JP2009140893A - 電子線装置、電子線形状測定方法及び画像処理方法 - Google Patents
電子線装置、電子線形状測定方法及び画像処理方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】走査透過型電子顕微鏡(STEM)の試料位置に第1の電子線検出器21を挿入し、この第1の電子線検出器21を上下方向に移動して、最大電流となる位置を探索する。その位置を、STEM像観察時の試料挿入位置とする。次に、結像レンズ22a〜22cの結像面に第2の電子線検出器25を挿入し、最大電流が得られるように結像レンズ22a〜22cのレンズ条件を調整する。その後、CCDカメラ26により電子線形状を撮影する。制御部10は、この電子線形状を用いてSTEM像をコンボリューション処理し、STEM像から偽像を除去する。
【選択図】図1
Description
11…電子銃、
12a,12b…収束レンズ、
13…収束レンズ絞り、
14…偏向コイル、
15…走査コイル、
16…球面収差・非点収差補正部、
17…二次電子検出器、
18a,18b,31a,31b…対物レンズ、
19…試料搭載部、
20,33…試料、
21…上部電子線検出器、
22a,22b,22c,32a,32b,32c…結像レンズ、
23…シャッター、
24…蛍光板、
25…下部電子線検出器、
26…CCDカメラ、
27…STEM検出器、
34…結像面。
Claims (6)
- 試料に照射される電子線の形状を測定可能な電子線装置であって、
電子線を出力する電子線源と、
前記電子線源から出力された電子線の焦点を試料位置に合せる対物レンズと、
前記電子線源と前記対物レンズとの間に配置され、前記電子線を試料表面に沿って走査可能な走査コイルと、
前記試料位置を通過した電子線を結像面に結像する結像レンズと、
電子線形状測定時に前記試料位置に配置される第1の電子線検出器と、
前記電子線形状測定時に前記結像面の位置に配置される第2の電子線検出器と、
前記電子線形状測定時に前記結像面又はその近傍に配置されて電子線形状を撮影する撮像部と、
前記電子線源、前記対物レンズ、前記走査コイル及び前記結像レンズを制御するとともに、前記第1の電子線検出器、前記第2の電子線検出器及び前記撮像部から出力される信号を入力する制御部と
を有することを特徴とする電子線装置。 - 更に、前記試料を透過した電子を検出して電子顕微鏡像を取得する電子顕微鏡像取得部を有し、
前記制御部は、電子線形状を測定する電子線形状測定モードと、前記電子顕微鏡像を取得する電子顕微鏡像取得モードとを備え、前記電子線形状測定モードでは前記試料面における電子線形状を前記撮像部に投影するように前記結像レンズを制御し、前記電子顕微鏡像取得モードでは前記第1の電子線検出器、前記第2の電子線検出器及び前記撮像部を電子線の通過域から退避させ、前記試料による回折像を前記電子顕微鏡像取得部に投影するように前記結像レンズを制御することを特徴とする請求項1に記載の電子線装置。 - 前記制御部は、前記撮像部で撮影した電子線形状に応じて、前記電子顕微鏡像取得部で取得した電子顕微鏡像をデコンボリューション処理することを特徴とする請求項2に記載の電子線装置。
- 前記制御部は、電子線形状測定時に、前記第1の電子線検出器を前記電子線の移動方向に沿って移動させ、前記第1の電子線検出器で検出される電流密度が最大となる位置を探索することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の電子線装置。
- 電子線源から出力された電子線の焦点を試料位置に合わせる対物レンズと、試料を透過した電子線を結像面に結像させる結像レンズとを有する電子線装置の電子線形状測定方法において、
前記対物レンズの焦点位置に第1の電子線検出器を配置し、該第1の電子線検出器を移動させて電流密度が最大となる位置を探索する工程と、
前記第1の電子線検出器を電子線の通過域から退避させ、前記結像レンズの結像面に第2の電子線検出器を配置し、該第2の電子線検出器で検出される電子線の電流密度が最大となるように前記結像レンズのレンズ条件を調整する工程と、
前記第2の電子線検出器を電子線の通過域から退避させ、前記結像レンズの結像面における電子線形状を測定する工程と
を有することを特徴とする電子線形状測定方法。 - 請求項5の電子線形状測定方法により測定した電子線形状を用いて電子顕微鏡像をデコンボリューション処理し、前記電子線顕微鏡像から偽像を除去することを特徴とする画像処理方法。
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---|---|---|---|---|
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63298949A (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-06 | Jeol Ltd | 広狭領域が同時観察可能な分析電子顕微鏡 |
JPH06310076A (ja) * | 1993-04-28 | 1994-11-04 | Hitachi Ltd | 透過形走査電子線装置及び試料密度測定方法 |
JPH1196951A (ja) * | 1997-09-25 | 1999-04-09 | Hitachi Ltd | 倍率制御型荷電粒子ビーム照射装置 |
JP2003149347A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-05-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 荷電粒子ビームの形状測定装置 |
JP2003249186A (ja) * | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Fujitsu Ltd | 走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置 |
JP2007109509A (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-26 | Fujitsu Ltd | 電磁レンズの球面収差測定方法及び球面収差測定装置 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63298949A (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-06 | Jeol Ltd | 広狭領域が同時観察可能な分析電子顕微鏡 |
JPH06310076A (ja) * | 1993-04-28 | 1994-11-04 | Hitachi Ltd | 透過形走査電子線装置及び試料密度測定方法 |
JPH1196951A (ja) * | 1997-09-25 | 1999-04-09 | Hitachi Ltd | 倍率制御型荷電粒子ビーム照射装置 |
JP2003149347A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-05-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 荷電粒子ビームの形状測定装置 |
JP2003249186A (ja) * | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Fujitsu Ltd | 走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置 |
JP2007109509A (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-26 | Fujitsu Ltd | 電磁レンズの球面収差測定方法及び球面収差測定装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011196802A (ja) * | 2010-03-18 | 2011-10-06 | Sii Nanotechnology Inc | 試料加工観察方法 |
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