based on the measured optical characteristic result of the optical film. The control part 19 which sets the 1st sticking conditions which become and drive-controls the heating roll mechanism 9 by this set 1st sticking conditions is provided. The control unit 19 is connected to the detectors 10A, 10B, and 10C of the first optical characteristic measurement unit 10, the information storage unit 17, and the second optical characteristic measurement unit 12, and the temperature of the pair of nip rollers 23a and 23b is controlled. The roller temperature adjustment unit 20 to be changed, the roller rotation speed adjustment unit 21 to change the rotation speed of the nip rollers 23a and 23b, and the humidity sensor 23 to measure the environmental humidity are connected.

制御部19は、上記接続された各部を制御することで、保護フィルム7a、偏光フィルム5、保護フィルム7bを、ニップローラ23a,23bの直前で被貼着フィルム25として挟み込み、これら光学フィルムが積層された状態の被貼着フィルム25を一対のニップローラ23a,23bによって加熱加圧して相互に貼り付け処理し、巻き取りロール15に巻き取るまでの工程を制御する。その際、ニップローラ23aのローラ温度、回転速度が、ローラ温度調整部20、ローラ回転速度調整部21によって適宜調整可能となる。   The control unit 19 controls each of the connected units so that the protective film 7a, the polarizing film 5, and the protective film 7b are sandwiched as the film to be bonded 25 immediately before the nip rollers 23a and 23b, and these optical films are laminated. The bonded film 25 in a heated state is heated and pressed by a pair of nip rollers 23 a and 23 b so as to be attached to each other, and the process until winding on the take-up roll 15 is controlled. At that time, the roller temperature and the rotation speed of the nip roller 23 a can be appropriately adjusted by the roller temperature adjustment unit 20 and the roller rotation speed adjustment unit 21.

つまり制御部19は、ローラ温度調整部20によりニップローラ23aの温度を調整することで、被貼着フィルム25の加熱温度を所望の温度に調整し、ローラ回転速度調整部21によりニップローラ23aの回転速度を調整することで、ニップローラ23aと被貼着フィルム25との接触時間を増減して、被貼着フィルム25への加熱時間を調整する。これらの調整によって、被貼着フィルム25の加熱温度と加熱時間を前述の第1の貼り付け条件となるように設定する。なお、湿度センサ23による湿度測定結果に応じて、この第1の貼り付け条件を、この湿度変化に伴う光学特性の変化に対応させて適宜変更する。   That is, the controller 19 adjusts the temperature of the nip roller 23 a by the roller temperature adjusting unit 20 to adjust the heating temperature of the adherend film 25 to a desired temperature, and the roller rotation speed adjusting unit 21 rotates the rotation speed of the nip roller 23 a. Is adjusted to increase / decrease the contact time between the nip roller 23a and the film to be bonded 25 and adjust the heating time to the film to be bonded 25. By these adjustments, the heating temperature and heating time of the adherend film 25 are set to satisfy the above-described first attaching condition. In addition, according to the humidity measurement result by the humidity sensor 23, this 1st sticking conditions are changed suitably according to the change of the optical characteristic accompanying this humidity change.

また、制御部19は、第2光学特性測定部12により測定された偏光板1の光学特性の測定結果に基づいて、各フィルム7a,5,7bの貼り付け処理条件とこれにより決定する偏光板1の光学特性との関係を表す第1の光学特性対応情報を参照して、偏光板1が所望の光学特性となる第2の貼り付け条件を選定し、この選定された第2の貼り付け条件に基づいて、既に求められている第1の貼り付け条件を補正し、加熱ロール機構9を制御する。   Moreover, the control part 19 is based on the measurement result of the optical characteristic of the polarizing plate 1 measured by the 2nd optical characteristic measurement part 12, and the polarizing treatment process determined by this and the sticking process conditions of each film 7a, 5, 7b With reference to the first optical characteristic correspondence information representing the relationship with the first optical characteristic, the second affixing condition in which the polarizing plate 1 has the desired optical characteristic is selected, and this selected second affixing Based on the conditions, the first pasting condition that has already been obtained is corrected, and the heating roll mechanism 9 is controlled.

この偏光板の製造装置100では、基本動作として、加熱ロール機構9よりも上流側の前工程で生じているフィルム光学特性のばらつきが第1光学特性測定部10で測定され、その測定値に対応する貼り付け条件が第1の光学特性対応情報を参照することで、第1の貼り付け条件として決定される。これにより、加熱ロール機構9より上流工程にて生じる製造ばらつきを考慮した補正がなされる。   In this polarizing plate manufacturing apparatus 100, as a basic operation, a variation in film optical characteristics occurring in the upstream process upstream of the heating roll mechanism 9 is measured by the first optical characteristic measuring unit 10 and corresponds to the measured value. The pasting condition to be determined is determined as the first pasting condition by referring to the first optical characteristic correspondence information. Thereby, the correction in consideration of the manufacturing variation occurring in the upstream process from the heating roll mechanism 9 is performed.

これに加え、第2光学特性測定部12により、貼り付け処理後の偏光板1の光学特性の変化が測定され、その測定値に応じた第2の貼り付け条件により、より高精度な貼り付け補正処理が可能となる。すなわち、偏光板1が所望の光学特性となる第2の貼り付け条件に基づいて貼り付け処理される。これにより、貼り付け処理を含む、貼り付け処理後の工程で生じる製造ばらつきがフィードバック制御により加熱ロール機構9で補正可能となっている。   In addition to this, the second optical property measuring unit 12 measures the change in the optical properties of the polarizing plate 1 after the pasting process, and the second pasting condition corresponding to the measured value is used for more accurate pasting. Correction processing is possible. That is, the attaching process is performed based on the second attaching condition in which the polarizing plate 1 has desired optical characteristics. Thereby, the manufacturing variation which arises in the process after the pasting process including the pasting process can be corrected by the heating roll mechanism 9 by feedback control.

なお、上記構成の第2光学特性測定部を省略して、被貼着フィルム25の貼り付け処理前に光学特性を測定して、その測定結果に基づいて貼り付け処理条件をフィードフォーワード制御するだけの構成としてもよい。   Note that the second optical property measuring unit having the above configuration is omitted, the optical properties are measured before the attaching process of the adherend film 25, and the attaching process conditions are feedforward controlled based on the measurement result. It is good also as a structure only.

なお、上記例ではローラ温度調整部20がニップローラ23aの温度を変更する構成となっているが、これに限らず、例えば、ニップローラ23a,23bの搬送路後方に、各フィルム7a,5,7bの温度を変更可能な乾燥装置を配置し、この乾燥装置により各フィルムの温度を調整する構成としてもよい。その場合には、各フィルムの貼り付け前に塗布される粘着剤を確実に乾燥させることができる。その他、適宜な位置、手段で各フィルム7a,5,7bの温度を調整してもよい。   In the above example, the roller temperature adjusting unit 20 is configured to change the temperature of the nip roller 23a. However, the present invention is not limited to this. For example, the rollers 7a, 5b are provided behind the nip rollers 23a, 23b. It is good also as a structure which arrange | positions the drying apparatus which can change temperature, and adjusts the temperature of each film with this drying apparatus. In that case, the pressure-sensitive adhesive applied before attaching each film can be surely dried. In addition, you may adjust the temperature of each film 7a, 5 and 7b by a suitable position and means.

