JP2009160603A - Soldering device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半田付け装置に関する。 The present invention relates to a soldering apparatus.
近年、各種装置に組み込まれる部品の小型化などに伴い、非常に入り組んだ狭小な箇所での半田付けを必要とする場面が多数見受けられる。例えば、図7に示すように、光ピックアップ装置が具備する対物レンズホルダ1の側面に設けられた基板20上の半田付け箇所12に対して、対物レンズホルダ1を支持するための複数本のサスペンションワイヤ11それぞれの一端を半田付けするような場合である。また、例えば対物レンズホルダ1内にフォーカシング制御やトラッキング制御用のコイル(不図示)を半田付けして実装する場合も同様に半田付けは困難である。
In recent years, with the miniaturization of components incorporated in various apparatuses, there are many scenes that require soldering in very complicated and narrow places. For example, as shown in FIG. 7, a plurality of suspensions for supporting the objective lens holder 1 with respect to a
図7に示した半田付け箇所12のような狭小な箇所への半田付けを、半田ごてなどにより手作業で行うことは困難であり、仮に手作業による半田付けを実施しても半田付けの不良率が高くなることが懸念される。そのため、集光レンズによって1点に集光することができるコヒーレント性を具備したレーザー光を用いて非接触かつ自動的に半田付けを行う半田付け装置が提案されている。具体的には、レーザー光を用いた半田付け装置では、レーザー光を半田付け箇所に応じた面積に集光レンズを介して集光することで半田付けの熱源としている。また、レーザー光の強さ及び照射時間を半田が適切に溶解する所定値にそれぞれ設定した上で半田付けを行うようにしている(例えば、以下に示す特許文献1を参照。)。
ところで、半田付け箇所での半田の適切な溶解温度が得られるようにレーザー光の強さ及び照射時間を設定することは非常に困難である。ある条件下でのレーザー光の強さ及び照射時間の適切な設定値が実験によって仮に得られたとしても、外気温度等の状態や半田付け箇所の周辺部への放熱等といった不確実で予測困難な外的要因によって、半田を溶解するために必要な熱量が大きく変化する可能性があるからである。 By the way, it is very difficult to set the intensity of the laser beam and the irradiation time so that an appropriate melting temperature of the solder at the soldering point can be obtained. Even if an appropriate set value of the intensity and irradiation time of the laser beam under certain conditions is obtained by experiment, it is uncertain and difficult to predict, such as the state of the outside air temperature, heat dissipation to the periphery of the soldering location, etc. This is because there is a possibility that the amount of heat required to melt the solder may change greatly due to other external factors.
そして、外的要因によってレーザー光の強さ及び照射時間が適切に設定されないとすると、半田付け箇所で半田が十分に溶解されなかったり、半田付け箇所を加熱し過ぎたりする等といった現象が起こり得る。このため、均一な半田付けが困難になるという課題が生じてしまう。また、外的要因によって半田量が変化するような場合、例えば半田量に応じたレーザー光の強度及び照射時間の最適な設定を試行錯誤しなければならないという課題が生じてしまう。 If the intensity and irradiation time of the laser beam are not set appropriately due to external factors, phenomena such as insufficient melting of the solder at the soldering location or excessive heating of the soldering location may occur. . For this reason, the subject that uniform soldering becomes difficult will arise. Further, when the amount of solder changes due to external factors, for example, there arises a problem that an optimum setting of the intensity of laser light and the irradiation time according to the amount of solder must be made by trial and error.
前述した課題を解決するために、主たる本発明に係る半田付け装置は、レーザー光を出力するレーザー素子と、前記レーザー光を集光して半田付け箇所に照射させる光学系と、前記半田付け箇所の温度を検出する温度検出器と、前記温度検出器により検出された温度が前記半田付け箇所に塗布される半田を溶解させる所定温度となるように前記レーザー素子より出力される前記レーザー光を制御するレーザー光制御部と、を備えたことを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, a main soldering apparatus according to the present invention includes a laser element that outputs laser light, an optical system that collects the laser light and irradiates the soldering portion, and the soldering portion. A temperature detector for detecting the temperature of the laser, and controlling the laser light output from the laser element so that the temperature detected by the temperature detector becomes a predetermined temperature for dissolving the solder applied to the soldering location And a laser light control unit for performing the above-described operation.
