JP2009169090A - Light-emitting display device and driving method thereof - Google Patents

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幸人 飯田
Tetsuo Mitsunami
徹雄 三並
Takahisa Tanikame
貴央 谷亀
Katsuhide Uchino
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent picture quality from decreasing owing to potential variation of a precedent stage when an auxiliary capacitor Csub is connected to a power supply scan line DSL(i-1) of the precedent stage. <P>SOLUTION: A pixel circuit 3(i, j) includes a light emitting element (organic light emitting diode OLED: capacitor Coled.) varying in applied voltage value with the potential (Vs) of one electrode (source node NDs), a drive transistor Md having a control node NDC (potential Vg), a sampling transistor Ms, a holding capacitor Cs, and an auxiliary capacitor Csub. A drive circuit is configured to output a low potential Vws_L satisfying Vws_L<Vg-(Vcc_H-Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.) in accordance with ranges of Csub, Coled., and Vg, a high potential Vcc_H and a low potential Vcc_L of the power supply scan line, and a potential (Vcc_H, Vcc_L) of the power supply scan line DSL(i-1). <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、複数の画素回路と駆動回路を有し、映像信号線と電源走査線と書込走査線が複数の画素回路に対し配線され、各画素回路が、一方電極の電位に応じて印加電圧値が変化する発光素子、駆動トランジスタ、サンプリングトランジスタ、保持キャパシタおよび補助キャパシタを含む自発光型表示装置と、その駆動方法に関する。特定的に本発明は、上記補助キャパシタが、補助キャパシタと同じ画素回路内の上記一方電極と、他の画素行の電源走査線との間に接続されている自発光型表示装置と、その駆動方法に関する。   The present invention includes a plurality of pixel circuits and a drive circuit, and video signal lines, power supply scanning lines, and writing scanning lines are wired to the plurality of pixel circuits, and each pixel circuit is applied in accordance with the potential of one electrode. The present invention relates to a self-luminous display device including a light emitting element whose voltage value changes, a driving transistor, a sampling transistor, a holding capacitor, and an auxiliary capacitor, and a driving method thereof. Specifically, the present invention relates to a self-luminous display device in which the auxiliary capacitor is connected between the one electrode in the same pixel circuit as the auxiliary capacitor and a power supply scanning line of another pixel row, and its driving Regarding the method.

発光素子として有機ELデバイスを用いた自発光型表示装置の開発が近年盛んになっている。有機ELデバイスは有機薄膜を有し、有機薄膜に電界をかけると発光する現象を利用したデバイスである。
有機ELデバイスは印加電圧が10[V]以下で駆動するため低消費電力である。有機ELデバイスは自ら光を発する自発光素子であるため、これを有する表示装置は、照明部を必要とせず軽量化及び薄型化が容易である。有機ELデバイスの応答速度は数[μs]程度と非常に高速なので、有機ELデバイスを用いた表示装置は動画表示時の残像が発生しない。
In recent years, development of self-luminous display devices using organic EL devices as light-emitting elements has become active. An organic EL device has an organic thin film, and utilizes a phenomenon that emits light when an electric field is applied to the organic thin film.
Since the organic EL device is driven with an applied voltage of 10 [V] or less, the power consumption is low. Since the organic EL device is a self-luminous element that emits light by itself, a display device including the organic EL device does not require an illumination unit and can be easily reduced in weight and thickness. Since the response speed of the organic EL device is as high as several [μs], the display device using the organic EL device does not generate an afterimage when displaying a moving image.

有機ELデバイスを自発光素子として用いる自発光型表示装置の中でも、とりわけ駆動素子として薄膜トランジスタを各画素に集積形成したアクティブマトリクス型の表示装置の開発が盛んである。   Among self-luminous display devices that use organic EL devices as self-luminous elements, active matrix display devices in which thin film transistors are integrated and formed as driving elements in each pixel are particularly active.

自発光素子を有するアクティブマトリクス型の表示装置であって、データ電位に応じた駆動電流が流入する側の自発光素子の一方電極(アノード電極)に対し、補助キャパシタ(追加容量)を接続させた表示装置が知られている(例えば特許文献1参照)。   An active matrix display device having a self-luminous element, wherein an auxiliary capacitor (additional capacitor) is connected to one electrode (anode electrode) of the self-luminous element on the side into which a drive current corresponding to the data potential flows A display device is known (see, for example, Patent Document 1).

図14に、画素回路の基本構成の等価回路図(特許文献1の図8)を、参照符号を一部変更して転記する。
発光素子は、本例では有機発光ダイオードOLEDであり、図14では、有機発光ダイオードOLEDを、その等価容量Coled.により示している。また、特許文献1の図8に示す、電源電圧Vddの供給線と駆動トランジスタの間に接続され(符号Tr4により示す)トランジスタは、画素回路の構成によっては不要であるため、ここでの図示を省略している。
In FIG. 14, an equivalent circuit diagram of the basic configuration of the pixel circuit (FIG. 8 of Patent Document 1) is transcribed with a part of reference numerals changed.
In this example, the light emitting element is an organic light emitting diode OLED. In FIG. 14, the organic light emitting diode OLED is indicated by its equivalent capacitance Coled. In addition, the transistor connected between the supply line of the power supply voltage Vdd and the driving transistor (indicated by reference numeral Tr4) shown in FIG. 8 of Patent Document 1 is not necessary depending on the configuration of the pixel circuit. Omitted.

有機発光ダイオードOLEDの他方電極(カソード)の電位がカソード電位Vcathで固定されているため、一方電極(アノード)の電位(アノード電位)Vaによって有機発光ダイオードOLEDに印加される電圧が制御される。有機発光ダイオードOLEDのアノードに対し、駆動トランジスタMdを介して電源電圧Vddの供給線が接続可能となっている。駆動トランジスタMdは、そのゲート(制御ノード)に入力されるデータ電位Vsigに応じてドレイン電流Idsの大きさが制御され、これによりソース電位、即ち有機発光ダイオードOLEDのアノード電位Vaが決まる。   Since the potential of the other electrode (cathode) of the organic light emitting diode OLED is fixed at the cathode potential Vcath, the voltage applied to the organic light emitting diode OLED is controlled by the potential (anode potential) Va of the one electrode (anode). A supply line of the power supply voltage Vdd can be connected to the anode of the organic light emitting diode OLED via the drive transistor Md. In the drive transistor Md, the magnitude of the drain current Ids is controlled according to the data potential Vsig input to its gate (control node), and thereby the source potential, that is, the anode potential Va of the organic light emitting diode OLED is determined.

駆動トランジスタMdのゲートとソース間に、データ電位Vsigを保持する目的で保持キャパシタCsが接続されている。駆動トランジスタMdのゲートと映像信号線DTLの間に、映像信号のデータ電位VsigをサンプリングするサンプリングトランジスタMsが接続されている。
サンプリングトランジスタは、そのゲートに接続される書込走査線(不図示)の電位に応じて制御され、書込走査線が活性化されたときにオンして、ドレインに接続されている映像信号線の電位をサンプリングし、サンプリング後の電位を、ソースに接続されている駆動トランジスタの制御ノードに伝達する。
ここで映像信号は一定の基準電位(以下、データ基準電位Voという)の印加と、データ基準電位Voから任意の電位を持つデータパルスDPの印加とが繰り返された波形を有する。データパルスDPの電位がデータ電位Vsigであり、表示階調を決めるデータ電圧Vinは、データ電位Vsigからデータ基準電位Voを差し引いた上記データパルスDPの波高値に該当する。
駆動トランジスタMdのゲートとソース間に保持キャパシタCsが接続されている。
A holding capacitor Cs is connected between the gate and source of the driving transistor Md for the purpose of holding the data potential Vsig. A sampling transistor Ms for sampling the data potential Vsig of the video signal is connected between the gate of the drive transistor Md and the video signal line DTL.
The sampling transistor is controlled according to the potential of a write scanning line (not shown) connected to the gate thereof, and is turned on when the write scanning line is activated, and is a video signal line connected to the drain. Are sampled, and the sampled potential is transmitted to the control node of the driving transistor connected to the source.
Here, the video signal has a waveform in which application of a constant reference potential (hereinafter referred to as a data reference potential Vo) and application of a data pulse DP having an arbitrary potential from the data reference potential Vo are repeated. The potential of the data pulse DP is the data potential Vsig, and the data voltage Vin that determines the display gradation corresponds to the peak value of the data pulse DP obtained by subtracting the data reference potential Vo from the data potential Vsig.
A holding capacitor Cs is connected between the gate and source of the driving transistor Md.

このような構成の画素回路では、駆動トランジスタMdのゲートソース間電圧Vgsが、そのまま保持キャパシタCsの保持電圧となる。言い換えると、駆動トランジスタのソース電位(有機発光ダイオードOLEDのアノード電位Va)を基準として、駆動トランジスタのゲートに与えられる電位“Vsig−Va”の大きさで、保持キャパシタCsの保持電圧値が決められる。
駆動トランジスタMdは、そのゲートソース間電圧Vgsに応じたドレイン電流Idsを流すことから、データ電圧Vin(データパルスDPの波高値)を保持キャパシタCsに正確に入力し、保持させる必要がある。
In the pixel circuit having such a configuration, the gate-source voltage Vgs of the driving transistor Md becomes the holding voltage of the holding capacitor Cs as it is. In other words, the holding voltage value of the holding capacitor Cs is determined by the magnitude of the potential “Vsig−Va” applied to the gate of the driving transistor with reference to the source potential of the driving transistor (the anode potential Va of the organic light emitting diode OLED). .
Since the drive transistor Md flows a drain current Ids corresponding to the gate-source voltage Vgs, it is necessary to accurately input and hold the data voltage Vin (the peak value of the data pulse DP) to the holding capacitor Cs.

そのためには、データ電圧Vinの入力に先立って、駆動トランジスタMdのソース(発光素子の一方電極、本例ではアノード)の電位(アノード電位Va)を、映像信号のデータ基準電位Voにより初期化する。そして、サンプリングトランジスタMsによるデータ電位Vsigのサンプリングによって、駆動トランジスタMdの制御ノードにデータ電位Vsigを入力する。   For this purpose, prior to the input of the data voltage Vin, the potential (anode potential Va) of the source of the drive transistor Md (one electrode of the light emitting element, anode in this example) is initialized by the data reference potential Vo of the video signal. . The data potential Vsig is input to the control node of the drive transistor Md by sampling the data potential Vsig by the sampling transistor Ms.

データ電位Vsigの入力によって駆動トランジスタMdの制御ノード(ゲート)の電位が上昇すると、駆動トランジスタMdのソース電位(アノード電位Va)もデータ基準電位Voから上昇する。データ電圧Vinを保持キャパシタCsに100[%]保持させるには、データ電位Vsigを入力する時の駆動トランジスタMdのソース電位(アノード電位Va)の変動量をほぼゼロとする必要がある。
しかしながら、データ電位Vsigの入力によって駆動トランジスタMdが流す電流値が増大し、この電流値の増大によって、駆動トランジスタMdのソース電位(アノード電位Va)が容易に上昇しようとする。
When the potential of the control node (gate) of the drive transistor Md rises due to the input of the data potential Vsig, the source potential (anode potential Va) of the drive transistor Md also rises from the data reference potential Vo. In order to hold the data voltage Vin in the holding capacitor Cs at 100 [%], it is necessary to make the fluctuation amount of the source potential (anode potential Va) of the driving transistor Md when the data potential Vsig is input almost zero.
However, the value of the current flowing through the drive transistor Md increases due to the input of the data potential Vsig, and the increase in the current value tends to easily increase the source potential (anode potential Va) of the drive transistor Md.

そこで、特許文献1に記載されている画素回路では、駆動トランジスタのソースに接続されている容量値を大きくする目的で、有機発光ダイオードOLEDと並列に補助キャパシタCsubが接続されている。
ドレイン電流Idsは、有機発光ダイオードOLEDの容量Coled.と、補助キャパシタCsubと、駆動トランジスタMd等の寄生容量との合成容量を充電する。ドレイン電流Idsがデータ電位Vsigの入力によって増加し、このとき補助キャパシタCsubがある程度大きいと、ドレイン電流Idsの増加分は上記合成容量を充電するのに費やされ、アノード電位Vaが殆ど上昇しないようにすることできる。この場合、実際に保持キャパシタCsに保持される電圧と、所望のデータ電圧Vinとの比率で定義される“書き込みゲイン”が“1”に近いものとなる。
Therefore, in the pixel circuit described in Patent Document 1, an auxiliary capacitor Csub is connected in parallel with the organic light emitting diode OLED for the purpose of increasing the capacitance value connected to the source of the driving transistor.
The drain current Ids charges the combined capacitance of the capacitance Coled. Of the organic light emitting diode OLED, the auxiliary capacitor Csub, and the parasitic capacitance such as the drive transistor Md. If the drain current Ids is increased by the input of the data potential Vsig, and the auxiliary capacitor Csub is large to some extent at this time, the increased amount of the drain current Ids is consumed to charge the combined capacitance so that the anode potential Va hardly increases. Can be. In this case, the “write gain” defined by the ratio between the voltage actually held in the holding capacitor Cs and the desired data voltage Vin is close to “1”.

このように、補助キャパシタCsubはデータ電圧Vinを画素回路に書き込む際に、データ書き込みの効率(書き込みゲイン)を上げる作用効果がある。
特開2007−102046号公報
Thus, the auxiliary capacitor Csub has an effect of increasing the efficiency of data writing (write gain) when the data voltage Vin is written to the pixel circuit.
JP 2007-102046 A

補助キャパシタCsubは、一方電極との電位差が大きい電位線に接続すると、より付加容量値を大きくできる。   When the auxiliary capacitor Csub is connected to a potential line having a large potential difference from the one electrode, the additional capacitance value can be further increased.

そのような意図で、本発明者は、上記特許文献1に記載の補助キャパシタCsubを、当該補助キャパシタCsubと同じ画素内の一定電位線(カソード電位Vcathの供給線)ではなく、隣接する他の画素回路が有する電源電圧の供給制御線(電源走査線DSL)に接続させた画素回路構成を提案している(特願2006−209327号)。   With such an intention, the present inventor does not use the auxiliary capacitor Csub described in the above-mentioned Patent Document 1 as the adjacent other capacitor adjacent to the auxiliary capacitor Csub, instead of the constant potential line (cathode potential Vcath supply line) in the same pixel. A pixel circuit configuration connected to a power supply voltage supply control line (power supply scanning line DSL) of the pixel circuit has been proposed (Japanese Patent Application No. 2006-209327).

しかしながら、隣接する他の画素回路が有する電源走査線DSLは、低電位Vcc_Lから高電位Vcc_Hに制御され、このとき、電源走査線DSLに接続している補助キャパシタCsubが設けられている画素回路が発光可能状態にある場合がある。
そのような場合、隣の画素回路が接続された電源走査線DSLの電位変動が、サンプリングトランジスタがオフされ発光可能状態にある画素回路内の補助キャパシタCsub、保持キャパシタCsを介して駆動トランジスタMdのゲートの電位を低下させる。この低下の程度が大きいと、発光可能状態ではオフされているはずのサンプリングトランジスタMsが瞬間的にオンし、そのときの映像信号線DTLの電位を短い時間だけサンプリングし、表示画像の画質が著しく低下する。
However, the power supply scanning line DSL included in another adjacent pixel circuit is controlled from the low potential Vcc_L to the high potential Vcc_H, and at this time, the pixel circuit provided with the auxiliary capacitor Csub connected to the power supply scanning line DSL. There may be a state in which light can be emitted.
In such a case, the potential fluctuation of the power supply scanning line DSL to which the adjacent pixel circuit is connected causes the sampling transistor to be turned off and the drive transistor Md through the auxiliary capacitor Csub and the holding capacitor Cs in the pixel circuit in the light emission enabled state. Lower the gate potential. If the degree of this reduction is large, the sampling transistor Ms that should be turned off in the light emission enabled state is turned on instantaneously, and the potential of the video signal line DTL at that time is sampled for a short time, and the image quality of the display image is remarkably high. descend.

サンプリングトランジスタMsがオンしない場合でも、リーク電流が流れると発光輝度レベルが変化する。この発光輝度レベルの変化はリーク電流に起因しているため目立たない画素もあるが、とりわけ黒表示時にリーク電流が発生すると白っぽい表示となる、いわゆる「黒浮き」が生じコントラストが低下するため画質の低下が目立ってしまう。   Even when the sampling transistor Ms is not turned on, the emission luminance level changes when a leak current flows. This change in light emission luminance level is caused by leakage current, so some pixels are not conspicuous, but when leak current occurs particularly during black display, the display becomes whitish, so-called `` black floating '' and the contrast is lowered, resulting in poor image quality. The decline is noticeable.

本発明は、補助キャパシタを他の画素行の画素回路の電源走査線に接続させる構成の自発光型表示装置において、電源走査線の電位変化により画質が低下することを防止するものである。   According to the present invention, in a self-luminous display device configured to connect an auxiliary capacitor to a power supply scanning line of a pixel circuit in another pixel row, the image quality is prevented from being deteriorated due to a potential change of the power supply scanning line.

本発明の一形態(第1形態)に関わる自発光型表示装置は、複数の画素回路が行列状に配置される画素アレイと、前記画素アレイ内の画素回路を行方向で接続する、複数の書込走査線および複数の電源走査線と、前記画素アレイ内の画素回路を列方向で接続する複数の映像信号線と、前記複数の書込走査線および前記複数の電源走査線の各電位を制御する駆動回路と、を有する。
前記複数の画素回路の各々が、一方電極の電位によって印加電圧値が変化する発光素子と、前記電源走査線と前記一方電極との間に接続される駆動トランジスタと、前記映像信号線と前記駆動トランジスタの制御ノードとの間に接続され、前記書込走査線の電位に応じて制御されるサンプリングトランジスタと、前記制御ノードに結合する保持キャパシタと、前記一方電極と、列方向の一方側に位置する他の画素回路の電源走査線との間に接続される補助キャパシタと、を含む。
前記駆動回路は、前記補助キャパシタの値Csub、前記発光素子の等価容量Coled.、前記電源走査線の高電位Vcc_Hと低電位Vcc_L、および、前記映像信号線の電位に対応して前記駆動トランジスタのゲート電位Vgがとりうる範囲に応じて、以下の式、すなわち、
Vws_L<Vg−(Vcc_H−Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.)
を満たす低電位Vws_Lを、2値電位の低い方の電位として前記書込走査線に出力するように構成されている。
A self-luminous display device according to one embodiment (first embodiment) of the present invention includes a pixel array in which a plurality of pixel circuits are arranged in a matrix, and a plurality of pixel circuits in the pixel array connected in a row direction. Each potential of the write scan line and the plurality of power supply scan lines, the plurality of video signal lines connecting the pixel circuits in the pixel array in the column direction, the plurality of write scan lines and the plurality of power supply scan lines And a driving circuit to be controlled.
Each of the plurality of pixel circuits includes a light emitting element whose applied voltage value changes depending on a potential of one electrode, a driving transistor connected between the power supply scanning line and the one electrode, the video signal line, and the driving A sampling transistor connected between the control node of the transistor and controlled according to the potential of the write scan line, a holding capacitor coupled to the control node, the one electrode, and one side in the column direction And an auxiliary capacitor connected between power supply scanning lines of other pixel circuits.
The driving circuit corresponds to a value Csub of the auxiliary capacitor, an equivalent capacitance Coled of the light emitting element, a high potential Vcc_H and a low potential Vcc_L of the power source scanning line, and a potential of the video signal line. Depending on the possible range of the gate potential Vg, the following equation:
Vws_L <Vg− (Vcc_H−Vcc_L) Csub / (Csub + Coled.)
The low potential Vws_L that satisfies the above condition is output to the write scanning line as the lower potential of the binary potential.

本発明の他の形態(第2形態)に関わる自発光型表示装置は、上記第1形態において、前記駆動回路は、複数の画素行の各々に1本ずつ対応する前記書込走査線と前記電源走査線の組を、列方向で順次選択し、前記補助キャパシタは、当該補助キャパシタを有する画素回路が属する画素行より、前記駆動回路によって先に選択される他の画素行内で画素回路を接続する電源走査線に接続されている。   In a self-luminous display device according to another mode (second mode) of the present invention, in the first mode, the drive circuit includes the write scan line corresponding to each of a plurality of pixel rows and the write scan line. A set of power supply scanning lines is sequentially selected in the column direction, and the auxiliary capacitor is connected to a pixel circuit in another pixel row that is selected earlier by the drive circuit than a pixel row to which the pixel circuit having the auxiliary capacitor belongs. Connected to the power supply scanning line.

本発明の他の形態(第3形態)に関わる自発光型表示装置は、上記第1形態において、前記書込走査線の前記低電位Vws_Lは、前記式を満たす値の負電位である。   In the self-luminous display device according to another mode (third mode) of the present invention, in the first mode, the low potential Vws_L of the writing scanning line is a negative potential having a value satisfying the above formula.

本発明の他の形態(第4形態)に関わる自発光型表示装置は、上記第1形態において、データ基準電位Voとの電位差が画素の表示輝度に対応して変化するデータ電位をもつデータパルスが所定周期で繰り返す映像信号が前記映像信号線内を伝送され、前記式の右辺が、前記ゲート電位Vgが前記データ基準電位Voのときに最小値をとり、前記駆動回路は、前記最小値より低い値に前記低電位Vws_Lを制御する。   The self-luminous display device according to another embodiment (fourth embodiment) of the present invention is the data pulse having a data potential in which the potential difference from the data reference potential Vo changes in accordance with the display luminance of the pixel. Is transmitted through the video signal line, and the right side of the equation takes a minimum value when the gate potential Vg is the data reference potential Vo, and the drive circuit is less than the minimum value. The low potential Vws_L is controlled to a low value.