上記構成の製造装置100を用いた偏光板1の製造方法をより詳細に説明する。
以下の説明において、「〜」とはその前後に記載される数値を下限値及び上限値として含む意味で使用される。また実質的に直交もしくは平行とは、厳密な角度±10°の範囲を意味する。また、本明細書において、Re(λ)、Rth(λ)は各々、波長λにおける面内のレターデーション及び厚さ方向のレターデーションを表す。Re(λ)はKOBRA 21ADH又はWR(王子計測機器(株)製)において波長λnmの光をフィルム法線方向に入射させて測定される。
The manufacturing method of the polarizing plate 1 using the manufacturing apparatus 100 having the above configuration will be described in more detail.
In the following description, “to” is used to mean that the numerical values described before and after it are included as a lower limit value and an upper limit value. Further, substantially orthogonal or parallel means a range of a strict angle ± 10 °. In the present specification, Re (λ) and Rth (λ) represent in-plane retardation and retardation in the thickness direction at the wavelength λ, respectively. Re (λ) is measured by making light having a wavelength of λ nm incident in the normal direction of the film in KOBRA 21ADH or WR (manufactured by Oji Scientific Instruments).

測定されるフィルムが1軸又は2軸の屈折率楕円体で表されるものである場合には、以下の方法によりRth(λ)は算出される。
Rth(λ)は前記Re(λ)を、面内の遅相軸(KOBRA 21ADH又はWRにより判断される)を傾斜軸(回転軸)として(遅相軸がない場合にはフィルム面内の任意の方向を回転軸とする)のフィルム法線方向に対して法線方向から片側50度まで10度ステップで各々その傾斜した方向から波長λnmの光を入射させて全部で6点測定し、その測定されたレターデーション値と平均屈折率の仮定値及び入力された膜厚値を基にKOBRA 21ADH又はWRが算出する。
When the film to be measured is represented by a uniaxial or biaxial refractive index ellipsoid, Rth (λ) is calculated by the following method.
Rth (λ) is Re (λ), with the in-plane slow axis (determined by KOBRA 21ADH or WR) as the tilt axis (rotation axis) (if there is no slow axis, any in-plane film The light of wavelength λ nm is incident from each of the inclined directions in steps of 10 degrees from the normal direction to 50 degrees on one side with respect to the film normal direction (with the direction of the rotation axis as the rotation axis). KOBRA 21ADH or WR is calculated based on the measured retardation value, the assumed value of the average refractive index, and the input film thickness value.

上記において、法線方向から面内の遅相軸を回転軸として、ある傾斜角度にレターデーションの値がゼロとなる方向をもつフィルムの場合には、その傾斜角度より大きい傾斜角度でのレターデーション値はその符号を負に変更した後、KOBRA 21ADH又はWRが算出する。なお、遅相軸を傾斜軸(回転軸)として(遅相軸がない場合にはフィルム面内の任意の方向を回転軸とする)、任意の傾斜した2方向からレターデーション値を測定し、その値と平均屈折率の仮定値及び入力された膜厚値を基に、以下の式(1)及び式(2)よりRthを算出することもできる。   In the above case, in the case of a film having a direction in which the retardation value is zero at a certain tilt angle with the in-plane slow axis from the normal direction as the rotation axis, retardation at a tilt angle larger than the tilt angle. The value is calculated by KOBRA 21ADH or WR after changing its sign to negative. In addition, the retardation value is measured from the two inclined directions, with the slow axis as the tilt axis (rotation axis) (when there is no slow axis, the arbitrary direction in the film plane is the rotation axis), Based on the value, the assumed value of the average refractive index, and the input film thickness value, Rth can also be calculated from the following equations (1) and (2).

Figure 2010085503
Figure 2010085503

式中、上記のRe(θ)は法線方向から角度θ傾斜した方向におけるレターデーション値を表す。また式中、nxは面内における遅相軸方向の屈折率を表し、nyは面内においてnxに直交する方向の屈折率を表し、nzはnx及びnyに直交する方向の屈折率を表し、dは膜厚を表す。   In the formula, Re (θ) represents a retardation value in a direction inclined by an angle θ from the normal direction. In the formula, nx represents the refractive index in the slow axis direction in the plane, ny represents the refractive index in the direction orthogonal to nx in the plane, nz represents the refractive index in the direction orthogonal to nx and ny, d represents a film thickness.

測定されるフィルムが1軸や2軸の屈折率楕円体で表現できないもの、いわゆる光学軸(optic axis)がないフィルムの場合には、以下の方法によりRth(λ)は算出される。Rth(λ)は前記Re(λ)を、面内の遅相軸(KOBRA 21ADH又はWRにより判断される)を傾斜軸(回転軸)としてフィルム法線方向に対して−50度から+50度まで10度ステップで各々その傾斜した方向から波長λnmの光を入射させて11点測定し、その測定されたレターデーション値と平均屈折率の仮定値及び入力された膜厚値を基にKOBRA 21ADH又はWRが算出する。   In the case where the film to be measured cannot be expressed by a uniaxial or biaxial refractive index ellipsoid, that is, a film having no so-called optical axis, Rth (λ) is calculated by the following method. Rth (λ) is from −50 degrees to +50 degrees with respect to the normal direction of the film, with Re (λ) being the in-plane slow axis (determined by KOBRA 21ADH or WR) and the tilt axis (rotating axis). In each of the 10 degree steps, light of wavelength λ nm is incident from the inclined direction and measured at 11 points. Based on the measured retardation value, the assumed average refractive index, and the input film thickness value, KOBRA 21ADH or WR is calculated.

上記の測定において、平均屈折率の仮定値は ポリマーハンドブック(JOHN WILEY&SONS,INC)、各種光学フィルムのカタログの値を使用することができる。平均屈折率の値が既知でないものについてはアッベ屈折計で測定することができる。主な光学フィルムの平均屈折率の値を以下に例示する:セルロースアシレート(1.48)、シクロオレフィンポリマー(1.52)、ポリカーボネート(1.59)、ポリメチルメタクリレート(1.49)、ポリスチレン(1.59)である。これら平均屈折率の仮定値と膜厚を入力することで、KOBRA 21ADH又はWRはnx、ny、nzを算出する。この算出されたnx、ny、nzよりNz=(nx−nz)/(nx−ny)がさらに算出される。   In the above measurement, the assumed value of the average refractive index may be a value in a polymer handbook (John Wiley & Sons, Inc.) or a catalog of various optical films. Those whose average refractive index is not known can be measured with an Abbe refractometer. The average refractive index values of main optical films are exemplified below: cellulose acylate (1.48), cycloolefin polymer (1.52), polycarbonate (1.59), polymethyl methacrylate (1.49), Polystyrene (1.59). The KOBRA 21ADH or WR calculates nx, ny, and nz by inputting the assumed value of the average refractive index and the film thickness. Nz = (nx−nz) / (nx−ny) is further calculated from the calculated nx, ny, and nz.

