JP2010074147A - Printed circuit board - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半田フロー実装により、フラットパッケージのICが実装されるプリント基板に関するものである。 The present invention relates to a printed circuit board on which a flat package IC is mounted by solder flow mounting.
近年、プリント基板の部品実装密度は細密化が要求され、狭い間隔でSOPやQFPなどのフラットパッケージのIC(Integrated Circuit)の実装が必要となっている。一方で、低コスト化のため、これらのパッケージのICをリフロー半田ではなく、フロー半田で実装することが行われている。フロー半田の場合、実装時に半田ブリッジ等の無い安定した半田付けを維持するためには、製造工程の緻密な管理が必要となる。 In recent years, the density of component mounting of printed circuit boards is required to be finer, and it is necessary to mount ICs (Integrated Circuits) such as SOP and QFP at narrow intervals. On the other hand, in order to reduce the cost, the ICs of these packages are mounted by flow soldering instead of reflow soldering. In the case of flow soldering, in order to maintain stable soldering without a solder bridge or the like during mounting, it is necessary to closely manage the manufacturing process.
そこで従来、ICの半田フロー進行方向の下流側(以下、単に半田フロー下流側、等とする)に捨てランドを形成したり、最下流のICのランドを大きくして半田溜まりランドにすることが行われている。図14は、SOPの半田ブリッジ防止ランドの例のひとつである。104及び102は、SOP形状のIC103のランド(銅箔パターン露出部)である。102はIC103の半田フロー最下流のピンのランドである。なお、半田付け工程時の基板進行方向を図14の矢印で示すようにすると、半田フロー進行方向は図示する矢印とは反対向きとなり、半田フロー上流側、半田フロー下流側は図14に示すとおりとなる。また、太い実線で描かれたランド102,104と重なるように描かれている細い実線はIC103のピンを示している。
Therefore, conventionally, a waste land is formed on the downstream side of the IC solder flow direction (hereinafter, simply referred to as a solder flow downstream side) or the most downstream IC land is enlarged to form a solder pool land. Has been done. FIG. 14 shows an example of a SOP solder bridge prevention land.
ランド102の半田フロー下流側に半田ブリッジ防止ランド101が配置されている。半田フロー時には、半田ブリッジ防止ランド101に半田が引き込まれる。このため、その半田フロー上流側のランド104及び102及びIC103の各ピンの半田との表面・界面張力が減少し、ランド104及び102及びIC103の各ピンにおける半田ブリッジが防止される。
A solder
図15は、SOPの半田ブリッジ防止ランドの別の例である。図14との違いは、IC103の半田フロー最下流のピン112のランドを拡大することで、半田ブリッジ防止ランド111を形成していることである。
FIG. 15 shows another example of the SOP solder bridge prevention land. The difference from FIG. 14 is that the solder
なお、このような半田ブリッジ防止対策については以下のような複数の先行技術がある。 There are a plurality of prior arts as described above for preventing solder bridges.
例えば、特許文献1には、QFP(Quad Flat Package:4方向リードフラットパッケージ)のランドで、QFPを半田フロー方向に対して斜めに配置し、半田フロー方向下流に捨てランドを形成することで、半田ブリッジを防止する基板パターンが記載されている。特許文献2には、チップ部品のランドで、半田フロー方向下流に捨てランドを形成することで、半田ブリッジを防止する基板パターンが記載されている。特許文献3には、SOP(Small Outline Package:2方向リードフラットパッケージ)のランドで、半田フロー方向下流に捨てランドを形成することで、半田ブリッジを防止する基板パターンが記載されている。特許文献4には、QFPの半田溜まりランドにスリットを入れることで半田の切れをよくし、半田ブリッジを防止する基板パターンが記載されている。
For example,
しかしながら、上記のような捨てランドや半田溜まりランドのような半田ブリッジ防止用のランドを用いると、プリント基板上のパターンの設計自由度が低くなるという問題がある。パターンの設計自由度が低いと、例えば、放熱用のパターンの面積が限られるため、実装されたICの放熱性が低下することが挙げられる。この対策としては、プリント基板を大きくして放熱用のパターンを大きくしたり、また、放熱用のパターンとは別に放熱板を追加するなどの必要がある。また、CPU(Central Processing Unit)など不要輻射ノイズの対策にGND(グランド)パターンの面積を大きくし、できるだけ接続を多くする必要がある場合に、GNDパターンの面積の確保や接続数を増やすことに限界が生じる。 However, when a land for preventing solder bridges such as the above-mentioned discarded land or solder pool land is used, there is a problem that the degree of freedom in designing the pattern on the printed circuit board is lowered. If the degree of freedom in pattern design is low, for example, the area of the pattern for heat dissipation is limited, so that the heat dissipation of the mounted IC may be reduced. As countermeasures, it is necessary to enlarge the printed circuit board to increase the heat radiation pattern, or to add a heat radiation plate separately from the heat radiation pattern. Further, in order to prevent unnecessary radiation noise such as a CPU (Central Processing Unit), the area of the GND (ground) pattern is increased, and when it is necessary to increase the number of connections as much as possible, the area of the GND pattern is secured and the number of connections is increased. Limits arise.
