JP2010025171A - Delivery controller - Google Patents

Delivery controller Download PDF

Info

Publication number
JP2010025171A
JP2010025171A JP2008185069A JP2008185069A JP2010025171A JP 2010025171 A JP2010025171 A JP 2010025171A JP 2008185069 A JP2008185069 A JP 2008185069A JP 2008185069 A JP2008185069 A JP 2008185069A JP 2010025171 A JP2010025171 A JP 2010025171A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
valve
chamber
liquid chamber
discharge controller
flow path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008185069A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshihiro Hanada
敏広 花田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Yukizai Corp
Original Assignee
Asahi Organic Chemicals Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Organic Chemicals Industry Co Ltd filed Critical Asahi Organic Chemicals Industry Co Ltd
Priority to JP2008185069A priority Critical patent/JP2010025171A/en
Publication of JP2010025171A publication Critical patent/JP2010025171A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a delivery controller used for supplying fluid such as a chemical to a semiconductor wafer or for dripping a fixed amount of the chemical in the medical field. <P>SOLUTION: A body 1 is provided with an almost conical shape liquid chamber 6 in the center of an upper surface, and a first flow passage 4 and a second flow passage 5 communicated with the liquid chamber 6. A bottom surface of the liquid chamber 6 is flat, and the lowermost position of an inside diameter of the first flow passage 4 and the second flow passage 5 is almost flush with the bottom surface of the liquid chamber 6. A hood 2 of the upper surface of the body 1 has an almost conical shape air chamber 7 which is communicated with the outside through a vent hole 8 in a size of ϕ0.3 mm. A diaphragm 3 comprises a center part plane and thicker than other parts, a thin film part extended to a radial outer side, and an annular outer peripheral part, and the outer peripheral part is held and fixed by the body 1 and the hood 2. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、化学工場、半導体製造分野、食品分野、医療分野、バイオ分野などの各種産業における流体輸送配管に用いられる吐出制御器に関するものであり、さらに詳しくは、特に半導体の製造装置において半導体ウェハに薬液等の流体を供給する配管ラインに使用されたり、医療分野において薬液を一定量滴下するための制御に使用される吐出制御器に関するものである。   The present invention relates to a discharge controller used for fluid transport piping in various industries such as a chemical factory, a semiconductor manufacturing field, a food field, a medical field, and a bio field, and more particularly, a semiconductor wafer in a semiconductor manufacturing apparatus. The present invention relates to a discharge controller that is used in a piping line that supplies a fluid such as a chemical liquid to the pipe or that is used for control for dropping a predetermined amount of a chemical liquid in the medical field.

従来、半導体洗浄装置、特に半導体ウェハの表面に直接薬液を塗布して各種の処理を行うような装置において、図10に示すような薬液を供給する配管ラインが形成される。この配管ラインでは、薬液タンク61からポンプ62によって配管64に薬液を流して吐出部65から半導体ウェハ66に薬液を吐出する構成になっている。薬液の供給・停止には、配管64中途に介在されたエア駆動によるダイヤフラム式の開閉弁63を用いることが一般的である。このとき、開閉弁63から吐出部65までの配管64の長さは通常だと洗浄装置の設計上2〜4m程度になることが多い。   2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor cleaning apparatus, particularly an apparatus that directly applies a chemical solution to the surface of a semiconductor wafer and performs various processes, a piping line for supplying a chemical solution as shown in FIG. In this piping line, the chemical liquid is caused to flow from the chemical liquid tank 61 to the pipe 64 by the pump 62, and the chemical liquid is discharged from the discharge portion 65 to the semiconductor wafer 66. In order to supply and stop the chemical liquid, it is common to use a diaphragm type on-off valve 63 driven by air interposed in the middle of the pipe 64. At this time, the length of the pipe 64 from the on-off valve 63 to the discharge part 65 is usually about 2 to 4 m due to the design of the cleaning device.

このような配管ラインにおいて、流体の流れを開閉弁63で急激に停止した場合、開閉弁63の弁室内の容積変化によってダイヤフラムが変形して薬液が下流側に押し出され、配管末端の吐出部65より勢いよく薬液が飛び出すことがあり、このような流量の急激な変化はウェハの処理に悪影響を与えるという問題があった。
その後、開閉弁63で流体の流れを急激に停止しても流体の流れの慣性によって下流側へ流れようとするため、開閉弁63の下流側の配管64内には負圧が発生する。この負圧は開閉弁63の下流側の配管64の長さや流体の流速によって異なるが、負圧の作用によって流体が逆方向へと吸い戻されるという現象が起こり、配管末端の吐出部65においては、図11に示すように大気まで一緒に吸い上げられ吐出部65の配管中に薬液67と液残り薬液69の間に気泡68となって薬液67の中に残留する。この状態で薬液67の吐出を再開した場合、半導体ウェハ66上に薬液67と共にこれらの気泡68が塗布されるためウェハの表面処理にムラができる原因となり、ムラの発生した部分が不良品となる問題があった。また、この問題は例えば医療分野などにおいては一般的な薬液の定量滴下を行う際に、薬液の飛び出しや吸い戻しが起こると厳密な量の制御の妨げになるものでもあった。
In such a piping line, when the flow of fluid is suddenly stopped by the on-off valve 63, the diaphragm is deformed by the volume change in the valve chamber of the on-off valve 63 and the chemical liquid is pushed out to the downstream side, and the discharge end 65 at the end of the piping. There is a problem that the chemical solution may jump out more vigorously, and such a rapid change in the flow rate has a problem of adversely affecting the wafer processing.
After that, even if the fluid flow is suddenly stopped by the on-off valve 63, it tends to flow downstream due to the inertia of the fluid flow, so that a negative pressure is generated in the pipe 64 on the downstream side of the on-off valve 63. The negative pressure varies depending on the length of the pipe 64 downstream of the on-off valve 63 and the flow velocity of the fluid, but a phenomenon in which the fluid is sucked back in the reverse direction by the action of the negative pressure occurs in the discharge section 65 at the end of the pipe. As shown in FIG. 11, the air is sucked up to the atmosphere together and becomes a bubble 68 between the chemical liquid 67 and the remaining chemical liquid 69 in the piping of the discharge section 65 and remains in the chemical liquid 67. When the discharge of the chemical solution 67 is resumed in this state, the bubbles 68 are applied to the semiconductor wafer 66 together with the chemical solution 67, thereby causing unevenness in the surface treatment of the wafer, and the uneven portion becomes a defective product. There was a problem. Further, for example, in the medical field, this problem has been a hindrance to strict control of the amount of chemical solution that is ejected or sucked back when a fixed amount of the chemical solution is dropped.

上記問題を解決する方法として、一般的には開閉弁63の開閉操作を行うエア配管にスピードコントローラを設置して閉止速度を遅くすることによって、下流側の負圧発生や薬液の押し出しを防止する方法が用いられている。
しかしながら、スピードコントローラを用いて、開閉弁63の閉止動作を遅くした場合、洗浄装置の制御部(図示せず)から開閉弁63への停止信号を出してから実際に開閉弁63が閉止するまでに遅れ時間が生じる。そのため薬液の吐出量を厳密に調整したい時には、この遅れ時間を見越して開閉弁63への停止信号を早めに出す必要があるが、遅れ時間は開閉弁63の操作エア圧力や開閉弁の個体差によっても異なり、一定の時間に制御するのは困難であるという問題があった。また、スピードコントローラの調整は熟練した作業員が一台毎に行う必要があり、調整に手間が掛かるという問題があった。
As a method for solving the above problem, in general, a negative pressure on the downstream side or extrusion of a chemical solution is prevented by installing a speed controller in an air pipe that opens and closes the on-off valve 63 to slow down the closing speed. The method is used.
However, when the closing operation of the on-off valve 63 is delayed using a speed controller, a stop signal to the on-off valve 63 is output from a control unit (not shown) of the cleaning device until the on-off valve 63 actually closes. Delay time occurs. Therefore, when it is desired to precisely adjust the discharge amount of the chemical solution, it is necessary to give a stop signal to the on-off valve 63 early in anticipation of this delay time. The delay time depends on the operating air pressure of the on-off valve 63 and the individual difference of the on-off valve. There is also a problem that it is difficult to control at a certain time. In addition, there is a problem that adjustment of the speed controller needs to be carried out by a skilled worker for each vehicle, which takes time and effort.