本発明の他の特徴については、添付図面及び本明細書の記載により明らかとなる。 Other features of the present invention will become apparent from the accompanying drawings and the description of this specification.
本発明によれば、半田付け箇所での温度を適切に制御する半田付け装置を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the soldering apparatus which controls appropriately the temperature in a soldering location can be provided.
本明細書および添付図面の記載により、少なくとも以下の事項が明らかとなる。 At least the following matters will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
[実施例1]
<<半田付け装置の構成>>
図1を用いて本発明の第1実施形態に係る半田付け装置100の構成について説明する。尚、以下、図7に示すピックアップ装置のサスペンションワイヤ11の一端である半田付け箇所12を、半田付け装置100が半田付けする対象の例として説明するが、半田付け装置100が半田付けする対象はこれに限られるものではない。
[Example 1]
<< Configuration of soldering device >>
The configuration of the
半田付け装置100は、ステージ30に配置された半田付け被対象部品を構成する基板20に対して、基板20上に例えばクリーム半田材などの半田10が予め塗布され、予め略クリーム状半田10が塗布された半田付け箇所12をレーザー光によって加熱して半田10を溶融・固化させて、半田付け対象部品の半田付けを行うものである。
In the
また、この半田付け装置100は、基板20上に例えば略パッド状のリフロー半田材などの半田10が予め載置され、予め略パッド状半田10が載置された半田付け箇所12をレーザー光によって加熱して半田10を溶融・固化させて、半田付け箇所12の半田付けを行うものである。
Further, in this
また、この半田付け装置100は、未だ半田10が付着されていない半田付け箇所12を予めレーザー光によって加熱して予熱し、そののちに、半田付け箇所12に糸半田(不図示)等の先端を寄せて不図示の糸半田等の先端を加熱するとともに溶融・固化させて、半田付け箇所12に半田付けを行うものである。
In addition, the
半田付け装置100は、ステージ30(作業台)と、レーザー素子(以下LD(Laser Diode)と称する)101と、アナモフィックレンズ102aおよびコリメータレンズ102b(第1コリメータレンズ)を備える集光レンズ102(第1レンズ)と、ビームスプリッタ103(偏光部材)と、集束レンズ104と、光ファイバケーブル105と、他のコリメータレンズ106(第2コリメータレンズ)と、他の集光レンズ107(第2レンズ)と、温度検出器108と、補正量設定器109と、オペアンプ110(第1アンプ)と、レーザー出力設定器111と、他のオペアンプ112(第2アンプ)と、を有する。
The
尚、集光レンズ102、ビームスプリッタ103、集束レンズ104、光ファイバケーブル105、コリメータレンズ106、集光レンズ107は、本願請求項に係る「光学系」を構成するものである。また、補正量設定器109、第1オペアンプ110(演算/増幅部)、レーザー出力設定器111、第2オペアンプ112(演算/増幅部)は、本願請求項に係る「レーザー光制御部」を構成するものである。尚、レーザー出力設定器111は、本願請求項に係る「レーザー出力設定部」を構成するものであり、第1オペアンプ110、第2オペアンプ112は、本願請求項に係る「レーザー素子駆動部」を構成するものである。
The
ステージ30は、集光レンズ107より出力される後述の第2レーザー光が基板20上の半田付け箇所12に照射されるような所定の位置に基板20を配置して固定するための作業台である。
The
LD101は、後述のレーザー出力設定信号SI’によって駆動されて、例えば、近赤外線である第1レーザー光を発光する。LD101から出射されたレーザー光は、拡大されながら進む。また、LD101から出射されたレーザー光の照射スポットは、略楕円状に照射形成される。