例えば、放熱用のピンを備えるモータドライバICを実装する場合、捨てランドや半田溜りランドのような半田ブリッジ防止用のランドが邪魔になり、放熱用のピンに接続する放熱用の大きな面積の銅箔パターンの形成が困難になることがある。つまり、半田ブリッジ防止用のランドの面積が大きいため、放熱用の銅箔パターンを形成する場所がなくなってしまう。また、放熱ピンと放熱用の銅箔パターン配置できる場所の間に信号線を通す場合は、放熱ピンと放熱用の銅箔パターンを接続できなくなってしまう。後者を解決する方法としては、ジャンパ線を用いて両者(放熱ピンと放熱用の銅箔パターン)を接続する方法があるが、ジャンパ線用のランドにより放熱用の銅箔パターンの面積が制限されてしまう。 For example, when mounting a motor driver IC having a heat dissipation pin, a land for preventing solder bridges such as a discarded land or a solder pool land is in the way, and a large area of heat dissipation copper connected to the heat dissipation pin It may be difficult to form a foil pattern. That is, since the land for preventing the solder bridge is large, there is no place for forming the copper foil pattern for heat dissipation. In addition, when the signal line is passed between the heat radiation pin and the place where the heat radiation copper foil pattern can be disposed, the heat radiation pin and the heat radiation copper foil pattern cannot be connected. As a method of solving the latter, there is a method of connecting both (heat dissipation pin and heat dissipation copper foil pattern) using a jumper wire, but the area of the heat dissipation copper foil pattern is limited by the land for the jumper wire. End up.
さらに、昨今は、ピンの間隔がより狭い(基板上のランド間の間隔がより狭い)ICをフロー半田で実装する傾向にあるため、半田ブリッジ防止の効果を高めるためにより大きな半田ブリッジ防止用のランドが必要になってきている。 Furthermore, recently, there is a tendency to mount an IC with a narrower pin interval (a narrower interval between lands on the substrate) with flow soldering. Land is needed.
本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、プリント基板において、ICを実装する際の半田ブリッジを防止しつつ、基板上の配線の自由度を高めることを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to increase the degree of freedom of wiring on a printed circuit board while preventing solder bridges when mounting an IC.
前記課題を解決するために、本発明は以下の構成を備える。 In order to solve the above problems, the present invention comprises the following arrangement.
(1)半田槽に搬送されて電子部品が半田付けされるプリント基板において、前記電子部品を半田付けするための第1半田ランドと、前記第1半田ランドに対して前記プリント基板の搬送方向の下流側に設けられる、半田を溜めるための第2半田ランドと、前記第1半田ランドと前記第2半田ランドとの間に、パターン露出部を備えた信号線パターンを有することを特徴とするプリント基板。 (1) In a printed board on which an electronic component is soldered by being transported to a solder bath, a first solder land for soldering the electronic component, and a direction in which the printed board is transported with respect to the first solder land A print having a second solder land for storing solder provided on the downstream side, and a signal line pattern having a pattern exposed portion between the first solder land and the second solder land. substrate.
(2)電子部品を半田付けするための第1半田ランドと、前記第1半田ランドと一列になるように配置された第2半田ランドと、前記第1半田ランドと前記第2半田ランドの間に、パターン露出部を備えた信号線パターンを有することを特徴とするプリント基板。 (2) A first solder land for soldering an electronic component, a second solder land arranged in a row with the first solder land, and between the first solder land and the second solder land. And a signal line pattern provided with a pattern exposure portion.
(3)電子部品が実装されたプリント基板において、前記電子部品の端子が半田付けされた実装部と、前記実装部に近接して設けられた半田パターン部と、前記実装部と前記半田パターン部の間に信号線を備えることを特徴とするプリント基板。 (3) In a printed circuit board on which an electronic component is mounted, a mounting portion to which terminals of the electronic component are soldered, a solder pattern portion provided close to the mounting portion, the mounting portion, and the solder pattern portion A printed circuit board comprising a signal line in between.
(4)電子部品が実装されたプリント基板において、第1電子部品が半田付けされた第1の実装部と、前記第1の実装部と一列になるように配置され、第2電子部品を半田付けするための第2の実装部と、を備え前記第1の実装部と前記第2の実装部の間に、信号線を有することを特徴とするプリント基板。 (4) In the printed circuit board on which the electronic component is mounted, the first electronic component is soldered to the first mounting portion, and the first electronic component is arranged in a line with the first mounting portion. A printed circuit board comprising a second mounting portion for attaching, and having a signal line between the first mounting portion and the second mounting portion.