次に、第2光学特性測定部12について説明する。
図4は偏光測定器を用いて偏光板(多層積層体)1のベクトルを測定する方法の一例を示す斜視図である。
処理条件の制御に用いられる特性値αは、保護フィルム7aの偏光特性を示す値であるのが好ましく、二色性(ディアテニュエーション)ベクトルD、又は偏光能(ポラリザンス)ベクトルPであるのが好ましい。二色性(ディアテニュエーション)ベクトルDとは、ポアンカレ球上において、透過光量が最大となる偏光状態を表し、偏光能(ポラリザンス)ベクトルPとは、ポアンカレ球上において、無偏光を入射した時の出射偏光状態を表す。第2光学特性測定部12として、デュアル・ローテート・リターダー方式の偏光測定器を用いると、偏光膜と、複屈折性ポリマーフィルムとの積層体のD及びPが測定できるので好ましい。デュアル・ローテート・リターダー方式の偏光測定器は、測定ヘッドが、偏波を作り出す偏光ジェネレータ12aと、偏波を検出する偏光アナライザ12bとを含み、双方のヘッドが、高速回転する波長板と偏光子とで構成されている偏光測定器である。市販品として、Axometrics社のミュラーマトリクス・ポラリメータがあり、これを用いることができる。
Next, the second optical characteristic measurement unit 12 will be described.
FIG. 4 is a perspective view showing an example of a method for measuring the vector of the polarizing plate (multilayer laminate) 1 using a polarimeter.
The characteristic value α used for controlling the processing conditions is preferably a value indicating the polarization characteristic of the protective film 7a, and is a dichroism vector D or a polarization ability (polarizance) vector P. preferable. A dichroism vector D represents a polarization state in which the amount of transmitted light is maximum on the Poincare sphere, and a polarization ability (polarizance) vector P represents when non-polarized light is incident on the Poincare sphere. Represents the output polarization state. It is preferable to use a dual rotation retarder type polarimetry device as the second optical property measurement unit 12 because D and P of a laminate of a polarizing film and a birefringent polymer film can be measured. The dual rotation retarder type polarimetry apparatus includes a polarization generator 12a for generating a polarization and a polarization analyzer 12b for detecting the polarization, and both heads are a wave plate and a polarizer that rotate at high speed. The polarimeter is composed of As a commercial product, there is a Mueller matrix polarimeter manufactured by Axometrics, which can be used.

特性値αは、その他、繰り込みエリプソメトリーや、一般化エリプソメトリーにより求められる成分でもよいし、ストークスパラメータ(S123)、消光度、透過率、反射率、リタデーション、ヘイズ、散乱率、遅相軸、偏光軸、透湿度、弾性率、水分量、帯電率、導電率、及び抵抗値から選択される少なくとも一種であってもよい。   The characteristic value α may be a component obtained by renormalization ellipsometry or generalized ellipsometry, Stokes parameter (S123), extinction, transmittance, reflectance, retardation, haze, scattering rate, slow axis, It may be at least one selected from a polarization axis, moisture permeability, elastic modulus, moisture content, charging rate, conductivity, and resistance value.

繰り込みエリプソメトリーにて得られる特性値としては、tpp、tps、tsp、tss等があり、これらの特性値は、下記の式(3)を満たす。 Characteristic values obtained by renormalization ellipsometry include t pp , t ps , t sp , and t ss , and these characteristic values satisfy the following formula (3).

Figure 2010085503
・・・式(3)
Figure 2010085503
... Formula (3)

等方性媒質ではジョーンズマトリクスにおける非対角成分は0になるが、光学異方性媒質では、一般的に0以外の値を持つ。繰り込みエリプソメトリーでは、ψ及びΔが測定値として得られので、この測定値を用いて、次式により解析する。   In the isotropic medium, the non-diagonal component in the Jones matrix is 0, but in the optically anisotropic medium, it generally has a value other than 0. In renormalization ellipsometry, ψ and Δ are obtained as measured values, and the measured values are used for analysis according to the following equation.

Figure 2010085503
・・・式(4)
Figure 2010085503
... Formula (4)

一方、一般化エリプソメトリーでは、非対角成分を含めた次式の三項目が測定される。   On the other hand, in generalized ellipsometry, the following three items including non-diagonal components are measured.

Figure 2010085503
・・・式(5)
Figure 2010085503
... Formula (5)

一般的には、ΔはP波S波の位相差、ψはP波S波の強度比に主に関係するパラメータである。よって、これらの値を解析することによって、試料のリターダンスやアブソーバンスに関する情報を得ることができる。多層モデルによる理論値と計測値を比較し、その差が最小になるようにモデルのパラメータをフィッティングすることができる。   In general, Δ is a phase difference of the P wave S wave, and ψ is a parameter mainly related to the intensity ratio of the P wave S wave. Therefore, by analyzing these values, it is possible to obtain information on the retardance and absorption of the sample. It is possible to compare the theoretical value and the measured value of the multilayer model and fit the model parameters so that the difference is minimized.

以上の方法は、繰り込みエリプソメトリーについては、N. Tanaka, M. Kimura and T. Akahane: Jpn. J. Appl. Phys. 42(2003) 486-491;及び、一般化エリプソメトリーについては、M. Schubert, B. Rheinlander, C. Cremer, H. Schmiedel, J. A. Woollam, C. M. Herzinger and B. Johs: J. Opt. Soc. Am. A13(1996) 1930-1940 に詳細が記載されている。   The above methods are described by N. Tanaka, M. Kimura and T. Akahane: Jpn. J. Appl. Phys. 42 (2003) 486-491 for renormalization ellipsometry; and M. for generalized ellipsometry. Schubert, B. Rheinlander, C. Cremer, H. Schmiedel, JA Woollam, CM Herzinger and B. Johs: J. Opt. Soc. Am. A13 (1996) 1930-1940.

また、上記の計測方法は、液晶セル3と偏光板1が貼合された状態や、液晶セル3のみの計測にも応用できる。液晶セル3は、液晶、配向膜、カラーフィルター、透明電極、ITO、透明絶縁膜、ガラス等を含む多層構造からなっている。それらをモデル化して、モデルによる理論値と計測値とを比較し、その差が最小となるように、モデルのパラメータをフィッティングすることで、上記各層の物理パラメータ(屈折率、吸収係数、複屈折率、膜厚等)を得ることができる。これらのパラメータを用いて設計を行うことで、光学フィルム及び、液晶セル3のパラメータを得ることができる。さらに、上記計測を波長ごとに行うことにより、良好な色味についても、理想のパラメータを得ることが可能である。また、セルに電圧を印加した状態で上記計測を行うと、黒状態や白状態だけでなく、中間調の表示性能についても、理想のパラメータを得ることができる。   Moreover, said measuring method is applicable also to the state by which the liquid crystal cell 3 and the polarizing plate 1 were bonded, or the measurement of only the liquid crystal cell 3. FIG. The liquid crystal cell 3 has a multilayer structure including a liquid crystal, an alignment film, a color filter, a transparent electrode, ITO, a transparent insulating film, glass and the like. By modeling them, comparing the theoretical values and measured values from the model, and fitting the model parameters so that the difference is minimized, the physical parameters (refractive index, absorption coefficient, birefringence of each layer above) Rate, film thickness, etc.). By designing using these parameters, the parameters of the optical film and the liquid crystal cell 3 can be obtained. Furthermore, by performing the above measurement for each wavelength, it is possible to obtain ideal parameters for good color. Further, when the above measurement is performed with a voltage applied to the cell, ideal parameters can be obtained not only for the black state and the white state but also for the display performance of the halftone.

