JP2009132830A - Adhesive composition and dicing die attach film - Google Patents

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JP2009132830A
JP2009132830A JP2007311202A JP2007311202A JP2009132830A JP 2009132830 A JP2009132830 A JP 2009132830A JP 2007311202 A JP2007311202 A JP 2007311202A JP 2007311202 A JP2007311202 A JP 2007311202A JP 2009132830 A JP2009132830 A JP 2009132830A
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Nobuhiro Ichiroku
信広 市六
Satoshi Kouchi
諭 小内
Shohei Kosakai
正平 小堺
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an adhesive composition causing no migration to a viscous layer and excellently following a minute pattern on a substrate to produce a cured product having no void. <P>SOLUTION: The adhesive composition is used for constructing an adhesive layer of the dicing die attach film comprising a base material, the viscous layer on the base material, and the adhesive layer on the viscous layer. The adhesive composition comprises (A) an epoxy resin showing a solid state at 25°C and having viscosity of 10-500 mPa s at 50°C, (B) at least one thermoplastic resin, which has functional groups reactive with the epoxy resin (A) and selected from polyimide silicone resins and phenoxy resins, (C) a catalytic amount of an epoxy resin curing catalyst, and (D) an organic filler in amount of 5-90 mass% of the adhesive composition. The content of the component (B) is decided so that a molar ratio of the amount of the epoxy groups of the component (A) to the amount of the functional groups of the component (B) becomes 3-50. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体チップを基板に接着するのに好適に使用される接着剤組成物に関し、詳細には、ダイシング・ダイアタッチフィルムにおける粘着層への移行が無く、室温での保存安定性に優れた接着剤組成物、及び該組成物からなる接着層を備えるダイシング・ダイアタッチフィルムに関する。   The present invention relates to an adhesive composition suitably used for adhering a semiconductor chip to a substrate, and in particular, there is no transition to an adhesive layer in a dicing die attach film, and excellent storage stability at room temperature. The present invention relates to an adhesive composition and a dicing die attach film provided with an adhesive layer made of the composition.

半導体装置は、大径のシリコン・ウエハーを粘着フィルム(ダイシングフィルム)上に固定し、ダイシング(切断分離)し、切断されたチップをダイシングフィルムより剥離して取出し(ピックアップ)、該取出されたチップを半導体装置基盤に硬化性の液状接着剤(ダイボンド剤)等で熱圧着及び接着固定して製造されている。最近は、ダイシングフィルムとダイボンド剤とを兼ねたダイシング・ダイアタッチ用接着フィルム(又はダイシング・ダイボンドフィルム)が使用されている。このフィルムは、ダイシング時にはチップが飛ばないように固定し、ダイシング後にはチップに接着剤が付着した状態で取出され(ピックアップ)、更にダイボンド工程では該接着剤を硬化させて半導体装置基盤に接着する。   A semiconductor device fixes a large-diameter silicon wafer on an adhesive film (dicing film), dices (cuts and separates), peels off the cut chip from the dicing film, and picks up the picked-up chip. Is manufactured by thermocompression bonding and fixing with a curable liquid adhesive (die bond agent) or the like on a semiconductor device substrate. Recently, a dicing die attach adhesive film (or a dicing die bond film) that serves both as a dicing film and a die bonding agent has been used. This film is fixed so that the chip does not fly during dicing, and after dicing, it is taken out with the adhesive attached to the chip (pickup), and in the die bonding process, the adhesive is cured and bonded to the semiconductor device substrate. .

ダイシング・ダイアタッチフィルムとして、プラスチックフイルム基材上に熱可塑性のポリイミド系樹脂を形成したフィルムが提案されている(特許文献1)。該フィルムは、ウエハーをポリイミド樹脂層上に熱圧着して固定後、ダイシングを行い、該ポリイミド樹脂層が付着した状態でダイシングされたチップ取り出し(ピックアップ)、半導体装置基盤へ熱圧着固定、加熱接着するものである。しかし、ポリイミド樹脂層とウエハーが熱圧着により強固に密着しているため、チップ取り出し(ピックアップ)性を容易にはコントロールできない。   As a dicing die attach film, a film in which a thermoplastic polyimide resin is formed on a plastic film base material has been proposed (Patent Document 1). The film is fixed by thermocompression bonding of the wafer onto the polyimide resin layer, followed by dicing, taking out the diced chip with the polyimide resin layer attached (pickup), thermocompression fixing to the semiconductor device substrate, and heat bonding To do. However, since the polyimide resin layer and the wafer are firmly adhered to each other by thermocompression bonding, the chip pick-up (pickup) property cannot be easily controlled.

ピックアップを容易にするために、光重合性粘着層を形成したフィルム基材上に、(A)ポリイミド系樹脂、(B)エポキシ樹脂、(C)フェノール樹脂、及び(D)硬化促進剤からなる樹脂層を形成したダイシング・ダイボンドフィルムが提案されている(特許文献2)。   In order to facilitate pick-up, a film base material on which a photopolymerizable adhesive layer is formed comprises (A) a polyimide resin, (B) an epoxy resin, (C) a phenol resin, and (D) a curing accelerator. A dicing die-bonding film in which a resin layer is formed has been proposed (Patent Document 2).

一方、半導体チップを搭載する基板上の回路が年々微細となり、該回路中の微細な凹部の充填性(以下、「ギャップフィル性能」という)が、接着剤に求められている。即ち、充填性が不十分であると、微細な隙間がダイアタッチ時に発生して、その隙間を起点に接着フィルムの剥離を起こす場合がある。
特開2003−347321号公報 特開2002−256236号公報
On the other hand, a circuit on a substrate on which a semiconductor chip is mounted becomes finer year by year, and a filling property of a minute recess in the circuit (hereinafter referred to as “gap fill performance”) is required for an adhesive. That is, if the filling property is insufficient, a fine gap may be generated at the time of die attachment, and the adhesive film may be peeled off starting from the gap.
JP 2003-347321 A JP 2002-256236 A

本発明者らは、上記ギャップフィル性に優れる接着剤として、フェノキシ樹脂とエポキシ樹脂を含む接着剤(特願2007−91934)、また、フェノキシ樹脂とエポキシ樹脂を特定のフェノール系硬化剤と組合わせた接着剤(特願2007−229217)を発明した。これらは、ギャップフィル性に優れ、耐熱応力性に優れた硬化物を与える。   The present inventors, as an adhesive having excellent gap fill properties, include an adhesive containing a phenoxy resin and an epoxy resin (Japanese Patent Application No. 2007-91934), and a combination of a phenoxy resin and an epoxy resin with a specific phenolic curing agent. Invented an adhesive (Japanese Patent Application No. 2007-229217). These give a cured product having excellent gap fill properties and excellent heat stress resistance.

しかし、これらの接着剤を、粘着層上に施与した際に、接着層から粘着層への低分子量物と思われる物質が移行する問題を起こす場合があることが見出された。本発明は、該問題を解決することを目的とする。   However, it has been found that when these adhesives are applied on the pressure-sensitive adhesive layer, there may be a problem that a substance considered to be a low molecular weight substance from the adhesive layer to the pressure-sensitive adhesive layer migrates. The present invention aims to solve this problem.

本発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を行った結果、所定のエポキシ樹脂を用い、所定の官能基量の硬化剤と組み合わせることによって、上記目的を達成できることを見出した。
すなわち、本発明は以下に示すものである。
基材、該基材上の粘着層、及び該粘着層上の接着層を含むダイシング・ダイアタッチフィルムの接着層を構成するための接着剤組成物であって、
(A)25℃において固体状態であり、50℃における粘度が10mPa・s〜500mPa・sであるエポキシ樹脂、
(B)前記エポキシ樹脂(A)と反応性の官能基を有する、ポリイミドシリコーン樹脂またはフェノキシ樹脂から選ばれる少なくとも一種の熱可塑性樹脂を、該官能基の量に対する成分(A)のエポキシ基の量のモル比が3〜50となる量で、
(C)エポキシ樹脂硬化触媒を触媒量で、及び
(D)無機充填剤を接着剤組成物の5〜90質量%で、
含む接着剤組成物。
As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventor has found that the above object can be achieved by using a predetermined epoxy resin and combining it with a curing agent having a predetermined functional group amount.
That is, the present invention is as follows.
An adhesive composition for constituting an adhesive layer of a dicing die attach film comprising a substrate, an adhesive layer on the substrate, and an adhesive layer on the adhesive layer,
(A) an epoxy resin that is in a solid state at 25 ° C. and has a viscosity at 50 ° C. of 10 mPa · s to 500 mPa · s,
(B) At least one thermoplastic resin selected from polyimide silicone resin or phenoxy resin having a functional group reactive with the epoxy resin (A), the amount of the epoxy group of the component (A) with respect to the amount of the functional group In an amount such that the molar ratio of
(C) a catalyst amount of an epoxy resin curing catalyst, and (D) an inorganic filler at 5 to 90% by mass of the adhesive composition,
An adhesive composition comprising.