本発明の他の形態(第5形態)に関わる自発光型表示装置の駆動方法は、画素アレイ内で行列状に配置される複数の画素回路の各々が、一方電極の電位によって印加電圧値が変化する発光素子と、電源走査線と前記発光素子の一方電極との間に接続される駆動トランジスタと、前記駆動トランジスタの制御ノードと映像信号線との間に接続され、前記書込走査線の電位に応じて制御されるサンプリングトランジスタと、前記制御ノードに結合する保持キャパシタと、前記一方電極と、列方向の一方側に位置する他の画素回路の電源走査線との間に接続される補助キャパシタと、を含む自発光型表示装置の駆動方法であって、前記補助キャパシタの値Csub、前記発光素子の等価容量Coled.、前記電源走査線の高電位Vcc_Hと低電位Vcc_L、および、前記映像信号線の電位に対応して前記駆動トランジスタのゲート電位Vgがとりうる範囲に応じて、以下の式、すなわち、
Vws_L<Vg−(Vcc_H−Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.)
を満たす低電位Vws_Lが、低い方の電位として定められた前記書込走査線の2値電位によって前記サンプリングトランジスタを駆動する。
In a driving method of a self-luminous display device according to another embodiment (fifth embodiment) of the present invention, each of a plurality of pixel circuits arranged in a matrix in a pixel array has an applied voltage value depending on the potential of one electrode. A light-emitting element that changes, a driving transistor connected between a power supply scanning line and one electrode of the light-emitting element, a control node of the driving transistor and a video signal line, An auxiliary connected between a sampling transistor controlled in accordance with a potential, a holding capacitor coupled to the control node, the one electrode, and a power supply scanning line of another pixel circuit located on one side in the column direction. A self-luminous display device including a capacitor, wherein the auxiliary capacitor has a value Csub, an equivalent capacitance Coled. Of the light emitting element, a high potential Vcc_H and a low potential Vcc_ of the power source scanning line. , And, depending on the range gate potential Vg can be taken of the driving transistor in response to the potential of the video signal lines, the following formula, namely,
Vws_L <Vg− (Vcc_H−Vcc_L) Csub / (Csub + Coled.)
The sampling transistor is driven by the binary potential of the writing scanning line, which is defined as a lower potential Vws_L that satisfies the above condition.

ここで、他の画素回路の電源走査線が、例えば、高電位Vcc_Hから電源電位Vcc_Lに変化する場合を例として、作用を説明する。
電源走査線の電位変化は(Vcc_H−Vcc_L)で表され、これが補助キャパシタを介して、当該補助キャパシタが設けられ発光可能状態にある画素回路に入力されるとする。この画素回路は、発光可能状態であるため、サンプリングトランジスタがオフし、駆動トランジスタの制御ノードがフローティング状態となっている。
電位変化(Vcc_H−Vcc_L)が発光素子の一方電極に入力されると、この電位変化が、容量結合比g(=Csub/(Csub+Coled.))に比例した電位変化、即ち、(Vcc_H−Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.)となって、保持キャパシタを介して駆動トランジスタの制御ノードの電位を低下させる。上記式の右辺は、電位低下を受けたときに制御ノードで生じる電位変化のボトム値を示す。
Here, the operation will be described by taking as an example the case where the power supply scanning line of another pixel circuit changes from the high potential Vcc_H to the power supply potential Vcc_L, for example.
The potential change of the power supply scanning line is represented by (Vcc_H−Vcc_L), and this is input via the auxiliary capacitor to the pixel circuit in which the auxiliary capacitor is provided and in a light emitting state. Since this pixel circuit is in a light emission enabled state, the sampling transistor is turned off and the control node of the driving transistor is in a floating state.
When a potential change (Vcc_H−Vcc_L) is input to one electrode of the light emitting element, this potential change is a potential change proportional to the capacitive coupling ratio g (= Csub / (Csub + Coled.)), That is, (Vcc_H−Vcc_L). It becomes Csub / (Csub + Coled.), And the potential of the control node of the driving transistor is lowered via the holding capacitor. The right side of the above formula shows the bottom value of the potential change that occurs at the control node when the potential drops.

サンプリングトランジスタの制御ノードに書込走査線が接続され、書込走査線は低電位Vws_Lを低い方の電位とする2値電位により制御される。サンプリングトランジスタは、書込走査線の低電位Vws_Lでオフが規定される。   A write scan line is connected to the control node of the sampling transistor, and the write scan line is controlled by a binary potential having the low potential Vws_L as a lower potential. The sampling transistor is defined to be off by the low potential Vws_L of the writing scan line.

トランジスタが電界効果型の場合、ソース電位がゲート電位と同じであればリーク電流は発生しないが、ソース電位がゲート電位より低くなるとオンしない場合でもオフリーク電流が急激に大きくなる。
よって、上記式は、駆動トランジスタに重畳される電位変化によって制御ノードの電位が一番低くなったときでも、その電位がサンプリングトランジスタの制御ノードの電位より低くならない条件を規定し、この条件が満たされればオン電流およびリーク電流の発生が防止される。
When the transistor is a field effect type, no leakage current is generated if the source potential is the same as the gate potential, but when the source potential is lower than the gate potential, the off-leakage current increases rapidly even if the source potential is not turned on.
Therefore, the above formula defines a condition that the potential of the control node does not become lower than the potential of the control node of the sampling transistor even when the potential of the control node becomes the lowest due to the potential change superimposed on the drive transistor, and this condition is satisfied. If this occurs, the occurrence of on-current and leakage current is prevented.

本発明によれば、サンプリングトランジスタを介して電流が流れないため、電源走査線の電位変化により画質が低下することがない。   According to the present invention, since no current flows through the sampling transistor, the image quality does not deteriorate due to the potential change of the power supply scanning line.

以下、本発明の実施形態を、2T・1C型の画素回路を有する有機ELディスプレイを主な例として、図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, using an organic EL display having a 2T · 1C type pixel circuit as a main example.

<全体構成>
図1に、本発明の実施形態に関わる有機ELディスプレイの主要構成を示す。
図解する有機ELディスプレイ1は、複数の画素回路(PXLC)3(i,j)がマトリクス状に配置されている画素アレイ2と、画素アレイ2を駆動する垂直駆動回路(Vスキャナ)4および水平駆動回路(Hセレクタ:HSEL)5とを含む。
Vスキャナ4は、画素回路3の構成により複数設けられている。ここではVスキャナ4が、水平画素ライン駆動回路(DSCN)41と、書き込み信号走査回路(WSCN)42とを含んで構成されている。Vスキャナ4およびHセレクタ5は「駆動回路」の一部であり、「駆動回路」は、Vスキャナ4とHセレクタ5の他に、これらにクロック信号を与える回路や制御回路(CPU等)など、不図示の回路も含む。
<Overall configuration>
FIG. 1 shows a main configuration of an organic EL display according to an embodiment of the present invention.
The illustrated organic EL display 1 includes a pixel array 2 in which a plurality of pixel circuits (PXLC) 3 (i, j) are arranged in a matrix, a vertical drive circuit (V scanner) 4 that drives the pixel array 2, and a horizontal And a drive circuit (H selector: HSEL) 5.
A plurality of V scanners 4 are provided depending on the configuration of the pixel circuit 3. Here, the V scanner 4 includes a horizontal pixel line drive circuit (DSCN) 41 and a write signal scanning circuit (WSCN) 42. The V scanner 4 and the H selector 5 are a part of the “drive circuit”. The “drive circuit” includes a circuit for supplying a clock signal to the V scanner 4 and the H selector 5, a control circuit (CPU, etc.), and the like. Also includes a circuit (not shown).

図1に示す画素回路の符号「3(i,j)」は、当該画素回路が垂直方向(縦方向)のアドレスi(i=1,2)と、水平方向(横方向)のアドレスj(j=1,2,3)を持つことを意味する。これらのアドレスiとjは最大値をそれぞれ「n」と「m」とする1以上の整数をとる。ここでは図の簡略化のためn=2、m=3の場合を示す。
このアドレス表記は、以後の説明や図面において画素回路の素子、信号や信号線ならびに電圧等についても同様に適用する。
The code “3 (i, j)” of the pixel circuit shown in FIG. 1 indicates that the pixel circuit has an address i (i = 1, 2) in the vertical direction (vertical direction) and an address j ( j = 1,2,3). These addresses i and j take integers of 1 or more with the maximum values being “n” and “m”, respectively. Here, for simplification of the figure, a case where n = 2 and m = 3 is shown.
This address notation is similarly applied to the elements, signals, signal lines, voltages, and the like of the pixel circuit in the following description and drawings.

画素回路3(1,1)、3(2,1)が垂直方向の映像信号線DTL(1)に接続されている。同様に、画素回路3(1,2)、3(2,2)が垂直方向の映像信号線DTL(2)に接続され、画素回路3(1,3)、3(2,3)が垂直方向の映像信号線DTL(3)に接続されている。映像信号線DTL(1)〜DTL(3)は、Hセレクタ5によって駆動される。
第1行の画素回路3(1,1)、3(1,2)および3(1,3)が書込走査線WSL(1)に接続されている。同様に、第2行の画素回路3(2,1)、3(2,2)および3(2,3)が書込走査線WSL(2)に接続されている。書込走査線WSL(1),WSL(2)は、水平画素ライン駆動回路41によって駆動される。
また、第1行の画素回路3(1,1)、3(1,2)および3(1,3)が電源走査線DSL(1)に接続されている。同様に、第2行の画素回路3(2,1)、3(2,2)および3(2,3)が電源走査線DSL(2)に接続されている。電源走査線DSL(1),DSL(2)は、書き込み信号走査回路42によって駆動される。
Pixel circuits 3 (1,1) and 3 (2,1) are connected to the video signal line DTL (1) in the vertical direction. Similarly, the pixel circuits 3 (1,2) and 3 (2,2) are connected to the video signal line DTL (2) in the vertical direction, and the pixel circuits 3 (1,3) and 3 (2,3) are vertical. Direction video signal line DTL (3). The video signal lines DTL (1) to DTL (3) are driven by the H selector 5.
The pixel circuits 3 (1,1), 3 (1,2) and 3 (1,3) in the first row are connected to the write scanning line WSL (1). Similarly, the pixel circuits 3 (2,1), 3 (2,2) and 3 (2,3) in the second row are connected to the write scanning line WSL (2). The write scanning lines WSL (1) and WSL (2) are driven by the horizontal pixel line driving circuit 41.
The pixel circuits 3 (1,1), 3 (1,2) and 3 (1,3) in the first row are connected to the power supply scanning line DSL (1). Similarly, the pixel circuits 3 (2,1), 3 (2,2) and 3 (2,3) in the second row are connected to the power supply scanning line DSL (2). The power supply scanning lines DSL (1) and DSL (2) are driven by the write signal scanning circuit.

映像信号線DTL(1)〜DTL(3)を含むm本の映像信号線の何れか1本を、以下、符号「DTL(j)またはDTL」により表記する。同様に、書込走査線WSL(1),WSL(2)を含むn本の書込走査線の何れか1本を符号「WSL(i)またはWSL」により表記し、電源走査線DSL(1),DSL(2)を含むn本の電源走査線の何れか1本を符号「DSL(i)またはDSL」により表記する。
映像信号線DTL(j)に対し、表示画素行(表示ラインともいう)を単位として一斉に映像信号が排出される線順次駆動、あるいは、同一行の映像信号線DTL(j)に順次、映像信号が排出される点順次駆動があるが、本実施形態では、そのどの駆動法でもよい。
Any one of the m video signal lines including the video signal lines DTL (1) to DTL (3) will be represented by the symbol “DTL (j) or DTL”. Similarly, any one of the n write scan lines including the write scan lines WSL (1) and WSL (2) is represented by the reference numeral “WSL (i) or WSL”, and the power scan line DSL (1 ), Any one of the n power supply scanning lines including DSL (2) is represented by a symbol “DSL (i) or DSL”.
For the video signal line DTL (j), line-sequential driving in which video signals are discharged all at once in units of display pixel rows (also referred to as display lines), or video is sequentially applied to video signal lines DTL (j) in the same row. Although there is dot sequential driving in which signals are discharged, any driving method may be used in this embodiment.

<画素回路>
図2に、画素回路3(i,j)の一構成例を示す。
図解する画素回路3(i,j)は、有機発光ダイオードOLEDを制御する回路である。画素回路は、有機発光ダイオードOLEDの他に、NMOSタイプのTFTからなる駆動トランジスタMdおよびサンプリングトランジスタMsと、保持キャパシタCsとを有する。
<Pixel circuit>
FIG. 2 shows a configuration example of the pixel circuit 3 (i, j).
The pixel circuit 3 (i, j) illustrated is a circuit that controls the organic light emitting diode OLED. In addition to the organic light emitting diode OLED, the pixel circuit includes a drive transistor Md and a sampling transistor Ms made of an NMOS type TFT, and a holding capacitor Cs.

有機発光ダイオードOLEDは、特に図示しないが、例えば上面発光型の場合、透明ガラス等からなる基板に形成されたTFT構造の上にアノード電極を最初に形成し、その上に、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層等を順次堆積させて有機多層膜を構成する積層体を形成し、積層体の上に透明電極材料からなるカソード電極を形成した構造を有する。アノード電極が正側の電源に接続され、カソード電極が負側の電源に接続される。   Although the organic light emitting diode OLED is not particularly shown, for example, in the case of a top emission type, an anode electrode is first formed on a TFT structure formed on a substrate made of transparent glass or the like, and a hole transport layer, A light emitting layer, an electron transport layer, an electron injection layer, and the like are sequentially deposited to form a laminate that forms an organic multilayer film, and a cathode electrode made of a transparent electrode material is formed on the laminate. The anode electrode is connected to the positive power source, and the cathode electrode is connected to the negative power source.

有機発光ダイオードOLEDのアノードとカソードの電極間に所定の電界が得られるバイアス電圧を印加すると、注入された電子と正孔が発光層において再結合する際に有機多層膜が自発光する。有機発光ダイオードOLEDは、有機多層膜を構成する有機材料を適宜選択することで赤(R),緑(G),青(B)の各色での発光が可能であることから、この有機材料を、例えば各行の画素にR,G,Bの発光が可能に配列することで、カラー表示が可能となる。あるいは、白色発光の有機材料を用いて、フィルタの色でR,G,Bの区別を行ってもよい。R,G,Bの他にW(ホワイト)を加えた4色構成でもよい。   When a bias voltage for obtaining a predetermined electric field is applied between the anode and cathode electrodes of the organic light emitting diode OLED, the organic multilayer film emits light when the injected electrons and holes recombine in the light emitting layer. The organic light emitting diode OLED can emit light in each color of red (R), green (G), and blue (B) by appropriately selecting the organic material constituting the organic multilayer film. For example, color display is possible by arranging the light emission of R, G, B in the pixels of each row. Alternatively, R, G, and B may be distinguished by the color of the filter using an organic material that emits white light. A four-color configuration in which W (white) is added in addition to R, G, and B may be used.

駆動トランジスタMdは、有機発光ダイオードOLEDに流す電流量を制御して表示階調を規定する電流制御手段として機能する。
駆動トランジスタMdのドレインが、電源電圧VDDの供給を制御する電源走査線DSL(i)に接続され、ソースが有機発光ダイオードOLEDのアノードに接続されている。有機発光ダイオードOLEDのアノード電極が「一方電極」に該当する。
The drive transistor Md functions as current control means for controlling the amount of current flowing through the organic light emitting diode OLED to define display gradation.
The drain of the driving transistor Md is connected to the power supply scanning line DSL (i) that controls the supply of the power supply voltage VDD, and the source is connected to the anode of the organic light emitting diode OLED. The anode electrode of the organic light emitting diode OLED corresponds to “one electrode”.

サンプリングトランジスタMsは、画素階調を決めるデータ電位Vsigの供給線(映像信号線DTL(j))と駆動トランジスタMdのゲート(制御ノードNDc)との間に接続されている。サンプリングトランジスタMsのソースとドレインの一方が駆動トランジスタMdのゲート(制御ノードNDc)に接続され、もう片方が映像信号線DTL(j)に接続されている。映像信号線DTL(j)に、Hセレクタ5(図1参照)からデータ電位Vsigを持つデータパルスが所定の間隔で供給される。サンプリングトランジスタMsは、データ電位の供給期間(データパルスの持続時間(duration time))の適正なタイミングで、当該画素回路で表示すべきレベルのデータをサンプリングする。これは、サンプリングすべき所望のデータ電位Vsigを持つデータパルスの前部または後部における、レベルが不安定な遷移期間の表示映像に与える影響を排除するためである。   The sampling transistor Ms is connected between the supply line (video signal line DTL (j)) of the data potential Vsig that determines the pixel gradation and the gate (control node NDc) of the drive transistor Md. One of the source and drain of the sampling transistor Ms is connected to the gate (control node NDc) of the drive transistor Md, and the other is connected to the video signal line DTL (j). A data pulse having a data potential Vsig is supplied to the video signal line DTL (j) from the H selector 5 (see FIG. 1) at a predetermined interval. The sampling transistor Ms samples data at a level to be displayed by the pixel circuit at an appropriate timing in a data potential supply period (data pulse duration time). This is to eliminate the influence on the display image in the transition period where the level is unstable at the front or rear of the data pulse having the desired data potential Vsig to be sampled.

駆動トランジスタMdのゲート(制御ノード)とソース(有機発光ダイオードOLEDのアノードをなす一方電極)との間に、保持キャパシタCsが接続されている。保持キャパシタCsの役割については、後述の動作説明で明らかにする。   A holding capacitor Cs is connected between the gate (control node) and source (one electrode forming the anode of the organic light emitting diode OLED) of the drive transistor Md. The role of the holding capacitor Cs will be clarified in the operation description described later.

図2では、水平画素ライン駆動回路41により、低電位Vcc_Lを基準とした高電位Vcc_Hの波高値が電源電圧VDDとなる電源駆動パルスDS(i)が駆動トランジスタMdのドレインに供給され、駆動トランジスタMdの補正時や有機発光ダイオードOLEDが実際に発光する時の電源供給が行われる。
また、書き込み信号走査回路42により、比較的短い持続時間の書込駆動パルスWS(i)がサンプリングトランジスタMsのゲートに供給され、サンプリング制御が行われる。
なお、電源供給の制御は、駆動トランジスタMdのドレインと電源電圧VDDの供給線との間にトランジスタをもう1つ挿入し、そのゲートを水平画素ライン駆動回路41により制御する構成であってもよい(後述の変形例参照)。
In FIG. 2, the horizontal pixel line drive circuit 41 supplies a power supply drive pulse DS (i) in which the peak value of the high potential Vcc_H with respect to the low potential Vcc_L becomes the power supply voltage VDD to the drain of the drive transistor Md. Power is supplied when correcting Md or when the organic light emitting diode OLED actually emits light.
Further, the write signal scanning circuit 42 supplies a write drive pulse WS (i) having a relatively short duration to the gate of the sampling transistor Ms to perform sampling control.
The power supply control may be configured such that another transistor is inserted between the drain of the drive transistor Md and the supply line of the power supply voltage VDD, and the gate is controlled by the horizontal pixel line drive circuit 41. (Refer to a modification described later).

図2では有機発光ダイオードOLEDの一方電極(アノード)が駆動トランジスタMdを介して正側の電源から電源電圧VDDの供給を受ける。有機発光ダイオードOLEDのカソードが、カソード電位Vcathを供給する所定の電圧線(例えば、負側の電源線)に接続されている。   In FIG. 2, one electrode (anode) of the organic light emitting diode OLED is supplied with the power supply voltage VDD from the positive power supply via the drive transistor Md. The cathode of the organic light emitting diode OLED is connected to a predetermined voltage line (for example, a negative power supply line) that supplies a cathode potential Vcath.

通常、画素回路内の全てのトランジスタはTFTで形成されている。TFTのチャネルが形成される薄膜半導体層は、多結晶シリコン(ポリシリコン)または非晶質シリコン(アモルファスシリコン)等の半導体材料からなる。ポリシリコンTFTは移動度を高くとれるが特性ばらつきが大きいため、表示装置の大画面化に適さない。よって、大画面を有する表示装置では、一般に、アモルファスシリコンTFTが用いられる。ただし、アモルファスシリコンTFTではPチャネル型TFTが形成し難いため、上述した画素回路3(i,j)のように、すべてのTFTをNチャネル型とすることが望ましい。   Usually, all transistors in the pixel circuit are formed of TFTs. The thin film semiconductor layer in which the TFT channel is formed is made of a semiconductor material such as polycrystalline silicon (polysilicon) or amorphous silicon (amorphous silicon). Polysilicon TFTs can have high mobility, but their characteristic variation is large, so they are not suitable for increasing the screen size of a display device. Therefore, in a display device having a large screen, an amorphous silicon TFT is generally used. However, since it is difficult to form a P-channel TFT in an amorphous silicon TFT, it is desirable that all TFTs be an N-channel type like the pixel circuit 3 (i, j) described above.

ここで、以上の画素回路3(i,j)は、本実施形態で適用可能な画素回路の一例、即ち2トランジスタ(2T)・1キャパシタ(1C)型の基本構成例である。よって、本実施形態で用いることができる画素回路は、上記画素回路3(i,j)を基本構成として、さらにトランジスタやキャパシタを付加した画素回路であってもよい(後述の変形例参照)。また、基本構成において、保持キャパシタCsを電源電圧VDDの供給線と駆動トランジスタMdのゲートとの間に接続するものもある。
具体的に、本実施形態で採用可能な2T・1C型以外の画素回路として、後述する変形例で幾つかを簡単に述べるが、例えば、4T・1C型、4T・2C型、5T・1C型、3T・1C型などであってもよい。
Here, the pixel circuit 3 (i, j) described above is an example of a pixel circuit applicable in the present embodiment, that is, a basic configuration example of a two-transistor (2T) / 1-capacitor (1C) type. Therefore, the pixel circuit that can be used in the present embodiment may be a pixel circuit having the pixel circuit 3 (i, j) as a basic configuration and further added with a transistor and a capacitor (refer to a modification described later). In some basic configurations, the holding capacitor Cs is connected between the supply line of the power supply voltage VDD and the gate of the drive transistor Md.
Specifically, some pixel circuits other than the 2T • 1C type that can be employed in the present embodiment will be briefly described in modification examples described later. For example, 4T • 1C type, 4T • 2C type, 5T • 1C type It may be a 3T / 1C type.