そこで、スピードコントローラのような不都合もなく、前述の下流側の負圧発生や薬液の押し出しを防止する手段として、各種の水撃防止装置やアキュムレータ等が提案されている。
水撃防止装置には、図12に示すようなものがあり、入力口71と出力口72に連通した内部空間73内部に窒素ガスを封入した金属ベローズ74が配置されており、入力口71から流入した流体が金属ベローズ74の外周部を通って出力口72から排出される構造となっている(特許文献1参照)。この水撃防止装置は、配管ラインに生じる水撃や脈動といった流体の圧力変動に対し、金属ベローズ74が伸縮することによって圧力変動による衝撃を吸収するという機能を有している。
従って、このような水撃防止装置を前記半導体洗浄装置(図10参照)の薬液吐出配管ラインの開閉弁63の下流側に設置することにより、急激な閉止動作に伴う薬液の押し出しに対して金属ベローズ74が縮むことによって吸収し、吐出部65からの薬液の飛び出しを防止することができる。
また、その後に発生する負圧に対して、縮んだ金属ベローズ74が逆に伸びることによってエネルギーを吸収して吐出部65からの大気の吸い込みを防止することができるものである。
Accordingly, various water hammer prevention devices, accumulators, and the like have been proposed as means for preventing the above-described negative pressure generation and chemical liquid extrusion without inconveniences such as a speed controller.
There is a water hammer prevention device as shown in FIG. 12, and a metal bellows 74 filled with nitrogen gas is disposed in an internal space 73 communicating with the input port 71 and the output port 72. The inflowing fluid passes through the outer periphery of the metal bellows 74 and is discharged from the output port 72 (see Patent Document 1). This water hammer prevention device has a function of absorbing an impact due to pressure fluctuation by expanding and contracting the metal bellows 74 with respect to fluid pressure fluctuation such as water hammer and pulsation generated in the piping line.
Therefore, by installing such a water hammer prevention device on the downstream side of the on-off valve 63 of the chemical solution discharge piping line of the semiconductor cleaning device (see FIG. 10), the metal is prevented from being pushed out due to a sudden closing operation. The bellows 74 is absorbed by contraction, and the chemical liquid can be prevented from jumping out from the discharge portion 65.
Further, the contracted metal bellows 74 extends in reverse with respect to the negative pressure generated thereafter, thereby absorbing energy and preventing air from being sucked from the discharge portion 65.

一方、従来のアキュムレータには、図13に示すようなものがある。このアキュムレータは、上シェル81と下シェル82とからなり、内部にダイヤフラム83により仕切られたガス室84と油室85を有するシェル体86と油室85と連通する油ポート87とから構成される。このアキュムレータは、制御したい配管ラインの分岐部分へプラグ88を接続することで設けられる(特許文献2参照)。
このようなアキュムレータによれば、前記水撃防止装置と同様、配管ラインに設置された開閉弁63の開閉動作等によって生じる水撃、脈動、負圧といった流体の圧力変動による衝撃を、ダイヤフラム83が上下に変位することで吸収することができる。
On the other hand, there is a conventional accumulator as shown in FIG. This accumulator is composed of an upper shell 81 and a lower shell 82, and is composed of a gas chamber 84 partitioned by a diaphragm 83 inside, a shell body 86 having an oil chamber 85, and an oil port 87 communicating with the oil chamber 85. . This accumulator is provided by connecting a plug 88 to a branch portion of a piping line to be controlled (see Patent Document 2).
According to such an accumulator, as in the case of the water hammer prevention device, the diaphragm 83 causes an impact caused by fluid pressure fluctuations such as water hammer, pulsation, and negative pressure caused by the opening / closing operation of the on-off valve 63 installed in the piping line. It can be absorbed by moving up and down.

特開2006−194367号公報JP 2006-194367 A 特開2002−372002号公報JP 2002-372002 A

しかしながら、前述の水撃防止装置では、流路内の中央にある金属ベローズ74の側面を流体が通り抜ける構成なので、特にスラリーを流した場合には流路や内部空間73や金属ベローズ74の隙間で固着し易く、固着したスラリーが流体の流れの妨げとなったり作動不良の原因になる恐れがあった。
また、金属ベローズ74の材質が金属であるため、腐食性の高い薬液を使用する配管ラインや金属イオンの溶出を嫌う半導体洗浄装置中の配管ラインでは使用できない。
なお、金属ベローズ74は半導体製造装置内の配管部材として好適に用いられるポリテトラフルオロエチレン(以下、PTFEと記す)等でもベローズを製作することも可能であるが、ベローズの隙間が流体の滞留部となるため薬液の滞留を嫌う半導体製造分野の配管ラインで使用するには適していない。また、PTFE製のベローズでは窒素ガスの透過が起こるため、初期性能を長期間維持することが難しいという問題があった。
However, in the above-described water hammer prevention device, since the fluid passes through the side surface of the metal bellows 74 in the center of the flow path, particularly when a slurry is flowed, the gap between the flow path, the internal space 73 and the metal bellows 74 is used. It is easy to stick, and the stuck slurry may interfere with the flow of fluid or cause malfunction.
Further, since the metal bellows 74 is made of metal, it cannot be used in a piping line that uses a highly corrosive chemical solution or a piping line in a semiconductor cleaning apparatus that dislikes elution of metal ions.
The metal bellows 74 can be made of polytetrafluoroethylene (hereinafter referred to as PTFE) or the like that is preferably used as a piping member in a semiconductor manufacturing apparatus. Therefore, it is not suitable for use in a piping line in the field of semiconductor manufacturing that dislikes retention of chemicals. In addition, PTFE bellows have a problem that it is difficult to maintain the initial performance for a long period of time because of the permeation of nitrogen gas.

一方、アキュムレータを半導体製造装置内の配管ラインに設置した場合、配管ラインの途中を分岐してアキュムレータを設置しなければならず、アキュムレータの油室85内に流入した薬液は循環せずに滞留したままとなる。これは、薬液の滞留を嫌う半導体製造分野においては滞留部があるとバクテリアの発生原因となり、ダイヤフラム83の変位によって油室85に発生したバクテリアが配管ラインに流れ込み、半導体ウェハに付着して不良品の原因となる問題があった。
さらに、同じ種類や同じ濃度の薬液を常に流して使用する場合はよいが、異なる種類の薬液を交互に流したい場合などでは、このような滞留部があると薬液が完全に入れ替わることがなく、ダイヤフラム83の変位によって滞留した油室85内の薬液が混ざり合って半導体ウェハの処理に不適切な薬液が流れて不良品の原因となる問題があった。
On the other hand, when the accumulator is installed in the piping line in the semiconductor manufacturing apparatus, the accumulator must be installed by branching along the piping line, and the chemical solution flowing into the oil chamber 85 of the accumulator stays without circulating. Will remain. This is because, in the semiconductor manufacturing field that does not want to stay in the chemical solution, if there is a stagnant part, it causes bacteria, and the bacteria generated in the oil chamber 85 flows into the piping line due to the displacement of the diaphragm 83 and adheres to the semiconductor wafer and is defective. There was a problem that caused
In addition, it is good to always use the same type and concentration of chemicals, but when you want to flow different types of chemicals alternately, such a stagnant part will not completely replace the chemicals. There is a problem that the chemical solution in the oil chamber 85 staying in place due to the displacement of the diaphragm 83 is mixed and the chemical solution inappropriate for the processing of the semiconductor wafer flows to cause defective products.

本発明は、以上のような問題点に鑑みなされたもので、配管ラインの開閉弁の下流側に設置することで開閉弁を急激に閉止しても配管の末端から薬液が勢いよく飛び出すのを防止し、開閉弁を急激に閉止した際に下流側に発生する負圧によって配管の末端部から大気が吸い戻されるのを防止することができ、さらに内部に流体の滞留部がなく構成が簡単でコンパクトな吐出制御器を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and by installing it on the downstream side of the on-off valve of the piping line, even if the on-off valve is suddenly closed, the chemical solution can be ejected from the end of the pipe vigorously. Prevents air from being sucked back from the end of the pipe due to the negative pressure generated downstream when the on-off valve is suddenly closed. And a compact discharge controller.

本発明の吐出制御器では、液室と、該液室に各々連通する第一流路と第二流路とを有する本体と、空気室と、該空気室に連通する通気孔を有するボンネットと、該液室と該空気室とを隔てるように該本体と該ボンネットによって周縁部を挟持固定されたダイヤフラムとを具備することを第1の特徴とする。   In the discharge controller of the present invention, a liquid chamber, a main body having a first flow path and a second flow path respectively communicating with the liquid chamber, an air chamber, and a bonnet having a vent hole communicating with the air chamber; A first feature is that the liquid chamber and the air chamber are provided with a diaphragm having a peripheral portion sandwiched and fixed by the bonnet so as to separate the liquid chamber and the air chamber.

また本発明では、前記第一流路及び第二流路の内径の最下部の位置が底面が平坦に設けられた前記液室の底面とほぼ面一となるように各々形成してなることを第2の特徴とする。   In the present invention, the lowermost position of the inner diameter of the first flow path and the second flow path is formed so as to be substantially flush with the bottom surface of the liquid chamber having a flat bottom surface. Two features.

また本発明では、前記本体に開閉弁が一体的に設けられていることを第3の特徴とする。   In the present invention, a third feature is that an opening / closing valve is integrally provided in the main body.

また本発明では、液室と弁室が設けられ、該弁室に連通する第一流路と、該液室に連通する第二流路と、該液室と該弁室とに連通する連通流路とを有する本体と、該第一流路に連通する該弁室の開口部の開口面積を変化させる弁体と、該弁体を駆動させる駆動部と、空気室と、該空気室に連通する通気孔を有するボンネットと、該液室と該空気室とを隔てるように該本体と該ボンネットによって周縁部を挟持固定されたダイヤフラムとを具備することを第4の特徴とする。   In the present invention, a liquid chamber and a valve chamber are provided, a first flow path communicating with the valve chamber, a second flow path communicating with the liquid chamber, and a communication flow communicating with the liquid chamber and the valve chamber A main body having a passage, a valve body that changes an opening area of the opening of the valve chamber that communicates with the first flow path, a drive unit that drives the valve body, an air chamber, and a communication with the air chamber According to a fourth aspect of the present invention, a bonnet having a vent hole and a diaphragm having a peripheral portion sandwiched and fixed by the bonnet so as to separate the liquid chamber and the air chamber are provided.

また本発明では、前記駆動部が、モータ部と、該モータ部の駆動により前記弁体を上下動させるステムとを具備したことを第5の特徴とする。   In the present invention, the drive unit includes a motor unit and a stem that moves the valve body up and down by driving the motor unit.