本発明の接着剤組成物は、常温(25℃、以下同様)で保存安定性が高く、かつ流動性の無い半固体乃至固体状であり粘着層へ移行することが無い。該組成物は、加熱により、柔軟になって基材の凹凸に沿った形状となり、さらに加熱すると、低弾性で耐熱性に優れた硬化物を与える。   The adhesive composition of the present invention has a high storage stability at normal temperature (25 ° C., hereinafter the same) and is semi-solid or solid without fluidity and does not migrate to the adhesive layer. When heated, the composition becomes flexible and becomes a shape along the unevenness of the substrate, and when heated, gives a cured product having low elasticity and excellent heat resistance.

以下、組成物の成分ごとに説明する。
[(A)成分]
本発明で用いられるエポキシ樹脂(A)は、25℃において固体状態であり、50℃において粘度が10mPa・s〜500mPa・s、好ましくは20〜300mPa・sである。発明者らが種々検討したところ、粘着層に移行するのは、主としてエポキシ樹脂であり、該エポキシ樹脂の25℃での流動性を制限することによって、移行を効果的に防止できることが分かった。なお、本発明において、固体状態とは流動性が無ければよく、手等で軽く触ったときに柔軟性が有る半固体状態であってもよい。また、(A)成分全体として上記要件を満たせばよく、25℃において液状のエポキシ樹脂を含んでもよい。併用する固体樹脂の分子量等にも依存するが、該液状樹脂は、成分(A)の10重量%以下であることが好ましく、より好ましくは5重量%以下である。50℃における粘度は、コーンアンドプレート方式の回転粘度計により測定することができる。50℃における粘度が前記下限値未満では、ダイアタッチ時に接着剤が流れすぎて広範囲に樹脂のはみ出しが発生し易く、一方、前記上限値を超えると、ダイアタッチに高温が必要となり、基板の反りの原因となる。
Hereinafter, it demonstrates for every component of a composition.
[(A) component]
The epoxy resin (A) used in the present invention is in a solid state at 25 ° C., and has a viscosity of 10 mPa · s to 500 mPa · s, preferably 20 to 300 mPa · s at 50 ° C. As a result of various studies by the inventors, it was found that it is mainly an epoxy resin that migrates to the adhesive layer, and the migration can be effectively prevented by limiting the fluidity of the epoxy resin at 25 ° C. In the present invention, the solid state need only have no fluidity, and may be a semi-solid state having flexibility when touched lightly with a hand or the like. Moreover, what is necessary is just to satisfy | fill the said requirements as (A) component whole, and a liquid epoxy resin may be included in 25 degreeC. Although depending on the molecular weight of the solid resin used in combination, the liquid resin is preferably 10% by weight or less, more preferably 5% by weight or less of the component (A). The viscosity at 50 ° C. can be measured with a cone and plate rotational viscometer. If the viscosity at 50 ° C. is less than the lower limit, the adhesive flows too much at the time of die attachment, and the resin tends to protrude over a wide range. On the other hand, if the upper limit is exceeded, a high temperature is required for die attachment, and the substrate warps. Cause.

好ましくは、成分(A)は、重量平均分子量が600以下、より好ましくは500〜200の、25℃で固体状のエポキシ樹脂を含む。該重量平均分子量は、GPC測定により求められるポリスチレン樹脂換算の価である。該分子量が600より大きい場合は、一般的に25℃で固体状態ではあるが、熱圧着性が悪くなる傾向がある。一方、分子量が600以下であっても、25℃で固体状では無いものは、粘着層への移行を起こす傾向がある。   Preferably, component (A) comprises a solid epoxy resin at 25 ° C. having a weight average molecular weight of 600 or less, more preferably 500-200. The weight average molecular weight is a value in terms of polystyrene resin determined by GPC measurement. When the molecular weight is larger than 600, it is generally in a solid state at 25 ° C., but the thermocompression bonding property tends to deteriorate. On the other hand, even if the molecular weight is 600 or less, those that are not solid at 25 ° C. tend to migrate to the adhesive layer.

該エポキシ樹脂としては、例えば、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタン又はこのハロゲン化物のジグリシジルエーテル及びこれらの縮重合物(いわゆるビスフェノールF型エポキシ樹脂)、レゾルシンのジグリシジルエーテル、多価フェノール又は多価アルコールとエピクロルヒドリンとを縮合させて得られるエポキシグリシジルエーテル或いはポリグリシジルエステル、フェノールノボラック、クレゾールノボラック等のノボラック型フェノール樹脂(或いはハロゲン化ノボラック型フェノール樹脂)とエピクロルヒドリンを縮合させて得られるエポキシノボラック(即ち、ノボラック型エポキシ樹脂)、ビフェニル型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、シクロペンタジエン型エポキシ樹脂などが挙げられ、2種以上の混合物であってもよい。また前述のとおり、成分(A)全体として、25℃で固体状態であり、50℃における粘度が所定範囲内であることを満たせば、室温で液体のエポキシ樹脂を混合して使用することもできる。好ましくは、ビスフェノールF型エポキシ樹脂が使用される。 Examples of the epoxy resin include bis (4-hydroxyphenyl) methane or a diglycidyl ether of this halide and a polycondensation product thereof (so-called bisphenol F type epoxy resin), a diglycidyl ether of resorcin, a polyphenol or a polyphenol. Epoxy novolaks obtained by condensing epichlorohydrin with epoxy novolak type phenol resins (or halogenated novolac type phenol resins) such as epoxy glycidyl ether or polyglycidyl ester, phenol novolak, cresol novolak obtained by condensing monohydric alcohol and epichlorohydrin That is, novolac type epoxy resin), biphenyl type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, cyclopentadiene And epoxy resins. These may be a mixture of two or more thereof. Further, as described above, the component (A) as a whole can be used by mixing a liquid epoxy resin at room temperature as long as it satisfies the solid state at 25 ° C. and the viscosity at 50 ° C. is within a predetermined range. . Preferably, a bisphenol F type epoxy resin is used.

[(B)成分]
(B)成分は、前記エポキシ樹脂(A)と反応性の官能基を有するポリイミドシリコーン樹脂及びフェノキシ樹脂から選ばれる少なくとも一種の熱可塑性樹脂である。エポキシ樹脂(A)と反応性の官能基には、水酸基、酸無水物基、アミノ基等種々のものがあるが、なかでもフェノール性水酸基、アミノ基、及びエポキシ基が好ましい。
[Component (B)]
(B) A component is at least 1 type of thermoplastic resin chosen from the polyimide silicone resin and phenoxy resin which have a functional group reactive with the said epoxy resin (A). There are various functional groups reactive with the epoxy resin (A), such as a hydroxyl group, an acid anhydride group, and an amino group, and among them, a phenolic hydroxyl group, an amino group, and an epoxy group are preferable.

熱可塑性樹脂(B)は、ポリスチレン換算の重量平均分子量が10,000〜200,000、好ましくは20,000〜100,000、より好ましくは30,000〜80,000である。重量平均分子量が前記下限値未満のものは、塗膜を形成することが困難であり、一方、前記上限値より大きいものでは、微細な回路パターンを有する基板表面の凹凸を充填するのに十分な柔らかさを得ることが難しい。 The thermoplastic resin (B) has a polystyrene-equivalent weight average molecular weight of 10,000 to 200,000, preferably 20,000 to 100,000, more preferably 30,000 to 80,000. When the weight average molecular weight is less than the lower limit value, it is difficult to form a coating film. On the other hand, when the weight average molecular weight is larger than the upper limit value, it is sufficient to fill the unevenness of the substrate surface having a fine circuit pattern. It is difficult to get softness.

接着性の点から、下記の繰り返し単位を有する、フェノール性の水酸基を有するポリイミドシリコーン樹脂が好ましい。

Figure 2009132830

(式中、Xは芳香族環又は脂肪族環を含む四価の有機基、Yは二価の有機基、qは1〜300の整数である。)
上記ポリイミドシリコーン樹脂は、下記繰り返し単位を有するポリアミック酸樹脂を、常法により脱水、閉環することで得ることができる。
Figure 2009132830

(式中、X、Y、qは上で定義したとおりである。) From the viewpoint of adhesiveness, a polyimide silicone resin having a phenolic hydroxyl group having the following repeating unit is preferable.
Figure 2009132830

(In the formula, X is a tetravalent organic group containing an aromatic ring or an aliphatic ring, Y is a divalent organic group, and q is an integer of 1 to 300.)
The polyimide silicone resin can be obtained by dehydrating and ring-closing a polyamic acid resin having the following repeating units by a conventional method.
Figure 2009132830

(Wherein X, Y and q are as defined above.)

