JP2010080013A - Method for evaluating durability of magnetic disk - Google Patents

Method for evaluating durability of magnetic disk Download PDF

Info

Publication number
JP2010080013A
JP2010080013A JP2008249203A JP2008249203A JP2010080013A JP 2010080013 A JP2010080013 A JP 2010080013A JP 2008249203 A JP2008249203 A JP 2008249203A JP 2008249203 A JP2008249203 A JP 2008249203A JP 2010080013 A JP2010080013 A JP 2010080013A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic disk
magnetic
durability
evaluating
disk
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008249203A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Ozawa
強 小澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Hoya Magnetics Singapore Pte Ltd
Original Assignee
Hoya Corp
Hoya Magnetics Singapore Pte Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp, Hoya Magnetics Singapore Pte Ltd filed Critical Hoya Corp
Priority to JP2008249203A priority Critical patent/JP2010080013A/en
Publication of JP2010080013A publication Critical patent/JP2010080013A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for evaluating durability of a magnetic disk with which durability of a magnetic disk surface is evaluated conveniently and accurately in accordance with a rigorous requirement with respect to the durability of the magnetic disk surface. <P>SOLUTION: Durability of a film on the magnetic disk surface is evaluated by: mounting the magnetic disk on a magnetic disk device with a magnetic head equipped with a DFH element attached thereto; subjecting the magnetic disk to fixed point floating, in a state of pushing out the DFH element of the magnetic head, and at a certain radial position of the magnetic disk surface; and detecting a point of rupture of the film on the magnetic disk surface. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、ハードディスクドライブ(HDD)などの磁気ディスク装置に搭載される磁気ディスクの保護膜等の耐久性評価方法に関する。 The present invention relates to a durability evaluation method for a protective film of a magnetic disk mounted on a magnetic disk device such as a hard disk drive (HDD).

近年の情報処理の大容量化に伴い、各種の情報記録技術が開発されている。特に磁気記録技術を用いたHDD(ハードディスクドライブ)の面記録密度は年率100%程度の割合で増加し続けている。最近では、HDD等に用いられる2.5インチ径磁気ディスクにして、1枚当り160Gバイトを超える情報記録容量が求められるようになってきており、このような所要に応えるためには1平方インチ当り250Gビットを超える情報記録密度を実現することが求められる。HDD等に用いられる磁気ディスクにおいて高記録密度を達成するためには、情報信号の記録を担う磁気記録層を構成する磁性結晶粒子を微細化すると共に、その層厚を低減していく必要があった。ところが、従来より商業化されている面内磁気記録方式(長手磁気記録方式、水平磁気記録方式とも呼称される)の磁気ディスクの場合、磁性結晶粒子の微細化が進展した結果、超常磁性現象により記録信号の熱的安定性が損なわれ、記録信号が消失してしまう、熱揺らぎ現象が発生するようになり、磁気ディスクの高記録密度化への阻害要因となっていた。  Various information recording techniques have been developed with the recent increase in information processing capacity. In particular, the surface recording density of an HDD (hard disk drive) using magnetic recording technology continues to increase at an annual rate of about 100%. Recently, an information recording capacity exceeding 160 Gbytes has been required for a 2.5 inch diameter magnetic disk used for HDDs and the like. In order to meet such a requirement, one square inch is required. It is required to realize an information recording density exceeding 250 Gbits per unit. In order to achieve a high recording density in a magnetic disk used for an HDD or the like, it is necessary to refine the magnetic crystal particles constituting the magnetic recording layer for recording information signals and to reduce the layer thickness. It was. However, in the case of magnetic disks of the in-plane magnetic recording method (also called longitudinal magnetic recording method or horizontal magnetic recording method) that have been commercialized conventionally, as a result of the progress of miniaturization of magnetic crystal grains, superparamagnetic phenomenon The thermal stability of the recording signal is impaired, the recording signal disappears, and a thermal fluctuation phenomenon occurs, which has been an impediment to increasing the recording density of the magnetic disk.

この阻害要因を解決するために、近年、垂直磁気記録方式用の磁気記録媒体が提案されている。垂直磁気記録方式の場合では、面内磁気記録方式の場合とは異なり、磁気記録層の磁化容易軸は基板面に対して垂直方向に配向するよう調整されている。垂直磁気記録方式は面内磁気記録方式に比べて、熱揺らぎ現象を抑制することができるので、高記録密度化に対して好適である。このような垂直磁気記録媒体としては、特開2002-74648号公報(特許文献1)に記載されたような、基板上に軟磁性体からなる軟磁性下地層と、硬磁性体からなる垂直磁気記録層を備える、いわゆる二層型垂直磁気記録ディスクが知られている。  In order to solve this hindrance factor, in recent years, a magnetic recording medium for perpendicular magnetic recording has been proposed. In the case of the perpendicular magnetic recording system, unlike the case of the in-plane magnetic recording system, the easy axis of magnetization of the magnetic recording layer is adjusted to be oriented in the direction perpendicular to the substrate surface. The perpendicular magnetic recording method can suppress the thermal fluctuation phenomenon as compared with the in-plane magnetic recording method, and is suitable for increasing the recording density. As such a perpendicular magnetic recording medium, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-74648 (Patent Document 1), a soft magnetic underlayer made of a soft magnetic material on a substrate and a perpendicular magnetic material made of a hard magnetic material. A so-called double-layered perpendicular magnetic recording disk having a recording layer is known.

