JP2010060403A - Wire harness inspecting apparatus - Google Patents

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wire harness inspecting apparatus capable of visually checking a connection state of a wire harness. <P>SOLUTION: In the wire harness having a first connector and a second connector, when a first pin A1 of the first connector and a first pin B1 of the second connector are connected, the first pin A1 of the first connector and the first pin B1 of the second connector are displayed such that a first connector 113 and a second connector 114 to be displayed on a display 216 are displayed so as to connect pins corresponding to both ones by using a line. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、ワイヤーハーネスの接続状態を検査するワイヤーハーネス検査装置に関し、特に、ワイヤーハーネスの接続状態を視覚的に確認することができるものに関する。   The present invention relates to a wire harness inspection apparatus that inspects a connection state of a wire harness, and more particularly to a device that can visually confirm the connection state of a wire harness.

従来のワイヤーハーネス検査装置の一つであるD−SUBコネクタによる機器間の接続をするケーブルを検査する配線パターン検査装置100を図19を用いて説明する。配線パターン検査装置100は、検査装置本体101、コネクタ部105A、105B、発光ダイオード107を有している。
検査装置本体101の両側にコネクタ部105A、105Bを設ける。また、検査装置本体101にコネクタ部105A、105Bの各ピンに対応したスイッチSWa1 〜SWa1 5、SWb1 〜SWb1 5 を設ける。さらに、検査装置本体101に、導通表示を行う発光ダイオード7を設ける。
検査対象のケーブル102のコネクタ103、104を、それぞれ検査装置本体1のコネクタ部105A、105Bに嵌合する。コネクタ部105A、105Bの各ピンに対応するスイッチSWa1 〜SWa1 5 、SWb1 〜SWb1 5 を閉じて、それぞれ閉じたスイッチに対応するピン同士が導通していれば、発光ダイオード107が点灯する。導通していない場合は、発光ダイオード107は点灯しない。
これにより、D−SUBコネクタによる機器間の接続をする場合のケーブルチェックを簡単にし、通信異常発生の防止と、発生時の原因追求の時間を短縮する。
特開平05−047890号公報
A wiring pattern inspection apparatus 100 that inspects a cable for connecting devices using a D-SUB connector, which is one of conventional wire harness inspection apparatuses, will be described with reference to FIG. The wiring pattern inspection apparatus 100 includes an inspection apparatus main body 101, connector portions 105A and 105B, and a light emitting diode 107.
Connector portions 105 </ b> A and 105 </ b> B are provided on both sides of the inspection apparatus main body 101. The connector portion 105A to the inspection apparatus main body 101, the switch SWa corresponding to pins 105B 1 ~SWa 1 5, SWb 1 ~SWb 1 5 to provide. Further, the inspection apparatus main body 101 is provided with a light emitting diode 7 that performs conduction display.
The connectors 103 and 104 of the cable 102 to be inspected are fitted into the connector portions 105A and 105B of the inspection apparatus main body 1, respectively. Connector portion 105A, closes the switch SWa 1 ~SWa 1 5, SWb 1 ~SWb 1 5 corresponding to each pin of 105B, long as a pin each other corresponding to the closed switch each conductive and light-emitting diode 107 is lit To do. When not conducting, the light emitting diode 107 is not lit.
This simplifies the cable check when connecting the devices using the D-SUB connector, prevents the occurrence of communication abnormality, and shortens the time for pursuing the cause at the time of occurrence.
Japanese Patent Laid-Open No. 05-047890

しかしながら、前述の従来の配線パターン検査装置100には、以下のような改善すべき点がある。コネクタ部105A、105Bに属するピンの全ての組み合わせについて導通状態を確認するには、コネクタ部105A、105Bの各ピンに対応するスイッチSWa1 〜SWa1 5 、SWb1 〜SWb1 5 を操作して、全ての組み合わせを検査しなければならい、という改善すべき点がある。 However, the above-described conventional wiring pattern inspection apparatus 100 has the following points to be improved. Connector unit 105A, to confirm the conductive state for all combinations of pins belonging to 105B, the connector portion 105A, by operating the switch SWa 1 ~SWa 1 5, SWb 1 ~SWb 1 5 corresponding to each pin of 105B There is a point to be improved that all combinations must be inspected.

また、配線パターン検査装置100は、ケーブルのコネクタ部105Aとコネクタ部105Bとの間で、所定のピン間に導通があれば発光ダイオード107が発光するものであるため、導通状態の表示は一つのピンの組み合わせが対象となる。このため、コネクタ部105A、105B間の全ての導通状態を同時に確認することはできない、という改善すべき点がある。
さらに、配線パターン検査装置100では、現在接続されているケーブルについてのみ導通状態を検査するため、現在接続されているケーブルが、ケーブルの設計図通りに配線されているか否かを確認することはできない、という改善すべき点がある。
そこで、本発明では、ワイヤーハーネスの接続状態を視覚的に確認することができるワイヤーハーネス検査装置を提供する。
Further, the wiring pattern inspection apparatus 100 emits light from the light emitting diode 107 if there is conduction between a predetermined pin between the connector portion 105A and the connector portion 105B of the cable. Pin combinations are targeted. For this reason, there exists a point which should be improved that all the conduction | electrical_connection states between connector part 105A, 105B cannot be confirmed simultaneously.
Furthermore, since the wiring pattern inspection apparatus 100 inspects the continuity state only for the currently connected cable, it cannot be confirmed whether or not the currently connected cable is wired according to the cable design drawing. There is a point that should be improved.
Then, in this invention, the wire harness inspection apparatus which can confirm the connection state of a wire harness visually is provided.

本発明者は、様々な検討を重ねた結果、本発明に係るワイヤーハーネス検査装置を完成した。本発明における課題を解決するための手段及び発明の効果を以下に示す。
本発明に係るワイヤーハーネス検査装置、ワイヤーハーネス検査プログラム、及びワイヤーハーネス検査方法では、前記第1の接続手段に接続されている前記第1のコネクタ及び前記第2のコネクタに接続されている前記第2のコネクタに関する導通情報を取得し、前記第1の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第1の分割情報及び前記第2の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第2の分割情報を取得し、前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報を用いて前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査する。
As a result of various studies, the inventor has completed the wire harness inspection apparatus according to the present invention. Means for solving the problems in the present invention and the effects of the invention will be described below.
In the wire harness inspection device, the wire harness inspection program, and the wire harness inspection method according to the present invention, the first connector connected to the first connector and the second connector connected to the first connector. The continuity information regarding the two connectors is acquired, and the first division information for dividing the pins included in the first connection means into a predetermined number and the pins included in the second connection means are divided into a predetermined number. Second division information is obtained, and the conduction information is inspected for the conduction state between the first connector and the second connector using the first division information and the second division information. To do.

これにより、第1の接続手段及び第2の接続手段にワイヤーハーネスを複数同時に接続して、各ワイヤーハーネスの導通状態を検査することができる。
本発明に係るワイヤーハーネス検査装置、ワイヤーハーネス検査プログラム、及びワイヤーハーネス検査方法では、前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報に基づき分割した分割導通情報を生成し、検査対象のワイヤーハーネスの前記第1のコネクタが接続されている前記第1の接続手段のピン、及び、前記第2のコネクタが接続されている前記第2の接続手段のピンに対応する分割導通情報を検査対象情報として、一の検査対象情報と、他の一の検査対象情報とを比較することによって、前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査する。
Thereby, a plurality of wire harnesses can be simultaneously connected to the first connection means and the second connection means, and the conduction state of each wire harness can be inspected.
In the wire harness inspection device, the wire harness inspection program, and the wire harness inspection method according to the present invention, the divided conduction information obtained by dividing the conduction information based on the first division information and the second division information is generated and inspected. Split conduction information corresponding to the pins of the first connection means to which the first connector of the target wire harness is connected and the pins of the second connection means to which the second connector is connected The inspection state information is compared with one inspection object information and the other inspection object information to inspect the conduction state between the first connector and the second connector.

これにより、第1の接続手段及び第2の接続手段にワイヤーハーネスを複数同時に接続して、各ワイヤーハーネスの導通状態を検査することができる。
本発明に係るワイヤーハーネス検査装置、ワイヤーハーネス検査プログラム、及びワイヤーハーネス検査方法では、 前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態の検査結果を取得し、取得した検査結果に基づき、前記第1のコネクタが有する各ピンと前記第2のコネクタが有する各ピンとの導通状態を画面上に同時に表示する。
これにより、前記第1のコネクタが有する各ピンと前記第2のコネクタが有する各ピンとの導通状態を同時に確認することができる。
また、導通状態が動じ画面上に表示されるため、ケーブルの設計図と容易に比較することができる。よって、接続されているワイヤーハーネスが、設計図通りに配線されているか否かを容易に確認することができる。
Thereby, a plurality of wire harnesses can be simultaneously connected to the first connection means and the second connection means, and the conduction state of each wire harness can be inspected.
In the wire harness inspection device, the wire harness inspection program, and the wire harness inspection method according to the present invention, the inspection result of the conduction state between the first connector and the second connector is acquired, and the acquired inspection result is obtained. Based on this, the conduction state between each pin of the first connector and each pin of the second connector is simultaneously displayed on the screen.
Thereby, it is possible to simultaneously confirm the conduction state between each pin of the first connector and each pin of the second connector.
Also, since the conduction state is moved and displayed on the screen, it can be easily compared with the cable design drawing. Therefore, it can be easily confirmed whether or not the connected wire harness is wired according to the design drawing.