式(3)で表されるポリアミック酸樹脂は、下記構造式(5)

Figure 2009132830

(但し、Xは上記と同様の意味を示す。)
で表されるテトラカルボン酸二無水物と、下記構造式(6)
2N−Y−NH2 (6)
(但し、Yは上記と同様の意味を示す。)
で表されるジアミンを、常法に従って、ほぼ等モルで、有機溶剤中で反応させることによって得ることができる。 The polyamic acid resin represented by the formula (3) has the following structural formula (5)
Figure 2009132830

(However, X has the same meaning as described above.)
A tetracarboxylic dianhydride represented by the following structural formula (6)
H 2 N—Y—NH 2 (6)
(However, Y has the same meaning as described above.)
Can be obtained by reacting in a substantially equimolar amount in an organic solvent according to a conventional method.

ここで、上記式(5)で表されるテトラカルボン酸二無水物の例としては、下記のものが挙げられるが、これらに限定されるものではない。   Here, examples of the tetracarboxylic dianhydride represented by the formula (5) include, but are not limited to, the following.

Figure 2009132830
Figure 2009132830

なお、これら上記式(5)で示されるテトラカルボン酸二無水物は、所望により1種単独で用いても2種以上の組み合わせで用いてもよい。   These tetracarboxylic dianhydrides represented by the above formula (5) may be used singly or in combination of two or more as desired.

上記式(6)で表されるジアミンのうち、好ましくは1〜80モル%、更に好ましくは1〜60モル%が、下記構造式(1)で表されるジアミノシロキサン化合物であることが、有機溶剤への溶解性、基材に対する接着性、低弾性、柔軟性の点から望ましい。   Of the diamines represented by the above formula (6), it is preferable that 1 to 80 mol%, more preferably 1 to 60 mol% is a diaminosiloxane compound represented by the following structural formula (1). It is desirable from the viewpoint of solubility in a solvent, adhesion to a substrate, low elasticity, and flexibility.

Figure 2009132830

(式中、R1は同種または異種の炭素原子数3〜9の二価の有機基であり、R2およびR3は、夫々、同一または異種の非置換もしくは置換の炭素原子数1〜8の一価炭化水素基であり、mは1〜200の整数である。)
Figure 2009132830

Wherein R 1 is the same or different divalent organic group having 3 to 9 carbon atoms, and R 2 and R 3 are the same or different unsubstituted or substituted carbon atoms of 1 to 8, respectively. And m is an integer of 1 to 200.)

一般式(1)で表されるシロキサンジアミン(又はα,ω−ジアミノポリシロキサン)において、R1で表される炭素原子数3〜9の二価の有機基としては、例えば、−(CH23−,−(CH24−,−CH2CH(CH3)−,−(CH26−,−(CH28−等のアルキレン基;下記式 In the siloxane diamine (or α, ω-diaminopolysiloxane) represented by the general formula (1), examples of the divalent organic group having 3 to 9 carbon atoms represented by R 1 include — (CH 2 ) 3 -, - (CH 2 ) 4 -, - CH 2 CH (CH 3) -, - (CH 2) 6 -, - (CH 2) 8 - alkylene group and the like; formula

Figure 2009132830

のいずれかで表されるアリーレン基;これらを組み合わせたアルキレン・アリーレン基;−(CH23−O−,−(CH24−O−等のオキシアルキレン基;下記式
Figure 2009132830

Any represented by an arylene group; these combinations alkylene-arylene group ;-( CH 2) 3 -O -, - (CH 2) 4 oxyalkylene group -O- and the like; formula

Figure 2009132830

のいずれかで表されるオキシアリーレン基;下記式
Figure 2009132830

An oxyarylene group represented by any of the following:

Figure 2009132830

で表されるオキシアルキレン・アリーレン基等の、エーテル結合を含んでもよい二価炭化水素基が挙げられる。
Figure 2009132830

And a divalent hydrocarbon group which may contain an ether bond, such as an oxyalkylene / arylene group represented by the formula:

2またはR3としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、2−エチルヘキシル基、オクチル基等のアルキル基、アリル基、プロペニル基、イソプロペニル基、ブテニル基、イソブテニル基、ヘキセニル基等のアルケニル基、フェニル基、トリル基、キシリル基等のアリール基、ベンジル基、フェニルエチル基等のアラルキル基、これらの炭化水素基の炭素原子に結合した水素原子の一部又は全部がフッ素、臭素、塩素等のハロゲン原子等で置換された基、例えば、クロロメチル基、ブロモエチル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基等のハロゲン置換アルキル基等が挙げられ、中でもメチル基及びフェニル基が好ましい。 Examples of R 2 or R 3 include alkyl groups such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, an isobutyl group, a tert-butyl group, a hexyl group, a cyclohexyl group, a 2-ethylhexyl group, and an octyl group. Allyl group, propenyl group, isopropenyl group, butenyl group, isobutenyl group, alkenyl group such as hexenyl group, aryl group such as phenyl group, tolyl group, xylyl group, aralkyl group such as benzyl group, phenylethyl group, etc. Groups in which part or all of the hydrogen atoms bonded to the carbon atoms of the hydrocarbon group are substituted with halogen atoms such as fluorine, bromine, chlorine, etc., for example, chloromethyl group, bromoethyl group, 3,3,3-trifluoro Examples include halogen-substituted alkyl groups such as propyl group, and among them, methyl group and phenyl group are preferable.

これらの上記式(1)で表されるジアミノシロキサン化合物は、所望により1種単独でも2種以上の組み合わせでも使用することができる。   These diaminosiloxane compounds represented by the above formula (1) can be used alone or in combination of two or more as desired.

上記式(1)で表されるジアミノシロキサン化合物以外の上記式(6)で表されるジアミンとしては、例えば、p−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(p−アミノフェニルスルホニル)ベンゼン、1,4−ビス(m−アミノフェニルスルホニル)ベンゼン、1,4−ビス(p−アミノフェニルチオエーテル)ベンゼン、1,4−ビス(m−アミノフェニルチオエーテル)ベンゼン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−クロロ−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,1−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,1−ビス[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,1−ビス[3−クロロ−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,1−ビス[3,5−ジメチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[3−クロロ−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[3,5−ジメチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]パーフルオロプロパン等の芳香族環含有ジアミン等が挙げられ、好ましくはp−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン等である。   Examples of the diamine represented by the above formula (6) other than the diaminosiloxane compound represented by the above formula (1) include p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 4,4′-diaminodiphenylmethane, and 4,4. '-Diaminodiphenyl ether, 2,2'-bis (4-aminophenyl) propane, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 1,4-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (p-aminophenylsulfonyl) benzene, 1,4-bis (m-aminophenylsulfonyl) benzene, 1,4-bis (p-amino) Phenylthioether) benzene, 1,4-bis (m-aminophenylthioether) benzene, 2,2- [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [3-methyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [3-chloro-4- (4) -Aminophenoxy) phenyl] propane, 1,1-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, 1,1-bis [3-methyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, 1, 1-bis [3-chloro-4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, 1,1-bis [3,5-dimethyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, bis [4- (4 -Aminophenoxy) phenyl] methane, bis [3-methyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] methane, bis [3-chloro-4- (4-aminophenoxy) phenyl] methane, bi [3,5-dimethyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] methane, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] per Examples thereof include aromatic ring-containing diamines such as fluoropropane, and preferably p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 1,4-bis (3- Aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [3-methyl-4- (4) -Aminophenoxy) phenyl] propane and the like.

フェノール性の水酸基は、フェノール性の水酸基を有するジアミン化合物を用いることにより得ることができ、このようなジアミンとしては、例えば、下記構造のものが挙げられる。

Figure 2009132830

(式中、R4は独立に水素原子又はフッ素、臭素、よう素などのハロゲン原子、あるいはアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、トリフルオロメチル基、フェニル基などの非置換又は置換の炭素原子数1〜8の一価炭化水素基であり、各芳香環に付いている置換基は異なっていてもよく、nは0〜5の整数である。A、Bはおのおの1種単独でも、2種以上の組み合わせでもよい。Rは水素原子、ハロゲン原子又は非置換もしくは置換の一価炭化水素基である。) The phenolic hydroxyl group can be obtained by using a diamine compound having a phenolic hydroxyl group. Examples of such a diamine include those having the following structure.
Figure 2009132830

Wherein R 4 is independently a hydrogen atom or a halogen atom such as fluorine, bromine or iodine, or an unsubstituted or substituted carbon atom such as an alkyl group, alkenyl group, alkynyl group, trifluoromethyl group or phenyl group. 1 to 8 monovalent hydrocarbon groups, the substituents attached to each aromatic ring may be different, and n is an integer of 0 to 5. A and B are each a single type or two types. A combination of the above may be used, and R is a hydrogen atom, a halogen atom, or an unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group.)

