JP2009177867A - Electronic apparatus and standby current inspection system - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic apparatus that performs correct inspection of a standby current by detecting a leakage current caused by a circuit fault. <P>SOLUTION: In standby current inspection processing, a main power supply 11 is switched on from an inspection device 31 and an electronic apparatus 1 is in communicable state. An electronic apparatus control section 2 actuates a standby current inspection program by an instruction command for making a transition to a standby current inspection mode received at a communication section 16, and sets a standby current inspection flag (S31). The electronic apparatus control section 2 controls a charge control section 4 to stop charging of a sub-power supply 10 (S32) and to transit to a power saving standby state (S33). By a voltage monitoring section 7, the electronic apparatus control section 2 monitors the voltage of the main power supply 11 constantly (S34) and when a determination is made that the voltage of the main power supply 11 dropped below a predetermined level (Low) as a result of monitoring, the electronic apparatus control section 2 removes the standby current inspection flag (S35). <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、充電可能な副電源を搭載し、待機電流が検査される電子機器および待機電流検査システムに関する。   The present invention relates to an electronic device and a standby current inspection system in which a chargeable sub-power supply is mounted and standby current is inspected.

生産工場や保守サービス拠点では、電子機器の最終検査工程において、待機電流検査が行われている。ここで、待機電流とは、電子機器のメインスイッチがオフしている状態である待機電力時の消費電流のことである。   In production plants and maintenance service bases, standby current inspection is performed in the final inspection process of electronic devices. Here, the standby current is current consumption during standby power in which the main switch of the electronic device is off.

近年の省エネルギ化に伴い、この待機電流は低減されている。また、主電源として、1次電池や2次電池を使用する携帯型の電子機器においては、電池を入れた状態で保存されることを考慮し、待機電流としては、数十μA程度である場合が多い。   With the recent energy saving, this standby current is reduced. Also, in portable electronic devices that use a primary battery or a secondary battery as the main power source, the standby current is about several tens of μA in consideration of storage with the battery inserted. There are many.

また、先に述べた携帯型の電子機器では、主電源が取り外されて保管された場合でも、時計や設定状態の保持が行えるように、これら機能を動作させるために主電源から充電可能なコイン型2次電池などの副電源が使用されている(特許文献1参照)。
特開平8−122881号公報
In the portable electronic device described above, a coin that can be charged from the main power supply to operate these functions so that the clock and settings can be maintained even when the main power supply is removed and stored. A secondary power source such as a type secondary battery is used (see Patent Document 1).
JP-A-8-122881

しかしながら、従来の待機電流検査方法では、これら副電源を有する電気機器の場合、本来の待機電流に副電源への充電電流が含まれるので、副電源への充電電流を含めて待機電流検査の規格値を設定し、検査が行われていた。   However, in the conventional standby current inspection method, in the case of an electrical device having such a secondary power supply, the charging current for the secondary power supply is included in the original standby current, so the standard for standby current inspection including the charging current for the secondary power supply is included. The value was set and the inspection was done.

このため、副電源への充電電流が本来の待機電流検査の規格値より非常に多く、回路異常による漏れ電流が充電電流と同等あるいはそれ以下であった場合、この漏れ電流は充電電流に紛れてしまい、回路異常による漏れ電流を正確に検査できないという問題があった。   For this reason, if the charging current to the secondary power supply is much higher than the standard value of the original standby current inspection, and the leakage current due to a circuit abnormality is equal to or less than the charging current, this leakage current is mixed into the charging current. Therefore, there is a problem that the leakage current due to the circuit abnormality cannot be accurately inspected.

そこで、本発明は、充電電流に紛れてしまうことなく回路異常による漏れ電流を検出することができ、待機電流の検査を正確に行うことができる電子機器および待機電流検査システムを提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an electronic device and a standby current inspection system that can detect a leakage current due to a circuit abnormality without being mixed in with a charging current and can accurately inspect a standby current. And

上記目的を達成するために、本発明の電子機器は、主電源と、前記主電源から充電される副電源と、前記副電源への充電開始および停止を制御する充電制御手段と、待機電流検査処理に移行する移行手段とを備え、前記待機電流検査処理に移行すると、前記充電制御手段は、前記主電源から前記副電源への充電を停止することを特徴とする。   In order to achieve the above object, an electronic device of the present invention includes a main power source, a sub power source charged from the main power source, a charge control means for controlling start and stop of charging to the sub power source, and a standby current test. And a transition means for transitioning to a process, wherein the charge control means stops charging from the main power source to the sub-power source when transitioning to the standby current inspection process.

本発明の待機電流検査システムは、電子機器と前記電子機器の待機電流を検査する検査装置を有する待機電流検査システムにおいて、前記電子機器は、主電源と、前記主電源から充電される副電源と、前記副電源への充電開始および停止を制御する充電制御手段とを備え、前記検査装置は前記電子機器の待機電流検査処理を実行する命令を送信する送信手段と、前記主電源に電源を供給する電源供給手段と、前記主電源への電流を計測する電流計測手段とを備え、前記電子機器は、前記命令を受信すると、前記充電制御手段により前記主電源から前記副電源への充電を停止し、 前記検査装置は、前記電流計測手段によって前記主電源から前記副電源への充電を停止しているときの前記電子機器の待機電流を測定することを特徴とする。   The standby current inspection system of the present invention is a standby current inspection system having an electronic device and an inspection device for inspecting the standby current of the electronic device, wherein the electronic device includes a main power source and a sub power source charged from the main power source. Charging control means for controlling the start and stop of charging of the sub power supply, and the inspection device transmits a command for executing standby current inspection processing of the electronic device, and supplies power to the main power supply. Power supply means, and current measurement means for measuring the current to the main power supply, and when the electronic device receives the command, the charge control means stops charging the main power supply to the sub power supply. And the said inspection apparatus measures the standby current of the said electronic device when the charge from the said main power supply to the said sub-power supply is stopped by the said current measurement means, It is characterized by the above-mentioned.

本発明の待機電流検査システムは、電子機器と前記電子機器の待機電流を検査する検査装置を有する待機電流検査システムにおいて、前記電子機器は、主電源と、前記主電源から充電される副電源と、前記副電源への充電開始および停止を制御する充電制御手段と、前記主電源への電流を計測する電流計測手段を備え、前記検査装置は前記電子機器の待機電流検査処理を実行する命令を送信する送信手段と、前記主電源に電源を供給する電源供給手段とを備え、前記検査装置が前記命令を送信するとともに、前記電子機器が前記命令を受信すると、前記充電制御手段により前記主電源から前記副電源への充電を停止し、前記電流計測手段によって前記主電源から前記副電源への充電を停止しているときの前記電子機器の待機電流を測定することを特徴とする。   The standby current inspection system of the present invention is a standby current inspection system having an electronic device and an inspection device for inspecting the standby current of the electronic device, wherein the electronic device includes a main power source and a sub power source charged from the main power source. A charge control means for controlling the start and stop of charging to the sub power supply, and a current measurement means for measuring the current to the main power supply, wherein the inspection device has a command for executing a standby current inspection process for the electronic device. A transmission means for transmitting; and a power supply means for supplying power to the main power supply. When the inspection apparatus transmits the command and the electronic device receives the command, the charge control means causes the main power supply to The charging of the electronic device is stopped and charging of the electronic device when the charging from the main power supply to the sub power supply is stopped is measured by the current measuring means. The features.

本発明の電子機器もしくは待機電流検査システムによれば、充電電流に紛れてしまうことなく回路異常による漏れ電流を検出することができ、待機電流の検査を正確に行うことができる。   According to the electronic device or the standby current inspection system of the present invention, it is possible to detect a leakage current due to a circuit abnormality without being lost in the charging current, and it is possible to accurately inspect the standby current.

本発明の電子機器および待機電流検査システムの実施の形態について図面を参照しながら説明する。本実施形態の電子機器は携帯型の電子機器に適用される。   Embodiments of an electronic apparatus and a standby current inspection system according to the present invention will be described with reference to the drawings. The electronic device of this embodiment is applied to a portable electronic device.

