JP2009250750A - 位置情報取得システムおよび位置情報取得方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】容易に設置でき、しかも特定箇所の正確な位置情報を安定して取得できる位置情報取得システムを提供する。
【解決手段】伝送用光ファイバ線路2と、伝送用光ファイバ線路2の少なくとも1箇所に設けられた位置表示モジュール3と、伝送用光ファイバ線路2に試験光を入射する光パルス試験器10と、を備えた位置情報取得システム1。位置表示モジュール3は、伝送用光ファイバ線路2に歪みを印加する歪印加部5を内蔵している。光パルス試験器10は、戻り光に基づいて歪印加部5における歪みを検出可能である。
【選択図】図1
【解決手段】伝送用光ファイバ線路2と、伝送用光ファイバ線路2の少なくとも1箇所に設けられた位置表示モジュール3と、伝送用光ファイバ線路2に試験光を入射する光パルス試験器10と、を備えた位置情報取得システム1。位置表示モジュール3は、伝送用光ファイバ線路2に歪みを印加する歪印加部5を内蔵している。光パルス試験器10は、戻り光に基づいて歪印加部5における歪みを検出可能である。
【選択図】図1
Description
本発明は、光ファイバを用いた位置情報取得システムおよびこれを用いた位置情報取得方法に関する。
光線路の構築においては、光ファイバ線路上における特定箇所の位置情報が必要となることがある。
従来、光ファイバ線路上の特定箇所の位置を検出するには、光ファイバ線路構築後に、前記特定箇所に赴き、光ファイバに故意に曲げを与え、OTDR等によりその位置を検出し、これに基づいて光ファイバ線路とその実敷設場所の位置情報のマッピングを行うことが行われていた。
光ファイバセンサを用いたシステムとしては、計測対象区間とその前後とで散乱光の特性が異なるように光ファイバを配置し、散乱光に基づいて計測対象区間の測定値を識別するシステムがある(特許文献1を参照)。
特許第3544861号公報
従来、光ファイバ線路上の特定箇所の位置を検出するには、光ファイバ線路構築後に、前記特定箇所に赴き、光ファイバに故意に曲げを与え、OTDR等によりその位置を検出し、これに基づいて光ファイバ線路とその実敷設場所の位置情報のマッピングを行うことが行われていた。
光ファイバセンサを用いたシステムとしては、計測対象区間とその前後とで散乱光の特性が異なるように光ファイバを配置し、散乱光に基づいて計測対象区間の測定値を識別するシステムがある(特許文献1を参照)。
しかしながら、上記システムでは、異常が発生した際にその箇所が前記特定箇所であるか否かを確認するには、別途作成したマッピング情報が必要となることがあった。また、マッピング情報のない場所において異常発生が検出された場合には、異常箇所が前記特定箇所であるか否かを判断するのが難しいことがあった。
また、計測対象区間とその前後とで散乱光の特性が異なるように光ファイバを配置するシステムでは、光ファイバの設置が容易でなかった。また、散乱光が安定せず、位置情報の検出が不安定になることがあった。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、容易に設置でき、しかも特定箇所の正確な位置情報を安定して取得できる位置情報取得システムおよびこれを用いた位置情報取得方法を提供することを目的とする。
また、計測対象区間とその前後とで散乱光の特性が異なるように光ファイバを配置するシステムでは、光ファイバの設置が容易でなかった。また、散乱光が安定せず、位置情報の検出が不安定になることがあった。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、容易に設置でき、しかも特定箇所の正確な位置情報を安定して取得できる位置情報取得システムおよびこれを用いた位置情報取得方法を提供することを目的とする。
本発明の請求項1にかかる位置情報取得システムは、伝送用光ファイバ線路と、前記伝送用光ファイバ線路の少なくとも1箇所に設けられた位置表示モジュールと、前記伝送用光ファイバ線路に試験光を入射する光パルス試験器と、を備え、前記位置表示モジュールは、歪印加部が形成された光ファイバを有し、前記光パルス試験器が、戻り光に基づいて前記歪印加部における歪みを検出可能であることを特徴とする。
本発明の請求項2にかかる位置情報取得システムは、請求項1において、前記位置表示モジュールは、前記歪印加部における光ファイバの歪みεが、0.05%<ε≦0.40%となるように前記光ファイバを保持できるようにされていることを特徴とする。
