JP2009155159A - 石英ガラス板の高精度微細径穴加工方法 - Google Patents

石英ガラス板の高精度微細径穴加工方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009155159A
JP2009155159A JP2007334840A JP2007334840A JP2009155159A JP 2009155159 A JP2009155159 A JP 2009155159A JP 2007334840 A JP2007334840 A JP 2007334840A JP 2007334840 A JP2007334840 A JP 2007334840A JP 2009155159 A JP2009155159 A JP 2009155159A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
quartz glass
hole
glass plate
diameter
grinding tool
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007334840A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiko Kano
明彦 鹿野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tosoh Quartz Corp
Original Assignee
Tosoh Quartz Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tosoh Quartz Corp filed Critical Tosoh Quartz Corp
Priority to JP2007334840A priority Critical patent/JP2009155159A/ja
Publication of JP2009155159A publication Critical patent/JP2009155159A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

【課題】石英ガラス板へ微細穴を高精度、高速で加工すると共に、研削ツールの長寿命化を図る。
【解決の手段】被加工物である石英ガラス板2に、所望の穴1の直径より小さな元穴10をレーザーを使用して穴あけ加工し、次に、この元穴10に研削ツールを使用して研削することによって所望の直径の穴1を形成する。レーザー加工によって生じたバリ(ドロス)3が研削ツールによって除去されて平坦面とすることができ、更に、研削ツールに負担をかけることなく正確な円形の穴の加工ができ、研削ツールの寿命を研削ツール単独加工による場合よりも数倍長くすることができ、加工時間の短縮、コストの低減が達成される。
【選択図】図1