特開2002−74648号公報JP 2002-74648 A

ところで、磁気ディスクの出荷までの工程は、ディスク基板製造工程、成膜工程、検査工程という順次一連の製造工程を経て完成し梱包され市場に出荷される。この検査工程には、通常、グライド検査工程と信号品質検査工程などが含まれる。この検査工程を経ることにより、安定した品質を備える磁気ディスク製品が市場に供給される。そして、上記グライド検査工程の前には、通常、磁気ディスク上に存在するコンタミネーションや汚れ等を除去するためのテープバーニッシュまたはヘッドバーニッシュとよばれる工程がある。従来の面内磁気記録方式用の磁気ディスクでは、このバーニッシュによって磁気ディスク表面上に存在していたコンタミネーションや汚れ等を問題なく除去可能であったが、垂直磁気記録方式用の磁気ディスクの場合、保護膜の物理的耐久性が弱く、バーニッシュ工程によって磁気ディスク表面上に傷(スクラッチ)等を付けてしまう場合があることが判明した。そして、磁気ディスク表面上に傷等を発生させてしまうと、例えばグライド検査工程で異常信号が発生して正確な検査ができなくなるという問題を生じる。このため、製造される磁気ディスクに高度の品質保証を付与することが困難になる場合があった。
したがって、磁気ディスク表面の例えば炭素系保護膜等の耐久性を簡便に評価できる方法が有用である。
By the way, the process up to the shipment of the magnetic disk is completed, packed and shipped to the market through a sequential series of manufacturing processes including a disk substrate manufacturing process, a film forming process, and an inspection process. This inspection process usually includes a glide inspection process and a signal quality inspection process. Through this inspection process, magnetic disk products with stable quality are supplied to the market. Before the glide inspection process, there is usually a process called a tape burnish or a head burnish for removing contamination or dirt existing on the magnetic disk. In conventional magnetic disks for in-plane magnetic recording systems, this burnish could remove contamination and dirt existing on the surface of the magnetic disk without any problems. In this case, the physical durability of the protective film is weak, and it has been found that the surface of the magnetic disk may be damaged (scratched) by the burnish process. If scratches or the like are generated on the surface of the magnetic disk, an abnormal signal is generated, for example, in a glide inspection process, and an accurate inspection cannot be performed. For this reason, it may be difficult to give a high quality assurance to the manufactured magnetic disk.
Therefore, a method that can easily evaluate the durability of the surface of the magnetic disk, such as a carbon-based protective film, is useful.

また最近、ハードディスクドライブ(HDD)では250Gbit/inch以上の情報記録密度が要求されるようになってきた。これは一つに、HDDが従来のコンピュータ用記憶装置としてのニーズに加えて、携帯電話やナビゲーションシステム、デジタルカメラ等に搭載されるようになってきたことと関係がある。
これらの新規用途の場合、HDDを搭載する筐体スペースがコンピュータに比べて著しく小さいので、HDDを小型化する必要がある。このためには、HDDに搭載する磁気ディスクの径を小径化する必要がある。例えば、コンピュータ用途では3.5インチ型や2.5インチ型の磁気ディスクを用いることが出来たが、上記新規用途の場合では、これよりも小径の、例えば0.8インチ型〜1.8インチ型などの小径磁気ディスクが用いられる。このように磁気ディスクを小径化した場合であっても一定以上の情報容量を格納させる必要があるので、勢い、情報記録密度の向上に拍車がかかることになる。
Recently, information recording density of 250 Gbit / inch 2 or more has been required for hard disk drives (HDD). This is related to the fact that HDDs have been installed in mobile phones, navigation systems, digital cameras, etc., in addition to the need for conventional computer storage devices.
In these new applications, the housing space for mounting the HDD is significantly smaller than that of a computer, so it is necessary to downsize the HDD. For this purpose, it is necessary to reduce the diameter of the magnetic disk mounted on the HDD. For example, a 3.5-inch type or 2.5-inch type magnetic disk could be used in a computer application, but in the case of the new application, a smaller diameter, for example, a 0.8-inch type to a 1.8-inch type is used. A small-diameter magnetic disk such as an inch type is used. Even when the diameter of the magnetic disk is reduced in this way, it is necessary to store a certain amount of information capacity, which will increase the speed of information recording.

また、限られたディスク面積を有効に利用するために、従来のCSS(Contact Start andStop)方式に代えてLUL(Load Unload:ロードアンロード)方式のHDDが用いられるようになってきた。LUL方式では、HDDの停止時には、磁気ヘッドを磁気ディスクの外に位置するランプと呼ばれる傾斜台に退避させておき、起動動作時には磁気ディスクが回転開始した後に、磁気ヘッドをランプから磁気ディスク上に滑動させ、浮上飛行させて記録再生を行なう。停止動作時には磁気ヘッドを磁気ディスク外のランプに退避させたのち、磁気ディスクの回転を停止する。この一連の動作はLUL動作と呼ばれる。LUL方式HDD用の磁気ディスクでは、CSS方式のような磁気ヘッドとの接触摺動用領域(CSS領域)を設ける必要がなく、記録再生領域を拡大させることができ、高情報容量化にとって好ましいからである。 Also, in order to effectively use the limited disk area, a HDD of LUL (Load Unload) method has been used instead of the conventional CSS (Contact Start and Stop) method. In the LUL method, when the HDD is stopped, the magnetic head is retracted to an inclined table called a ramp located outside the magnetic disk, and during the start-up operation, after the magnetic disk starts to rotate, the magnetic head is moved from the ramp onto the magnetic disk. Slide and fly to record and playback. During the stop operation, the magnetic head is retracted to the ramp outside the magnetic disk, and then the rotation of the magnetic disk is stopped. This series of operations is called LUL operation. Magnetic disks for LUL HDDs do not need to have a contact sliding area (CSS area) with the magnetic head as in the CSS system, and can expand the recording / playback area, which is preferable for high information capacity. is there.

このような状況の下で情報記録密度を向上させるためには、磁気ヘッドの浮上量を低減させることにより、スペーシングロスを限りなく低減する必要がある。1平方インチ当り250ギガビット以上の情報記録密度を達成するためには、磁気ヘッドの浮上量は10nm以下にする必要がある。LUL方式ではCSS方式と異なり、磁気ディスク面上にCSS用の凸凹形状を設ける必要が無く、磁気ディスク面上を極めて平滑化することが可能となる。よってLUL方式用磁気ディスクでは、CSS方式に比べて磁気ヘッド浮上量を一段と低下させることができるので、記録信号の高S/N比化を図ることができ、磁気ディスク装置の高記録容量化に資することができるという利点もある。 In order to improve the information recording density under such circumstances, it is necessary to reduce the spacing loss as much as possible by reducing the flying height of the magnetic head. In order to achieve an information recording density of 250 gigabits per square inch or more, the flying height of the magnetic head needs to be 10 nm or less. Unlike the CSS method, the LUL method does not require a concave / convex shape for CSS on the magnetic disk surface, and the magnetic disk surface can be extremely smoothed. Therefore, in the magnetic disk for LUL method, the flying height of the magnetic head can be further reduced compared to the CSS method, so that the S / N ratio of the recording signal can be increased and the recording capacity of the magnetic disk device can be increased. There is also an advantage of being able to contribute.

