JP2010032963A - Liquid crystal display element and method of manufacturing the same - Google Patents

Liquid crystal display element and method of manufacturing the same Download PDF

Info

Publication number
JP2010032963A
JP2010032963A JP2008197621A JP2008197621A JP2010032963A JP 2010032963 A JP2010032963 A JP 2010032963A JP 2008197621 A JP2008197621 A JP 2008197621A JP 2008197621 A JP2008197621 A JP 2008197621A JP 2010032963 A JP2010032963 A JP 2010032963A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating film
gate
drain
source
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008197621A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takayuki Iwasa
隆行 岩佐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Victor Company of Japan Ltd filed Critical Victor Company of Japan Ltd
Priority to JP2008197621A priority Critical patent/JP2010032963A/en
Publication of JP2010032963A publication Critical patent/JP2010032963A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display element in which shielding of leakage light made incident on a gap between pixel electrodes from the outside is improved, and to provide a method of manufacturing the same. <P>SOLUTION: A driving substrate 50 and a transparent substrate 60 are disposed so as to face each other with a liquid crystal LC therebetween. In the driving substrate 50, a switching element Tr1 is formed which includes a drain D1 and a source S1 provided apart from each other on a surface of a semiconductor substrate, and a gate insulating film 4 and a gate G1 laminated in order in a region between the drain and the source. A wiring layer 11 having first and second wiring patterns 10a and 10b connected to the drain D1 and the source S1 is formed over an insulating film 7 covering the switching element tr1. A pixel electrode 16 connected to the second wiring pattern 10b is formed above the wiring layer 11. The insulating film 7 includes a light-shielding layer 9 which covers the switching element Tr1 and is insulated from the wiring layer 11. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、外部から画素電極同士の間隙に入射した漏れ光に対する遮光性を改善する液晶表示素子及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a liquid crystal display element that improves the light shielding property against leakage light incident on the gap between pixel electrodes from the outside, and a method for manufacturing the same.

画像を大画面で高精細に表示できるディスプレイとして、プロジェクタやプロジェクションテレビ等の投射型の液晶表示装置が普及している。
投射型の液晶表示装置に用いられる液晶表示素子には、入射した光を透過させて入射した側とは反対側に出射する透過型の液晶表示素子と、入射した光を反射させて入射した側に出射する反射型の液晶表示素子とがある。
反射型の液晶表示素子は、透過型の液晶表示素子に比べて、開口率を低下させずに高い解像度を実現する上で有利な素子である。
Projection-type liquid crystal display devices such as projectors and projection televisions are widely used as displays capable of displaying images on a large screen with high definition.
The liquid crystal display element used in the projection type liquid crystal display device includes a transmissive liquid crystal display element that transmits incident light and emits the light to the opposite side, and a side on which incident light is reflected and incident. And a reflective liquid crystal display element that emits light.
The reflective liquid crystal display element is an element advantageous in realizing a high resolution without reducing the aperture ratio, as compared with the transmissive liquid crystal display element.

反射型の液晶表示素子は、所定の間隙を有して対向配置された駆動基板及び透明基板とこの所定の間隙に充填された液晶とを有して構成されている。
駆動基板は、反射型の画素電極及び液晶を駆動するためのMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)等のスイッチング素子がマトリクス状に複数配置された画素毎にそれぞれ形成されている。
The reflective liquid crystal display element is configured to include a driving substrate and a transparent substrate that are arranged to face each other with a predetermined gap, and a liquid crystal filled in the predetermined gap.
The drive substrate is formed for each pixel in which a plurality of switching elements such as a reflective pixel electrode and a MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor) for driving liquid crystal are arranged in a matrix.

しかしながら、反射型の液晶表示素子では、画素電極で反射されずに画素電極同士の間隙に入射する光があり、この光は画像に寄与しない漏れ光となる。そして、この漏れ光がスイッチング素子に入射するとスイッチング素子を誤動作させる場合がある。   However, in the reflection type liquid crystal display element, there is light that is incident on the gap between the pixel electrodes without being reflected by the pixel electrodes, and this light becomes leakage light that does not contribute to the image. When this leakage light enters the switching element, the switching element may malfunction.

そこで、この漏れ光を遮光するための手段の一例が特許文献1に開示されている。
特許文献1に開示されている液晶表示素子は、画素電極とスイッチング素子との間に漏れ光を遮光するための遮光膜を設けたものである。
特開2002−40482号公報
Therefore, an example of means for shielding the leaked light is disclosed in Patent Document 1.
The liquid crystal display element disclosed in Patent Document 1 is provided with a light shielding film for shielding leakage light between a pixel electrode and a switching element.
JP 2002-40482 A

しかしながら、特許文献1に開示されているような液晶表示素子では、遮光膜がないものに比べて漏れ光に対する遮光性は改善されるものの、遮光膜の間隙に入射した一部の漏れ光がスイッチング素子に達する場合があり、遮光性に対するさらなる改善が望まれている。   However, in the liquid crystal display element disclosed in Patent Document 1, the light shielding property against leakage light is improved as compared with the case without the light shielding film, but a part of the leakage light incident on the gap of the light shielding film is switched. There is a case where the device reaches the element, and further improvement of the light shielding property is desired.

そこで、本発明が解決しようとする課題は、外部から画素電極同士の間隙に入射した漏れ光に対する遮光性を改善する液晶表示素子及びその製造方法を提供することにある。   Accordingly, the problem to be solved by the present invention is to provide a liquid crystal display element and a method for manufacturing the liquid crystal display element that improve the light shielding property against leakage light incident on the gap between the pixel electrodes from the outside.

