JP2009291907A - Polishing apparatus and roller positioning method for polishing apparatus - Google Patents

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JP2009291907A
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Yuji Sakamoto
裕二 坂本
Akihiro Yamamoto
晋宏 山本
Seiji Masunari
誠治 増成
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid various adverse effects that may be caused if a method is adopted which is devised by the inventor and the like and polishes both sides of a sheet-like workpiece simultaneously by a pair of buffing rollers. <P>SOLUTION: This polishing apparatus comprises the pair of buffing rollers 14 (15) which are disposed along a transport path 3B formed by a plurality of transport rollers 6, 9 and simultaneously polish both sides of the sheet-like workpiece P with the sheet-like workpiece P interposed therebetween. The polishing apparatus further comprises a positioning means 30 for positioning the pair of buffing rollers 14 (15) in such a manner that the polishing position of the sheet-like workpiece P between the pair of buffing rollers 14 (15) matches a pre-identified polishing reference position 38 irrespective of whether the diameters of the buffing rollers 14 (15) are different or same. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、研磨装置及び研磨装置のローラ位置決め方法に係り、詳しくは、板状ワークを搬送する複数の搬送ローラと、これらの搬送ローラによる搬送途中で板状ワークを研磨するバフ研磨ローラとを備えた研磨装置及び研磨装置のローラ位置決め方法に関する。   The present invention relates to a polishing apparatus and a roller positioning method of the polishing apparatus, and more specifically, a plurality of transfer rollers that transfer a plate-shaped workpiece, and a buff polishing roller that polishes the plate-shaped workpiece during transfer by these transfer rollers. The present invention relates to a polishing apparatus provided and a roller positioning method of the polishing apparatus.

周知のように、板状ワークの一種であるプリント基板は、絶縁基板の片面または両面に形成した銅箔等からなる金属層の表面にフォトレジスト膜を形成し、露光、現像、エッチング等を行うフォトリソ工程を経て製作される。この場合、絶縁基板の金属層の表面にフォトレジスト膜を形成する前段階においては、その金属層をバフ研磨するのが通例とされている。   As is well known, a printed circuit board, which is a kind of plate-shaped workpiece, forms a photoresist film on the surface of a metal layer made of copper foil or the like formed on one or both sides of an insulating substrate, and performs exposure, development, etching, and the like. It is manufactured through a photolithographic process. In this case, it is customary to buff the metal layer before the photoresist film is formed on the surface of the metal layer of the insulating substrate.

この種のバフ研磨を行う研磨装置として、例えば特許文献1(同文献の図10)及び特許文献2(同文献の図8)によれば、バフ研磨ローラと、このバフ研磨ローラに対向配置されたバックアップローラとを備え、この両ローラの相互間に送り込まれた板状ワークとしてのプリント基板に対してバフ研磨ローラが研磨処理を施しつつ、該プリント基板を前方に搬送する構成が開示されている。   As a polishing apparatus for performing this type of buffing, for example, according to Patent Document 1 (FIG. 10 of the same document) and Patent Document 2 (FIG. 8 of the same document), a buffing roller and a buffing roller are arranged to face each other. And a back-up roller, and a configuration is disclosed in which a buffing roller carries out a polishing process on a printed circuit board as a plate-like work fed between the two rollers and conveys the printed circuit board forward. Yes.

そして、これらの文献に開示されたプリント基板は、可撓性を有する薄肉基板であるため、上下一対のガイド部材により直進性を維持できるように案内されながら上記の両ローラの相互間に送り込まれて研磨処理を受けると共に、研磨処理後においても同様にガイド部材により案内されながら搬送ローラによってさらに前方に搬送されていくことになる。   Since the printed circuit boards disclosed in these documents are thin flexible boards, they are fed between the above two rollers while being guided by a pair of upper and lower guide members so as to maintain straightness. Then, after the polishing process, it is further conveyed forward by the conveying roller while being guided by the guide member in the same manner.

特開2004−268249号公報JP 2004-268249 A 特開2003−062745号公報JP 2003-062745 A

ところで、上記の特許文献1、2に開示された研磨装置によれば、プリント基板がバフ研磨ローラとバックアップローラとの相互間に送り込まれる構成であるが、プリント基板が薄肉基板であると、片面のみが研磨されることに起因する反りの発生が品位低下を招くという問題が生じる。しかも、これらの研磨装置のように、バフ研磨ローラとバックアップローラとの相互間で、プリント基板をバフ研磨ローラにより研磨する構成であると、この両ローラ間に異物が介入した場合には、バックアップローラの周面の剛性が高いこと等に起因して、プリント基板に打痕が付き、これによってもプリント基板の品位低下を招くことになる。   By the way, according to the polishing apparatus disclosed in Patent Documents 1 and 2, the printed circuit board is sent between the buffing roller and the backup roller. If the printed circuit board is a thin substrate, There arises a problem that the occurrence of warping due to polishing only leads to deterioration in quality. Moreover, as in these polishing apparatuses, when the printed circuit board is polished by the buffing roller between the buffing roller and the backup roller, if a foreign object intervenes between the two rollers, the backup is performed. Due to the high rigidity of the peripheral surface of the roller, dents are made on the printed circuit board, and this also leads to deterioration of the quality of the printed circuit board.

そこで、本発明者等は、鋭意研究を重ねた結果、バックアップローラの使用を廃止し、一対のバフ研磨ローラを対向させて配置して、この一対のバフ研磨ローラの相互間にプリント基板等の板状ワークを送り込み、この板状ワークの両面をそれらのバフ研磨ローラにより同時に研磨する手法を案出するに至った。この手法によれば、従来のようなプリント基板の反りや打痕による問題を一挙に解決することが期待できる。   Therefore, as a result of intensive research, the present inventors abolished the use of the backup roller, arranged a pair of buffing rollers facing each other, and arranged a printed circuit board or the like between the pair of buffing rollers. It came to devise a method of feeding a plate-like workpiece and polishing both surfaces of the plate-like workpiece simultaneously with their buffing rollers. According to this method, it can be expected to solve the problems caused by warping and dents of the printed circuit board at the same time.

しかしながら、このように一対のバフ研磨ローラにより板状ワークの両面を同時に研磨する手法によれば、この双方のバフ研磨ローラの磨耗量が相違すること等に起因して、両者の径が異なる寸法となり、板状ワークの研磨位置が正規の位置からズレを生じるという事態を招く。このような事態は、一方のバフ研磨ローラのみを取替え交換して板状ワークの両面同時研磨を行う場合に顕著に現れる。   However, according to the method of simultaneously polishing both surfaces of the plate-like workpiece with the pair of buffing rollers as described above, the diameters of the two buffing rollers are different due to the difference in wear amount between the two buffing rollers. As a result, the polishing position of the plate-like workpiece is shifted from the normal position. Such a situation appears remarkably when only one buffing roller is replaced and replaced to perform simultaneous double-side polishing of a plate-like workpiece.

そして、このような事態が生じると、一対のバフ研磨ローラの相互間に板状ワークが適正に挟み込まれなくなるばかりでなく、両面研磨を受けている板状ワークに曲げ応力が作用して、上述のバックアップローラを使用した場合とは異種の反りが発生し、品位低下の問題を拭い去ることができないという問題が生じる。   And when such a situation occurs, not only the plate-shaped workpiece is not properly sandwiched between the pair of buffing rollers, but also bending stress acts on the plate-shaped workpiece subjected to double-side polishing, and the above-mentioned This causes a warp different from the case where the backup roller is used, and the problem of deterioration in quality cannot be removed.

本発明は、上記事情に鑑み、一対のバフ研磨ローラで板状ワークの両面を同時に研磨するという本発明者等が案出した手法を採用する場合における種々の弊害を回避することを技術的課題とする。   In view of the circumstances described above, the present invention is directed to avoiding various adverse effects in the case of adopting the method proposed by the present inventors that simultaneously polishes both surfaces of a plate-like workpiece with a pair of buffing rollers. And

上記技術的課題を解決するためになされた本発明に係る装置は、板状ワークを搬送する搬送手段と、この搬送手段による搬送途中で前記板状ワークを研磨するバフ研磨ローラとを備えた研磨装置において、前記搬送手段により形成される搬送径路の途中に配設され且つ前記板状ワークを相互間に介在させて該板状ワークの両面を同時に研磨する一対のバフ研磨ローラを備えると共に、前記一対のバフ研磨ローラの相互間における前記板状ワークの研磨位置がそれらのバフ研磨ローラのそれぞれの径の異同に拘わらず予め判明している研磨基準位置となるように前記一対のバフ研磨ローラを位置決めする位置決め手段を備えたことに特徴づけられる。ここで、上記の「位置決め手段」は、一対のバフ研磨ローラによる研磨が所定枚数の板状ワークに行われる度にもしくは所定時間が経過する度に、一対のバフ研磨ローラを位置決めするものであってもよく、または、研磨が行われている間中、継続して一対のバフ研磨ローラを位置決めするものであってもよく、もしくは、バフ研磨ローラの取替え交換時に位置決めするものであってもよい。また、上記の「搬送手段」は、複数の搬送ローラまたは搬送コンベヤもしくはこれらの組み合わせで構成することができる。   An apparatus according to the present invention, which has been made to solve the above technical problem, is a polishing device including a conveying unit that conveys a plate-like workpiece and a buffing roller that grinds the plate-like workpiece during conveyance by the conveying unit. In the apparatus, provided with a pair of buffing rollers disposed in the middle of the conveyance path formed by the conveying means and simultaneously polishing both surfaces of the plate-shaped workpiece with the plate-shaped workpiece interposed therebetween, The pair of buffing rollers is arranged so that the polishing position of the plate-like workpiece between the pair of buffing rollers is a previously determined polishing reference position regardless of the difference in diameter of each of the buffing rollers. It is characterized by having positioning means for positioning. Here, the above “positioning means” is for positioning the pair of buffing rollers every time a predetermined number of plate-like workpieces are polished by the pair of buffing rollers or every time a predetermined time elapses. Alternatively, the pair of buffing rollers may be continuously positioned during polishing, or may be positioned when the buffing roller is replaced or replaced. . Further, the “conveying means” may be configured by a plurality of conveying rollers, a conveying conveyor, or a combination thereof.

