JP2009077051A - 撮像装置及びその撮像方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】分光感度を考慮した補間を行うことで多原色撮像を可能にする撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像データ入力部101、スペクトル強度関数推定部102、スペクトル強度推定部103とで構成する。まず、ブロック内の様々な分光感度を持つ受光素子から撮像データを得る。次に、その撮像データをもとにブロック内の光の強度の変化をスペクトル強度関数としてモデル化する。最後に、得られたスペクトル強度関数を用いてブロック内の各点の光の強度を推定する。これにより、ブロック内の異なるスペクトルを持つ光の強度を個別に推定できる。
【選択図】図1
【解決手段】撮像データ入力部101、スペクトル強度関数推定部102、スペクトル強度推定部103とで構成する。まず、ブロック内の様々な分光感度を持つ受光素子から撮像データを得る。次に、その撮像データをもとにブロック内の光の強度の変化をスペクトル強度関数としてモデル化する。最後に、得られたスペクトル強度関数を用いてブロック内の各点の光の強度を推定する。これにより、ブロック内の異なるスペクトルを持つ光の強度を個別に推定できる。
【選択図】図1
Description
本発明は、カラーフィルタの分光透過スペクトルを利用した補間処理により、任意のカラーフィルタを装着した単板撮像素子を用いて、多原色出力を可能にした撮像装置、及びその撮像方法に関する。
小型カメラの実現のため、単板撮像素子に数種類の分光透過スペクトルを持つカラーフィルタを並べたカラーフィルタ配列を装着し、この単板撮像素子によって得た撮像データから、カラー画像を得るというニーズがある。
従来のカラーフィルタには、R,G,BのカラーフィルタからなるBayer配列やCy,Mg,Ye,Gのカラーフィルタからなる補色フィルタなど、3原色表示を意図して作成されたものが多く用いられている。
また、各カラーフィルタの出力からカラー画像を得るため専用のデモザイキング手法が提案されており、例えばBayer配列ならばACPI法(例えば、特許文献1参照)が提案されている。
ところで、色再現性を高めるため、上記のような3原色を用いた画像表示と異なる4色以上を用いた多原色表示も研究されている。例えば、非特許文献1に示すような多原色撮像系が提案されている。しかし、装置が大型であるという問題点があった。
また、特許文献2のように、色再現性を高めるためにGのフィルタを2種類用意する手法も提案されているが、3原色表示に特化しており4色以上の出力には対応できないという問題点があった。
また、カラーフィルタの変更により色再現性を高める以外の効果を得られる技術も開示されており、例えば特許文献3ではダイナミックレンジを拡張することができる。
しかしこれらの手法は、基本的に3原色表示対応であり、また個別のカラーフィルタに特化したものとなっている。そのため、カラーフィルタの変更を行うもしくは出力する色の数を変えるといった変更を加える場合には、専用のデモザイキング手法を新規開発する必要があった。
特許第3510037号公報
特開2003−284084公報
特開2003−199117公報
M.Yamaguchi,T.Teraji,K.Ohsawa,T.Uchiyama,H.Motomura,Y.Murakami,and N.Ohyama,「Color image reproduction based on the multispectral and multiprimary imaging: Experimental evaluation,」 Proc.SPIE,vol.4663(2002)15-26.
H.Takeda,S.Farsiu,and P. Milanfar,「Kernel Regression for Image Processing and Reconstruction,」 Trans. on IP,vol.16,pp.349-366,2007.
上述したように、従来技術ではカラーフィルタや出力の色数を変更するたびに新規のデモザイキングアルゴリズム開発が必要になるという問題点があった。
そこで本発明は、上記従来技術の問題点を解決するためになされたものであって、任意のカラーフィルタを装着した単板撮像素子を用いて、多原色出力が可能な撮像装置、及びその撮像方法を提供することを目的とする。
本発明は、カラーフィルタによって異なる分光感度を持つ複数の受光素子から構成される撮像素子と、前記撮像素子上の任意の領域に含まれる各受光素子について、前記各受光素子の前記撮像素子上での位置を示す受光素子位置、分光感度及び測定信号量を含む撮像データを取得する撮像データ入力部と、前記領域内における、互いに異なる分光透過ベクトルを持つ光毎の強度を記述する複数のスペクトル強度関数のパラメータのそれぞれを、前記撮像データから推定するパラメータ推定部と、前記複数のスペクトル強度関数とそれぞれの前記パラメータとから、前記領域内における前記光毎の強度をそれぞれ推定する強度推定部と、前記光毎のそれぞれの推定強度を受光素子毎に出力する出力部と、を備える撮像装置である。
本発明によれば、カラーフィルタの変更に容易に対応でき、多原色出力が可能な単板撮像素子の実現が可能となる。
以下、本発明の一実施形態の撮像装置100について説明する。
(撮像装置100の概念)
