JP2009225087A - Overcurrent protection circuit - Google Patents

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Seiichi Kitaka
聖一 木高
Takeshi Miki
猛 三木
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an overcurrent protection circuit by which precision for shutting off a circuit does not fall off by the change of environmental temperature. <P>SOLUTION: First and second transistors T1, T2 constituting a current mirror circuit 9 which detects overcurrent which flows in a detection resistor R3 have the same temperature characteristics. There is a relation of R1=R2-(I3/I1)R3 among first and second limiting resistors R1, R2, the detection resistor R3, and current I1, I2, the resistors are set so that the current becomes I1>I2 before the overcurrent flows and becomes I2>I1 after the moment that the overcurrent flows. Since no parameter, such as voltage between base and emitter, which fluctuates by the temperature characteristics is present in the formula, even when the environmental temperature changes, timing that the second transistor T2 turns a fourth transistor T4 on does is not varied. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

この発明は、過電流保護回路に関する。   The present invention relates to an overcurrent protection circuit.

図5は、従来の過電流保護回路を示す回路図である。従来の過電流保護回路7は、電流供給源側P1から電流供給対象側P2に供給される過電流を検出するための検出抵抗R3と、電流供給側P1から過電流が流れたときに電流供給対象側P2への電路5を遮断するためのNPN型のバイポーラトランジスタT3と、過電流が流れたときにトランジスタT3をオフするための電流カット回路8と、検出抵抗R3に流れる電流をモニタするPNP型のバイポーラトランジスタT5と、トランジスタT5の動作電流を制限する制限抵抗R7と、トランジスタT5がオンしたときにオンするNPN型のバイポーラトランジスタT6と、トランジスタT6の動作電流を制限する制限抵抗R6とを備える。   FIG. 5 is a circuit diagram showing a conventional overcurrent protection circuit. The conventional overcurrent protection circuit 7 includes a detection resistor R3 for detecting an overcurrent supplied from the current supply source side P1 to the current supply target side P2, and a current supply when an overcurrent flows from the current supply side P1. An NPN bipolar transistor T3 for cutting off the electric circuit 5 to the target side P2, a current cut circuit 8 for turning off the transistor T3 when an overcurrent flows, and a PNP for monitoring the current flowing through the detection resistor R3 Type bipolar transistor T5, limiting resistor R7 that limits the operating current of transistor T5, NPN bipolar transistor T6 that turns on when transistor T5 is turned on, and limiting resistor R6 that limits the operating current of transistor T6 Prepare.

過電流が発生しない通常時は、トランジスタT5のベース・エミッタ間電圧Vfが低くトランジスタT5がオンしないため、トランジスタT6はオフ状態を維持する。このため、電流カット回路8はハイレベル信号を出力してトランジスタT3がオン状態を維持し、電流供給対象側P2に電流が供給される。また、検出抵抗R3に過電流が流れると、トランジスタT5がオンするため、トランジスタT6がオンし、電流カット回路8がローレベル信号を出力してトランジスタT3がオフになり、電路5が遮断され、電流供給対象側P2が過電流から保護される。   During normal times when no overcurrent occurs, the base-emitter voltage Vf of the transistor T5 is low and the transistor T5 does not turn on, so that the transistor T6 remains off. For this reason, the current cut circuit 8 outputs a high level signal, the transistor T3 is kept on, and a current is supplied to the current supply target side P2. When an overcurrent flows through the detection resistor R3, the transistor T5 is turned on, so that the transistor T6 is turned on, the current cut circuit 8 outputs a low level signal, the transistor T3 is turned off, and the electric circuit 5 is cut off. The current supply target side P2 is protected from overcurrent.

特開平7−170295号公報(第9〜11段落、図1)。JP-A-7-170295 (9th to 11th paragraphs, FIG. 1).

しかし、トランジスタには温度特性が存在するため、過電流保護回路7が置かれている環境温度が変化すると、トランジスタT5のベース・エミッタ間電圧Vfが変動するので、過電流の検出精度が低下する。例えば、環境温度が室温(25℃)よりも上昇した場合に、室温条件下の設計時に想定した過電流よりも小さい過電流が流れたときにトランジスタT5がオンして電路5が遮断されてしまうおそれがある。また、逆に、環境温度が室温よりも低下した場合に、想定過電流よりも大きい過電流が流れたときでもトランジスタT5がオンしないで電路5が遮断されず、電流供給対象が破壊されてしまうおそれがある。
つまり、従来の過電流保護回路は、電路を遮断する精度が環境温度の変化によって低下するという問題がある。
However, since the transistor has temperature characteristics, if the ambient temperature in which the overcurrent protection circuit 7 is placed changes, the base-emitter voltage Vf of the transistor T5 varies, and the overcurrent detection accuracy decreases. . For example, when the ambient temperature rises above room temperature (25 ° C.), when an overcurrent smaller than the overcurrent assumed at the time of designing under room temperature conditions flows, the transistor T5 is turned on and the electric circuit 5 is cut off. There is a fear. Conversely, when the environmental temperature drops below room temperature, even when an overcurrent larger than the assumed overcurrent flows, the transistor T5 is not turned on, the electric circuit 5 is not cut off, and the current supply target is destroyed. There is a fear.
In other words, the conventional overcurrent protection circuit has a problem that the accuracy of interrupting the electric circuit is lowered due to a change in environmental temperature.

そこでこの発明は、上述の問題を解決するためになされたものであり、電路を遮断する精度が環境温度の変化によって低下しない過電流保護回路を実現することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made to solve the above-described problem, and an object of the present invention is to realize an overcurrent protection circuit in which the accuracy of interrupting an electric circuit is not lowered by a change in environmental temperature.