[第1の実施形態]
図1は第1の実施形態における待機電流検査システムの構成を示すブロック図である。この待機電流検査システムは、電子機器1および検査装置31から構成される。電子機器1は、主電源11、主電源回路ブロック18、副電源10、充電制御部4、情報保持部5、時計計測部6等を有する。主電源回路ブロック18には、電子機器制御部2、電圧監視部7、通信部16、キー入力部17および表示部12が設けられている。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a standby current inspection system according to the first embodiment. This standby current inspection system includes an electronic device 1 and an inspection device 31. The electronic device 1 includes a main power supply 11, a main power supply circuit block 18, a sub power supply 10, a charge control unit 4, an information holding unit 5, a clock measurement unit 6, and the like. The main power supply circuit block 18 includes an electronic device control unit 2, a voltage monitoring unit 7, a communication unit 16, a key input unit 17, and a display unit 12.

電子機器制御部2は、電子機器1全体を制御するためのプログラムに従って、電子機器1の動作状態に応じた、待機状態や通常動作状態の回路制御を行うマイコンで構成される。一般的に、この制御プログラムは、電子機器制御部2に内蔵されているか、あるいは外付けのマスクROM、フラッシュメモリなどに格納されている。   The electronic device control unit 2 is configured by a microcomputer that performs circuit control in a standby state or a normal operation state according to the operation state of the electronic device 1 in accordance with a program for controlling the entire electronic device 1. Generally, this control program is built in the electronic device control unit 2 or stored in an external mask ROM, flash memory, or the like.

また、電子機器制御部2は、バス8を経由し、充電制御部4、情報保持部5、時計計測部6および表示部12に対し、設定情報や制御命令に関するデータの書込みや読み出しを行う。   In addition, the electronic device control unit 2 writes and reads data related to setting information and control commands to the charging control unit 4, the information holding unit 5, the clock measurement unit 6, and the display unit 12 via the bus 8.

待機電流検査プログラム3は、電子機器制御部2に格納された制御プログラムのうち、待機電流検査処理に関するプログラムを示し、このプログラムを実行することによって、待機電流検査処理が実現される。この待機電流検査処理の詳細については、後述するフローチャートを用いて説明する。概略的な動作として、電子機器制御部2は、これと接続される通信部16が待機電流検査プログラム3を実行する通信コマンドを受信することや、キー入力部17から特定のキー操作を受け付けることによって、待機電流検査プログラム3を実行する。   The standby current inspection program 3 indicates a program related to the standby current inspection process among the control programs stored in the electronic device control unit 2, and the standby current inspection process is realized by executing this program. Details of the standby current inspection process will be described with reference to a flowchart described later. As a schematic operation, the electronic device control unit 2 receives a communication command for the communication unit 16 connected thereto to execute the standby current inspection program 3 or receives a specific key operation from the key input unit 17. Thus, the standby current inspection program 3 is executed.

充電制御部4は副電源10への充電開始や充電停止を制御する。すなわち、充電制御部4は、バス8を経由した電子機器制御部2の指示に従い、そのレジスタに設定された状態に応じて、副電源10と主電源11との電源接続経路を、短絡(充電開始)あるいは開放(充電停止)する。なお、充電制御部4は請求項に記載の充電制御手段に相当する。   The charge controller 4 controls the start and stop of charging of the sub power supply 10. That is, the charging control unit 4 short-circuits (charges) the power supply connection path between the sub power supply 10 and the main power supply 11 according to the state set in the register according to the instruction of the electronic device control unit 2 via the bus 8. Start) or release (stop charging). The charge control unit 4 corresponds to the charge control means described in the claims.

また、充電制御部4により副電源10へ充電停止が行われた場合、充電電流は消費されないので、待機電流検査モード時、精度の高い待機電流検査が可能となる。   In addition, when charging is stopped to the sub power source 10 by the charging control unit 4, the charging current is not consumed, so that the standby current inspection with high accuracy can be performed in the standby current inspection mode.

情報保持部5は、副電源10に主電源11による給電が遮断された場合でも、電子機器1に関する各種設定情報などを保持するための格納メモリである。また、この情報保持部5には、副電源10により常時電源が供給されている。   The information holding unit 5 is a storage memory for holding various setting information related to the electronic device 1 even when the power supply by the main power supply 11 is interrupted to the sub power supply 10. The information holding unit 5 is always supplied with power by the sub power supply 10.

時計計測部6は、年月日や時刻を計測するリアルタイムクロック機能、およびタイマカウンタ機能を備え、そのレジスタに設定されたタイマ時間経過後、電子機器制御部2に通知することも可能である。時計計測部6には、副電源10により常時電源が供給されている。   The clock measurement unit 6 has a real-time clock function for measuring date and time and a timer counter function, and can also notify the electronic device control unit 2 after the timer time set in the register has elapsed. The clock measuring unit 6 is always supplied with power by the sub power supply 10.

電圧監視部(電圧検出手段)7は、主電源11の電圧を監視しており、この電圧が所定電圧以下か否かを判定し、この判定結果に応じて、電子機器制御部2にリセット処理を行う。本実施形態においては、充電制御部4、情報保持部5および時計計測部6は、電子機器制御部2とバス8を経由して接続されているが、電子機器制御部2の汎用入出力ポートや通信ポートにより接続されてもよい。   The voltage monitoring unit (voltage detection means) 7 monitors the voltage of the main power supply 11, determines whether or not this voltage is equal to or lower than a predetermined voltage, and resets the electronic device control unit 2 according to the determination result. I do. In the present embodiment, the charging control unit 4, the information holding unit 5, and the clock measurement unit 6 are connected to the electronic device control unit 2 via the bus 8. Or a communication port.

副電源10は、コイン型2次電池やスーパーキャパシタンスなどの充電可能な電源である。制限抵抗9は副電源10への充電電流を抑制する抵抗である。主電源11により副電源10に電源が供給されている場合、副電源10の電圧が所定の充電電圧になるまで、充電電流Icで充電が行われる。この充電電流Icは、主電源回路ブロック18の待機状態で流れる電流Isや、回路異常による漏れ電流Ilに対して十分に大きな電流である。   The sub power supply 10 is a rechargeable power supply such as a coin-type secondary battery or a supercapacitance. The limiting resistor 9 is a resistor that suppresses the charging current to the sub power supply 10. When the main power supply 11 supplies power to the sub power supply 10, charging is performed with the charging current Ic until the voltage of the sub power supply 10 reaches a predetermined charging voltage. This charging current Ic is sufficiently larger than the current Is flowing in the standby state of the main power supply circuit block 18 and the leakage current Il due to circuit abnormality.

主電源11は、電子機器1の回路全体へ電源を供給する電源供給部である。主電源11として、DC電源、単三型電池などに代表される一次電池、リチウムイオン電池などに代表される二次電池などが使用可能である。また、主電源11に対し、検査装置31の検査電源35から電源を供給することも可能である。   The main power supply 11 is a power supply unit that supplies power to the entire circuit of the electronic device 1. As the main power source 11, a DC power source, a primary battery typified by an AA battery, a secondary battery typified by a lithium ion battery, or the like can be used. It is also possible to supply power from the inspection power supply 35 of the inspection apparatus 31 to the main power supply 11.

表示部12は、セグメントLCD方式やドットマトリクスTFT方式に代表される薄型液晶パネル、その表示回路、およびTV機器などに表示するためのビデオ信号出力回路を有する。表示部12は、電子機器1における通常使用時のメニューや、その他の映像信号の表示を行うだけでなく、待機電流検査モードにおいて、副電源10の異常時の警告表示や、検査結果の表示を行うことも可能である。   The display unit 12 includes a thin liquid crystal panel typified by a segment LCD method or a dot matrix TFT method, a display circuit thereof, and a video signal output circuit for displaying on a TV device or the like. The display unit 12 not only displays a menu during normal use in the electronic device 1 and other video signals, but also displays a warning display and an inspection result display when the sub power supply 10 is abnormal in the standby current inspection mode. It is also possible to do this.

検査時間設定部13は、待機電流検査モードの移行時、電子機器制御部2の揮発性メモリ19に予約されるメモリ領域に対し、あらかじめ設定された初期値を設定し、また、通信部16やキー入力部17により任意の時間を設定する。   The inspection time setting unit 13 sets a preset initial value for the memory area reserved in the volatile memory 19 of the electronic device control unit 2 when the standby current inspection mode is shifted, An arbitrary time is set by the key input unit 17.