図2の構成を基本とする画素回路では、閾値電圧補正時や移動度補正時に有機発光ダイオードOLEDを逆バイアスすると、詳細は後述するが、有機発光ダイオードOLEDの逆バイアス時の等価容量値が保持キャパシタCsの値より十分大きくできるため、有機発光ダイオードOLEDのアノードが電位的に動き難くなるため、補正精度が向上する。このため、逆バイアス状態で補正を行うことが望ましい。
カソード電位Vcathを接地せずに、カソードを所定の電圧線に接続しているのは、逆バイアスを行うためである。有機発光ダイオードOLEDを逆バイアスするには、例えば、電源駆動パルスDS(i)の基準電位(低電位Vcc_L)より、カソード電位Vcathを小さくする。
In the pixel circuit based on the configuration of FIG. 2, when the organic light emitting diode OLED is reverse-biased at the time of threshold voltage correction or mobility correction, the equivalent capacitance value at the time of reverse biasing of the organic light-emitting diode OLED is maintained, as will be described in detail later. Since it can be made sufficiently larger than the value of the capacitor Cs, the anode of the organic light emitting diode OLED becomes difficult to move in terms of potential, so that the correction accuracy is improved. For this reason, it is desirable to perform correction in a reverse bias state.
The reason why the cathode is connected to a predetermined voltage line without grounding the cathode potential Vcath is to perform reverse bias. In order to reverse bias the organic light emitting diode OLED, for example, the cathode potential Vcath is made smaller than the reference potential (low potential Vcc_L) of the power supply driving pulse DS (i).

データの書き込み時に、有機発光ダイオードOLEDのアノード電位を更に動き難くして電位的に固定するには、有機発光ダイオードOLEDのアノードからみた容量値を大きくするとよい。この目的で、有機発光ダイオードOLEDのアノードに補助キャパシタが接続される。この補助キャパシタの有無によって、動作タイミング制御自体が変更されないので、先に動作(表示制御)を説明する。   In order to make the anode potential of the organic light emitting diode OLED more difficult to move and fix the potential when writing data, it is preferable to increase the capacitance value seen from the anode of the organic light emitting diode OLED. For this purpose, an auxiliary capacitor is connected to the anode of the organic light emitting diode OLED. Since the operation timing control itself is not changed by the presence or absence of the auxiliary capacitor, the operation (display control) will be described first.

<表示制御>
図2の回路におけるデータ書き込み時の動作を、閾値電圧と移動度の補正動作と併せて説明する。これらの一連の動作を「表示制御」という。
最初に、補正対象となる駆動トランジスタと有機発光ダイオードOLEDの特性について説明する。
<Display control>
The operation at the time of data writing in the circuit of FIG. 2 will be described together with the threshold voltage and mobility correction operation. A series of these operations is called “display control”.
First, the characteristics of the drive transistor to be corrected and the organic light emitting diode OLED will be described.

図2に示す駆動トランジスタMdの制御ノードNDcには、保持キャパシタCsが結合されている。映像信号線DTL(j)を伝送するデータパルスの有効電位であるデータ電位VsigがサンプリングトランジスタMsでサンプリングされ、これにより得られた電位が制御ノードNDcに印加され、保持キャパシタCsで保持される。駆動トランジスタMdのゲートに所定の電位が印加された時、そのドレイン電流Idsは、印加電位に応じた値を持つゲートソース間電圧Vgsに応じて決まる。
ここで駆動トランジスタMdのソース電位Vsを、上記データパルスの基準電位(データ基準電位Vo)に初期化してから、サンプリングを行うとする。サンプリング後のデータ電位Vsig、より正確には、データ基準電位Voとデータ電位Vsigとの電位差で規定されるデータ電圧Vinの大きさに応じたドレイン電流Idsが駆動トランジスタMdに流れ、これがほぼ、有機発光ダイオードOLEDの駆動電流Idとなる。
よって、駆動トランジスタMdのソース電位Vsがデータ基準電位Voで初期化されている場合、有機発光ダイオードOLEDがデータ電位Vsigに応じた輝度で発光する。
A holding capacitor Cs is coupled to the control node NDc of the drive transistor Md shown in FIG. The data potential Vsig, which is the effective potential of the data pulse transmitted through the video signal line DTL (j), is sampled by the sampling transistor Ms, and the potential thus obtained is applied to the control node NDc and held by the holding capacitor Cs. When a predetermined potential is applied to the gate of the drive transistor Md, the drain current Ids is determined according to the gate-source voltage Vgs having a value corresponding to the applied potential.
Here, it is assumed that sampling is performed after the source potential Vs of the drive transistor Md is initialized to the reference potential (data reference potential Vo) of the data pulse. The data potential Vsig after sampling, more precisely, the drain current Ids corresponding to the magnitude of the data voltage Vin defined by the potential difference between the data reference potential Vo and the data potential Vsig flows to the drive transistor Md, which is almost organic. It becomes the drive current Id of the light emitting diode OLED.
Therefore, when the source potential Vs of the driving transistor Md is initialized with the data reference potential Vo, the organic light emitting diode OLED emits light with a luminance corresponding to the data potential Vsig.

図3に、有機発光ダイオードOLEDのI−V特性のグラフと、駆動トランジスタMdのドレイン電流Ids(OLEDの駆動電流Idにほぼ相当)の一般式を示す。
有機発光ダイオードOLEDは、よく知られているように、経時変化によりI−V特性が図3のように変化する。このとき、図2の画素回路では、駆動トランジスタMdが一定のドレイン電流Idsを流そうとしても、図3に示すグラフから分かるように有機発光ダイオードOLEDの印加電圧が大きくなるため、有機発光ダイオードOLEDのソース電位Vsが上昇する。このとき駆動トランジスタMdのゲートはフローティング状態であるため、ほぼ一定のゲートソース間電圧Vgsが維持されるように、ソース電位と共にゲート電位も上昇し、ドレイン電流Idsはほぼ一定に保たれ、このことが有機発光ダイオードOLEDの発光輝度を変化させないように作用する。
FIG. 3 shows a graph of the IV characteristic of the organic light emitting diode OLED and a general formula of the drain current Ids of the drive transistor Md (which is substantially equivalent to the drive current Id of the OLED).
As is well known, the organic light emitting diode OLED changes its IV characteristic as shown in FIG. At this time, in the pixel circuit of FIG. 2, even if the drive transistor Md tries to pass a constant drain current Ids, the applied voltage of the organic light emitting diode OLED increases as can be seen from the graph shown in FIG. Source potential Vs rises. At this time, since the gate of the driving transistor Md is in a floating state, the gate potential rises together with the source potential so that the substantially constant gate-source voltage Vgs is maintained, and the drain current Ids is kept substantially constant. Acts so as not to change the light emission luminance of the organic light emitting diode OLED.

しかしながら、画素回路ごとに駆動トランジスタMdの閾値電圧Vth、移動度μが異なっているため、図3の式に応じて、ドレイン電流Idsにバラツキが生じ、表示画面内で与えられているデータ電位Vsigが同じ2つの画素であっても、当該2つの画素間で発光輝度が異なる。   However, since the threshold voltage Vth and the mobility μ of the driving transistor Md are different for each pixel circuit, the drain current Ids varies according to the equation of FIG. 3, and the data potential Vsig given in the display screen. Even if the two pixels are the same, the light emission luminance differs between the two pixels.

なお、図3の式において、符号“Ids”は、飽和領域で動作する駆動トランジスタMdのドレインとソース間に流れる電流を表す。また、当該駆動トランジスタMdにおいて、“Vth”が閾値電圧を、“μ”が移動度を、“W”が実効チャネル幅(実効ゲート幅)を、“L”が実効チャネル長(実効ゲート長)を、それぞれ表す。また、“Cox”が当該駆動トランジスタMdの単位ゲート容量、即ち単位面積当たりのゲート酸化膜容量と、ソースやドレインとゲート間のフリンジング容量との総和を表す。   In the equation of FIG. 3, the symbol “Ids” represents a current flowing between the drain and the source of the drive transistor Md operating in the saturation region. In the drive transistor Md, “Vth” is the threshold voltage, “μ” is the mobility, “W” is the effective channel width (effective gate width), and “L” is the effective channel length (effective gate length). Respectively. “Cox” represents the sum of the unit gate capacitance of the drive transistor Md, that is, the gate oxide film capacitance per unit area, and the fringing capacitance between the source, drain, and gate.

Nチャネル型の駆動トランジスタMdを有する画素回路は、駆動能力が高く製造プロセスを簡略化できる利点があるが、閾値電圧Vthや移動度μのばらつきを抑えるため、それらの補正動作を、発光可能なバイアス設定に先立って行う必要がある。   The pixel circuit having the N-channel type driving transistor Md has an advantage of high driving capability and simplification of the manufacturing process. However, in order to suppress variations in the threshold voltage Vth and the mobility μ, these correction operations can emit light. Must be done prior to bias setting.

つぎに、図4を用いて具体的な制御の説明に移るが、この図4は、本発明が適用される前の制御を示している。
以下、図4における期間を定義し、制御の全体を図4の時間軸に沿って詳しく説明した上で、図4の制御での不具合(横クロストークの発生)、図4の制御に対する本発明の適用(本実施形態の特徴)とその効果の順で説明する。
Next, the control will be described with reference to FIG. 4. FIG. 4 shows the control before the present invention is applied.
In the following, the period in FIG. 4 is defined and the entire control is described in detail along the time axis in FIG. 4, and then the malfunction in the control in FIG. 4 (occurrence of lateral crosstalk) and the present invention for the control in FIG. Application (features of this embodiment) and effects thereof will be described in this order.

図4(A)〜図4(F)は、表示制御における各種信号や電圧の波形を示すタイミングチャートである。ここでの表示制御では行単位でデータ書き込みを順次行うものとし、第1行の画素回路3(1,j)が書き込み対象の行(表示行)であり、第2行の画素回路3(2,j)と第3行の画素回路3(3,j)は、図4の時点では書き込み対象でない(非表示行である)。表示行に対し、図4に示し、これから説明する表示制御によってデータが書かれた後は、表示行が第2行に移り同様な表示制御が行われ、同様な表示制御が第3行、第4行、…と繰り返されることによって1画面が表示される。1画面の表示後は、同様にして他の画面表示のための表示制御が、必要な回数繰り返される。   4A to 4F are timing charts showing waveforms of various signals and voltages in display control. In this display control, data writing is sequentially performed in units of rows. The pixel circuit 3 (1, j) in the first row is a row to be written (display row), and the pixel circuit 3 (2 in the second row). , j) and the pixel circuit 3 (3, j) in the third row are not write targets (non-display rows) at the time of FIG. For the display line, after data is written by the display control shown in FIG. 4 and described below, the display line moves to the second line and the same display control is performed, and the same display control is performed for the third and second lines. One screen is displayed by repeating four lines,... After the display of one screen, display control for displaying other screens is repeated as many times as necessary.

図4(A)は、映像信号Ssigの波形図である。
図4(B1)と図4(B2)は、書込対象の第1行に供給される書込駆動パルスWS(1)と電源駆動パルスDS(1)の波形図である。同様にして、図4(C1)と図4(C2)は、非書込対象の第2行に供給される書込駆動パルスWS(2)と電源駆動パルスDS(2)の波形図、図4(D1)と図4(D2)は、非書込対象の第3行に供給される書込駆動パルスWS(3)と電源駆動パルスDS(3)の波形図である。
図4(E)は、書込対象の第1行の画素回路3(1,j)における駆動トランジスタMdのゲート電位(制御ノードNDcの電位)の波形図である。
図4(F)は、書込対象の第1行の画素回路3(1,j)における駆動トランジスタMdのソース電位(有機発光ダイオードOLEDのアノード電位)の波形図である。
FIG. 4A is a waveform diagram of the video signal Ssig.
FIGS. 4B1 and 4B2 are waveform diagrams of the write drive pulse WS (1) and the power supply drive pulse DS (1) supplied to the first row to be written. Similarly, FIGS. 4C1 and 4C2 are waveform diagrams and diagrams of the write drive pulse WS (2) and the power supply drive pulse DS (2) supplied to the second row to be non-written. 4 (D1) and FIG. 4 (D2) are waveform diagrams of the write drive pulse WS (3) and the power supply drive pulse DS (3) supplied to the third row to be non-written.
FIG. 4E is a waveform diagram of the gate potential (potential of the control node NDc) of the drive transistor Md in the pixel circuit 3 (1, j) in the first row to be written.
FIG. 4F is a waveform diagram of the source potential of the drive transistor Md (the anode potential of the organic light emitting diode OLED) in the pixel circuit 3 (1, j) in the first row to be written.

[期間の定義]
図4(F)の下部に記載している通り、図4は、NTSC映像信号規格の1水平期間(1H)に対し、その約4倍強のスパンで波形図を表示している。そして、その最後の1水平期間(1H)で、最終的な3回目の第3閾値補正(VTC3)と、移動度の補正および実際のデータ書き込み(W&μ)とを連続して実行する(本動作)。その最後の1水平期間(1H)に行われる本動作より前の3水平期間((1H)×3)は、専ら、初期化のためと、最終的な閾値補正では時間が短くて補正しきれない場合を考慮して、ある程度まで閾値補正を予め2度行うために費やされる(予備動作)。
図4のような表示制御は、表示画像の高解像度化が進展し、表示パネルの駆動周波数が非常に高くなっている現状では、短い1水平期間(1H)で閾値電圧補正からデータ書き込みまで一挙に行うことができず、とくに閾値補正の時間が不足することに鑑み、閾値補正を数回に分けて行うものである。ただし、駆動周波数が余り高くない小型から中型の表示パネル等で、本動作の時間が1水平期間(1H)で十分なら、初期化のために1水平期間(1H)もあれば予備動作としては十分な場合もある。もちろん、予備動作が2水平期間(2H)であってもよいし、4水平期間(4H)以上であってもよい。
ある行に対して本動作を行っているときは、次の行(および、その次以降の行、…、)について予備動作を並列に実行できるため、予備動作時間の長短は全体の表示期間にほとんど影響しない。むしろ、閾値電圧補正を確実に行う意味で、予備動作を十分に行ったほうが望ましい。
[Definition of period]
As shown in the lower part of FIG. 4F, FIG. 4 displays a waveform diagram with a span slightly more than four times as long as one horizontal period (1H) of the NTSC video signal standard. Then, in the final one horizontal period (1H), the final third threshold correction (VTC3), the mobility correction, and the actual data writing (W & μ) are continuously executed (this operation). ). The last three horizontal periods ((1H) × 3) prior to the main operation performed in the last one horizontal period (1H) are completely corrected for initialization and for the final threshold correction. Considering the case where there is not, it is expended to perform threshold correction twice in advance to some extent (preliminary operation).
In the display control as shown in FIG. 4, the resolution of the display image is increasing and the drive frequency of the display panel is very high. At present, from the threshold voltage correction to the data writing in one short horizontal period (1H). In view of the shortage of threshold correction time, the threshold correction is performed in several steps. However, for a small to medium-sized display panel or the like whose driving frequency is not so high, if the time of this operation is sufficient for one horizontal period (1H), if there is one horizontal period (1H) for initialization, the preliminary operation is It may be enough. Of course, the preliminary operation may be two horizontal periods (2H), or four horizontal periods (4H) or more.
When this operation is performed for a certain row, the preliminary operation can be executed in parallel for the next row (and the subsequent rows, etc.). Almost no effect. Rather, it is desirable that the preliminary operation is sufficiently performed in order to surely correct the threshold voltage.

以上は1水平期間(1H)という一定尺度で見た期間の区分であるが、図4(F)に記載した大よそ4水平期間を機能的に把握することも可能である。
具体的に図4(A)の上部に記載しているように、(1フィールドまたは1フレーム)前画面の発光期間(LM0)の後に時系列の順で、放電期間(D−CHG)、初期化期間(INT)、第1閾値補正期間(VTC1)、第1待機期間(WAT1)、第2閾値補正期間(VTC2)、第2待機期間(WAT2)を経て「予備動作」が実行される。また、続いて、第3閾値補正(VTC3)、第3待機期間(WAT3)、書込み&移動度補正期間(W&μ)を経て、当該第1行の画素回路3(1,j)の発光期間(LM1)に推移することによって「本動作」が実行される。
The above is the division of the period viewed on a fixed scale of one horizontal period (1H), but it is also possible to functionally grasp the roughly four horizontal periods described in FIG.
Specifically, as described in the upper part of FIG. 4A, the discharge period (D-CHG) in the chronological order after the light emission period (LM0) of the previous screen (one field or one frame), the initial period The “preliminary operation” is executed through the conversion period (INT), the first threshold correction period (VTC1), the first standby period (WAT1), the second threshold correction period (VTC2), and the second standby period (WAT2). Subsequently, after the third threshold value correction (VTC3), the third standby period (WAT3), the writing & mobility correction period (W & μ), the light emission period of the pixel circuit 3 (1, j) in the first row ( The “main operation” is executed by transitioning to LM1).

[駆動パルスの概略]
また、図4では、波形図の適当な箇所に時間表示を符号“T0”〜“T21”により示している。つぎに、この時間表示を参照して映像信号や駆動パルスの概略を説明する。
第1行に供給される書込駆動パルスWS(1)では、図4(B1)に示すように、“L”レベルで非アクティブ、“H”レベルでアクティブの4つのサンプリングパルス(SP0〜SP3)が周期的に出現する。このとき4つのサンプリングパルス(SP0〜SP3)の周期は、予備動作(時間T0〜時間T15)および本動作(時間T15以後)を通じて一定である。ただし、本動作における書込駆動パルスWS(1)は、4つ目のサンプリングパルス(SP3)の後に書き込みパルス(WP)が重畳された波形となる。
[Outline of drive pulse]
Further, in FIG. 4, time display is indicated by symbols “T0” to “T21” at appropriate portions of the waveform diagram. Next, an outline of the video signal and the drive pulse will be described with reference to this time display.
In the write drive pulse WS (1) supplied to the first row, as shown in FIG. 4B1, four sampling pulses (SP0 to SP3) which are inactive at the “L” level and active at the “H” level. ) Appear periodically. At this time, the cycle of the four sampling pulses (SP0 to SP3) is constant throughout the preliminary operation (time T0 to time T15) and the main operation (after time T15). However, the write drive pulse WS (1) in this operation has a waveform in which the write pulse (WP) is superimposed after the fourth sampling pulse (SP3).

これに対し、m本(数百〜千数百本)の映像信号線DTL(j)(図1および図2参照)に供給される映像信号Ssigは、線順次表示ではm本の映像信号線DTL(j)に同時に供給される。そして、映像信号Ssigをサンプリング後に得られるデータ電圧を反映した信号振幅(Vin)は、図4(A)に示すように、1水平期間(1H)の前半部分で繰り返し出現するデータ基準電位Voを基準とした、1水平期間(1H)の後半部分に繰り返し出現する映像信号パルス(PP)の波高値に相当する。以下、信号振幅(Vin)をデータ電圧Vinと呼ぶ。
図4(A)に示す幾つかの映像信号パルス(PP)のうち、第1行にとって重要な映像信号パルスは、書き込みパルス(WP)と時間的に重なる本動作時の映像信号パルス(PPx)である。本動作時の映像信号パルス(PPx)のデータ基準電位Voからの波高値が、図4で表示させたい(書き込みたい)階調値、即ちデータ電圧Vinの大きさに該当する。この階調値(=Vin)は、第1行の各画素で同じ場合(単色表示の場合)もあるが、通常、表示画素行の階調値に応じて変化している。図4は、主として、第1行内における1つの画素についての動作を説明するためのものであるが、同一行の他の画素では、この表示階調値が異なることがある以外、制御自体は、図示の画素駆動制御と並列に実行される。
On the other hand, the video signal Ssig supplied to m (several hundred to several hundreds) video signal lines DTL (j) (see FIGS. 1 and 2) is m video signal lines in line sequential display. DTL (j) is supplied simultaneously. The signal amplitude (Vin) reflecting the data voltage obtained after sampling the video signal Ssig is the data reference potential Vo that repeatedly appears in the first half of one horizontal period (1H) as shown in FIG. This corresponds to the peak value of the video signal pulse (PP) that repeatedly appears in the latter half of one horizontal period (1H) as a reference. Hereinafter, the signal amplitude (Vin) is referred to as a data voltage Vin.
Of the several video signal pulses (PP) shown in FIG. 4A, the video signal pulse important for the first row is the video signal pulse (PPx) in the main operation that overlaps the write pulse (WP) in time. It is. The peak value from the data reference potential Vo of the video signal pulse (PPx) during this operation corresponds to the gradation value to be displayed (written) in FIG. 4, that is, the magnitude of the data voltage Vin. This gradation value (= Vin) may be the same for each pixel in the first row (in the case of monochromatic display), but usually changes according to the gradation value of the display pixel row. FIG. 4 is mainly for explaining the operation of one pixel in the first row, but the control itself is different except that this display gradation value may be different in other pixels in the same row. This is executed in parallel with the pixel drive control shown.