The LD 101 is driven by a laser output setting signal SI ′, which will be described later, and emits first laser light that is, for example, near infrared rays. Laser light emitted from the LD 101 travels while being enlarged. Further, the irradiation spot of the laser beam emitted from the
集光レンズ102は、LD101からの第1レーザー光を集光してビームスプリッタ103、集束レンズ104を介して光ファイバケーブル105の一端に入射させる。以下、第1レーザー光が入射される光ファイバケーブル105の一端を例えばレーザー光入射端105aと称する。また、光ファイバケーブル105のレーザー光入射端105aの他端を例えばレーザー光出力端105bと称する。尚、本実施形態では、集光レンズ102は、光ファイバケーブル105のレーザー光入射端105aへの集光を容易にすべく2つ(一対/複数)のレンズ102a、102bから構成される場合を示しているが、例えば屈折率の大きい1つのレンズから構成される場合であってもよい。
The
この明細書における半田付け装置の実施形態においては、LD101と光ファイバケーブル105との間に位置し、第1レンズ群102Xを構成する一方のレンズ102aは、LD101から出射されたレーザー光の略楕円状照射スポットを略真円状照射スポットにさせる特殊なレンズ102aとされている。第1レンズ群102Xを構成する一方のレンズ102aは、例えばアナモレンズ102aいわゆるアナモフィックレンズ102aとして構成されている。また、第1レンズ群102Xを構成する一方のレンズ102aは、LD101から出射され拡大されるレーザー光を集束させ、集束された略真円状照射スポットとなるレーザー光を他方のレンズ102bに入射させる。
In the embodiment of the soldering apparatus in this specification, one
また、第1レンズ群102Xを構成する他方のレンズ102bは、一方のレンズ102aから出射され略真円状照射スポットとなった集束されつつあるレーザー光を略平行光とさせ、略真円状照射スポットとなった略平行光のレーザー光をビームスプリッタ103に入射させる。第1レンズ群102Xを構成する他方のレンズ102bは、例えばコリメータレンズ102bとして構成されている。
In addition, the
また、第1レンズ群102Xを構成するその他のレンズ104は、ビームスプリッタ103から出射され略真円状照射スポットを形成可能な略平行光のレーザー光を集束させ、集束された略真円状照射スポットのレーザー光を光ファイバケーブル105に入射させる。第1レンズ群102Xを構成するその他のレンズ104は、例えば集束レンズ104として構成されている。
Further, the
アナモフィックレンズ102aとコリメータレンズ102bと集束レンズ104とは、例えば第1レンズ群102Xを構成する3つ(複数)のレンズ102a、102b、104とされている。このように、この明細書における半田付け装置の実施形態においては、光ファイバケーブル105のレーザー光入射端105a側に位置する第1レンズ群102Xは、一方のレンズ102a、他方のレンズ102b及びその他のレンズ104を備えて構成されている。
The
光ファイバケーブル105は、レーザー光入射端105aから入射される第1レーザー光を集光レンズ107に向かって導光させる。また、光ファイバケーブル105は、レーザー光出力端105bから入射される第3レーザー光をビームスプリッタ103に向かって導光させる。尚、第3レーザー光とは、加熱された基板20上の半田付け箇所12から放射される遠赤外線のことであり、半田付け箇所12の温度に応じたエネルギー量を持つ熱線としての性質を有する。
The
ビームスプリッタ103は、集光レンズ102と光ファイバケーブル105のレーザー光入射端105aとの間に設けられ、集光レンズ102からビームスプリッタ103に入射される第1レーザー光(近赤外線)を透過させる。また、ビームスプリッタ103は、光ファイバケーブル105のレーザー光入射端105aからビームスプリッタ103に入射される第3レーザー光(遠赤外線)を反射して温度検出器108に入射させる。
The
コリメータレンズ106は、光ファイバケーブル105を通り抜けたのちに拡大した第1レーザー光を略平行光に変形して集光レンズ107へ入射させるために、光ファイバケーブル105のレーザー光出力端105bと集光レンズ107との間に設けられる。集光レンズ107は、コリメータレンズ106によって略平行光となった第1レーザー光を集光して得られる第2レーザー光を、基板20上の半田10が塗布された半田付け箇所12に熱源として照射させる。尚、コリメータレンズ106及び集光レンズ107は、光ファイバケーブル105のレーザー光出力端105bに第3レーザー光を集光させて入射(導光)させるためのレンズとしても機能する。