通信部16は、有線シリアル通信、LANあるいは赤外線による無線通信で、電子機器1と検査装置31を接続することにより、データ転送可能な通信回路である。また、通信部16は、待機電流検査モードの移行に関する通信データの送受信だけでなく、電子機器1の一般動作における各種の通信データの送受信も行う。   The communication unit 16 is a communication circuit capable of transferring data by connecting the electronic device 1 and the inspection device 31 by wired serial communication, LAN, or wireless communication using infrared rays. Further, the communication unit 16 performs not only transmission / reception of communication data related to transition to the standby current inspection mode but also transmission / reception of various communication data in the general operation of the electronic device 1.

キー入力部17は、前述したように、主電源回路ブロック18に設けられ、押しボタン入力、方向キー入力、アナログキー入力、タッチパネル入力、静電容量検出入力、非接触型入力など、種々の操作におけるキー入力可能な回路である。また、キー入力部17には、電子機器1の一般動作における各種キー操作、例えばメインスイッチON/OFF、選択スイッチ、方向キー入力、設定スイッチ、キャンセルスイッチ、機能スイッチ、メニュースイッチなども割り当てられる。また、キー入力部17において、待機電流検査モードの移行に関する特定のキーの操作が、電子機器制御部2によって認識されると、待機電流検査処理プログラムが起動する。   As described above, the key input unit 17 is provided in the main power supply circuit block 18 and performs various operations such as push button input, direction key input, analog key input, touch panel input, capacitance detection input, and non-contact input. This is a circuit capable of key input. The key input unit 17 is also assigned various key operations in the general operation of the electronic device 1, such as main switch ON / OFF, selection switch, direction key input, setting switch, cancel switch, function switch, menu switch, and the like. Further, when the operation of a specific key related to the transition to the standby current inspection mode is recognized by the electronic device control unit 2 in the key input unit 17, the standby current inspection processing program is started.

主電源回路ブロック18には、主電源11から電源が供給される回路が総じて含まれており、電流Isの電源が主電源回路ブロック18に供給される。電子機器1の動作状態に応じて、主電源回路ブロック18内の各部の動作電流も異なっており、想定される電流Isの電流値は、数十uA〜数百mAと広範囲である。   The main power supply circuit block 18 generally includes circuits to which power is supplied from the main power supply 11, and the power of current Is is supplied to the main power supply circuit block 18. Depending on the operating state of the electronic device 1, the operating current of each part in the main power supply circuit block 18 is also different, and the assumed current value of the current Is ranges from several tens of uA to several hundred mA.

電子機器制御部2は、待機状態において、動作周波数を低速に切り替えるなどの省電力動作を行うとともに、動作不要な回路部の動作を停止させて回路電源を切ることで、省電力化を図っている。   In the standby state, the electronic device control unit 2 performs a power saving operation such as switching the operating frequency to a low speed, and also stops the operation of the circuit unit that does not require the operation to turn off the circuit power to save power. Yes.

揮発性メモリ19は、電子機器制御部2に内蔵されたRAM等のメモリであり、電子機器1のプログラムワーク領域、変数領域、スタック領域などに割り当てられる。また、後述する待機電流検査モードの状態を示す待機電流検査フラグも揮発性メモリ19に確保される。揮発性メモリ19は、主電源11からの電源供給が停止されると、内容を保持することができないので、起動時に初期化を行う必要がある。   The volatile memory 19 is a memory such as a RAM built in the electronic device control unit 2 and is allocated to a program work area, a variable area, a stack area, and the like of the electronic device 1. Further, a standby current inspection flag indicating a state of a standby current inspection mode described later is also secured in the volatile memory 19. Since the volatile memory 19 cannot retain the contents when the power supply from the main power supply 11 is stopped, it must be initialized at the time of startup.

通信端子部20は、電子機器1の通信部16が検査装置31の通信部36と通信を行うための端子部である。この通信端子部20は、検査装置31との通信だけでなく、電子機器1の一般的な動作における通信の端子として兼用される。   The communication terminal unit 20 is a terminal unit for the communication unit 16 of the electronic device 1 to communicate with the communication unit 36 of the inspection apparatus 31. The communication terminal unit 20 is used not only for communication with the inspection apparatus 31 but also as a communication terminal in general operation of the electronic device 1.

一方、検査装置31は、電子機器1の待機電流検査を行うものである。検査装置31は、検査制御部32、電流計測部33、検査電源35、通信部36および表示部34を有する。検査制御部32は、検査装置31全体を制御するためのプログラムに従って、回路制御を行うマイコンで構成される。一般的に、この制御プログラムは、検査制御部32に内蔵あるいは外付けのマスクROMや、フラッシュメモリなどに格納されている。   On the other hand, the inspection device 31 performs standby current inspection of the electronic device 1. The inspection device 31 includes an inspection control unit 32, a current measurement unit 33, an inspection power source 35, a communication unit 36, and a display unit 34. The inspection control unit 32 is configured by a microcomputer that performs circuit control according to a program for controlling the entire inspection apparatus 31. In general, this control program is stored in a mask ROM, a flash memory, or the like that is built in or external to the inspection control unit 32.

また、検査制御部32は、電流計測部(電流計)33、検査電源35、通信部36および表示部34に対し、設定情報や制御命令に関するデータの書込みおよび読み出しを行う。電流計33は、検査電源35から電子機器1への電流を計測する。検査制御部32は、電流計33で測定された電流値を読み取る。   The inspection control unit 32 writes and reads data related to setting information and control commands to and from the current measurement unit (ammeter) 33, the inspection power source 35, the communication unit 36, and the display unit 34. The ammeter 33 measures the current from the inspection power supply 35 to the electronic device 1. The inspection control unit 32 reads the current value measured by the ammeter 33.

表示部34は、セグメントLCD方式やドットマトリクスTFT方式に代表される薄型液晶パネル、およびその表示回路からなる。表示部34は、電流計33の計測結果から、検査制御部32で検査した結果を表示する。検査電源35は、電子機器1の主電源11に供給される検査用電源である。この検査用電源は、定電圧源により供給され、回路異常による過電流時、電子機器1の故障を防ぐために、出力が停止する機能を有する。通信部36は、電子機器1の通信端子部20を介して、通信部16と通信するための通信回路を有しており、検査情報の送受信が可能である。   The display unit 34 includes a thin liquid crystal panel typified by a segment LCD system and a dot matrix TFT system, and a display circuit thereof. The display unit 34 displays the result of inspection by the inspection control unit 32 from the measurement result of the ammeter 33. The inspection power source 35 is an inspection power source supplied to the main power source 11 of the electronic device 1. The power supply for inspection is supplied from a constant voltage source and has a function of stopping output in order to prevent a failure of the electronic device 1 when an overcurrent occurs due to a circuit abnormality. The communication unit 36 includes a communication circuit for communicating with the communication unit 16 via the communication terminal unit 20 of the electronic device 1, and can transmit and receive inspection information.

なお、図1には、電子機器1に発生した、予期せぬ回路異常を示す回路異常部99が示されている。例えば、回路異常として、ハンダ不良による隣接ピンのショート、静電気、あるいは基板実装時の温度ストレスによるIC動作異常などが考えられる。回路異常部99を有する電子機器1では、本来起こり得ない電流Ilのルートが発生することになる。   FIG. 1 shows a circuit abnormality portion 99 indicating an unexpected circuit abnormality that has occurred in the electronic apparatus 1. For example, as a circuit abnormality, an adjacent pin short due to a solder failure, static electricity, or an IC operation abnormality due to temperature stress during mounting on the board can be considered. In the electronic device 1 having the circuit abnormality portion 99, a route of the current Il that cannot occur originally occurs.

上記構成を有する待機電流検査システムの動作を示す。図2は電子機器1の起動処理手順を示すフローチャートである。この処理プログラムは、電子機器制御部2内の記憶媒体(図示せず)に格納されており、電子機器制御部2内のCPUによって実行される。起動時、使用者によって電子機器1の主電源11が投入されると、電子機器制御部2は起動処理を開始する。   The operation of the standby current inspection system having the above configuration will be described. FIG. 2 is a flowchart showing a startup processing procedure of the electronic device 1. This processing program is stored in a storage medium (not shown) in the electronic device control unit 2 and is executed by the CPU in the electronic device control unit 2. When the main power supply 11 of the electronic device 1 is turned on by the user at the time of activation, the electronic device control unit 2 starts the activation process.

まず、電子機器制御部2は、起動直後、所定の初期設定を行う(ステップS1)。初期設定終了後、電子機器制御部2は、動作不要な回路部の動作を停止させ、動作周波数を低速化させることで、電子機器1を省電力待機状態に移行させる(ステップS2)。   First, the electronic device control unit 2 performs predetermined initial settings immediately after startup (step S1). After completion of the initial setting, the electronic device control unit 2 causes the electronic device 1 to shift to the power saving standby state by stopping the operation of the circuit unit that does not require operation and reducing the operation frequency (step S2).