上記の課題を解決するために、本願発明は次の液晶表示素子及びその製造方法を提供する。
1)駆動基板(50)と、前記駆動基板に所定の間隙を有して対向配置された透明基板(60)と、前記所定の間隙に充填された液晶(LC)と、を備え、前記駆動基板は、半導体基板(1)と、前記半導体基板の表面に互いに離間して設けられたドレイン(D1)及びソース(S1),並びに前記ドレインと前記ソースとの間の前記表面に順次積層されたゲート絶縁膜(4)及びゲート(G1)を有するスイッチング素子(Tr1)と、前記スイッチング素子を覆う絶縁膜(9)と、前記絶縁膜上に設けられ、前記ドレインに接続された第1の配線パターン部(10a)、及び、前記ソースに接続された第2の配線パターン部(10b)を有する配線層(11)と、前記配線層の上方に設けられて前記第2の配線パターン部に接続された画素電極(16)と、を備え、前記絶縁膜は、前記スイッチング素子を覆い前記配線層とは絶縁された遮光層(9)を含むことを特徴とする液晶表示素子(100)。
2)駆動基板(50)と、前記駆動基板に所定の間隙を有して対向配置された透明基板(60)と、前記所定の間隙に充填された液晶(LC)と、を備え、前記駆動基板は、半導体基板(1)と、前記半導体基板の表面に互いに離間して設けられたドレイン(D1)及びソース(S1),並びに前記ドレインと前記ソースとの間の前記表面に順次積層されたゲート絶縁膜(4)及びゲート(G1)を有するスイッチング素子(Tr1)と、前記半導体基板の表面に前記スイッチング素子に離間して設けられた保持容量部(C1)と、前記スイッチング素子及び前記保持容量部を覆う第1の絶縁膜(7)と、前記第1の絶縁膜上に設けられ、前記ドレインに接続された第1の配線パターン部(10a)、並びに、前記ソース及び前記保持容量部に接続された第2の配線パターン部(10b)を有する第1の配線層(11)と、前記第1の配線層上に設けられた第2の絶縁膜(12)と、前記第2の絶縁膜上に設けられ、前記第2の配線パターン部に電気的に接続された第1の遮光パターン部(13b)、及び、前記第1の遮光パターン部に離間して配置された第2の遮光パターン部(13a)を有する第1の遮光層(14)と、前記第1の遮光層上に設けられた第3の絶縁膜(15)と、前記第3の絶縁膜上に設けられて前記第1の遮光パターン部に接続された画素電極(16)と、を備え、前記第1の絶縁膜は、前記スイッチング素子及び前記保持容量部を覆い前記第1の配線層とは絶縁された第2の遮光層(9)を含むことを特徴とする液晶表示素子(100)。
3)半導体基板(1)の表面にゲート絶縁膜(4)及びゲート(G1)を順次形成する第1のステップと、前記第1のステップの後に、前記半導体基板の表面上に、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲートを覆う第1の絶縁膜(25)を形成する第2のステップと、前記第2のステップの後に、前記第1の絶縁膜上に、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲートの近傍に互いに離間して配置された2つの開口部(27a,27b)を有する遮光層(9)を形成する第3のステップと、前記第3のステップの後に、前記遮光層をマスクにして前記2つの開口部から前記半導体基板にイオン注入を行って、前記2つの開口部の一方に対応する前記半導体基板の領域にドレイン(D1)を形成し、前記2つの開口部の他方に対応する前記半導体基板の領域にソース(S1)を形成することにより、前記ゲート絶縁膜,前記ゲート,前記ドレイン,及び前記ソースを有するスイッチング素子(Tr1)を形成する第4のステップと、前記第4のステップの後に、前記第1の絶縁膜上に、前記遮光層を覆う第2の絶縁膜(32)を形成する第5のステップと、前記第5のステップの後に、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜に、前記ドレインを露出させる第1の穴(34a)及び前記ソースを露出させる第2の穴(34b)を形成する第6のステップと、前記第6のステップの後に、前記第2の絶縁膜上に、前記第1の穴を埋めて前記ドレインに接続する第1の配線パターン部(10a)、及び、前記第2の穴を埋めて前記ソースに接続する第2の配線パターン部(10b)を有する配線層(11)を形成する第7のステップと、を備えた液晶表示素子(100)の製造方法。
4)半導体基板(1)の表面に、ゲート絶縁膜(4)及びゲート(G1)を順次形成すると共に前記ゲート絶縁膜及び前記ゲートに離間して保持容量部(C1)を形成する第1のステップと、前記第1のステップの後に、前記半導体基板の表面上に、前記ゲート絶縁膜,前記ゲート,及び前記保持容量部を覆う第1の絶縁膜(25)を形成する第2のステップと、前記第2のステップ後に、前記第1の絶縁膜上に、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲートの近傍に互いに離間して配置された第1の開口部(27a)及び第2の開口部(27b)を有すると共に前記保持容量部が形成されている領域に第3の開口部(27c)を有する遮光層(9)を形成する第3のステップと、前記第3のステップの後に、前記遮光層及び前記保持容量部をマスクにして前記第1の開口部乃至前記第3の開口部から前記半導体基板にイオン注入を行って、前記第1の開口部に対応する前記半導体基板の領域にドレイン(D1)を形成し、前記第2の開口部に対応する前記半導体基板の領域にソース(S1)を形成することにより、前記ゲート絶縁膜,前記ゲート,前記ドレイン,及び前記ソースを有するスイッチング素子(Tr1)を形成する第4のステップと、前記第4のステップの後に、前記第1の絶縁膜上に、前記遮光層を覆う第2の絶縁膜(32)を形成する第5のステップと、前記第5のステップの後に、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜に、前記ドレインを露出させる第1の穴(34a)、前記ソースを露出させる第2の穴(34b)、及び前記保持容量部を露出させる第3の穴(34c)を形成する第6のステップと、前記第6のステップの後に、前記第2の絶縁膜上に、前記第1の穴を埋めて前記ドレインに接続する第1の配線パターン部(10a)、及び、前記第2の穴を埋めて前記ソースに接続すると共に前記第3の穴を埋めて前記保持容量部に接続する第2の配線パターン部(10b)を有する配線層(11)を形成する第7のステップと、を備えた液晶表示素子(100)の製造方法。
In order to solve the above problems, the present invention provides the following liquid crystal display element and a method for manufacturing the same.
1) A driving substrate (50), a transparent substrate (60) disposed opposite to the driving substrate with a predetermined gap, and a liquid crystal (LC) filled in the predetermined gap, the driving The substrate was sequentially stacked on the semiconductor substrate (1), the drain (D1) and the source (S1) provided on the surface of the semiconductor substrate, and the surface between the drain and the source. A switching element (Tr1) having a gate insulating film (4) and a gate (G1), an insulating film (9) covering the switching element, and a first wiring provided on the insulating film and connected to the drain A wiring layer (11) having a pattern portion (10a) and a second wiring pattern portion (10b) connected to the source, and connected to the second wiring pattern portion provided above the wiring layer Drawn Comprising an electrode (16), wherein the insulating film, a liquid crystal display device wherein the said wiring layer covering the switching element, characterized in that it comprises a light shielding layer which is insulated (9) (100).
2) A drive substrate (50), a transparent substrate (60) disposed opposite to the drive substrate with a predetermined gap, and a liquid crystal (LC) filled in the predetermined gap, the drive The substrate was sequentially stacked on the semiconductor substrate (1), the drain (D1) and the source (S1) provided on the surface of the semiconductor substrate, and the surface between the drain and the source. A switching element (Tr1) having a gate insulating film (4) and a gate (G1), a storage capacitor portion (C1) provided on the surface of the semiconductor substrate and spaced from the switching element, the switching element and the holding A first insulating film (7) covering the capacitor portion; a first wiring pattern portion (10a) provided on the first insulating film and connected to the drain; and the source and the holding capacitor portion A first wiring layer (11) having a connected second wiring pattern portion (10b), a second insulating film (12) provided on the first wiring layer, and the second insulation A first light-shielding pattern portion (13b) provided on the film and electrically connected to the second wiring pattern portion, and a second light-shielding portion disposed separately from the first light-shielding pattern portion A first light shielding layer (14) having a pattern portion (13a), a third insulating film (15) provided on the first light shielding layer, and the third insulating film provided on the third insulating film; A pixel electrode (16) connected to the first light-shielding pattern portion, and the first insulating film covers the switching element and the storage capacitor portion and is insulated from the first wiring layer. A liquid crystal display element (100), comprising two light shielding layers (9).
3) A first step of sequentially forming a gate insulating film (4) and a gate (G1) on the surface of the semiconductor substrate (1), and the gate insulation on the surface of the semiconductor substrate after the first step. A second step of forming a first insulating film (25) covering the film and the gate; and after the second step, on the first insulating film, in the vicinity of the gate insulating film and the gate. A third step of forming a light shielding layer (9) having two openings (27a, 27b) arranged apart from each other; and after the third step, the two light shielding layers are used as a mask. Ion implantation is performed from the opening to the semiconductor substrate to form a drain (D1) in a region of the semiconductor substrate corresponding to one of the two openings, and the semiconductor substrate corresponding to the other of the two openings Source in the area Forming a switching element (Tr1) having the gate insulating film, the gate, the drain, and the source by forming S1), and after the fourth step, the first step A fifth step of forming a second insulating film (32) covering the light shielding layer on the insulating film, and after the fifth step, the first insulating film and the second insulating film are A sixth step of forming a first hole (34a) for exposing the drain and a second hole (34b) for exposing the source; and after the sixth step, on the second insulating film. And a first wiring pattern portion (10a) that fills the first hole and connects to the drain, and a second wiring pattern portion (10b) that fills the second hole and connects to the source. Form the wiring layer (11) Method of manufacturing a liquid crystal display device (100) comprising the steps of the seventh, the for.
4) A gate insulating film (4) and a gate (G1) are sequentially formed on the surface of the semiconductor substrate (1), and a storage capacitor portion (C1) is formed apart from the gate insulating film and the gate. And a second step of forming a first insulating film (25) covering the gate insulating film, the gate, and the storage capacitor portion on the surface of the semiconductor substrate after the first step. After the second step, a first opening (27a) and a second opening (27b) are disposed on the first insulating film and spaced apart from each other in the vicinity of the gate insulating film and the gate. ) And a light shielding layer (9) having a third opening (27c) in a region where the storage capacitor portion is formed, and after the third step, the light shielding layer And using the holding capacitor as a mask Then, ions are implanted into the semiconductor substrate from the first to third openings to form a drain (D1) in a region of the semiconductor substrate corresponding to the first opening, and the first Forming a source (S1) in the region of the semiconductor substrate corresponding to the opening of the second, thereby forming a switching element (Tr1) having the gate insulating film, the gate, the drain, and the source. After the step, after the fourth step, after the fifth step, a fifth step of forming a second insulating film (32) covering the light shielding layer on the first insulating film, In the first insulating film and the second insulating film, a first hole (34a) for exposing the drain, a second hole (34b) for exposing the source, and a first hole for exposing the storage capacitor portion. 3 holes (34 And a first wiring pattern portion (10a) that fills the first hole and connects to the drain on the second insulating film after the sixth step, A wiring layer (11) having a second wiring pattern portion (10b) filling the second hole and connecting to the source and filling the third hole and connecting to the storage capacitor portion is formed. A liquid crystal display element (100) comprising: a seventh step.

本発明に係る液晶表示素子及びその製造方法によれば、外部から画素電極同士の間隙に入射した漏れ光に対する遮光性を改善できるという効果を奏する。   According to the liquid crystal display element and the manufacturing method thereof according to the present invention, there is an effect that it is possible to improve the light shielding property against leakage light incident on the gap between the pixel electrodes from the outside.