この発明は、上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、電流供給源(P1)から電流供給対象(P2)に電流を供給する電路(5)に接続された、過電流を検出するための検出抵抗(R3)を備えており、前記過電流が検出されたときに前記電路を遮断する過電流保護回路(1)において、エミッタが前記検出抵抗の前記電流供給対象側に接続されており、かつ、ベースおよびコレクタが結合された第1のトランジスタ(T1)と、前記第1のトランジスタのエミッタに接続された第1の制限抵抗(R1)と、前記第1のトランジスタのコレクタに接続された第1の定電流源(10)と、エミッタが前記検出抵抗の前記電流供給源側に接続されており、前記第1のトランジスタと同一の温度特性を有する第2のトランジスタ(T2)と、前記第2のトランジスタのエミッタに接続された第2の制限抵抗(R2)と、前記第2のトランジスタのコレクタに接続された第2の定電流源(11)と、を備えており、かつ、前記第1および第2のトランジスタの各ベース間が接続されてなるカレントミラー回路(9)と、前記第2のトランジスタのコレクタに接続されており、そのコレクタに流れるコレクタ電流が所定値以上になった場合に動作して前記電路を遮断する電流遮断回路(6)と、を備えており、前記第2のトランジスタのコレクタ電流が、前記検出抵抗に過電流が流れていないときには前記所定値未満を維持し、かつ、前記検出抵抗に過電流が流れたときには前記所定値以上となるように前記カレントミラー回路が構成されてなるという技術的手段を用いる。   In order to achieve the above object, according to the present invention, the overcurrent connected to the electric circuit (5) for supplying current from the current supply source (P1) to the current supply target (P2) is reduced. In the overcurrent protection circuit (1), which has a detection resistor (R3) for detecting, and cuts off the electric circuit when the overcurrent is detected, an emitter is connected to the current supply target side of the detection resistor A first transistor (T1) having a base and a collector coupled to each other, a first limiting resistor (R1) connected to an emitter of the first transistor, and a collector of the first transistor A first constant current source (10) connected to the second transistor (T) and an emitter connected to the current supply source side of the detection resistor, and a second transistor (T) having the same temperature characteristics as the first transistor ), A second limiting resistor (R2) connected to the emitter of the second transistor, and a second constant current source (11) connected to the collector of the second transistor. And a current mirror circuit (9) in which the bases of the first and second transistors are connected to each other and a collector of the second transistor, and a collector current flowing through the collector is a predetermined value. A current cutoff circuit (6) that operates in the case of the above to cut off the electric circuit, and when the collector current of the second transistor is not overcurrent flowing through the detection resistor, the predetermined current A technical means is used in which the current mirror circuit is configured so as to be equal to or greater than the predetermined value when an overcurrent flows through the detection resistor while maintaining less than the value.

請求項2に記載の発明では、請求項1に記載の過電流保護回路(1)において、前記第1の制限抵抗に流れる電流の電流値をI1、前記第2の制限抵抗に流れる電流の電流値をI2とした場合に、前記検出抵抗に過電流が流れていない場合にはI1>I2であり、かつ、前記検出抵抗に過電流が流れたときにはI2>I1となるように前記カレントミラー回路(9)が構成されてなるという技術的手段を用いる。   According to a second aspect of the present invention, in the overcurrent protection circuit (1) according to the first aspect, the current value of the current flowing through the first limiting resistor is I1, and the current value of the current flowing through the second limiting resistor is When the value is I2, when the overcurrent does not flow through the detection resistor, I1> I2, and when the overcurrent flows through the detection resistor, the current mirror circuit so that I2> I1 The technical means that (9) is configured is used.

請求項3に記載の発明では、請求項2に記載の過電流保護回路(1)において、前記第1の制限抵抗の抵抗値をR1、前記第2の制限抵抗の抵抗値をR2、前記検出抵抗の抵抗値をR3、前記検出抵抗に流れる電流の電流値をI3とし、前記検出抵抗に過電流が流れた瞬間にI1=I2であるとした場合に、R1=R2−(I3/I1)R3の関係が成立するように前記カレントミラー回路(9)が構成されてなるという技術的手段を用いる。   According to a third aspect of the present invention, in the overcurrent protection circuit (1) according to the second aspect, the resistance value of the first limiting resistor is R1, the resistance value of the second limiting resistor is R2, and the detection When the resistance value of the resistor is R3, the current value of the current flowing through the detection resistor is I3, and I1 = I2 at the moment when the overcurrent flows through the detection resistor, R1 = R2- (I3 / I1) The technical means that the current mirror circuit (9) is configured so that the relationship of R3 is established is used.

請求項4に記載の発明では、請求項1ないし請求項3のいずれか1つに記載の過電流保護回路(1)において、前記電流遮断回路(6)は、前記電路(5)を遮断可能に前記電路に接続された第3のトランジスタ(T3)と、ベースが前記第2のトランジスタ(T2)のコレクタに接続されており、前記第2のトランジスタのコレクタ電流が前記所定値以上になったときにオンする第4のトランジスタ(T4)と、前記第4のトランジスタがオンしたときに前記第3のトランジスタをオフするトランジスタ駆動回路(2)と、を備えるという技術的手段を用いる。   According to a fourth aspect of the present invention, in the overcurrent protection circuit (1) according to any one of the first to third aspects, the current interrupt circuit (6) can interrupt the electric circuit (5). The third transistor (T3) connected to the electric circuit and the base are connected to the collector of the second transistor (T2), and the collector current of the second transistor has exceeded the predetermined value. A technical means is used that includes a fourth transistor (T4) that is turned on at times and a transistor drive circuit (2) that turns off the third transistor when the fourth transistor is turned on.

請求項5に記載の発明では、請求項1ないし請求項4のいずれか1つに記載の過電流保護回路(1)において、前記第1および第2のトランジスタ(T1,T2)は、それぞれバイポーラトランジスタであるという技術的手段を用いる。   According to a fifth aspect of the present invention, in the overcurrent protection circuit (1) according to any one of the first to fourth aspects, the first and second transistors (T1, T2) are each bipolar. The technical means of being a transistor is used.

請求項6に記載の発明では、請求項1ないし請求項4のいずれか1つに記載の過電流保護回路(1)において、前記第1および第2のトランジスタ(T1,T2)は、それぞれMOSトランジスタであるという技術的手段を用いる。   According to a sixth aspect of the present invention, in the overcurrent protection circuit (1) according to any one of the first to fourth aspects, the first and second transistors (T1, T2) are respectively MOS transistors. The technical means of being a transistor is used.