まず、各実施形態を説明する前に撮像装置100の概念について図3,図4、図14に基づいて説明する。
まず、各実施形態を説明する前に撮像装置100の概念について図3,図4、図14に基づいて説明する。
(1)撮像装置100の目的
本実施形態の撮像装置100は、例えばRGBの3色以上の色を用いて画像を表示する多原色ディスプレイ用の画像データを得るために用いることができる。
本実施形態の撮像装置100は、例えばRGBの3色以上の色を用いて画像を表示する多原色ディスプレイ用の画像データを得るために用いることができる。
例えば、図14の1501〜1504に示すスペクトル(以後それぞれをスペクトルa,b,c,dと呼ぶ)に対応する4色を用いて画像を表示する多原色表示ディスプレイに接続する場合、撮像装置100は同じく4つの分光透過スペクトルa〜dに対応する信号を出力できる。
なお、本実施形態の撮像装置100の出力は、必ずしも想定するディスプレイのカラーフィルタの分光透過スペクトルと一致させる必要はなく、後段で色空間変換を行いディスプレイのカラーフィルタの分光透過スペクトルと一致させることができるものであればよい。
(2)撮像装置100の概要
本実施形態の撮像装置100は、撮像素子内のブロック状の領域内の光の強度を分光透過スペクトル毎に推定する。撮像素子上で、ブロック(領域)をずらしながら処理を行うことで、撮像素子上の全点の光の強度が推定できる。
本実施形態の撮像装置100は、撮像素子内のブロック状の領域内の光の強度を分光透過スペクトル毎に推定する。撮像素子上で、ブロック(領域)をずらしながら処理を行うことで、撮像素子上の全点の光の強度が推定できる。
以後の説明は図3に示すような、Rのカラーフィルタを備えたR受光素子、Gのカラーフィルタを備えたG受光素子、Bのカラーフィルタを備えたB受光素子、カラーフィルタなしのW受光素子の4種類の異なる分光感度を持つ受光素子からなる単板撮像素子を用い、ブロックサイズを5×5ピクセルとした場合を例に説明する。
次に、各実施形態の説明に必要となる「スペクトル強度関数」、「分光重み」、「モデル誤差E」について説明する。
(3)スペクトル強度関数
まず、スペクトル強度関数について説明する。
まず、スペクトル強度関数について説明する。
スペクトル強度関数は、ブロック内の光の強度の変化を表す関数モデルである。本実施形態では、一つのブロックの中の光の強度の変化を示すため複数個のスペクトル強度関数を定義する。なお、スペクトル強度関数の数は、最大でカラーフィルタの色の種類の数と同じ数である。また、各スペクトル強度関数にそれぞれ異なる分光透過スペクトルを対応付ける。
以後は、スペクトル強度関数を図14で示した4つの分光透過スペクトルa,b,c,dに対応する4つの関数fa(x,y),fb(x,y),fc(x,y),fd(x,y)とする場合を例に説明を行う。なお、x,yはブロック内の位置を表現するための2次元座標系であり、ブロックの中心を座標系の原点とする。
とすることができる。このスペクトル強度関数が、ブロック内の光の強度の変化を忠実に表すことができれば、出力画像の画質が高まる。
光の強度の変化は様々であるため、スペクトル強度関数も様々な変化に対応できる形が望ましいと考えられる。式(1)はfa(x,y)のみ見れば、任意の関数をマクローリン展開して、2次の項までを用いて近似した形となっており、対応できる関数の数が多いと考えられる。マクローリン展開であれば項の数を増やすことでより複雑な形の曲面に対応できる。但し、項の数を増やすとノイズに弱くなる。
また、スペクトル強度関数の形を工夫することで偽色の抑圧を行うことができる。ACPI法では、被写体の色が局所的には一定であるとみなし、出力画像のRGB成分に相関を持たせることで偽色の抑圧を行っている。本実施形態では、光の強度はスペクトルが異なる場合でも正の相関を持つとみなし、fa(x,y)〜fd(x,y)が正の相関を持つよう、定数項以外のパラメータは全て同じとすることで同様の効果が得られる。すなわち、2つ以上、または、全ての前記スペクトル強度関数の導関数が一致するようにする。
なお、このスペクトル強度関数の形は、パラメータの値を除く部分について、ユーザーが任意に決めておき、予め記憶させておく。
(4)分光重み
次に、分光重みについて説明する。
次に、分光重みについて説明する。
本実施形態では、WRGBの各受光素子の分光感度を示す曲線、スペクトル強度関数に対応付けられた分光透過スペクトルに形が近いほど値が大きくなる正の実数である分光重みを使って表現する。
分光重みはc[B,a]というように、カラーフィルタの符号(W,R,G,Bのいずれか)と対応する分光透過スペクトル、すなわち対応するスペクトル強度関数を表す符合(a,b,c,dのいずれか)を用いて表記する。
図4のグラフにおいて、縦軸は分光透過スペクトルを示し、横軸が波長を示している。但し、縦軸は最大値を1.0として正規化している。この図4において、B受光素子の分光感度が曲線401で表され、G受光素子の分光感度は曲線402で表され、R受光素子の分光感度は曲線403で表され、W受光素子の分光感度は曲線404で表される場合を考える。その場合の分光重みは例えば、
となる。式(2)の行列の各要素は、各カラーフィルタの分光感度(図4)と、スペクトル強度関数に対応付けられた分光透過スペクトルの重なりが大きいほど、大きな値とする。なお、出力できる色数は式(2)の行列Ccfのランクが上限となる。
この分光重みは、先に用意したスペクトル強度関数1つ1つに対して定義しておく必要がある。