本発明の実施の形態を、好ましい実施例により図1〜図12を用いて説明する。   The preferred embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS.

<実施例>
まず、本発明に係る液晶表示素子の実施例について図1〜図4を用いて説明する。図1は実施例の液晶表示素子の概略構成図である。
<Example>
First, an embodiment of a liquid crystal display element according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a liquid crystal display element of an embodiment.

図1に示すように、液晶表示素子100は、駆動基板50と、透明基板60と、フレキシブルプリント配線板70とを有して構成されている。   As shown in FIG. 1, the liquid crystal display element 100 includes a drive substrate 50, a transparent substrate 60, and a flexible printed wiring board 70.

駆動基板50は、シリコン(Si)基板等の半導体基板1の一面側(紙面手前側)の略中央部に設けられた画素領域A1と、画素領域A1の周囲に設けられたシフトレジスタ回路領域B1と、画素領域A1を囲うシール部40と、カウンタコンタクト部E1と、外部接続端子群F1とを有している。
カウンタコンタクト部E1は外部接続端子群F1の所定の端子に電気的に接続されている。
The drive substrate 50 includes a pixel region A1 provided at a substantially central portion on one side (front side of the paper) of a semiconductor substrate 1 such as a silicon (Si) substrate, and a shift register circuit region B1 provided around the pixel region A1. And a seal portion 40 surrounding the pixel region A1, a counter contact portion E1, and an external connection terminal group F1.
The counter contact portion E1 is electrically connected to a predetermined terminal of the external connection terminal group F1.

透明基板60は、ガラス基板61と、ガラス基板61における駆動基板50の画素領域A1と対向する面側(紙面奥側)に設けられてカウンタコンタクト部E1に電気的に接続された透明電極62とを有している。   The transparent substrate 60 includes a glass substrate 61, and a transparent electrode 62 provided on the glass substrate 61 on the side of the driving substrate 50 facing the pixel area A1 (the back side of the paper) and electrically connected to the counter contact portion E1. have.

駆動基板50と透明基板60とは、シール部40によって所定の間隙を有して接合されており、この所定の間隙には液晶LCが充填されている。   The drive substrate 50 and the transparent substrate 60 are joined with a predetermined gap by the seal portion 40, and the predetermined gap is filled with liquid crystal LC.

フレキシブルプリント配線板70は、シート状の基材71における駆動基板50の外部接続端子群F1と対向する面側(紙面奥側)に設けられて外部接続端子群F1にそれぞれ電気的に接続された出力端子群H1と、外部入力端子群K1と、出力端子群H1と外部入力端子群K1とを接続する配線群J1と、配線群J1を覆うカバー層72とを有している。
なお、図1では、外部入力端子群K1を出力端子群H1が設けられている面とは反対側の面(紙面手前側の面)に設けた構成として示しているが、これに限定されるものではなく、外部入力端子群K1を出力端子群H1と同じ面側に設けた構成としてもよい。
The flexible printed wiring board 70 is provided on the surface side (the back side of the paper) of the drive substrate 50 of the sheet-like base material 71 facing the external connection terminal group F1 and electrically connected to the external connection terminal group F1. The output terminal group H1, the external input terminal group K1, the wiring group J1 that connects the output terminal group H1 and the external input terminal group K1, and the cover layer 72 that covers the wiring group J1.
In FIG. 1, the external input terminal group K1 is shown as a configuration provided on the surface opposite to the surface on which the output terminal group H1 is provided (the surface on the front side of the paper), but the configuration is limited to this. Instead, the external input terminal group K1 may be provided on the same surface side as the output terminal group H1.

次に、駆動基板50について、図2を用いて詳細に説明する。図2は、実施例の液晶表示素子100における駆動基板50を説明するための模式図である。なお、説明をわかりやすくするために図1と同じ構成部には同じ符号を付す。
また、図2では画素電極の配列を一例として3行3列で表しているが、これに限定されるものではない。
Next, the drive substrate 50 will be described in detail with reference to FIG. FIG. 2 is a schematic diagram for explaining the drive substrate 50 in the liquid crystal display element 100 of the embodiment. For the sake of clarity, the same components as those in FIG.
In FIG. 2, the pixel electrode array is represented by 3 rows and 3 columns as an example, but the present invention is not limited to this.

図2に示すように、駆動基板50は、画素領域A1に、反射型の画素電極16,MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)等のスイッチング素子Tr1,及び保持容量部C1が、マトリクス状に複数配置された画素毎にそれぞれ形成されている。
また、駆動基板50は、図1のシフトレジスタ回路領域B1に、図2の垂直シフトレジスタ回路部42及び水平シフトレジスタ回路部43が形成されている。
As shown in FIG. 2, the drive substrate 50 includes a reflective pixel electrode 16, a switching element Tr1 such as a MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor), and a storage capacitor C1 in a matrix in a pixel region A1. Each pixel is formed in a plurality.
Further, the drive substrate 50 has the vertical shift register circuit portion 42 and the horizontal shift register circuit portion 43 shown in FIG. 2 formed in the shift register circuit region B1 shown in FIG.

スイッチング素子Tr1は、ゲートG1がゲート線Lgを介して垂直シフトレジスタ回路部42に接続されており、ドレインD1が信号線Lsを介してビデオスイッチ45に接続されており、ソースS1が画素電極16と保持容量部C1の一側(後述する上電極5)とに接続されている。   In the switching element Tr1, the gate G1 is connected to the vertical shift register circuit section 42 via the gate line Lg, the drain D1 is connected to the video switch 45 via the signal line Ls, and the source S1 is the pixel electrode 16 And one side (an upper electrode 5 to be described later) of the storage capacitor C1.

ビデオスイッチ45は、画像信号が入力されるビデオ線Lvと水平シフトレジスタ回路部43とに接続されている。   The video switch 45 is connected to the video line Lv to which the image signal is input and the horizontal shift register circuit unit 43.

次に、液晶表示素子100の駆動方法について、同じく図2を用いて説明する。
垂直シフトレジスタ回路部42と水平シフトレジスタ回路部43とを同期させながら、スイッチング素子Tr1のゲートG1を画素毎に順次オンしていくことにより、ビデオ線Lvを介して出力された画像信号を画素毎に、保持容量部C1に電荷として蓄積すると共に画像信号に応じた電圧が画素電極16を介して液晶LCに印加される。
液晶LCは印加された電圧に応じて偏向する。光源から液晶表示素子100に照射された光は画素毎に偏向している液晶LCによって変調され、画素電極16で反射されてスクリーン等に画像として表示される。
1フレーム期間中は画像信号に応じた電荷が保持容量部C1に蓄積されているため、液晶LCには1フレーム期間中、画素毎に一定の電圧が印加される。
上記動作をフレーム毎に繰り返し行うことにより動画として表示することができる。
Next, a method for driving the liquid crystal display element 100 will be described with reference to FIG.
By sequentially turning on the gate G1 of the switching element Tr1 for each pixel while synchronizing the vertical shift register circuit unit 42 and the horizontal shift register circuit unit 43, an image signal output via the video line Lv is converted into a pixel. Every time, it accumulates as a charge in the storage capacitor C1, and a voltage corresponding to the image signal is applied to the liquid crystal LC via the pixel electrode 16.
The liquid crystal LC is deflected according to the applied voltage. The light emitted from the light source to the liquid crystal display element 100 is modulated by the liquid crystal LC deflected for each pixel, reflected by the pixel electrode 16 and displayed as an image on a screen or the like.
Since charges corresponding to image signals are accumulated in the storage capacitor C1 during one frame period, a constant voltage is applied to the liquid crystal LC for each pixel during one frame period.
By repeating the above operation for each frame, it can be displayed as a moving image.

次に、液晶表示素子100の1画素単位の構成について、図3を用いて詳細に説明する。図3は液晶表示素子100の1画素単位の構成を説明するための模式的断面図である。なお、説明をわかりやすくするために図1及び図2と同じ構成部には同じ符号を付す。   Next, the configuration of the pixel unit of the liquid crystal display element 100 will be described in detail with reference to FIG. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view for explaining the configuration of one pixel unit of the liquid crystal display element 100. In order to make the description easy to understand, the same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals.

図3に示すように、液晶表示素子100は、駆動基板50と、この駆動基板50に所定の間隙を有して対向配置された透明基板60と、上記所定の間隙に充填された液晶LCとを有して構成されている。   As shown in FIG. 3, the liquid crystal display element 100 includes a drive substrate 50, a transparent substrate 60 disposed opposite to the drive substrate 50 with a predetermined gap, and a liquid crystal LC filled in the predetermined gap. It is comprised.

