JP2009287043A - Antimony oxide sputtering target having excellent cracking resistance - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、酸化アンチモン薄膜をスパッタリングにより成膜するために使用する耐割れ性に優れた酸化アンチモンスパッタリングターゲット(以下、酸化アンチモンターゲットと云う)に関するものである。 The present invention relates to an antimony oxide sputtering target (hereinafter referred to as an antimony oxide target) excellent in crack resistance used for forming an antimony oxide thin film by sputtering.
一般に、酸化アンチモン薄膜は各種の光学薄膜として使用されることは知られており、この酸化アンチモン薄膜はスパッタリングにより成膜することが知られている。例えば、入射した光が吸収されてほとんど反射することのない反射防止光学薄膜は、鏡やフラットパネルディスプレイの表示面上に形成されることにより、光の反射を防止している。この反射防止光学薄膜の一例が特許文献1に記載されており、この特許文献1には、反射防止光学薄膜は第1層、第2層および第3層の順に積層された積層膜から構成されており、前記第1層は厚さが約70〜100nmを有する窒化ケイ素、酸化亜鉛、インジウム酸化第一錫、酸化ビスマス、酸化第二錫、酸化ジルコニウム、酸化ハフニウム、酸化アンチモン、酸化ガドリニウムなどの層で構成されており、第2層は厚さが約20〜35nmを有する酸化チタン、酸化ニオブ、酸化タンタルなどの層で構成されており、第3層は厚さが約70〜95nmを有する二酸化ケイ素、フッ化マグネシウムなどの層で構成されており、前記第1層として酸化アンチモン薄膜を使用することが記載されている。
前述のように、酸化アンチモン薄膜は、酸化アンチモンターゲットを使用し、スパッタリングにより成膜することは知られているが、通常の酸化アンチモンターゲットを用いて高出力スパッタすると、スパッタリング中に割れが発生し、スパッタリング操作を途中で中断しなければならなくなって、効率よく高出力スパッタを行うことができなかった。 As described above, it is known that an antimony oxide thin film is formed by sputtering using an antimony oxide target. The sputtering operation had to be interrupted, and high power sputtering could not be performed efficiently.
本発明者らは高出力スパッタしてもスパッタ中に割れが発生することのない耐割れ性に優れた酸化アンチモンターゲットを作製すべく研究を行った。その結果、
(イ)Sb2O3粉末と金属Sb粉末を、Sb2Oy(ただし、yは原子比で1.7〜2.85)となる成分組成を有するように配合し混合して得られた混合粉末をホットプレスして得られた酸化アンチモンターゲットは、金属Sb素地中にSb2O3粒子相が分散している組織を有し、この成分組成および組織を有する酸化アンチモンターゲットは、高速スパッタを行っても割れが発生することはない、
(ロ)前記Sb2O3粒子相は、最大粒径が250μm以下の粒径を有することが好ましい、という研究結果が得られたのである。
The present inventors have studied to produce an antimony oxide target having excellent cracking resistance that does not generate cracks even during high-power sputtering. as a result,
(B) Obtained by mixing and mixing Sb 2 O 3 powder and metal Sb powder so as to have a component composition of Sb 2 O y (y is 1.7 to 2.85 in atomic ratio). The antimony oxide target obtained by hot-pressing the mixed powder has a structure in which the Sb 2 O 3 particle phase is dispersed in the metal Sb substrate. No cracks will occur even if
(B) The research result that the Sb 2 O 3 particle phase preferably has a maximum particle size of 250 μm or less was obtained.
この発明は、かかる研究結果に基づいて成されたものであって、
(1)Sb2Oy(ただし、yは原子比で1.7〜2.85)からなる成分組成および金属Sb素地中にSb2O3粒子相が分散している組織を有する耐割れ性に優れた酸化アンチモンスパッタリングターゲット、
(2)前記Sb2O3粒子相は、最大粒径が250μm以下の粒径を有する前記(1)記載の耐割れ性に優れた酸化アンチモンスパッタリングターゲット、に特徴を有するものである。
The present invention has been made based on such research results,
(1) Crack resistance having a component composition comprising Sb 2 O y (y is 1.7 to 2.85 in atomic ratio) and a structure in which the Sb 2 O 3 particle phase is dispersed in the metal Sb substrate. Excellent antimony oxide sputtering target,
(2) The Sb 2 O 3 particle phase is characterized by the antimony oxide sputtering target having a maximum particle size of 250 μm or less and excellent in crack resistance according to (1).