(5)モデル誤差E
最後に、モデル誤差Eについて述べる。
最後に、モデル誤差Eについて述べる。
本実施形態では、スペクトル強度関数によるブロック内の光の強度のモデルが実際の測定データを正しく説明できているかを示す数値尺度として、正の実数であるモデル誤差Eを用いる。
そして、モデル誤差Eは、モデル信号量I’[x,y]と撮像素子を構成する受光素子から実際に得られた測定信号量s[x,y]との差の絶対値が小さくなるほど、その値が小さくなるように設定する。
なお、fcf(x,y)は位置(x,y)におけるカラーフィルタを表し、例えば図3のブロックにおける処理であればfcf(0,0)=Bとなる。
とすることができる。
である。
式(5)の形で定義されるモデル誤差Eを最小化するベクトルβを求める手法としては、最急降下法や共役勾配法などの逐次更新手法を用いることができる。
としてもよい。すなわち、W+はスペクトル強度関数のパラメータを得るためのフィルタとも言える。
スペクトル強度関数及びモデル誤差Eの形はユーザーが任意に決めることができるが、その値を最小にするスペクトル強度関数のパラメータを算出する効率的な手法が確立しているものが望ましい。
例えば、最急降下法や共役勾配法を用いるためには、まず、スペクトル強度関数は位置座標の関数である基底関数を、スペクトル強度関数のパラメータで重み付け加算した形で表現できることが必要である。具体的には、式(1)の4つのスペクトル強度関数は、基底関数「1」,「x」,「y」,「x2」,「xy」,「y2」をスペクトル強度関数のパラメータβa〜β5で重み付けして加算した関数になっている。
また、スペクトル強度関数のパラメータの総数が、ブロック内部に存在する撮像素子の受光素子の総数以下である必要がある。例えば5×5のブロック(図3参照)を用いる場合はブロック内の受光素子数が25個なので、スペクトル強度関数のパラメータの数が25以下にする。
(6)まとめ
以上により、撮像素子の撮像面の一部のブロック内において、異なるスペクトルを持つ光の強度を適切にモデル化できたならば、測定信号量とモデル信号量が近い値となると考えられる。
以上により、撮像素子の撮像面の一部のブロック内において、異なるスペクトルを持つ光の強度を適切にモデル化できたならば、測定信号量とモデル信号量が近い値となると考えられる。
そこで、本実施形態の撮像装置100は、モデル信号量と測定信号量の差の絶対値が大きいほど大きな値をとる正の実数であるモデル誤差を定義し、モデル誤差を最小にするスペクトル強度関数を求める。得られたスペクトル強度関数を用いれば、前記ブロック内の任意の位置の光の強度を推定し出力画像を生成することができる。
また、カラーフィルタの分光透過スペクトルが既知である撮像素子であれば実施可能であるため、特殊な撮像系を必要としない。
また、単板撮像素子を用いて実施する場合も、分光重みをカラーフィルタに応じて変えることでカラーフィルタの変更に柔軟に対処できる。
また、多原色表示系に合わせて出力する色数を増加させる場合も、スペクトル強度関数の数を増やすことで対応することができる。
(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態の撮像装置100について図1〜図3に基づいて説明する。
以下、本発明の第1の実施形態の撮像装置100について図1〜図3に基づいて説明する。
(1)撮像装置100の構成
図1は、本実施形態に係わる撮像装置100を示すブロック図である。
図1は、本実施形態に係わる撮像装置100を示すブロック図である。
撮像装置100は、ブロック内の各受光素子から測定信号量の組である撮像データを取得する撮像データ入力部101、撮像データから撮像素子の各受光素子に入射した光の強度を記述するスペクトル強度関数のパラメータを推定するスペクトル強度関数推定部102、スペクトル強度関数のパラメータから各受光素子に入射した光の強度を推定するスペクトル強度推定部103とを備える。
なお、撮像装置100は、例えば、汎用のコンピュータ装置を基本ハードウェアとして用いることでも実現することが可能である。すなわち、撮像データ入力部101、スペクトル強度関数推定部102、スペクトル強度推定部103は、上記のコンピュータ装置に搭載されたプロセッサにプログラムを実行させることにより実現することができる。このとき、撮像装置100は、上記のプログラムをコンピュータ装置に予めインストールすることで実現してもよいし、CD−ROMなどの記憶媒体に記憶して、あるいはネットワークを介して上記のプログラムを配布して、このプログラムをコンピュータ装置に適宜インストールすることで実現してもよい。
また、撮像データ入力部101、スペクトル強度関数推定部102、スペクトル強度推定部103は、上記のコンピュータ装置に内蔵あるいは外付けされたメモリ、ハードディスクもしくはCD−R、CD−RW、DVD−RAM、DVD−Rなどの記憶媒体などを適宜利用して実現することができる。
なお、第2の実施形態と第3の実施形態の撮像装置100も同様である。
(2)撮像装置100の動作
以後は、上記で定義した分光重み、スペクトル強度関数、モデル誤差に加え図1及び図2を用いて、本実施形態に係わる撮像装置100の動作について説明する。なお、図2は、本実施形態に係わる撮像装置100の動作を示すフローチャートである。
以後は、上記で定義した分光重み、スペクトル強度関数、モデル誤差に加え図1及び図2を用いて、本実施形態に係わる撮像装置100の動作について説明する。なお、図2は、本実施形態に係わる撮像装置100の動作を示すフローチャートである。