最近のLUL方式の導入に伴う、磁気ヘッド浮上量の一段の低下により、10nm以下の極低浮上量においても、磁気ディスクが安定して動作することが求められるようになってきた。とりわけ上述したように、近年、磁気ディスクは面内磁気記録方式から垂直磁気記録方式に移行しており、磁気ディスクの大容量化、それに伴うフライングハイトの低下が強く要求されている。
しかし、磁気ヘッドの浮上はHDDの使用環境温度の変化等により変化する。そこで、HDDの温度を検出し、例えば低温環境では、磁気ヘッドの周囲に配置したヒータコイルを駆動して磁気ヘッドを熱膨張させることによりスライダの浮上変化を補正する、ダイナミックフライングハイト(Dynamic Flying Height:以下、DFHと略称する)と呼ばれる浮上制御を採用するDFHヘッドが知られている。このようなDFHヘッドは、250Gbit/inch以上の高情報記録密度を達成するのに有効である。このようなDFHヘッドを採用した場合、磁気ディスク表面の耐久性がより重要となる。
Due to a further drop in the flying height of the magnetic head accompanying the recent introduction of the LUL system, it has become necessary to operate the magnetic disk stably even at an extremely low flying height of 10 nm or less. In particular, as described above, in recent years, the magnetic disk has shifted from the in-plane magnetic recording system to the perpendicular magnetic recording system, and there is a strong demand for an increase in the capacity of the magnetic disk and a decrease in flying height associated therewith.
However, the flying height of the magnetic head changes due to changes in the operating environment temperature of the HDD. Therefore, the temperature of the HDD is detected, and in a low temperature environment, for example, a dynamic flying height (Dynamic Flying Height) that corrects a flying change of the slider by driving a heater coil arranged around the magnetic head to thermally expand the magnetic head. (Hereinafter abbreviated as DFH), a DFH head that employs flying control is known. Such a DFH head is effective in achieving a high information recording density of 250 Gbit / inch 2 or more. When such a DFH head is employed, durability of the magnetic disk surface becomes more important.

現状では、磁気ディスク表面の耐久性に対する厳しい要求があるにもかかわらず、それを簡易に評価する有効な手段はほとんど知られていない。もちろん、現状でも、ディスク表面に対して一定の荷重(例えば30gf)をかけ、ディスク回転数を一定(例えば120rpm)にして磁気ディスク表面の膜が破断するまでの時間によって耐久性を評価するピンオンテストは行われていたが、本発明者の検討によると、従来のピンオンテストによる評価方法では、磁気ディスク表面の耐久性を必ずしも正確に評価できない場合があることを突き止めた。 At present, there are few known effective means for simply evaluating the durability of the magnetic disk surface despite strict requirements for the durability. Of course, even in the present situation, a pin-on that evaluates the durability by applying a constant load (for example, 30 gf) to the disk surface, maintaining the disk rotation speed (for example, 120 rpm) and breaking the film on the magnetic disk surface. Although the test has been conducted, according to the study of the present inventors, it has been found that the durability of the magnetic disk surface may not always be accurately evaluated by the conventional evaluation method based on the pin-on test.

以上の事情から、製造した磁気ディスク表面の例えば保護膜等の耐久性を簡便に、しかも正確に評価することができればその有用性は極めて高いことは明らかである。
本発明は以上の課題に鑑みなされたものであって、その目的とするところは、磁気ディスク表面の耐久性を簡便に評価することができる評価方法、とりわけ磁気ディスク表面の耐久性に対する厳しい要求に対応できるような磁気ディスク表面の耐久性を正確に評価することが可能な磁気ディスクの耐久性評価方法を提供することにある。
From the above situation, it is clear that if the durability of the manufactured magnetic disk surface such as a protective film can be evaluated easily and accurately, its usefulness is extremely high.
The present invention has been made in view of the above problems, and the object of the present invention is an evaluation method that can easily evaluate the durability of the surface of the magnetic disk, in particular, the strict requirement for the durability of the surface of the magnetic disk. An object of the present invention is to provide a method for evaluating the durability of a magnetic disk, which can accurately evaluate the durability of the magnetic disk surface that can be used.

本発明者は上記課題を解決すべく鋭意検討の結果、本発明を完成した。
すなわち、本発明は以下の構成を有する発明である。
(発明の構成1)
DFH素子を備えた磁気ヘッドを装着した磁気ディスク装置に磁気ディスクを搭載し、前記磁気ヘッドのDFH素子を突き出した状態で磁気ディスク表面のある半径の位置で定点浮上させ、磁気ディスク表面の膜が破断するポイントを検出することにより、磁気ディスク表面の膜の耐久性を評価することを特徴とする磁気ディスクの耐久性評価方法。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventor has completed the present invention.
That is, the present invention is an invention having the following configuration.
(Structure 1 of the invention)
A magnetic disk is mounted on a magnetic disk device equipped with a magnetic head equipped with a DFH element, and the DFH element of the magnetic head is protruded and floated at a fixed point at a certain radius on the surface of the magnetic disk. A method for evaluating the durability of a magnetic disk, wherein the durability of a film on the surface of a magnetic disk is evaluated by detecting a breaking point.

(発明の構成2)
磁気ディスク表面に形成された炭素系保護膜の耐久性を評価することを特徴とする構成1に記載の磁気ディスクの耐久性評価方法。
(発明の構成3)
測定時に磁気ディスクに加わる荷重は、1gf〜30gfの範囲内であることを特徴とする構成1又は2に記載の磁気ディスクの耐久性評価方法。
(Configuration 2)
The method for evaluating the durability of a magnetic disk according to Configuration 1, wherein the durability of the carbon-based protective film formed on the surface of the magnetic disk is evaluated.
(Structure 3 of the invention)
3. The method for evaluating the durability of a magnetic disk according to Configuration 1 or 2, wherein a load applied to the magnetic disk during measurement is in a range of 1 gf to 30 gf.

(発明の構成4)
測定時の磁気ディスク装置内の気圧は、200Torr以下の範囲内であることを特徴とする構成1乃至3のいずれか一に記載の磁気ディスクの耐久性評価方法。
(発明の構成5)
測定時の磁気ディスクの回転数は、3000〜8000rpmの範囲内であることを特徴とする構成1乃至4のいずれか一に記載の磁気ディスクの耐久性評価方法。
(Configuration 4)
4. The method for evaluating the durability of a magnetic disk according to any one of Structures 1 to 3, wherein the atmospheric pressure in the magnetic disk device at the time of measurement is within a range of 200 Torr or less.
(Structure 5 of the invention)
5. The method for evaluating the durability of a magnetic disk according to any one of Structures 1 to 4, wherein the rotational speed of the magnetic disk at the time of measurement is within a range of 3000 to 8000 rpm.

