JP2009276122A - Wire rod automatic tensile tester - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To perform excellently an automatic tensile test of a wire rod test piece in a bent state. <P>SOLUTION: Both ends of a test piece TP are gripped by gripping devices 31, 32, and the gripping devices 31, 32 are moved in the length direction of the test piece TP by lifting cylinders 33, 34, to thereby apply a tension to the test piece TP. Further, the gripping devices 31, 32 are conveyed to the tester body 5 side by driving of a ball screw 42, while gripping the test piece TP by the gripping devices 31, 32, and the test piece TP is gripped by gripping devices 51, 52 provided on the tester body 5. A loading actuator 53 is driven in this state, to thereby load a tensile force onto the test piece TP. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、線材の試験片を引張試験機本体に自動的に供給する線材自動引張試験装置に関する。   The present invention relates to a wire automatic tensile testing apparatus that automatically supplies a wire specimen to a tensile tester main body.

従来より、オートハンド装置を用いて線材の試験片を試験機本体に供給し、試験機本体でこの試験片をチャッキングして引張力を負荷するようにした装置が知られている(例えば特許文献1参照)。この特許文献1記載の装置では、上下一対のオートハンドつかみ具により線材試験片を把持し、試験機本体に供給する。   2. Description of the Related Art Conventionally, there is known an apparatus in which a test piece of a wire is supplied to a test machine main body using an automatic hand device, and the test piece is chucked by the test machine main body to apply a tensile force (for example, a patent). Reference 1). In the apparatus described in Patent Document 1, a wire specimen is gripped by a pair of upper and lower auto hand grips and supplied to a tester main body.

特開平7−333124号公報JP 7-333124 A

しかしながら、例えばコイル状に巻回された線材を所定長さに切断して試験片を得る場合、試験片に曲がりが発生し、試験片を良好に把持できないおそれがある。   However, for example, when a test piece is obtained by cutting a wire wound in a coil shape into a predetermined length, the test piece may be bent and the test piece may not be gripped satisfactorily.

本発明による線材自動引張試験装置は、線材試験片に張力を付与して線材試験片の曲がりを矯正する曲がり矯正手段と、曲がり矯正手段により曲がりが矯正された線材試験片を試験機本体に搬送する搬送手段と、搬送手段により搬送された線材試験片に引張試験力を負荷する負荷手段とを備えることを特徴とする。
曲がり状態の線材試験片を保持する線材保持手段と、保持手段により保持された線材試験片を曲がり矯正手段に供給する線材供給手段とをさらに備えることもできる。
曲がり矯正手段に、線材試験片の両端部を把持する第1の把持装置と、線材試験片の長さ方向に第1の把持装置を移動して、線材試験片に張力を付与する移動手段とを設け、第1の把持装置により線材試験片を把持したまま第1の把持装置を試験機本体側に搬送し、試験機本体に設けられた第2の把持装置を介して線材試験片に引張試験力を負荷することもできる。
この場合、第1の把持装置により、第2の把持装置よりも線材試験片の長さ方向外側で線材試験片の両端部を把持し、第2の把持装置により線材試験片が把持されると、第1の把持装置の把持力を解放して第1の把持装置を試験機本体側から退避させることが好ましい。
第1の把持装置に、線材試験片の周面を挟持する第1の把持部材および第2の把持部材を設け、第1の把持部材の先端部に、線材試験片の位置を規制する溝部を設け、第2の把持部材の先端部に、線材試験片を溝部の奥方に押し当てる当接部を設けるようにしてもよい。
The wire rod automatic tensile testing apparatus according to the present invention conveys to a testing machine main body a bending straightening means for applying a tension to the wire rod test piece to correct the bending of the wire rod test piece, and a bending wire straightened by the bending straightening means. And a load means for applying a tensile test force to the wire specimen transported by the transport means.
It is possible to further include wire rod holding means for holding the wire rod test piece in a bent state, and wire rod supply means for supplying the wire rod test piece held by the holding means to the bending correction means.
A first gripping device that grips both ends of the wire rod test piece, and a moving unit that applies tension to the wire rod test piece by moving the first gripping device in the length direction of the wire rod test piece; The first gripping device is transported to the testing machine main body side while the wire test piece is gripped by the first gripping device, and pulled to the wire test piece via the second gripping device provided in the testing machine main body. Test force can also be applied.
In this case, when the first gripping device grips both ends of the wire test piece on the outer side in the length direction of the wire test piece than the second gripping device, and the second gripping device grips the wire test piece. It is preferable that the gripping force of the first gripping device is released and the first gripping device is retracted from the tester main body side.
The first gripping device is provided with a first gripping member and a second gripping member that sandwich the peripheral surface of the wire test piece, and a groove portion that regulates the position of the wire test piece is provided at the tip of the first gripping member. It is also possible to provide a contact portion that presses the wire specimen against the back of the groove portion at the tip of the second gripping member.

本発明によれば、線材試験片に張力を付与して曲がりを矯正するとともに、曲がりが矯正された線材試験片を試験機本体に搬送し、引張試験力を負荷するようにしたので、曲がり状態の線材試験片の引張試験を良好に行うことができる。   According to the present invention, a tension is applied to the wire test piece to correct the bending, and the wire test piece with the corrected bending is conveyed to the testing machine main body so as to load the tensile test force, so that the bent state The tensile test of the wire specimen can be performed satisfactorily.

以下、図面を参照して本発明による線材自動引張試験装置の一実施の形態について説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係る線材自動引張試験装置の全体構成を示す正面図であり、図2は平面図(図1の矢視II図)である。なお、説明の便宜上、図示のように前後左右方向を定義し、以下ではこの定義にしたがって各部の構成を説明する。試験対象である試験片TPは、例えばコイル状の線材を切断して得られた線材試験片であり、本実施の形態では、この試験片TPの曲がりを自動的に矯正して引張試験を行う。
Hereinafter, an embodiment of a wire automatic tensile testing apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a front view showing the overall configuration of a wire automatic tensile testing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view (view II view of FIG. 1). For convenience of explanation, front and rear, left and right directions are defined as shown in the figure, and the configuration of each part will be described according to this definition below. The test piece TP to be tested is, for example, a wire test piece obtained by cutting a coiled wire. In the present embodiment, the bending of the test piece TP is automatically corrected and a tensile test is performed. .

図1,2に示すように線材自動引張試験装置は、線材試験片TPをストックするマガジンラック1と、マガジンラック1を所定の試験片供給位置に移動するラック移動装置2と、試験片供給位置に移動されたマガジンラック1から線材試験片TPを取り出し、試験片TPに張力を付与して試験片TPの曲がりを矯正する曲がり矯正装置3と、曲がり矯正装置3により曲がりが矯正された試験片TPを図の左方向に搬送する搬送装置4と、搬送装置4により搬送された試験片TPの引張試験を行う試験機本体5とを備える。   As shown in FIGS. 1 and 2, the wire automatic tensile testing apparatus includes a magazine rack 1 that stocks wire test pieces TP, a rack moving device 2 that moves the magazine rack 1 to a predetermined test piece supply position, and a test piece supply position. The wire rod test piece TP is taken out from the magazine rack 1 moved to the position, and the bending correction device 3 for correcting the bending of the test piece TP by applying tension to the test piece TP, and the test piece whose bending is corrected by the bending correction device 3. A transport device 4 that transports the TP in the left direction in the figure and a tester body 5 that performs a tensile test of the test piece TP transported by the transport device 4 are provided.