さらに、煩雑な操作をすることなく、前記第1のコネクタが有する各ピンと前記第2のコネクタが有する各ピンとの導通状態を同時に確認することができる。
本発明に係るワイヤーハーネス検査装置、ワイヤーハーネス検査プログラム、及びワイヤーハーネス検査方法では、前記導通状態を表示するにあたって、前記第1のコネクタの前記ピンの配置を表示する第1のコネクタ表示領域と前記第2のコネクタの前記ピンの配置を表示する第2のコネクタ表示領域とを所定の間隔をおいて配置し、前記第1のコネクタが有する前記ピンと前記第2のコネクタが有する前記ピンとが導通している場合には、両ピン間を結んだ線を表示する。
これにより、容易に、前記第1のコネクタが有する各ピンと前記第2のコネクタが有する各ピンとの導通状態を同時に確認することができる。
Furthermore, it is possible to simultaneously confirm the conduction state between each pin of the first connector and each pin of the second connector without performing a complicated operation.
In the wire harness inspection device, the wire harness inspection program, and the wire harness inspection method according to the present invention, the first connector display region for displaying the pin arrangement of the first connector and the wire harness inspection method are displayed. A second connector display area for displaying the arrangement of the pins of the second connector is arranged at a predetermined interval, and the pins of the first connector and the pins of the second connector are electrically connected. If it is, a line connecting both pins is displayed.
Thereby, it is possible to easily check the conduction state between each pin of the first connector and each pin of the second connector at the same time.

本発明に係るワイヤーハーネス検査装置、ワイヤーハーネス検査プログラム、及びワイヤーハーネス検査方法では、前記第1のコネクタが有する前記ピン間で導通している場合には、前記第1のコネクタ表示領域において、第2のコネクタ表示領域が表示されている側とは反対の側に、導通している前記ピン間を結んだ線を表示する。
これにより、容易に、前記第1のコネクタが有する各ピンと前記第2のコネクタが有する各ピンとの導通状態を同時に確認することができる。
ここで、請求項における構成要素と実施例における構成要素との対応関係を示す。ワイヤーハーネスの第1のコネクタはワイヤーハーネス31(n)のコネクタ313(n)に、ワイヤーハーネスの第2のコネクタはワイヤーハーネス31(n)のコネクタ314(n)に、それぞれ対応する。
In the wire harness inspection apparatus, the wire harness inspection program, and the wire harness inspection method according to the present invention, in the first connector display area, when the first connector has conduction between the pins, A line connecting the conducting pins is displayed on the side opposite to the side where the connector display area of 2 is displayed.
Thereby, it is possible to easily check the conduction state between each pin of the first connector and each pin of the second connector at the same time.
Here, the correspondence between the constituent elements in the claims and the constituent elements in the embodiment is shown. The first connector of the wire harness corresponds to the connector 313 (n) of the wire harness 31 (n), and the second connector of the wire harness corresponds to the connector 314 (n) of the wire harness 31 (n).

ワイヤーハーネス検査装置はワイヤーハーネス検査装置1に対応する。第1の接続手段は第1のコネクタ113に、第2の接続手段は第2のコネクタ114に、導通情報取得手段はCPU211及びメモリ212に、分割情報取得手段はCPU211、メモリ212及びマウス215に、導通検査手段はCPU211及びメモリ212に、分割導通情報生成手段はCPU211及びメモリ212に、導通状態表示手段CPU211及びメモリ212に、それぞれ対応する。
導通情報はワイヤーハーネス導通状態データに、第1の分割情報は第1コネクタ端子数情報に、第2の分割情報は第2コネクタ端子数情報に、分割導通情報はマトリックスデータM11〜M35、検査対象情報は基準導通情報及び抽出したマトリックスデータに、それぞれ対応する。
第1のコネクタ表示領域は基準導通状態表示領域a16に、第2のコネクタ表示領域は基準導通状態表示領域a18に、それぞれ対応する。
The wire harness inspection device corresponds to the wire harness inspection device 1. The first connection means is connected to the first connector 113, the second connection means is connected to the second connector 114, the conduction information acquisition means is connected to the CPU 211 and the memory 212, and the division information acquisition means is connected to the CPU 211, the memory 212 and the mouse 215. The continuity checking means corresponds to the CPU 211 and the memory 212, the divided continuity information generating means corresponds to the CPU 211 and the memory 212, and the continuity state display means CPU 211 and the memory 212, respectively.
Conduction information is wire harness conduction state data, first division information is first connector terminal number information, second division information is second connector terminal number information, division conduction information is matrix data M11 to M35, inspection target The information corresponds to the reference conduction information and the extracted matrix data, respectively.
The first connector display area corresponds to the reference conduction state display area a16, and the second connector display area corresponds to the reference conduction state display area a18.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明していく。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

1.ワイヤーハーネス検査装置1の機能
本発明に係るワイヤーハーネス検査装置1の機能について、図1に示す機能ブロック図を用いて説明する。ワイヤーハーネス検査装置1は、第1の接続手段M11、第2の接続手段M13、導鬱検査手段M15、導通状態表示手段M17、導通情報取得手段M21、分割情報取得手段M23、及び分割導通情報生成手段M25を有している。
第1の接続手段M11には、ワイヤーハーネス3の第1のコネクタM31であって、一又は複数のピンを有する第1のコネクタM31が接続される。
第2の接続手段M13は、前記ワイヤーハーネス3の第2のコネクタM33であって、一又は複数のピンを有する第2のコネクタM33が接続される。
導通検査手段M15は、前記第1のコネクタM31と前記第2のコネクタM33との間の導通状態を検査する。
導通状態表示手段M17は、前記導通状態を画面上に表示する導通状態表示手段であって、前記第1のコネクタM31が有する各ピンと前記第2のコネクタM33が有する各ピンとの導通状態を同時に表示する。また、導通状態表示手段M17は、前記導通状態を表示するにあたって、前記第1のコネクタM31の前記ピンの配置を表示する第1のコネクタ表示領域と前記第2のコネクタの前記ピンの配置を表示する第2のコネクタ表示領域とを所定の間隔をおいて配置し、前記第1のコネクタM31が有する前記ピンと前記第2のコネクタM33が有する前記ピンとが導通している場合には、両ピン間を結んだ線を表示する。さらに、導通状態表示手段M17は、前記第1のコネクタM31が有する前記ピン間で導通している場合には、前記第1のコネクタ表示領域において、第2のコネクタ表示領域が表示されている側とは反対の側に、導通している前記ピン間を結んだ線を表示する。
1. Function of Wire Harness Inspection Device 1 The function of the wire harness inspection device 1 according to the present invention will be described with reference to the functional block diagram shown in FIG. The wire harness inspection apparatus 1 includes a first connection means M11, a second connection means M13, a conduction check means M15, a conduction state display means M17, a conduction information acquisition means M21, a division information acquisition means M23, and a division conduction information generation. Means M25 are provided.
The first connector M31 of the wire harness 3, which is a first connector M31 having one or more pins, is connected to the first connecting means M11.
The second connecting means M13 is the second connector M33 of the wire harness 3 to which the second connector M33 having one or a plurality of pins is connected.
The continuity inspection means M15 inspects the continuity state between the first connector M31 and the second connector M33.
The conduction state display means M17 is a conduction state display means for displaying the conduction state on the screen, and simultaneously displays the conduction state between each pin of the first connector M31 and each pin of the second connector M33. To do. Further, when displaying the conduction state, the conduction state display means M17 displays a first connector display area for displaying the pin arrangement of the first connector M31 and the pin arrangement of the second connector. The second connector display area is arranged at a predetermined interval, and when the pin of the first connector M31 and the pin of the second connector M33 are electrically connected, between the two pins Displays a line connecting Furthermore, when the conduction state display means M17 conducts between the pins of the first connector M31, the side where the second connector display area is displayed in the first connector display area. A line connecting the conducting pins is displayed on the opposite side of the line.

さらに、導通検査手段M17は、前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報を用いて前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査する。さらに、導通検査手段M17は、検査対象のワイヤーハーネスの前記第1のコネクタが接続されている前記第1の接続手段のピン、及び、前記第2のコネクタが接続されている前記第2の接続手段のピンに対応する分割導通情報を検査対象情報として、一の検査対象情報と、他の一の検査対象情報とを比較することによって、前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査する。
導通情報取得手段M21は、前記第1の接続手段に接続されている前記第1のコネクタ及び前記第2のコネクタに接続されている前記第2のコネクタに関する導通情報を取得する。
分割情報取得手段M23は、前記第1の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第1の分割情報及び前記第2の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第2の分割情報を取得する。
分割導通情報生成手段M25は、前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報に基づき分割した分割導通情報を生成する。
これにより、前記第1のコネクタM31が有する各ピンと前記第2のコネクタM33が有する各ピンとの導通状態を同時に確認することができる。
Further, the continuity inspection means M17 inspects the continuity state between the first connector and the second connector by using the first division information and the second division information as the continuity information. Furthermore, the continuity inspection means M17 includes the pin of the first connection means to which the first connector of the wire harness to be inspected is connected and the second connection to which the second connector is connected. Using the divided conduction information corresponding to the pins of the means as inspection object information, comparing one inspection object information with another inspection object information, the first connector and the second connector are compared. Check the continuity of the.
The continuity information acquisition means M21 acquires continuity information regarding the first connector connected to the first connection means and the second connector connected to the second connector.
The division information acquisition unit M23 is configured to divide the pins included in the first connection unit into a predetermined number and the first division information for dividing the pins included in the second connection unit into a predetermined number. 2 division information is acquired.
The division conduction information generation unit M25 generates division conduction information obtained by dividing the conduction information based on the first division information and the second division information.
Thereby, it is possible to simultaneously confirm the conduction state between each pin of the first connector M31 and each pin of the second connector M33.

2.ワイヤーハーネス検査装置1のハードウェア構成
ワイヤーハーネス検査装置1のハードウェア構成を図2に基づき説明する。ワイヤーハーネス検査装置1は、ワイヤーハーネス接続装置11及びコンピュータ21を有している。ワイヤーハーネス接続装置11は、接続されたワイヤーハーネスの導通状態を検査する。コンピュータ21は、ワイヤーハーネス接続装置11によるワイヤーハーネスの導通状態の検査結果を表示する。
以下において、ワイヤーハーネス接続装置11及びコンピュータ21のハードウェア構成を説明する。
2. Hardware Configuration of Wire Harness Inspection Device 1 The hardware configuration of the wire harness inspection device 1 will be described with reference to FIG. The wire harness inspection device 1 includes a wire harness connection device 11 and a computer 21. The wire harness connecting device 11 inspects the conduction state of the connected wire harness. The computer 21 displays the inspection result of the conduction state of the wire harness by the wire harness connecting device 11.
Hereinafter, hardware configurations of the wire harness connecting device 11 and the computer 21 will be described.