本発明は、構成1にあるように、DFH素子を備えた磁気ヘッドを装着した磁気ディスク装置に磁気ディスクを搭載し、前記磁気ヘッドのDFH素子を突き出した状態で磁気ディスク表面のある半径の位置で定点浮上させ、磁気ディスク表面の膜が破断するポイントを検出することにより、磁気ディスク表面の膜の耐久性を評価する磁気ディスクの耐久性評価方法である。
本発明では、DFH素子を備えた磁気ヘッドを装着した磁気ディスク装置に磁気ディスクを搭載して、耐久性評価測定を行う。この磁気ディスク装置は、測定対象の磁気ディスクが実際に搭載される装置、或いはそれと同じ構造のものである。
According to the present invention, as in Configuration 1, a magnetic disk is mounted on a magnetic disk device equipped with a magnetic head equipped with a DFH element, and a position of a radius on the surface of the magnetic disk in a state where the DFH element of the magnetic head is projected. This is a magnetic disk durability evaluation method for evaluating the durability of the film on the surface of the magnetic disk by detecting a point where the film on the surface of the magnetic disk breaks by floating at a fixed point.
In the present invention, a magnetic disk is mounted on a magnetic disk device equipped with a magnetic head having a DFH element, and durability evaluation measurement is performed. This magnetic disk device is a device on which a magnetic disk to be measured is actually mounted, or has the same structure.

測定を行う磁気ディスク表面上の半径位置は、ディスクのサイズによっても異なるので、特に制約されないが、例えば、65mm(外径)サイズのディスクの場合、ディスク中心から約20mm〜30mm、特に好ましくは20mm〜25mmの半径位置が適当である。 The radial position on the surface of the magnetic disk to be measured varies depending on the size of the disk, and is not particularly limited. For example, in the case of a 65 mm (outer diameter) size disk, about 20 mm to 30 mm, particularly preferably 20 mm from the disk center. A radius position of ˜25 mm is suitable.

また、測定時の磁気ディスクの回転数は、磁気ディスクを搭載する磁気ディスク装置の実際の使用時の回転数と対応させるのが好ましく、近年の高速回転化に合せて、例えば3000〜8000rpmの範囲内とすることが好適である。 Further, the rotational speed of the magnetic disk at the time of measurement preferably corresponds to the rotational speed at the time of actual use of the magnetic disk device on which the magnetic disk is mounted. For example, in the range of 3000 to 8000 rpm in accordance with the recent high speed rotation. It is preferable to be inside.

測定時に磁気ディスクに加わる荷重は、例えば1gf〜30gfの比較的低荷重の範囲内であることが好ましい。   The load applied to the magnetic disk during measurement is preferably within a relatively low load range of 1 gf to 30 gf, for example.

また、測定時の磁気ディスク装置内の気圧は、200Torr以下の真空状態に近い低い気圧の範囲内であることが好ましい。
なお、以上の測定時の磁気ディスクの回転数、磁気ディスクに加わる荷重については、その磁気ディスクを実際に搭載する磁気ディスク装置における使用時の値と一致させることが好適である。
Further, the atmospheric pressure in the magnetic disk device at the time of measurement is preferably within a low atmospheric pressure range close to a vacuum state of 200 Torr or less.
Note that the rotational speed of the magnetic disk and the load applied to the magnetic disk at the time of the above measurement are preferably matched with the values at the time of use in the magnetic disk device in which the magnetic disk is actually mounted.

なお、磁気ディスク表面の膜が破断するポイントを検出する方法としては、例えば磁気ヘッドのサスペンション又はその付近にヘッド出力を検出するアコースティックエミッション(AE)センサーを取り付けておき、このセンサーの出力をモニターすることにより検出することが可能である。 As a method for detecting the point at which the film on the surface of the magnetic disk breaks, for example, an acoustic emission (AE) sensor for detecting the head output is attached to the suspension of the magnetic head or the vicinity thereof, and the output of this sensor is monitored. Can be detected.

本発明による耐久性評価方法は、特に磁気ディスク表面の耐久性を左右し、最近耐久性の要求が厳しくなりつつある磁気ディスク表面に形成された炭素系保護膜の耐久性を評価するのに好適である。   The durability evaluation method according to the present invention particularly affects the durability of the magnetic disk surface, and is suitable for evaluating the durability of the carbon-based protective film formed on the surface of the magnetic disk, which has recently become increasingly demanding for durability. It is.

本発明による耐久性評価方法によれば、磁気ディスク表面の耐久性を簡便に評価することができる。とりわけ磁気ディスク表面の耐久性に対する最近の一層厳しくなりつつある要求に対応できるように、磁気ディスク表面の耐久性に関して正確な評価を行うことが可能である。 According to the durability evaluation method of the present invention, the durability of the magnetic disk surface can be easily evaluated. In particular, it is possible to accurately evaluate the durability of the magnetic disk surface so as to meet the recent increasingly demanding requirements for the durability of the magnetic disk surface.