本発明の請求項3にかかる位置情報取得システムは、請求項1または2において、前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに曲げを与えることにより曲げ歪みを加えるように形成されていることを特徴とする。
本発明の請求項4にかかる位置情報取得システムは、請求項1または2において、前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに伸びを与えることにより伸び歪みを加えるように形成されていることを特徴とする。
本発明の請求項5にかかる位置情報取得システムは、請求項1または2において、前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに短縮方向の力を与えることにより圧縮歪みを加えるように形成されていることを特徴とする。
本発明の請求項6にかかる位置情報取得システムは、請求項1〜5のうちいずれか1項において、前記位置表示モジュール内には、光部品が前記光ファイバに接続されて設けられ、前記歪印加部は、前記光部品の一端側と他端側のうち少なくとも一方に設けられていることを特徴とする。
本発明の請求項2にかかる位置情報取得システムは、請求項1において、前記位置表示モジュールは、前記歪印加部における光ファイバの歪みεが、0.05%<ε≦0.40%となるように前記光ファイバを保持できるようにされていることを特徴とする。
本発明の請求項3にかかる位置情報取得システムは、請求項1または2において、前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに曲げを与えることにより曲げ歪みを加えるように形成されていることを特徴とする。
本発明の請求項4にかかる位置情報取得システムは、請求項1または2において、前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに伸びを与えることにより伸び歪みを加えるように形成されていることを特徴とする。
本発明の請求項5にかかる位置情報取得システムは、請求項1または2において、前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに短縮方向の力を与えることにより圧縮歪みを加えるように形成されていることを特徴とする。
本発明の請求項6にかかる位置情報取得システムは、請求項1〜5のうちいずれか1項において、前記位置表示モジュール内には、光部品が前記光ファイバに接続されて設けられ、前記歪印加部は、前記光部品の一端側と他端側のうち少なくとも一方に設けられていることを特徴とする。
本発明の請求項7にかかる位置情報取得方法は、伝送用光ファイバ線路と、前記伝送用光ファイバ線路の少なくとも1箇所に設けられた位置表示モジュールと、前記伝送用光ファイバ線路に試験光を入射する光パルス試験器とを備え、前記位置表示モジュールは、歪印加部が形成された光ファイバを有する位置情報取得システムを用いて、前記光パルス試験器によって、戻り光に基づいて前記歪印加部における歪みを検出することでこの歪印加部の位置を特定することを特徴とする。
本発明によれば、光パルス試験器によって戻り光に基づいて伝送用光ファイバ線路上の歪印加部の位置を特定できる。
よって、光ファイバ線路に、例えば断線検知センサ、歪み検知センサなどの光部品を設置した場合に、この光部品から断線、歪み等に関する検知情報が得られたときに、この検知情報を発した光部品の正確な位置情報を、前記歪印加部の位置に基づいて容易に取得できる。
また、位置表示モジュールを伝送用光ファイバ線路に設置することで、容易にシステム構築が可能である。
位置表示モジュールは、歪印加部を内蔵して構成されているので、歪印加部を保護でき、歪印加部の特性に乱れが生じることがない。安定した戻り光が得られるため、正確な位置情報を安定して取得できる。
また、歪印加部において、伝送損失が生じない範囲で歪みを印加することによって、伝送損失を増大させずに前記位置情報の取得が可能である。
よって、光ファイバ線路に、例えば断線検知センサ、歪み検知センサなどの光部品を設置した場合に、この光部品から断線、歪み等に関する検知情報が得られたときに、この検知情報を発した光部品の正確な位置情報を、前記歪印加部の位置に基づいて容易に取得できる。