2.1.ワイヤーハーネス接続装置11のハードウェア構成
ワイヤーハーネス接続装置11のハードウェア構成を図3を用いて説明する。ワイヤーハーネス接続装置11は、CPU111、メモリ112、第1コネクタ113、第2コネクタ114、通信回路115を有している。
CPU111は、メモリ112に記録されているオペレーティング・システム(OS)、ワイヤーハーネス検査プログラム等その他のアプリケーションに基づいた処理を行う。メモリ112は、CPU111に対して作業領域を提供する。また、メモリ112は、オペレーティング・システム(OS)、ワイヤーハーネス検査プログラム等その他のアプリケーション、及びワイヤーハーネス検査の結果得られたワイヤーハーネス導通状態データを記録保持する。なお、ワイヤーハーネス導通状態データについては、後述する。
2.1. Hardware Configuration of Wire Harness Connection Device 11 A hardware configuration of the wire harness connection device 11 will be described with reference to FIG. The wire harness connection device 11 includes a CPU 111, a memory 112, a first connector 113, a second connector 114, and a communication circuit 115.
The CPU 111 performs processing based on other applications such as an operating system (OS) and a wire harness inspection program recorded in the memory 112. The memory 112 provides a work area for the CPU 111. In addition, the memory 112 records and holds an operating system (OS), other applications such as a wire harness inspection program, and wire harness conduction state data obtained as a result of the wire harness inspection. The wire harness conduction state data will be described later.

第1コネクタ113及び第2コネクタ114には、検査対象であるワイヤーハーネスのコネクタが接続される。第1コネクタ113及び第2コネクタ114は、接続されるワイヤーハーネスのコネクタが有する複数のピンに対応するピンを、それぞれ有している。ここで、第1コネクタ113及び第2コネクタ114の形状を図4に示す。図4には、コネクタのピン数が8ピンである第1コネクタ113、第2コネクタ114を示している。第1コネクタ113が有する各ピンには、ピン番号A1、A2、A3、A4、B1、B2、B3、B4が割り振られている。第2コネクタ114についても同様である。なお、以下においては、ピン番号A1のピンをA1、ピン番号A2のピンをA2、・・・とする。第1コネクタ113及び第2コネクタ114のそれぞれに検査対象であるワイヤーハーネスのコネクタを接続する。
通信回路115は、コンピュータ21とのデータの送受信を行う。
A connector of a wire harness to be inspected is connected to the first connector 113 and the second connector 114. The first connector 113 and the second connector 114 respectively have pins corresponding to a plurality of pins included in the connector of the connected wire harness. Here, the shapes of the first connector 113 and the second connector 114 are shown in FIG. FIG. 4 shows a first connector 113 and a second connector 114 in which the connector has 8 pins. Pin numbers A1, A2, A3, A4, B1, B2, B3, and B4 are assigned to the pins of the first connector 113. The same applies to the second connector 114. In the following description, the pin with the pin number A1 is A1, the pin with the pin number A2 is A2,. A wire harness connector to be inspected is connected to each of the first connector 113 and the second connector 114.
The communication circuit 115 transmits / receives data to / from the computer 21.

2.2.コンピュータ21のハードウェア構成
コンピュータ21のハードウェア構成を図5を用いて説明する。コンピュータ21は、CPU211、メモリ212、ハードディスク213、キーボード214、マウス215、ディスプレイ216、光学式ドライブ217、及び通信回路218を有している。
CPU211は、ハードディスク213に記録されているオペレーティング・システム(OS)、ワイヤーハーネス導通状態表示プログラム等その他のアプリケーションに基づいた処理を行う。メモリ212は、CPU211に対して作業領域を提供する。ハードディスク213は、オペレーティング・システム(OS)、ワイヤーハーネス導通状態表示プログラム等その他のアプリケーション、及びワイヤーハーネス検査の結果得られたワイヤーハーネス導通状態データを記録保持する。
キーボード214、マウス215は、外部からの命令を受け付ける。ディスプレイ216は、ワイヤーハーネス導通状態を示した画像を表示する。光学式ドライブ217は、光学式メディア210からワイヤーハーネス導通状態表示プログラム等のデータを読み取る。通信回路218は、ワイヤーハーネス接続装置11とのデータの送受信を行う。
2.2. Hardware Configuration of Computer 21 The hardware configuration of the computer 21 will be described with reference to FIG. The computer 21 includes a CPU 211, a memory 212, a hard disk 213, a keyboard 214, a mouse 215, a display 216, an optical drive 217, and a communication circuit 218.
The CPU 211 performs processing based on other applications such as an operating system (OS) and a wire harness conduction state display program recorded in the hard disk 213. The memory 212 provides a work area for the CPU 211. The hard disk 213 records and holds an operating system (OS), other applications such as a wire harness conduction state display program, and wire harness conduction state data obtained as a result of the wire harness inspection.
The keyboard 214 and the mouse 215 accept external commands. The display 216 displays an image showing the wire harness conduction state. The optical drive 217 reads data such as a wire harness conduction state display program from the optical medium 210. The communication circuit 218 transmits / receives data to / from the wire harness connecting device 11.

3.ワイヤーハーネス導通状態データ
ワイヤーハーネス導通状態データとは、ワイヤーハーネスの両端のコネクタのそれぞれが有するピンについて、どのピンとどのピンとが接続されているかを示すデータをいう。
ワイヤーハーネス導通状態データについて、図6を用いて説明する。図6においては、第1コネクタ113及び第2コネクタ114は、のピン数が8ピン、ワイヤーハーネスのコネクタのピン数が3ピンである場合のワイヤーハーネス導通状態データを示している。また、第1コネクタ113に接続されるワイヤーハーネスのコネクタは第1コネクタ113のA1ピン〜A3ピンに、第2コネクタ114に接続されるコネクタは第2コネクタ114のA1ピン〜A3ピンに、それぞれ接続されているものとする。
ワイヤーハーネス導通状態データでは、縦軸に第1コネクタ113が有するビン番号が、横軸に第2コネクタ114が有するピン番号が、それぞれ割り当てられ、マトリックスを構成している。マトリックスには「0」若しくは「1」のデータが配置される。ここで、「0」は、その値が配置されたマトリックスにおいて、第1コネクタ113に対応するピンと第2コネクタ114に対応するピンとが電気的に接続されていないことを示している。また、「1」は、その値が配置されたマトリックスにおいて、第1コネクタ113に対応するピンと第2コネクタ114に対応するピンとが電気的に接続されていることを示している。
例えば、第1コネクタ113のA1ピンについてのマトリックスの値「10001000」は、第1コネクタ113のA1ピンと第2コネクタ114のB1ピンと接続されていることを示している。
3. Wire harness conduction state data The wire harness conduction state data refers to data indicating which pins and which pins are connected to the pins of the connectors at both ends of the wire harness.
The wire harness conduction state data will be described with reference to FIG. In FIG. 6, the first connector 113 and the second connector 114 show wire harness conduction state data when the number of pins is 8 and the number of pins of the connector of the wire harness is 3 pins. The connector of the wire harness connected to the first connector 113 is A1 to A3 pin of the first connector 113, and the connector connected to the second connector 114 is A1 to A3 of the second connector 114, respectively. It shall be connected.
In the wire harness conduction state data, the bin number of the first connector 113 is assigned to the vertical axis, and the pin number of the second connector 114 is assigned to the horizontal axis to form a matrix. Data of “0” or “1” is arranged in the matrix. Here, “0” indicates that the pin corresponding to the first connector 113 and the pin corresponding to the second connector 114 are not electrically connected in the matrix in which the values are arranged. “1” indicates that the pin corresponding to the first connector 113 and the pin corresponding to the second connector 114 are electrically connected in the matrix in which the values are arranged.
For example, the matrix value “10001000” for the A1 pin of the first connector 113 indicates that the A1 pin of the first connector 113 and the B1 pin of the second connector 114 are connected.

4.ワイヤーハーネスの接続
ワイヤーハーネス検査装置1においては、ワイヤーハーネスの検査をするにあたって、ワイヤーハーネス接続装置11の第1コネクタ113及び第2コネクタ114に、検査するワイヤーハーネスのコネクタを接続する。
ワイヤーハーネス接続装置11の第1コネクタ113にはワイヤーハーネスの一方のコネクタを、第2コネクタ114にはワイヤーハーネスのもう一方のコネクタを接続する。第1コネクタ113へコネクタを接続する際には、あるワイヤーハーネスのコネクタを接続した後、当該コネクタに隣接して、次のワイヤーハーネスのコネクタを接続するようにする。第2コネクタ114へコネクタを接続する際も同様である。
ワイヤーハーネス接続装置11に対するワイヤーハーネスの接続の具体例を図7を用いて説明する。図7においては、第1コネクタ113及び第2コネクタ114は、8ピンのコネクタとしている。また、ワイヤーハーネス接続装置11にワイヤーハーネス31(1)及びワイヤーハーネス31(2)の2本のワイヤーハーネス31を同時に接続している。
ワイヤーハーネス31(n)のコネクタ313(n)は3ピンのコネクタであり、コネクタ314(n)は4ピンのコネクタとしている。また、ワイヤーハーネス31(n)においては、コネクタ313(n)の第1ピンp(n)とコネクタ314(n)の第1ピンw(n)とが、コネクタ313(n)の第2ピンq(n)とコネクタ314(n)の第2ピンx(n)とが、コネクタ313(n)の第3ピンr(n)とコネクタ314(n)の第3ピンy(n)、第4ピンz(n)とが、それぞれ接続されているものとする。ここで、nは、1又は2の整数を示す。
4). Connection of a wire harness In the wire harness inspection apparatus 1, when inspecting a wire harness, the connector of the wire harness to be inspected is connected to the first connector 113 and the second connector 114 of the wire harness connection apparatus 11.
One connector of the wire harness is connected to the first connector 113 of the wire harness connecting apparatus 11, and the other connector of the wire harness is connected to the second connector 114. When connecting a connector to the first connector 113, after connecting a connector of a certain wire harness, a connector of the next wire harness is connected adjacent to the connector. The same applies when connecting the connector to the second connector 114.
A specific example of connecting the wire harness to the wire harness connecting device 11 will be described with reference to FIG. In FIG. 7, the first connector 113 and the second connector 114 are 8-pin connectors. Moreover, the two wire harnesses 31 of the wire harness 31 (1) and the wire harness 31 (2) are simultaneously connected to the wire harness connection device 11.
The connector 313 (n) of the wire harness 31 (n) is a 3-pin connector, and the connector 314 (n) is a 4-pin connector. In the wire harness 31 (n), the first pin p (n) of the connector 313 (n) and the first pin w (n) of the connector 314 (n) are the second pins of the connector 313 (n). q (n) and the second pin x (n) of the connector 314 (n) are the third pin r (n) of the connector 313 (n), the third pin y (n) of the connector 314 (n), It is assumed that 4 pins z (n) are connected to each other. Here, n represents an integer of 1 or 2.