このような構成によれば、一対のバフ研磨ローラの相互間における板状ワークの実際の研磨位置は、双方のバフ研磨ローラの径が同一であっても相違していても、位置決め手段が双方のバフ研磨ローラの位置を適正に位置決めすることにより、予め判明している理想位置つまり研磨基準位置に維持される。これにより、研磨基準位置と関連性を有して設計された搬送経路に沿って送られる板状ワークは、一対のバフ研磨ローラの相互間に適正に直進して進入し、曲げ応力等の作用を受けずにその両面の同時研磨が円滑に行われることになるため、板状ワークの品位低下が効果的に抑止される。なお、板状ワークは、その両面が、一対のバフ研磨ローラによって同時に研磨されるため、反りの発生が回避されると共に、従来のようにバックアップローラが使用されていないために、異物の介入によって板状ワークに打痕が付く等の不具合が回避され、上記の曲げ応力等の不発生や反りの発生抑止と相俟って板状ワークの品位低下がより一層確実に防止される。   According to such a configuration, even if the actual polishing position of the plate-like workpiece between the pair of buffing rollers is the same or different, the positioning means is both By appropriately positioning the position of the buffing roller, the ideal position known in advance, that is, the polishing reference position is maintained. As a result, the plate-like workpiece fed along the conveyance path designed in relation to the polishing reference position enters the pair of buffing rollers while moving straightly between them and acts such as bending stress. Since the simultaneous polishing of both surfaces is smoothly performed without being subjected to the above, deterioration of the quality of the plate-like workpiece is effectively suppressed. In addition, since both sides of the plate-like workpiece are simultaneously polished by the pair of buffing rollers, the occurrence of warpage is avoided, and the backup roller is not used as in the prior art. Inconveniences such as dents on the plate-like workpiece are avoided, and in combination with the absence of bending stress and the suppression of the occurrence of warpage, the deterioration of the plate-like workpiece is more reliably prevented.

このような構成において、前記位置決め手段は、前記一対のバフ研磨ローラをそれぞれ前記研磨基準位置を境として両側に等距離だけ離間した退避位置から両者の移動距離を等しく維持しつつ接近移動させる移動手段と、前記一対のバフ研磨ローラのうち一方のバフ研磨ローラのみを回転駆動させる回転駆動手段と、前記一方のバフ研磨ローラの回転速度を検出する第一回転速度センサと、前記移動手段による接近移動に伴って前記一方のバフ研磨ローラと接触して連れ回る他方のバフ研磨ローラの回転速度を検出する第二回転速度センサとを備えていることが好ましい。ここで、上記の「回転駆動手段」の動作について説明すると、一対のバフ研磨ローラが板状ワークの研磨を行う場合には両バフ研磨ローラは何れも回転駆動手段により回転駆動されるが、位置決め手段により両バフ研磨ローラの位置決めを行う場合には、何れか一方のみのバフ研磨ローラが回転駆動手段により回転駆動され、他方のバフ研磨ローラは空転するように保持される。   In such a configuration, the positioning means moves the pair of buffing rollers closer to each other from the retracted position separated by equal distances on both sides with the polishing reference position as a boundary while maintaining the same moving distance between them. A rotation driving means for rotating only one buffing roller of the pair of buffing rollers, a first rotation speed sensor for detecting a rotation speed of the one buffing roller, and an approaching movement by the moving means Accordingly, it is preferable to include a second rotational speed sensor that detects the rotational speed of the other buffing roller that rotates in contact with the one buffing roller. Here, the operation of the above “rotation driving means” will be described. When a pair of buffing rollers polish a plate-shaped workpiece, both the buffing rollers are rotated by the rotation driving means. When positioning the buffing rollers by the means, only one of the buffing rollers is rotationally driven by the rotation driving means, and the other buffing roller is held idle.

このようにすれば、移動手段が、研磨基準位置の両側に等距離だけ離間して存する両退避位置から、一対のバフ研磨ローラをそれらの移動距離が等しくなる状態(例えば両バフ研磨ローラの移動速度が等しい状態)で接近移動させることにより、両バフ研磨ローラ(詳しくは両バフ研磨ローラの外周面)が接触する。この場合、一対のバフ研磨ローラは、一方のバフ研磨ローラのみが回転駆動手段の動作により回転駆動しているため、他方のバフ研磨ローラは、一方のバフ研磨ローラと接触した状態で連れ回ることになる。そして、この時に第一回転速度センサにより検出された一方のバフ研磨ローラの回転速度と、第二回転速度センサにより検出された他方のバフ研磨ローラの回転速度とが等しい場合には、両バフ研磨ローラの径が等しいため、この両ローラの相互間における研磨位置は、予め判明している研磨基準位置に存在することになる。したがって、この場合には両バフ研磨ローラの位置修正または位置補正を行う必要はない。これに対して、一方のバフ研磨ローラの回転速度が、他方のバフ研磨ローラの回転速度よりも低回転である場合には、一方のバフ研磨ローラの方が他方のバフ研磨ローラよりも径が大きいため、両ローラの相互間における研磨位置は、予め判明している研磨基準位置から他方のバフ研磨ローラの中心軸側に偏倚していることになる。したがって、この場合には両ローラの回転速度の比(または差)に対応する量だけ実際の研磨位置を一方のバフ研磨ローラの中心軸側にずらせばよいことになる。また、一対のバフ研磨ローラの回転速度の高低が上記と逆の場合には、両ローラの回転速度の比(または差)に対応する量だけ実際の研磨位置を他方のバフ研磨ローラの中心軸側にずらせばよいことになる。このような動作が行われることにより、両バフ研磨ローラの相互間における実際の研磨位置が、予め判明している研磨基準位置に正確に位置決めされることになる。   In this way, the moving means makes the pair of buffing rollers have the same moving distance from both retreat positions that are separated by an equal distance on both sides of the polishing reference position (for example, the movement of both buffing rollers). The two buffing rollers (specifically, the outer peripheral surfaces of the two buffing rollers) are brought into contact with each other by being moved close to each other at the same speed. In this case, since only one of the buffing rollers is rotationally driven by the operation of the rotation driving means, the other buffing roller is rotated in contact with the one buffing roller. become. If the rotational speed of one buffing roller detected by the first rotational speed sensor at this time is equal to the rotational speed of the other buffing roller detected by the second rotational speed sensor, both buffing rollers are polished. Since the diameters of the rollers are equal, the polishing position between the two rollers is present at a polishing reference position that is known in advance. Therefore, in this case, it is not necessary to correct or correct the position of both buffing rollers. On the other hand, when the rotation speed of one buffing roller is lower than the rotation speed of the other buffing roller, the diameter of one buffing roller is larger than that of the other buffing roller. Therefore, the polishing position between the two rollers is deviated from the previously determined polishing reference position toward the center axis of the other buffing roller. Therefore, in this case, it is only necessary to shift the actual polishing position toward the central axis side of one of the buffing rollers by an amount corresponding to the ratio (or difference) between the rotational speeds of both rollers. When the rotational speed of the pair of buffing rollers is opposite to the above, the actual polishing position is set to the center axis of the other buffing roller by an amount corresponding to the ratio (or difference) of the rotational speeds of the two rollers. You can just shift it to the side. By performing such an operation, the actual polishing position between the two buffing rollers is accurately positioned at a previously determined polishing reference position.

また、上記技術的課題を解決するためになされた本発明に係る方法は、板状ワークを搬送する搬送手段と、この搬送手段による搬送途中で前記板状ワークを研磨するバフ研磨ローラとを備え、前記バフ研磨ローラの位置決めを行う研磨装置のローラ位置決め方法において、前記搬送手段により形成される搬送径路の途中に配設され且つ前記板状ワークを相互間に介在させて該板状ワークの両面を同時に研磨する一対のバフ研磨ローラを備え、前記一対のバフ研磨ローラの相互間における前記板状ワークの研磨位置がそれらのバフ研磨ローラのそれぞれの径の異同に拘わらず予め判明している研磨基準位置となるように前記一対のバフ研磨ローラを位置決めすることに特徴づけられる。   In addition, a method according to the present invention made to solve the above technical problem includes a conveying unit that conveys a plate-like workpiece, and a buffing roller that polishes the plate-like workpiece during conveyance by the conveying unit. In the roller positioning method of the polishing apparatus for positioning the buffing roller, both surfaces of the plate-like workpiece are disposed in the middle of the conveyance path formed by the conveyance means and the plate-like workpiece is interposed between them. A pair of buffing rollers that simultaneously polish the plate-like workpiece, and the polishing position of the plate-like workpiece between the pair of buffing rollers is known in advance regardless of the difference in diameter of the buffing rollers. It is characterized by positioning the pair of buffing rollers so as to be a reference position.

このような方法によれば、上述の研磨装置の基本的構成について説明した事項と実質的に同一の動作が行われ得ることになり、同様の効果を享受することが可能となる。   According to such a method, substantially the same operation as that described for the basic configuration of the above-described polishing apparatus can be performed, and the same effect can be obtained.