また本発明では、前記駆動部が、内部にシリンダ部を有するシリンダ本体と、該シリンダ部の内周面に上下動可能且つシールした状態で摺接され且つ該シリンダ部の天井面中央に設けられた貫通孔をシールした状態で貫通するように中央より上方に突出して設けられた連結部を有するピストンと、該シリンダ本体の周側面に設けられ、該シリンダ部の天井面及び内周面と前記ピストンの上端面とで囲まれて形成された第一空間部と、該シリンダ部の底面及び内周面と該ピストンの下端面とで囲まれて形成された第二空間部とにそれぞれ連通されるエア口とを具備し、前記弁体が該ピストンの連結部の上端部に固定されたことを第6の特徴とする。   In the present invention, the drive unit is slidably contacted with a cylinder main body having a cylinder portion therein, in a state of being vertically movable and sealed, and provided at the center of the ceiling surface of the cylinder portion. A piston having a connecting portion that protrudes upward from the center so as to penetrate in a sealed state, and a ceiling surface and an inner peripheral surface of the cylinder portion, The first space portion formed by being surrounded by the upper end surface of the piston and the second space portion formed by being surrounded by the bottom and inner peripheral surfaces of the cylinder portion and the lower end surface of the piston are respectively communicated. A sixth feature is that the valve body is fixed to the upper end of the connecting portion of the piston.

また本発明では、前記本体に圧力計が一体的に設けられていることを第7の特徴とする。   The seventh feature of the present invention is that a pressure gauge is integrally provided in the main body.

さらに本発明では、前記ダイヤフラムの材質がポリテトラフルオロエチレンであることを第8の特徴とする。   Furthermore, in the present invention, an eighth feature is that the material of the diaphragm is polytetrafluoroethylene.

本発明において、ダイヤフラム3、23、27の材質は、エチレンプロピレンゴム、ニトリルゴム、スチレンブタジエンゴム、フッ素ゴムなどのゴム製や、PTFE、ポリクロロトリフルオロエチレン(以下、PCTFEと記す)、ポリビニリデンフルオライド(以下、PVDFと記す)、テトラフルオロエチレン・パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体(以下、PFAと記す)などが挙げられるが、半導体製造分野において繰り返し疲労特性の良く溶出や耐薬品の優れたフッ素樹脂製が好適であり、フッ素樹脂のうちPTFEがより好適である。   In the present invention, the diaphragms 3, 23, 27 are made of rubber such as ethylene propylene rubber, nitrile rubber, styrene butadiene rubber, fluoro rubber, PTFE, polychlorotrifluoroethylene (hereinafter referred to as PCTFE), polyvinylidene. Fluoride (hereinafter referred to as PVDF), tetrafluoroethylene / perfluoroalkyl vinyl ether copolymer (hereinafter referred to as PFA), and the like. A fluororesin is preferable, and PTFE is more preferable among the fluororesins.

また本発明において、吐出制御器の本体1、21、ボンネット2、26、シリンダ本体22、隔膜押さえ24、ピストン25の材質は吐出制御器として必要な物性を有していれば特に限定されないが、PTFE、PVDF、PFA、PCTFEなどのフッ素樹脂が好適なものとして挙げられ、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ABS樹脂などの樹脂や、流体による腐食の心配がなければステンレスなどの金属でも良く、特に限定されない。   Further, in the present invention, the materials of the discharge controller main bodies 1 and 21, the bonnets 2 and 26, the cylinder main body 22, the diaphragm retainer 24, and the piston 25 are not particularly limited as long as they have physical properties necessary as a discharge controller. Fluorine resins such as PTFE, PVDF, PFA, and PCTFE are preferred, and resins such as polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene, and ABS resin, and metals such as stainless steel may be used if there is no concern about corrosion due to fluids. It is not limited.

本発明の吐出制御器は以下の優れた効果が得られる。   The discharge controller of the present invention has the following excellent effects.

(1)開閉弁を急激に閉止した時に生じる配管の末端からの薬液の飛び出しが防止されるため、厳密な量の薬液の吐出や滴下の制御を行うことができ、半導体ウェハの処理などにおける不良の発生を抑えて生産性が向上する。
(2)開閉弁を急激に閉止した後、開閉弁の下流側に生じる流路内の負圧に起因する配管の末端からの大気の吸い込みによる気泡の噛み込みが防止され、薬液の吐出や滴下の量の変動を防ぐことができるため、半導体ウェハの処理などにおける不良の発生を抑えて生産性が向上する。
(3)開閉弁を急激に閉止しても流体の圧力変動を抑えることができるので、半導体製造装置などの制御部から出された閉止信号と実際の開閉弁の閉止に遅れ時間を生じさせず、薬液の吐出時間を厳密にコントロールすることができるため、厳密な量の薬液の吐出や滴下の制御を行うことができ、半導体ウェハの処理性能が向上する。
(4)第一、第二流路は圧力損失が少ない形状すなわち第一、第二流路の内径の最下部の位置の底面が平坦である液室の底面とほぼ面一となるように形成されているため、流路が略直線状となり圧力損失が少なく流量特性に優れており効率的に流体を流すことができる。
(5)内部に滞留部がないので、複数の薬液を交互に流した場合でも薬液の置換性が良好であり、滞留部によるバクテリア発生が防止され、流体にスラリーを流してもスラリーが固着しにくく詰まることなく使用できる。
(6)部品点数が少ないので組み立てが容易であり、コンパクトに形成することができるので装置内の設置場所を取らずに設置できる。
(1) Since the chemical solution is prevented from jumping out from the end of the pipe, which is generated when the on-off valve is suddenly closed, it is possible to control the discharge and dripping of a strict amount of the chemical solution. Improve productivity by suppressing the occurrence of
(2) After the on-off valve is suddenly closed, air bubbles are prevented from being caught from the end of the pipe due to the negative pressure in the flow path generated downstream of the on-off valve, and the discharge and dripping of the chemical solution Therefore, productivity can be improved by suppressing the occurrence of defects in the processing of semiconductor wafers.
(3) Since the fluid pressure fluctuation can be suppressed even if the on-off valve is suddenly closed, there is no delay time between the closing signal issued from the control unit such as a semiconductor manufacturing apparatus and the actual on-off valve closing. Further, since the discharge time of the chemical solution can be strictly controlled, it is possible to control the discharge and dropping of the exact amount of the chemical solution, thereby improving the processing performance of the semiconductor wafer.
(4) The first and second flow paths are shaped so that there is little pressure loss, that is, the bottom surface at the lowest position of the inner diameter of the first and second flow paths is substantially flush with the bottom surface of the liquid chamber. Therefore, the flow path is substantially linear, the pressure loss is small, the flow rate is excellent, and the fluid can flow efficiently.
(5) Since there is no stagnant part inside, even when a plurality of chemicals are flowed alternately, the substituting property of the chemicals is good, the generation of bacteria by the stagnant part is prevented, and the slurry adheres even if the slurry is flowed to the fluid. Can be used without clogging.
(6) Since the number of parts is small, it is easy to assemble and can be formed compactly, so that it can be installed without taking the installation place in the apparatus.

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明するが、本発明が本実施の形態に限定されないことは言うまでもない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, it is needless to say that the present invention is not limited to the embodiments.

図1は本発明の第一の実施形態である内部に流体が流れている状態の吐出制御器を示す縦断面図、図2は図1の吐出制御器の上流側に設置された開閉弁を急激に閉止した直後の状態を示す縦断面図、図3は図2の後に開閉弁の下流側が負圧になった状態を示す縦断面図である。図4は本発明の吐出制御器を半導体洗浄装置の配管ラインに設置したときの配管略図、図5は図4の配管ラインにおいて開閉弁を急激に閉止した後の配管末端の状態を示す拡大縦断面図である。図6は本発明の第二の実施形態の開閉弁付き吐出制御器を示す縦断面図である。図7は図7のA−A縦断面図である。図8は本発明の第三の実施形態の開閉弁付き吐出制御器を示す縦断面図である。図9は吐出制御試験の試験ラインを示す配管略図である。   FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a discharge controller in a state where a fluid is flowing inside, which is the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows an on-off valve installed on the upstream side of the discharge controller of FIG. FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing a state immediately after the sudden closing, and FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing a state in which the downstream side of the on-off valve becomes negative after FIG. FIG. 4 is a schematic piping diagram when the discharge controller of the present invention is installed in a piping line of a semiconductor cleaning device, and FIG. 5 is an enlarged vertical cross-sectional view showing the state of the piping end after the on-off valve is rapidly closed in the piping line of FIG. FIG. FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing a discharge controller with an on-off valve according to a second embodiment of the present invention. FIG. 7 is a vertical sectional view taken along line AA of FIG. FIG. 8 is a longitudinal sectional view showing a discharge controller with an on-off valve according to a third embodiment of the present invention. FIG. 9 is a schematic piping diagram showing a test line for a discharge control test.

図1乃至図3においてPTFE製の本体1は、上面中央に略すり鉢形状の液室6を有しており、液室6に連通する第一流路4及び第二流路5が設けられている。このとき液室6の底面は平坦に設けられ、第一流路4及び第二流路5の内径の最下部の位置が液室6の底面とほぼ面一となるように各々形成されている。第一流路4及び第二流路5は液室6のどの位置に接続しても良いが、同一軸線上に形成するのが好ましい。   1 to 3, the PTFE main body 1 has a substantially mortar-shaped liquid chamber 6 at the center of the upper surface, and a first flow path 4 and a second flow path 5 communicating with the liquid chamber 6 are provided. . At this time, the bottom surface of the liquid chamber 6 is provided flat and is formed so that the lowest positions of the inner diameters of the first flow path 4 and the second flow path 5 are substantially flush with the bottom surface of the liquid chamber 6. The first flow path 4 and the second flow path 5 may be connected to any position of the liquid chamber 6, but are preferably formed on the same axis.