本発明によれば、半田フロー実装時のブリッジ防止性能を維持しつつ、基板上での配線の自由度を高めることができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the freedom degree of the wiring on a board | substrate can be raised, maintaining the bridge prevention performance at the time of solder flow mounting.
以下に、本発明の実施形態に係る画像形成装置の基本的な構成について図面を用いて詳しく説明する。なお、以下に示す実施形態は一例であって、この発明の技術的範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明する。 Hereinafter, a basic configuration of an image forming apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The following embodiments are merely examples, and are not intended to limit the technical scope of the present invention only to them. Hereinafter, the present invention will be described in detail based on examples.
実施例1では、ステッピングモータドライバICの放熱用のピン(以下、放熱ピンという)と半田ブリッジ防止用のランド(以下半田ブリッジ防止ランドという)を接続する構成について説明する。 In the first embodiment, a configuration for connecting a heat dissipation pin (hereinafter referred to as a heat dissipation pin) of a stepping motor driver IC and a solder bridge prevention land (hereinafter referred to as a solder bridge prevention land) will be described.
本実施例では、プリント基板は片面(1層)の基板である。また、本実施例のプリント基板の部品実装時にはフロー半田付け(以下、フロー半田とする)が用いられる。材料はCEM−3(Composite epoxy material−3)やFR−4(Flame retardant−4)が使用されることもあるが、コストの面からFR−1(紙フェノール)を使用されることも多い。片面のプリント基板は、パターン配線の制約が大きく、本発明をより効率的に用いることができる。もちろん、2層やそれ以上の層数の基板であっても、フロー半田で実装する層のパターンに適用することで、同様の効果を得ることができる。 In this embodiment, the printed circuit board is a single-sided (single layer) board. Also, flow soldering (hereinafter referred to as flow soldering) is used when mounting components on the printed circuit board of this embodiment. As the material, CEM-3 (Composite Epoxy material-3) or FR-4 (Frame returnant-4) may be used, but FR-1 (paper phenol) is often used from the viewpoint of cost. A single-sided printed circuit board has great restrictions on pattern wiring, and the present invention can be used more efficiently. Of course, even if the substrate has two or more layers, the same effect can be obtained by applying it to the pattern of the layer mounted by flow soldering.
<ステッピングモータドライバICのパッケージについて>
図1は、本実施例に係るICの一例としてのステッピングモータドライバICのパッケージを説明する図である。このパッケージはSOP(2方向リードフラットパッケージ)である。10は、本実施例に係るIC(2方向リードフラットパッケージIC)である。ピンは全部で26ピンある。ピン11は、通常のピンであり、ピッチ0.8mm、ピンの幅0.35mmである。一方ピン12とピン13はGND(グランド)ピンであり、かつ放熱用のピンである。ピン12とピン13に接続されるフレームに図示しないICチップが搭載されており、ピン12とピン13はICチップの放熱を効率よく行うことができる放熱ピンである。ピン12とピン13はピン11よりも幅が広い。ピン12、13の幅が広いのは基板パターンへの放熱性を上げるためである。
<Stepping motor driver IC package>
FIG. 1 is a diagram illustrating a package of a stepping motor driver IC as an example of an IC according to the present embodiment. This package is an SOP (two-way lead flat package).
図1中、pin1〜pin26の符号は、IC10のピンを示している。pin1は、ピン番号1のピンであることを意味する。以下同様に、pin2〜pin26は、ピン番号2〜26のピンであることを意味する。なお、pin25はピン12、pin26はピン13と同一である。また、pin1〜pin6,pin7〜pin12,pin13〜pin18及びpin19〜pin24は、ピン11と同一である。
In FIG. 1, reference numerals pin 1 to pin 26 indicate pins of the
<従来例と本実施例との比較>
〜従来例の配線パターンについて〜
図2と図3は、従来のプリント基板のパターンを説明する図である。本実施例による効果を分かりやすくするため、まず従来のプリント基板のパターンを説明する。
<Comparison between the conventional example and this example>
~ About the conventional wiring pattern ~
2 and 3 are diagrams for explaining a pattern of a conventional printed circuit board. In order to facilitate understanding of the effects of the present embodiment, first, a conventional printed circuit board pattern will be described.