駆動基板50は、シリコン(Si)基板等の半導体基板1の表面にウエル2が形成されている。
ウエル2には、スイッチング素子Tr1のドレインD1及びソースS1と、保持容量部C1の下電極3とが形成されている。
ドレインD1とソースS1との間の半導体基板1の表面上にはスイッチング素子Tr1のゲート絶縁膜4とゲートG1とが順次積層されており、保持容量部C1の下電極3上には後述する第1の絶縁膜7a及び上電極5が順次形成されている。
スイッチング素子Tr1と保持容量部C1とはフィールド酸化膜6a,6bによって絶縁されている。
The drive substrate 50 has a well 2 formed on the surface of a semiconductor substrate 1 such as a silicon (Si) substrate.
In the well 2, the drain D1 and the source S1 of the switching element Tr1 and the lower electrode 3 of the storage capacitor C1 are formed.
A gate insulating film 4 and a gate G1 of the switching element Tr1 are sequentially stacked on the surface of the semiconductor substrate 1 between the drain D1 and the source S1, and a later-described second electrode 3 is formed on the lower electrode 3 of the storage capacitor C1. One insulating film 7a and the upper electrode 5 are sequentially formed.
The switching element Tr1 and the storage capacitor C1 are insulated by the field oxide films 6a and 6b.

また、半導体基板1上には第1の絶縁膜7が形成されており、第1の絶縁膜7内には、所定の領域を残して、スイッチング素子Tr1,保持容量部C1,及びフィールド酸化膜6a,6bを覆うように第1の遮光層9が形成されている。
第1の絶縁膜7と第1の遮光層9とを互いに屈折率の異なる材料で構成することにより、この屈折率の差を利用して第1の絶縁膜7と第1の遮光層9との界面で漏れ光を反射させることができる。
Further, a first insulating film 7 is formed on the semiconductor substrate 1, and the switching element Tr 1, the storage capacitor C 1, and the field oxide film are left in the first insulating film 7, leaving a predetermined region. A first light shielding layer 9 is formed so as to cover 6a and 6b.
By constituting the first insulating film 7 and the first light shielding layer 9 with materials having different refractive indexes, the first insulating film 7 and the first light shielding layer 9 are utilized by utilizing the difference in refractive index. The leakage light can be reflected at the interface.

保持容量部C1は、下電極3,上電極5,及び下電極3と上電極5との間に介在する第1の絶縁膜7aにより構成されている。   The storage capacitor portion C1 is composed of the lower electrode 3, the upper electrode 5, and the first insulating film 7a interposed between the lower electrode 3 and the upper electrode 5.

第1の絶縁膜7上には、第1の絶縁膜7を貫通してスイッチング素子Tr1のドレインD1に接続する第1の配線パターン部10aと、第1の絶縁膜7を貫通してスイッチング素子Tr1のソースS1及び保持容量部C1の上電極5に接続する第2の配線パターン部10bと、を有する第1の配線層11が形成されている。   On the first insulating film 7, a first wiring pattern portion 10a that penetrates the first insulating film 7 and connects to the drain D1 of the switching element Tr1, and a switching element that penetrates the first insulating film 7 A first wiring layer 11 having a source S1 of Tr1 and a second wiring pattern portion 10b connected to the upper electrode 5 of the storage capacitor portion C1 is formed.

第1の配線層11上には、第2の絶縁膜12が形成されている。
第2の絶縁膜12上には、所定の領域を残して形成された第1の遮光パターン部13aと、この所定の領域に第1の遮光パターン部13aと離間して設けられ、第2の絶縁膜12を貫通して第2の配線パターン部10bに電気的に接続された第2の遮光パターン部13bと、を有する第2の遮光層14が形成されている。
A second insulating film 12 is formed on the first wiring layer 11.
On the second insulating film 12, a first light-shielding pattern portion 13a formed so as to leave a predetermined region, and provided in the predetermined region so as to be separated from the first light-shielding pattern portion 13a, A second light shielding layer 14 having a second light shielding pattern portion 13b penetrating the insulating film 12 and electrically connected to the second wiring pattern portion 10b is formed.

上述した第1の遮光層9,第1の配線層11,及び第2の遮光層14は、外部から画素電極16同士の間隙に入射した画像に寄与しない漏れ光を遮光する層である。   The first light shielding layer 9, the first wiring layer 11, and the second light shielding layer 14 described above are layers that shield leakage light that does not contribute to an image incident on the gap between the pixel electrodes 16 from the outside.

第2の遮光層14上には、第3の絶縁膜15が形成されている。
第3の絶縁膜15上には、第3の絶縁膜15を貫通して第2の遮光パターン部13bに電気的に接続する反射型の画素電極16が形成されている。
A third insulating film 15 is formed on the second light shielding layer 14.
On the third insulating film 15, a reflective pixel electrode 16 that penetrates the third insulating film 15 and is electrically connected to the second light shielding pattern portion 13 b is formed.

上述したスイッチング素子Tr1,保持容量部C1,及び画素電極16は、画素領域A1(図1参照)にマトリクス状に複数配置された画素毎にそれぞれ設けられている。   The switching element Tr1, the storage capacitor C1, and the pixel electrode 16 described above are provided for each pixel arranged in a matrix in the pixel region A1 (see FIG. 1).

透明基板60は、ガラス基板61と、このガラス基板61における駆動基板50の画素電極16と対向する面側に設けられた透明電極62とを有している。   The transparent substrate 60 includes a glass substrate 61 and a transparent electrode 62 provided on the surface of the glass substrate 61 facing the pixel electrode 16 of the drive substrate 50.

ここで、上述した液晶表示素子100において外部から画素電極同士の間隙に入射した漏れ光に対する遮光性について、図3と共に図4を用いて説明する。図4は液晶表示素子100の画素電極同士の間隙に入射した漏れ光に対する遮光性を説明するための図であり、液晶表示素子100における第1の遮光層9側からスイッチング素子Tr1及び保持容量部C1を透視した透視図である。   Here, with reference to FIG. 4 together with FIG. 3, a description will be given of the light shielding property against leakage light incident on the gap between the pixel electrodes from the outside in the liquid crystal display element 100 described above. FIG. 4 is a diagram for explaining the light shielding property against leakage light incident on the gap between the pixel electrodes of the liquid crystal display element 100. The switching element Tr1 and the storage capacitor portion from the first light shielding layer 9 side in the liquid crystal display element 100 are illustrated. It is the perspective view which saw through C1.

図3に示すように、外部から画素電極16同士の間隙に入射した漏れ光Loは、画素電極16と第2の遮光層14とを交互に反射しながら第3の絶縁膜15によって徐々に減衰されていく。
また、減衰された漏れ光Loの一部が第2の遮光層14の第4の遮光パターン部13aと第5の遮光パターン部13bとの間隙に入射する場合がある。
第4の遮光パターン部13aと第5の遮光パターン部13bとの間隙に入射した漏れ光Loは第2の遮光層14と第1の配線層11とを交互に反射しながら第2の絶縁膜12によってさらに減衰される。
As shown in FIG. 3, the leakage light Lo incident on the gap between the pixel electrodes 16 from the outside is gradually attenuated by the third insulating film 15 while alternately reflecting the pixel electrodes 16 and the second light shielding layer 14. It will be done.
In addition, a part of the attenuated leakage light Lo may enter the gap between the fourth light shielding pattern portion 13a and the fifth light shielding pattern portion 13b of the second light shielding layer 14.
The leakage light Lo incident on the gap between the fourth light-shielding pattern portion 13a and the fifth light-shielding pattern portion 13b is reflected on the second light-shielding layer 14 and the first wiring layer 11 alternately, while the second insulating film. 12 further attenuates.

また、減衰された漏れ光Loの一部が第1の配線層11の第1の配線パターン部10aと第2の配線パターン部10bとの間隙に入射する場合がある。
しかしながら、図4に示すように、第1の遮光層9が、スイッチング素子Tr1のドレインD1,ソースS1及び保持容量部C1の上電極5と第1の配線層11(第1,第2の配線パターン部10a,10b)との接続領域及びその周辺の領域以外の領域を覆っているため、第1の配線パターン部10aと第2の配線パターン部10bとの間隙に入射した漏れ光Loをこの第1の遮光層9で遮光することができる。
In addition, part of the attenuated leakage light Lo may enter the gap between the first wiring pattern portion 10a and the second wiring pattern portion 10b of the first wiring layer 11.
However, as shown in FIG. 4, the first light shielding layer 9 includes the drain D1, source S1 of the switching element Tr1, the upper electrode 5 of the storage capacitor C1, and the first wiring layer 11 (first and second wirings). Since the region other than the connection region with the pattern portions 10a and 10b) and the surrounding region is covered, the leakage light Lo incident on the gap between the first wiring pattern portion 10a and the second wiring pattern portion 10b The first light shielding layer 9 can shield light.