本体1の上面に接合されたPVDF製のボンネット2は、下面中央に略すり鉢形状の空気室7を有しており、空気室7と外部とを連通させるφ0.3mmの通気孔8が形成されている。   The bonnet 2 made of PVDF joined to the upper surface of the main body 1 has a substantially mortar-shaped air chamber 7 at the center of the lower surface, and has a φ0.3 mm vent hole 8 for communicating the air chamber 7 with the outside. ing.

PTFE製のダイヤフラム3は円盤状に形成されており、平面状で他より厚めに形成された中央部と中央部から径方向外側へ延設された薄肉の膜部と該膜部から径方向外側へ延設された環状の外周縁部からなり、外周縁部を本体1とボンネット2とによって挟持固定されており、ダイヤフラム3によって液室6と空気室7とが隔離されている。またダイヤフラム3の中央付近は上下に変位自在となっており、液室6内部の流体圧力に応じてダイヤフラム3が変位することで液室6内の容積が変化する。このとき空気室7内の容積も変化して、空気室7内の容積の変化に応じてボンネット2に設けられた通気孔8から空気が出入りする。   The diaphragm 3 made of PTFE is formed in a disk shape, is a flat and thicker central part, a thin film part extending radially outward from the central part, and a radially outer side from the film part The outer peripheral edge is sandwiched and fixed between the main body 1 and the bonnet 2, and the liquid chamber 6 and the air chamber 7 are isolated by the diaphragm 3. Further, the vicinity of the center of the diaphragm 3 is freely displaceable up and down, and the volume in the liquid chamber 6 is changed by the displacement of the diaphragm 3 according to the fluid pressure inside the liquid chamber 6. At this time, the volume in the air chamber 7 also changes, and air enters and exits from the vent hole 8 provided in the bonnet 2 in accordance with the change in the volume in the air chamber 7.

ここで、ボンネット2の通気孔8の直径は0.3mm〜2.0mmで設けられたことが望ましい。ダイヤフラム3が上下方向へ移動する時に変位の応答速度が遅れないようにするために通気孔8の直径は0.3mm以上である必要があり、ダイヤフラム3が上下方向へ移動する時に流体の圧力変動に応じてダイヤフラムの動きを適度に遅くすることで急激な流体の圧力変動を緩和させるために通気孔8の直径は2.0mm以下である必要がある。また、通気孔8は孔の合計面積が直径2.0mmの面積以内であれば複数設けても良く、通気孔8にはフィルターを設けても良い。   Here, it is desirable that the diameter of the vent hole 8 of the bonnet 2 is 0.3 mm to 2.0 mm. In order to prevent the response speed of the displacement from being delayed when the diaphragm 3 moves in the vertical direction, the diameter of the vent hole 8 needs to be 0.3 mm or more, and the pressure fluctuation of the fluid when the diaphragm 3 moves in the vertical direction Accordingly, the diameter of the vent hole 8 needs to be 2.0 mm or less in order to moderate the pressure fluctuation of the fluid by moderately slowing the movement of the diaphragm accordingly. A plurality of vent holes 8 may be provided as long as the total area of the holes is within an area of 2.0 mm in diameter, and a filter may be provided in the vent hole 8.

次に、上記の構成からなる第一の実施形態の吐出制御器の作動を説明する。   Next, the operation of the discharge controller of the first embodiment having the above configuration will be described.

吐出制御器は図4に示されるような半導体洗浄装置の薬液供給配管ラインに用いられる。この配管ラインは薬液タンク11からポンプ12によって配管14に流体を流して吐出部15から半導体ウェハ16に薬液を吐出する構成になっており、配管14にエア駆動によるダイヤフラム式の開閉弁13が設置され、この開閉弁13よりも下流側に本発明の吐出制御器17が設置されている。   The discharge controller is used in a chemical supply pipe line of a semiconductor cleaning apparatus as shown in FIG. This piping line is configured such that a fluid flows from the chemical solution tank 11 to the piping 14 by the pump 12 and the chemical solution is discharged from the discharge unit 15 to the semiconductor wafer 16, and a diaphragm type on-off valve 13 driven by air is installed in the piping 14. The discharge controller 17 of the present invention is installed downstream of the on-off valve 13.

まず開閉弁13が開状態のとき、配管ラインには流体が流れており液室6内の流体圧力によって吐出制御器17のダイヤフラム3は僅かに上方へ変位している(図1の状態)。   First, when the on-off valve 13 is in an open state, fluid flows through the piping line, and the diaphragm 3 of the discharge controller 17 is slightly displaced upward by the fluid pressure in the liquid chamber 6 (state shown in FIG. 1).

ここで、ダイヤフラム式の開閉弁13を操作して流体の流れを急激に閉止すると、開閉弁13を閉止した時のダイヤフラムの作用によって押し出された流体のために、開閉弁13の下流側の配管14内の流体圧力が瞬間的に上昇する。同時に配管14内に設置された吐出制御器17の液室6内部の流体圧も上昇するが、このときダイヤフラム3が上昇した流体圧力に応じて上方へ変位して液室6の容積を増大させることで流体圧力の上昇を緩和する(図2の状態)。これによって吐出部15から薬液が飛び出すことが抑制される。また液室6の容積の増大に伴って空気室7の容積は減少して通気孔8から空気が排出されるが、このときの通気孔8から排出される空気の排出量は通気孔8によって制限されているため、空気室7の体積変化は緩やかなものとなり、ダイヤフラム3の変位も緩やかにすることができ急激な圧力変動を緩和させることができる。   Here, if the flow of the fluid is suddenly closed by operating the diaphragm type on-off valve 13, piping downstream of the on-off valve 13 is caused by the fluid pushed out by the action of the diaphragm when the on-off valve 13 is closed. The fluid pressure in 14 increases instantaneously. At the same time, the fluid pressure inside the liquid chamber 6 of the discharge controller 17 installed in the pipe 14 also rises. At this time, the diaphragm 3 is displaced upward according to the raised fluid pressure, and the volume of the liquid chamber 6 is increased. This alleviates the increase in fluid pressure (state shown in FIG. 2). As a result, the chemical liquid is prevented from jumping out of the discharge unit 15. Further, as the volume of the liquid chamber 6 increases, the volume of the air chamber 7 decreases and air is discharged from the vent hole 8. The amount of air discharged from the vent hole 8 at this time is determined by the vent hole 8. Since the air volume 7 is restricted, the volume change of the air chamber 7 becomes gradual, and the displacement of the diaphragm 3 can be made gradual, so that rapid pressure fluctuation can be reduced.

次に急激に閉止された流体は流れの慣性によって配管末端の吐出部15へ流れようとする。そして開閉弁13の下流側の配管14内に負圧が発生して、今度は流体が逆方向へと引き戻されるような力が働く。このとき吐出制御器の液室6内部も負圧となって流体停止直後に上方へと変位していたダイヤフラム3が逆に下方へと変位して液室6の容積を減少させて負圧を打ち消す(図3の状態)。これによって配管末端の吐出部15から大気を吸い上げることがなく、配管14内の薬液18中に気泡が入ることを防止する(図5の状態)。また、液室6の容積の減少にともなって空気室7の容積は増大して通気孔8から空気が吸入されるが、このとき通気孔8から吸入される空気の吸入量は通気孔8によって制限されているため、空気室7の体積変化は緩やかなものとなり、ダイヤフラム3の変位も緩やかにすることができ負圧が発生することによって生ずる配管内の圧力変動を緩和させることができる。   Next, the rapidly closed fluid tends to flow to the discharge portion 15 at the end of the pipe due to the inertia of the flow. Then, a negative pressure is generated in the pipe 14 on the downstream side of the on-off valve 13, and this time a force is applied so that the fluid is pulled back in the reverse direction. At this time, the inside of the liquid chamber 6 of the discharge controller also becomes negative pressure, and the diaphragm 3 that has been displaced upward immediately after the fluid stops is displaced downward to reduce the volume of the liquid chamber 6 to reduce the negative pressure. Cancel (state of FIG. 3). This prevents air from being sucked up from the discharge portion 15 at the end of the pipe and prevents bubbles from entering the chemical solution 18 in the pipe 14 (state shown in FIG. 5). As the volume of the liquid chamber 6 decreases, the volume of the air chamber 7 increases and air is sucked from the vent hole 8. At this time, the amount of air sucked from the vent hole 8 is reduced by the vent hole 8. Due to the restriction, the volume change of the air chamber 7 becomes gradual, the displacement of the diaphragm 3 can be made gradual, and the pressure fluctuation in the pipe caused by the negative pressure can be reduced.