The
コリメータレンズ106と集光レンズ107とは、例えば第2レンズ群107Xを構成する2つ(一対/複数)のレンズ106、107とされている。このように、光ファイバケーブル105のレーザー光出射端105b側に位置する第2レンズ群107Xは、一方のレンズ106及び他方のレンズ107を備えて構成されている。
The
温度検出器108は、半田付け箇所12又はその周辺の温度を検出するものである。本実施形態では、温度検出器108は、ビームスプリッタ103が反射する第3レーザー光(遠赤外線)を受光可能な位置に設けられるサーモパイルなどの赤外線センサを備えて構成され、半田付け箇所12の温度に応じた第3レーザー光のエネルギー量に比例する電圧レベルを有した温度検出信号SOを出力する。尚、サーモパイル以外に、サーモカップルや焦電型赤外線センサ等を用いてもよい。
The
補正量設定器109は、温度検出信号SOが示すエネルギー量に加算させる補正量を電圧レベルに変換した補正信号ΔSOを出力する。例えば、補正量設定器109は、可変抵抗器や電子ボリュームとして実現することができる。尚、補正信号ΔSOが示す補正量は、温度検出信号SOが示すエネルギー量(半田付け箇所12の検出温度)を、半田付け箇所12の実際の温度に対して高精度に対応させるために設定される。
The correction
第1アンプ110として、例えば演算機能をもった増幅器とされるオペアンプ(operation amplifier)110が用いられている。第1オペアンプ110は、温度検出器108より出力される温度検出信号SOに対して補正量設定器109より出力される補正信号ΔSOを加算して、補正後の温度検出信号SO’として出力する。
As the
レーザー出力設定器111は、LD101より出力される第1レーザー光の光量を、半田付け箇所12に塗布される半田10を溶解させるのに適した所定温度(以下、溶解温度という。)に応じた光量に設定するものである。例えば、レーザー出力設定器111は、可変抵抗器や電子ボリュームとして実現することができる。尚、レーザー出力設定器111は、半田10の所望の溶解温度に応じた光量に比例した電圧レベルを有するレーザー出力設定信号SIを出力する。
The laser
第2アンプ112として、例えば演算機能をもった増幅器とされるオペアンプ(operation amplifier)112が用いられている。第2オペアンプ112は、非反転入力にレーザー出力設定信号SIが印加され、反転入力に補正後の温度検出信号SO’が印加され、出力から非反転入力への帰還経路上には抵抗素子RとコンデンサCの並列接続による積分回路が接続される。すると、第2オペアンプ112は、抵抗素子RとコンデンサCによって定まる時定数で、レーザー出力設定信号SIと補正後の温度検出信号SO’との差分を増幅させたレーザー出力設定信号SI’を出力する。尚、LD101は、レーザー出力設定信号SI’によって駆動されて第1レーザー光を出力する。
As the
以上の構成とした結果、第2オペアンプ112の反転入力と非反転入力との間のイマジナリーショートによって、レーザー出力設定信号SIが示す半田10の所望の溶解温度と補正後の温度検出信号SO’が示す半田付け箇所12での検出温度との間の差は、抵抗素子RとコンデンサCとによって定まる時定数で緩やかに狭められていくことになる。この結果、最終的には、半田付け箇所12に塗布された半田10の温度を所望の溶解温度に一致させることができる。
As a result of the above configuration, due to an imaginary short between the inverting input and the non-inverting input of the second
<<補正量の設定>>
図2乃至図4は、補正量設定器109に設定される補正量を説明するための図である。尚、図2は補正量を得るフローチャートを示しており、図3は図2に示す校正トライアルのフローチャートを示しており、図4は図2に示すフローチャートによって得られる温度検出器108の出力特性を示した図である。
<< Setting of correction amount >>
2 to 4 are diagrams for explaining the correction amount set in the correction
まず、温度検出器108より出力される温度検出信号SOのトライアルとしての校正を半田10の溶解状態に基づいて行う校正トライアル工程(S200)が実行される。尚、校正トライアル工程の全体的な流れは、図3に示すフローチャートに示されている。