駆動トランジスタMdのドレイン(図2参照)に供給される電源駆動パルスDS(1)は、図4(B2)に示すように、時間T0から最初の第1閾値補正期間(VTC1)の開始(時間T6)直前まで非アクティブの低電位Vcc_Lで保持され、第1閾値補正期間(VTC1)の開始とほぼ同時に(時間T6)、アクティブの高電位Vcc_Hに推移する。高電位Vcc_Hの保持は、発光期間(LM1)が終了するまで続く。   The power supply driving pulse DS (1) supplied to the drain (see FIG. 2) of the driving transistor Md is the start (time) of the first first threshold correction period (VTC1) from time T0, as shown in FIG. 4 (B2). T6) It is held at the inactive low potential Vcc_L until immediately before, and transitions to the active high potential Vcc_H almost simultaneously with the start of the first threshold correction period (VTC1) (time T6). The holding of the high potential Vcc_H continues until the light emission period (LM1) ends.

第2行(の画素回路3(2,j))、第3行(の画素回路3(3,j))については、それぞれ、図4(C1)と図4(C2)、図4(D1)と図4(D2)に示すように、1水平期間(1H)ずつ各パルスが遅れて印加される。
具体的には、第1行の第1閾値補正期間(VTC1)に対応する2つ目のサンプリングパルス(SP1)が印加される時間T5〜T7の期間に、第2行では、初期化期間(INT)に対応する1つ目のサンプリングパルス(SP0)が印加される。
このパルス印加の途中、即ち時間T6で第1行の電源駆動パルスDS(1)がハイレベル(電源電位Vcc_H)に立ち上がりアクティブとなる。
The second row (pixel circuit 3 (2, j)) and the third row (pixel circuit 3 (3, j)) are shown in FIGS. 4C1, 4C2, and 4D1, respectively. ) And FIG. 4D2, each pulse is applied with a delay of one horizontal period (1H).
Specifically, in the period of time T5 to T7 in which the second sampling pulse (SP1) corresponding to the first threshold correction period (VTC1) of the first row is applied, the initialization period ( A first sampling pulse (SP0) corresponding to (INT) is applied.
During this pulse application, that is, at time T6, the power supply driving pulse DS (1) in the first row rises to a high level (power supply potential Vcc_H) and becomes active.

その後、第1行の第2閾値補正期間(VTC2)に対応する3つ目のサンプリングパルス(SP2)が印加される時間T10〜T12の期間に、第2行では、第1行から1水平期間(1H)遅れて上記2つ目のサンプリングパルス(SP1)が印加され、第3行では、第1行から2水平周期((1H)×2)遅れて上記1つ目のサンプリングパルス(SP0)が印加される。
このパルス印加の途中、即ち時間T11で第2行の電源駆動パルスDS(2)が高電位Vcc_Hに立ち上がりアクティブとなる。
Thereafter, in the period of time T10 to T12 in which the third sampling pulse (SP2) corresponding to the second threshold correction period (VTC2) of the first row is applied, in the second row, from the first row to one horizontal period The second sampling pulse (SP1) is applied with a delay of (1H). In the third row, the first sampling pulse (SP0) is delayed by two horizontal periods ((1H) × 2) from the first row. Is applied.
During this pulse application, that is, at time T11, the power supply driving pulse DS (2) in the second row rises to the high potential Vcc_H and becomes active.

その後、第1行の第3閾値補正期間(VTC3)に対応する4つ目のサンプリングパルス(SP3)が印加される時間T15〜T17の期間に、第2行では、第1行から1水平期間(1H)遅れて上記3つ目のサンプリングパルス(SP2)が印加され、第3行では、第1行から2水平周期((1H)×2)遅れて上記2つ目のサンプリングパルス(SP1)が印加される。
このパルス印加の途中、即ち時間T16で第3行の電源駆動パルスDS(3)が高電位Vcc_Hに立ち上がりアクティブとなる。
Thereafter, in the period of time T15 to T17 in which the fourth sampling pulse (SP3) corresponding to the third threshold correction period (VTC3) of the first row is applied, in the second row, from the first row to one horizontal period The third sampling pulse (SP2) is applied with a delay of (1H), and in the third row, the second sampling pulse (SP1) is delayed by two horizontal periods ((1H) × 2) from the first row. Is applied.
During this pulse application, that is, at time T16, the power supply driving pulse DS (3) in the third row rises to the high potential Vcc_H and becomes active.

以上のようにしてパルス印加のタイミング設計を行うと、ある行の本動作を行っている期間に、その1〜数水平期間後に本動作を行う他の数行分の予備動作を並列に実行することから、本動作に限ってみると行単位でシームレスに、その実行がなされる。よって、最初の数水平期間以外は無駄な期間は発生しない。
表示画面は通常、数百〜千数百の行を有するため、1画面表示中における1〜数水平期間という時間は無視できるほど短い。したがって、閾値電圧補正を数回に分けても時間的な損失は実質的に生じない。
When the pulse application timing design is performed as described above, the preliminary operation for several other rows in which the main operation is performed in parallel after one to several horizontal periods is performed in parallel during the period in which the main operation is performed in a certain row. For this reason, when it is limited to this operation, it is executed seamlessly in units of lines. Therefore, no useless period occurs other than the first few horizontal periods.
Since the display screen usually has hundreds to thousands of rows, the time of one to several horizontal periods during one-screen display is so short that it can be ignored. Therefore, even if the threshold voltage correction is divided into several times, there is substantially no time loss.

つぎに、以上のパルス制御の下における、図4(E)および図4(F)に示す駆動トランジスタMdのソースやゲートの電位変化と、それに伴う動作を、図4(A)に示す期間ごとに説明する。
なお、ここでは図5(A)〜図7(B)に示す第1行の画素回路3(1,j)の予備動作説明図、図8に示すソース電位Vsの時間推移のグラフ、図9(A)〜図9(C)に示す第1行の画素回路3(1,j)の本動作説明図、ならびに、図2等を適宜参照する。
Next, a change in the potential of the source and gate of the driving transistor Md shown in FIGS. 4E and 4F and the accompanying operation under the above pulse control for each period shown in FIG. 4A. Explained.
Here, the preliminary operation explanatory diagram of the pixel circuit 3 (1, j) in the first row shown in FIGS. 5A to 7B, the time transition graph of the source potential Vs shown in FIG. The operation explanatory diagram of the pixel circuit 3 (1, j) in the first row shown in FIGS. 9A to 9C and FIG.

[前画面の発光期間(LM0)]
第1行の画素回路3(1,j)について、時間T0以前の1フィールドまたは1フレームだけ前の画面(以下、前画面という)についての発光期間(LM0)では、図4(B1)に示すように書込駆動パルスWS(1)が“L”レベルであるため、サンプリングトランジスタMsがオフしている。また、図4(B2)に示すように、電源駆動パルスDS(1)が高電位Vcc_Hの印加状態にある。
[Light emission period of previous screen (LM0)]
For the pixel circuit 3 (1, j) in the first row, the light emission period (LM0) for the screen one field or one frame before the time T0 (hereinafter referred to as the previous screen) is shown in FIG. 4B1. Thus, since the write drive pulse WS (1) is at the “L” level, the sampling transistor Ms is turned off. In addition, as shown in FIG. 4B2, the power supply driving pulse DS (1) is in the application state of the high potential Vcc_H.

このとき、図5(A)に示すように、前画面のデータ書き込み動作によって駆動トランジスタMdのゲートに入力され保持されているデータ電圧Vin0に応じて、有機発光ダイオードOLEDが発光状態にあるとする。駆動トランジスタMdは飽和領域で動作するように設定されているため、有機発光ダイオードOLEDに流れる駆動電流Id(=Ids)は、保持キャパシタCsに保持されている駆動トランジスタMdのゲートソース間電圧Vgsに応じて、前述した図3に示す式から算出される値をとる。   At this time, as shown in FIG. 5A, it is assumed that the organic light emitting diode OLED is in a light emitting state in accordance with the data voltage Vin0 input and held in the gate of the driving transistor Md by the data writing operation of the previous screen. . Since the driving transistor Md is set to operate in the saturation region, the driving current Id (= Ids) flowing through the organic light emitting diode OLED is equal to the gate-source voltage Vgs of the driving transistor Md held in the holding capacitor Cs. Accordingly, the value calculated from the above-described equation shown in FIG. 3 is taken.

[放電期間(D−CHG)]
図4において時間T0から、線順次走査の新しい画面表示に関する処理が開始される。
時間T0になると、水平画素ライン駆動回路41(図2参照)が、図4(B2)に示すように、電源駆動パルスDS(1)を高電位Vcc_Hから低電位Vcc_Lに切り替える。駆動トランジスタMdは、今までドレインとして機能していたノードの電位が低電位Vcc_Lにまで急激に落とされ、ソースとドレインの電位が逆転するため、今までドレインであったノードをソースとし、今までソースであったノードをドレインとして、当該ドレインの電位(ただし、図の表記ではソース電位Vsのままとする)を引き抜くディスチャージ動作が行われる。
したがって、図5(B)に示すように、今までとは逆向きのドレイン電流Idsが駆動トランジスタMdに流れる。この駆動トランジスタMdに逆向きの電流が流れる期間を、図4や図5(B)では「放電期間(D−CHG)」と表記している。
[Discharge period (D-CHG)]
In FIG. 4, processing related to a new screen display of line sequential scanning is started from time T0.
At time T0, the horizontal pixel line drive circuit 41 (see FIG. 2) switches the power supply drive pulse DS (1) from the high potential Vcc_H to the low potential Vcc_L as shown in FIG. 4 (B2). In the driving transistor Md, since the potential of the node that has been functioning as the drain is suddenly dropped to the low potential Vcc_L and the potential of the source and the drain is reversed, the node that has been the drain until now is used as the source. A discharge operation is performed in which the node that was the source is the drain, and the potential of the drain (however, the source potential Vs remains in the notation in the drawing) is extracted.
Therefore, as shown in FIG. 5B, a drain current Ids in the opposite direction to that of the current flows in the driving transistor Md. A period during which a reverse current flows through the driving transistor Md is referred to as a “discharge period (D-CHG)” in FIGS. 4 and 5B.

放電期間(D−CHG)が開始されると、図4(F)に示すように、時間T0を境に駆動トランジスタMdのソース電位Vs(現実の動作上はドレイン電位)が急激に放電され、ほぼ低電位Vcc_Lの近くまで低下する。
このとき、低電位Vcc_Lが有機発光ダイオードOLEDの発光閾値電圧Vth_oled.とカソード電位Vcathの和よりも小さいとき、つまり“Vcc_L<Vth_oled.+Vcath”であれば有機発光ダイオードOLEDは消光する。
なお、放電期間(D−CHG)の終了(時間T1)の前までには、図4(A)に示すように、映像信号Ssigの電位が、データ電位Vsigからデータ基準電位Voにまで下げられている。
When the discharge period (D-CHG) is started, as shown in FIG. 4F, the source potential Vs (the drain potential in actual operation) of the drive transistor Md is suddenly discharged at the time T0, as shown in FIG. The voltage drops to near the low potential Vcc_L.
At this time, when the low potential Vcc_L is smaller than the sum of the light emission threshold voltage Vth_oled. And the cathode potential Vcath of the organic light emitting diode OLED, that is, “Vcc_L <Vth_oled. + Vcath”, the organic light emitting diode OLED is extinguished.
Note that before the end of the discharge period (D-CHG) (time T1), as shown in FIG. 4A, the potential of the video signal Ssig is lowered from the data potential Vsig to the data reference potential Vo. ing.

時間T0において、図5(B)に示すように、サンプリングトランジスタMsがオフし、制御ノードNDcがフローティング状態にある。このため、図4(E)に示すように、時間T0を境に駆動トランジスタMdのゲート電圧Vgが低下する。   At time T0, as shown in FIG. 5B, the sampling transistor Ms is turned off and the control node NDc is in a floating state. For this reason, as shown in FIG. 4E, the gate voltage Vg of the drive transistor Md decreases at time T0.

[初期化期間(INT)]
次に、書き込み信号走査回路42(図2参照)が、図4(B1)に示すように、時間T1にて書込駆動パルスWS(1)を“L”レベルから“H”レベルに遷移させて1つ目のサンプリングパルス(SP0)を、サンプリングトランジスタMsのゲートに与える。
この時間T1にて放電期間(D−CHG)が終了し、ここから初期化期間(INT)が開始する。
[Initialization period (INT)]
Next, the write signal scanning circuit 42 (see FIG. 2) causes the write drive pulse WS (1) to transition from the “L” level to the “H” level at time T1, as shown in FIG. 4 (B1). The first sampling pulse (SP0) is applied to the gate of the sampling transistor Ms.
At this time T1, the discharge period (D-CHG) ends, and from here the initialization period (INT) starts.

時間T1での、サンプリングパルス(SP0)の印加に応答して、図5(C)に示すように、サンプリングトランジスタMsがオンする。前述したように時間T1までには、映像信号Ssigの電位がデータ基準電位Voに切り替えられている。したがって、サンプリングトランジスタMsは、映像信号Ssigのデータ基準電位Voをサンプリングして、サンプリング後のデータ基準電位Voを駆動トランジスタMdのゲートに伝達する。
このサンプリング動作によって、図4(E)に示すように、時間T0を境に低下した駆動トランジスタMdのゲート電圧Vgが、データ基準電位Voに収束する。
In response to the application of the sampling pulse (SP0) at time T1, the sampling transistor Ms is turned on as shown in FIG. As described above, by the time T1, the potential of the video signal Ssig is switched to the data reference potential Vo. Therefore, the sampling transistor Ms samples the data reference potential Vo of the video signal Ssig, and transmits the sampled data reference potential Vo to the gate of the drive transistor Md.
As a result of this sampling operation, as shown in FIG. 4E, the gate voltage Vg of the drive transistor Md that has decreased at the time T0 is converged to the data reference potential Vo.

図4(B1)に示すサンプリングパルス(SP0)は、時間T1から、この電位収束に十分な時間が経過した時間T2にて終了し、サンプリングトランジスタMsがオフする。よって、次にサンプリングトランジスタMsがオンする時間T5までは、駆動トランジスタMdのゲートが電気的なフローティング状態となる。
この時間T5でサンプリングトランジスタMsを再度オンさせるタイミングは、最初の1水平期間(1H)の終了とほぼ同じに制御され、かつ、時間T2〜T5の期間内に、当該1水平期間(1H)における映像信号パルス(PP)が収まるようにタイミング設計されている(図4(A)と図4(B1)参照)。
The sampling pulse (SP0) shown in FIG. 4B1 ends at time T2 when a sufficient time for potential convergence has elapsed from time T1, and the sampling transistor Ms is turned off. Therefore, until the time T5 when the sampling transistor Ms is turned on next time, the gate of the drive transistor Md is in an electrically floating state.
The timing at which the sampling transistor Ms is turned on again at the time T5 is controlled to be substantially the same as the end of the first horizontal period (1H), and within the period of the time T2 to T5, the one horizontal period (1H). The timing is designed so that the video signal pulse (PP) is accommodated (see FIGS. 4A and 4B1).

このことをサンプリングパルス(SP0)から見ると、書込駆動パルスWS(1)を“H”レベルにするサンプリングパルス(SP0)の持続時間(時間T1〜T2)は、1水平期間(1H)の前半部分である、映像信号Ssigがデータ基準電位Voをとる期間(時間T0〜T3)内となっている。
そして、時間T2でサンプリングトランジスタMsをオフさせた状態で、映像信号パルス(PP)による映像信号線DTL(j)の電位変動が終了する時間T4の経過を待ち、その後の時間T5で、データ基準電位Voを再度サンプリングするための2つ目のサンプリングパルス(SP1)を立ち上げる。
この制御の結果、2つ目のサンプリングパルス(SP1)を立ち上げた時間T5で、映像信号Ssigのデータ電位Vsigを誤ってサンプリングすることは回避される。
なお、時間T5における2度目のサンプリング開始時には、図4(E)に示すように、既にゲート電圧Vgがデータ基準電位Voを保持している。したがって、2度目のサンプリングによってリーク電流等による微小な損失を補うことがあるにせよ、一般には、ゲート電圧Vgは殆ど変動しない。
Looking at this from the sampling pulse (SP0), the duration (time T1 to T2) of the sampling pulse (SP0) for setting the write drive pulse WS (1) to the “H” level is one horizontal period (1H). The first half of the video signal Ssig is within a period (time T0 to T3) in which the data reference potential Vo is taken.
Then, in a state where the sampling transistor Ms is turned off at time T2, the time T4 when the potential fluctuation of the video signal line DTL (j) by the video signal pulse (PP) ends is waited for, and at time T5 thereafter, the data reference A second sampling pulse (SP1) for sampling the potential Vo again is started.
As a result of this control, erroneous sampling of the data potential Vsig of the video signal Ssig at the time T5 when the second sampling pulse (SP1) is raised is avoided.
Note that at the start of the second sampling at time T5, as shown in FIG. 4E, the gate voltage Vg already holds the data reference potential Vo. Therefore, in general, the gate voltage Vg hardly fluctuates even though the second sampling may compensate for a minute loss due to a leak current or the like.

時間軸上での説明を若干前に戻すと、時間T1で1つ目のサンプリングパルス(SP0)が印加されることによってサンプリングトランジスタMsがオンし、図4(E)に示すように、駆動トランジスタMdのゲート電圧Vgがデータ基準電位Voに収束すると、これに連動して保持キャパシタCsの保持電圧が低下し、“Vo−Vcc_L”となる(図4(F))。これは、図5(B)のディスチャージによってソース電位Vsが低電位Vcc_Lになり、低電位Vcc_Lを基準にしたゲート電圧Vgで保持キャパシタCsの保持電圧が規定されるためである。つまり、図5(C)において、ゲート電圧Vgがデータ基準電位Voに下がると、これに連動して保持キャパシタCsの保持電圧が下がり、当該保持電圧が“Vo−Vcc_L”に収束する。なお、この保持電圧“Vo−Vcc_L”はゲートソース間電圧Vgsそのものであり、ゲートソース間電圧Vgsが駆動トランジスタMdの閾値電圧Vthよりも大きくないと、その後に閾値補正動作を行なうことができないために、“Vo−Vcc_L>Vth”とするように電位関係が決められている。
このようにして、駆動トランジスタMdのゲート電圧Vgおよびソース電位Vsを初期化することで、閾値補正動作の準備が完了する。
Returning the description on the time axis slightly, the sampling transistor Ms is turned on by applying the first sampling pulse (SP0) at time T1, and as shown in FIG. When the gate voltage Vg of Md converges to the data reference potential Vo, the holding voltage of the holding capacitor Cs decreases in conjunction with this, and becomes “Vo−Vcc_L” (FIG. 4F). This is because the source potential Vs becomes the low potential Vcc_L by the discharge of FIG. 5B, and the holding voltage of the holding capacitor Cs is defined by the gate voltage Vg based on the low potential Vcc_L. That is, in FIG. 5C, when the gate voltage Vg drops to the data reference potential Vo, the holding voltage of the holding capacitor Cs decreases in conjunction with this, and the holding voltage converges to “Vo−Vcc_L”. This holding voltage “Vo−Vcc_L” is the gate-source voltage Vgs itself. If the gate-source voltage Vgs is not larger than the threshold voltage Vth of the drive transistor Md, the threshold correction operation cannot be performed thereafter. Further, the potential relationship is determined so as to satisfy “Vo−Vcc_L> Vth”.
In this way, by preparing the gate voltage Vg and the source potential Vs of the drive transistor Md, preparation for the threshold correction operation is completed.

[第1閾値補正期間(VTC1)]
時間T5でサンプリングトランジスタMsが2度目のVoサンプリングを開始した後、図4(B2)に示すように、時間T6で電源駆動パルスDS(1)が低電位Vcc_Lから高電位Vcc_Hに立ち上がると、当該初期化期間(INT)が終了し、第1閾値補正期間(VTC1)が開始する。
[First threshold correction period (VTC1)]
After the sampling transistor Ms starts Vo sampling for the second time at time T5, as shown in FIG. 4B2, when the power supply driving pulse DS (1) rises from the low potential Vcc_L to the high potential Vcc_H at time T6, The initialization period (INT) ends, and the first threshold value correction period (VTC1) starts.

第1閾値補正期間(VTC1)の開始時(時間T6)の直前において、オン状態のサンプリングトランジスタMsがデータ基準電位Voをサンプリング中であるため、駆動トランジスタMdのゲート電圧Vgは、一定のデータ基準電位Voで電気的に固定された状態にある。
この状態で時間T6にて、水平画素ライン駆動回路41(図2参照)が、図4(B2)に示すように、電源駆動パルスDS(1)を低電位Vcc_Lから高電位Vcc_Hに立ち上げる。水平画素ライン駆動回路41は、時間T6以降は、次のフレーム(あるいはフィールド)の処理開始まで、駆動トランジスタMdへの電源供給線の電位を高電位Vcc_Hに保持しておく。
Immediately before the start (time T6) of the first threshold correction period (VTC1), since the sampling transistor Ms in the on state is sampling the data reference potential Vo, the gate voltage Vg of the drive transistor Md is a constant data reference. It is in an electrically fixed state at the potential Vo.
In this state, at time T6, the horizontal pixel line drive circuit 41 (see FIG. 2) raises the power supply drive pulse DS (1) from the low potential Vcc_L to the high potential Vcc_H as shown in FIG. 4 (B2). The horizontal pixel line drive circuit 41 holds the potential of the power supply line to the drive transistor Md at the high potential Vcc_H until the start of the processing of the next frame (or field) after the time T6.