そして、電子機器制御部2は、キー入力部17のキー入力状態もしくは通信部16の受信状態を取得する(ステップS3)。取得した結果、電子機器制御部2は、待機電流検査プログラム3を実行するための所定のキー操作があったか否か、待機電流検査プログラム3を実行するための通信コマンドを受信したか否かを判別する(ステップS4)。   And the electronic device control part 2 acquires the key input state of the key input part 17, or the reception state of the communication part 16 (step S3). As a result of the acquisition, the electronic device control unit 2 determines whether or not a predetermined key operation for executing the standby current inspection program 3 has been performed, and whether or not a communication command for executing the standby current inspection program 3 has been received. (Step S4).

待機電流検査プログラム3を実行するための所定のキー操作があった場合、もしくは待機電流検査プログラム3を実行するための通信コマンドを受信した場合、電子機器制御部2は、待機電流検査プログラム3を実行する(ステップS5)。この待機電流検査処理の詳細については後述する。この後、ステップS2の処理に戻る。   When there is a predetermined key operation for executing the standby current inspection program 3, or when a communication command for executing the standby current inspection program 3 is received, the electronic device control unit 2 sets the standby current inspection program 3 to Execute (Step S5). Details of the standby current inspection process will be described later. Thereafter, the process returns to step S2.

一方、ステップS4で待機電流検査モードに移行させるための所定のキー操作でなかった場合、電子機器制御部2は、メインスイッチの操作状態を判別する(ステップS6)。メインスイッチがONである場合、電子機器制御部2は、電子機器1のメイン処理を行う(ステップS7)。この電子機器1のメイン処理の詳細については後述する。この後、電子機器制御部2は本処理を終了する。一方、メインスイッチがOFFである場合、電子機器制御部2は、再びステップS3の処理に戻り、キー入力状態の再取得を行う。   On the other hand, when it is not a predetermined key operation for shifting to the standby current inspection mode in step S4, the electronic device control unit 2 determines the operation state of the main switch (step S6). When the main switch is ON, the electronic device control unit 2 performs the main process of the electronic device 1 (step S7). Details of the main process of the electronic apparatus 1 will be described later. Thereafter, the electronic device control unit 2 ends this process. On the other hand, when the main switch is OFF, the electronic device control unit 2 returns to the process of step S3 again, and reacquires the key input state.

このように、電子機器1は、起動直後、待機状態のまま、キー入力部17のキー状態を監視し続け、メインスイッチONあるいは待機電流検査モード移行のいずれかの状態変化を待つことになる。   In this way, the electronic device 1 continues to monitor the key state of the key input unit 17 in the standby state immediately after startup, and waits for a state change of either the main switch ON or the standby current inspection mode transition.

図3はステップS7における電子機器1のメイン処理手順を示すフローチャートである。電子機器制御部2は、まず、待機電流検査フラグの内容を確認する(ステップS11)。待機電流検査フラグが設定されている場合、電子機器制御部2はそのままステップS13の処理に進む。一方、待機電流検査フラグが設定されておらず、解除されている場合、電子機器制御部2は、充電制御部4に対し、副電源10への充電の開始(または再開)を指示する(ステップS12)。   FIG. 3 is a flowchart showing a main processing procedure of the electronic apparatus 1 in step S7. The electronic device control unit 2 first confirms the content of the standby current inspection flag (step S11). When the standby current inspection flag is set, the electronic device control unit 2 proceeds to the process of step S13 as it is. On the other hand, when the standby current inspection flag is not set and is released, the electronic device control unit 2 instructs the charging control unit 4 to start (or resume) charging of the sub power supply 10 (step). S12).

電子機器制御部2は、通信部16の初期設定を行い、通信部16を検査装置31や外部装置(図示せず)から通信可能な状態に設定する(ステップS13)。電子機器制御部2は、表示部12の電源を投入し、所定の表示に関する設定を行う(ステップS14)。   The electronic device control unit 2 performs initial setting of the communication unit 16 and sets the communication unit 16 in a state in which communication is possible from the inspection device 31 or an external device (not shown) (step S13). The electronic device control unit 2 turns on the power of the display unit 12 and performs settings related to a predetermined display (step S14).

さらに、電子機器制御部2は、電子機器1の機能に係わる回路を動作させるための各種設定を行い、電子機器1を通常動作可能にする(ステップS15)。例えば、電子機器1が音楽再生機器であった場合、電子機器1の機能に係わる回路は、音楽再生におけるストリームデータから音信号に変換する回路や、ヘッドフォンへの出力回路などである。また、電子機器1が電子撮像機器であった場合、電子機器1の機能に係わる回路は、レンズ駆動回路、シャッタ回路、測光/測距回路、CCDやCMOSからなる撮像素子、アナログ−デジタル変換回路、画像処理回路などである。   Furthermore, the electronic device control unit 2 performs various settings for operating the circuit related to the function of the electronic device 1, and enables the electronic device 1 to operate normally (step S15). For example, when the electronic device 1 is a music playback device, a circuit related to the function of the electronic device 1 is a circuit that converts stream data into a sound signal in music playback, an output circuit to headphones, and the like. When the electronic device 1 is an electronic imaging device, the circuits related to the functions of the electronic device 1 include a lens driving circuit, a shutter circuit, a photometry / ranging circuit, an image sensor composed of a CCD or a CMOS, and an analog-digital conversion circuit. An image processing circuit.

電子機器制御部2は、キー入力部17のキー入力状態を取得する(ステップS16)。キー入力操作があった場合、電子機器制御部2は、そのキー入力操作に応じて、電子機器1の各機能に関する処理を行う(ステップS17)。この処理を実行した後、電子機器制御部2は、再度、ステップS16の処理に戻り、キー入力状態を取得する。   The electronic device control unit 2 acquires the key input state of the key input unit 17 (step S16). When there is a key input operation, the electronic device control unit 2 performs processing related to each function of the electronic device 1 in accordance with the key input operation (step S17). After executing this process, the electronic device control unit 2 returns to the process of step S16 again and acquires the key input state.

ステップS16でキー入力状態を取得した結果、キー入力操作の更新がない場合、電子機器制御部2は、メインスイッチの状態を確認する(ステップS18)。メインスイッチがOFFになった場合、電子機器制御部2は、待機電流検査フラグを確認する(ステップS19)。   If the key input operation has not been updated as a result of acquiring the key input state in step S16, the electronic device control unit 2 checks the state of the main switch (step S18). When the main switch is turned off, the electronic device control unit 2 checks the standby current inspection flag (step S19).

待機電流検査フラグが設定されている場合、ステップS5と同様、待機電流検査プログラム3を実行する(ステップS20)。この待機電流検査処理の詳細については後述する。この後、電子機器制御部2はステップS11の処理に戻る。また、ステップS19で待機電流検査フラグが設定されていない場合、電子機器制御部2は、通常の待機状態に移行するため、図2のステップS2の待機処理に戻る。   When the standby current inspection flag is set, the standby current inspection program 3 is executed as in step S5 (step S20). Details of the standby current inspection process will be described later. Thereafter, the electronic device control unit 2 returns to the process of step S11. If the standby current inspection flag is not set in step S19, the electronic device control unit 2 returns to the standby process in step S2 of FIG. 2 in order to shift to the normal standby state.

一方、ステップS18でメインスイッチがONのままである場合、電子機器制御部2は、通信部16の受信バッファにおける、検査装置31やその他の外部装置からの通信コマンドの有無を確認する(ステップS21)。通信コマンドの受信がない場合、電子機器制御部2は、ステップS16の処理に戻り、再度、キー入力操作の更新を確認する。   On the other hand, when the main switch remains ON in step S18, the electronic device control unit 2 confirms the presence or absence of a communication command from the inspection device 31 or other external device in the reception buffer of the communication unit 16 (step S21). ). When the communication command is not received, the electronic device control unit 2 returns to the process of step S16 and confirms the update of the key input operation again.