請求項7に記載の発明では、請求項4ないし請求項6のいずれか1つに記載の過電流保護回路(1)において、前記トランジスタ駆動回路(2)は、前記第4のトランジスタ(T4)の動作電圧と基準電圧とを比較し、その比較結果に応じた電圧を前記第3のトランジスタ(T3)のベースに印加する比較回路(4)であるという技術的手段を用いる。   According to a seventh aspect of the present invention, in the overcurrent protection circuit (1) according to any one of the fourth to sixth aspects, the transistor drive circuit (2) includes the fourth transistor (T4). A technical means is used that is a comparison circuit (4) that compares the operation voltage and the reference voltage and applies a voltage according to the comparison result to the base of the third transistor (T3).

なお、上記各括弧内の符号は、後述する発明の実施形態において示す具体例との対応関係を示すものである。   In addition, the code | symbol in each said parenthesis shows the correspondence with the specific example shown in embodiment of invention mentioned later.

(請求項1に係る発明の作用)
電流供給源から電流供給対象に電流を供給する電路に接続された検出抵抗に流れる電流の変化は、その検出抵抗の両端に接続されたカレントミラー回路によって検出される。そして、第2のトランジスタのコレクタに流れるコレクタ電流は、検出抵抗に過電流が流れていないときには、電流遮断回路を動作させることのできる所定値未満に維持され、かつ、検出抵抗に過電流が流れたときには所定値以上になる。
ここで、カレントミラー回路を構成する第1および第2のトランジスタの温度特性は同一である。
従って、第2のトランジスタのコレクタ電流は、検出抵抗に過電流が流れていないときには、電流遮断回路を動作させることのできる所定値未満に環境温度に関係なく維持され、かつ、検出抵抗に過電流が流れたときには環境温度に関係なく所定値以上になる。
(Operation of the Invention of Claim 1)
A change in the current flowing through the detection resistor connected to the electric circuit that supplies current from the current supply source to the current supply target is detected by current mirror circuits connected to both ends of the detection resistor. The collector current that flows through the collector of the second transistor is maintained below a predetermined value that allows the current interrupt circuit to operate when no overcurrent flows through the detection resistor, and the overcurrent flows through the detection resistor. When it falls, it becomes a predetermined value or more.
Here, the temperature characteristics of the first and second transistors constituting the current mirror circuit are the same.
Accordingly, the collector current of the second transistor is maintained below a predetermined value at which the current cutoff circuit can be operated when no overcurrent flows through the detection resistor regardless of the environmental temperature, and the overcurrent is supplied to the detection resistor. Will flow above the predetermined value regardless of the environmental temperature.

(請求項1に係る発明の効果)
電路を遮断する精度が環境温度の変化によって低下しない過電流保護回路を実現することができる。
(Effect of the invention according to claim 1)
It is possible to realize an overcurrent protection circuit in which the accuracy of interrupting the electric circuit is not lowered by a change in environmental temperature.

(請求項3に係る発明の効果)
カレントミラー回路は、R1=R2−(I3/I1)R3の関係が成立するように構成されているため、第1および第2のトランジスタのベースエミッタ間電圧など、温度特性によって変化するパラメータとは無関係に検出抵抗、第1および第2の制限抵抗の各抵抗値を決定してカレントミラー回路を構成することができる。
従って、電路を遮断する精度が環境温度の変化によって低下しない過電流保護回路を実現することができる。
(Effect of the invention according to claim 3)
Since the current mirror circuit is configured so that the relationship of R1 = R2- (I3 / I1) R3 is established, parameters such as base-emitter voltages of the first and second transistors that change with temperature characteristics Irrespective of the resistance values of the detection resistor and the first and second limiting resistors, the current mirror circuit can be configured.
Therefore, it is possible to realize an overcurrent protection circuit in which the accuracy of interrupting the electric circuit is not lowered by a change in the environmental temperature.

(請求項4に係る発明の作用)
検出抵抗に過電流が流れると、第2のトランジスタのコレクタ電流のうち、第2の定電流源によって吸収されない分のコレクタ電流が第4のトランジスタのベースに流れ、そのベース電流が所定値以上になると、第4のトランジスタがオンし、電路に接続された第3のトランジスタがトランジスタ駆動回路によってオフされ、電路が遮断される。
(Operation of the Invention of Claim 4)
When an overcurrent flows through the detection resistor, a collector current that is not absorbed by the second constant current source among the collector current of the second transistor flows to the base of the fourth transistor, and the base current exceeds a predetermined value. Then, the fourth transistor is turned on, the third transistor connected to the electric circuit is turned off by the transistor driving circuit, and the electric circuit is cut off.

(請求項4に係る発明の効果)
検出抵抗に過電流が流れたときに初めて第4のトランジスタがオンし、電路が遮断されるため、検出抵抗に過電流が流れていないときに電路が遮断されるおそれがない。
しかも、カレントミラー回路を構成する第1および第2のトランジスタの温度特性が同一であるため、第4のトランジスタのベース電流が流れ始めるタイミングは環境温度の影響を受けて変動しないので、電路を遮断するタイミングの精度を高めることができる。
(Effect of the invention according to claim 4)
Since the fourth transistor is turned on for the first time when an overcurrent flows through the detection resistor and the electric circuit is cut off, there is no possibility that the electric circuit is cut off when no overcurrent flows through the detection resistor.
In addition, since the temperature characteristics of the first and second transistors constituting the current mirror circuit are the same, the timing at which the base current of the fourth transistor begins to flow does not fluctuate due to the influence of the environmental temperature, so the circuit is interrupted. The timing accuracy can be increased.

(請求項5に係る発明の効果)
第1および第2のトランジスタは、それぞれバイポーラトランジスタであるため、カレントミラー回路の耐圧を高めることができる。
(Effect of the invention according to claim 5)
Since each of the first and second transistors is a bipolar transistor, the breakdown voltage of the current mirror circuit can be increased.

(請求項6に係る発明の効果)
第1および第2のトランジスタは、それぞれMOSトランジスタであるため、カレントミラー回路の応答速度を速くすることができる。
(Effect of the invention according to claim 6)
Since each of the first and second transistors is a MOS transistor, the response speed of the current mirror circuit can be increased.

(請求項7に係る発明の効果)
比較回路の出力によって第3のトランジスタをオンまたはオフすることができるため、電路を応答性良くかつ瞬時に遮断することができる。また、この過電流保護回路をICまたはLSIにて製造する場合は、比較回路を同じ半導体基板上に作り込むことができるため、製造効率を高めることができる。
(Effect of the invention according to claim 7)
Since the third transistor can be turned on or off by the output of the comparison circuit, the electric circuit can be instantaneously interrupted with good response. Further, when the overcurrent protection circuit is manufactured by IC or LSI, the comparison circuit can be formed on the same semiconductor substrate, so that the manufacturing efficiency can be improved.