ワイヤーハーネス接続装置11の第1コネクタ113とワイヤーハーネス31(1)との接続に際しては、第1コネクタ113については、第1コネクタ113の第1ピンA1にワイヤーハーネス31(1)のコネクタ313(1)の第1ピンp(1)を接続するように、また、第2コネクタ114については、第2コネクタ114の第1ピンB1にワイヤーハーネス31(1)のコネクタ314(1)の第1ピンw(1)を接続するようにする。また、ワイヤーハーネス接続装置11の第1コネクタ113とワイヤーハーネス31(2)との接続に際しては、第1コネクタ113の第4ピンA4にワイヤーハーネス31(2)のコネクタ313(2)の第1ピンp(2)を接続するように、また、第2コネクタ114については、第2コネクタ114の第5ピンB5にワイヤーハーネス31(2)のコネクタ314(2)の第1ピンw(2)を接続するようにする。
つまり、ワイヤーハーネス31(1)のコネクタ313(1)を接続した後、当該コネクタ313(1)に隣接して、ワイヤーハーネス31(2)のコネクタ313(2)を接続するようにする。また、ワイヤーハーネス31(1)のコネクタ314(1)を接続した後、当該コネクタ314(1)に隣接して、ワイヤーハーネス31(2)のコネクタ343(2)を接続するようにする。
When connecting the first connector 113 of the wire harness connecting device 11 and the wire harness 31 (1), the first connector 113 is connected to the first pin A1 of the first connector 113 with the connector 313 of the wire harness 31 (1). 1) of the connector 314 (1) of the wire harness 31 (1) is connected to the first pin B1 of the second connector 114 so as to connect the first pin p (1) of 1). Pin w (1) is connected. Further, when connecting the first connector 113 of the wire harness connecting device 11 and the wire harness 31 (2), the first pin of the connector 313 (2) of the wire harness 31 (2) is connected to the fourth pin A4 of the first connector 113. As for the second connector 114, the first pin w (2) of the connector 314 (2) of the wire harness 31 (2) is connected to the fifth pin B5 of the second connector 114 so as to connect the pin p (2). To connect.
That is, after connecting the connector 313 (1) of the wire harness 31 (1), the connector 313 (2) of the wire harness 31 (2) is connected adjacent to the connector 313 (1). Further, after the connector 314 (1) of the wire harness 31 (1) is connected, the connector 343 (2) of the wire harness 31 (2) is connected adjacent to the connector 314 (1).

5.ワイヤーハーネス検査装置1の動作
ワイヤーハーネス検査装置1の動作を、ワイヤーハーネス接続装置11及びコンピュータ21の動作として、図8及び図9に示すフローチャートを用いて説明する。ワイヤーハーネス接続装置11の動作を示すフローチャートを図8に、コンピュータ21の動作を示すフローチャートを図9に、それぞれ示す。
5). Operation of Wire Harness Inspection Device 1 The operation of the wire harness inspection device 1 will be described as the operation of the wire harness connection device 11 and the computer 21 with reference to the flowcharts shown in FIGS. A flowchart showing the operation of the wire harness connecting apparatus 11 is shown in FIG. 8, and a flowchart showing the operation of the computer 21 is shown in FIG.

5.1.ワイヤーハーネス接続装置11の動作
図8に示すように、ワイヤーハーネス接続装置11のCPU111は、ワイヤーハーネス検査プログラムの起動があると、第1コネクタ113及び第2コネクタ114のそれぞれに接続されているコネクタの各ピンにかける電圧を全てロー(Lo)に初期設定する(S601)。CPU111は、第1コネクタ113のピンの一つについて、電圧をハイ(Hi)にする(S603)。図7を例にすると、第1コネクタ113の第1ピンA1の電圧をハイ(Hi)にする。
図8に戻って、CPU111は、第1コネクタ113及び第2コネクタ114の全てのピンについて、電圧を測定する(S605)。図7を例にすると、第1コネクタ113の第1ピンA1〜第8ピンA8、及び、第2コネクタ114の第1ピンB1〜第8ピンB8の電圧を測定する。
図8に戻って、CPU111は、測定した電圧を、コネクタのピンに対応づけて導通状態データの一部としてメモリ112に記憶する(S607)。図7を例にすると、図6に示す導通状態データの第1コネクタ113の第1ピンA1に関する個別導通状態データがメモリ112に記憶される。
5.1. Operation of Wire Harness Connection Device 11 As shown in FIG. 8, when the wire harness inspection program is activated, the CPU 111 of the wire harness connection device 11 is connected to each of the first connector 113 and the second connector 114. All the voltages applied to the respective pins are initially set to low (Lo) (S601). The CPU 111 sets the voltage of one pin of the first connector 113 to high (Hi) (S603). Taking FIG. 7 as an example, the voltage of the first pin A1 of the first connector 113 is set to high (Hi).
Returning to FIG. 8, the CPU 111 measures voltages for all the pins of the first connector 113 and the second connector 114 (S605). Taking FIG. 7 as an example, the voltages of the first pin A1 to the eighth pin A8 of the first connector 113 and the first pin B1 to the eighth pin B8 of the second connector 114 are measured.
Returning to FIG. 8, the CPU 111 stores the measured voltage in the memory 112 as a part of the conduction state data in association with the connector pin (S607). Taking FIG. 7 as an example, individual conduction state data relating to the first pin A1 of the first connector 113 of the conduction state data shown in FIG.

図8に戻って、CPU111は、第1コネクタ113の全てのピンについて、ステップS603〜ステップS607の処理を実行したか否かを判断する(S609)。CPU111は、第1コネクタ113の全てのピンについて、ステップS603〜ステップS607の処理を実行していないと判断すると、他のピンについてCPU111は、第1コネクタ113の全てのピンについて、ステップS603〜ステップS607の処理を実行する。
一方、CPU111は、ステップS609において、第1コネクタ113の全てのピンについて、ステップS603〜ステップS607の処理を実行したと判断すると、メモリ112に記憶保持している導通状態データを、通信回路115を介して、コンピュータ21へ送信する(S611)。
Returning to FIG. 8, the CPU 111 determines whether or not the processing in steps S <b> 603 to S <b> 607 has been executed for all pins of the first connector 113 (S <b> 609). When CPU 111 determines that the processing of steps S603 to S607 has not been executed for all pins of first connector 113, CPU 111 performs steps S603 to S603 for all pins of first connector 113. The process of S607 is executed.
On the other hand, when the CPU 111 determines in step S609 that the processing in steps S603 to S607 has been executed for all the pins of the first connector 113, the conduction state data stored in the memory 112 is transferred to the communication circuit 115. To the computer 21 (S611).

5.2.コンピュータ21の動作
コンピュータ21のユーザは、所定のワイヤーハーネスを検査する前に、コンピュータ21のワイヤーハーネス検査プログラムを起動する。
図9に示すように、コンピュータ21のユーザは、第1コネクタ113及び第2コネクタ114に接続するワイヤーハーネスのコネクタの端子数を設定する。CPU211は、設定に際して、図10に示す設定画面を表示する(S901)。ユーザは、第1コネクタに接続するワイヤーハーネスのコネクタの端子数が3端子、第2コネクタに接続するワイヤーハーネスのコネクタの端子数が4端子であれば、「3−4」に対応するラジオボタンをキーボード214やマウス215を用いて選択する。CPU211は、設定画面における「OK」ボタンが選択されたと判断すると(S903)、選択されたラジオボタンに対応する第1コネクタの端子数を第1コネクタ端子数情報として、第2コネクタの端子数を第2コネクタ端子数情報としてメモリ212へ記憶する(S905)。なお、ステップS701及びステップS703のコネクタの端子数の設定は、ワイヤーハーネス接続装置11による導通状態データの取得の前に行う。
5.2. Operation of Computer 21 A user of the computer 21 activates a wire harness inspection program of the computer 21 before inspecting a predetermined wire harness.
As shown in FIG. 9, the user of the computer 21 sets the number of terminals of the wire harness connector connected to the first connector 113 and the second connector 114. When setting, the CPU 211 displays a setting screen shown in FIG. 10 (S901). If the number of terminals of the wire harness connected to the first connector is 3 and the number of terminals of the wire harness connected to the second connector is 4, the user selects a radio button corresponding to “3-4”. Is selected using the keyboard 214 or the mouse 215. If the CPU 211 determines that the “OK” button on the setting screen has been selected (S903), the number of terminals of the second connector is determined using the number of terminals of the first connector corresponding to the selected radio button as the first connector terminal number information. It memorize | stores in the memory 212 as 2nd connector terminal number information (S905). In addition, the setting of the number of terminals of the connector in step S701 and step S703 is performed before the conduction state data is acquired by the wire harness connecting device 11.