一方、通信コマンドの受信があった場合、電子機器制御部2は、受信した通信コマンドを解析する(ステップS22)。電子機器制御部2は、解析の結果、通信コマンドが待機電流検査プログラム3の実行に関するコマンドであるか否かを判別する(ステップS23)。通信コマンドが待機電流検査プログラム3の実行に関するコマンドであった場合、電子機器制御部2は、ステップS20で待機電流検査プログラム3を実行する。   On the other hand, when the communication command is received, the electronic device control unit 2 analyzes the received communication command (step S22). As a result of the analysis, the electronic device control unit 2 determines whether or not the communication command is a command related to execution of the standby current inspection program 3 (step S23). When the communication command is a command related to the execution of the standby current inspection program 3, the electronic device control unit 2 executes the standby current inspection program 3 in step S20.

一方、ステップS23で、受信した通信コマンドが通常動作に関する各種コマンドであった場合、電子機器制御部2はそのコマンドに応じた処理を実行する(ステップS24)。この後、電子機器制御部2はステップS16の処理に戻る。   On the other hand, when the received communication command is various commands related to the normal operation in step S23, the electronic device control unit 2 executes processing according to the command (step S24). Thereafter, the electronic device control unit 2 returns to the process of step S16.

このように、電子機器1は、通常動作状態で充電電流の影響が少ないため、待機状態から通常動作状態に切り替わる際、副電源10への充電を再開し、副電源10の電圧低下を軽減する。また、通信により待機電流検査モードに移行することが可能であるので、検査工程時、他の検査と連動して速やかな待機電流検査が可能となる。なお、待機電流検査モードでは、電子機器1および検査装置31を用いて、後述するように、待機電流検査が行われる。また、この待機電流検査では、検査装置31から主電源11に電源が供給される。なお、検査装置31から主電源11に供給される電源の電圧は、起動時、使用者によって投入された電子機器1の主電源11の電圧より高く設定されている。   As described above, since the electronic device 1 is less affected by the charging current in the normal operation state, when the electronic device 1 is switched from the standby state to the normal operation state, the charging of the sub power source 10 is resumed and the voltage drop of the sub power source 10 is reduced. . Further, since it is possible to shift to the standby current inspection mode by communication, it is possible to perform a quick standby current inspection in conjunction with other inspections during the inspection process. In the standby current inspection mode, the standby current inspection is performed using the electronic device 1 and the inspection device 31 as described later. In this standby current inspection, power is supplied from the inspection device 31 to the main power supply 11. In addition, the voltage of the power supply supplied to the main power supply 11 from the inspection apparatus 31 is set higher than the voltage of the main power supply 11 of the electronic device 1 input by the user at the time of starting.

図4はステップS5、ステップS20における待機電流検査処理を示すフローチャートである。まず、電子機器制御部2は、揮発性メモリ19の所定の領域に、待機電流検査モードを示す待機電流検査フラグを設定する(ステップS31)。   FIG. 4 is a flowchart showing the standby current inspection process in steps S5 and S20. First, the electronic device control unit 2 sets a standby current inspection flag indicating a standby current inspection mode in a predetermined area of the volatile memory 19 (step S31).

電子機器制御部2は、充電制御部4に対し、副電源10への充電を停止させる(ステップS32)。副電源10への充電停止後、電子機器制御部2は、動作不要な回路部の動作を停止させ、動作周波数を低速化させることで、省電力待機状態に移行させる(ステップS33)。   The electronic device control unit 2 causes the charge control unit 4 to stop charging the sub power source 10 (step S32). After the charging to the sub power supply 10 is stopped, the electronic device control unit 2 stops the operation of the circuit unit that does not need to operate and shifts the operating frequency to a power saving standby state (step S33).

この省電力待機状態において、電子機器制御部2は、電圧監視部7により、主電源11の電圧を常時監視している(ステップS34)。すなわち、電圧監視部7により監視される主電源11の電圧が所定電圧より高い(High)と判断された場合、電子機器制御部2はステップS34の処理を繰り返し、監視を継続させる。なお、この所定電圧としては、例えば、起動時、使用者によって投入された主電源11の電圧であってもよい。   In this power saving standby state, the electronic device control unit 2 constantly monitors the voltage of the main power supply 11 by the voltage monitoring unit 7 (step S34). That is, when it is determined that the voltage of the main power supply 11 monitored by the voltage monitoring unit 7 is higher than the predetermined voltage (High), the electronic device control unit 2 repeats the process of step S34 and continues monitoring. The predetermined voltage may be, for example, the voltage of the main power supply 11 that is turned on by the user at the time of startup.

一方、監視の結果、主電源11の電圧が降下し、所定電圧以下である(Low)と判断された場合、電子機器制御部2は、検査装置31から主電源11に電源が供給されなくなったとして、リセット制御を行う(ステップS35)。このリセット制御において、電子機器制御部2は、待機電流検査フラグを解除するとともに、これを含む揮発性メモリ19を初期化する。この後、電子機器制御部2は、元の処理におけるステップS2あるいはS11の処理に復帰する。なお、ステップS35の処理は解除手段に相当する。   On the other hand, as a result of monitoring, when it is determined that the voltage of the main power supply 11 drops and is equal to or lower than the predetermined voltage (Low), the electronic device control unit 2 stops supplying power from the inspection device 31 to the main power supply 11. Then, reset control is performed (step S35). In this reset control, the electronic device control unit 2 cancels the standby current inspection flag and initializes the volatile memory 19 including the standby current inspection flag. Thereafter, the electronic device control unit 2 returns to the process of step S2 or S11 in the original process. Note that the process of step S35 corresponds to a canceling unit.

図5は待機電流検査を行うときの検査装置31の動作を示すフローチャートである。検査装置31の動作プログラムは、検査制御部32内の記憶媒体(図示せず)に格納されており、検査制御部32内のCPUによって実行される。検査を開始するために、使用者によって検査電源35が投入される。まず、検査制御部32は、電子機器1の主電源11に電源を供給する(ステップS41)。そして、検査制御部32は、通信部36を介して、電子機器1の通信部16に待機電流検査プログラム3を実行するための命令コマンド(命令)を送信する(ステップS42)。   FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the inspection apparatus 31 when the standby current inspection is performed. The operation program of the inspection apparatus 31 is stored in a storage medium (not shown) in the inspection control unit 32 and is executed by the CPU in the inspection control unit 32. In order to start the inspection, the inspection power source 35 is turned on by the user. First, the inspection control unit 32 supplies power to the main power supply 11 of the electronic device 1 (step S41). And the test | inspection control part 32 transmits the command command (command) for performing the stand-by current test | inspection program 3 to the communication part 16 of the electronic device 1 via the communication part 36 (step S42).

検査制御部32は、電子機器1が待機電流検査プログラム3を実行するための十分な時間を待ち、電流計33により電子機器1の主電源11に供給される電流値を測定する(ステップS43)。   The inspection control unit 32 waits for a sufficient time for the electronic device 1 to execute the standby current inspection program 3, and measures the current value supplied to the main power supply 11 of the electronic device 1 by the ammeter 33 (step S43). .

検査制御部32は、ステップS43で測定した電流値と検査規格値を比較し、測定した電流値が規格値の範囲内に入るか否かを判定し、判定した結果を、表示部34に表示して通知する(ステップS44)。つまり、判定の結果、正常である場合、ステップS43の計測では、主電源回路ブロック18に流れる電流Isのみが計測される。一方、回路異常部99が発生している場合、測定した電流値は、電流Isに漏れ電流Ilが加わったものになる。ここで、待機電流の検査規格値を、漏れ電流Ilが検出可能なように想定された範囲に設定しておくことで、漏れ電流Ilによる異常が判定可能となる。   The inspection control unit 32 compares the current value measured in step S43 with the inspection standard value, determines whether or not the measured current value falls within the range of the standard value, and displays the determination result on the display unit 34. (Step S44). That is, if the result of determination is normal, only the current Is flowing through the main power supply circuit block 18 is measured in the measurement of step S43. On the other hand, when the circuit abnormal part 99 has occurred, the measured current value is obtained by adding the leakage current Il to the current Is. Here, by setting the inspection standard value of the standby current within a range assumed so that the leakage current Il can be detected, an abnormality due to the leakage current Il can be determined.

検査が終了すると、検査制御部32は、検査電源35を停止し、電子機器1の主電源11への電源供給を停止する(ステップS45)。そして、検査制御部32は本処理を終了する。   When the inspection is completed, the inspection control unit 32 stops the inspection power source 35 and stops the power supply to the main power source 11 of the electronic device 1 (step S45). Then, the inspection control unit 32 ends this process.