以上のような作動により、開閉弁13を急激に閉止したとしても開閉弁13の下流側配管の圧力変化を吐出制御器17が吸収するため、配管14の末端の吐出部15から薬液が勢いよく飛び出すのを防止し、その後に配管内が負圧になることによって配管の末端部から大気が吸い戻されるのを防止することができる。ここで開閉弁13を急激に閉止した後に生じる負圧は、流れる流体の流量や配管14の長さによって変化するので大気の吸い戻し量も変化するが、ダイヤフラム3のサイズや形状、通気孔8の径を調整することによって一定になるように調整可能である。また、本発明の吐出制御器17は流路内が流体の滞留部分がなく、部品点数が3つと非常に少ないので組立てが容易でありコンパクトに形成することができる。また、第一流路4及び第二流路5が同一軸線上に形成され、該流路4、5の内径の最下部の位置が液室6の底面とほぼ面一となるように設計されているため、流路が略直線状となり圧力損失が少なく流量特性に優れており効率的に液室6内の流体を流すことができる。このことから、流体にスラリーを流してもスラリーが固着しにくく詰まることのない構成であるので好適である。なお、このような作用は特に医療分野においても有用であり、一般的な薬液の定量滴下を行う際に、開閉弁の閉止時に流体が瞬間的に飛び出したり流体の吸い込みが防止されるので常に安定した流体の供給が行われ、厳密な量の滴下の制御を行うことができる。   Even if the on-off valve 13 is suddenly closed by the above operation, the discharge controller 17 absorbs the pressure change in the downstream pipe of the on-off valve 13, so that the chemical solution is vigorous from the discharge part 15 at the end of the pipe 14. It is possible to prevent the air from sucking out from the end portion of the pipe by preventing the air from popping out and then the negative pressure in the pipe. Here, the negative pressure generated after the on-off valve 13 is abruptly closed changes depending on the flow rate of the flowing fluid and the length of the pipe 14, so that the amount of air sucked back also changes, but the size and shape of the diaphragm 3, the vent hole 8 It can be adjusted to be constant by adjusting the diameter. Further, the discharge controller 17 of the present invention has no fluid staying portion in the flow path and the number of parts is very small as three, so that it can be easily assembled and can be made compact. In addition, the first flow path 4 and the second flow path 5 are formed on the same axis, and the position of the bottom of the inner diameter of the flow paths 4 and 5 is designed to be substantially flush with the bottom surface of the liquid chamber 6. Therefore, the flow path is substantially linear, the pressure loss is small, the flow characteristics are excellent, and the fluid in the liquid chamber 6 can flow efficiently. For this reason, it is preferable because the slurry is hard to stick and does not clog even when the slurry is flowed to the fluid. In addition, such an action is particularly useful in the medical field, and when performing a regular drop of a general chemical solution, it is always stable because the fluid is prevented from instantaneously ejecting or sucking in the fluid when the on-off valve is closed. Thus, the fluid can be supplied and a precise amount of dripping can be controlled.

次に、第二の実施形態の開閉弁付き吐出制御器について説明する。   Next, the discharge controller with on-off valve of the second embodiment will be described.

図6、図7より、本実施形態は吐出制御器の本体21に流路の開閉を行う開閉弁の構成を一体的に設けたものである。吐出制御器は、本体21上部とダイヤフラム27とボンネット26で形成される吐出制御器部と、本体21下部と弁体40と駆動部38とで形成される開閉弁部からなる。   6 and 7, in the present embodiment, the main body 21 of the discharge controller is integrally provided with an open / close valve configuration for opening and closing the flow path. The discharge controller includes a discharge controller part formed by the upper part of the main body 21, the diaphragm 27 and the bonnet 26, and an on-off valve part formed by the lower part of the main body 21, the valve body 40 and the drive part 38.

PTFE製の本体21は、上面中央には略すり鉢状の液室34を有しており、液室34に連通する第二流路29が設けられている。このとき液室34の底面は平坦に設けられ、第二流路29の内径の最下部の位置が液室34の底面とほぼ面一となるように形成されている。また、本体21の下面中央に略すり鉢状の弁室36を有している。弁室36の底部(図6、7では天井面)は平坦に設けられ、底部中央には第一流路28と連通した開口部があり、該開口部の周縁部は弁座39となっている。このとき弁座39は開口部から突出せずに弁室36底部と同じ高さで設けられている。また、液室34と弁室36とは連通流路37によって連通されている。すなわち第一流路28から流入した流体は開口部を経て弁室36に流入し、連通流路37を経て液室34に流入し、第二流路29を通って流出される。   The PTFE main body 21 has a substantially mortar-shaped liquid chamber 34 at the center of the upper surface, and a second flow path 29 communicating with the liquid chamber 34 is provided. At this time, the bottom surface of the liquid chamber 34 is provided so as to be flat and the lowest position of the inner diameter of the second flow path 29 is substantially flush with the bottom surface of the liquid chamber 34. In addition, a substantially mortar-shaped valve chamber 36 is provided at the center of the lower surface of the main body 21. The bottom of the valve chamber 36 (the ceiling surface in FIGS. 6 and 7) is provided flat, and there is an opening communicating with the first flow path 28 in the center of the bottom, and the periphery of the opening is a valve seat 39. . At this time, the valve seat 39 does not protrude from the opening and is provided at the same height as the bottom of the valve chamber 36. The liquid chamber 34 and the valve chamber 36 are communicated with each other through a communication channel 37. That is, the fluid flowing in from the first flow path 28 flows into the valve chamber 36 through the opening, flows into the liquid chamber 34 through the communication flow path 37, and flows out through the second flow path 29.

PVDF製のボンネット26は本体21の上部に接合されている。下面中央に略すり鉢状の空気室33を有しており、空気室33と外部とを連通させるφ0.3mmの通気孔35が形成されている。   A PVDF bonnet 26 is joined to the upper portion of the main body 21. A substantially mortar-shaped air chamber 33 is provided at the center of the lower surface, and a φ0.3 mm vent hole 35 is formed to communicate the air chamber 33 with the outside.

PTFE製のダイヤフラム27は円盤状に形成されており、平面状で他より厚めに形成された中央部と中央部から径方向外側へ延設された薄肉の膜部と該膜部から径方向外側へ延設された環状の外周縁部からなり、外周縁部を本体21とボンネット26とによって挟持固定されており、ダイヤフラム27で液室34と空気室33とを隔離している。またダイヤフラム27の中央付近は膜部の変形によって上下に変位自在となっており、液室34内部の流体圧力によってダイヤフラム27が変位することで液室34内の容積が変化する。このとき空気室33内の容積も変化し、空気室33内の容積の変化に応じてボンネット26に設けられた通気孔35から空気が出入りする。   The diaphragm 27 made of PTFE is formed in a disk shape, and has a flat central portion formed thicker than the others, a thin membrane portion extending radially outward from the central portion, and a radially outer side from the membrane portion. The outer peripheral edge is sandwiched and fixed between the main body 21 and the bonnet 26, and the diaphragm 27 separates the liquid chamber 34 and the air chamber 33. In addition, the vicinity of the center of the diaphragm 27 can be displaced up and down by the deformation of the film portion, and the volume in the liquid chamber 34 is changed by the displacement of the diaphragm 27 by the fluid pressure inside the liquid chamber 34. At this time, the volume in the air chamber 33 also changes, and air enters and exits from the vent hole 35 provided in the bonnet 26 according to the change in the volume in the air chamber 33.

駆動部38は、弁体40を上下動させるために使用され、本体21の下部に当接してボルト・ナットなど(図示せず)で固定されている。駆動部38は、シリンダ本体22、ダイヤフラム23、隔膜押さえ24、ピストン25等により構成されている。   The drive unit 38 is used to move the valve body 40 up and down, and is in contact with the lower part of the main body 21 and fixed with bolts and nuts (not shown). The drive unit 38 includes a cylinder body 22, a diaphragm 23, a diaphragm retainer 24, a piston 25, and the like.

PVDF製のシリンダ本体22は本体21の下面に接合され、内部に後記ピストン25が収容されるシリンダ部42とシリンダ部42上部には後記隔膜押さえ24が収容される段差部43が設けられている。また、シリンダ本体22のシリンダ部42は後記ピストン25によって、シリンダ部42の天井面となる隔膜押さえ24下端面とシリンダ部42内周面と後記ピストン25上端面とで囲まれて形成された第一空間部と、シリンダ部42底面及び内周面とピストン25下端面とで囲まれて形成された第二空間部とに分けられており、シリンダ本体22の側面に設けられた第一エア口31は第一空間部に、第二エア口32は第二空間部に各々連通している。   The cylinder body 22 made of PVDF is joined to the lower surface of the body 21, and a cylinder portion 42 in which the later-described piston 25 is accommodated and a step portion 43 in which the later-described diaphragm retainer 24 is accommodated are provided on the cylinder portion 42. . A cylinder portion 42 of the cylinder body 22 is formed by a piston 25, which is surrounded by a lower end surface of a diaphragm retainer 24 serving as a ceiling surface of the cylinder portion 42, an inner peripheral surface of the cylinder portion 42, and an upper end surface of the piston 25 described later. A first air port provided on the side surface of the cylinder body 22 is divided into one space portion, a second space portion formed by being surrounded by the bottom surface and inner peripheral surface of the cylinder portion 42 and the lower end surface of the piston 25. 31 communicates with the first space, and the second air port 32 communicates with the second space.

PTFE製のダイヤフラム23は、中央の弁体40と弁体40外周に径方向に延設された膜部41とが一体的に形成され、膜部41外周の周縁部は本体21と後記隔膜押さえ24によって挟持固定されている。弁体40の下部はピストン25の連結部44が接合されており、ピストン25の上下動にあわせて弁体40も上下して本体21の弁座39と圧接・離間されることによって流体の流れを閉止・開放している。   The diaphragm 23 made of PTFE is integrally formed with a central valve body 40 and a film portion 41 extending radially on the outer periphery of the valve body 40, and the peripheral portion of the outer periphery of the film portion 41 is formed on the main body 21 and a post-membrane diaphragm presser. 24 is clamped and fixed. The connecting portion 44 of the piston 25 is joined to the lower portion of the valve body 40, and the valve body 40 also moves up and down as the piston 25 moves up and down and is pressed against and separated from the valve seat 39 of the main body 21. Is closed / open.