図9に戻って、CPU211は、ワイヤーハーネス接続装置11から導通状態データを取得したと判断すると(S907)、個別導通状態データ間において同じデータがあれば、一方を導通状態データから削除する(S909)。例えば、図6における導通状態データにおいては、第1コネクタの第1ピンA1の個別導通状態データDA1と第2コネクタの第1ピンB1の個別導通状態データDB1とが同一であるので、個別導通状態データDB1を導通状態データから削除する。図6における導通状態データから、重複する個別導通状態データを削除した導通状態データである修正導通状態データを図11に示す。
図9に戻って、CPU211は、メモリ212に記憶している第1コネクタ端子数情報及び第2コネクタ端子数情報を取得する(S911)。CPU211は、第1コネクタ端子数情報及び第2コネクタ端子数情報に基づき、修正導通状態データをマトリックスデータに分割する(S913)。
Returning to FIG. 9, when the CPU 211 determines that the conduction state data has been acquired from the wire harness connecting device 11 (S907), if there is the same data among the individual conduction state data, one is deleted from the conduction state data (S909). ). For example, in the conduction state data in FIG. 6, the individual conduction state data DA1 of the first pin A1 of the first connector and the individual conduction state data DB1 of the first pin B1 of the second connector are the same. Data DB1 is deleted from the conduction state data. FIG. 11 shows modified conduction state data which is conduction state data obtained by deleting overlapping individual conduction state data from the conduction state data in FIG.
Returning to FIG. 9, the CPU 211 acquires the first connector terminal number information and the second connector terminal number information stored in the memory 212 (S911). The CPU 211 divides the corrected conduction state data into matrix data based on the first connector terminal number information and the second connector terminal number information (S913).

マトリックスデータへの分割においては、応答ピン記述領域C503における第1コネクタ記述領域C513に属するデータを「第1コネクタ端子数情報×第1コネクタ端子数情報」のマトリックスデータに分割する。また、応答ピン記述領域C503における第2コネクタ記述領域C523に属するデータを「第1コネクタ端子数情報×第2コネクタ端子数情報」のマトリックスデータに分割する。なお、第1コネクタに属するピンの総数が第1コネクタ端子数情報の値の倍数でない場合、応答ピン記述領域C503における第1コネクタ記述領域C513に属するデータを「第1コネクタ記述領域の端数×第1コネクタ端子数情報」のマトリックスデータに、応答ピン記述領域C503における第2コネクタ記述領域C523については「第1コネクタ記述領域の端数×第2コネクタ端子数情報」のマトリックスデータに、それぞれ分割する。   In the division into matrix data, data belonging to the first connector description area C513 in the response pin description area C503 is divided into matrix data of “first connector terminal number information × first connector terminal number information”. Further, the data belonging to the second connector description area C523 in the response pin description area C503 is divided into matrix data of “first connector terminal number information × second connector terminal number information”. If the total number of pins belonging to the first connector is not a multiple of the value of the first connector terminal number information, the data belonging to the first connector description area C513 in the response pin description area C503 is expressed as “fraction of first connector description area × number of first connector description area”. The matrix data of “1 connector terminal number information” and the second connector description area C523 in the response pin description area C503 are divided into matrix data of “fraction of the first connector description area × second connector terminal number information”.

例えば、図11における修正導通状態データにおいて、第1コネクタ端子数情報が「3」、第2コネクタ端子数情報が「4」であったとすると、応答ピン記述領域C503における第1コネクタ記述領域C513に属するデータを「3×3」のマトリックスデータM11、M12、M21、M22に分割する。また、応答ピン記述領域C503における第2コネクタ記述領域C523に属するデータを「3×4」のマトリックスデータM14、M15、M24、M25に分割する。ここで、第1コネクタ113に属するピンの総数「8」が第1コネクタ端子数情報の値「3」の倍数でないため、第1コネクタのピン総数「8」を「3」で除したときの端数は「2」となる。よって、入力ピン記述領域C501における第1コネクタ記述領域C511の第7ピンA7及び第8ピンA8に属するデータのうち、応答ピン記述領域C503における第1コネクタ記述領域C513に属するデータを「2×3」のマトリックスデータM31、M32、M33に、応答ピン記述領域C503における第2コネクタ記述領域C523に属するデータを「2×4」のマトリックスデータM34、M35に、それぞれ分割する。
そして、CPU211は、基準導通情報取得処理(S915)及びワイヤーハーネス検査処理(S917)を実行する。基準導通情報取得処理(S915)及びワイヤーハーネス検査処理(S917)については後述する。
For example, if the first connector terminal number information is “3” and the second connector terminal number information is “4” in the corrected conduction state data in FIG. 11, the first connector description area C513 in the response pin description area C503 is displayed. The belonging data is divided into “3 × 3” matrix data M11, M12, M21, and M22. The data belonging to the second connector description area C523 in the response pin description area C503 is divided into “3 × 4” matrix data M14, M15, M24, and M25. Here, since the total number “8” of the pins belonging to the first connector 113 is not a multiple of the value “3” of the first connector terminal number information, the total number of pins “8” of the first connector is divided by “3”. The fraction is “2”. Therefore, among the data belonging to the seventh pin A7 and the eighth pin A8 of the first connector description area C511 in the input pin description area C501, the data belonging to the first connector description area C513 in the response pin description area C503 is “2 × 3”. The data belonging to the second connector description area C523 in the response pin description area C503 is divided into the “2 × 4” matrix data M34 and M35, respectively.
Then, the CPU 211 executes reference continuity information acquisition processing (S915) and wire harness inspection processing (S917). Reference continuity information acquisition processing (S915) and wire harness inspection processing (S917) will be described later.

5.3.基準導通情報取得処理
コンピュータ21のCPU211が実行する基準導通情報取得処理について、図12に示すフローチャートを用いて説明する。
CPU211は、パラメータnを「1」に設定する(S1201)。CPU211は、修正導通状態データからパラメータn=「1」に対応する個別導通状態データを対象個別導通状態データとして取得する(S1203)。なお、パラメータnの値が「1」である場合には、図11においては、入力ピン記述領域C501の第1コネクタ記述領域C511に属する第1ピンA1の個別導通状態データDA1を取得する。
図12に戻って、CPU211は、対象個別導通状態データにおいて、データの値が「1」であるデータを特定する(S1205)。そして、CPU211は、特定したデータが含まれるマトリックスデータを抽出し、応答ピン記述領域C503における第1コネクタ記述領域C513に属するマトリックスデータを入力マトリックスデータ、応答ピン記述領域C503における第2コネクタ記述領域C523に属するマトリックスデータを応答マトリックスデータとして抽出し、メモリ212に記憶する(S1207)。
5.3. Reference continuity information acquisition process The reference continuity information acquisition process executed by the CPU 211 of the computer 21 will be described with reference to the flowchart shown in FIG.
The CPU 211 sets the parameter n to “1” (S1201). The CPU 211 acquires the individual conduction state data corresponding to the parameter n = “1” as the target individual conduction state data from the corrected conduction state data (S1203). When the value of the parameter n is “1”, the individual conduction state data DA1 of the first pin A1 belonging to the first connector description area C511 of the input pin description area C501 is acquired in FIG.
Returning to FIG. 12, the CPU 211 identifies data having a data value of “1” in the target individual conduction state data (S <b> 1205). Then, the CPU 211 extracts matrix data including the specified data, inputs matrix data belonging to the first connector description area C513 in the response pin description area C503 to the input matrix data, and second connector description area C523 in the response pin description area C503. Is extracted as response matrix data and stored in the memory 212 (S1207).

例えば、図11においては、第1ピンA1の個別導通状態データを対象個別導通状態データとすると、応答ピン記述領域C503の第1コネクタ記述領域C513における第1ピンA1のデータ、及び、第2コネクタ記述領域C523における第1ピンB1のデータが特定される。そして、特定した第1ピンA1のデータを含むマトリックスデータM11が入力マトリックスデータとして抽出される。また、特定した第1ピンB1のデータを含むマトリックスデータM14が応答マトリックスデータとして抽出され、メモリ212に記憶される。
図12に戻って、CPU211は、入力マトリックスデータ及び応答マトリックスデータに基づき、第1コネクタ113と第2コネクタ114との間の導通状態を表示する導通情報取得処理を実行する(S1209)。導通情報取得処理については後述する。
コンピュータ21の使用者は、導通状態表示処理によってディスプレイ216に表示される基準導通状態表示画面(図13参照)を確認しながら、基準導通状態表示画面に表示されるワイヤーハーネスの導通状態が、当該ワイヤーハーネスにおける所定の導通状態と一致する、即ち、ワイヤーハーネスにおけるコネクタ間が正しく接続されていると判断すると、基準導通状態表示画面に表示されている基準導通状態情報取得ボタンB13を、マウス215等によって選択する。
CPU211は、基準導通状態情報取得ボタンが選択されたと判断すると(1211)、CPU211は、抽出した入力マトリックスデータ及び応答マトリックスデータを、それぞれ基準入力マトリックスデータ及び基準応答マトリックスデータとする基準導通情報としてメモリ212へ記憶する(S1213)。
For example, in FIG. 11, when the individual conduction state data of the first pin A1 is the target individual conduction state data, the data of the first pin A1 in the first connector description area C513 of the response pin description area C503, and the second connector The data of the first pin B1 in the description area C523 is specified. Then, matrix data M11 including data of the specified first pin A1 is extracted as input matrix data. In addition, matrix data M14 including the data of the specified first pin B1 is extracted as response matrix data and stored in the memory 212.
Returning to FIG. 12, the CPU 211 executes continuity information acquisition processing for displaying the continuity state between the first connector 113 and the second connector 114 based on the input matrix data and the response matrix data (S1209). The continuity information acquisition process will be described later.
While the user of the computer 21 confirms the reference conduction state display screen (see FIG. 13) displayed on the display 216 by the conduction state display process, the conduction state of the wire harness displayed on the reference conduction state display screen is When it is determined that the predetermined continuity state in the wire harness coincides, that is, the connectors in the wire harness are correctly connected, the reference continuity state information acquisition button B13 displayed on the reference continuity state display screen is changed to the mouse 215 or the like. Select by.
When the CPU 211 determines that the reference conduction state information acquisition button has been selected (1211), the CPU 211 stores the extracted input matrix data and response matrix data as reference conduction information using the reference input matrix data and the reference response matrix data, respectively. It memorize | stores in 212 (S1213).