まず、マガジンラック1の構成を説明する。図3(a),(b)は、マガジンラック1の全体構成を示す側面図および正面図であり、図4は要部斜視図である。マガジンラック1は、複数本のパイプ10をケース11内に立設してなる。ケース11は、左右方向に延設された下部支持部材12と、下部支持部材12の左右両端部に立設された一対の支柱13,14と、支柱13,14の上端部に架設された上部支持部材15とにより構成される。パイプ10は左右の支柱13,14の間に並設され、各パイプ10の上下端部は、それぞれ上部支持部材15および下部支持部材12を貫通して支持されている。パイプ10の上端は開放され、パイプ10の下端は閉塞されている。   First, the configuration of the magazine rack 1 will be described. 3A and 3B are a side view and a front view showing the overall configuration of the magazine rack 1, and FIG. The magazine rack 1 is constructed by standing a plurality of pipes 10 in a case 11. The case 11 includes a lower support member 12 extending in the left-right direction, a pair of support columns 13 and 14 erected on both left and right ends of the lower support member 12, and an upper portion installed on the upper ends of the support columns 13 and 14. And a support member 15. The pipe 10 is arranged between the left and right support columns 13 and 14, and the upper and lower ends of each pipe 10 are supported through the upper support member 15 and the lower support member 12, respectively. The upper end of the pipe 10 is opened, and the lower end of the pipe 10 is closed.

図3(b)に示すように下部支持部材12の左右両端部には、それぞれ上下方向に向けて一対のピン孔12aが開口され、さらにこのピン孔12aの左右内側にも上下方向に向けて一対のピン孔12bが開口されている。ピン孔12aおよび12bには、それぞれ後述(図6)のチェーンコンベヤ20のピン211およびリフター25のピン262が挿入される。支柱13の右側面には、上下方向にわたって複数のねじ穴16が穿設されている。ねじ穴16には、マガジンラック1を識別するための識別用ネジ17が取り付けられる。   As shown in FIG. 3 (b), a pair of pin holes 12a are opened in the left and right ends of the lower support member 12 in the vertical direction. A pair of pin holes 12b are opened. A pin 211 of the chain conveyor 20 and a pin 262 of the lifter 25 described later (FIG. 6) are inserted into the pin holes 12a and 12b, respectively. A plurality of screw holes 16 are formed in the right side surface of the support column 13 in the vertical direction. An identification screw 17 for identifying the magazine rack 1 is attached to the screw hole 16.

このように構成されたマガジンラック1のパイプ10内には、図4に示すようにそれぞれ所定長さの線材試験片TPが収容支持される。試験片TPの長さはパイプ10の全長よりも長く形成されており、試験片TPをパイプ10の上端面から最下部に至るまで挿入したとき、試験片TPの上端部は、図示のように湾曲した状態でパイプ10の上端面から突出する。なお、パイプ10は、上部支持部材15に設けられた貫通穴に挿入されて固定されるが、パイプ抜け防止のため貫通穴は途中で細くなり、パイプ10の上端部は貫通穴の途中に位置する。貫通穴から挿入された試験片TPがパイプ10の上端部に引っ掛からないようにパイプ10の内径は貫通穴の内径よりも大きい。   In the pipe 10 of the magazine rack 1 configured as described above, a wire specimen TP having a predetermined length is accommodated and supported as shown in FIG. The length of the test piece TP is longer than the entire length of the pipe 10, and when the test piece TP is inserted from the upper end surface of the pipe 10 to the bottom, the upper end portion of the test piece TP is as shown in the figure. It protrudes from the upper end surface of the pipe 10 in a curved state. The pipe 10 is inserted and fixed in a through hole provided in the upper support member 15, but the through hole is narrowed in the middle to prevent the pipe from being removed, and the upper end of the pipe 10 is located in the middle of the through hole. To do. The inner diameter of the pipe 10 is larger than the inner diameter of the through hole so that the test piece TP inserted from the through hole is not caught on the upper end of the pipe 10.

ラック移動装置2の構成を説明する。図5(a)は、ラック移動装置2の構成を示す平面図であり、図5(b)は、側面図(図1の矢視V図)、図6は、図5(b)のVI-VI線断面図である。図5に示すようにラック移動装置2は、ラック1を前方に移動するチェーンコンベヤ20と、ラック1を昇降するリフター25とを有する。なお、図5(a)ではラック1およびチェーンコンベヤ20のチェーン21の図示を省略している。   The configuration of the rack moving device 2 will be described. FIG. 5A is a plan view showing the configuration of the rack moving device 2, FIG. 5B is a side view (viewed in the direction of arrow V in FIG. 1), and FIG. 6 is VI in FIG. 5B. FIG. As shown in FIG. 5, the rack moving device 2 includes a chain conveyor 20 that moves the rack 1 forward, and a lifter 25 that moves the rack 1 up and down. In FIG. 5A, the rack 1 and the chain 21 of the chain conveyor 20 are not shown.

チェーンコンベヤ20は、ベースフレーム200(図1)上に搭載され、モータ22の駆動によりチェーン21が移動する。図6に示すようにチェーン21の表面には左右一対のピン211が突設され、ピン211がラック1のピン孔12aに挿入され、ピン211を介してチェーン21上にラック1が立設されている。図5(b)に示すようにピン211は、前後方向にかけて複数本突設され、これらピン211を介してチェーン上に複数のラック1が並設されている。なお、図5(b)では、リフター25の前方および後方にラック1を示しているが、初期状態ではリフター25の後方にラック1が配置される。   The chain conveyor 20 is mounted on the base frame 200 (FIG. 1), and the chain 21 is moved by driving the motor 22. As shown in FIG. 6, a pair of left and right pins 211 project from the surface of the chain 21, the pins 211 are inserted into the pin holes 12 a of the rack 1, and the rack 1 is erected on the chain 21 via the pins 211. ing. As shown in FIG. 5 (b), a plurality of pins 211 project in the front-rear direction, and a plurality of racks 1 are juxtaposed on the chain via these pins 211. In FIG. 5B, the rack 1 is shown in front of and behind the lifter 25, but the rack 1 is arranged behind the lifter 25 in the initial state.

リフター25は、チェーンコンベヤ20の前後方向中央部に設けられている。図6に示すようにリフター25は、エアシリンダ26と、エアシリンダ26の上端部に設けられたブラケット261と、ブラケット261の上面に突設された左右一対のピン262と、エアシリンダ26の左右両側に配設された左右一対のガイドロッド263とを有する。ガイドロッド263は、ブラケット261を介しエアシリンダ25に追随して上下動し、ブラケット261の傾きを防止する。エアシリンダ26が伸張すると、ラック1底面のピン孔12bにピン262が挿入され、ラック1が所定量ΔLだけ上昇(リフトアップ)する。   The lifter 25 is provided at the center in the front-rear direction of the chain conveyor 20. As shown in FIG. 6, the lifter 25 includes an air cylinder 26, a bracket 261 provided at the upper end of the air cylinder 26, a pair of left and right pins 262 projecting from the upper surface of the bracket 261, and left and right of the air cylinder 26. A pair of left and right guide rods 263 disposed on both sides. The guide rod 263 moves up and down following the air cylinder 25 via the bracket 261 and prevents the bracket 261 from tilting. When the air cylinder 26 is extended, the pin 262 is inserted into the pin hole 12b on the bottom surface of the rack 1, and the rack 1 is raised (lifted up) by a predetermined amount ΔL.