図2は、IC10(破線で示す)とランドの配置を示している。ランドlnd1はpin1に対するランドである。このランドは、銅箔の上に形成されているレジストが図の形状で抜けている(レジストがない部分の形状)。以下同様にランドlnd2〜lnd26はpin2〜26に対するランドである。ランドlnd1〜lnd26で、IC10を半田付けするための半田ランド群を構成している。
FIG. 2 shows the layout of the IC 10 (shown by broken lines) and lands. Land lnd1 is a land for pin1. In this land, the resist formed on the copper foil is missing in the shape shown in the figure (the shape of the portion without the resist). Similarly, the lands lnd2 to lnd26 are lands for the
矩形の半田ブリッジ防止ランド22はランドlnd12を含むランドであり、半田ブリッジ防止ランド22は図に示す形状でレジストが形成されていない。同様に半田ブリッジ防止ランド21はランドlnd13を含むランドである。半田ブリッジ防止ランド22、21は、IC10の半田フロー方向の最下流のピンに形成されている。なお、基板進行方向を図中の矢印の向きとしており、半田フロー進行方向(以下、単に半田フローとする)は矢印と反対方向になるため、半田フロー上流側と半田フロー下流側は図に示すようになる。
The rectangular solder
図3は、図2からIC10を削除し、プリント基板上の配線パターンを追加した図である。ランドlnd25に接続されるGNDパターン23(図中、斜線で示す)は、広い銅箔パターンにより、放熱性を確保しようとしている。ただし、pin3に接続されるパターンやpin8に接続される信号線パターン等(黒の太実線で図示)により、その大きさが制限され、十分な面積を確保することができない。pin26に接続されるGNDパターン24も、同様に他のピンに接続されるパターン(例えば、pin17に接続されるパターン)により、その大きさが制限されている。従って、従来のパターンにおいて放熱性を十分にするために、基板を大きくして放熱のための銅箔パターンの面積を他の部分まで広げたり、また、別の放熱板を設けて対応していた。なお、基板の大きさを変えずに、放熱用の銅箔パターンの面積が大きくなれば、プリント基板上でのICの配置が制限されることになる(自由度が小さくなる)。
FIG. 3 is a diagram in which the
〜本実施例のパターンについて〜
次に、本実施例の基板パターンを説明する。図4と図5は、本実施例のパターンを説明する図である。IC10は図2と図3と同じIC、すなわち、図1に示すICである。図2に対して、図4は銅箔パターン露出部(レジストが形成されていない部分)(パターン露出部)33、34、35が増えている。銅箔パターン露出部33、34は、大きさ及びピッチがランドlnd13〜24と同一になっている。また銅箔パターン露出部35はランドlnd1〜12と大きさ及びピッチ(ランド間の間隔)が同一となっている。また、銅箔パターン露出部33、34、35があるために、矩形の半田ブリッジ防止ランド31、32は、従来例と異なり、ランドlnd13やlnd12を含んだ構成ではない。
~ About the pattern of this example ~
Next, the substrate pattern of the present embodiment will be described. 4 and 5 are diagrams for explaining the pattern of this embodiment. The
図5は、図4からIC10の図を削除し、信号線パターン等を追加した図である。図5と図3の違いは、半田ブリッジ防止ランド32や31がGNDパターン37や36(図中、網掛けで示す)を介して、まず、GNDパターン23、24に接続していることである。これにより、半田ブリッジ防止ランド32、31は、GNDパターン37、36、23、24を介してIC10の放熱ピンのランドであるランドlnd25やランドlnd26に接続されている。そのために、ランドlnd14に接続された信号線パターン41の一部で銅箔パターンを露出している。これが銅箔パターン露出部33である。銅箔パターン露出部33の位置において、信号線パターン41の幅はランドlnd13と同じである。
FIG. 5 is a diagram in which the illustration of the
同様にランドlnd17に接続される信号線パターン42は銅箔が露出している部分を有する(銅箔パターン露出部34)。以上のパターンにより、ランドlnd13〜24と同様のサイズの半田露出部が33、34により形成される。すなわち、信号線パターン41、42の、半田ランド群であるランドlnd13〜lnd24と半田ブリッジ防止ランド31に挟まれた部分にレジストが塗布されておらず、銅箔パターン露出部33、34となっている。
Similarly, the signal line pattern 42 connected to the land lnd17 has a portion where the copper foil is exposed (copper foil pattern exposed portion 34). With the above pattern, exposed
図3では、ランドlnd14、lnd17に接続される信号線パターン29、30によりGNDパターン24と半田ブリッジ防止ランド21が分断されていた。図5ではGNDパターン36を介して、半田ブリッジ防止ランド31はIC10の放熱ピンのランドであるランドlnd26に接続される。
In FIG. 3, the
同様に、銅箔パターン露出部35を信号線パターン40上に形成することで、GNDパターン37、23を介して、半田ブリッジ防止ランド32は放熱ピンのランドであるランドlnd25に接続される。
Similarly, by forming the copper foil pattern exposed
IC10の放熱ピンのランドであるランドlnd26と半田ブリッジ防止ランド31が接続されることで、IC10の放熱性がよくなる。ひとつの理由は、GNDパターン36のように、比較的太いパターンでランドlnd26と半田ブリッジ防止ランド31を接続でき、その結果、ランドlnd26と半田ブリッジ防止ランド31の間の熱抵抗を比較的低くすることができることである。2つめの理由として、半田ブリッジ防止ランド31は比較的広い面積を持つため、熱容量が大きく、また放熱面積も広くなるため、放熱性に優れていることである。3つめの理由として、半田ブリッジ防止ランド31には、フロー半田時に半田が形成され、銅箔単体に比べて熱容量が大きくなるためである。すなわち、IC10の放熱ピンであるpin26は、比較的低い熱抵抗で熱容量が大きく放熱性の高い半田ブリッジ防止ランド31に接続されることで、高い放熱性を得ることができる。IC10の放熱pin25と半田ブリッジ防止ランド38の接続も同様である。