ここで、R4の非置換又は置換の炭素原子数1〜8の一価炭化水素基としては、例えば、上記R2およびR3について例示したものと同様のもの、ならびにエチニル基、プロピニル基、ブテニル基、ヘキシニル基等のアルキニル基等を挙げることができる。また、Rが非置換もしくは置換の一価炭化水素基である場合、Rとしては、上記R4について例示したものと同様のものが挙げられる。 Here, as the unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms of R 4 , for example, the same as those exemplified for R 2 and R 3 above, and an ethynyl group, a propynyl group, Alkynyl groups such as a butenyl group and a hexynyl group can be exemplified. When R is an unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group, examples of R include the same as those exemplified for R 4 above.

また、他の、フェノール性水酸基を有するジアミンとして以下のものが挙げられる。

Figure 2009132830
(上式中、Rは水素原子、フッ素、臭素、よう素などのハロゲン原子、又は炭素数1〜8の、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、トリフルオロメチル基、フェニル基などの非置換又はハロゲン置換の1価炭化水素基であり、各芳香族環に付いている置換基は異なっていてもよく、Xは単結合、メチレン基、又はプロピレン基である。) Moreover, the following are mentioned as another diamine which has a phenolic hydroxyl group.
Figure 2009132830
(In the above formula, R is a hydrogen atom, a halogen atom such as fluorine, bromine or iodine, or an unsubstituted alkyl group, alkenyl group, alkynyl group, trifluoromethyl group, phenyl group or the like having 1 to 8 carbon atoms, or (This is a halogen-substituted monovalent hydrocarbon group, and the substituent attached to each aromatic ring may be different, and X is a single bond, a methylene group, or a propylene group.)

上記フェノール性水酸基を有するジアミン化合物の中でも、特に下記式(2)で表されるジアミン化合物が好ましい。   Among the diamine compounds having a phenolic hydroxyl group, a diamine compound represented by the following formula (2) is particularly preferable.

Figure 2009132830

(式中、R4は上で定義したとおりである。)
Figure 2009132830

(Wherein R 4 is as defined above.)

上記フェノール性の水酸基を有するジアミン化合物の配合量としては、ジアミン化合物全体の5〜60モル%、特に10〜40モル%であることが好ましい。該配合量がこの範囲内のポリイミドシリコーン樹脂を用いると、接着力が高く、且つ、柔軟な接着層を形成する組成物が得られる。   As a compounding quantity of the said diamine compound which has a phenolic hydroxyl group, it is preferable that it is 5-60 mol% with respect to the whole diamine compound, and especially 10-40 mol%. When a polyimide silicone resin having a blending amount in this range is used, a composition having a high adhesive force and forming a flexible adhesive layer can be obtained.

なお、フェノール性水酸基の導入のためにフェノール性水酸基を有するモノアミンを用いることもでき、その例としては下記の構造を有するモノアミンが挙げられる。   In addition, the monoamine which has a phenolic hydroxyl group can also be used for introduction | transduction of a phenolic hydroxyl group, The monoamine which has the following structure is mentioned as the example.

Figure 2009132830

(式中、R4は上記と同じであり、各芳香環に付いている置換基は異なっていても構わない。Dは1種単独で用いても2種以上を併用してもよい。また、pは1〜3の整数である。)
Figure 2009132830

(In the formula, R 4 is the same as above, and the substituents attached to each aromatic ring may be different. D may be used alone or in combination of two or more. , P is an integer from 1 to 3.)

フェノール性水酸基を有するモノアミンを用いる場合、この配合量としては、ジアミン化合物全体に対して1〜10モル%である。   When a monoamine having a phenolic hydroxyl group is used, the blending amount is 1 to 10 mol% with respect to the entire diamine compound.

ポリアミック酸樹脂は、上述の出発原料を、不活性な雰囲気下で溶媒に溶かし、通常、80℃以下、好ましくは0〜40℃で反応させて合成することができる。得られたポリアミック酸樹脂を、通常、100〜200℃、好ましくは150〜200℃に昇温させることにより、ポリアミック酸樹脂の酸アミド部分を脱水閉環させ、目的とするポリイミド樹脂を合成することができる。   The polyamic acid resin can be synthesized by dissolving the above starting materials in a solvent in an inert atmosphere and reacting them usually at 80 ° C. or lower, preferably 0 to 40 ° C. The obtained polyamic acid resin is usually heated to 100 to 200 ° C., preferably 150 to 200 ° C., thereby dehydrating and ring-closing the acid amide portion of the polyamic acid resin to synthesize the target polyimide resin. it can.

上記反応に使用する有機溶媒は、得られるポリアミック酸に不活性なものであれば、前記出発原料を完全に溶解できるものでなくともよい。例えば、テトラヒドロフラン、1,4−ジオキサン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、γ−ブチロラクトン、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド及びジメチルスルホキシドが挙げられ、好ましくは非プロトン性極性溶媒、特に好ましくはN−メチルピロリドン、シクロヘキサノン及びγ−ブチロラクトンである。これらの溶媒は、1種単独でも2種以上を組み合わせても用いることができる。   The organic solvent used for the reaction may not be one that can completely dissolve the starting material as long as it is inert to the resulting polyamic acid. Examples include tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, cyclopentanone, cyclohexanone, γ-butyrolactone, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide and dimethyl sulfoxide, preferably aprotic Polar solvents, particularly preferably N-methylpyrrolidone, cyclohexanone and γ-butyrolactone. These solvents can be used singly or in combination of two or more.

上記の脱水閉環を容易にするためには、トルエン、キシレンなどの共沸脱水剤を用いるのが望ましい。また、無水酢酸/ピリジン混合溶液を用いて低温で脱水閉環を行うこともできる。   In order to facilitate the dehydration ring closure, it is desirable to use an azeotropic dehydrating agent such as toluene or xylene. Further, dehydration ring closure can be performed at a low temperature using an acetic anhydride / pyridine mixed solution.

なお、ポリアミック酸及びポリイミド樹脂の分子量を調整するために、無水マレイン酸、無水フタル酸などのジカルボン酸無水物及び/又はアニリン、n−ブチルアミン、上記に挙げたフェノール性の水酸基を有するモノアミンを添加することもできる。但し、ジカルボン酸無水物の添加量は、テトラカルボン酸二無水物100質量部当たり、通常、0〜2質量部であり、モノアミンの添加量は、ジアミン100質量部当たり、通常、0〜2質量部である。   In order to adjust the molecular weight of polyamic acid and polyimide resin, maleic anhydride, dicarboxylic acid anhydride such as phthalic anhydride and / or aniline, n-butylamine, monoamine having phenolic hydroxyl group mentioned above are added. You can also However, the addition amount of dicarboxylic anhydride is usually 0 to 2 parts by mass per 100 parts by mass of tetracarboxylic dianhydride, and the addition amount of monoamine is usually 0 to 2 parts by mass per 100 parts by mass of diamine. Part.

フェノキシ樹脂は、エピクロルヒドリンとビスフェノールAもしくはF等から誘導される樹脂であり、例えば、商品名PKHC、PKHH、PKHJ(いずれも巴化学社製)、ビスフェノールA、ビスフェノールF混合タイプの商品名エピコート4250、エピコート4275、エピコート1255HX30、臭素化エポキシを用いたエピコート5580BPX40(いずれも日本化薬社製)、ビスフェノールAタイプの商品名YP-50、YP-50S、YP-55、YP-70(いずれも東都化成社製)、JER E1256、E4250、E4275、YX6954BH30、YL7290BH30(いずれもジャパンエポキシレジン社製)などがあげられる。上述した重量平均分子量を有する点で、JER E1256が好ましく使用される。   The phenoxy resin is a resin derived from epichlorohydrin and bisphenol A or F, for example, trade names PKHC, PKHH, PKHJ (all manufactured by Sakai Chemical Co., Ltd.), bisphenol A, bisphenol F mixed type trade names Epicoat 4250, Epicoat 4275, Epicoat 1255HX30, Epicoat 5580BPX40 using brominated epoxy (all manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), Bisphenol A type trade names YP-50, YP-50S, YP-55, YP-70 (all Toto Kasei) JER E1256, E4250, E4275, YX6954BH30, YL7290BH30 (all manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) and the like. JER E1256 is preferably used in that it has the above-described weight average molecular weight.

フェノキシ樹脂は末端にエポキシ基を有し、これが(A)成分と反応するので、別途反応性の基を付与する必要は無い。 Since the phenoxy resin has an epoxy group at the terminal and reacts with the component (A), it is not necessary to separately add a reactive group.

好ましくは、(B)成分の官能基当量が200g/eq〜20,000g/eq、より好ましくは300〜10,000g/eqである。官能基当量が前記下限値未満の樹脂は、反応性が高く、微細な回路パターンを有する基板表面の凹凸を十分に充填できない場合があり得る。一方、官能基当量が前記上限値超の樹脂は、エポキシ樹脂との架橋点が乏しいために、耐熱性、接着強度が不足する場合がある。   Preferably, the functional group equivalent of the component (B) is 200 g / eq to 20,000 g / eq, more preferably 300 to 10,000 g / eq. Resins having a functional group equivalent less than the lower limit are highly reactive and may not sufficiently fill the unevenness of the substrate surface having a fine circuit pattern. On the other hand, a resin having a functional group equivalent exceeding the above upper limit may have insufficient heat resistance and adhesive strength due to a lack of crosslinking points with the epoxy resin.

