JP2009211479A - 検証装置及びその装置を用いて検証する物品 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明の検証装置は、少なくとも一部に周期が可視光の波長以下である微細周期構造を含む被検証領域を検証するための検証装置であって、前記被検証領域に照明光を照射する光照射手段と、前記被検証領域より得られる回折光を観察する観察手段と、を備えており、前記微細周期構造の周期方向を含み前記被検証領域に直交する面が、前記光照射手段及び観察手段を横切るように配置されており、かつ、前記光照射手段及び観察手段が、前記被検証領域の中心である注視点における被検証領域の法線から45度以上の位置に配置されていることを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
特に、周期が可視光の波長以下である微細周期構造を有する表示体は、通常の観察条件下では回折光が発生しないため、特別な観察条件で回折光を観察して真偽判定を行うことができ、一層高い偽造防止効果を得ることができる。
前記被検証領域に照明光を照射する光照射手段と、前記被検証領域より得られる回折光を観察する観察手段と、を備えており、
前記微細周期構造の周期方向を含み前記被検証領域に直交する面が、前記光照射手段及び観察手段を横切るように配置されており、かつ、前記光照射手段及び観察手段が、前記被検証領域の中心である注視点における被検証領域の法線から45度以上の位置に配置されていることを特徴とする検証装置である。
これによると、被検証領域における周期構造の周期方向を含み被検証領域に直交する面が、光照射手段及び観察手段を横切って配置されており、かつ、光照射手段及び観察手段が、被検証領域の法線から45度以上の位置に配置されていることで、周期が可視光の波長以下である周期構造を含む被検証領域からの1次回折光を確実に観察することができる。
本発明においては、被検証領域からの1次回折光を観察手段によって観察(検出)することにより、真偽判定を行うことを検証と呼ぶ。
これによると、光照射手段と観察手段が隣接していることで、装置を小型化することができる。さらに、周期構造の周期が可視光の波長以下である場合の回折光の観察に適した条件を実現しやすくなる。
これによると、照明光を拡散光とすることで、被検証領域内に均一な光を照射することができ、観察手段により観察される絵柄(主に1次回折光)の色変化や輝度変化が少ない、一様な観察結果を得ることができる。
これによると、光源が可視光の単色光源であることで、1次回折光の有無により、安定した二値(絵柄が見えるか、見えないか)の観察結果を得ることができ、検証を簡便化することができる。
これによると、光源が白色光源であることで、1次回折光の観察結果における「色」(波長に対応)も検証要素として判断材料とすることができる。したがって、真偽判定及び偽造防止効果を一層高めることができる。とくに、複数種類の周期構造を用い、その周期方向は一定として、周期を適切に変更することにより、カラー表示された絵柄を観察させることも可能となる。
Lix≧Ltx×(Do+Di)/Do…(1)
これによると、式(1)を満たすことにより、特に周期方向において被検証領域内で一様な照明条件での一様な回折光を観察することができる。
Liy≧Lty×(Do+Di)/Do…(2)
これによると、式(2)を満たすことにより、特に周期方向において被検証領域内で一様な照明条件での一様な回折光を観察することができる。
前記被検証領域に含まれる微細周期構造の形状が絵柄を表現していることを特徴とする物品である。
本発明における検証装置を用いることで、色や輝度の変化が少ない一様な観察結果を、容易にかつ確実に得ることができるため、微細周期構造の形状を絵柄とすることで、特に、絵柄を複雑なものとすることで、偽造防止効果を高めることができる。
これによると、微細周期構造の周期を200nm以上350nm以下とすることで、可視光波長での観察に対して、極めて真偽判定が容易かつ確実となり、偽造防止効果を高めることができる。
検証装置1は、微細周期構造を含む被検証領域2に、照明光を照射する光照射手段3と、被検証領域2より得られる回折光を観察する観察手段(図1では、窓部4bから肉眼で観察する手段を示している。)から構成されている。
ここで、通常の観察条件下とは、被検証領域2を平面として捉えたときに、その平面の法線に対して30〜45度方向から光を入射し、その平面の略法線方向から観察することを意味しており、適切な観察条件下とは、その平面の法線から大きくずれた角度(典型的には45度以上)で照明光を入射し、その平面の法線から大きくずれた角度(典型的には45度以上)から観察することを意味する。
d=λ/(sinα−sinβ)…(3)
また、或る観察条件のもとで観察者が知覚する色は、周期dに応じて変化する。
d=λ/sinαN…(4)
さらに、図13に示すように、微細周期構造が、光透過層21及び金属反射層22の双方を含んでいる場合、それらの一方のみを含んでいる場合と比較して、微細周期構造表面の損傷を生じ難く、視認性がより優れた像を表示させることができる。