次に、本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例について、図5〜図11を用いて説明する。図5〜図11は、本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例を説明するための模式的断面図であり、各図はその製造過程をそれぞれ示すものである。   Next, the Example of the manufacturing method of the liquid crystal display element which concerns on this invention is described using FIGS. 5 to 11 are schematic cross-sectional views for explaining an embodiment of the manufacturing method of the liquid crystal display element according to the present invention, and each drawing shows the manufacturing process.

まず、図5に示すように、シリコン(Si)基板等の半導体基板1の表面に、ウエル2、フィールド酸化膜6a,6b、及び保持容量部C1の下電極3を周知の半導体プロセスにより形成する。   First, as shown in FIG. 5, a well 2, field oxide films 6a and 6b, and a lower electrode 3 of a storage capacitor portion C1 are formed on the surface of a semiconductor substrate 1 such as a silicon (Si) substrate by a known semiconductor process. .

次に、図6に示すように、ウエル2上に、フィールド酸化膜6a,6bが形成されている領域を残してゲート絶縁膜4を形成し、ゲート絶縁膜4の所定の領域上にゲートG1を形成し、下電極3を覆うように保護膜20を形成する。これらゲート絶縁膜4,ゲートG1,及び保護膜20は周知の半導体プロセスにより形成することができる。
実施例では、ゲート絶縁膜4としてシリコン酸化膜を用い、ゲートG1及び保護膜20の材料として導電性のポリシリコンを用いた。
Next, as shown in FIG. 6, the gate insulating film 4 is formed on the well 2 while leaving the region where the field oxide films 6 a and 6 b are formed, and the gate G 1 is formed on a predetermined region of the gate insulating film 4. The protective film 20 is formed so as to cover the lower electrode 3. The gate insulating film 4, the gate G1, and the protective film 20 can be formed by a known semiconductor process.
In the embodiment, a silicon oxide film is used as the gate insulating film 4, and conductive polysilicon is used as a material for the gate G 1 and the protective film 20.

次に、図7に示すように、上述の工程を経た半導体基板1に、フィールド酸化膜6a,6b、ゲートG1、及び保護膜20をマスクしてイオン注入を行い、第1の低濃度拡散領域22及び第2の低濃度拡散領域23をゲートG1近傍のウエル2に形成する。   Next, as shown in FIG. 7, ion implantation is performed on the semiconductor substrate 1 that has undergone the above-described process by masking the field oxide films 6 a and 6 b, the gate G <b> 1, and the protective film 20, thereby 22 and the second low-concentration diffusion region 23 are formed in the well 2 near the gate G1.

次に、図8に示すように、保護膜20を除去した後、ゲートG1をマスクとしてゲート絶縁膜4をエッチングする。これにより、ゲートG1が形成されている領域のゲート絶縁膜4がエッチングされずに残る。
その後、上記工程を経た半導体基板1上に上電極5及び絶縁膜25を形成し、絶縁膜25上に、絶縁膜25を露出させる開口部27a,27b,27cを有する第1の遮光層9を形成する。
絶縁膜25及び第1の遮光層9は周知の半導体プロセスにより形成することができる。
実施例では、絶縁膜25としてシリコン酸化膜を用い、第1の遮光層9の材料として導電性のポリシリコンを用いた。
Next, as shown in FIG. 8, after removing the protective film 20, the gate insulating film 4 is etched using the gate G1 as a mask. Thereby, the gate insulating film 4 in the region where the gate G1 is formed remains without being etched.
Thereafter, the upper electrode 5 and the insulating film 25 are formed on the semiconductor substrate 1 that has undergone the above steps, and the first light-shielding layer 9 having openings 27a, 27b, and 27c that expose the insulating film 25 is formed on the insulating film 25. Form.
The insulating film 25 and the first light shielding layer 9 can be formed by a known semiconductor process.
In the embodiment, a silicon oxide film is used as the insulating film 25, and conductive polysilicon is used as the material of the first light shielding layer 9.

次に、図9に示すように、上述の工程を経た半導体基板1に、第1の遮光層9をマスクしてイオン注入(LDD注入)を行い、第1の高濃度拡散領域29及び第2の高濃度拡散領域30を形成する。
これにより、第1の低濃度拡散領域22及び第1の高濃度拡散領域29からなるドレインD1と、第2の低濃度拡散領域23及び第1の高濃度拡散領域29からなるソースS1と、ゲート絶縁膜4と、ゲートG1とを有するスイッチング素子Tr1(図3参照)が形成される。
Next, as shown in FIG. 9, ion implantation (LDD implantation) is performed on the semiconductor substrate 1 that has undergone the above-described steps, with the first light shielding layer 9 masked, and the first high-concentration diffusion region 29 and the second The high concentration diffusion region 30 is formed.
Accordingly, the drain D1 composed of the first low concentration diffusion region 22 and the first high concentration diffusion region 29, the source S1 composed of the second low concentration diffusion region 23 and the first high concentration diffusion region 29, and the gate. A switching element Tr1 (see FIG. 3) having the insulating film 4 and the gate G1 is formed.

上述したように、第1の遮光層9は、画素電極16(図3参照)同士の間隙に入射した漏れ光を遮光する機能を有すると共に、スイッチング素子Tr1のドレインD1及びソースS1を形成するためのイオン注入用マスクとしての機能も有する。   As described above, the first light shielding layer 9 has a function of shielding the leakage light incident on the gap between the pixel electrodes 16 (see FIG. 3), and forms the drain D1 and the source S1 of the switching element Tr1. It also has a function as a mask for ion implantation.

次に、図10に示すように、上述の工程を経た半導体基板1上に絶縁膜32を形成する。実施例では、絶縁膜32としてシリコン酸化膜を用いた。
これにより、2層の絶縁膜25,32からなる第1の絶縁膜7が形成される。また、下電極3,上電極5,及び下電極3と上電極5との間に介在する第1の絶縁膜7aにより保持容量部C1(図3参照)が形成される。
その後、第1の絶縁膜7に、ドレインD1を露出させる第1の穴部34a,ソースS1を露出させる第2の穴部34b,及び上電極5を露出させる第3の穴部34cを形成する。
第1〜第3の穴部34a〜34cは、フォトリソグラフィ及びエッチングにより形成することができる。
Next, as shown in FIG. 10, an insulating film 32 is formed on the semiconductor substrate 1 that has undergone the above-described steps. In the embodiment, a silicon oxide film is used as the insulating film 32.
As a result, the first insulating film 7 composed of the two insulating films 25 and 32 is formed. Further, the storage capacitor C1 (see FIG. 3) is formed by the lower electrode 3, the upper electrode 5, and the first insulating film 7a interposed between the lower electrode 3 and the upper electrode 5.
Thereafter, a first hole 34a for exposing the drain D1, a second hole 34b for exposing the source S1, and a third hole 34c for exposing the upper electrode 5 are formed in the first insulating film 7. .
The first to third holes 34a to 34c can be formed by photolithography and etching.

次に、図11に示すように、第1の絶縁膜7上に、ドレインD1に接続する第1の配線パターン部10aと、ソースS1及び上電極5に接続する第2の配線パターン部10bとを有する第1の配線層11を形成する。   Next, as shown in FIG. 11, a first wiring pattern portion 10a connected to the drain D1 and a second wiring pattern portion 10b connected to the source S1 and the upper electrode 5 are formed on the first insulating film 7. A first wiring layer 11 is formed.

その後、上述の工程を経た半導体基板1上に、第2の絶縁膜12,第2の遮光層14,第3の絶縁膜15,及び画素電極16を、周知の半導体プロセスにより順次形成することによって駆動基板50(図3参照)を得る。
そして、この駆動基板50と透明基板60とを所定の間隙を有してシール部40で接合し、上記所定の間隙に液晶LCを充填することにより、図3に示す液晶表示素子100を得る。
Thereafter, the second insulating film 12, the second light shielding layer 14, the third insulating film 15, and the pixel electrode 16 are sequentially formed on the semiconductor substrate 1 that has undergone the above-described processes by a known semiconductor process. A drive substrate 50 (see FIG. 3) is obtained.
Then, the driving substrate 50 and the transparent substrate 60 are joined to each other by a seal portion 40 with a predetermined gap, and the liquid crystal LC is filled in the predetermined gap, thereby obtaining the liquid crystal display element 100 shown in FIG.