上記(A)エポキシ樹脂と(B)熱可塑性樹脂は、成分(B)の官能基の総量に対する成分(A)のエポキシ基の総量のモル比が、3〜50、好ましくは3〜40、となる量で配合される。該モル比が、前記下限値未満の組成物は、ギャップフィル性能を示すものの、ダイボンディング温度を高くすることが必要となり、また、得られる硬化物の耐湿信頼性が低くなる傾向がある。一方、前記上限値を超えては熱履歴時のギャップフィル性が低下する。   In the above (A) epoxy resin and (B) thermoplastic resin, the molar ratio of the total amount of the epoxy group of the component (A) to the total amount of the functional group of the component (B) is 3 to 50, preferably 3 to 40, Is blended in an amount of A composition having a molar ratio of less than the lower limit exhibits gap fill performance, but requires a high die bonding temperature, and tends to reduce the moisture resistance reliability of the resulting cured product. On the other hand, when the upper limit is exceeded, the gap fill property at the time of thermal history is lowered.

[(C)成分]
(C)エポキシ樹脂硬化触媒は特に制限はなく公知のものを使用してよい。例として、リン系触媒、アミン系触媒等が挙げられる。
[Component (C)]
(C) There is no restriction | limiting in particular in an epoxy resin curing catalyst, You may use a well-known thing. Examples include phosphorus catalysts and amine catalysts.

ここで、リン系触媒としては、例えば、トリフェニルホスフィン、トリフェニルホスホニウムトリフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、及び下記に示すテトラフェニルホスフィン−テトラフェニルボーレートが挙げられる。   Here, examples of the phosphorus catalyst include triphenylphosphine, triphenylphosphonium triphenylborate, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, and tetraphenylphosphine-tetraphenylborate shown below.

Figure 2009132830

(式中、R5〜R12は、それぞれ独立に、水素原子又はフッ素、臭素、よう素などのハロゲン原子、あるいはアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、又は炭素原子数1〜8のアルコキシ基、トリフルオロメチル基、フェニル基などの非置換もしくは置換の炭素原子数1〜8の一価炭化水素基であり、総てまたは一部の置換基が同一でも、おのおの異なっていても構わない。)
Figure 2009132830

(Wherein R 5 to R 12 are each independently a hydrogen atom or a halogen atom such as fluorine, bromine or iodine, or an alkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, or an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, (It is an unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms such as a trifluoromethyl group and a phenyl group, and all or some of the substituents may be the same or different.)

ここで、R5〜R12の一価炭化水素基としては、例えば、上記R4で例示したものと同様のもの、またメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、イソプロポキシ基、ブトキシ基等のアルコキシ基などを挙げることができる。 Here, examples of the monovalent hydrocarbon group of R 5 to R 12 include those similar to those exemplified for R 4 above, and alkoxy such as methoxy group, ethoxy group, propoxy group, isopropoxy group, and butoxy group. Examples include groups.

またアミン系触媒としては、例えば、ジシアンジアミド、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール等のイミダゾール誘導体などが挙げられる。好ましくは、ジシアンジアミドが使用される。   Examples of the amine catalyst include imidazole derivatives such as dicyandiamide, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, and the like. Is mentioned. Preferably, dicyandiamide is used.

本発明におけるエポキシ樹脂硬化触媒は、これらの中から1種単独で又は2種以上を混合して用いることができる。なお、エポキシ樹脂硬化触媒(C)の配合量は、触媒としての有効量とすることができる。   The epoxy resin curing catalyst in the present invention can be used singly or in combination of two or more. The blending amount of the epoxy resin curing catalyst (C) can be an effective amount as a catalyst.

[(D)成分]
本発明で用いられる無機充填剤(D)としては、シリカ微粉末、アルミナ、酸化チタン、カーボンブラック、銀粒子等の導電性粒子が挙げられる。該充填剤の配合量としては、接着剤組成物の5〜90質量%、好ましくは10〜70質量%、より好ましくは40〜70質量%である。該配合量が前記下限値未満では、無機充填剤の配合目的である導電性、熱伝導性、低吸水性、低線膨張性等を達成することが困難である。一方、前記上限値を超えると、組成物の粘度を高め、フィルム基材に塗付する際の流動性が悪くなる。
[(D) component]
Examples of the inorganic filler (D) used in the present invention include conductive particles such as silica fine powder, alumina, titanium oxide, carbon black, and silver particles. As a compounding quantity of this filler, 5-90 mass% of an adhesive composition, Preferably it is 10-70 mass%, More preferably, it is 40-70 mass%. When the blending amount is less than the lower limit, it is difficult to achieve electrical conductivity, thermal conductivity, low water absorption, low linear expansion, and the like, which are blending purposes of the inorganic filler. On the other hand, when the upper limit value is exceeded, the viscosity of the composition is increased, and the fluidity when applied to the film substrate is deteriorated.

無機充填剤の平均粒径は、0.1〜10μmが好ましく、より好ましくは0.5〜7μmである。無機充填剤の平均粒径がこの範囲内にあると、塗布された接着層の表面の良好な平滑性が得られる。また、近年、接着剤層の厚みとしては、15〜50μmが要求されることが多いが、無機充填剤の平均粒径が前記範囲内にあると、2次凝集した粒子が存在しても、該要求を満たしやすい。 The average particle size of the inorganic filler is preferably from 0.1 to 10 μm, more preferably from 0.5 to 7 μm. When the average particle diameter of the inorganic filler is within this range, good smoothness of the surface of the applied adhesive layer can be obtained. Further, in recent years, the thickness of the adhesive layer is often required to be 15 to 50 μm, but if the average particle size of the inorganic filler is within the above range, even if there are secondary aggregated particles, It is easy to satisfy this requirement.

本発明の組成物には、上記(A)〜(D)成分に加えて、本発明の目的を阻害しない量の各種添加剤を配合してよい。添加剤としては、例えば、濡れ向上剤、酸化防止剤、熱安定剤等が挙げられる。添加剤としてはその使用量が少ないために、接着剤層とダイシングフィルムの粘着剤、ベースフィルム層に濃度勾配が生じ難いが、室温で固体状態のものが好ましい。 In addition to the components (A) to (D), various additives may be blended in the composition of the present invention in amounts that do not impair the object of the present invention. Examples of the additive include a wetting improver, an antioxidant, and a heat stabilizer. Since the amount of the additive used is small, a concentration gradient hardly occurs in the adhesive layer, the pressure-sensitive adhesive of the dicing film, and the base film layer, but those in a solid state at room temperature are preferable.

[組成物の製造方法]
本発明の接着剤組成物は、上記(A)〜(D)、及びその他の成分を常法に準じて、ミキサー等で混合することにより調製することができる。
[Method for producing composition]
The adhesive composition of the present invention can be prepared by mixing the above (A) to (D) and other components with a mixer or the like according to a conventional method.

得られた組成物は、好ましくは、40〜80℃での溶融粘度(即ち、40〜80℃の全温度範囲にわたる溶融粘度)が10,000mPa・s(=10Pa・s)以下であり、好ましくは8,000mPa・s(=8Pa・s)以下である。通常、半導体ウェハーの接着フィルムへの圧着は40〜80℃で、圧力0.01〜10MPa、特に0.1〜2MPaで、行なわれるが、前記溶融粘度が10,000mPa・sより大きい場合は、接着層を半導体ウェハー裏面に貼り付けるのが困難であり、ダイシング工程においてウェハー細片が飛んだり、ウェハーのピックアップ工程において、接着剤層がウェハーに付着せずダイシングマウントに残ってしまう場合がある。ここで溶融粘度を低下させるために、貼り付け温度を80℃より上にして貼り付けを行うことも可能であるが、高温でウェハーと接着剤とを貼り付けた場合に、接着剤とウェハーの線膨張係数の違いから、室温まで放冷した場合に、張り合わせた接着剤とウェハーに反りが発生したり、最悪の場合に工程中にウェハーの破壊を引き起こす場合がある。   The obtained composition preferably has a melt viscosity at 40 to 80 ° C. (that is, a melt viscosity over the entire temperature range of 40 to 80 ° C.) of 10,000 mPa · s (= 10 Pa · s) or less. Is 8,000 mPa · s (= 8 Pa · s) or less. Usually, the pressure bonding of the semiconductor wafer to the adhesive film is performed at 40 to 80 ° C. and the pressure of 0.01 to 10 MPa, particularly 0.1 to 2 MPa. When the melt viscosity is greater than 10,000 mPa · s, It is difficult to attach the adhesive layer to the back surface of the semiconductor wafer, and in some cases, wafer strips may fly in the dicing process, or the adhesive layer may not adhere to the wafer and remain on the dicing mount in the wafer pick-up process. Here, in order to lower the melt viscosity, it is possible to perform the pasting at a pasting temperature of 80 ° C. or higher, but when the wafer and the adhesive are pasted at a high temperature, the adhesive and the wafer Due to the difference in coefficient of linear expansion, when it is allowed to cool to room temperature, the bonded adhesive and the wafer may be warped, or in the worst case, the wafer may be destroyed during the process.