まず、撮像データ入力部101は、ブロック内の各受光素子が持つ分光感度と各受光素子において得られた測定信号量からなる撮像データを取得する(ステップ1)。
次に、スペクトル強度関数推定部102は、ブロック内の光の強度の変化を記述するスペクトル強度関数のパラメータを推定する(ステップ2)。なお、このスペクトル強度関数推定部102に、スペクトル強度関数の形、分光重み及びモデル誤差Eの形を予め記憶させておく。
最後に、スペクトル強度推定部103は、スペクトル強度関数推定部102から得られたスペクトル強度関数のパラメータを用いて、ブロック中心(x,y)=(0,0)における光の強度を算出する(ステップ3)。既にこれまでの処理でスペクトル強度関数が得られているので、スペクトル強度関数にx=0,y=0を代入することでブロック中心の光の強度を算出することができる。例えば式(1)のスペクトル強度関数を用いた場合、出力はβa,βb,βc,βdの4つとなる。
(3)効果
このように本実施形態の撮像装置100によれば、ブロック内の光の強度のモデルであるスペクトル強度関数のパラメータを測定信号量から推定することで、ブロック内の異なるスペクトルを持つ光の強度を個別に推定することが可能になる。
このように本実施形態の撮像装置100によれば、ブロック内の光の強度のモデルであるスペクトル強度関数のパラメータを測定信号量から推定することで、ブロック内の異なるスペクトルを持つ光の強度を個別に推定することが可能になる。
(4)変更例
次に、第1の実施形態の変更例について説明する。
次に、第1の実施形態の変更例について説明する。
これまで、図3に示すブロックを例に第1の実施形態を説明したが、以下に述べる5つの要素を変更して実施することも可能である。
(4−1)第1の変更例
第1の変更例について説明する。
第1の変更例について説明する。
式(2)の分光重みをカラーフィルタの分光透過スペクトルに合わせて書き換えることで、WRGBからなるカラーフィルタ以外のカラーフィルタを用いた撮像素子にも対処できる。
但し、出力する色の数は、式(2)の行列Ccfのランク以下である必要がある。この条件は、カラーフィルタの種類の数が出力できる色数の上限であるとも言える。
(4−2)第2の変更例
次に、第2の変更例について説明する。
次に、第2の変更例について説明する。
正方格子以外の受光素子配列にも適用することが可能であり、正方形以外のブロック形状でも実行可能である。
例えば、図5のように受光素子が互い違いに配列されたハニカム配列や六角格子の撮像素子では、図3のようにブロック中心に受光素子が存在する正方形のブロックを取ることができない。
また、ハニカム配列や六角格子の撮像素子から正方格子上に受光素子が並んだ出力画像を得るには、図5の点501のような受光素子と受光素子の隙間の部分の光の強度を算出する必要がある。
本実施形態におけるスペクトル強度関数のパラメータ推定法は、受光素子配列が正方格子であることを前提としていない。
(4−3)第3の変更例
次に、第3の変更例について説明する。
次に、第3の変更例について説明する。
図3のx,y軸の原点を変えることでブロック内の任意の位置の光の強度を算出することが可能である。
(4−4)第4の変更例
次に、第4の変更例について説明する。
次に、第4の変更例について説明する。
スペクトル強度関数は、式(1)のような2次多項式以外の形にすることもできる。
まず、多項式の次数を上げることは容易である。次数を高めるほどスペクトル強度関数は複雑な形を表現できるようになり、鮮鋭な画像が得られるようになる。一方でノイズに弱くなる。
また、多項式以外の関数も基底関数として利用できる。多項式を基底関数に用いる式(1)のスペクトル強度関数は関数のマクローリン展開の形と一致する。
同様に考えれば、基底関数を三角関数とすることで、スペクトル強度関数は関数のフーリエ級数展開の形にできる。
他には、ウェーブレットの基底となる全ての関数についても、本実施形態の基底関数として利用することができる。
(4−5)第5の変更例
次に、第5の変更例について説明する。
次に、第5の変更例について説明する。
式(1)のスペクトル強度関数は、定数項以外の項が全て共通化されている。すなわち、同一の値となっている。しかし、スペクトル強度関数は、位置座標の関数である基底関数をスペクトル強度関数のパラメータで重み付け加算した形で表現できるという条件を満たせば他の形でも実現可能である。
例えば、明らかに青の挙動が他の色と相関を持たないことが事前に分かっていれば、fa(x,y)のみパラメータを別にするといった実装も可能である。但し、パラメータの総数はブロック内の受光素子数を超えてはならない。
(4−6)第6の変更例
次に、第6の変更例について説明する。
次に、第6の変更例について説明する。
としてもよい。
Gの値は、ユーザーが画質を見ながら人手で調整する。Gの値を大きくするほど出力画像がぼけ、小さくしすぎるとスペクトル強度関数のパラメータの推定精度が悪くなる。
スペクトル強度関数は、式(1)のようなマクローリン展開を意識した形で定義できるが、この近似方法の精度はブロック周辺に行くに従って低下する。
そのためスペクトル強度関数が、ブロック内の光の強度を記述する真の関数のマクローリン展開と一致したとしてもブロック周辺ではモデルと測定のずれが大きくなると考えられる。そこで、ブロックの中心から外れた部分の誤差の影響を下げることで、スペクトル強度関数が真の関数のマクローリン展開と一致する可能性が高くなる。