First, a calibration trial step (S200) is performed in which calibration as a trial of the temperature detection signal SO output from the
図3に示すように、LD101の駆動が開始されて第1レーザー光が出力され始めると(S300)、半田付け箇所12の温度が除々に上昇していく過程で、温度検出器108より出力される温度検出信号SOの現在の電圧レベル(変数T)が前回の電圧レベル(変数TM)よりも高いか否かが判定される(S301、S302)。そして、現在の電圧レベル(変数T)は、前回の電圧レベル(変数TM)よりも高ければ(S302:YES)、次回の電圧レベル(変数T)との比較対象(変数TM)として保持される(S303)。以上のS301からS303までの流れは、所定の設定時間が経過(S304:NO)するまで行われ、所定の設定時間が経過した時(S304:YES)に、LD101の駆動を停止させる(S305)。
As shown in FIG. 3, when the driving of the
校正トライアル工程(S200)によって、LD101の駆動が開始されて停止するまでの間で最大の電圧レベルを示した温度検出信号SOが変数TMに保持され、また、そのときの半田10の溶解状態が適切であるか否かの検証が行われる(S201)。半田10の溶解状態が不適切であれば(S201:NO)、再び校正トライアル工程(S200)が実行される。尚、半田10の溶解状態が不適切とは、例えば半田10の一部が溶解していない場合や半田クラックや半田クリープ等の半田不良が生じた場合である。一方、半田10の溶解状態が適切であれば(S201:YES)、そのときの変数TMに保持された温度検出信号SOを、使用する半田10等の条件によって予め決められた溶解温度PM(例えば360℃)における温度検出器108の出力として決定する(S202)。
In the calibration trial process (S200), the temperature detection signal SO indicating the maximum voltage level is held in the variable TM until the drive of the
つぎに、LD101の駆動が開始される前の所定の初期温度PS(例えば25℃)に対応した温度検出器108の出力であるデフォルト値TSを取得する(S203)。すると、初期のサンプルデータ(初期温度PS、デフォルト値TS)と、校正トライアル工程(S200)によって得られたサンプルデータ(溶解温度PM、変数TM)と、が得られ、また、これらのサンプルデータを用いて線形補間することによって図4に示す温度検出器108の出力特性が得られる(S204)。そして、補正量設定器109によって設定される補正量は、図4に示す温度検出器108の出力特性に基づいて、温度検出器108より出力される温度検出信号SOを補正すべく設定される(S205)。
Next, a default value TS which is an output of the
以上のように、半田付け装置100では、温度等の外気の状態や半田付け箇所の周辺部への放熱等といった不確実で予測困難な外的要因の影響を考慮して、半田付けを適切に行うことが可能となる。
As described above, the
また、温度検出器108としてサーモパイルを用い且つビームスプリッタ103を設けることによって、温度検出器108を半田付け箇所12の周辺に配置しなくて済む。この結果、温度検出器108から第1オペアンプ110を介した第2オペアンプ112に至るまでの配線を短くすることができ、半田付け装置100のコンパクト化を達成できる。
Further, by using a thermopile as the
また、ミラー等ではなく光ファイバケーブル105を設けることによって、半田付け箇所12の温度の情報を高精度に温度検出器108に伝達させることが可能となる。
In addition, by providing the
また、予め設定された温度検出器108の出力特性を反映した補正量が設定される補正量設定器109を設けることによって、温度検出器108より出力される温度検出信号SOが示すエネルギー量(温度)を半田付け箇所12の実際の温度に対して高精度に対応させることが可能となる。
Further, by providing a correction