さらに、干渉を含むような複雑な系については、Y. Ohno, T. Ishinabe, T. Miyashita and T. Uchida, IDW' 07 p. 47 (2007)のように、拡張ジョーンズベクトルをさらに拡張した方法を用いて、より正確なパラメータを得ることもできる。   Furthermore, for complex systems involving interference, the extended Jones vector is further expanded as in Y. Ohno, T. Ishinabe, T. Miyashita and T. Uchida, IDW '07 p. 47 (2007). Can be used to obtain more accurate parameters.

図4に、第2光学特性測定部12として、デュアル・ローテート・リターダー方式の偏光測定器を用いて、保護フィルム7a(図中、積層構造は省略し、単層として示した)の二色性ベクトルD、及び偏光能ベクトルPを測定する方法の一例を示す。第1の光学特性測定部10は、偏光ジェネレータ11aによって偏波を作り出し、保護フィルム7aに入射させ、保護フィルム7aを通過した偏波を偏光アナライザ11bで検出する。   In FIG. 4, the dichroism of the protective film 7a (in the figure, the laminated structure is omitted and shown as a single layer) using a dual rotation retarder type polarization measuring device as the second optical characteristic measuring unit 12. An example of a method for measuring the vector D and the polarization vector P is shown. The first optical characteristic measurement unit 10 generates polarized light by the polarization generator 11a, makes it incident on the protective film 7a, and detects the polarized light that has passed through the protective film 7a by the polarization analyzer 11b.

保護フィルム7aが、レターデーションを示す複屈折フィルムである場合は、保護フィルム7aの表面の法線方向に対して極角θ(0°<θ<90°)だけ傾けた方向から偏波を入射させるのが好ましく、保護フィルム7aの長手方向d1を基準として、方位角φ(0°<φ<90°)の方向において、法線から極θだけ傾けた方向から偏波を入射した光の偏光状態を検出するのが好ましい。   When the protective film 7a is a birefringent film exhibiting retardation, polarized light is incident from a direction inclined by a polar angle θ (0 ° <θ <90 °) with respect to the normal direction of the surface of the protective film 7a. It is preferable that the polarization of light incident from the direction inclined by the pole θ from the normal in the direction of the azimuth angle φ (0 ° <φ <90 °) with respect to the longitudinal direction d1 of the protective film 7a. It is preferable to detect the condition.

θは30〜70°であるのが好ましく、φは±30〜±60°であるのが好ましい。偏光アナライザ11bで検出された偏光状態を示す検出値は、制御部19に入力され、二色性ベクトルD及び/又は偏光能ベクトルPが算出される。制御部19にはあらかじめ、偏光板1の用途に応じて設計された偏光板1の、最適な設計値D0及び/又はP0を、実装評価又はモデル化による理論計算より入力されていて、算出したD及びPと設計値D0又はP0との差ΔD0又はΔP0が算出される。連続して検出し、ΔD0又はΔP0をモニタリングしてもよい。また、DとP、D0とP0は規格化しても、同様に扱うことができる。 θ is preferably 30 to 70 °, and φ is preferably ± 30 to ± 60 °. The detection value indicating the polarization state detected by the polarization analyzer 11b is input to the control unit 19, and the dichroism vector D and / or the polarization ability vector P is calculated. An optimal design value D 0 and / or P 0 of the polarizing plate 1 designed in accordance with the use of the polarizing plate 1 is input to the control unit 19 in advance by theoretical calculation by mounting evaluation or modeling, the difference [Delta] D 0 or [Delta] P 0 of the calculated D and P from the design value D 0 or P 0 is calculated. It may be detected continuously and ΔD 0 or ΔP 0 may be monitored. Further, D and P, D 0 and P 0 can be handled in the same manner even if they are standardized.

以上の方法は、Y. Ootani :O plus E 29 p.20 (2007));及びS-Y. Lu and R.A.Chipman : J.Opt.Soc.Am.A 13 p.1106(1996);に詳細が記載されていて、その内容を参照して、極角θ及び方位角φ等を決定することができる。   The above method is described in detail in Y. Ootani: O plus E 29 p.20 (2007)); and SY. Lu and RAChipman: J.Opt.Soc.Am.A 13 p.1106 (1996); The polar angle θ and the azimuth angle φ can be determined with reference to the contents.

次に、上記構成の偏光板の製造装置100による偏光板1の製造手順について、図面を参照して具体的に説明する。
図5は偏光板の製造方法の手順を示すフローチャート、図6は第1の貼り付け条件に基づく調整手順を(a)〜(d)に示した動作説明図、図7は第1の貼り付け条件に基づく調整がなされる際の貼付前レターデーション変化(a)、調整温度(b)、貼付後レターデーション変化(c)を示した説明図である。
Next, the manufacturing procedure of the polarizing plate 1 by the polarizing plate manufacturing apparatus 100 having the above configuration will be specifically described with reference to the drawings.
FIG. 5 is a flowchart showing the procedure of the manufacturing method of the polarizing plate, FIG. 6 is an operation explanatory diagram showing the adjustment procedure based on the first attaching condition in (a) to (d), and FIG. 7 is the first attaching. It is explanatory drawing which showed the retardation change (a) before adjustment at the time of adjustment based on conditions, adjustment temperature (b), and retardation change (c) after sticking.

ここでは、保護フィルム7aに対して偏光板加工前に光学特性を測定して、その測定結果に基づいて偏光板加工の貼り付け条件を変更する例を説明する。先ず、偏光板1の製造に先立ち、光学特性対応情報である補正テーブルを作成しておく(S1)。つまり、貼り付け条件によって偏光板加工前の保護フィルム7aの面内レターデーションRe、厚み方向レターデーションRth値等のパラメータが、偏光板加工後にどのように変化するかを調べる。このために、偏光板加工前の保護フィルム7aの光学特性を測定し、偏光板加工を行った後、上記の方法によりインラインまたはオフラインにて再度測定を行う。この測定処理を、偏光板加工条件を変化させつつ行い、また偏光板加工前の、Re,Rth値の異なるいくつかのサンプルに対して同様の測定を行い、偏光板加工条件と、加工前後での光学特性値変化の関係を求め、これを補正テーブルとする。なお、補正テーブルに限らず、曲線近似などの手段により光学特性変化を数式化して表してもよい。   Here, an example will be described in which the optical characteristics are measured before the polarizing plate processing with respect to the protective film 7a, and the bonding conditions for polarizing plate processing are changed based on the measurement results. First, prior to manufacturing the polarizing plate 1, a correction table, which is optical characteristic correspondence information, is created (S1). That is, it is examined how parameters such as the in-plane retardation Re and the thickness direction retardation Rth value of the protective film 7a before the polarizing plate processing change after the polarizing plate processing depending on the bonding conditions. For this purpose, after measuring the optical characteristics of the protective film 7a before polarizing plate processing and performing polarizing plate processing, the measurement is performed again inline or offline by the above method. This measurement process is performed while changing the polarizing plate processing conditions, and the same measurement is performed on several samples having different Re and Rth values before the polarizing plate processing. Is obtained as a correction table. Note that the optical characteristic change is not limited to the correction table, and may be expressed as a mathematical expression by means such as curve approximation.