第1の実施形態における、電子機器と検査装置を用いた待機電流検査方法では、待機電流検査モードにおいて、電子機器は、充電電流を停止して待機状態に移行し、この間、検査装置は待機電流の検査を行う。これにより、充電電流を含まない正確な待機電流検査が可能となる。   In the standby current inspection method using the electronic device and the inspection device according to the first embodiment, in the standby current inspection mode, the electronic device stops the charging current and shifts to the standby state. Perform the inspection. As a result, an accurate standby current inspection that does not include the charging current can be performed.

なお、本実施形態では、揮発性メモリ19に待機電流検査フラグを設定しているが、情報保持部5のようなバックアップ可能なメモリに、待機電流検査フラグを設定してもよい。これにより、主電源11の電源供給が停止されても、その設定は有効になる。検査工程などで、主電源11の投入、停止が頻繁に行われる場合、設定情報が保持されるので、待機電流検査モードの設定回数を減少させることが可能である。   In this embodiment, the standby current inspection flag is set in the volatile memory 19, but the standby current inspection flag may be set in a backupable memory such as the information holding unit 5. Thereby, even if the power supply of the main power supply 11 is stopped, the setting becomes effective. If the main power supply 11 is frequently turned on and off in an inspection process or the like, the setting information is retained, so that the number of times of setting of the standby current inspection mode can be reduced.

また、ステップS4における待機電流検査モードに移行させるための所定のキー操作、ステップS19における待機電流検査フラグの設定、あるいはステップS23における待機電流検査の移行に関するコマンドは、請求項に記載の待機電流検査を指示する指示手段に相当する。   The predetermined key operation for shifting to the standby current inspection mode in step S4, the setting of the standby current inspection flag in step S19, or the command relating to the transition of the standby current inspection in step S23 is the standby current inspection described in the claims. It corresponds to an instruction means for instructing.

[第2の実施形態]
第2の実施形態における電子機器および検査装置の構成は、前記第1の実施形態と同じであるので、その説明を省略する。ここでは、前記第1の実施形態と異なる動作を示す。
[Second Embodiment]
Since the configurations of the electronic device and the inspection apparatus in the second embodiment are the same as those in the first embodiment, description thereof will be omitted. Here, operations different from those of the first embodiment are shown.

図6は第2の実施形態のステップS5、S20における待機電流検査処理を示すフローチャートである。待機電流検査処理プログラム3は、電子機器制御部2内に格納されており、電子機器制御部2内のCPUによって実行される。   FIG. 6 is a flowchart showing the standby current inspection process in steps S5 and S20 of the second embodiment. The standby current inspection processing program 3 is stored in the electronic device control unit 2 and is executed by the CPU in the electronic device control unit 2.

電子機器制御部2は、待機電流検査プログラム3を起動させると、まず、検査時間設定部13の時間設定値を、時計計測部6内のタイマカウンタ機能のレジスタに設定する(ステップS51)。そして、電子機器制御部2は、充電制御部4に対し、副電源10への充電を停止させる(ステップS52)。   When the electronic device control unit 2 starts up the standby current inspection program 3, first, the time setting value of the inspection time setting unit 13 is set in the register of the timer counter function in the clock measurement unit 6 (step S51). Then, the electronic device control unit 2 causes the charge control unit 4 to stop charging the sub power source 10 (step S52).

電子機器制御部2は、副電源10への充電停止後、動作不要な回路部の動作を停止させ、動作周波数を低速化させることで、省電力待機状態に移行させる(ステップS53)。   After stopping the charging of the sub power supply 10, the electronic device control unit 2 stops the operation of the circuit unit that does not need to operate, and lowers the operating frequency to shift to the power saving standby state (step S53).

この直後、電子機器制御部2は、時計計測部6内のタイマカウンタ機能の動作を開始させる(ステップS54)。タイマカウンタ機能は、1カウントずつカウントダウンを行う。電子機器制御部2は、時計計測部6からの通知によりタイマカウンタが値0以下になるのを待つ(ステップS55)。タイマカウンタが値0以下になると、時計計測部6はタイマカウンタ経過を電子機器制御部2に通知する。なお、ステップS54、ステップS55の処理は時間計測手段に相当する。   Immediately after this, the electronic device control unit 2 starts the operation of the timer counter function in the clock measurement unit 6 (step S54). The timer counter function counts down one count at a time. The electronic device control unit 2 waits for the timer counter to become 0 or less by the notification from the clock measurement unit 6 (step S55). When the timer counter becomes 0 or less, the timepiece measurement unit 6 notifies the electronic device control unit 2 that the timer counter has elapsed. In addition, the process of step S54 and step S55 is equivalent to a time measurement means.

電子機器制御部2は、時計計測部6からのタイマカウンタ経過の通知を受けると、充電制御部4に対し、副電源10への充電を再開させる(ステップS56)。この後、電子機器制御部2は、元の処理におけるステップS2あるいはステップS11の処理に復帰することになる。なお、この待機電流検査処理では、待機電流検査フラグは使用されず、初期値として設定されたままである。   When the electronic device control unit 2 receives a notification of the progress of the timer counter from the clock measurement unit 6, the electronic device control unit 2 causes the charge control unit 4 to resume charging to the sub power source 10 (step S56). Thereafter, the electronic device control unit 2 returns to the process of step S2 or step S11 in the original process. In this standby current inspection process, the standby current inspection flag is not used and remains set as an initial value.

このように、第2の実施形態における電子機器は、充電電流を停止し、待機状態に移行後、所定時間内のみ待機電流検査プログラム3を実行する。この間、検査装置により待機電流の検査を行うことが可能となる。従って、待機電流検査フラグの解除忘れを低減できる。また、副電源へ充電停止の状態を最小限に留めることができる。   As described above, the electronic device according to the second embodiment stops the charging current and executes the standby current inspection program 3 only within a predetermined time after shifting to the standby state. During this time, the standby current can be inspected by the inspection device. Therefore, forgetting to release the standby current inspection flag can be reduced. In addition, it is possible to keep charging to the sub power source to a minimum.

[第3の実施形態]
図7は第3の実施形態における待機電流検査のための電子機器の構成を示すブロック図である。前記第1の実施形態の電子機器と同一の構成要素については、同一の符号を使用し、その説明を省略する。ここでは、異なる構成および動作について説明する。
[Third Embodiment]
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of an electronic device for standby current inspection in the third embodiment. The same components as those of the electronic device of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. Here, different configurations and operations will be described.

電子機器1には、電流モニタ回路14および電流計測部15が設けられている。電子機器1の動作状態に応じて負荷電流の範囲が異なるので、電流モニタ回路14は、負荷に応じて電流モニタ抵抗の値を切り替える回路を有する。   The electronic device 1 is provided with a current monitor circuit 14 and a current measurement unit 15. Since the range of the load current varies depending on the operating state of the electronic device 1, the current monitor circuit 14 has a circuit that switches the value of the current monitor resistor depending on the load.

電流モニタ回路14を用いた電流計測時、電流計測部15は、電子機器1の動作状態に応じて適切に選択された電流モニタ抵抗の両端電圧を、AD変換を行って計測し、計測された両端電圧と選択された電流モニタ抵抗値とから電流値を算出する。その結果は揮発性メモリ19に保存される。   At the time of current measurement using the current monitor circuit 14, the current measurement unit 15 measures and measures the voltage across the current monitor resistor appropriately selected according to the operation state of the electronic device 1 by performing AD conversion. A current value is calculated from the both-end voltage and the selected current monitor resistance value. The result is stored in the volatile memory 19.

電子機器制御部2は、マイコンで構成されており、電流計測部15で計測され、揮発性メモリ19に保存された電流値を、バス8を経由して読み取り、その判断を行う。これにより、電子機器1単体で電流検査が可能となる。   The electronic device control unit 2 is configured by a microcomputer, and reads the current value measured by the current measurement unit 15 and stored in the volatile memory 19 via the bus 8 to make a determination. Thereby, an electric current test | inspection is attained by the electronic device 1 single-piece | unit.

上記構成を有する電子機器1の動作を示す。図8は待機電流検査処理を示すフローチャートである。待機電流検査処理プログラム3は、電子機器制御部2に格納されており、電子機器制御部2内のCPUによって実行される。   An operation of the electronic apparatus 1 having the above configuration will be described. FIG. 8 is a flowchart showing the standby current inspection process. The standby current inspection processing program 3 is stored in the electronic device control unit 2 and is executed by the CPU in the electronic device control unit 2.