また、補正後の温度検出信号SO’が示す半田付け箇所12の検出温度を、第2オペアンプ112に接続された抵抗素子RとコンデンサCとから成る積分回路によって、レーザー出力設定信号SIが示す半田10の溶解温度へと緩やかに近づけて最終的には一致させるような制御を行うことができる。尚、半田付け箇所12の温度を半田10の溶解温度に緩やかに近づける理由としては、半田付け箇所12の温度が急激に上昇すると、半田10の蒸発、飛散やクラック及びフラックスの昇華、飛散などを引き起こす恐れがあるからである。
Also, the solder temperature indicated by the laser output setting signal SI is obtained by integrating the detected temperature at the
また、半田付け装置100は、いわゆる鉛フリー半田を使用する場合にも効果的である。鉛フリー半田では、その溶解温度が他の半田に比べて高いため、半田付け対象の耐熱温度を超えないように微細に温度制御して溶解する必要があるからである。
The
[実施例2]
図5は、本発明の第2実施形態に係る半田付け装置200の構成を示した図である。
[Example 2]
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a
半田付け装置200は、図1に示した半田付け装置100のうち、補正量設定器109、第1オペアンプ110、レーザー出力設定器111、第2オペアンプ112の各機能をMPU(Micro Processing Unit)120(図5)に置き換えた構成となっている。MPU120(制御部)は、半田付け装置200全体のシステム制御を司る。尚、図5に示される半田付け装置200の構成のうち、図1に示される構成と同一のものに対しては、同一の符号を付しその詳細な説明を省略した。
The
図6は、MPU120の動作を示すフローチャートである。MPU120は、レーザー出力設定信号SI’の初期値を設定してLD101に出力する(S600)。すると、LD101はレーザー出力設定信号SI’に応じた第1レーザー光を出力し、基板20上の半田付け箇所12には第1レーザー光に応じた第2レーザー光が照射される。また、温度検出器108は、加熱された半田付け箇所12の温度に応じた第3レーザー光を受光し、第3レーザー光に応じた温度検出信号SOを出力する。
FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the
MPU120は、温度検出器108から出力される温度検出信号SOが入力されると、図4に示す温度検出器108の出力特性に基づき補正信号ΔSOを定めて、温度検出器108から出力された温度検出信号SOに補正信号ΔSOを加算する。MPU120は、この加算した値(=SO+ΔSO)が半田10の融解温度に応じた温度検出器108の出力と一致するか否かを判定し(S602)、不一致であれば(S602:NO)、レーザー出力設定信号SI’に予め定めておいた増分ΔSI’を加算する(S603)。さらに、MPU120は、LD101の照射時間として予め定めておいた設定時間を経過したか否かを判定し(S604)、設定時間を経過していなければ(S604:NO)、S601からS603までの処理を繰り返す。
When the temperature detection signal SO output from the
以上のように、MPU120を用いた半田付け装置200の場合であっても、半田付け装置100と同様な制御を行うことで、温度等の外気の状態や半田付け箇所12の周辺部への放熱等といった不確実で予測困難な外的要因の影響を考慮して、半田付けを適切に行うことが可能となる。また、MPU120を用いたことで、半田付け装置200のコンパクト化を達成できる。
As described above, even in the case of the
以上、本発明の実施形態について説明したが、前述した実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく変更/改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。 As mentioned above, although embodiment of this invention was described, embodiment mentioned above is for making an understanding of this invention easy, and is not for limiting and interpreting this invention. The present invention can be changed / improved without departing from the gist thereof, and the present invention includes equivalents thereof.