保護フィルム7aの光学特性および保護フィルム7aの貼り付け処理条件とこれにより決定する偏光板1の光学特性との関係を表す補正テーブルの用意ができた後、偏光板の製造装置100を稼働し、図6(a)に示すように、保護フィルム7a、偏光フィルム5、保護フィルム7bを加熱ロール機構9へ供給する。同時に、偏光フィルム5貼り付け前の保護フィルム7aの光学特性を第1光学特性測定部である検出器10Aにて測定する(S2)。   After preparing the correction table representing the relationship between the optical properties of the protective film 7a and the processing conditions for attaching the protective film 7a and the optical properties of the polarizing plate 1 determined thereby, the polarizing plate manufacturing apparatus 100 is operated. As shown in FIG. 6A, the protective film 7 a, the polarizing film 5, and the protective film 7 b are supplied to the heating roll mechanism 9. At the same time, the optical characteristics of the protective film 7a before the polarizing film 5 is pasted are measured by the detector 10A which is a first optical characteristic measuring unit (S2).

測定される光学特性は、面内レターデーションRe、厚み方向のレターデーションRth、偏光主軸方向の少なくともいずれかを含む。フィルム面に対し、面内、厚み方向のレターデーション、偏光主軸方向のうち任意のパラメータを使用することで、例えば液晶表示装置にとって重要な偏光特性の把握が容易となり、局所的に生じた欠陥等がより検出しやすくなる。もって、偏光板の生産安定性を高めることができる。   The measured optical properties include at least one of in-plane retardation Re, thickness direction retardation Rth, and polarization main axis direction. Using arbitrary parameters among in-plane, thickness direction retardation and polarization main axis direction for film surface, for example, it becomes easy to grasp polarization characteristics important for liquid crystal display devices, etc. Becomes easier to detect. Accordingly, the production stability of the polarizing plate can be improved.

次に、光学特性の測定値は制御部19へ送られ、制御部19が測定光学特性に変化がありと判断すると(S3)、図6(b)に示すように、制御部19がフィードフォーワード制御により加熱ロール機構9を調整制御する。このときの制御は、補正テーブルを参照して、貼り付け後の偏光板1が所望の光学特性となるように第1の貼り付け条件を決定し、この第1の貼り付け条件で加熱ロール機構9による貼り付け処理を行うものである。   Next, the measured value of the optical characteristic is sent to the control unit 19, and when the control unit 19 determines that there is a change in the measured optical characteristic (S3), the control unit 19 feeds the feed fore as shown in FIG. The heating roll mechanism 9 is adjusted and controlled by word control. The control at this time refers to the correction table, determines the first attaching condition so that the attached polarizing plate 1 has the desired optical characteristics, and the heating roll mechanism under the first attaching condition. 9 is performed.

具体的な第1の貼り付け条件とは、ニップローラ23a,23bに対する加熱加圧処理の条件であり、ニップローラ23aの加熱温度、回転速度の少なくともいずれかを含む。保護フィルム7a,7b、偏光フィルム5が積層された状態で、一対のニップローラ23a,23bによって加熱加圧して一体化された偏光板1に加工する際に、この貼り付け時のニップローラ23aの温度、各フィルム7a,5,7bへの加熱時間が、第1の貼り付け条件と一致するように制御されることとなる。なお、環境湿度に応じて光学特性は変化するため、偏光板加工時の環境湿度を測定して、測定湿度に応じて適宜第1の貼り付け条件を変更しておく。   The specific first attaching condition is a condition of the heat and pressure treatment for the nip rollers 23a and 23b, and includes at least one of the heating temperature and the rotation speed of the nip roller 23a. In the state where the protective films 7a and 7b and the polarizing film 5 are laminated, when processing into the integrated polarizing plate 1 by heating and pressurizing with the pair of nip rollers 23a and 23b, the temperature of the nip roller 23a at the time of bonding, The heating time to each film 7a, 5, 7b will be controlled so that it may correspond with 1st bonding conditions. In addition, since an optical characteristic changes according to environmental humidity, the environmental humidity at the time of polarizing plate processing is measured, and the 1st sticking conditions are changed suitably according to measured humidity.

このようにして、偏光板1の貼り付け加工条件を変更する(S4)と、図6(c)に示すように、第1の貼り付け条件で偏光板1の貼り付け加工がなされ(S5)、偏光板加工前の延伸工程等で生じる製造ばらつき(図6中に波線で示す)が加熱ロール機構9で補正されることになる。なお、測定光学特性に変化がなしと判断されれば、加工条件は変更されないまま貼り付け処理が続行される。   In this way, when the affixing processing conditions of the polarizing plate 1 are changed (S4), the affixing processing of the polarizing plate 1 is performed under the first affixing conditions as shown in FIG. 6C (S5). The manufacturing variation (indicated by the wavy line in FIG. 6) that occurs in the stretching step before the polarizing plate processing is corrected by the heating roll mechanism 9. If it is determined that there is no change in the measurement optical characteristics, the pasting process is continued without changing the processing conditions.

例えば、図7(a)に示すように、温度依存性のある厚み方向レターデーションRthにおいては、厚み方向レターデーションRthの増減に応じて、図7(b)に示すように、ニップローラ23aへの加熱量を低減・増加させる。その結果、図7(c)に示すように、厚み方向レターデーションRthが所望の値に維持され、NGの発生しない偏光板1が製造される(図6(d)参照)。   For example, as shown in FIG. 7 (a), in the thickness direction retardation Rth having temperature dependency, as shown in FIG. 7 (b), depending on the increase / decrease of the thickness direction retardation Rth, Reduce or increase the amount of heating. As a result, as shown in FIG. 7C, the thickness direction retardation Rth is maintained at a desired value, and the polarizing plate 1 in which NG is not generated is manufactured (see FIG. 6D).

このように、本製造方法では、各光学フィル7a,7b、偏光フィルム5の光学特性が貼り付け処理前に測定され、その光学特性に応じた第1の貼り付け条件にて、被貼着フィルム25が貼り付け処理される。すなわち、上流工程にて測定した条件に基づき、下流の貼り付け工程にて補正制御(フィードフォーワード制御)がなされる。従って、例えば貼着後の測定でフィードバック制御を行う場合に発生しやすい、未補正フィルム(無駄フィルム)の発生がない。   Thus, in this manufacturing method, the optical properties of the optical films 7a and 7b and the polarizing film 5 are measured before the pasting process, and the film to be adhered is subjected to the first pasting condition corresponding to the optical properties. 25 is pasted. That is, based on the conditions measured in the upstream process, correction control (feed forward control) is performed in the downstream pasting process. Therefore, for example, there is no occurrence of an uncorrected film (waste film) that is likely to occur when feedback control is performed in the measurement after sticking.