電子機器制御部2は、待機電流検査処理プログラム3を起動させると、まず、充電制御部4に対し、副電源10への充電を停止させる(ステップS61)。副電源10への充電停止後、電子機器制御部2は、動作不要な回路部の動作を停止させ、動作周波数を低速化させることで、省電力待機状態に移行させる(ステップS62)。   When the electronic device control unit 2 starts the standby current inspection processing program 3, the electronic control unit 2 first causes the charge control unit 4 to stop charging the sub power supply 10 (step S61). After the charging to the sub power supply 10 is stopped, the electronic device control unit 2 shifts to the power saving standby state by stopping the operation of the circuit unit that does not require operation and lowering the operation frequency (step S62).

電子機器制御部2は、電流モニタ回路14の電流モニタ抵抗を、待機電流検査用の抵抗値に切り替え、電流計測部15により電流モニタ抵抗の両端電圧を測定する。さらに、電子機器制御部2は、測定した電圧値と電流モニタ抵抗とから、待機電流を算出し、揮発性メモリ19に保存する(ステップS63)。なお、電流モニタ回路14および電流計測部15を用いたステップS63の処理は電流計測手段に相当する。   The electronic device control unit 2 switches the current monitor resistance of the current monitor circuit 14 to a resistance value for standby current inspection, and the current measurement unit 15 measures the voltage across the current monitor resistor. Furthermore, the electronic device control unit 2 calculates a standby current from the measured voltage value and the current monitor resistance, and stores the standby current in the volatile memory 19 (step S63). In addition, the process of step S63 using the current monitor circuit 14 and the current measurement unit 15 corresponds to a current measurement unit.

待機電流の取得が完了すると、電子機器制御部2は、充電制御部4に対し、副電源10への充電を再開させる(ステップS64)。そして、電子機器制御部2は、表示部12の電源を投入し、表示動作に関する設定を行う(ステップS65)。   When the acquisition of the standby current is completed, the electronic device control unit 2 causes the charge control unit 4 to resume charging the sub power supply 10 (step S64). And the electronic device control part 2 turns on the power supply of the display part 12, and performs the setting regarding a display operation (step S65).

電子機器制御部2は、測定した電流値と検査規格値とを比較し、測定した電流値が規格値の範囲内に入るか否かを判定し、その判定結果を表示部12に表示して通知する(ステップS66)。なお、判定結果を表示部12に表示するステップS66の処理は表示手段に相当する。   The electronic device control unit 2 compares the measured current value with the inspection standard value, determines whether or not the measured current value falls within the range of the standard value, and displays the determination result on the display unit 12. Notification is made (step S66). In addition, the process of step S66 which displays a determination result on the display part 12 is corresponded to a display means.

ステップS66の判定において、正常である場合、主電源回路ブロック18に流れる電流IsのみがステップS63の処理で計測される。一方、回路異常部99が発生している場合、この電流Isに漏れ電流Ilが加わった電流が計測されることになる。待機電流規格値の範囲として、漏れ電流Ilが検出可能なように想定された範囲を設定しておくことで、漏れ電流Ilによる異常が判定可能である。   If the determination in step S66 is normal, only the current Is flowing through the main power supply circuit block 18 is measured in the process of step S63. On the other hand, when the circuit abnormal part 99 has occurred, a current obtained by adding the leakage current Il to the current Is is measured. By setting a range assumed so that the leakage current Il can be detected as the range of the standby current standard value, an abnormality due to the leakage current Il can be determined.

このように、第3の実施形態における電子機器によれば、待機電流検査モードにおいて、自身で電流測定を行うことで、検査装置のような特別な測定回路が不要となり、待機電流の自己診断が可能となる。すなわち、待機電流検査モードに移行し、電子機器内で待機電流計測を行うことで、待機電流の異常を容易に確認可能である。   As described above, according to the electronic device of the third embodiment, in the standby current inspection mode, by performing current measurement by itself, a special measurement circuit such as an inspection device is not necessary, and the standby current self-diagnosis can be performed. It becomes possible. That is, it is possible to easily check the standby current abnormality by shifting to the standby current inspection mode and measuring the standby current in the electronic device.

なお、本発明は、上記実施形態の構成に限られるものではなく、特許請求の範囲で示した機能、または本実施形態の構成が持つ機能が達成できる構成であればどのようなものであっても適用可能である。   The present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiment, and any configuration can be used as long as the functions shown in the claims or the functions of the configuration of the present embodiment can be achieved. Is also applicable.

例えば、上記各実施形態では、次のような場合、必ず待機電流検査処理が行われていた。即ち、ステップS4で待機電流検査モードに移行させるための所定のキー操作があった場合、メインスイッチOFF時にステップS19で待機電流検査フラグが設定されていた場合、あるいはステップS23で待機電流検査プログラム3の実行に関するコマンドが発行された場合、上記処理が行われた。このような場合であっても、電圧監視部7が副電源の電圧状態を監視できるように構成して、この電圧が閾値以下である場合、待機電流検査プログラム3の実行を禁止して、副電源が低電圧状態にあることを通知し、副電源への充電を行うようしてもよい。これにより、副電源の電圧を早急に回復させることが可能となる。   For example, in each of the above embodiments, the standby current inspection process is always performed in the following cases. That is, if there is a predetermined key operation for shifting to the standby current inspection mode in step S4, if the standby current inspection flag is set in step S19 when the main switch is OFF, or if the standby current inspection program 3 is set in step S23. When a command related to execution of is issued, the above processing is performed. Even in such a case, the voltage monitoring unit 7 is configured to be able to monitor the voltage state of the sub power supply. When this voltage is equal to or lower than the threshold value, the standby current inspection program 3 is prohibited from being executed. You may notify that a power supply is in a low voltage state, and may charge a sub-power supply. This makes it possible to quickly recover the voltage of the sub power supply.

また、本発明の電子機器は、音楽再生機器や電子撮像機器などの携帯型の電子機器に限らず、据え置き型の種々の電子機器に適用可能である。   Further, the electronic device of the present invention is not limited to portable electronic devices such as music playback devices and electronic imaging devices, and can be applied to various stationary electronic devices.

第1の実施形態における待機電流検査システムの構成を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating a configuration of a standby current inspection system according to a first embodiment. 電子機器1の起動処理手順を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing a startup process procedure of the electronic device 1. ステップS7における電子機器1のメイン処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the main process of the electronic device 1 in step S7. ステップS5、S20における待機電流検査処理を示すフローチャートである。It is a flow chart which shows standby current inspection processing in Steps S5 and S20. 待機電流検査を行うときの検査装置31の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the test | inspection apparatus 31 when performing standby | standby electric current test | inspection. 第2の実施形態のステップS5、S20における待機電流検査処理を示すフローチャートである。It is a flow chart which shows standby current inspection processing in Steps S5 and S20 of a 2nd embodiment. 第3の実施形態における待機電流検査のための電子機器の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the electronic device for the standby current test | inspection in 3rd Embodiment. 待機電流検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a standby current inspection process.

符号の説明Explanation of symbols

1 電子機器
2 電子機器制御部
4 充電制御部
6 時計計測部
10 副電源
11 主電源
14 電流モニタ回路
15 電流計測部
31 検査装置
32 検査制御部
33 電流計
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electronic device 2 Electronic device control part 4 Charge control part 6 Clock measuring part 10 Sub power supply 11 Main power supply 14 Current monitor circuit 15 Current measuring part 31 Inspection apparatus 32 Inspection control part 33 Ammeter

Claims (9)