<第1実施形態>
この発明に係る実施形態について図1を参照して説明する。図1は、この実施形態に係る過電流保護回路の概略構成を示す回路図である。
<First Embodiment>
An embodiment according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a circuit diagram showing a schematic configuration of an overcurrent protection circuit according to this embodiment.

(概略構成)
過電流保護回路1は、電流供給源側P1から電流供給対象側P2へ電流を供給する電路5に直列に接続され、過電流を検出するための検出抵抗R3と、この検出抵抗R3の両端電圧を検出するカレントミラー回路9と、このカレントミラー回路9の動作によって電路5を遮断する電流遮断回路6とを備える。過電流保護回路1は、例えば、車両に備えられたECU(電気制御装置)の電源を過電流から保護するために用いられ、電流供給源側P1は車両のバッテリに接続され、電流供給対象側P2はECUの電源に接続される。
(Outline configuration)
The overcurrent protection circuit 1 is connected in series to a circuit 5 that supplies current from the current supply source side P1 to the current supply target side P2, and detects a detection resistor R3 for detecting an overcurrent, and a voltage across the detection resistor R3. And a current interrupt circuit 6 that interrupts the electric circuit 5 by the operation of the current mirror circuit 9. The overcurrent protection circuit 1 is used, for example, to protect the power source of an ECU (electric control device) provided in the vehicle from overcurrent, the current supply source side P1 is connected to the vehicle battery, and the current supply target side P2 is connected to the power source of the ECU.

カレントミラー回路9は、検出抵抗R3の電流供給対象側に一端が接続された第1の制限抵抗R1と、この第1の制限抵抗R2の他端にエミッタが接続され、ベースおよびコレクタが結合された第1のバイポーラトランジスタT1と、この第1のバイポーラトランジスタT1のコレクタに一端が接続され、他端が接地された第1の定電流源10と、検出抵抗R3の電流供給源側に一端が接続された第2の制限抵抗R2と、この第2の制限抵抗R2の他端にエミッタが接続された第2のバイポーラトランジスタT2と、この第2のバイポーラトランジスタのコレクタに一端が接続され、他端が接地された第2の定電流源11とを備える。第1および第2のバイポーラトランジスタT1,T2の各ベースは相互に接続されている。   The current mirror circuit 9 includes a first limiting resistor R1 having one end connected to the current supply target side of the detection resistor R3, an emitter connected to the other end of the first limiting resistor R2, and a base and a collector coupled. The first bipolar transistor T1, the first constant current source 10 having one end connected to the collector of the first bipolar transistor T1 and the other end grounded, and one end on the current supply source side of the detection resistor R3. The connected second limiting resistor R2, the second bipolar transistor T2 having an emitter connected to the other end of the second limiting resistor R2, one end connected to the collector of the second bipolar transistor, the other And a second constant current source 11 whose end is grounded. The bases of the first and second bipolar transistors T1, T2 are connected to each other.

過電流保護回路1は、同一の半導体基板に形成されたモノリシックICまたはLSIであり、第1および第2のバイポーラトランジスタT1,T2は、モノリシック・デュアルタイプである。このため、第1および第2のバイポーラトランジスタT1,T2は、同じ温度特性を有する。   The overcurrent protection circuit 1 is a monolithic IC or LSI formed on the same semiconductor substrate, and the first and second bipolar transistors T1, T2 are monolithic dual type. For this reason, the first and second bipolar transistors T1, T2 have the same temperature characteristics.

電流遮断回路6は、電路5において検出抵抗R3の電流供給源側にコレクタが接続され、電流供給対象側にエミッタが接続された第3のバイポーラトランジスタT3と、この第3のバイポーラトランジスタT3のベースに出力が接続された電流カット回路2と、第2のバイポーラトランジスタT2のコレクタにベースが接続され、エミッタが接地された第4のバイポーラトランジスタT4と、この第4のバイポーラトランジスタT4のベースに一端が接続され、他端が接地されたプルダウン抵抗R5と、第4のバイポーラトランジスタT4のコレクタに直列に接続された制限抵抗R4とを備える。   The current cutoff circuit 6 includes a third bipolar transistor T3 having a collector connected to the current supply source side of the detection resistor R3 and an emitter connected to the current supply target side in the electric circuit 5, and a base of the third bipolar transistor T3. Are connected to the collector of the second bipolar transistor T2, the base is connected to the collector of the second bipolar transistor T2, the emitter is grounded, and the base of the fourth bipolar transistor T4 is connected to the base of the fourth bipolar transistor T4. Are connected, and the other end is grounded, and a limiting resistor R4 connected in series to the collector of the fourth bipolar transistor T4.

なお、この実施形態では、第1および第2のバイポーラトランジスタT1,T2はそれぞれPNP型であり、第3および第4のバイポーラトランジスタT3,T4はそれぞれNPN型である。   In this embodiment, the first and second bipolar transistors T1 and T2 are each a PNP type, and the third and fourth bipolar transistors T3 and T4 are each an NPN type.

図2は、図1に示す電流カット回路2の回路構成の一例である。この実施形態では、電流カット回路2は、比較回路(コンパレータ)を用いる。比較回路4の非反転入力は、第4のバイポーラトランジスタT4のコレクタと接続されており、反転入力には参照電圧Vrefが与えられている。比較回路4の出力は、第3のバイポーラトランジスタT3のベースに接続されている。また、過電流保護回路1をICまたはLSIにて製造する場合は、比較回路4を同じ半導体基板上に作り込むことができるため、製造効率を高めることができる。   FIG. 2 is an example of a circuit configuration of the current cut circuit 2 shown in FIG. In this embodiment, the current cut circuit 2 uses a comparison circuit (comparator). The non-inverting input of the comparison circuit 4 is connected to the collector of the fourth bipolar transistor T4, and the reference voltage Vref is applied to the inverting input. The output of the comparison circuit 4 is connected to the base of the third bipolar transistor T3. Further, when the overcurrent protection circuit 1 is manufactured by an IC or LSI, the comparison circuit 4 can be formed on the same semiconductor substrate, so that the manufacturing efficiency can be improved.