10 半田
12 半田付け箇所
20 基板
30 ステージ
100、200 半田付け装置
101 レーザー素子
102、107 集光レンズ
102a アナモフィックレンズ
102b、106 コリメータレンズ
102X、107X レンズ群
103 ビームスプリッタ
104 集束レンズ
105 光ファイバケーブル
105a レーザー光入射端
105b レーザー光出射端
108 温度検出器
109 補正量設定器
110、112 オペアンプ
111 レーザー出力設定器
120 MPU
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記レーザー光を集光して半田付け箇所に照射させる光学系と、
前記半田付け箇所の温度を検出する温度検出器と、
前記温度検出器により検出された温度が前記半田付け箇所に塗布される半田を溶解させる所定温度となるように前記レーザー素子より出力される前記レーザー光を制御するレーザー光制御部と、
を備えたことを特徴とする半田付け装置。 A laser element that outputs laser light;
An optical system for condensing the laser beam and irradiating the soldered portion;
A temperature detector for detecting the temperature of the soldering point;
A laser light control unit for controlling the laser light output from the laser element so that the temperature detected by the temperature detector is a predetermined temperature for dissolving the solder applied to the soldering portion;
A soldering apparatus comprising:
前記光学系は、前記レーザー素子より出力される前記レーザー光を前記半田付け箇所に向けて透過させるとともに、透過された前記レーザー光が照射された前記半田付け箇所より発する熱線を反射させるビームスプリッタを備え、
前記温度検出器は、前記ビームスプリッタより反射された前記熱線を受光し、当該熱線に基づき前記半田付け箇所の温度を検出するサーモパイルであること、を特徴とする半田付け装置。 The soldering apparatus according to claim 1,
The optical system includes a beam splitter that transmits the laser light output from the laser element toward the soldering portion and reflects heat rays emitted from the soldering portion irradiated with the transmitted laser light. Prepared,
The temperature detector is a thermopile that receives the heat ray reflected from the beam splitter and detects the temperature of the soldering location based on the heat ray.
前記光学系は、前記レーザー素子から出力されてビームスプリッタを透過した前記レーザー光を前記半田付け箇所に導光させるとともに、前記半田付け箇所より発する熱線を前記ビームスプリッタに導光させる光ファイバケーブルを備えたこと、を特徴とする半田付け装置。 In the soldering apparatus according to claim 1 or 2,
The optical system includes an optical fiber cable that guides the laser light output from the laser element and transmitted through the beam splitter to the soldering portion, and guides the heat rays emitted from the soldering portion to the beam splitter. A soldering apparatus characterized by comprising:
前記レーザー光制御部は、予め定めておいた前記温度検出器の出力特性に基づき前記温度検出器の出力を補正し、前記温度検出器の補正後の出力に基づき前記レーザー光を制御すること、を特徴とする半田付け装置。 In the soldering apparatus of any one of Claims 1-3,
The laser light control unit corrects the output of the temperature detector based on a predetermined output characteristic of the temperature detector, and controls the laser light based on the corrected output of the temperature detector, Soldering device characterized by
前記レーザー光制御部は、
前記所定温度に応じた前記レーザー光の出力レベルを設定するレーザー出力設定部と、
前記レーザー光の出力レベルと前記温度検出器の補正後の出力レベルとの差分を所定の時定数で増幅して前記レーザー素子を駆動するレーザー素子駆動部と、
を備えることを特徴とする半田付け装置。 In the soldering device according to any one of claims 1 to 4,
The laser light control unit
A laser output setting unit for setting an output level of the laser beam according to the predetermined temperature;
A laser element driver for driving the laser element by amplifying the difference between the output level of the laser beam and the output level after correction of the temperature detector by a predetermined time constant;
A soldering apparatus comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007340906A JP2009160603A (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Soldering device |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2018126781A (en) * | 2017-02-10 | 2018-08-16 | 日本アビオニクス株式会社 | Laser bonding device |
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2007
- 2007-12-28 JP JP2007340906A patent/JP2009160603A/en active Pending
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