更に、このような方法において、前記一対のバフ研磨ローラをそれぞれ前記研磨基準位置を境として両側に等距離だけ離間した退避位置から両者の移動距離を等しく維持しつつ接近移動させることにより、前記一対のバフ研磨ローラのうち回転駆動される一方のバフ研磨ローラと回転駆動されない他方のバフ研磨ローラとを接触させて該他方のバフ研磨ローラに連れ回りを生じさせ、この時の両バフ研磨ローラの回転速度を比較して、その比較結果に基づいて前記一対のバフ研磨ローラを位置決めすることが好ましい。   Further, in such a method, the pair of buffing rollers are moved closer to each other from the retreat positions separated by equal distances on both sides with the polishing reference position as a boundary, while maintaining the same moving distance between them. Of the two buffing rollers of the two buffing rollers is brought into contact with the other buffing roller that is not driven to rotate, causing the other buffing roller to rotate. It is preferable to compare the rotational speeds and position the pair of buffing rollers based on the comparison result.

このようにすれば、上述の研磨装置の位置決め手段について説明した事項と実質的に同一の動作が行われ得ることになり、同様の効果を享受することが可能となる。   In this way, substantially the same operation as that described for the positioning means of the polishing apparatus described above can be performed, and the same effect can be enjoyed.

以上のように本発明によれば、一対のバフ研磨ローラの相互間における板状ワークの実際の研磨位置は、双方のバフ研磨ローラの径が同一であっても相違していても、双方のバフ研磨ローラの位置を適正に位置決めすることにより、予め判明している研磨基準位置に維持されることになるため、研磨基準位置と関連性を有して設計された搬送経路に沿って送られる板状ワークは、一対のバフ研磨ローラの相互間に適正に直進して進入し、曲げ応力等の作用を受けずにその両面の同時研磨が円滑に行われることになり、板状ワークの品位低下が効果的に抑止される。   As described above, according to the present invention, the actual polishing position of the plate-like workpiece between the pair of buffing rollers may be the same regardless of whether the diameters of both the buffing rollers are the same or different. By properly positioning the buffing roller, it is maintained at a previously known polishing reference position, so that it is sent along a conveyance path designed in relation to the polishing reference position. The plate-like workpiece is properly moved straight between the pair of buffing rollers, and both sides of the plate-like workpiece are smoothly polished without being affected by bending stress. Reduction is effectively suppressed.

以下、本発明の実施形態を添付図面を参照して説明する。図1は、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の全体構成を示す概略正面図であり、図2は、当該研磨装置の全体構成を示す概略平面図である。また、図3は、図1のA−A線拡大断面図である。更に、図4は、当該研磨装置の要部を示す拡大概略斜視図であり、図5は、当該研磨装置の要部を示す拡大概略正面図である。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a schematic front view showing the overall configuration of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic plan view showing the overall configuration of the polishing apparatus. FIG. 3 is an enlarged sectional view taken along line AA of FIG. Further, FIG. 4 is an enlarged schematic perspective view showing the main part of the polishing apparatus, and FIG. 5 is an enlarged schematic front view showing the main part of the polishing apparatus.

図1に示すように、本実施形態に係る研磨装置1は、筐体2の内部に、板厚が0.1mm以下(例えば0.084mm)の可撓性を有する板状ワークとしてのフレキシブルプリント基板を含む薄肉基板(以下、単にプリント基板という)Pを、水平方向に沿って搬送する搬送経路3を有している。この搬送経路3は、プリント基板Pを搬入させる搬入口4に通じる搬入用搬送経路3Aと、プリント基板Pを研磨しつつ搬送する研磨用搬送経路3Bと、プリント基板Pを搬出させる搬出口5に通じる搬出用搬送経路3Cとに大略区分される。   As shown in FIG. 1, the polishing apparatus 1 according to this embodiment includes a flexible print as a plate-like workpiece having flexibility with a plate thickness of 0.1 mm or less (for example, 0.084 mm) inside a housing 2. It has the conveyance path | route 3 which conveys the thin board | substrate (henceforth a printed circuit board only) P containing a board | substrate along a horizontal direction. The conveyance path 3 includes a carry-in conveyance path 3A leading to the carry-in entrance 4 through which the printed board P is carried in, a polishing conveyance path 3B through which the printed board P is polished and carried, and a carry-out exit 5 through which the printed board P is carried out. It is roughly divided into a carrying path 3C for carrying out.

搬入用搬送経路3Aには、プリント基板Pを載せた状態で上流側(同図の左側)から下流側(同図の右側)に搬送する複数個の下部搬送ローラ6が水平方向に沿って配列されている。そして、この搬入用搬送経路3Aの下流側端部には、下部搬送ローラ6によって搬送されるプリント基板Pの前端(同図の右端)が初期位置に到達したことを検出する入口センサ7と、この入口センサ7からの信号に基づいて下降することによりプリント基板Pを停止させる基板用ストッパ8とが配設されている。   A plurality of lower transport rollers 6 that transport from the upstream side (left side in the figure) to the downstream side (right side in the figure) in a state where the printed circuit board P is placed are arranged in the carry-in transport path 3A along the horizontal direction. Has been. An inlet sensor 7 that detects that the front end (right end in the figure) of the printed circuit board P transported by the lower transport roller 6 has reached the initial position at the downstream end of the transport path 3A for loading, A board stopper 8 that stops the printed board P by being lowered based on a signal from the inlet sensor 7 is provided.

研磨用搬送経路3Bには、プリント基板Pを小さな力で挟持して搬送する複数個の下部搬送ローラ6及び複数個の上部搬送ローラ9が水平方向に沿って配列されると共に、その上流端及び下流端にはそれぞれ、プリント基板Pの全領域を挟持してそのプリント基板Pの液切りを行う上下一対の挟持ローラ10、11が配設されている。なお、上部搬送ローラ9の配列ピッチは、下部搬送ローラ6の配列ピッチの二倍であると共に、上部搬送ローラ9は、一つおきの下部搬送ローラ6の上方に対向して配置されている。この場合、上部搬送ローラ9の配列ピッチと、下部搬送ローラ6の配列ピッチとは、同一であっても差し支えない。更に、この研磨用搬送経路3Bの中間部における上流側と下流側との二箇所にはそれぞれ、プリント基板Pを一層大きな力で挟持する左右一対のグリップローラ12、13が対向して配置されると共に、この二箇所のグリップローラ12、13の直下方にはそれぞれ、左右一対のバフ研磨ローラ14、15が対向して配置されている。この場合、上流側と下流側との二箇所のバフ研磨ローラ14、15は、所定の時期に位置決め手段30の動作によって、それぞれ正確な位置に位置決めされるように構成されている。また、この研磨用搬送経路3Bにおける二箇所のグリップローラ12、13の上流側にはそれぞれ、プリント基板Pの前端が研磨用初期位置に到達したことを検出する初期位置検出センサ18、19が配設されている。更に、二箇所に配設された一対のグリップローラ12、13のそれぞれのうち、上流側に存するグリップローラ12、13の斜め右上には方向変換用ガイドローラ16、17がそれぞれ対向して配置されると共に、同じく上流側に存するグリップローラ12、13の斜め左上方には、水やエア等の流体(本実施形態では水)を斜め右下方に向けて噴射する流体噴射手段20、21がそれぞれ配設されている。また、この研磨用搬送経路3Bの下方における各一対のバフ研磨ローラ14、15の配設位置のそれぞれの左右両側には、対応するグリップローラ12、13及びバフ研磨ローラ14、15並びにプリント基板Pに向けて研磨液を噴射供給する研磨液供給手段22が配設されている。   In the polishing transport path 3B, a plurality of lower transport rollers 6 and a plurality of upper transport rollers 9 that sandwich and transport the printed circuit board P with a small force are arranged along the horizontal direction, A pair of upper and lower clamping rollers 10 and 11 for clamping the entire area of the printed circuit board P and draining the printed circuit board P are disposed at the downstream ends. Note that the arrangement pitch of the upper conveyance rollers 9 is twice the arrangement pitch of the lower conveyance rollers 6, and the upper conveyance rollers 9 are disposed above the other lower conveyance rollers 6. In this case, the arrangement pitch of the upper conveyance rollers 9 and the arrangement pitch of the lower conveyance rollers 6 may be the same. Furthermore, a pair of left and right grip rollers 12 and 13 for holding the printed circuit board P with a greater force are disposed opposite to each other at two locations on the upstream side and the downstream side in the intermediate portion of the polishing transport path 3B. In addition, a pair of left and right buffing rollers 14 and 15 are arranged oppositely below the two grip rollers 12 and 13, respectively. In this case, the two buffing rollers 14 and 15 on the upstream side and the downstream side are each configured to be positioned at accurate positions by the operation of the positioning means 30 at a predetermined time. Further, on the upstream side of the two grip rollers 12 and 13 in the polishing transport path 3B, initial position detection sensors 18 and 19 for detecting that the front end of the printed circuit board P has reached the initial polishing position are arranged. It is installed. Furthermore, of each of the pair of grip rollers 12 and 13 disposed at two locations, the direction changing guide rollers 16 and 17 are disposed opposite to each other at the upper right side of the grip rollers 12 and 13 existing on the upstream side. In addition, fluid ejecting means 20 and 21 for ejecting a fluid such as water or air (water in the present embodiment) obliquely downward to the right are respectively provided on the upper left of the grip rollers 12 and 13 on the upstream side. It is arranged. Further, on the left and right sides of the respective positions where the pair of buffing rollers 14 and 15 are disposed below the polishing conveyance path 3B, the corresponding grip rollers 12 and 13 and the buffing rollers 14 and 15 and the printed circuit board P are provided. A polishing liquid supply means 22 is provided for spraying and supplying the polishing liquid toward the surface.

搬出用搬送経路3Cには、プリント基板Pを小さな力で挟持する複数個の下部搬送ローラ6及び上部搬送ローラ9が水平方向に沿って配列されると共に、その下流端には、プリント基板Pの前端が搬出口5近傍に到達したことを検出する出口センサ23が配設されている。   A plurality of lower transport rollers 6 and upper transport rollers 9 that sandwich the printed circuit board P with a small force are arranged along the horizontal direction in the transport path 3C for unloading, and at the downstream end of the printed circuit board P, An outlet sensor 23 for detecting that the front end has reached the vicinity of the carry-out port 5 is provided.