(抵抗値および電流値の決定)
第1の制限抵抗R1、第2の制限抵抗R2および検出抵抗R3の各抵抗値をそれぞれR1、R2、R3とし、各抵抗を流れる各電流値をそれぞれI1、I2、I3とする。
また、検出抵抗R3に過電流が流れていないときは、I1>I2、過電流が流れた瞬間は、I1=I2、過電流が流れた後は、I2>I1となるように各抵抗値を決定する。
I1、I2は、それぞれ周知の次式(1)、(2)によって求めることができる。
(Determination of resistance value and current value)
The resistance values of the first limiting resistor R1, the second limiting resistor R2, and the detection resistor R3 are R1, R2, and R3, respectively, and the current values that flow through the resistors are I1, I2, and I3, respectively.
Also, when no overcurrent flows through the detection resistor R3, each resistance value is set so that I1> I2, when the overcurrent flows, I1 = I2, and after the overcurrent flows, I2> I1. decide.
I1 and I2 can be obtained by the following well-known expressions (1) and (2), respectively.

I1=Is・exp(q・VBE1/kT) ・・・(1)   I1 = Is · exp (q · VBE1 / kT) (1)

I2=Is・exp(q・VBE2/kT) ・・・(2)   I2 = Is · exp (q · VBE2 / kT) (2)

ここで、Isは飽和電流、qは電荷量、VBE1は第1のバイポーラトランジスタT1のベースエミッタ間電圧、VBE2は第2のバイポーラトランジスタT2のベースエミッタ間電圧、kはボルツマン定数、Tは絶対温度である。
また、図1から、次式(3)が成立する。
Here, Is is a saturation current, q is a charge amount, VBE1 is a voltage between the base and emitter of the first bipolar transistor T1, VBE2 is a voltage between the base and emitter of the second bipolar transistor T2, k is a Boltzmann constant, and T is an absolute temperature. It is.
Further, from FIG. 1, the following expression (3) is established.

R3・I3+R1・I1+VBE1=R2・I2+VBE2 ・・・(3)   R3 · I3 + R1 · I1 + VBE1 = R2 · I2 + VBE2 (3)

ここで、過電流検出時は、I1=I2と設定するため、式(1)および式(2)から、次式(4)が成立する。   Here, when overcurrent is detected, since I1 = I2 is set, the following equation (4) is established from equations (1) and (2).

VBE1=VBE2 ・・・(4)   VBE1 = VBE2 (4)

式(4)を式(3)に代入し、I2にI1を代入すると、次式(5)が成立する。   Substituting equation (4) into equation (3) and substituting I1 into I2, the following equation (5) is established.

R3・I3+R1・I1=R2・I1 ・・・(5)   R3 · I3 + R1 · I1 = R2 · I1 (5)

この式(5)からR1を求めると、次式(6)が成立する。   When R1 is obtained from this equation (5), the following equation (6) is established.

R1=R2−(I3/I1)R3 ・・・(6)   R1 = R2- (I3 / I1) R3 (6)

つまり、カレントミラー回路9を構成する第1および第2の制限抵抗R1,R2の各抵抗値R1,R2は、上記の式(6)を満足するように決定すればよい。また、式(6)には、ベースエミッタ間電圧VBEが含まれていないため、各抵抗値R1,R2は、トランジスタの温度特性などに影響を受けることなく決定することができる。   That is, the resistance values R1 and R2 of the first and second limiting resistors R1 and R2 constituting the current mirror circuit 9 may be determined so as to satisfy the above formula (6). In addition, since the equation (6) does not include the base-emitter voltage VBE, the resistance values R1 and R2 can be determined without being affected by the temperature characteristics of the transistor.

(主な動作)
検出抵抗R3に過電流が流れていないときは、I1がI2よりも大きくなるため、電流I2はバイポーラトランジスタT2を通じて定電流源11に吸収され、第4のバイポーラトランジスタT4のベース電流(I2−I)は流れないので(I2−I=0)、第4のバイポーラトランジスタT4はオフの状態を維持する。
(Main operations)
When no overcurrent flows through the detection resistor R3, I1 is larger than I2, so that the current I2 is absorbed by the constant current source 11 through the bipolar transistor T2 and the base current (I2-I) of the fourth bipolar transistor T4. ) Does not flow (I2−I = 0), the fourth bipolar transistor T4 maintains the OFF state.

このため、第4のバイポーラトランジスタT4はオフの状態を維持し、比較回路4の非反転入力に与えられる電圧は参照電圧Vrefよりも低いため、比較回路4はハイレベル信号を第3のバイポーラトランジスタT3のベースに出力する。これにより、第3のバイポーラトランジスタT3はオン状態を維持し、電流I3が電流供給対象側P2へ供給される。   For this reason, the fourth bipolar transistor T4 maintains the off state, and the voltage applied to the non-inverting input of the comparison circuit 4 is lower than the reference voltage Vref. Therefore, the comparison circuit 4 sends the high level signal to the third bipolar transistor. Output to the base of T3. As a result, the third bipolar transistor T3 is kept on, and the current I3 is supplied to the current supply target side P2.

また、過電流保護回路1が置かれている環境温度が変化した場合であっても、第4のバイポーラトランジスタT4のベース電流は流れないので、過電流が流れていないときに環境温度の変化によって電路5が遮断されてしまうという事態が発生するおそれがない。   Further, even when the environmental temperature at which the overcurrent protection circuit 1 is placed changes, the base current of the fourth bipolar transistor T4 does not flow, so that when the overcurrent does not flow, There is no possibility that the electric circuit 5 will be interrupted.

次に、検出抵抗R3に過電流が流れた瞬間は、I1=I2となるが、第4のトランジスタT4のベース電流(I2−I)は流れないため、第4のトランジスタT4はオンせず、電路5は遮断されない。   Next, at the moment when the overcurrent flows to the detection resistor R3, I1 = I2, but since the base current (I2-I) of the fourth transistor T4 does not flow, the fourth transistor T4 is not turned on. The electric circuit 5 is not interrupted.