リフター25の左右両側には、ラック1を挟むように支柱27,28が立設されている。支柱27,28はフレーム200上に立設され、支柱27,28の高さは、ラック1が所定量ΔLだけ上昇したときの高さにほぼ等しい。各支柱27,28の上端部にはそれぞれガイド部271,281が設けられている。図7(a)はガイド部281の構成を示す平面図(図6の矢視VII図)であり、図7(b)は図7(a)のb−b線断面図である。なお、ガイド部271の構成はガイド部281の構成と同様であり、図示を省略する。   Supports 27 and 28 are erected on both the left and right sides of the lifter 25 so as to sandwich the rack 1. The columns 27 and 28 are erected on the frame 200, and the height of the columns 27 and 28 is substantially equal to the height when the rack 1 is raised by a predetermined amount ΔL. Guide portions 271 and 281 are provided at the upper ends of the columns 27 and 28, respectively. FIG. 7A is a plan view (a view along arrow VII in FIG. 6) showing the configuration of the guide portion 281, and FIG. 7B is a cross-sectional view taken along the line bb in FIG. 7A. The configuration of the guide portion 271 is the same as the configuration of the guide portion 281 and is not shown.

図7(a)に示すようにガイド部281は上方から見ると略コ字形状をなしている。図7(a)の点線は、ガイド部281の下端角部の形状を示しており、ガイド部281の内側面には下方から上方にかけてテーパ面282,283が形成されている。これによりガイド部281の内側の空間284は下方では広く、上方にいくほど狭くなる。このため、ラック1を上昇させると、ラック1はガイド部281で前後左右方向の位置が規制され、ラック1を精度よく試験片供給位置に配置できる。   As shown in FIG. 7A, the guide portion 281 is substantially U-shaped when viewed from above. The dotted line in FIG. 7A indicates the shape of the lower end corner of the guide portion 281, and tapered surfaces 282 and 283 are formed on the inner side surface of the guide portion 281 from the bottom to the top. As a result, the space 284 inside the guide portion 281 is wide at the bottom and narrows toward the top. For this reason, when the rack 1 is raised, the position of the rack 1 in the front-rear and left-right directions is regulated by the guide portion 281 so that the rack 1 can be accurately placed at the test piece supply position.

図5(a)に示すように支柱28には、チェーンコンベヤ20により前方移動するラック1の通過を検出する透過型のマガジン通過センサ291が装着されている。マガジン通過センサ291がオンしたときに、エアシリンダ26を伸張すると、ピン孔12bにピン262が挿入され、ラック1がリフトアップする。   As shown in FIG. 5A, a transmissive magazine passage sensor 291 that detects the passage of the rack 1 moving forward by the chain conveyor 20 is attached to the support column 28. When the air cylinder 26 is extended when the magazine passage sensor 291 is turned on, the pin 262 is inserted into the pin hole 12b, and the rack 1 is lifted up.

なお、リフトアップ状態では、後述するように試験片SPが順次ラック1から取り出され、試験片SPが全て取り出されると、エアシリンダ26が縮退して空のラック1がリフトダウンする。この空ラック1はチェーンコンベヤ20によりリフター25の前方に搬送される。図5(a)に示すようにチェーンコンベヤ20の前端部には、全ての試験片TPがラック1から取り出されてリフター25の前方にラック1が移動した状態、すなわち空ラック21の満杯状態を検出する空ラック満杯センサ292が装着されている。   In the lift-up state, as will be described later, the test pieces SP are sequentially taken out from the rack 1, and when all the test pieces SP are taken out, the air cylinder 26 is degenerated and the empty rack 1 is lifted down. The empty rack 1 is conveyed to the front of the lifter 25 by the chain conveyor 20. As shown in FIG. 5A, at the front end of the chain conveyor 20, all the test pieces TP are taken out from the rack 1 and the rack 1 is moved in front of the lifter 25, that is, the empty rack 21 is full. An empty rack full sensor 292 to be detected is mounted.

図6に示すように支柱27には、ラック1に設けたねじ穴16に対応して、識別用ネジ17の有無を検出する近接センサ293がそれぞれ装着されている。本実施の形態では、線径や材質が等しい同一種類の試験片TPをそれぞれ同一のラック1内に収容する。したがって、例えばラック1毎に識別用ネジ17の取付位置を異なったものとすれば、あるいは同一種類の試験片TPが複数のラック1に収容されている場合には、試験片の種類毎に識別用ネジ17の取付位置を異なったものとすれば、近接センサ293からの信号によりラック毎の試験片TPの種類を識別できる。   As shown in FIG. 6, a proximity sensor 293 that detects the presence or absence of the identification screw 17 is attached to each of the columns 27 corresponding to the screw holes 16 provided in the rack 1. In the present embodiment, test pieces TP of the same type having the same wire diameter and material are accommodated in the same rack 1. Therefore, for example, if the mounting position of the identification screw 17 is different for each rack 1, or if the same type of test piece TP is accommodated in a plurality of racks 1, the identification is made for each type of test piece. If the mounting position of the screw 17 is different, the type of the test piece TP for each rack can be identified by the signal from the proximity sensor 293.

曲がり矯正装置3の構成を説明する。図8は、曲がり矯正装置3の構成を示す図1の要部拡大図であり、図9は平面図(図8の矢視IX図)である。曲がり矯正装置3は、試験片TPの上下両端部を把持する上把持装置31および下把持装置32と、上把持装置31を下把持装置32に対し相対的に昇降させる第1昇降シリンダ33と、上把持装置31と下把持装置32を一体に昇降させる第2昇降シリンダ34とを有する。   The configuration of the bending correction device 3 will be described. FIG. 8 is an enlarged view of the main part of FIG. 1 showing the configuration of the bending correction device 3, and FIG. 9 is a plan view (an arrow IX view of FIG. 8). The bending correction device 3 includes an upper gripping device 31 and a lower gripping device 32 that grip both upper and lower ends of the test piece TP, a first lifting cylinder 33 that lifts and lowers the upper gripping device 31 relative to the lower gripping device 32, It has the 2nd raising / lowering cylinder 34 which raises / lowers the upper holding apparatus 31 and the lower holding apparatus 32 integrally.

図8に示すように第1昇降シリンダ33のシリンダチューブ331の下端部は支持ブラケット35に固定されている。第1昇降シリンダ33のシリンダロッド332の下端部には上把持装置31が取り付けられ、支持ブラケット35の下端部には下把持装置32が取り付けられている。第1昇降シリンダ33を最大に伸張させた状態では、上把持装置31は下把持装置32に近接した下端位置(実線)にあり、第1昇降シリンダ34を最大に縮退した状態では、上把持装置31は下把持装置32から最大に離間した上端位置(鎖線)にある。把持装置31,32の先端部は、左方にかけて水平に延設されている。   As shown in FIG. 8, the lower end portion of the cylinder tube 331 of the first elevating cylinder 33 is fixed to the support bracket 35. The upper gripping device 31 is attached to the lower end portion of the cylinder rod 332 of the first elevating cylinder 33, and the lower gripping device 32 is attached to the lower end portion of the support bracket 35. When the first lifting cylinder 33 is extended to the maximum, the upper gripping device 31 is in the lower end position (solid line) close to the lower gripping device 32, and when the first lifting cylinder 34 is retracted to the maximum, the upper gripping device Reference numeral 31 denotes an upper end position (chain line) farthest from the lower gripping device 32. The front ends of the gripping devices 31 and 32 extend horizontally toward the left.