この場合、図2及び図3に示すように、下部搬送ローラ6は、上下流方向(搬送方向)と直交するローラ軸6a上に複数枚のローラ体6bが並列に固定されてなるものである。詳述すると、厚みが直径の1/2以下とされた10枚以上のローラ体6bがローラ軸6a上に固定され、隣り合うローラ軸6aのうち、一方のローラ軸6a上の各ローラ体6b間の隙間に、他方のローラ軸6a上の各ローラ体6bが入り込んだ状態とされている。また、上部搬送ローラ9も、図3に示すように、上下流方向と直交するローラ軸9a上に同様の複数枚のローラ体9bが並列に固定されてなるものである。   In this case, as shown in FIGS. 2 and 3, the lower transport roller 6 is formed by fixing a plurality of roller bodies 6b in parallel on a roller shaft 6a orthogonal to the upstream / downstream direction (transport direction). . More specifically, ten or more roller bodies 6b having a thickness of ½ or less of the diameter are fixed on the roller shaft 6a, and each roller body 6b on one roller shaft 6a among the adjacent roller shafts 6a. Each roller body 6b on the other roller shaft 6a enters a gap therebetween. Further, as shown in FIG. 3, the upper conveying roller 9 is also formed by fixing a plurality of similar roller bodies 9b in parallel on a roller shaft 9a orthogonal to the upstream and downstream directions.

一方、図2に示すように、上流端及び下流端の挟持ローラ10、11は何れも、外周面が上下流方向と直交する軸方向に連続して延びる円筒面をなし、この円筒面の軸方向長さは、プリント基板Pの全領域を挟持できる長さとされている。更に、図4にも示すように、各グリップローラ12(13)の外周面及び各バフ研磨ローラ14(15)の外周面も、上下流方向と直交する軸方向に連続して延びる円筒面をなし、これらの円筒面の軸方向長さは、プリント基板Pの全領域を挟持できる長さとされている。また、方向変換用ガイドローラ16(17)も、上記と同様の軸方向長さを有する円筒面とされている。   On the other hand, as shown in FIG. 2, the upstream end roller and the downstream end sandwiching rollers 10 and 11 each have a cylindrical surface whose outer peripheral surface extends continuously in an axial direction perpendicular to the upstream / downstream direction. The length in the direction is a length that can sandwich the entire area of the printed circuit board P. Furthermore, as shown in FIG. 4, the outer peripheral surface of each grip roller 12 (13) and the outer peripheral surface of each buffing roller 14 (15) are also cylindrical surfaces extending continuously in the axial direction orthogonal to the upstream and downstream directions. None, the axial lengths of these cylindrical surfaces are such that the entire area of the printed circuit board P can be sandwiched. The direction changing guide roller 16 (17) is also a cylindrical surface having the same axial length as described above.

図5は、上流側の一対のグリップローラ12及び一対のバフ研磨ローラ14の周辺構造を示すものである。なお、下流側の一対のグリップローラ13及び一対のバフ研磨ローラ15の周辺構造についても実質的に同一であるので、その構成要素については図5に括弧付きの符号を付してその説明を省略する。同図に示すように、研磨用搬送経路3Bの上流側から下部搬送ローラ6及び上部搬送ローラ9の矢印a方向への回転に伴って水平方向下流側に搬送されるプリント基板Pは、その前端が一対のグリップローラ12のうち上流側のグリップローラ12に到達した時点で、流体噴射手段20から噴射供給される流体(水)の流れW1によって上流側のグリップローラ12の外周面に接触しつつ一対のグリップローラ12の相互間に挟持される。そして、この両グリップローラ12が矢印b方向に正転することによって、両グリップローラ12間に挟持されたプリント基板Pは、下方に向かって送られ、一対のバフ研磨ローラ14の相互間に送り込まれる。この送り込まれたプリント基板Pは、その表裏両面が一対のバフ研磨ローラ14により同時に研磨され、この研磨は、プリント基板Pの後端が一対のグリップローラ12から離反する直前まで実行されるようになっている。   FIG. 5 shows the peripheral structure of the pair of grip rollers 12 and the pair of buffing rollers 14 on the upstream side. Since the peripheral structure of the pair of grip rollers 13 and the pair of buffing rollers 15 on the downstream side is substantially the same, the components are denoted by parenthesized symbols in FIG. To do. As shown in the figure, the printed circuit board P transported from the upstream side of the polishing transport path 3B to the downstream side in the horizontal direction as the lower transport roller 6 and the upper transport roller 9 rotate in the direction of arrow a At the time of reaching the upstream grip roller 12 of the pair of grip rollers 12, the fluid (water) flow W1 supplied from the fluid ejecting means 20 is in contact with the outer peripheral surface of the upstream grip roller 12. It is clamped between the pair of grip rollers 12. When both the grip rollers 12 are rotated forward in the direction of the arrow b, the printed circuit board P sandwiched between the grip rollers 12 is sent downward and sent between the pair of buffing rollers 14. It is. The printed board P thus fed is ground on both the front and back surfaces by the pair of buffing rollers 14 so that the polishing is performed until just before the rear end of the printed board P is separated from the pair of grip rollers 12. It has become.

この後においては、一対のグリップローラ12が矢印c方向に逆転することによって、プリント基板Pは上方に向かって送られ、一対のバフ研磨ローラ14により上記とは逆方向の両面の同時研磨がプリント基板Pの同一領域に対して行われる。この場合、プリント基板Pの上方への送りが開始された直後においては、プリント基板Pの後端は、流体噴射手段20から噴射供給される流体(水)の流れW2によって下流側のグリップローラ12の外周面に接触しつつその下流側の下部搬送ローラ6及び上部搬送ローラ9の相互間に挟持され、その後、プリント基板Pは水平方向下流側に搬送されるようになっている。なお、一対のバフ研磨ローラ14は、矢印d方向への回転を維持する。   Thereafter, when the pair of grip rollers 12 are reversed in the direction of the arrow c, the printed board P is sent upward, and the pair of buffing rollers 14 perform simultaneous polishing on both sides in the opposite direction to the above. This is performed for the same region of the substrate P. In this case, immediately after the upward feeding of the printed circuit board P is started, the rear end of the printed circuit board P is connected to the grip roller 12 on the downstream side by the flow W2 of the fluid (water) ejected from the fluid ejecting means 20. Is sandwiched between the lower transport roller 6 and the upper transport roller 9 on the downstream side while contacting the outer peripheral surface, and then the printed circuit board P is transported downstream in the horizontal direction. Note that the pair of buffing rollers 14 maintains rotation in the direction of the arrow d.

図6は、上流側の一対のバフ研磨ローラ14を正確な位置に位置決めする位置決め手段30の構成を示すものである。なお、下流側の一対のバフ研磨ローラ15に対する位置決め手段も実質的に同一の構成とされている。同図に示すように、位置決め手段30は、一方(同図の左方)のバフ研磨ローラ14を水平方向に沿って移動させる第一移動手段31と、他方(同図の右方)のバフ研磨ローラ14を水平方向に沿って移動させる第二移動手段32と、他方のバフ研磨ローラ14を空転状態とした上で一方のバフ研磨ローラ14のみを回転駆動させる回転駆動手段33と、一方のバフ研磨ローラ14の回転速度を検出する第一回転速度センサ34と、他方のバフ研磨ローラ14の回転速度を検出する第二回転速度センサ35とを備えている。   FIG. 6 shows the configuration of the positioning means 30 for positioning the pair of upstream buffing rollers 14 at accurate positions. The positioning means for the pair of downstream buffing rollers 15 has substantially the same configuration. As shown in the figure, the positioning means 30 includes a first moving means 31 for moving one (left side in the figure) buffing roller 14 along the horizontal direction and a buffing roller on the other side (right side in the figure). A second moving means 32 for moving the polishing roller 14 along the horizontal direction, a rotation driving means 33 for rotating only the one buffing roller 14 with the other buffing roller 14 in an idle state, A first rotation speed sensor 34 that detects the rotation speed of the buffing roller 14 and a second rotation speed sensor 35 that detects the rotation speed of the other buffing roller 14 are provided.

そして、図7に示すように、一対のバフ研磨ローラ14の位置決めを行う際の位置設定としては、一方のバフ研磨ローラ14が左側に退避して停止する第一退避位置36と、他方のバフ研磨ローラ14が右側に退避して停止する第二退避位置37とが予め設定されている。更に、この一対のバフ研磨ローラ14の相互間には、一対のグリップローラ12との関係で定まるプリント基板Pの研磨位置の基準(理想位置)となる研磨基準位置38が予め判明して存在している。そして、この研磨基準位置38を境として、第一退避位置36までの距離X1と、第二退避位置37までの距離X2とが、等距離とされている。   As shown in FIG. 7, the position setting for positioning the pair of buffing rollers 14 includes a first retraction position 36 where one buffing roller 14 retracts to the left and stops, and the other buffing roller 14 stops. A second retraction position 37 where the polishing roller 14 retracts to the right and stops is set in advance. Further, between the pair of buffing rollers 14, a polishing reference position 38 that is a reference (ideal position) of the polishing position of the printed circuit board P determined by the relationship with the pair of grip rollers 12 is known in advance. ing. Then, with this polishing reference position 38 as a boundary, the distance X1 to the first retraction position 36 and the distance X2 to the second retraction position 37 are equal.