すなわち、本発明における光源3aが、可視光の単色光源であるとき、1次回折光の有無により、安定した二値(絵柄が見えるか、見えないか)の観察結果を得ることができ、検証を簡便化することができるため、好ましい。
ここで、図9は、図1に記載の検証装置1を上部から見たときの断面を示す断面概略図である。
Lix≧Ltx×(Do+Di)/Do…(1)
これにより、周期方向において、被検証領域2を観察しやすい大きさとすることができ、小型の検証装置で、被検証領域2全面からの1次回折光を観察者の瞳4aに入射することが可能となる。
なお、光照射手段3の長さLixとは、光源3aの光射出部の長さに対応するものである。
図10に示すように、光照射手段3の中心から被検証領域2の中心である注視点7に引いた線に直交する面7aに光照射手段3を投影したときの、被検証領域2に含まれる微細周期構造の周期方向と同一の方向における前記投影した光照射手段3の長さLiyと、注視点7から観察手段(図10では、観察者の瞳4a)の中心に引いた線に直交する面7bに被検証領域2を投影したときの、被検証領域2に含まれる周期構造の周期方向と同一の方向における前記投影した被検証領域2の長さLtyと、光照射手段3と被検証領域2との距離Diと、被検証領域2と観察手段との距離Doとが、下記式(2)を満たすことが好ましい。
Liy≧Lty×(Do+Di)/Do…(2)
これにより、周期方向に直交する方向において、被検証領域2を観察しやすい大きさとすることができ、小型の検証装置で、被検証領域2全面からの1次回折光を観察者の瞳4aに入射することが可能となる。
なお、光照射手段3の長さLiyとは、光源3aの光射出部の長さに対応するものである。
Claims (9)
- 少なくとも一部に周期が可視光の波長以下である微細周期構造を含む被検証領域を検証するための検証装置であって、
前記被検証領域に照明光を照射する光照射手段と、前記被検証領域より得られる回折光を観察する観察手段と、を備えており、
前記微細周期構造の周期方向を含み前記被検証領域に直交する面が、前記光照射手段及び観察手段を横切るように配置されており、かつ、前記光照射手段及び観察手段が、前記被検証領域の中心である注視点における被検証領域の法線から45度以上の位置に配置されている
ことを特徴とする検証装置。 - 前記光照射手段と観察手段が隣接して配置されていることを特徴とする請求項1に記載の検証装置。
- 前記照明光が拡散光であることを特徴とする請求項1又は2に記載の検証装置。
- 前記光照射手段が、可視光の単色光源を用いていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の検証装置。
- 前記光照射手段が、白色光源を用いていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の検証装置。
- 前記被検証領域に含まれる微細周期構造の周期方向と直交する方向における前記光照射手段の長さLixと、前記長さLixと同一の方向における前記被検証領域の長さLtxと、前記光照射手段と被検証領域との距離Diと、前記被検証領域と観察手段との距離Doとが、下記式(1)を満たすことを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の検証装置。
Lix≧Ltx×(Do+Di)/Do…(1) - 前記光照射手段の中心から前記被検証領域の中心である注視点に引いた線に垂直な面に光照射手段を投影したときの、前記被検証領域に含まれる微細周期構造の周期方向と同一の方向における前記投影した光照射手段の長さLiyと、前記注視点から前記観察手段の中心に引いた線に垂直な面に被検証領域を投影したときの、前記被検証領域に含まれる微細周期構造の周期方向と同一の方向における前記投影した被検証領域の長さLtyと、前記光照射手段と被検証領域との距離Diと、前記被検証領域と観察手段との距離Doとが、下記式(2)を満たすことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の検証装置。
Liy≧Lty×(Do+Di)/Do…(2) - 請求項1乃至7のいずれかに記載の検証装置を用いて検証する被検証領域を有する物品であって、
前記被検証領域に含まれる微細周期構造の形状が絵柄を表現していることを特徴とする物品。 - 前記微細周期構造の周期が200nm以上350nm以下であることを特徴とする請求項8に記載の物品。
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---|---|---|---|---|
WO2016121210A1 (ja) * | 2015-01-26 | 2016-08-04 | 凸版印刷株式会社 | 識別装置、識別方法、識別プログラム、及び識別プログラムを含むコンピュータ可読媒体 |
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A621 | Written request for application examination |
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