Description

本発明は、石英ガラス板に高アスペクト比(厚さ/穴径)の微細径穴を加工する方法に関し、特に、半導体用部品、光学用部材、光ファイバー用部品、光通信における受信装置に用いるコネクター用部品、更に詳しくは半導体素子テスト装置用部品等として用いられる石英ガラス製部品に、直径が0.3mm以下の微細径の穴をμmオーダーの精度で加工する方法に関する。
半導体素子は、ICウエハー上、または、パッケージングされた後、様々な特性テストを実施し良否判定されるが、半導体素子の電気的性能をテストする場合は、半導体素子を多機能型検査装置であるテストハンドラにより通電した状態でテストがおこなわれる。このテストハンドラのヘッドの部品として樹脂またはセラミックス製のソケットが用いられている。
ソケットには複数個の微細径穴があけてあり、テストハンドラに電気的に連結される複数の接続ピンがこの微細径穴を通って半導体素子の端子に接触するようになっている。
ソケットは、プローブのカバーの役目を果たすもので、中央にプローブを通すための貫通穴が半導体素子の接点数分だけ一定間隔で形成されて、プローブをガイドするものである。
ICテストでは、パッケージされた半導体チップが、環境テスト及び電気性能テスト、高周波特性テストによって正しく機能することを確認する。ICテストは、前述のテストハンドラを用いておこなうものであり、テストハンドラがトレーで運ばれてきた半導体チップをテスターのテストヘッドと直結されたソケットに装着してテストが実施され、テストが終了したら、ファイナルテストに合格したチップは顧客の仕様に従って包装されて出荷される。
電気性能テストにおいては、半導体チップが高周波特性などの仕様を満足するかについてテストがなされ、良品と不良品が選別されるのであるが、半導体素子は集積度が高い場合は接点間隔が狭いことから、誘電体損失が大きく、また、熱膨張率が高い樹脂製ソケットでは、測定データの信頼性が低くなるという問題が起きてきた。
樹脂の代替品としてセラミックスが考えられるが、接点間隔が狭い場合、高アスペクト比でのセラミックスの微細径加工は難しい。
特開2000−302488号公報
上述の問題を解決するために、樹脂の代替品として石英ガラスを使用することによってノイズの発生が防止可能であることを見出した。これは石英ガラスが樹脂やセラミックスに比べて格段に誘電体損失が小さいため、接点間隔が狭くなっても電気的性能テストにおけるノイズの発生の防止効果が大きいことによること、また、熱膨張係数が樹脂やセラミックスに比べて格段に小さいことから、こうした電子部品のソケット材質としては石英ガラスが適しているということが考えられる。
ただ、実際に穴あけ加工をおこなうと、石英ガラスに±20μm以下の高精度での穴あけは非常に難しいということが判明した。
レーザー加工は、非常に優れた穴あけ加工方法であり、良く知られた方法であるが、図1に示すように、穴のピッチは正確に形成することができるが、形成した穴の深さ方向にゆがみが生じており、石英ガラス板の表裏にバリ(ドロス)が残留して好ましくなく、更に、穴形状が正確な円形とはならずゆがみが生じ寸法にもばらつきが生じている。従って、レーザー加工のみでは、石英ガラスに±20μm以下の高精度での穴あけは現状の技術においては不可能である。
この問題を解決するものとしてガラス材料に複雑な断面形状を有する高品質で高アスペクト比の微細穴を加工する方法として、特許文献1(特開2000−302488号公報)にレーザー加工により、または、超音波加工によりガラス基板に微細穴を形成し、その中に樹脂材料またはホットメルト材などの充填物を詰めた状態でガラス基板の両面を研磨し、その後に充填物を微細穴から除去して、微細な貫通穴を形成することが開示されている。
また、研削ツールを使用した研削加工では加工時間が長くなると共に、研削ツールの寿命が短く頻繁に研削ツールを交換しなければならなかった。また、研削抵抗や研削熱の発生があり、微細径でアスペクト比(厚さ/穴径)8以上という高アスペクト比の穴を高精度で加工することは不可能であった。
本発明は、石英ガラス板の研削穴加工において、研削加工スピードのアップを図ると共に、研削ツールの長寿命化、かつ、±20μm以下の高精度で高アスペクト比の微細径穴加工ができるようにすることを目的とする。
石英ガラス板に目的寸法より小さい元穴をレーザー加工によって形成し、次に目的の直径に研削加工することによって高アスペクト比の穴を石英ガラス板に高精度で形成することができるようにしたものである。
石英ガラス板への高精度穴あけについて、加工スピードのアップ、研削ツールの長寿命化が達成でき、厚さ0.5mm〜5mmの石英ガラス板に、ボール盤やマシニングセンターなどによる研削加工によって、直径0.3mm以下の円の高精度微細径穴を加工する場合、研削量を少なくすることによって、研削抵抗や研削熱の発生を低減させ、かつ、研削液のまわりこみが十分なされて潤滑性が向上し、高精度の加工が可能となった。
実施例1
図1に示すように、厚さ1.5mmの石英ガラス板2に炭酸ガスレーザー加工機を用い、パルスモードで穴あけのピアス時間(sec)、パワー(W)、電流(mA)、周期(msec)、パルス幅(msec)、そしてアシストガスをエアとして、アシストガス圧(MPa)を適宜それぞれ条件選定し、レーザービームを照射し、石英ガラス板2に直径0.12mmの元穴10を24個形成した。元穴10の表裏面の穴の縁にはバリ(ドロス)3が生成されるのが認められた。元穴10相互のピッチ(p)は、所定のピッチであって正確であるが、元穴10は、入口(表面)、中央、出口(下面)の直径が均一に加工されず、中央部が細い状態であった。また、石英ガラス板2の表面及び裏面における穴の形状は真円とはならず、楕円形となるものが認められた。
この時の石英ガラス板の断面の状態写真を図2に示す。
次にマシニングセンターを使用し、直径0.165mm、#600の電着ダイヤツールを8000rpmで回転させて元穴10を穴あけ加工して穴1を形成した。元穴10の加工時間は1分/1穴でおこなった。元穴10がレーザー加工によって形成してあったので、ダイヤツールの研削量が少なく、また、摩耗が少なくなったのでダイヤツール1本で24個の穴が加工できた。
元穴10の縁のドロスは消失して石英ガラス板2の表裏面は平坦となった。また、楕円形であった元穴10は真円の穴1となった。
この状態の石英ガラス板2の平面の状態写真を図3に、穴1の拡大写真を図4に示す。
キーエンス製デジタルマイクロスコープを用いて、300倍の倍率で穴を形成した石英ガラス板の微細径穴を正面及び断面から測定し、データ処理装置により、直径を計算した。
深さ方向の直径の変動は殆どなくなり、表裏面の穴はほぼ真円で、平均穴径は直径0.170mmであった。24個とも精度±20μm以下であり、高精度な微細径穴加工が施されていることを確認した。
また、石英ガラス板に深さ1.5mmの穴を24個加工したサンプルをもう1枚作製し、2枚のサンプルについてそれぞれ無作為に選んだ各10個の穴について、入口面の穴の直径及び出口面の穴の直径をデジタルマイクロスコープ(VHX−500)で測定した。その結果を表1、及び図5に示す。
なお、円形以外の例えば楕円形の小径穴の場合、2定点からの距離の和が一定である点の軌跡の長円となるが、この細長い円の角部半径が微細径である形状の穴加工についても本発明を応用することで±20μm精度での加工が可能になる。
比較例1
厚さ1.5mmの石英ガラス板に実施例1と同様に炭酸ガスレーザー加工機を使用して直径0.170mmの穴あけ加工をおこない、実施例1と同様に検査したところ、その精度は30μm以下であった。
比較例2
厚さ1.5mmの石英ガラス板にマシニングセンターで直径0.165mm、#600の電着ダイヤツールを8000rpmで回転させて直径0.170mmの穴をあけたところ、穴加工時間は10分/1穴を要し、かつ、ダイヤツールが摩耗し、穴1個について1本のダイヤツールの交換が必要となった。また、穴の加工精度は目標である20μmには達しなかった。
本発明の加工手順の概念図。 実施例1の穴を開けた石英ガラス板の断面写真。 実施例1の穴を開けた石英ガラス板の平面写真。 実施例1の穴を開けた石英ガラス板の拡大表面写真。 入口面の穴の直径及び出口面の穴の直径の測定結果のグラフ。
符号の説明
1 穴
10 元穴
2 石英ガラス板
3 バリ(ドロス)