次に、貼り付け処理後に光学特性を測定してフィードバック制御する第2光学特性測定部を機能させた場合を説明する。
図8は第1および第2の貼り付け条件に基づく調整手順を(a)〜(g)に示した動作説明図、図9は第1および第2の貼り付け条件に基づく調整がなされる際の貼付前レターデーション変化(a)(d)、調整温度(b)(e)、貼付後レターデーション変化(c)(f)を示した説明図である。
Next, a case where the second optical characteristic measurement unit that measures optical characteristics and performs feedback control after the pasting process is operated will be described.
FIG. 8 is an operation explanatory diagram showing the adjustment procedure based on the first and second attachment conditions in FIGS. 9A to 9G, and FIG. 9 is the case where adjustment based on the first and second attachment conditions is performed. It is explanatory drawing which showed the retardation change (a) (d) before sticking, adjustment temperature (b) (e), and the retardation change (c) (f) after sticking.

本構成例による製造方法では、さらに、貼り付け処理を行った後の偏光板1の光学特性を測定し(S6)、測定された偏光板1の光学特性に基づいて、各フィルム7a,5a,7bの貼り付け処理条件とこれにより決定する偏光板1の光学特性との関係を表す第2の光学特性対応情報である補正テーブルを参照して、偏光板1が所望の光学特性となる第2の貼り付け条件を決定する。この第2の貼り付け条件に基づいて先の第1の貼り付け条件を補正して貼り付け処理を行う。ここで、第2の光学特性対応情報は、第1の貼り付け条件の少なくとも一部を変更する情報を含み、例えば、第1の貼り付け条件としてのパラメータのバイアス成分を調整したり、ゲインを調整する等の微調整を行う情報とすることができる。   In the manufacturing method according to the present configuration example, the optical characteristics of the polarizing plate 1 after the pasting process are further measured (S6), and the films 7a, 5a, Referring to the correction table, which is the second optical characteristic correspondence information indicating the relationship between the affixing processing condition 7b and the optical characteristic of the polarizing plate 1 determined thereby, the second polarizing plate 1 has the desired optical characteristic. Determine the paste conditions. Based on the second pasting condition, the pasting process is performed by correcting the first pasting condition. Here, the second optical characteristic correspondence information includes information for changing at least a part of the first pasting condition. For example, the bias component of the parameter as the first pasting condition is adjusted, or the gain is set. Information for performing fine adjustment such as adjustment can be used.

これにより、図8(a)〜(c)に示すように、前述したフィードフォーワード制御を行った後、図8(d)に示すように、加熱ロール機構9の下流で偏光板1にNGが発生した場合でも、これを直ちに補正することができる。つまり、発生したNG部分が第2の光学特性測定部12にて測定され、制御部19にて目的とする光学特性となっていないことが判断されると(S7)、第2の貼り付け条件へと加工条件が変更される(S8)。すなわち、図8(e)に示すように、制御部19は、加熱ロール機構9に対してフィードバック制御を行う。加熱ロール機構9は、第2の光学特性対応情報により決定した第2の貼り付け条件に基づいて、既に決定されていた第1の貼り付け条件を補正して偏光板1の貼り付け処理を行う。   Thereby, as shown in FIGS. 8A to 8C, after performing the above-described feedforward control, as shown in FIG. 8D, NG is applied to the polarizing plate 1 downstream of the heating roll mechanism 9. Even if this occurs, it can be corrected immediately. That is, when the generated NG portion is measured by the second optical characteristic measurement unit 12 and the control unit 19 determines that the target optical characteristic is not achieved (S7), the second pasting condition The machining conditions are changed (S8). That is, as shown in FIG. 8 (e), the control unit 19 performs feedback control on the heating roll mechanism 9. The heating roll mechanism 9 corrects the already determined first attaching condition based on the second attaching condition determined by the second optical characteristic correspondence information and performs the attaching process of the polarizing plate 1. .

具体的には、図9(a)に示すように貼り付け処理前にレターデーション値Rthが変動し、図9(b)に示すように加熱温度を調整しても、貼り付け処理後のレターデーション値Rthが所望の値にならない場合、レターデーション値Rthの異常を検出して、図9(e)に示すように、加熱温度の制御パターン(温度昇降パターン)はそのままに、バイアス成分を低下させる補正を加える。この補正により、図9(f)に示すように、貼り付け後のレターデーション値Rthは、目的とする値となる。   Specifically, as shown in FIG. 9A, the retardation value Rth fluctuates before the pasting process, and even after the heating temperature is adjusted as shown in FIG. If the retardation value Rth does not reach the desired value, an abnormality in the retardation value Rth is detected, and as shown in FIG. 9 (e), the bias component is reduced while the heating temperature control pattern (temperature raising / lowering pattern) remains unchanged. Add the correction to be made. By this correction, as shown in FIG. 9F, the retardation value Rth after pasting becomes a target value.

これにより、図8(f)に示すように、貼り付け処理を含む、貼り付け処理後の工程で生じる製造ばらつきがフィードバック制御により加熱ロール機構9にて補正されるので、NG発生位置からフィードバック制御によるNG解消位置までの長さを最小限に抑えることができる。   As a result, as shown in FIG. 8 (f), manufacturing variations occurring in the steps after the pasting process including the pasting process are corrected by the heating roll mechanism 9 by feedback control. It is possible to minimize the length to the NG elimination position due to.

したがって、上記した偏光板の製造方法によれば、被貼着フィルム25の貼り付け処理前に光学特性を測定し、測定された光学特性に基づいて補正テーブルを参照し、偏光板1が所望の光学特性となる第1の貼り付け条件で被貼着フィルム25の貼り付け処理を行うので、偏光板加工前の延伸工程等で生じる製造ばらつきを、加熱ロール機構9を第1の貼り付け条件で駆動することで補正でき、フィルム光学特性を高精度に安定化させて製造することができる。   Therefore, according to the manufacturing method of the polarizing plate described above, the optical properties are measured before the sticking process of the adherend film 25, the correction table is referred to based on the measured optical properties, and the polarizing plate 1 is desired. Since the sticking process of the adherend film 25 is performed under the first sticking conditions that are optical characteristics, the manufacturing variation that occurs in the stretching process before the polarizing plate processing, etc., can be determined by using the heating roll mechanism 9 under the first sticking conditions. It can be corrected by driving, and film optical characteristics can be stabilized with high accuracy.

また、貼り付け処理後に光学特性を測定し、この測定された光学特性に基づいて補正テーブルを参照し、偏光板1が所望の光学特性となる第2の貼り付け条件に基づいて、先の第1の貼り付け条件を補正することで、上流工程で生じる全ての製造ばらつきを考慮した補正が可能となり、均一特性の偏光板1をより高精度に安定して製造することができる。   Further, the optical characteristics are measured after the pasting process, the correction table is referred to based on the measured optical characteristics, and the first pasting is performed based on the second pasting conditions in which the polarizing plate 1 has the desired optical characteristics. By correcting the 1 sticking condition, it becomes possible to perform correction in consideration of all manufacturing variations occurring in the upstream process, and the polarizing plate 1 having uniform characteristics can be manufactured with higher accuracy and stability.