と書き直せる。
なる対角行列である。式(9)のモデル誤差を最小にするスペクトル強度関数のパラメータも、最急降下法や共役勾配法で求めることができる。
としても良い。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について図6〜図10に基づいて述べる。
次に、本発明の第2の実施形態について図6〜図10に基づいて述べる。
(1)第2の実施形態の目的
本実施形態は、例えばエッジ部分のように、ブロック内の異なるスペクトルを持つ光の強度が互いに相関を持たない部分に第1の実施形態を適用すると、本来の光の強度と大きく異なる出力が得られる。これは、本来ブロック中心の光の強度と相関を持たない測定信号量を用いてスペクトル強度関数のパラメータを生成するためである。
本実施形態は、例えばエッジ部分のように、ブロック内の異なるスペクトルを持つ光の強度が互いに相関を持たない部分に第1の実施形態を適用すると、本来の光の強度と大きく異なる出力が得られる。これは、本来ブロック中心の光の強度と相関を持たない測定信号量を用いてスペクトル強度関数のパラメータを生成するためである。
この問題点を解決するには、エッジの強度が強いときには、エッジとの距離が遠い受光素子がモデル誤差に及ぼす影響を低減するようにできればよい。第2の実施形態はこれを実現するためのものである。
(2)撮像装置100の構成
図6は、本実施形態に係わる撮像装置100を示すブロック図である。
図6は、本実施形態に係わる撮像装置100を示すブロック図である。
撮像装置100は、複数の受光素子からなる撮像素子の各受光素子における測定信号量の組である撮像データを取得する撮像データ入力部101、撮像素子の各受光素子にエッジの方向と強度に応じた重みを付与する重み決定部201、撮像データから撮像素子の各受光素子に入射した光の量を記述するスペクトル強度関数のパラメータ推定するスペクトル強度関数推定部202、スペクトル強度関数のパラメータから各受光素子に入射した異なるスペクトルを持つ光の強度を個別に推定するスペクトル強度推定部103とを備えている。
(3)撮像装置100の動作
以下、図6〜図9を用いて、本実施形態に係わる撮像装置100の動作について説明する。なお、図7は、本実施形態に係わる撮像装置100の動作を示すフローチャートである。以下の説明も図3のブロックの例を用いる。
以下、図6〜図9を用いて、本実施形態に係わる撮像装置100の動作について説明する。なお、図7は、本実施形態に係わる撮像装置100の動作を示すフローチャートである。以下の説明も図3のブロックの例を用いる。
(3−1)ステップ1
まず、撮像データ入力部101は、ブロック内の各受光素子がもつ分光感度と各受光素子において得られた測定信号量からなる撮像データを取得する(ステップ1)。
まず、撮像データ入力部101は、ブロック内の各受光素子がもつ分光感度と各受光素子において得られた測定信号量からなる撮像データを取得する(ステップ1)。
(3−2)ステップ2
次に、重み決定部201はブロック内の各受光素子から得られた測定信号量に基づき、ブロック内の各受光素子に正の実数である位置重みを付与する(ステップ2)。すなわち、式(9)のK(x,y)を求める。
次に、重み決定部201はブロック内の各受光素子から得られた測定信号量に基づき、ブロック内の各受光素子に正の実数である位置重みを付与する(ステップ2)。すなわち、式(9)のK(x,y)を求める。
位置重みを付与する方法について述べる。
まず、ブロック内から同じ分光感度を持ち、同一直線上に存在しない受光素子を3つ選び、pi(xi,yi),pj(xj,yj),pk(xk,yk)とする。また、それらから得られた信号量をsi,sj,skと表す。図9に示すように撮像素子上の位置を表すx,y軸及び測定信号量を表すs軸からなる3次元空間においては、点pi,pj,pkはそれぞれ点902,903,904に対応する。pi,pj,pkで囲まれた三角形の領域内で光の強度が図9の点902,903,904からなる三角形901に示すように平面状に変化すると仮定したとき、三角形901のx軸方向の傾きdx及びy軸方向の傾きdyは、
となる。ブロック内部にL種類の分光感度を持つ受光素子が存在し、その中のm番目の分光感度を持つ受光素子からなる三角形がn[m](m=0,・・・,L−1)個存在したとする。またm番目の分光感度を持つ受光素子からなるq(q=0,・・・,n[m]−1)番目の三角形から得られたx軸方向の傾きdx及びy軸方向の傾きdyをdx[m,q]及びdy[m,q]と表す。
例えば、図3の例ではブロック内にRGBWの4種類の分光感度を持つ受光素子が存在する。その中で0番目の色をB受光素子とし、0番目の分光感度を持つ受光素子からなる0番目の三角形は例えば図3中の受光素子1300,受光素子1301,受光素子1302からなる三角形とすることができる。するとdx[0,0]及びdy[0,0]は式(13)に(xi,yi,si)=(−2,−2,s0),(xj,yj,sj)=(0,−2,s2),(xk,yk,sk)=(0,−2,s10)を代入することで得られる。
とする。
受光素子重みKの等高線は、図8の左図の楕円801のようにエッジに沿って伸びる楕円となる。また、エッジの方向が変化すると、図8の中央図の楕円802のように長軸の方向が変化し、長軸と短軸の長さが変わる。さらに、図8の右図のコーナー部分では楕円803のように長軸と短軸がともに短くなる。エッジ強度が大きいほど楕円の長軸と短軸の長さが短くなる。受光素子重みはブロックの中心から離れるほど値が小さくなる。