電源駆動パルスDS(1)の立ち上げによって駆動トランジスタMdのソースとドレイン間に“Vcc_H−Vcc_L”の電源電圧VDDが印加される。そのため、駆動トランジスタMdに電源からドレイン電流Idsが流れるようになる。
ドレイン電流Idsによって駆動トランジスタMdのソースが充電され、図4(F)に示すようにソース電位Vsが上昇するため、それまで“Vo−Vcc_L”という値をとっていた駆動トランジスタMdのゲートソース間電圧Vgs(保持キャパシタCsの保持電圧)は、徐々に小さくなっていく(図4(E)および図4(F))。
The power supply voltage VDD of “Vcc_H−Vcc_L” is applied between the source and drain of the drive transistor Md by the rise of the power supply drive pulse DS (1). Therefore, the drain current Ids flows from the power supply to the driving transistor Md.
The source of the driving transistor Md is charged by the drain current Ids, and the source potential Vs rises as shown in FIG. 4F. Therefore, between the gate and source of the driving transistor Md that has previously taken the value “Vo−Vcc_L”. The voltage Vgs (holding voltage of the holding capacitor Cs) gradually decreases (FIGS. 4E and 4F).

このときのドレイン電流Idsによる駆動トランジスタMdのソース充電速度は余り大きくない。その理由を、図6(A)を参照しつつ述べる。
図6(A)に示すように、駆動トランジスタMdのゲート電圧Vgに印加されているゲートバイアス電圧がデータ基準電位Voで規定され、当該バイアス電圧が余り大きくないため、駆動トランジスタMdは浅いオン状態、すなわち駆動能力が余り大きくない状態でオンする(第1の理由)。
また、ドレイン電流Idsは保持キャパシタCsに流れ込むが、有機発光ダイオードOLEDの容量Coled.の充電にもドレイン電流Idsが消費されるため、ソース電位Vsが上がりにくい(第2の理由)。
さらに、サンプリングパルス(SP1)を、次に映像信号Ssigがデータ電位Vsigに遷移する時間T8より前の時間T7で終了させる必要があるため(図4(B1)参照)、ソース電位Vsの充電時間が不十分である(第3の理由)。
At this time, the source charging speed of the driving transistor Md by the drain current Ids is not so large. The reason will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 6A, since the gate bias voltage applied to the gate voltage Vg of the driving transistor Md is defined by the data reference potential Vo and the bias voltage is not so large, the driving transistor Md is in a shallow ON state. That is, it is turned on in a state where the driving capability is not so large (first reason).
Further, the drain current Ids flows into the holding capacitor Cs. However, since the drain current Ids is also consumed for charging the capacitance Coled. Of the organic light emitting diode OLED, the source potential Vs is hardly increased (second reason).
Furthermore, since the sampling pulse (SP1) needs to be terminated at time T7 before time T8 when the video signal Ssig next transitions to the data potential Vsig (see FIG. 4B1), the charging time of the source potential Vs is required. Is insufficient (third reason).

仮に、図4(B1)に示す2つ目のサンプリングパルス(SP1)が時間T7を越えて十分長くまで持続可能であるとすると、駆動トランジスタMdのソース電位Vs(有機発光ダイオードOLEDのアノード電位)は、図8に示すように、時間T6を起点として時間とともに上昇し、“Vo−Vth”で収束する(図8の破線により示す曲線CV)。つまり、ゲートソース間電圧Vgs(保持キャパシタCsの保持電圧)が丁度、駆動トランジスタMdの閾値電圧Vthとなったところでソース電位Vsの上昇がほぼ終了するはずである。   If the second sampling pulse (SP1) shown in FIG. 4 (B1) can be sustained for a sufficiently long time exceeding the time T7, the source potential Vs of the driving transistor Md (the anode potential of the organic light emitting diode OLED). As shown in FIG. 8, it rises with time starting from time T6 and converges at “Vo−Vth” (curve CV indicated by the broken line in FIG. 8). That is, when the gate-source voltage Vgs (holding voltage of the holding capacitor Cs) has just reached the threshold voltage Vth of the driving transistor Md, the increase of the source potential Vs should almost end.

[第1待機期間(WAT1)]
しかしながら、現実には、その収束点に達する前に時間T7が来るため、サンプリングパルス(SP1)の持続時間が終了し、これによって、第1閾値補正期間(VTC1)が終了し、第1待機期間(WAT1)が開始する。
具体的には、駆動トランジスタMdのゲートソース間電圧VgsがVx1(>Vth)になったとき、つまり、図8に示すように、駆動トランジスタMdのソース電位Vsが低電位Vcc_Lから“Vo−Vx1”に上昇した時点(時間T7)で、第1閾値補正期間(VTC1)が終了する。このとき(時間T7)では、電圧値Vx1が保持キャパシタCsに保持される。
[First waiting period (WAT1)]
However, in reality, since the time T7 comes before the convergence point is reached, the duration of the sampling pulse (SP1) ends, whereby the first threshold correction period (VTC1) ends and the first waiting period (WAT1) starts.
Specifically, when the gate-source voltage Vgs of the drive transistor Md becomes Vx1 (> Vth), that is, as shown in FIG. 8, the source potential Vs of the drive transistor Md is changed from the low potential Vcc_L to “Vo−Vx1”. The first threshold value correction period (VTC1) ends at the time point when it rises to "" (time T7). At this time (time T7), the voltage value Vx1 is held in the holding capacitor Cs.

第1閾値補正期間(VTC1)が終了すると、サンプリングトランジスタMsがオフするため、駆動トランジスタMdのゲートがデータ基準電位Voで電気的に固定された状態から、電気的なフローティング状態に推移する。
したがって、時間T7以後は、ソース電位Vsが上昇すると、それに伴って、ソースに容量結合したフローティング状態のゲートの電位(Vg)も上昇する(図4(E)と図4(F))。その結果、本例では、第1待機期間(WAT1)の終了時点(時間T10)において、ソース電位Vsが収束目標の“Vo−Vth”よりも大きくなる(図8参照)一方で、図4(E)および(F)に示すようにゲートソース間電圧Vgsは縮まらない。
When the first threshold value correction period (VTC1) ends, the sampling transistor Ms is turned off, so that the state in which the gate of the drive transistor Md is electrically fixed at the data reference potential Vo changes to an electrically floating state.
Therefore, after the time T7, when the source potential Vs increases, the potential (Vg) of the floating gate capacitively coupled to the source also increases (FIGS. 4E and 4F). As a result, in this example, at the end point (time T10) of the first waiting period (WAT1), the source potential Vs becomes larger than the convergence target “Vo−Vth” (see FIG. 8), while FIG. As shown in E) and (F), the gate-source voltage Vgs does not shrink.

第1待機期間(WAT1)は、先に説明した初期化期間(INT)と同様、映像信号パルス(PP)の通過を待つ必要があり、その意味で“待機期間”と称している。しかし、時間T7〜T10といった比較的長い待機期間は、ゲート電圧Vgの上昇を許してしまい、また、上記のようにゲートソース間電圧Vgsの閾値電圧Vthへの収束が進まない。
図4(E)では、第1待機期間(WAT1)中におけるゲート電圧Vgの上昇分を“Va1”で表している。なお、結合容量(保持キャパシタCs)を介した、このゲート電圧Vgの上昇をブートストラップ動作により引き起こす原因となるソース電位Vsの上昇分も“Va1”で同じとすると、ソース電位Vsは第1待機期間(WAT1)の終了時点(時間T10)で“Vo−Vx1+Va1”となる(図6(B)参照)。
このため、ゲート電位を、初期化レベルであるデータ基準電位Voに戻すとともに閾値電圧補正を再度行う必要がある。
The first standby period (WAT1) needs to wait for the passage of the video signal pulse (PP) as in the case of the initialization period (INT) described above, and is referred to as a “standby period” in that sense. However, a relatively long standby period such as time T7 to T10 allows the gate voltage Vg to rise, and the convergence of the gate-source voltage Vgs to the threshold voltage Vth does not proceed as described above.
In FIG. 4E, the increase in the gate voltage Vg during the first standby period (WAT1) is represented by “Va1”. If the increase in the source potential Vs that causes the increase in the gate voltage Vg through the coupling capacitor (holding capacitor Cs) by the bootstrap operation is also the same as “Va1”, the source potential Vs is the first standby. It becomes “Vo−Vx1 + Va1” at the end point (time T10) of the period (WAT1) (see FIG. 6B).
Therefore, it is necessary to return the gate potential to the data reference potential Vo, which is the initialization level, and perform threshold voltage correction again.

[第2閾値補正期間(VTC2)]
そこで本実施形態の動作例では、次の1水平期間(1H)(時間T10〜T15)において、前の1水平期間(1H)(時間T5〜T10)で行った第1閾値補正期間(VTC1)と第1待機期間(WAT1)と同様な処理、即ち、第2閾値補正期間(VTC2)と第2待機期間(WAT2)を実行する。
ただし、第1閾値補正期間(VTC1)が開始された時間T5においてはゲートソース間電圧Vgs(保持キャパシタCsの保持電圧)が“Vo−Vcc_L”と比較的大きい値であったのに対し、第2閾値補正期間(VTC2)が開始される時間T10において当該保持電圧が、より小さい“Vx1”に縮まっている。
[Second threshold correction period (VTC2)]
Therefore, in the operation example of the present embodiment, in the next one horizontal period (1H) (time T10 to T15), the first threshold correction period (VTC1) performed in the previous one horizontal period (1H) (time T5 to T10). And a process similar to the first standby period (WAT1), that is, the second threshold correction period (VTC2) and the second standby period (WAT2).
However, at the time T5 when the first threshold value correction period (VTC1) is started, the gate-source voltage Vgs (holding voltage of the holding capacitor Cs) was relatively large as “Vo−Vcc_L”, whereas At time T10 when the two-threshold correction period (VTC2) is started, the holding voltage is reduced to a smaller “Vx1”.

図4(B1)に示すように時間T10でサンプリングパルス(SP2)が立ち上がり、サンプリングトランジスタMsがオンすると、駆動トランジスタMdのゲート電圧Vg(=“Vo+Va1”)がより低い電位(データ基準電位Vo)の映像信号線DTL(j)に接続される。このため、その差分(Va1)に相当する電流が駆動トランジスタMdのゲートから映像信号線DTL(j)に流れ、図6(C)に示すようにゲート電圧Vgがデータ基準電位Voにまで強制的に下げられる。
この駆動トランジスタMdのゲートにおける電位(Va1)の変動は、保持キャパシタCs、および、駆動トランジスタMdのゲートソース間寄生容量Cgsを介して駆動トランジスタMdのソースに入力され、ソース電位Vsがプルダウンされる。
このときのソース電位Vsのプルダウン量は、容量結合比gを用いて“g*Va1”と表される。ここで容量結合比gは、上記ゲートソース間寄生容量Cgs、保持キャパシタCsと同一符号のその容量値(Cs)、有機発光ダイオードOLEDの容量Coled.を用いて、g=(Cgs+Cs)/(Cgs+Cs+Coled.)と表される。よって、ソース電位Vsは、直前の“Vo−Vx1+Va1”から“g*Va1”だけ低下し、“Vo−Vx1+(1−g)Va1”となる。
容量結合比gは定義式から明らかなように1より小さい値をとるため、ソース電位Vsの変化量“g*Va1”は、ゲート電圧Vgの変化量(Va1)より小さい。
As shown in FIG. 4B1, when the sampling pulse (SP2) rises at time T10 and the sampling transistor Ms is turned on, the gate voltage Vg (= “Vo + Va1”) of the driving transistor Md is lower (data reference potential Vo). Video signal line DTL (j). Therefore, a current corresponding to the difference (Va1) flows from the gate of the drive transistor Md to the video signal line DTL (j), and the gate voltage Vg is forced to the data reference potential Vo as shown in FIG. Is lowered.
The fluctuation of the potential (Va1) at the gate of the driving transistor Md is input to the source of the driving transistor Md via the holding capacitor Cs and the gate-source parasitic capacitance Cgs of the driving transistor Md, and the source potential Vs is pulled down. .
The pull-down amount of the source potential Vs at this time is expressed as “g * Va1” using the capacitive coupling ratio g. Here, the capacitance coupling ratio g is expressed as follows: g = (Cgs + Cs) / (Cgs + Cs + Coled) using the gate-source parasitic capacitance Cgs, the capacitance value (Cs) having the same sign as the holding capacitor Cs, and the capacitance Coled. Of the organic light emitting diode OLED. .) Therefore, the source potential Vs decreases by “g * Va1” from “Vo−Vx1 + Va1” immediately before and becomes “Vo−Vx1 + (1−g) Va1”.
Since the capacitive coupling ratio g takes a value smaller than 1 as is apparent from the definition formula, the change amount “g * Va1” of the source potential Vs is smaller than the change amount (Va1) of the gate voltage Vg.

ここで、駆動トランジスタのゲートソース間電圧Vgs(=“Vx1−(1−g)Va1”)が駆動トランジスタMdの閾値電圧Vthよりも大きければ、図6(C)のように、ドレイン電流Idsが流れる。ドレイン電流Idsは、駆動トランジスタMdのソース電位Vsが“Vo−Vth”となって駆動トランジスタMdがカットオフするまで流れようとする。しかし、本実施形態の動作例では、図4(E)および図4(F)に示すように、ゲートソース間電圧Vgsが“Vx2”(但しVx2は、Vx1>Vx2>Vthを満たす大きさを有する)となった時間T12でサンプリングパルス(SP2)が終了するため、サンプリングトランジスタMsがオフする。時間T12における、保持キャパシタCsの保持電圧は“Vx2”である。   If the gate-source voltage Vgs (= “Vx1− (1−g) Va1”) of the drive transistor is larger than the threshold voltage Vth of the drive transistor Md, the drain current Ids is as shown in FIG. Flowing. The drain current Ids tends to flow until the source potential Vs of the drive transistor Md becomes “Vo−Vth” and the drive transistor Md is cut off. However, in the operation example of this embodiment, as shown in FIGS. 4E and 4F, the gate-source voltage Vgs is “Vx2” (however, Vx2 has a size satisfying Vx1> Vx2> Vth). Since the sampling pulse (SP2) ends at the time T12 when the sampling transistor Ms has, the sampling transistor Ms is turned off. The holding voltage of the holding capacitor Cs at time T12 is “Vx2”.

[第2待機期間(WAT2)]
時間T12から第2待機期間(WAT2)が開始する。
第2待機期間(WAT2)では、前回の第1待機期間(WAT1)と同様に、サンプリングトランジスタMsがオフしてゲート電圧Vgが電気的にフローティング状態となるため、ソース電位Vsの上昇に応じてゲート電圧Vgも上昇する(図7(A)参照)。
しかし、ゲート電圧Vgの電位上昇効果(ブートストラップ効果)は、その開始時点のゲートソース間電圧Vgsが制御目標“Vth”に近いため余り大きくなく、図4(E)および図4(F)の時間T12〜T15に見られるように、ソース電位Vsおよびゲート電圧Vgの電位上昇幅は僅かである。
[Second waiting period (WAT2)]
The second waiting period (WAT2) starts from time T12.
In the second standby period (WAT2), as in the previous first standby period (WAT1), the sampling transistor Ms is turned off and the gate voltage Vg is in an electrically floating state. Therefore, in response to the increase in the source potential Vs. The gate voltage Vg also increases (see FIG. 7A).
However, the potential increase effect (bootstrap effect) of the gate voltage Vg is not so large because the gate-source voltage Vgs at the start time is close to the control target “Vth”, which is shown in FIG. 4 (E) and FIG. 4 (F). As can be seen from time T12 to T15, the potential increases of the source potential Vs and the gate voltage Vg are slight.

より詳細には、図7(A)の第2待機期間(WAT2)において、ドレイン電流Idsが流れることによるソース電位Vsの上昇分を“Va2”とすると、待機期間終了時(図4の時間T15)におけるソース電位Vsは“Vo−Vx2+Va2”となる。このソース電位が“Va2”だけ上昇することは、ゲートソース間寄生容量Cgsおよび保持キャパシタCsを介して、フローティング状態のゲートに伝達され、その結果、ゲート電圧Vgもほぼ同じ電位“Va2”だけ上昇する。ただし、ゲート電圧Vgの電位上昇分“Va2”は、図4(E)に示すように、第1待機期間(WAT1)における電位上昇分“Va1”より遥かに小さいものである。   More specifically, in the second standby period (WAT2) in FIG. 7A, if the increase in the source potential Vs due to the drain current Ids flowing is “Va2”, the standby period ends (time T15 in FIG. 4). ) Becomes “Vo−Vx2 + Va2”. The increase in the source potential by “Va2” is transmitted to the floating gate via the gate-source parasitic capacitance Cgs and the holding capacitor Cs, and as a result, the gate voltage Vg also increases by substantially the same potential “Va2”. To do. However, the potential increase “Va2” of the gate voltage Vg is much smaller than the potential increase “Va1” in the first standby period (WAT1), as shown in FIG.

[第3閾値補正(VTC3)]
時間T15から「本動作」に入り、第3閾値補正(VTC3)が開始する。
第3閾値補正(VTC3)(時間T15〜T17)では、第2閾値補正期間(VTC2)と同様な処理を実行する。
ただし、第2閾値補正期間(VTC2)が開始された時間T10においてはゲートソース間電圧Vgs(保持キャパシタCsの保持電圧)が“Vx1”と比較的大きい値であったのに対し、第3閾値補正期間(VTC3)が開始される時間T15においては、さらに小さい“Vx2”に縮まっている。
動作の基本は[第2閾値補正期間(VTC2)]の繰り返しになるので割愛する。[第2閾値補正期間(VTC2)]の説明は、“Va1”を“Va2”に、“Vx1”を“Vx2”に置き換えることによって、当該第3閾値補正(VTC3)に適用できる。このことは図6(C)と図7(B)との対比でも明らかである。
[Third threshold correction (VTC3)]
The “main operation” is entered from time T15, and the third threshold value correction (VTC3) starts.
In the third threshold correction (VTC3) (time T15 to T17), processing similar to that in the second threshold correction period (VTC2) is executed.
However, at the time T10 when the second threshold correction period (VTC2) is started, the gate-source voltage Vgs (the holding voltage of the holding capacitor Cs) was relatively large as “Vx1”, whereas the third threshold value At time T15 when the correction period (VTC3) is started, the time period is further reduced to “Vx2”.
Since the basic operation is the repetition of [second threshold correction period (VTC2)], it is omitted. The description of [second threshold correction period (VTC2)] can be applied to the third threshold correction (VTC3) by replacing “Va1” with “Va2” and “Vx1” with “Vx2”. This is also apparent from the comparison between FIG. 6C and FIG.

ただし、第2閾値補正期間(VTC2)と異なるのは、第3閾値補正(VTC3)が終了する時間T17までには、図4(E)および図4(F)に示すように、駆動トランジスタMdのゲートソース間電圧Vgs(保持キャパシタCsの保持電圧)が、閾値電圧Vthと等しくなることである。このため、駆動トランジスタMdは、ゲートソース間電圧Vgsが閾値電圧Vthと等しくなったところでカットオフし、それ以後、ドレイン電流Idsが流れなくなる。このときの駆動トランジスタMdのソース電位Vsは“Vo−Vth”である。   However, the difference from the second threshold correction period (VTC2) is that, as shown in FIGS. 4E and 4F, by time T17 when the third threshold correction (VTC3) ends, the drive transistor Md The gate-source voltage Vgs (holding voltage of the holding capacitor Cs) is equal to the threshold voltage Vth. Therefore, the drive transistor Md is cut off when the gate-source voltage Vgs becomes equal to the threshold voltage Vth, and thereafter, the drain current Ids does not flow. At this time, the source potential Vs of the driving transistor Md is “Vo−Vth”.

以上のように待機期間を間に挟んだ複数回(本例では3回)に亘る閾値電圧補正によって、保持キャパシタCsの保持電圧は、これが一定となる待機期間を間に挟んでステップ状に収束し、最終的には閾値電圧Vthとなる。
ここで仮に、駆動トランジスタのゲートソース間電圧が“Vin”だけ大きくなったとすると、ゲートソース間電圧は“Vin+Vth”となる。また、閾値電圧Vthが大きい駆動トランジスタと、これが小さい駆動トランジスタを考える。
前者の閾値電圧Vthが大きい駆動トランジスタは、閾値電圧Vthが大きい分だけゲートソース間電圧が大きく、逆に閾値電圧Vthが小さい駆動トランジスタは、閾値電圧Vthが小さいためゲートソース間電圧が小さくなる。よって、閾値電圧Vthに関していえば、閾値電圧補正動作により、そのバラツキをキャンセルして、同じデータ電圧Vinなら同じドレイン電流Idsを駆動トランジスタに流すことができる。
As described above, the threshold voltage correction is performed a plurality of times (three times in this example) with the standby period interposed therebetween, so that the holding voltage of the storage capacitor Cs converges in a stepped manner with the standby period being constant. The threshold voltage Vth is finally obtained.
If the gate-source voltage of the driving transistor is increased by “Vin”, the gate-source voltage is “Vin + Vth”. Further, a driving transistor having a large threshold voltage Vth and a driving transistor having a small threshold voltage Vth are considered.
The former driving transistor having a larger threshold voltage Vth has a larger gate-source voltage by the amount of the larger threshold voltage Vth, and conversely, the driving transistor having a smaller threshold voltage Vth has a smaller threshold voltage Vth, resulting in a smaller gate-source voltage. Therefore, regarding the threshold voltage Vth, the variation can be canceled by the threshold voltage correction operation, and the same drain current Ids can be caused to flow to the drive transistor at the same data voltage Vin.