そして、検出抵抗R3に過電流が流れた瞬間以降は、I2がI1よりも大きくなり、第2のトランジスタT2のコレクタ電流が、第4のトランジスタT4をオンさせることのできる大きさ(本願の請求項1に記載の所定値に対応)以上に増加する。このため、第4のバイポーラトランジスタT4のベース電流(I2−I)が増加し、第4のバイポーラトランジスタT4がオンする。   After the moment when the overcurrent flows through the detection resistor R3, I2 becomes larger than I1, and the collector current of the second transistor T2 is large enough to turn on the fourth transistor T4 (claim of the present application). (Corresponding to the predetermined value described in item 1). For this reason, the base current (I2-I) of the fourth bipolar transistor T4 increases, and the fourth bipolar transistor T4 is turned on.

このため、比較回路4の非反転入力に与えられる電圧が参照電圧Vrefよりも高くなり、比較回路4がローレベル信号を第3のバイポーラトランジスタT3のベースに出力する。これにより、第3のバイポーラトランジスタT3がオフし、電路5が遮断され、過電流が電流供給対象側P2へ供給されない。また、比較回路4の出力は、2値的(デジタル的)であるため、電路5を応答性良くかつ瞬時に遮断することができる。   For this reason, the voltage applied to the non-inverting input of the comparison circuit 4 becomes higher than the reference voltage Vref, and the comparison circuit 4 outputs a low level signal to the base of the third bipolar transistor T3. As a result, the third bipolar transistor T3 is turned off, the electric circuit 5 is interrupted, and no overcurrent is supplied to the current supply target side P2. Further, since the output of the comparison circuit 4 is binary (digital), the electric circuit 5 can be instantaneously interrupted with good responsiveness.

また、過電流保護回路1が置かれている環境温度が変化した場合であっても、第4のバイポーラトランジスタT4のベース電流の変化は極めて小さいので、過電流が流れているときに環境温度の変化によって電路5が遮断されないという事態が発生するおそれがない。   Even if the environmental temperature at which the overcurrent protection circuit 1 is placed changes, the change in the base current of the fourth bipolar transistor T4 is extremely small. There is no possibility that the electric circuit 5 will not be interrupted by the change.

なお、検出抵抗R3に過電流が流れていないときに、第2のバイポーラトランジスタT2のコレクタ電流が第4のバイポーラトランジスタT4のベースに漏れても、その漏れ電流は、第4のバイポーラトランジスタT4のベースに接続されたプルダウン抵抗R5に吸収される。このため、検出抵抗R3に過電流が流れていないときに第4のバイポーラトランジスタT4が誤動作して電路5が遮断されてしまうおそれはない。
また、第4のバイポーラトランジスタT4がオンするために必要なベース電流値を上記の漏れ電流の電流値よりも十分大きな値に設定しておくことにより、プルダウン抵抗R5を省略することもできる。
Even if the collector current of the second bipolar transistor T2 leaks to the base of the fourth bipolar transistor T4 when no overcurrent is flowing through the detection resistor R3, the leakage current of the fourth bipolar transistor T4 Absorbed by the pull-down resistor R5 connected to the base. Therefore, there is no possibility that the fourth bipolar transistor T4 malfunctions when the overcurrent does not flow through the detection resistor R3 and the electric circuit 5 is interrupted.
Further, the pull-down resistor R5 can be omitted by setting a base current value necessary for turning on the fourth bipolar transistor T4 to a value sufficiently larger than the current value of the leakage current.

(実施形態の効果)
(1)上述したように、上記実施形態の過電流保護回路1によれば、環境温度の変化に関係なく過電流の検出精度を高めることができるため、電流供給対象を過電流から確実に保護することができる。
(Effect of embodiment)
(1) As described above, according to the overcurrent protection circuit 1 of the above embodiment, the accuracy of overcurrent detection can be increased regardless of changes in the environmental temperature, so that the current supply target is reliably protected from overcurrent. can do.

(2)しかも、カレントミラー回路9を構成する第1および第2のトランジスタT1,T2の温度特性が同一であるため、第4のトランジスタT4のベース電流が流れ始めるタイミングは環境温度の影響を受けて変動しないので、電路5を遮断するタイミングの精度を高めることができる。 (2) Moreover, since the temperature characteristics of the first and second transistors T1 and T2 constituting the current mirror circuit 9 are the same, the timing at which the base current of the fourth transistor T4 starts to flow is affected by the environmental temperature. Therefore, it is possible to improve the accuracy of the timing at which the electric circuit 5 is cut off.

(3)また、第1および第2のトランジスタT1,T2は、それぞれバイポーラトランジスタであるため、カレントミラー回路9の耐圧を高めることができる。 (3) Since the first and second transistors T1 and T2 are bipolar transistors, the breakdown voltage of the current mirror circuit 9 can be increased.

<第2実施形態>
次に、この発明の第2実施形態について図3を参照して説明する。
図3は、この第2実施形態に係る過電流保護回路を示す回路図である。図3に示す過電流保護回路3は、バイポーラトランジスタに代えてMOSトランジスタ(Metal Oxide Semiconductor FET)を用いたことを特徴とする。過電流保護回路3は、第1実施形態の過電流保護回路1の各バイポーラトランジスタをMOSトランジスタに代えた以外は、同一の構成であるため、同一の構成および動作については説明を省略する。
Second Embodiment
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 3 is a circuit diagram showing an overcurrent protection circuit according to the second embodiment. The overcurrent protection circuit 3 shown in FIG. 3 is characterized in that a MOS transistor (Metal Oxide Semiconductor FET) is used instead of the bipolar transistor. Since the overcurrent protection circuit 3 has the same configuration except that each bipolar transistor of the overcurrent protection circuit 1 of the first embodiment is replaced with a MOS transistor, the description of the same configuration and operation is omitted.

カレントミラー回路9を構成する第1のMOSトランジスタT1のソースは第1の制限抵抗R1に接続されており、ドレインは第1の定電流源10に接続されており、ゲートおよびドレインが結合されている。第2のMOSトランジスタT2のソースは第2の制限抵抗R2に接続されており、ドレインは第2の定電流源11に接続されている。また、第1および第2のMOSトランジスタT1,T2のゲートが相互に接続されている。   The source of the first MOS transistor T1 constituting the current mirror circuit 9 is connected to the first limiting resistor R1, the drain is connected to the first constant current source 10, and the gate and the drain are combined. Yes. The source of the second MOS transistor T2 is connected to the second limiting resistor R2, and the drain is connected to the second constant current source 11. The gates of the first and second MOS transistors T1 and T2 are connected to each other.