本発明による耐久性評価を行う磁気ディスクは、磁気ディスク用基板の上に少なくとも磁性層、保護層等を形成して製造される。
磁気ディスク用基板としては、ガラス基板が好ましい。ガラス基板を構成するガラスは、アモルファスのアルミノシリケートガラスとすることが好ましい。このようなガラス基板は表面を鏡面研磨することにより平滑な鏡面に仕上げることができる。このようなアルミノシリケートガラスとしては、SiO2が58重量%以上75重量%以下、Al23が5重量%以上23重量%以下、Li2Oが3重量%以上10重量%以下、Na2Oが4重量%以上13重量%以下を主成分として含有するアルミノシリケートガラス(ただし、リン酸化物を含まないアルミノシリケートガラス)を用いることができる。例えば、SiO2 が62重量%以上75重量%以下、Al23が5重量%以上15重量%以下、Li2 Oが4重量%以上10重量%以下、Na2 Oが4重量%以上12重量%以下、ZrO2が5.5重量%以上15重量%以下を主成分として含有するとともに、Na2O/ZrO2 の重量比が0.5以上2.0以下、Al23 /ZrO2 の重量比が0.4以上2.5以下であるリン酸化物を含まないアモルファスのアルミノシリケートガラスとすることができる。
A magnetic disk for durability evaluation according to the present invention is manufactured by forming at least a magnetic layer, a protective layer, etc. on a magnetic disk substrate.
A glass substrate is preferred as the magnetic disk substrate. The glass constituting the glass substrate is preferably amorphous aluminosilicate glass. Such a glass substrate can be finished to a smooth mirror surface by polishing the surface. As such an aluminosilicate glass, SiO 2 is 58 wt% to 75 wt%, Al 2 O 3 is 5 wt% to 23 wt%, Li 2 O is 3 wt% to 10 wt%, Na 2 An aluminosilicate glass containing O as a main component in an amount of 4 wt% or more and 13 wt% or less (however, an aluminosilicate glass containing no phosphorus oxide) can be used. For example, SiO 2 is 62 wt% to 75 wt%, Al 2 O 3 is 5 wt% to 15 wt%, Li 2 O is 4 wt% to 10 wt%, and Na 2 O is 4 wt% to 12 wt%. Wt% or less, ZrO 2 containing 5.5 wt% or more and 15 wt% or less as a main component, and a weight ratio of Na 2 O / ZrO 2 of 0.5 or more and 2.0 or less, Al 2 O 3 / ZrO An amorphous aluminosilicate glass containing no phosphorous oxide having a weight ratio of 2 of 0.4 to 2.5 can be obtained.

磁気ディスク用ガラス基板は、少なくともガラス基板の鏡面研磨処理と洗浄処理により、ガラス基板の表面は、最大粗さRmaxが6nm以下である鏡面とされることが好ましい。このような鏡面状態は、鏡面研磨処理と洗浄処理をこの順で行うことにより実現することができる。 It is preferable that the glass substrate for a magnetic disk has a mirror surface having a maximum roughness Rmax of 6 nm or less by at least mirror polishing and cleaning of the glass substrate. Such a mirror state can be realized by performing a mirror polishing process and a cleaning process in this order.

なお、洗浄処理工程の後に、化学強化処理を施してもよい。化学強化処理の方法としては、例えば、ガラス転移点の温度を超えない温度領域、例えば摂氏300度以上400度以下の温度で、イオン交換を行う低温型イオン交換法などが好ましい。 In addition, you may perform a chemical strengthening process after a washing | cleaning process process. As a method of chemical strengthening treatment, for example, a low-temperature ion exchange method in which ion exchange is performed in a temperature range that does not exceed the temperature of the glass transition point, for example, a temperature of 300 degrees Celsius or more and 400 degrees Celsius or less is preferable.

磁気ディスク用基板上に形成する磁性層の材料としては、異方性磁界の大きな六方晶系であるCoPt系強磁性合金を用いることができる。磁性層の形成方法としてはスパッタリング法、例えばDCマグネトロンスパッタリング法によりガラス基板の上に磁性層を成膜する方法を用いることができる。またガラス基板と磁性層との間に、下地層を介挿することにより磁性層の磁性グレインの配向方向や磁性グレインの大きさを制御することができる。例えば,Cr系合金など立方晶系下地層を用いることにより、例えば磁性層の磁化容易方向を磁気ディスク面に沿って配向させることができる。この場合、面内磁気記録方式の磁気ディスクが製造される。また、例えば、RuやTiを含む六方晶系下地層を用いることにより、例えば磁性層の磁化容易方向を磁気ディスク面の法線に沿って配向させることができる。この場合、垂直磁気記録方式の磁気ディスクが製造される。下地層は磁性層同様にスパッタリング法により形成することができる。 As a material for the magnetic layer formed on the magnetic disk substrate, a hexagonal CoPt ferromagnetic alloy having a large anisotropic magnetic field can be used. As a method for forming the magnetic layer, a method of forming a magnetic layer on a glass substrate by sputtering, for example, DC magnetron sputtering can be used. Further, by interposing an underlayer between the glass substrate and the magnetic layer, the orientation direction of the magnetic grains of the magnetic layer and the size of the magnetic grains can be controlled. For example, by using a cubic base layer such as a Cr-based alloy, for example, the magnetization easy direction of the magnetic layer can be oriented along the magnetic disk surface. In this case, a magnetic disk of the in-plane magnetic recording system is manufactured. Further, for example, by using a hexagonal underlayer containing Ru or Ti, for example, the easy magnetization direction of the magnetic layer can be oriented along the normal of the magnetic disk surface. In this case, a perpendicular magnetic recording type magnetic disk is manufactured. The underlayer can be formed by sputtering as with the magnetic layer.

また、磁性層の上には、保護層を形成する。保護層としてはアモルファスの水素化炭素系保護層が好適である。例えばプラズマCVD法により保護層を形成することができる。保護層の膜厚としては、35オングストロームから80オングストロームが好ましい。本発明は、特に磁気ディスクの炭素系保護層の耐久性評価に好適である。 A protective layer is formed on the magnetic layer. As the protective layer, an amorphous hydrogenated carbon-based protective layer is suitable. For example, the protective layer can be formed by a plasma CVD method. The thickness of the protective layer is preferably 35 angstroms to 80 angstroms. The present invention is particularly suitable for evaluating the durability of a carbon-based protective layer of a magnetic disk.

また、保護層の上にさらに潤滑層を形成しても良い。潤滑層としては、パーフルオロポリエーテル化合物の主鎖の末端に官能基を有する潤滑剤、とりわけ極性官能基として水酸基を末端に備えるパーフルオロポリエーテル化合物を主成分とすることが好ましい。潤滑層の膜厚は5オングストロームから15オングストロームとすることが好ましい。潤滑層はディップ法により塗布形成することができる。 Further, a lubricating layer may be further formed on the protective layer. The lubricating layer is preferably composed mainly of a lubricant having a functional group at the end of the main chain of the perfluoropolyether compound, particularly a perfluoropolyether compound having a terminal hydroxyl group as a polar functional group. The film thickness of the lubricating layer is preferably 5 angstroms to 15 angstroms. The lubricating layer can be applied and formed by a dip method.