[ダイシング・ダイアタッチフィルム]
上記で得られた接着剤組成物は、トルエン、シクロヘキサノン、NMPなどの非プロトン性極性溶媒に適当な濃度で溶解して、支持基材上に塗付等により施与した後、乾燥させて接着層にする。このフィルム形成支持基材としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリテトラフルオロエチレン、紙、金属箔等、あるいはこれらの表面を離型処理したものを用いることができる。別途、支持基材上に粘着層を形成する。該粘着層としては、公知のものであってよく、例えば、(メタ)アクリル系樹脂混合物及び光重合開始剤を含む組成物を塗布して乾燥して得ることができる。得られた粘着層上に、上記接着層をラミネートすることによって、ダイシング・ダイアッタチフィルムもしくはテープを得ることができる。接着層上の支持基材を剥離してウエハーを貼りつける。ダイシング後、粘着層を光硬化させた後、チップをピックアップすると、接着層がチップ個片に接着された状態で、粘着層から剥離される。次いで、該個片を、接着層を介して基板にダイアッタチした後、接着層を硬化させる。
[Dicing die attach film]
The adhesive composition obtained above is dissolved in an aprotic polar solvent such as toluene, cyclohexanone, or NMP at an appropriate concentration, applied onto a supporting substrate by coating, etc., and then dried to bond. Layer. As this film-forming support substrate, polyethylene, polypropylene, polyester, polyamide, polyimide, polyamideimide, polyetherimide, polytetrafluoroethylene, paper, metal foil, etc., or those whose surfaces have been subjected to mold release treatment should be used. Can do. Separately, an adhesive layer is formed on the support substrate. The pressure-sensitive adhesive layer may be a known one, and can be obtained, for example, by applying and drying a composition containing a (meth) acrylic resin mixture and a photopolymerization initiator. A dicing / diattach film or tape can be obtained by laminating the adhesive layer on the obtained adhesive layer. The supporting substrate on the adhesive layer is peeled off and the wafer is attached. After dicing, the pressure-sensitive adhesive layer is photocured and then the chip is picked up, and the adhesive layer is peeled off from the pressure-sensitive adhesive layer in a state where the adhesive layer is bonded to the chip piece. Next, the individual pieces are dyached to the substrate via the adhesive layer, and then the adhesive layer is cured.

前記接着剤層を形成させるときの乾燥は、常温〜200℃、特に80〜150℃で1分〜1時間、特に3〜10分間行うことが好ましい。接着剤層の膜厚は特に制限はなく、目的に応じ選択することができ、10〜100μmであることが好ましく、特に15〜50μmであることが好ましい。また、該接着剤層を硬化させる場合には、温度100〜200℃、特に120〜180℃で、30分〜5時間、特に1〜2時間硬化させることが好ましい。   Drying when forming the adhesive layer is preferably performed at room temperature to 200 ° C., particularly 80 to 150 ° C. for 1 minute to 1 hour, particularly 3 to 10 minutes. There is no restriction | limiting in particular in the film thickness of an adhesive bond layer, It can select according to the objective, It is preferable that it is 10-100 micrometers, and it is especially preferable that it is 15-50 micrometers. Moreover, when hardening this adhesive bond layer, it is preferable to make it harden | cure at the temperature of 100-200 degreeC, especially 120-180 degreeC for 30 minutes-5 hours, especially 1-2 hours.

なお、本発明の接着剤組成物は、通常の接着剤として、接着の伴う種々の工程で用いることもできる。   In addition, the adhesive composition of this invention can also be used in the various processes with adhesion | attachment as a normal adhesive agent.

以下、実施例及び比較例により本発明を説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example and a comparative example demonstrate this invention, this invention is not restrict | limited to the following Example.

実施例及び比較例で使用した樹脂等は以下のとおりである。
(A)成分
エポキシ樹脂1:RE602S(ビスフェノールF型エポキシ樹脂、日本化薬社製)、25℃での状態:固形状態;50℃の粘度:150mPa.s;Mw:340
エポキシ樹脂2:RE310S(日本化薬社製)、25℃の状態:液体状態;15Pa.s;Mw370
(B)成分
フェノキシ樹脂:Mw約60,000、JER E1256(ジャパンエポキシレジン社製)
ポリイミドシリコーン樹脂1:合成法を後述する。
ポリイミドシリコーン樹脂2:合成法を後述する。
(C)成分
ジシアンジアミド(DICY-7):ジャパンエポキシレジン社製
(D)成分
シリカ:SE2050、アドマテックス社製
比較例で使用した樹脂
エポキシ樹脂3:エピコート4004P(JER社製)、25℃の状態:固形状態;軟化点85℃、Mw1800
Resins and the like used in Examples and Comparative Examples are as follows.
(A) Component epoxy resin 1: RE602S (bisphenol F type epoxy resin, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), state at 25 ° C .: solid state; viscosity at 50 ° C .: 150 mPa.s s; Mw: 340
Epoxy resin 2: RE310S (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), state at 25 ° C .: liquid state; 15 Pa. s; Mw370
(B) component Phenoxy resin: Mw about 60,000, JER E1256 (made by Japan epoxy resin company)
Polyimide silicone resin 1: The synthesis method will be described later.
Polyimide silicone resin 2: The synthesis method will be described later.
(C) Component dicyandiamide (DICY-7): manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. (D) Component silica: SE2050, manufactured by Admatechs
Resin epoxy resin 3 used in Comparative Example 3: Epicoat 4004P (manufactured by JER), 25 ° C. state: solid state; softening point 85 ° C., Mw 1800

ポリイミドシリコーン樹脂1の合成
還流冷却器を連結したコック付きの25ml水分定量受器、温度計、攪拌器を備えた1リットルのセパラブルフラスコに、下記構造式で表わされるジアミノシロキサン(KF−8010、信越化学社製)44.03質量部、反応溶媒として2−メチルピロリドン100質量部を仕込み、80℃で攪拌し、ジアミンを分散させた。これに酸無水物として6FDA(2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン)38.72質量部と2−メチルピロリドン100質量部との溶液を滴下して室温で2時間攪拌反応を行うことにより、酸無水物リッチのアミック酸オリゴマーを合成した。

Figure 2009132830

次に、下記式:
Figure 2009132830

で示されるフェノール性水酸基を有する芳香族ジアミン(ジアミン−1)17.25質量部と100質量部の2−メチルピロリドンを、還流冷却器が連結されたコック付きの25ml水分定量受器、温度計、攪拌器を備えた1リットルのセパラブルフラスコに仕込み、分散させ、前出の酸無水物リッチのアミック酸オリゴマーを滴下した後、室温で16時間攪拌し、ポリアミック酸溶液を合成した。その後、キシレン25mlを投入してから温度を上げ、約180℃で2時間還流させた。水分定量受器に所定量の水がたまっていること、水の流出が見られなくなっていることを確認し、水分定量受器にたまっている流出液を除去しながら、180℃でキシレンを除去した。反応終了後、大過剰のメタノール中に得られた反応液を滴下し、ポリマーを析出させ、減圧乾燥して、骨格中にフェノール性の水酸基を有するポリイミド樹脂を得た。
得られたポリイミド樹脂の赤外吸光スペクトルを測定したところ、未反応の官能基があることを示すポリアミック酸に基づく吸収は現れず、1780cm-1及び1720cm-1にイミド基に基づく吸収を確認し、3500cm-1にフェノール性水酸基に基づく吸収を確認した。得られた樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は50,000であり、官能基当量は1440g/eqであった。 Synthetic reflux condenser of polyimide silicone resin 1 Connected to a 25 ml water quantitative receiver with a cock, thermometer, and 1-liter separable flask equipped with a stirrer, diaminosiloxane represented by the following structural formula (KF-8010, (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 44.03 parts by mass and 100 parts by mass of 2-methylpyrrolidone as a reaction solvent were added and stirred at 80 ° C. to disperse the diamine. A solution of 38.72 parts by mass of 6FDA (2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane) and 100 parts by mass of 2-methylpyrrolidone as an acid anhydride was added dropwise thereto at room temperature for 2 hours. By carrying out a stirring reaction, an acid anhydride-rich amic acid oligomer was synthesized.