このような構成の下で、位置決め手段30は、以下に示すようにして一対のバフ研磨ローラ14の位置決めを行う。なお、以下の説明に際しては、上記の距離X1及び距離X2が何れも75mmである場合を例に挙げる。先ず、第一移動手段31及び第二移動手段32が、図8(a)に示すように、一方のバフ研磨ローラ14及び他方のバフ研磨ローラ14をそれぞれ第一退避位置36及び第二退避位置37まで移動させて停止状態にする。このような状態から、図8(b)に示すように、一方のバフ研磨ローラ14のみを矢印で示す方向に回転駆動させると共に、各移動手段31、32が、一方のバフ研磨ローラ14及び他方のバフ研磨ローラ14を、同速度で研磨基準位置38に向かって接近移動させる。そして、図8(c)に示すように、一方のバフ研磨ローラ14と他方のバフ研磨ローラ14とが5mm移動して両者の外周面が接触した時点で、両バフ研磨ローラ14が連れ回りを開始し、この時に両移動手段31、32が両バフ研磨ローラ14を停止させることにより、両バフ研磨ローラ14の中心間距離が140mmであることが検知される。更に、この連れ回りが生じている間に、第一回転速度センサ34が一方のバフ研磨ローラ14の回転速度を検出すると共に、第二回転速度センサ35が他方のバフ研磨ローラ14の回転速度を検出し、この両回転速度の比を図外の演算手段が算出する。この場合、同図に示す一対のバフ研磨ローラ14は、両者が同一の径であるため、その回転速度も両者が同一であり、両回転速度の比は1:1となる。したがって、この場合には、両バフ研磨ローラ14の相互間における実際の研磨位置と研磨基準位置38とが一致し、両バフ研磨ローラ14の位置修正を行う必要はない。   Under such a configuration, the positioning means 30 positions the pair of buffing rollers 14 as described below. In the following description, the case where the distance X1 and the distance X2 are both 75 mm is taken as an example. First, as shown in FIG. 8A, the first moving unit 31 and the second moving unit 32 move one buffing roller 14 and the other buffing roller 14 to a first retracted position 36 and a second retracted position, respectively. Move to 37 and stop. From this state, as shown in FIG. 8 (b), only one buffing roller 14 is rotationally driven in the direction indicated by the arrow, and each moving means 31, 32 is connected to one buffing roller 14 and the other. The buffing roller 14 is moved toward the polishing reference position 38 at the same speed. Then, as shown in FIG. 8 (c), when one buffing roller 14 and the other buffing roller 14 move 5 mm and the outer peripheral surfaces thereof come into contact with each other, both the buffing rollers 14 are rotated together. At this time, both moving means 31 and 32 stop both the buffing rollers 14 to detect that the distance between the centers of both the buffing rollers 14 is 140 mm. Further, while this rotation occurs, the first rotational speed sensor 34 detects the rotational speed of one buffing roller 14 and the second rotational speed sensor 35 determines the rotational speed of the other buffing roller 14. Then, the ratio between the two rotational speeds is calculated by a calculation means (not shown). In this case, since the pair of buffing rollers 14 shown in the figure have the same diameter, the rotational speeds thereof are also the same, and the ratio of the rotational speeds is 1: 1. Therefore, in this case, the actual polishing position between the buffing rollers 14 and the polishing reference position 38 coincide with each other, and it is not necessary to correct the positions of the buffing rollers 14.

一方、図9(a)に示すように、径が相違する両バフ研磨ローラ14(一方の径が150mm、他方の径が130mm)をそれぞれ第一、第二退避位置36、37に停止させた状態から、図9(b)に示すように径の大きな一方のバフ研磨ローラ14を回転駆動させながら両者を接近移動させて、図9(c)に示すように両バフ研磨ローラ14が接触して連れ回りを開始した時点では、上記の場合と同様に両バフ研磨ローラ14の中心間距離が140mmであることが検知されるが、この場合には、両者の回転速度の比が13:15となり、両バフ研磨ローラ14の径の比が15:13であることが判明する。したがって、図9(d)に示すように、両バフ研磨ローラ14の接触点から一方のバフ研磨ローラ14までの距離が、140×15/(13+15)=75mmであることが演算手段により算出されると共に、両バフ研磨ローラ14の接触点から他方のバフ研磨ローラ14までの距離が、140×13/(13+15)=65mmであることが演算手段により算出される。この結果、両バフ研磨ローラ14の接触点つまり実際の研磨位置が、予め判明している研磨基準位置38から、他方のバフ研磨ローラ14の中心軸側に、(75−65)/2=5mmだけ偏倚していることが判明するため、両バフ研磨ローラ14を共に5mmだけ一方のバフ研磨ローラ14の中心軸側に移動させれば、実際の研磨位置が研磨基準位置38に一致することになる。これにより、両バフ研磨ローラ14は、正確な位置に位置決めされる。   On the other hand, as shown in FIG. 9A, both buffing rollers 14 (one diameter is 150 mm and the other diameter is 130 mm) having different diameters are stopped at the first and second retraction positions 36 and 37, respectively. From the state, as shown in FIG. 9B, one buffing roller 14 having a large diameter is driven to rotate while the two buffing rollers 14 are brought into close contact with each other, as shown in FIG. 9C. At the time when the revolving is started, it is detected that the distance between the centers of the buffing rollers 14 is 140 mm as in the above case. In this case, the ratio of the rotational speeds of both is 13:15. Thus, the ratio of the diameters of the buffing rollers 14 is found to be 15:13. Therefore, as shown in FIG. 9 (d), the calculation means calculates that the distance from the contact point of both buffing rollers 14 to one buffing roller 14 is 140 × 15 / (13 + 15) = 75 mm. At the same time, the calculation means calculates that the distance from the contact point of both the buffing rollers 14 to the other buffing roller 14 is 140 × 13 / (13 + 15) = 65 mm. As a result, the contact point of both the buffing rollers 14, that is, the actual polishing position, is (75−65) / 2 = 5 mm from the previously known polishing reference position 38 to the center axis side of the other buffing roller 14. Therefore, if both the buffing rollers 14 are moved to the central axis side of one buffing roller 14 by 5 mm, the actual polishing position will coincide with the polishing reference position 38. Become. Thereby, both the buffing rollers 14 are positioned at accurate positions.

図10(a)は、径が相違する両バフ研磨ローラ14(一方の径が108mm、他方の径が140mm)をそれぞれ第一、第二退避位置36、37に停止させた状態を示し、図10(b)は径の小さな一方のバフ研磨ローラ14を回転駆動させながら両者を接近移動させる状態を示し、図10(c)は、両バフ研磨ローラ14が接触して連れ回りを開始した状態を示している。この場合、連れ回りの開始時には、両バフ研磨ローラ14の中心間距離が124mmであることが検知されると共に、両者の回転速度の比が35:27となり、両バフ研磨ローラ14の径の比が27:35であることが判明する。したがって、図10(d)に示すように、両バフ研磨ローラ14の接触点から一方のバフ研磨ローラ14までの距離が、124×27/(35+27)=54mmであることが演算手段により算出されると共に、両バフ研磨ローラ14の接触点から他方のバフ研磨ローラ14までの距離が、124×35/(35+27)=70mmであることが演算手段により算出される。この結果、両バフ研磨ローラ14の接触点つまり実際の研磨位置が、予め判明している研磨基準位置38から、一方のバフ研磨ローラ14の中心軸側に、(70−54)/2=8mmだけ偏倚していることが判明するため、両バフ研磨ローラ14を共に8mmだけ他方のバフ研磨ローラ14の中心軸側に移動させれば、実際の研磨位置が研磨基準位置38に一致することになる。これにより、両バフ研磨ローラ14は、正確な位置に位置決めされる。   FIG. 10A shows a state in which the two buffing rollers 14 having different diameters (one diameter is 108 mm and the other diameter is 140 mm) are stopped at the first and second retraction positions 36 and 37, respectively. 10 (b) shows a state in which one of the buffing rollers 14 having a small diameter is rotationally driven and both of them are moved closer to each other, and FIG. 10 (c) shows a state in which both the buffing rollers 14 are in contact with each other and start rotating together. Is shown. In this case, at the start of rotation, it is detected that the distance between the centers of both buffing rollers 14 is 124 mm, and the ratio of the rotational speeds of both is 35:27. Is found to be 27:35. Therefore, as shown in FIG. 10 (d), the calculation means calculates that the distance from the contact point of both buffing rollers 14 to one buffing roller 14 is 124 × 27 / (35 + 27) = 54 mm. At the same time, the calculation means calculates that the distance from the contact point of both the buffing rollers 14 to the other buffing roller 14 is 124 × 35 / (35 + 27) = 70 mm. As a result, the contact point of both the buffing rollers 14, that is, the actual polishing position, is (70−54) / 2 = 8 mm from the polishing reference position 38, which is known in advance, to the central axis side of one buffing roller 14. Therefore, if both the buffing rollers 14 are moved to the center axis side of the other buffing roller 14 by 8 mm, the actual polishing position matches the polishing reference position 38. Become. Thereby, both the buffing rollers 14 are positioned at accurate positions.

以上のような位置決め動作は、両バフ研磨ローラ14の磨耗量が相違することに起因して両者の径が相違した場合、或いは何れか片方のバフ研磨ローラ14を取替え交換した場合に実行される。なお、このような位置決め動作は、上流側の一対のバフ研磨ローラ14のみならず、下流側の一対のバフ研磨ローラ15に対しても同様にして行われる。   The positioning operation as described above is executed when the diameters of the two buffing rollers 14 are different due to the difference in wear amount between the two buffing rollers 14 or when one of the buffing rollers 14 is replaced and replaced. . Such a positioning operation is performed not only on the pair of buffing rollers 14 on the upstream side but also on the pair of buffing rollers 15 on the downstream side.

次に、本実施形態に係る研磨装置1によりプリント基板Pを研磨する動作を時系列的に説明する。   Next, the operation of polishing the printed circuit board P by the polishing apparatus 1 according to this embodiment will be described in time series.