本発明によれば、磁気ディスク表面の耐久性を簡便に評価することができる評価方法、とりわけ磁気ディスク表面の耐久性に対する厳しい要求に対応できるような磁気ディスク表面の耐久性を正確に評価することが可能となる磁気ディスクの耐久性評価方法を提供することができる。
また、本発明の磁気ディスクの耐久性評価方法を適用することにより、磁気ディスク表面の耐久性に対する厳しい要求に対応できるような磁気ディスクを提供することができる。
According to the present invention, an evaluation method capable of simply evaluating the durability of the magnetic disk surface, particularly, accurately evaluating the durability of the magnetic disk surface capable of meeting the strict requirements for the durability of the magnetic disk surface. Thus, it is possible to provide a method for evaluating the durability of a magnetic disk.
Further, by applying the magnetic disk durability evaluation method of the present invention, it is possible to provide a magnetic disk capable of meeting strict requirements for the durability of the magnetic disk surface.

以下、実施例により本発明の実施の形態を具体的に説明する。
本実施例では、まず、溶融ガラスから上型、下型、胴型を用いたダイレクトプレスにより直径66mmφ、厚さ1.5mmの円盤状のアルミノシリケートガラスからなるガラス基板を得、これに粗ラッピング工程(粗研削工程)、形状加工工程、精ラッピング工程(精研削工程)、端面鏡面加工工程、第1研磨工程、第2研磨工程を順次施すとともに、次いで化学強化を施すことにより、磁気ディスク用ガラス基板を製造した。このガラス基板は、主表面、端面ともに鏡面研磨加工されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail by way of examples.
In this example, first, a glass substrate made of disk-shaped aluminosilicate glass having a diameter of 66 mmφ and a thickness of 1.5 mm is obtained from molten glass by direct pressing using an upper die, a lower die, and a barrel die, and this is roughly wrapped. For magnetic disks, the process (rough grinding process), shape processing process, fine lapping process (fine grinding process), end mirror processing process, first polishing process, and second polishing process are performed sequentially, followed by chemical strengthening. A glass substrate was produced. This glass substrate is mirror-polished on both the main surface and the end surface.

上記化学強化及びその後の洗浄を終えたガラス基板表面の目視検査及び精密検査を実施した結果、ガラス基板表面に付着物による突起や、傷等の欠陥は発見されなかった。また、上記工程を経て得られたガラス基板の主表面の表面粗さを原子間力顕微鏡(AFM)にて測定したところ、Rmax=2.13nm、Ra=0.20nmと超平滑な表面を持つ磁気ディスク用ガラス基板を得た。また、ガラス基板の外径は65mm、内径は20mm、板厚は0.635mmであった。 As a result of visual inspection and precise inspection of the glass substrate surface after the chemical strengthening and subsequent cleaning, no defects such as protrusions and scratches due to deposits were found on the glass substrate surface. Further, when the surface roughness of the main surface of the glass substrate obtained through the above steps was measured with an atomic force microscope (AFM), it had an ultra-smooth surface with Rmax = 2.13 nm and Ra = 0.20 nm. A glass substrate for a magnetic disk was obtained. The glass substrate had an outer diameter of 65 mm, an inner diameter of 20 mm, and a plate thickness of 0.635 mm.

次に、得られた磁気ディスク用ガラス基板1上に枚葉式スパッタリング装置を用いて、Ti系の付着層、Fe系の軟磁性層、NiWの第1下地層、Ruの第2下地層、CoCrPt磁性層を順次成膜し、次いでプラズマCVD法により炭素系保護層を形成した。この磁気ディスクは垂直磁気記録方式用の磁気ディスクである。 Next, using a single-wafer sputtering apparatus on the obtained magnetic disk glass substrate 1, a Ti-based adhesion layer, a Fe-based soft magnetic layer, a NiW first underlayer, a Ru second underlayer, A CoCrPt magnetic layer was sequentially formed, and then a carbon-based protective layer was formed by plasma CVD. This magnetic disk is a magnetic disk for perpendicular magnetic recording.

上記保護層は、ダイヤモンドライク炭素保護層とし、プラズマCVD法により主表面上の膜厚が45Åとなるように形成した。
以上のようにして作製した磁気ディスクを、以下、磁気ディスク1とする。
また、主表面上の保護層膜厚を30Åとなるように形成したこと以外は、上記と同様にして作製した磁気ディスクを、以下、磁気ディスク2とする。
The protective layer was a diamond-like carbon protective layer and was formed by plasma CVD so that the film thickness on the main surface was 45 mm.
The magnetic disk manufactured as described above is hereinafter referred to as a magnetic disk 1.
Hereinafter, a magnetic disk manufactured in the same manner as described above except that the protective layer on the main surface has a thickness of 30 mm is referred to as a magnetic disk 2 hereinafter.

以上の磁気ディスク1、磁気ディスク2について、本発明の方法に従って磁気ディスク表面の炭素保護層の耐久性評価を行った。
すなわち、DFH素子を備えた磁気ヘッドを装着した磁気ディスク装置に磁気ディスクを搭載し、上記磁気ヘッドのDFH素子を突き出した状態で磁気ディスク表面のある半径の位置で定点浮上させ、磁気ディスク表面の膜が破断するポイントを検出する。なお、この磁気ディスク装置は、上記磁気ディスク1,2が実際に搭載される磁気ディスク装置と同じ構造、方式のものである。
測定時の装置内の気圧は100Torrとし、磁気ヘッドのサスペンションの荷重は、5gfに設定した。また、ディスク回転数は5400rpmとした。
For the magnetic disk 1 and magnetic disk 2 described above, the durability of the carbon protective layer on the surface of the magnetic disk was evaluated according to the method of the present invention.
That is, a magnetic disk is mounted on a magnetic disk device equipped with a magnetic head equipped with a DFH element, and a fixed point is levitated at a certain radius position on the surface of the magnetic disk with the DFH element of the magnetic head protruded. The point at which the membrane breaks is detected. This magnetic disk device has the same structure and method as the magnetic disk device on which the magnetic disks 1 and 2 are actually mounted.
The atmospheric pressure in the apparatus during measurement was 100 Torr, and the suspension load of the magnetic head was set to 5 gf. The disk rotation speed was 5400 rpm.