Figure 2009132830

Next, the following formula:
Figure 2009132830

25 ml moisture determination receiver with a cock connected to a reflux condenser, 17.25 parts by mass and 100 parts by mass of 2-methylpyrrolidone having a phenolic hydroxyl group represented by formula (diamine-1) and a thermometer The mixture was charged and dispersed in a 1 liter separable flask equipped with a stirrer, and the above-mentioned acid anhydride-rich amic acid oligomer was added dropwise, followed by stirring at room temperature for 16 hours to synthesize a polyamic acid solution. Thereafter, 25 ml of xylene was added, the temperature was raised, and the mixture was refluxed at about 180 ° C. for 2 hours. Confirm that the specified amount of water has accumulated in the moisture meter and that no water has flowed out, and remove xylene at 180 ° C while removing the effluent collected in the meter. did. After completion of the reaction, the reaction solution obtained in a large excess of methanol was added dropwise to precipitate a polymer and dried under reduced pressure to obtain a polyimide resin having a phenolic hydroxyl group in the skeleton.
When the infrared absorption spectrum of the obtained polyimide resin was measured, absorption based on polyamic acid indicating that there was an unreacted functional group did not appear, and absorption based on an imide group was confirmed at 1780 cm −1 and 1720 cm −1. Absorption based on a phenolic hydroxyl group was confirmed at 3500 cm −1 . The weight average molecular weight of polystyrene conversion of the obtained resin was 50,000, and the functional group equivalent was 1440 g / eq.

ポリイミドシリコーン樹脂2の合成
ジアミノシロキサン(KF−8010)を49.01質量部、6FDAを42.68質量部使用し、及び上記ジアミン−1に代えて、下記式:

Figure 2009132830
で示されるフェノール性水酸基を有するジアミン(HAB、和歌山精化製)8.31質量部を使用したことを除き、ポリイミドシリコーン樹脂1と同様にして、ポリイミドシリコーン樹脂2を得た。ポリイミドシリコーン樹脂2のポリスチレン換算の重量平均分子量は55,000であり、官能基当量は760g/eqであった。 Synthetic diaminosiloxane (KF-8010) of polyimide silicone resin 2 49.01 parts by mass, 6FDA 42.68 parts by mass, and instead of diamine-1, the following formula:
Figure 2009132830
A polyimide silicone resin 2 was obtained in the same manner as the polyimide silicone resin 1 except that 8.31 parts by mass of a diamine having a phenolic hydroxyl group represented by (HAB, manufactured by Wakayama Seika) was used. The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the polyimide silicone resin 2 was 55,000, and the functional group equivalent was 760 g / eq.

[実施例1〜5、参考例1〜3]
約50質量部のシクロヘキサンノンに、表1に示す量(質量部)のポリイミドシリコーン樹脂1、2またはフェノキシ樹脂を溶解した。次いで、該溶液と、表1に示す量の他の成分を混合して、固形分約70重量%の組成物を得た。表1において、官能基比は、(A)エポキシ樹脂のエポキシ基総量/(B)成分の官能基総量である。
[Examples 1 to 5, Reference Examples 1 to 3]
In about 50 parts by mass of cyclohexanenon, polyimide silicone resins 1 and 2 or phenoxy resin in an amount (parts by mass) shown in Table 1 were dissolved. Next, the solution and other components in the amounts shown in Table 1 were mixed to obtain a composition having a solid content of about 70% by weight. In Table 1, the functional group ratio is (A) total epoxy group amount of epoxy resin / (B) total functional group component.

接着フィルムの作成
実施例1〜5、参考例1〜3で得られた組成物を、含フッ素シリコーン離型剤で被覆した厚さ38μmのPETフィルム(以下、基材フィルムとする。)の離型面上に、乾燥後の厚みが約25μmになるように、塗布した。塗布された組成物の上に、もう一枚の基材フィルムを、該フィルムの離型面が組成物に接するようにして置き、110℃で10分間加熱乾燥した。
Preparation of Adhesive Film Release of a 38 μm thick PET film (hereinafter referred to as a base film) obtained by coating the compositions obtained in Examples 1 to 5 and Reference Examples 1 to 3 with a fluorine-containing silicone release agent. It apply | coated so that the thickness after drying might be set to about 25 micrometers on a mold surface. On the applied composition, another base film was placed so that the release surface of the film was in contact with the composition, and dried by heating at 110 ° C. for 10 minutes.

別途、接着層を貼り合わせるための粘着層を以下の方法で作成した。アクリル酸2−エチルヘキシル50重量部と、アクリル酸ブチル10重量部、酢酸ビニル37重量部、メタアクリル酸2−ヒドロキシエチル3重量部とを共重合して得られた重量平均分子量500,000の共重合体(アクリル系ポリマー)100重量部に対し、分子量が25,000の多官能ウレタンアクリレート系オリゴマー69重量部、光重合開始剤として2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノンを多官能ウレタンアクリレート系オリゴマー100重量部に対して8重量部、軟化点100℃、脂肪族:芳香族のモル比が6:4から成る脂肪族芳香族共重合系石油樹脂をアクリル系ポリマー100重量部に対して14重量部、ポリイソシアネート系架橋剤をアクリル系ポリマー100重量部に対して7重量部を配合した粘着剤溶液を、厚さ100μmのポリエチレンフィルム(ニッパ社製 、PE100)に乾燥後の厚さが10μmになるように塗工し、80℃で5分間乾燥した。 Separately, an adhesive layer for bonding the adhesive layer was prepared by the following method. A copolymer having a weight average molecular weight of 500,000 obtained by copolymerizing 50 parts by weight of 2-ethylhexyl acrylate, 10 parts by weight of butyl acrylate, 37 parts by weight of vinyl acetate, and 3 parts by weight of 2-hydroxyethyl methacrylate. 69 parts by weight of a polyfunctional urethane acrylate oligomer having a molecular weight of 25,000 with respect to 100 parts by weight of a polymer (acrylic polymer), and 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone as a photopolymerization initiator An aliphatic aromatic copolymer petroleum resin comprising 8 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the oligomer, a softening point of 100 ° C., and an aliphatic: aromatic molar ratio of 6: 4 is 14 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the acrylic polymer. A pressure-sensitive adhesive comprising 7 parts by weight of polyisocyanate-based crosslinking agent and 100 parts by weight of an acrylic polymer. Liquid a polyethylene film having a thickness of 100 [mu] m (Nippa Co., PE 100) was applied so that the thickness after drying becomes 10 [mu] m, and dried for 5 minutes at 80 ° C..

その後、この粘着剤付きフィルムに、上記実施例1〜5と参考例1〜3の接着フィルムを接着層側でラミネートし、ダイシングフィルム・ダイアタッチフィルムを作製した。得られたフィルムを室温で30日間熟成後、以下に示す各試験に供した。その結果を表1に示す。 Thereafter, the adhesive films of Examples 1 to 5 and Reference Examples 1 to 3 were laminated on the adhesive layer on the adhesive layer side to prepare a dicing film / die attach film. The obtained film was aged at room temperature for 30 days and then subjected to each test shown below. The results are shown in Table 1.

GPCによる接着層中エポキシ量の測定
30日間の保存の間の粘着層への樹脂分の移行量をGPCで測定した。調製直後(初期)及び30日間放置後の各ダイシング・ダイアタッチフィルムに、そのポリエチレンフィルムを通して、高圧水銀ランプを用いて300mJの紫外線を照射し、粘着層を硬化させた。室温まで冷却した後、接着層を粘着層から剥離して、THFに1wt%になるように溶解し、GPC測定に付した。測定は、屈折率検出器を備えるTOSOH HLC-8220 GPC装置で、THFを用い、TSK Gel G2000H、GMH−L(東ソー(株)製)カラムを用いて行なった。図1に、GPCクロマトグラムの例を示す。該クロマトグラムにおいて、33分〜35分のピークがエポキシ樹脂のものである。初期のクロマトグラム上のエポキシ樹脂のピークに比べて、30日放置後のものではピークが小さくなっていることが分かる。該ピークのうち33.5分から34分までの流出分の調製直後の面積強度(初期)からの、30日放置後の面積強度の減少(%)を求めた。表1において、Aは15%未満の減少量、Bは15%以上の減少量であったことを示す。
Measurement of epoxy content in adhesive layer by GPC The amount of resin content transferred to the adhesive layer during storage for 30 days was measured by GPC. Immediately after preparation (initial stage) and after standing for 30 days, each dicing die attach film was irradiated with 300 mJ of ultraviolet light using a high-pressure mercury lamp through the polyethylene film to cure the adhesive layer. After cooling to room temperature, the adhesive layer was peeled from the adhesive layer, dissolved in THF to 1 wt%, and subjected to GPC measurement. The measurement was performed using a TSK Gel G2000H, GMH-L (manufactured by Tosoh Corporation) column using THF with a TOSOH HLC-8220 GPC apparatus equipped with a refractive index detector. FIG. 1 shows an example of a GPC chromatogram. In the chromatogram, the peak of 33 to 35 minutes is that of the epoxy resin. Compared to the peak of the epoxy resin on the initial chromatogram, it can be seen that the peak is smaller after 30 days of standing. Among the peaks, the decrease (%) in area intensity after standing for 30 days from the area intensity (initial) immediately after preparation of the effluent from 33.5 minutes to 34 minutes was determined. In Table 1, A shows that the amount of reduction was less than 15%, and B was the amount of reduction of 15% or more.