PVDF製の隔膜押さえ24は、シリンダ本体22の上部の段差部43に嵌挿されており、中央に後記ピストン25の連結部44が貫通する貫通孔45が設けられている。   The PVDF diaphragm retainer 24 is fitted into a stepped portion 43 at the top of the cylinder body 22, and a through hole 45 through which a connecting portion 44 of the piston 25 described later passes is provided at the center.

PVDF製のピストン25は、下部に円盤状の鍔部46と鍔部46上面中央に前記ダイヤフラム23と接合される連結部44が上方に突出して設けられている。鍔部46はシリンダ部42内にシールした状態且つ軸線方向に上下動自在に嵌挿されている。また、鍔部46下面とシリンダ部42底面との間でスプリング30を支承している。したがってピストン25はスプリング30によって常に上方向へ付勢されていることになる。また、連結部44は隔膜押さえ24の貫通孔45をシールした状態且つ軸線方向に上下動自在に貫通している。   The piston 25 made of PVDF is provided with a disk-like flange portion 46 at the lower portion and a connecting portion 44 that is joined to the diaphragm 23 at the center of the upper surface of the flange portion 46 so as to protrude upward. The flange portion 46 is inserted into the cylinder portion 42 so as to be vertically movable in a sealed state and in the axial direction. Further, the spring 30 is supported between the bottom surface of the flange portion 46 and the bottom surface of the cylinder portion 42. Therefore, the piston 25 is always urged upward by the spring 30. In addition, the connecting portion 44 penetrates the through hole 45 of the diaphragm retainer 24 so as to be movable up and down in the axial direction.

上記の構成からなる第二の実施形態の開閉弁付き吐出制御器の動作について説明する。   Operation | movement of the discharge controller with an on-off valve of 2nd embodiment which consists of said structure is demonstrated.

吐出制御器は図4に示されるような半導体洗浄装置の薬液供給ライン用いられ、本実施形態においては図4の開閉弁13と吐出制御器17が一体的となって配管14に設置されている。まず、第一エア口31から外部より作動流体として圧縮空気が注入されると、圧縮空気の圧力でピストン25がスプリング30に抗して押し下げられるため連結部44と連結部44の上端部に接合された弁体40も下方へ引き下げられ、弁体40と弁座39が離間して弁は開状態となって配管ラインに流体が流れる。   The discharge controller is used as a chemical solution supply line of a semiconductor cleaning device as shown in FIG. 4, and in this embodiment, the on-off valve 13 and the discharge controller 17 of FIG. . First, when compressed air is injected from the first air port 31 as a working fluid from the outside, the piston 25 is pushed down against the spring 30 by the pressure of the compressed air, so the connecting portion 44 and the upper end portion of the connecting portion 44 are joined. The valve body 40 is also lowered downward, the valve body 40 and the valve seat 39 are separated, the valve is opened, and the fluid flows through the piping line.

第一エア口31への圧縮空気の注入を停止すると、ピストン25を下方へ押し下げようとする力がなくなる。そしてスプリング30の付勢によりピストン25が押し上げられるのに伴って、連結部44とその上端部に接合された弁体40も上方へ押し上げられ、弁体40が弁座39に押圧されて弁は閉状態となる(図6、7の状態)。このとき、流体の流れを急激に閉止した後の吐出制御器部の作動は第一の実施形態と同様なので説明を省略する。   When the injection of the compressed air into the first air port 31 is stopped, the force for pushing the piston 25 downward is lost. As the piston 25 is pushed up by the urging of the spring 30, the connecting body 44 and the valve body 40 joined to the upper end thereof are also pushed up, the valve body 40 is pressed against the valve seat 39, and the valve It will be in a closed state (state of FIG. 6, 7). At this time, since the operation of the discharge controller after the fluid flow is abruptly closed is the same as that of the first embodiment, description thereof is omitted.

本実施形態の吐出制御器は、吐出制御器部と開閉弁部とが一体的に形成されており、流体の流れを閉止・開放する開閉弁部の弁体40のすぐ下流側に吐出制御器部が設けられている構成のため、開閉弁部による流体の流れの閉止・開放に対して吐出制御器部が即座に対応することができ、急激な圧力変動によって配管の末端から薬液が勢いよく飛び出したり、負圧によって配管の末端部から大気が吸い戻されるのを効果的に防止することができる。
さらに、図4において開閉弁13と吐出制御器17の2つの部材を1つの弁装置として形成できるので、コンパクトで半導体洗浄装置内のスペースを有効に活用でき、好適である。
In the discharge controller of this embodiment, the discharge controller part and the opening / closing valve part are integrally formed, and the discharge controller is provided immediately downstream of the valve body 40 of the opening / closing valve part for closing and opening the fluid flow. Because of the structure provided, the discharge controller can respond immediately to the closing / opening of the fluid flow by the on-off valve, and the chemical solution from the end of the pipe vigorously due to sudden pressure fluctuations It is possible to effectively prevent the atmospheric air from being sucked out or sucked back from the end of the pipe by negative pressure.
Further, since the two members of the on-off valve 13 and the discharge controller 17 in FIG. 4 can be formed as one valve device, it is preferable because it is compact and the space in the semiconductor cleaning device can be effectively utilized.

本発明の吐出制御器の駆動部は、図6に示すようなエア駆動でなく図8に示すような電気駆動でも良い。この場合、駆動部51がステッピングモータを有するモータ部52と、モータ部52の下部にモータの軸にギアを介して連結されたステム53が設けられている。ステム53は隔膜押さえ54の貫通孔55内に位置するように配置されている。駆動部51のステム53の上端部には、弁体56が螺着により設置されており、モータ部52を駆動してステム53を上下動させることに伴い、弁体56を上下動することができる。なお、弁体56は、ステム53を回動することで上下動させるように形成しても良い。   The drive unit of the discharge controller of the present invention may be an electric drive as shown in FIG. 8 instead of an air drive as shown in FIG. In this case, the drive unit 51 includes a motor unit 52 having a stepping motor, and a stem 53 connected to the motor shaft via a gear at a lower portion of the motor unit 52. The stem 53 is disposed so as to be positioned in the through hole 55 of the diaphragm retainer 54. A valve body 56 is screwed to the upper end portion of the stem 53 of the drive unit 51, and the valve body 56 can be moved up and down as the motor unit 52 is driven to move the stem 53 up and down. it can. The valve body 56 may be formed to move up and down by rotating the stem 53.

本実施形態の開閉弁部の構成は、本体21に一体的に設けられて流路の全開と全閉を行える弁であればダイヤフラム弁、ストップ弁、ボール弁、バタフライ弁、ゲート弁などいずれでも良いが、特に半導体製造分野においてはパーティクルの発生が抑えられるダイヤフラム弁が好ましい。ここでの開閉弁部の目的は速やかな流体の停止を行うことであるため、その駆動方法はエア駆動であることが好ましい。   The configuration of the on-off valve portion of this embodiment can be any diaphragm valve, stop valve, ball valve, butterfly valve, gate valve, etc. as long as the valve is provided integrally with the main body 21 and can fully open and close the flow path. Although good, particularly in the field of semiconductor manufacturing, a diaphragm valve capable of suppressing the generation of particles is preferable. Since the purpose of the on-off valve portion here is to quickly stop the fluid, the driving method is preferably air driving.

また、本発明の吐出制御器の本体1、21に圧力計が一体的に設けられても良く(図示せず)、装置内で場所を取らずにコンパクトな状態で流路内の圧力変化を読み取れるようにすると共に、圧力を感知してより安定した制御を行えるようにしても良い。   Moreover, a pressure gauge may be provided integrally with the main body 1 or 21 of the discharge controller of the present invention (not shown), and the pressure change in the flow path can be changed in a compact state without taking up space in the apparatus. In addition to being able to read, pressure may be sensed to enable more stable control.

次に本発明の吐出制御器を作成し、その性能を以下に示す試験方法で評価を行った。   Next, the discharge controller of the present invention was prepared, and its performance was evaluated by the following test method.