5.4.導通状態表示処理
コンピュータ21のCPU211が実行する導通状態表示処理について図14に示すフローチャートを用いて説明する。
CPU211は、パラメータmを「n」に設定する(S1401)。CPU211は、パラメータnに対応する第1コネクタ記述領域C511のピン番号の個別導通状態データを取得する(S1403)。そして、CPU211は、取得した個別導通状態データから値が「1」であるデータを特定する(S1405)。
CPU211は、特定したデータが、入力マトリックスデータ及び応答マトリックスデータに含まれると判断すると(S1407)、特定したデータに対応する応答ピン記述領域C503におけるピン番号のうち、自らのピン番号以外のピン番号を取得する(S1409)。
CPU211は、取得したピン番号から応答ピン記述領域C503の第2コネクタ記述領域C523に属するピン号を取得する(S1411)。CPU211は、第1コネクタのパラメータnに対応するピンと、ステップS1413で取得したピン番号に対応する第2コネクタのピンとを、ディスプレイ216に表示する第1コネクタ及び第2コネクタにおいて、両者に対応するピンの間を線で結ぶように表示する(S1413)。
5.4. Conduction State Display Processing The conduction state display processing executed by the CPU 211 of the computer 21 will be described using the flowchart shown in FIG.
The CPU 211 sets the parameter m to “n” (S1401). The CPU 211 acquires the individual conduction state data of the pin number in the first connector description area C511 corresponding to the parameter n (S1403). Then, the CPU 211 specifies data whose value is “1” from the acquired individual conduction state data (S1405).
If the CPU 211 determines that the specified data is included in the input matrix data and the response matrix data (S1407), the pin number other than its own pin number among the pin numbers in the response pin description area C503 corresponding to the specified data. Is acquired (S1409).
The CPU 211 acquires a pin number belonging to the second connector description area C523 of the response pin description area C503 from the acquired pin number (S1411). The CPU 211 corresponds to both the first connector and the second connector that display the pin corresponding to the parameter n of the first connector and the pin of the second connector corresponding to the pin number acquired in step S1413 on the display 216. Are displayed so as to be connected by a line (S1413).

また、CPU211は、取得したピン番号から応答ピン記述領域C503の第1コネクタ記述領域C513に属するピン号を取得する(S1415)。CPU211は、ディスプレイ216の画面において、第1コネクタのパラメータnに対応するピンと、ステップS1415で取得したピン番号に対応する第1コネクタのピンとを、ディスプレイ216に表示する第1コネクタにおいて第2コネクタが表示されている側とは反対の側で、ディスプレイ216に表示する第1コネクタにおいて、両者に対応するピンの間を線で結ぶように表示する(S1417)。
例えば、図11における修正導通状態データにおいて、入力マトリックスデータ及び応答マトリックスデータをマトリックスデータM11及びマトリックスデータM14とすると、第1コネクタの第1ピンA1に対する応答ピンのピン番号として、自らの番号を除くと第2コネクタのピン番号「B1」が抽出される。よって、図13に示すように、第1コネクタの第1ピンA1と、第2コネクタの第1ピンB1とが、ディスプレイ216に表示する第1コネクタ113及び第2コネクタ114において、両者に対応するピンの間が線で結ばれるように表示される。
Further, the CPU 211 acquires a pin number belonging to the first connector description area C513 of the response pin description area C503 from the acquired pin number (S1415). The CPU 211 displays a pin corresponding to the parameter n of the first connector and a pin of the first connector corresponding to the pin number acquired in step S1415 on the screen of the display 216. On the side opposite to the displayed side, the first connector displayed on the display 216 displays the pins corresponding to the two so as to be connected with a line (S1417).
For example, if the input matrix data and the response matrix data are the matrix data M11 and the matrix data M14 in the corrected conduction state data in FIG. 11, the own number is excluded as the pin number of the response pin for the first pin A1 of the first connector. And the pin number “B1” of the second connector is extracted. Therefore, as shown in FIG. 13, the first pin A1 of the first connector and the first pin B1 of the second connector correspond to both in the first connector 113 and the second connector 114 displayed on the display 216. The pins are displayed with a line.

また、例えば、図15に示すような入力マトリックスデータM51及び応答マトリックスデータM54であったとすると、第1コネクタの第1ピンA1に対する応答ピンのピン番号として、自らの番号を除くと、第1コネクタのピン番号「A3」が抽出される。よって、図16に示すように、第1コネクタの第1ピンA1と、第1コネクタの第3ピンA3とが、ディスプレイ216に表示する第1コネクタ113において第2コネクタ114が表示されている側とは反対の側で、両者に対応するピンの間が線で結ばれるように、基準導通状態表示領域a16に表示される。
図14に戻って、CPU211は、パラメータmを更新する(S1419)。CPU211は、パラメータmの値が第1コネクタ端子数情報より大きいか否かを判断する(1421)。CPU211は、パラメータmの値が第1コネクタ端子数情報より大きくないと判断すると、ステップS1403以降の処理を繰り返す。一方、CPU211は、パラメータmの値が第1コネクタ端子数情報より大きいと判断すると、導通状態表示処理を終了する。
Further, for example, if the input matrix data M51 and the response matrix data M54 as shown in FIG. 15 are used, the pin number of the response pin corresponding to the first pin A1 of the first connector is excluded from the first connector. The pin number “A3” is extracted. Therefore, as shown in FIG. 16, the first pin A1 of the first connector and the third pin A3 of the first connector are on the side where the second connector 114 is displayed on the first connector 113 displayed on the display 216. Is displayed in the reference conduction state display area a16 so that the pins corresponding to both are connected by a line on the opposite side.
Returning to FIG. 14, the CPU 211 updates the parameter m (S1419). The CPU 211 determines whether or not the value of the parameter m is larger than the first connector terminal number information (1421). If the CPU 211 determines that the value of the parameter m is not greater than the first connector terminal number information, the CPU 211 repeats the processing after step S1403. On the other hand, when the CPU 211 determines that the value of the parameter m is larger than the first connector terminal number information, the conduction state display process is terminated.

5.5.ワイヤーハーネス検査処理
コンピュータ21のCPU211が実行するワイヤーハーネス検査処理について、図17に示すフローチャートを用いて説明する。
CPU211は、パラメータnを「1+第1コネクタ端子数情報」に設定する(S1701)。CPU211は、パラメータnが第1コネクタの総端子数より大きくないか否かを判断する(S1702)。なお、第1コネクタの総端子数については、予めメモリ212に記憶されている。例えば、図11においては、第1コネクタの総端子数は「8」となる。
図17に戻って、CPU211は、パラメータnが第1コネクタの総端子数より大きくないと判断すると、修正導通状態データからパラメータnに対応する個別導通状態データを対象個別導通状態データとして取得する(S1703)。第1コネクタ端子数情報が「3」であれば、パラメータnの値が「4」となるので、図11においては、図入力ピン記述領域C501の第1コネクタ記述領域C511に属する第1ピンA4の個別導通状態データDA4を取得する。
図17に戻って、CPU211は、対象個別導通状態データにおいて、データの値が「1」であるデータを特定する(S1705)。そして、CPU211は、特定したデータが含まれるマトリックスデータを抽出し、応答ピン記述領域C503における第1コネクタ記述領域C513に属するマトリックスデータを入力マトリックスデータ、応答ピン記述領域C503における第2コネクタ記述領域C523に属するマトリックスデータを応答マトリックスデータとして抽出し、メモリ212に記憶する(S1707)。
5.5. Wire harness inspection process The wire harness inspection process which CPU21 of the computer 21 performs is demonstrated using the flowchart shown in FIG.
The CPU 211 sets the parameter n to “1 + first connector terminal number information” (S1701). The CPU 211 determines whether or not the parameter n is larger than the total number of terminals of the first connector (S1702). Note that the total number of terminals of the first connector is stored in the memory 212 in advance. For example, in FIG. 11, the total number of terminals of the first connector is “8”.
Returning to FIG. 17, when the CPU 211 determines that the parameter n is not larger than the total number of terminals of the first connector, the CPU 211 acquires the individual conduction state data corresponding to the parameter n as the target individual conduction state data from the corrected conduction state data ( S1703). If the first connector terminal number information is “3”, the value of the parameter n is “4”. Therefore, in FIG. 11, the first pin A4 belonging to the first connector description area C511 of the figure input pin description area C501. The individual conduction state data DA4 is acquired.
Returning to FIG. 17, the CPU 211 specifies data having a data value of “1” in the target individual conduction state data (S 1705). Then, the CPU 211 extracts matrix data including the specified data, inputs matrix data belonging to the first connector description area C513 in the response pin description area C503 to the input matrix data, and second connector description area C523 in the response pin description area C503. Is extracted as response matrix data and stored in the memory 212 (S1707).

例えば、図11においては、第4ピンA4の個別導通状態データを対象個別導通状態データとすると、応答ピン記述領域C503の第1コネクタ記述領域C513における第4ピンA4のデータ、及び、第2コネクタ記述領域C523における第4ピンB4のデータが特定される。そして、特定した第1コネクタの第1ピンA1のデータを含むマトリックスデータM21が入力マトリックスデータとして抽出される。また、特定した第2コネクタの第4ピンB4のデータを含むマトリックスデータM24が応答マトリックスデータとして抽出され、メモリ212に記憶される。
図17に戻って、CPU211は、入力マトリックスデータにおける入力ピン記述領域C501の第1コネクタ記述領域C511におけるピン番号について、最も若い番号がピン番号「A1」となるように、すべてのピン番号の変換を行う(S1709)。CPU211は、入力マトリックスデータ及び応答マトリックスデータが、基準導通情報における入力マトリックスデータ及び応答マトリックスデータと等しいか否かを判断する検査処理を実行する(S1711)。
For example, in FIG. 11, if the individual conduction state data of the fourth pin A4 is the target individual conduction state data, the data of the fourth pin A4 in the first connector description area C513 of the response pin description area C503, and the second connector The data of the fourth pin B4 in the description area C523 is specified. Then, matrix data M21 including data of the specified first pin A1 of the first connector is extracted as input matrix data. Further, matrix data M24 including data of the specified fourth pin B4 of the second connector is extracted as response matrix data and stored in the memory 212.
Returning to FIG. 17, the CPU 211 converts all the pin numbers so that the pin number in the first connector description area C511 of the input pin description area C501 in the input matrix data is the pin number “A1”. (S1709). The CPU 211 executes an inspection process for determining whether the input matrix data and the response matrix data are equal to the input matrix data and the response matrix data in the reference continuity information (S1711).