Claims (2)

  1. 石英ガラス板に、目的寸法より小さい元穴をレーザー加工によって形成し、次に目的の直径の穴を研削加工することを特徴とする石英ガラス板の穴加工方法。
  2. 請求項1において、穴の直径が0.3mm以下の円形であり、形成された穴が±20μm以下の精度である石英ガラス板の穴加工方法。
JP2007334840A 2007-12-26 2007-12-26 石英ガラス板の高精度微細径穴加工方法 Pending JP2009155159A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007334840A JP2009155159A (ja) 2007-12-26 2007-12-26 石英ガラス板の高精度微細径穴加工方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007334840A JP2009155159A (ja) 2007-12-26 2007-12-26 石英ガラス板の高精度微細径穴加工方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009155159A true JP2009155159A (ja) 2009-07-16

Family

ID=40959566

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007334840A Pending JP2009155159A (ja) 2007-12-26 2007-12-26 石英ガラス板の高精度微細径穴加工方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009155159A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016124764A (ja) * 2015-01-06 2016-07-11 日本電気硝子株式会社 マイクロホールアレイ及びその製造方法
CN113843706A (zh) * 2021-10-21 2021-12-28 湖州东科电子石英股份有限公司 一种石英基座长孔加工方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1071612A (ja) * 1996-08-29 1998-03-17 Kamaishi Ootsuchi Chiiki Sangyo Ikusei Center セラミックスの微細穿孔加工方法
JP2003119044A (ja) * 2001-10-12 2003-04-23 Quantum Design Japan Inc レーザによる石英の加工方法および加工装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1071612A (ja) * 1996-08-29 1998-03-17 Kamaishi Ootsuchi Chiiki Sangyo Ikusei Center セラミックスの微細穿孔加工方法
JP2003119044A (ja) * 2001-10-12 2003-04-23 Quantum Design Japan Inc レーザによる石英の加工方法および加工装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016124764A (ja) * 2015-01-06 2016-07-11 日本電気硝子株式会社 マイクロホールアレイ及びその製造方法
WO2016111076A1 (ja) * 2015-01-06 2016-07-14 日本電気硝子株式会社 マイクロホールアレイ及びその製造方法
US20170291850A1 (en) * 2015-01-06 2017-10-12 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Micro-hole array and method for manufacturing same
CN113843706A (zh) * 2021-10-21 2021-12-28 湖州东科电子石英股份有限公司 一种石英基座长孔加工方法
CN113843706B (zh) * 2021-10-21 2023-08-15 湖州东科电子石英股份有限公司 一种石英基座长孔加工方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10401387B2 (en) Manufacturing method of contact probes for a testing head
JP5696624B2 (ja) 半導体試験治具
CN101233610A (zh) 制造探针卡的方法及装置
JP2006318966A (ja) 半導体ウエーハ
JP2009155159A (ja) 石英ガラス板の高精度微細径穴加工方法
JP2007203332A (ja) 絶縁樹脂板の加工方法及びこの絶縁樹脂板を備えた配線板検査治具
US20030102878A1 (en) Bore probe card and method of testing
JP2009277854A (ja) 半導体装置の製造方法
Wei et al. Empirical investigations on die edge defects reductions in die singulation processes for glass-panel based interposers for advanced packaging
CN103280440A (zh) 制备tem样品的半导体结构和方法
CN115274489A (zh) 一种芯片的失效分析方法及系统
CN107807025A (zh) 一种金属材料剩余循环寿命试样表面裂纹的预制方法
JP7289592B2 (ja) 検査用基板及び検査方法
CN209303898U (zh) 一种探测晶圆表面起伏的测量装置及激光隐形切割系统
KR100764631B1 (ko) 프로브 팁 라운드 형상 가공 방법
KR930012264B1 (ko) 연마가이드 및 이를 제공하기 위한 방법
JP2000327402A (ja) セラミック加工部品とその製造方法
KR20080102877A (ko) 투과전자현미경용 시편 제조방법
Conrad Benchmark Testing of Gold Ribbon Bonds on Thin-Film Microchips with New Gold Ribbon Auto-Bonder
JP4453560B2 (ja) レーザ加工方法
KR101215366B1 (ko) 접촉자의 제조방법, 반도체 검사장치의 제조방법, 접촉자 및 이를 포함하는 반도체 검사장치
JP2011204889A (ja) インターポーザ基板
JP7148472B2 (ja) セラミックス部品およびセラミックス部品の製造方法
Casperson et al. Manufacturing of reference defects for NDT using low-energy EDM
Gaut The Use of Precision Selective Area Milling for Failure Analysis of Flip-Chip Packages

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101029

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111020

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121113

A02 Decision of refusal

Effective date: 20130312

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02