支持ブラケット35の前方には、ベースフレーム200上に立設された支柱410(図11)を介して支持フレーム40が立設されている。支持ブラケット35は第2昇降シリンダ34により支持され、第2昇降シリンダ34は支持フレーム40から支持されている。これにより第2昇降シリンダ34を伸縮すると、支持ブラケット35と第1シリンダ33が支持フレーム40に対して一体に昇降する。   In front of the support bracket 35, the support frame 40 is erected via a support column 410 (FIG. 11) erected on the base frame 200. The support bracket 35 is supported by a second elevating cylinder 34, and the second elevating cylinder 34 is supported from a support frame 40. Accordingly, when the second elevating cylinder 34 is expanded and contracted, the support bracket 35 and the first cylinder 33 are moved up and down integrally with respect to the support frame 40.

支持フレーム40の後面には、上下一対のレール41が左右方向にわたって延設されている。図9に示すように支持ブラケット35の前方には、上下のレール41に沿ってスライド可能なスライド部材36が設けられ、上下の把持装置31,32と昇降シリンダ33,34は、スライド部材36を介し一体となって左右方向に移動可能である。   On the rear surface of the support frame 40, a pair of upper and lower rails 41 extend in the left-right direction. As shown in FIG. 9, a slide member 36 slidable along the upper and lower rails 41 is provided in front of the support bracket 35, and the upper and lower gripping devices 31, 32 and the lifting cylinders 33, 34 connect the slide member 36. And can move in the left-right direction.

把持装置31,32の構成について説明する。図10(a)は下把持装置32の概略構成を示す正面図であり、図10(b)は平面図である。なお、上把持装置31の構成も下把持装置31の構成と同様であり、図示を省略する。把持装置32は、前後方向に拡縮可能に設けられた前フィンガ311および後フィンガ312と、フィンガ311,312を前後方向に拡縮駆動するエアチャック313とを有する。   The configuration of the gripping devices 31 and 32 will be described. FIG. 10A is a front view showing a schematic configuration of the lower gripping device 32, and FIG. 10B is a plan view. The configuration of the upper gripping device 31 is the same as that of the lower gripping device 31 and is not shown in the figure. The gripping device 32 includes a front finger 311 and a rear finger 312 that are provided so as to be able to expand and contract in the front-rear direction, and an air chuck 313 that drives the fingers 311 and 312 to expand and contract in the front-rear direction.

後フィンガ312の上面および下面には、それぞれ前方に突出した突起部314、315が設けられ、突起部314と315の間に凹部316が形成されている。前フィンガ311の後面には、凹部316に嵌合するように凸部317が形成されている。突起部314,315の前面にはそれぞれV字状の溝318が形成されている。なお、上把持装置31のフィンガ311,312には、滑り止め用のV溝加工が施されている。下把持装置32の把持力は、レギュレータにより調整可能であり、上把持装置31の把持力よりも弱く設定されている。   Protruding portions 314 and 315 projecting forward are provided on the upper surface and the lower surface of the rear finger 312, and a recess 316 is formed between the protruding portions 314 and 315. A convex portion 317 is formed on the rear surface of the front finger 311 so as to fit into the concave portion 316. V-shaped grooves 318 are formed on the front surfaces of the protrusions 314 and 315, respectively. The fingers 311 and 312 of the upper gripping device 31 are subjected to V-groove processing for preventing slipping. The gripping force of the lower gripping device 32 can be adjusted by a regulator, and is set to be weaker than the gripping force of the upper gripping device 31.

図8に示すようにラック1がリフター25により上昇されると、ラック1の上端面が下把持装置32に近接する。このため、試験片TPの上端部が曲がっていても、試験片TPの上端部は図10(b)に示すように前フィンガ311と後フィンガ318の間に位置する。この状態で、エアチャック313の駆動により後フィンガ312の凹部316に前フィンガ311の凸部317を嵌合させると、図10(c)に示すように試験片TPは凸部317によって溝318の奥方に押し込まれ、前後のフィンガ311,312の間に挟持される。この場合、試験片TPの上端部はそれぞれ上下2カ所の突起部314,315に押し込まれて挟持され、これにより試験片TPを上下方向にまっすぐに把持できる。   As shown in FIG. 8, when the rack 1 is raised by the lifter 25, the upper end surface of the rack 1 approaches the lower gripping device 32. For this reason, even if the upper end portion of the test piece TP is bent, the upper end portion of the test piece TP is located between the front finger 311 and the rear finger 318 as shown in FIG. In this state, when the convex portion 317 of the front finger 311 is fitted to the concave portion 316 of the rear finger 312 by driving the air chuck 313, the test piece TP is formed in the groove 318 by the convex portion 317 as shown in FIG. It is pushed into the back and is sandwiched between the front and rear fingers 311 and 312. In this case, the upper end portion of the test piece TP is pushed into and clamped by the two protrusions 314 and 315 at the upper and lower portions, respectively, whereby the test piece TP can be held straight in the vertical direction.

図11に示すように第1昇降シリンダ33のシリンダチューブ311の表面には、シリンダロッド332の伸縮位置を検出する位置検出センサ391〜393が装着されている。位置検出センサ391〜393は、それぞれ上把持装置31の下端位置、上端位置、および上端位置よりやや下方の把持位置に対応して設けられ、これにより上把持装置31の位置が検出される。   As shown in FIG. 11, position detection sensors 391 to 393 for detecting the expansion / contraction position of the cylinder rod 332 are mounted on the surface of the cylinder tube 311 of the first elevating cylinder 33. The position detection sensors 391 to 393 are respectively provided corresponding to the lower end position, the upper end position, and the grip position slightly below the upper end position of the upper gripping device 31, thereby detecting the position of the upper gripping device 31.

ここで、把持位置とは、下把持装置32により試験片TPを把持する位置である。本実施の形態では、下端位置で試験片TPの上端部を把持して上把持装置31を把持位置まで上昇させた後、下把持装置32により試験片TPの下端部を把持し、さらに上把持装置31を上端位置まで上昇させる。これにより、下把持装置32の把持力は上把持装置31の把持力よりも弱いため、試験片TPは上把持装置31が把持位置から上端位置まで上昇する間に、下把持装置32のフィンガ間を滑りながら上把持装置31により引っ張られる。その結果、試験片TPに張力が付与され、試験片TPの曲がりが矯正される。   Here, the gripping position is a position at which the test piece TP is gripped by the lower gripping device 32. In the present embodiment, after gripping the upper end portion of the test piece TP at the lower end position and raising the upper gripping device 31 to the gripping position, the lower gripping device 32 grips the lower end portion of the test piece TP and further holds the upper gripping portion. The device 31 is raised to the upper end position. Accordingly, since the gripping force of the lower gripping device 32 is weaker than the gripping force of the upper gripping device 31, the test piece TP is moved between the fingers of the lower gripping device 32 while the upper gripping device 31 rises from the gripping position to the upper end position. It is pulled by the upper gripping device 31 while sliding. As a result, tension is applied to the test piece TP, and the bending of the test piece TP is corrected.