(3−3)ステップ3
次に、スペクトル強度関数のパラメータ推定部202はスペクトル強度関数のパラメータを推定する(ステップ3)。
次に、スペクトル強度関数のパラメータ推定部202はスペクトル強度関数のパラメータを推定する(ステップ3)。
スペクトル強度関数、分光重みの定義は、第1の実施形態と同じでよいが、モデル誤差は式(9)となる。
(3−4)ステップ4
最後に、スペクトル強度推定部103は、スペクトル強度関数推定部102から得られたスペクトル強度関数のパラメータを用いて、ブロック中心(x,y)=(0,0)における光の強度をスペクトル毎に算出する(ステップ3)。
最後に、スペクトル強度推定部103は、スペクトル強度関数推定部102から得られたスペクトル強度関数のパラメータを用いて、ブロック中心(x,y)=(0,0)における光の強度をスペクトル毎に算出する(ステップ3)。
(4)変更例
次に、第2の実施形態の変更例について説明する。
次に、第2の実施形態の変更例について説明する。
(4−1)第1の変更例
第2の実施形態も第1の実施形態と同様に、ブロックのサイズや形状によらず適用が可能である。
第2の実施形態も第1の実施形態と同様に、ブロックのサイズや形状によらず適用が可能である。
(4−2)第2の変更例
第2の実施形態も第1の実施形態と同様に、スペクトル強度関数の形もx,yの多項式に限定されない。
第2の実施形態も第1の実施形態と同様に、スペクトル強度関数の形もx,yの多項式に限定されない。
(4−3)第3の変更例
第2の実施形態も第1の実施形態と同様に、重み関数は、正の実数である限りはいかなる形でも良い。
第2の実施形態も第1の実施形態と同様に、重み関数は、正の実数である限りはいかなる形でも良い。
(4−4)第4の変更例
第2の実施形態も第1の実施形態と同様に、dxとdyについても、ブロック内の光の強度の位置による変化量と正の相関を持つ量を用いるのであれば式(13)の形である必要はない。
第2の実施形態も第1の実施形態と同様に、dxとdyについても、ブロック内の光の強度の位置による変化量と正の相関を持つ量を用いるのであれば式(13)の形である必要はない。
(4−5)第5の変更例
位置重みKは、ブロック内のカラーフィルタの数の内訳によっても変化するので、それを補正しても良い。例えば、5×5ピクセルのブロック内のカラーフィルタの配置が、図3に示したものである場合と図10に示したものである場合を考える。
位置重みKは、ブロック内のカラーフィルタの数の内訳によっても変化するので、それを補正しても良い。例えば、5×5ピクセルのブロック内のカラーフィルタの配置が、図3に示したものである場合と図10に示したものである場合を考える。
まず、式(14)の行列Cの各成分は、同じカラーフィルタを持つ受光素子から得られた測定信号量の差の二乗和に相当する。
次に、RGB受光素子に比べ全波長に渡り高い感度を持つW受光素子は測定信号量の値が相対的に大きく、受光素子間の測定信号量の差も大きくなる。結果としてW受光素子から得られるdxとdyは他のものに比べ大きくなる。
W受光素子の数は、図3のパターンで6個、図10のパターンで4個であり前者の方が2つ多いため、式(14)の行列Cの各成分も図3のパターンから得られたものより、図10のパターンから得られたものの方が大きい値をとる。そのため、同じテクスチャを撮像した場合でも受光素子に与えられる重みがブロックを移動させる毎に大きく変動することになり、結果として線上のテクスチャ部に周期性を持つノイズが発生する。
とすることが有効である。w[m]は画面全体でのカラーフィルタの数の比をブロック内のカラーフィルタ数で割ったものである。
例えば、図3の場合はWRGBのカラーフィルタの数が1:1:1:1である。ブロック内のカラーフィルタの数は、WとGが6個、Rが4個、Bが9個である。そのためw[0]をWに、w[1]をRに、w[2]をGに、w[3]をBにそれぞれ対応付けると、w[0]=1/6,w[1]=1/4,w[2]=1/6,w[3]=1/9となる。
また、図3のW受光素子をG受光素子に変えたBayer配列の場合は、R:G:Bが1:2:1なので、w[1]=1/4,w[2]=2/12,w[3]=1/9とすればよい。
これにより、ブロック内のカラーフィルタの割合の変化による重みの変動が抑制され、ノイズを抑えることが可能になる。
(第3の実施形態)
次に、本発明の第3の実施形態の撮像装置100について図11〜図13に基づいて説明する。
次に、本発明の第3の実施形態の撮像装置100について図11〜図13に基づいて説明する。
(1)第3の実施形態の目的
第1の実施形態では、スペクトル強度関数のパラメータを求めるためにモデル誤差を最小化する計算を行う必要がある。しかしモデル誤差の最小化に用いられる最急降下法、共役勾配法、擬似逆行列などの計算は、全て大きな計算コストを要する。
第1の実施形態では、スペクトル強度関数のパラメータを求めるためにモデル誤差を最小化する計算を行う必要がある。しかしモデル誤差の最小化に用いられる最急降下法、共役勾配法、擬似逆行列などの計算は、全て大きな計算コストを要する。