図11(a)に示すように、搬入口4を通じて搬入されたプリント基板Pは、搬入用搬送経路3Aの下部搬送ローラ6により下流側に向かって搬送され、入口センサ7によってプリント基板Pの前端が初期位置に到達したことが検出された時点で、基板用ストッパ8が図示の状態に下降する。   As shown in FIG. 11A, the printed circuit board P carried in through the carry-in entrance 4 is carried downstream by the lower carrying roller 6 in the carry-in carrying path 3A, and the front end of the printed board P by the inlet sensor 7 When it is detected that has reached the initial position, the substrate stopper 8 is lowered to the state shown in the figure.

その結果、図11(b)に示すように、プリント基板Pは、その前端が基板用ストッパ8に当接して挟持ローラ10の直前で停止するが、この時点では、基板用ストッパ8の動作によって、プリント基板Pの前端が上下流方向と直交する方向に揃えられて、プリント基板Pが正確な姿勢に維持される。   As a result, as shown in FIG. 11B, the printed circuit board P stops at the front end of the printed circuit board P just before the clamping roller 10 in contact with the printed circuit board stopper 8. The front ends of the printed circuit boards P are aligned in a direction orthogonal to the upstream and downstream directions, and the printed circuit board P is maintained in an accurate posture.

この後、図11(c)に示すように、プリント基板Pは、上下一対の挟持ローラ10に挟持された状態で下部搬送ローラ6及び上部搬送ローラ9によって下流側に搬送され、上流側の初期位置検出センサ18により、プリント基板Pの前端が研磨用初期位置に到達したことが検知される。この場合、初期位置検出センサ18からの信号に基づいて、プリント基板Pの長さ及び搬送速度に応じたグリップローラ12の正転及び逆転の時期や流体噴射手段20からの水の噴射供給の時期等が、図外の制御手段により制御される。   After that, as shown in FIG. 11C, the printed circuit board P is conveyed downstream by the lower conveyance roller 6 and the upper conveyance roller 9 while being sandwiched between the pair of upper and lower clamping rollers 10, and the upstream side initial stage The position detection sensor 18 detects that the front end of the printed circuit board P has reached the initial polishing position. In this case, based on the signal from the initial position detection sensor 18, the normal rotation and reverse rotation timing of the grip roller 12 according to the length and the conveyance speed of the printed circuit board P and the water injection supply timing from the fluid ejection means 20. Etc. are controlled by a control means (not shown).

そして、プリント基板Pが更に下流側に搬送されていくことにより、プリント基板Pは、方向変換用ガイドローラ16及び流体噴射手段20からの水の流れW1によって方向変換して、図12(a)に示すように、正転する一対のグリップローラ12により挟持された状態でその前方部が下方に向かって送られ、その前端が一対のバフ研磨ローラ14間に円滑に侵入する。   Then, as the printed circuit board P is conveyed further downstream, the direction of the printed circuit board P is changed by the flow W1 of water from the direction changing guide roller 16 and the fluid ejecting means 20, and FIG. As shown in the figure, the front part is fed downward while being sandwiched between the pair of normally rotating grip rollers 12, and the front end smoothly enters between the pair of buffing rollers 14.

このように、プリント基板Pの前端が一対のバフ研磨ローラ14間に侵入した後は、その一対のバフ研磨ローラ14によってプリント基板Pの両面が同時に研磨されながらプリント基板Pは下方に送られる。そして、このようなプリント基板Pの研磨を伴う下方への送りは、図12(b)に示すように、プリント基板Pの後端が一対のグリップローラ12間から離脱する直前で停止する。この時点では、後続のプリント基板P1が、入口センサ7を通過して基板用ストッパ8により停止されて待機した状態にある。   As described above, after the front end of the printed circuit board P enters between the pair of buffing rollers 14, the printed circuit board P is sent downward while the both surfaces of the printed circuit board P are simultaneously polished by the pair of buffing rollers 14. Then, the downward feeding accompanying the polishing of the printed circuit board P is stopped immediately before the rear end of the printed circuit board P is separated from between the pair of grip rollers 12, as shown in FIG. At this time, the succeeding printed circuit board P1 passes through the inlet sensor 7 and is stopped by the board stopper 8 and is in a standby state.

この後は、一対のグリップローラ12が逆転して先行するプリント基板Pは上方に向かって送られるが、この際には、同方向に回転している一対のバフ研磨ローラ14によりプリント基板Pの両面が上記と実質的に同方向の研磨を同時に受ける。そして、プリント基板Pの上方への送り開始直後においては、プリント基板Pの後端が前端となって、その前端が、方向変換用ガイドローラ16と流体噴射手段20からの水の流れW2とによって水平方向下流側に向かうように方向変換し、プリント基板Pの当初前端であった後端が上方への送りによって一対のバフ研磨ローラ14間から離脱した時点で、図12(c)に示すように、プリント基板Pは下部搬送ローラ6及び上部搬送ローラ9によって更に下流側に向かって搬送される。なお、このプリント基板Pの前側領域(当初後側領域)は、未研磨領域となっている。この時点で、後続のプリント基板P1は、基板用ストッパ8の上昇により下流側に向かって搬送可能となる。   After this, the pair of grip rollers 12 are reversed and the preceding printed circuit board P is sent upward. At this time, the pair of buffing rollers 14 rotating in the same direction is used to rotate the printed circuit board P. Both sides are simultaneously polished in substantially the same direction as above. Immediately after the start of feeding upward of the printed circuit board P, the rear end of the printed circuit board P becomes the front end, and the front end is driven by the direction changing guide roller 16 and the water flow W2 from the fluid ejecting means 20. As shown in FIG. 12C, when the direction is changed so as to go to the downstream side in the horizontal direction and the rear end, which is the initial front end of the printed circuit board P, is separated from between the pair of buffing rollers 14 by feeding upward. In addition, the printed circuit board P is further conveyed downstream by the lower conveyance roller 6 and the upper conveyance roller 9. Note that the front region (initial rear region) of the printed circuit board P is an unpolished region. At this point, the succeeding printed circuit board P1 can be transported toward the downstream side by raising the substrate stopper 8.

更に、先行するプリント基板Pが下流側に搬送され、その前端(当初後端)が、図13(a)に示すように、下流側の初期位置検出センサ19により検知されて、下流側の一対のグリップローラ13の正転及び逆転の時期や流体噴射手段21の動作が特定されると共に、この時点では、後続のプリント基板P1は上流側の一対の挟持ローラ10により挟持されて下流側に搬送される。   Further, the preceding printed circuit board P is transported to the downstream side, and its front end (initial rear end) is detected by the downstream initial position detection sensor 19 as shown in FIG. The time of forward and reverse rotation of the grip roller 13 and the operation of the fluid ejecting means 21 are specified. At this time, the subsequent printed circuit board P1 is sandwiched by the pair of upstream-side sandwiching rollers 10 and conveyed downstream. Is done.

そして、図13(b)に示すように、先行するプリント基板P及び後続のプリント基板P1が下流側に搬送されることにより、図13(c)に示すように、先行するプリント基板Pの前端が、下流側のグリップローラ13の直前に到達した時点で、後続のプリント基板P1は、その前端が上流側の初期位置検出センサ18により検知されて、上流側の一対のグリップローラ12の正転及び逆転の時期や流体噴射手段20の動作が特定される。   Then, as shown in FIG. 13B, the preceding printed circuit board P and the succeeding printed circuit board P1 are transported to the downstream side, and as shown in FIG. However, when it reaches immediately before the downstream grip roller 13, the front end of the subsequent printed circuit board P1 is detected by the upstream initial position detection sensor 18, and the forward rotation of the pair of upstream grip rollers 12 is performed. And the timing of reverse rotation and the operation of the fluid ejecting means 20 are specified.

この後、図14(a)に示すように、先行するプリント基板Pの前端が方向変換して下方に向かって送られ、下流側の一対のバフ研磨ローラ15間に侵入した時点で、後続のプリント基板P1は、その前端が上流側のグリップローラ12の近傍で方向変換しつつある。なお、上流側のグリップローラ12及びバフ研磨ローラ14と、下流側のグリップローラ13及びバフ研磨ローラ15とは、回転方向等の動作が同一である。   Thereafter, as shown in FIG. 14 (a), when the front end of the preceding printed circuit board P changes direction and is sent downward and enters between the pair of downstream buffing rollers 15, The front end of the printed circuit board P1 is changing its direction in the vicinity of the grip roller 12 on the upstream side. The upstream grip roller 12 and buffing roller 14 and the downstream grip roller 13 and buffing roller 15 have the same operation in the rotational direction and the like.

そして、図14(b)に示すように、先行するプリント基板Pが更に下方に送られることにより、そのプリント基板Pの未研磨領域である前側領域が、下流側の一対のバフ研磨ローラ15により研磨されると共に、この時点では、後続のプリント基板P1が、上流側の一対のバフ研磨ローラ14間に侵入を開始する。更に、図14(c)に示すように、先行するプリント基板Pの後端が一対のグリップローラ13間から離脱する直前で停止した時点では、後続のプリント基板P1は下方への送りを伴う研磨途中にある。したがって、この研磨装置1では、複数枚(図例では2枚)のプリント基板P、P1が、同時に研磨処理を受けることになる。   And as shown in FIG.14 (b), when the preceding printed circuit board P is further sent below, the front area | region which is an unpolished area | region of the printed circuit board P is made into a pair of downstream buffing rollers 15. At this point, the subsequent printed circuit board P1 starts to penetrate between the pair of buffing rollers 14 on the upstream side. Furthermore, as shown in FIG. 14C, when the trailing edge of the preceding printed board P stops just before the pair of grip rollers 13 are separated, the subsequent printed board P1 is polished with feeding downward. On the way. Therefore, in this polishing apparatus 1, a plurality of (two in the illustrated example) printed circuit boards P and P1 are subjected to the polishing process simultaneously.