搬送装置4の構成について説明する。図11に示すように上下のレール41の間には、左右方向にボールねじ42が延設されている。曲がり矯正装置3には上下のスライド部材36の間にナット37が設けられ、ボールねじ42にナット37が取り付けられている。ボールねじ42の端部にはプーリ43が連結され、図9に示すようにプーリ43はチェーン44を介してサーボモータ45に連結されている。これによりサーボモータ45が回転すると、チェーン44およびプーリ43を介してボールねじ42が回転し、ボールねじ42の回転によりナット37を介して曲がり矯正装置3(把持装置31,32や昇降シリンダ33,34)が左右方向にスライド移動する。なお、サーボモータ45にはモータ45の回転量を検出するエンコーダが組み込まれ、エンコーダからの信号により把持装置31,32の移動量が制御される。   The configuration of the transport device 4 will be described. As shown in FIG. 11, a ball screw 42 extends in the left-right direction between the upper and lower rails 41. The bend correcting device 3 is provided with a nut 37 between the upper and lower slide members 36, and the nut 37 is attached to the ball screw 42. A pulley 43 is connected to the end of the ball screw 42, and the pulley 43 is connected to a servo motor 45 via a chain 44 as shown in FIG. 9. As a result, when the servo motor 45 rotates, the ball screw 42 rotates through the chain 44 and the pulley 43, and the ball straightening device 3 (the gripping devices 31, 32 and the lifting cylinder 33, through the nut 37 is rotated by the rotation of the ball screw 42. 34) slides in the left-right direction. The servo motor 45 incorporates an encoder that detects the amount of rotation of the motor 45, and the amount of movement of the gripping devices 31 and 32 is controlled by a signal from the encoder.

試験機本体5の構成について説明する。図12は試験機本体5の正面図である。試験機本体5は、試験片TPの上端部および下端部を把持する上把持装置51および下把持装置52と、一方の把持装置(例えば下把持装置52)を介して試験片TPに引張力を負荷する負荷アクチュエータ53とを有する。負荷アクチュエータ53は例えばサーボモータにより構成され、サーボモータの回転に応じて下把持装置52が昇降する。なお、負荷アクチュエータ53をエアシリンダ等により構成することもできる。   The configuration of the test machine body 5 will be described. FIG. 12 is a front view of the tester body 5. The test machine main body 5 applies a tensile force to the test piece TP via the upper gripping device 51 and the lower gripping device 52 that grip the upper end portion and the lower end portion of the test piece TP, and one gripping device (for example, the lower gripping device 52). And a load actuator 53 for loading. The load actuator 53 is composed of, for example, a servo motor, and the lower gripping device 52 moves up and down according to the rotation of the servo motor. Note that the load actuator 53 can also be configured by an air cylinder or the like.

図13は把持装置51,52の拡大図である。把持装置51,52はそれぞれ前フィンガ501および後フィンガ502を有し、これらフィンガ501,502はエアチャック503によりアーム504を介して前後方向に拡縮可能とされている。アーム504の内側にはフィンガ挿入空間SPが形成され、各空間SPには、搬送装置4により搬送された把持装置31,32の先端部が挿入される。これにより試験片TPの両端部は、把持装置31,32の上下方向内側で、把持装置51,52により把持される。   FIG. 13 is an enlarged view of the gripping devices 51 and 52. The gripping devices 51 and 52 each have a front finger 501 and a rear finger 502, and these fingers 501 and 502 can be expanded and contracted in the front-rear direction via an arm 504 by an air chuck 503. Finger insertion spaces SP are formed inside the arm 504, and the leading ends of the gripping devices 31 and 32 conveyed by the conveying device 4 are inserted into the spaces SP. Thus, both end portions of the test piece TP are gripped by the gripping devices 51 and 52 inside the gripping devices 31 and 32 in the vertical direction.

図14は、本実施の形態に係る線材自動引張試験装置の構成を示すブロック図である。コントローラ60は、CPU,ROM,RAM,その他の周辺回路を含んで構成される。コントローラ60には、マガジン通過センサ291と、空ラック満杯センサ292と、近接センサ293と、位置検出センサ391〜393と、チェーンコンベヤ用モータ22と、エアシリンダ26と、第1昇降シリンダ33と、第2昇降シリンダ34と、エアチャック313,323と、サーボモータ45と、エアチャック503と、負荷アクチュエータ53とが接続されている。   FIG. 14 is a block diagram showing a configuration of a wire automatic tensile testing apparatus according to the present embodiment. The controller 60 includes a CPU, ROM, RAM, and other peripheral circuits. The controller 60 includes a magazine passage sensor 291, an empty rack full sensor 292, a proximity sensor 293, position detection sensors 391 to 393, a chain conveyor motor 22, an air cylinder 26, a first elevating cylinder 33, The second elevating cylinder 34, air chucks 313, 323, servo motor 45, air chuck 503, and load actuator 53 are connected.

本実施の形態に係る線材自動引張試験装置の主要な動作を説明する。
まず、図4に示すように所定長さの複数の試験片TPをラック1のパイプ内にそれぞれ挿入する。各ラック1の側面には識別用ネジ17を取り付け、ネジ17と試験片TPの種類との関係を予めコントローラ60に記憶しておく。次いで、図5(b)に示すようにピン211を介してリフター25よりも後方のチェーンコンベヤ20上に、複数のラック1を配設する。なお、初期状態では、図8に示すように把持装置31,32は最も右側かつ下側に位置する。
The main operation of the wire automatic tensile testing apparatus according to the present embodiment will be described.
First, as shown in FIG. 4, a plurality of test pieces TP having a predetermined length are respectively inserted into the pipes of the rack 1. An identification screw 17 is attached to the side surface of each rack 1, and the relationship between the screw 17 and the type of the test piece TP is stored in the controller 60 in advance. Next, as shown in FIG. 5B, the plurality of racks 1 are arranged on the chain conveyor 20 behind the lifter 25 via the pins 211. In the initial state, as shown in FIG. 8, the gripping devices 31 and 32 are located on the rightmost side and the lower side.

この状態で、図示しない試験開始スイッチがオンされると、コントローラ60はチェーンコンベヤ用モータ22を駆動し、チェーンコンベヤ20によりラック1が前方に搬送される。マガジン通過センサ291によりリフター25の上方のラック1の通過が検出されると、コントローラ60はモータ22の駆動を停止し、エアシリンダ26を伸張する。これによりラック1が押し上げられ、ラック1は試験片供給位置に移動する。この際、ラック1はガイド部271,281に沿って上昇するため、ラック1を曲げ矯正装置3に対して精度良く位置決めできる。   In this state, when a test start switch (not shown) is turned on, the controller 60 drives the chain conveyor motor 22 and the rack 1 is transported forward by the chain conveyor 20. When the passage of the rack 1 above the lifter 25 is detected by the magazine passage sensor 291, the controller 60 stops driving the motor 22 and extends the air cylinder 26. As a result, the rack 1 is pushed up, and the rack 1 moves to the test piece supply position. At this time, since the rack 1 moves up along the guide portions 271 and 281, the rack 1 can be accurately positioned with respect to the bending correction device 3.