この発明の耐割れ性に優れた酸化アンチモンスパッタリングターゲットを製造するには、原料粉末として、最大粒径が250μm以下の酸化アンチモン粉末と金属Sb粉末を用意し、これら原料粉末をSb2Oy(ただし、yは原子比で1.7〜2.85)からなる成分組成を有するように配合し混合し成形した後ホットプレスすることにより作製することができる。
このようにして作製したこの発明の耐割れ性に優れた酸化アンチモンスパッタリングターゲットは、金属Sbの素地中に最大粒径で250μm以下のSb2O3粒子相が分散している組織を有しており、酸素を含む雰囲気中で高周波スパッタすることによりSb2O3膜を成膜する。
In order to produce the antimony oxide sputtering target having excellent crack resistance according to the present invention, antimony oxide powder having a maximum particle size of 250 μm or less and metal Sb powder are prepared as raw material powders, and these raw material powders are made of Sb 2 O y ( However, y can be produced by hot pressing after blending, mixing and molding so as to have a component composition of 1.7 to 2.85) in atomic ratio.
The antimony oxide sputtering target excellent in crack resistance of the present invention thus produced has a structure in which an Sb 2 O 3 particle phase having a maximum particle size of 250 μm or less is dispersed in a metal Sb substrate. The Sb 2 O 3 film is formed by high frequency sputtering in an atmosphere containing oxygen.
この発明の耐割れ性に優れた酸化アンチモンスパッタリングターゲットの成分組成をSb2Oy(ただし、yは原子比で1.7〜2.85)となるように規定したのは、yが1.7より小さいとリアクティブスパッタによる膜の酸素コントロールが難しくなると共に膜の透明性が悪くなるので好ましくなく、一方、yが2.85を越えて大きくなるとスパッタ中に割れが発生するようになるので好ましくないからである。さらに、この発明の耐割れ性に優れた酸化アンチモンスパッタリングターゲットの金属Sb素地中に分散するSb2O3粒子相の粒径を最大粒径で250μm以下と規定したのは、Sb2O3粒子相の最大粒径が250μmを越えるようになると、スパッタ中に割れが発生するようになるので好ましくないからである。 The component composition of the antimony oxide sputtering target having excellent crack resistance according to the present invention is defined to be Sb 2 O y (where y is 1.7 to 2.85 in atomic ratio). If it is less than 7, oxygen control of the film by reactive sputtering becomes difficult and the transparency of the film deteriorates, which is not preferable. On the other hand, if y exceeds 2.85, cracking occurs during sputtering. It is because it is not preferable. Furthermore, was defined as 250μm or less in maximum particle size the particle size of Sb 2 O 3 particulate phase dispersed in the metal Sb in the matrix of the superior antimony oxide sputtering target cracking resistance of the present invention, Sb 2 O 3 particles This is because if the maximum particle size of the phase exceeds 250 μm, cracking occurs during sputtering, which is not preferable.
この発明の耐割れ性に優れた酸化アンチモンのターゲットは、高出力スパッタを行ってもターゲットに割れが生じないので一層効率良くスパッタリングを行うことができる。 The antimony oxide target excellent in crack resistance according to the present invention can be sputtered more efficiently because the target is not cracked even when high power sputtering is performed.
つぎに、この発明の耐割れ性に優れた酸化アンチモンスパッタリングターゲットを実施例により具体的に説明する。
原料粉末として、表1に示される最大粒径を有するSb2O3粉末および平均粒径:100μmを有する金属Sb粉末を用意し、これら原料粉末を表1に示される割合となるように配合し、乾式混合装置を用いて混合し、得られた混合粉末をモールドに充填し、真空雰囲気中、温度:300℃、圧力:70MPaにてホットプレスしたのち機械加工することにより、直径:100mm、厚さ:5mmの寸法を有し、表1に示されるSb2Oyにおけるyの値を有する本発明ターゲット1〜12、比較ターゲット1〜3および従来ターゲット1を作製した。
これら本発明ターゲット1〜12、比較ターゲット1〜3および従来ターゲット1の切断面を研磨し、金属顕微鏡を用いて切断研磨面の金属Sb素地中に分散するSb2O3粒子相の最大粒径を測定し、その結果を表1に示した。
Next, the antimony oxide sputtering target having excellent crack resistance according to the present invention will be specifically described with reference to examples.