上述した液晶表示素子100によれば、外部から画素電極16同士の間隙に入射した画像に寄与しない漏れ光Loが第1の配線層11の間隙に入射した場合においても、スイッチング素子Tr1及び保持容量部C1を覆う第1の遮光層9によって遮光することができるので、従来よりも遮光性を向上させることができる。
上述したように、スイッチング素子Tr1や保持容量部C1への漏れ光Loに対する遮光性が向上するため、画素電極の電位変動が小さくなり、フリッカー,クロストーク,及びストリーキング等の表示特性を改善することができる。
According to the liquid crystal display element 100 described above, even when the leakage light Lo that does not contribute to the image incident on the gap between the pixel electrodes 16 from the outside is incident on the gap of the first wiring layer 11, the switching element Tr <b> 1 and the storage capacitor. Since the light can be shielded by the first light shielding layer 9 covering the portion C1, the light shielding property can be improved as compared with the conventional case.
As described above, since the light shielding property against the leakage light Lo to the switching element Tr1 and the storage capacitor C1 is improved, the potential fluctuation of the pixel electrode is reduced, and display characteristics such as flicker, crosstalk, and streaking are improved. Can do.

ところで、スイッチング素子におけるドレインとウエルとの接合領域及びドレインとウエルとの接合領域がフォトダイオードとして機能するため、この領域に漏れ光が入射するとその光量に応じてリーク電流が発生する。
そのため、従来では、リーク電流による画素電極の電圧降下分を十分に緩和するためには保持容量部の面積をできるだけ広くする必要があった。
そこで、上述した液晶表示素子100によれば、図4に示したようにスイッチング素子のドレインとソースとの間のウエルの領域を第1の遮光層9で覆う構成としたので、リーク電流の発生を抑制することができる。これにより、保持容量部の面積を小さくすることができ、画素の小型化や高密度化が可能になる。
By the way, since the junction region between the drain and the well and the junction region between the drain and the well in the switching element function as a photodiode, when leak light enters the region, a leak current is generated according to the amount of light.
For this reason, conventionally, in order to sufficiently reduce the voltage drop of the pixel electrode due to the leak current, it is necessary to make the area of the storage capacitor portion as large as possible.
Therefore, according to the liquid crystal display element 100 described above, since the well region between the drain and source of the switching element is covered with the first light shielding layer 9 as shown in FIG. Can be suppressed. Thereby, the area of the storage capacitor portion can be reduced, and the size and density of the pixel can be reduced.

また、上述した液晶表示素子の製造方法によれば、第1の遮光層9をマスクとしてスイッチング素子Tr1のドレインD1及びソースS1を形成することができるので、ドレインD1及びソースS1を形成するためのマスクを別に形成する必要がなくなるため、生産性を向上させることができる。   In addition, according to the above-described method for manufacturing a liquid crystal display element, the drain D1 and the source S1 of the switching element Tr1 can be formed using the first light shielding layer 9 as a mask, so that the drain D1 and the source S1 are formed. Since it is not necessary to form a mask separately, productivity can be improved.

本発明の実施例は、上述した構成及び手順に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において変形例としてもよいのは言うまでもない。   The embodiment of the present invention is not limited to the configuration and procedure described above, and it goes without saying that modifications may be made without departing from the scope of the present invention.

ここで、画像信号を電荷として蓄積する保持容量部C1の変形例について、図3と共に図12を用いて説明する。図12は実施例の液晶表示素子における保持容量部の変形例を説明するための模式図であり図2に対応するものである。   Here, a modified example of the storage capacitor portion C1 that accumulates image signals as electric charges will be described with reference to FIG. 12 together with FIG. FIG. 12 is a schematic diagram for explaining a modified example of the storage capacitor portion in the liquid crystal display element of the embodiment, and corresponds to FIG.

例えば、図3に示す第1の遮光層9を導電性材料により形成し、この第1の遮光層9と上電極5との間に所定の電圧を印加することにより、図12に示すように、第1の遮光層9,上電極5,及び第1の遮光層9と上電極5との間に介在する第1の絶縁膜7bは、前述した保持容量部C1に並列接続された他の保持容量部C2として機能する。
これにより、2つの保持容量部C1,C2で電荷を蓄積することができるので、実施例よりもさらに保持容量部C1,C2の面積を小さくすることができ、さらなる画素の小型化、高密度化が図れる。
For example, the first light shielding layer 9 shown in FIG. 3 is formed of a conductive material, and a predetermined voltage is applied between the first light shielding layer 9 and the upper electrode 5 as shown in FIG. The first light-shielding layer 9, the upper electrode 5, and the first insulating film 7b interposed between the first light-shielding layer 9 and the upper electrode 5 are connected in parallel to the storage capacitor C1 described above. It functions as the storage capacitor C2.
As a result, charges can be accumulated in the two storage capacitor portions C1 and C2, so that the area of the storage capacitor portions C1 and C2 can be further reduced as compared with the embodiment, and the pixels can be further reduced in size and density. Can be planned.

また、実施例では、第1の遮光層9の材料として導電性のポリシリコンを用いたがこれに限定されるものではない。
例えば、ポリシリコンに替えてタングステンポリサイドやチタンポリサイドを用いることができる。
タングステンポリサイドは、ポリシリコン膜及びタングステン膜を順次成膜した後、これらポリシリコン膜及びタングステン膜を例えば800℃の熱処理で合金化させることによって形成することができる。
チタンポリサイドは、ポリシリコン膜及びチタン膜を順次成膜した後、これらポリシリコン膜及びチタン膜を例えば800℃の熱処理で合金化させることによって形成することができる。
タングステンポリサイドやチタンポリサイドは膜の上面(漏れ光が入射する側の面)が合金化されているため、ポリシリコン膜のみの場合よりも第1の遮光層9の遮光性をさらに向上させることができる。
また、第1の遮光層9の材料としてポリシリコンに替えてアルミニウム(Al)等の金属やその合金を用いることができる。
一般的に、金属及びその合金は、ポリシリコン,タングステンポリサイド,及びチタンポリサイドよりも遮光性に優れるので、これらよりも第1の遮光層9の遮光性をさらに向上させることができる。
発明者が鋭意実験した結果、アルミニウム膜の厚さを200nm以上とすることにより、アルミニウム膜の透過率を0.1%以下にできることを見出した。
In the embodiment, conductive polysilicon is used as the material of the first light shielding layer 9, but the present invention is not limited to this.
For example, tungsten polycide or titanium polycide can be used instead of polysilicon.
The tungsten polycide can be formed by sequentially forming a polysilicon film and a tungsten film and then alloying the polysilicon film and the tungsten film by a heat treatment at 800 ° C., for example.
The titanium polycide can be formed by sequentially forming a polysilicon film and a titanium film, and then alloying the polysilicon film and the titanium film by heat treatment at 800 ° C., for example.
Since tungsten polycide and titanium polycide are alloyed on the upper surface of the film (the surface on which leakage light is incident), the light shielding property of the first light shielding layer 9 is further improved as compared with the case of using only the polysilicon film. be able to.
Further, instead of polysilicon, a metal such as aluminum (Al) or an alloy thereof can be used as the material of the first light shielding layer 9.
In general, metal and its alloy are more excellent in light shielding than polysilicon, tungsten polycide, and titanium polycide, so that the light shielding property of the first light shielding layer 9 can be further improved.
As a result of intensive experiments by the inventors, it was found that the transmittance of the aluminum film can be reduced to 0.1% or less by setting the thickness of the aluminum film to 200 nm or more.

また、実施例では、液晶表示素子を製造する際、下電極3上のゲート酸化膜4を除去したがこれに限定されるものではなく、下電極3上のゲート絶縁膜4を残し、このゲート絶縁膜4上に上電極5を形成することにより、保持容量部を、下電極3,ゲート絶縁膜4,及び上電極5を有する構成としてもよい。   In the embodiment, when the liquid crystal display element is manufactured, the gate oxide film 4 on the lower electrode 3 is removed. However, the present invention is not limited to this. By forming the upper electrode 5 on the insulating film 4, the storage capacitor portion may include the lower electrode 3, the gate insulating film 4, and the upper electrode 5.

また、実施例では、液晶表示素子を製造する際、保護膜20を除去したがこれに限定されるものではなく、保護膜20を除去せずにこの保護膜20を保持容量部の上電極としてもよい。   In the embodiment, when the liquid crystal display element is manufactured, the protective film 20 is removed. However, the present invention is not limited to this, and the protective film 20 is used as the upper electrode of the storage capacitor portion without removing the protective film 20. Also good.