第3のMOSトランジスタT3のソースは検出抵抗R3に接続されており、ドレインは電流供給対象側P2に接続されており、ゲートは電流カット回路2の出力に接続されている。第4のMOSトランジスタT4のベースは第2のMOSトランジスタT2のドレインに接続されており、ソースは電流カット回路2に接続されている。第1および第2のMOSトランジスタT1,T2は同じ温度特性を有する。   The source of the third MOS transistor T3 is connected to the detection resistor R3, the drain is connected to the current supply target side P2, and the gate is connected to the output of the current cut circuit 2. The base of the fourth MOS transistor T4 is connected to the drain of the second MOS transistor T2, and the source is connected to the current cut circuit 2. The first and second MOS transistors T1, T2 have the same temperature characteristics.

以上のように、過電流保護回路3は、各トランジスタがMOSトランジスタである以外は第1実施形態の過電流保護回路1と同じ構成であり、同じ動作をするため、第1実施形態の効果(1)および(2)と同じ効果を奏することができる。また、各トランジスタがMOSトランジスタであるため、過電流の検出から電路5の遮断までの応答性をバイポーラトランジスタで構成した場合よりも良くすることができる。   As described above, the overcurrent protection circuit 3 has the same configuration as the overcurrent protection circuit 1 of the first embodiment except that each transistor is a MOS transistor, and operates in the same manner. The same effects as 1) and (2) can be achieved. Further, since each transistor is a MOS transistor, the response from the detection of overcurrent to the interruption of the electric circuit 5 can be improved as compared with the case where it is constituted by a bipolar transistor.

<第3実施形態>
次に、この発明の第3実施形態について図4を参照して説明する。
図4は、この第3実施形態に係る過電流保護回路を示す回路図である。図4に示す過電流保護回路1は、第1実施形態の過電流保護回路1を構成する各PNP型のバイポーラトランジスタに代えてNPN型のバイポーラトランジスタを用いたことを特徴とする。過電流保護回路1は、第1実施形態の過電流保護回路1の各PNP型のバイポーラトランジスタをNPN型のバイポーラトランジスタに代えた以外は、同一の構成であるため、同一の構成および動作については説明を省略する。
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 4 is a circuit diagram showing an overcurrent protection circuit according to the third embodiment. The overcurrent protection circuit 1 shown in FIG. 4 is characterized in that an NPN type bipolar transistor is used instead of each PNP type bipolar transistor constituting the overcurrent protection circuit 1 of the first embodiment. The overcurrent protection circuit 1 has the same configuration except that each PNP type bipolar transistor of the overcurrent protection circuit 1 of the first embodiment is replaced with an NPN type bipolar transistor. Description is omitted.

カレントミラー回路9は、検出抵抗R3の電流供給対象側に一端が接続された第1の制限抵抗R1と、この第1の制限抵抗R2の他端にエミッタが接続され、ベースおよびコレクタが結合された第1のバイポーラトランジスタT1と、この第1のバイポーラトランジスタT1のコレクタに一端が接続され、他端が電流供給源側に接続された第1の定電流源10と、検出抵抗R3の接地側に一端が接続された第2の制限抵抗R2と、この第2の制限抵抗R2の他端にエミッタが接続された第2のバイポーラトランジスタT2と、この第2のバイポーラトランジスタのコレクタに一端が接続され、他端が電流供給源側に接続された第2の定電流源11とを備える。第1および第2のバイポーラトランジスタT1,T2の各ベースは相互に接続されている。   The current mirror circuit 9 includes a first limiting resistor R1 having one end connected to the current supply target side of the detection resistor R3, an emitter connected to the other end of the first limiting resistor R2, and a base and a collector coupled. The first bipolar transistor T1, the first constant current source 10 having one end connected to the collector of the first bipolar transistor T1 and the other end connected to the current supply source side, and the ground side of the detection resistor R3 A second limiting resistor R2 having one end connected to the second bipolar transistor T2, an emitter connected to the other end of the second limiting resistor R2, and a collector connected to the collector of the second bipolar transistor. And a second constant current source 11 having the other end connected to the current supply source side. The bases of the first and second bipolar transistors T1, T2 are connected to each other.

各トランジスタT1〜T4は、それぞれNPN型のトランジスタである。トランジスタT1,T2は同じ温度特性を有する。
以上のように、過電流保護回路1は、各トランジスタがNPN型のバイポーラトランジスタである以外は第1実施形態の過電流保護回路1と同じ構成であり、同じ動作をするため、第1実施形態の効果(1)ないし(3)と同じ効果を奏することができる。
Each of the transistors T1 to T4 is an NPN type transistor. The transistors T1 and T2 have the same temperature characteristics.
As described above, the overcurrent protection circuit 1 has the same configuration as the overcurrent protection circuit 1 according to the first embodiment except that each transistor is an NPN-type bipolar transistor. The effects (1) to (3) can be obtained.

この発明の実施形態に係る過電流保護回路の概略構成を示す回路図である。1 is a circuit diagram showing a schematic configuration of an overcurrent protection circuit according to an embodiment of the present invention. 図1に示す電流カット回路2の回路構成の一例である。It is an example of the circuit structure of the current cut circuit 2 shown in FIG. 第2実施形態に係る過電流保護回路を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the overcurrent protection circuit which concerns on 2nd Embodiment. 第3実施形態に係る過電流保護回路を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the overcurrent protection circuit which concerns on 3rd Embodiment. 従来の過電流保護回路を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the conventional overcurrent protection circuit.

符号の説明Explanation of symbols

1・・過電流保護回路、2・・電流カット回路、5・・電路、6・・電流遮断回路、
9・・カレントミラー回路、10・・第1の定電流源、11・・第2の定電流源、
P1・・電流供給源側、P2・・電流供給対象側、R1・・第1の制限抵抗、
R2・・第2の制限抵抗、R3・・検出抵抗、T1・・第1のトランジスタ、
T2・・第2のトランジスタ、T3・・第3のトランジスタ、
T4・・第4のトランジスタ。
1 .... Overcurrent protection circuit, 2 .... Current cut circuit, 5 .... Electric circuit, 6 .... Current cut-off circuit,
9 .. Current mirror circuit, 10... First constant current source, 11.
P1 ... current supply source side, P2 ... current supply target side, R1 ... first limiting resistor,
R2 ... second limiting resistor, R3 ... detection resistor, T1 ... first transistor,
T2 ... second transistor, T3 ... third transistor,
T4 .. Fourth transistor.