By connecting the land lnd26 which is the land of the heat dissipation pin of the
以上、本実施例のパターンにより、IC10の放熱ピンからの放熱性があがることを説明した。次に、半田ブリッジ防止に対する観点から説明する。
As described above, it has been described that the heat dissipation from the heat dissipation pin of the
<本実施例における半田ブリッジ防止について>
本実施例の銅箔パターン露出部33、34はランドlnd13〜24と同様の大きさになっている。本発明のプリント基板をフロー半田槽に流すと、半田ブリッジ防止ランド31に半田付けされる半田が引き込まれる。そして、lnd13〜24、lnd26及び銅箔パターン露出部33、34やIC10のピンに付着する半田の表面張力(界面張力ともいう)が減少し、各ランドや銅箔パターン露出部における半田ブリッジが防止される。
<Preventing solder bridging in this embodiment>
The copper foil pattern exposed
銅箔パターン露出部なしに信号線パターン41や42をIC10のランドと半田ブリッジ防止ランドの間に通すと、IC10のランド(lnd13)と半田ブリッジ防止ランド31の距離が大きくなってしまう。そして、半田ブリッジ防止ランド31がIC10のランドに付着する半田の表面張力(界面張力)を減少させる効力が弱まり、十分な半田ブリッジ防止性能を得ることができなくなる。そこで、従来は信号線パターン配線の自由度を犠牲にして、生産性の向上(半田ブリッジしにくくなるようにすること)を行っていた。それに対し、本構成であれば、信号線パターン配線の自由度を犠牲にせずに配線でき、本実施例のように放熱性を向上させることなどが可能となる。
If the
なお、本実施例では、銅箔パターン露出部33、34の大きさ及びピッチ(間隔)をICのランドと同じにしている。ただし、銅箔パターン露出部の大きさやピッチをICのランドのそれとは少し変更しても半田ブリッジ防止機能を大きく損なうことはないため、半田ブリッジ防止性能が得られる範囲で大きさやピッチ変更することは可能である。
In the present embodiment, the size and pitch (interval) of the copper foil pattern exposed
以上の構成により、本実施例によれば、半田ブリッジ防止性能を保持しつつ、ICの半田ランド群と半田ブリッジ防止ランドの間に信号線パターンを配置することができ、ICの放熱性を向上させることができる。 With the above configuration, according to this embodiment, the signal line pattern can be arranged between the solder land group of the IC and the solder bridge prevention land while maintaining the solder bridge prevention performance, and the heat dissipation of the IC is improved. Can be made.
実施例2では、CPUのGNDピンと半田ブリッジ防止ランドを接続する構成について説明する。 In the second embodiment, a configuration for connecting a GND pin of a CPU and a solder bridge prevention land will be described.
<IC(CPU)のパッケージについて>
図6は、本実施例に係るIC(CPU)のパッケージを説明する図である。このパッケージはSOPである。50は、本ICである。ピンは全部で30ピンある。ピン51は、ICのピンであり、ピッチ0.65mm、ピンの幅0.24mmである。図中、pin1〜pin30の符号は、IC50のピンを示している。pin1は、ピン番号1のピンである。以下同様に、pin2〜pin30は、ピン番号2〜30のピンである。
<About IC (CPU) package>
FIG. 6 is a diagram illustrating an IC (CPU) package according to the present embodiment. This package is a SOP.
<従来例と本実施例との比較>
〜従来例のパターンについて〜
図7と図8は、従来のパターンを説明する図である。本実施例による効果を分かりやすくするため、まず従来のパターンを説明する。
<Comparison between the conventional example and this example>
~ Regarding the conventional pattern ~
7 and 8 are diagrams for explaining a conventional pattern. In order to make the effects of this embodiment easy to understand, a conventional pattern will be described first.
図7は、IC50とランドの配置を示している。ランドlnd1はpin1に対するランドである(実線で示す部分)。このランドは、銅箔の上に形成されているレジストが図の形状で抜けている(レジストがない部分の形状)。以下同様にランドlnd2〜lnd30はpin2〜30に対するランドである。なお、図6で説明したIC50は、図中破線で示される部分である。
FIG. 7 shows the arrangement of the
半田ブリッジ防止ランド52はランドlnd15の半田フロー方向下流側に設けられているランドであり、図の52の形状でレジストが形成されていない(レジストが塗布されていない)。同様に半田ブリッジ防止ランド53はランドlnd16の半田フロー方向下流側に設けられている。なお、半田付け工程時の基板進行方向を図7の矢印で示す向きとすると、半田フロー進行方向(以下、単に半田フローとする)は矢印と反対方向になるため、半田フロー上流側と半田フロー下流側は図に示すようになる。
The solder
図8は、図7からIC50の図を削除し、パターンを追加した図である。IC50のpin1はGNDピンであり、ベタGNDパターン54(図中、斜線で示す)に接続されている。一般に、GNDパターンは接続が多いほど高周波信号のリターンパスを形成しやすく、不要輻射ノイズが低減できる。特に、1層(片面)基板は、その層構造の制限からGNDパターンの接続を多くすることが難しい。
FIG. 8 is a diagram in which the
〜本実施例のパターンについて〜
次に、本実施例の基板パターンを説明する。
~ About the pattern of this example ~
Next, the substrate pattern of the present embodiment will be described.