以上の条件にて、磁気ディスク表面のディスク半径が22mmの位置で上記ヘッドを定点浮上させて、炭素保護層が破断するポイントをモニターした。炭素保護層が破断するポイントのモニターは、ヘッドサスペンションに取り付けたAEセンサーにて検出した。   Under the above conditions, the head was floated at a fixed point at a position where the disk radius on the surface of the magnetic disk was 22 mm, and the point at which the carbon protective layer broke was monitored. The point at which the carbon protective layer breaks was detected by an AE sensor attached to the head suspension.

その結果、炭素保護層の成膜時に異なる成膜条件(膜厚)によって作製された磁気ディスク1と磁気ディスク2とでは、結果が異なることが判明した。つまり、磁気ディスク1では、パス回数が59400回まで炭素保護層は破断せず、磁気ディスク2では、27000回で炭素保護層が破断しており、磁気ディスク1よりも早い段階で破断していることが判明した。したがって、以下にも説明するように、この評価結果から、磁気ディスク1表面の耐久性は良好であると判断することができる。   As a result, it has been found that the results are different between the magnetic disk 1 and the magnetic disk 2 manufactured under different film formation conditions (film thicknesses) when forming the carbon protective layer. That is, in the magnetic disk 1, the carbon protective layer is not broken until the number of passes is 59400, and in the magnetic disk 2, the carbon protective layer is broken at 27000 times, and is broken at an earlier stage than the magnetic disk 1. It has been found. Therefore, as will be described below, from the evaluation result, it can be determined that the durability of the surface of the magnetic disk 1 is good.

上記磁気ディスク1と同じロットの磁気ディスクについて通常のグライド検査を行った結果、検査の歩留りは90%以上となっており安定していることがわかった。さらに、以上の評価結果を確認するために、磁気ディスク1の表面状態を光学式表面分析装置(Candela OSA6100)にて観察したところ、耐久性評価で良好な結果であった磁気ディスク1の炭素保護層表面にはスクラッチ等はほとんど確認されなかった。また、耐久性評価で良好な結果であった磁気ディスク1を、耐久性評価に用いたDFH素子を備えた磁気ヘッドを装着したロードアンロード方式の磁気ディスク装置に搭載し、磁気ヘッド浮上時の浮上量を10nmとし、磁気ディスク装置内の環境を70℃、80%RHの高温高湿環境下で、ヘッドのロード・アンロード動作を繰り返し行った結果、磁気ディスク1は、60万回のロードアンロード動作に耐久し、高い信頼性が得られた。   As a result of performing a normal glide inspection on a magnetic disk of the same lot as the magnetic disk 1, it was found that the yield of the inspection was 90% or more and was stable. Furthermore, in order to confirm the above evaluation results, the surface state of the magnetic disk 1 was observed with an optical surface analyzer (Candela OSA6100). Scratches and the like were hardly confirmed on the surface of the layer. In addition, the magnetic disk 1, which had good results in durability evaluation, is mounted on a load / unload type magnetic disk device equipped with a magnetic head equipped with a DFH element used for durability evaluation. As a result of repeated loading and unloading operations of the head in a high-temperature and high-humidity environment of 70 ° C. and 80% RH with a flying height of 10 nm, the magnetic disk 1 is loaded 600,000 times Durable against unloading and high reliability was obtained.

一方、上記磁気ディスク2と同じロットの磁気ディスクについて通常のグライド検査を行った結果、検査の歩留りは70%台と低いことがわかった。さらに、磁気ディスク2の表面状態を光学式表面分析装置(Candela OSA6100)にて観察したところ、耐久性評価で早い段階で破断してしまった磁気ディスク2の炭素保護層表面にはスクラッチ等の発生が確認された。また、磁気ディスク2を、上記と同様にロードアンロード方式の磁気ディスク装置に搭載し、磁気ヘッド浮上時の浮上量を10nmとし、磁気ディスク装置内の環境を70℃、80%RHの高温高湿環境下で、ヘッドのロード・アンロード動作を繰り返し行った結果、磁気ディスク3は、60万回未満でヘッドクラッシュにより故障してしまう。   On the other hand, as a result of conducting a normal glide inspection on the magnetic disk of the same lot as the magnetic disk 2, it was found that the inspection yield was as low as 70%. Furthermore, when the surface state of the magnetic disk 2 was observed with an optical surface analyzer (Candela OSA6100), scratches and the like were generated on the surface of the carbon protective layer of the magnetic disk 2 that was broken early in the durability evaluation. Was confirmed. Further, the magnetic disk 2 is mounted on a load / unload type magnetic disk apparatus in the same manner as described above, the flying height when the magnetic head is flying is set to 10 nm, and the environment in the magnetic disk apparatus is set to a high temperature of 70 ° C. and 80% RH. As a result of repeated loading and unloading operations of the head in a humid environment, the magnetic disk 3 fails due to a head crash in less than 600,000 times.

なお、本発明の評価方法に対する参考例として、ディスク表面に対して一定の荷重(30gf)をかけ、ディスク回転数を一定(120rpm)にして磁気ディスク表面の膜が破断するまでの時間によって耐久性を評価する現状行われているピンオンテストにより、上記磁気ディスク1と磁気ディスク2の評価を行った結果、いずれに関しても、ピンオンテストの合格基準である4分まで耐久し、良好と判断された。従って、現状のピンオンテストによる評価では、磁気ディスク1と磁気ディスク2との判別は困難である。   As a reference example for the evaluation method of the present invention, a certain load (30 gf) is applied to the disk surface, the disk rotation speed is constant (120 rpm), and the durability depends on the time until the film on the magnetic disk surface breaks. As a result of the evaluation of the magnetic disk 1 and the magnetic disk 2 by the pin-on test that is currently being performed, it was determined that both endured up to 4 minutes, which is the pass criterion of the pin-on test, and were good. It was. Therefore, it is difficult to discriminate between the magnetic disk 1 and the magnetic disk 2 in the current pin-on test evaluation.

以上説明したように、本発明による磁気ディスクの耐久性評価方法によれば、上述の磁気ディスク表面観察やLUL試験の結果とも対応し、磁気ディスク表面の耐久性を簡便に、しかも正確に評価することができ、とりわけ最近の磁気ディスク表面の耐久性に対する厳しい要求に対応できるような耐久性評価を行うことが可能である。
As described above, according to the method for evaluating the durability of a magnetic disk according to the present invention, the durability of the magnetic disk surface can be evaluated easily and accurately in correspondence with the results of the magnetic disk surface observation and the LUL test described above. In particular, it is possible to perform a durability evaluation that can cope with the severe demands on the durability of the surface of a recent magnetic disk.