また、位置表示モジュールを伝送用光ファイバ線路に設置することで、容易にシステム構築が可能である。
位置表示モジュールは、歪印加部を内蔵して構成されているので、歪印加部を保護でき、歪印加部の特性に乱れが生じることがない。安定した戻り光が得られるため、正確な位置情報を安定して取得できる。
また、歪印加部において、伝送損失が生じない範囲で歪みを印加することによって、伝送損失を増大させずに前記位置情報の取得が可能である。
図1は、本発明の第1の例である位置情報取得システムを示すもので、この位置情報取得システム1は、伝送用光ファイバ線路2(以下、単に光ファイバ線路という)と、光ファイバ線路2に設けられた位置表示モジュール3と、光ファイバ線路2に試験光を入射する光パルス試験器10と、を備えている。
位置表示モジュール3は、位置特定の対象となる対象箇所4の一端側および他端側に、それぞれ対象箇所4に近接して形成されている。位置表示モジュール3を対象箇所4の両端側に形成することで、対象箇所4の特定が容易になる。対象箇所4は、位置表示モジュール3に近接している点と、2つの位置表示モジュール3、3の間にあるという点で、位置表示モジュール3に対し関連づけられている。なお、位置表示モジュールは、対象箇所の一端側および他端側のうち一方のみに形成してもよい。
図示例では、位置表示モジュールは光ファイバ線路の2箇所に設けられているが、本発明では、位置表示モジュールは1箇所でもよいし、3箇所以上に設けることもできる。
図示例では、位置表示モジュールは光ファイバ線路の2箇所に設けられているが、本発明では、位置表示モジュールは1箇所でもよいし、3箇所以上に設けることもできる。
位置表示モジュール3は、収容ケース6内に歪印加部5を有する内蔵光ファイバ8を内蔵している。
歪印加部5は、内蔵光ファイバ8に歪みを印加し検出可能とするものであって、内蔵光ファイバ8に曲げを与えることによって、曲げ歪みが印加されるように形成されている。図示例では、歪印加部5は、内蔵光ファイバ8を1または複数回巻回することにより構成されている。
歪印加部5における内蔵光ファイバ8の曲率は、曲げによる歪みは与えるが伝送損失は生じない範囲とされる。
図12は、光ファイバの曲げ直径と曲げ歪みとの関係を示すグラフである。この図に示すように、曲げ直径が小さくなると曲げ歪みは大きくなる。
歪印加部5は、内蔵光ファイバ8に歪みを印加し検出可能とするものであって、内蔵光ファイバ8に曲げを与えることによって、曲げ歪みが印加されるように形成されている。図示例では、歪印加部5は、内蔵光ファイバ8を1または複数回巻回することにより構成されている。
歪印加部5における内蔵光ファイバ8の曲率は、曲げによる歪みは与えるが伝送損失は生じない範囲とされる。
図12は、光ファイバの曲げ直径と曲げ歪みとの関係を示すグラフである。この図に示すように、曲げ直径が小さくなると曲げ歪みは大きくなる。
図2および図3は、位置表示モジュール3の構造の具体例を示すもので、この位置表示モジュール3は、直方体状の収容ケース6内に、円筒形のガイド部7と、ガイド部7の周面に巻き付けられた内蔵光ファイバ8と、内蔵光ファイバ8の一端および他端がそれぞれ接続された光コネクタアダプタ9、9(光コネクタ)が設けられている。
ガイド部7は、内蔵光ファイバ8に、歪みは与えるが伝送損失は生じない範囲の曲げを与えるように形成されている。ガイド部7に巻き付けられた部分の内蔵光ファイバ8は、歪印加部5となる。
内蔵光ファイバ8としては、例えば光ファイバ心線、光ファイバ素線等を使用できる。
光コネクタアダプタ9、9は、光ファイバ線路2の端部に組み立てられた光コネクタプラグ12(光コネクタ)に着脱自在に接続可能である。
光コネクタプラグ12を光コネクタアダプタ9に接続することによって、位置表示モジュール3が光ファイバ線路2の端部2a、2a間に介在することになる。
なお、図示例では、内蔵光ファイバ8をコネクタ接続により光ファイバ線路2に接続したが、これに限らず、融着接続や、メカニカルスプライスによる接続を採用してもよい。
ガイド部7は、内蔵光ファイバ8に、歪みは与えるが伝送損失は生じない範囲の曲げを与えるように形成されている。ガイド部7に巻き付けられた部分の内蔵光ファイバ8は、歪印加部5となる。
内蔵光ファイバ8としては、例えば光ファイバ心線、光ファイバ素線等を使用できる。
光コネクタアダプタ9、9は、光ファイバ線路2の端部に組み立てられた光コネクタプラグ12(光コネクタ)に着脱自在に接続可能である。