本発明に係る実施形態を説明するための偏光板の用いられた液晶表示装置の側面図である。It is a side view of the liquid crystal display device in which the polarizing plate for demonstrating embodiment which concerns on this invention was used. 偏光板の製造装置の概略を示した構成図である。It is the block diagram which showed the outline of the manufacturing apparatus of a polarizing plate. 図2に示した偏光板加工部を具現化した一構成例を示す構成図である。It is a block diagram which shows one structural example which actualized the polarizing plate process part shown in FIG. 偏光測定器を用いて偏光板のベクトルを測定する方法の一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of the method of measuring the vector of a polarizing plate using a polarimeter. 偏光板の製造方法の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the manufacturing method of a polarizing plate. 第1の貼り付け条件に基づく調整手順を(a)〜(d)に示した動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing which showed the adjustment procedure based on 1st sticking conditions to (a)-(d). 第1の貼り付け条件に基づく調整がなされる際の貼付前レターデーション変化(a)、調整温度(b)、貼付後レターデーション変化(c)を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the retardation change (a) before adjustment at the time of adjustment based on 1st bonding conditions, adjustment temperature (b), and retardation change (c) after sticking. 第1および第2の貼り付け条件に基づく調整手順を(a)〜(g)に示した動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing which showed the adjustment procedure based on the 1st and 2nd sticking conditions to (a)-(g). 第1および第2の貼り付け条件に基づく調整がなされる際の貼付前レターデーション変化(a)(d)、調整温度(b)(e)、貼付後レターデーション変化(c)(f)を示した説明図である。Retardation change before sticking (a) (d), adjustment temperature (b) (e), retardation change after sticking (c) (f) when adjustment based on the first and second sticking conditions is made It is explanatory drawing shown. ポリマーフィルムにおける偏光板加工前の面内レターデーションReを(a)、厚み方向レターデーションRthを(b)に示した光学特性変化の説明図である。It is explanatory drawing of the optical characteristic change which showed in-plane retardation Re before polarizing plate processing in a polymer film in (a), and showed thickness direction retardation Rth in (b).

符号の説明Explanation of symbols

1 偏光板(多層積層体)
3 液晶セル
5 偏光フィルム
7a、7b 保護フィルム
8 偏光板加工部
9 加熱ロール機構(貼り付け手段)
10 第1光学特性測定部(第1の光学特性測定手段)
10A,10B,10C 検出器
12 第2光学特性測定部(第2の光学特性測定手段)
12a 偏光ジェネレータ
12b 偏光アナライザ
15 巻き取りロール
17 情報記憶部(情報記憶手段)
19 制御部(制御手段)
20 ローラ温度調整部(温度調整手段、ローラ温度調整手段)
21 ローラ回転速度調整部(ローラ回転速度調整手段)
23 湿度センサ(湿度測定手段)
25 被貼着フィルム
100 偏光板の製造装置
Re 面内レターデーション
Rth 厚み方向のレターデーション
1 Polarizing plate (multilayer laminate)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 Liquid crystal cell 5 Polarizing film 7a, 7b Protective film 8 Polarizing plate process part 9 Heating roll mechanism (attaching means)
10 1st optical characteristic measurement part (1st optical characteristic measurement means)
10A, 10B, 10C Detector 12 Second optical characteristic measuring unit (second optical characteristic measuring means)
12a Polarization generator 12b Polarization analyzer 15 Winding roll 17 Information storage unit (information storage means)
19 Control unit (control means)
20 Roller temperature adjustment unit (temperature adjustment means, roller temperature adjustment means)
21 Roller rotation speed adjustment unit (roller rotation speed adjustment means)
23 Humidity sensor (humidity measurement means)
25 Bonded film 100 Polarizing plate manufacturing apparatus Re In-plane retardation Rth Thickness direction retardation

Claims (11)