ラック1が試験片供給位置まで上昇すると、コントローラ60はエアチャック323を駆動し、試験片TPの上端部を下把持装置32で把持する。この際、試験片TPは下把持装置32の上下2カ所の突起部314,315を介して挟持されるため、試験片TPをまっすぐにして把持できる。次いで、コントローラ60はエアチャック313を駆動し、上把持装置31により試験片TPの上端部を把持した後、エアチャック323を駆動し、下把持装置32を開放する。この場合、下把持装置32を開放する前にエアチャック313を駆動するため、上把持装置31は試験片TPをまっすぐな状態で把持することができ、試験片TPの把持が容易である。   When the rack 1 rises to the test piece supply position, the controller 60 drives the air chuck 323 and grips the upper end portion of the test piece TP with the lower gripping device 32. At this time, since the test piece TP is clamped via the protrusions 314 and 315 at the upper and lower portions of the lower gripping device 32, the test piece TP can be held straight. Next, the controller 60 drives the air chuck 313, grips the upper end portion of the test piece TP with the upper gripping device 31, drives the air chuck 323, and opens the lower gripping device 32. In this case, since the air chuck 313 is driven before the lower gripping device 32 is opened, the upper gripping device 31 can grip the test piece TP in a straight state, and the test piece TP can be easily gripped.

その後、コントローラ60は、第1昇降シリンダ33を駆動し、上把持装置31を上昇させる。位置検出センサ393により上把持装置31の把持位置までの上昇が検出されると、コントローラ60はエアチャック323を駆動し、下把持装置32により試験片TPを把持する。この状態でさらに上把持装置31を上端位置まで上昇させる。これにより試験片TPに張力が付与され、試験片TPの曲がりを矯正できる。   Thereafter, the controller 60 drives the first elevating cylinder 33 to raise the upper gripping device 31. When the position detection sensor 393 detects a rise of the upper gripping device 31 to the gripping position, the controller 60 drives the air chuck 323 and grips the test piece TP by the lower gripping device 32. In this state, the upper gripping device 31 is further raised to the upper end position. Thereby, tension is applied to the test piece TP, and the bending of the test piece TP can be corrected.

位置検出センサ392により上把持装置31の上端位置までの上昇が検出されると、コントローラ60は第1昇降シリンダ33の駆動を停止するとともに、第2昇降シリンダ34を駆動し、上把持装置31と下把持装置32を一体に所定量上昇させる。これにより試験片TPが完全にパイプ10から抜き出され、試験片TPの上下端部がそれぞれ把持装置31,32により把持される。   When the position detection sensor 392 detects a rise to the upper end position of the upper gripping device 31, the controller 60 stops driving the first lifting cylinder 33 and drives the second lifting cylinder 34, The lower gripping device 32 is raised by a predetermined amount. As a result, the test piece TP is completely extracted from the pipe 10, and the upper and lower ends of the test piece TP are held by the holding devices 31 and 32, respectively.

第2昇降シリンダ34により把持装置31,32が所定量上昇すると、コントローラ60はサーボモータ45を駆動する。これによりボールねじ42が回転し、試験片TPは把持装置31,32により把持されたままレール41に沿って左側に搬送される。コントローラ60には、予め把持装置31,32から把持装置51,52内の空間SPまでの距離とサーボモータ45の回転量との関係が記憶されており、図13に示すように試験片TPが空間SP内に挿入すると、コントローラ60はサーボモータ45の駆動を停止する。   When the gripping devices 31 and 32 are raised by a predetermined amount by the second elevating cylinder 34, the controller 60 drives the servo motor 45. Thereby, the ball screw 42 rotates and the test piece TP is conveyed to the left along the rail 41 while being held by the holding devices 31 and 32. The controller 60 stores in advance the relationship between the distance from the gripping devices 31 and 32 to the space SP in the gripping devices 51 and 52 and the amount of rotation of the servo motor 45. As shown in FIG. When inserted in the space SP, the controller 60 stops driving the servo motor 45.

次いで、コントローラ60はエアチャック503を駆動し、把持装置31,32の上下内側で、把持装置51,52により試験片TPの両端部を把持する。把持装置51,52により試験片TPが把持されると、コントローラ60は把持装置31,32を開放し、サーボモータ45の駆動により把持装置31,32を試験機本体5の右側に退避させる。この場合、把持装置31,32を元の位置まで退避させるのではなく、次の試験片TPの取り出し位置、つまり元の位置よりもパイプ1ピッチ分だけ左側に退避させる。これにより左隣のパイプ10から順次試験片TPを取り出すことができる。   Next, the controller 60 drives the air chuck 503 and grips both ends of the test piece TP by the gripping devices 51 and 52 inside the top and bottom of the gripping devices 31 and 32. When the test piece TP is gripped by the gripping devices 51 and 52, the controller 60 opens the gripping devices 31 and 32, and retracts the gripping devices 31 and 32 to the right side of the tester main body 5 by driving the servo motor 45. In this case, the gripping devices 31 and 32 are not retracted to the original position, but are retracted to the left by one pipe pitch from the position where the next test piece TP is taken out, that is, the original position. Thereby, the test pieces TP can be sequentially taken out from the pipe 10 on the left side.

把持装置31,32の退避が終了すると、コントローラ60は負荷アクチュエータ53を駆動し、試験片TPに所定の引張試験力を負荷する。この際の試験データはコントローラ60に記憶される。試験片TPが破断すると、コントローラ60は把持装置51,52を開放するとともに、図示しない試験片回収装置を駆動し、引張試験終了後の試験片TPを回収する。   When the retraction of the gripping devices 31 and 32 is completed, the controller 60 drives the load actuator 53 to apply a predetermined tensile test force to the test piece TP. The test data at this time is stored in the controller 60. When the test piece TP breaks, the controller 60 opens the gripping devices 51 and 52 and drives a test piece collection device (not shown) to collect the test piece TP after the end of the tensile test.

以上の手順を繰り返し、ラック1内の全ての試験片TPの試験が終了すると、コントローラ60はリフター25を下降する。これによりチェーンコンベヤ20上には、試験片TPが全て取り出された空のラック1が載置される。次いで、チェーンコンベヤ20を駆動し、ラック1を前進させる。マガジン通過センサ291により次のラック1の通過が検出されると、リフター25を駆動し、上述したのと同様な手順でラック内の試験片TPを試験機本体5に供給する。   When the above procedure is repeated and the test of all the test pieces TP in the rack 1 is completed, the controller 60 lowers the lifter 25. As a result, the empty rack 1 from which all the test pieces TP have been taken out is placed on the chain conveyor 20. Next, the chain conveyor 20 is driven to advance the rack 1. When the passage of the next rack 1 is detected by the magazine passage sensor 291, the lifter 25 is driven, and the test piece TP in the rack is supplied to the tester body 5 in the same procedure as described above.

全てのラック1から試験片TPが取り出された後、チェーンコンベヤ2を駆動すると、空ラック満杯センサ292により空ラック1の満杯状態が検出される。これによりコントローラ1はモータ22の駆動を停止する。以上の一連の手順により、線材自動引張試験装置による試験が終了する。   When the chain conveyor 2 is driven after the test pieces TP are taken out from all the racks 1, the empty rack full sensor 292 detects the full state of the empty rack 1. As a result, the controller 1 stops driving the motor 22. With the above series of procedures, the test by the wire automatic tensile testing apparatus is completed.

