JP2009516900A - イオントラップ質量分析計を走査するための方法および装置 - Google Patents
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Abstract
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Claims (17)
- イオントラップおよび下流の質量分析計を有する質量分析計システムを稼動する方法であって、該方法は、
(a) 複数のイオン群を該イオントラップに提供する工程と、
(b) 第一の質量対電荷比を選択する工程と、
(c) (i)該第一の質量対電荷比とは異なる第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンと、(ii)該第一の質量対電荷比とは異なる該第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンに対する質量シグナルとのうちの1つを除去するように、該下流の質量分析計を設定する工程と、
(d) 該第一の質量対電荷比の第一のイオン群を、該イオントラップから該下流の質量分析計まで排出する工程と
を包含する、方法。 - 前記下流の質量分析計は、前記第一の質量対電荷比とは異なる前記第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去するためのイオンガイドであり、
工程(c)は、第一のRFおよびDC駆動電圧を該イオンガイドに提供して、前記第一のイオン群を半径方向に制限および透過させ、該第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去する工程を包含する、請求項1に記載の方法。 - 工程(d)の後、前記第一のイオン群を、前記イオンガイドから検出器まで排出し、該検出器において該第一のイオン群を検出する工程をさらに包含する、請求項2に記載の方法。
- 前記第一の質量対電荷比とは異なる第二の質量対電荷比を選択する工程と、
工程(c)の後、該第二の質量対電荷比とは異なる第二の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去するように、前記下流の質量分析計を再設定する工程と、
該第二の質量対電荷比の第二のイオン群を、前記イオントラップから該下流の質量分析計まで排出する工程と
をさらに包含する、請求項1に記載の方法。 - 前記下流の質量分析計は、前記第一の質量対電荷比とは異なる前記第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去するためのイオンガイドであり、
工程(c)は、第一のRFおよびDC駆動電圧を該イオンガイドに提供して、前記第一のイオン群を半径方向に制限および透過させ、該第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去する工程を包含し、
前記第二の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去するように該イオンガイドを再設定する工程は、該第一のRFおよびDC駆動電圧とは異なる第二のRFおよびDC駆動電圧を該イオンガイドに提供して、前記第二のイオン群を半径方向に制限および透過させ、該第二の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去する工程を包含する、請求項4に記載の方法。 - 工程(c)の後に、前記第一のイオン群を、前記イオンガイドから検出器まで排出し、該検出器において該第一のイオン群を検出する工程と、
該イオンガイドを介して前記第二のイオン群を透過させた後、該第二のイオン群を該イオンガイドから検出器まで排出し、該検出器において該第二のイオン群を検出する工程と
をさらに包含する、請求項5に記載の方法。 - 前記下流の質量分析計はTOF質量分析計であって、検出器を備え、
工程(c)は、(i)該TOF質量分析計のドリフトゾーンを横切って該検出器まで到達する前記第一のイオン群に対する第一の飛行時間範囲を決定する工程と、(ii)該第一の飛行時間範囲内に受ける該検出器からの質量シグナルを受容する工程と、(iii)該第一の飛行時間範囲外に受けた該検出器からの質量シグナルを拒否することによって、前記第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去する工程とを包含する、請求項1に記載の方法。 - 前記下流の質量分析計はTOF質量分析計であって、検出器を備え、
工程(c)は、(i)該TOF質量分析計のドリフトゾーンを横切って該検出器まで到達する前記第一のイオン群に対する第一の飛行時間範囲を決定する工程と、(ii)該第一の飛行時間範囲内に受ける該検出器からの質量シグナルを受容する工程と、(iii)該第一の飛行時間範囲外に受けた該検出器からの質量シグナルを拒否することによって、前記第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去する工程とを包含し、