光コネクタプラグ12を光コネクタアダプタ9に接続することによって、位置表示モジュール3が光ファイバ線路2の端部2a、2a間に介在することになる。
なお、図示例では、内蔵光ファイバ8をコネクタ接続により光ファイバ線路2に接続したが、これに限らず、融着接続や、メカニカルスプライスによる接続を採用してもよい。
歪印加部5における光ファイバ線路2の歪みεは、0.05%<ε≦0.40%であることが好ましい。歪みεが0.05%を越える値であると、光パルス試験器10による検出が容易となる。歪みεを0.40%以下とすることによって、伝送損失を抑え、かつ光ファイバの信頼性を保つことができる。
光ファイバ線路2に適用される光ファイバとしては、例えば、光ファイバを抗張力体とともにシース樹脂で一括被覆された光ファイバケーブル、光ファイバコードを使用できる。
光ファイバ線路2に使用される光ファイバに好適に使用できるものとして、FutureGuide−SR15E(株式会社フジクラ製)がある。また、ホールアシストファイバを用いることもできる。これらを使用することによって、伝送損失を発生させずに歪印加部5の曲率半径を小さくし、小径化が可能となる。
光ファイバ線路2には、石英系シングルモードファイバ、石英系マルチモードファイバを使用できる。
光ファイバ線路2に使用される光ファイバに好適に使用できるものとして、FutureGuide−SR15E(株式会社フジクラ製)がある。また、ホールアシストファイバを用いることもできる。これらを使用することによって、伝送損失を発生させずに歪印加部5の曲率半径を小さくし、小径化が可能となる。
光ファイバ線路2には、石英系シングルモードファイバ、石英系マルチモードファイバを使用できる。
光パルス試験器10は、例えばOTDR(Optical Time Domain Reflectometry)、BOTDR(Brillouin Optical Time Domain Reflectometry)、BOTDA(Brillouin Optical Time Domain Analysis)等である。
光パルス試験器10から光ファイバ線路2に試験光を入射し、その戻り光のブリルアン散乱光やレイリー散乱光を観測することで、光ファイバ線路2の歪み発生位置や伝送損失を検出できる。例えば、ブリルアン散乱光の波長は、歪みが発生した光ファイバでは試験光の波長に対しずれるため、この周波数シフトから歪みを検出できる。
歪印加部5では、歪みが印加されているため、戻り光の観察によって歪印加部5の位置を正確かつ容易に特定できる。
対象箇所4が2つの歪印加部5、5の間に位置しているため、歪印加部5の位置に基づいて、対象箇所4の位置を正確かつ容易に特定できる。
このため、対象箇所4に、例えば断線検知センサ、歪み検知センサなどの光部品を設置した場合には、この光部品から断線、歪み等に関する検知情報が得られたときに、この検知情報を発した光部品の正確な位置情報を容易に取得できる。
歪印加部5では、歪みが印加されているため、戻り光の観察によって歪印加部5の位置を正確かつ容易に特定できる。
対象箇所4が2つの歪印加部5、5の間に位置しているため、歪印加部5の位置に基づいて、対象箇所4の位置を正確かつ容易に特定できる。
このため、対象箇所4に、例えば断線検知センサ、歪み検知センサなどの光部品を設置した場合には、この光部品から断線、歪み等に関する検知情報が得られたときに、この検知情報を発した光部品の正確な位置情報を容易に取得できる。
また、位置表示モジュール3を光ファイバ線路2に設置することで、容易にシステム構築が可能である。
位置表示モジュール3は、歪印加部5を内蔵して構成されているので、歪印加部5を保護でき、歪印加部5の特性に乱れが生じることがない。安定した戻り光が得られるため、正確な位置情報を安定して取得できる。
歪印加部5においては、曲率を伝送損失が生じない範囲で設定することができるため、伝送損失の増大は起こらない。
歪印加部5は、内蔵光ファイバ8に曲げを与えるだけで形成できるため、その構造を簡略にでき、作業の容易性やコストの点で有利である。
位置表示モジュール3は、歪印加部5を内蔵して構成されているので、歪印加部5を保護でき、歪印加部5の特性に乱れが生じることがない。安定した戻り光が得られるため、正確な位置情報を安定して取得できる。
歪印加部5においては、曲率を伝送損失が生じない範囲で設定することができるため、伝送損失の増大は起こらない。