第1の絶縁膜7,第2の絶縁膜12,及び第3の絶縁膜15の厚さは特に限定しないが、第1の遮光層9と第1の配線層11との間に介在する第1の絶縁膜7の厚さ及び第1の遮光層9と上電極5との間に介在する第1の絶縁膜7の厚さを、光の3原色(RGB)のうちで最も波長の短い青色(B)光の波長よりも薄く(例えば400nm以下)することが望ましい。
これにより、第1の遮光層9の間隙に入射した極僅かの漏れ光を第1の絶縁膜7でさらに減衰させることができる。
The thicknesses of the first insulating film 7, the second insulating film 12, and the third insulating film 15 are not particularly limited, but the thickness of the first insulating film 7 interposed between the first light shielding layer 9 and the first wiring layer 11 is not limited. The thickness of the first insulating film 7 and the thickness of the first insulating film 7 interposed between the first light shielding layer 9 and the upper electrode 5 are the shortest among the three primary colors (RGB) of light. It is desirable to make it thinner (for example, 400 nm or less) than the wavelength of blue (B) light.
As a result, a very small amount of leaked light entering the gap between the first light shielding layers 9 can be further attenuated by the first insulating film 7.

実施例の液晶表示素子の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the liquid crystal display element of an Example. 実施例の液晶表示素子における駆動基板を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the drive board | substrate in the liquid crystal display element of an Example. 実施例の液晶表示素子の1画素単位の構成を説明するための模式的断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the structure of the 1-pixel unit of the liquid crystal display element of an Example. 実施例の液晶表示素子の画素電極同士の間隙に入射した漏れ光に対する遮光性を説明するための透視図である。It is a perspective view for demonstrating the light-shielding property with respect to the leakage light which injected into the clearance gap between the pixel electrodes of the liquid crystal display element of an Example. 本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例を説明するための模式的断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the Example of the manufacturing method of the liquid crystal display element which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例を説明するための模式的断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the Example of the manufacturing method of the liquid crystal display element which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例を説明するための模式的断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the Example of the manufacturing method of the liquid crystal display element which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例を説明するための模式的断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the Example of the manufacturing method of the liquid crystal display element which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例を説明するための模式的断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the Example of the manufacturing method of the liquid crystal display element which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例を説明するための模式的断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the Example of the manufacturing method of the liquid crystal display element which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示素子の製造方法の実施例を説明するための模式的断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the Example of the manufacturing method of the liquid crystal display element which concerns on this invention. 実施例の液晶表示素子における保持容量部の変形例を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the modification of the storage capacity | capacitance part in the liquid crystal display element of an Example.

符号の説明Explanation of symbols

1_半導体基板、 2_ウエル、 3_下電極、 4_ゲート絶縁膜、 5_上電極、 6a,6b_フィールド酸化膜、 7,7a_第1の絶縁膜、 9_第1の遮光層、 10a,10b_配線パターン部、 11_第1の配線層、 12_第2の絶縁膜、 13a,13b_遮光パターン部、 14_第2の遮光層、 15_第3の絶縁膜、 16_画素電極、 20_保護膜、 22,23_低濃度拡散領域、 25,32_絶縁膜、 27a,27b,27c_開口部、 29,30_高濃度拡散領域、 34a,34b,34c_穴部、 40_シール部、 42_垂直シフトレジスタ部、 43_水平シフトレジスタ部、 45_ビデオスイッチ、 50_駆動基板、 60_透明基板、 61_ガラス基板、 62_透明電極、 70_フレキシブルプリント配線板、 71_基材、 72_カバー層、 100_液晶表示素子、 A1_画素領域、 B1_シフトレジスタ回路領域、 E1_カウンタコンタクト部、 F1_外部接続端子群、 LC_液晶、 H1_出力端子群、 K1_外部入力端子群、 J1_配線群、 Tr1_スイッチング素子、 C1_保持容量部、 G1_ゲート、 Lg_ゲート線、 D1_ドレイン、 Ls_信号線、 S1_ソース、 Lv_ビデオ線、 Lo_漏れ光 1_semiconductor substrate, 2_well, 3_lower electrode, 4_gate insulating film, 5_upper electrode, 6a, 6b_field oxide film, 7, 7a_first insulating film, 9_first light shielding layer, 10a, 10b_wiring pattern part, 11_first wiring layer, 12_second insulating film, 13a, 13b_light-shielding pattern portion, 14_second light-shielding layer, 15_third insulating film, 16_pixel electrode, 20_protective film, 22,23_low-concentration diffusion region 25, 32_ insulating film, 27a, 27b, 27c_ opening, 29, 30_ high concentration diffusion region, 34a, 34b, 34c_ hole, 40_ seal part, 42_ vertical shift register part, 43_ horizontal shift register part, 45_ video switch , 50_drive substrate, 60_transparent substrate, 61_glass substrate, 62_transparent electrode, 70_flexi Bull printed wiring board, 71_base material, 72_cover layer, 100_liquid crystal display element, A1_pixel area, B1_shift register circuit area, E1_counter contact section, F1_external connection terminal group, LC_liquid crystal, H1_output terminal group, K1_external input Terminal group, J1_wiring group, Tr1_switching element, C1_holding capacitor, G1_gate, Lg_gate line, D1_drain, Ls_signal line, S1_source, Lv_video line, Lo_leakage light

Claims (4)