前記第二のイオン群を透過させるように前記下流の質量分析計を再設定する工程は、(i)該TOF質量分析計の該ドリフトゾーンを横切って該検出器まで到達する該第二のイオン群に対する第二の飛行時間範囲を決定する工程と、(ii)該第二の飛行時間範囲内に受ける該検出器からの質量シグナルを受容する工程と、(iii)該第二の飛行時間範囲外に受けた該検出器からの質量シグナルを拒否することによって、前記第二の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去する工程とを包含する、請求項4に記載の方法。 - 前記質量分析計システムは、前記イオントラップと前記下流の質量分析計との間に位置する少なくとも1つの中間的なイオン光学素子をさらに備え、
工程(d)は、前記第一のイオン群を該少なくとも1つの中間的なイオン素子に排出する工程と、該少なくとも1つの中間的なイオン光学素子内に該第一のイオン群を制限する工程と、該少なくとも1つの中間的なイオン光学素子から該下流の質量分析計まで該第一のイオン群を透過させる工程とを包含する、請求項1に記載の方法。 - (i)前記下流の質量分析計内の前記第一のイオン群に由来する前記第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンと、(ii)該下流の質量分析計内の該第一のイオン群に対する質量シグナルに由来する該第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンに対する質量シグナルとのうちの1つを除去する工程をさらに包含する、請求項1に記載の方法。
- (i)前記下流の質量分析計内の前記第一のイオン群に由来する前記第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンと、(ii)該下流の質量分析計内の該第一のイオン群に対する質量シグナルに由来する該第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンに対する質量シグナルとのうちの1つを除去する工程と、
(i)該下流の質量分析計内の前記第二のイオン群に由来する前記第二の選択されない質量対電荷比を有するイオンと、(ii)該下流の質量分析計内の該第二のイオン群に対する質量シグナルに由来する該第二の選択されない質量対電荷比を有するイオンに対する質量シグナルとのうちの1つを除去する工程と
をさらに包含する、請求項4に記載の方法。 - 複数のイオン群を受け、捕捉するためのイオントラップと、
該イオントラップから排出されたイオンを受けるための下流の質量分析計と、
選択された質量対電荷比を受けるための入力手段と、
該入力手段から該選択された質量対電荷比を受けるため、かつ該選択された質量対電荷比に基づいて該イオントラップおよび該下流の質量分析計の両方を制御するためのコントローラーであって、
その結果、該イオントラップは、該イオントラップから、該選択された質量対電荷比の選択されたイオン群を排出するように稼動可能であり、
該下流の質量分析計は、(i)第一の質量対電荷比とは異なる第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンと、(ii)該第一の質量対電荷比とは異なる該第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンに対する質量シグナルとのうちの1つを除去するように設定される、コントローラーと
を備え、
該コントローラーは、該入力手段と該イオントラップと該下流の質量分析計との通信のために結合される、質量分析計システム。 - 前記下流の質量分析計は、前記第一の質量対電荷比とは異なる前記第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去するためのイオンガイドであり、
前記コントローラーは、前記選択された質量対電荷比に基づいて該下流の質量分析計を制御することにより、対応するRFおよびDC駆動電圧が該下流の質量分析計に提供され、前記選択されたイオン群を半径方向に制限および透過させて、前記選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去するように稼動可能である、請求項12に記載の質量分析計システム。 - 前記選択されたイオン群を受け、検出するための検出器をさらに備え、前記下流の質量分析計は、該選択されたイオン群を、該下流の質量分析計から該検出器まで排出するように稼動可能である、請求項13に記載の質量分析計システム。
- 前記下流の質量分析計はTOF質量分析計であり、検出器を備え、
前記選択された質量対電荷比に基づいて該下流の質量分析計を制御することにより、(i)前記選択されたイオン群が該TOF質量分析計のドリフトゾーンを横切って該検出器まで到達するための対応する飛行時間範囲を決定するように、(ii)該対応する飛行時間範囲内に受けた該検出器からの質量シグナルを受容するように、かつ(iii)該対応する飛行時間範囲外に受けた、該検出器からの質量シグナルを拒否することによって前記選択されない質量対電荷比を有するイオンを除去するように該下流の質量分析計が稼動可能であるように、前記コントローラーが稼動可能である、請求項12に記載の質量分析計システム。 - 前記イオントラップからの前記選択されたイオン群を受けるため、および該選択されたイオン群を前記下流の質量分析計に透過させるための少なくとも1つの中間的なイオン光学素子をさらに備える、請求項12に記載の質量分析計システム。
- 前記イオントラップはリニアイオントラップである、請求項12に記載の質量分析システム。
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