歪印加部5は、内蔵光ファイバ8に曲げを与えるだけで形成できるため、その構造を簡略にでき、作業の容易性やコストの点で有利である。
図4は、本発明の位置情報取得システムの第2の例を示すものである。以下の説明において、既出の構成については同一符号を付してその説明を省略する。
この位置情報取得システム11は、光ファイバ線路2の対象箇所4に設けられた光部品14の一端側および他端側にそれぞれ歪印加部5が形成され、光部品14および歪印加部5、5が、1つの位置表示モジュール13に内蔵されている。
光部品14は、例えば断線検知センサ、歪み検知センサなどである。
なお、歪印加部5は、光部品14の一端側および他端側のうち一方のみに形成してもよい。
この位置情報取得システム11は、光ファイバ線路2の対象箇所4に設けられた光部品14の一端側および他端側にそれぞれ歪印加部5が形成され、光部品14および歪印加部5、5が、1つの位置表示モジュール13に内蔵されている。
光部品14は、例えば断線検知センサ、歪み検知センサなどである。
なお、歪印加部5は、光部品14の一端側および他端側のうち一方のみに形成してもよい。
図5および図6は、位置表示モジュール13の構造の一例を示すものである。この位置表示モジュール13は、直方体状の収容ケース16内に、2つの円筒形のガイド部7A、7Bと、2つの光コネクタアダプタ9A、9B(光コネクタ)と、2つの内蔵光ファイバ8A、8Bと、光部品14とを内蔵している。
内蔵光ファイバ8Aの一端は光コネクタアダプタ9Aに接続され、他端は光部品14に接続されている。内蔵光ファイバ8Bの一端は光コネクタアダプタ9Bに接続され、他端は光部品14に接続されている。内蔵光ファイバ8A、8Bはそれぞれガイド部7A、7Bに巻き付けられている。
ガイド部7A、7Bは、上述のガイド部7と同様の形状とされ、ガイド部7A、7Bに巻き付けられた部分の内蔵光ファイバ8A、8Bは、歪印加部5、5となる。
内蔵光ファイバ8Aの一端は光コネクタアダプタ9Aに接続され、他端は光部品14に接続されている。内蔵光ファイバ8Bの一端は光コネクタアダプタ9Bに接続され、他端は光部品14に接続されている。内蔵光ファイバ8A、8Bはそれぞれガイド部7A、7Bに巻き付けられている。
ガイド部7A、7Bは、上述のガイド部7と同様の形状とされ、ガイド部7A、7Bに巻き付けられた部分の内蔵光ファイバ8A、8Bは、歪印加部5、5となる。
図7に示すように、位置表示モジュール13は、複数形成することもできる。
この位置情報取得システム21では、第1位置表示モジュール13−1〜第N位置表示モジュール13−Nまで、合計N個の位置表示モジュール13を備えている。
第1位置表示モジュール13−1〜第N位置表示モジュール13−Nは、一定間隔で設けるのが好ましい。
この位置情報取得システム21では、第1位置表示モジュール13−1〜第N位置表示モジュール13−Nまで、合計N個の位置表示モジュール13を備えている。
第1位置表示モジュール13−1〜第N位置表示モジュール13−Nは、一定間隔で設けるのが好ましい。
図8は、本発明の位置情報取得システムの第3の例を示すもので、この位置情報取得システム31では、歪印加部15が、光ファイバ線路2に伸びを与えることにより伸び歪みが印加されるように構成されている点で、図1に示す位置情報取得システム1と異なる。歪印加部15には、伝送損失が発生しない範囲で伸び歪みが印加されている。
歪印加部15では、光ファイバ線路2が膨張性材料からなる膨張材16で覆われている。膨張材16としては、硬化時に膨張する樹脂、例えば熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂を用いることができる。
例えば、熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂を、軟化させた状態で光ファイバ線路2の所定箇所に塗布し、冷却または加熱により膨張させつつ硬化させることによって光ファイバ線路2に伸びを与え、歪印加部15を形成することができる。
歪印加部15は、膨張材16により光ファイバ線路2に伸び歪みを加えるように構成されているので、図1に示す歪印加部5より小型化が可能である。
例えば、熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂を、軟化させた状態で光ファイバ線路2の所定箇所に塗布し、冷却または加熱により膨張させつつ硬化させることによって光ファイバ線路2に伸びを与え、歪印加部15を形成することができる。