図9と図10は、本実施例のパターンを説明する図である。IC50は図7と図8と同じIC(CPU)、すなわち、図6に示すICである。図7に対して、図9は銅箔パターン露出部(レジストが形成されていない部分)64、65が増えている。銅箔パターン露出部64、65は、大きさ及びピッチがランドlnd16〜lnd30と同一になっている。なお、62,63は、本実施例における半田ブリッジ防止ランドである。銅箔パターン露出部64,65が増えたために、半田ブリッジ防止ランド63が、従来例の半田ブリッジ防止ランド53(図8参照)の位置からずれた場所に構成されている。
9 and 10 are diagrams for explaining the pattern of this embodiment. The
図10は、図9からIC50の図を削除し、信号線パターン等を追加した図である。図8と図10の違いは、本実施例の半田ブリッジ防止ランド63がGNDパターン66(図中、網掛けで示す)、さらにベタGNDパターン54を介して、IC50のGNDピンのランドであるランドlnd1に接続されていることである。そのために、ランドlnd17及びランドlnd18に接続されたパターンの一部で、レジストを塗布せずに銅箔パターンを露出している。これが銅箔パターン露出部64および65である。銅箔パターン露出部64及び65の位置において、信号線パターン67及び68の幅はランドlnd17及びランドlnd18と同じである。
FIG. 10 is a diagram obtained by deleting the
図10では、信号線パターンの一部のレジストを塗布しないことで、銅箔が露出する銅箔パターン露出部64、65でランドを形成し、そのランドをIC50のピンのランドと揃えることで、半田ブリッジ防止をしつつ、GNDの接続を強化している。
In FIG. 10, by not applying a part of the resist of the signal line pattern, lands are formed at the copper foil pattern exposed
銅箔パターン露出部64、65で半田ブリッジ防止ができるのは、実施例1の<本実施例における半田ブリッジ防止について>で説明したのと同様の原理であるため、ここでの説明を省略する。
The reason why the copper foil pattern exposed
以上の構成により、本実施例によれば、半田ブリッジ防止性能を保持しつつ、ICを半田付けするためのランド群と半田ブリッジ防止ランドの間に信号線を配置することができる。そして、半田ブリッジ防止ランドをベタGNDパターンにすることができ、不要輻射ノイズを軽減することができる。 With the above configuration, according to the present embodiment, it is possible to arrange the signal line between the land group for soldering the IC and the solder bridge prevention land while maintaining the solder bridge prevention performance. Further, the solder bridge prevention land can be made into a solid GND pattern, and unnecessary radiation noise can be reduced.
実施例3では、2個のICを実装する場合において、半田ブリッジ防止ランドを少なくできる配置について説明する。 In the third embodiment, an arrangement capable of reducing solder bridge prevention lands when two ICs are mounted will be described.
<2個のICを実装する場合の本実施例の基板パターンについて>
図11は、本実施例の基板パターンを示す図である。88と80はICであり、例えば、実施例2と同様のIC(30ピン)である(図6参照)。なお、IC80、88は、実施例1のような26ピンのIC(例えばステッピングモータドライバIC等)でもよく、その場合は図1に示す構成となる。また、これらのICのピンやランドは実施例1や2と同様であるので説明を省略する。
<Regarding the substrate pattern of this embodiment when two ICs are mounted>
FIG. 11 is a diagram showing a substrate pattern of this example.