偏光膜を有する長尺状光学フィルムに少なくとも一層の他の長尺状光学フィルムを貼り付けて、多層積層体を連続的に得る偏光板の製造方法であって、
前記各長尺状光学フィルムのうち少なくともいずれかの被貼着フィルムに対して、該被貼着フィルムの貼り付け処理前に光学特性を測定し、
前記被貼着フィルムの光学特性および前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理条件に対する前記多層積層体の光学特性の関係を表す第1の光学特性対応情報を参照して、前記測定した光学特性の結果に基づいて前記多層積層体が所望の光学特性となる第1の貼り付け条件を決定し、
該決定した第1の貼り付け条件で前記長尺状光学フィルムの貼り付け処理を行う偏光板の製造方法。
A method for producing a polarizing plate, in which a multilayer laminate is continuously obtained by pasting at least one other long optical film on a long optical film having a polarizing film,
For the adherent film at least one of the long optical films, the optical properties are measured before the sticking process of the adherent film,
Referring to the first optical property correspondence information representing the relationship between the optical properties of the adherend film and the optical properties of the multilayer laminate with respect to the application processing conditions of the respective long optical films, the measured optical properties Based on the result of the determination of the first pasting conditions that the multilayer laminate has the desired optical characteristics,
A method for producing a polarizing plate, wherein the long optical film is affixed under the determined first affixing conditions.
請求項1記載の偏光板の製造方法であって、
前記光学特性が、面内レターデーション、厚み方向のレターデーション、偏光主軸方向の少なくともいずれかを含む偏光板の製造方法。
A method for producing a polarizing plate according to claim 1,
A method for producing a polarizing plate, wherein the optical characteristics include at least one of in-plane retardation, retardation in the thickness direction, and polarization main axis direction.
請求項1または請求項2記載の偏光板の製造方法であって、
前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理が、前記各長尺状光学フィルムを重ね合わせた積層状態で加熱加圧する処理であり、前記貼り付け処理条件が、前記長尺状光学フィルムの加熱温度、加熱時間のうち少なくともいずれかの条件を含む偏光板の製造方法。
It is a manufacturing method of the polarizing plate of Claim 1 or Claim 2, Comprising:
The pasting process of each of the long optical films is a process of heating and pressing in a laminated state in which the respective long optical films are stacked, and the pasting process condition is a heating temperature of the long optical film. The manufacturing method of the polarizing plate containing the conditions in any one among heating time.
請求項1〜請求項3のいずれか1項記載の偏光板の製造方法であって、
前記長尺状光学フィルムの貼り付け処理後の前記多層積層体の光学特性を測定し、
前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理条件と、これにより決定する前記多層積層体の光学特性との関係を表す第2の光学特性対応情報を参照して、前記光学特性の測定結果に基づいて前記多層積層体が所望の光学特性となる第2の貼り付け条件を決定し、
該決定した第2の貼り付け条件に基づいて前記第1の貼り付け条件を補正して前記長尺状光学フィルムの貼り付け処理を行う偏光板の製造方法。
It is a manufacturing method of the polarizing plate according to any one of claims 1 to 3,
Measure the optical properties of the multilayer laminate after the application of the long optical film,
Based on the measurement result of the optical property, referring to the second optical property correspondence information representing the relationship between the processing conditions for pasting each of the long optical films and the optical property of the multilayer laminate determined thereby. Determining a second attaching condition in which the multilayer laminate has desired optical characteristics,
A method of manufacturing a polarizing plate, which corrects the first attachment condition based on the determined second attachment condition and performs the attachment process of the long optical film.
請求項1〜請求項4のいずれか1項記載の偏光板の製造方法であって、
前記光学特性対応情報は、環境湿度に応じて前記貼り付け条件が設定されている偏光板の製造方法。
A method for producing a polarizing plate according to any one of claims 1 to 4,
The optical characteristic correspondence information is a manufacturing method of a polarizing plate in which the attaching condition is set according to environmental humidity.
偏光膜を有する長尺状光学フィルムに少なくとも一層の他の長尺状光学フィルムを貼り付けて、多層積層体を連続的に得る偏光板の製造装置であって、
前記各長尺状光学フィルムをそれぞれ重ね合わせて貼着する貼り付け手段と、
前記各長尺状光学フィルムのうち少なくともいずれかの被貼着フィルムに対して、該被貼着フィルムの貼り付け処理前に光学特性を測定する第1の光学特性測定手段と、
前記被貼着フィルムの光学特性および前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理条件に対する前記多層積層体の光学特性の関係を表す第1の光学特性対応情報が保存された情報記憶手段と、
該第1の光学特性対応情報を参照して、前記測定された被貼着フィルムの光学特性の結果に基づいて前記多層積層体が所望の光学特性となる第1の貼り付け条件を決定し、該決定した第1の貼り付け条件で前記貼り付け手段を駆動する制御手段と、
を備えた偏光板の製造装置。
A polarizing plate manufacturing apparatus for continuously obtaining a multilayer laminate by attaching at least one other long optical film to a long optical film having a polarizing film,
A pasting means for laminating and pasting each of the long optical films,
A first optical property measuring means for measuring optical properties before attaching the adherent film to at least one adherent film of the long optical films;
Information storage means storing first optical property correspondence information representing the relationship between the optical properties of the adherend film and the optical properties of the multilayer laminate with respect to the application processing conditions of the long optical films;
Referring to the first optical property correspondence information, based on the result of the measured optical properties of the film to be adhered, determine the first application condition for the multilayer laminate to have desired optical properties, Control means for driving the pasting means under the determined first pasting conditions;
An apparatus for manufacturing a polarizing plate comprising:
請求項6記載の偏光板の製造装置であって、
前記光学特性が、面内レターデーション、厚み方向のレターデーション、偏光主軸方向の少なくともいずれかを含む偏光板の製造装置。
It is a manufacturing apparatus of the polarizing plate of Claim 6, Comprising:
An apparatus for producing a polarizing plate, wherein the optical characteristics include at least one of in-plane retardation, retardation in the thickness direction, and polarization main axis direction.
請求項6または請求項7記載の偏光板の製造装置であって、
前記貼り付け手段が、一対のニップローラ間に前記各長尺状光学フィルムを狭持するニップロール機構を有し、
前記一対のニップローラに狭持される前記長尺状光学フィルムの温度を変更する温度調整手段、前記ニップローラの回転速度を変更するローラ回転速度調整手段の少なくともいずれかを備えた偏光板の製造装置。
It is a manufacturing apparatus of the polarizing plate according to claim 6 or 7,
The pasting means has a nip roll mechanism for sandwiching each of the long optical films between a pair of nip rollers,
A polarizing plate manufacturing apparatus comprising at least one of temperature adjusting means for changing the temperature of the long optical film held between the pair of nip rollers, and roller rotation speed adjusting means for changing the rotation speed of the nip rollers.
請求項8記載の偏光板の製造装置であって、
前記温度調整手段が、前記一対のニップローラの少なくとも一方の温度を変更するローラ温度調整手段である偏光板の製造装置。
It is a manufacturing apparatus of the polarizing plate of Claim 8, Comprising:
The polarizing plate manufacturing apparatus, wherein the temperature adjusting means is a roller temperature adjusting means for changing a temperature of at least one of the pair of nip rollers.
請求項6〜請求項9のいずれか1項記載の偏光板の製造装置であって、
前記貼り付け手段によるフィルムの貼り付け処理後に前記多層積層体の光学特性を測定する第2の光学特性測定手段を備え、
前記情報記憶手段が、前記各長尺状光学フィルムの貼り付け処理条件と、これにより決定する前記多層積層体の光学特性との関係を表す第2の光学特性対応情報をさらに有し、
前記制御手段が、前記第2の光学特性測定手段による前記多層積層体の光学特性の測定結果に基づいて、前記第2の光学特性対応情報を参照して、前記多層積層体が所望の光学特性となる第2の貼り付け条件を決定し、該決定した第2の貼り付け条件に基づいて前記第1の貼り付け条件を補正して前記貼り付け手段を駆動制御する偏光板の製造装置。
It is a manufacturing apparatus of the polarizing plate according to any one of claims 6 to 9,
A second optical property measuring means for measuring the optical properties of the multilayer laminate after the film attaching process by the attaching means;
The information storage means further includes second optical property correspondence information representing a relationship between the application processing conditions of the respective long optical films and the optical properties of the multilayer laminate determined thereby;
The control unit refers to the second optical property correspondence information based on the measurement result of the optical property of the multilayer laminate by the second optical property measurement unit, and the multilayer laminate has the desired optical property. And a polarizing plate manufacturing apparatus that drives and controls the attaching means by correcting the first attaching condition based on the determined second attaching condition.
請求項6〜請求項10のいずれか1項記載の偏光板の製造装置であって、
前記貼り付け手段周囲の環境湿度を測定する湿度測定手段を備え、
前記制御手段が、前記湿度測定手段による湿度測定結果に応じて、前記貼り付け条件を変更する偏光板の製造装置。
It is a manufacturing apparatus of the polarizing plate according to any one of claims 6 to 10,
Comprising humidity measuring means for measuring the ambient humidity around the attaching means;
The polarizing plate manufacturing apparatus, wherein the control unit changes the attaching condition according to a humidity measurement result by the humidity measuring unit.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013015442A (en) * 2011-07-05 2013-01-24 Fujifilm Corp Method and device for measuring optical characteristics
WO2019163843A1 (en) * 2018-02-26 2019-08-29 富士フイルム株式会社 Phase difference film manufacturing method and manufacturing device
KR20200049583A (en) * 2018-10-29 2020-05-08 코니카 미놀타 가부시키가이샤 Optical characteristic evaluation method and optical characteristic evaluation system

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013015442A (en) * 2011-07-05 2013-01-24 Fujifilm Corp Method and device for measuring optical characteristics
WO2019163843A1 (en) * 2018-02-26 2019-08-29 富士フイルム株式会社 Phase difference film manufacturing method and manufacturing device
JPWO2019163843A1 (en) * 2018-02-26 2020-12-03 富士フイルム株式会社 Phase difference film manufacturing method and manufacturing equipment
KR20200049583A (en) * 2018-10-29 2020-05-08 코니카 미놀타 가부시키가이샤 Optical characteristic evaluation method and optical characteristic evaluation system
KR102242882B1 (en) 2018-10-29 2021-04-20 코니카 미놀타 가부시키가이샤 Optical characteristic evaluation method and optical characteristic evaluation system

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