そして、図15(a)に示すように、先行するプリント基板Pが上方への送りを伴う研磨途中にある時に、後続のプリント基板P1の後端は一対のグリップローラ13間から離脱する直前で停止した状態にあるが、この時点では、更に後続(三枚目)のプリント基板P2が入口センサ7を通過して基板用ストッパ8により停止された状態にある。したがって、この研磨装置1では、複数枚(図例では三枚)のプリント基板P、P1、P2が、搬送や研磨等の処理を同時に受けることになる。なお、先行するプリント基板Pは、この下流側のバフ研磨ローラ15によって、上流側のバフ研磨ローラ14による場合とは逆方向の研磨を受ける。   Then, as shown in FIG. 15A, when the preceding printed circuit board P is in the middle of polishing accompanied by upward feeding, the rear end of the subsequent printed circuit board P1 is just before the separation between the pair of grip rollers 13. At this point, the subsequent (third) printed circuit board P2 passes through the inlet sensor 7 and is stopped by the substrate stopper 8. Therefore, in this polishing apparatus 1, a plurality of (three in the illustrated example) printed circuit boards P, P1, and P2 are simultaneously subjected to processing such as conveyance and polishing. The preceding printed circuit board P is polished by the downstream buffing roller 15 in the opposite direction to that by the upstream buffing roller 14.

この後、図15(b)に示すように、先行するプリント基板Pが下流側の上下一対の挟持ローラ11により挟持された状態で、その前端が出口センサ23を通過して搬出口5から僅かに外部に突出した時点では、後続のプリント基板P1と、更に後続のプリント基板P2とは、上述の図12(c)に示す状態と同一になる。なお、図15(c)に示す状態を経て、先行するプリント基板Pの前端が、図16(a)、(b)、(c)に示す変化態様に則して、搬出口5から徐々に突出していくことにより、後続のプリント基板P1と、更に後続のプリント基板P2とは、上述の図13(a)、(b)、(c)に示す変化態様と同一になる。そして、先行するプリント基板Pの後端が出口センサを通過した時点で、このプリント基板Pに対する研磨装置1内での処理が終了する。   Thereafter, as shown in FIG. 15B, the front end of the printed circuit board P is sandwiched between the pair of upper and lower sandwiching rollers 11 on the downstream side, and the front end thereof passes through the exit sensor 23 and slightly passes from the carry-out exit 5. At the time of projecting to the outside, the subsequent printed circuit board P1 and the subsequent printed circuit board P2 are in the same state as shown in FIG. In addition, after the state shown in FIG. 15C, the front end of the preceding printed circuit board P gradually moves from the carry-out port 5 in accordance with the changing modes shown in FIGS. 16A, 16B, and 16C. By projecting, the succeeding printed circuit board P1 and the succeeding printed circuit board P2 become the same as the change modes shown in FIGS. 13A, 13B, and 13C. Then, when the rear end of the preceding printed circuit board P passes through the exit sensor, the processing in the polishing apparatus 1 for the printed circuit board P is completed.

以上のような処理が繰り返し実行されることにより、上流側の一対のバフ研磨ローラ14または下流側の一対のバフ研磨ローラ15が磨耗して、それらの径にバラツキが生じ得る状態となった時点で、既述の位置決め手段30によって、各バフ研磨ローラ14(15)の位置決めが行われる。   When the above-described processing is repeatedly executed, the pair of upstream buffing rollers 14 or the pair of downstream buffing rollers 15 are worn, and the diameters of the pair can be varied. Thus, the positioning means 30 described above positions each buffing roller 14 (15).

なお、上記の実施形態では、搬入用搬送経路3A、研磨用搬送経路3B及び搬出用搬送経路3Cの全てが水平方向に沿うように構成したが、これらの径路3A、3B、3Cのうちの少なくとも一つが水平方向に対して所定角度だけ傾斜していてもよい。   In the above-described embodiment, all of the carry-in transport path 3A, the polishing transport path 3B, and the carry-out transport path 3C are configured along the horizontal direction, but at least one of these paths 3A, 3B, and 3C. One may be inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal direction.

図17は、本発明の第二の実施形態に係る研磨装置1を例示するものであるが、便宜上、搬送ローラ等を省略すると共に、プリント基板Pの移動軌跡を一点鎖線で図示したものである。同図に示すように、この研磨装置1は、搬入口から上流側のグリップローラ12に至るまでの搬送径路の全部または一部の径路3A1が上下方向に沿うと共に、下流側のグリップローラ13から搬出口に至るまでの搬送経路の全部または一部の径路3C1が上下方向に沿うように構成されている。その他の構成は、上述の第一の実施形態に係る研磨装置1と実質的に同一であるので、共通する構成要素に同一符号を付して動作等の説明を省略する。   FIG. 17 illustrates the polishing apparatus 1 according to the second embodiment of the present invention. For convenience, the conveyance roller and the like are omitted, and the movement locus of the printed circuit board P is illustrated by a one-dot chain line. . As shown in the figure, the polishing apparatus 1 is configured such that all or a part of the conveying path from the carry-in port to the upstream grip roller 12 is partially or along the vertical path 3A1 and from the downstream grip roller 13. All or part of the path 3C1 of the conveyance path leading to the carry-out port is configured to be along the vertical direction. Since other configurations are substantially the same as those of the polishing apparatus 1 according to the first embodiment described above, the same reference numerals are given to common components, and descriptions of operations and the like are omitted.

図18は、本発明の第三の実施形態に係る研磨装置1を例示するものであり、この場合にも便宜上、搬送ローラ等を省略すると共に、プリント基板Pの移動軌跡を一点鎖線で図示したものである。同図に示すように、この研磨装置1は、搬入口から水平方向(上下方向でもよい)に沿って搬送されて上流側のグリップローラ12に到達したプリント基板Pが、下方のみに送られながら上流側のバフ研磨ローラ14により両面が同時研磨された後、方向変換して搬送されることにより下流側のバフ研磨ローラ15の直下方に至り、更に方向変換して上方のみに送られながら下流側のバフ研磨ローラ15により両面が同時研磨され、然る後、下流側のグリップローラ13を経て水平方向(上下方向でもよい)に沿って搬出口に至るように構成されている。この場合、プリント基板Pを挟持する上流側のグリップローラ12及び下流側のグリップローラ13は、上流側のバフ研磨ローラ14の上方及び下方と、下流側のバフ研磨ローラ15の上方及び下方とに配設され、これらのグリップローラ12、13と各バフ研磨ローラ14、15とは、該当するローラに矢印を付した方向に回転する。その他の構成は、上述の第一の実施形態に係る研磨装置1と実質的に同一であるので、共通する構成要件については同一符号を付してその説明を省略する。   FIG. 18 illustrates the polishing apparatus 1 according to the third embodiment of the present invention. In this case as well, for the sake of convenience, the conveyance roller and the like are omitted, and the movement trace of the printed circuit board P is illustrated by a one-dot chain line. Is. As shown in the figure, the polishing apparatus 1 is configured such that the printed circuit board P that has been transported along the horizontal direction (may be in the vertical direction) from the carry-in entrance and has reached the upstream grip roller 12 is sent only downward. After both surfaces are simultaneously polished by the upstream buffing roller 14, the direction is changed and conveyed to reach directly below the downstream buffing roller 15, and further the direction is changed and sent only upward. Both surfaces are simultaneously polished by the buffing roller 15 on the side, and thereafter, the buffing roller 15 passes through the grip roller 13 on the downstream side and reaches the carry-out port along the horizontal direction (may be the vertical direction). In this case, the upstream grip roller 12 and the downstream grip roller 13 that sandwich the printed circuit board P are above and below the upstream buff polishing roller 14 and above and below the downstream buff polishing roller 15, respectively. The grip rollers 12 and 13 and the buffing rollers 14 and 15 are rotated in a direction in which an arrow is attached to the corresponding rollers. Other configurations are substantially the same as those of the polishing apparatus 1 according to the first embodiment described above, and therefore, common constituent elements are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

以上の第一、第二、第三実施形態では、研磨装置1による研磨対象が可撓性を有する薄肉基板であったが、本発明は、これに限定されるわけではなく、可撓性を有しない厚肉(例えば板厚が1mm超或いは2mm超)の板状ワークであってもよい。以下、その具体的一例を説明する。すなわち、図19は、本発明の第四の実施形態に係る研磨装置1を例示するものであり、この装置1の研磨対象となるのは、上述のプリント基板に比して剛性の高い或いは厚肉の板状ワークとしてのプリント基板Pである。そして、下部搬送ローラ6及び上部搬送ローラ9によって水平方向に送られるプリント基板Pは、水平姿勢のままの状態で上下一対のバフ研磨ローラ40により両面が同時に研磨されるようになっている。このように一対のバフ研磨ローラ40が上下に配列されている場合であっても、既述の図8、図9及び図10に示す動作と実質的に同一の位置決め動作を行うことが可能である。   In the above first, second, and third embodiments, the object to be polished by the polishing apparatus 1 is a flexible thin substrate, but the present invention is not limited to this, and the flexibility is not limited to this. It may be a plate-shaped workpiece that does not have a thickness (for example, a plate thickness of more than 1 mm or more than 2 mm). A specific example will be described below. That is, FIG. 19 illustrates the polishing apparatus 1 according to the fourth embodiment of the present invention, and the object to be polished by this apparatus 1 is higher in rigidity or thicker than the above-described printed circuit board. It is the printed circuit board P as a plate-shaped workpiece of meat. The printed circuit board P fed in the horizontal direction by the lower transport roller 6 and the upper transport roller 9 is polished at the same time by a pair of upper and lower buffing rollers 40 in a horizontal posture. Thus, even when the pair of buffing rollers 40 are vertically arranged, it is possible to perform the positioning operation substantially the same as the operation shown in FIGS. 8, 9 and 10 described above. is there.

なお、以上の実施形態では、プリント基板Pを搬送する搬送手段として搬送ローラを使用したが、この搬送手段は、搬送コンベヤであってもよく、或いは搬送ローラと搬送コンベヤとの組み合わせであってもよい。   In the above embodiment, the transport roller is used as the transport means for transporting the printed circuit board P. However, the transport means may be a transport conveyor or a combination of the transport roller and the transport conveyor. Good.