本実施の形態によれば以下のような作用効果を奏することができる。
(1)試験片TPに張力を付与して試験片TPの曲がりを矯正する曲がり矯正装置3と、曲がり矯正装置3により曲がりが矯正された試験片TPを試験機本体5に搬送する搬送装置4とを備え、搬送装置4により搬送された線材試験片TPを試験機本体5の把持装置51,52で把持し、負荷アクチュエータ53により引張試験力を負荷するようにしたので、曲がった状態の線材試験片TPであっても、その曲がりを矯正して良好な引張試験を行うことができる。
(2)曲がり状態の線材試験片TPをラック1に設けたパイプ10内にて保持し、チェーンコンベヤ20とリフター25を介して試験片TPを試験片供給位置に移動するようにしたので、曲がった状態の試験片TPを曲がり矯正装置3に容易に自動供給することができる。
According to the present embodiment, the following operational effects can be achieved.
(1) A bending correction device 3 that applies tension to the test piece TP to correct the bending of the test piece TP, and a transfer device 4 that transfers the test piece TP corrected by the bending correction device 3 to the testing machine main body 5. The wire rod test piece TP transported by the transport device 4 is gripped by the gripping devices 51 and 52 of the tester main body 5, and the tensile test force is loaded by the load actuator 53, so that the wire rod in a bent state Even with the test piece TP, the bending can be corrected and a good tensile test can be performed.
(2) The bent wire specimen TP is held in the pipe 10 provided in the rack 1, and the specimen TP is moved to the specimen supply position via the chain conveyor 20 and the lifter 25. The test piece TP in the bent state can be automatically supplied to the bending correction device 3 easily.

(3)試験片TPの両端部を把持装置31,32により把持するとともに、昇降シリンダ33、34により試験片TPの長さ方向に把持装置31,32を移動して試験片TPに張力を付与するようにした。さらに、把持装置31,32により試験片TPを把持したままボールねじ42の駆動により把持装置31,32を試験機本体5側に搬送し、試験機本体5に設けられた把持装置51,52で試験片TPを把持するようにした。これにより試験片TPをまっすぐに伸ばした状態で、試験機本体5まで試験片TPを自動的に供給することができ、試験片TPをまっすぐにした状態で試験機本体5側で把持できる。
(4)把持装置31,32で把持装置51,52よりも試験片TPの長さ方向外側で試験片TPを把持するようにしたので、把持装置51,52は試験片TPの曲がりが矯正された部分を把持することとなり、把持装置51,52で試験片TPがまっすぐに把持され、精度よく引張試験を行うことができる。
(5)把持装置51,52により試験片TPが把持されると、把持装置31,32を開放して試験機本体5側から把持装置31,32を退避させるようにしたので、把持装置31,32と試験機本体5とが接触することなく試験機本体5に試験片TPを受け渡すことができる。
(6)把持装置31,32にそれぞれ前フィンガ311と後フィンガ312を設け、後フィンガ312の上下の突起部314,315に溝318を形成し、試験片TPを溝318に押し込んで、フィンガ311,312により試験片TPの周面を挟持するようにしたので、試験片TPをまっすぐにして把持できる。
(7)ラック1内に左右方向に複数の試験片TPを配設し、把持装置31,32を左右方向に移動して試験片TPを順次取り出すとともに、チェーンコンベヤ20を前後方向に駆動してラック1を試験供給装置に順次移動するようにした。これにより少ないスペースで多数の試験片TPを効率よく試験することができる。
(3) Both ends of the test piece TP are held by the holding devices 31 and 32, and the holding devices 31 and 32 are moved in the length direction of the test piece TP by the elevating cylinders 33 and 34 to apply tension to the test piece TP. I tried to do it. Further, the gripping devices 31 and 32 are transported to the testing machine main body 5 side by driving the ball screw 42 while gripping the test piece TP by the gripping devices 31 and 32, and the gripping devices 51 and 52 provided in the testing machine main body 5 are used. The test piece TP was held. Accordingly, the test piece TP can be automatically supplied to the tester main body 5 in a state where the test piece TP is straightened, and can be gripped on the tester main body 5 side with the test piece TP being straightened.
(4) Since the gripping devices 31 and 32 grip the test piece TP outside the gripping devices 51 and 52 in the length direction of the test strip TP, the gripping devices 51 and 52 correct the bending of the test strip TP. The test piece TP is gripped straight by the gripping devices 51 and 52, and the tensile test can be performed with high accuracy.
(5) When the test piece TP is gripped by the gripping devices 51 and 52, the gripping devices 31 and 32 are opened and the gripping devices 31 and 32 are retracted from the tester body 5 side. The test piece TP can be delivered to the tester main body 5 without contacting the tester main body 32 and the tester main body 5.
(6) The gripping devices 31 and 32 are each provided with a front finger 311 and a rear finger 312, grooves 318 are formed in the upper and lower projections 314 and 315 of the rear finger 312, and the test piece TP is pushed into the groove 318, , 312 sandwiches the peripheral surface of the test piece TP, so that the test piece TP can be held straight.
(7) A plurality of test pieces TP are provided in the rack 1 in the left-right direction, the gripping devices 31, 32 are moved in the left-right direction, the test pieces TP are sequentially taken out, and the chain conveyor 20 is driven in the front-rear direction. The rack 1 was sequentially moved to the test supply device. As a result, a large number of test pieces TP can be efficiently tested in a small space.

なお、上記実施の形態では、曲がり矯正装置3により試験片TPの曲がりを矯正するようにしたが、試験片TPに張力を付与して曲がりを矯正するのであれば、曲がり矯正手段としての曲がり矯正装置3の構成は上述したものに限らない。曲がり矯正装置3により曲がりが矯正された試験片TPを試験機本体5に搬送するのであれば、搬送手段としての搬送装置4の構成は上述したものに限らない。搬送装置4により搬送された試験片TPに引張試験力を負荷するのであれば、負荷手段の構成もいかなるものでもよい。曲がり状態の線材試験片TPをラック1内で保持するようにしたが、線材保持手段の構成も上述したものに限らない。ラック1内で保持した試験片TPをチェーンコンベヤ20とリフター25を介して曲がり矯正装置3に供給するようにしたが、線材供給手段の構成もこれに限らない。   In the above-described embodiment, the bending of the test piece TP is corrected by the bending correction device 3. However, if the bending is corrected by applying tension to the test piece TP, the bending correction is performed as a bending correction means. The configuration of the device 3 is not limited to that described above. As long as the test piece TP whose bending has been corrected by the bending correction device 3 is transferred to the testing machine main body 5, the configuration of the transfer device 4 as the transfer means is not limited to that described above. As long as a tensile test force is applied to the test piece TP transported by the transport device 4, the load means may have any configuration. Although the bent wire specimen TP is held in the rack 1, the configuration of the wire holding means is not limited to that described above. Although the test piece TP held in the rack 1 is supplied to the bending straightening device 3 via the chain conveyor 20 and the lifter 25, the configuration of the wire supply means is not limited to this.