駆動基板と、
前記駆動基板に所定の間隙を有して対向配置された透明基板と、
前記所定の間隙に充填された液晶と、
を備え、
前記駆動基板は、
半導体基板と、
前記半導体基板の表面に互いに離間して設けられたドレイン及びソース,並びに前記ドレインと前記ソースとの間の前記表面に順次積層されたゲート絶縁膜及びゲートを有するスイッチング素子と、
前記スイッチング素子を覆う絶縁膜と、
前記絶縁膜上に設けられ、前記ドレインに接続された第1の配線パターン部、及び、前記ソースに接続された第2の配線パターン部を有する配線層と、
前記配線層の上方に設けられて前記第2の配線パターン部に接続された画素電極と、
を備え、
前記絶縁膜は、前記スイッチング素子を覆い前記配線層とは絶縁された遮光層を含むことを特徴とする液晶表示素子。
A drive substrate;
A transparent substrate disposed opposite to the drive substrate with a predetermined gap;
A liquid crystal filled in the predetermined gap;
With
The drive substrate is
A semiconductor substrate;
A drain and a source provided on the surface of the semiconductor substrate spaced apart from each other, and a switching element having a gate insulating film and a gate sequentially stacked on the surface between the drain and the source;
An insulating film covering the switching element;
A wiring layer provided on the insulating film and having a first wiring pattern portion connected to the drain and a second wiring pattern portion connected to the source;
A pixel electrode provided above the wiring layer and connected to the second wiring pattern portion;
With
The liquid crystal display element, wherein the insulating film includes a light shielding layer that covers the switching element and is insulated from the wiring layer.
駆動基板と、
前記駆動基板に所定の間隙を有して対向配置された透明基板と、
前記所定の間隙に充填された液晶と、
を備え、
前記駆動基板は、
半導体基板と、
前記半導体基板の表面に互いに離間して設けられたドレイン及びソース,並びに前記ドレインと前記ソースとの間の前記表面に順次積層されたゲート絶縁膜及びゲートを有するスイッチング素子と、
前記半導体基板の表面に前記スイッチング素子に離間して設けられた保持容量部と、
前記スイッチング素子及び前記保持容量部を覆う第1の絶縁膜と、
前記第1の絶縁膜上に設けられ、前記ドレインに接続された第1の配線パターン部、並びに、前記ソース及び前記保持容量部に接続された第2の配線パターン部を有する第1の配線層と、
前記第1の配線層上に設けられた第2の絶縁膜と、
前記第2の絶縁膜上に設けられ、前記第2の配線パターン部に電気的に接続すされた第1の遮光パターン部、及び、前記第1の遮光パターン部に離間して配置された第2の遮光パターン部を有する第1の遮光層と、
前記第1の遮光層上に設けられた第3の絶縁膜と、
前記第3の絶縁膜上に設けられて前記第1の遮光パターン部に接続された画素電極と、
を備え、
前記第1の絶縁膜は、前記スイッチング素子及び前記保持容量部を覆い前記第1の配線層とは絶縁された第2の遮光層を含むことを特徴とする液晶表示素子。
A drive substrate;
A transparent substrate disposed opposite to the drive substrate with a predetermined gap;
A liquid crystal filled in the predetermined gap;
With
The drive substrate is
A semiconductor substrate;
A drain and a source provided on the surface of the semiconductor substrate spaced apart from each other, and a switching element having a gate insulating film and a gate sequentially stacked on the surface between the drain and the source;
A storage capacitor portion provided on the surface of the semiconductor substrate and spaced apart from the switching element;
A first insulating film covering the switching element and the storage capacitor portion;
A first wiring layer provided on the first insulating film and having a first wiring pattern portion connected to the drain and a second wiring pattern portion connected to the source and the storage capacitor portion When,
A second insulating film provided on the first wiring layer;
A first light shielding pattern portion provided on the second insulating film and electrically connected to the second wiring pattern portion; and a first light shielding pattern portion spaced apart from the first light shielding pattern portion. A first light-shielding layer having two light-shielding pattern portions;
A third insulating film provided on the first light shielding layer;
A pixel electrode provided on the third insulating film and connected to the first light-shielding pattern portion;
With
The liquid crystal display element, wherein the first insulating film includes a second light shielding layer that covers the switching element and the storage capacitor portion and is insulated from the first wiring layer.
半導体基板の表面にゲート絶縁膜及びゲートを順次形成する第1のステップと、
前記第1のステップの後に、前記半導体基板の表面上に、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲートを覆う第1の絶縁膜を形成する第2のステップと、
前記第2のステップの後に、前記第1の絶縁膜上に、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲートの近傍に互いに離間して配置された2つの開口部を有する遮光層を形成する第3のステップと、
前記第3のステップの後に、前記遮光層をマスクにして前記2つの開口部から前記半導体基板にイオン注入を行って、前記2つの開口部の一方に対応する前記半導体基板の領域にドレインを形成し、前記2つの開口部の他方に対応する前記半導体基板の領域にソースを形成することにより、前記ゲート絶縁膜,前記ゲート,前記ドレイン,及び前記ソースを有するスイッチング素子を形成する第4のステップと、
前記第4のステップの後に、前記第1の絶縁膜上に、前記遮光層を覆う第2の絶縁膜を形成する第5のステップと、
前記第5のステップの後に、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜に、前記ドレインを露出させる第1の穴及び前記ソースを露出させる第2の穴を形成する第6のステップと、
前記第6のステップの後に、前記第2の絶縁膜上に、前記第1の穴を埋めて前記ドレインに接続する第1の配線パターン部、及び、前記第2の穴を埋めて前記ソースに接続する第2の配線パターン部を有する配線層を形成する第7のステップと、
を備えた液晶表示素子の製造方法。
A first step of sequentially forming a gate insulating film and a gate on the surface of the semiconductor substrate;
A second step of forming a first insulating film covering the gate insulating film and the gate on the surface of the semiconductor substrate after the first step;
After the second step, a third step of forming on the first insulating film a light shielding layer having two openings that are spaced apart from each other in the vicinity of the gate insulating film and the gate; ,
After the third step, ion implantation is performed from the two openings to the semiconductor substrate using the light shielding layer as a mask to form a drain in a region of the semiconductor substrate corresponding to one of the two openings. And forming a switching element having the gate insulating film, the gate, the drain, and the source by forming a source in a region of the semiconductor substrate corresponding to the other of the two openings. When,
After the fourth step, a fifth step of forming a second insulating film covering the light shielding layer on the first insulating film;
A sixth step of forming a first hole exposing the drain and a second hole exposing the source in the first insulating film and the second insulating film after the fifth step; ,
After the sixth step, on the second insulating film, the first wiring pattern portion that fills the first hole and connects to the drain, and the second hole that fills the source A seventh step of forming a wiring layer having a second wiring pattern portion to be connected;
A method for manufacturing a liquid crystal display device comprising:
半導体基板の表面に、ゲート絶縁膜及びゲートを順次形成すると共に前記ゲート絶縁膜及び前記ゲートに離間して保持容量部を形成する第1のステップと、
前記第1のステップの後に、前記半導体基板の表面上に、前記ゲート絶縁膜,前記ゲート,及び前記保持容量部を覆う第1の絶縁膜を形成する第2のステップと、
前記第2のステップの後に、前記第1の絶縁膜上に、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲートの近傍に互いに離間して配置された第1の開口部及び第2の開口部を有すると共に前記保持容量部が形成されている領域に第3の開口部を有する遮光層を形成する第3のステップと、
前記第3のステップの後に、前記遮光層及び前記保持容量部をマスクにして前記第1の開口部乃至前記第3の開口部から前記半導体基板にイオン注入を行って、前記第1の開口部に対応する前記半導体基板の領域にドレインを形成し、前記第2の開口部に対応する前記半導体基板の領域にソースを形成することにより、前記ゲート絶縁膜,前記ゲート,前記ドレイン,及び前記ソースを有するスイッチング素子を形成する第4のステップと、
前記第4のステップの後に、前記第1の絶縁膜上に、前記遮光層を覆う第2の絶縁膜を形成する第5のステップと、
前記第5のステップの後に、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜に、前記ドレインを露出させる第1の穴、前記ソースを露出させる第2の穴、及び前記保持容量部を露出させる第3の穴を形成する第6のステップと、
前記第6のステップの後に、前記第2の絶縁膜上に、前記第1の穴を埋めて前記ドレインに接続する第1の配線パターン部、及び、前記第2の穴を埋めて前記ソースに接続すると共に前記第3の穴を埋めて前記保持容量部に接続する第2の配線パターン部を有する配線層を形成する第7のステップと、
を備えた液晶表示素子の製造方法。
A first step of sequentially forming a gate insulating film and a gate on the surface of the semiconductor substrate and forming a storage capacitor portion spaced apart from the gate insulating film and the gate;
After the first step, a second step of forming a first insulating film covering the gate insulating film, the gate, and the storage capacitor portion on the surface of the semiconductor substrate;
After the second step, on the first insulating film, the gate insulating film and the first opening and the second opening that are arranged apart from each other in the vicinity of the gate are provided and the holding is performed. A third step of forming a light shielding layer having a third opening in a region where the capacitor portion is formed;
After the third step, ion implantation is performed from the first to third openings to the semiconductor substrate using the light shielding layer and the storage capacitor as a mask, and the first opening. And forming a source in the region of the semiconductor substrate corresponding to the second opening, thereby forming the gate insulating film, the gate, the drain, and the source. A fourth step of forming a switching element having:
After the fourth step, a fifth step of forming a second insulating film covering the light shielding layer on the first insulating film;
After the fifth step, the first hole for exposing the drain, the second hole for exposing the source, and the storage capacitor portion are exposed in the first insulating film and the second insulating film. A sixth step of forming a third hole to be caused;
After the sixth step, on the second insulating film, the first wiring pattern portion that fills the first hole and connects to the drain, and the second hole that fills the source A seventh step of forming a wiring layer having a second wiring pattern portion that connects and fills the third hole and connects to the storage capacitor portion;
A method for manufacturing a liquid crystal display device comprising:
JP2008197621A 2008-07-31 2008-07-31 Liquid crystal display element and method of manufacturing the same Pending JP2010032963A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008197621A JP2010032963A (en) 2008-07-31 2008-07-31 Liquid crystal display element and method of manufacturing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008197621A JP2010032963A (en) 2008-07-31 2008-07-31 Liquid crystal display element and method of manufacturing the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010032963A true JP2010032963A (en) 2010-02-12

Family

ID=41737478

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008197621A Pending JP2010032963A (en) 2008-07-31 2008-07-31 Liquid crystal display element and method of manufacturing the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010032963A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW400451B (en) Liquid crystal display device
US10120250B2 (en) Electro-optical device, electrical apparatus
US7123323B2 (en) Liquid crystal display device with conductive light shielding film and contact holes
US9823530B2 (en) Electro-optical apparatus and electronic apparatus
JP6079077B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP3126630B2 (en) display
JP2007316615A (en) Reflection type liquid crystal display device and substrate for reflection type liquid crystal display device
JP2018146870A (en) Electro-optic device and electronic apparatus
KR100491920B1 (en) Liquid crystal display device
JP6696539B2 (en) Electro-optical device, electronic equipment
JP6251955B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
US7764325B2 (en) Electro-optical device, method of producing the same, and electronic apparatus
JP2018136478A (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP2007272212A (en) Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
JP2010072512A (en) Electro-optical device and electronic equipment, and method for manufacturing electro-optical device
KR20120112140A (en) Electrooptic device substrate, electrooptic device, method of manufacturing electrooptic device, and electronic apparatus
JP5609583B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP2006235281A (en) Electro-optic device, manufacturing method thereof, and electronic equipment
JPH0822016A (en) Liquid crystal display device
JP2014142390A (en) Electro-optic device, method for manufacturing electro-optic device, and electronic equipment
JP2010032963A (en) Liquid crystal display element and method of manufacturing the same
JP2009205051A (en) Electro-optical device and method for manufacturing electro-optical device
JP2010054769A (en) Display device, method of manufacturing display device, projection type display device, and electronic device
JP2008009272A (en) Liquid crystal display device
JP2008164668A (en) Liquid crystal display element and its manufacturing method