一方で、カラーフィルタは同一のパターンが周期的に繰り返されるため、画面全体を処理する場合でも式(5)のWは、有限個のパターンしか出現しない。例えば、図3のカラーフィルタ配列の場合は、図13中の1400〜1403の4種類に限定することができる。そのため、この有限個のパターンに対応するWの擬似逆行列(すなわちスペクトル強度関数のパラメータを推定するためのフィルタ)を予め算出してメモリに蓄積しておくことで、処理時間を短縮できる。
本実施形態は、この高速化を行うことができる撮像装置100を提供する。
(2)撮像装置100の構成
本実施形態の撮像装置100は、複数の受光素子からなる撮像素子の各受光素子における測定信号量の組である撮像データを取得する撮像データ入力部101、撮像データからスペクトル強度関数のパラメータを推定するためのフィルタを蓄積しておくためのフィルタ蓄積部301、フィルタ蓄積部301から適切なフィルタを選択するフィルタ選定部302、測定信号量とフィルタ選定部302で選ばれたフィルタを用いてスペクトル強度関数のパラメータを推定するスペクトル強度関数推定部303、スペクトル強度関数のパラメータから各受光素子に入射したスペクトルが異なる光の強度を個別に推定するスペクトル強度推定部103とを備えている。
本実施形態の撮像装置100は、複数の受光素子からなる撮像素子の各受光素子における測定信号量の組である撮像データを取得する撮像データ入力部101、撮像データからスペクトル強度関数のパラメータを推定するためのフィルタを蓄積しておくためのフィルタ蓄積部301、フィルタ蓄積部301から適切なフィルタを選択するフィルタ選定部302、測定信号量とフィルタ選定部302で選ばれたフィルタを用いてスペクトル強度関数のパラメータを推定するスペクトル強度関数推定部303、スペクトル強度関数のパラメータから各受光素子に入射したスペクトルが異なる光の強度を個別に推定するスペクトル強度推定部103とを備えている。
(3)撮像装置100の動作
以下、図11及び図12を用いて、本実施形態に係わる撮像装置100の動作について説明する。なお、図12は、撮像装置100の動作を示すフローチャートである。以後の説明も図3のブロックの例を用いる。
以下、図11及び図12を用いて、本実施形態に係わる撮像装置100の動作について説明する。なお、図12は、撮像装置100の動作を示すフローチャートである。以後の説明も図3のブロックの例を用いる。
ブロック毎の処理を始める前に、フィルタ蓄積部301は、式(5)のエネルギーを最小にするスペクトル強度関数のパラメータβの推定に必要なフィルタW+を事前に算出して内部に蓄積する。Wは、ブロックの形状と位置が決まれば一つに決まる。例えば、図3のようなカラーフィルタ配列の場合、ブロック内のカラーフィルタの配置は図13中に示す4通りしか存在しないため、Wも4通りに限定することができる。この4通りのWに対応するW+を算出してフィルタ蓄積部301内に蓄積する。
以後は、撮像素子内のブロック状の領域の中で処理を行い、ブロック中心における光の強度をスペクトル毎に推定する。ブロック内の処理が完了したらブロックの位置をずらして同じ処理を続ける。
まず、撮像データ入力部101は、ブロック内の各受光素子が持つ分光感度と各受光素子において得られた測定信号量からなる撮像データを取得する(ステップ1)。
次に、フィルタ選定部302は、撮像データを出力したブロック内の各受光素子の分光感度のパターンを元にフィルタ蓄積部301に蓄積されたフィルタの中から適切なものを選択する(ステップ2)。
次に、スペクトル強度関数推定部303は、得られたフィルタと撮像データをなす測定信号量を用いて式(7)の畳み込み演算を行い、スペクトル強度関数のパラメータを推定する(ステップ3)。
最後に、スペクトル強度推定部103は得られたスペクトル強度関数のパラメータを用いてブロック中心部の光の強度を推定する(ステップ4)。
(4)変更例
次に、第3の実施形態の変更例について説明する。
次に、第3の実施形態の変更例について説明する。
第3の実施形態は、フィルタ蓄積部1301に蓄積するフィルタを増やすことで更なる画質の向上が可能である。
第1の実施形態は、式(7)のWが有限個のパターンであることに着目して高速化を行った。しかしそのままでは、エッジに応じたフィルタの調整ができないため画質を高めることができない。
一方、第2の実施形態は、エッジに応じたフィルタを用いるため画質を高めることができる。しかし、フィルタである(KW)+Kは、エッジに応じた無数のパターンが存在し、事前に全てを計算することはできない。
そこで、有限個のパターンのKに対応するフィルタ(KW)+Kをメモリに蓄積し、エッジに応じて切り替えることで、第1の実施形態及び第3の実施形態より高画質であり、第2の実施形態より高速な処理を行うことができる。
という3つのパラメータが得られる。
3つのパラメータλ+,λ−,θは、図8の楕円の形状と関係を持ち、短軸の長さが(1/λ+)0.5に、長軸の長さが(1/λ−)0.5に、長軸とx軸のなす角度がθに相当する。
と書くことができる。
3つのパラメータλ+,λ−,θを一定の刻み幅で変化させ、対応する位置重みKからフィルタを生成すれば、偏りなく様々なエッジの強度と角度に対応したフィルタを蓄積することができる。
例えば、λ+とλ−を1/9〜1の間で10種類用意し、θを0〜πの範囲で4種類用意すればよい。テーブルにフィルタを蓄積する際には元となったλ+,λ−,θを一緒に蓄積する。
フィルタを選択するときには、まず、ブロック内から式(16)の行列Cを算出する。次に、式(17)を用いてλ+,λ−,θを算出する。最後に、得られたλ+,λ−,θに近いものによって生成されたKに対応するフィルタをテーブルに蓄積されたものの中から選択すればよい。