なお、3回に亘る閾値補正期間、すなわち、第1閾値補正期間(VTC1)、第2閾値補正期間(VTC2)および第3閾値補正(VTC3)においては、ドレイン電流Idsが専ら保持キャパシタCsの一方電極側、有機発光ダイオードOLEDの容量Coled.の一方電極側に流入することにのみ消費され、有機発光ダイオードOLEDがオンしないようにする必要がある。有機発光ダイオードOLEDのアノード電圧を“Voled.”、その閾値電圧を“Vth_oled.”、そのカソード電位を“Vcath”と表記すると、有機発光ダイオードOLEDをオフ状態に維持する条件は、“Voled.≦Vcath+Vth_oled.”が常に成り立つことである。
ここで有機発光ダイオードOLEDのカソード電位Vcathを基準電圧VSS(例えば接地電圧GND)で一定とした場合、発光閾値電圧Vth_oled.が非常に大きいときは、この式を常に成立させることも可能である。しかし、発光閾値電圧Vth_oled.は有機発光ダイオードOLEDの作製条件で決まり、また、低電圧で効率的な発光のためには発光閾値電圧Vth_oled.を余り大きくできない。よって、望ましくは、3度の閾値補正期間、および、次に述べる移動度補正期間が終了するまでは、カソード電位Vcathを低電位Vcc_Lより小さく設定することによって、有機発光ダイオードOLEDを逆バイアスさせておくとよい。
Note that in the threshold correction period of three times, that is, in the first threshold correction period (VTC1), the second threshold correction period (VTC2), and the third threshold correction (VTC3), the drain current Ids is exclusively one of the holding capacitors Cs. It is consumed only to flow into the electrode side, one electrode side of the capacitance Coled. Of the organic light emitting diode OLED, and it is necessary to prevent the organic light emitting diode OLED from being turned on. When the anode voltage of the organic light emitting diode OLED is expressed as “Voled.”, Its threshold voltage is expressed as “Vth_oled.”, And its cathode potential is expressed as “Vcath”, the condition for maintaining the organic light emitting diode OLED in the off state is “Voled. ≦ “Vcath + Vth_oled.” Always holds.
Here, when the cathode potential Vcath of the organic light emitting diode OLED is constant at the reference voltage VSS (for example, the ground voltage GND), this equation can always be established when the light emission threshold voltage Vth_oled. Is very large. However, the light emission threshold voltage Vth_oled. Is determined by the manufacturing conditions of the organic light emitting diode OLED, and the light emission threshold voltage Vth_oled. Cannot be increased too much for efficient light emission at a low voltage. Therefore, preferably, the organic light emitting diode OLED is reverse-biased by setting the cathode potential Vcath smaller than the low potential Vcc_L until the threshold correction period of 3 degrees and the mobility correction period described below are completed. It is good to leave.

[第3待機期間(WAT3)]
以上は閾値電圧補正についての説明であるが、本動作例では、続いて“書き込み&移動度補正”のための待機期間(第3待機期間(WAT3))が開始する。第3待機期間(WAT3)は、今までの閾値電圧補正のための第1待機期間(WAT1)および第2待機期間(WAT2)とは異なり、単に、その後に行う“書込み&移動度補正”時に、映像信号Ssigの電位変化の不安定な箇所を誤ってサンプリングしないように待機する短い待機期間である。
[Third waiting period (WAT3)]
The above is the description of the threshold voltage correction, but in this operation example, the standby period (third standby period (WAT3)) for “writing & mobility correction” starts. The third standby period (WAT3) is different from the first standby period (WAT1) and the second standby period (WAT2) for the threshold voltage correction so far, and is simply performed at the subsequent “writing & mobility correction”. This is a short waiting period for waiting so that a portion where the potential change of the video signal Ssig is unstable is not erroneously sampled.

図4(B1)に示すように、時間T17でサンプリングパルス(SP3)が“H”レベルから“L”レベルに遷移すると、ここから第3待機期間(WAT3)が開始する。
第3待機期間(WAT3)では、その途中の時間T18で、図4(A)に示すように、当該画素回路3(1、j)で表示すべきデータ電位Vsigをもつ映像信号パルス(PPx)が、映像信号Ssigとして映像信号線DTL(j)に供給される(図9(A)参照)。映像信号Ssigにおいて、データ電位Vsigとデータ基準電位Voの差分が、当該画素回路で表示すべき階調値に対応するデータ電圧Vinに相当する。つまり、データ電位Vsigは“Vo+Vin”に等しい。
時間T18で行われた電位変化から時間が経って、映像信号Ssigがデータ電位Vsigで安定した時間T19で、当該第3待機期間(WAT3)が終了する。
As shown in FIG. 4 (B1), when the sampling pulse (SP3) transitions from the “H” level to the “L” level at time T17, the third waiting period (WAT3) starts from here.
In the third standby period (WAT3), as shown in FIG. 4 (A), a video signal pulse (PPx) having a data potential Vsig to be displayed in the pixel circuit 3 (1, j) at a time T18 in the middle. Is supplied to the video signal line DTL (j) as the video signal Ssig (see FIG. 9A). In the video signal Ssig, the difference between the data potential Vsig and the data reference potential Vo corresponds to the data voltage Vin corresponding to the gradation value to be displayed by the pixel circuit. That is, the data potential Vsig is equal to “Vo + Vin”.
The third standby period (WAT3) ends at time T19 when the video signal Ssig has stabilized at the data potential Vsig after a time has elapsed since the potential change performed at time T18.

[書込み&移動度補正期間(W&μ)]
時間T19から、書込み&移動度補正期間(W&μ)が開始する。
図4(B1)に示すように、本動作時の映像信号パルス(PPx)を印加中の時間T19で、書き込みパルス(WP)がサンプリングトランジスタMsのゲートに供給される。すると、図9(B)に示すように、サンプリングトランジスタMsがオンし、映像信号線DTL(j)のデータ電位Vsig(=Vo+Vin)のうち、ゲート電圧Vg(=Vo)との差分、すなわち、データ電圧Vinが、駆動トランジスタMdのゲートに入力される。この結果、ゲート電圧Vgが“Vo+Vin”となる。
ゲート電圧Vgがデータ電圧Vinだけ上昇すると、これに連動してソース電位Vsも上昇する。このとき、データ電圧Vinがそのままソース電位Vsに伝達される訳ではなく、前述した容量結合比gに応じた比率の変化分、すなわち、“g*Vin”だけソース電位Vsが上昇する。よって、変化後のソース電位Vsは、“Vo−Vth+g*Vin”となる。その結果、駆動トランジスタMdのゲートソース間電圧Vgsは、“(1−g)Vin+Vth”となる。
[Writing & mobility correction period (W & μ)]
From time T19, the writing & mobility correction period (W & μ) starts.
As shown in FIG. 4 (B1), the write pulse (WP) is supplied to the gate of the sampling transistor Ms at time T19 during application of the video signal pulse (PPx) in this operation. Then, as shown in FIG. 9B, the sampling transistor Ms is turned on, and the difference between the data potential Vsig (= Vo + Vin) of the video signal line DTL (j) and the gate voltage Vg (= Vo), that is, The data voltage Vin is input to the gate of the drive transistor Md. As a result, the gate voltage Vg becomes “Vo + Vin”.
When the gate voltage Vg increases by the data voltage Vin, the source potential Vs also increases in conjunction with this. At this time, the data voltage Vin is not transmitted to the source potential Vs as it is, but the source potential Vs rises by the change in the ratio according to the above-described capacitive coupling ratio g, that is, “g * Vin”. Therefore, the source potential Vs after the change is “Vo−Vth + g * Vin”. As a result, the gate-source voltage Vgs of the drive transistor Md becomes “(1−g) Vin + Vth”.

ここで、移動度μによるバラツキについて説明する。
今までの3度の閾値電圧補正で、実は、ドレイン電流Idsを流すたびに移動度μによる誤差が含まれていたものの、閾値電圧Vthのバラツキが大きいため移動度μによる誤差成分を厳密に議論しなかった。このとき容量結合比gを用いずに、単に結果だけを示す電圧を新たに“Va1”や“Va2”により表記して説明したのは、移動度のバラツキを説明することによる煩雑さを回避するためである。
一方、既に説明したことであるが、厳密に閾値電圧補正が行われた後は、そのとき保持キャパシタCsに閾値電圧Vthが保持されているため、その後、駆動トランジスタMdをオンさせると、閾値電圧Vthの大小によってドレイン電流Idsが変動しない。そのため、この閾値電圧補正後の駆動トランジスタMdの導通で、仮に、当該導通時の駆動電流Idによって保持キャパシタCsの保持電圧(ゲートソース間電圧Vgs)の値に変動が生じたとすると、その変動量ΔV(正または負の極性をとることが可能)は、駆動トランジスタMdの移動度μのバラツキ、より厳密には、半導体材料の物性パラメータである純粋な意味での移動度のほかに、トランジスタの構造上あるいは製造プロセス上で電流駆動力に影響を与える要因の総合的なバラツキを反映したものとなる。
Here, the variation due to the mobility μ will be described.
Although the error due to the mobility μ is included every time the drain current Ids is flowed by the three threshold voltage corrections so far, the error component due to the mobility μ is strictly discussed because the variation of the threshold voltage Vth is large. I didn't. At this time, the voltage indicating only the result is newly described as “Va1” or “Va2” without using the capacitive coupling ratio g, and the complexity due to explaining the variation in mobility is avoided. Because.
On the other hand, as already described, after the threshold voltage correction is strictly performed, the threshold voltage Vth is held in the holding capacitor Cs at that time. The drain current Ids does not vary depending on the magnitude of Vth. For this reason, if the drive transistor Md after the threshold voltage correction is conducted, if the value of the holding voltage (gate-source voltage Vgs) of the holding capacitor Cs varies due to the drive current Id during the conduction, the amount of fluctuation ΔV (which can be positive or negative) is a variation of the mobility μ of the driving transistor Md, more precisely, in addition to the mobility in a pure sense, which is a physical property parameter of the semiconductor material, This reflects the overall variation in factors that affect the current driving force in the structure or manufacturing process.

以上のことを踏まえた上で説明を戻すと、図9(B)において、サンプリングトランジスタMsがオンしてゲート電圧Vgにデータ電圧Vinが加わったときに、駆動トランジスタMdは、そのデータ電圧Vin(階調値)に応じた大きさのドレイン電流Idsをソースドレイン間に流そうとする。このときドレイン電流Idsが移動度μに応じてばらつき、その結果、ソース電位Vsは、“Vo−Vth+g*Vin”に上記移動度μによる変動量ΔVを加えた“Vo−Vth+g*Vin+ΔV”となる。   Returning to the explanation based on the above, in FIG. 9B, when the sampling transistor Ms is turned on and the data voltage Vin is added to the gate voltage Vg, the driving transistor Md has the data voltage Vin ( A drain current Ids having a magnitude corresponding to (gradation value) is attempted to flow between the source and drain. At this time, the drain current Ids varies depending on the mobility μ, and as a result, the source potential Vs becomes “Vo−Vth + g * Vin + ΔV” obtained by adding the variation ΔV due to the mobility μ to “Vo−Vth + g * Vin”. .

このとき有機発光ダイオードOLEDを発光させないためには、“Vs(=Vo−Vth+g*Vin+ΔV)<Vth_oled.+Vcath”が満たされるように、データ電圧Vinや容量結合比g等に応じたカソード電位Vcathを予め設定するとよい。
この設定を予め行っていると、有機発光ダイオードOLEDは逆バイアスされ、ハイインピーダンス状態にあるため発光することはなく、また、ダイオード特性ではなく単純な容量特性を示すようになる。
このとき上記条件式が満たされている限り、ソース電位Vsが、有機発光ダイオードOLEDの発光閾値電圧Vth_oled.とカソード電位Vcathとの和を越えないため、ドレイン電流Ids(駆動電流Id)は保持キャパシタCsの容量値Csと、有機発光ダイオードOLEDの逆バイアス時等価容量値Coled.と、駆動トランジスタMdのゲートソース間に存在する寄生容量(Cgsと表記)とを加算した容量“C=Cs+Coled.+Cgs”を充電するために用いられる。これにより、駆動トランジスタMdのソース電位Vsは上昇していく。このとき、駆動トランジスタMdの閾値補正動作は完了しているため、駆動トランジスタMdが流すドレイン電流Idsは移動度μを反映したものとなる。
At this time, in order not to cause the organic light emitting diode OLED to emit light, the cathode potential Vcath corresponding to the data voltage Vin, the capacitive coupling ratio g, or the like is satisfied so that “Vs (= Vo−Vth + g * Vin + ΔV) <Vth_oled. + Vcath” is satisfied. It may be set in advance.
If this setting is performed in advance, the organic light emitting diode OLED is reverse-biased and does not emit light because it is in a high impedance state, and exhibits simple capacitance characteristics rather than diode characteristics.
At this time, as long as the above conditional expression is satisfied, the source potential Vs does not exceed the sum of the emission threshold voltage Vth_oled. Of the organic light emitting diode OLED and the cathode potential Vcath, so that the drain current Ids (drive current Id) is A capacitance “C = Cs + Coled. + Cgs” obtained by adding the capacitance value Cs of Cs, the equivalent capacitance value Coled. At the time of reverse bias of the organic light emitting diode OLED, and the parasitic capacitance (denoted as Cgs) existing between the gate and source of the driving transistor Md. Used to charge. As a result, the source potential Vs of the drive transistor Md increases. At this time, since the threshold correction operation of the drive transistor Md is completed, the drain current Ids that the drive transistor Md flows reflects the mobility μ.

図4(E)および図4(F)で“(1−g)Vin+Vth−ΔV”の式により示しているように、保持キャパシタCsに保持されるゲートソース間電圧Vgsにおいては、ソース電位Vsに加わる変動量ΔVが閾値補正後のゲートソース間電圧Vgs(=(1−g)Vin+Vth)から差し引かれることになるため、負帰還がかかるように当該変動量ΔVが保持キャパシタCsに保持される。よって、以下、変動量ΔVを「負帰還量」ともいう。
この負帰還量ΔVは、有機発光ダイオードOLEDに逆バイアスをかけた状態では、“Coled.>>Cs+Cgs”が成り立つので、ΔV=t*Ids/(Coled.+Cs+Cgs)という概算式で表すことができる。この概算式から、変動量ΔVは、ドレイン電流Idsの変動に比例して変化するパラメータであることが分かる。
上記負帰還量ΔVの概算式から、ソース電位Vsに付加される負帰還量ΔVは、ドレイン電流Idsの大きさ(この大きさは、データ電圧Vinの大きさ、即ち階調値と正の相関関係にある)と、ドレイン電流Idsが流れる時間、すなわち、図4(B1)に示す、移動度補正に要する時間T19から時間T20までの時間(t)に依存している。つまり、階調値が大きいほど、また、時間(t)を長くとるほど、負帰還量ΔVが大きくなる。
したがって、移動度補正の時間(t)は必ずしも一定である必要はなく、逆にドレイン電流Ids(階調値)に応じて調整することが好ましい場合がある。たとえば、白表示に近くドレイン電流Idsが大きい場合、移動度補正の時間(t)は短めにし、逆に、黒表示に近くなりドレイン電流Idsが小さくなると、移動度補正の時間(t)を長めに設定するとよい。この階調値に応じた移動度補正時間の自動調整は、その機能を図2に示す書き込み信号走査回路42等に予め設けることにより実現可能である。
As shown by the expression “(1−g) Vin + Vth−ΔV” in FIGS. 4E and 4F, the gate-source voltage Vgs held in the holding capacitor Cs is set to the source potential Vs. Since the added fluctuation amount ΔV is subtracted from the gate-source voltage Vgs (= (1−g) Vin + Vth) after the threshold correction, the fluctuation amount ΔV is held in the holding capacitor Cs so that negative feedback is applied. Therefore, hereinafter, the fluctuation amount ΔV is also referred to as “negative feedback amount”.
This negative feedback amount ΔV can be expressed by an approximate expression of ΔV = t * Ids / (Coled. + Cs + Cgs) because “Coled. >> Cs + Cgs” holds in a state where the organic light emitting diode OLED is reverse-biased. . From this approximate expression, it can be seen that the fluctuation amount ΔV is a parameter that changes in proportion to the fluctuation of the drain current Ids.
From the approximate expression of the negative feedback amount ΔV, the negative feedback amount ΔV added to the source potential Vs is the magnitude of the drain current Ids (this magnitude is positively correlated with the magnitude of the data voltage Vin, that is, the gradation value). The drain current Ids flows, that is, the time (t) from time T19 to time T20 required for mobility correction shown in FIG. 4B1. That is, the larger the gradation value and the longer the time (t), the larger the negative feedback amount ΔV.
Therefore, the mobility correction time (t) is not necessarily constant, and on the contrary, it may be preferable to adjust it according to the drain current Ids (gradation value). For example, when the drain current Ids is close to white display and the drain current Ids is large, the mobility correction time (t) is shortened. Conversely, when the drain current Ids is close to black display and becomes small, the mobility correction time (t) is lengthened. It is good to set to. This automatic adjustment of the mobility correction time according to the gradation value can be realized by providing the function in advance in the write signal scanning circuit 42 shown in FIG.

[発光期間(LM1)]
時間T20で書込み&移動度補正期間(W&μ)が終了すると、発光期間(LM1)が開始する。
時間T20で書き込みパルス(WP)が終了するためサンプリングトランジスタMsがオフし、駆動トランジスタMdのゲートが電気的にフローティング状態となる。
[Light emission period (LM1)]
When the writing & mobility correction period (W & μ) ends at time T20, the light emission period (LM1) starts.
Since the write pulse (WP) ends at time T20, the sampling transistor Ms is turned off, and the gate of the drive transistor Md is in an electrically floating state.

ところで、発光期間(LM1)より前の書込み&移動度補正期間(W&μ)においては、駆動トランジスタMdはデータ電圧Vinに応じたドレイン電流Idsを流そうとするが、実際に流せるとは限らない。その理由は、有機発光ダイオードOLEDに流れる電流値(Id)が駆動トランジスタMdに流れる電流値(Ids)に比べて非常に小さいなら、サンプリングトランジスタMsがオンしているため、駆動トランジスタMdのゲート電圧Vgが“Vo+Vin”に固定され、そこから閾値電圧Vth分下がった電位(“Vo+Vin−Vth”)にソース電位Vsが収束しようとするからである。よって、移動度補正の時間(t)を幾ら長くしてもソース電位Vsは上記収束点を超える電位にはなれない。移動度補正は、その収束までの速さの違いで移動度μの違いをモニタし、補正するものである。このため、最大輝度の白表示のデータ電圧Vinが入力された場合でも、上記収束になる前に移動度補正の時間(t)の終点が決められる。   By the way, in the writing & mobility correction period (W & μ) before the light emission period (LM1), the drive transistor Md tries to flow the drain current Ids according to the data voltage Vin, but it does not always flow. The reason is that if the current value (Id) flowing through the organic light emitting diode OLED is very small as compared with the current value (Ids) flowing through the drive transistor Md, the sampling transistor Ms is turned on, and therefore the gate voltage of the drive transistor Md This is because Vg is fixed at “Vo + Vin” and the source potential Vs tends to converge to a potential (“Vo + Vin−Vth”) that is lowered by the threshold voltage Vth therefrom. Therefore, no matter how long the mobility correction time (t) is increased, the source potential Vs cannot be a potential exceeding the convergence point. In the mobility correction, the difference in mobility μ is monitored and corrected based on the difference in speed until convergence. For this reason, even when the white display data voltage Vin with the maximum luminance is input, the end point of the mobility correction time (t) is determined before the convergence.

発光期間(LM1)が開始して駆動トランジスタMdのゲートがフローティングとなると、そのソース電位Vsは、さらに上昇可能となる。よって、駆動トランジスタMdは、入力されたデータ電圧Vinに応じた駆動電流Idを流すように動作する。
その結果、ソース電位Vs(有機発光ダイオードOLEDのアノード電位)が上昇し、やがて、有機発光ダイオードOLEDの逆バイアス状態が解消され、図9(C)に示すように、ドレイン電流Idsが駆動電流Idとして有機発光ダイオードOLEDに流れ始めるため、有機発光ダイオードOLEDが実際に発光を開始する。発光が開始して暫くすると、駆動トランジスタMdは、入力されたデータ電圧Vinに応じたドレイン電流Idsで飽和し、ドレイン電流Ids(=Id)が一定となると、有機発光ダイオードOLEDがデータ電圧Vinに応じた輝度の発光状態となる。
When the light emission period (LM1) starts and the gate of the drive transistor Md becomes floating, the source potential Vs can be further increased. Therefore, the drive transistor Md operates so as to flow the drive current Id corresponding to the input data voltage Vin.
As a result, the source potential Vs (the anode potential of the organic light emitting diode OLED) rises, and eventually the reverse bias state of the organic light emitting diode OLED is canceled, and as shown in FIG. 9C, the drain current Ids becomes the driving current Id. As a result, the organic light emitting diode OLED actually starts to emit light. After a while from the start of light emission, the drive transistor Md is saturated with the drain current Ids corresponding to the input data voltage Vin, and when the drain current Ids (= Id) becomes constant, the organic light emitting diode OLED becomes the data voltage Vin. The light emission state with the corresponding brightness is obtained.

発光期間(LM1)の開始から輝度が一定となるまでの間に生じる有機発光ダイオードOLEDのアノード電位の上昇は、駆動トランジスタMdのソース電位Vsの上昇に他ならず、これを、有機発光ダイオードOLEDのアノード電圧Voled.の上昇量という意味で“ΔVoled.”とする。駆動トランジスタMdのソース電位Vsは、“Vo−Vth+g*Vin+ΔV+ΔVoled.”となる(図4(F)参照)。
一方、ゲート電圧Vgは、図4(E)に示すように、フローティング状態であるためソース電位Vsに連動して、その上昇量ΔVoled.と同じだけ上昇し、ドレイン電流Idsの飽和に伴ってソース電位Vsが飽和すると、ゲート電圧Vgも飽和する。
その結果、ゲートソース間電圧Vgs(保持キャパシタCsの保持電圧)について、移動度補正時の値(“(1−g)Vin+Vth−ΔV”)が、発光期間(LM1)中も維持される。
The increase in the anode potential of the organic light emitting diode OLED that occurs from the start of the light emission period (LM1) until the luminance becomes constant is nothing but the increase in the source potential Vs of the drive transistor Md. “ΔVoled.” In the sense of an increase amount of the anode voltage Voled. The source potential Vs of the drive transistor Md is “Vo−Vth + g * Vin + ΔV + ΔVoled.” (See FIG. 4F).
On the other hand, as shown in FIG. 4E, since the gate voltage Vg is in a floating state, the gate voltage Vg rises by the same amount as the increase amount ΔVoled. When the potential Vs is saturated, the gate voltage Vg is also saturated.
As a result, for the gate-source voltage Vgs (holding voltage of the holding capacitor Cs), the mobility correction value (“(1−g) Vin + Vth−ΔV”) is maintained even during the light emission period (LM1).