25μmギャップフィル性能
5mm×5mm×500μmの透明ガラスチップの一方の面に、前述の30日間室温熟成後に剥離した接着剤層を貼り付けた。得られた接着層付き透明ガラスチップを、平均高さ5μmの凹凸を有するPCB上に、該接着剤層を介して、130℃、0.1MPa、1秒の条件で圧着した。次いで、ワイヤボンドの熱履歴に相当する150℃、30分の熱履歴を加えた後に、EMC封止に相当する175℃、7MPa、90秒の条件で、ガラスチップの上方からプレスした。得られた擬似デバイスを顕微鏡にて観察して、ギャップが埋められてボイドが無いものをA、一箇所でもボイドがあるものをBとした。結果を表1に示す。
The adhesive layer peeled off after aging at room temperature for 30 days was pasted on one surface of a transparent glass chip having a 25 μm gap fill performance of 5 mm × 5 mm × 500 μm. The obtained transparent glass chip with an adhesive layer was pressure-bonded onto a PCB having irregularities with an average height of 5 μm through the adhesive layer under the conditions of 130 ° C., 0.1 MPa, and 1 second. Next, after adding a heat history of 150 ° C. and 30 minutes corresponding to the heat history of wire bonding, pressing was performed from above the glass chip under the conditions of 175 ° C. and 7 MPa for 90 seconds corresponding to EMC sealing. The obtained pseudo device was observed with a microscope, and a gap was filled in and there was no void, and A was a void even in one place. The results are shown in Table 1.

せん断接着力
10mm×10mmのシリコンウェハーと3mm×3mmのシリコンウェハーのポリッシュ面間に、3mm×3mm×25μmの前述の30日間室温熟成後に剥離した接着層を貼り付け、該接着層を挟んで固定された試験片を作成した。これを130℃、0.1MPaの条件で1秒熱圧着した。得られた積層体を175℃で4時間加熱処理して接着層を硬化させ、接着用試験片を作製した。その後、Dage社製のDage4000を用いて、速度200μm/秒、高さ50μmでせん断接着力(MPa)を測定した。
A 3 mm x 3 mm x 25 µm adhesive layer peeled after room temperature aging for 30 days was pasted between the polished surfaces of a 10 mm x 10 mm silicon wafer and a 3 mm x 3 mm silicon wafer and fixed with the adhesive layer sandwiched between them. Specimens were made. This was thermocompression bonded for 1 second under conditions of 130 ° C. and 0.1 MPa. The obtained laminate was heat-treated at 175 ° C. for 4 hours to cure the adhesive layer, and an adhesive test piece was produced. Thereafter, using a Dage 4000 manufactured by Dage, the shear adhesive strength (MPa) was measured at a speed of 200 μm / second and a height of 50 μm.

湿熱後のせん断接着力
前記のせん断接着力測定用試験片と同様の試験片を作成し、85℃/60%RH条件下で168時間放置した後、最高温度が260℃となるIRリフロー炉を三回通した時のせん断接着力を測定した。
Shear adhesive strength after wet heat A test piece similar to the above-mentioned test piece for measuring shearing adhesive strength was prepared and left for 168 hours under 85 ° C./60% RH condition, and then an IR reflow furnace with a maximum temperature of 260 ° C. The shear adhesive strength when passed three times was measured.

Figure 2009132830
Figure 2009132830

表1に示すように、本発明の組成物から得られる接着層は、室温での保存安定性に優れ、配線パターンが形成された基板上に、ボイドが無く且つ強固に接着した硬化物を与えることができる。参考例1と2の組成物は、エポキシ樹脂成分が液状であり、粘着層への移行が大きく、また、ギャップフィル性能に劣った。参考例3はエポキシ樹脂の移行は少ないが、50℃での粘度が高く、ギャップフィル性能に劣った。 As shown in Table 1, the adhesive layer obtained from the composition of the present invention is excellent in storage stability at room temperature, and gives a cured product having no voids and firmly adhering to the substrate on which the wiring pattern is formed. be able to. In the compositions of Reference Examples 1 and 2, the epoxy resin component was in a liquid state, the transition to the adhesive layer was large, and the gap fill performance was inferior. In Reference Example 3, the migration of the epoxy resin was small, but the viscosity at 50 ° C. was high and the gap fill performance was inferior.

本発明の組成物は、粘着層と該粘着層上の接着層を含むダイシング・ダイアタッチフィルムの用接着剤として好適である。   The composition of the present invention is suitable as an adhesive for a dicing die attach film including an adhesive layer and an adhesive layer on the adhesive layer.

接着剤組成物の、初期及び30日室温放置後のGPCクロマトグラムである。It is a GPC chromatogram of the adhesive composition after standing at room temperature for 30 days.

Claims (8)

基材、該基材上の粘着層、及び該粘着層上の接着層を含むダイシング・ダイアタッチフィルムの接着層を構成するための接着剤組成物であって、
(A)25℃において固体状態であり、50℃における粘度が10mPa・s〜500mPa・sであるエポキシ樹脂、
(B)前記エポキシ樹脂(A)と反応性の官能基を有する、ポリイミドシリコーン樹脂またはフェノキシ樹脂から選ばれる少なくとも一種の熱可塑性樹脂を、該官能基の量に対する成分(A)のエポキシ基の量のモル比が3〜50となる量で、
(C)エポキシ樹脂硬化触媒を触媒量で、及び
(D)無機充填剤を接着剤組成物の5〜90質量%で、
含む接着剤組成物。
An adhesive composition for constituting an adhesive layer of a dicing die attach film comprising a substrate, an adhesive layer on the substrate, and an adhesive layer on the adhesive layer,
(A) an epoxy resin that is in a solid state at 25 ° C. and has a viscosity at 50 ° C. of 10 mPa · s to 500 mPa · s,
(B) At least one thermoplastic resin selected from polyimide silicone resin or phenoxy resin having a functional group reactive with the epoxy resin (A), the amount of the epoxy group of the component (A) with respect to the amount of the functional group In an amount such that the molar ratio of
(C) a catalyst amount of an epoxy resin curing catalyst, and (D) an inorganic filler at 5 to 90% by mass of the adhesive composition,
An adhesive composition comprising.
成分(A)が、ポリスチレン換算の重量平均分子量が600以下であり且つ25℃において固体状態であるエポキシ樹脂を含む、請求項1記載の接着剤組成物。 The adhesive composition according to claim 1, wherein the component (A) includes an epoxy resin having a polystyrene-equivalent weight average molecular weight of 600 or less and in a solid state at 25 ° C. 成分(A)が、ビスフェノールF型エポキシ樹脂を含む、請求項1または2記載の接着剤組成物。   The adhesive composition of Claim 1 or 2 in which a component (A) contains a bisphenol F type epoxy resin. 成分(A)が、25℃において液状のエポキシ樹脂をさらに含む、請求項2または3記載の接着剤組成物。   The adhesive composition according to claim 2 or 3, wherein the component (A) further comprises an epoxy resin that is liquid at 25 ° C. 粘着層が、(メタ)アクリル樹脂を含む、請求項1〜4のいずれか1項記載の接着剤組成物。   The adhesive composition according to any one of claims 1 to 4, wherein the adhesive layer contains a (meth) acrylic resin. (B)成分の官能基が、フェノール性水酸基、アミノ基及びエポキシ基から選ばれる少なくとも一種である請求項1記載の接着剤組成物。 The adhesive composition according to claim 1, wherein the functional group of component (B) is at least one selected from a phenolic hydroxyl group, an amino group, and an epoxy group. 前記ポリイミドシリコーン樹脂が、下記式(2):
Figure 2009132830

(式中、R4は互いに独立に水素原子、ハロゲン原子、又は非置換もしくは置換の炭素原子数1〜8の一価炭化水素基である)
または下記式(3):
Figure 2009132830
で表されるジアミンから誘導されたものである請求項1〜6のいずれか1項記載の接着剤組成物。
The polyimide silicone resin has the following formula (2):
Figure 2009132830

(In the formula, R 4 s are each independently a hydrogen atom, a halogen atom, or an unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms)
Or the following formula (3):
Figure 2009132830
The adhesive composition according to claim 1, wherein the adhesive composition is derived from a diamine represented by the formula:
接着層が請求項1〜7のいずれか1項記載の接着剤組成物からなることを特徴とするダイシング・ダイアタッチフィルム。   A dicing die attach film, wherein the adhesive layer is made of the adhesive composition according to claim 1.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101147794B1 (en) 2010-05-12 2012-05-18 전자부품연구원 Composition for bonding film and substrate using the bonding film
JP2012255061A (en) * 2011-06-08 2012-12-27 Shin-Etsu Chemical Co Ltd Thermally conductive adhesive composition, adhesive sheet, and thermally conductive dicing-die attach film

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