歪印加部15は、膨張材16により光ファイバ線路2に伸び歪みを加えるように構成されているので、図1に示す歪印加部5より小型化が可能である。
図9は、本発明の位置情報取得システムの第4の例を示すもので、この位置情報取得システム41では、歪印加部25が、光ファイバ線路2に圧縮歪みが印加されるように構成されている点で、図1に示す位置情報取得システム1と異なる。歪印加部25には、伝送損失が発生しない範囲で圧縮歪みが印加されている。
歪印加部25では、光ファイバ線路2が収縮性材料からなる収縮材26で覆われている。収縮材26としては、硬化時に収縮する樹脂、例えば熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂を用いることができる。
例えば、収縮性材料からなるチューブ体(図示略)に光ファイバ線路2が挿通した状態で、前記チューブ体を加熱により収縮させつつ硬化させることによって、光ファイバ線路2に短縮方向の力を与え、歪印加部25を形成することができる。
また、熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂を軟化させた状態で光ファイバ線路2の所定箇所に塗布し、冷却または加熱により収縮させつつ硬化させることによって歪印加部25を形成することもできる。
歪印加部25は、収縮材26により光ファイバ線路2に圧縮歪みを加えるように構成されているので、図1に示す歪印加部5より小型化が可能である。
例えば、収縮性材料からなるチューブ体(図示略)に光ファイバ線路2が挿通した状態で、前記チューブ体を加熱により収縮させつつ硬化させることによって、光ファイバ線路2に短縮方向の力を与え、歪印加部25を形成することができる。
また、熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂を軟化させた状態で光ファイバ線路2の所定箇所に塗布し、冷却または加熱により収縮させつつ硬化させることによって歪印加部25を形成することもできる。
歪印加部25は、収縮材26により光ファイバ線路2に圧縮歪みを加えるように構成されているので、図1に示す歪印加部5より小型化が可能である。
(試験1)
図1に示すように、全長500mの光ファイバ線路2のうち2箇所に、それぞれ一対の位置表示モジュール3を形成した。位置表示モジュール3には、光ファイバ線路2を8回巻回(外径40mm)することによって、曲げ歪みが印加された歪印加部5を形成した。
光ファイバ線路2には、FutureGuide−SR15E(株式会社フジクラ製)を使用した。
光パルス試験器10(BOTDR)によってブリルアン散乱光を観測して歪み量を算出した結果を図10に示す。
図10に示すように、歪印加部5において約0.3%の歪みが検出され、その位置を特定できることが確認された。このため、歪印加部5、5の間に位置する対象箇所4を容易に特定できた。
また、OTDRにより歪印加部5における伝送損失はないことがわかった。また、光ファイバ線路2全体の伝送損失は0.19dB/km(波長1.55μm)と良好であったことがわかった。
図1に示すように、全長500mの光ファイバ線路2のうち2箇所に、それぞれ一対の位置表示モジュール3を形成した。位置表示モジュール3には、光ファイバ線路2を8回巻回(外径40mm)することによって、曲げ歪みが印加された歪印加部5を形成した。
光ファイバ線路2には、FutureGuide−SR15E(株式会社フジクラ製)を使用した。
光パルス試験器10(BOTDR)によってブリルアン散乱光を観測して歪み量を算出した結果を図10に示す。
図10に示すように、歪印加部5において約0.3%の歪みが検出され、その位置を特定できることが確認された。このため、歪印加部5、5の間に位置する対象箇所4を容易に特定できた。
また、OTDRにより歪印加部5における伝送損失はないことがわかった。また、光ファイバ線路2全体の伝送損失は0.19dB/km(波長1.55μm)と良好であったことがわかった。
(試験2)
図9に示すように、全長500mの光ファイバ線路2のうち2箇所に、それぞれ一対の位置表示モジュール3を形成した。位置表示モジュール3には、光ファイバ線路2に熱収縮チューブを被せて加熱し、熱収縮チューブを収縮させつつ硬化させることで、圧縮歪みが印加された歪印加部25を形成した。光パルス試験器10(BOTDR)によってブリルアン散乱光を観測して歪み量を算出した結果を図11に示す。