発光期間(LM1)においては、駆動トランジスタMdが定電流源として動作することから、有機発光ダイオードOLEDのI−V特性が経時変化し、これに伴って駆動トランジスタMdのソース電位Vsが変化することがある。
しかしながら、有機発光ダイオードOLEDのI−V特性が経時変化の有無に関係なく、保持キャパシタCsの保持電圧が“(1−g)Vin+Vth−ΔV”に保たれる。そして、保持キャパシタCsの保持電圧は、駆動トランジスタMdの閾値電圧Vthを補正する成分(+Vth)と、移動度μによる変動を補正する成分(−ΔV)とを含むことから、閾値電圧Vthや移動度μが、異なる画素間でばらついても駆動トランジスタMdのドレイン電流Ids、つまり、有機発光ダイオードOLEDの駆動電流Idが一定に保たれる。
In the light emission period (LM1), since the drive transistor Md operates as a constant current source, the IV characteristic of the organic light emitting diode OLED changes with time, and the source potential Vs of the drive transistor Md changes accordingly. There is.
However, the holding voltage of the holding capacitor Cs is maintained at “(1−g) Vin + Vth−ΔV” regardless of whether the IV characteristic of the organic light emitting diode OLED changes with time. Since the holding voltage of the holding capacitor Cs includes a component (+ Vth) for correcting the threshold voltage Vth of the driving transistor Md and a component (−ΔV) for correcting the variation due to the mobility μ, the threshold voltage Vth and the movement Even if the degree μ varies between different pixels, the drain current Ids of the drive transistor Md, that is, the drive current Id of the organic light emitting diode OLED is kept constant.

具体的には、駆動トランジスタMdは、閾値電圧Vthが大きいほど、上記保持電圧の閾値電圧補正成分(+Vth)によってソース電位Vsを下げて、ドレイン電流Ids(駆動電流Id)をより流すようにソースドレイン間電圧を大きくする。このため閾値電圧Vthの変動があってもドレイン電流Idsは一定となる。
また、駆動トランジスタMdは、移動度μが小さくて上記変動量ΔVが小さい場合は、保持キャパシタCsの保持電圧の移動度補正成分(−ΔV)によって当該保持電圧の低下量も小さくなるため、相対的に、大きなソースドレイン間電圧が確保され、その結果、ドレイン電流Ids(駆動電流Id)をより流すように動作する。このため移動度μの変動があってもドレイン電流Idsは一定となる。
Specifically, as the threshold voltage Vth increases, the drive transistor Md decreases the source potential Vs by the threshold voltage correction component (+ Vth) of the holding voltage so that the drain current Ids (drive current Id) flows more. Increase drain-to-drain voltage. Therefore, the drain current Ids is constant even if the threshold voltage Vth varies.
In addition, when the mobility μ is small and the fluctuation amount ΔV is small, the driving transistor Md has a relatively small decrease amount of the holding voltage due to the mobility correction component (−ΔV) of the holding voltage of the holding capacitor Cs. Therefore, a large source-drain voltage is ensured, and as a result, the drain current Ids (driving current Id) flows more. Therefore, the drain current Ids is constant even when the mobility μ varies.

以上より、画素間で駆動トランジスタMdの閾値電圧Vthや移動度μがばらついても、さらに、駆動トランジスタMdの特性が経時変化しても、データ電圧Vinが同じである限り、有機発光ダイオードOLEDの発光輝度も一定に保たれる。   From the above, even if the threshold voltage Vth and mobility μ of the drive transistor Md vary between pixels, and even if the characteristics of the drive transistor Md change over time, the organic light emitting diode OLED can be used as long as the data voltage Vin remains the same. The light emission brightness is also kept constant.

<補助キャパシタ>
以上の発光制御の書込み&移動度補正期間(W&μ)において、図4(E)および図4(F)に示すように、駆動トランジスタMdのゲート電圧Vgに書き込まれたデータ電圧Vinがそのまま保持キャパシタCsの保持電圧に追加されるのではなく、データ電圧Vinから(g*Vin)だけ下がったデータ電圧“(1−g)Vin”が保持キャパシタCsの保持電圧に追加される。このため容量結合比gに相当する書き込みゲインのロスが発生し、これが表示画面で所望の明るさが得られない原因となる。
容量結合比gは“g=(Cgs+Cs)/(Cgs+Cs+Coled.)”と表されるが、その分母が大きいほうが書き込みゲインのロスも小さくなり好ましい。そこで、特開2007−102046号公報(特許文献1)では、有機発光ダイオードOLEDと並列に補助キャパシタCsubを接続した画素回路構成を提案している。十分大きな補助キャパシタCsubを付加すると容量結合比gは、“g=(Cgs+Cs)/(Cgs+Cs+Coled.+Csub)”となってゼロに近づき、その分、書き込みゲインが向上する。
<Auxiliary capacitor>
In the write & mobility correction period (W & μ) of the light emission control described above, as shown in FIGS. 4E and 4F, the data voltage Vin written to the gate voltage Vg of the drive transistor Md remains as it is as the holding capacitor. Instead of being added to the holding voltage of Cs, the data voltage “(1-g) Vin” that is lower than the data voltage Vin by (g * Vin) is added to the holding voltage of the holding capacitor Cs. For this reason, a loss of write gain corresponding to the capacitive coupling ratio g occurs, and this causes a desired brightness not to be obtained on the display screen.
The capacitive coupling ratio g is expressed as “g = (Cgs + Cs) / (Cgs + Cs + Coled.)”. A larger denominator is preferable because a loss of write gain is reduced. Therefore, Japanese Patent Laid-Open No. 2007-102046 (Patent Document 1) proposes a pixel circuit configuration in which an auxiliary capacitor Csub is connected in parallel to the organic light emitting diode OLED. When a sufficiently large auxiliary capacitor Csub is added, the capacitive coupling ratio g becomes “g = (Cgs + Cs) / (Cgs + Cs + Coled. + Csub)” and approaches zero, and the write gain is improved accordingly.

ところで、移動度補正で駆動トランジスタMdのソースにおける容量を大きくすると、ソース電位Vsの充電がゆっくりとなる。駆動トランジスタMdの駆動能力は高く設定されているため、所定の時間(t)内にソース電位Vsの充電が早すぎる場合がある。この充電が早すぎると時間(t)内にソース電位Vsの上昇カーブが飽和してしまい、移動度補正の精度が低下する。この所定時間内の飽和を防止して移動度補正精度を高くする意味でも、補助キャパシタCsubの追加は望ましい。   By the way, when the capacitance at the source of the driving transistor Md is increased by mobility correction, the source potential Vs is slowly charged. Since the drive capability of the drive transistor Md is set high, the source potential Vs may be charged too early within a predetermined time (t). If this charging is too early, the rising curve of the source potential Vs is saturated within time (t), and the accuracy of mobility correction is reduced. The addition of the auxiliary capacitor Csub is also desirable in terms of preventing the saturation within the predetermined time and increasing the mobility correction accuracy.

特許文献1では、補助キャパシタCsubを、駆動トランジスタMdのソースとカソード電位Vcathの供給線との間に接続している。通常、カソード電位Vcathは有機発光ダイオードOLEDを逆バイアスする程度に低い負電位に設定されるが、補助キャパシタCsubの一方電極をカソード電位Vcathで固定するよりも、電源走査線DSL(i)の高電位Vcc_Hで固定する方が、補助キャパシタCsubの実使用時の容量値(電荷蓄積能力)を高くできるため好ましい。しかし、同じ画素回路内の電源走査線DSL(i)に補助キャパシタCsubを接続すると、閾値電圧補正に支障をきたすため、本願発明者は、特願2006−209327号の画素回路構成(以下、単に先願という)を提案している。   In Patent Document 1, the auxiliary capacitor Csub is connected between the source of the drive transistor Md and the supply line of the cathode potential Vcath. Usually, the cathode potential Vcath is set to a negative potential that is low enough to reverse bias the organic light emitting diode OLED. However, the cathode potential Vcath is higher than the one electrode of the auxiliary capacitor Csub at the cathode potential Vcath. Fixing at the potential Vcc_H is preferable because the capacitance value (charge storage capability) of the auxiliary capacitor Csub during actual use can be increased. However, if the auxiliary capacitor Csub is connected to the power supply scanning line DSL (i) in the same pixel circuit, the threshold voltage correction is hindered. This is called a prior application).

図10に、先願の画素回路を、列方向に隣接する2つの画素において示す。
図10に図解する画素回路3(2,j)は、図2に示す画素回路3(i,j)と比較すると、補助キャパシタCsubが追加されていることが異なる。補助キャパシタCsubは、画素回路3(2,j)における駆動トランジスタMdのソース(以下、ソースノードNDsとも言う)と、隣接する1行前の画素回路3(1,j)の電源走査線DSL(1)との間に接続されている。このことは1行前の画素回路3(1,j)においても同様である。なお、有機発光ダイオードOLEDの容量Coled.は逆バイアス時のダイオード等価容量であるため回路素子でないが、便器上、当該回路に記載している。
FIG. 10 shows the pixel circuit of the prior application in two pixels adjacent in the column direction.
The pixel circuit 3 (2, j) illustrated in FIG. 10 is different from the pixel circuit 3 (i, j) illustrated in FIG. 2 in that an auxiliary capacitor Csub is added. The auxiliary capacitor Csub is connected to the source of the driving transistor Md in the pixel circuit 3 (2, j) (hereinafter also referred to as a source node NDs) and the power supply scanning line DSL ( 1). The same applies to the pixel circuit 3 (1, j) one row before. Note that the capacitance Coled. Of the organic light emitting diode OLED is not a circuit element because it is a diode equivalent capacitance at the time of reverse bias, but is described in the circuit on the toilet.

<他の発光制御例>
以下、図10に示す画素回路構成における不具合を、図11に示す他の発光制御例で説明する。
図11(A)〜図11(D)に示すタイミングチャートでは、図4では示していた他の表示ラインのパルス波形を省略し、また、最初の1水平期間(1H)内に初期化と第1閾値補正を連続して行っているが、この点は本質的なものでなく、図4においても採用可能な制御である。
基本的な制御は図11と図4で共通し、同じ符号を付して表示する。なお、符号“T1´”は、時間T1より若干前であることを意味する。また、図11においては時間軸上の同じ位置で示している2つの時間、すなわちT7とT8、T9とT10、T12とT13、T14とT15、T17とT18は、数字が小さい時間が大きい時間より時間軸上で若干前であることが望ましいことを意味する。
<Other examples of light emission control>
Hereinafter, a problem in the pixel circuit configuration shown in FIG. 10 will be described using another light emission control example shown in FIG.
In the timing charts shown in FIGS. 11A to 11D, the pulse waveforms of the other display lines shown in FIG. 4 are omitted, and the initialization and the first waveform within one horizontal period (1H) are omitted. Although one threshold value correction is performed continuously, this point is not essential and is a control that can be adopted in FIG.
Basic control is common to FIG. 11 and FIG. The symbol “T1 ′” means that it is slightly before the time T1. Further, in FIG. 11, two times indicated at the same position on the time axis, that is, T7 and T8, T9 and T10, T12 and T13, T14 and T15, and T17 and T18 are larger than the time when the number is smaller. It means that it is desirable to be slightly ahead on the time axis.

図11では、最初の1水平期間(1H)内に初期化と第1閾値補正を連続して行っているため、速やかなディスチャージが必要である。よって、電源走査線DSLの低電位Vcc_Lを、通常、比較的大きな負電位に設定する。高電位Vcc_Hは書き込み、移動度補正および発光に必要な高い正電位である。よって、図11のような速やかな放電を行う必要がある場合、電源走査線DSLのパルス波高値(Vcc_H−Vcc_L)は大きく設定されることがある。   In FIG. 11, since the initialization and the first threshold correction are continuously performed within the first one horizontal period (1H), quick discharge is necessary. Therefore, the low potential Vcc_L of the power supply scanning line DSL is normally set to a relatively large negative potential. The high potential Vcc_H is a high positive potential necessary for writing, mobility correction, and light emission. Therefore, when it is necessary to perform rapid discharge as shown in FIG. 11, the pulse peak value (Vcc_H−Vcc_L) of the power supply scanning line DSL may be set large.

<Csubを前段のDSL接続とした場合の不具合>
図12(A)は、図10の一つの画素について着目した図であり、図12(B)は、発光時間を制御したときのタイミングを着目した画素を含む画素行(表示ライン)から、5段前の表示ラインまで概略的に示す図である。
ここで着目した画素を含む表示ラインを、“着目表示ラインL(0)”と表記し、着目表示ラインL(0)より1水平期間(1H)前に表示制御される表示ラインを“表示ラインL(−1)”、2H前に表示制御される表示ラインを“表示ラインL(−2)”、以下同様に、3H,4H,5H前に表示制御される表示ラインをそれぞれ“表示ラインL(−3)”、“表示ラインL(−4)”、“表示ラインL(−5)”と表記する。
このように行を示す符号(i)を0以下に拡張し、この符号を用いて電源走査線DSL(i)と書込走査線WSL(i)を表している。
<Problem when Csub is set to DSL connection in the previous stage>
FIG. 12A is a diagram focusing on one pixel in FIG. 10, and FIG. 12B is a diagram illustrating 5 pixels from a pixel row (display line) including a pixel focusing on the timing when the light emission time is controlled. It is a figure which shows roughly to the display line before a stage.
Here, the display line including the pixel of interest is referred to as “target display line L (0)”, and the display line whose display is controlled one horizontal period (1H) before the target display line L (0) is referred to as “display line”. L (-1) "is a display line that is displayed and controlled before 2H is" display line L (-2) ", and similarly, a display line that is controlled and displayed before 3H, 4H, and 5H is" display line L ". (−3) ”,“ display line L (−4) ”, and“ display line L (−5) ”.
In this way, the code (i) indicating the row is expanded to 0 or less, and the power supply scanning line DSL (i) and the write scanning line WSL (i) are represented using this code.

図12(B)に示す時間T1,T10,T15は、図11に示す表示制御に対応するため、この間に図4で説明した処理が実行される。
図12(B)において、電源走査線DSL(i)(i=0,−1,−2,−3,−4,−5)が低電位Vcc_Lに遷移している期間が消灯時間、高電位Vcc_Hの期間が発光(許可)期間である。
また、図12(B)には示していないが、書込走査線WSL(i)は、高電位Vws_Hと低電位Vws_Lとの2値電位をとる(図11(B2)参照)。
Since the times T1, T10, and T15 shown in FIG. 12B correspond to the display control shown in FIG. 11, the processing described with reference to FIG. 4 is executed during this time.
In FIG. 12B, the period during which the power supply scanning line DSL (i) (i = 0, -1, -2, -3, -4, -5) is transitioned to the low potential Vcc_L is the extinguishing time and the high potential. A period of Vcc_H is a light emission (permission) period.
Although not shown in FIG. 12B, the writing scan line WSL (i) takes a binary potential of a high potential Vws_H and a low potential Vws_L (see FIG. 11B2).

図13(A)には、前段の画素回路3(i-1,j)が消灯しており、かつ、自段の画素回路3(i,j)が発光しているときの画素回路3(i,j)の制御ノードNDcとソースノードNDsの電位を式(1)と式(2)により示している。
前段の電源走査線DSL(i−1)電源供給線が高電位Vcc_Hから低電位Vcc_Lに遷移したとき、この電位変化に起因した電位変動が、補助キャパシタCsubを介して、駆動トランジスタMdのソースノードNDsに入る。このときのノードNDの電位は、図13(A)に示す式(1)から分かるように、元のソース電位Vsから、有機EL容量Coled.と補助容量Csubの容量比により“(Vcc_H−Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.)”だけ下がったソース電位Vs´にまで変動する。ただし、この式(1)の右辺は電位変動のピークを示し、時間がたつと電位変動が収束して消滅する。
In FIG. 13A, the pixel circuit 3 (i, j) in the previous stage is turned off and the pixel circuit 3 (i, j) in the previous stage is emitting light. The potentials of the control node NDc and the source node NDs of i, j) are shown by the equations (1) and (2).
When the power supply scanning line DSL (i−1) power supply line in the previous stage transitions from the high potential Vcc_H to the low potential Vcc_L, the potential fluctuation caused by this potential change is caused by the source node of the driving transistor Md via the auxiliary capacitor Csub. Enter NDs. As can be seen from the equation (1) shown in FIG. 13A, the potential of the node ND at this time is “(Vcc_H−Vcc_L) from the original source potential Vs according to the capacitance ratio of the organic EL capacitor Coled. ) Csub / (Csub + Coled.) ”, And the source potential Vs ′ is lowered. However, the right side of the equation (1) shows a peak of potential fluctuation, and the potential fluctuation converges and disappears with time.

発光状態の画素回路3(i,j)においては、サンプリングトランジスタMsのゲートに印加される低電位Vws_LによってサンプリングトランジスタMsがオフし、駆動トランジスタMdのゲート(制御ノードNDc)は電気的にフローティング状態となっている。そのため、ソースノードNDsに発生した電位変動が保持キャパシタCs等を介して制御ノードNDcに伝わり、その電位を揺らす。
制御ノードNDcの電位は、入力されるデータ電圧Vinに応じて既に設定されたゲート電圧Vgから、保持キャパシタCsの保持特性により“(Vcc_H−Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.)”だけ下がったゲート電位Vg´(最小値)にまで変動する。この電位変動も時間がたつと収束して消滅する。
In the pixel circuit 3 (i, j) in the light emitting state, the sampling transistor Ms is turned off by the low potential Vws_L applied to the gate of the sampling transistor Ms, and the gate (control node NDc) of the drive transistor Md is in an electrically floating state. It has become. Therefore, the potential fluctuation generated at the source node NDs is transmitted to the control node NDc via the holding capacitor Cs and the like, and the potential is fluctuated.
The potential of the control node NDc is a gate potential that is lowered by “(Vcc_H−Vcc_L) Csub / (Csub + Coled.)” From the gate voltage Vg already set according to the input data voltage Vin due to the holding characteristics of the holding capacitor Cs. It fluctuates to Vg ′ (minimum value). This potential fluctuation converges and disappears over time.

<Vws_Lの条件式>
このようにして電位変動を受けた制御ノード電位(駆動トランジスタMdのゲート電圧Vg´)が、サンプリングトランジスタMsのゲート電位(低電位Vws_L)から、サンプリングトランジスタMsの閾値電圧Vthsだけ下がった場合にはサンプリングトランジスタMsがオンする。
このことを図13(B)と図13(C)の式(3)と式(4)に示す。
<Condition of Vws_L>
When the control node potential (gate voltage Vg ′ of the drive transistor Md) that has been subjected to the potential fluctuation in this way is lowered from the gate potential (low potential Vws_L) of the sampling transistor Ms by the threshold voltage Vths of the sampling transistor Ms. The sampling transistor Ms is turned on.
This is shown in equations (3) and (4) of FIGS. 13 (B) and 13 (C).

ただし、サンプリングトランジスタMsのソース電位がゲート電位と同じであればリーク電流は発生しないが、ソース電位がゲート電位より低くなるとオンしない場合でもオフリーク電流が画質に影響する程度まで急激に大きくなる。
よって、式(3)の右辺から、サンプリングトランジスタMsの閾値電圧Vthsの項を削除した、以下の式(5)が満たされれば、画質に影響する比較的大きなリーク電流とオン電流を含む電流が、サンプリングトランジスタMsに流れることはない。
However, if the source potential of the sampling transistor Ms is the same as the gate potential, no leakage current is generated. However, if the source potential is lower than the gate potential, the off-leakage current increases rapidly to the extent that the image quality is affected even when the source potential is not turned on.
Therefore, if the following expression (5) is satisfied by removing the term of the threshold voltage Vths of the sampling transistor Ms from the right side of the expression (3), a current including a relatively large leakage current and on-current that affects the image quality is satisfied. , Does not flow to the sampling transistor Ms.

Vws_L<Vg−(Vcc_H−Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.)…(5) Vws_L <Vg− (Vcc_H−Vcc_L) Csub / (Csub + Coled.) (5)

以上から、上記式(5)を満たすように、書込走査線WSLの低電位Vws_Lが決められる。この低電位Vws_Lおよび高電位Vws_Hの値を決めるのは、図12等に示す書き込み信号走査回路42であり、特に低電位Vws_Lの値が上記式(5)を満たすことができるように、書き込み信号走査回路42が構成されている。   From the above, the low potential Vws_L of the write scanning line WSL is determined so as to satisfy the above formula (5). The values of the low potential Vws_L and the high potential Vws_H are determined by the write signal scanning circuit 42 shown in FIG. 12 and the like, and in particular, the write signal so that the value of the low potential Vws_L can satisfy the above formula (5). A scanning circuit 42 is configured.