(変更例)
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。
また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。
さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
100 撮像装置
101 撮像データ入力部
102 スペクトル強度関数推定部
103 スペクトル強度推定部
101 撮像データ入力部
102 スペクトル強度関数推定部
103 スペクトル強度推定部
Claims (14)
- 異なる分光感度を持つ複数の受光素子を有する撮像素子と、
前記撮像素子上の任意の領域に含まれる各受光素子について、前記各受光素子の前記撮像素子上での位置を示す受光素子位置、分光感度及び測定信号量を含む撮像データを取得する撮像データ入力部と、
前記領域内における、互いに異なる分光透過スペクトルを持つ光毎の強度を記述する複数のスペクトル強度関数のパラメータのそれぞれを、前記撮像データから推定するパラメータ推定部と、
前記複数のスペクトル強度関数とそれぞれの前記パラメータとから、前記領域内における前記光毎の強度をそれぞれ推定する強度推定部と、
前記光毎のそれぞれの推定強度を受光素子毎に出力する出力部と、
を備える撮像装置。 - 前記パラメータ推定部は、
前記複数のスペクトル強度関数を記憶する第1記憶部と、
前記撮像素子の各受光素子において、前記各スペクトル強度関数にそれぞれ対応付けられた分光透過スペクトルと、前記受光素子が持つ前記分光感度が類似しているほど大きくなる実数である分光重みを記憶する第2記憶部と、
前記分光重みを用いた前記スペクトル強度関数の重み付け和であるモデル信号量と、前記受光素子から得られた測定信号量の差の絶対値が大きくなるほど大きくなるモデル誤差が、最小となるように前記パラメータを求める演算部と、
を備える請求項1記載の撮像装置。 - 前記演算部は、前記受光素子毎に算出される前記測定信号量と前記モデル信号量の差の二乗の和から前記モデル誤差を求める、
請求項2記載の撮像装置。 - 前記演算部は、記受光素子毎に算出される前記測定信号量と前記モデル信号量の差の二乗の値に、前記受光素子の位置が前記領域の中心から離れるほど小さくなる位置重みを乗じて加算した値から前記モデル誤差を求める、
請求項2記載の撮像装置。 - 前記演算部は、前記受光素子毎に算出される前記測定信号量と前記モデル信号量の差の二乗の値に、前記受光素子の位置が前記領域内に撮像されている画像のエッジから離れるほど小さくなる位置重みを乗じて加算した値から前記モデル誤差を求める、
請求項2記載の撮像装置。 - 前記第1記憶部が記憶している2つ以上、または、全ての前記スペクトル強度関数の導関数が一致している、
請求項2記載の撮像装置。 - 前記第1記憶部は、前記領域内の位置を表す複数の基底関数のそれぞれを、実数である前記パラメータで重み付けして加算した関数を、前記スペクトル強度関数として記憶している、
請求項2記載の撮像装置。 - 前記第1記憶部が記憶している2つ以上、または、全ての前記スペクトル強度関数について、同一の前記基底関数に対応するパラメータが同一である、
請求項7記載の撮像装置。 - 前記基底関数が、前記領域内の位置を表す2次元座標系の座標から構成される多項式である、
請求項7記載の撮像装置。 - 前記多項式が、5次以下である、
請求項9記載の撮像装置。 - 前記基底関数が、前記領域内の位置を表す2次元座標系の座標を用いた三角関数である、
請求項6記載の撮像装置。 - 前記スペクトル強度推定部は、前記画像の各位置における前記各スペクトル強度関数のそれぞれの値を出力する、
請求項1記載の撮像装置。 - カラーフィルタによって異なる分光感度を持つ複数の受光素子から構成される撮像素子上の任意の領域に含まれる各受光素子について、前記各受光素子の前記撮像素子上での位置を示す受光素子位置、分光感度及び測定信号量を含む撮像データを取得する撮像データ入力ステップと、
前記領域内における、互いに異なる分光透過スペクトルを持つ光毎の強度を記述する複数のスペクトル強度関数のパラメータのそれぞれを、前記撮像データから推定するパラメータ推定ステップと、
前記複数のスペクトル強度関数とそれぞれの前記パラメータとから、前記領域内における前記光毎の強度をそれぞれ推定する強度推定ステップと、
前記光毎のそれぞれの推定強度を受光素子毎に出力する出力ステップと、
を備える撮像方法。 - カラーフィルタによって異なる分光感度を持つ複数の受光素子から構成される撮像素子上の任意の領域に含まれる各受光素子について、前記各受光素子の前記撮像素子上での位置を示す受光素子位置、分光感度及び測定信号量を含む撮像データを取得する撮像データ入力機能と、
前記領域内における、互いに異なる分光透過スペクトルを持つ光毎の強度を記述する複数のスペクトル強度関数のパラメータのそれぞれを、前記撮像データから推定するパラメータ推定機能と、
前記複数のスペクトル強度関数とそれぞれの前記パラメータとから、前記領域内における前記光毎の強度をそれぞれ推定する強度推定機能と、
前記光毎のそれぞれの推定強度を受光素子毎に出力する出力機能と、
をコンピュータによって実現する撮像プログラム。
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