本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の全体構成を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows the whole structure of the grinding | polishing apparatus which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の全体構成を示す概略平面図である。1 is a schematic plan view showing an overall configuration of a polishing apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図1のA−A線拡大断面図である。It is an AA line expanded sectional view of FIG. 本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の要部を示す拡大概略斜視図である。It is an expansion schematic perspective view which shows the principal part of the grinding | polishing apparatus which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の要部を示す拡大概略正面図である。It is an expansion schematic front view which shows the principal part of the grinding | polishing apparatus which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の構成要素である位置決め手段の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the positioning means which is a component of the grinding | polishing apparatus which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の構成要素であるバフ研磨ローラが退避位置にある時の状態を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows a state when the buffing roller which is a component of the grinding | polishing apparatus which concerns on 1st embodiment of this invention exists in a retracted position. 図8(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の構成要素である位置決め手段の動作を示す概略図である。FIGS. 8A, 8B and 8C are schematic views showing the operation of the positioning means which is a component of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図9(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の構成要素である位置決め手段の動作を示す概略図である。FIGS. 9A, 9B and 9C are schematic views showing the operation of the positioning means which is a component of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図10(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の構成要素である位置決め手段の動作を示す概略図である。FIGS. 10A, 10B and 10C are schematic views showing the operation of the positioning means which is a component of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図11(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の作用を示す概略正面図である。11A, 11B, and 11C are schematic front views showing the operation of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図12(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の作用を示す概略正面図である。FIGS. 12A, 12B, and 12C are schematic front views showing the operation of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図13(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の作用を示す概略正面図である。FIGS. 13A, 13B, and 13C are schematic front views showing the operation of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図14(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の作用を示す概略正面図である。14A, 14B, and 14C are schematic front views showing the operation of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図15(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の作用を示す概略正面図である。FIGS. 15A, 15B, and 15C are schematic front views showing the operation of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図16(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の第一の実施形態に係る研磨装置の作用を示す概略正面図である。FIGS. 16A, 16B, and 16C are schematic front views showing the operation of the polishing apparatus according to the first embodiment of the present invention. 本発明の第二の実施形態に係る研磨装置の要部を模式的に示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows typically the principal part of the grinding | polishing apparatus which concerns on 2nd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係る研磨装置の要部を模式的に示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows typically the principal part of the grinding | polishing apparatus which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第四の実施形態に係る研磨装置の要部を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows the principal part of the grinding | polishing apparatus which concerns on 4th embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 研磨装置
3A 搬送経路(搬入用搬送経路)
3B 搬送経路(研磨用搬送経路)
3C 搬送経路(搬出用搬送経路)
6 搬送手段(下部搬送ローラ)
9 搬送手段(上部搬送ローラ)
12 グリップローラ(上流側のグリップローラ)
13 グリップローラ(下流側のグリップローラ)
14 バフ研磨ローラ(上流側のバフ研磨ローラ)
15 バフ研磨ローラ(下流側のバフ研磨ローラ)
16 方向変換用ガイドローラ(上流側の方向変換用ガイドローラ)
17 方向変換用ガイドローラ(下流側の方向変換用ガイドローラ)
20 流体噴射手段(上流側の流体噴射手段)
21 流体噴射手段(下流側の流体噴射手段)
30 位置決め手段
31 移動手段(第一移動手段)
32 移動手段(第二移動手段)
33 回転駆動手段
34 第一回転速度センサ
35 第二回転速度センサ
36 退避位置(第一退避位置)
37 退避位置(第二退避位置)
38 研磨基準位置
40 バフ研磨ローラ
P プリント基板(薄肉基板)
P1 プリント基板(薄肉基板)
P2 プリント基板(薄肉基板)
W1 流体(水)の流れ
W2 流体(水)の流れ
1 Polishing device 3A Conveyance route (conveyance route for loading)
3B transfer path (polishing transfer path)
3C transport route (transport route for unloading)
6 Transport means (lower transport roller)
9 Transport means (upper transport roller)
12 Grip roller (upstream grip roller)
13 Grip roller (downstream grip roller)
14 Buffing roller (upstream buffing roller)
15 Buffing roller (downstream buffing roller)
16 Direction changing guide roller (Upstream direction changing guide roller)
17 Direction changing guide roller (downstream direction changing guide roller)
20 Fluid ejecting means (upstream fluid ejecting means)
21 Fluid ejecting means (downstream fluid ejecting means)
30 Positioning means 31 Moving means (first moving means)
32 Moving means (second moving means)
33 Rotation drive means 34 First rotation speed sensor 35 Second rotation speed sensor 36 Retraction position (first retraction position)
37 Retraction position (second retraction position)
38 Polishing reference position 40 Buffing roller P Printed circuit board (thin substrate)
P1 Printed circuit board (thin substrate)
P2 Printed circuit board (thin substrate)
W1 Fluid (water) flow W2 Fluid (water) flow

Claims (4)

板状ワークを搬送する搬送手段と、この搬送手段による搬送途中で前記板状ワークを研磨するバフ研磨ローラとを備えた研磨装置において、
前記搬送手段により形成される搬送径路の途中に配設され且つ前記板状ワークを相互間に介在させて該板状ワークの両面を同時に研磨する一対のバフ研磨ローラを備えると共に、前記一対のバフ研磨ローラの相互間における前記板状ワークの研磨位置がそれらのバフ研磨ローラのそれぞれの径の異同に拘わらず予め判明している研磨基準位置となるように前記一対のバフ研磨ローラを位置決めする位置決め手段を備えたことを特徴とする研磨装置。
In a polishing apparatus comprising a conveying means for conveying a plate-like workpiece, and a buffing roller for polishing the plate-like workpiece during conveyance by the conveying means,
A pair of buffing rollers disposed in the middle of the conveying path formed by the conveying means and configured to simultaneously polish both surfaces of the plate-like workpiece with the plate-like workpiece interposed therebetween; Positioning for positioning the pair of buffing rollers so that the polishing position of the plate-like workpiece between the polishing rollers becomes a predetermined polishing reference position regardless of the difference in diameter of each of the buffing rollers. A polishing apparatus comprising means.
前記位置決め手段は、前記一対のバフ研磨ローラをそれぞれ前記研磨基準位置を境として両側に等距離だけ離間した退避位置から両者の移動距離を等しく維持しつつ接近移動させる移動手段と、前記一対のバフ研磨ローラのうち一方のバフ研磨ローラのみを回転駆動させる回転駆動手段と、前記一方のバフ研磨ローラの回転速度を検出する第一回転速度センサと、前記移動手段による接近移動に伴って前記一方のバフ研磨ローラと接触して連れ回る他方のバフ研磨ローラの回転速度を検出する第二回転速度センサとを備えていることを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。   The positioning means includes a moving means that moves the pair of buffing rollers closer from a retreat position that is spaced by an equal distance on both sides with the polishing reference position as a boundary, and a pair of buffing rollers that maintain the same moving distance between them. Rotation driving means for rotating only one buffing roller among the polishing rollers, a first rotation speed sensor for detecting the rotation speed of the one buffing roller, and the one of the one buffing rollers as the moving means approaches. The polishing apparatus according to claim 1, further comprising a second rotation speed sensor that detects a rotation speed of the other buffing roller that rotates in contact with the buffing roller. 板状ワークを搬送する搬送手段と、この搬送手段による搬送途中で前記板状ワークを研磨するバフ研磨ローラとを備え、前記バフ研磨ローラの位置決めを行う研磨装置のローラ位置決め方法において、
前記搬送手段により形成される搬送径路の途中に配設され且つ前記板状ワークを相互間に介在させて該板状ワークの両面を同時に研磨する一対のバフ研磨ローラを備え、前記一対のバフ研磨ローラの相互間における前記板状ワークの研磨位置がそれらのバフ研磨ローラのそれぞれの径の異同に拘わらず予め判明している研磨基準位置となるように前記一対のバフ研磨ローラを位置決めすることを特徴とする研磨装置のローラ位置決め方法。
In a roller positioning method for a polishing apparatus, comprising: a conveying unit that conveys a plate-like workpiece; and a buffing roller that polishes the plate-like workpiece in the middle of conveyance by the conveying unit, and positioning the buffing roller.
A pair of buffing rollers disposed in the middle of the conveying path formed by the conveying means and configured to simultaneously polish both surfaces of the plate-like workpiece with the plate-like workpiece interposed between each other; Positioning the pair of buffing rollers so that the polishing position of the plate-like workpiece between the rollers is a predetermined polishing reference position regardless of the difference in diameter of each of the buffing rollers. A roller positioning method for a polishing apparatus.
前記一対のバフ研磨ローラをそれぞれ前記研磨基準位置を境として両側に等距離だけ離間した退避位置から両者の移動距離を等しく維持しつつ接近移動させることにより、前記一対のバフ研磨ローラのうち回転駆動される一方のバフ研磨ローラと回転駆動されない他方のバフ研磨ローラとを接触させて該他方のバフ研磨ローラに連れ回りを生じさせ、この時の両バフ研磨ローラの回転速度を比較して、その比較結果に基づいて前記一対のバフ研磨ローラを位置決めすることを特徴とする請求項3に記載の研磨装置のローラ位置決め方法。   The pair of buffing rollers is driven to rotate out of the pair of buffing rollers by moving the pair of buffing rollers closer to each other from the retreat position separated by an equal distance on both sides with the polishing reference position as a boundary, while maintaining the same moving distance between the two. One buffing roller to be brought into contact with the other buffing roller that is not rotationally driven to cause the other buffing roller to rotate, and the rotational speeds of the two buffing rollers at this time are compared. The roller positioning method for a polishing apparatus according to claim 3, wherein the pair of buffing rollers are positioned based on a comparison result.
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