曲がり矯正装置3に設けられた把持装置31,32(第1の把持装置)の構成、および試験機本体5に設けられた把持装置51,52(第2の把持装置)の構成も上述したものに限らない。第1昇降シリンダ33の駆動により上把持装置31を移動して試験片TPに張力を付与するようにしたが、他の移動手段を用いてもよい。後フィンガ312(第1の把持部材)の先端部にV字状の溝318を設けたが、溝形状はこれに限らない。前フィンガ311(第2の把持部材)の先端凸部317により試験片TPを溝318の奥方に押し当てるようにしたが、当接部の構成はこれに限らない。すなわち、本発明の特徴、機能を実現できる限り、本発明は実施の形態の線材自動引張試験装置に限定されない。   The configuration of the gripping devices 31 and 32 (first gripping device) provided in the bend correction device 3 and the configuration of the gripping devices 51 and 52 (second gripping device) provided in the testing machine main body 5 are also described above. Not limited to. Although the upper gripping device 31 is moved by driving the first elevating cylinder 33 to apply tension to the test piece TP, other moving means may be used. Although the V-shaped groove 318 is provided at the tip of the rear finger 312 (first gripping member), the groove shape is not limited thereto. Although the test piece TP is pressed against the back of the groove 318 by the tip convex portion 317 of the front finger 311 (second gripping member), the configuration of the contact portion is not limited thereto. That is, as long as the features and functions of the present invention can be realized, the present invention is not limited to the wire automatic tensile testing apparatus of the embodiment.

本発明の実施の形態に係る線材自動引張試験装置の全体構成を示す正面図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The front view which shows the whole structure of the wire automatic tension test apparatus which concerns on embodiment of this invention. 図1の矢視II図。The arrow II figure of FIG. (a)、(b)はそれぞれ図1のマガジンラックの全体構成を示す側面図および正面図。(A), (b) is the side view and front view which respectively show the whole structure of the magazine rack of FIG. 図3のマガジンラックの要部斜視図。The principal part perspective view of the magazine rack of FIG. (a)、(b)はそれぞれ図1のラック移動装置の構成を示す平面図および側面図。(A), (b) is the top view and side view which respectively show the structure of the rack moving apparatus of FIG. 図5(b)のVI-VI線断面図。VI-VI sectional view taken on the line of FIG. (a)は図6の矢視VII図、(b)は図7(a)のb−b線断面図。(A) is the arrow VII figure of FIG. 6, (b) is the bb sectional view taken on the line of FIG. 7 (a). 図1の要部拡大図。The principal part enlarged view of FIG. 図8の矢視IX図。The arrow IX figure of FIG. (a)は下把持装置の概略構成を示す正面図、(b)、(c)はそれぞれ平面図。(A) is a front view which shows schematic structure of a lower holding | grip apparatus, (b), (c) is a top view, respectively. 搬送装置の全体を構成を示す正面図。The front view which shows a structure for the whole conveyance apparatus. 試験機本体の全体を構成を示す正面図。The front view which shows a structure for the whole testing machine main body. 図12の要部拡大図。The principal part enlarged view of FIG. 本実施の形態に係る線材自動引張試験装置の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of the wire automatic tension test apparatus which concerns on this Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1 マガジンラック
2 ラック移動装置
3 曲がり矯正装置
4 搬送装置
5 試験機本体
10 パイプ
20 チェーンコンベヤ
25 リフター
31 上把持装置
32 下把持装置
33 第1昇降シリンダ
34 第2昇降シリンダ
51 上把持装置
52 下把持装置
53 負荷アクチュエータ
60 コントローラ
311 前フィンガ
312 後フィンガ
317 凸部
318 溝
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Magazine rack 2 Rack moving apparatus 3 Bending correction apparatus 4 Conveying apparatus 5 Test machine main body 10 Pipe 20 Chain conveyor 25 Lifter 31 Upper gripping device 32 Lower gripping device 33 First lifting cylinder 34 Second lifting cylinder 51 Upper gripping device 52 Lower gripping Device 53 Load actuator 60 Controller 311 Front finger 312 Rear finger 317 Projection 318 Groove

Claims (5)

線材試験片に張力を付与して線材試験片の曲がりを矯正する曲がり矯正手段と、
前記曲がり矯正手段により曲がりが矯正された線材試験片を試験機本体に搬送する搬送手段と、
前記搬送手段により搬送された線材試験片に引張試験力を負荷する負荷手段とを備えることを特徴とする線材自動引張試験装置。
A bending correction means for correcting the bending of the wire specimen by applying tension to the wire specimen;
Conveying means for conveying the wire rod test piece whose bending is corrected by the bending correcting means to the testing machine main body,
A wire automatic tensile testing apparatus, comprising load means for applying a tensile test force to the wire specimen transported by the transport means.
請求項1に記載の線材自動引張試験装置において、
曲がり状態の線材試験片を保持する線材保持手段と、
前記保持手段により保持された線材試験片を前記曲がり矯正手段に供給する線材供給手段とをさらに備えることを特徴とする線材自動引張試験装置。
In the wire automatic tensile test device according to claim 1,
Wire holding means for holding a bent wire specimen;
An automatic wire rod tensile testing apparatus, further comprising: a wire rod supply unit that supplies the wire rod test piece held by the holding unit to the bending correction unit.
請求項1または2に記載の線材自動引張試験装置において、
前記曲がり矯正手段は、
線材試験片の両端部を把持する第1の把持装置と、
線材試験片の長さ方向に前記第1の把持装置を移動して、線材試験片に張力を付与する移動手段とを有し、
前記搬送手段は、前記第1の把持装置により線材試験片を把持したまま前記第1の把持装置を試験機本体側に搬送し、
前記負荷手段は、試験機本体に設けられた前記第2の把持装置を介して線材試験片に引張試験力を負荷することを特徴とする線材自動引張試験装置。
In the wire automatic tensile testing device according to claim 1 or 2,
The bending correction means is:
A first gripping device for gripping both ends of the wire rod test piece;
Moving means for moving the first gripping device in the length direction of the wire rod test piece and applying tension to the wire rod test piece;
The transport means transports the first gripping device to the testing machine main body side while gripping the wire specimen with the first gripping device,
The wire loading automatic tensile testing apparatus, wherein the loading means loads a tensile test force to the wire specimen through the second gripping device provided in the testing machine main body.
請求項3に記載の線材自動引張試験装置において、
前記第1の把持装置は、前記第2の把持装置よりも線材試験片の長さ方向外側で線材試験片の両端部を把持し、
前記搬送手段は、前記第2の把持装置により線材試験片が把持されると、前記第1の把持装置の把持力を解放して前記第1の把持装置を試験機本体側から退避させることを特徴とする線材自動引張試験装置。
In the wire automatic tensile test device according to claim 3,
The first gripping device grips both ends of the wire rod test piece on the outer side in the length direction of the wire rod test piece than the second gripping device,
When the wire specimen is gripped by the second gripping device, the transport means releases the gripping force of the first gripping device and retracts the first gripping device from the tester main body side. An automatic wire tensile tester.
請求項3または4に記載の線材自動引張試験装置において、
前記第1の把持装置は、線材試験片の周面を挟持する第1の把持部材および第2の把持部材を有し、
前記第1の把持部材の先端部には、線材試験片の位置を規制する溝部が設けられ、
前記第2の把持部材の先端部には、線材試験片を前記溝部の奥方に押し当てる当接部が設けられることを特徴とする線材自動引張試験装置。
In the wire automatic tensile test device according to claim 3 or 4,
The first gripping device includes a first gripping member and a second gripping member that sandwich a peripheral surface of a wire specimen.
A groove for regulating the position of the wire specimen is provided at the tip of the first holding member,
An apparatus for automatically testing a wire rod, wherein a contact portion that presses a wire rod test piece against the back of the groove is provided at a tip portion of the second gripping member.
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