CPU211は、第1コネクタ113と第2コネクタ114との間の導通状態を表示する導通情報取得処理(図14参照)を実行する(S1713)。ステップS1713で表示する導通状態表示画面を図18に示す。ここで表示する導通状態は、導通状態表示領域a18に表示される。なお、CPU211は、ステップS1711において、入力マトリックスデータ及び応答マトリックスデータが、基準導通情報における入力マトリックスデータ及び応答マトリックスデータと等しくないと判断すると、基準情報取得処理における導通状態表示処理(S1209)においてディスプレイ216に表示した導通状態とは異なる導通状態について、赤色等を用いて、ユーザに注意喚起ができるように表示する。
The CPU 211 executes a conduction information acquisition process (see FIG. 14) for displaying a conduction state between the first connector 113 and the second connector 114 (S1713). The conduction state display screen displayed in step S1713 is shown in FIG. The conduction state displayed here is displayed in the conduction state display area a18. If the CPU 211 determines in step S1711 that the input matrix data and the response matrix data are not equal to the input matrix data and the response matrix data in the reference continuity information, the display is performed in the continuity state display process (S1209) in the reference information acquisition process. About the conduction | electrical_connection state different from the conduction | electrical_connection state displayed on 216, it displays so that a user can be alerted using red etc. FIG.

[その他の実施例]
(1)ワイヤーハーネス検査装置1の構成
前述の実施例1においては、ワイヤーハーネス接続装置11は接続されたワイヤーハーネスの導通状態を検査し、コンピュータ21はワイヤーハーネス接続装置11によるワイヤーハーネスの導通状態の検査結果を表示するものとしたが、ワイヤーハーネス接続装置11とコンピュータ21とを一体のものとして構成するようにしてもよい。
(2)基準導通情報の取得
前述の実施例1においては、基準導通情報の取得をユーザが設定するとしたが、基準導通情報を取得できるものであれば、例示のものに限定されない。例えば、検査するワイヤーハーネスが予め決まっているのであれば、メモリ等に予め基準導通情報を設定しておき、当該基準導通情報を取得するようにしてもよい。
[Other examples]
(1) Configuration of Wire Harness Inspection Device 1 In the above-described first embodiment, the wire harness connection device 11 inspects the conduction state of the connected wire harness, and the computer 21 conducts the wire harness conduction state by the wire harness connection device 11. However, the wire harness connecting device 11 and the computer 21 may be configured as a single unit.
(2) Acquisition of reference conduction information In the above-described first embodiment, the user sets acquisition of reference conduction information. However, the reference conduction information is not limited to the example as long as the reference conduction information can be acquired. For example, if a wire harness to be inspected is determined in advance, reference conduction information may be set in advance in a memory or the like, and the reference conduction information may be acquired.

(3)ワイヤーハーネス導通状態データ
前述の実施例1においては、ワイヤーハーネス導通状態データを図6に示すマトリックスデータとしたが、ワイヤーハーネスの導通状態を示すものであれば、例示のものに限定されない。例えば、図6において入力ピン記述領域C501の第1コネクタ記述領域C511のみによって構成するようにしてもよい。
(4)ワイヤーハーネス31(n)のコネクタ313(n)の接続
前述の実施例1においては、コネクタ313(n)を接続するコネクタにおいて、コネクタ313(n)を隣接して接続したが、基準導通情報に沿って接続するのであれば、例示のものに限定されない。例えば、一のワイヤーハーネス31(n)のコネクタ313(n)を接続した位置から、基準導通情報の倍数だけ離して他の一のワイヤーハーネス31(n)のコネクタ313(n)を接続するようにしてもよい。
(5)フローチャート
前述の実施例1においては、図8、9、12、14、17に示すフローチャートにより各処理を実現したが、各処理における目的を実現できるものであれば、例示のものに限定されない。
(3) Wire harness conduction state data In the above-described first embodiment, the wire harness conduction state data is the matrix data shown in FIG. 6, but is not limited to the example as long as it indicates the conduction state of the wire harness. . For example, in FIG. 6, it may be configured only by the first connector description area C511 of the input pin description area C501.
(4) Connection of the connector 313 (n) of the wire harness 31 (n) In the above-described first embodiment, the connector 313 (n) is adjacently connected in the connector to which the connector 313 (n) is connected. If it connects along conduction information, it will not be limited to an illustration. For example, the connector 313 (n) of another wire harness 31 (n) is connected at a multiple of the reference conduction information from the position where the connector 313 (n) of one wire harness 31 (n) is connected. It may be.
(5) Flowchart In the first embodiment described above, each process is realized by the flowcharts shown in FIGS. 8, 9, 12, 14, and 17. However, as long as the purpose of each process can be realized, the process is limited to the example. Not.

本発明は、ワイヤーハーネスのコネクタ間の導通状態を検査するワイヤーハーネス検査装置に用いることができる。
The present invention can be used for a wire harness inspection apparatus that inspects a conduction state between connectors of a wire harness.

本発明に係るワイヤーハーネス検査装置1の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the wire harness inspection apparatus 1 which concerns on this invention. ワイヤーハーネス検査装置1のハードウェア構成を示す図である。It is a figure which shows the hardware constitutions of the wire harness inspection apparatus. ワイヤーハーネス接続装置11のハードウェア構成を示す図である。It is a figure which shows the hardware constitutions of the wire harness connection apparatus. コネクタ形状を示す図である。It is a figure which shows a connector shape. コンピュータ21のハードウェア構成を示す図である。2 is a diagram illustrating a hardware configuration of a computer 21. FIG. ワイヤーハーネス導通状態データを示す図である。It is a figure which shows wire harness conduction | electrical_connection state data. コネクタの接続関係を示すコネクタ接続図である。It is a connector connection figure which shows the connection relation of a connector. ワイヤーハーネス接続装置11の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the wire harness connection apparatus 11. コンピュータ21の動作を示すフローチャートである。3 is a flowchart showing the operation of a computer 21. コネクタ端子数の設定画面示す図である。It is a figure which shows the setting screen of the number of connector terminals. 修正導通状態データを示す図である。It is a figure which shows correction conduction | electrical_connection state data. 基準導通状態情報取得処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a reference | standard conduction | electrical_connection state information acquisition process. 基準導通状態表示画面を示す図である。It is a figure which shows a reference | standard conduction | electrical_connection state display screen. 導通状態常時処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a conduction | electrical_connection state always process. 修正導通状態データを示す図である。It is a figure which shows correction conduction | electrical_connection state data. 基準導通状態表示画面を示す図である。It is a figure which shows a reference | standard conduction | electrical_connection state display screen. ワイヤーハーネス検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a wire harness inspection process. 導通状態表示画面示す図である。It is a figure which shows a conduction | electrical_connection state display screen. 従来のワイヤーハーネス検査装置を示す図である。It is a figure which shows the conventional wire harness inspection apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・・・ワイヤーハーネス検査装置
11・・・・・ワイヤーハーネス接続装置
21・・・・・コンピュータ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Wire harness inspection apparatus 11 ... Wire harness connection apparatus 21 ... Computer

Claims (12)