As the raw material powder, Sb 2 O 3 powder having the maximum particle size shown in Table 1 and metal Sb powder having an average particle size: 100 μm are prepared, and these raw material powders are blended so as to have the ratio shown in Table 1. The mixture powder was mixed using a dry mixing apparatus, the obtained mixed powder was filled into a mold, and hot-pressed in a vacuum atmosphere at a temperature of 300 ° C. and a pressure of 70 MPa, and then machined to obtain a diameter of 100 mm and a thickness of 100 mm. The present invention targets 1 to 12, comparative targets 1 to 3, and conventional target 1 having a dimension of 5 mm and having a value of y in Sb 2 O y shown in Table 1 were prepared.
The maximum particle size of the Sb 2 O 3 particle phase that is obtained by polishing the cut surfaces of the present invention targets 1 to 12, comparative targets 1 to 3, and conventional target 1 and dispersing them in the metal Sb substrate of the cut and polished surface using a metal microscope The results are shown in Table 1.
さらに、得られた本発明ターゲット1〜12、比較ターゲット1〜3および従来ターゲット1を無酸素銅製の水冷バッキングプレートにハンダ付けした状態で、スパッタリング装置に装着し、まず装置内を真空排気装置にて1×10-6Torr以下に排気したのち、Arガスおよび酸素ガスを導入して装置内雰囲気をArガス分圧:5mTorr、酸素ガス分圧:0.5mTorrの雰囲気とし、かかる状態で本発明ターゲット1〜12、比較ターゲット1〜3および従来ターゲット1を用い、電源:RF、スパッタ電力:100Wを印加することにより1時間スパッタリングを行なった。その後パッタリング装置からホットプレスした本発明ターゲット1〜12、比較ターゲット1〜3および従来ターゲット1を取り出し、ターゲットに割れが発生しているか否かを目視にて観察し、その結果を表1に示した。 Furthermore, the present invention targets 1 to 12, comparative targets 1 to 3 and the conventional target 1 were mounted on a sputtering apparatus in a state where they were soldered to a water-cooled backing plate made of oxygen-free copper, and the inside of the apparatus was first made into a vacuum exhaust apparatus. After evacuating to 1 × 10 −6 Torr or less, Ar gas and oxygen gas are introduced to make the atmosphere in the apparatus have an Ar gas partial pressure of 5 mTorr and an oxygen gas partial pressure of 0.5 mTorr. Sputtering was performed for 1 hour using targets 1 to 12, comparative targets 1 to 3, and conventional target 1 by applying power: RF and sputtering power: 100 W. Thereafter, the present invention targets 1 to 12, the comparative targets 1 to 3 and the conventional target 1 that were hot pressed from the sputtering apparatus were taken out, and whether or not cracking occurred in the target was visually observed. The results are shown in Table 1. Indicated.
表1に示される結果から、従来ターゲット1は高出力スパッタを行うと割れが発生したが、本発明ターゲット1〜12は同じ条件で高出力スパッタを行っても割れは発生しないことが分かる。しかし、Sb2Oyにおけるyが1.7未満である比較ターゲット1はスパッタリングして得られた膜の透明性が悪くなるので好ましくなく、一方、yが2.85を越える成分組成を有する比較ターゲット2および金属Sb素地中に分散するSb2O3粒子相の最大粒径が250μmよりも大きな比較ターゲット3は高出力スパッタを行うと割れが発生するので好ましくないことが分かる。 From the results shown in Table 1, it can be seen that the conventional target 1 cracked when high power sputtering was performed, but the targets 1 to 12 of the present invention did not crack even when high power sputtering was performed under the same conditions. However, the comparative target 1 in which y in Sb 2 O y is less than 1.7 is not preferable because the film obtained by sputtering deteriorates in transparency, whereas the comparison target 1 in which y exceeds 2.85 is compared. It can be seen that the target 2 and the comparative target 3 in which the maximum particle size of the Sb 2 O 3 particle phase dispersed in the metal Sb substrate is larger than 250 μm are not preferable because high-power sputtering causes cracking.
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