IC88の半田ブリッジ防止ランドは81である。半田ブリッジ防止ランド81はIC88のランドlnd1〜lnd15の半田ブリッジを防止するためのランドである。一方、ランドlnd16〜lnd30(第1の半田ランド群)用の半田ブリッジ防止ランドは、専用にはない。すなわち、実施例1や実施例2で説明したような、1個のICを実装するような場合の半田ブリッジ防止ランド31(図4参照)や63(図9参照)がない。
The
一方、もう一つのICであるIC80はIC88の半田フロー方向下流に配置されている。IC88のランドlnd16〜lnd30と、IC80のランドlnd1〜lnd15(第2の半田ランド群)が半田フロー方向に一列に配置され、ランドlnd16〜lnd30、ランドlnd1〜lnd15の向きが半田フロー方向と垂直方向に揃えてある。また、IC88のランドlnd16とIC80のランドlnd1の間には、銅箔パターン露出部84とランド86(ダミーランドともいう)がある。銅箔パターン露出部84は信号線パターン85の一部のレジストを塗布しないことで形成している。これは実施例1や実施例2の銅箔パターン露出部(33、34(図5参照)、64、65(図10参照)と同様である。また、ランド86は、銅箔パターンのみで形成されている、すなわち信号線パターンの一部を露出させたものではない。これらにも84と同様にレジストは塗布されていない。IC80の半田フロー方向下流には、半田ブリッジ防止ランド82及び83が形成されている。これらの半田ブリッジ防止ランドは実施例1や2と同様である。
On the other hand,
図11では、上述のように2つのICのランドの間に、銅箔パターン露出部及びダミーランドをランドと同じ大きさ及びピッチで形成している。 In FIG. 11, as described above, the copper foil pattern exposed portion and the dummy land are formed at the same size and pitch as the land between the lands of the two ICs.
<本実施例における半田ブリッジ防止について>
次に、半田ブリッジ防止に対する観点から説明する。
<Preventing solder bridging in this embodiment>
Next, it demonstrates from a viewpoint with respect to solder bridge prevention.
IC88のランドlnd1〜lnd15、及びIC80のランドlnd16〜lnd30で半田ブリッジが発生しにくい原理については実施例1と同様であるため説明を省略する。 Since the principle that the solder bridge hardly occurs in the lands lnd1 to lnd15 of the IC88 and the lands lnd16 to lnd30 of the IC80 is the same as that of the first embodiment, the description thereof is omitted.
IC88のランドlnd16〜lnd30、銅箔パターン露出部84、ランド86、IC80のランドlnd1〜lnd15(以下、一連のランド)で半田ブリッジが発生しにくい理由を説明する。本実施例に係る基板をフロー半田槽に流すと、半田ブリッジ防止ランド82に半田付けされる半田が引き込まれる。そして、一連のランドや、IC80、88のピンに付着する半田の表面張力(界面張力)が減少し、各ランド(一連のランド)や銅箔パターン露出部における半田ブリッジが防止される。このため、IC88のランド群であるランドlnd16〜lnd30の半田フロー下流側に、IC88専用の半田ブリッジ防止ランドを設ける必要がない。
The reason why solder bridges are unlikely to occur in the lands lnd16 to lnd30 of the IC88, the copper foil pattern exposed
このように、図11の配置では、IC88のランドlnd16〜lnd30に対する半田ブリッジ防止ランドが不要となり、基板面積を低減させたり、信号線パターン配線の自由度を向上させたりすることができる。
As described above, the arrangement shown in FIG. 11 eliminates the need for solder bridge prevention lands for the lands lnd16 to lnd30 of the
以上の構成により、本実施例によれば、2個のICを片面フロー半田する場合において、半田ブリッジ防止ランドの個数を減らすことができ、基板面積低減や信号線パターン配線の自由度を向上させることができる。 With the above configuration, according to the present embodiment, when two ICs are subjected to single-sided flow soldering, the number of solder bridge prevention lands can be reduced, and the board area can be reduced and the degree of freedom of signal line pattern wiring can be improved. be able to.
実施例4では、プリント基板の捨て基板に半田ブリッジ防止ランドを形成する構成を説明する。 In the fourth embodiment, a configuration in which a solder bridge prevention land is formed on a discarded board of a printed board will be described.
<本実施例の基板パターンについて>
図12は本実施例の基板パターン図である。90はICであり、実施例2と同様である(図6参照)。97はIC90が実装されるプリント基板(以下、単に基板という)である。91は基板を切り離すための分割手段である基板のVカット部(V字型に入れた溝部)であり、Vカット部91より図面の上側が使用する基板97a、下側が使用しない部分である捨て基板97bである。93は銅箔パターン露出部、92、98、99はランド(ダミーランドともいう)である。この中でランド92、98、99は、実施例3と同様である。一方、銅箔パターン露出部93は信号線パターン94の一部に、レジストをランド群(ランドlnd16〜lnd30)のランドと同じ形状に塗布しないことで形成している。これは実施例2と同様である。また、95、96は半田ブリッジ防止ランドである。
<About the substrate pattern of this example>
FIG. 12 is a substrate pattern diagram of this embodiment.