ワイヤーハーネスの第1のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第1のコネクタを接続する第1の接続手段、
前記ワイヤーハーネスの第2のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第2のコネクタを接続する第2の接続手段、
前記第1の接続手段に接続されている前記第1のコネクタ及び前記第2のコネクタに接続されている前記第2のコネクタに関する導通情報を取得する導通情報取得手段、
前記第1の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第1の分割情報及び前記第2の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第2の分割情報を取得する分割情報取得手段、
前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報を用いて前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査する導通検査手段、
を特徴とするワイヤーハーネス検査装置。
A first connector for connecting the first connector of the wire harness, the first connector having one or more pins;
A second connector for connecting the second connector of the wire harness, the second connector having one or more pins;
Continuity information acquisition means for acquiring continuity information regarding the first connector connected to the first connection means and the second connector connected to the second connector;
First division information for dividing the pins included in the first connection means into a predetermined number and second division information for dividing the pins included in the second connection means into a predetermined number are acquired. Division information acquisition means,
Continuity inspection means for inspecting a continuity state between the first connector and the second connector using the first division information and the second division information as the continuity information;
Wire harness inspection device characterized by.
請求項1に係るワイヤーハーネス検査装置において、さらに、
前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報に基づき分割した分割導通情報を生成する分割導通情報生成手段、
検査対象のワイヤーハーネスの前記第1のコネクタが接続されている前記第1の接続手段のピン、及び、前記第2のコネクタが接続されている前記第2の接続手段のピンに対応する分割導通情報を検査対象情報として、一の検査対象情報と、他の一の検査対象情報とを比較することによって、前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査する導通検査手段、
を特徴とするワイヤーハーネス検査装置。
In the wire harness inspection apparatus according to claim 1,
Divided conduction information generating means for generating divided conduction information obtained by dividing the conduction information based on the first division information and the second division information;
Split conduction corresponding to the pin of the first connection means to which the first connector of the wire harness to be inspected is connected and the pin of the second connection means to which the second connector is connected Continuity inspection for inspecting the continuity state between the first connector and the second connector by comparing one inspection object information with another inspection object information using information as inspection object information means,
Wire harness inspection device characterized by.
ワイヤーハーネスの第1のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第1のコネクタを接続する第1の接続手段、
前記ワイヤーハーネスの第2のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第2のコネクタを接続する第2の接続手段、
前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査する導通検査手段、
前記導通状態を画面上に表示する導通状態表示手段であって、前記第1のコネクタが有する各ピンと前記第2のコネクタが有する各ピンとの導通状態を同時に表示する導通状態表示手段、
を有するワイヤーハーネス検査装置。
A first connector for connecting the first connector of the wire harness, the first connector having one or more pins;
A second connector for connecting the second connector of the wire harness, the second connector having one or more pins;
Continuity inspection means for inspecting continuity between the first connector and the second connector;
Conduction state display means for displaying the conduction state on a screen, wherein the conduction state display means for simultaneously displaying the conduction state between each pin of the first connector and each pin of the second connector;
Wire harness inspection apparatus having
請求項3に係るワイヤーハーネス検査装置において、
前記導通状態表示手段は、
前記導通状態を表示するにあたって、前記第1のコネクタの前記ピンの配置を表示する第1のコネクタ表示領域と前記第2のコネクタの前記ピンの配置を表示する第2のコネクタ表示領域とを所定の間隔をおいて配置し、前記第1のコネクタが有する前記ピンと前記第2のコネクタが有する前記ピンとが導通している場合には、両ピン間を結んだ線を表示すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査装置。
In the wire harness inspection apparatus according to claim 3,
The conduction state display means includes
In displaying the conduction state, a first connector display area for displaying the pin arrangement of the first connector and a second connector display area for displaying the pin arrangement of the second connector are predetermined. When the pins of the first connector and the pins of the second connector are electrically connected, a line connecting the two pins is displayed.
Wire harness inspection device characterized by.
請求項4に係るワイヤーハーネス検査装置において、
前記導通状態表示手段は、
前記第1のコネクタが有する前記ピン間で導通している場合には、前記第1のコネクタ表示領域において、第2のコネクタ表示領域が表示されている側とは反対の側に、導通している前記ピン間を結んだ線を表示すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査装置。
In the wire harness inspection apparatus according to claim 4,
The conduction state display means includes
When the first connector has conduction between the pins, the first connector display area is electrically connected to the side opposite to the side where the second connector display area is displayed. Displaying a line connecting the pins,
Wire harness inspection device characterized by.
ワイヤーハーネスの第1のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第1のコネクタ及び前記ワイヤーハーネスの第2のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第2のコネクタとの間の導通状態を表示するワイヤーハーネス検査プログラムであって、
前記第1の接続手段に接続されている前記第1のコネクタ及び前記第2のコネクタに接続されている前記第2のコネクタに関する導通情報を取得し、
前記第1の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第1の分割情報及び前記第2の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第2の分割情報を取得し、
前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報を用いて前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査プログラム。
A first connector of a wire harness, between a first connector having one or more pins and a second connector of the wire harness, the second connector having one or more pins A wire harness inspection program for displaying a conduction state,
Obtaining continuity information about the first connector connected to the first connection means and the second connector connected to the second connector;
First division information for dividing the pins included in the first connection means into a predetermined number and second division information for dividing the pins included in the second connection means into a predetermined number are acquired. ,
Inspecting the conduction state between the first connector and the second connector using the first division information and the second division information for the conduction information;
Wire harness inspection program characterized by
請求項6に係るワイヤーハーネス検査プログラムにおいて、さらに、
前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報に基づき分割した分割導通情報を生成し、
検査対象のワイヤーハーネスの前記第1のコネクタが接続されている前記第1の接続手段のピン、及び、記第2のコネクタが接続されている前記第2の接続手段のピンに対応する分割導通情報を検査対象情報として、一の検査対象情報と、他の一の検査対象情報とを比較することによって、前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査プログラム。
In the wire harness inspection program according to claim 6,
Generating divided conduction information obtained by dividing the conduction information based on the first division information and the second division information;
Split conduction corresponding to the pin of the first connection means to which the first connector of the wire harness to be inspected is connected and the pin of the second connection means to which the second connector is connected Inspecting the electrical connection state between the first connector and the second connector by comparing one inspection target information with another inspection target information using information as inspection target information,
Wire harness inspection program characterized by
ワイヤーハーネスの第1のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第1のコネクタ及び前記ワイヤーハーネスの第2のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第2のコネクタとの間の導通状態を表示するワイヤーハーネス検査プログラムであって、
前記ワイヤーハーネス検査プログラムは、
前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態の検査結果を取得し、
取得した検査結果に基づき、前記第1のコネクタが有する各ピンと前記第2のコネクタが有する各ピンとの導通状態を画面上に同時に表示すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査プログラム。
A first connector of a wire harness, between a first connector having one or more pins and a second connector of the wire harness, the second connector having one or more pins A wire harness inspection program for displaying a conduction state,
The wire harness inspection program is
Obtaining a test result of the conduction state between the first connector and the second connector;
Based on the acquired inspection results, simultaneously displaying on the screen the conduction state between each pin of the first connector and each pin of the second connector;
Wire harness inspection program characterized by
請求項8に係るワイヤーハーネス検査プログラムにおいて、
前記導通状態を表示するにあたって、前記第1のコネクタの前記ピンの配置を表示する第1のコネクタ表示領域と前記第2のコネクタの前記ピンの配置を表示する第2のコネクタ表示領域とを所定の間隔をおいて配置し、前記第1のコネクタが有する前記ピンと前記第2のコネクタが有する前記ピンとが導通している場合には、両ピン間を結んだ線を表示すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査プログラム。
In the wire harness inspection program according to claim 8,
In displaying the conduction state, a first connector display area for displaying the pin arrangement of the first connector and a second connector display area for displaying the pin arrangement of the second connector are predetermined. When the pins of the first connector and the pins of the second connector are electrically connected, a line connecting the two pins is displayed.
Wire harness inspection program characterized by
請求項9に係るワイヤーハーネス検査プログラムにおいて、
前記第1のコネクタが有する前記ピン間で導通している場合には、前記第1のコネクタ表示領域において、第2のコネクタ表示領域が表示されている側とは反対の側に、導通している前記ピン間を結んだ線を表示すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査プログラム。
In the wire harness inspection program according to claim 9,
When the first connector has conduction between the pins, the first connector display area is electrically connected to the side opposite to the side where the second connector display area is displayed. Displaying a line connecting the pins,
Wire harness inspection program characterized by
コンピュータを用いて、ワイヤーハーネスの第1のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第1のコネクタ、及び、前記ワイヤーハーネスの第2のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第2のコネクタとの間の導通状態を表示するワイヤーハーネス検査方法であって、
前記コンピュータが、前記第1の接続手段に接続されている前記第1のコネクタ及び前記第2のコネクタに接続されている前記第2のコネクタに関する導通情報を取得し、
前記コンピュータが、前記第1の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第1の分割情報及び前記第2の接続手段が有するピンを所定の数に分割するための第2の分割情報を取得し、
前記コンピュータが、前記導通情報を前記第1の分割情報及び前記第2の分割情報を用いて前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態を検査すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査方法。
Using a computer, the first connector of the wire harness, the first connector having one or more pins, and the second connector of the wire harness, the first connector having one or more pins A wire harness inspection method for displaying a conduction state between two connectors,
The computer acquires continuity information regarding the first connector connected to the first connection means and the second connector connected to the second connector;
First division information for dividing the pins of the first connection means into a predetermined number and second division for dividing the pins of the second connection means into a predetermined number Get information,
The computer checks the conduction state between the first connector and the second connector using the first division information and the second division information for the conduction information;
Wire harness inspection method characterized by
コンピュータを用いて、ワイヤーハーネスの第1のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第1のコネクタ、及び、前記ワイヤーハーネスの第2のコネクタであって、一又は複数のピンを有する第2のコネクタとの間の導通状態を表示するワイヤーハーネス検査方法であって、
前記コンピュータが、前記第1のコネクタと前記第2のコネクタとの間の導通状態の検査結果を取得し、
前記コンピュータが、取得した検査結果に基づき、前記第1のコネクタが有する各ピンと前記第2のコネクタが有する各ピンとの導通状態を画面上に同時に表示すること、
を特徴とするワイヤーハーネス検査方法。
Using a computer, the first connector of the wire harness, the first connector having one or more pins, and the second connector of the wire harness, the first connector having one or more pins A wire harness inspection method for displaying a conduction state between two connectors,
The computer obtains a test result of a conduction state between the first connector and the second connector;
The computer simultaneously displays on a screen a conduction state between each pin of the first connector and each pin of the second connector based on the acquired inspection result;
Wire harness inspection method characterized by
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2391013A1 (en) * 2012-05-25 2012-11-20 Universidad De La Rioja Virtual tutorial emulator of electrical practices and emulator device of electrical, electronic and/or electromechanical circuit components for the same (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)
CN102788919A (en) * 2012-07-18 2012-11-21 友达光电(苏州)有限公司 Wire detecting device and wire detecting method
JP2015001488A (en) * 2013-06-18 2015-01-05 株式会社日立製作所 Method for checking electrical continuity and device for checking electrical continuity
KR20230030355A (en) * 2021-08-25 2023-03-06 주식회사 유라코퍼레이션 Guide apparatus and method for assembling wire

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06324103A (en) * 1993-05-14 1994-11-25 Ricoh Co Ltd Method for measuring signal cable
JPH06331676A (en) * 1993-05-19 1994-12-02 Nec Corp Circuit and method for detecting connection information
JPH10267980A (en) * 1997-03-25 1998-10-09 Advantest Corp Wiring inspection apparatus for multiple interconnection
JP2001041991A (en) * 1999-07-27 2001-02-16 Pfu Ltd Cable wiring discriminating device and cable type discriminating device
JP2001128323A (en) * 1999-10-27 2001-05-11 Hitachi Ltd Method and apparatus for cable wiring checking

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06324103A (en) * 1993-05-14 1994-11-25 Ricoh Co Ltd Method for measuring signal cable
JPH06331676A (en) * 1993-05-19 1994-12-02 Nec Corp Circuit and method for detecting connection information
JPH10267980A (en) * 1997-03-25 1998-10-09 Advantest Corp Wiring inspection apparatus for multiple interconnection
JP2001041991A (en) * 1999-07-27 2001-02-16 Pfu Ltd Cable wiring discriminating device and cable type discriminating device
JP2001128323A (en) * 1999-10-27 2001-05-11 Hitachi Ltd Method and apparatus for cable wiring checking

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2391013A1 (en) * 2012-05-25 2012-11-20 Universidad De La Rioja Virtual tutorial emulator of electrical practices and emulator device of electrical, electronic and/or electromechanical circuit components for the same (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)
CN102788919A (en) * 2012-07-18 2012-11-21 友达光电(苏州)有限公司 Wire detecting device and wire detecting method
JP2015001488A (en) * 2013-06-18 2015-01-05 株式会社日立製作所 Method for checking electrical continuity and device for checking electrical continuity
KR20230030355A (en) * 2021-08-25 2023-03-06 주식회사 유라코퍼레이션 Guide apparatus and method for assembling wire
KR102619664B1 (en) * 2021-08-25 2023-12-29 주식회사 유라코퍼레이션 Guide apparatus and method for assembling wire

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