より詳細には、式(5)の右辺には、Vg,Vcc_H,Vcc_L,Csub,Coled.といった5つのパラメータを含む。
このうち高電位Vcc_Hは限られた時間のデータ書き込みと移動度補正に必要な観点等から値が決められる。
低電位Vcc_Lは限られた時間に有機発光ダイオードOLEDを逆バイアスして速やかな放電を行う等の観点から値に決められる。
有機発光ダイオードOLEDの容量Coled.は、有機多層膜の開発で高効率、長寿命な作製条件が確定すると、画素におけるOLEDの面積に依存して決まる値である。
補助キャパシタCsubは低電位Vcc_Lのレベルやデータ書き込み時間との兼ね合いにもよるが、主として、必要な書き込みゲインを得るための値に決められる。
ゲート電圧Vgは、映像信号線DTLがとり得る電位範囲、即ちデータ基準電位Voおよび黒から白までのデータ電位Vsigを含む範囲に応じて、これをサンプリングした電位範囲が分かるため、その電位範囲を考慮して変化させる。
More specifically, the right side of Expression (5) includes five parameters such as Vg, Vcc_H, Vcc_L, Csub, and Coled.
Among these, the value of the high potential Vcc_H is determined from a viewpoint necessary for data writing and mobility correction for a limited time.
The low potential Vcc_L is determined to be a value from the viewpoint of performing rapid discharge by reverse-biasing the organic light emitting diode OLED in a limited time.
The capacitance Coled. Of the organic light emitting diode OLED is a value determined depending on the area of the OLED in the pixel when the production conditions with high efficiency and long life are determined by the development of the organic multilayer film.
The auxiliary capacitor Csub is mainly determined as a value for obtaining a necessary write gain, although it depends on the level of the low potential Vcc_L and the data write time.
The gate voltage Vg can be obtained by sampling the potential range of the video signal line DTL, that is, the range including the data reference potential Vo and the data potential Vsig from black to white. Change in consideration.

以上のように、ゲート電圧Vgを除く、式(5)の右辺のパラメータは、プロセスやパターンの改良ごとに、種々の条件で変化するが、変化幅は比較的狭い。そしてプロセスやパターンの改良ごとに、これらのパラメータは、その値がほぼ確定する。
一方、ゲート電圧Vgについては、映像信号線DTLがとり得る電位範囲から正確に値がとり得る範囲が求まる。
水平画素ライン駆動回路41は、プロセスやパターンの改良ごとに、確定したパラメータを用い、かつ、ゲート電圧Vgが最大限変化しても常に式(5)が成り立つような低電位Vws_Lを出力可能に設計されている。
なお、ゲート電圧Vgの最低値は通常、データ基準電位Voで0[V]とする場合が多い。よって、この場合、低電位Vws_Lhは負の値をとる。
以上より、サンプリングトランジスタMsがオンすることによる大きな画質低下だけでなく、リーク電流による、例えば黒浮きのような画質低下まで防止できる。
As described above, the parameters on the right side of Equation (5) excluding the gate voltage Vg change under various conditions for each process and pattern improvement, but the change width is relatively narrow. As the process and pattern are improved, the values of these parameters are almost fixed.
On the other hand, for the gate voltage Vg, a range in which a value can be accurately obtained is obtained from a potential range that can be taken by the video signal line DTL.
The horizontal pixel line drive circuit 41 can output a low potential Vws_L that always uses equation (5) even if the gate voltage Vg changes to the maximum when the process and pattern are improved, using a fixed parameter. Designed.
Note that the minimum value of the gate voltage Vg is usually set to 0 [V] at the data reference potential Vo in many cases. Therefore, in this case, the low potential Vws_Lh takes a negative value.
From the above, it is possible to prevent not only a large deterioration in image quality due to the sampling transistor Ms being turned on but also a deterioration in image quality due to leakage current, such as black floating.

本実施形態における変形例を述べる。   A modification in this embodiment will be described.

<変形例1>
水平画素ライン駆動回路41は、プロセスやパターンの改良ごとに、確定したパラメータを用い、かつ、ゲート電圧Vgが最大限変化しても常に、サンプリングトランジスタMsの閾値電圧Vthsを考慮した前記式(3)を満たすように、低電位Vws_Lを出力可能に構成してもよい。
この場合、サンプリングトランジスタMsがオンしないため大きな画質低下は回避される。
<Modification 1>
The horizontal pixel line driving circuit 41 uses the determined parameters for each process and pattern improvement, and always considers the threshold voltage Vths of the sampling transistor Ms even if the gate voltage Vg changes to the maximum (3 ) So that the low potential Vws_L can be output.
In this case, since the sampling transistor Ms is not turned on, a large image quality degradation is avoided.

<変形例2>
画素回路は図2や図10に示すものに限定されない。
図10に示すように補助キャパシタCsubを前段の電源走査線DSLでなく、それより前に表示制御される他の電源走査線DSLに接続してもよい。
図12(B)に示す場合、着目表示ラインL(0)が発光可能なときに、表示ラインL(−1)だけでなく、表示ラインL(−2)も消灯している期間があるため、この場合、補助キャパシタCsubを2段前の表示ラインL(−2)の電源走査線DSL(−2)に接続してもよい。
消灯時間は、電源走査線DSLのデューティ比により任意に決められ、それに応じて補助キャパシタCsubが接続可能な段の範囲も決められる。
<Modification 2>
The pixel circuit is not limited to that shown in FIGS.
As shown in FIG. 10, the auxiliary capacitor Csub may be connected not to the power supply scanning line DSL in the previous stage but to another power supply scanning line DSL whose display is controlled before that.
In the case shown in FIG. 12B, there is a period in which not only the display line L (−1) but also the display line L (−2) is turned off when the target display line L (0) can emit light. In this case, the auxiliary capacitor Csub may be connected to the power supply scanning line DSL (−2) of the display line L (−2) preceding by two stages.
The turn-off time is arbitrarily determined by the duty ratio of the power supply scanning line DSL, and the range of the stage to which the auxiliary capacitor Csub can be connected is determined accordingly.

<変形例3>
図2の画素回路ではデータ基準電位Voは映像信号Ssigのサンプリングにより与えられるが、データ基準電位Voを、別のトランジスタを介して駆動トランジスタMdのソースやゲートに与えることもできる。
図2の画素回路ではキャパシタは保持キャパシタCsのみであるが、他の保持キャパシタを、例えば駆動トランジスタMdのゲートと一定電圧線との間にもう1つ設けてもよい。発光素子は有機発光ダイオードOLEDに限定されず、他の自発光素子でもよい。
<Modification 3>
In the pixel circuit of FIG. 2, the data reference potential Vo is given by sampling the video signal Ssig, but the data reference potential Vo can also be given to the source and gate of the drive transistor Md via another transistor.
In the pixel circuit of FIG. 2, the capacitor is only the holding capacitor Cs. However, another holding capacitor may be provided between the gate of the driving transistor Md and the constant voltage line, for example. The light emitting element is not limited to the organic light emitting diode OLED, and may be another self-light emitting element.

<変形例4>
画素回路が有機発光ダイオードOLEDの発光と非発光を制御する駆動方法には、画素回路内のトランジスタを走査線により制御する方法と、電源電圧の供給線を駆動回路によりAC駆動する方法(電源AC駆動方法)とがある。
図2や図13の画素回路は、後者の電源AC駆動方法の一例であるが、この方法において有機発光ダイオードOLEDのカソード側をAC駆動して駆動電流を流す、流さないを制御してもよい。
一方、前者の発光制御を走査線により制御する方法では、駆動トランジスタMdのドレイン側、または、ソースと有機発光ダイオードOLEDとの間に、他のトランジスタを挿入し、そのゲートを電源駆動制御の走査線で駆動する。
<Modification 4>
A driving method in which the pixel circuit controls light emission and non-light emission of the organic light emitting diode OLED includes a method in which the transistors in the pixel circuit are controlled by a scanning line, and a method in which a power supply voltage supply line is AC driven by a driving circuit (power supply AC Drive method).
The pixel circuit of FIG. 2 or FIG. 13 is an example of the latter power source AC driving method. In this method, the cathode side of the organic light emitting diode OLED may be AC driven to control whether the driving current flows or not. .
On the other hand, in the former method of controlling the light emission control by the scanning line, another transistor is inserted between the drain side of the driving transistor Md or between the source and the organic light emitting diode OLED, and the gate thereof is scanned for power supply driving control. Drive with lines.

<変形例5>
図4および図11に示す表示制御は、閾値補正期間(VTC)を3回の補正で行っていたが、1回の補正、または、3回以外の複数回の連続した(初期化を間に挟まないとの意味)処理によって閾値補正を行ってもよい。さらに、移動度補正を行ってからデータの書き込みを行う表示制御でもよい。その場合、データの書き込みに本発明を適用する、移動度補正に本発明を適用する、その両方に本発明を適用する、の何れも可能である。
<Modification 5>
In the display control shown in FIGS. 4 and 11, the threshold correction period (VTC) is performed by three corrections. However, the correction is performed once or a plurality of times other than three times (initialization in between). The meaning of not pinching) The threshold value may be corrected by processing. Further, display control may be performed in which data is written after mobility correction is performed. In that case, it is possible to apply the present invention to data writing, to apply the present invention to mobility correction, or to apply the present invention to both.

本実施形態およびその変形例によれば、以下の効果がある。
図10のような画素回路構成では、特に黒表示の場合に、駆動トランジスタMdのゲート電位がより低いため、リークを起こしやすい。映像信号線DTL(j)には常にデータ基準電位Voとデータ電位Vsigが与えられ、データ電位Vsigも常に変化している。このため、式(5)や式(3)が満たされないと、駆動トランジスタMdのゲートには映像信号線電位が漏れこむ。このとき、駆動トランジスタMdのゲートソース間電圧Vgsは、黒レベル以上の電圧となり、これは黒浮きとして表れ、コントラストの低下となる。
また、サンプリングトランジスタMsが完全にオンする場合、その前に保持していたデータ電圧Vinと、映像信号線DTLのデータ電圧Vin(=Vo+Vsig)が大きく異なると、その表示ラインは筋状の画面ノイズとして見え大きく画質が低下する。
According to this embodiment and its modification, there exist the following effects.
In the pixel circuit configuration as shown in FIG. 10, particularly in the case of black display, the gate potential of the drive transistor Md is lower, so that leakage is likely to occur. The video signal line DTL (j) is always supplied with the data reference potential Vo and the data potential Vsig, and the data potential Vsig is always changing. For this reason, if the expressions (5) and (3) are not satisfied, the video signal line potential leaks to the gate of the drive transistor Md. At this time, the gate-source voltage Vgs of the drive transistor Md becomes a voltage equal to or higher than the black level, which appears as black floating, resulting in a decrease in contrast.
Further, when the sampling transistor Ms is completely turned on, if the data voltage Vin held before that and the data voltage Vin (= Vo + Vsig) of the video signal line DTL are greatly different, the display line becomes streak-like screen noise. As a result, the image quality is greatly reduced.

本実施形態では、式(5)または式(3)を、ゲート電圧Vgがどのような場合でも常に満たすように、低電位Vws_Lが決められているため、黒浮きを防止または抑制し高コントラストの画質を得ることができ、さらに大きな画質低下も防止できる。   In this embodiment, since the low potential Vws_L is determined so that the formula (5) or the formula (3) is always satisfied regardless of the gate voltage Vg, black floating is prevented or suppressed, and high contrast is achieved. It is possible to obtain image quality and prevent further deterioration in image quality.

本発明の実施形態に関わる有機ELディスプレイの主要構成を示す図である。It is a figure which shows the main structures of the organic electroluminescent display in connection with embodiment of this invention. 本発明の実施形態に関わる画素回路の基本構成の一例と、その画素回路を制御する駆動回路部分を示す図である。It is a figure which shows an example of the basic composition of the pixel circuit in connection with embodiment of this invention, and the drive circuit part which controls the pixel circuit. 有機発光ダイオードの特性を表すグラフと式を示す図である。It is a figure which shows the graph and formula showing the characteristic of an organic light emitting diode. 本発明の実施形態に関わり、本発明を適用前の表示制御における各種信号や電圧の波形を示すタイミングチャートである。It is a timing chart which shows the waveform of the various signals in the display control before applying this invention in connection with embodiment of this invention, and a voltage. 図4の制御におけるVoサンプリングまでの動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing to Vo sampling in control of FIG. 図4の制御における第2閾値補正までの動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing to the 2nd threshold value correction | amendment in control of FIG. 図4の制御における第3閾値補正までの動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing to the 3rd threshold value correction | amendment in control of FIG. 本発明の実施形態に関わるソース電位の時間推移のグラフである。It is a graph of the time transition of the source potential concerning the embodiment of the present invention. 図4の制御における発光期間までの動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing to the light emission period in control of FIG. 本発明の実施形態の一例に関わる画素回路の構成と、その画素回路を制御する駆動回路部分を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a pixel circuit according to an example of an embodiment of the present invention and a drive circuit portion that controls the pixel circuit. 図10に示す隣接する2つの画素回路の配線配置と、それに対応した等価回路を示す図である。It is a figure which shows the wiring arrangement | positioning of two adjacent pixel circuits shown in FIG. 10, and an equivalent circuit corresponding to it. 本発明の実施形態において、消灯と発光の表示ライン間の推移を説明するための図である。In embodiment of this invention, it is a figure for demonstrating transition between the display line of light extinction and light emission. 本発明の実施形態に関わり、電源走査線の電位変化による画素回路の電位変動を、式を用いて説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a potential variation of a pixel circuit due to a potential change of a power supply scanning line, using an expression, related to an embodiment of the present invention. ノード背景技術(特許文献1)に記載された画素回路の等価回路図を、参照符号を一部変更して転記した図である。It is the figure which copied the equivalent circuit schematic of the pixel circuit described in node background art (patent document 1), changing a part of reference numerals.

符号の説明Explanation of symbols

1…有機ELディスプレイ、2…画素アレイ、3…画素回路、4…Vスキャナ、5…Hスキャナ、41…水平画素ライン駆動回路、42…書き込み信号走査回路、OLED…有機発光ダイオード、M1…駆動トランジスタ、Ms…サンプリングトランジスタ、Cs…保持キャパシタ、Coled.…有機発光ダイオードの容量、Csub…補助キャパシタ、NDc…制御ノード、NDs…ソースノード、WSL…書込走査線、DSL…電源走査線、DTL…映像信号線、Vsig…データ電位、Vo…データ基準電位、Vws_L…書込走査線の低電位、Vcc_H…電源走査線の高電位、Vcc_L…電源走査線の低電位、Vg…ゲート電圧   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Organic EL display, 2 ... Pixel array, 3 ... Pixel circuit, 4 ... V scanner, 5 ... H scanner, 41 ... Horizontal pixel line drive circuit, 42 ... Write signal scanning circuit, OLED ... Organic light emitting diode, M1 ... Drive Transistor, Ms ... Sampling transistor, Cs ... Holding capacitor, Coled ... Capacitance of organic light emitting diode, Csub ... Auxiliary capacitor, NDc ... Control node, NDs ... Source node, WSL ... Write scan line, DSL ... Power supply scan line, DTL ... Video signal line, Vsig ... Data potential, Vo ... Data reference potential, Vws_L ... Low potential of write scan line, Vcc_H ... High potential of power scan line, Vcc_L ... Low potential of power scan line, Vg ... Gate voltage

Claims (5)

複数の画素回路が行列状に配置される画素アレイと、
前記画素アレイ内の画素回路を行方向で接続する、複数の書込走査線および複数の電源走査線と、
前記画素アレイ内の画素回路を列方向で接続する複数の映像信号線と、
前記複数の書込走査線および前記複数の電源走査線の各電位を制御する駆動回路と、を有し、
前記複数の画素回路の各々が、
一方電極の電位によって印加電圧値が変化する発光素子と、
前記電源走査線と前記一方電極との間に接続される駆動トランジスタと、
前記映像信号線と前記駆動トランジスタの制御ノードとの間に接続され、前記書込走査線の電位に応じて制御されるサンプリングトランジスタと、
前記制御ノードに結合する保持キャパシタと、
前記一方電極と、列方向の一方側に位置する他の画素回路の電源走査線との間に接続される補助キャパシタと、
を含み、
前記駆動回路は、前記補助キャパシタの値Csub、前記発光素子の等価容量Coled.、前記電源走査線の高電位Vcc_Hと低電位Vcc_L、および、前記映像信号線の電位に対応して前記駆動トランジスタのゲート電位Vgがとりうる範囲に応じて、以下の式、すなわち、
Vws_L<Vg−(Vcc_H−Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.)
を満たす低電位Vws_Lを、2値電位の低い方の電位として前記書込走査線に出力するように構成されている
自発光型表示装置。
A pixel array in which a plurality of pixel circuits are arranged in a matrix;
A plurality of write scan lines and a plurality of power supply scan lines connecting pixel circuits in the pixel array in a row direction;
A plurality of video signal lines connecting pixel circuits in the pixel array in a column direction;
A drive circuit that controls the potentials of the plurality of write scan lines and the plurality of power supply scan lines, and
Each of the plurality of pixel circuits is
On the other hand, a light emitting element whose applied voltage value changes depending on the potential of the electrode;
A driving transistor connected between the power supply scanning line and the one electrode;
A sampling transistor connected between the video signal line and a control node of the driving transistor and controlled in accordance with a potential of the writing scanning line;
A holding capacitor coupled to the control node;
An auxiliary capacitor connected between the one electrode and a power supply scanning line of another pixel circuit located on one side in the column direction;
Including
The driving circuit corresponds to a value Csub of the auxiliary capacitor, an equivalent capacitance Coled of the light emitting element, a high potential Vcc_H and a low potential Vcc_L of the power source scanning line, and a potential of the video signal line. Depending on the possible range of the gate potential Vg, the following equation:
Vws_L <Vg− (Vcc_H−Vcc_L) Csub / (Csub + Coled.)
A self-luminous display device configured to output a low potential Vws_L that satisfies the above condition to the writing scanning line as a lower potential of a binary potential.
前記駆動回路は、複数の画素行の各々に1本ずつ対応する前記書込走査線と前記電源走査線の組を、列方向で順次選択し、
前記補助キャパシタは、当該補助キャパシタを有する画素回路が属する画素行より、前記駆動回路によって先に選択される他の画素行内で画素回路を接続する電源走査線に接続されている
請求項1に記載の自発光型表示装置。
The drive circuit sequentially selects a pair of the write scan line and the power scan line corresponding to each of a plurality of pixel rows in a column direction,
The auxiliary capacitor is connected to a power supply scanning line that connects a pixel circuit in another pixel row that is first selected by the drive circuit from a pixel row to which the pixel circuit having the auxiliary capacitor belongs. Self-luminous display device.
前記書込走査線の前記低電位Vws_Lは、前記式を満たす値の負電位である
請求項1に記載の自発光型表示装置。
The self-luminous display device according to claim 1, wherein the low potential Vws_L of the writing scan line is a negative potential having a value satisfying the formula.
データ基準電位Voとの電位差が画素の表示輝度に対応して変化するデータ電位をもつデータパルスが所定周期で繰り返す映像信号が前記映像信号線内を伝送され、前記式の右辺が、前記ゲート電位Vgが前記データ基準電位Voのときに最小値をとり、前記駆動回路は、前記最小値より低い値に前記低電位Vws_Lを制御する
請求項1に記載の自発光型表示装置。
A video signal in which a data pulse having a data potential whose potential difference from the data reference potential Vo changes corresponding to the display luminance of the pixel is transmitted in the video signal line, and the right side of the equation is the gate potential. 2. The self-luminous display device according to claim 1, wherein a minimum value is obtained when Vg is the data reference potential Vo, and the driving circuit controls the low potential Vws_L to a value lower than the minimum value.
画素アレイ内で行列状に配置される複数の画素回路の各々が、一方電極の電位によって印加電圧値が変化する発光素子と、電源走査線と前記発光素子の一方電極との間に接続される駆動トランジスタと、前記駆動トランジスタの制御ノードと映像信号線との間に接続され、前記書込走査線の電位に応じて制御されるサンプリングトランジスタと、前記制御ノードに結合する保持キャパシタと、前記一方電極と、列方向の一方側に位置する他の画素回路の電源走査線との間に接続される補助キャパシタと、を含む自発光型表示装置の駆動方法であって、
前記補助キャパシタの値Csub、前記発光素子の等価容量Coled.、前記電源走査線の高電位Vcc_Hと低電位Vcc_L、および、前記映像信号線の電位に対応して前記駆動トランジスタのゲート電位Vgがとりうる範囲に応じて、以下の式、すなわち、
Vws_L<Vg−(Vcc_H−Vcc_L)Csub/(Csub+Coled.)
を満たす低電位Vws_Lが、低い方の電位として定められた前記書込走査線の2値電位によって前記サンプリングトランジスタを駆動する
自発光型表示装置の駆動方法。
Each of a plurality of pixel circuits arranged in a matrix in the pixel array is connected between a light emitting element whose applied voltage value changes depending on the potential of one electrode, and a power source scanning line and one electrode of the light emitting element. A driving transistor; a sampling transistor connected between a control node of the driving transistor and a video signal line and controlled in accordance with a potential of the writing scanning line; a holding capacitor coupled to the control node; A driving method of a self-luminous display device including an electrode and an auxiliary capacitor connected between a power supply scanning line of another pixel circuit located on one side in the column direction,
The drive transistor gate potential Vg corresponds to the value Csub of the auxiliary capacitor, the equivalent capacitance Coled. Of the light emitting element, the high potential Vcc_H and the low potential Vcc_L of the power supply scanning line, and the potential of the video signal line. Depending on the possible range, the following formula:
Vws_L <Vg− (Vcc_H−Vcc_L) Csub / (Csub + Coled.)
A driving method of a self-luminous display device, wherein the sampling transistor is driven by a binary potential of the writing scanning line, in which a low potential Vws_L satisfying the above is defined as a lower potential.
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CN115862531A (en) * 2023-03-03 2023-03-28 北京数字光芯集成电路设计有限公司 Voltage input type pixel driving circuit applied to micro display panel

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