<吐出制御試験>
図9のような試験ラインを用いて、吐出制御器100の有無によってエア式自動弁101を急速に閉止させた時の配管末端での液面の状態を比較した。この試験ラインでは、薬液のタンク106からポンプ105によって配管に流体を流して配管末端から薬液を吐出する構成になっている。まずエア式自動弁101を開状態として流体(水)を流し、上流側の手動弁102と下流側のニードル弁103を調整して流量計104の測定値が所定の流量になるように設定する(流量は2.0L/minの場合と3.0L/minの場合で行う)。次にエア式自動弁101を急速に閉止するとエア式自動弁101の下流側に負圧が発生して配管末端から大気を吸い戻す。このときの液面高さhを測定した。図5のように配管内に液残りがない場合は吐出部の端面から液面までの距離を液面高さhとし、図11のように配管内に一部取り残された液残り69がある場合は吐出部の端面から液残り69を除いた時の液面までの距離を液面高さhとする。また液残り69がある場合はその数を測定した。なお、試験に用いた配管はタンク106から手動弁102までは口径25mmのポリ塩化ビニル製パイプを用いそれ以降はPFA製のチューブを使用した。また、配管末端のPFA製チューブの内径は3.95mmであった。
<Discharge control test>
Using the test line as shown in FIG. 9, the state of the liquid level at the end of the pipe when the air type automatic valve 101 was rapidly closed depending on the presence or absence of the discharge controller 100 was compared. In this test line, a fluid is caused to flow from the chemical solution tank 106 to the piping by the pump 105 and the chemical solution is discharged from the end of the piping. First, the air type automatic valve 101 is opened to allow fluid (water) to flow, and the manual valve 102 on the upstream side and the needle valve 103 on the downstream side are adjusted to set the measured value of the flow meter 104 to a predetermined flow rate. (The flow rate is 2.0 L / min and 3.0 L / min). Next, when the air type automatic valve 101 is rapidly closed, a negative pressure is generated on the downstream side of the air type automatic valve 101 and the air is sucked back from the end of the pipe. The liquid level height h at this time was measured. When there is no liquid remaining in the pipe as shown in FIG. 5, the distance from the end surface of the discharge portion to the liquid level is the liquid level height h, and there is a liquid remaining 69 left partially in the pipe as shown in FIG. In this case, the distance from the end face of the discharge portion to the liquid level when the remaining liquid 69 is removed is defined as a liquid level height h. Further, when there was a liquid residue 69, the number was measured. The piping used for the test was a polyvinyl chloride pipe having a diameter of 25 mm from the tank 106 to the manual valve 102, and thereafter a PFA tube was used. The inner diameter of the PFA tube at the end of the pipe was 3.95 mm.

<実施例1>
図9の試験ラインに吐出制御器100に図1に示す吐出制御器を用いて吐出制御試験を繰り返し5回行った。流量が2.0L/minの場合を表1に、流量が3.0L/minの場合を表2に示す。
<Example 1>
The discharge control test was repeated 5 times using the discharge controller shown in FIG. 1 for the discharge controller 100 in the test line of FIG. Table 1 shows the case where the flow rate is 2.0 L / min, and Table 2 shows the case where the flow rate is 3.0 L / min.

<比較例1>
図9の試験ラインにおいて吐出制御器100を設けない状態で吐出制御試験を繰り返し5回行った。流量が2.0L/minの場合を表1に、流量が3.0L/minの場合を表2に示す。
<Comparative Example 1>
In the test line of FIG. 9, the discharge control test was repeated five times without the discharge controller 100 being provided. Table 1 shows the case where the flow rate is 2.0 L / min, and Table 2 shows the case where the flow rate is 3.0 L / min.

Figure 2010025171
Figure 2010025171

Figure 2010025171
Figure 2010025171

表1、表2より、実施例1の吐出制御器100を設置した場合では、配管末端中に液残りがなく配管内に気泡を噛み込むことを防止して、液面高さhも安定していることが判る。一方、比較例1の吐出制御器100を設置しない場合では、配管末端に液残りが発生し、液面高さhも高くなり、吐出の状態が安定しない。以上のことから、本発明の吐出制御器を設置することで、流体吐出時の配管末端での不具合を効果的に防止することが可能である。また、液面高さが安定することで吐出される流体の量を安定して制御することができる。そのため一般的な薬液の定量的な吐出や滴下を行う際に、厳密な量の薬液の滴下の制御を行うことができる。   From Table 1 and Table 2, when the discharge controller 100 of Example 1 is installed, there is no liquid residue in the end of the pipe, preventing air bubbles from entering the pipe, and the liquid level height h is also stable. You can see that On the other hand, when the discharge controller 100 of Comparative Example 1 is not installed, a liquid residue is generated at the end of the pipe, the liquid level height h is also increased, and the discharge state is not stable. From the above, by installing the discharge controller of the present invention, it is possible to effectively prevent problems at the end of the pipe during fluid discharge. In addition, since the liquid level is stabilized, the amount of fluid discharged can be controlled stably. Therefore, when a general chemical solution is quantitatively discharged or dropped, it is possible to control the dripping of a strict amount of the chemical solution.

本発明の第一の実施形態である内部に流体が流れている状態の吐出制御器を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the discharge controller of the state which is flowing into the inside which is 1st embodiment of this invention. 図1の吐出制御器の上流側に設置された開閉弁を急激に閉止した直後の状態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the state immediately after closing the on-off valve installed in the upstream of the discharge controller of FIG. 1 rapidly. 図2の後に開閉弁の下流側が負圧になった状態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the state by which the downstream of the on-off valve became the negative pressure after FIG. 本発明の吐出制御器を半導体洗浄装置の配管ラインに設置したときの配管略図である。It is piping schematic when the discharge controller of this invention is installed in the piping line of a semiconductor cleaning apparatus. 図4の配管ラインにおいて開閉弁を急激に閉止した後の配管末端の状態を示す拡大縦断面図である。FIG. 5 is an enlarged longitudinal sectional view showing a state of a pipe end after the on-off valve is rapidly closed in the pipe line of FIG. 4. 本発明の第二の実施形態の開閉弁付き吐出制御器を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the discharge controller with an on-off valve of 2nd embodiment of this invention. 図6のA−A縦断面図である。It is an AA longitudinal cross-sectional view of FIG. 本発明の第三の実施形態の開閉弁付き吐出制御器を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the discharge controller with an on-off valve of 3rd embodiment of this invention. 吐出制御試験の試験ラインを示す配管略図である。It is piping schematic which shows the test line of a discharge control test. 従来の半導体洗浄装置の配管略図である。It is piping schematic of the conventional semiconductor cleaning apparatus. 図10の配管ラインにおいて開閉弁を急激に閉止した後の配管末端の状態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the state of the piping terminal after closing an on-off valve rapidly in the piping line of FIG. 従来の水撃防止装置の一例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows an example of the conventional water hammer prevention apparatus. 従来のアキュムレータの一例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows an example of the conventional accumulator.

符号の説明Explanation of symbols

1 本体
2 ボンネット
3 ダイヤフラム
4 第一流路
5 第二流路
6 液室
7 空気室
8 通気孔
21 本体
22 シリンダ本体
23 ダイヤフラム
24 隔膜押さえ
25 ピストン
26 ボンネット
27 ダイヤフラム
28 第一流路
29 第二流路
30 スプリング
31 第一エア口
32 第二エア口
33 空気室
34 液室
35 通気孔
36 弁室
37 連通流路
38 駆動部
39 弁座
40 弁体
42 シリンダ部
44 連結部
45 貫通孔
46 鍔部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Main body 2 Bonnet 3 Diaphragm 4 First flow path 5 Second flow path 6 Liquid chamber 7 Air chamber 8 Vent 21 Main body 22 Cylinder main body 23 Diaphragm 24 Diaphragm retainer 25 Piston 26 Bonnet 27 Diaphragm 28 First flow path 29 Second flow path 30 Spring 31 First air port 32 Second air port 33 Air chamber 34 Liquid chamber 35 Ventilation hole 36 Valve chamber 37 Communication flow path 38 Drive part 39 Valve seat 40 Valve body 42 Cylinder part 44 Connection part 45 Through hole 46 Spear part

Claims (8)

液室と、該液室に各々連通する第一流路と第二流路とを有する本体と、
空気室と、該空気室に連通する通気孔を有するボンネットと、
該液室と該空気室とを隔てるように該本体と該ボンネットによって周縁部を挟持固定されたダイヤフラムとを具備することを特徴とする吐出制御器。
A main body having a liquid chamber and a first flow path and a second flow path respectively communicating with the liquid chamber;
An air chamber, and a bonnet having a vent hole communicating with the air chamber;
A discharge controller comprising: a main body and a diaphragm sandwiched and fixed by a bonnet so as to separate the liquid chamber and the air chamber.
前記第一流路及び第二流路の内径の最下部の位置が、底面が平坦に設けられた前記液室の底面とほぼ面一となるように各々形成してなることを特徴とする請求項1記載の吐出制御器。   The bottom position of the inner diameter of each of the first channel and the second channel is formed so as to be substantially flush with the bottom surface of the liquid chamber having a flat bottom surface. The discharge controller according to 1. 前記本体に開閉弁が一体的に設けられていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の吐出制御器。   The discharge controller according to claim 1, wherein an opening / closing valve is integrally provided in the main body. 液室と弁室が設けられ、該弁室に連通する第一流路と、該液室に連通する第二流路と、該液室と該弁室とに連通する連通流路とを有する本体と、
空気室と、該空気室に連通する通気孔を有するボンネットと、
該液室と該空気室とを隔てるように該本体と該ボンネットによって周縁部を挟持固定されたダイヤフラムと、
該第一流路に連通する該弁室の開口部の開口面積を変化させる弁体と、
該弁体を駆動させる駆動部とを具備することを特徴とする請求項3記載の吐出制御器。
A main body provided with a liquid chamber and a valve chamber, and having a first flow path communicating with the valve chamber, a second flow path communicating with the liquid chamber, and a communication flow path communicating with the liquid chamber and the valve chamber When,
An air chamber, and a bonnet having a vent hole communicating with the air chamber;
A diaphragm having a peripheral edge sandwiched and fixed by the main body and the bonnet so as to separate the liquid chamber and the air chamber;
A valve body for changing an opening area of the opening of the valve chamber communicating with the first flow path;
The discharge controller according to claim 3, further comprising a drive unit that drives the valve body.
前記駆動部が、内部にシリンダ部を有するシリンダ本体と、該シリンダ部の内周面に上下動可能且つシールした状態で摺接され且つ該シリンダ部の天井面中央に設けられた貫通孔をシールした状態で貫通するように中央より上方に突出して設けられた連結部を有するピストンと、該シリンダ本体の周側面に設けられ、該シリンダ部の天井面及び内周面と前記ピストンの上端面とで囲まれて形成された第一空間部と、該シリンダ部の底面及び内周面と該ピストンの下端面とで囲まれて形成された第二空間部とにそれぞれ連通されるエア口とを具備し、
前記弁体が該ピストンの連結部の上端部に固定されたことを特徴とする請求項4記載の吐出制御器。
The drive part seals a cylinder body having a cylinder part inside, a through hole provided in the center of the ceiling surface of the cylinder part in sliding contact with the inner peripheral surface of the cylinder part in a vertically movable and sealed state. A piston having a connecting portion that protrudes upward from the center so as to penetrate in a closed state, a peripheral surface of the cylinder body, a ceiling surface and an inner peripheral surface of the cylinder portion, and an upper end surface of the piston A first space portion formed by being surrounded by, and an air port communicating with the second space portion formed by being surrounded by the bottom surface and the inner peripheral surface of the cylinder portion and the lower end surface of the piston. Equipped,
The discharge controller according to claim 4, wherein the valve body is fixed to an upper end portion of a connecting portion of the piston.
前記駆動部が、モータ部と、該モータ部の駆動により前記弁体を上下動させるステムとを具備したことを特徴とする請求項4記載の吐出制御器。   The discharge controller according to claim 4, wherein the driving unit includes a motor unit and a stem that moves the valve body up and down by driving the motor unit. 前記本体に圧力計が一体的に設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の吐出制御器。   The discharge controller according to claim 1, wherein a pressure gauge is integrally provided on the main body. 前記ダイヤフラムの材質がポリテトラフルオロエチレンであることを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の吐出制御器。   The discharge controller according to any one of claims 1 to 7, wherein a material of the diaphragm is polytetrafluoroethylene.
JP2008185069A 2008-07-16 2008-07-16 Delivery controller Pending JP2010025171A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008185069A JP2010025171A (en) 2008-07-16 2008-07-16 Delivery controller