図11に示すように、歪印加部25において約−0.3%の歪みが検出され、その位置を特定できることが確認された。このため、歪印加部25、25の間に位置する対象箇所4を容易に特定できた。
また、OTDRにより歪印加部25における伝送損失はないことがわかった。また、光ファイバ線路2全体の伝送損失は0.19dB/km(波長1.55μm)と良好であったことがわかった。
図9に示すように、全長500mの光ファイバ線路2のうち2箇所に、それぞれ一対の位置表示モジュール3を形成した。位置表示モジュール3には、光ファイバ線路2に熱収縮チューブを被せて加熱し、熱収縮チューブを収縮させつつ硬化させることで、圧縮歪みが印加された歪印加部25を形成した。光パルス試験器10(BOTDR)によってブリルアン散乱光を観測して歪み量を算出した結果を図11に示す。
図11に示すように、歪印加部25において約−0.3%の歪みが検出され、その位置を特定できることが確認された。このため、歪印加部25、25の間に位置する対象箇所4を容易に特定できた。
また、OTDRにより歪印加部25における伝送損失はないことがわかった。また、光ファイバ線路2全体の伝送損失は0.19dB/km(波長1.55μm)と良好であったことがわかった。
1、11、21、31、41・・・位置情報取得システム、2・・・伝送用光ファイバ線路、3・・・位置表示モジュール、5、15、25・・・歪印加部、8・・・内蔵光ファイバ、10・・・光パルス試験器、14・・・光部品。
Claims (7)
- 伝送用光ファイバ線路(2)と、前記伝送用光ファイバ線路の少なくとも1箇所に設けられた位置表示モジュール(3)と、前記伝送用光ファイバ線路に試験光を入射する光パルス試験器(10)と、を備え、
前記位置表示モジュールは、歪印加部(5)が形成された光ファイバ(8)を有し、
前記光パルス試験器が、戻り光に基づいて前記歪印加部における歪みを検出可能であることを特徴とする位置情報取得システム(1)。 - 前記位置表示モジュールは、前記歪印加部における光ファイバの歪みεが、0.05%<ε≦0.40%となるように前記光ファイバを保持できるようにされていることを特徴とする請求項1に記載の位置情報取得システム。
- 前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに曲げを与えることにより曲げ歪みを加えるように形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の位置情報取得システム(1)。
- 前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに伸びを与えることにより伸び歪みを加えるように形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の位置情報取得システム(11)。
- 前記位置表示モジュールは、前記光ファイバに短縮方向の力を与えることにより圧縮歪みを加えるように形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の位置情報取得システム(21)。
- 前記位置表示モジュール内には、光部品が前記光ファイバに接続されて設けられ、
前記歪印加部は、前記光部品の一端側と他端側のうち少なくとも一方に設けられていることを特徴とする請求項1〜5のうちいずれか1項に記載の位置情報取得システム。 - 伝送用光ファイバ線路(2)と、前記伝送用光ファイバ線路の少なくとも1箇所に設けられた位置表示モジュール(3)と、前記伝送用光ファイバ線路に試験光を入射する光パルス試験器(10)とを備え、前記位置表示モジュールは、歪印加部(5)が形成された光ファイバ(8)を有する位置情報取得システムを用いて、
前記光パルス試験器によって、戻り光に基づいて前記歪印加部における歪みを検出することでこの歪印加部の位置を特定することを特徴とする位置情報取得方法。
Priority Applications (1)
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JP2008098102A JP2009250750A (ja) | 2008-04-04 | 2008-04-04 | 位置情報取得システムおよび位置情報取得方法 |
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