Claims (7)

電流供給源から電流供給対象に電流を供給する電路に接続された、過電流を検出するための検出抵抗を備えており、前記過電流が検出されたときに前記電路を遮断する過電流保護回路において、
エミッタが前記検出抵抗の前記電流供給対象側に接続されており、かつ、ベースおよびコレクタが結合された第1のトランジスタと、前記第1のトランジスタのエミッタに接続された第1の制限抵抗と、前記第1のトランジスタのコレクタに接続された第1の定電流源と、エミッタが前記検出抵抗の前記電流供給源側に接続されており、前記第1のトランジスタと同一の温度特性を有する第2のトランジスタと、前記第2のトランジスタのエミッタに接続された第2の制限抵抗と、前記第2のトランジスタのコレクタに接続された第2の定電流源と、を備えており、かつ、前記第1および第2のトランジスタの各ベース間が接続されてなるカレントミラー回路と、
前記第2のトランジスタのコレクタに接続されており、そのコレクタに流れるコレクタ電流が所定値以上になった場合に動作して前記電路を遮断する電流遮断回路と、を備えており、
前記第2のトランジスタのコレクタ電流が、前記検出抵抗に過電流が流れていないときには前記所定値未満を維持し、かつ、前記検出抵抗に過電流が流れたときには前記所定値以上となるように前記カレントミラー回路が構成されてなることを特徴とする過電流保護回路。
An overcurrent protection circuit that includes a detection resistor for detecting an overcurrent, connected to an electric circuit that supplies current from an electric current supply source to an electric current supply target, and that interrupts the electric circuit when the overcurrent is detected In
A first transistor having an emitter connected to the current supply target side of the detection resistor and having a base and a collector coupled; a first limiting resistor connected to the emitter of the first transistor; A first constant current source connected to the collector of the first transistor, a second emitter having an emitter connected to the current supply source side of the detection resistor, and having the same temperature characteristics as the first transistor. A second limiting resistor connected to the emitter of the second transistor, a second constant current source connected to the collector of the second transistor, and the second A current mirror circuit in which the bases of the first and second transistors are connected to each other;
A current cutoff circuit that is connected to the collector of the second transistor and operates when the collector current flowing through the collector exceeds a predetermined value, and shuts off the electrical circuit;
The collector current of the second transistor is maintained below the predetermined value when no overcurrent flows through the detection resistor, and is equal to or greater than the predetermined value when an overcurrent flows through the detection resistor. An overcurrent protection circuit comprising a current mirror circuit.
前記第1の制限抵抗に流れる電流の電流値をI1、前記第2の制限抵抗に流れる電流の電流値をI2とした場合に、
前記検出抵抗に過電流が流れていないときにはI1>I2であり、かつ、前記検出抵抗に過電流が流れたときにはI2>I1となるように前記カレントミラー回路が構成されてなることを特徴とする請求項1に記載の過電流保護回路。
When the current value of the current flowing through the first limiting resistor is I1, and the current value of the current flowing through the second limiting resistor is I2,
The current mirror circuit is configured such that I1> I2 when no overcurrent flows through the detection resistor, and I2> I1 when overcurrent flows through the detection resistor. The overcurrent protection circuit according to claim 1.
前記第1の制限抵抗の抵抗値をR1、前記第2の制限抵抗の抵抗値をR2、前記検出抵抗の抵抗値をR3、前記検出抵抗に流れる電流の電流値をI3とし、前記検出抵抗に過電流が流れた瞬間にI1=I2であるとした場合に、
R1=R2−(I3/I1)R3
の関係が成立するように前記カレントミラー回路が構成されてなることを特徴とする請求項2に記載の過電流保護回路。
The resistance value of the first limiting resistor is R1, the resistance value of the second limiting resistor is R2, the resistance value of the detection resistor is R3, and the current value of the current flowing through the detection resistor is I3. If I1 = I2 at the moment when the overcurrent flows,
R1 = R2- (I3 / I1) R3
The overcurrent protection circuit according to claim 2, wherein the current mirror circuit is configured so that the relationship is established.
前記電流遮断回路は、
前記電路を遮断可能に前記電路に接続された第3のトランジスタと、
ベースが前記第2のトランジスタのコレクタに接続されており、前記第2のトランジスタのコレクタ電流が前記所定値以上になったときにオンする第4のトランジスタと、
前記第4のトランジスタがオンしたときに前記第3のトランジスタをオフするトランジスタ駆動回路と、を備えることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1つに記載の過電流保護回路。
The current interrupt circuit is
A third transistor connected to the circuit so as to be capable of interrupting the circuit;
A base connected to the collector of the second transistor, and a fourth transistor that turns on when a collector current of the second transistor becomes equal to or greater than the predetermined value;
4. The overcurrent protection circuit according to claim 1, further comprising: a transistor drive circuit that turns off the third transistor when the fourth transistor is turned on. 5.
前記第1および第2のトランジスタは、それぞれバイポーラトランジスタであることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1つに記載の過電流保護回路。   The overcurrent protection circuit according to claim 1, wherein each of the first and second transistors is a bipolar transistor. 前記第1および第2のトランジスタは、それぞれMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1つに記載の過電流保護回路。   5. The overcurrent protection circuit according to claim 1, wherein each of the first and second transistors is a MOS transistor. 前記トランジスタ駆動回路は、前記第4のトランジスタの動作電圧と基準電圧とを比較し、その比較結果に応じた電圧を前記第3のトランジスタのベースに印加する比較回路であることを特徴とする請求項4ないし請求項6のいずれか1つに記載の過電流保護回路。   The transistor drive circuit is a comparison circuit that compares an operation voltage of the fourth transistor with a reference voltage and applies a voltage corresponding to the comparison result to a base of the third transistor. The overcurrent protection circuit according to any one of claims 4 to 6.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2016117355A1 (en) * 2015-01-20 2016-07-28 株式会社オートネットワーク技術研究所 Interrupting device
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