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008185069A JP2010025171A (en) 2008-07-16 2008-07-16 Delivery controller

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010025171A true JP2010025171A (en) 2010-02-04

Family

ID=41731205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008185069A Pending JP2010025171A (en) 2008-07-16 2008-07-16 Delivery controller

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010025171A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106641379A (en) * 2016-11-29 2017-05-10 上海应用技术大学 Automatic exhaust valve
JP2018009667A (en) * 2016-07-15 2018-01-18 旭有機材株式会社 Diaphragm valve
JP2019043761A (en) * 2017-09-07 2019-03-22 シンフォニアテクノロジー株式会社 Air nozzle, and part feeder provided with the same
WO2020111148A1 (en) * 2018-11-30 2020-06-04 旭有機材株式会社 Diaphragm valve
WO2023188822A1 (en) * 2022-03-30 2023-10-05 株式会社フジキン Valve device

Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS47347B1 (en) * 1966-05-26 1972-01-07
JPS54128021A (en) * 1978-03-27 1979-10-04 Katsuma Kazunari Method of and apparatus for preventing generation of waterhammering
JPS6173890U (en) * 1984-06-25 1986-05-19
JPS63152079U (en) * 1987-03-25 1988-10-05
JPH0458679U (en) * 1990-09-27 1992-05-20
JPH04126096U (en) * 1991-05-07 1992-11-17 日立造船株式会社 water hammer shock absorber
JPH0611091A (en) * 1992-06-25 1994-01-21 Nippon Beroo Kk Water hammer prevention device
JPH0623830Y2 (en) * 1990-06-22 1994-06-22 エスエムシー株式会社 Pulsation attenuator
JPH0821567A (en) * 1994-07-08 1996-01-23 Inax Corp Water hammer preventing device
JPH08159016A (en) * 1994-12-12 1996-06-18 Nippon Pillar Packing Co Ltd Pulsation width suppress device for pump
JPH08284219A (en) * 1995-04-18 1996-10-29 Sanei Suisen Seisakusho:Kk Faucet with water hammer absorbing function
JPH09292053A (en) * 1996-04-30 1997-11-11 Toto Ltd Water hammer preventing structure in water feed and hot water feed facility
JPH09296877A (en) * 1996-05-02 1997-11-18 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Valve
JP2002089775A (en) * 2000-07-14 2002-03-27 Suzuki Sogyo Co Ltd Liquid hammer preventing tool
JP2003004151A (en) * 2001-06-21 2003-01-08 Asahi Organic Chem Ind Co Ltd Manifold valve
JP2003083466A (en) * 2001-09-11 2003-03-19 Ckd Corp Flow rate control valve
JP2005076731A (en) * 2003-08-29 2005-03-24 Asahi Organic Chem Ind Co Ltd Socket for joint for working fluid, and valve having the socket
JP2005233298A (en) * 2004-02-19 2005-09-02 Ckd Corp Pilot valve and pneumatic cylinder

Patent Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS47347B1 (en) * 1966-05-26 1972-01-07
JPS54128021A (en) * 1978-03-27 1979-10-04 Katsuma Kazunari Method of and apparatus for preventing generation of waterhammering
JPS6173890U (en) * 1984-06-25 1986-05-19
JPS63152079U (en) * 1987-03-25 1988-10-05
JPH0623830Y2 (en) * 1990-06-22 1994-06-22 エスエムシー株式会社 Pulsation attenuator
JPH0458679U (en) * 1990-09-27 1992-05-20
JPH04126096U (en) * 1991-05-07 1992-11-17 日立造船株式会社 water hammer shock absorber
JPH0611091A (en) * 1992-06-25 1994-01-21 Nippon Beroo Kk Water hammer prevention device
JPH0821567A (en) * 1994-07-08 1996-01-23 Inax Corp Water hammer preventing device
JPH08159016A (en) * 1994-12-12 1996-06-18 Nippon Pillar Packing Co Ltd Pulsation width suppress device for pump
JPH08284219A (en) * 1995-04-18 1996-10-29 Sanei Suisen Seisakusho:Kk Faucet with water hammer absorbing function
JPH09292053A (en) * 1996-04-30 1997-11-11 Toto Ltd Water hammer preventing structure in water feed and hot water feed facility
JPH09296877A (en) * 1996-05-02 1997-11-18 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Valve
JP2002089775A (en) * 2000-07-14 2002-03-27 Suzuki Sogyo Co Ltd Liquid hammer preventing tool
JP2003004151A (en) * 2001-06-21 2003-01-08 Asahi Organic Chem Ind Co Ltd Manifold valve
JP2003083466A (en) * 2001-09-11 2003-03-19 Ckd Corp Flow rate control valve
JP2005076731A (en) * 2003-08-29 2005-03-24 Asahi Organic Chem Ind Co Ltd Socket for joint for working fluid, and valve having the socket
JP2005233298A (en) * 2004-02-19 2005-09-02 Ckd Corp Pilot valve and pneumatic cylinder

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018009667A (en) * 2016-07-15 2018-01-18 旭有機材株式会社 Diaphragm valve
CN106641379A (en) * 2016-11-29 2017-05-10 上海应用技术大学 Automatic exhaust valve
CN106641379B (en) * 2016-11-29 2018-09-07 上海应用技术大学 A kind of automatic exhaust steam valve
JP2019043761A (en) * 2017-09-07 2019-03-22 シンフォニアテクノロジー株式会社 Air nozzle, and part feeder provided with the same
WO2020111148A1 (en) * 2018-11-30 2020-06-04 旭有機材株式会社 Diaphragm valve
CN113167394A (en) * 2018-11-30 2021-07-23 旭有机材株式会社 Diaphragm valve
US11473682B2 (en) 2018-11-30 2022-10-18 Asahi Yukizai Corporation Diaphragm valve
CN113167394B (en) * 2018-11-30 2023-08-25 旭有机材株式会社 Diaphragm valve
JP7357639B2 (en) 2018-11-30 2023-10-06 旭有機材株式会社 diaphragm valve
WO2023188822A1 (en) * 2022-03-30 2023-10-05 株式会社フジキン Valve device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010025171A (en) Delivery controller
US20120048401A1 (en) Ball check valve
JP2004044807A (en) Pumping prevention type distribution valve
US20100043886A1 (en) Heated humidified chamber with autofeed mechanism
US7694939B2 (en) Flow rate control valve
RU2600499C2 (en) Medium regulator with outlet valve
JP4445238B2 (en) Fluid control valve
JP5114527B2 (en) Liquid supply device
KR101629359B1 (en) Pump and fluid dispensing method
KR20170092219A (en) Relief valve
JP2017133542A (en) Valve device
JP2008121703A (en) Valve
JP2020153502A (en) Fluid control valve
JP4694341B2 (en) Fluid control valve
US11261990B2 (en) Actuator and valve device
JP4925936B2 (en) Suck back valve
JP4731027B2 (en) Control valve
JP2018021600A (en) Control valve for steam
JP6737492B2 (en) Valve and manifold valve using the same
JP6478753B2 (en) Liquid discharge device
WO2018131244A1 (en) Valve device
JP5320043B2 (en) Diaphragm valve
JP2007069928A (en) Liquid filling nozzle
JP2005282649A (en) Flow rate control valve
JP5902063B2 (en) Liquid supply control valve

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110607

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121214

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130507