Claims (5)

ダイナミックフライングハイト素子を備えた磁気ヘッドを装着した磁気ディスク装置に磁気ディスクを搭載し、前記磁気ヘッドのダイナミックフライングハイト素子を突き出した状態で磁気ディスク表面のある半径の位置で定点浮上させ、磁気ディスク表面の膜が破断するポイントを検出することにより、磁気ディスク表面の膜の耐久性を評価することを特徴とする磁気ディスクの耐久性評価方法。   A magnetic disk is mounted on a magnetic disk apparatus equipped with a magnetic head having a dynamic flying height element, and the magnetic disk surface is levitated at a certain radius on the magnetic disk surface with the dynamic flying height element of the magnetic head protruding. A method for evaluating the durability of a magnetic disk, wherein the durability of a film on the surface of a magnetic disk is evaluated by detecting a point at which the film on the surface breaks. 磁気ディスク表面に形成された炭素系保護膜の耐久性を評価することを特徴とする請求項1に記載の磁気ディスクの耐久性評価方法。   2. The method for evaluating the durability of a magnetic disk according to claim 1, wherein the durability of the carbon-based protective film formed on the surface of the magnetic disk is evaluated. 測定時に磁気ディスクに加わる荷重は、1gf〜30gfの範囲内であることを特徴とする請求項1又は2に記載の磁気ディスクの耐久性評価方法。   3. The method for evaluating the durability of a magnetic disk according to claim 1, wherein a load applied to the magnetic disk during measurement is in a range of 1 gf to 30 gf. 測定時の磁気ディスク装置内の気圧は、200Torr以下の範囲内であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一に記載の磁気ディスクの耐久性評価方法。   4. The method for evaluating the durability of a magnetic disk according to claim 1, wherein the atmospheric pressure in the magnetic disk device at the time of measurement is within a range of 200 Torr or less. 測定時の磁気ディスクの回転数は、3000〜8000rpmの範囲内であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一に記載の磁気ディスクの耐久性評価方法。
The method of evaluating the durability of a magnetic disk according to any one of claims 1 to 4, wherein the number of rotations of the magnetic disk at the time of measurement is within a range of 3000 to 8000 rpm.
JP2008249203A 2008-09-26 2008-09-26 Method for evaluating durability of magnetic disk Pending JP2010080013A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008249203A JP2010080013A (en) 2008-09-26 2008-09-26 Method for evaluating durability of magnetic disk

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008249203A JP2010080013A (en) 2008-09-26 2008-09-26 Method for evaluating durability of magnetic disk

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010080013A true JP2010080013A (en) 2010-04-08

Family

ID=42210259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008249203A Pending JP2010080013A (en) 2008-09-26 2008-09-26 Method for evaluating durability of magnetic disk

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010080013A (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH036438A (en) * 1989-06-02 1991-01-11 Fujitsu Ltd Evaluating method of durability of disk medium
JP2003248917A (en) * 2002-02-25 2003-09-05 Hoya Corp Magnetic recording medium
WO2007142324A1 (en) * 2006-06-08 2007-12-13 Hoya Corporation Glass for use as substrate for information recording medium, substrate for information recording medium, information recording medium, and their production methods
JP2008077772A (en) * 2006-09-21 2008-04-03 Fujitsu Ltd Perpendicular magnetic recording medium, its manufacturing method, and magnetic recording device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH036438A (en) * 1989-06-02 1991-01-11 Fujitsu Ltd Evaluating method of durability of disk medium
JP2003248917A (en) * 2002-02-25 2003-09-05 Hoya Corp Magnetic recording medium
WO2007142324A1 (en) * 2006-06-08 2007-12-13 Hoya Corporation Glass for use as substrate for information recording medium, substrate for information recording medium, information recording medium, and their production methods
JP2008077772A (en) * 2006-09-21 2008-04-03 Fujitsu Ltd Perpendicular magnetic recording medium, its manufacturing method, and magnetic recording device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5574414B2 (en) Magnetic disk evaluation method and magnetic disk manufacturing method
JP5401066B2 (en) Magnetic disk and manufacturing method thereof
JP4044546B2 (en) Magnetic disk and manufacturing method thereof
JP4545714B2 (en) Magnetic recording medium and magnetic recording / reproducing apparatus
JP2007272995A (en) Method for determining whether or not magnetic disk device and non-magnetic substrate are good, magnetic disk, and magnetic disk device
US7727645B2 (en) Substrate for magnetic recording medium, magnetic recording medium, and magnetic recording and reproducing apparatus
JP3965277B2 (en) Magnetic recording medium and magnetic storage device
JP2006082138A (en) Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk, and glass substrate for magnetic disk, as well as method of manufacturing magnetic disk, and magnetic disk
US7239483B2 (en) Magnetic disk with specified contact ratio [BH 1.0 nm] and circumferential texturing and magnetic disk apparatus equipped with magnetic disk
JP5032758B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP2010080013A (en) Method for evaluating durability of magnetic disk
JP5578800B2 (en) Manufacturing method of magnetic disk
JP2003217110A (en) Magnetic disk and magnetic disk device
JP5465456B2 (en) Magnetic disk
JP2009163814A (en) Method for evaluating durability of magnetic disk and magnetic disk
JP5497326B2 (en) Magnetic disk evaluation method, magnetic disk manufacturing method, and magnetic disk
JP3969727B2 (en) Magnetic disk and magnetic recording apparatus
JP5184283B2 (en) Manufacturing method of magnetic disk
JP2005141824A (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk , and manufacturing method of the magnetic disk
JP5539662B2 (en) Manufacturing method of magnetic disk
JP4150418B2 (en) Magnetic disk and manufacturing method thereof
JP2006164387A (en) Magnetic recording medium, method for manufacturing magnetic recording medium, and magnetic disk apparatus using the magnetic recording medium
JP2009087473A (en) Magnetic disk and its manufacturing method
JP2006018996A (en) Substrate for magnetic recording medium, magnetic recording medium and magnetic recording/reproducing device
JP2007184099A (en) Magnetic disk

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Effective date: 20100706

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Effective date: 20101018

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

A621 Written request for application examination

Effective date: 20110925

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121218

A02 Decision of refusal

Effective date: 20130521

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02