JP2009162501A - 高電圧整流器スタックの健全性試験法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】高電圧整流器スタック13は高耐圧整流器を直列に複数個接続し、その各々の整流器と並列に分圧用キャパシタが実装されている。11は低電圧の高周波電源である。高周波電源11からの電圧を高電圧整流器スタック13に印加する。12は電流検出器であり高電圧整流器スタック13に流れる電流信号を検出する。この電流信号と印加電圧信号の位相差を適当な大きさに増幅して、高電圧整流器スタック13の健全性を試験する。
【選択図】図6
Description
Tektronix社「カーブトレーサ入門」1ページ 1章電流対電圧特性 1−2)ダイオードの項参照
tanθ={1+ω2R2(C0C1+C1 2)}/ωRC0
通常
C1=1,000pF〜10,000pFの分圧キャパシタ
が挿入されており、たとえば5V、100kHzベースで1度程度の位相がシフトするところを見ると低電流領域の当該ダイオードの通常ON抵抗(R=数10〜100Ω程度)を持った状態で逆方向も導通している状態であったと考えられる。このように考えると、この種の整流器スタックに対してその整流器スタックの順方向電圧より低い電圧を用い試験することにより、非線形素子を含んでいるにもかかわらず、複合した線形素子として扱うこと出来る。
直列に複数個接続し、その各々の整流器と並列に分圧用キャパシタが実装されている整流器スタックにおいて、その整流器スタックの順方向電圧より低い交流電圧を印加し、その電圧電流位相差を求めることで当該整流器スタックの健全性を試験する方法を特徴としている。
2−1〜2−n 高耐圧ダイオード素子
3−1,3−2 端子
4 破壊導通した整流器の等価抵抗(R)
5 合成キャパシタ(C0)
11 発信器
12−1,12−2 電流検出器
13 被験スタック
14 健全スタック
15 位相比較器
16 レベル比較器
17 表示LED
18 電流検出用キャパシタ
Claims (3)
- 高耐圧整流器を直列に複数個接続し、その各々の整流器と並列に分圧用キャパシタが実装されている高電圧整流器スタックの健全性を試験する方法であって、前記高電圧整流器スタックの順方向電圧より低い交流電圧を印加し、その電圧電流位相差を求めることで前記高電圧整流器スタックの健全性を試験する方法。
- 請求項1項記載の方法を用い、その電流検出素子としてキャパシタを用い、その出力と印加電圧位相差を求め、その大きさが所定の大きさを超えるときアラーム表示することを特徴とする簡易型の高電圧整流器スタック健全性試験器。
- 高耐圧整流器を直列に複数個接続し、その各々の整流器と並列に分圧用キャパシタが実装されている高電圧整流器スタックの健全性を試験する方法であって、被検する高電圧整流スタックとは別の健全な高電圧整流スタックを前記被検する高電圧整流器スタックと並列に接続し、その両端に当該高電圧整流器スタックの順方向電圧より低い交流電圧を印加し、各々の前記高電圧整流スタックに流れる電流の位相差を求めることで被検高電圧整流器スタックの健全性を試験する方法。
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