主電源と、前記主電源から充電される副電源と、前記副電源への充電開始および停止を制御する充電制御手段と、待機電流検査処理に移行する移行手段とを備え、
前記待機電流検査処理に移行すると、前記充電制御手段は、前記主電源から前記副電源への充電を停止することを特徴とする電子機器。
A main power source, a sub power source charged from the main power source, charge control means for controlling start and stop of charging to the sub power source, and transition means for shifting to standby current inspection processing,
When the process proceeds to the standby current inspection process, the charging control unit stops charging from the main power source to the sub power source.
前記待機電流検査処理を解除する解除手段を備えたことを特徴とする請求項1記載の電子機器。   The electronic apparatus according to claim 1, further comprising a release unit that cancels the standby current inspection process. 前記主電源の電圧を検出する電圧検出手段を備え、前記電圧検出手段によって検出した前記主電源の電圧が所定電圧以下となった場合、前記解除手段は前記待機電流検査処理を解除することを特徴とする請求項2記載の電子機器。   Voltage detection means for detecting the voltage of the main power supply is provided, and when the voltage of the main power supply detected by the voltage detection means falls below a predetermined voltage, the release means releases the standby current inspection process. The electronic device according to claim 2. 前記待機電流検査処理に移行してからの時間を計測する時間計測手段を備え、前記時間計測手段によって計測した時間が所定時間を経過した場合、前記解除手段は前記待機電流検査処理を解除することを特徴とする請求項2記載の電子機器。   A time measuring unit for measuring a time after the transition to the standby current inspection process, and when the time measured by the time measuring unit has passed a predetermined time, the release unit cancels the standby current inspection process. The electronic device according to claim 2. 前記解除手段が前記待機電流検査処理を解除することで、前記充電制御手段は、前記副電源への充電を再開することを特徴とする請求項2ないし4のいずれか1項に記載の電子機器。   5. The electronic device according to claim 2, wherein the release control unit cancels the standby current inspection process, whereby the charge control unit resumes charging the sub power source. 6. . 前記主電源から前記副電源への充電を停止した後、前記電子機器の待機電流を計測する電流計測手段と、前記計測の結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載の電子機器。   2. The apparatus according to claim 1, further comprising: a current measuring unit that measures a standby current of the electronic device after charging from the main power source to the sub power source is stopped; and a display unit that displays a result of the measurement. The electronic device of any one of thru | or 5. 前記副電源の電圧を監視する電圧監視手段を備え、
前記副電源の電圧が設定した閾値以下である場合、前記待機電流検査処理への移行を禁止して、前記主電源から前記副電源への充電を行うことを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の電子機器。
Voltage monitoring means for monitoring the voltage of the sub power supply,
7. The charging from the main power source to the sub power source is prohibited by prohibiting the transition to the standby current inspection process when the voltage of the sub power source is equal to or lower than a set threshold value. The electronic device according to any one of the above.
電子機器と前記電子機器の待機電流を検査する検査装置を有する待機電流検査システムにおいて、
前記電子機器は、主電源と、前記主電源から充電される副電源と、前記副電源への充電開始および停止を制御する充電制御手段とを備え、前記検査装置は前記電子機器の待機電流検査処理を実行する命令を送信する送信手段と、前記主電源に電源を供給する電源供給手段と、前記主電源への電流を計測する電流計測手段とを備え、
前記電子機器は、前記命令を受信すると、前記充電制御手段により前記主電源から前記副電源への充電を停止し、前記検査装置は、前記電流計測手段によって前記主電源から前記副電源への充電を停止しているときの前記電子機器の待機電流を測定することを特徴とする待機電流検査システム。
In a standby current inspection system having an electronic device and an inspection device for inspecting the standby current of the electronic device,
The electronic device includes a main power source, a sub power source charged from the main power source, and charge control means for controlling start and stop of charging to the sub power source, and the inspection device performs standby current inspection of the electronic device. A transmission unit that transmits a command to execute processing; a power supply unit that supplies power to the main power source; and a current measurement unit that measures a current to the main power source,
When receiving the command, the electronic device stops charging from the main power source to the sub power source by the charging control means, and the inspection device charges the main power source to the sub power source by the current measuring means. A standby current inspection system for measuring a standby current of the electronic device when the operation is stopped.
電子機器と前記電子機器の待機電流を検査する検査装置を有する待機電流検査システムにおいて、
前記電子機器は、主電源と、前記主電源から充電される副電源と、前記副電源への充電開始および停止を制御する充電制御手段と、前記主電源への電流を計測する電流計測手段を備え、前記検査装置は前記電子機器の待機電流検査処理を実行する命令を送信する送信手段と、前記主電源に電源を供給する電源供給手段とを備え、
前記検査装置が前記命令を送信するとともに、前記電子機器が前記命令を受信すると、前記充電制御手段により前記主電源から前記副電源への充電を停止し、前記電流計測手段によって前記主電源から前記副電源への充電を停止しているときの前記電子機器の待機電流を測定することを特徴とする待機電流検査システム。
In a standby current inspection system having an electronic device and an inspection device for inspecting the standby current of the electronic device,
The electronic device includes a main power source, a sub power source charged from the main power source, a charge control unit for controlling start and stop of charging to the sub power source, and a current measuring unit for measuring a current to the main power source. The inspection apparatus includes a transmission unit that transmits a command to execute a standby current inspection process of the electronic device, and a power supply unit that supplies power to the main power source,
When the inspection apparatus transmits the command and the electronic device receives the command, the charging control unit stops charging from the main power source to the sub power source, and the current measuring unit from the main power source A standby current inspection system for measuring a standby current of the electronic device when charging to a sub power supply is stopped.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011182020A (en) * 2010-02-26 2011-09-15 Konica Minolta Business Technologies Inc Operation unit
CN110376428A (en) * 2019-07-31 2019-10-25 四川长虹电器股份有限公司 Quiescent current production line test system and method for battery power supply internet of things product
CN113311350A (en) * 2021-07-28 2021-08-27 苏州浪潮智能科技有限公司 BBU power supply online test device, method and server
CN117706174A (en) * 2023-06-30 2024-03-15 荣耀终端有限公司 Standby current testing method and electronic equipment

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0292135A (en) * 1988-09-29 1990-03-30 Toshiba Corp Key telephone set
JPH08122881A (en) * 1994-10-19 1996-05-17 Canon Inc Camera using secondary battery
JPH09101347A (en) * 1995-10-05 1997-04-15 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor device
JP2000306449A (en) * 1998-05-25 2000-11-02 Keishi Hattori Standby power interrupter and standby power detector
JP2003043099A (en) * 2001-08-02 2003-02-13 Sony Corp Method and apparatus for semiconductor test
JP2003156545A (en) * 2001-11-22 2003-05-30 Denso Corp Inspection method of semiconductor device
JP2004212242A (en) * 2003-01-06 2004-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd Electronic equipment, and connector for inspection
JP2005018429A (en) * 2003-06-26 2005-01-20 Hitachi Kokusai Electric Inc Electronic equipment
JP2006047175A (en) * 2004-08-06 2006-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Current measuring method, current measuring program, measuring device and electronic computer running above program, manufacturing apparatus equipped with them, and semiconductor integrated circuit and electronic equipment equipped with means carrying out above current measuring method
JP2006302172A (en) * 2005-04-25 2006-11-02 Nikon Corp Portable electronic device

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0292135A (en) * 1988-09-29 1990-03-30 Toshiba Corp Key telephone set
JPH08122881A (en) * 1994-10-19 1996-05-17 Canon Inc Camera using secondary battery
JPH09101347A (en) * 1995-10-05 1997-04-15 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor device
JP2000306449A (en) * 1998-05-25 2000-11-02 Keishi Hattori Standby power interrupter and standby power detector
JP2003043099A (en) * 2001-08-02 2003-02-13 Sony Corp Method and apparatus for semiconductor test
JP2003156545A (en) * 2001-11-22 2003-05-30 Denso Corp Inspection method of semiconductor device
JP2004212242A (en) * 2003-01-06 2004-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd Electronic equipment, and connector for inspection
JP2005018429A (en) * 2003-06-26 2005-01-20 Hitachi Kokusai Electric Inc Electronic equipment
JP2006047175A (en) * 2004-08-06 2006-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Current measuring method, current measuring program, measuring device and electronic computer running above program, manufacturing apparatus equipped with them, and semiconductor integrated circuit and electronic equipment equipped with means carrying out above current measuring method
JP2006302172A (en) * 2005-04-25 2006-11-02 Nikon Corp Portable electronic device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011182020A (en) * 2010-02-26 2011-09-15 Konica Minolta Business Technologies Inc Operation unit
CN110376428A (en) * 2019-07-31 2019-10-25 四川长虹电器股份有限公司 Quiescent current production line test system and method for battery power supply internet of things product
CN110376428B (en) * 2019-07-31 2022-05-06 四川长虹电器股份有限公司 Dormant current production line testing system and method for battery-powered Internet of things product
CN113311350A (en) * 2021-07-28 2021-08-27 苏州浪潮智能科技有限公司 BBU power supply online test device, method and server
CN117706174A (en) * 2023-06-30 2024-03-15 荣耀终端有限公司 Standby current testing method and electronic equipment

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