本実施例では、半田ブリッジを防止すべきIC90のランドlnd1〜30、92、98、99及び銅箔パターン露出部93(以下、一連のランドという)と半田ブリッジ防止ランド95、96の間に使用する基板97aの端部がある。しかし、捨て基板97bに、フロー半田付けを行う際に半田ブリッジ防止ランド95、96が一連のランドに付着する半田の表面張力(界面張力)を減少させる効果があり、半田ブリッジを防止できる。
In this embodiment, it is used between the lands 1nd to 30, 92, 98, 99 of the
本実施例では、基板の分割にVカット部91を使う構成について説明した。ただし、スリットにより基板を分割する場合であっても、一連のランドと半田ブリッジ防止ランド95、96が十分に近ければ、同様の効果を得ることができる。
In this embodiment, the configuration in which the V-cut
また、図13に示すように、Vカット部91の位置を移動し、Vカット部91aの位置にすることもできる。Vカット部91aは、半田ブリッジ防止ランド95及び96の途中に形成されている。図12に比べて、ランド98、99と半田ブリッジ防止ランド95、96の間隔を狭くすることができ、半田ブリッジ防止効果がより有効に働く。
Further, as shown in FIG. 13, the position of the V-cut
なお、本実施例では基板の分割にVカット部を用いる構成で説明したが、Vカット部は一例であって、例えば、ミシン目に穴をあけて分割する構成等、他の構成を適用可能である。 In this embodiment, the V-cut portion is used for dividing the substrate. However, the V-cut portion is an example, and other configurations such as a configuration in which holes are perforated and divided are applicable. It is.
以上の構成により、本実施例によれば、捨て基板に面積の大きい半田ブリッジ防止ランドを形成でき、使用する基板の配線自由度向上や基板面積低減の効果がある。 With the above configuration, according to the present embodiment, a solder bridge prevention land having a large area can be formed on the discarded substrate, and there is an effect of improving the wiring flexibility of the substrate to be used and reducing the substrate area.
Claims (18)
前記電子部品を半田付けするための第1半田ランドと、
前記第1半田ランドに対して前記プリント基板の搬送方向の下流側に設けられる、半田を溜めるための第2半田ランドと、
前記第1半田ランドと前記第2半田ランドとの間に、パターン露出部を備えた信号線パターンを有することを特徴とするプリント基板。 In a printed circuit board where electronic components are soldered by being transported to a solder bath,
A first solder land for soldering the electronic component;
A second solder land for collecting solder, which is provided downstream of the first solder land in the transport direction of the printed circuit board;
A printed circuit board having a signal line pattern having a pattern exposed portion between the first solder land and the second solder land.
前記第2半田ランドは、前記放熱パターンを介して前記電子部品の放熱ピンに接続されることを特徴とする請求項1に記載のプリント基板。 Furthermore, a heat dissipation pattern for radiating heat generated from the electronic component is provided,
The printed circuit board according to claim 1, wherein the second solder land is connected to a heat dissipation pin of the electronic component through the heat dissipation pattern.
前記第2半田ランドは、前記グランドパターンと接続されることを特徴とする請求項1に記載のプリント基板。 In addition, with a ground pattern,
The printed circuit board according to claim 1, wherein the second solder land is connected to the ground pattern.
複数の前記第1半田ランドの間隔と、前記第1半田ランドと前記信号線パターンの間隔は同じ間隔であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかの項に記載のプリント基板。 A plurality of the first solder lands;
4. The printed circuit board according to claim 1, wherein an interval between the plurality of first solder lands and an interval between the first solder lands and the signal line pattern are the same interval. 5.
前記第1半田ランドと一列になるように配置された第2半田ランドと、
前記第1半田ランドと前記第2半田ランドの間に、パターン露出部を備えた信号線パターンを有することを特徴とするプリント基板。 A first solder land for soldering electronic components;
A second solder land arranged in line with the first solder land;
A printed circuit board having a signal line pattern having a pattern exposed portion between the first solder land and the second solder land.
前記電子部品の端子が半田付けされた実装部と、前記実装部に近接して設けられた半田パターン部と、前記実装部と前記半田パターン部の間に信号線を備えることを特徴とするプリント基板。 In printed circuit boards on which electronic components are mounted,
A printed circuit board comprising: a mounting portion to which terminals of the electronic component are soldered; a solder pattern portion provided in proximity to the mounting portion; and a signal line between the mounting portion and the solder pattern portion. substrate.
前記半田パターン部は、複数の実施部が配列する方向の端部に近接して設けられることを特徴とする請求項12に記載のプリント基板。 A plurality of the mounting portions are provided,
The printed circuit board according to claim 12, wherein the solder pattern portion is provided close to an end portion in a direction in which a plurality of implementation portions are arranged.
前記半田パターン部と前記放熱パターンが接続されることを特徴とする請求項12または13に記載のプリント基板。 Furthermore, it has a heat dissipation pattern to which the heat dissipation pin of the electronic component is connected,
The printed circuit board according to claim 12, wherein the solder pattern portion and the heat dissipation pattern are connected.
第1電子部品が半田付けされた第1の実装部と、
前記第1の実装部と一列になるように配置され、第2電子部品を半田付けするための第2の実装部と、を備え
前記第1の実装部と前記第2の実装部の間に、信号線を有することを特徴とするプリント基板。 In printed circuit boards on which electronic components are mounted,
A first mounting part to which the first electronic component is soldered;
A second mounting part for soldering the second electronic component, the second mounting part being arranged in a row with the first mounting part, between the first mounting part and the second mounting part A printed circuit board having a signal line.
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